ZASTOSOWANIE KART KONTROLNYCH DO ANALIZY

Podobne dokumenty
KURS STATYSTYKA. Lekcja 3 Parametryczne testy istotności ZADANIE DOMOWE. Strona 1

Statystyczna kontrola procesu karty kontrolne Shewharta.

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA ŚWIATŁA METODĄ SZPILEK I ZA POMOCĄ MIKROSKOPU. Wprowadzenie. = =

AM1.1 zadania 8 Przypomn. e kilka dosyć ważnych granic, które już pojawiły się na zajeciach. 1. lim. = 0, lim. = 0 dla każdego a R, lim (

POLITECHNIKA OPOLSKA

Szeregi liczbowe i ich własności. Kryteria zbieżności szeregów. Zbieżność bezwzględna i warunkowa. Mnożenie szeregów.

Metrologia: miary dokładności. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie

Elementy modelowania matematycznego

ZAGADNIENIE ESTYMACJI. ESTYMACJA PUNKTOWA I PRZEDZIAŁOWA

INSTRUKCJA NR 06-2 POMIARY TEMPA METABOLIZMU METODĄ TABELARYCZNĄ

Estymacja przedziałowa

Ćwiczenie 2 ESTYMACJA STATYSTYCZNA

STATYSTYKA I ANALIZA DANYCH

G:\AA_Wyklad 2000\FIN\DOC\Fourier.doc. Drgania i fale II rok Fizyki BC. zawierają fazy i amplitudy.

X i. X = 1 n. i=1. wartość tej statystyki nazywana jest wartością średnią empiryczną i oznaczamy ją symbolem x, przy czym x = 1. (X i X) 2.

POLITECHNIKA OPOLSKA

POLITECHNIKA OPOLSKA

Podstawowe oznaczenia i wzory stosowane na wykładzie i laboratorium Część I: estymacja

PODSTAWY OPRACOWANIA WYNIKÓW POMIARÓW Z ELEMENTAMI ANALIZY NIEPEWNOŚCI POMIAROWYCH

Rachunek prawdopodobieństwa i statystyka W12: Statystyczna analiza danych jakościowych. Dr Anna ADRIAN Paw B5, pok 407 adan@agh.edu.

Jak kontrolować tkowzroczność? CHIRURGIA LASEROWA. Wady wzroku u dzieci. Krótkowzroczność Nadwzroczność Astygmatyzm. dr n. med. Anna M.

Moda (Mo, D) wartość cechy występującej najczęściej (najliczniej).

PRACOWNIA ELEKTRYCZNA I ELEKTRONICZNA. Zespół Szkół Technicznych w Skarżysku-Kamiennej. Sprawozdanie

Ćwiczenie nr 14. Porównanie doświadczalnego rozkładu liczby zliczeń w zadanym przedziale czasu z rozkładem Poissona

Równania liniowe rzędu drugiego stałych współczynnikach

ANALIZA DANYCH DYSKRETNYCH

Temat lekcji: Utrwalenie wiadomości dotyczących rozwiązywania równań kwadratowych.

STATYSTYKA MATEMATYCZNA

PODSTAWY BIOSTATYSTYKI ĆWICZENIA

(1) gdzie I sc jest prądem zwarciowym w warunkach normalnych, a mnożnik 1,25 bierze pod uwagę ryzyko 25% wzrostu promieniowania powyżej 1 kw/m 2.

2.1. Studium przypadku 1

Jak obliczać podstawowe wskaźniki statystyczne?

Jarosław Wróblewski Analiza Matematyczna 1A, zima 2012/13. Ciągi.

MINIMALIZACJA PUSTYCH PRZEBIEGÓW PRZEZ ŚRODKI TRANSPORTU

Parametryczne Testy Istotności

Wykład 10 Wnioskowanie o proporcjach

D. Miszczyńska, M.Miszczyński KBO UŁ, Badania operacyjne (wykład 6 _ZP) [1] ZAGADNIENIE PRZYDZIAŁU (ZP) (Assignment Problem)

OPRACOWANIE WYNIKÓW POMIARU ANALIZA NIEPEWNOŚCI. popr. x rz. ( x) jest nazywany niepewnością bezwzględną.

Metody badania zbieżności/rozbieżności ciągów liczbowych

Fuga epoksydowa, czy warto ją stosować?

ZESZYTY NAUKOWE INSTYTUTU POJAZDÓW 3(89)/2012

ROZDZIAŁ 5 WPŁYW SYSTEMU OPODATKOWANIA DOCHODU NA EFEKTYWNOŚĆ PROCESU DECYZYJNEGO

ĆWICZENIE 10 Prawo podziału Nernsta

1 Układy równań liniowych

ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA

Aplikacyjne aspekty metody Six Sigma w kwalitatywnej ocenie funkcjonowania systemów logistycznych

Miary położenia (tendencji centralnej) to tzw. miary przeciętne charakteryzujące średni lub typowy poziom wartości cechy.

Część I. Wyznaczanie parametrów sieci i grupy przestrzennej dla kryształów oksymu oksofenyloacetaldehydu. Zakres materiału do opanowania

PORADNIK DLA PRZEDSIĘBIORCÓW PROMUJ SWÓJ EKSPORT

Statystyka opisowa. () Statystyka opisowa 24 maja / 8

WERSJA TESTU A. Komisja Egzaminacyjna dla Aktuariuszy. LX Egzamin dla Aktuariuszy z 28 maja 2012 r. Część I. Matematyka finansowa

Laboratorium Sensorów i Pomiarów Wielkości Nieelektrycznych. Ćwiczenie nr 1

Wprowadzenie do laboratorium 1

INWESTYCJE MATERIALNE

Konspekt lekcji (Kółko matematyczne, kółko przedsiębiorczości)

Metoda łączona. Wykład 7 Dwie niezależne próby. Standardowy błąd dla różnicy dwóch średnich. Metoda zwykła (niełączona) n2 2

Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych (w zakresie materiału przedstawionego na wykładzie organizacyjnym)

VII MIĘDZYNARODOWA OLIMPIADA FIZYCZNA (1974). Zad. teoretyczne T3.

Scenariusz lekcji: Kombinatoryka utrwalenie wiadomości

UKŁADY REGULACJI NAPIĘCIA

O liczbach naturalnych, których suma równa się iloczynowi

Materiał ćwiczeniowy z matematyki Marzec 2012

Metoda analizy hierarchii Saaty ego Ważnym problemem podejmowania decyzji optymalizowanej jest często występująca hierarchiczność zagadnień.

POLITECHNIKA OPOLSKA

3. Tworzenie próby, błąd przypadkowy (próbkowania) 5. Błąd standardowy średniej arytmetycznej

BADANIA DOCHODU I RYZYKA INWESTYCJI

ANALIZA SKORELOWANIA WYNIKÓW POMIAROWYCH W OCENACH STANU ZAGROŻEŃ HAŁASOWYCH ŚRODOWISKA

ZASTOSOWANIE KART KONTROLNYCH DO LICZBOWEJ OCENY PROCESU WYTWARZANIA MASY FORMIERSKIEJ

TRANSFORMACJA DO UKŁADU 2000 A PROBLEM ZGODNOŚCI Z PRG

STATYSTYKA OPISOWA WYKŁAD 1 i 2

Wykład 5 Przedziały ufności. Przedział ufności, gdy znane jest σ. Opis słowny / 2

TESTY LOSOWOŚCI. Badanie losowości próby - test serii.

Statystyczne sterowanie procesem

16 Przedziały ufności

Obliczenie liczby zwojów w uzwojeniu wtórnym 1 pkt n n I = U I

Opracowanie danych pomiarowych. dla studentów realizujących program Pracowni Fizycznej

ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA

Elementy statystyki opisowej Izolda Gorgol wyciąg z prezentacji (wykład I)

Krzywe stożkowe. 1 Powinowactwo prostokątne. 2 Elipsa. Niech l będzie ustaloną prostą i k ustaloną liczbą dodatnią.

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Z WYTRZYMAŁOŚCI MATERIAŁÓW

Załącznik 5. do Umowy nr EPS/[ ]/2016 sprzedaży energii elektrycznej na pokrywanie strat powstałych w sieci przesyłowej. zawartej pomiędzy [ ]

Numeryczny opis zjawiska zaniku

Agenda. Piotr Sawicki Optymalizacja w transporcie. Politechnika Poznańska WIT ZST 1. Kluczowe elementy wykładu

2. INNE ROZKŁADY DYSKRETNE

Politechnika Poznańska

Ćwiczenia IV i V. 1 Rozwiązanie: Π. średnia liczba obsługiwanych klientów: 6.67 w ciągu godziny = Π1

SYSTEM OCENY STANU NAWIERZCHNI SOSN ZASADY POMIARU I OCENY STANU RÓWNOŚCI PODŁUŻNEJ NAWIERZCHNI BITUMICZNYCH W SYSTEMIE OCENY STANU NAWIERZCHNI SOSN

, dla n = 1, 2, 3, 4 : 2

Wykład 11. a, b G a b = b a,

Struktura czasowa stóp procentowych (term structure of interest rates)

SIGMA KWADRAT LUBELSKI KONKURS STATYSTYCZNO- DEMOGRAFICZNY

Pierwiastki z liczby zespolonej. Autorzy: Agnieszka Kowalik

Problem. Jak praktycznie badać jednostajną ciągłość funkcji?

2. Schemat ideowy układu pomiarowego

Chemia Teoretyczna I (6).

P π n π. Równanie ogólne płaszczyzny w E 3. Dane: n=[a,b,c] Wówczas: P 0 P=[x-x 0,y-y 0,z-z 0 ] Równanie (1) nazywamy równaniem ogólnym płaszczyzny

FILTRY ANALOGOWE Spis treści

Metody statystyczne kontroli jakości i niezawodności Lekcja II: Karty kontrolne.

Statystyka opisowa - dodatek

MACIERZE STOCHASTYCZNE

Transkrypt:

ZASTOSOWANIE KART KONTROLNYCH DO ANALIZY ZADOWOLENIA KLIENTÓW Tomasz Greber Politehika Wroławska, Istytut Orgaizaji i Zarządzaia Wprowadzeie Badaie zadowoleia klietów zdobywa ostatio w Polse oraz większą popularość. Nie jest to jedak jedyie przejawem troski o ryek, ale w dużej mierze wyikiem owyh wymagań zawartyh w ormah ISO serii 9000:2000. Normy te, opisująe systemy zarządzaia jakośią, wymuszają obeie a wdrażająyh je orgaizajah systematyzie badaie zadowoleia klietów oraz wykorzystywaie płyąyh stąd iformaji do doskoaleia swojego systemu zarządzaia. Zważywszy, że w Polse jest obeie około 4000 orgaizaji z wdrożoym i ertyfikowaym system zarządzaia jakośią (wześiej: zapewieia jakośi), tyle o ajmiej badań będzie przeprowadzayh orozie wśród klietów tyh orgaizaji. Jest to ozywiśie ogrome uproszzeie, ale faktem jest, że badaia takie ostatio się asiliły, a wiele orgaizaji poszukuje prostego sposobu a spełieie owyh wymagań orm ISO serii 9000 w zakresie badaia satysfakji klietów. Jedym z takih sposobów może być wykorzystaie kart kotrolyh, zayh główie z zastosowaia przy sterowaiu proesami produkyjymi. Karty kotrole (wprowadzoe do zarządzaia jakośią przez Shewharta) umożliwiają aalizę dayh pohodząyh z badaia systematyzie pobierayh próbek wyrobów, oeę a ile stabilie zahowuje się moitoroway proes i zy koieze jest igerowaie w jego przebieg. W przypadku wykorzystaia kart kotrolyh w badaiah satysfakji klietów a kartah tyh przedstawiay i aalizoway jest poziom zadowoleia w kolejyh prowadzoyh badaiah [2]. Ozywistym jest, że ai wyroby pohodząe z proesu produkyjego, ai poziom zadowoleia klietów ie będą w kolejyh badayh próbkah idetyze. Wyika to z pewyh zakłóeń wpływająyh a aalizoway obiekt i zmieiająyh jego przebieg. Nie jest możliwe uięie dwóh idetyzie długih kawałków kabla, ie jest możliwe wywiereie dwóh idetyzie głębokih otworów itd. Zawsze pojawią się o ajmiej mikroowe różie, które hoiaż ieistote z puktu widzeia jakośi produkowayh wyrobów, to jedak obee i wywoływae przez zakłóeia uiemożliwiająe prowadzeie proesów w idealie taki sam sposób. Karty kotrole pozwalają odróżić dwa rodzaje zakłóeń. Pierwsze to zakłóeia losowe, które są aturalą zęśią proesu 53

i trzeba się z imi pogodzić, bo ih usuwaie ie jest zwykle ai opłaale, ai potrzebe. Drugie to zakłóeia spejale, powodująe, że proes ulega zazemu rozregulowaiu, które powiy być elimiowae. Karta kotrola prowadzoa w postai grafizej wykorzystuje do oddzieleia tyh dwóh zakłóeń wykreśloe tzw. graie kotrole. Dopóki zebrae w próbe wyiki mieszzą się w tyh graiah uzać ależy, że obserwowaa zmieość zbierayh wyików jest spowodowaa zyikami losowymi. Kiedy któryś z wyików wykrozy poza te graie mówi się o tzw. rozregulowaiu proesu, o wymaga podjęia działań w elu jego skorygowaia. W kotekśie badaia zadowoleia klietów moża mówić w uproszzeiu o dwóh grupah metod. Pierwsza to metody przedstawiająe tylko obey poziom zadowoleia klietów i ie odosząe wprost uzyskayh wyików do wyików poprzedih badań (p. metody CSI, servqual). Karty kotrole ależą do drugiej grupy metod, które iformują, ogólie mówią, o zmiaah poziomu zadowoleia. Karta kotrola p Jedą z iformaji płyąyh z akiet wypełiayh przez klietów, którą w sposób ozywisty ależy aalizować, jest poziom zadowoleia z działalośi (wyrobów) orgaizaji. Moża p. jako parametr podlegająy adzorowi ustalić lizbę klietów w poszzególyh seriah badań (traktowayh jako próbka), którzy udzielili hoiaż jedej odpowiedzi egatywej a pytaia zawarte w skierowaej do ih akieie (były wię p. iezadowoloe o ajmiej z jedego aspektu współpray). Do aalizowaia takih właśie dayh posłużyć może karta kotrola p, a której pokazyway jest proet akiet, p. z o ajmiej jedą odpowiedzią egatywą w kolejyh seriah badań. Karty p w przypadku adzorowaia proesów produkyjyh służą do rejestrowaia i aalizowaia odsetka wyrobów iezgodyh w próbkah. W przypadku badaia zadowoleia klietów ależy zdefiiować, którego klieta (lub razej którą akietę) uzawać się będzie za wyrób iezgody. Może to być akieta z o ajmiej jedą lub dwoma odpowiedziami egatywymi, z przewagą odpowiedzi egatywyh lub moża to zdefiiować w jeszze iy sposób, ajlepiej przystająy do speyfiki badaia i wykorzystaej w im akiety. Wzory wykorzystywae przy tego typu karie pokazao a rys. 1. Góra graia kotrola UCL = p + 3 p(1 p) Pukt p k CL = p = p = k Dola graia kotrola LCL = p 3 p(1 p) Rys. 1. Wzory dla karty kotrolej p 54

Objaśieia do wzorów: p - frakja akiet uzayh za wyrób iezgody, k - lizba akiet uzayh za wyrób iezgody, - ilość zebrayh akiet w daym badaiu (ilość akietowayh), p - średia frakja akiet uzayh za wyrób iezgody. Jak widać, we wzorah a graie kotrole wykorzystywaa jest lizość próbki (ilość zebrayh akiet). Jeżeli lizość ta jest stała w kolejyh badaiah, ie ma problemu, jeżeli jedak lizość ta zmieia się, ależy wykorzystać jedo z dwu podejść: oblizyć oddziele graie kotrole dla poszzególyh badań (graie te będą wtedy łamae ), w przypadku gdy lizośi poszzególyh próbek są do siebie podobe moża do wzorów a graie kotrole podstawić średią lizość próbki w aalizowayh badaiah. Podejśie pierwsze jest bardziej dokłade, ale uiążliwe przy ręzym prowadzeiu karty kotrolej (kiedy to moża z powodzeiem zastosować rozwiązaie drugie). W przypadku gdy wielkość próbki (lizba poddawayh badaiu klietów) jest zawsze stała, zamiast karty kotrolej p moża stosować jej uproszzoą wersję kartę kotrolą p (jej opis moża zaleźć m.i. w opraowaiah [1] lub [3]). Przykład 1 zastosowaie karty kotrolej p Wytwória kostki brukowej przeprowadza za pomoą prostej akiety systematyze badaia ryku. W akieie zamieszzoo kilka pytań dotyząyh różyh aspektów działalośi firmy, p. Czy jest Pa/Pai zadowoloy z aszyh wyrobów?, Czy sposób pakowaia aszyh wyrobów jest prawidłowy? itp. Na każde pytaie akietoway udzielał odpowiedzi TAK (pozytywej) lub NIE (egatywej). W tabeli 1 przedstawioo wyiki badań z ostatiego roku (badaia były powtarzae o dwa tygodie i przeprowadzae a grupie 30 wylosowayh klietów firmy). Tabela 1. Wyiki przeprowadzoyh badań akietowyh Nr badaia Ilość akiet z o ajmiej jedą odpowiedzią egatywą Odsetek akiet z o ajmiej jedą odpowiedzią egatywą 1 4 0,13 2 2 0,07 3 3 0,10 4 6 0,20 5 9 0,30 6 12 0,40 55

Nr badaia Ilość akiet z o ajmiej jedą odpowiedzią egatywą Odsetek akiet z o ajmiej jedą odpowiedzią egatywą 7 4 0,13 8 8 0,27 9 23 0,77 10 2 0,07 11 3 0,10 12 7 0,23 13 8 0,27 14 9 0,30 15 7 0,23 16 9 0,30 17 8 0,27 18 3 0,10 19 4 0,13 20 5 0,17 21 2 0,07 22 11 0,37 23 12 0,40 24 15 0,50 25 6 0,20 0,9 Karta p Średia = 0,242667; Odh. stad. = 0,078269; :30 0,8 0,7 Proet akiet z o ajmiej jedą odpowiedzią egatywą 0,6 0,5 0,4 0,3 0,2 0,1,477,242 0,0 1 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 Numer badaia,007 Rys. 2. Karta kotrola p dla zebrayh akiet Na rys. 2 przedstawioo kartę kotrolą dla zebrayh dayh. 56

Na karie kotrolej widać, że w dwóh badaiah (r 9 i r 24) odsetek akiet z o ajmiej jedą odpowiedzią egatywą był zazie większy iż ormalie. Tego typu iformaje ależy odpowiedio ziterpretować, szukają przyzy takiego stau rzezy. Przedstawioy powyżej przykład dotyzył odsetka (proetu) akiet z o ajmiej jedą odpowiedzią egatywą. Moża taką kartę prowadzić, o zym już apisao wześiej, jeszze dla iyh dayh, p.: odsetek akiet ze średim wyikiem uzyskaym poiżej 3 (jeżeli dopuszzamy skalę puktową przy udzielaiu odpowiedzi), odsetek akiet ze źle wypełioymi rubrykami (możemy badać jakość akiet zyli ih zytelość dla akietowaego). Dopuszzale są ozywiśie jeszze ie, podobe przypadki. Karta kotrola Karta kotrola dostarzyć może więej dokładyh iformaji o wypełioyh przez klietów akietah iż karta p. Moża dzięki iej aalizować ie tylko to, ile było akiet o określoej lizbie odpowiedzi egatywyh (uzawayh za wyroby iezgode ), ale ile takih odpowiedzi egatywyh było w kolejyh przeprowadzoyh badaiah. Wykorzystaie karty kotrolej wymaga spełieia założeia o rówej lizośi klietów w poszzególyh badaiah (próbkah). Wzory wykorzystywae przy prowadzeiu karty kotrolej przedstawioo a rys. 3. Góra graia kotrola UCL = + 3 Pukt CL = = k Dola graia kotrola LCL = 3 Rys. 3. Wzory dla karty kotrolej Objaśieia do wzorów: - średia lizba odpowiedzi egatywyh, - lizba odpowiedzi egatywyh, k - lizba zebrayh serii akiet (przeprowadzoyh badań). 57

Przykład 2 zastosowaie karty kotrolej Aalizie poddao wyiki akiet dotyząyh sposobu obsługi klietów przez pukty serwisowe. W akieie (składająej się z trzeh pytań) pytao o róże zagadieia związae z tą obsługą. W tabeli 2 podae są wyiki badań akietowyh przeprowadzoyh w kolejyh miesiąah w wybrayh puktah obsługi serwisowej (akiety kierowao do 15 klietów w każdym pukie). Tabela 2. Wyiki akiet badająyh jakość obsługi klieta Numer badaia Ilość odpowiedzi egatywyh w akietah Numer badaia Ilość odpowiedzi egatywyh w akietah 1 16 13 17 2 12 14 18 3 14 15 9 4 19 16 10 5 32 17 12 6 21 18 12 7 15 19 17 8 17 20 12 9 14 21 11 10 13 22 9 11 11 23 19 12 3 24 29 Na rys. 4 przedstawioa jest karta kotrola dla zebrayh dayh. 35 Karta Średia =15,0833 Odh. stad. = 3,88373 Ilość odpowiedzi egatywyh w badaiu 30 25 20 15 10 5 26,7345 15,0833 3,43215 0 1 5 10 15 20 Numer badaia Rys. 4. Karta kotrola dla ilośi odpowiedzi egatywyh w kolejyh badaiah 58

Na karie tej wyraźie widać trzy ietypowe okresy: badaia r 5 i 24, gdzie było więej egatywyh odpowiedzi iż zwykle oraz badaie r 12, w którym było ih o wiele miej. Aaliza takih wyików zależy już ozywiśie od samej speyfiki firmy, jej elów oraz możliwośi poprawy sytuaji. Karta kotrola u W przypadku, gdy ie moża zapewić, że wszystkie poddawae aalizie próbki (badaia) mają jedakową lizość (jedakową lizbę akiet), zamiast karty ależy stosować bardzo podobą kartę kotrolą u. Karta ta uwzględia ilość akiet otrzymayh w poszzególyh badaiah. Wzory stosowae przy prowadzeiu karty u przedstawioo a rys. 5. u Góra graia kotrola UCL = u + 3 CL = u = u Pukt u = Dola graia kotrola LCL = u 3 u Rys. 5. Wzory dla karty kotrolej u Objaśieia do wzorów: u - średia lizba odpowiedzi egatywyh a akietę w przeprowadzoyh badaiah, u - średia lizba odpowiedzi egatywyh w badaiu a akietę, - lizba odpowiedzi egatywyh w badaiu, - lizba akiet w badaiu. Wykorzystaie tej karty jest aalogize do aalizy karty kotrolej. Karta kotrola X S Karty kotrole typu p, p, i u są odpowiedie, jeżeli zaprojektowae akiety są bardzo proste (możliwe odpowiedzi to tylko TAK lub NIE) lub kiedy ie są potrzebe dokłade wyiki z przeprowadzoyh badań. Jeżeli jedak akieta umożliwia klietowi opisywaie swoih odzuć przy użyiu dużej skali (p. od 1 do 5) do aalizy wyików moża użyć kartę X S. Wzory stosowae przy prowadzeiu karty kotrolej X S przedstawioo a rys. 6. 59

Góra graia kotrola 3S UCL = X + 4 Pukt X Dola graia kotrola X X = X CL = X = k 3S LCL = X 4 Góra graia kotrola UCL = B4S Pukt S CL 2 ( X X) i = i= 1 S = S S = k 1 Dola graia kotrola LCL = B3S Objaśieia do wzorów: Rys. 6. Wzory dla karty kotrolej X - wartość średia z uzyskayh odpowiedzi, - lizba akiet w badaiu (wielkość próbki), X - wartość średia z wartośi średih, k - lizba badań (ilość próbek), 4, B 3, B 4 - współzyiki statystyze dobierae z tabli, S - odhyleie stadardowe w badaiu, X S S - wartość średia z odhyleń stadardowyh w poszzególyh badaiah. Wykorzystują kartę X S, obliza się dwie statystyki dla kolejyh badań (próbek): wartość średią dla uzyskayh odpowiedzi oraz odhyleie stadardowe. Następie wyzaza się położeie grai kotrolyh dla tyh statystyk i aalizuje w odiesieiu do ih wyiki kolejyh badań. Przykład 3 zastosowaie karty kotrolej X S Pewa firma usługowa systematyzie o miesią bada zadowoleie swoih klietów (próbka = 20). Stosowaa do tego elu akieta ma postać przedstawioą a rys. 7. Podsumowaie zebrayh wyików zamieszzoo w tabeli 3. 60

Proszę wyrazić swoje zdaie odośie jakośi świadzoyh przez aszą firmę usług. Proszę zakreślić yfrę ajlepiej oddająą Twoją opiię. 1 Całkowiie się ie zgadzam 2 Nie zgadzam się 3 Ai się ie zgadzam, ai się zgadzam 4 Zgadzam się 5 Całkowiie się zgadzam 1. Persoel jest zawsze kompetety 1 2 3 4 5 2. W pukie obsługi klieta pauje miła 1 2 3 4 5 atmosfera 3. Iformaja dotyząa palety asortymetowej jest wystarzająa 1 2 3 4 5 Tabela 3. Wyiki przeprowadzoyh badań Numer badaia Rys. 7. Fragmet akiety z wykorzystaą skalą Likerta Wartośi średie dla uzyskayh odpowiedzi Odhyleia stadardowe dla uzyskayh odpowiedzi 1 3,21 0,97 2 2,84 1,09 3 3,31 1,12 4 3,47 1,02 5 2,85 0,80 6 2,79 1,07 7 3,59 1,13 8 3,30 0,86 9 2,99 0,91 10 3,50 1,10 11 2,99 1,08 12 2,59 0,99 13 2,67 0,87 14 3,06 0,93 15 3,02 1,28 16 2,54 1,03 17 2,70 0,83 18 3,31 1,14 19 2,77 0,92 20 2,57 0,96 61

Zebrae wyiki akiet przedstawioo za pomoą karty Karta wartośi średih X S (rys. 8). 4,0 3,8 3,6 3,4 3,2 3,0 2,8 2,6 2,4 2,2 2,0 1,6 1,4 1,2 1,0 0,8 0,6 0,4 1 5 10 15 20 Numer badaia Karta odhyleń stadardowyh 1 5 10 15 20 Numer badaia 3,68 3,00 2,32 1,49 1,00 0,51 Rys. 8. Karta X S dla zebrayh akiet Jak widać a karie kotrolej, wyiki dotyząe zadowoleia klieta są stabile. Moża jedyie zauważyć, że wyiki pierwszyh miej więej dziesięiu badań wskazują a ieo większe zadowoleie iż wyiki kolejyh. Jest to jedak iewielka różia. Niepokojąe jedak powio być to, że te stabily poziom wartośi średiej z uzyskayh odpowiedzi kształtuje się a poziomie wartośi 3, zyli odpowiedzi Ai się ie zgadzam, ai się zgadzam. Nie jest to a pewo wyik satysfakjoująy. Podsumowaie Podsumowują, ależy podkreślić, że karty kotrole są tylko jedym z arzędzi wykorzystywayh przy aalizowaiu dayh opisująyh zadowoleie klietów i zazwyzaj ie są wystarzająe, jeżeli ie są uzupełiae dodatkowymi aalizami z wykorzystaiem iyh metod. Bezsprzezą zaletą wykorzystaia kart kotrolyh jest ih prostota oraz otrzymywaie wyraźego sygału, kiedy ależy podejmować działaia z uwagi a istotą zmiaę poziomu zadowoleia klietów. Problemem, szzególie dla orgaizaji rozpozyająyh dopiero badaia satysfakji swoih klietów, może być koiezość zebraia dużej ilośi dayh, które umożliwią wykorzystaie kart kotrolyh. Zalea się, aby przed wykreśleiem kart kotrolyh dostępe były wyiki z o ajmiej dwudziestu badań (próbek). Jeżeli wię orgaizaja prowadzi badaia raz do roku, zastosowaie kart kotrolyh ie będzie miało razej sesu. Po pierwsze, graie będą mogły być wyzazoe dopiero po około dwudziestu latah badań, a po drugie, aalizowaie rozregulowań występująyh p. dziesięć lat temu ie będzie przyosiło praktyzie żadyh korzyśi. 62

Moża tu jeszze rozważyć możliwość wykorzystywaia kart kotrolyh w iy sposób, w ramah aalizowaia dayh z pojedyzyh badań. Moża p. wykorzystują kartę kotrolą pojedyzyh pomiarów IX-MR oeiać stabilość odpowiedzi od poszzególyh klietów w aalizowaym badaiu, o może wskazać, którzy z ih byli szzególie zadowolei bądź iezadowolei. Karty kotrole mogą być wykorzystywae przy badaiu zadowoleia klietów w bardzo róży sposób, a ih dobór i zastosowaie zależy w główej mierze od speyfiki prowadzoyh badań i ih zęstotliwośi. Literatura 1. Greber T., Statystyze sterowaie proesami doskoaleie jakośi z pakietem STATISTICA, StatSoft, Kraków 2000 r. 2. Hayes, B. E., Measurig Customer Satisfatio. Survey Desig, Use, ad Statistial Aalysis Methods, ASQ Quality Press, Milwaukee 1998 r. 3. Trietsh D., Statistial Quality Cotrol: a Loss Miimalizatio Approah, World Sietifi, Sigapore, New Jersey, Lodo, Hog Kog, 1999 r. 63