Fizyka i technologia wzrostu kryształów
|
|
- Alojzy Murawski
- 7 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Fizyka i technologia wzrostu kryształów Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa Sławomir Kret, kret@ifpan.edu.pl Instytut Fizyki PAN
2 Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa TEM (Transmission Electron Microscopy) informacje o defektach i składzie chemicznym z wnętrza materiału rozdzielczość w zależności od trybu pracy Aktualny rekord w eksperymentalnym mikroskopie 0.05 nm (50 pm) Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM) topografia powierzchni sklad chemiczny powierzchni rozdzielczości SEM-FEG ~5-1 nm
3 Geneza TEM W 1923 Prince Louis de Broglie postulował falową naturę materii. W 1927 Hans Bush pokazał, że cewki magnetyczne mogą ogniskować wiązkę elektronową w taki sam sposób, jak szklane soczewki światło. W 1927 C.J. Davisson i L.H Germer oraz G. P. Thompson i A. Reid niezależnie zademonstrowali dyfrakcję elektronową wykazując falową naturę elektronów. 7 kwietnia 1931 Ernst Ruska i Max Knoll otrzymali pierwszy obraz TEM wykorzystując dwie soczewki magnetyczne pierwszy komercyjny TEM- Metropolitan-Vickers EM1.
4 Budowa transmisyjnego mikroskopu elektronowego Wyrzutnia elektronów (działo elektronowe) Ernst August Friedrich Ruska ( ) Nobel 1986 Detektory promieniowania rentgenowskiego, filtry energii, spektrometry strat energii elektronów. Kondensor układ soczewek skupiających elektrony Komora preparatu Obiektyw tworzy obraz: rzeczywisty, odwrócony, powiększony Soczewki pośrednie i projekcyjna powiększają i rzutują obraz utworzony przez obiektyw. Ekran materiał święcący w wyniku bombardowania elektronami, np. siarczek cynku System rejestracji obrazu klisza fotograficzna, kamera TV, matryca CCD
5 Jeol 2000EX IF-PAN (1989) 200kV Rozdzielczość 0.27 nm Rozdzielczość ograniczona przez soczewki
6 Przełom w TEM działo z emisja polową +korekcja aberracji sferycznej 0.25 nm Jeol 2000ex IF-PAN LaB 6 HRTEM imaging of atoms at sub-ångström resolution, O'Keefe et al. J Electron Microsc (Tokyo).2005; 54: nm 0.1 nm 0.06 nm Microsc. Microanal.,Vol.9(Suppl.3),038 (2003) G. Benner, M. Matijevic, A. Orchowski, B. Schindler*, M. H., P. Hartel Carl Zeiss SMT s new sub-angstrom UHRTEM
7 Rozdzielczość a długość fali Napięcie przyspieszające [kv] [nm] (nm) relatywistyczna prędkość (x10 8 m/s) Jeol 2000EX IF-PAN (1989) 200kV 0.27 nm Rozdzielczość ograniczona przez soczewki FEI Titan+ Cs + monochromator 300kV ( =2 pm) 0.07 nm (70 pm) Rozdzielczość ograniczona przez szczątkową aberrację chromatyczną, wibracje i niestabilność napięcia przyspieszającego oraz prądu w soczewkach
8 IFPAN wrzesień 2010 TITAN 3 CUBED KV Rozdzielczość 0.07 nm Rozdzielczość EELS 0.2eV Monochromator, Korektor aberracji sferycznej Holografia elektronowa, EDX, STEM, HADAF, Lorentz Electron gun X-FEG Monochromator EDX Symmetric objective S-TWIN Spherical aberrations corrector HDTV camera 40 fm/s 1kx1k Projection lens Kocheler condensor + scanner Compustage holder, +/-45 Lorentz lens Electrostatic biprism HAADF/BF/BF detector CCD camera 2048x2048x16 b Magnetic filter for energy filtering applications Projection lens => x20 Second CCD camera 2048x2048x16 b
9 Virtual laboratory tour available at :
10 Oddziaływanie wysokoenergetycznych elektronów z atomem - energia ev 1. Nie rozproszone 2. Nisko kątowe rozpraszanie elastyczne 3. Wysoko kątowe rozpraszanie elastyczne 4. Wstecznie rozproszone 5. Rozproszenie nieelastyczne na zewnętrznej powłoce 6. Rozproszenie nieelastyczne na wewnętrznej powłoce
11 Oddziaływanie wysokoenergetycznych elektronów z ciałem stałym rozpraszanie nieelastyczne Padający elektron elektron Augera wybity elektron (jonizacja) poziom próżni poziom Fermiego charakterystyczny foton X dziura Elektron ze stratą energii
12 Sygnały produkowane przez sondę elektronową w cienkim krysztale wykorzystywane do tworzenia obrazów i/lub spektroskopii Fotony widzialne katodoluminescencja padająca wiązka elektronowa 10m.0.1 nm wstecznie rozproszone elektrony elektrony wtórne Promieniowanie X EDX ciepło elektrony Auger a Cienki preparat t=5-200 nm elektrony rozproszone elastycznie DYFRAKCJA CTEM, SAD, HRTEM, Z-contrast elektrony przechodzące bez rozproszenia elektrony rozproszone nieelastycznie EELS
13 Dlaczego elektrony są tak interesujące? Rozpraszanie na: Średnia droga swobodna [nm] Długość absorpcji [nm] Neuutrony jądrach X-rays elektronach elektrony potencjale Bardzo silne oddziaływanie z materią Sygnał od 1 atomu w próbce dla elektronów jest 10 4 większy niż dla promieni X
14 Wykonanie przekroju poprzecznego : nm grubości - Trawienie jonowe Image from:electron Microscopy in Solid Stage Physics H.Bethge and J. Heydenreich, Elesevier 1987 Kąt padania wiązki jonów 1-25, ale <5 pozwala uniknąć selektywnego trawienia Napnięcie przyspieszające 4-9kV (200V- 8kV) czas 1-48h Jony Argonu, chłodzenie ciekłym azotem pośrednio, ( strumieniem gazu obojętnego ) próżnia 10-5 Torr (10-3 Torr podczas trawienia)
15 Trawienie jonowe powoduje defekty radiacyjne i amorfizuje powierzchnie Ograniczenie uszkodzeń poprzez: - niższe napięcie, zmniejszanie kąta padania wiązki jonów, chłodzenie preparatu Chłodzenie ciekłym azotem Regulator temperatury Wideo mikroskop z zoomem Precision Ion Polishing System (PIPS ) na wyposażeniu IF-PAN Dzialła jonowe 100V - 6KV kąty 0º-10º
16 Preparatyka z wykorzystaniem FIB - zogniskowanej wiązki jonów
17
18 IFPAN czerwiec 2010 Rozdzielczość elektrony kv kv Rozdzielczość jony kV Energia jonów 500V-30kV EDX Omiprobe GIS- paltyna
19 Podstawowe Tryby Pracy mikroskopu Przysłona kontrastu obraz 1 probka objektyw Pł. Ogniskowa Przys.Selec. Soczewki pośrednie obraz 2 Socz. Proj. Obraz TEM Obraz dyfrakcyjny
20 The Ewald sphere construction n = 2 d hkl sin k i k d 2 1/d hkl g hkl g difracting plane
21 The Ewald sphere for high energy electrons Diffraction occurs when the Ewald sphere intersects a reciprocal lattice nodes 1/ For 200 kv electrons, 1/λ = 1/ nm = 366 nm-1
22 Dyfrakcja elektronowa Równanie Bragga /d=2 sin 2 Więc : R= L/d Dyfrakcja elektronowa SAD z nano-wiskersa ZnTe Z wielu nw Analogia do dyfrakcji proszkowej X-ray Ryssunek : D. Williamset.al., Transmission Electron Microscopy. A textbook for Materials Science,. Fot. P.Dluzewski, S.Kret IF-PAN
23 Diffraction contrast: bright and dark field BF DF DF Rys:. D. Williams et.al., Transmission Electron Microscopy. A textbook for Materials Science,.
24 Two-beam conditions for Si near 001 zone axis Picures from : D. Williams et.al., Transmission Electron Microscopy. A textbook for Materials Science,.
25 Kontrast dyfrakcyjny: jasne i ciemne pole Krystality Pd o wymiarach 5-15 nm Foto :P.Dłużweski IF-PAN
26 PERFECT CRYSTALS Thickness contours InGaN/GaN zone axis DF image. Photo : S.kret IFPAN For a wedge specimen, the separation of the fringes in the image is determined by the angle of the wedge and the extinction distance, ξg.
27 Kinematical approximation Intensity of diffracted beam is small Single scattering event So.. Kinematical approximation is not suitable to study thick crystal with deformation and defect Dynamical theory of diffraction contrast Considers many beams Intensity in one or more diffracted beams can be large in comparison with transmitted beam Multiple scattering allowed Absorption (loss of electrons) allowed Can explain intensity accurately what is impossible with kinematical theory - However still phenomenological treatment of inelastic scattering
28 Bloch waves in silicon crystal in two beam and multi beam conditions proper method for perfect crystal but complicated to use in the case of defected or deformed crystal 220 excited s~=0 Perfect 001 zone axis orientation
29 The Howie-Whelan equations for two beams and perfect crystal Description of the amplitude of diffracted 0 and g as a function of z is given by : d0 dz d g dz i i 0 g exp 2isg z 0 g i i is 0 exp 2 g z g g 0 Integration over the entire thickness gives the 0 and g at exit surface of the specimen The bright-field intensity is then given by The dark-field intensity is then given by The extinction distance is given by: g V c cos F g B * 0 0 * g g V c the volume of unit cell the Bragg angle the electron wavelength F g the structure factor
30 Excitation error or Deviation parametr s g K i K D S g <0 s g g hkl
31 Analytical solution of the Howie-Whelan equations Ig g 2 g * g 2 2 g sin 2 ( S ts eff ) eff 2 where S eff s g Absorption high-angle scattering ( elastic and/or inelastic) can be accounted for by replacing 1/ by 1/+i/ a parameter which is usually about 0.1 is really a fudge factor that modifies H-W equations to fit the experimental observations
32 CRYSTAL WITH DEFECTS Intuitive description of diffraction contrast of dislocation Bragg conditions locally satisfied Axial BF Atomic plane bending TB-DF Photo :P.Dłużewski IF-PAN Sample ł. GELCZUK et.al. WEMiF,Wrocław Misfit dislocations GaAs/In 0.07 Ga 0.93 As
33 The Two-Beam Dynamical Approximation Howie-Whelan equations for two beams With : column approximation, absorption, crystal deformation g g g g g g g g i i R g z s i i i dz d R g z s i i i i i dz d ' ' 0 ' 0 ' ) ( exp 2 1 ) ( exp R Is the displacement field This linear combination of complex differential equations can give contrast for defects
34 Contrast from single dislocation In isotropic elasticity, the displacement R near a dislocation at a point (r,) is given as r dz x b R 2 for screw dislocations and 1 sin R b b bu ln r 2 4(1 ) 2(1 ) cos 2 4(1 ) z for edge dislocations u is dislocation line, b Burgers vector, Poisson s ratio The quantity gr in H-W equantions depend on the scalar gb or gbu as well as in kinematical approximation where the amplitude of diffracted beam is : g i g t 0 exp( 2i ( g R sz)) dz where t is the thickness of the foil
35 Kontrast dyfrakcyjny: Warunek dwuwiązkowy Siatka dyslokacji niedopasowania GaAs/In 0.07 GaAs Dyslokacja znika jeśli g b 0 Foto :P.Dłużweski IF-PAN Próbka: ł. GELCZUK et.al. WEMiF,Wrocław
36 Kontrast dyfrakcyjny: Warunek dwuwiązkowy Siatka dyslokacji niedopasowania GaAs/In 0.07 GaAs Dyslokacja znika jeśli g b 0 Foto :P.Dłużweski IF-PAN Próbka: ł. GELCZUK et.al. WEMiF,Wrocław
37 Kontrast dyfrakcyjny: Warunek dwuwiązkowy Siatka dyslokacji niedopasowania GaAs/In 0.07 GaAs Dyslokacja znika jeśli g b 0 Foto :P.Dłużweski IF-PAN Próbka: ł. GELCZUK et.al. WEMiF,Wrocław
38 In 1967 Head showed that under g b = 0 dynamical conditions in bright feld screw dislocation in -CuZn still exhibits significant and complex contrast. invisibility criterion can be not valide for anisotropic materials Identyfication of defect by image simulation
39 Dislocation in -brass
40 Single dislocation in Al - 8%at Li lithium-aluminum alloy
41 MicroScope for Windows (Prof. Veli-Tapani Kuokkala, Tampere University of Technology) based on the dynamical two-beam theory column approximation. The program calculates and displays brightfield and darkfield images of dislocations and stacking faults.
42 Coherently strained heterostructures Self-organized Si/SiGe QDs Photo M.Zak IFPAN 20nm [011] dome 20nm [011] pyramid M.Zak at al.. Mikron 2008 in press
43 Determinatin of the strain in coherently strained Si/SiGe QD using the two beam diffraction contrast simulation Pyramid and dome shapes and dimensions of the SiGe islands
44 Finite element model of dome shape QDs 3D FE mesh nodes on the surface of model of dome shape SiGe QD FE coordinates Crystal cooordinates Calculated colore coded ux displacement of the surface nodes 3D FE calculation G.Jurczak
45 Cross-section by 3D FE model of QD x 0 =1, g =0 z z u x t 0 <1, g >0
46 g=220 Photo M.Zak IFPAN Symulations :S.Kret, IFPAN
47 g=220 Photo M.Zak IFPAN Symulations :S.Kret, IFPAN
48 Cienka folia t=5-30nm Plaszczyzna obiektu Równolegla wiązka elektronów A C B Tryb pracy HRTEM Kontrast Fazowy P.ogniskowa -g O g Soczewka obiektywu Przyslona kontrastu B ' Plaszczyzna obrazu Syntylator lub film C ' A ' wlókna optyczne CCD
49 Zasada tworzenia obrazu HRTEM (selekcja wiązek ugiętych na obrazie dyfrakcyjnym) Interferencja 2 wiązek Interferencja 7 wiązek
50 HRTEM GaAs <110> Zn (a) (b) Te 7 wiązek Rozdzielczość 0.27 nm 0.3 nm monowarstwa 13 wiązek Rozdzielczość 0.16 nm
51 SYMULACJA HRTEM : ETAP I wysokoenergetyczne elektrony w krysztale metoda " multislice " : podział grubego kryształu na plasterki "weak-phase-object aproximation" Cowley and Moodie (1957) z weak-phase-object propagacja r) ( r) q ( r) p ( r) n1( n n1 n1 e z q r i 0 E V x y z dz n 1( ) exp (,, ) p k r) exp - i z n1( 2 ( x y 2z by P.Stadelman Internetowy symulator TEM 2 ) Funkcja "przezroczystości" plasterka (n+1) Propagator
52 Amplitudy wiązki pierwotnej i główne wiązki ugięte (bez absorpcji) GaAs kierunek wiązki padającej <110> Grubość kryształu [nm]
53 SYMULACJA HRTEM : ETAP II elektrony w układzie optycznym mikroskopu przybliżenie nieliniowe formowania obrazu w oświetleniu częściowo koherentnym K.Ishizuka 1980 Uwzględnia aberracje układu optycznego mikroskopu Contrast Transfer Function (CTF), Funkcja przenoszenia kontrastu
54 Grubość [nm] Symulacje HRTEM 200 kv LaB 6 GaAs <110> Zone axis Rozogniskowanie [nm] In 0.5 Ga 0.5 As <110> Zone axis
55 Przykład wykorzystania TEM w badaniu kropek kwantowych GaAs/Ga 0.65 In 0.35 As 23ML x=0.35 a/a=0.027 naprężenie ~ 3GPa LPS-ESPCI Kontrast dyfrakcyjny w rzucie płaskim [001] Pseudo heksagonalna sieć kropek Średnia odległość ok. 30 nm
56 Przekrój poprzeczny Elektrony w kierunku <110> LPS-ESPCI
57 Pomiar rozkładów dystorsji sieci na Choices of obrazach the images HRTEM and ROI LPS-ESPCI
58 Siatka odniesienia nałożona na zdeformowany kryształ
59 Wektory przemieszczeń x5
60 u x 14 pixels=a u z 11 pixels=1ml a x =13.25 pixels a z =18.66 pixels
61 Lokalne dystorsje sieci x x ux y y uy Kret S. Et al Phil. Mag. Letter 66 52
62 Dystorsje skład chemiczny Rozkład indu w wyspie GaAs/Ga 0.65 In 0.35 As 23ML na podstawie analizy HRTEM i modelowania FE Kret S. et al J.Appl Phys. 86, 21 Ucieczka indu do zrelaksowanej części wyspy!
63 Metody spektroskopowe Spektroskopia charakterystycznego promieniowania X (EDX) Spektrum EDX H. Kirmse, W. Neumann, Humboldt-Universität zu Berlin
64 FEG-EDX Liniowy profil składu nanodrut ZnTe/katalizator Au-Ga+?? ZnTe E.Janik at al..nanotechnology, 18,2007, ,
65 Analiza strat energii elektorów rozproszonych nieelastycznie EELS Czyli kolorowy mikroskop elektronowy
66 Spektroskopia strat energii elektronów i mapowanie składu chemicznego Elektrony tracą różne porcje energii w zależności od tego na czym się rozproszą
67 Takie informacje mogą być uzyskane w skali nanometrycznej ELNES Extender fine structure (EXELFS) - atomspecific radial distribution of near neighbors (RDF)
68 Si implantowane Mn 45 nm 115 nm 240 nm JEOL 2000EX P..Dłużewski, S.Kret,, A. Szczepańska IF-PAN 2005
69 wydzielenia koherentne Rozmiar nm Kształt : fasetki nm JEOL 2000EX S.Kret, P..Dluzewski, A. Szczepańska IF-PAN 2005
70 Widmo EELS w pobliżu krawędzi absorpcji manganu Zlicznia elektronów strata energii ev ~3nm Obrazy przed i po krawędzi absorbcji Mapa rozkładu manganu wydzielenia 3-5 nm średnicy Tecnai G2 F20 S-Twin Cs corrected GIF-EELS S.Kret, A. Szczepańska,Y. Lefraisim, M. Hytch CEMES 2005 r Tuluza
71 Z-contrast STEM Z=31 Z=33 Zródło: S. J. Pennycook, Structure Determination through Z- Contrast Microscopy, p. 173 in Advances in Imaging and Electron Physics, Vol 123, ed. by P. G. Merli, G. Calestani, and M. Vittori- Antisari, 2002 Ga As 1.4Å EELS kolumny atomowej
72 Gatan Image filter Fei Titan 80KV
73 Holografia elektronowa (niskiej rozdzielczości) precyzyjne pomiary zmiany fazy fali elektronowej wizualizacja lokalnych pól magnetycznych i elektrycznych, Nanocząski FeNi, wiry magnetyczne RAFAL E. DUNIN-BORKOWSKI et. al. MICROSCOPY RESEARCH AND TECHNIQUE 64: (2004) Tranzystory 0.3m NMOS i PMOS Amplituda i faza W.D.Rau et. al, phys. Stat. Sol. (b) 222, 213 (200)
74 Kontrast Fazowy Międzywęzłowy pojedynczy Atom Ge zobrazowany i namierzony!!
75 Holografia elektronowa (wysokiej rozdzielczości) Prążki interferencyjne 54 pm 3 prążki na atom Prof. M. Lehmann, M. Linck, Dr T. Niermann of TU Berlin, Germany, Prof. Hannes Lichte of TU Dresden, Germany, and Dr B. Freitag of FEI Company, The Netherlands
76 Problem rzutu i uśredniania Tomografia I dużo więcej Np. +dyfrakcja
77 Słabe punkty TEMu Konieczność wykonania preparatu zniszczenie materiału Słabe próbkowanie lokalne informacje tylko z obszarów przezroczystych dla elektronów a jednak około mm 2 dla najlepszych preparatów Artefakty preparatyki - relaksacja naprężeń w cienkiej folii - amorfizacja, defekty radiacyjne Zniszczenia radiacyjne elektronami próbka przestaje być reprezentatywna - jonizacja i niszczenie wiązań chemicznych - nagrzewanie i dyfuzja składników w słabo przewodzących próbkach - wybijanie lub przesuwanie atomów, rozpylanie Wysokie koszty aparatury, pracochłonne przygotowanie preparatów Skomplikowana klawiszologia i interpretacja danych wyobraźnia i wiedza mikroskopisty (ciągle potrzebny)
78 Zalecana literatura : - J.Kozubowski, Metody transmisyjnej mikroskopii elektronowej, Wydawnictwo Śląsk, Katowice Spence, J. C. H., Experimental High Resolution Transmission Electron Microscopy, North-Holland, Amsterdam, Holanda, Williams, D. B. y Barry Carter, C., Transmission Electron Microscopy. A textbook for Materials Science, Plenum Press, New York, USA, 1996.
Fizyka i technologia wzrostu kryształów
Fizyka i technologia wzrostu kryształów Transmisyjna Mikroskopia elektronowa Sławomir Kret, kret@ifpan.edu.pl Instytut Fizyki PAN Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa TEM (Transmission Electron Microscopy)
Bardziej szczegółowoFizyka i technologia wzrostu kryształów
Fizyka i technologia wzrostu kryształów Transmisyjna Mikroskopia elektronowa Sławomir Kret, kret@ifpan.edu.pl Instytut Fizyki PAN Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa TEM (Transmission Electron Microscopy)
Bardziej szczegółowoh λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)
Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę
Bardziej szczegółowoWSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM
WSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM DOSTĘPNYCH W LABORATORIUM WYDZIAŁU CHEMII UMCS DR INŻ. SEBASTIAN ARABASZ ul. Wantule 12, 02 828 Warszawa tel/fax: (22)
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)
LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007
Bardziej szczegółowoSpektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)
Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Oddziaływanie elektronów ze stałą, krystaliczną próbką wstecznie rozproszone elektrony elektrony pierwotne
Bardziej szczegółowoMIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego
MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach
Bardziej szczegółowoPromieniowanie X. Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X
Promieniowanie X Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X Lampa rentgenowska Lampa rentgenowska Promieniowanie rentgenowskie
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 6 Elektronowy mikroskop transmisyjny w badaniach struktury metali metodą elektronograficzną Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zbadanie struktury
Bardziej szczegółowoCzy atomy mogą być piękne?
Krzysztof Matus Doktorant w Instytucie Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Czy atomy mogą być piękne? W czasach, gdy ciągły rozwój nauki połączony
Bardziej szczegółowoFizyka, technologia oraz modelowanie wzrostu kryształów Dyfrakcja i Reflektometria Rentgenowska
Fizyka, technologia oraz modelowanie wzrostu kryształów Dyfrakcja i Reflektometria Rentgenowska Michał Leszczyński Stanisław Krukowski i Michał Leszczyński Instytut Wysokich Ciśnień PAN 01-142 Warszawa,
Bardziej szczegółowoElektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści
Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, 2016 Spis treści Wykaz ważniejszych skrótów i oznaczeń 11 Przedmowa 17 Wstęp 19 Literatura 26 Rozdział I.
Bardziej szczegółowoZaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych 1. Struktura próbki a metoda badań strukturalnych 2. Podział
Bardziej szczegółowoJak badać strukturę powierzchni?
Jak badać strukturę powierzchni? Wykład - 12 15 Anim - ten kod oznacza, że na stronie znajdują się animacje niewidoczne w pliku pdf. Aby oglądnąć te animacje skopiuj zbiór z pokazem PowerPoint Z. Postawa,
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki kwantowej i budowy materii
Podstawy fizyki kwantowej i budowy materii prof. dr hab. Aleksander Filip Żarnecki Zakład Cząstek i Oddziaływań Fundamentalnych Instytut Fizyki Doświadczalnej Wykład 5 7 listopada 2016 A.F.Żarnecki Podstawy
Bardziej szczegółowoFizyka powierzchni. Dr Piotr Sitarek. Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska
Fizyka powierzchni 11 Dr Piotr Sitarek Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska Lista zagadnień Fizyka powierzchni i międzypowierzchni, struktura
Bardziej szczegółowoInkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM
Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena
Bardziej szczegółowoSpektroskopia fotoelektronów (PES)
Spektroskopia fotoelektronów (PES) Efekt fotoelektryczny hν ( UV lub X) E =hν kin W Proces fotojonizacji w PES: M + hν M + + e E kin (e) = hν E B Φ sp E B energia wiązania elektronu w atomie/cząsteczce
Bardziej szczegółowoSkaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz
Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek
Bardziej szczegółowoPrawa optyki geometrycznej
Optyka Podstawowe pojęcia Światłem nazywamy fale elektromagnetyczne, o długościach, na które reaguje oko ludzkie, tzn. 380-780 nm. O falowych własnościach światła świadczą takie zjawiska, jak ugięcie (dyfrakcja)
Bardziej szczegółowoŚwiatło ma podwójną naturę:
Światło ma podwójną naturę: przejawia własności fal i cząstek W. C. Roentgen ( Nobel 1901) Istnieje ciągłe przejście pomiędzy tymi własnościami wzdłuż spektrum fal elektromagnetycznych Dla niskich częstości
Bardziej szczegółowoMody sprzężone plazmon-fonon w silnych polach magnetycznych
Mody sprzężone plazmon-fonon w silnych polach magnetycznych Mody sprzężone w półprzewodnikach polarnych + E E pl η = st α = E E pl ξ = p B.B. Varga,, Phys. Rev. 137,, A1896 (1965) A. Mooradian and B. Wright,
Bardziej szczegółowoFizyka klasyczna. - Mechanika klasyczna prawa Newtona - Elektrodynamika prawa Maxwella - Fizyka statystyczna -Hydrtodynamika -Astronomia
Fizyka klasyczna - Mechanika klasyczna prawa Newtona - Elektrodynamika prawa Maxwella - Fizyka statystyczna -Hydrtodynamika -Astronomia Zaczniemy historię od optyki W połowie XiX wieku Maxwell wprowadził
Bardziej szczegółowoPromieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne
Promieniowanie rentgenowskie Podstawowe pojęcia krystalograficzne Krystalografia - podstawowe pojęcia Komórka elementarna (zasadnicza): najmniejszy, charakterystyczny fragment sieci przestrzennej (lub
Bardziej szczegółowoTechniki mikroskopowe
Techniki mikroskopowe Metody badań strukturalnych ciała stałego dr inż. Magdalena Król Mikrostruktura Struktura przestrzenne rozmieszczenie cząstek materii (atomów, jonów, cząsteczek) oraz zespół relacji
Bardziej szczegółowoLaboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych
Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych 1 Projekt MERFLENG... W 2012 roku
Bardziej szczegółowoFale materii. gdzie h= 6.6 10-34 J s jest stałą Plancka.
Fale materii 194- Louis de Broglie teoria fal materii, 199- nagroda Nobla Hipoteza de Broglie głosi, że dwoiste korpuskularno falowe zachowanie jest cechą nie tylko promieniowania, lecz również materii.
Bardziej szczegółowoSZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY
Załącznik nr 2 do SIWZ Załacznik nr 2 do umowy SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY Przedmiot oferty: Wysokorozdzielczy skaningowy
Bardziej szczegółowoI.4 Promieniowanie rentgenowskie. Efekt Comptona. Otrzymywanie promieniowania X Pochłanianie X przez materię Efekt Comptona
r. akad. 004/005 I.4 Promieniowanie rentgenowskie. Efekt Comptona Otrzymywanie promieniowania X Pochłanianie X przez materię Efekt Comptona Jan Królikowski Fizyka IVBC 1 r. akad. 004/005 0.01 nm=0.1 A
Bardziej szczegółowoFORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH
Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym
Bardziej szczegółowoEugeniusz Łągiewka. Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów
Eugeniusz Łągiewka Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów KATOWICE 2015 Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów Rodzinie i Przyjaciołom 1 2 NR 159
Bardziej szczegółowoŹródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg.
ZFP dysponuje obecnie unowocześnioną aparaturą, której skompletowanie, uruchomienie i utrzymanie w sprawności wymagało wysiłku zarówno merytorycznego jak i organizacyjnego oraz finansowego. Unowocześnienia
Bardziej szczegółowoMonochromatyzacja promieniowania molibdenowej lampy rentgenowskiej
Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakładu Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40 006 Katowice tel. (032)359 1503, e-mail: izajen@wp.pl, opracowanie: dr Izabela Jendrzejewska Laboratorium z Krystalografii
Bardziej szczegółowoMody sprzęŝone plazmon-fonon w silnych polach magnetycznych
Mody sprzęŝone plazmon-fonon w silnych polach magnetycznych Mody sprzęŝone w półprzewodnikach polarnych + E E pl η = st α = E E pl ξ = p B.B. Varga, Phys. Rev. 137,, A1896 (1965) A. Mooradian and B. Wright,
Bardziej szczegółowoDr Piotr Sitarek. Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska
Podstawy fizyki Wykład 11 Dr Piotr Sitarek Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 3, Wydawnictwa Naukowe PWN, Warszawa 2003. K.Sierański, K.Jezierski,
Bardziej szczegółowoFizyka powierzchni. Dr Piotr Sitarek. Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska
Fizyka powierzchni 7 Dr Piotr Sitarek Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska Lista zagadnień Fizyka powierzchni i międzypowierzchni, struktura powierzchni
Bardziej szczegółowoNOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip
NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały
Bardziej szczegółowoŚwiatło fala, czy strumień cząstek?
1 Światło fala, czy strumień cząstek? Teoria falowa wyjaśnia: Odbicie Załamanie Interferencję Dyfrakcję Polaryzację Efekt fotoelektryczny Efekt Comptona Teoria korpuskularna wyjaśnia: Odbicie Załamanie
Bardziej szczegółowoWykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e = = 1 Å
Wykład 12 Fale materii: elektrony, neutrony, lekkie atomy Neutrony generowane w reaktorze są spowalniane w wyniku zderzeń z moderatorem (grafitem) do V = 4 km/s, co odpowiada energii E=0.08 ev a energia
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki wykład 2
D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,
Bardziej szczegółowoSPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force
SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy
Bardziej szczegółowoTechniki próżniowe (ex situ)
Techniki próżniowe (ex situ) Oddziaływanie promieniowania X z materią rearrangement X-ray photon X-ray emission b) rearrangement a) photoemission photoelectron Auger electron c) Auger/X-ray emission a)
Bardziej szczegółowoFILTROWANIE ENERGII ELEKTRONÓW NOWA TECHNIKA TWORZENIA OBRAZU W TRANSMISYJNYM MIKROSKOPIE ELEKTRONOWYM
Polskie 1995, 44 (1): 215-227 Towarzystwo PL ISSN 0023-4249 Ä KOSMOS R a f a ł B u t o w t Zakład Cytologii i Embriologii Roślin Instytutu Biologii Uniwersytet Mikołaja Kopernika Gagarina 9, 87-100 Toruń
Bardziej szczegółowoMikroskopia polowa. Efekt tunelowy Historia odkryć Uwagi o tunelowaniu Zastosowane rozwiązania. Bolesław AUGUSTYNIAK
Mikroskopia polowa Efekt tunelowy Historia odkryć Uwagi o tunelowaniu Zastosowane rozwiązania Bolesław AUGUSTYNIAK Efekt tunelowy Efekt kwantowy, którym tłumaczy się przenikanie elektronu w sposób niezgodny
Bardziej szczegółowoMody sprzęŝone plazmon-fonon w silnych polach magnetycznych
Mody sprzęŝone plazmon-fonon w silnych polach magnetycznych Klasyczny przykład pośredniego oddziaływania pola magnetycznego na wzbudzenia fononowe Schemat: pole magnetyczne (siła Lorentza) nośniki (oddziaływanie
Bardziej szczegółowoRentgenografia - teorie dyfrakcji
Rentgenografia - teorie dyfrakcji widmo promieniowania rentgenowskiego Widmo emisyjne promieniowania rentgenowskiego: -promieniowanie charakterystyczne -promieniowanie ciągłe (białe) Efekt naświetlenia
Bardziej szczegółowoSpektroskopia elektronów Augera AES
Spektroskopia elektronów Augera AES (Auger Electron Spectroscopy) Emisja elektronu Augera (Pierre Auger, 1925) elektron Augera E kin E vac 3 poziom Fermiego e C B 2 Φ Α E C E B E A A 1 Energia kinetyczna
Bardziej szczegółowoFizykochemiczne metody w kryminalistyce. Wykład 7
Fizykochemiczne metody w kryminalistyce Wykład 7 Stosowane metody badawcze: 1. Klasyczna metoda analityczna jakościowa i ilościowa 2. badania rentgenostrukturalne 3. Badania spektroskopowe 4. Metody chromatograficzne
Bardziej szczegółowoDokładność i precyzja w dyfraktometrii rentgenowskiej
Dokładność i precyzja w dyfraktometrii rentgenowskiej Dokładność i precyzja ± 1σ = Α Ρ Legenda: Z A A S A R : prawdziwa" wartość : wynik pomiaru : dokładność : precyzja = odchylenie standardowe Z A A-Z
Bardziej szczegółowoRozpraszanie nieelastyczne
Rozpraszanie nieelastyczne Przekazywanie energii elektronów wiązki prowadzi do emisji szeregu sygnałów wykorzystywanych w mikroskopii elektronowej i mikroanalizie rentgenowskiej: 1. Niskoenergetyczne elektrony
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie
Bardziej szczegółowoOptyka kwantowa wprowadzenie. Początki modelu fotonowego Detekcja pojedynczych fotonów Podstawowe zagadnienia optyki kwantowej
Optyka kwantowa wprowadzenie Początki modelu fotonowego Detekcja pojedynczych fotonów Podstawowe zagadnienia optyki kwantowej Krótka (pre-)historia fotonu (1900-1923) Własności światła i jego oddziaływania
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyczne absorpcji rentgenowskiej
Podstawy fizyczne absorpcji rentgenowskiej Anna Wolska IF PAN Warszawa 2006 http://www-als.lbl.gov/als/quickguide/vugraph.html Promieniowanie rentgenowskie - promieniowanie elekromagnetyczne w zakresie
Bardziej szczegółowoRezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego
Paweł Szroeder Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Wykład X Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM) Dyfrakcja elektronowa (ED) Zalety mikroskopii elektronowej
Bardziej szczegółowoS. Baran - Podstawy fizyki materii skondensowanej Dyfrakcja na kryształach. Dyfrakcja na kryształach
S. Baran - Podstawy fizyki materii skondensowanej Dyfrakcja na kryształach Dyfrakcja na kryształach Warunki dyfrakcji źródło: Ch. Kittel Wstęp do fizyki..., rozdz. 2, rys. 6, str. 49 Konstrukcja Ewalda
Bardziej szczegółowoPrezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM
Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny
Bardziej szczegółowoMETODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW
METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku
Bardziej szczegółowoIII. EFEKT COMPTONA (1923)
III. EFEKT COMPTONA (1923) Zjawisko zmiany długości fali promieniowania roentgenowskiego rozpraszanego na swobodnych elektronach. Zjawisko to stoi u podstaw mechaniki kwantowej. III.1. EFEKT COMPTONA Rys.III.1.
Bardziej szczegółowoStudnia kwantowa. Optyka nanostruktur. Studnia kwantowa. Gęstość stanów. Sebastian Maćkowski
Studnia kwantowa Optyka nanostruktur Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Studnia kwantowa
Bardziej szczegółowoJak TO działa? Co to są półprzewodniki? TRENDY: Prawo Moore a. Google: Jacek Szczytko Login: student Hasło: *******
Co to są półprzewodniki? Jak TO działa? http://www.fuw.edu.pl/~szczytko/ Google: Jacek Szczytko Login: student Hasło: ******* Jacek.Szczytko@fuw.edu.pl Wydział Fizyki UW 2 TRENDY: Prawo Moore a TRENDY:
Bardziej szczegółowoBADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA
BADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA Celem ćwiczenia jest: 1. demonstracja dużej liczby prążków w interferometrze Lloyda z oświetleniem monochromatycznym,
Bardziej szczegółowoDyfrakcja. Dyfrakcja to uginanie światła (albo innych fal) przez drobne obiekty (rozmiar porównywalny z długością fali) do obszaru cienia
Dyfrakcja 1 Dyfrakcja Dyfrakcja to uginanie światła (albo innych fal) przez drobne obiekty (rozmiar porównywalny z długością fali) do obszaru cienia uginanie na szczelinie uginanie na krawędziach przedmiotów
Bardziej szczegółowoUMO-2011/01/B/ST7/06234
Załącznik nr 7 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoDyslokacje w kryształach. ach. Keshra Sangwal Zakład Fizyki Stosowanej, Instytut Fizyki Politechnika Lubelska
Dyslokacje w kryształach ach Keshra Sangwal Zakład Fizyki Stosowanej, Instytut Fizyki Politechnika Lubelska I. Wprowadzenie do defektów II. Dyslokacje: Podstawowe pojęcie III. Własności mechaniczne kryształów
Bardziej szczegółowoRozpraszanie i dyfrakcja promieniowania X część II. Jak eksplorować przestrzeń odwrotną - eksperymenty dyfrakcyjne
Rozpraszanie i dyfrakcja promieniowania X część II Jak eksplorować przestrzeń odwrotną - eksperymenty dyfrakcyjne Poprzedni wykład Dyfrakcja a transformacja Fouriera k r R r(r) q=k-k Obraz dyfrakcji (rozproszenia)
Bardziej szczegółowoFalowa natura materii
r. akad. 2012/2013 wykład I - II Podstawy Procesów i Konstrukcji Inżynierskich Falowa natura materii 1 r. akad. 2012/2013 Podstawy Procesów i Konstrukcji Inżynierskich Warunki zaliczenia: Aby uzyskać dopuszczenie
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa
ćw 5 Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa PRZEDMIOT: NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Opracowały: cz. teoretyczna: dr hab. Beata Grabowska
Bardziej szczegółowoMetody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT
Metody i techniki badań II Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Dr inż. Agnieszka Kochmańska pok. 20 Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa agnieszka.kochmanska@zut.edu.pl
Bardziej szczegółowoInstytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI
Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI Ćwiczenie 13 : Dyfrakcja wiązki elektronów na I. Zagadnienia do opracowania. 1. Dualizm korpuskularno falowy
Bardziej szczegółowoCiała stałe. Ciała krystaliczne. Ciała amorficzne. Bardzo często mamy do czynienia z ciałami polikrystalicznymi, rzadko monokryształami.
Ciała stałe Ciała krystaliczne Ciała amorficzne Bardzo często mamy do czynienia z ciałami polikrystalicznymi, rzadko monokryształami. r T = Kryształy rosną przez regularne powtarzanie się identycznych
Bardziej szczegółowoKrystalografia. Dyfrakcja
Krystalografia Dyfrakcja Podstawowe zagadnienia Rodzaje promieniowania używane w dyfrakcyjnych metodach badań struktur krystalicznych, ich źródła Fizyczne podstawy i warunki dyfrakcji Równania dyfrakcji:
Bardziej szczegółowoTechniki Jądrowe w Diagnostyce i Terapii Medycznej
Techniki Jądrowe w Diagnostyce i Terapii Medycznej Wykład 2-5 marca 2019 Zygmunt Szefliński Środowiskowe Laboratorium Ciężkich Jonów szef@fuw.edu.pl http://www.fuw.edu.pl/~szef/ Rozpad Przemiana Widmo
Bardziej szczegółowoMetody badania kosmosu
Metody badania kosmosu Zakres widzialny Fale radiowe i mikrofale Promieniowanie wysokoenergetyczne Detektory cząstek Pomiar sił grawitacyjnych Obserwacje prehistoryczne Obserwatorium słoneczne w Goseck
Bardziej szczegółowoĆw.6. Badanie własności soczewek elektronowych
Pracownia Molekularne Ciało Stałe Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych Brygida Mielewska, Tomasz Neumann Zagadnienia do przygotowania: 1. Budowa mikroskopu elektronowego 2. Wytwarzanie wiązki
Bardziej szczegółowoDyslokacje w kryształach. ach. Keshra Sangwal, Politechnika Lubelska. Literatura
Dyslokacje w kryształach ach Keshra Sangwal, Politechnika Lubelska I. Wprowadzenie do defektów II. Dyslokacje: podstawowe pojęcie III. Własności mechaniczne kryształów IV. Źródła i rozmnażanie się dyslokacji
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 12/13. Komputerowy hologram Fouriera. Wprowadzenie teoretyczne
Ćwiczenie 12/13 Komputerowy hologram Fouriera. Wprowadzenie teoretyczne W klasycznej holografii w wyniku interferencji dwóch wiązek: wiązki światła zmodyfikowanej przez pewien przedmiot i spójnej z nią
Bardziej szczegółowoSkaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów
1 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia są badania morfologiczne powierzchni materiałów oraz analiza chemiczna obszarów
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 11. Wprowadzenie teoretyczne
Ćwiczenie 11 Komputerowy hologram Fouriera. I Wstęp Wprowadzenie teoretyczne W klasycznej holografii w wyniku interferencji wiązki światła zmodyfikowanej przez pewien przedmiot i spójnej z nią wiązki odniesienia
Bardziej szczegółowoSPEKTROSKOPIA RENTGENOWSKA
Intensywność ĆWICZENIE 105 SPEKTROSKOPIA RENTGENOWSKA Cel ćwiczenia: obserwacja ciągłego i charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego, którego źródłem jest wolfram; wyznaczenie energii promieniowania
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ
ĆWICZENIE 84 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ Cel ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali emisji lasera lub innego źródła światła monochromatycznego, wyznaczenie stałej siatki
Bardziej szczegółowoFizyka kwantowa. promieniowanie termiczne zjawisko fotoelektryczne. efekt Comptona dualizm korpuskularno-falowy. kwantyzacja światła
W- (Jaroszewicz) 19 slajdów Na podstawie prezentacji prof. J. Rutkowskiego Fizyka kwantowa promieniowanie termiczne zjawisko fotoelektryczne kwantyzacja światła efekt Comptona dualizm korpuskularno-falowy
Bardziej szczegółowoPowierzchnie cienkie warstwy nanostruktury. Józef Korecki, C1, II p., pok. 207
Powierzchnie cienkie warstwy nanostruktury Józef Korecki, C1, II p., pok. 207 korecki@uci.agh.edu.pl http://korek.uci.agh.edu.pl/priv/jk.htm Obiekty niskowymiarowe Powierzchnia Cienkie warstwy Wielowarstwy
Bardziej szczegółowoElektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią
Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią Principles and Practice of Variable Pressure/Environmental Scanning Electron Microscopy Debbie Stokes, John Wiley &Sons, 2008 LV-SEM Low Vacuum Scanning
Bardziej szczegółowoInstytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI
Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. 1. Otrzymywanie promieni rentgenowskich. 2. Budowa lampy rentgenowskiej. 3. Własności
Bardziej szczegółowoNatęż. ężenie refleksu dyfrakcyjnego
Natęż ężenie refleksu dyfrakcyjnego Wskaźnikowanie dyfraktogramów 1. Natężenie refleksu dyfrakcyjnego - od czego i jak zależy 1. Wskaźnikowanie dyfraktogramów -metoda różnic 3. Wygaszenia systematyczne
Bardziej szczegółowoCo to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie. Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? e πε. E = n. Sebastian Maćkowski
Co to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? h 2 2 2 e πε m* 4 0ε s Φ
Bardziej szczegółowoOptyka instrumentalna
Optyka instrumentalna wykład 9 4 maja 2017 Wykład 8 Przyrządy optyczne Oko ludzkie Lupa Okular Luneta, lornetka Teleskopy zwierciadlane Mikroskop Parametry obiektywów, rozdzielczość Oświetlenie (dia, epi,
Bardziej szczegółowoMikroskopy uniwersalne
Mikroskopy uniwersalne Źródło światła Kolektor Kondensor Stolik mikroskopowy Obiektyw Okular Inne Przesłony Pryzmaty Płytki półprzepuszczalne Zwierciadła Nasadki okularowe Zasada działania mikroskopu z
Bardziej szczegółowoOddziaływanie promieniowania X z materią. Podstawowe mechanizmy
Oddziaływanie promieniowania X z materią Podstawowe mechanizmy Promieniowanie od oscylującego elektronu Rozpraszanie Thomsona Dyspersja podejście klasyczne Fala padająca Wymuszony, tłumiony oscylator harmoniczny
Bardziej szczegółowoOptyka instrumentalna
Optyka instrumentalna wykład 7 11 kwietnia 2019 Wykład 6 Optyka geometryczna Równania Maxwella równanie ejkonału promień zasada Fermata, zasada stacjonarnej fazy (promienie podążają wzdłuż ekstremalnej
Bardziej szczegółowoElektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią
Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią Principles and Practice of Variable Pressure/Environmental Scanning Electron Microscopy Debbie Stokes, John Wiley &Sons, 2008 LV-SEM Low Vacuum Scanning
Bardziej szczegółowoInstytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI
Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. 1. Otrzymywanie promieni rentgenowskich. 2. Budowa lampy rentgenowskiej. 3. Własności
Bardziej szczegółowoAtom Mn: wielobit kwantowy. Jan Gaj Instytut Fizyki Doświadczalnej
Atom Mn: wielobit kwantowy Jan Gaj Instytut Fizyki Doświadczalnej Tomasz Kazimierczuk Mateusz Goryca Piotr Wojnar (IF PAN) Artur Trajnerowicz Andrzej Golnik Piotr Kossacki Jan Gaj Michał Nawrocki Ostrzeżenia
Bardziej szczegółowoPodstawowe właściwości elektronu
Podstawowe właściwości elektronu Ładunek elektronu (e) (-)1.602 x 10-19 C 1 ev 1.602 x 10-19 J Masa spoczynkowa m o Energia kinetyczna (ładunek x różnica potencjałów) Stała Plancka Szybkość światła w próżni
Bardziej szczegółowoEfekt Comptona. Efektem Comptona nazywamy zmianę długości fali elektromagnetycznej w wyniku rozpraszania jej na swobodnych elektronach
Efekt Comptona. Efektem Comptona nazywamy zmianę długości fali elektromagnetycznej w wyniku rozpraszania jej na swobodnych elektronach Efekt Comptona. p f Θ foton elektron p f p e 0 p e Zderzenia fotonów
Bardziej szczegółowoWstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej
Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Część I: Optyka, wykład 3 wykład: Piotr Fita pokazy: Andrzej Wysmołek ćwiczenia: Anna Grochola, Barbara Piętka Wydział Fizyki Uniwersytet Warszawski 2013/14
Bardziej szczegółowoZaawansowane Metody Badań Materiałów. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów
Zaawansowane Metody Badań Materiałów Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Grafik zajęć wykłady i seminaria Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Chemii Krzemianów
Bardziej szczegółowoBadanie uporządkowania magnetycznego w ultracienkich warstwach kobaltu w pobliżu reorientacji spinowej.
Tel.: +48-85 7457229, Fax: +48-85 7457223 Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Ul.Lipowa 41, 15-424 Białystok E-mail: vstef@uwb.edu.pl http://physics.uwb.edu.pl/zfm Praca magisterska Badanie
Bardziej szczegółowoWYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ
Warszawa, dnia 17.11.2015r. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy przetargu nieograniczonego na: Dostawa stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów
Bardziej szczegółowoPlan. Kropki kwantowe - część III spektroskopia pojedynczych kropek kwantowych. Kropki samorosnące. Kropki fluktuacje szerokości
Plan Kropki kwantowe - część III spektroskopia pojedynczych kropek kwantowych Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika 1. Techniki pomiarowe 2. Podstawowe wyniki 3. Struktura
Bardziej szczegółowo