LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)"

Transkrypt

1 LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik laboratorium: doc. dr hab. inż. Jerzy Morgiel Wykonujący badania: dr Lidia Lityńska - Dobrzyńska (z-ca kierownika) dr Tomasz Czeppe dr inż. Wojciech Maziarz dr inż. Łukasz Major mgr inż. Justyna Grzonka inż. Władysław Baliga Adres: Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego Polskiej Akademii Nauk, ul. Reymonta 25, Kraków tel: (12) , fax: (12) , Wyposażenie laboratorium stanowią dwa mikroskopy: 1. Transmisyjny mikroskop elektronowy analityczny CM-20 f-my Philips (200kV) 9

2 Parametry techniczne mikroskopu PHILIPS CM20 TWIN w IMIM-PAN Kraków Napięcie przyspieszające 200 kv TEM rozdzielczość punktowa 0.27 nm TEM rozdzielczość liniowa 0.14 nm Minimalna średnica wiązki 2 nm Minimalne powiększenie Maksymalne powiększenie Maksymalne nachylenie preparatu 60 o Opis urządzenia: Transmisyjny mikroskop elektronowy PHILIPS CM20 (200kV) TWIN z przystawka do lokalnej analizy składu chemicznego EDAX typu PHOENIX jest urządzeniem przeznaczonym do obserwacji mikrostruktury, analizy fazowej oraz składu chemicznego w mikroobszarach materiałów metalicznych, półprzewodnikowych i ceramikach. Budowa transmisyjnego mikroskopu elektronowego jest analogiczna jak mikroskopu optycznego do analiz cienkich preparatów biologicznych. Lampę, stanowiącą źródło światła zastępuje w nim jednak działo elektronowe przyspieszające elektrony w polu 200 kv. Dlatego też, soczewki optyczne zastąpione są soczewkami magnetycznymi. Zmianie ulega też położenie preparatu. O ile w mikroskopie optycznym usytuowany jest on bezpośrednio przed soczewka obiektywową, to w transmisyjnym mikroskopie elektronowym zanurzony zostaje w polu magnetycznym soczewki obiektywowej. Pozostałe, soczewki maja swoje analogie w obu typach mikroskopu. źródło światła /działo elektronowe soczewki kondensorowe preparat soczewki obiektywowe soczewki projektorowe ekran Schematy optyczne mikroskopów: optycznego (LM) i elektronowego transmisyjnego (TEM) Dyfrakcja elektronów na sieci krystalicznej, będąca jednym z podstawowych czynników tworzenia kontrastu w transmisyjnych obrazach mikroskopowych umożliwia również uzyskanie informacji na temat 10

3 lokalnego składu fazowego dostarczając informacji na temat wymiarów komórki elementarnej oraz symetrii sieci krystalicznej w danym krystalicie. Zastąpienie wiązki optycznej elektronami, które mogą oddziaływać z atomami preparatu prowadząc do ich wzbudzenia i w efekcie emisji rentgenowskiego promieniowania charakterystycznego, pozwoliło na wykorzystanie tego efektu do określania lokalnego składu chemicznego analizowanych materiałów. 2. Transmisyjny mikroskop elektronowy Tecnai G2 F20 (200kV), wyposażony w: - działo z emisją polową FEG, - dwie kamery CCD - wysokorozdzielczą Gatan UltraScan i szeroko kątowa SIS Magaview III oraz detektor HAADF do techniki skaningowo- transmisyjnej STEM - spektrometr promieniowania rentgenowskiego do analizy składu chemicznego EDAX. Mikroskop jest przystosowany do przyszłego zastosowania spektrometrii EELS i GIF. Oprócz tego na wyposażeniu laboratorium jest system wycinania cienkich folii z wykorzystaniem jonów Ga + tzw. FIB typ Dual Beam firmy FEI z działem jonowym na bazie mikroskopu skaningowego. 11

4 Procedury objęte akredytacją: 1. Obserwacje mikrostruktury w jasnym i ciemnym polu przy użyciu transmisyjnej mikroskopii elektronowej (P/19/IB-05 wyd. 03 z dnia ) Celem badań jest określenie charakterystycznych cech takich jak gęstość dyslokacji, wielkość ziarn i podziarn, rozmieszczenie wydzieleń określenie ich kształtu i rozkładu wielkości. Obserwacje mikrostruktury w ciemnym polu pozwalają na określenie przynależności fazowej danego wydzielenia oraz na scharakteryzowanie domen uporządkowania. Kalibracje powiększeń prowadzone w odstępach półrocznych gwarantują dokładnością do 1%. 2. Dyfrakcja elektronowa (P/19/IB-06 wyd. 03 z dnia ) Celem badań jest identyfikacja faz w mikroobszarach poprzez rozwiązywanie dyfrakcji elektronowych uzyskanych w wiązce równoległej (Selected Area Diffraction). Równocześnie możliwe jest uzyskanie informacji o lokalnej orientacji mikroobszarów jak też zależności krystalograficznych występujących miedzy między fazami. Kalibracje stałej kamery prowadzone w odstępach półrocznych gwarantują dokładnością do 0,01nm przy wyznaczaniu odległości między płaszczyznowych i stałych komórki elementarnej. 3. Analiza składu chemicznego w mikroobszarach (P/19/IB-07 wyd. 03 z dnia ) Celem badań jest określenie lokalnego składu chemicznego z wysoką przestrzenną zdolnością rozdzielczą, tj. z cienkich (10 100nm) obszarów o średnicy od 100 do 10 nm. Analiza prowadzona jest z wykorzystaniem przystawki EDS firmy EDAX typu Phoenix z detektorem (Si; Li) z okienkiem typu UTW umożliwiającym analizę lekkich pierwiastków. Analiza ta jest prowadzona w trybie jakościowym dla pierwiastków o liczbie atomowej <5 i w trybie ilościowym dla wszystkich pozostałych. Kalibracje systemu EDS prowadzone w odstępach półrocznych gwarantują wykrywalność od 0,5 0,1 % oraz dokładność względną pomiarów na poziomie 5 2% w zależności od charakteru linii danego pierwiastka. Przygotowanie próbek do badań Próbki do badań powinny posiadać odpowiednią wielkość, tak aby można z nich było wyciąć dyski o średnicy 3 mm i grubości 0,1 mm. Każdy kto jest zainteresowany współpracą uprzejmie proszony jest o kontakt z Kierownikiem Laboratorium L-2: doc. dr hab. inż. Jerzy Morgiel, tel: (0-12) wew. 249, 12

5 Przykład wykorzystania możliwości mikroskopu transmisyjnego w badaniach nowej rodziny wysokowytrzymałych stopów AlCuMgAg Cu_Kα Al 89,6% Cu 5,4% Mg 3,7% Ag 1,2% µdp; [100]α [032]S 0,2 µm mapa rozkładu składu chemicznego z płytkowymi wydzieleniami fazy S i Ω wraz z zaznaczeniem miejsca w którym analizowano skład chemiczny, odpowiadająca jej mikrostruktura elektronowa na której zaznaczono miejsce z którego wykonano dyfrakcje elektronową 13

6 14

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik

Bardziej szczegółowo

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s) Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę

Bardziej szczegółowo

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku

Bardziej szczegółowo

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3)

LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3) LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik

Bardziej szczegółowo

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Metody i techniki badań II Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Dr inż. Agnieszka Kochmańska pok. 20 Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa agnieszka.kochmanska@zut.edu.pl

Bardziej szczegółowo

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, 2016 Spis treści Wykaz ważniejszych skrótów i oznaczeń 11 Przedmowa 17 Wstęp 19 Literatura 26 Rozdział I.

Bardziej szczegółowo

WSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM

WSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM WSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM DOSTĘPNYCH W LABORATORIUM WYDZIAŁU CHEMII UMCS DR INŻ. SEBASTIAN ARABASZ ul. Wantule 12, 02 828 Warszawa tel/fax: (22)

Bardziej szczegółowo

SYLABUS. Elektronowa mikroskopia w nauce o materiałach Nazwa jednostki prowadzącej Wydział matematyczno - Przyrodniczy

SYLABUS. Elektronowa mikroskopia w nauce o materiałach Nazwa jednostki prowadzącej Wydział matematyczno - Przyrodniczy SYLABUS Nazwa Elektronowa mikroskopia w nauce o materiałach Nazwa jednostki prowadzącej Wydział matematyczno - Przyrodniczy przedmiot Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii Kod Studia Kierunek studiów

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym

Bardziej szczegółowo

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 6 Elektronowy mikroskop transmisyjny w badaniach struktury metali metodą elektronograficzną Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zbadanie struktury

Bardziej szczegółowo

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Warszawa, dnia 17.11.2015r. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy przetargu nieograniczonego na: Dostawa stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych 1 Projekt MERFLENG... W 2012 roku

Bardziej szczegółowo

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena

Bardziej szczegółowo

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne Promieniowanie rentgenowskie Podstawowe pojęcia krystalograficzne Krystalografia - podstawowe pojęcia Komórka elementarna (zasadnicza): najmniejszy, charakterystyczny fragment sieci przestrzennej (lub

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów 1 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia są badania morfologiczne powierzchni materiałów oraz analiza chemiczna obszarów

Bardziej szczegółowo

MOŻLIWOŚCI BADAWCZE ULTRAWYSOKOROZDZIELCZEGO ELEKTRONOWEGO MIKROSKOPU TRANSMISYJNEGO TITAN

MOŻLIWOŚCI BADAWCZE ULTRAWYSOKOROZDZIELCZEGO ELEKTRONOWEGO MIKROSKOPU TRANSMISYJNEGO TITAN 18 Prace IMŻ 1 (2011) Sebastian ARABASZ, Jerzy WOJTAS, Piotr SKUPIEŃ, Jerzy WIEDERMANN Instytut Metalurgii Żelaza MOŻLIWOŚCI BADAWCZE ULTRAWYSOKOROZDZIELCZEGO ELEKTRONOWEGO MIKROSKOPU TRANSMISYJNEGO TITAN

Bardziej szczegółowo

BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO MIKROSKOPU ELEKTRONOWEGO (TEM)

BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO MIKROSKOPU ELEKTRONOWEGO (TEM) 81/21 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 2006, Rocznik 6, Nr 21(2/2) ARCHIVES OF FOUNDARY Year 2006, Volume 6, Nº 21 (2/2) PAN Katowice PL ISSN 1642-5308 BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE Nr 2/N. 9. Stopy aluminium z litem: budowa strukturalna, właściwości, zastosowania.

ĆWICZENIE Nr 2/N. 9. Stopy aluminium z litem: budowa strukturalna, właściwości, zastosowania. Akceptował: Kierownik Katedry prof. dr hab. inż. A. Weroński POLITECHNIKA LUBELSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY KATEDRA INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Laboratorium Materiały Metaliczne II ĆWICZENIE Nr 2/N Opracowali:

Bardziej szczegółowo

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ Ewa Teper PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ WIELKOŚĆ I RODZAJE PRÓBEK Maksymalne wymiary próbki, którą można umieścić na stoliku mikroskopu skaningowego są następujące: Próbka powinna się

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Wydział Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Akademia Górniczo-Hutnicza Kraków

Wydział Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Akademia Górniczo-Hutnicza Kraków 24/42 Solidification of Metais and Alloys, Year 2000, Volume 2, Book No 42 Krzepnięcie Meta li i Stopów, Rok 2000, Rocznik 2, Nr 42 PAN- Katowice, PL ISSN 0208-9386 WPŁ YW OBRÓBKI LASEROWEJ NA MIKROSTRUKTURĘ

Bardziej szczegółowo

Metoda DSH. Dyfraktometria rentgenowska. 2. Dyfraktometr rentgenowski: - budowa anie - zastosowanie

Metoda DSH. Dyfraktometria rentgenowska. 2. Dyfraktometr rentgenowski: - budowa anie - zastosowanie Metoda DSH. Dyfraktometria rentgenowska 1. Teoria Braggów-Wulfa 2. Dyfraktometr rentgenowski: - budowa - działanie anie - zastosowanie Promieniowanie elektromagnetyczne radiowe mikrofale IR UV/VIS X γ

Bardziej szczegółowo

Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej

Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej mgr Ewa Starnawska Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej SE morfologia BSE kompozycja i topografia BSEX - dyfrakcja EDX informacja o składzie chemicznym CL - katodoluminescencja Skaningowy mikroskop

Bardziej szczegółowo

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego 1. MAKROSTRUKTURA 2. MIKROSTRUKTURA 3. STRUKTURA KRYSTALICZNA Makrostruktura

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 950

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 950 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 950 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 3, Data wydania: 5 maja 2011 r. Nazwa i adres INSTYTUT PODSTAW

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13, Data wydania: 22 kwietnia 2015 r. Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody

Bardziej szczegółowo

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa ćw 5 Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa PRZEDMIOT: NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Opracowały: cz. teoretyczna: dr hab. Beata Grabowska

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest wykorzystanie promieniowania

Bardziej szczegółowo

Skaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl.

Skaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl. Zamówienie publiczne w trybie przetargu nieograniczonego nr ZP/PN/15/2014 Przedmiot postępowania: Dostawa skaningowego mikroskopu elektronowego ARKUSZ INFORMACJI TECHNICZNEJ Wszystkie parametry podane

Bardziej szczegółowo

Rentgenografia - teorie dyfrakcji

Rentgenografia - teorie dyfrakcji Rentgenografia - teorie dyfrakcji widmo promieniowania rentgenowskiego Widmo emisyjne promieniowania rentgenowskiego: -promieniowanie charakterystyczne -promieniowanie ciągłe (białe) Efekt naświetlenia

Bardziej szczegółowo

(metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych.

(metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych. PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 1 Metalografia - nauka o wewnętrznej budowie materiałów metalicznych (metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych. 2 1

Bardziej szczegółowo

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego.

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej w Ustroniu Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. Anna Legutko Promotor: prof. zw. dr hab.

Bardziej szczegółowo

NAFTA-GAZ sierpień 2010 ROK LXVI. Wstęp. Wykorzystane metody badawcze. Monika Materska, Michał Wojtasik

NAFTA-GAZ sierpień 2010 ROK LXVI. Wstęp. Wykorzystane metody badawcze. Monika Materska, Michał Wojtasik NAFTA-GAZ sierpień 2010 ROK LXVI Monika Materska, Michał Wojtasik Instytut Nafty i Gazu, Kraków Zastosowanie Transmisyjnej Mikroskopii Elektronowej oraz techniki Dynamicznego Rozpraszania Światła w badaniach

Bardziej szczegółowo

Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering

Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Kierunek: Inżynieria materiałowa Rodzaj przedmiotu: kierunkowy obowiązkowy Rodzaj

Bardziej szczegółowo

BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM. Klaudia Radomska

BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM. Klaudia Radomska WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera w Ustroniu Wydział InŜynierii Dentystycznej BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM Klaudia Radomska Praca dyplomowa napisana

Bardziej szczegółowo

Narzędzia do geometrycznej charakteryzacji granic ziaren. K. Głowioski

Narzędzia do geometrycznej charakteryzacji granic ziaren. K. Głowioski Narzędzia do geometrycznej charakteryzacji granic ziaren K. Głowioski Plan prezentacji Wprowadzenie do granic ziaren Cel badao Przykłady zastosowania rozwijanych metod i narzędzi: - Rozkłady granic i ich

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia optyczna i elektronowa Optical and electron microscopy

Mikroskopia optyczna i elektronowa Optical and electron microscopy Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014

Bardziej szczegółowo

Wydział Mechaniczny LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA

Wydział Mechaniczny LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA Wydział Mechaniczny Katedra Materiałoznawstwa, Wytrzymałości i Spawalnictwa LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA Wrocław, 30 listopada 2016 r. Pracownicy Laboratorium Materiałoznawstwa 13 osób Pracownicy naukowo-dydaktyczni

Bardziej szczegółowo

BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU

BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU W. OLSZEWSKI 1, K. SZYMAŃSKI 1, D. SATUŁA 1, M. BIERNACKA 1, E. K. TALIK 2 1 Wydział Fizyki, Uniwersytet w Białymstoku, Lipowa 41, 15-424 Białystok,

Bardziej szczegółowo

Obrazowanie rentgenowskie. tomografia, mikroskopia, kontrast fazowy

Obrazowanie rentgenowskie. tomografia, mikroskopia, kontrast fazowy Obrazowanie rentgenowskie tomografia, mikroskopia, kontrast fazowy Radiografia Timm Weitkamp XTOP2006 Detektor Prześwietlany obiekt Roentgen 1895 Wiązka rentgenowska Podstawowy mechanizm obrazowania kontrast

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 342 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 8, Data wydania: 17 września 2009 r. Nazwa i adres organizacji

Bardziej szczegółowo

Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów

Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów Rodzinie i Przyjaciołom 1 2 NR 159 Eugeniusz Łągiewka Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów Wydawnictwo Uniwersytetu

Bardziej szczegółowo

Eugeniusz Łągiewka. Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów

Eugeniusz Łągiewka. Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów Eugeniusz Łągiewka Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów KATOWICE 2015 Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów Rodzinie i Przyjaciołom 1 2 NR 159

Bardziej szczegółowo

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej Dorota Kunkel Implant wszystkie przyrządy medyczne wykonywane z jednego lub więcej biomateriałów, które mogą być umiejscowione wewnątrz organizmu, jak też częściowo lub całkowicie pod powierzchnią nabłonka

Bardziej szczegółowo

Tekstura krystalograficzna pomocna w interpretacji wyników badań materiałowych

Tekstura krystalograficzna pomocna w interpretacji wyników badań materiałowych Tekstura krystalograficzna pomocna w interpretacji wyników badań materiałowych Jan T. Bonarski Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej POLSKA AKADEMIA NAUK, Kraków www.imim.pl Ogniwo słoneczne wykonane

Bardziej szczegółowo

STRUKTURA CIENKICHWARSTW CdHgTe OTRZYMYWANYCH METODĄ LASEROWEJ ABLACJI 2. CHARAKTERYSTYKA METODY PLD OTRZYMYWANIA WARSTW

STRUKTURA CIENKICHWARSTW CdHgTe OTRZYMYWANYCH METODĄ LASEROWEJ ABLACJI 2. CHARAKTERYSTYKA METODY PLD OTRZYMYWANIA WARSTW 25/42 Solidification o f Metais and Alloys, Year 2000, Volume 2, Book No 42 Krzepnięcie Metali i Stopów, Rok 2000, Rocznik 2, Nr 42 PAN-Katowice, PL ISSN 0208-9386 STRUKTURA CIENKICHWARSTW CdHgTe OTRZYMYWANYCH

Bardziej szczegółowo

Przykłady pomiarów wielkości ogniska Lamp rentgenowskich

Przykłady pomiarów wielkości ogniska Lamp rentgenowskich Przykłady pomiarów wielkości ogniska Lamp rentgenowskich Dominik SENCZYK Politechnika Poznańska E-mail: dominik.senczyk@put.poznan.pl 1. Wprowadzenie Ze względu na duże znaczenie wielkości ogniska lampy

Bardziej szczegółowo

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały

Bardziej szczegółowo

Nowoczesne metody analizy pierwiastków

Nowoczesne metody analizy pierwiastków Nowoczesne metody analizy pierwiastków Techniki analityczne Chromatograficzne Spektroskopowe Chromatografia jonowa Emisyjne Absorpcyjne Fluoroscencyjne Spektroskopia mas FAES ICP-AES AAS EDAX ICP-MS Prezentowane

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1525

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1525 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 1525 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 5 Data wydania: 11 grudnia 2017 r. AB 1525 Kod identyfikacji

Bardziej szczegółowo

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI Tytuł: Makroskopowe i mikroskopowe badania metalograficzne materiałów konstrukcyjnych i ich połączeń spajanych Opracował: pod redakcją dr. hab. inż. Mirosława Łomozika Rok wydania: 2009 Wydawca: Instytut

Bardziej szczegółowo

Spektrometr ICP-AES 2000

Spektrometr ICP-AES 2000 Spektrometr ICP-AES 2000 ICP-2000 to spektrometr optyczny (ICP-OES) ze wzbudzeniem w indukcyjnie sprzężonej plazmie (ICP). Wykorztystuje zjawisko emisji atomowej (ICP-AES). Umożliwia wykrywanie ok. 70

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU

PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 1 PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 2 Metalografia - nauka o wewnętrznej budowie materiałów metalicznych (metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych. 3

Bardziej szczegółowo

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 14 Data wydania: 5 lutego 2016 r. AB 097 Kod identyfikacji

Bardziej szczegółowo

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy

Bardziej szczegółowo

Ciała stałe. Ciała krystaliczne. Ciała amorficzne. Bardzo często mamy do czynienia z ciałami polikrystalicznymi, rzadko monokryształami.

Ciała stałe. Ciała krystaliczne. Ciała amorficzne. Bardzo często mamy do czynienia z ciałami polikrystalicznymi, rzadko monokryształami. Ciała stałe Ciała krystaliczne Ciała amorficzne Bardzo często mamy do czynienia z ciałami polikrystalicznymi, rzadko monokryształami. r T = Kryształy rosną przez regularne powtarzanie się identycznych

Bardziej szczegółowo

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32 Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola

Bardziej szczegółowo

Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne

Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne POLITECHNIKA POZNAŃSKA INSTYTUT INŻYNIERII ŚRODOWISKA PROWADZĄCY: mgr inż. Łukasz Amanowicz Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne 3 TEMAT ĆWICZENIA: Badanie składu pyłu za pomocą mikroskopu

Bardziej szczegółowo

WYBRANE MASYWNE AMORFICZNE I NANOKRYSTALICZNE STOPY NA BAZIE ŻELAZA - WYTWARZANIE, WŁAŚCIWOŚCI I ZASTOSOWANIE

WYBRANE MASYWNE AMORFICZNE I NANOKRYSTALICZNE STOPY NA BAZIE ŻELAZA - WYTWARZANIE, WŁAŚCIWOŚCI I ZASTOSOWANIE WYBRANE MASYWNE AMORFICZNE I NANOKRYSTALICZNE STOPY NA BAZIE ŻELAZA - WYTWARZANIE, WŁAŚCIWOŚCI I ZASTOSOWANIE mgr inż. Marzena Tkaczyk Promotorzy: dr hab. inż. Jerzy Kaleta, prof. nadzw. PWr dr hab. Wanda

Bardziej szczegółowo

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały

Bardziej szczegółowo

Marcin Sikora. Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych

Marcin Sikora. Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych Prezentacja tematów na prace doktorskie, 28/5/2015 1 Marcin Sikora KFCS WFiIS & ACMiN Temat 1: Obserwacja procesów przemagnesowania w tlenkowych nanostrukturach spintronicznych przy użyciu metod synchrotronowych

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 274

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 274 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 274 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 13 Data wydania: 25 sierpnia 2016 r. Nazwa i adres INSTYTUT

Bardziej szczegółowo

MODYFIKACJA SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA

MODYFIKACJA SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA Znak postępowania: CEZAMAT/ZP01/2013 Warszawa, dnia 10.07.2013 r. L. dz. CEZ-170-13 MODYFIKACJA SPECYFIKACJI ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA Dotyczy postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego

Bardziej szczegółowo

Załącznik Nr 1 do SIWZ MIKROSKOPY. opis i rozmieszczenie

Załącznik Nr 1 do SIWZ MIKROSKOPY. opis i rozmieszczenie Załącznik Nr 1 do SIWZ MIKROSKOPY opis i rozmieszczenie ZADANIE 1: Mikroskopy optyczne stanowiące wyposaŝenie laboratorium histopatologicznego Pomieszczenie ( 2.22 ) - Kierownik Zakładu Mikroskop konsultacyjny

Bardziej szczegółowo

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych 1. Struktura próbki a metoda badań strukturalnych 2. Podział

Bardziej szczegółowo

Jakość wody jakość życia

Jakość wody jakość życia Jakość wody jakość życia Dorota Kołodyńska Wydział Chemii UMCS UMCS dla Samorządu, Lublin 12.03.2015 r Ochrona środowiska a jakość wód W ochronie środowiska można wyróżnić trzy kierunki: ochronę i racjonalne

Bardziej szczegółowo

MIĘDZYUCZELNIANE CENTRUM. Projekt realizowany przez Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu

MIĘDZYUCZELNIANE CENTRUM. Projekt realizowany przez Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu MIĘDZYUCZELNIANE CENTRUM NANOBIOMEDYCZNE Projekt realizowany przez Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu Międzyuczelniane Centrum NanoBioMedyczne to projekt kluczowy w ramach Działania 13.1 Infrastruktura

Bardziej szczegółowo

Monochromatyzacja promieniowania molibdenowej lampy rentgenowskiej

Monochromatyzacja promieniowania molibdenowej lampy rentgenowskiej Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakładu Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40 006 Katowice tel. (032)359 1503, e-mail: izajen@wp.pl, opracowanie: dr Izabela Jendrzejewska Laboratorium z Krystalografii

Bardziej szczegółowo

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Rentgenowska fazowa analiza ilościowa Parametry komórki elementarnej Wielkości krystalitów Budowa mikroskopu

Bardziej szczegółowo

labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów

labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów Tel.: (17) 854 47 91 Fax: (17) 854 48 32 E-mail: jansien@prz.edu.pl Projekt

Bardziej szczegółowo

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Paweł Szroeder Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Wykład XI Badania powierzchni ciała stałego: elektronowy mikroskop skaningowy (SEM), skaningowy mikroskop tunelowy

Bardziej szczegółowo

Struktura, właściwości i metody badań materiałów otrzymanych elektrolitycznie

Struktura, właściwości i metody badań materiałów otrzymanych elektrolitycznie Struktura, właściwości i metody badań materiałów otrzymanych elektrolitycznie Pamięci naszych Rodziców Autorzy NR 117 Eugeniusz Łągiewka, Antoni Budniok Struktura, właściwości i metody badań materiałów

Bardziej szczegółowo

Materiały do regeneracji układu krążenia

Materiały do regeneracji układu krążenia Materiały do regeneracji układu krążenia dr hab inż. Roman Major r.major@imim.pl Roman Major 1, Roman Kustosz 2, Juergen M. Lackner 3, Marek Sanak 4, Boguslaw Major 1. 1.) Instytut Metalurgii i Inżynierii

Bardziej szczegółowo

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Paweł Szroeder Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Wykład X Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM) Dyfrakcja elektronowa (ED) Zalety mikroskopii elektronowej

Bardziej szczegółowo

METODYKA WYBRANYCH POMIARÓW. w inżynierii rolniczej i agrofizyce. pod redakcją AGNIESZKI KALETY

METODYKA WYBRANYCH POMIARÓW. w inżynierii rolniczej i agrofizyce. pod redakcją AGNIESZKI KALETY METODYKA WYBRANYCH POMIARÓW w inżynierii rolniczej i agrofizyce pod redakcją AGNIESZKI KALETY Wydawnictwo SGGW Warszawa 2013 SPIS TREŚCI Przedmowa... 7 Wykaz ważniejszych oznaczeń... 11 1. Techniki pomiarowe

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY METODY SPEKTROSKOPI W PODCZERWIENI ABSORPCJA, EMISJA

PODSTAWY METODY SPEKTROSKOPI W PODCZERWIENI ABSORPCJA, EMISJA PODSTAWY METODY SPEKTROSKOPI W PODCZERWIENI ABSORPCJA, EMISJA Materia może oddziaływać z promieniowaniem poprzez absorpcję i emisję. Procesy te polegają na pochłonięciu lub wyemitowaniu fotonu przez cząstkę

Bardziej szczegółowo

Absorpcja promieni rentgenowskich 2 godz.

Absorpcja promieni rentgenowskich 2 godz. Uniwersytet Śląski - Instytut Chemii Zakład Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40-006 Katowice tel. (032)3591627, e-mail: joanna_palion@poczta.fm opracowanie: mgr Joanna Palion-Gazda Laboratorium

Bardziej szczegółowo

Opis efektów kształcenia dla modułu zajęć

Opis efektów kształcenia dla modułu zajęć Nazwa modułu: Fizyka metali Rok akademicki: 2013/2014 Kod: OM-2-101-OA-s Punkty ECTS: 3 Wydział: Odlewnictwa Kierunek: Metalurgia Specjalność: Odlewnictwo artystyczne i precyzyjne Poziom studiów: Studia

Bardziej szczegółowo

SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer

SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer EDX 3600B SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer Przeznaczony do analizy pierwiastkowej: - w produkcji cementu,

Bardziej szczegółowo

Aparatura w absorpcyjnej spektrometrii atomowej

Aparatura w absorpcyjnej spektrometrii atomowej Lidia Kozak, Przemysław Niedzielski Lidia Kozak, Przemysław Niedzielski Spektrometry absorpcji atomowej zbudowane są z następujących podstawowych części: źródła promieniowania, atomizera, monochromatora,

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Bardziej szczegółowo

Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium. Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu. NANO jako droga do innowacji

Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium. Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu. NANO jako droga do innowacji Forum BIZNES- NAUKA Obserwatorium Kliknij, aby edytować styl wzorca podtytułu NANO jako droga do innowacji Uniwersytet Śląski w Katowicach Oferta dla partnerów biznesowych Potencjał badawczy Założony w

Bardziej szczegółowo

Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych

Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych Pracownia Molekularne Ciało Stałe Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych Brygida Mielewska, Tomasz Neumann Zagadnienia do przygotowania: 1. Budowa mikroskopu elektronowego 2. Wytwarzanie wiązki

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie stopnia krystaliczności wybranych próbek polimerów wykorzystanie programu WAXSFIT

Wyznaczanie stopnia krystaliczności wybranych próbek polimerów wykorzystanie programu WAXSFIT 1 ĆWICZENIE 3 Wyznaczanie stopnia krystaliczności wybranych próbek polimerów wykorzystanie programu WAXSFIT Do wyznaczenia stopnia krystaliczności wybranych próbek polimerów wykorzystany zostanie program

Bardziej szczegółowo

Mikroskopy uniwersalne

Mikroskopy uniwersalne Mikroskopy uniwersalne Źródło światła Kolektor Kondensor Stolik mikroskopowy Obiektyw Okular Inne Przesłony Pryzmaty Płytki półprzepuszczalne Zwierciadła Nasadki okularowe Zasada działania mikroskopu z

Bardziej szczegółowo

dr hab. inż. Alicja Bachmatiuk WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+

dr hab. inż. Alicja Bachmatiuk WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+ dr hab. inż. Alicja Bachmatiuk WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+ CHARAKTERYSTYKA FIZYKOCHEMICZNA NANOMATERIAŁÓW WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+ Plan prezentacji WSTĘP Charakterystyka, nanomateriały TECHNIKI

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE Nr 5/N. Laboratorium Materiały Metaliczne II. niskotopliwych. Akceptował: Kierownik Katedry prof. dr hab. inż. A.

ĆWICZENIE Nr 5/N. Laboratorium Materiały Metaliczne II. niskotopliwych. Akceptował: Kierownik Katedry prof. dr hab. inż. A. POLITECHNIKA LUBELSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY KATEDRA INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Akceptował: Kierownik Katedry prof. dr hab. inż. A. Weroński Laboratorium Materiały Metaliczne II ĆWICZENIE Nr 5/N Opracowała:

Bardziej szczegółowo

Struktura i własności stopów Mg-Al-Zn. ĆWICZENIA LABORATORYJNE DOTYCZĄCE STOPÓW Mg-Al-Zn. Ćwiczenia laboratoryjne dotyczące stopów Mg-Al-Zn

Struktura i własności stopów Mg-Al-Zn. ĆWICZENIA LABORATORYJNE DOTYCZĄCE STOPÓW Mg-Al-Zn. Ćwiczenia laboratoryjne dotyczące stopów Mg-Al-Zn Struktura i własności stopów Mg-Al-Zn ĆWICZENIA LABORATORYJNE DOTYCZĄCE STOPÓW Mg-Al-Zn Ćwiczenia laboratoryjne dotyczące stopów Mg-Al-Zn 265 Open Access Library Volume 5 (11) 2012 264 L.A. Dobrzański,

Bardziej szczegółowo

SYLABUS. Techniki mikroskopowe. Wydział Biologiczno-Rolniczy. Katedra Biochemii i Biologii Komórki. dr Renata Zadrąg-Tęcza

SYLABUS. Techniki mikroskopowe. Wydział Biologiczno-Rolniczy. Katedra Biochemii i Biologii Komórki. dr Renata Zadrąg-Tęcza SYLABUS 1.1. PODSTAWOWE INFORMACJE O PRZEDMIOCIE/MODULE Nazwa przedmiotu/ modułu Kod przedmiotu/ modułu* Wydział (nazwa jednostki prowadzącej kierunek) Nazwa jednostki realizującej przedmiot Kierunek studiów

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 2 : Badanie licznika proporcjonalnego fotonów X

Ćwiczenie nr 2 : Badanie licznika proporcjonalnego fotonów X Ćwiczenie nr 2 : Badanie licznika proporcjonalnego fotonów X Oskar Gawlik, Jacek Grela 16 lutego 2009 1 Podstawy teoretyczne 1.1 Liczniki proporcjonalne Wydajność detekcji promieniowania elektromagnetycznego

Bardziej szczegółowo

Tytuł pracy w języku angielskim: Microstructural characterization of Ag/X/Ag (X = Sn, In) joints obtained as the effect of diffusion soledering.

Tytuł pracy w języku angielskim: Microstructural characterization of Ag/X/Ag (X = Sn, In) joints obtained as the effect of diffusion soledering. Dr inż. Przemysław Skrzyniarz Kierownik pracy: Prof. dr hab. inż. Paweł Zięba Tytuł pracy w języku polskim: Charakterystyka mikrostruktury spoin Ag/X/Ag (X = Sn, In) uzyskanych w wyniku niskotemperaturowego

Bardziej szczegółowo

Kierunek i poziom studiów: Chemia budowlana, II stopień Sylabus modułu: Chemia ciała stałego 0310-CH-S2-B-065

Kierunek i poziom studiów: Chemia budowlana, II stopień Sylabus modułu: Chemia ciała stałego 0310-CH-S2-B-065 Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Kierunek i poziom studiów: Chemia budowlana, II stopień Sylabus modułu: Chemia ciała stałego 065 1. Informacje ogólne koordynator modułu rok akademicki 2014/2015

Bardziej szczegółowo

Przygotowanie preparatów dla celów prześwietleniowej mikroskopii elektronowej z warstw heteroepitaksjalnych GaAsi xpx/gaas i z monoki^ształów InP

Przygotowanie preparatów dla celów prześwietleniowej mikroskopii elektronowej z warstw heteroepitaksjalnych GaAsi xpx/gaas i z monoki^ształów InP Wojciech DRABIK MIECZYSŁAWA GANCZAREK Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych, Warszawa Przygotowanie preparatów dla celów prześwietleniowej mikroskopii elektronowej z warstw heteroepitaksjalnych

Bardziej szczegółowo