POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, INSTYTUT TELEKOMUNIKACJI TELEINFORMATYKI I AKUSTYKI, Wybrzeże Wyspiańskiego 27, Wrocław 2

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, INSTYTUT TELEKOMUNIKACJI TELEINFORMATYKI I AKUSTYKI, Wybrzeże Wyspiańskiego 27, Wrocław 2"

Transkrypt

1 40 PAK vol. 58, r /0 Pweł BIEŃKOWSKI, Mrci ŚWIDERSKI, Brtłomiej ZUBRZAK POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, INSTYTUT TELEKOMUNIKACJI TELEINFORMATYKI I AKUSTYKI, Wybrzeże Wyspińskiego 7, Wrocłw UNIWERSYTET EKONOMICZNY WE WROCŁAWIU, INSTYTUT RACHUNKOWOŚCI, ul. Komdorsk 8/0, 5-45 Wrocłw Wybre spekty wzorcowi mierików pol elektromgetyczego Dr iż. Pweł BIEŃKOWSKI Absolwet Wydziłu Elektroiki Politechiki Wrocłwskiej (Mgr iż. 99, Dr 998). Adiukt w Istytucie Telekomuikcji, Teleiformtyki i Akustyki PWr, Kierowik Prcowi Ochroy Środowisk Elektromgetyczego i z-c kierowik kredytowego lbortorium bdwczego (AB-6) i wzorcującego (AP-078). Zjmuje się szeroko pojętą metrologią pol elektromgetyczego, zwłszcz pod kątem ochroy środowisk i bezpieczeństw prcy w polu elektromgetyczym. e-mil: Pwel.biekowski@pwr.wroc.pl Mgr iż. Brtłomiej ZUBRZAK Absolwet Wydziłu Elektroiki Politechiki Wrocłwskiej Doktort w Istytucie Telekomuikcji, Teleiformtyki i Akustyki PWr, człoek persoelu Prcowi Ochroy Środowisk Elektromgetyczego orz kredytowego lbortorium bdwczego (AB-6) i wzorcującego (AP-078). Podejmuje temtykę iepewości związych z metrologią pol elektromgetyczego i zjmuje się utomtyzcją procesów wzorcowi. e-mil: Brtlomiej.zubrzk@pwr.wroc.pl Mgr iż. Mrci ŚWIDERSKI Absolwet Wydziłu Elektroiki Politechiki Wrocłwskiej orz Wydziłu Mtemtyki i Iformtyki Uiwersytetu Wrocłwskiego. Doktort w Istytucie Rchukowości Uiwersytetu Ekoomiczego we Wrocłwiu. W prcy zwodowej zjmuję się cotrolligiem fisowym, więc jedym z dziłów rchukowości zrządczej. e-mil: mrci004@wp.pl Streszczeie Wzorcowie mierików PEM to proces, w którym pojwi się wiele spektów dyskusyjych. Prc przedstwi iektóre z ich wrz z różymi podejścimi do ich rozwiązi. Dokoo w iej porówi metod uśredii wyiku pomiru, tkże poruszoo ie kwestie mjące wpływ wyik wzorcowi jk p. dobór kąt obrotu w trkcie pomiru izotropowego wrz z odiesieiem się do orm i zleceń. Prc stowi podłoże do dlszych bdń orz do dyskusji. Słow kluczowe: wzorcowie, pole elektromgetycze, mieriki PEM, izotropowość. Selected spects of electromgetic field meter clibrtio Abstrct Electromgetic field (EMF) meter clibrtio is process full of my spects ope to questios. The first sectio of the pper cotis review of EMF meter clibrtio methods icludig bsic metrologicl chrcteristics. This topic ws developed i the et sectios whe pyig specil ttetio to essetil fctors ifluecig the clibrtio result. The prmeter o which gretest ttetio is focused is isotropy. I the pper there is lysed the ifluece of my elemets coected with isotropy evlutio, like for emple positio of EMF detector i reltio to the field vector (Fig. ) or selectio of mesuremet step gle (Tb. d Fig. 4), o the clibrtio result. There re lysed problems relted to isotropy estimtio whe usig few differet pproches to its solvig. There is lso mde compriso of mesuremet result vergig methods with use of proper sttistic lysis (Figs. 6, 7 d 8). Questios of mior importce icludig refereces to vilble stdrds d recommedtios re delt with [, 4, 8, 9]. The preseted spects re specific evlutio of methods preseted i Europe d Americ stdrds d recommedtios s well s sigliztio of possible methodology differeces resulted from its meig diversities. Simulteously There is show the lck of Polish stdrds i this field. The groud for further reserch d ope discussio is give. Keywords: electromgetic field, EMF meters, clibrtio, isotropy.. Wzorcowie W szeroko pojętej metrologii podstwowym czyikiem, którym bzuje pomir jest odpowiedio wywzorcowy przyrząd pomirowy. Wzorcowie (zywe tkże klibrcją) to zbiór opercji ustljących, w określoych wrukch, relcję między wrtościmi wielkości mierzoej wskzymi przez przyrząd pomirowy, odpowiedimi wrtościmi relizowymi przez wzorce jedostki miry []. Iymi słowy wzorcowie to przypisie wskziu przyrządu wzorcowego odpowidjącej temu wskziu wrtości wielkości mierzoej. Tką grupę przyrządów stowią rówież mieriki tężei pol elektromgetyczego (PEM) stosowe w pomirch związych z komptybilością elektromgetyczą i ochroą przed dmierą ekspozycją ludzi i środowisk PEM. Są to mieriki pol o stosukowo dużym tężeiu (w zleżości od mierzoej skłdowej pol od części V/m, A/m lub W/m ż do kv/m, ka/m i kw/m) w szerokim pśmie częstotliwości od pól stłych ż do zkresu mikrofl (rzędu dziesiątek ). Dl tego typu mierików istote są trzy podstwowe rodzje chrkterystyk metrologiczych[]: Chrkterystyk mplitudow przedstwi rekcję urządzei wzorcowego zmię mplitudy wielkości mierzoej. W rozwżym przypdku będzie to zmi pięci wyjściu czujik w stosuku do zmiy tężei mierzoego pol elektromgetyczego. Zwykle oczekuje się, żeby zmiy te były liiowe (lub opise ią fukcją, p. kwdrtową), odchyleie od zdej fukcji jest mirą ieliiowości czujik. Chrkterystyk częstotliwościow obrzuje rekcje urządzei wzorcowego zmię częstotliwości wielkości mierzoej, czyli częstotliwości geerowego pol elektromgetyczego, przy zchowiu stłego tężei PEM. Chrkterystyki czsowe określją tkie prmetry jk czs rekcji urządzei potrzeby ukłdowi pomirowemu osiągięcie 90% wrtości ustloej wskzń po skokowej zmiie sygłu pobudzjącego orz zmię rekcji mierik pole modulowe, zwłszcz z modulcją impulsową w stosuku do pol iemodulowego pol hrmoiczego. Istotość poszczególych chrkterystyk zleży od kostrukcji i przezczei mierik. Np. do pomirów przywołych wcześiej pomirów potrzeby komptybilości elektromgetyczej czy ochroy przed dmierą ekspozycją PEM brdzo często stosuje się mieriki szerokopsmowe z czujikmi o chrkterystyce wszechkierukowej (sferyczej) []. Dl tkich czujików iezwykle istotym prmetrem, poz wymieioymi chrkterystykmi metrologiczymi, jest izotropowość zdefiiow jko odchyleie wskzń mierik w zleżości od kieruku pdi mierzoego PEM [4].

2 PAK vol. 58, r /0 4. Izotropowość jko prmetr metrologiczy mierik PEM Mieriki PEM mogą być wyposżoe w róże (często wymiee) sody. Dzielimy je kierukowe (jedoosiowe) orz izotropowe (trójosiowe, wszechkierukowe) i te osttie będą przedmiotem dlszych liz. Sody kierukowe to tkie, których chrkterystyk przestrze odpowid chrkterystyce pojedyczego dipol, tym smym wskzie mierik z tką sodą zleży od wzjemego położei tey czujik i kieruku wektor pol. Dl uzyski prwidłowego wyiku pomiru iezbęde jest wyszukie w przestrzei tkiego położei, w którym wskzie jest mksymle. W tym przypdku wruki pomiru są zbliżoe do wruków wzorcowi w obu przypdkch sodę mierik leży ustwić mksimum wskzń. Sody izotropowe (domiujące ryku) zbudowe są jczęściej z zestwu trzech czujików umieszczoych ortogolie, wyikiem pomiru jest RSS (z g. Root Squre Sum pierwistek sumy kwdrtów). Jeżeli poszczególe czujiki umieścimy wzdłuż osi krtezjńskiego ukłdu współrzędych, to wyik pomiru moż zpisć jko: E totl E E E () Spełieie tej zleżości gwrtuje iezmieość wskzi mierik w fukcji wzjemego położei sody pomirowej i wektor mierzoego pol. W prktyce występuje szereg czyików, które powodują, że chrkterystyk t ie jest idel i wskzi mierik zmieiją się przy obrciu sodą. Mirą tych zmi jest włśie izotropowość. Poiewż ideą stosowi sod izotropowych jest brk koieczości wyszukiwi mksimum wskzń, ie m prktyczie możliwości zpewiei powtrzlości wruków wzorcowi i pomiru w trkcie ormlej eksplotcji mierik. Oczywiście i w tym przypdku moż zlecić wyszukiwie wskzi mksymlego, le po pierwsze - to kłóci się z ideą stosowi sod sferyczych, po drugie - większość dostępych komercyjie mierików posid sody sztywo połączoe z mierikiem, co uiemożliwi swobody obrót urządzei z jedoczesym odczytem wrtości ze wskźik. Npise powyżej powoduje, że iezbęde jest ustleie procedur wyzczi izotropowości orz określeie, jk leży wyzczyć wyik wzorcowi. Izotropowość zleż jest od kostrukcji sody i zwykle zmiei się w fukcji częstotliwości, często rówież tężei mierzoego PEM [, 4]. Dl wyzczei izotropowości idelym rozwiąziem byłoby tkie obróceie sody, podczs którego zebro by pomiry z cłej powierzchi sfery, le ze względów prktyczych pomiry relizuje się zwykle w jedej płszczyźie. Defiiuje się trzy sposoby ustwiei wzorcowej sody względem wektor PEM w wrukch wzorcowi (rys. ): ustwieie rówoległe i prostopdłe uchwytu sody do kieruku propgcji orz ustwieie pod tzw. kątem lityczym [5]. y z Położeie rówoległe (physicl mjor is) miimlizuje wpływ oddziływi PEM doprowdzei sygłu między sodą mierikiem, które zwykle prowdzoe są w uchwycie sody. W położeiu prostopdłym (physicl mior is) uchwyt sody ustwioy jest prostopdle do wektor pol i kieruku propgcji. Jest to typowe położeie sod przy wzorcowiu p. używjąc populrego wzorc PEM, jkim jest lii TEM (g. Trsverse Electromgetic ) [6]. Żde z ustwień ie jest w pełi uiwersle i jego użyteczość zleży od wewętrzej kostrukcji sody ( włściwie od ustwiei czujików względem osi odiesiei, jką jest uchwyt sody). W prktyce przyjmuje się, że jbrdziej uiwersle jest ustwieie b). Jeżeli sod izotropow zbudow jest z trzech pojedyczych czujików umieszczoych ortogolie wzdłuż trzech krwędzi wirtulego sześciu, którego przekątą jest oś uchwytu sody, to przy obrocie wokół osi, co 0 o kolejy z czujików skłdowych ustwi się w położeiu swojego jwiększego wskzi, kiedy dw pozostłe są ustwioe miimum rekcji, tym smym przy pełym obrocie uzyskuje się iformcję o stosuku wskzń poszczególych sod orz izotropowości cłej sody. Kąt lityczy defiiuje zleżość: Rys.. Fig.. rcsi rcsi 54,74. () Defiicj kąt lityczego Defiitio of lyticl gle. Czyiki wpływjące wyik pomiru izotropowości Ustwieie sody PEM W zleżości od zstosowego ustwiei otrzyme wyiki mogą się od siebie różić, dltego istote jest zwrcie iformcji o położeiu sody PEM wrz z prezetcją wyików klibrcji. Rys.. Fig.. Ustwiei sod: położeie prostopdłe (), pod kątem lityczym (b) i rówoległe (c) Probe positio: perpediculr (), uder lyticl gle (b) d prllel (c) Rys.. Fig.. Przykłdowe wyiki wyzczi chrkterystyki częstotliwościowej tego smego mierik PEM w trzech różych położeich sody pomirowej Eemplry compriso of EMF vlues obtied durig clibrtio tke o the sme device i three differet probe positio

3 4 PAK vol. 58, r /0 Rysuek prezetuje przykłdowe wyiki wyzczei chrkterystyki częstotliwościowej mierik z sodą izotropową prcującą w pśmie MHz-8 przy różych ustwieich sody. Wyikiem wzorcowi jest wskzie mierik przy stłym tężeiu pol wzorcowego w fukcji częstotliwości. W zleżości od sposobu ustwiei sody, różice w uzyskych wyikch sięgją wet 0%. pomirch obrót uzyske wyiki mskują defekt, co w kosekwecji może spowodowć dopuszczeie do użytku przyrządu, który powiie zostć sklsyfikowy jko iesprwy. Dobór liczby pomirów cząstkowych w trkcie obrotu sody Przy wyzcziu izotropowości sody jedym z istotych prmetrów jest liczb pomirów podczs obrotu sody w polu wzorcowym, któr determiuje zrówo dokłdość odwzorowi chrkterystyki przestrzeej sody jk i czs wykoi wzorcowi. Zlecy krok pomirowy powiie być miejszy iż 5º [7], co dje co jmiej 4 pomiry jede obrót. Autorzy dyspoując zutomtyzowym stowiskiem pomirowym o rozdzielczości,8º dokoli lizy wpływu ilości kroków ostteczy wyik pomiru. Jko odiesieie do liz przyjęto pomir z jwiększą rozdzielczością, to jest 00 pomirów jede obrót. Tbel prezetuje wyiki porówi wyrżoe we współczyiku będącym stosukiem zmierzoego PEM przy kroku o rozdzielczości,8º do wyików pomirów odpowiedio z rozdzielczością,6º; 7, º i 4,4 º. Jk widć jwiększ różic to % (w przypdku 00 kroków obrót dl częstotliwości,5 ). Rys. 4. Fig. 4. Porówie wykresów izotropowości orz wyików wzorcowi dl 50 () i 5 (b) pomirów obrót Compriso of isotropy chrcteristics d clibrtio results for 50 () d 5 (b) mesuremets per rottio Tb.. Tb.. Porówie wyików pomiru PEM w zleżości od liczby kroków obrót Compriso of EMF mesuremet results depedig o step cout per rottio Liczb kroków obrót (kąt kroku pomirowego) Stosuek wrtości tężei PEM odiesiei (dl kąt,8 º) do wrtości uzyskych przy poszczególych kątch kroku pomirowego dl różych częstotliwości PEM,5,5 00 (,8 º),00,00,00,00,00 00 (,6 º) 0,99,00,00,0,00 50 (7,º),0,0,00,0,0 5 (4,4 º),0,0,00,0,0 Po serii bdń, do prktyczego stosowi przyjęto liczbę kroków rówą 50 pomirów obrót (krok co 7, º), co jk wskzują powyższe wyiki jest wrtością zpewijącą prwidłowe określei izotropowości sody. Pomir o tkim kroku spełi zlecei orz stowi doskoły kompromis między czsem pomiru, jego dokłdością, któr powi być tyle duż, by wychwycić prwidłowo wrtość miimlą i mksymlą z cłej serii pomirów, tkże być w stie ujwić ewetule defekty w chrkterystyce przestrzeej sody. Rówie istotym prmetrem jest czs pomiru, który bezpośredio przekłd się koszt wzorcowi. Moż zuwżyć, że liczb 5 pomirów obrót rówież się sprwdz i spełi zlecei, jedkże doświdczlie okzło się, że przy tk dużym kroku pomirowym może zistieć sytucj logicz do pokzej rysuku 4. Jko wyik ostteczy przyjęto średi rytmetyczą ze wskzi mksymlego i miimlego. Rysuek 4 przedstwi sytucję, w której zbyt mł liczb kroków może wpłyąć ostteczy wyik pomiru. W przypdku b) ieprwidłowo wyzczoo wrtość miimlą z obrotu, co zfłszowło w kosekwecji wyik cłego pomiru. Dobierjąc zbyt młą liczbę kroków w zprezetowym przykłdzie wyik wzrósł o pod 5% (liczoy wg [8]). Koleją sytucję wyikjącą z ieprwidłowego doboru kroku pomirowego ilustruje rysuek 5. Mmy tu do czyiei z iewykryciem brdzo ostrego miimum, które wskzywłoby uszkodzeie jedego z detektorów. Przy 5 Rys. 5. Fig. 5. Wykres izotropowości sody w zleżości od ilości pomirów obrót obrzujący ieprwidłowe wykrycie wrtości miimlej pomiru ) 00 pomirów, b) 50 pomirów, c) 5 pomirów Probe isotropy plot depedig o mesuremet cout per rottio showig icorrect detectio of miiml mesuremet result ) 00 mesuremets, b) 50 mesuremets, c) 5 mesuremets Wyik wzorcowi Wyikiem kżdego pomiru jest przedził wrtości, w którym zjduje się wyik prwidłowy. Ze względów prktyczych zwykle jko wyik pomiru podje się pojedyczą wrtość i przedził błędu lub iepewość pomiru. Alogicz sytucj występuje przy wzorcowiu. W tym przypdku wskzie przyjęte jko wyik wzorcowi stje się wskziem odiesiei przy późiejszych pomirch. Rozptrując mieriki PEM z sodmi izotropowymi pojwi się pytie: co jest wyikiem wzorcowi w tym przypdku?

4 PAK vol. 58, r /0 4 Wyzczeie izotropowości sprowdz się do wyzczei mksymlych zmi wskzi mierik przy pełym obrocie sody jest to w zsdzie pomir względy. Bezwzględ wrtość mksyml i miiml wskzń określ przedził zmieości wyiku wzorcowi i moż by go przyjąć jko wyik wzorcowi, le rozwiązie to jest ieprktycze. Oczekujemy pojedyczego wyiku, izotropowość stje się jedą ze skłdowych iepewości pomiru. W tym momecie pojwi się koleje pytie: w jki sposób wyzczyć tą pojedyczą wrtość z otrzymego przedziłu zmieości, by zpewić możliwie jmiejszą iepewość pomiru? Moż przyjąć z ormmi (p. [8]), że wyikiem jest średi geometrycz z wrtości mksymlej orz miimlej uzyskej przy pomirze izotropowości, le czy jest to optymle rozwiązie? Dl ocey tego zgdiei, poiżej przedstwioo wyiki liz różego podejści do iterpretcji wyików wzorcowi. W rozwżich skupioo się zsdiczo trzech rodzjch uśrediei wyiku z przedziłu: Średi rytmetycz jbrdziej populry i ituicyjy sposób uśredii. Cechuje go duż wrżliwość skrje wrtości cłego przedziłu. Wyrż się wzorem: wtedy przyjmowo średią z tych przedziłów). Po przelizowiu prwie 70 zestwień dych otrzymo rezultty prezetowe rysuku 7 i i i. () Moż tkże zstosowć średią z wrtości m i mi.: E mi m. (4) Średi geometrycz stosow jczęściej w bdich średiego temp zmi zjwisk. Chrkteryzuje się tym, że w miejszym stopiu iż średi rytmetycz odzwierciedl wpływ wrtości ekstremlych przecięty poziom zmieej. Rys. 6. Fig. 6. Przykłdowe histogrmy uzyske w trkcie bdń Eemplry histogrms obtied durig ivestigtios G.... (5) i i Alogiczie jk dl średiej rytmetyczej, tu rówież moż zstosowć średią geometryczą z wrtości m i mi.: GE. (6) mi m Medi - dzieli zbiorowość dwie rówe części; połow jedostek m wrtości cechy miejsze lub rówe mediie, połow wrtości cechy rówe lub większe od mediy. Cechuje ją brk wrżliwości wrtości odstjące, czyli wrtości brdzo wyrźie oddloe od iych wrtości w serii pomirowej, dzięki temu pomiry tkie wcle lub tylko iezczie wpływją wrtość mediy. Rys. 7. Fig. 7. Zestwieie wyików porówi uśredień wrz z liimi regresji wielomiowej Averge compriso results together with polyomil regressio lies Me gdy ieprzyste gdy przyste (7) Jko kryterium będące wyzczikiem jkości dego uśrediei utorzy przyjęli jego przyleżość do przedziłu wrtości chrkteryzującego się jwiększą częstością występowi wyiku. Iymi słowy w kotekście pomirów i wzorcowi chodzi o to, by wykoując dy pomir otrzymć jedozczy wyik iezleżie od położei sody, więc sesowym wydje się kryterium jwyższego prwdopodobieństw wystąpiei dego wyiku w trkcie pomiru. Rysuek 6 ilustruje rozkłd przedziłów wyików uzyskych podczs rzeczywistych serii pomirowych. Widć kżdym z ich przedził wyrźie domiujący (lbo grupę przedziłów Rys. 8. Fig. 8. Zestwieie porówi liii regresji wielomiowej z wyików uśredień Compriso of polyomil regressio lies from verge results Otrzyme wyiki wskzują iewielki rozrzut w zleżości od stosowej metody uśredii wyiku. Rysuki 7 i 8 jedozczie wskzują, że jbrdziej prwdopodoby wyik, jki

5 44 PAK vol. 58, r /0 otrzymmy w trkcie pomiru będzie efektem średiej rytmetyczej z wrtości miimlej i mksymlej. Uśredioe prwdopodobieństw przedstwioe rysuku 9 mogłyby suwć jedk wiosek, że whi te są stosukowo młe, le rysuku 8 liie tredów dość obrzowo przedstwiją większe prwdopodobieństwo wystąpiei wyiku z metody średiej rytmetyczej z miimum i mksimum. Zskkując jest tkże duż różic w prwdopodobieństwie pomiędzy średimi wyzczymi ze wszystkich wrtości tymi obliczoymi z wrtości griczych. Obierie wrtości krńcowych jest wyjątkowo iekorzyste w przypdku średiej geometryczej (czyli zgodie z zleceimi w [8]) uśrediie rytmetycze dje o wiele większe prwdopodobieństwo otrzymi wyiku zbliżoego do uzego przez utorów jko poprwego (0, w porówiu do 0,6 w przypdku średiej geometryczej). Po lizie uzyskych dych (których ie zprezetowo w prcy ze względu ich obszerość) suwją się stępujące wioski: Średi rytmetycz doskole sprwdz się w przypdku sod o wyrźych miimch i mksimch. Ksztłt chrkterystyki izotropowej tkiej sody przypomi trójlistą koiczyę Jeśli sod m okrągłą chrkterystykę izotropowości, czyli wrz z obrotem sody odczyte wrtości fluktuują w brdzo młym zkresie, doskole sprwdz się zstosowie mediy jko wrtości wyiku. Porówywle wyiki dje tkże średi rytmetycz z cłego przedziłu. Różic w uśredioym prwdopodobieństwie wyosi ok. 0,07 (od 0,6 do 0,), jedk w idywidulych przypdkch potrfił sięgć wet 0,. To obrzuje jk brdzo użyt metod może wpłyąć ostteczy wyik wzorcowi Uśrediei bzujące wrtościch skrjych iosą ryzyko dużego zfłszowi ostteczego wyiku, gdy w serii pomirowej wkrdie się błąd (p. w postci pojedyczej igły zrówo wysokiego jk i brdzo iskiego poziomu chwilowego PEM zmierzoego przez wzorcowy mierik p. skutek zmi tł elektromgetyczego lbo w skutek błędu przetwrzi klibrowego urządzei). Dobr prktyk kzuje wykoywć dwukrotie kżdy z pomirów izotropowych, co w zczym stopiu redukuje ryzyko pomyłki spowodowe błędem pomirowym. 4. Podsumowie Rys. 9. Fig. 9. Zestwieie uśredioych prwdopodobieństw wystąpiei wyiku dej średiej Compriso of verged probbilities of prticulr verge result occurrece W prcy przedstwioo podstwowe widomości temt wzorcowi mierików pol elektromgetyczego. Szczególą uwgę zwrócoo sposób wyzczi wyiku wzorcowi dl sod wszechkierukowych (izotropowych). Przelizowo róże metody i przedstwioo wioski. Wioski te mogą być użytecze podczs oprcowywi metodyki wzorcowi orz budżetu iepewości pomiru, poiewż istiejące w tym zkresie ormy i rekomedcje zgricze ie są jedozcze, polskie prktyczie ie istieją. 5. Litertur [] VIM, Itertiol vocbulry of bsic d geerl terms i metrology - wydie polskie: Międzyrodowy słowik podstwowych i ogólych termiów z metrologii, Główy Urząd Mir, Wrszw 996. [] Bieńkowski P.: Chrkterystyki metrologicze mierików tężei pol elektromgetyczego. Przegląd Elektrotechiczy, 009. [] Bieńkowski P., Trzsk H.: EMF meters for surveyig purposes clibrtio d vlidtio. W: 00 Asi-Pcific Itertiol Symposium o Electromgetic Comptibility, April -6, 00, Beijig, Chi. [Pisctwy, NJ] : IEEE, cop. 00. [4] PN-EN 506:00 Pomir dwki swoistej bsorpcji (SAR) związej z ekspozycją ludzi pol elektromgetycze wytwrze przez telefoy ruchome w zkresie częstotliwości od 00 MHz do ; Norm podstwow. [5] Trzsk H.: Pomiry pól elektromgetyczych w polu bliskim, PWN, Wrszw-Wrocłw 998. [6] Crwford M. L.: Geertio of stdrd EM fields usig TEM trsmissio cells, IEEE Trs. Electromg. Compt., vol. 6, pp , 974. [7] Bieńkowski P.: Electromgetic fields mesuremets methods d ccurcy estimtio, Studies i Applied Electromgetics d Mechics,; vol. 9,: IOS Press ISSN [8] IEEE 09 Clibrtio of Electromgetic Field Sesors d Probes, Ecludig Ates, from 9 khz to 40. [9] PN-EN 508:00 - Obliczei i pomiry itesywości pol elektromgetyczego i swoistego temp pochłii eergii związego z ekspozycją ludzi w polch elektromgetyczych o częstotliwościch od 0 MHz do 40, wytwrzych przez rdiowe stcje bzowe i stłe stcje końcowe bezprzewodowych systemów telekomuikcyjych. Norm podstwow. otrzymo / received: 0..0 przyjęto do druku / ccepted: rtykuł recezowy / revised pper INFORMACJE Iformcj redkcji dotycząc rtykułów współutorskich W miesięcziku PAK od umeru 06/00 w główkch rtykułów współutorskich wskzywy jest utor korespodujący (Correspodig Author), tj. te z którym redkcj prowdzi wszelkie uzgodiei etpie przygotowi rtykułu do publikcji. Jego zwisko jest wyróżioe drukiem pogrubioym. Tkie ozczeie ie odosi się do fktyczego udziłu współutor w oprcowiu rtykułu. Podto w główku rtykułu podwe są dresy korespodecyje wszystkich współutorów. Wprowdzo procedur wyik z międzyrodowych stdrdów wydwiczych. Redkcj

i interpretowanie reprezentacji wykorzystanie i tworzenie reprezentacji wykorzystanie wykorzystanie i tworzenie reprezentacji

i interpretowanie reprezentacji wykorzystanie i tworzenie reprezentacji wykorzystanie wykorzystanie i tworzenie reprezentacji KLUCZ ODPOWIEDZI I ZASADY PUNKTOWANIA PRÓBNEGO EGZAMINU MATURALNEGO Z MATEMATYKI POZIOM PODSTAWOWY Nr zdi Odpowiedzi Pukty Bde umiejętości Obszr stdrdu. B 0 pluje i wykouje obliczei liczbch rzeczywistych,

Bardziej szczegółowo

WPŁYW WARTOŚCI SKUTECZNEJ SYGNAŁU NA DOKŁADNOŚĆ POMIARU ZAWARTOŚCI HARMONICZNYCH

WPŁYW WARTOŚCI SKUTECZNEJ SYGNAŁU NA DOKŁADNOŚĆ POMIARU ZAWARTOŚCI HARMONICZNYCH POZNAN UNIVE RSIY OF E CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 90 Electricl Egieerig 017 DOI 10.1008/j.1897-0737.017.90.0019 Piotr KUWAŁEK* Przemysłw OOMAŃSKI* WPŁYW WAROŚCI SKUECZNEJ SYGNAŁU NA DOKŁADNOŚĆ POMIARU

Bardziej szczegółowo

Wykład 1 Pojęcie funkcji, nieskończone ciągi liczbowe, dziedzina funkcji, wykres funkcji, funkcje elementarne, funkcje złożone, funkcje odwrotne.

Wykład 1 Pojęcie funkcji, nieskończone ciągi liczbowe, dziedzina funkcji, wykres funkcji, funkcje elementarne, funkcje złożone, funkcje odwrotne. Wykłd Pojęcie fukcji, ieskończoe ciągi liczbowe, dziedzi fukcji, wykres fukcji, fukcje elemetre, fukcje złożoe, fukcje odwrote.. Fukcje Defiicj.. Mówimy, że w zbiorze liczb X jest określo pew fukcj f,

Bardziej szczegółowo

Wybrane zagadnienia. Wykład 2a. Metoda simpleks rozwiązywania zadań programowania liniowego.

Wybrane zagadnienia. Wykład 2a. Metoda simpleks rozwiązywania zadań programowania liniowego. Wybre zgdiei bdń opercyjych Wykłd Metod simpleks rozwiązywi zdń progrmowi liiowego Prowdzący: dr iiż.. Zbiigiiew TARAPATA De kotktowe: e-mil: WWW: Zbigiew.Trpt@wt.edu.pl http://trpt.stref.pl tel. : 83-94-3,

Bardziej szczegółowo

MATHCAD 2000 - Obliczenia iteracyjne, macierze i wektory

MATHCAD 2000 - Obliczenia iteracyjne, macierze i wektory MTHCD - Obliczei itercyje, mcierze i wektory Zmiee zkresowe. Tblicowie fukcji Wzór :, π.. π..8.9...88.99..8....8.98. si().9.88.89.9.9.89.88.9 -.9 -.88 -.89 -.9 - Opis, :,, przeciek, Ctrl+Shift+P, /,, ;średik,

Bardziej szczegółowo

CIĄGI LICZBOWE. Naturalną rzeczą w otaczającym nas świecie jest porządkowanie różnorakich obiektów, czyli ustawianie ich w pewnej kolejności.

CIĄGI LICZBOWE. Naturalną rzeczą w otaczającym nas świecie jest porządkowanie różnorakich obiektów, czyli ustawianie ich w pewnej kolejności. CIĄGI LICZBOWE Nturlą rzeczą w otczjącym s świecie jest porządkowie różorkich obiektów, czyli ustwiie ich w pewej kolejości. Dl przykłdu tworzymy różego rodzju rkigi, p. rkig jlepszych kierowców rjdowych.

Bardziej szczegółowo

Programowanie z więzami (CLP) CLP CLP CLP. ECL i PS e CLP

Programowanie z więzami (CLP) CLP CLP CLP. ECL i PS e CLP Progrmowie z więzmi (CLP) mjąc w PROLOGu: p(x) :- X < 0. p(x) :- X > 0. i pytjąc :- p(x). dostiemy Abort chcelibyśmy..9 CLP rozrzeszeie progrmowi w logice o kocepcję spełii ogriczeń rozwiązie = logik +

Bardziej szczegółowo

Zasada indukcji matematycznej. Dowody indukcyjne.

Zasada indukcji matematycznej. Dowody indukcyjne. Zsd idukcji mtemtyczej. Dowody idukcyje. W rozdzile sformułowliśmy dl liczb turlych zsdę miimum. Bezpośredią kosekwecją tej zsdy jest brdzo wże twierdzeie, które umożliwi i ułtwi wiele dowodów twierdzeń

Bardziej szczegółowo

SYSTEM WIELKOŚCI CHARAKTERYZUJĄCY POTENCJALNĄ I ODDZIELONĄ CZĄSTKĘ ZUŻYCIA TRIBOLOGICZNEGO

SYSTEM WIELKOŚCI CHARAKTERYZUJĄCY POTENCJALNĄ I ODDZIELONĄ CZĄSTKĘ ZUŻYCIA TRIBOLOGICZNEGO 6-0 T B O L O G 8 Piotr SDOWSK * SYSTEM WELKOŚC CKTEYZUĄCY POTECLĄ ODDZELOĄ CZĄSTKĘ ZUŻYC TBOLOGCZEGO SYSTEM OF VLUES CCTEZED POTETL D SEPTED WE PTCLE Słow kluczowe: prc trci, zużywie ściere, cząstk zużyci,

Bardziej szczegółowo

Scenariusz lekcji matematyki w klasie II LO

Scenariusz lekcji matematyki w klasie II LO Autor: Jerzy Wilk Sceriusz lekcji mtemtyki w klsie II LO oprcowy w oprciu o podręczik i zbiór zdń z mtemtyki utorów M. Bryński, N. Dróbk, K. Szymński Ksztłceie w zkresie rozszerzoym Czs trwi: jed godzi

Bardziej szczegółowo

Algebra WYKŁAD 5 ALGEBRA 1

Algebra WYKŁAD 5 ALGEBRA 1 lger WYKŁD 5 LGEBR Defiicj Mcierzą ieosoliwą zywmy mcierz kwdrtową, której wyzczik jest róży od zer. Mcierzą osoliwą zywmy mcierz, której wyzczik jest rówy zeru. Defiicj Mcierz odwrot Mcierzą odwrotą do

Bardziej szczegółowo

MATEMATYKA Przed próbną maturą. Sprawdzian 2. (poziom rozszerzony) Rozwiązania zadań

MATEMATYKA Przed próbną maturą. Sprawdzian 2. (poziom rozszerzony) Rozwiązania zadań MATEMATYKA Przed próbą mturą Sprwdzi (poziom rozszerzoy) Rozwiązi zdń Zdie ( pkt) P Uczeń oblicz potęgi o wykłdikc wymieryc i stosuje prw dziłń potęgc o wykłdikc wymieryc 5 ( ) 7 5 Odpowiedź: C Zdie (

Bardziej szczegółowo

Wykład 8: Całka oznanczona

Wykład 8: Całka oznanczona Wykłd 8: Cłk ozczo dr Mriusz Grządziel grudi 28 Pole trójkt prboliczego Problem. Chcemy obliczyć pole s figury S ogriczoej prostą y =, prostą = i wykresem fukcji f() = 2. Rozwizie przybliżoe. Dzielimy

Bardziej szczegółowo

7. Szeregi funkcyjne

7. Szeregi funkcyjne 7 Szeregi ukcyje Podstwowe deiicje i twierdzei Niech u,,,, X o wrtościch w przestrzei Y będą ukcjmi określoymi zbiorze X Mówimy, że szereg ukcyjy u jest zbieży puktowo do sumy, jeżeli ciąg sum częściowych

Bardziej szczegółowo

METODY NUMERYCZNE. Wykład 6. Rozwiązywanie układów równań liniowych. dr hab. inż. Katarzyna Zakrzewska, prof. AGH. Met.Numer.

METODY NUMERYCZNE. Wykład 6. Rozwiązywanie układów równań liniowych. dr hab. inż. Katarzyna Zakrzewska, prof. AGH. Met.Numer. ETODY NUERYCZNE Wykłd 6. Rozwiązywie ukłdów rówń liiowych dr hb. iż. Ktrzy Zkrzewsk, prof. AGH et.numer. wykłd 6 Pl etody dokłde etod elimicji Guss etod Guss-Seidl Rozkłd LU et.numer. wykłd 6 Ukłd rówń

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWEK CIENKICH ZA POMOCĄ ŁAWY OPTYCZNEJ

WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWEK CIENKICH ZA POMOCĄ ŁAWY OPTYCZNEJ ĆWICZENIE 9 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWEK CIENKICH ZA POMOCĄ ŁAWY OPTYCZNEJ Opis kł pomirowego A) Wyzzie ogiskowej sozewki skpijąej z pomir oległośi przemiot i obrz o sozewki Szzególie proste, rówoześie

Bardziej szczegółowo

ZADANIA Z ANALIZY MATEMATYCZNEJ dla I roku kierunku informatyka WSZiB

ZADANIA Z ANALIZY MATEMATYCZNEJ dla I roku kierunku informatyka WSZiB pro. dr hb. Stisłw Biłs ZADANIA Z ANALIZY MATEMATYCZNEJ I roku kieruku iormtyk WSZiB I. ELEMENTARNE WŁASNOŚCI FUNKCJI. Wyzczyć dziedzię ukcji: 5 7 log[ log 5 6. b c ] d. Wyzczyć przeciwdziedzię ukcji:

Bardziej szczegółowo

ELEMENTÓW PRĘTOWYCH. Rys.D3.1

ELEMENTÓW PRĘTOWYCH. Rys.D3.1 DODATEK N. SZTYWNOŚĆ PZY SKĘANIU ELEMENTÓW PĘTOWYH Zgdieie skręci prętów m duże zczeie prktycze. Wyzczeie sztywości pręt przy skręciu jest iezęde do określei skłdowych mcierzy sztywości prętów rmy przestrzeej

Bardziej szczegółowo

ODPOWIEDZI I SCHEMAT PUNKTOWANIA ZESTAW NR 1 POZIOM ROZSZERZONY

ODPOWIEDZI I SCHEMAT PUNKTOWANIA ZESTAW NR 1 POZIOM ROZSZERZONY Przykłdowy zestw zdń r z mtemtyki Odpowiedzi i schemt puktowi poziom rozszerzoy ODPOWIEDZI I SCHEMAT PUNKTOWANIA ZESTAW NR POZIOM ROZSZERZONY Nr zdi Nr czyości Etpy rozwiązi zdi Liczb puktów Uwgi I metod

Bardziej szczegółowo

- macierz o n wierszach i k kolumnach. Macierz jest diagonalna jeśli jest kwadratowa i po za główną przekątną (diagonala) są

- macierz o n wierszach i k kolumnach. Macierz jest diagonalna jeśli jest kwadratowa i po za główną przekątną (diagonala) są Powtórzeie z Algebry 1. Mcierz A k 1 11 1 1k 1 k k - mcierz o wierszch i k kolumch Mcierz est kwdrtow eśli m tyle smo wierszy co kolum ( = k). Mcierz est digol eśli est kwdrtow i po z główą przekątą (digol)

Bardziej szczegółowo

MATLAB PODSTAWY. [ ] tworzenie tablic, argumenty wyjściowe funkcji, łączenie tablic

MATLAB PODSTAWY. [ ] tworzenie tablic, argumenty wyjściowe funkcji, łączenie tablic MTLB PODSTWY ZNKI SPECJLNE symbol przypisi [ ] tworzeie tblic, rgumety wyjściowe fukcji, łączeie tblic { } ideksy struktur i tblic komórkowych ( ) wisy do określi kolejości dziłń, do ujmowi ideksów tblic,

Bardziej szczegółowo

WYKŁAD 7. UKŁADY RÓWNAŃ LINIOWYCH Macierzowa Metoda Rozwiązywania Układu Równań Cramera

WYKŁAD 7. UKŁADY RÓWNAŃ LINIOWYCH Macierzowa Metoda Rozwiązywania Układu Równań Cramera /9/ WYKŁ. UKŁY RÓWNŃ LINIOWYCH Mcierzow Metod Rozwiązywi Ukłdu Rówń Crmer Ogól postć ukłdu rówń z iewidomymi gdzie : i i... ozczją iewidome; i R k i R i ik... ;... efiicj Ukłdem Crmer zywmy tki ukłd rówń

Bardziej szczegółowo

ODPOWIEDZI I SCHEMAT PUNKTOWANIA ZESTAW NR 1 POZIOM ROZSZERZONY

ODPOWIEDZI I SCHEMAT PUNKTOWANIA ZESTAW NR 1 POZIOM ROZSZERZONY ODPOWIEDZI I SCHEMAT PUNKTOWANIA ZESTAW NR POZIOM ROZSZERZONY Nr zdi Nr czyości Etpy rozwiązi zdi Liczb puktów Uwgi I metod rozwiązi ( PITAGORAS ): Sporządzeie rysuku w ukłdzie współrzędych: p C A y 0

Bardziej szczegółowo

Collegium Novum Akademia Maturalna

Collegium Novum Akademia Maturalna Collegium Novum Akdemi Mturl wwwcollegium-ovumpl 0- -89-66 Mtemtyk (GP dt: 00008 sobot Collegium Novum Akdemi Mturl Temt 5: CIĄGI Prowdzący: Grzegorz Płg Termi: 0007 godzi 9:00-:0 8 Zdie Które wyrzy ciągu

Bardziej szczegółowo

CIĄGI LICZBOWE N = zbiór liczb naturalnych. R zbiór liczb rzeczywistych (zbiór reprezentowany przez punkty osi liczbowej).

CIĄGI LICZBOWE N = zbiór liczb naturalnych. R zbiór liczb rzeczywistych (zbiór reprezentowany przez punkty osi liczbowej). MATEMATYKA I - Lucj Kowlski {,,,... } CIĄGI LICZBOWE N zbiór liczb turlych. R zbiór liczb rzeczywistych (zbiór reprezetowy przez pukty osi liczbowej. Nieskończoy ciąg liczbowy to przyporządkowie liczbom

Bardziej szczegółowo

Układy równań liniowych Macierze rzadkie

Układy równań liniowych Macierze rzadkie 5 mrzec 009 SciLb w obliczeich umeryczych - część Sljd Ukłdy rówń liiowych Mcierze rzdkie 5 mrzec 009 SciLb w obliczeich umeryczych - część Sljd Pl zjęć. Zdie rozwiązi ukłdu rówń liiowych.. Ćwiczeie -

Bardziej szczegółowo

Niepewność złożona jest sumą geometryczną udziałów niepewności składowych:

Niepewność złożona jest sumą geometryczną udziałów niepewności składowych: PROEKO Ryszrd Soć www.proekors.pl Obliczie w progrie Eisj iepewości poir stężei pył wg. PN-EN 384 Eisj ze źródeł stcjorych Ozczie stężei sowego pył w zkie iskich wrtości. Część I. Ml etod grwietrycz Stężeie

Bardziej szczegółowo

Realizacje zmiennych są niezależne, co sprawia, że ciąg jest ciągiem niezależnych zmiennych losowych,

Realizacje zmiennych są niezależne, co sprawia, że ciąg jest ciągiem niezależnych zmiennych losowych, Klsyczn Metod Njmniejszych Kwdrtów (KMNK) Postć ć modelu jest liniow względem prmetrów (lbo nleży dokonć doprowdzeni postci modelu do liniowości względem prmetrów), Zmienne objśnijące są wielkościmi nielosowymi,

Bardziej szczegółowo

KSZTAŁTOWANIE CHARAKTERYSTYK CZĘSTOTLIWOŚCIOWYCH NIEREKURSYWNYCH FILTRÓW WYGŁADZAJĄCYCH

KSZTAŁTOWANIE CHARAKTERYSTYK CZĘSTOTLIWOŚCIOWYCH NIEREKURSYWNYCH FILTRÓW WYGŁADZAJĄCYCH POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No Electricl Egieerig 0 Jkub PĘKSIŃSKI* Grzegorz MIKOŁAJCZAK* Jusz KOWALSKI** KSZTAŁTOWANIE CHARAKTERYSTYK CZĘSTOTLIWOŚCIOWYCH NIEREKURSYWNYCH FILTRÓW

Bardziej szczegółowo

I. DZIAŁANIA W ZBIORZE LICZB RZECZYWISTYCH ZBIORY LICZBOWE: liczby całkowite C : C..., 3, 2, 1,

I. DZIAŁANIA W ZBIORZE LICZB RZECZYWISTYCH ZBIORY LICZBOWE: liczby całkowite C : C..., 3, 2, 1, I. DZIAŁANIA W ZBIORZE LICZB RZECZYWISTYCH ZBIORY LICZBOWE: liczy turle N : N 0,,,,,,..., N,,,,,... liczy cłkowite C : C...,,,, 0,,,,... Kżdą liczę wymierą moż przedstwić z pomocą ułmk dziesiętego skończoego

Bardziej szczegółowo

TABLICE WZORÓW I TWIERDZEŃ MATEMATYCZNYCH zakres GIMNAZJUM

TABLICE WZORÓW I TWIERDZEŃ MATEMATYCZNYCH zakres GIMNAZJUM TABLICE WZORÓW I TWIERDZEŃ MATEMATYCZNYCH zkres GIMNAZJUM LICZBY Lizy turle: 0,1,,,4, Koleje lizy turle zwsze różią się o 1, zpis, +1, +, gdzie to dowol liz turl ozz trzy koleje lizy turle, Lizy pierwsze:

Bardziej szczegółowo

4. Rekurencja. Zależności rekurencyjne, algorytmy rekurencyjne, szczególne funkcje tworzące.

4. Rekurencja. Zależności rekurencyjne, algorytmy rekurencyjne, szczególne funkcje tworzące. 4. Reurecj. Zleżości reurecyje, lgorytmy reurecyje, szczególe fucje tworzące. Reurecj poleg rozwiązywiu problemu w oprciu o rozwiązi tego smego problemu dl dych o miejszych rozmirch. W iformtyce reurecj

Bardziej szczegółowo

Metrologia: miary dokładności. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie

Metrologia: miary dokładności. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Metrologia: miary dokładości dr iż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczeciie Miary dokładości: Najczęściej rozkład pomiarów w serii wokół wartości średiej X jest rozkładem Gaussa: Prawdopodobieństwem,

Bardziej szczegółowo

KONKURS MATEMATYCZNY dla uczniów gimnazjów w roku szkolnym 2012/13 III etap zawodów (wojewódzki) 12 stycznia 2013 r.

KONKURS MATEMATYCZNY dla uczniów gimnazjów w roku szkolnym 2012/13 III etap zawodów (wojewódzki) 12 stycznia 2013 r. KONKURS MTEMTYCZNY dl ucziów gimzjów w roku szkolym 0/ III etp zwodów (wojewódzki) styczi 0 r. Propozycj puktowi rozwiązń zdń Uwg Łączie uczeń może zdobyć 0 puktów. Luretmi zostją uczesticy etpu wojewódzkiego,

Bardziej szczegółowo

Wykład 9: Różne rodzaje zbieżności ciągów zmiennych losowych. Prawa wielkich liczb.

Wykład 9: Różne rodzaje zbieżności ciągów zmiennych losowych. Prawa wielkich liczb. Rchuek prwopoobieństw MA1181 Wyził T, MS, rok k. 2013/14, sem. zimowy Wykłowc: r hb. A. Jurlewicz Wykł 9: Róże rozje zbieżości ciągów zmieych losowych. rw wielkich liczb. Zbieżość z prwopoobieństwem 1:

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie multimetrów cyfrowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych

Zastosowanie multimetrów cyfrowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych Zstosownie multimetrów cyfrowych do pomiru podstwowych wielkości elektrycznych Cel ćwiczeni Celem ćwiczeni jest zpoznnie się z możliwościmi pomirowymi współczesnych multimetrów cyfrowych orz sposobmi wykorzystni

Bardziej szczegółowo

Główka pracuje - zadania wymagające myślenia... czyli TOP TRENDY nowej matury.

Główka pracuje - zadania wymagające myślenia... czyli TOP TRENDY nowej matury. Główk prcuje - zdi wymgjące myślei czyli TOP TRENDY owej mtury W tej pordzie 0 trudiejszych zdń Wiele z ich to zdi, których temt zczy się od wykż, udowodij, czyli iezbyt lubiych przez mturzystów Zdie Widomo,

Bardziej szczegółowo

Wykład 12: Sumowanie niezależnych zmiennych losowych i jego związek ze splotem gęstości i transformatami Laplace a i Fouriera. Prawo wielkich liczb.

Wykład 12: Sumowanie niezależnych zmiennych losowych i jego związek ze splotem gęstości i transformatami Laplace a i Fouriera. Prawo wielkich liczb. Rchuek prwdopodobieństw MA064 Wydził Elektroiki, rok kd. 2008/09, sem. leti Wykłdowc: dr hb. A. Jurlewicz Wykłd 2: Sumowie iezleżych zmieych losowych i jego związek ze splotem gęstości i trsformtmi Lplce

Bardziej szczegółowo

Metoda szeregów potęgowych dla równań różniczkowych zwyczajnych liniowych. Równanie różniczkowe zwyczajne liniowe drugiego rzędu ma postać

Metoda szeregów potęgowych dla równań różniczkowych zwyczajnych liniowych. Równanie różniczkowe zwyczajne liniowe drugiego rzędu ma postać met_szer_potegowyh-.doowyh Metod szeregów potęgowyh dl rówń różizkowyh zwyzjyh liiowyh Rówie różizkowe zwyzje liiowe drugiego rzędu m postć d u d f du d gu h ( Złóżmy, że rozwiązie rówi ( może yć przedstwioe

Bardziej szczegółowo

Wymagania edukacyjne matematyka klasa 2 zakres podstawowy 1. SUMY ALGEBRAICZNE

Wymagania edukacyjne matematyka klasa 2 zakres podstawowy 1. SUMY ALGEBRAICZNE Wymgni edukcyjne mtemtyk kls 2 zkres podstwowy 1. SUMY ALGEBRAICZNE Uczeń otrzymuje ocenę dopuszczjącą lub dostteczną, jeśli: rozpoznje jednominy i sumy lgebriczne oblicz wrtości liczbowe wyrżeń lgebricznych

Bardziej szczegółowo

2. Tensometria mechaniczna

2. Tensometria mechaniczna . Tensometri mechniczn Wstęp Tensometr jk wskzywłby jego nzw to urządzenie służące do pomiru nprężeń. Jk jednk widomo, nprężeni nie są wielkościmi mierzlnymi i stnowią jedynie brdzo wygodne pojęcie mechniki

Bardziej szczegółowo

Struna nieograniczona

Struna nieograniczona Rówie sry Rówie okreś rch sry sprężysej kórą ie dziłją siły zewęrze Sł okreśo jes przez włsości izycze sry Zkłdmy że w położei rówowgi sr pokryw się z pewym przedziłem osi OX Fkcj okreś wychyeie z położei

Bardziej szczegółowo

Macierze w MS Excel 2007

Macierze w MS Excel 2007 Mcierze w MS Ecel 7 Progrm MS Ecel umożliwi wykoywie opercji mcierzch. Służą do tego fukcje: do możei mcierzy MIERZ.ILOZYN do odwrci mcierzy MIERZ.ODW do trspoowi mcierzy TRNSPONUJ do oliczi wyzczik mcierzy

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie parametrów wytrzymałościowych gruntu w aparacie bezpośredniego ścinania (ABS).

Wyznaczanie parametrów wytrzymałościowych gruntu w aparacie bezpośredniego ścinania (ABS). Wyzczie prmetrów wytrzymłościowych grutu w prcie bezpośrediego ścii (ABS). Wytrzymłością grutu ściie τf zywmy mksymly opór, jki stwi grut prężeiom ścijącym, po pokoiu którego stępuje ziszczeie struktury

Bardziej szczegółowo

Zadania z analizy matematycznej - sem. II Całki oznaczone i zastosowania

Zadania z analizy matematycznej - sem. II Całki oznaczone i zastosowania Zdi z lizy mtemtyczej - sem. II Cłki ozczoe i zstosowi Defiicj. Niech P = x x.. x będzie podziłem odcik [ b] części ( N przy czym x k = x k x k gdzie k δ(p = mx{ x k : k } = x < x

Bardziej szczegółowo

Katalog wymagań programowych na poszczególne stopnie szkolne. Matematyka. Poznać, zrozumieć

Katalog wymagań programowych na poszczególne stopnie szkolne. Matematyka. Poznać, zrozumieć Ktlog wymgń progrmowych n poszczególne stopnie szkolne Mtemtyk. Poznć, zrozumieć Ksztłcenie w zkresie podstwowym. Kls 2 Poniżej podjemy umiejętności, jkie powinien zdobyć uczeń z kżdego dziłu, by uzyskć

Bardziej szczegółowo

Model matematyczny strat objętościowych ściskania oleju hydraulicznego w pompie wyporowej o zmiennej wydajności

Model matematyczny strat objętościowych ściskania oleju hydraulicznego w pompie wyporowej o zmiennej wydajności Model mtemtyczy strt objętościowych ściski oleju hydruliczego w omie wyorowej o zmieej wydjości Zygmut szot 1. Wrowdzeie W rcch [1 4] utor dokoł róby ocey wływu ściśliwości cieczy roboczej obrz strt objętościowych

Bardziej szczegółowo

Algebra macierzowa. Akademia Morska w Gdyni Katedra Automatyki Okrętowej Teoria sterowania. Mirosław Tomera 1. ELEMENTARNA TEORIA MACIERZOWA

Algebra macierzowa. Akademia Morska w Gdyni Katedra Automatyki Okrętowej Teoria sterowania. Mirosław Tomera 1. ELEMENTARNA TEORIA MACIERZOWA kdei Morsk w Gdyi Ktedr utotyki Okrętowej Teori sterowi lgebr cierzow Mirosłw Toer. ELEMENTRN TEORI MCIERZOW W owoczesej teorii sterowi brdzo często istieje potrzeb zstosowi otcji cierzowej uprszczjącej

Bardziej szczegółowo

Modelowanie i obliczenia techniczne. Metody numeryczne w modelowaniu: Różniczkowanie i całkowanie numeryczne

Modelowanie i obliczenia techniczne. Metody numeryczne w modelowaniu: Różniczkowanie i całkowanie numeryczne Modelownie i obliczeni techniczne Metody numeryczne w modelowniu: Różniczkownie i cłkownie numeryczne Pochodn unkcji Pochodn unkcji w punkcie jest deiniown jko grnic ilorzu różnicowego (jeżeli istnieje):

Bardziej szczegółowo

Oznaczenia: K wymagania konieczne; P wymagania podstawowe; R wymagania rozszerzające; D wymagania dopełniające; W wymagania wykraczające

Oznaczenia: K wymagania konieczne; P wymagania podstawowe; R wymagania rozszerzające; D wymagania dopełniające; W wymagania wykraczające Wymgni edukcyjne z mtemtyki ls 2 b lo Zkres podstwowy Oznczeni: wymgni konieczne; wymgni podstwowe; R wymgni rozszerzjące; D wymgni dopełnijące; W wymgni wykrczjące Temt lekcji Zkres treści Osiągnięci

Bardziej szczegółowo

MATeMAtyka 3 inf. Przedmiotowy system oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych. Zakres podstawowy i rozszerzony. Dorota Ponczek, Karolina Wej

MATeMAtyka 3 inf. Przedmiotowy system oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych. Zakres podstawowy i rozszerzony. Dorota Ponczek, Karolina Wej Dorot Ponczek, Krolin Wej MATeMAtyk 3 inf Przedmiotowy system ocenini wrz z określeniem wymgń edukcyjnych Zkres podstwowy i rozszerzony Wyróżnione zostły nstępujące wymgni progrmowe: konieczne (K), podstwowe

Bardziej szczegółowo

Wymagania edukacyjne matematyka klasa 2b, 2c, 2e zakres podstawowy rok szkolny 2015/2016. 1.Sumy algebraiczne

Wymagania edukacyjne matematyka klasa 2b, 2c, 2e zakres podstawowy rok szkolny 2015/2016. 1.Sumy algebraiczne Wymgni edukcyjne mtemtyk kls 2b, 2c, 2e zkres podstwowy rok szkolny 2015/2016 1.Sumy lgebriczne N ocenę dopuszczjącą: 1. rozpoznje jednominy i sumy lgebriczne 2. oblicz wrtości liczbowe wyrżeń lgebricznych

Bardziej szczegółowo

1. Określ monotoniczność podanych funkcji, miejsce zerowe oraz punkt przecięcia się jej wykresu z osią OY

1. Określ monotoniczność podanych funkcji, miejsce zerowe oraz punkt przecięcia się jej wykresu z osią OY . Określ ootoiczość podch fukcji, iejsce zerowe orz pukt przecięci się jej wkresu z osią OY ) 8 ) 8 c) Określjąc ootoiczość fukcji liiowej = + korzst z stępującej włsości: Jeżeli > to fukcj liiow jest

Bardziej szczegółowo

Miary położenia (tendencji centralnej) to tzw. miary przeciętne charakteryzujące średni lub typowy poziom wartości cechy.

Miary położenia (tendencji centralnej) to tzw. miary przeciętne charakteryzujące średni lub typowy poziom wartości cechy. MIARY POŁOŻENIA I ROZPROSZENIA WYNIKÓW SERII POMIAROWYCH Miary położeia (tedecji cetralej) to tzw. miary przecięte charakteryzujące średi lub typowy poziom wartości cechy. Średia arytmetycza: X i 1 X i,

Bardziej szczegółowo

SYNTEZA STRUKTURALNA PŁASKICH MANIPULATORÓW

SYNTEZA STRUKTURALNA PŁASKICH MANIPULATORÓW SYTEZ STRKTRL PŁSKCH MPLTORÓW Etp sytezy strukturlej jest jedym z pierwszych rdzo istotych etpów w procesie projektowi. Po sformułowiu jwżiejszych złożeń i wymgń dotyczących projektowego ukłdu (złożei

Bardziej szczegółowo

Wykład 6 Dyfrakcja Fresnela i Fraunhofera

Wykład 6 Dyfrakcja Fresnela i Fraunhofera Wykłd 6 Dyfrkcj Fresnel i Frunhofer Zjwisko dyfrkcji (ugięci) świtł odkrył Grimldi (XVII w). Poleg ono n uginniu się promieni świetlnych przechodzących w pobliżu przeszkody (np. brzeg szczeliny). Wyjśnienie

Bardziej szczegółowo

GENEZA WYZNACZNIKA. Układ równań liniowych z dwiema niewiadomymi. Rozwiązania układu metodą eliminacji Gaussa

GENEZA WYZNACZNIKA. Układ równań liniowych z dwiema niewiadomymi. Rozwiązania układu metodą eliminacji Gaussa / WYKŁD. Wyzzik mierzy: defiij idukyj i permutyj. Włsośi wyzzików, rozwiięie Lple', wzór Srrus. Mierz odwrot i sposoy jej wyzzi. GENEZ WYZNCZNIK Ukłd rówń liiowyh z dwiem iewidomymi, y x y x Rozwiązi ukłdu

Bardziej szczegółowo

Ciągi liczbowe podstawowe definicje i własności

Ciągi liczbowe podstawowe definicje i własności Ciągi liczbowe podstwowe defiicje i włsości DEF *. Ciągiem liczbowym (ieskończoym) zywmy odwzorowie zbioru liczb turlych w zbiór liczb rzeczywistych, tj. :. Przyjęto zpis:,,...,,... Przy czym zywmy -tym

Bardziej szczegółowo

PODEJMOWANIE OPTYMALNYCH DECYZJI PRODUKCYJNYCH W WARUNKACH NIEPEWNOŚCI. E. ZIÓŁKOWSKI 1 Wydział Odlewnictwa AGH, ul. Reymonta 23, Kraków

PODEJMOWANIE OPTYMALNYCH DECYZJI PRODUKCYJNYCH W WARUNKACH NIEPEWNOŚCI. E. ZIÓŁKOWSKI 1 Wydział Odlewnictwa AGH, ul. Reymonta 23, Kraków 5/ Archives o Foudry Yer 6 Volume 6 Archiwum Odlewictw Rok 6 Roczik 6 Nr PAN Ktowice PL ISSN 6-58 PODEJMOWANIE OPTYMALNYCH DECYZJI PRODUKCYJNYCH W WARUNKACH NIEPEWNOŚCI E. ZIÓŁKOWSKI Wydził Odlewictw AGH

Bardziej szczegółowo

MODEL MATEMATYCZNY BILANSU MATERIAŁÓW WSADOWYCH O NIEPEWNYM SKŁADZIE CHEMICZNYM

MODEL MATEMATYCZNY BILANSU MATERIAŁÓW WSADOWYCH O NIEPEWNYM SKŁADZIE CHEMICZNYM 8/8 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Ro 6 Roczi 6 Nr 8 (/ ARCHIVES OF FOUNDRY Yer 6 Volume 6 N o 8 (/ PAN Ktowice PL ISSN 6-58 MODEL MATEMATYCZNY BILANSU MATERIAŁÓW WSADOWYCH O NIEPEWNYM SKŁADZIE CHEMICZNYM E. ZIÓŁKOWSKI

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI W KLASIE IIc ZAKRES PODSTAWOWY I ROZSZERZONY

WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI W KLASIE IIc ZAKRES PODSTAWOWY I ROZSZERZONY WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI W KLASIE IIc ZAKRES PODSTAWOWY I ROZSZERZONY. JĘZYK MATEMATYKI oblicz wrtość bezwzględną liczby rzeczywistej stosuje interpretcję geometryczną wrtości bezwzględnej liczby

Bardziej szczegółowo

Rozwiązywanie układów równań liniowych (1)

Rozwiązywanie układów równań liniowych (1) etody Numerycze i Progrmowie Stro z Wykłd. Rozwiązywie ukłdów rówń liiowych () etody dokłde rozwiązywi ukłdów rówń liiowych etody dokłde pozwlą uzyskie rozwiązi w skończoe liczbie kroków obliczeiowych.

Bardziej szczegółowo

METODY NUMERYCZNE. Wykład 5. Całkowanie numeryczne. dr hab. inż. Katarzyna Zakrzewska, prof. AGH. Met.Numer. wykład 5 1

METODY NUMERYCZNE. Wykład 5. Całkowanie numeryczne. dr hab. inż. Katarzyna Zakrzewska, prof. AGH. Met.Numer. wykład 5 1 METODY NUMERYCZNE Wykłd 5. Cłkowie umeryze dr. iż. Ktrzy Zkrzewsk, pro. AGH Met.Numer. wykłd 5 Pl Wzór trpezów Złożoy wzór trpezów Metod ekstrpolji Rirdso Metod Romerg Metod Simpso wzór prol Metod Guss

Bardziej szczegółowo

Wektor kolumnowy m wymiarowy macierz prostokątna o wymiarze n=1 Wektor wierszowy n wymiarowy macierz prostokątna o wymiarze m=1

Wektor kolumnowy m wymiarowy macierz prostokątna o wymiarze n=1 Wektor wierszowy n wymiarowy macierz prostokątna o wymiarze m=1 Rchunek mcierzowy Mcierzą A nzywmy funkcję 2-zmiennych, któr prze liczb nturlnych (i,j) gdzie i = 1,2,3,4.,m; j = 1,2,3,4,n przyporządkowuje dokłdnie jeden element ij. 11 21 A = m1 12 22 m2 1n 2n mn Wymirem

Bardziej szczegółowo

Równania i nierówności kwadratowe z jedną niewiadomą

Równania i nierówności kwadratowe z jedną niewiadomą 50 REPETYTORIUM 31 Równni i nierówności kwdrtowe z jedną niewidomą Równnie wielominowe to równość dwóch wyrżeń lgebricznych Kżd liczb, któr po podstwieniu w miejscu niewidomej w równniu o jednej niewidomej

Bardziej szczegółowo

a a = 2 S n = 2 = r - constans > 0 - ciąg jest malejący q = b1, dla q 1 S n 1 CIĄGI jest rosnący (niemalejący), jeżeli dla każdego n a n

a a = 2 S n = 2 = r - constans > 0 - ciąg jest malejący q = b1, dla q 1 S n 1 CIĄGI jest rosnący (niemalejący), jeżeli dla każdego n a n CIĄGI ciąg jest rosący (iemlejący), jeżeli dl kżdego < ( ) ciąg jest mlejący (ierosący), jeżeli dl kżdego > ( ) ciąg zywmy rytmetyczym, jeżeli dl kżdego r - costs - r > 0 - ciąg rosący - r 0 - ciąg stły

Bardziej szczegółowo

METODY NUMERYCZNE. Wykład 4. Całkowanie numeryczne. dr hab. inż. Katarzyna Zakrzewska, prof. AGH

METODY NUMERYCZNE. Wykład 4. Całkowanie numeryczne. dr hab. inż. Katarzyna Zakrzewska, prof. AGH METODY NUMERYCZNE Wykłd. Cłkowie umeryze dr h. iż. Ktrzy Zkrzewsk, pro. AGH Pl Wzór trpezów Złożoy wzór trpezów Metod ekstrpolji Rihrdso Metod Romerg Metod Simpso wzór prol Metod Guss Cłkowie umeryze -

Bardziej szczegółowo

I. CIĄGI I SZEREGI FUNKCYJNE. odwzorowań zbioru X w zbiór R [lub C] nazywamy ciągiem funkcyjnym.

I. CIĄGI I SZEREGI FUNKCYJNE. odwzorowań zbioru X w zbiór R [lub C] nazywamy ciągiem funkcyjnym. I. CIĄGI I SZEREGI FUNKCYJNE 1. Zbieżość puktow i jedostj ciągów fukcyjych Niech X będzie iepustym podzbiorem zbioru liczb rzeczywistych R (lub zbioru liczb zespoloych C). Defiicj 1.1. Ciąg (f ) N odwzorowń

Bardziej szczegółowo

Wymagania edukacyjne z matematyki w klasie III A i III B Liceum Plastycznego 2019/2020

Wymagania edukacyjne z matematyki w klasie III A i III B Liceum Plastycznego 2019/2020 Wymgi edukcyje z mtemtyki w klsie III A i III B Liceum Plstyczego 019/00 Zkres rozszerzoy Kryteri Zjomość pojęć, defiicji, włsości orz wzorów objętych progrmem uczi. Umiejętość zstosowi wiedzy teoretyczej

Bardziej szczegółowo

Ciągi i szeregi liczbowe

Ciągi i szeregi liczbowe Ciągi i szeregi liczbowe Defiicj. Jeżeli kżdej liczbie turlej przyporządkow zostł jkś liczb rzeczywist, to mówimy, że zostł określoy ciąg liczbowy (ieskończoy). Formlie ozcz to, że ciąg liczbowy jest fukcją

Bardziej szczegółowo

Małgorzata Żak. Zapisane w genach. czyli o zastosowaniu matematyki w genetyce

Małgorzata Żak. Zapisane w genach. czyli o zastosowaniu matematyki w genetyce Młgorzt Żk Zpisne w gench czyli o zstosowniu mtemtyki w genetyce by opisć: - występownie zjwisk msowych - sznse n niebieski kolor oczu potomk - odległość między genmi - położenie genu n chromosomie Rchunek

Bardziej szczegółowo

Rachunek prawdopodobieństwa MAP1151 Wydział Elektroniki, rok akad. 2011/12, sem. letni Wykładowca: dr hab. A. Jurlewicz

Rachunek prawdopodobieństwa MAP1151 Wydział Elektroniki, rok akad. 2011/12, sem. letni Wykładowca: dr hab. A. Jurlewicz Rchuek prwdopodobieństw MA5 Wydził Elektroiki, rok kd. 20/2, sem. leti Wykłdowc: dr hb. A. Jurlewicz Wykłd 7: Zmiee losowe dwuwymirowe. Rozkłdy łącze, brzegowe. Niezleżość zmieych losowych. Momety. Współczyik

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY OPRACOWANIA WYNIKÓW POMIARÓW Z ELEMENTAMI ANALIZY NIEPEWNOŚCI POMIAROWYCH

PODSTAWY OPRACOWANIA WYNIKÓW POMIARÓW Z ELEMENTAMI ANALIZY NIEPEWNOŚCI POMIAROWYCH PODSTAWY OPRACOWANIA WYNIKÓW POMIARÓW Z ELEMENTAMI ANALIZY NIEPEWNOŚCI POMIAROWYCH POMIAR FIZYCZNY Pomiar bezpośredi to doświadczeie, w którym przy pomocy odpowiedich przyrządów mierzymy (tj. porówujemy

Bardziej szczegółowo

Wymagania na poszczególne oceny z matematyki w Zespole Szkół im. St. Staszica w Pile Kl. II poziom rozszerzony

Wymagania na poszczególne oceny z matematyki w Zespole Szkół im. St. Staszica w Pile Kl. II poziom rozszerzony Wymgi poszczególe ocey z mtemtyki w Zespole Szkół im. St. Stszic w Pile Kl. II poziom rozszerzoy 1. WIELOMIANY podje przykłdy wielomiów, określ ich stopień i podje wrtości ich współczyików zpisuje wielomi

Bardziej szczegółowo

Szeregi o wyrazach dowolnych znaków, dwumian Newtona

Szeregi o wyrazach dowolnych znaków, dwumian Newtona Poprwi lem 9 czerwc 206 r, godz 20:0 Twierdzeie 5 kryterium Abel Dirichlet Niech be dzie ieros cym ci giem liczb dodtich D Jeśli 0 i ci g sum cze ściowych szeregu b jest ogriczoy, to szereg b jest zbieży

Bardziej szczegółowo

2. Na ich rozwiązanie masz 90 minut. Piętnaście minut przed upływem tego czasu zostaniesz o tym poinformowany przez członka Komisji Konkursowej.

2. Na ich rozwiązanie masz 90 minut. Piętnaście minut przed upływem tego czasu zostaniesz o tym poinformowany przez członka Komisji Konkursowej. Kod uczni... MAŁOPOLSKI KONKURS MATEMATYCZNY dl uczniów gimnzjów Rok szkolny 03/0 ETAP SZKOLNY - 5 pździernik 03 roku. Przed Tobą zestw zdń konkursowych.. N ich rozwiąznie msz 90 minut. Piętnście minut

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA I KRYTERIA OCENIANIA Z MATEMATYKI W 3 LETNIM LICEUM OGÓLNOKSZTAŁCĄCYM klasa 2F 1. FUNKCJA LINIOWA

WYMAGANIA I KRYTERIA OCENIANIA Z MATEMATYKI W 3 LETNIM LICEUM OGÓLNOKSZTAŁCĄCYM klasa 2F 1. FUNKCJA LINIOWA WYMAGANIA I KRYTERIA OCENIANIA Z MATEMATYKI W 3 LETNIM LICEUM OGÓLNOKSZTAŁCĄCYM kls 2F 1. FUNKCJA LINIOWA Uczeń otrzymuje oceę dopuszczjącą, jeśli: rozpozje fukcję liiową podstwie wzoru lub wykresu rysuje

Bardziej szczegółowo

Katalog Arntjen Germany. Nowoczesna technika w oborze W opracowaniu brali udział rolnicy z całego świata!

Katalog Arntjen Germany. Nowoczesna technika w oborze W opracowaniu brali udział rolnicy z całego świata! PL Artje Germy com e. li tje o r g. lo w w t K ie w tro Ktlog 2015 s ł d r h c o z C owoczes techik w oborze W oprcowiu brli udził rolicy z cłego świt! Artje systemy zsło Artje brmy Artje-LED-LIGHT Artje

Bardziej szczegółowo

Elektroenergetyczne sieci rozdzielcze SIECI 2004 V Konferencja Naukowo-Techniczna

Elektroenergetyczne sieci rozdzielcze SIECI 2004 V Konferencja Naukowo-Techniczna Elektroeergetycze sieci rozdzielcze SEC 2004 V Koferecj ukowo-techicz Politechik Wrocłwsk ytut Eergoelektryki Wldemr SZPYRA Lech SZPYRA Krzysztof WYBRAŃSK Akdemi Góriczo-Huticz w Krkowie Wydził Elektrotechiki

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA OPOLSKA

POLITECHNIKA OPOLSKA POLITCHIKA OPOLSKA ISTYTUT AUTOMATYKI I IFOMATYKI LABOATOIUM MTOLOII LKTOICZJ 7. KOMPSATOY U P U. KOMPSATOY APIĘCIA STAŁO.. Wstęp... Zasada pomiaru metodą kompesacyją. Metoda kompesacyja pomiaru apięcia

Bardziej szczegółowo

2. FUNKCJE WYMIERNE Poziom (K) lub (P)

2. FUNKCJE WYMIERNE Poziom (K) lub (P) Kls drug poziom podstwowy 1. SUMY ALGEBRAICZNE Uczeń otrzymuje ocenę dopuszczjącą lub dostteczną, jeśli: rozpoznje jednominy i sumy lgebriczne oblicz wrtości liczbowe wyrżeń lgebricznych redukuje wyrzy

Bardziej szczegółowo

Wymagania na ocenę dopuszczającą z matematyki klasa II Matematyka - Babiański, Chańko-Nowa Era nr prog. DKOS 4015-99/02

Wymagania na ocenę dopuszczającą z matematyki klasa II Matematyka - Babiański, Chańko-Nowa Era nr prog. DKOS 4015-99/02 Wymgni n ocenę dopuszczjącą z mtemtyki kls II Mtemtyk - Bbiński, Chńko-Now Er nr prog. DKOS 4015-99/02 Temt lekcji Zkres treści Osiągnięci uczni WIELOMIANY 1. Stopień i współczynniki wielominu 2. Dodwnie

Bardziej szczegółowo

3, leŝącym poniŝej punktu P. Wartości funkcji f są

3, leŝącym poniŝej punktu P. Wartości funkcji f są Odpowiedzi i schemty oceii Arkusz Zdi zmkięte Numer zdi Poprw odpowiedź Wskzówki do rozwiązi D ( 0 x )( x + b) x 0 + b 0 x xb x + ( 0 b) x + b 0 x + ( 0 b) x + b 0 0x + 0 0 WyrŜei po obu stroch rówości

Bardziej szczegółowo

usuwa niewymierność z mianownika wyrażenia typu

usuwa niewymierność z mianownika wyrażenia typu Wymgni edukcyjne n poszczególne oceny z mtemtyki Kls pierwsz zkres podstwowy. LICZBY RZECZYWISTE podje przykłdy liczb: nturlnych, cłkowitych, wymiernych, niewymiernych, pierwszych i złożonych orz przyporządkowuje

Bardziej szczegółowo

Journal of Agribusiness and Rural Development

Journal of Agribusiness and Rural Development ISSN 1899-5772 Jourl of Agribusiess d Rurl Developmet www.jrd.edu.pl 4(10) 2008, 47-60 WYKORZYSTANIE ANALITYCZNEGO PROCESU HIERARCHICZNEGO W ANALIZIE SYSTEMU MOTYWACYJNEGO PRZEDSIĘBIORSTWA TRANSPORTOWEGO

Bardziej szczegółowo

[ ] I UKŁAD RÓWNAŃ Definicja 1 Układ m równań liniowych z n niewiadomymi x 1, x 2,., x n : II ROZW. UKŁADU RÓWNAŃ PRZY POMOCY MACIERZY ODWROTNEJ

[ ] I UKŁAD RÓWNAŃ Definicja 1 Układ m równań liniowych z n niewiadomymi x 1, x 2,., x n : II ROZW. UKŁADU RÓWNAŃ PRZY POMOCY MACIERZY ODWROTNEJ I UKŁAD RÓNAŃ Defiicj Ukłd rówń liiowych z iewidoyi,,., : Defiicj Postć cierzow ukłdu rówń: A, lu krócej A, gdzie: A,,. Mcierz A zywy cierzą ukłdu rówń, wektor zywy wektore wyrzów wolych (koluą wyrzów

Bardziej szczegółowo

Struktura energetyczna ciał stałych-cd. Fizyka II dla Elektroniki, lato

Struktura energetyczna ciał stałych-cd. Fizyka II dla Elektroniki, lato Struktur energetyczn cił stłych-cd Fizyk II dl Elektroniki, lto 011 1 Fizyk II dl Elektroniki, lto 011 Przybliżenie periodycznego potencjłu sieci krystlicznej model Kronig- Penney potencjł rzeczywisty

Bardziej szczegółowo

Fizyka. Kurs przygotowawczy. na studia inżynierskie. mgr Kamila Haule

Fizyka. Kurs przygotowawczy. na studia inżynierskie. mgr Kamila Haule Fizyk Kurs przygotowwczy n studi inżynierskie mgr Kmil Hule Dzień 3 Lbortorium Pomir dlczego mierzymy? Pomir jest nieodłączną częścią nuki. Stopień znjomości rzeczy często wiąże się ze sposobem ich pomiru.

Bardziej szczegółowo

STATYSTYKA OPISOWA WYKŁAD 1 i 2

STATYSTYKA OPISOWA WYKŁAD 1 i 2 STATYSTYKA OPISOWA WYKŁAD i 2 Literatura: Marek Cieciura, Jausz Zacharski, Metody probabilistycze w ujęciu praktyczym, L. Kowalski, Statystyka, 2005 2 Statystyka to dyscyplia aukowa, której zadaiem jest

Bardziej szczegółowo

3.1. Ciągi liczbowe - ograniczoność, monotoniczność, zbieżność ciągu. Liczba e. Twierdzenie o trzech ciągach.

3.1. Ciągi liczbowe - ograniczoność, monotoniczność, zbieżność ciągu. Liczba e. Twierdzenie o trzech ciągach. WYKŁAD 6 3 RACHUNEK RÓŻNICZKOWY I CAŁKOWY FUNKCJI JEDNEJ ZMIENNEJ 31 Ciągi liczbowe - ogriczoość, mootoiczość, zbieżość ciągu Liczb e Twierdzeie o trzech ciągch 3A+B1 (Defiicj: ieskończoość) Symbole,,

Bardziej szczegółowo

Aby opisać strukturę krystaliczną, konieczne jest określenie jej części składowych: sieci przestrzennej oraz bazy atomowej.

Aby opisać strukturę krystaliczną, konieczne jest określenie jej części składowych: sieci przestrzennej oraz bazy atomowej. 2. Struktury i pierwistki N zjęcich zjmiemy się pierwistkmi i strukturmi krystlicznymi. O ile w przypdku tych pierwszych, temt poruszny był w trkcie wykłdu, to drugie zgdnienie może wymgć krótkiego przybliżeni/przypomnieni.

Bardziej szczegółowo

Problem eliminowania fa szywych alarmów w komputerowych systemach ochrony peryferyjnej

Problem eliminowania fa szywych alarmów w komputerowych systemach ochrony peryferyjnej BIULETYN INSTYTUTU SYSTEMÓW INFORMATYCZNYCH 5 37-46 (1) Problem elimiowi fszywych lrmów w komputerowych systemch ochroy peryferyjej G. KONOPACKI, K. WORWA e-mil: gkoopcki@wt.edu.pl Istytut Systemów Iformtyczych

Bardziej szczegółowo

Wymagania kl. 2. Uczeń:

Wymagania kl. 2. Uczeń: Wymgni kl. 2 Zkres podstwowy Temt lekcji Zkres treści Osiągnięci uczni. SUMY ALGEBRAICZNE. Sumy lgebriczne definicj jednominu pojęcie współczynnik jednominu porządkuje jednominy pojęcie sumy lgebricznej

Bardziej szczegółowo

KOMPENDIUM MATURZYSTY Matematyka poziom podstawowy

KOMPENDIUM MATURZYSTY Matematyka poziom podstawowy KOMPENDIUM MATURZYSTY Mtemtyk poziom podstwowy Publikcj dystrybuow bezpłtie Dostęp stroie: Autork: Agieszk Jędruszek Hour Firm Usługow Jo Jędruszek Kompedium do pobri stroie: Publikcj jest dystrybuow bezpłtie

Bardziej szczegółowo

Propozycja przedmiotowego systemu oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych (zakres podstawowy)

Propozycja przedmiotowego systemu oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych (zakres podstawowy) Propozycj przedmiotowego systemu ocenini wrz z określeniem wymgń edukcyjnych (zkres podstwowy) Proponujemy, by omwijąc dne zgdnienie progrmowe lub rozwiązując zdnie, nuczyciel określł do jkiego zkresu

Bardziej szczegółowo

ROLE OF CUSTOMER IN BALANCED DEVELOPMENT OF COMPANY

ROLE OF CUSTOMER IN BALANCED DEVELOPMENT OF COMPANY FOLIA UNIVERSITATIS AGRICULTURAE STETINENSIS Foli Univ. Agric. Stetin. 2007, Oeconomic 254 (47), 117 122 Jolnt KONDRATOWICZ-POZORSKA ROLA KLIENTA W ZRÓWNOWAŻONYM ROZWOJU FIRMY ROLE OF CUSTOMER IN BALANCED

Bardziej szczegółowo

Protokół z pomiarów pól elektromagnetycznych w środowisku. Nr: LWiMP/056/2017. zakresu częstotliwości: poniżej 300 MHz

Protokół z pomiarów pól elektromagnetycznych w środowisku. Nr: LWiMP/056/2017. zakresu częstotliwości: poniżej 300 MHz str. 1/ 9 Protokół z pomiarów pól elektromagnetycznych w środowisku Nr: LWiMP/056/2017 zakresu częstotliwości: poniżej 300 MHz Zleceniodawca Red Snake sp. z o.o. Niniejszy protokół nie może być reprodukowany

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R E-14

Ć W I C Z E N I E N R E-14 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA ELEKTRYCZNOŚCI I MAGNETYZMU Ć W I C Z E N I E N R E-14 WYZNACZANIE SZYBKOŚCI WYJŚCIOWEJ ELEKTRONÓW

Bardziej szczegółowo

METODYKA OCENY WŁAŚCIWOŚCI SYSTEMU IDENTYFIKACJI PARAMETRYCZNEJ OBIEKTU BALISTYCZNEGO

METODYKA OCENY WŁAŚCIWOŚCI SYSTEMU IDENTYFIKACJI PARAMETRYCZNEJ OBIEKTU BALISTYCZNEGO MODELOWANIE INŻYNIERSKIE ISNN 1896-771X 32, s. 151-156, Gliwice 2006 METODYKA OCENY WŁAŚCIWOŚCI SYSTEMU IDENTYFIKACJI PARAMETRYCZNEJ OBIEKTU BALISTYCZNEGO JÓZEF GACEK LESZEK BARANOWSKI Instytut Elektromechniki,

Bardziej szczegółowo

STYLE. TWORZENIE SPISÓW TREŚCI

STYLE. TWORZENIE SPISÓW TREŚCI STYLE. TWORZENIE SPISÓW TREŚCI Ćwiczenie 1 Tworzenie nowego stylu n bzie istniejącego 1. Formtujemy jeden kpit tekstu i zznczmy go (stnowi on wzorzec). 2. Wybiermy Nrzędzi główne, rozwijmy okno Style (lub

Bardziej szczegółowo