N O R M A BRANŻOWA. Elementy półprzewodnikowe PóŁPRZEWOD- NIKOWE Diody przełączające Zamiast BN-75/

Transkrypt

1 UKD N O R M A BRANŻOWA BN-81 ELEMENTY Elementy półprzewodnikowe PóŁPRZEWOD- NKOWE Diody przełączające Zamiast BN-75/ Ogólne wymagania i Grupa katalogowa 1923 l. WSTĘP 1.1. Przedmiot nonny. Przedmiotem normy są ogólne wymagania i dotyczące diod przełączających. przeznaczonych do pracy w elektronicznych urządzeniach powszechnego użytku. profesjonalnych i urządzeniach wymagających zastosowania elementów o wysokiej i bardzo wysokiej jakości Określenia - PN-78/T i Ol Oznaczenia literowe tu"," - otoczenia w czasie pracy t'/~ - przechowywania Pozostałe oznaczenia literowe - PN-76/T -O i O. 2. PODZAL OZNACZENE 2.1. Podział - BN-70/337S Budowa oznaczenia - PN-78/T p oznaczenia arkusza szczegółowego. Przykład 3. WYMAGANA 3.1. Wymiary - arkusza szczegółowego Wykonanie - PN-78/T p. 3.2 arkusza szczegółowego Cechowanie - PN-78/T p. 3.3 oraz arkusza szczegółowego Parametry elektryczne.- PN-78/T -() 1515 p. 3.4 oraz arkusza szczegółowego. 3;5. Wymagania klimatyczne - PN-78/T -o 1515 p Wymagania mechlhliczne - PN-78/T p Wymagania niezawodnościowe - PN~7U T-O515 p Wymagania dodatkowe - PN 7UT-O i 515 p PAKOWANE, PRZECHOWYWANE TRANSPORT 4.1. Pakowanie - PN-78/T -() ł 515 p Przechowywanie -- PN-78/T-O515 p Transport - PN-ilS/T p BADANA 5.1. Program i rodzaje badań Badania grupy A - - PN-n/T-O 1515 p. S. L oraz tab Badania grupy B - PN-78/T-O5S p oraz tabl Badania grupy C - PN 7~/T-O 1515 p. 5. ł. 3 oraz tab Badania grupy D - PN-7tVT-O." 15 p oraz tabl Pobieranie próbek - PN-7X/T-O 151 S p Opis badań - PN-78fT-O 1 S 15 P S. ł (mil ark usza szczegółowego Ocena wyników hadań -. PN-7X/T-O 1515 p. SA Dostawa elementów po laadaniacłt -- PN-7U 1' p POSTĘPOWANE W PRZYPADKU NEGATYWNEGO WYNKU BADAŃ Badania grupy A - PN-7S1T-O i 515 Badania grupy B - PN -7UT-O ł 5 15 Badania grupy C _. W!! PN-78/T-O! 515 ~ Badania grupy D -. PN-7UT-O515 p. 6.!. p p. 1'.3. p Zgłoszonł przez Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Ustanowiona przez Naczelnego Dyrektora Zjednoczenia Przemysłu Podzespołów i Materiałów Elektronicznych UNTRA-ELEKTRON dnia 25 marca 1981 r. jako norma obowiązująca od dnia 1 października 1981 r. (Dz. Norm. i Miar nr 11 / 1981 poz. 55) WYOAWN/CTWA NORMALZACYJNE Druk. Wyd. Norm. W-wa. Ark wyd Nakł Zam. 1362/ 151 J

2 2 BN-81/ Tablica R1ldzaj Me'toda PN-7'U T..{)1515 jukości Plany warunki badali ja kości jakości jakości V Dane arkusza szczegółowego Podgrupa Al Spra wd ze nic wymiarów (głównych) wykonania obudowy prawidłowości cechowa ; 1.5 ł; 1.5 ; 1.5 ; 1.0 sprawdzane parametry geometryczne nia Podgrupa A2 podstawowych elektrycznych: U/. R ; 1.0 T-O ; 1.0 T-O ; 0,65 T..{) ; 0.4 T-Ol wa rtości grumczne sprawdzanych elek trycznych warunki ich pomiaru oraz w zależności 0d rodzaju diody co najmniej jeden z niżej podanych para me,trów: Q., jeże li w normlc szczegółowej me poda no llaczej Poclrupa A3 Sprl'wdzenic drugorzędnych elektrycznych: CR ; 25 T-O 1504.()O ł; 1.5 ; 1,5 T-Ol T..{) ; 1.0 T-0150~.,. 00 wartości gramczne sprawdzanych ~ elektrycznych' warunki ich pomiaru PodKrupa A4 półfmelrów elektrycznych w lemperalurółch innych nil: normalna tempentlura otoczenia: lit T-O ; 15 T-Ol otoczenia. wa rtości gra lcznc sp ra w dzanych elektrycznych warunki ich pommru Znak - Ol.na(zu. że n 1\,' prz\. pruwauzł.1 SU;. Nic wypt.:lni ona kolul11 nu.. warunki baduniu" oznacza normulne warunki illmosl'cryl'zlll'.

3 BN-8l/ oo 3 Tablica 2 ba da nia Plany warunki b a da ń Metod a bad a nia ja k ośc i H jakośc i V Dane arkusza sz(;zeg( ~) ł l)wcgo PN-781 Wa runki ko ntro li T -01 5l5 AQ L , Podgrupa 81 S-3:.5 S-3: 1.0 Sprawd zenie w y t rzy m a / ośd rodzaj i Sczególowe waru l1 k i bamechanicznej wyprow a d ze ń dania. warlo~ci o bci ążl'l; Spra wd ze nie s zczel n o ści rodzaj. dopuszo,ln)' pozio m nies z c.:ze l ności lu b lak resy W4J rto~l' i i wa run k i poflllaru sprcjwd zanych. po badaniu pa ra metró w elektrycznych Podgrupa 82 S-4: 1,5 S-4: 1,0 Spra wdze nie lutown ości wy a ) te mpera tura tempera tura - prowadze ń lutowia l:t t.wiu 235 C 2J5 C Podgrupa 83 S-3;.S S-3: 1,0 Sprawd ze nie wytrzym a l ości na mm 500 mm Poło żen i e elemenlów \.\1 l'z asle spadki swobodne spadania: zakresy wa rlości w:-t - runk i pomiaru s pra \\<'(1 1.<1 11 yc h po badaniu para metrów c1 cklryn - nych Podgrupa 84 - S-4: 1,0 Sprawdze nie w y trzym a / ośc i na mi S2 spo só b mo!.:ow(j 11 korpusu lub udary wie lo kro t ne J()()OX 3 wyprowadzell elementu: za kres y wartośc.:i i warunki po11 <J ru ~pra - wd wl1ych po badaniu par:ljlll"lrów cle ktl)tw ych Podgrupa 85 S-3; 1.5 S-3: 1,0 Spra wdze nie wytrzym a / o~ki T., = l T., = l zakres\' wartości, wa runki 1)(\- na nagle zmiany te mpera t u ry T. = l T. = l m wru sprawdzunych po badaniu pam metrów dcklryu.nyc'h Podgrupa 86 S-4: 1,0 S-4; 0,65 Sprawdze ni e odpo rn ości na C ' ): 25 C '); mcloda. warunk i nbciijnaraże n i a d ektryczne 100 h 100 h ż ~nia, zakresy v,: a rt ości Wij rllnki.. poma ru sprawdzanych \V Cl.ilSC po badaniu phrametn')w l' lck- ryczl1ych Znak - oznac1u. że bada nia me przeprowadza.n;. Nic wy pe ł n io n a kotumna.. wa runki ba dani,," oznac.:7..a ilorm.. ln" wa ru"k i llllll\ )~, ' : r~ ' L. n ('. ') J <żd i innyc h tem peratur nic podaje arkusz szczegółow y. ~ badani a Tablica 3 Pla n y warunki badalt j akośc i ja k ośc i Pozio m j a ko ś ci 111 jakowi V Danc \\ig ;! fk u ~. H Pozio m Po ziom P oż i o m szczeg,ółowl'go PN-781 Wa runki Wa runki Wa runki. kontro li T.{) bad a nia bad ania AQL " AQL S 9 10 POtrupa C S-3; 2,5 S-3; 2, Spra wd ze nie wy trzy rodzaj. szczegó", owe małośc i mec.:hanicz- wa runk i b"d" ni~. nej wyprowadzcll, W ł:łrto~t:i ob c ilłżcń Spra wdze nie szczcl rodzaj bada nia, dun ości puszczaln y p0710m nicsn' ze l ll()ści lub zakresy Wi:1 rtośc i warunki pollua ru sp ra wd za n yc h po - ba daniu para me - trów elek t rycznych

4 4 BN-X 1/~~ cd. tabl.. Rodwj M... toda hadani~ wl PN-7X1 T-OS5 jakośc i kon troli Plany warunki badali jakości jakości jakości V hadania D'lle arkusza szczcgółowego clcktryqnych Podgl1lpa C2 Sprawdzcnie puamctrów Sprawdzrnie odporno ś ci na suche gon-jeo Spra wd ze nie od pomości na zimno J.11 5.H "m/o "'1/\ fumlt 11/111 lu",,, łłł'-' luml' "ll \ ' 11111/ S-3: 2.5,"",/, mfl'" 1<111/1, 11111/ S-3: 1,5 11/1,,10 11/11\ > / zakresy wartości warunki pomwru sprawdzanych w czasie hadania po badaniu elektrycznych cechowania Podgrupa C3 Spra wd ze nie masy trwałości Uownośt:1 wypro wad zeó a) S-3: 1,5 t~mperatura lutowia 235 (' S-3:,S lutowia 235 (' masa wyrobu Podgrupa C4 Spra wdzenic wytrzymałości na przyspieszenie stale Spra wd ze nic wytl7ymalości na udary (pojedyncze lub wic lokrotne) SprawdzeniL' wytrzy mało ści na wihracje stak ub zmienne) 3.3.2U luh luh 5.J.11! S-3: g0oo' ) m / s 1 : mll m/s 1 3X6 9S m/s 1 go Hz: 3 h S-3: 1,5 9iHlOO' ) m/s': mm m/s 1 3x6 911 m/s' 80 Hl.: 3 h ' ) m/s': mll m/ s' : 3X4000 9K m/s' H: 6 h S-l' ' ) m/sl: mll m/s' : JX m/s' () Hz: 6 h kierunki probiercze. sposób mocowanu korpusu lub wyprowadzeń. zakresy wartości warunki pomiaru sprawdzanych po badaniu ekktrycznych Podgrupa e5 wytrz y malo ści na cieplo lutowania. wyt rzymałości n ~ nag tempera e zmlall~ tury wytrzymalości na wil 5.3.5b) J.1J t~mp cralura kąpieli ( lub ( czas n: gcneral'ji 276 h 1'..,= = / "j: fll/ T!F =( 1'/oC ilu/ 4 doby temperatum k<!pieli 35Uo(' lub 26()0(,zas regeneracj 2 +6 h T.,= =1 " X T,,= =.\/x /1/<1\ 10 dób k.!pidi 35()0(' lub 2600C czus rcgcneracj 276 h T,= =/".1: 1/1/11 21 dób k4pidi 35()0(' lub 26()0(' '-.:zas rcgcncrac.j 276 h T.,= = '.\ /.1: 11/1/1 T,,= =.\,!. /lw 56 dób za kresy wi\rtoś,i warunki pomiaru sprawdzanych po badaniu elcktrycznych g<> t 11l' gor,!co stałe Podlrupa C6 odpur- 1l0~C clcktrycll1c na na ra:.h:n ia S-l' 2,5 25 C' ) 1000 h S-3: C') 1000 h 25 (" ) OO() h S-J: (,' ) 25(KJ h metoda, wa ru nk i obci<!żen ia. zakresy wartości warunki pomiaru sp ra wd ych w czasie po badaniu paran1l'trów elektrycznych

5 BN-8 1/ cd. tabl. 3 Pla ny warunki bada ń ba dania ja k ości ja k ośc i ja k ości ja k ośc i V Dane ark llsza POliom sz cze gó ł owego PN-78/ Wa runki ko nt roli T-O 5 15 bada ni a bada ni a bada ni a AQ L AQ L i AQL li 9 10 Podgrupa C S-3: 1.0 wy zakresy wartości trzym a l ośc i na zim- t.hr mll/. warunk i pol1l1a ru no 1000 h sprawdzanych po. / bada niu pa rametró w ciek trycznych Podgrupa CS - - S-3: 1,5 S-3: 1,0 S-3: 1,0 Sprawd ze nie wy \l~ /lx. t SR lil,,", 1."11' mu.\', zakresy wartości trzymalości na su h 1000 h 1500 h warunki ptjnlla ru che g orąc o sprawdzanych po badaniu parametró w elektrycznych Podgrupa C p oł o że n ie elementu wy mm w czase spadania. trzym a l ośc i na spad- za kresy wartośc i ki swobodne wa runki pomla ru sprawd za nych po bada niu para metrów ciek trycznych Podgrupa CO S-3; 2.5 S-3: 2.5 S-3; 1.0 sprawdzane para- wymia metry gcomet ryczne rów --- Znak - oznacza. że noe przeprowadza si ~. Nie wypełniona kolumna "warunki " oznacza normalne wa runk i atm osferyczne. ') Je że li innych wart ośc i p rzys p i eszeń mc podaje arkusz szcze gó ł owy. 2) Je że li innych temperat ur nie podaje arkusz szcze gółow y. Tablica 4 Pl a ny warunki bada ń bada ni a ja k ości Po ziom jakośc i j a k ości P07jom ja kości V Da ne arkusza bada nia sznególowcgo, PN-78/ Wa runki Wa runki Wa runki T-O51 5 bad ani a bada nia li Podgrupa Dl - - S-J; 1.5 Spra wd ze nie od hpa 10 hpa te mpera tura narai.unia. porności na ni s- zakresy wartości wakie c iśni e nie runki pomiaru sprawatmosferyczne dza nych w czasie l po ba da niu elektryczn yc h.. Podgrupa D21) S-3 : 2.5 S-3 : 2.5 S-3: 2.5 S-3: 2.5 Sprawd7.c nie wytrzymalo ś ci na rozpuszczalniki rodzaj rozpuszcza lni ka Podgrupa D3 1 ) S-3; 2,5 S-3: 2.5 S-3 : 2.5 S-3: 2.5 Sprawdze nie rodzllj pa ln ośc i Podgrupa D4 2 ) - - S-3; 2.5 S-3: 1,5 wy sto pi eń dopuszczalnego trz y m a lo śc i na wzrostu grzy bów p l eśple ś ń niowych. wymagania ' do tyczą ce u szkodzeń powienchniowych

6 < ", BN-X 1/3375~29.()() ~d. tabl. 4 Plany warunki badań ja~ośó jak ości jakoś~i jakości V Dane arkusza szczegółowego PN-7X1 konlroli T bada nia 2 J X 9 10 Podgrupa OS') - - S-J: 2.5 S-J: 1.5 wy d oby 2 doby położenie elementu w trzymalości na CZll S C mgłę solną Znak - ozna<.:za, że b;ldania lh,' przt: pr<)\\,'udza S,'. Nic wypełni o na kolumml.. warunki bildania" (l/nal'z" norma n\.' wa runl.: i li lmt lsfcryt:zll'. ') Badania!'lo~u.ic S,' dla wyrobów w (loudowach plastykowych.,) Badani\.' slosujc su; prl)' li.lmówi\.'niu wyrobów w wykonaniu tropikalnym luh dla klimatu ll11l"skicgl l. KONEC NFORMACJE DODATKOWE 1. nstytucja opracowująca normę - Naukown-Produk~yjne Centrum Półprzewodników. 2. stotne zmiany N stosunku do BN-75/] a) zmieniono poslanowil"nia normy na zgndnoś<' z PN-7~/ T b) wprowadzono now:) rozszl'fzon:) klasyfikacje; jakoś~iow,) wyrobów dzielącą je na otery poziomy jakościowe. c) zmieniono podział na podgrupy badań w celu uwzgl<;dnil' nia postanowień normy. RWPG ST SEV Normy związane PN-7K1T Ekmenly półpr zcwo dnikowe. Poje;cia podstawo we. Nazwy i okrcśleni" PN-78/T Elementy półprzewodnikowe. Diody. Nazwy i określenia PN-76/ T Elementy półprzewodnikowe i mikroukłady scalone. OznaQcnia literowe podstawowych widkości elektrycznych i. Postanowienia ogólne PN-76/T-O Elementy półprzcwodnikowe. Oznaczenia literowe diod PN-74/ T Elementy półprzewodnikowe. Metody pomiaru paramctró~ tranzystorów i diod. Postanowienia ogólne PN-7UT-O515 Elemcnty półprzewodnikowe. Ogólne wymagania i BN-70/.U75-11 Elementy półpr7ewodnikowe. Diody. Podział 4. Symbol SWW S. Dostawy diod o wysokiej i bardzo wysokiej jakości mogą być realizowane po uzgodnieniu producenlem wielkości do ~ ww i uzg.odnieniu ceny.