Pomiar napięć i prądów stałych

Podobne dokumenty
Metrologia: miary dokładności. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie

POLITECHNIKA OPOLSKA

Miary położenia (tendencji centralnej) to tzw. miary przeciętne charakteryzujące średni lub typowy poziom wartości cechy.

PODSTAWY OPRACOWANIA WYNIKÓW POMIARÓW Z ELEMENTAMI ANALIZY NIEPEWNOŚCI POMIAROWYCH

Ćwiczenie nr 14. Porównanie doświadczalnego rozkładu liczby zliczeń w zadanym przedziale czasu z rozkładem Poissona

Estymacja przedziałowa

Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych (w zakresie materiału przedstawionego na wykładzie organizacyjnym)

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Z WYTRZYMAŁOŚCI MATERIAŁÓW

Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych

Statystyka opisowa. () Statystyka opisowa 24 maja / 8

Opracowanie danych pomiarowych. dla studentów realizujących program Pracowni Fizycznej

1. Wyznaczanie charakterystyk statycznych prądnicy tachometrycznej prądu stałego.

LABORATORIUM METROLOGII

Ćwiczenie 2 ESTYMACJA STATYSTYCZNA

Statystyka i Opracowanie Danych. W7. Estymacja i estymatory. Dr Anna ADRIAN Paw B5, pok407

3. Tworzenie próby, błąd przypadkowy (próbkowania) 5. Błąd standardowy średniej arytmetycznej

Analiza wyników symulacji i rzeczywistego pomiaru zmian napięcia ładowanego kondensatora

Elementy modelowania matematycznego

X i. X = 1 n. i=1. wartość tej statystyki nazywana jest wartością średnią empiryczną i oznaczamy ją symbolem x, przy czym x = 1. (X i X) 2.

Elementy statystyki opisowej Izolda Gorgol wyciąg z prezentacji (wykład I)

PODSTAWY BIOSTATYSTYKI ĆWICZENIA

ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA

STATYSTYKA I ANALIZA DANYCH

LABORATORIUM INŻYNIERII CHEMICZNEJ, PROCESOWEJ I BIOPROCESOWEJ. Ćwiczenie nr 16

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej. Laboratorium przyrządów wirtualnych. Ćwiczenie 3

Laboratorium Sensorów i Pomiarów Wielkości Nieelektrycznych. Ćwiczenie nr 1

Politechnika Lubelska, Katedra Automatyki i Metrologii LV3

Statystyczny opis danych - parametry

Moda (Mo, D) wartość cechy występującej najczęściej (najliczniej).

INSTRUKCJA NR 06-2 POMIARY TEMPA METABOLIZMU METODĄ TABELARYCZNĄ

KATEDRA ENERGOELEKTRONIKI I ELEKTROENERGETYKI

1. Wnioskowanie statystyczne. Ponadto mianem statystyki określa się także funkcje zmiennych losowych o

Instytut Inżynierii Biomedycznej i Pomiarowej. Wydział Podstawowych Problemów Techniki. Politechnika Wrocławska

( 0) ( 1) U. Wyznaczenie błędów przesunięcia, wzmocnienia i nieliniowości przetwornika C/A ( ) ( )

Niepewności pomiarowe

Charakterystyki liczbowe zmiennych losowych: wartość oczekiwana i wariancja

Błędy kwantyzacji, zakres dynamiki przetwornika A/C

COLLEGIUM MAZOVIA INNOWACYJNA SZKOŁA WYŻSZA WYDZIAŁ NAUK STOSOWANYCH. Kierunek: Finanse i rachunkowość. Robert Bąkowski Nr albumu: 9871

Ćwiczenia rachunkowe TEST ZGODNOŚCI χ 2 PEARSONA ROZKŁAD GAUSSA

WYZNACZENIE CHARAKTERYSTYK STATYCZNYCH PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH

I. Cel ćwiczenia. II. Program ćwiczenia SPRAWDZANIE LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ

Ćwiczenia nr 5. TEMATYKA: Regresja liniowa dla prostej i płaszczyzny

STATYSTKA I ANALIZA DANYCH LAB II

EA3 Silnik komutatorowy uniwersalny

ANALIZA DANYCH DYSKRETNYCH

Pomiary parametrów napięć i prądów przemiennych

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej. Laboratorium cyfrowej techniki pomiarowej. Ćwiczenie 7

2. Schemat ideowy układu pomiarowego

I PRACOWNIA FIZYCZNA, UMK TORUŃ WYZNACZANIE PRZYSPIESZENIA ZIEMSKIEGO ZA POMOCĄ WAHADŁA RÓŻNICOWEGO

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej. Laboratorium cyfrowej techniki pomiarowej. Ćwiczenie 4

d wymiarowy wektor losowy Niech (Ω, S, P) przestrzeń probabilistyczna Definicja Odwzorowanie X: Ω R nazywamy 1-wymiarowym wektorem

Lista 6. Estymacja punktowa

Wpływ warunków eksploatacji pojazdu na charakterystyki zewnętrzne silnika

STATYSTYCZNA OCENA WYNIKÓW POMIARÓW.

Prawdopodobieństwo i statystyka r.

MIANO ROZTWORU TITRANTA. Analiza statystyczna wyników oznaczeń

ZAGADNIENIE ESTYMACJI. ESTYMACJA PUNKTOWA I PRZEDZIAŁOWA

Statystyka opisowa. (n m n m 1 ) h (n m n m 1 ) + (n m n m+1 ) 2 +1), gdy n jest parzyste

Ćwiczenie 14. Sprawdzanie przyrządów analogowych i cyfrowych. Program ćwiczenia:

1.3. Największa liczba naturalna (bez znaku) zapisana w dwóch bajtach to a) b) 210 c) d) 32767

Wykład 5 Przedziały ufności. Przedział ufności, gdy znane jest σ. Opis słowny / 2

INSTYTUT ENERGOELEKTRYKI POLITECHNIKI WROCŁAWSKIEJ Raport serii SPRAWOZDANIA Nr LABORATORIUM PODSTAW AUTOMATYKI INSTRUKCJA LABORATORYJNA

KURS STATYSTYKA. Lekcja 3 Parametryczne testy istotności ZADANIE DOMOWE. Strona 1

TRANZYSTORY POLOWE JFET I MOSFET

Politechnika Poznańska

Zadanie 2 Niech,,, będą niezależnymi zmiennymi losowymi o identycznym rozkładzie,.

Politechnika Łódzka. Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej

STATYSTYKA OPISOWA WYKŁAD 1 i 2

POMIARY WARSZTATOWE. D o u ż y t k u w e w n ę t r z n e g o. Katedra Inżynierii i Aparatury Przemysłu Spożywczego. Ćwiczenia laboratoryjne

Estymacja. Dr Joanna Banaś Zakład Badań Systemowych Instytut Sztucznej Inteligencji i Metod Matematycznych. Wykład 7

Ćwiczenie 21. Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia:

INFORMATYKA W CHEMII Dr Piotr Szczepański

Komputerowa analiza danych doświadczalnych

Badanie efektu Halla w półprzewodniku typu n

2.1. Studium przypadku 1

OBLICZENIE SIŁ WEWNĘTRZNYCH DLA BELKI SWOBODNIE PODPARTEJ SWOBODNIE PODPARTEJ ALGORYTM DO PROGRAMU MATHCAD

ĆWICZENIE nr 2 CYFROWY POMIAR MOCY I ENERGII

Techniczne Aspekty Zapewnienia Jakości

Modele tendencji rozwojowej STATYSTYKA OPISOWA. Dr Alina Gleska. Instytut Matematyki WE PP. 18 listopada 2017

Podstawowe oznaczenia i wzory stosowane na wykładzie i laboratorium Część I: estymacja

ĆWICZENIE 5. POMIARY NAPIĘĆ I PRĄDÓW STAŁYCH Opracowała: E. Dziuban. I. Cel ćwiczenia

POLITECHNIKA ŚLĄSKA, WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY, INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI. Wykresy w Excelu TOMASZ ADRIKOWSKI GLIWICE,

Egzamin maturalny z informatyki Poziom rozszerzony część I

Podstawy chemii. Natura pomiaru. masa 20 ± 1 g

16 Przedziały ufności

ZADANIA NA ĆWICZENIA 3 I 4

Analiza dokładności pomiaru, względnego rozkładu egzytancji widmowej źródeł światła, dokonanego przy użyciu spektroradiometru kompaktowego

Laboratorium Komputerowe Systemy Pomiarowe

Ćwiczenie: "Pomiary rezystancji przy prądzie stałym"

WSTĘP DO TEORII POMIARÓW

ĆWICZENIE nr 4. Pomiary podstawowych parametrów sygnałów

Plan wykładu. Analiza danych Wykład 1: Statystyka opisowa. Literatura. Podstawowe pojęcia

3. Regresja liniowa Założenia dotyczące modelu regresji liniowej

MACIERZE STOCHASTYCZNE

będą niezależnymi zmiennymi losowymi z rozkładu jednostajnego na przedziale ( 0,

2. INNE ROZKŁADY DYSKRETNE

BADANIE PRĄDNIC TACHOMETRYCZNYCH

Materiał ćwiczeniowy z matematyki Marzec 2012

2. ANALIZA BŁĘDÓW I NIEPEWNOŚCI POMIARÓW

Transkrypt:

Ćwiczeie r Pomiar apięć i prądów stałych Cel ćwiczeia: zapozaie z wyzaczaiem parametrów statystyczych sygału oraz określaiem iepewości wyiku pomiaru apięcia i prądu stałego.

1. Pomiary wielokrote Pomiary wielokrote wykoujemy w celu otrzymaia wyików opisujących badae zjawisko. Moża wymieić astępujące sytuacje gdzie mamy do czyieia z pomiarami wielokrotymi: - mierzoa wielkość jest stała w czasie wykoywaia pomiarów jedak a skutek przypadkowych i iemożliwych do określeia zjawisk (p. zmiay badaego obiektu, parametrów przyrządów pomiarowych, wpływu otoczeia) wyiki uzyskae z kolejych pomiarów różią się między sobą. Celem tego pomiaru jest określeie błędów przypadkowych i wyzaczeie iepewości pomiaru, - mierzoa wielkość ie jest w czasie wykoywaia pomiarów i ulega zmiaom w sposób przypadkowy. Pomiary mają a celu wyzaczeie parametrów statystyczych badaej wielkości takich jak: wartość średia, odchyleie stadardowe, wartości graicze, - mierzoe są parametrów wielu obiektów o podobych właściwościach różiące się w sposób przypadkowy między sobą. Pomiary wykoywae są w celu oszacowaia parametrów całej serii a podstawie zbadaej określoej próby.. Niepewość pomiaru Teoria iepewości przyjmuje losowy model iedokładości. Wartość prawdziwa 0 x wielkości mierzoej jest rówa wartości oczekiwaej zmieej losowej: 0 x E( xˆ) (1) Dla skończoej liczby pomiarów estymatą wartości oczekiwaej jest średia arytmetycza x : 1 x x i i1 () Miarą iedokładości pomiaru jest iepewość u pomiaru wyzaczoa metodami typu oraz typu B. Niepewość stadardową szacowaą metodą typu tj. u określa estymata odchyleia stadardowego średiej arytmetyczej serii wyików pomiarów: u 1 ( 1) i1 ( x x) i (3) Niepewość rozszerzoa jest rówa: U k( p) (4) u p - poziom ufości k(p) - współczyik rozszerzeia. Jeśli p=0,99 to k(p)=3 a jeśli p=0,95 to k(p)=.

Niepewość szacowaą metodą typu B moża wyrazić astępująco: - dla prostokątego rozkładu gęstości prawdopodobieństwa (p. pomiary woltomierzem cyfrowym): x u B max (5) 3 - dla trójkątego rozkładu gęstości prawdopodobieństwa (p. pomiary częstościomierzem cyfrowym): x u B max (6) 6 max x jest błędem maksymalym (graiczym) przyrządu lub przetworika (p. mostka tesometryczego). Wielkość tą moża wyzaczyć a podstawie daych umieszczoych w dokumetacji przyrządu. Niepewość stadardową wypadkową (łączą) określa zależość: u c u u (7) B 3. Opis staowiska R D589 DMM V RS3C komputer PC Rys.1. Uproszczoy schemat staowiska pomiarowego Staowisko wyposażoe jest w multimetr cyfrowy. Multimetr w ćwiczeiu używay jest a zakresie 10V apięcia stałego. W zależości od kofiguracji staowiska zamieie zamiast przedstawioego a schemacie układu z diodą Bad-Gap D589 (1,V) może zostać użyte ogiwo wzorcowe. Multimetr współpracuje z komputerem za pomocą iterfejsu a do tworzeia oprogramowaia wykorzystywae jest środowisko LabView. Do programowaia przyrządu wykorzystyway jest język SCPI. Dokumetacja z poleceiami sterującymi multimetrem będzie dostępa w trakcie wykoywaia ćwiczeia. W zależości od kofiguracji staowiska może zostać użyty multimetr wyposażoy w iterfejs komuikacyjy RS3C lub USB. 4. Wykoaie ćwiczeia 4.1. Uruchomić komputer oraz środowisko LabVIEW. 4.1. Załączyć zasilaie multimetru, skofigurować do właściwego pomiaru (fukcja, zakres pomiarowy). 4.. Dołączyć do właściwych zacisków multimetru badae źródło apięcia. Sprawdzić poprawość wyświetlaego wyiku. 4.3. W środowisku LabVIEW utworzyć owy plik (Blak VI). Zapisać plik pod swoją azwą we wskazaym przez prowadzącego miejscu (domyślie folder Studet) adając mu azwę w

postaci rok_grupa_azwisko (p. 015 Kowalski.vi). Po każdej pozytywej modyfikacji programu zaleca się go zapisywać. 4.4. Z palety Express wybrać Istrumet ssistat. Skofigurować port wejściowy zgodie z ustawieiami multimetru w zależości od użytego iterfejsu komuikacyjego. Dodać koleje kroki obsługi multimetru, tak aby multimetr został skofiguroway do pomiaru apięcia stałego z domyślym parametrami i wykoał pomiar tego apięcia a astępie wartość apięcia została odczytaa i przetworzoa do postaci liczbowej (Numeric). Nazwać wartość wyjściową (Toke) jako wyik pomiaru. 5.3. W tworzoej aplikacji dodać elemet pokazujący aktualie zmierzoą wartość (idicator) oraz wyświetlający dotychczas zmierzoe wartości a wykresie (waveform chart). Dostosować zakresy i rozdzielczości aby wyik był wyświetlay z rozdzielczością z jaką mierzoy jest przez multimetr. Opisać wyświetlae wartości (zamiast etykiety label adać odpowiedią azwę dotyczy to każdego umieszczoego a paelu elemetu). 5.4. Użyć struktury While Loop tak, aby program był zatrzymyway po aciśięciu klawisza STOP a paelu. Dodać elemet wskazujący, który pomiar jest wykoyway od mometu uruchomieia programu. Sprawdzić działaie uruchamiając kilkukrotie program. Zaobserwować jak zachowuje się multimetr w trakcie pomiaru. 5.5. W razie potrzeby z palety Time ad Dialog dodać elemet taktujący pętlę (Waitig util ext multiple) i dodać wartość opóźieia odpowiadającą jedej sekudzie. 5.6. Rozbudować program o wyświetlaie średiej liczoej a bieżąco. Wyik ma być wyświetlay a wskaźiku (idicator) oraz pokazyway a wykresie (waveform chart). 5.7. Dodać algorytm wyliczający odchyleie stadardowe pomiaru jako pierwiastek z wariacji ( ). N - liczba próbek x i - wartość kolejej próbki N 1 N 1 1 1 xi x i (1) N 1 i0 N i0 5.8. Z wyzaczoej wartości odchyleia stadardowego wyliczyć wartość iepewości typu pomiaru i przedstawić ją a wskaźiku z odpowiedią liczba miejsc zaczących. 5.9. Korzystając z daych multimetru cyfrowego rozbudować program o bieżące wyliczaie iepewości typu B i jej wyświetlaie. 5.10.. Na podstawie wyliczoej iepewości typu i typu B wyliczyć iepewość całkowitą pomiaru oraz iepewość rozszerzoą i przedstawić ją a wskaźiku. 5.11. Uruchomić program. Zaobserwować jakiego rzędu są iepewości po 10, 50, 100, 00, 300 pomiarach. 5.1. Utworzyć histogram aktualizoway a bieżąco. Jedą z metod jest wykorzystaie tablicy ilości zdarzeń. Poieważ w ćwiczeiu wykorzystyway jest multimetr o dużej rozdzielczości wyiku to ależy ograiczyć wielość tablicy tylko do przedziału obejmującego część wyiku po przeciku. Dla sześciu miejsc po przeciku daje to tablicę o milioie elemetów (p. apięcie 1,59513V będzie ozaczało elemet w tablicy o ideksie 59513). Tablica elemetów ma być a bieżąco aktualizowaa w trakcie pomiarów więc ależy ją umieścić w rejestrze przesuwym (Shift register). Przed rozpoczęciem działaia pętli trzeba utworzyć czystą tablicę (zawierającą elemety 0) o właściwym rozmiarze (Iitlialize array).

Do uaktualieia zawartości tablicy potrzeba przeliczyć bieżący wyik pomiaru a ideks, pamiętając o tym, że wykorzystujemy tylko miejsca po przeciku. Przed użyciem liczby jako ideks tablicy zaleca się jej kowersję formatu z DBL a I3. Zwiększeie o 1 wartości komórki o wyzaczoym ideksie w tablicy zwiększy liczbę zdarzeń opisaych jako liczba wystąpień daego wyiku pomiaru w serii pomiarów. Modyfikacja komórek tablicy zgodie z uzyskaymi wyikami pomiarów w całej serii pozwoli a zbudowaie histogramu. Uzupełioą tablicę ależy zaprezetować a wykresie (Waveform graph). Po sprawdzeiu działaia ależy dobrać sposób wyświetlaia daych a wykresie (Commo plot) aby odpowiadał typowi używaemu w przypadku histogramu. Warto także wyłączyć automatycze skalowaie osi X i ograiczyć ręczie zakres wyświetlaych wartości do przedziału, w którym zajdują się mierzoe wartości. 5.13. Korzystając ze zmieej lokalej (Structures - Local) rozbudować program o automatycze skalowaie histogramu, tak aby moża było zaobserwować odchyleie 3 wokół wartości średiej. 5.14. Dodać a wykresie kursory pokazujące wartość średią, -3 i +3. W tym celu ależy a wykresie włączyć wyświetlaie kursorów (Visible items a astępie Cursor leged), utworzyć trzy kursory (Create Cursor -> Free). Każdy z kursorów azwać azwą wartości, do której będzie się odosił (x śr, -3, +3.). Do aktualizacji położeia kursora wykorzystamy jego atrybuty (a wykresie wybieramy Create -> Property Node). Należy określić, który kursor ależy ustawić (ctive Cursor) oraz jaką pozycję ma o przyjąć (Cursor Positio X). Po utworzeiu własości ależy zmieić je a tryb do zapisu (Chage to Write). Dodając koleją własość (dd elemet -> properties) ależy pamiętać, o tym że są oe odczytywae od góry do dołu, więc jako pierwsza ma być odczytaa iformacja, który kursor modyfikujemy a astępie co z im chcemy zrobić (odwrota kolejość będzie prowadziła do wpływaia pozycji jedego kursora a drugi). Literatura 1. Steve W. Smith "Cyfrowe przetwarzaie sygałów. Praktyczy poradik dla iżyierów i aukowców", BTC. Świsulski D. "Komputerowa techika pomiarowa. Oprogramowaie wirtualych przyrządów pomiarowych w LabVIEW" gecja Wydawicza PK, 005 3. Tłaczała W. "Środowisko LabVIEW w eksperymecie wspomagaym komputerowo" WNT 00 4. Chruściel M. "LabVIEW w praktyce", BTC 008 5. Chwaleba., Poiński M., Siedlecki. "Metrologia elektrycza" WNT