POLITECHNIKA OPOLSKA

Podobne dokumenty
POLITECHNIKA OPOLSKA

-> Średnia arytmetyczna (5) (4) ->Kwartyl dolny, mediana, kwartyl górny, moda - analogicznie jak

Wykład 1. Podstawowe pojęcia Metody opisowe w analizie rozkładu cechy

Po co nam charakterystyki liczbowe? Katarzyna Lubnauer 34

1 Podstawy rachunku prawdopodobieństwa

Statystyka. Wykład 2. Magdalena Alama-Bućko. 5 marca Magdalena Alama-Bućko Statystyka 5 marca / 34

Populacja generalna (zbiorowość generalna) zbiór obejmujący wszystkie elementy będące przedmiotem badań Próba (podzbiór zbiorowości generalnej) część

W kolejnym kroku należy ustalić liczbę przedziałów k. W tym celu należy wykorzystać jeden ze wzorów:

Plan wykładu. Statystyka opisowa. Statystyka matematyczna. Dane statystyczne miary położenia miary rozproszenia miary asymetrii

Wykład 5: Statystyki opisowe (część 2)

Statystyka opisowa. Literatura STATYSTYKA OPISOWA. Wprowadzenie. Wprowadzenie. Wprowadzenie. Plan. Tomasz Łukaszewski

Statystyczne metody analizy danych. Agnieszka Nowak - Brzezińska

Wykład 3. Opis struktury zbiorowości. 1. Parametry opisu rozkładu badanej cechy. 3. Średnia arytmetyczna. 4. Dominanta. 5. Kwantyle.

Podstawowe definicje statystyczne

Miary statystyczne w badaniach pedagogicznych

Statystyka. Wykład 2. Magdalena Alama-Bućko. 27 lutego Magdalena Alama-Bućko Statystyka 27 lutego / 39

Miary położenia wskazują miejsce wartości najlepiej reprezentującej wszystkie wielkości danej zmiennej. Mówią o przeciętnym poziomie analizowanej

STATYSTYKA OPISOWA. LICZBOWE CHARAKTERYSTYKI(MIARY)

STATYSTYKA OPISOWA Przykłady problemów statystycznych: - badanie opinii publicznej na temat preferencji wyborczych;

Statystyka. Podstawowe pojęcia: populacja (zbiorowość statystyczna), jednostka statystyczna, próba. Cechy: ilościowe (mierzalne),

Statystyka Matematyczna Anna Janicka

Charakterystyki liczbowe (estymatory i parametry), które pozwalają opisać właściwości rozkładu badanej cechy (zmiennej)

Statystyka. Opisowa analiza zjawisk masowych

Statystyka i analiza danych pomiarowych Podstawowe pojęcia statystyki cz. 2. Tadeusz M. Molenda Instytut Fizyki, Uniwersytet Szczeciński

Wykład 2. Statystyka opisowa - Miary rozkładu: Miary położenia

Statystyka opisowa. Wykład I. Elementy statystyki opisowej

STATYSTYKA IV SEMESTR ALK (PwZ) STATYSTYKA OPISOWA RODZAJE CECH W POPULACJACH I SKALE POMIAROWE

Podstawowe pojęcia. Własności próby. Cechy statystyczne dzielimy na

Wydział Inżynierii Produkcji. I Logistyki. Statystyka opisowa. Wykład 3. Dr inż. Adam Deptuła

Statystyka matematyczna. dr Katarzyna Góral-Radziszewska Katedra Genetyki i Ogólnej Hodowli Zwierząt

Próba własności i parametry

Analiza struktury i przeciętnego poziomu cechy

Statystyka. Wykład 4. Magdalena Alama-Bućko. 13 marca Magdalena Alama-Bućko Statystyka 13 marca / 41

Pozyskiwanie wiedzy z danych

1. Opis tabelaryczny. 2. Graficzna prezentacja wyników. Do technik statystyki opisowej można zaliczyć:

Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji STATYSTYCZNA KONTROLA PROCESU

STATYSTYKA. Rafał Kucharski. Uniwersytet Ekonomiczny w Katowicach 2015/16 ROND, Finanse i Rachunkowość, rok 2

Statystyczne metody analizy danych

Statystyka opisowa PROWADZĄCY: DR LUDMIŁA ZA JĄC -LAMPARSKA

STATYSTYKA OPISOWA. LICZBOWE CHARAKTERYSTYKI(MIARY)

Statystyka. Wykład 3. Magdalena Alama-Bućko. 6 marca Magdalena Alama-Bućko Statystyka 6 marca / 28

Wykład 4: Statystyki opisowe (część 1)

MIARY KLASYCZNE Miary opisujące rozkład badanej cechy w zbiorowości, które obliczamy na podstawie wszystkich zaobserwowanych wartości cechy

POLITECHNIKA OPOLSKA

Parametry statystyczne

1 n. s x x x x. Podstawowe miary rozproszenia: Wariancja z populacji: Czasem stosuje się też inny wzór na wariancję z próby, tak policzy Excel:

Statystyka. Wykład 4. Magdalena Alama-Bućko. 19 marca Magdalena Alama-Bućko Statystyka 19 marca / 33

POLITECHNIKA OPOLSKA

POLITECHNIKA OPOLSKA

Statystyka opisowa- cd.

Statystyka i analiza danych Wstępne opracowanie danych Statystyka opisowa. Dr Anna ADRIAN Paw B5, pok 407 adan@agh.edu.pl

W1. Wprowadzenie. Statystyka opisowa

Statystyka w pracy badawczej nauczyciela Wykład 3: Analiza struktury zbiorowości statystycznej. dr inż. Walery Susłow walery.suslow@ie.tu.koszalin.

WYKŁADY ZE STATYSTYKI MATEMATYCZNEJ (II rok WNE)

Wykład 3. Metody opisu danych (statystyki opisowe, tabele liczności, wykresy ramkowe i histogramy)

Porównaj płace pracowników obu zakładów, dokonując kompleksowej analizy struktury. Zastanów się, w którym zakładzie jest korzystniej pracować?

Statystyka opisowa. Literatura STATYSTYKA OPISOWA. Wprowadzenie. Wprowadzenie. Wprowadzenie. Plan. Tomasz Łukaszewski

WIELKA SGH-OWA POWTÓRKA ZE STATYSTYKI ROZKŁAD EMPIRYCZNY

Wykład Prezentacja materiału statystycznego. 2. Rodzaje szeregów statystycznych.

Statystyka Opisowa WK Andrzej Pawlak. Intended Audience: PWR

Analiza statystyczna w naukach przyrodniczych

Statystyka hydrologiczna i prawdopodobieństwo zjawisk hydrologicznych.

POJĘCIA WSTĘPNE. STATYSTYKA - nauka traktująca o metodach ilościowych badania prawidłowości zjawisk (procesów) masowych.

3.14. Histogram (Histogram)

Statystyka matematyczna i ekonometria

Wprowadzenie Pojęcia podstawowe Szeregi rozdzielcze STATYSTYKA OPISOWA. Dr Alina Gleska. Instytut Matematyki WE PP.

Statystyka i opracowanie danych W5: Wprowadzenie do statystycznej analizy danych. Dr Anna ADRIAN Paw B5, pok407 adan@agh.edu.pl

STATYSTYKA OPISOWA. Dr Alina Gleska. 28 września Instytut Matematyki WE PP

Zadania ze statystyki, cz.6

4.2. Statystyczne opracowanie zebranego materiału

Ćwiczenia 1-2 Analiza rozkładu empirycznego

Definicje PN ISO Definicje PN ISO 3951 interpretacja Zastosowanie normy PN-ISO 3951:1997

Wykład ze statystyki. Maciej Wolny

Rozkład normalny, niepewność standardowa typu A

Odchudzamy serię danych, czyli jak wykryć i usunąć wyniki obarczone błędami grubymi

Statystyka. Wykład 5. Magdalena Alama-Bućko. 26 marca Magdalena Alama-Bućko Statystyka 26 marca / 40

Podstawowe funkcje statystyki: informacyjna, analityczna, prognostyczna.

Często spotykany jest również asymetryczny rozkład gamma (Г), opisany za pomocą parametru skali θ i parametru kształtu k:

LABORATORIUM PODSTAW TELEKOMUNIKACJI

Oszacowanie i rozkład t

Agata Boratyńska. WYKŁAD 1. Wstępna analiza danych, charakterystyki opisowe. Indeksy statystyczne.

Statystyka. Wykład 7. Magdalena Alama-Bućko. 16 kwietnia Magdalena Alama-Bućko Statystyka 16 kwietnia / 35

Opisowa analiza struktury zjawisk statystycznych

Sterowanie procesem i jego zdolność. Zbigniew Wiśniewski

You created this PDF from an application that is not licensed to print to novapdf printer (

Zarządzanie procesami

Estymacja punktowa i przedziałowa

Sposoby opisu i modelowania zakłóceń kanałowych

STATYSTYKA - PRZYKŁADOWE ZADANIA EGZAMINACYJNE

Statystyka. Wydział Zarządzania Uniwersytetu Łódzkiego

Typy zmiennych. Zmienne i rekordy. Rodzaje zmiennych. Graficzne reprezentacje danych Statystyki opisowe

TRADYCYJNE NARZĘDZIA ZARZĄDZANIA JAKOŚCIĄ

Podstawowe pojęcia statystyczne

Przedmiot statystyki. Graficzne przedstawienie danych. Wykład Przedmiot statystyki

Literatura. Podgórski J., Statystyka dla studiów licencjackich, PWE, Warszawa 2010.

I jest narzędziem służącym do porównywania rozproszenia dwóch zmiennych. Używamy go tylko, gdy pomiędzy zmiennymi istnieje logiczny związek

Analiza zróżnicowania, asymetrii i koncentracji

RÓWNOWAŻNOŚĆ METOD BADAWCZYCH

Transkrypt:

POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Laboratorium Inżynierii Jakości KWIWiJ, II-go st. Ćwiczenie nr 3 Temat: Badanie stabilności i zdolności procesu wytwórczego poprzez wykonanie histogramu cechy mierzalnej partii wyrobów i analizy jego cech charakterystycznych Zakres ćwiczenia: 1. Wykonać pomiary wartości wskazanej cechy wyrobu w serii produkcyjnej w ilości 50 sztuk, (zakres ćwiczenia nr 1) i zanotować wyniki. 2. Wyniki pomiarów uszeregować od najmniejszej do największej wartości. 3. Ustalić wartości cechy maksymalnej i minimalnej. 4. Ustalić rozstęp przedziałów klasowych. 5. Ustalić liczbę klas. 6. Ustalić długość klasy. 7. Określić wartości dla poszczególnych przedziałów. 8. Określić liczbę obserwacji (częstości występowania) w danym przedziale. 9. Narysować histogram z wykorzystaniem załączonych wzorów, tabel i układu współrzędnych prostokątnych. 10. Opisać kształt krzywej rozkładu. 11. Obliczyć wartość średniej arytmetycznej x. 12. Obliczyć modę, medianę, kwartyl pierwszy i trzeci. Zinterpretować uzyskane wyniki. 13. Obliczyć średnie odchylenie kwadratowe S. 14. Obliczyć y max, y s, y 0 i wykreślić teoretyczną krzywą rozrzutu. 15. Zinterpretować otrzymany histogram. 16. Jeśli rozrzut jest normalny lub zbliżony do normalnego wykonać obliczenia według pkt. 17 procedury. 17. Oszacować wskaźniki zdolności procesu: potencjalny C p i rzeczywisty C pk. Zinterpretować uzyskane wyniki. 18. Wskazać dwa najistotniejsze problemy, które powinny być rozwiązane by usprawnić proces do stanu akceptowalnego. 19. Opracować protokół i wnioski.

Liczba wystąpień HISTOGRAM Histogram jest rodzajem diagramu słupkowego, stosowanym w statystyce do graficznego przedstawiania częstości występowania wartości zmiennej losowej w określonym przedziale (rys. 1)[1]. Histogram służy do prezentacji danych w postaci rysunkowej zamiast w postaci tabelarycznej, tak aby osoba analizująca dane mogła wysunąć oczywiste wnioski, które nie zawsze łatwo dostrzec, patrząc bardziej lub mniej wnikliwie na kolumny liczb [2]. Histogram można sporządzać, gromadząc dane bezpośrednio, tj. w połączeniu z wykonaniem i zastosowaniem arkusza kontrolnego, lub zupełnie niezależnie od wykorzystania arkusza, tj. analizując dane zgromadzone innymi sposobami [2]. Dane prezentowane w histogramach są zmiennymi opisanymi liczbowo, np. czas, długość, wysokość, itp. W analizie danych o jakości, histogram służy do wizualizacji zmienności, np. wyników procesu, stanów określonej cechy wyrobu itp. Dolna granica tolerancji Górna granica tolerancji 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1 0 A B 9,1 9,1 9,3 9,3 9,5 9,5 9,7 9,7 9,9 9,910,210,110,310,3 10,5 10,510,710,710,9 Granice przedziałów Rys. 1. Wykres słupkowy histogramu przedstawiającego rozkład częstości Histogram służy do graficznego przedstawienia statystycznego szeregu rozdzielczego, który ukazuje strukturę badanej zbiorowości z punktu widzenia jednej badanej cechy (mierzalnej lub niemierzalnej) [3]. Histogramy nazywane też są rozkładami empirycznymi jednej zmiennej, przy czym dla cechy skokowej stosuje się nazwę rozkład punktowy, natomiast dla cechy ciągłej - rozkład przedziałowy. 1

Fazy tworzenia histogramu (szeregu rozdzielczego): 1. Zmierzenie analizowanego parametru w ilości 50 sztuk wyrobu (lub więcej) badanej populacji 2. Ustalenie liczby klas Liczba przedziałów uzależniona jest od obszaru zmienności badanej cechy, od liczebności zbiorowości oraz od celu badania (im większy obszar zmienności i liczniejsza zbiorowość, tym więcej powinno być przedziałów). Praktycznie przyjmuje się liczbę przedziałów k=5 15, przy czym im więcej danych, tym liczba przedziałów powinna być większa. Ponadto należy kierować się zasadą unikania występowania przedziałów pustych. Orientacyjną liczbę klas k w zależności od zbiorowości n można ustalić na podstawie wzorów: n- liczebność zbiorowości; k liczba klas. k n k 5 log(n) k 1 + 3,3 log(n) Liczbę przedziałów (klas) można ustalić, odczytując wartość z tabeli 1. Tabela 1. Ustalenie liczby klas na podstawie liczebności próby Liczba pomiarów n Liczba przedziałów (klas) k 30 50 6 10 51 100 7 11 101 200 8 12 201 500 9 15 Liczbę klas k należy zaokrąglić w dół do najbliższej liczby całkowitej, polecenie w Excelu: =ZAOKR.DÓŁ(, 0) 3. Ustalenie wartości cechy maksymalnej i minimalnej Są to wartości cech odpowiednio największe (x max ) oraz najmniejsze (x min ), które mogą stanowić początek pierwszego przedziału (x min ) oraz koniec ostatniego (x max ). Polecenie w Excelu: =MAX(tablica_dane) =MIN(tablica_dane) 4. Ustalenie rozstępu przedziałów klasowych (określenie zmienności analizowanej wielkości) Rozpiętość przedziałów można ustalić na podstawie różnicy między najwyższą i najniższą wartością cechy (tzw. rozstęp). 2

Rozstęp R wyniku pomiarów można obliczyć następująco: R = x max x min x max największa wartość cechy statystycznej; x min najmniejsza wartość cechy statystycznej. 5. Ustalenie długości klasy (szerokości przedziałów) Szerokość przedziału W można obliczyć na podstawie następującego wzoru: W = R k Szerokość przedziału W należy zaokrąglić w górę do takie samego miejsca po przecinku, co zebrane dane pomiarowe, polecenie w Excelu: =ZAOKR.GÓRA(, 0) 6. Określenie wartości dla poszczególnych przedziałów Dolną granicę dla pierwszego przedziału można określić jako minimalną wartość z danych pomiarowych. Jego górna granica to początek kolejnego przedziału. Kolejne przedziały wyznacza się kolejno dodając do siebie szerokości przedziałów W. Należy pamiętać, aby przedziały wzajemnie się wykluczały, czyli inaczej mówiąc obserwacje, które znajdują się "na granicy przedziałów" mogą należeć tylko do jednego z nich. 7. Określenie liczby obserwacji (częstości występowania) w danym przedziale Po określeniu zakresów należy policzyć ile wyników pomiarów (obserwacji) należy do poszczególnych przedziałów. Tabela 2. Liczba zdarzeń w grupie Nr grupy 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Zakres wartości od do Zaznaczenie wystąpienia cechy ( ) Częstość (liczebność) Wyznaczanie częstości dla szeregu rozdzielczego z przedziałami klasowymi za pomocą polecenia w Excelu: =CZĘSTOŚĆ(tablica_dane; tablica_przedziały Funkcja Częstość musi być zatwierdzona naciśnięciem klawiszy: Ctrl + Shift + Enter 3

Cęstość bezwzględna występowania 8. Wykreślenie układu współrzędnych prostokątnych i sporządzenie histogramu Naniesienie na osi poziomej skali wartości mierzonego parametru oraz zaznaczenie na niej granic obliczonych przedziałów. Naniesienie na osi pionowej skali częstości występowania elementów z mierzonym parametrem (skala bezwzględna lub względna - udział części w przedziale do łącznej liczby zmierzonych). Sporządzenie histogramu, w którym wysokość pionowych słupków odpowiada częstości występowania dla określonych przedziałów wartości rozpatrywanej cechy. Rys. 1. Graficzna prezentacja rozrzutu histogram 9. Wyznaczenie krzywej łamanej rzeczywistego rozrzutu Zaznaczenie tylko punktów odpowiadających środkowi przedziałów i częstości w każdym przedziale umożliwia uzyskanie po ich połączeniu tzw. krzywej łamanej rzeczywistego rozrzutu. 10. Obliczenie wartości średniej arytmetycznej x oraz odchylenia średniego kwadratowego w przypadku rozrzutu normalnego Odchyleniem standardowym z próby nazywamy średnią kwadratową odchyleń od średniej arytmetycznej, którą wyraża się wzorem: Wartość wielkości mierzonej S = n i=1 (x i x ) 2 n 1 n wielkość populacji (liczebność próby); x i poszczególne wyniki; x średnia arytmetyczna. 4

Wyznaczanie odchylenia standardowego za pomocą polecenia w Excelu: =ODCH.STANDARD.PRÓBKI(tablica_dane) 11. Wykreślenie teoretycznej krzywej rozrzutu normalnego Na osi poziomej zaznacza się punkt x a od niego w prawo odkłada się +3S i w lewo 3S (są to punkty styku krzywej z osia poziomą, y 0 ) oraz punkty ±S. W punkcie x zaznacza się wartość częstości y max = 0,4, w punktach ±S wartość y S s = 0,24. S Tabela 3. Punkty do wyznaczenie teoretycznej krzywej rozrzutu normalnego 3S- S- ymax S+ 3S+ x Połączenie 5 punktów (y max, y s, y 0 ) pozwala wykreślić teoretyczną krzywą rozrzutu normalnego [4]. W celu poprawnego wykreślenia krzywej rozrzutu można posłużyć się równaniem tej krzywej w postaci: y = 1 2 xi S 2π e 2S 2 x i odchyłka od x Podstawiając: x i = 0, otrzymamy y max = 0,4 S a dla x i = S, otrzymamy y s = 0,24 S Oś y BADANIE ZDOLONOŚCI PROCESU Pozwala określić stopień spełnienia przez proces wymogów jakościowych. W tym celu wykorzystuje wskaźniki zdolności (capability indicies). Uwzględniając tolerancję badanej właściwości, możemy określić potencjalne i rzeczywiste zdolności procesu do spełnienia wymagań jakościowych dzięki czemu możemy stwierdzić ile wyrobów mieści się w założonych granicach specyfikacji. Wyznaczenie wskaźników zdolności Miarą zdolności procesu do spełnienia wymagań dokładności są wskaźniki C p i C pk. Wskaźniki zdolności nie mają charakteru miary alternatywnej: zgodny niezgodny. Wskaźniki te mają charakter ilościowy, liczbowy. 5

12. Obliczenie wskaźnika zdolności potencjalnej procesu C p Wskaźnik C p określa potencjalne możliwości procesu do produkcji wyrobu w określonej tolerancji. Jest miarą zdolności procesu do spełnienia wymagań dokładności. C p = T 6S T wielkość tolerancji dla analizowanej wielkości; S średnie odchylenie kwadratowe badanej wielkości. 13. Obliczenie wskaźnika zdolności rzeczywistej procesu C pk Wskaźnik C pk jest miarą wycentrowania procesu, inaczej zwaną korygowanym wskaźnikiem zdolności ponieważ uwzględnia także położenie wartości średniej w stosunku do granic tolerancji. x A B x C pk = min ( ; 3S 3S ) A, B - dolna i górna granica tolerancji rozpatrywanej wielkości. Interpretację wskaźników zdolności procesu zamieszczono w tabel 4. Tabela 4. Ocena procesu ( w ppm, czyli part per milion) w zależności od wskaźnika zdolności procesu [5] Wskaźnik zdolności Ocena procesu C p < 1 T < ±3S Proces nie jest zdolny (niezdolny jakościowo), konieczne jest doskonalenie procesu. Proces warunkowo zdolny, czyli spełnia założone wymagania C p = 1 T = ±3S jakościowe (jeśli C p = C pk, to udział jednostek niezgodnych wynosi 2700 ppm, czyli 0,27%) C p > 1,33 T > ±4S Zdolność procesu dobra (jeśli C p = C pk, to udział jednostek niezgodnych wynosi 63 ppm) C p > 1,66 T > ±5S Zdolność procesu bardzo dobra (jeśli C p = C pk, to udział jednostek niezgodnych wynosi 0,57 ppm) C p > 2 T > ±6S Zdolność procesu doskonała (jeśli C p = C pk, to udział jednostek niezgodnych wynosi 0,002 ppm C p = C pk, Proces wycentrowany C p C pk Proces niewycentrowany. Na proces działa stały czynnik powodując, że średnia wartość cechy jest różna od środka pola tolerancji. Proces wymaga korekty ustawienia. 6

1,0 2,0 3,0 4,0 5,0 6,0 7,0 8,0 9,0 10,0 11,0 9,1 9,3 9,5 9,7 9,9 10,1 10,3 10,5 10,7 Częstotliwość bezwzględna wystąpienia Częstotliwość bezwzględna wystąpienia Częstotliwość zsumowana W przypadku rozkładów innych niż normalny (Maxwella, Simpsona i in.) sytuacja wymaga specyficznego podejścia. Przykłady histogramów gdy mierzonym był wymiar liniowy pokazano na rys. 2. Inne możliwości interpretacji histogramów przedstawiono na rys. 3 i 4. 25 20 15 10 5 0 Wymiar mierzony D, µm (bez wartości wymiaru nominalnego) 25 20 15 10 5 krzywa doświadczalna krzywa teoretyczna 0 7 17 9,3 27 9,7 10,110,5 37 47 57 Wymiar mierzony D, µm (bez wartości wymiaru nominalnego) 100 80 60 40 20 0 7 17 27 37 47 57 Wymiar mierzony D, µm Rys. 2. Przykłady histogramów Dwa izolowane histogramy przestawienie średniej procesu wyroby z różnych maszyn Dziura w histogramie błąd przyrządu pomiarowego nieprawidłowy odczyt Dwa wierzchołki zmieszano wyroby z różnych procesów Rys. 3. Możliwości interpretacji histogramów Histogram obcięty przeprowadzono selekcję wstępną procesy nieopanowane 7

a) b) c) d) e) f) g) h) i) j) k) l) Rys. 4. Wnioskowanie o procesie produkcyjnym i kontroli jakości u kooperanta na podstawie histogramu wyników pomiaru próbki wyrobów - linie pionowe wskazują granice tolerancji: a) proces poprawny zarówno pod względem rozrzutu, jak i ustawienia, b) proces poprawny z punktu widzenia rozrzutu, niewłaściwe ustawienie, c) niewłaściwe ustawienie spowodowane prawdopodobnie błędem systematycznym przyrządu pomiarowego, d) zbyt duży rozrzut, prawidłowe ustawienie, możliwość powstawania braków, e) zbyt duży rozrzut, nieznaczny błąd ustawienia spowodował powstanie braków nie wykrytych przez kooperanta, f) wyraźnie za duży rozrzut, prawidłowe ustawienie nie wystarcza, by zapobiec powstawaniu braków, braki nie wykryte, g) wymieszane wyroby wykonane na dwóch maszynach (lub wykonane przy dwóch różnych ustawieniach maszyny), z punktu widzenia rozrzutu proces poprawny, h) wymieszane wyroby wykonane na dwóch maszynach, w obu przypadkach zbyt duży rozrzut i błędne ustawienie, braki niewykryte, i) zbyt duży rozrzut, błędne ustawienie, powstałe braki odrzucono, j) zbyt duży rozrzut, błędne ustawienie, część braków nie wykryta, k) zbyt duży rozrzut, błędne ustawienie, część braków nieznacznie wykraczających poza granicę tolerancji nie wykryta (np. błąd systematyczny przyrządu), lub świadomie przepuszczona, l) losowe zaburzenia w procesie produkcyjnym, złe działanie kontroli jakości. 8

Analiza histogramu (interpretacja) 1. Średnia Średnia pozwala na oszacowanie, środka analizowanego zbioru obserwacji. Dzięki temu można lepiej zrozumieć, jaka jest średnia wartość cechy i porównać ją ze średnią w innych histogramach o podobnej lub nieco innej zmienności. 2. Zmienność Szerokość histogramu odzwierciedla stopień zmienności badanej cechy. Im szerszy jest histogram tym większa jest zmienność, im węższy histogram tym zmienność jest mniejsza. Zmienność najczęściej jest opisywana za pomocą odchylenia standardowego. Im większe jest odchylenie standardowe tym większa jest zmienność danej cechy. 3. Kształt Większość cech, które można opisać za pomocą histogramu ma rozkład normalny o ile nie występują jakieś zaburzenia, które zmieniają ten rozkład na inny niż normalny. Te zaburzenia określa się mianem "przyczyn specjalnych". Histogram pozwala na wykrycie takich zaburzeń, poprzez analizę kształtu wykresu. Rozkład normalny ma kształt przypominający dzwon lub górę o jednym szczycie i dwóch podobnie nachylonych zboczach. Przykład rozkładu normalnego przedstawia rys. 5a. Rozkład skośny to rozkład asymetryczny, ponieważ istnieją jakieś czynniki (naturalne lub zaburzenia), które ograniczają liczbę obserwacji poniżej (lub powyżej) pewnej wartości. W zależności od czynnika ograniczającego lub zaburzającego taki wykres jest prawostronnie skośny jak pokazano na rys. 5c lub w lewostronnie skośny jak pokazano na rys. 5b. Rozkład dwumodalny posiada dwa szczyty. Niekoniecznie muszą być one sobie równe. Wystarczy, że są widoczne. Taki wykres to najczęściej sygnał, że w badanej próbie mamy do czynienia z sumą działania dwóch procesów (np. mamy dwóch dostawców tego samego wyrobu i te wyroby nieco się od siebie różnią). Sam wykres jest sumą dwóch lub kilku histogramów. Przykładem histogramu dwumodalnego jest rys. 5d. Rozkład wielomodalny to rozkład, który ma dwa czynniki (procesy) wpływające na zmienność. Histogram ma wtedy więcej niż dwa szczyty. a) Rozkład normalny x = M e = M o b) Rozkład lewostronnie skośny x < M e < M o c) Rozkład prawostronnie skośny M o < M e < x d) Rozkład dwumodalny Rys. 5. Kształt rozkładu histogramu 9

Miary położenia: Modalna M o dominanta, moda, wartość występująca najczęściej. Wartość cechy statystycznej, która w danym rozkładzie empirycznym występuje najczęściej (ma największą liczebność), a więc zajmuje szczególną pozycję w szeregu. Wartość modalną można wyznaczyć analitycznie ze wzoru: n m n m 1 M o = x om + (n m n m 1 ) + (n m n m+1 ) h m m numer przedziału (klasy), w którym występuje modalna, x om dolna granica przedziału, w którym występuje modalna, n m liczebność przedziału modalnej, tzn. klasy o numerze m, n m 1, n m+1 liczebności klas: poprzedzającej przedział modalnej i następującej po tym przedziale, h m rozpiętość przedziału klasowego, w którym znajduje się modalna. Wartość modalną można również wyznaczyć graficznie poprzez: wykreślenie histogramu liczebności dla przedziałów klasowych, wykreślenie z wierzchołków najwyższego prostokąta dwóch odcinków łączących po przekątnej bliższe wierzchołki sąsiednich prostokątów, rzut punktu przecięcia tych odcinków na oś odciętych jest modalną. Rys. 6. Graficzne wyznaczenie wartości modalnej Wyznaczenie modalnej w szeregach rozdzielczych ma sens wtedy, gdy występuje jedno wyraźnie zaznaczone maksimum (rozkład jednomodalny). W szeregu symetrycznym, modalna równa się średniej arytmetycznej. Przedział, w którym występuje modalna oraz dwa sąsiadujące z nim, muszą mieć takie same rozpiętości. Jeżeli rozkłady są wielomodalne, obliczenie jednej modalnej jest nieuzasadnione. Jeżeli w szeregu rozdzielczym z przedziałami klasowymi modalna występuje w skrajnych przedziałach rozkład cechy jest skrajnie asymetryczny, wówczas modalnej nie wyznacza się analitycznie. Przy interpretacji modalnej należy pamiętać, że charakteryzuje ona jednostki o typowym poziomie cechy, nie zaś wszystkie badane jednostki. M o Wyznaczanie modalnej za pomocą polecenia w Excelu: =WYST.NAJCZĘŚCIEJ.WART 10

Kwantyle wartości cechy badanej zbiorowości, przedstawionej w postaci szeregu statystycznego, które dzielą zbiorowość na określone części pod względem liczebności. Spośród kwantyli do obliczeń najczęściej wykorzystywane są kwartyle. Wyróżniamy kwartyl pierwszy Q 1, kwartyl drugi Q 2 (zwany również medianą Me), kwartyl trzeci Q 3. Kwartyl pierwszy (górny) Q 1 dzieli zbiorowość na dwie części w ten sposób, że 25% jednostek zbiorowości ma wartości cechy mniejsze bądź równe wartości Q 1, a pozostałe 75% jednostek zbiorowości ma wartości większe lub równe Q 1. Q 1 = x om + N Q 1 = n m m=1 i=1 n i m numer przedziału (klasy), w którym występuje kwartyl, mediana, x om dolna granica przedziału, w którym występuje kwartyl, mediana, n m liczebność przedziału mediany, kwartyl, tzn. klasy o numerze m, h m rozpiętość przedziału klasowego, w którym znajduje się mediana, kwartyl. m=1 i=1 n i suma liczebności przedziałów poprzedzających przedział mediany, kwartyl, czyli liczebność skumulowana N Q1, N Q3, N Me pozycja mediany, kwartyli. Pozycja kwartyli: N Q1 = n 4, N Q 3 = 3n 4 Pozycja mediany: N Me = n 2 h m Wyznaczanie kwartyla pierwszego za pomocą polecenia w Excelu: =KWARTYL(tablica_dane;1) Kwartyl trzeci (górny) Q 3 dzieli zbiorowość na dwie części w ten sposób, że 75% jednostek zbiorowości ma wartości cechy mniejsze bądź równe wartości Q 3, a pozostałe 25% jednostek zbiorowości ma wartości większe lub równe Q 3. Q 3 = x om + N Q 3 = n m m=1 i=1 n i Wyznaczanie kwartyla trzeciego za pomocą polecenia w Excelu: =KWARTYL(tablica_dane;3) h m Mediana M e (kwartyl drugi) wartość środkowa, dzieli zbiorowość na dwie równe części. Połowa zbiorowości ma wartości cechy mniejsze lub równe medianie, a połowa wartości cechy większe od mediany. M e = x om + N M e = n m m=1 i=1 n i h m 11

Wartość mediany wyznacza się inaczej, gdy liczebność populacji jest nieparzysta, a inaczej gdy jest parzysta. Dla nieparzystej liczby populacji: M e = xn+1 2 Dla parzystej liczby populacji M e = 1 2 (xn 2 + xn 2 +1) Wyznaczanie mediany za pomocą polecenia w Excelu: =MEDIANA =KWARTYL(tablica_dane;2) Literatura 1. Hamrol A., Mantura W.: Zarządzanie jakością. Teoria i praktyka. Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2005. 2. Jens J. Dahlgaard, Kai Kristensen, Gopal K. Kanji: Podstawy zarzadzania jakością. Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2001. 3. Jazdon A.: Doskonalenie zarządzania jakością. Oficyna Wydawnicza Ośrodka Postępu Organizacyjnego Sp. z o. o., Bydgoszcz 2001. 4. Łunarski J.: Zarzadzanie Jakością. Wyższa Szkoła Informatyki i Zarzadzania, Rzeszów 1998. 5. Greber T.: Statystyczne sterowanie procesami doskonalenie jakości z pakietem STATISTICA. StatSoft, Kraków 2000. 12