Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM"

Transkrypt

1 Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena Kowalewska, Jacek Szwedo, Muzeum i Instytut Zoologii, Polska Akademia Nauk, Wilcza 64, Warszawa Cezary Gębicki, G Akademia im. Jana Długosza, D Al. Armii Krajowej 13/15, Częstochowa Inkluzje owadów w bursztynie Gdańsk, Gdynia, Sopot XII. 2006r

2 Technika skaningowej mikroskopii elektronowej SEM znalazła zastosowanie w takich dziedzinach nauki jak: - biologia, - medycyna, - zoologia, - archeologia, - kryminologia, - materiałoznawstwo, - inne. Aktualnie skaningowe mikroskopy elektronowe stanowią podstawowe narzędzia pomiarowo - badawcze wszędzie tam gdzie zachodzi konieczność analizowania stanu powierzchni i ocena jej morfologii.

3 Budowa i zasada działania SEM: a) przekrój przez kolumnę mikroskopu (SEM), b) schemat mikroskopu (SEM) J. Goldstein, D.Newbury, D.Joy, Ch. Lyman: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (Third Edition) Wiązka elektronów bombarduje próbkę, skanując jej powierzchnię linia po linii. W momencie zetknięcia elektronów z powierzchnia preparatu część z nich jest rozpraszana, a część z nich wnika do wnętrza próbki powodując emisje elektronów wtórnych, promieni rentgenowskich oraz światła widzialnego. Są one rejestrowane za pomocą odpowiednich detektorów i przetwarzane na obrazy próbek wyświetlane na monitorze lub na widmo promieniowania rentgenowskiego.

4 Mikroanalizator rentgenowski EDS metoda dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego WDS metoda dyspersji długości fali promieniowania rentgenowskiego Analiza jakościowa składu chemicznego ustalenia zawartości danych pierwiastków, w oparciu o występowanie lub brak występowania ich charakterystycznych pików w widmie. Analiza ilościowa składu chemicznego ustalenie stosunku zawartości pierwiastków na podstawie porównania intensywności odpowiednich pików tych pierwiastków miedzy sobą lub porównania z wzorcami.

5 Badanie inkluzji w bursztynie bałtyckim wykonano za pomocą: - elektronowego mikroskopu skaningowego HITACHI S-3400N, - mikroanalizatora rentgenowskiego EDS firmy Thermo Noran, - mikroskopu stereoskopowego Olympus.

6 Protodikraneura ferraria Gębicki C., Szwedo J Protodikraneurini trib. nov. from the Eocene Baltic amber (Hemiptera: Cicadellidae: Typhlocybinae). Annales Zoologici, 56(4):

7 Hemiptera: Cicadomorpha Cicadellidae ok. 30 tys. opisanych gatunków współczesnych, prawdopodobnie 5 razy więcej gatunków w rzeczywistości; ci; wydzielono ponad 40 podrodzin; w zapisie kopalnym od jury Typhlocybinae: współczesne czesne 470 rodzajów, 5200 gatunków w rozsiedlone na całym ym świecie plemiona: Alebrini, Dikraneurini, Empoascini, Erythroneurini, Jorumini, Typhlocybini, Zyginellini Alebra w zapisie kopalnym Typhlocybinae od eocenu bursztyn bałtycki tycki nowe plemię: Protodikraneurini trib. nov., brak plemion współczesnych czesnych

8 Mikroskop skaningowy HITACHI S-3400N S - normalnym (High Vacuum), - niskonapięciowym (dla UACC<5kV, UACC<3kV), - naturalnym (Low( Vacuum), -napięcie przyśpieszające 0.3kV - 30kV, - stolik (automatyka w pięciu osiach), - komora robocza o średnicy wewnętrznej 215mm Zastosowanie trybu naturalnego - Low Vacuum pozwala na wykonywanie badań na obiektach bez konieczności ci stosowania typowej dla materiałów w nie przewodzących preparatyki, dzięki czemu obiekty te nie ulegną uszkodzeniu czy też zniszczeniu.

9 W trybie naturalnym (niska próżnia - Low Vacuum), wykorzystujemy 5-segmentowy 5 detektor półprzewodnikowy p przewodnikowy - BSE (Backscattered( Electron Detector). Za pomocą tego detektora istnieje możliwo liwość obserwacji danego obiektu w trzech różnych r rodzajach detekcji; kompozycyjnej, (COMP), topograficznej (TOPO) i stero (3D). Sygnał detektora BSE

10 Protodikraneura ferraria Coll. Jacek Serafin AUC103JS

11 Tryb - 3D (stereo)

12 Tryb TOPO (topograficzny)

13 Tryb COMP ( kompozycyjny)

14

15 C-K O-K Na-K Al-K Si-K S-K K-K Ca-K Fe-K Inkluzja Weight % Inkluzja Inkluzja Inkluzja Inkluzja

16 C-K O-K Al-K Si-K S-K K-K Ti-K Fe-K Inkluzja Weight % Inkluzja Inkluzja Inkluzja Inkluzja

17 S Fe Si Al

18 S Fe Si Al Rozkład powierzchniowy pierwiastków Al, Si, S, Fe (suma)

19 Wnioski Inkluzję w bursztynie bałtyckim oznaczono jako należą żącą do plemienia Protodikraneurini trib. nov. i reprezentuje nowy gatunek Protodikraneura ferraria. W przypadku zachowania się fragmentów w inkluzji na powierzchni bursztynu, istnieje możliwo liwość ich badania za pomocą mikroskopu skaningowego SEM W takim przypadku elektronowy mikroskop skaningowy stanowi dobre urządzenie dzenie diagnostyczne do badania morfologii zachowanej inkluzji. Wykorzystanie mikroanalizy rentgenowskiej EDS pozwala na określenie lenie składu chemicznego warstwy, która pokrywa inkluzje, co w przyszłości może e być pomocne w celu określenia warunków w w jakich inkluzja przebywała a w czasie depozycji w złożu. z

20

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT MECHANIK 7/2013 Mgr inż. Małgorzata BUŻANTOWICZ Muzeum i Instytut Zoologii PAN Mgr inż. Witold BUŻANTOWICZ Wojskowa Akademia Techniczna ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH

Bardziej szczegółowo

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, 2016 Spis treści Wykaz ważniejszych skrótów i oznaczeń 11 Przedmowa 17 Wstęp 19 Literatura 26 Rozdział I.

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym

Bardziej szczegółowo

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest wykorzystanie promieniowania

Bardziej szczegółowo

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów 1 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia są badania morfologiczne powierzchni materiałów oraz analiza chemiczna obszarów

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s) Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę

Bardziej szczegółowo

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Warszawa, dnia 17.11.2015r. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy przetargu nieograniczonego na: Dostawa stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej

Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej mgr Ewa Starnawska Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej SE morfologia BSE kompozycja i topografia BSEX - dyfrakcja EDX informacja o składzie chemicznym CL - katodoluminescencja Skaningowy mikroskop

Bardziej szczegółowo

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM).

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM). Ewa Teper PODSTAWY MIKROSKOPII SKANINGOWEJ Podstawowe zasady działania mikroskopu skaningowego. W mikroskopach skaningowych wiązka elektronów bombarduje próbkę, skanując jej powierzchnię linia po linii.

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik

Bardziej szczegółowo

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 Spis treści Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 WPROWADZENIE... 15 1. PROBLEMY WYSTĘPUJĄCE W PROCESACH SZLIFOWANIA OTWORÓW ŚCIERNICAMI Z MIKROKRYSTALICZNYM KORUNDEM SPIEKANYM I SPOIWEM CERAMICZNYM...

Bardziej szczegółowo

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ Ewa Teper PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ WIELKOŚĆ I RODZAJE PRÓBEK Maksymalne wymiary próbki, którą można umieścić na stoliku mikroskopu skaningowego są następujące: Próbka powinna się

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych 1 Projekt MERFLENG... W 2012 roku

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa ćw 5 Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa PRZEDMIOT: NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Opracowały: cz. teoretyczna: dr hab. Beata Grabowska

Bardziej szczegółowo

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego.

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej w Ustroniu Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. Anna Legutko Promotor: prof. zw. dr hab.

Bardziej szczegółowo

PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *)

PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *) Grażyna GILEWSKA PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *) STRESZCZENIE W artykule przedstawiono stosowane metody obrazowania struktur

Bardziej szczegółowo

Skaningowy mikroskop elektronowy

Skaningowy mikroskop elektronowy Skaningowy mikroskop elektronowy SH-5000M / SH-4000 / SH-3500 / detektor EDS Mikroskop elektronowy skaningowy z serii Hirox SH to najwyższej klasy system nastołowy, umożliwiającym szybkie obrazowanie w

Bardziej szczegółowo

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 Dęblin, dnia 16.09.2015 r. Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 NA PYTANIE DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH

Bardziej szczegółowo

Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią

Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią Principles and Practice of Variable Pressure/Environmental Scanning Electron Microscopy Debbie Stokes, John Wiley &Sons, 2008 LV-SEM Low Vacuum Scanning

Bardziej szczegółowo

PRACOWNIA MIKROSKOPII

PRACOWNIA MIKROSKOPII 1. Kierownik Pracowni: Dr hab. Andrzej Wojtczak, prof. UMK 2. Wykonujący badania: Mgr Grzegorz Trykowski 3. Adres: Uniwersytet Mikołaja Kopernika Wydział Chemii Pracownia Analiz Instrumentalnych ul. Gagarina

Bardziej szczegółowo

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Paweł Szroeder Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Wykład XI Badania powierzchni ciała stałego: elektronowy mikroskop skaningowy (SEM), skaningowy mikroskop tunelowy

Bardziej szczegółowo

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32 Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola

Bardziej szczegółowo

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. Dualizm korpuskularno falowy cząstek: a) postulat de Broglie a; b) doświadczenia

Bardziej szczegółowo

Widmo promieniowania

Widmo promieniowania Widmo promieniowania Spektroskopia Każde ciało wysyła promieniowanie. Promieniowanie to jest składa się z wiązek o różnych długościach fal. Jeśli wiązka światła pada na pryzmat, ulega ono rozszczepieniu,

Bardziej szczegółowo

Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody

Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody 1. Wątek i TEMAT: B 31 Wyjście (wycieczka) do Pracowni Mikroskopii Skaningowej Nauk Biologicznych i Geologicznych.

Bardziej szczegółowo

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny

Bardziej szczegółowo

... Rozprawa doktorska. Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni.

... Rozprawa doktorska. Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Rozprawa doktorska... Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni Michał Krysztof Promotor prof.

Bardziej szczegółowo

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Mariusz Kępczyński, p. 148, kepczyns@chemia.uj.edu.pl Wstęp Plan wykładu mikroskopia

Bardziej szczegółowo

AN ANALYSIS OF THE ELEMENTAL COMPOSITION OF MICRO-SAMPLES USING EDS TECHNIQUE ANALIZA SKŁADU PIERWIASTKOWEGO W MIKROOBSZARZE PRZY UŻYCIU TECHNIKI EDS

AN ANALYSIS OF THE ELEMENTAL COMPOSITION OF MICRO-SAMPLES USING EDS TECHNIQUE ANALIZA SKŁADU PIERWIASTKOWEGO W MIKROOBSZARZE PRZY UŻYCIU TECHNIKI EDS ANNA WASSILKOWSKA *, ANNA CZAPLICKA *, MICHAŁ ZIELINA *, ANDRZEJ BIELSKI AN ANALYSIS OF THE ELEMENTAL COMPOSITION OF MICRO-SAMPLES USING EDS TECHNIQUE ANALIZA SKŁADU PIERWIASTKOWEGO W MIKROOBSZARZE PRZY

Bardziej szczegółowo

IM-20. XRF - Analiza chemiczna poprzez pomiar energii promieniowania X

IM-20. XRF - Analiza chemiczna poprzez pomiar energii promieniowania X IM-20 Jakościowa i ilościowa analiza składu materiałów za pomocą XRF XRF - Analiza chemiczna poprzez pomiar energii promieniowania X 1. Cel ćwiczenia Student zapoznaje się z metodą analizy składu pierwiastkowego

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii

Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Wydział Mechaniczny, Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej Politechnika Wrocławska,

Bardziej szczegółowo

Współczesne metody badań instrumentalnych

Współczesne metody badań instrumentalnych Współczesne metody badań instrumentalnych Wykład IX Mikroskopia optyczna i elektronowa Mikroskopia w konserwacji identyfikacja pigmentów, identyfikacja spoiw, badanie składu warstw malarskich, badanie

Bardziej szczegółowo

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera ANALIZA POŁĄCZENIA WARSTW CERAMICZNYCH Z PODBUDOWĄ METALOWĄ Promotor: Prof. zw. dr hab. n. tech. MACIEJ HAJDUGA Tadeusz Zdziech CEL PRACY Celem

Bardziej szczegółowo

Akademia Sztuk Pięknych w Warszawie, Wydział Konserwacji i Restauracji Dzieł Sztuki, Zakład Badań Specjalistycznych i Technik Dokumentacyjnych

Akademia Sztuk Pięknych w Warszawie, Wydział Konserwacji i Restauracji Dzieł Sztuki, Zakład Badań Specjalistycznych i Technik Dokumentacyjnych SPRAWOZDANIE Z REALIZACJI pierwszego etapu UMOWY o DZIEŁO p.t.: Wykonanie szlifów i analiza produktów korozji próbek metali konstrukcyjnych parowozów metodami mikro-chemicznymi i laserowej spektrometrii

Bardziej szczegółowo

Spółka z o.o. UCZESTNICY WARSZTATÓW: Lekarze rezydenci i specjaliści, technicy w pracowniach diagnostycznych i histopatologicznych

Spółka z o.o. UCZESTNICY WARSZTATÓW: Lekarze rezydenci i specjaliści, technicy w pracowniach diagnostycznych i histopatologicznych e-mail: kawaska@kawaska.pl WARSZTATY: TECHNIKI MIKROSKOPOWE I INFORMATYCZNE W BADANIU PRÓBEK BIOLOGICZNYCH, CZ. 1 Objęte patronatem Polskiego Towarzystwa Patologów pod przewodnictwem Prezes Zarządu Głównego

Bardziej szczegółowo

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI Tytuł: Makroskopowe i mikroskopowe badania metalograficzne materiałów konstrukcyjnych i ich połączeń spajanych Opracował: pod redakcją dr. hab. inż. Mirosława Łomozika Rok wydania: 2009 Wydawca: Instytut

Bardziej szczegółowo

Cz. 5. Podstawy instrumentalizacji chromatografii. aparatura chromatograficzna w skali analitycznej i modelowej - -- w części przypomnienie -

Cz. 5. Podstawy instrumentalizacji chromatografii. aparatura chromatograficzna w skali analitycznej i modelowej - -- w części przypomnienie - Chromatografia cieczowa jako technika analityki, przygotowania próbek, wsadów do rozdzielania, technika otrzymywania grup i czystych substancji Cz. 5. Podstawy instrumentalizacji chromatografii aparatura

Bardziej szczegółowo

Wydział Mechaniczny LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA

Wydział Mechaniczny LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA Wydział Mechaniczny Katedra Materiałoznawstwa, Wytrzymałości i Spawalnictwa LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA Wrocław, 30 listopada 2016 r. Pracownicy Laboratorium Materiałoznawstwa 13 osób Pracownicy naukowo-dydaktyczni

Bardziej szczegółowo

FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA (XRF) MARTA KASPRZYK PROMOTOR: DR HAB. INŻ. MARCIN ŚRODA KATEDRA TECHNOLOGII SZKŁA I POWŁOK AMORFICZNYCH

FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA (XRF) MARTA KASPRZYK PROMOTOR: DR HAB. INŻ. MARCIN ŚRODA KATEDRA TECHNOLOGII SZKŁA I POWŁOK AMORFICZNYCH FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA (XRF) MARTA KASPRZYK PROMOTOR: DR HAB. INŻ. MARCIN ŚRODA KATEDRA TECHNOLOGII SZKŁA I POWŁOK AMORFICZNYCH 13.01.2015 SPIS TREŚCI WSTĘP ZJAWISKO FLUORESCENCJI FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA

Bardziej szczegółowo

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym

Bardziej szczegółowo

Zaawansowane techniki badawcze w skaningowym mikroskopie elektronowym

Zaawansowane techniki badawcze w skaningowym mikroskopie elektronowym Zaawansowane techniki badawcze w skaningowym mikroskopie elektronowym Program wykładów 1. Oddziaływanie elektronów z ciałem stałym 2. Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM 3. Mikroanaliza rentgenowska

Bardziej szczegółowo

Elektrochemiczne osadzanie antykorozyjnych powłok stopowych na bazie cynku i cyny z kąpieli cytrynianowych

Elektrochemiczne osadzanie antykorozyjnych powłok stopowych na bazie cynku i cyny z kąpieli cytrynianowych Elektrochemiczne osadzanie antykorozyjnych powłok stopowych na bazie cynku i cyny z kąpieli cytrynianowych Honorata Kazimierczak Promotor: Dr hab. Piotr Ozga prof. PAN Warstwy ochronne z cynku najtańsze

Bardziej szczegółowo

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym WYśSZA SZKOŁA INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ IM. PROF. MEISSNERA W USTRONIU WYDZIAŁ INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie

Bardziej szczegółowo

Metody chemiczne w analizie biogeochemicznej środowiska. (Materiał pomocniczy do zajęć laboratoryjnych)

Metody chemiczne w analizie biogeochemicznej środowiska. (Materiał pomocniczy do zajęć laboratoryjnych) Metody chemiczne w analizie biogeochemicznej środowiska. (Materiał pomocniczy do zajęć laboratoryjnych) Metody instrumentalne podział ze względu na uzyskane informację. 1. Analiza struktury; XRD (dyfrakcja

Bardziej szczegółowo

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości

Bardziej szczegółowo

Aparatura do osadzania warstw metodami:

Aparatura do osadzania warstw metodami: Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera

Bardziej szczegółowo

OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X

OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X X4 OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest jakościowe poznanie podstawowych zjawisk fizycznych wykorzystywanych w obrazowaniu

Bardziej szczegółowo

ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Definicje legalne: Laboratorium wszędzie gdzie w specyfikacji technicznej pojawia się sformułowanie laboratorium należy przez to rozumieć Laboratorium CryoSEM Mikroskop

Bardziej szczegółowo

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne Promieniowanie rentgenowskie Podstawowe pojęcia krystalograficzne Krystalografia - podstawowe pojęcia Komórka elementarna (zasadnicza): najmniejszy, charakterystyczny fragment sieci przestrzennej (lub

Bardziej szczegółowo

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski Jarosław Rochowicz Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Praca magisterska Wpływ napięcia podłoża na właściwości mechaniczne powłok CrCN nanoszonych

Bardziej szczegółowo

Fizyka powierzchni. Dr Piotr Sitarek. Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska

Fizyka powierzchni. Dr Piotr Sitarek. Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska Fizyka powierzchni 11 Dr Piotr Sitarek Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska Lista zagadnień Fizyka powierzchni i międzypowierzchni, struktura

Bardziej szczegółowo

Ścieżka I (K) Zespół Chemii Kwantowej-I Materia od środka

Ścieżka I (K) Zespół Chemii Kwantowej-I Materia od środka Ścieżka I (K) Materia od środka Zespół Chemii Kwantowej-I W naszym laboratorium: przyjrzymy się otaczającej nas materii od środka i sprawdzimy, z czego jest zbudowana, zobaczymy, czy ta sama substancja

Bardziej szczegółowo

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych 1. Struktura próbki a metoda badań strukturalnych 2. Podział

Bardziej szczegółowo

BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM. Klaudia Radomska

BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM. Klaudia Radomska WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera w Ustroniu Wydział InŜynierii Dentystycznej BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM Klaudia Radomska Praca dyplomowa napisana

Bardziej szczegółowo

1 Badania strukturalne materiału przeciąganego

1 Badania strukturalne materiału przeciąganego Zbigniew Rudnicki Janina Daca Włodzimierz Figiel 1 Badania strukturalne materiału przeciąganego Streszczenie Przy badaniach mechanizmu zużycia oczek ciągadeł przyjęto założenie, że przeciągany materiał

Bardziej szczegółowo

12. WYBRANE METODY STOSOWANE W ANALIZACH GEOCHEMICZNYCH. Atomowa spektroskopia absorpcyjna

12. WYBRANE METODY STOSOWANE W ANALIZACH GEOCHEMICZNYCH. Atomowa spektroskopia absorpcyjna 12. WYBRANE METODY TOOWANE W ANALIZACH EOCHEMICZNYCH Atomowa spektroskopia absorpcyjna (AA - atomic absorption spectroscopy) Atomowa spektroskopia absorpcyjna jest bardzo czułą metodą analityczną umożliwiającą

Bardziej szczegółowo

Spektrometry EDXRF do analizy metali szlachetnych X-PMA i w wersji przenośnej EX-PMA

Spektrometry EDXRF do analizy metali szlachetnych X-PMA i w wersji przenośnej EX-PMA Spektrometry EDXRF do analizy metali szlachetnych X-PMA i w wersji przenośnej EX-PMA Xenemetrix jest Izraelską wiodącą firmą z ponad 40 letnim doświadczeniem w projektowaniu, produkcji i dystrybucji spektrometrów

Bardziej szczegółowo

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 9 Elektronowy mikroskop skaningowy-cyfrowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Jan Drzymała ANALIZA INSTRUMENTALNA SPEKTROSKOPIA W ŚWIETLE WIDZIALNYM I PODCZERWONYM

Jan Drzymała ANALIZA INSTRUMENTALNA SPEKTROSKOPIA W ŚWIETLE WIDZIALNYM I PODCZERWONYM Jan Drzymała ANALIZA INSTRUMENTALNA SPEKTROSKOPIA W ŚWIETLE WIDZIALNYM I PODCZERWONYM Światło słoneczne jest mieszaniną fal o różnej długości i różnego natężenia. Tylko część promieniowania elektromagnetycznego

Bardziej szczegółowo

Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering

Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Kierunek: Inżynieria materiałowa Rodzaj przedmiotu: kierunkowy obowiązkowy Rodzaj

Bardziej szczegółowo

TEMAT ĆWICZENIA: ANALIZA CIECZY I CIAŁ STAŁYCH Z UŻYCIEM FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ Z ROZPRASZANIEM ENERGII

TEMAT ĆWICZENIA: ANALIZA CIECZY I CIAŁ STAŁYCH Z UŻYCIEM FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ Z ROZPRASZANIEM ENERGII PROBLEMATYKA: Nieniszcząca analiza pierwiastkowa TEMAT ĆWICZENIA: ANALIZA CIECZY I CIAŁ STAŁYCH Z UŻYCIEM FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ Z ROZPRASZANIEM ENERGII METODA: Fluorescencja rentgenowska WPROWADZENIE

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

23 kwietnia 2009 r.

23 kwietnia 2009 r. Plan akcji: Katowice: Wydział Inżynierii Materiałowej i Metalurgii w Katowicach ul. Zygmunta Krasioskiego 8, 40-019 Katowice Dni Otwarte Politechniki Śląskiej Akcja Dziewczyny na Politechniki 23 kwietnia

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Załącznik nr 8 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni

Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni z Efekt Ramana (1922, CV Raman) I, ν próbka y Chandra Shekhara Venketa Raman x I 0, ν 0 Monochromatyczne promieniowanie o częstości ν 0 ulega rozproszeniu

Bardziej szczegółowo

SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer

SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer EDX 3600B SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer Przeznaczony do analizy pierwiastkowej: - w produkcji cementu,

Bardziej szczegółowo

Politechnika Politechnika Koszalińska

Politechnika Politechnika Koszalińska Politechnika Politechnika Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Technik Próżniowych NOWE MATERIAŁY NOWE TECHNOLOGIE W PRZEMYŚLE OKRĘTOWYM I MASZYNOWYM IIM ZUT Szczecin, 28 31 maja 2012, Międzyzdroje

Bardziej szczegółowo

Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy)

Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) Spis treści 1 Historia 2 Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) 2.1 Skaningowy mikroskop tunelowy (STM od ang. Scanning Tunneling Microscope) 2.1.1 Uzyskiwanie obrazu metodą

Bardziej szczegółowo

RENTGENOWSKA ANALIZA FLUORESCENCYJNA

RENTGENOWSKA ANALIZA FLUORESCENCYJNA RENTGENOWSKA ANALIZA FLUORESCENCYJNA Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zidentyfikowanie pierwiastków w próbkach metodą rentgenowskiej analizy fluorescencyjnej przy zastosowaniu zestawu firmy Amptek składającego

Bardziej szczegółowo

Przykłady pomiarów wielkości ogniska Lamp rentgenowskich

Przykłady pomiarów wielkości ogniska Lamp rentgenowskich Przykłady pomiarów wielkości ogniska Lamp rentgenowskich Dominik SENCZYK Politechnika Poznańska E-mail: dominik.senczyk@put.poznan.pl 1. Wprowadzenie Ze względu na duże znaczenie wielkości ogniska lampy

Bardziej szczegółowo

KATALOG OSTATNICH BADAŃ

KATALOG OSTATNICH BADAŃ KATALOG OSTATNICH BADAŃ Tytuł badań: Badania nieinwazyjne obrazu olejnego na blasze miedzianej z XVI/XVII w. Data wykonania: wrzesień 2009 Opis: Przy pomocy podczerwonej kamery Hammamatsu wykonano 24 zdjęcia

Bardziej szczegółowo

ANALIZA PIERWIASTKÓW W RÓŻNYCH TYPACH PRÓBY PRZY ZASTOSOWANIU ENERGODYSPERSYJNEGO SPEKTROMETRU RENTGENOWSKIEGO

ANALIZA PIERWIASTKÓW W RÓŻNYCH TYPACH PRÓBY PRZY ZASTOSOWANIU ENERGODYSPERSYJNEGO SPEKTROMETRU RENTGENOWSKIEGO ANALIZA PIERWIASTKÓW W RÓŻNYCH TYPACH PRÓBY PRZY ZASTOSOWANIU ENERGODYSPERSYJNEGO SPEKTROMETRU RENTGENOWSKIEGO Celem ćwiczenia jest identyfikacja pierwiastków metodą fluorescencji rentgenowskiej w dowolnych

Bardziej szczegółowo

labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów

labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów Tel.: (17) 854 47 91 Fax: (17) 854 48 32 E-mail: jansien@prz.edu.pl Projekt

Bardziej szczegółowo

WYKORZYSTANIE MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ ; DO BADANIA WEWNĘTRZNEJ STRUKTURY DOZYMETRÓW - ALANINOWO-POLIMEROWYCH i o

WYKORZYSTANIE MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ ; DO BADANIA WEWNĘTRZNEJ STRUKTURY DOZYMETRÓW - ALANINOWO-POLIMEROWYCH i o WYKORZYSTANIE MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ ; DO BADANIA WEWNĘTRZNEJ STRUKTURY DOZYMETRÓW - ALANINOWO-POLIMEROWYCH i o ^oj \bstract Zofia Peimel-Stuglik, Bożena Sartowska, Sławomir Fabisiak Instytut Chemii

Bardziej szczegółowo

Metodyka Badań Materiałów i Technik Malarskich

Metodyka Badań Materiałów i Technik Malarskich Metodyka Badań Materiałów i Technik Malarskich Wykład IV Echografia ultradźwiękowa Mikroskopia optyczna Mikroskopia elektronowa Badania mikroskrystaloskopowe Przekroje poprzeczne Widmo fal akustycznych

Bardziej szczegółowo

ANALIZA ŚLADOWYCH ZANIECZYSZCZEŃ ŚRODOWISKA I ROK OŚ II

ANALIZA ŚLADOWYCH ZANIECZYSZCZEŃ ŚRODOWISKA I ROK OŚ II ANALIZA ŚLADOWYCH ZANIECZYSZCZEŃ ŚRODOWISKA I ROK OŚ II Ćwiczenie 1 Przygotowanie próbek do oznaczania ilościowego analitów metodami wzorca wewnętrznego, dodatku wzorca i krzywej kalibracyjnej 1. Wykonanie

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 14 Data wydania: 5 lutego 2016 r. AB 097 Kod identyfikacji

Bardziej szczegółowo

Mikroanaliza wiązką elektronową

Mikroanaliza wiązką elektronową Mikroanaliza wiązką elektronową Mikroskopia elektronowa: SEM - scanning electron microscope (skaningowy mikroskop elektronowy) TEM - transmision electron microscope (transmisyjny mikroskop elektronowy)

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3 ANALIZA JAKOŚCIOWA PALIW ZA POMOCĄ SPEKTROFOTOMETRII FTIR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy)

Ćwiczenie 3 ANALIZA JAKOŚCIOWA PALIW ZA POMOCĄ SPEKTROFOTOMETRII FTIR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy) POLITECHNIKA ŁÓDZKA WYDZIAŁ INśYNIERII PROCESOWEJ I OCHRONY ŚRODOWISKA KATEDRA TERMODYNAMIKI PROCESOWEJ K-106 LABORATORIUM KONWENCJONALNYCH ŹRÓDEŁ ENERGII I PROCESÓW SPALANIA Ćwiczenie 3 ANALIZA JAKOŚCIOWA

Bardziej szczegółowo

Ekspansja plazmy i wpływ atmosfery reaktywnej na osadzanie cienkich warstw hydroksyapatytu. Marcin Jedyński

Ekspansja plazmy i wpływ atmosfery reaktywnej na osadzanie cienkich warstw hydroksyapatytu. Marcin Jedyński Ekspansja plazmy i wpływ atmosfery reaktywnej na osadzanie cienkich warstw hydroksyapatytu. Marcin Jedyński Metoda PLD (Pulsed Laser Deposition) PLD jest nowoczesną metodą inżynierii powierzchni, umożliwiającą

Bardziej szczegółowo

Badanie utleniania kwasu mrówkowego na stopach trójskładnikowych Pt-Rh-Pd

Badanie utleniania kwasu mrówkowego na stopach trójskładnikowych Pt-Rh-Pd Badanie utleniania kwasu mrówkowego na stopach trójskładnikowych Pt-Rh-Pd Kamil Wróbel Pracownia Elektrochemicznych Źródeł Energii Kierownik pracy: prof. dr hab. A. Czerwiński Opiekun pracy: dr M. Chotkowski

Bardziej szczegółowo

Podstawowe właściwości elektronu

Podstawowe właściwości elektronu Podstawowe właściwości elektronu Ładunek elektronu (e) (-)1.602 x 10-19 C 1 ev 1.602 x 10-19 J Masa spoczynkowa m o Energia kinetyczna (ładunek x różnica potencjałów) Stała Plancka Szybkość światła w próżni

Bardziej szczegółowo

Własności mechaniczne i strukturalne wybranych gipsów w mechanizmie wiązania.

Własności mechaniczne i strukturalne wybranych gipsów w mechanizmie wiązania. WYśSZA SZKOŁA INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ im. prof. Meissnera w Ustroniu Własności mechaniczne i strukturalne wybranych gipsów w mechanizmie wiązania. Promotor: Prof. zw. dr hab. n. tech. MACIEJ HAJDUGA Barbara

Bardziej szczegółowo

Właściwości optyczne. Oddziaływanie światła z materiałem. Widmo światła widzialnego MATERIAŁ

Właściwości optyczne. Oddziaływanie światła z materiałem. Widmo światła widzialnego MATERIAŁ Właściwości optyczne Oddziaływanie światła z materiałem hν MATERIAŁ Transmisja Odbicie Adsorpcja Załamanie Efekt fotoelektryczny Tradycyjnie właściwości optyczne wiążą się z zachowaniem się materiałów

Bardziej szczegółowo

Wydział Fizyki Uniwersytet w Białymstoku. ul. Lipowa 41, Białystok. tel. (+48 85) fax ( ) EFEKTY KSZTAŁCENIA

Wydział Fizyki Uniwersytet w Białymstoku. ul. Lipowa 41, Białystok. tel. (+48 85) fax ( ) EFEKTY KSZTAŁCENIA Wydział Fizyki Uniwersytet w Białymstoku ul. Lipowa 41, 15-424 Białystok tel. (+48 85) 745 72 22 fax (+ 48 85) 745 72 23 EFEKTY KSZTAŁCENIA dla kierunku poziom kształcenia profil Fizyka studia 2 stopnia

Bardziej szczegółowo

OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS

OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS Zagadnienia teoretyczne. Spektrofotometria jest techniką instrumentalną, w której do celów analitycznych wykorzystuje się przejścia energetyczne zachodzące

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 2 Zastosowanie fluorescencji rentgenowskiej wzbudzanej źródłami promieniotwórczymi do pomiarów grubości powłok

Ćwiczenie nr 2 Zastosowanie fluorescencji rentgenowskiej wzbudzanej źródłami promieniotwórczymi do pomiarów grubości powłok Ćwiczenie nr 2 Zastosowanie fluorescencji rentgenowskiej wzbudzanej źródłami promieniotwórczymi do pomiarów grubości powłok Wydział Fizyki, 2009 r. I Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest: Zapoznanie się

Bardziej szczegółowo

MATERIAŁY SZKOLENIOWE

MATERIAŁY SZKOLENIOWE Skaningowa mikroskopia elektronowa MATERIAŁY SZKOLENIOWE Anna Łasińska Skaningowa mikroskopia elektronowa w badaniach kryminalistycznych Streszczenie W celu ustalenia powiązania przestępcy ze zdarzeniem,

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 9 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO MIKROSKOPU ELEKTRONOWEGO (TEM)

BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO MIKROSKOPU ELEKTRONOWEGO (TEM) 81/21 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 2006, Rocznik 6, Nr 21(2/2) ARCHIVES OF FOUNDARY Year 2006, Volume 6, Nº 21 (2/2) PAN Katowice PL ISSN 1642-5308 BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO

Bardziej szczegółowo

Nowoczesne techniki. Korozja jest zjawiskiem tak powszechnym. w badaniach korozyjnych

Nowoczesne techniki. Korozja jest zjawiskiem tak powszechnym. w badaniach korozyjnych LABORATORIUM PRZEMYSŁOWE LABORATORIUM 3-4/2015 fot. Thinkstock Nowoczesne techniki w badaniach korozyjnych STRESZCZENIE W artykule przedstawiono wybrane nowoczesne techniki stosowane w badaniach korozyjnych

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła

Wyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła Ćwiczenie O3 Wyznaczanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali światła O3.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie zależności współczynnika załamania światła od długości fali

Bardziej szczegółowo

Nowoczesne metody analizy pierwiastków

Nowoczesne metody analizy pierwiastków Nowoczesne metody analizy pierwiastków Techniki analityczne Chromatograficzne Spektroskopowe Chromatografia jonowa Emisyjne Absorpcyjne Fluoroscencyjne Spektroskopia mas FAES ICP-AES AAS EDAX ICP-MS Prezentowane

Bardziej szczegółowo