POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, INSTYTUT TELEKOMUNIKACJI TELEINFORMATYKI I AKUSTYKI, Wybrzeże Wyspiańskiego 27, Wrocław 2

Podobne dokumenty
i interpretowanie reprezentacji wykorzystanie i tworzenie reprezentacji wykorzystanie wykorzystanie i tworzenie reprezentacji

WPŁYW WARTOŚCI SKUTECZNEJ SYGNAŁU NA DOKŁADNOŚĆ POMIARU ZAWARTOŚCI HARMONICZNYCH

Wykład 1 Pojęcie funkcji, nieskończone ciągi liczbowe, dziedzina funkcji, wykres funkcji, funkcje elementarne, funkcje złożone, funkcje odwrotne.

Wybrane zagadnienia. Wykład 2a. Metoda simpleks rozwiązywania zadań programowania liniowego.

MATHCAD Obliczenia iteracyjne, macierze i wektory

CIĄGI LICZBOWE. Naturalną rzeczą w otaczającym nas świecie jest porządkowanie różnorakich obiektów, czyli ustawianie ich w pewnej kolejności.

Programowanie z więzami (CLP) CLP CLP CLP. ECL i PS e CLP

Zasada indukcji matematycznej. Dowody indukcyjne.

SYSTEM WIELKOŚCI CHARAKTERYZUJĄCY POTENCJALNĄ I ODDZIELONĄ CZĄSTKĘ ZUŻYCIA TRIBOLOGICZNEGO

Scenariusz lekcji matematyki w klasie II LO

Algebra WYKŁAD 5 ALGEBRA 1

MATEMATYKA Przed próbną maturą. Sprawdzian 2. (poziom rozszerzony) Rozwiązania zadań

Wykład 8: Całka oznanczona

7. Szeregi funkcyjne

METODY NUMERYCZNE. Wykład 6. Rozwiązywanie układów równań liniowych. dr hab. inż. Katarzyna Zakrzewska, prof. AGH. Met.Numer.

WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWEK CIENKICH ZA POMOCĄ ŁAWY OPTYCZNEJ

ZADANIA Z ANALIZY MATEMATYCZNEJ dla I roku kierunku informatyka WSZiB

ELEMENTÓW PRĘTOWYCH. Rys.D3.1

ODPOWIEDZI I SCHEMAT PUNKTOWANIA ZESTAW NR 1 POZIOM ROZSZERZONY

- macierz o n wierszach i k kolumnach. Macierz jest diagonalna jeśli jest kwadratowa i po za główną przekątną (diagonala) są

MATLAB PODSTAWY. [ ] tworzenie tablic, argumenty wyjściowe funkcji, łączenie tablic

WYKŁAD 7. UKŁADY RÓWNAŃ LINIOWYCH Macierzowa Metoda Rozwiązywania Układu Równań Cramera

ODPOWIEDZI I SCHEMAT PUNKTOWANIA ZESTAW NR 1 POZIOM ROZSZERZONY

Collegium Novum Akademia Maturalna

CIĄGI LICZBOWE N = zbiór liczb naturalnych. R zbiór liczb rzeczywistych (zbiór reprezentowany przez punkty osi liczbowej).

Układy równań liniowych Macierze rzadkie

Niepewność złożona jest sumą geometryczną udziałów niepewności składowych:

Realizacje zmiennych są niezależne, co sprawia, że ciąg jest ciągiem niezależnych zmiennych losowych,

KSZTAŁTOWANIE CHARAKTERYSTYK CZĘSTOTLIWOŚCIOWYCH NIEREKURSYWNYCH FILTRÓW WYGŁADZAJĄCYCH

I. DZIAŁANIA W ZBIORZE LICZB RZECZYWISTYCH ZBIORY LICZBOWE: liczby całkowite C : C..., 3, 2, 1,

TABLICE WZORÓW I TWIERDZEŃ MATEMATYCZNYCH zakres GIMNAZJUM

4. Rekurencja. Zależności rekurencyjne, algorytmy rekurencyjne, szczególne funkcje tworzące.

Metrologia: miary dokładności. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie

KONKURS MATEMATYCZNY dla uczniów gimnazjów w roku szkolnym 2012/13 III etap zawodów (wojewódzki) 12 stycznia 2013 r.

Wykład 9: Różne rodzaje zbieżności ciągów zmiennych losowych. Prawa wielkich liczb.

Zastosowanie multimetrów cyfrowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych

Główka pracuje - zadania wymagające myślenia... czyli TOP TRENDY nowej matury.

Wykład 12: Sumowanie niezależnych zmiennych losowych i jego związek ze splotem gęstości i transformatami Laplace a i Fouriera. Prawo wielkich liczb.

Metoda szeregów potęgowych dla równań różniczkowych zwyczajnych liniowych. Równanie różniczkowe zwyczajne liniowe drugiego rzędu ma postać

Wymagania edukacyjne matematyka klasa 2 zakres podstawowy 1. SUMY ALGEBRAICZNE

2. Tensometria mechaniczna

Struna nieograniczona

Macierze w MS Excel 2007

Wyznaczanie parametrów wytrzymałościowych gruntu w aparacie bezpośredniego ścinania (ABS).

Zadania z analizy matematycznej - sem. II Całki oznaczone i zastosowania

Katalog wymagań programowych na poszczególne stopnie szkolne. Matematyka. Poznać, zrozumieć

Model matematyczny strat objętościowych ściskania oleju hydraulicznego w pompie wyporowej o zmiennej wydajności

Algebra macierzowa. Akademia Morska w Gdyni Katedra Automatyki Okrętowej Teoria sterowania. Mirosław Tomera 1. ELEMENTARNA TEORIA MACIERZOWA

Modelowanie i obliczenia techniczne. Metody numeryczne w modelowaniu: Różniczkowanie i całkowanie numeryczne

Oznaczenia: K wymagania konieczne; P wymagania podstawowe; R wymagania rozszerzające; D wymagania dopełniające; W wymagania wykraczające

MATeMAtyka 3 inf. Przedmiotowy system oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych. Zakres podstawowy i rozszerzony. Dorota Ponczek, Karolina Wej

Wymagania edukacyjne matematyka klasa 2b, 2c, 2e zakres podstawowy rok szkolny 2015/ Sumy algebraiczne

1. Określ monotoniczność podanych funkcji, miejsce zerowe oraz punkt przecięcia się jej wykresu z osią OY

Miary położenia (tendencji centralnej) to tzw. miary przeciętne charakteryzujące średni lub typowy poziom wartości cechy.

SYNTEZA STRUKTURALNA PŁASKICH MANIPULATORÓW

Wykład 6 Dyfrakcja Fresnela i Fraunhofera

GENEZA WYZNACZNIKA. Układ równań liniowych z dwiema niewiadomymi. Rozwiązania układu metodą eliminacji Gaussa

Ciągi liczbowe podstawowe definicje i własności

PODEJMOWANIE OPTYMALNYCH DECYZJI PRODUKCYJNYCH W WARUNKACH NIEPEWNOŚCI. E. ZIÓŁKOWSKI 1 Wydział Odlewnictwa AGH, ul. Reymonta 23, Kraków

MODEL MATEMATYCZNY BILANSU MATERIAŁÓW WSADOWYCH O NIEPEWNYM SKŁADZIE CHEMICZNYM

WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI W KLASIE IIc ZAKRES PODSTAWOWY I ROZSZERZONY

Rozwiązywanie układów równań liniowych (1)

METODY NUMERYCZNE. Wykład 5. Całkowanie numeryczne. dr hab. inż. Katarzyna Zakrzewska, prof. AGH. Met.Numer. wykład 5 1

Wektor kolumnowy m wymiarowy macierz prostokątna o wymiarze n=1 Wektor wierszowy n wymiarowy macierz prostokątna o wymiarze m=1

Równania i nierówności kwadratowe z jedną niewiadomą

a a = 2 S n = 2 = r - constans > 0 - ciąg jest malejący q = b1, dla q 1 S n 1 CIĄGI jest rosnący (niemalejący), jeżeli dla każdego n a n

METODY NUMERYCZNE. Wykład 4. Całkowanie numeryczne. dr hab. inż. Katarzyna Zakrzewska, prof. AGH

I. CIĄGI I SZEREGI FUNKCYJNE. odwzorowań zbioru X w zbiór R [lub C] nazywamy ciągiem funkcyjnym.

Wymagania edukacyjne z matematyki w klasie III A i III B Liceum Plastycznego 2019/2020

Ciągi i szeregi liczbowe

Małgorzata Żak. Zapisane w genach. czyli o zastosowaniu matematyki w genetyce

Rachunek prawdopodobieństwa MAP1151 Wydział Elektroniki, rok akad. 2011/12, sem. letni Wykładowca: dr hab. A. Jurlewicz

PODSTAWY OPRACOWANIA WYNIKÓW POMIARÓW Z ELEMENTAMI ANALIZY NIEPEWNOŚCI POMIAROWYCH

Wymagania na poszczególne oceny z matematyki w Zespole Szkół im. St. Staszica w Pile Kl. II poziom rozszerzony

Szeregi o wyrazach dowolnych znaków, dwumian Newtona

2. Na ich rozwiązanie masz 90 minut. Piętnaście minut przed upływem tego czasu zostaniesz o tym poinformowany przez członka Komisji Konkursowej.

WYMAGANIA I KRYTERIA OCENIANIA Z MATEMATYKI W 3 LETNIM LICEUM OGÓLNOKSZTAŁCĄCYM klasa 2F 1. FUNKCJA LINIOWA

Katalog Arntjen Germany. Nowoczesna technika w oborze W opracowaniu brali udział rolnicy z całego świata!

Elektroenergetyczne sieci rozdzielcze SIECI 2004 V Konferencja Naukowo-Techniczna

POLITECHNIKA OPOLSKA

2. FUNKCJE WYMIERNE Poziom (K) lub (P)

Wymagania na ocenę dopuszczającą z matematyki klasa II Matematyka - Babiański, Chańko-Nowa Era nr prog. DKOS /02

3, leŝącym poniŝej punktu P. Wartości funkcji f są

usuwa niewymierność z mianownika wyrażenia typu

Journal of Agribusiness and Rural Development

[ ] I UKŁAD RÓWNAŃ Definicja 1 Układ m równań liniowych z n niewiadomymi x 1, x 2,., x n : II ROZW. UKŁADU RÓWNAŃ PRZY POMOCY MACIERZY ODWROTNEJ

Struktura energetyczna ciał stałych-cd. Fizyka II dla Elektroniki, lato

Fizyka. Kurs przygotowawczy. na studia inżynierskie. mgr Kamila Haule

STATYSTYKA OPISOWA WYKŁAD 1 i 2

3.1. Ciągi liczbowe - ograniczoność, monotoniczność, zbieżność ciągu. Liczba e. Twierdzenie o trzech ciągach.

Aby opisać strukturę krystaliczną, konieczne jest określenie jej części składowych: sieci przestrzennej oraz bazy atomowej.

Problem eliminowania fa szywych alarmów w komputerowych systemach ochrony peryferyjnej

Wymagania kl. 2. Uczeń:

KOMPENDIUM MATURZYSTY Matematyka poziom podstawowy

Propozycja przedmiotowego systemu oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych (zakres podstawowy)

ROLE OF CUSTOMER IN BALANCED DEVELOPMENT OF COMPANY

Protokół z pomiarów pól elektromagnetycznych w środowisku. Nr: LWiMP/056/2017. zakresu częstotliwości: poniżej 300 MHz

Ć W I C Z E N I E N R E-14

METODYKA OCENY WŁAŚCIWOŚCI SYSTEMU IDENTYFIKACJI PARAMETRYCZNEJ OBIEKTU BALISTYCZNEGO

STYLE. TWORZENIE SPISÓW TREŚCI

Transkrypt:

40 PAK vol. 58, r /0 Pweł BIEŃKOWSKI, Mrci ŚWIDERSKI, Brtłomiej ZUBRZAK POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, INSTYTUT TELEKOMUNIKACJI TELEINFORMATYKI I AKUSTYKI, Wybrzeże Wyspińskiego 7, 50-70 Wrocłw UNIWERSYTET EKONOMICZNY WE WROCŁAWIU, INSTYTUT RACHUNKOWOŚCI, ul. Komdorsk 8/0, 5-45 Wrocłw Wybre spekty wzorcowi mierików pol elektromgetyczego Dr iż. Pweł BIEŃKOWSKI Absolwet Wydziłu Elektroiki Politechiki Wrocłwskiej (Mgr iż. 99, Dr 998). Adiukt w Istytucie Telekomuikcji, Teleiformtyki i Akustyki PWr, Kierowik Prcowi Ochroy Środowisk Elektromgetyczego i z-c kierowik kredytowego lbortorium bdwczego (AB-6) i wzorcującego (AP-078). Zjmuje się szeroko pojętą metrologią pol elektromgetyczego, zwłszcz pod kątem ochroy środowisk i bezpieczeństw prcy w polu elektromgetyczym. e-mil: Pwel.biekowski@pwr.wroc.pl Mgr iż. Brtłomiej ZUBRZAK Absolwet Wydziłu Elektroiki Politechiki Wrocłwskiej Doktort w Istytucie Telekomuikcji, Teleiformtyki i Akustyki PWr, człoek persoelu Prcowi Ochroy Środowisk Elektromgetyczego orz kredytowego lbortorium bdwczego (AB-6) i wzorcującego (AP-078). Podejmuje temtykę iepewości związych z metrologią pol elektromgetyczego i zjmuje się utomtyzcją procesów wzorcowi. e-mil: Brtlomiej.zubrzk@pwr.wroc.pl Mgr iż. Mrci ŚWIDERSKI Absolwet Wydziłu Elektroiki Politechiki Wrocłwskiej orz Wydziłu Mtemtyki i Iformtyki Uiwersytetu Wrocłwskiego. Doktort w Istytucie Rchukowości Uiwersytetu Ekoomiczego we Wrocłwiu. W prcy zwodowej zjmuję się cotrolligiem fisowym, więc jedym z dziłów rchukowości zrządczej. e-mil: mrci004@wp.pl Streszczeie Wzorcowie mierików PEM to proces, w którym pojwi się wiele spektów dyskusyjych. Prc przedstwi iektóre z ich wrz z różymi podejścimi do ich rozwiązi. Dokoo w iej porówi metod uśredii wyiku pomiru, tkże poruszoo ie kwestie mjące wpływ wyik wzorcowi jk p. dobór kąt obrotu w trkcie pomiru izotropowego wrz z odiesieiem się do orm i zleceń. Prc stowi podłoże do dlszych bdń orz do dyskusji. Słow kluczowe: wzorcowie, pole elektromgetycze, mieriki PEM, izotropowość. Selected spects of electromgetic field meter clibrtio Abstrct Electromgetic field (EMF) meter clibrtio is process full of my spects ope to questios. The first sectio of the pper cotis review of EMF meter clibrtio methods icludig bsic metrologicl chrcteristics. This topic ws developed i the et sectios whe pyig specil ttetio to essetil fctors ifluecig the clibrtio result. The prmeter o which gretest ttetio is focused is isotropy. I the pper there is lysed the ifluece of my elemets coected with isotropy evlutio, like for emple positio of EMF detector i reltio to the field vector (Fig. ) or selectio of mesuremet step gle (Tb. d Fig. 4), o the clibrtio result. There re lysed problems relted to isotropy estimtio whe usig few differet pproches to its solvig. There is lso mde compriso of mesuremet result vergig methods with use of proper sttistic lysis (Figs. 6, 7 d 8). Questios of mior importce icludig refereces to vilble stdrds d recommedtios re delt with [, 4, 8, 9]. The preseted spects re specific evlutio of methods preseted i Europe d Americ stdrds d recommedtios s well s sigliztio of possible methodology differeces resulted from its meig diversities. Simulteously There is show the lck of Polish stdrds i this field. The groud for further reserch d ope discussio is give. Keywords: electromgetic field, EMF meters, clibrtio, isotropy.. Wzorcowie W szeroko pojętej metrologii podstwowym czyikiem, którym bzuje pomir jest odpowiedio wywzorcowy przyrząd pomirowy. Wzorcowie (zywe tkże klibrcją) to zbiór opercji ustljących, w określoych wrukch, relcję między wrtościmi wielkości mierzoej wskzymi przez przyrząd pomirowy, odpowiedimi wrtościmi relizowymi przez wzorce jedostki miry []. Iymi słowy wzorcowie to przypisie wskziu przyrządu wzorcowego odpowidjącej temu wskziu wrtości wielkości mierzoej. Tką grupę przyrządów stowią rówież mieriki tężei pol elektromgetyczego (PEM) stosowe w pomirch związych z komptybilością elektromgetyczą i ochroą przed dmierą ekspozycją ludzi i środowisk PEM. Są to mieriki pol o stosukowo dużym tężeiu (w zleżości od mierzoej skłdowej pol od części V/m, A/m lub W/m ż do kv/m, ka/m i kw/m) w szerokim pśmie częstotliwości od pól stłych ż do zkresu mikrofl (rzędu dziesiątek ). Dl tego typu mierików istote są trzy podstwowe rodzje chrkterystyk metrologiczych[]: Chrkterystyk mplitudow przedstwi rekcję urządzei wzorcowego zmię mplitudy wielkości mierzoej. W rozwżym przypdku będzie to zmi pięci wyjściu czujik w stosuku do zmiy tężei mierzoego pol elektromgetyczego. Zwykle oczekuje się, żeby zmiy te były liiowe (lub opise ią fukcją, p. kwdrtową), odchyleie od zdej fukcji jest mirą ieliiowości czujik. Chrkterystyk częstotliwościow obrzuje rekcje urządzei wzorcowego zmię częstotliwości wielkości mierzoej, czyli częstotliwości geerowego pol elektromgetyczego, przy zchowiu stłego tężei PEM. Chrkterystyki czsowe określją tkie prmetry jk czs rekcji urządzei potrzeby ukłdowi pomirowemu osiągięcie 90% wrtości ustloej wskzń po skokowej zmiie sygłu pobudzjącego orz zmię rekcji mierik pole modulowe, zwłszcz z modulcją impulsową w stosuku do pol iemodulowego pol hrmoiczego. Istotość poszczególych chrkterystyk zleży od kostrukcji i przezczei mierik. Np. do pomirów przywołych wcześiej pomirów potrzeby komptybilości elektromgetyczej czy ochroy przed dmierą ekspozycją PEM brdzo często stosuje się mieriki szerokopsmowe z czujikmi o chrkterystyce wszechkierukowej (sferyczej) []. Dl tkich czujików iezwykle istotym prmetrem, poz wymieioymi chrkterystykmi metrologiczymi, jest izotropowość zdefiiow jko odchyleie wskzń mierik w zleżości od kieruku pdi mierzoego PEM [4].

PAK vol. 58, r /0 4. Izotropowość jko prmetr metrologiczy mierik PEM Mieriki PEM mogą być wyposżoe w róże (często wymiee) sody. Dzielimy je kierukowe (jedoosiowe) orz izotropowe (trójosiowe, wszechkierukowe) i te osttie będą przedmiotem dlszych liz. Sody kierukowe to tkie, których chrkterystyk przestrze odpowid chrkterystyce pojedyczego dipol, tym smym wskzie mierik z tką sodą zleży od wzjemego położei tey czujik i kieruku wektor pol. Dl uzyski prwidłowego wyiku pomiru iezbęde jest wyszukie w przestrzei tkiego położei, w którym wskzie jest mksymle. W tym przypdku wruki pomiru są zbliżoe do wruków wzorcowi w obu przypdkch sodę mierik leży ustwić mksimum wskzń. Sody izotropowe (domiujące ryku) zbudowe są jczęściej z zestwu trzech czujików umieszczoych ortogolie, wyikiem pomiru jest RSS (z g. Root Squre Sum pierwistek sumy kwdrtów). Jeżeli poszczególe czujiki umieścimy wzdłuż osi krtezjńskiego ukłdu współrzędych, to wyik pomiru moż zpisć jko: E totl E E E () Spełieie tej zleżości gwrtuje iezmieość wskzi mierik w fukcji wzjemego położei sody pomirowej i wektor mierzoego pol. W prktyce występuje szereg czyików, które powodują, że chrkterystyk t ie jest idel i wskzi mierik zmieiją się przy obrciu sodą. Mirą tych zmi jest włśie izotropowość. Poiewż ideą stosowi sod izotropowych jest brk koieczości wyszukiwi mksimum wskzń, ie m prktyczie możliwości zpewiei powtrzlości wruków wzorcowi i pomiru w trkcie ormlej eksplotcji mierik. Oczywiście i w tym przypdku moż zlecić wyszukiwie wskzi mksymlego, le po pierwsze - to kłóci się z ideą stosowi sod sferyczych, po drugie - większość dostępych komercyjie mierików posid sody sztywo połączoe z mierikiem, co uiemożliwi swobody obrót urządzei z jedoczesym odczytem wrtości ze wskźik. Npise powyżej powoduje, że iezbęde jest ustleie procedur wyzczi izotropowości orz określeie, jk leży wyzczyć wyik wzorcowi. Izotropowość zleż jest od kostrukcji sody i zwykle zmiei się w fukcji częstotliwości, często rówież tężei mierzoego PEM [, 4]. Dl wyzczei izotropowości idelym rozwiąziem byłoby tkie obróceie sody, podczs którego zebro by pomiry z cłej powierzchi sfery, le ze względów prktyczych pomiry relizuje się zwykle w jedej płszczyźie. Defiiuje się trzy sposoby ustwiei wzorcowej sody względem wektor PEM w wrukch wzorcowi (rys. ): ustwieie rówoległe i prostopdłe uchwytu sody do kieruku propgcji orz ustwieie pod tzw. kątem lityczym [5]. y z Położeie rówoległe (physicl mjor is) miimlizuje wpływ oddziływi PEM doprowdzei sygłu między sodą mierikiem, które zwykle prowdzoe są w uchwycie sody. W położeiu prostopdłym (physicl mior is) uchwyt sody ustwioy jest prostopdle do wektor pol i kieruku propgcji. Jest to typowe położeie sod przy wzorcowiu p. używjąc populrego wzorc PEM, jkim jest lii TEM (g. Trsverse Electromgetic ) [6]. Żde z ustwień ie jest w pełi uiwersle i jego użyteczość zleży od wewętrzej kostrukcji sody ( włściwie od ustwiei czujików względem osi odiesiei, jką jest uchwyt sody). W prktyce przyjmuje się, że jbrdziej uiwersle jest ustwieie b). Jeżeli sod izotropow zbudow jest z trzech pojedyczych czujików umieszczoych ortogolie wzdłuż trzech krwędzi wirtulego sześciu, którego przekątą jest oś uchwytu sody, to przy obrocie wokół osi, co 0 o kolejy z czujików skłdowych ustwi się w położeiu swojego jwiększego wskzi, kiedy dw pozostłe są ustwioe miimum rekcji, tym smym przy pełym obrocie uzyskuje się iformcję o stosuku wskzń poszczególych sod orz izotropowości cłej sody. Kąt lityczy defiiuje zleżość: Rys.. Fig.. rcsi rcsi 54,74. () Defiicj kąt lityczego Defiitio of lyticl gle. Czyiki wpływjące wyik pomiru izotropowości Ustwieie sody PEM W zleżości od zstosowego ustwiei otrzyme wyiki mogą się od siebie różić, dltego istote jest zwrcie iformcji o położeiu sody PEM wrz z prezetcją wyików klibrcji. Rys.. Fig.. Ustwiei sod: położeie prostopdłe (), pod kątem lityczym (b) i rówoległe (c) Probe positio: perpediculr (), uder lyticl gle (b) d prllel (c) Rys.. Fig.. Przykłdowe wyiki wyzczi chrkterystyki częstotliwościowej tego smego mierik PEM w trzech różych położeich sody pomirowej Eemplry compriso of EMF vlues obtied durig clibrtio tke o the sme device i three differet probe positio

4 PAK vol. 58, r /0 Rysuek prezetuje przykłdowe wyiki wyzczei chrkterystyki częstotliwościowej mierik z sodą izotropową prcującą w pśmie MHz-8 przy różych ustwieich sody. Wyikiem wzorcowi jest wskzie mierik przy stłym tężeiu pol wzorcowego w fukcji częstotliwości. W zleżości od sposobu ustwiei sody, różice w uzyskych wyikch sięgją wet 0%. pomirch obrót uzyske wyiki mskują defekt, co w kosekwecji może spowodowć dopuszczeie do użytku przyrządu, który powiie zostć sklsyfikowy jko iesprwy. Dobór liczby pomirów cząstkowych w trkcie obrotu sody Przy wyzcziu izotropowości sody jedym z istotych prmetrów jest liczb pomirów podczs obrotu sody w polu wzorcowym, któr determiuje zrówo dokłdość odwzorowi chrkterystyki przestrzeej sody jk i czs wykoi wzorcowi. Zlecy krok pomirowy powiie być miejszy iż 5º [7], co dje co jmiej 4 pomiry jede obrót. Autorzy dyspoując zutomtyzowym stowiskiem pomirowym o rozdzielczości,8º dokoli lizy wpływu ilości kroków ostteczy wyik pomiru. Jko odiesieie do liz przyjęto pomir z jwiększą rozdzielczością, to jest 00 pomirów jede obrót. Tbel prezetuje wyiki porówi wyrżoe we współczyiku będącym stosukiem zmierzoego PEM przy kroku o rozdzielczości,8º do wyików pomirów odpowiedio z rozdzielczością,6º; 7, º i 4,4 º. Jk widć jwiększ różic to % (w przypdku 00 kroków obrót dl częstotliwości,5 ). Rys. 4. Fig. 4. Porówie wykresów izotropowości orz wyików wzorcowi dl 50 () i 5 (b) pomirów obrót Compriso of isotropy chrcteristics d clibrtio results for 50 () d 5 (b) mesuremets per rottio Tb.. Tb.. Porówie wyików pomiru PEM w zleżości od liczby kroków obrót Compriso of EMF mesuremet results depedig o step cout per rottio Liczb kroków obrót (kąt kroku pomirowego) Stosuek wrtości tężei PEM odiesiei (dl kąt,8 º) do wrtości uzyskych przy poszczególych kątch kroku pomirowego dl różych częstotliwości PEM,5,5 00 (,8 º),00,00,00,00,00 00 (,6 º) 0,99,00,00,0,00 50 (7,º),0,0,00,0,0 5 (4,4 º),0,0,00,0,0 Po serii bdń, do prktyczego stosowi przyjęto liczbę kroków rówą 50 pomirów obrót (krok co 7, º), co jk wskzują powyższe wyiki jest wrtością zpewijącą prwidłowe określei izotropowości sody. Pomir o tkim kroku spełi zlecei orz stowi doskoły kompromis między czsem pomiru, jego dokłdością, któr powi być tyle duż, by wychwycić prwidłowo wrtość miimlą i mksymlą z cłej serii pomirów, tkże być w stie ujwić ewetule defekty w chrkterystyce przestrzeej sody. Rówie istotym prmetrem jest czs pomiru, który bezpośredio przekłd się koszt wzorcowi. Moż zuwżyć, że liczb 5 pomirów obrót rówież się sprwdz i spełi zlecei, jedkże doświdczlie okzło się, że przy tk dużym kroku pomirowym może zistieć sytucj logicz do pokzej rysuku 4. Jko wyik ostteczy przyjęto średi rytmetyczą ze wskzi mksymlego i miimlego. Rysuek 4 przedstwi sytucję, w której zbyt mł liczb kroków może wpłyąć ostteczy wyik pomiru. W przypdku b) ieprwidłowo wyzczoo wrtość miimlą z obrotu, co zfłszowło w kosekwecji wyik cłego pomiru. Dobierjąc zbyt młą liczbę kroków w zprezetowym przykłdzie wyik wzrósł o pod 5% (liczoy wg [8]). Koleją sytucję wyikjącą z ieprwidłowego doboru kroku pomirowego ilustruje rysuek 5. Mmy tu do czyiei z iewykryciem brdzo ostrego miimum, które wskzywłoby uszkodzeie jedego z detektorów. Przy 5 Rys. 5. Fig. 5. Wykres izotropowości sody w zleżości od ilości pomirów obrót obrzujący ieprwidłowe wykrycie wrtości miimlej pomiru ) 00 pomirów, b) 50 pomirów, c) 5 pomirów Probe isotropy plot depedig o mesuremet cout per rottio showig icorrect detectio of miiml mesuremet result ) 00 mesuremets, b) 50 mesuremets, c) 5 mesuremets Wyik wzorcowi Wyikiem kżdego pomiru jest przedził wrtości, w którym zjduje się wyik prwidłowy. Ze względów prktyczych zwykle jko wyik pomiru podje się pojedyczą wrtość i przedził błędu lub iepewość pomiru. Alogicz sytucj występuje przy wzorcowiu. W tym przypdku wskzie przyjęte jko wyik wzorcowi stje się wskziem odiesiei przy późiejszych pomirch. Rozptrując mieriki PEM z sodmi izotropowymi pojwi się pytie: co jest wyikiem wzorcowi w tym przypdku?

PAK vol. 58, r /0 4 Wyzczeie izotropowości sprowdz się do wyzczei mksymlych zmi wskzi mierik przy pełym obrocie sody jest to w zsdzie pomir względy. Bezwzględ wrtość mksyml i miiml wskzń określ przedził zmieości wyiku wzorcowi i moż by go przyjąć jko wyik wzorcowi, le rozwiązie to jest ieprktycze. Oczekujemy pojedyczego wyiku, izotropowość stje się jedą ze skłdowych iepewości pomiru. W tym momecie pojwi się koleje pytie: w jki sposób wyzczyć tą pojedyczą wrtość z otrzymego przedziłu zmieości, by zpewić możliwie jmiejszą iepewość pomiru? Moż przyjąć z ormmi (p. [8]), że wyikiem jest średi geometrycz z wrtości mksymlej orz miimlej uzyskej przy pomirze izotropowości, le czy jest to optymle rozwiązie? Dl ocey tego zgdiei, poiżej przedstwioo wyiki liz różego podejści do iterpretcji wyików wzorcowi. W rozwżich skupioo się zsdiczo trzech rodzjch uśrediei wyiku z przedziłu: Średi rytmetycz jbrdziej populry i ituicyjy sposób uśredii. Cechuje go duż wrżliwość skrje wrtości cłego przedziłu. Wyrż się wzorem: wtedy przyjmowo średią z tych przedziłów). Po przelizowiu prwie 70 zestwień dych otrzymo rezultty prezetowe rysuku 7 i 8.... i i. () Moż tkże zstosowć średią z wrtości m i mi.: E mi m. (4) Średi geometrycz stosow jczęściej w bdich średiego temp zmi zjwisk. Chrkteryzuje się tym, że w miejszym stopiu iż średi rytmetycz odzwierciedl wpływ wrtości ekstremlych przecięty poziom zmieej. Rys. 6. Fig. 6. Przykłdowe histogrmy uzyske w trkcie bdń Eemplry histogrms obtied durig ivestigtios G.... (5) i i Alogiczie jk dl średiej rytmetyczej, tu rówież moż zstosowć średią geometryczą z wrtości m i mi.: GE. (6) mi m Medi - dzieli zbiorowość dwie rówe części; połow jedostek m wrtości cechy miejsze lub rówe mediie, połow wrtości cechy rówe lub większe od mediy. Cechuje ją brk wrżliwości wrtości odstjące, czyli wrtości brdzo wyrźie oddloe od iych wrtości w serii pomirowej, dzięki temu pomiry tkie wcle lub tylko iezczie wpływją wrtość mediy. Rys. 7. Fig. 7. Zestwieie wyików porówi uśredień wrz z liimi regresji wielomiowej Averge compriso results together with polyomil regressio lies Me gdy ieprzyste gdy przyste (7) Jko kryterium będące wyzczikiem jkości dego uśrediei utorzy przyjęli jego przyleżość do przedziłu wrtości chrkteryzującego się jwiększą częstością występowi wyiku. Iymi słowy w kotekście pomirów i wzorcowi chodzi o to, by wykoując dy pomir otrzymć jedozczy wyik iezleżie od położei sody, więc sesowym wydje się kryterium jwyższego prwdopodobieństw wystąpiei dego wyiku w trkcie pomiru. Rysuek 6 ilustruje rozkłd przedziłów wyików uzyskych podczs rzeczywistych serii pomirowych. Widć kżdym z ich przedził wyrźie domiujący (lbo grupę przedziłów Rys. 8. Fig. 8. Zestwieie porówi liii regresji wielomiowej z wyików uśredień Compriso of polyomil regressio lies from verge results Otrzyme wyiki wskzują iewielki rozrzut w zleżości od stosowej metody uśredii wyiku. Rysuki 7 i 8 jedozczie wskzują, że jbrdziej prwdopodoby wyik, jki

44 PAK vol. 58, r /0 otrzymmy w trkcie pomiru będzie efektem średiej rytmetyczej z wrtości miimlej i mksymlej. Uśredioe prwdopodobieństw przedstwioe rysuku 9 mogłyby suwć jedk wiosek, że whi te są stosukowo młe, le rysuku 8 liie tredów dość obrzowo przedstwiją większe prwdopodobieństwo wystąpiei wyiku z metody średiej rytmetyczej z miimum i mksimum. Zskkując jest tkże duż różic w prwdopodobieństwie pomiędzy średimi wyzczymi ze wszystkich wrtości tymi obliczoymi z wrtości griczych. Obierie wrtości krńcowych jest wyjątkowo iekorzyste w przypdku średiej geometryczej (czyli zgodie z zleceimi w [8]) uśrediie rytmetycze dje o wiele większe prwdopodobieństwo otrzymi wyiku zbliżoego do uzego przez utorów jko poprwego (0, w porówiu do 0,6 w przypdku średiej geometryczej). Po lizie uzyskych dych (których ie zprezetowo w prcy ze względu ich obszerość) suwją się stępujące wioski: Średi rytmetycz doskole sprwdz się w przypdku sod o wyrźych miimch i mksimch. Ksztłt chrkterystyki izotropowej tkiej sody przypomi trójlistą koiczyę Jeśli sod m okrągłą chrkterystykę izotropowości, czyli wrz z obrotem sody odczyte wrtości fluktuują w brdzo młym zkresie, doskole sprwdz się zstosowie mediy jko wrtości wyiku. Porówywle wyiki dje tkże średi rytmetycz z cłego przedziłu. Różic w uśredioym prwdopodobieństwie wyosi ok. 0,07 (od 0,6 do 0,), jedk w idywidulych przypdkch potrfił sięgć wet 0,. To obrzuje jk brdzo użyt metod może wpłyąć ostteczy wyik wzorcowi Uśrediei bzujące wrtościch skrjych iosą ryzyko dużego zfłszowi ostteczego wyiku, gdy w serii pomirowej wkrdie się błąd (p. w postci pojedyczej igły zrówo wysokiego jk i brdzo iskiego poziomu chwilowego PEM zmierzoego przez wzorcowy mierik p. skutek zmi tł elektromgetyczego lbo w skutek błędu przetwrzi klibrowego urządzei). Dobr prktyk kzuje wykoywć dwukrotie kżdy z pomirów izotropowych, co w zczym stopiu redukuje ryzyko pomyłki spowodowe błędem pomirowym. 4. Podsumowie Rys. 9. Fig. 9. Zestwieie uśredioych prwdopodobieństw wystąpiei wyiku dej średiej Compriso of verged probbilities of prticulr verge result occurrece W prcy przedstwioo podstwowe widomości temt wzorcowi mierików pol elektromgetyczego. Szczególą uwgę zwrócoo sposób wyzczi wyiku wzorcowi dl sod wszechkierukowych (izotropowych). Przelizowo róże metody i przedstwioo wioski. Wioski te mogą być użytecze podczs oprcowywi metodyki wzorcowi orz budżetu iepewości pomiru, poiewż istiejące w tym zkresie ormy i rekomedcje zgricze ie są jedozcze, polskie prktyczie ie istieją. 5. Litertur [] VIM, Itertiol vocbulry of bsic d geerl terms i metrology - wydie polskie: Międzyrodowy słowik podstwowych i ogólych termiów z metrologii, Główy Urząd Mir, Wrszw 996. [] Bieńkowski P.: Chrkterystyki metrologicze mierików tężei pol elektromgetyczego. Przegląd Elektrotechiczy, 009. [] Bieńkowski P., Trzsk H.: EMF meters for surveyig purposes clibrtio d vlidtio. W: 00 Asi-Pcific Itertiol Symposium o Electromgetic Comptibility, April -6, 00, Beijig, Chi. [Pisctwy, NJ] : IEEE, cop. 00. [4] PN-EN 506:00 Pomir dwki swoistej bsorpcji (SAR) związej z ekspozycją ludzi pol elektromgetycze wytwrze przez telefoy ruchome w zkresie częstotliwości od 00 MHz do ; Norm podstwow. [5] Trzsk H.: Pomiry pól elektromgetyczych w polu bliskim, PWN, Wrszw-Wrocłw 998. [6] Crwford M. L.: Geertio of stdrd EM fields usig TEM trsmissio cells, IEEE Trs. Electromg. Compt., vol. 6, pp. 89 95, 974. [7] Bieńkowski P.: Electromgetic fields mesuremets methods d ccurcy estimtio, Studies i Applied Electromgetics d Mechics,; vol. 9,: IOS Press ISSN 8-78. [8] IEEE 09 Clibrtio of Electromgetic Field Sesors d Probes, Ecludig Ates, from 9 khz to 40. [9] PN-EN 508:00 - Obliczei i pomiry itesywości pol elektromgetyczego i swoistego temp pochłii eergii związego z ekspozycją ludzi w polch elektromgetyczych o częstotliwościch od 0 MHz do 40, wytwrzych przez rdiowe stcje bzowe i stłe stcje końcowe bezprzewodowych systemów telekomuikcyjych. Norm podstwow. otrzymo / received: 0..0 przyjęto do druku / ccepted: 0.0.0 rtykuł recezowy / revised pper INFORMACJE Iformcj redkcji dotycząc rtykułów współutorskich W miesięcziku PAK od umeru 06/00 w główkch rtykułów współutorskich wskzywy jest utor korespodujący (Correspodig Author), tj. te z którym redkcj prowdzi wszelkie uzgodiei etpie przygotowi rtykułu do publikcji. Jego zwisko jest wyróżioe drukiem pogrubioym. Tkie ozczeie ie odosi się do fktyczego udziłu współutor w oprcowiu rtykułu. Podto w główku rtykułu podwe są dresy korespodecyje wszystkich współutorów. Wprowdzo procedur wyik z międzyrodowych stdrdów wydwiczych. Redkcj