Załącznik nr 6 do procedury QP/4.2.3/NJ INSTRUKCJA NR QI/8.2.3/NJ Wyd. 04 Metody statystyczne Str./Na str. 1 / 6 Egz. nr. 14.11.2016 (data wydania) INSTRUKCJA Nr QI/8.2.3/NJ METODY STATYSTYCZNE Stanowisko Imię i nazwisko Data Podpis Opracował Kierownik Wydz. P-3A Marcin ŻAK Sprawdził Inżynier SZJ Mirosław NOWAK Zatwierdził Dyrektor Jakości Krzysztof WAWRZYK
Zał. Nr 4 do Instrukcji Publikowania wewnętrznych aktów normatywnych Metody statystyczne (Nazwa dokumentacji) QI/8.2.3/NJ (Nr dokumentu) Ark. Nr 2 Na ark. 6 ARKUSZ REJESTRACJI KART ZMIAN L.p. Nr Karty Zmian Nr Oper. Nr Ark. Data wprowadzenia Obowiązuje od dnia Nazwisko wprowadzającego Podpis i pieczątka Stanowisko Nazwisko Podpis Data Opracował Zmiana Nr zmiany Data Podpis
Metody statystyczne Str. / Na str. 3 / 6 SPIS TREŚCI strona - Arkusz rejestracji kart zmian... 2 - Spis treści. 3 1. Cel instrukcji 4 2. Przedmiot instrukcji. 4 3. Zakres stosowania 4 4. Odpowiedzialność 4 5. Definicje i skróty.. 4 6. Opis postępowania... 4 7. Dokumenty związane... 6 8. Wykaz formularzy... 6 9. Rozdzielnik.. 6
Metody statystyczne Str. / Na str. 4 / 6 1. Cel instrukcji. Celem instrukcji jest określenie zasad prowadzenia kontroli statystycznej procesu na Wydziale P-3A w WZL-4 S.A. 2. Przedmiot instrukcji. Przedmiotem instrukcji są: zasady wyboru nadzorowanych parametrów procesu; zasady wypełniania kart kontrolnych procesu; zasady prowadzenia statystycznej analizy danych. 3. Zakres stosowania. Instrukcja ma zastosowanie na Wydziale P-3A, gdy proces natryskiwania plazmowego jest przeprowadzany dla klientów wymagających certyfikacji AS9100 lub dla potrzeb własnych wydziału w celu zapewnienia najlepszej jakości usług. 4. Odpowiedzialność. Za nadzór nad statystyczną kontrolą procesu odpowiada Kierownik Wydziału P-3A. Za wypełnianie kart kontrolnych procesu badań laboratoryjnych odpowiada kierownik laboratorium P-3A. 5. Definicje i skróty. SKP Statystyczna Kontrola Procesu: udokumentowane procesy zbierania i analizy statystycznej wybranych parametrów procesu. Cykl produkcyjny sekwencja operacji od przygotowania jednego wsadu wyrobów, poprzez wprowadzenie do komory natryskiwania plazmowego, do zakończenia badań laboratoryjnych próbki obrabianej razem z danym wsadem. 6. Opis postępowania. 6.1. Wybór rejestrowanych parametrów procesu Rejestrowanie parametrów powinno być prowadzone osobno dla każdego Planu Technicznego w jednostkach zgodnych z dokumentem, z którego parametr został pobrany.
Metody statystyczne Str. / Na str. 5 / 6 Parametrami do SKP są: - graniczna wytrzymałość na rozciąganie z raportu laboratoryjnego, - twardość HR 15N z raportu laboratoryjnego, - grubość warstw natryskiwanych z raportu laboratoryjnego - CC oraz CV (każda powłoka powinna mieć osobną statystykę i kartę). Przystąpienie do rejestracji parametrów następuje po uruchomieniu procesu produkcji. 6.2. Prowadzenie analizy statystycznej Proces wyliczania odpowiednich wielkości i wskaźników jest przeprowadzany w przeciągu tygodnia po ukończeniu cyklu produkcyjnego danej partii detali dla 16 ostatnich wsadów. Narzędziem do prowadzenia SKP jest program MS Excel. Zmienna n we wzorach to liczba pomiarów brana do analizy w danym okresie. Wyliczane są lub określane wstępnie następujące wielkości. 6.3.1. X średnie (średnia arytmetyczna rejestrowanego parametru) według wzoru: Xśr=[suma(x1 xn)]/n Funkcja ŚREDNIA(liczba1:liczban) w MS Excel. 6.3.2 DWG - dolny wymiar graniczny (dolna granica tolerancji) - zdefiniować 6.3.3 GWG - górny wymiar graniczny (górna granica tolerancji) - zdefiniować 6.3.4 Wskaźnik zdolności (rozrzutu) Pp Pp=(GWG-DWG)/(6 x σ) 6.3.5 Wskaźnik wycentrowania Ppk Ppk=minimum z dwóch wartości: [(GWG-Xśr)/(3 x σ)] i [(Xśr-DWG)/(3 x σ)] 6.3.6 Odchylenie standardowe σ z próby n ( x X i= 1 i σ = n 1 sr ) 2 Funkcja ODCH.STANDARDOWE(liczba1:liczban) w MS Excel. 6.3.7 Dla każdego parametru sporządzane są karty kontrolne X, na których dodatkowo jest zaznaczona: - linia centralna (LC) równa wartości średniej, - górna granica kontrolna wg wzoru GGK = LC + 3σ - dolna granica kontrolna wg wzoru wg wzoru DGK = LC - 3σ
Metody statystyczne Str. / Na str. 6 / 6 6.3.8 Wyniki analizy są przechowywane na serwerze wydziałowym w katalogu o nazwie SPC. Personel laboratoryjny ma dostęp do katalogu w trybie zapisu oraz odczytu. Inżynierowie Jakości mają dostęp do katalogu w trybie tylko do odczytu, poprzez wewnętrzną sieć. Raz w roku cały katalog jest archiwizowany na płycie CD przez personel laboratoryjny. Płyty przekazywane są do archiwum JK, gdzie są przechowywane przez minimum 2 lata. 6.4. Działania podejmowane w wyniku analizy danych statystycznych 6.4.1 Jeśli wartość któregokolwiek z parametrów przekroczy określoną dla tego parametru granicę kontrolną Inżynier Jakości postępuje zgodnie z Procedurą QP/8.5/NJ Działania korygujące i zapobiegawcze. 7. Dokumenty związane. 1. Procedura QP/8.5/NJ Działania korygujące i zapobiegawcze, 8. Wykaz formularzy. 1. Załącznik nr 1 Przykładowy formularz dla Planu Technicznego 9. Rozdzielnik. NP, NT, JK, JS, P-3A
Załącznik nr 1 Przykładowy wypełniony formularz L.p. Nr wsadu Przykładowy parametr X śr GGK DGK Xśr 156,0 1 190 154,3 156,0313 172,5299 139,5326 DWG 100 2 191 151,8 156,0313 172,5299 139,5326 GWG 200 3 201 155,2 156,0313 172,5299 139,5326 sigma 5,5 4 202 153,3 156,0313 172,5299 139,5326 Pp 3,03 5 250 150,8 156,0313 172,5299 139,5326 Ppk 2,66 6 251 151,3 156,0313 172,5299 139,5326 GGK 172,5 7 261 155,7 156,0313 172,5299 139,5326 DGK 139,5 8 262 160,7 156,0313 172,5299 139,5326 9 266 149,8 156,0313 172,5299 139,5326 10 267 155,7 156,0313 172,5299 139,5326 11 268 151,3 156,0313 172,5299 139,5326 12 274 151,8 156,0313 172,5299 139,5326 13 283 167,2 156,0313 172,5299 139,5326 14 284 164,2 156,0313 172,5299 139,5326 15 285 164,7 156,0313 172,5299 139,5326 16 286 158,7 156,0313 172,5299 139,5326 180,0 170,0 160,0 150,0 140,0 130,0 120,0 190 191 201 202 250 251 261 262 266 267 268 274 283 284 285 286 Przykładowy parametr X śr GGK DGK