N O R M A B R A N Ż O W.A. . Elementy optoelektroniczne /01

Transkrypt

1 UKD N O R M A B R A N Ż O WA BNB6 ELEMENTY Elementy optoelektroniczne /01 PÓŁPRZEWODN KOWE Diody elektroluminescencyjne Zamiast BN78/ Wymagania i badania Grupa katalogowa 1923 l WSTĘP 11 Przedmiot no:rrmy Przedmiotem normy są wymagania i badania dotyczące diod elektroluminescencyjnych 37 Wymagania niezawodnościowe PN7&'T01515 p Wymagania dodatkowe PN78/T p 38 przeznaczonych do stosowania w elektronicznych urządze~ niach powszechnego użytku profesjonalnych i w urządzeniach gdzie wymaga się zastosowania elementów o wysokiej i bardzo wysokiej jakośc i \ 12 Przedmiot arkusza normy Przedmiotem niniejszego arkusza normy są wymagania i badania wspólne całej grupy (~iod elektroluminescencyjnych dla 4 PAKOWANE PRZECHOWYWANE TRANSPORT 41 Pakowanie w~ PN78/T01515 p Przechowywanie PN78/T01515 p Transport PN78/T01515 p Określenia PN84/T01500/04 i T PN78/ 5 BADANA 5 l Program i rodzaje badań 2 PODZAŁ OZNACZENE 21 Podział ze względu na poziom jakości PN78/ T01S15 p Oznaczenie PN78/T01515 p 22 Przykład oznaczenia arkusza szczegółowego 3 WYMAGANA 31 Wymiary arkusza szczegółowego 32 Wykonanie PN 78/T01515 p 32 l arkusza szczegółowego 33 Cechowanie PN78/T01515 p 33 i arkusza szczegółowego 34 Parametry elektryczne PN78/T01515 p34 i arkusza szczegółowego 35 Wymagania klimatyczne PN78/T01515 p;35 36 Wymagania_mechaniczne PN78/T01S15 p Badania grupy A PN78/T01515 p5:ll i tabl Badania grupy B PN78/TO515 p 512 i tab! Badania grupyc E'Ni8/T01S15 p 513 i tab Badania grupy D PN78/TO515 p 514 i tabl 4 52 Pobieranie próbek PN 78/T p Opis badań PNc 78/T p 53 l d'kusza szczegółowego 54 Parametry kontrolowane w badania(:~ grupy B C i D tabl 5 55 Ocena wyników badań PN78/T01S1S p Dostawa elementów po badaniach TOlS5p5S PN78/ Zgłoszona przez nstytut Technologii Elektronowej Ustanowiona przez Dyrektora Nauk9woProdukcyjnego Centrum Półprzewodników dnia 15 lipca 1986 r jako norma obowiązująca od dnia 1 stycznia 1987 r (Dz Norm i Miar nr 13/1986 poz 25) WYDAWNCTWA NORMALZACYJNE ALFA" 1986 Druk Wyd Norm Wwa Ark wyd 160 Nakl Zam 2892/86 Cena zl 4500

2 T ablica l Badania grupy A N Rodzaj badania Metoda badania PN78/ T Poziom jakości l Poziom Warunki badania kontroli Poziom jakości Poziom jakości Poziom Warunki badania Poziom Warunki badania kontroli kontroli Poziom jakości V Poziom Warunki badania kontroli Dane arkusza szczegółowego l Al ; ; 25 ; ; Sprawdzenie 532 wymiarów (głównych) Sprawdzenie 533 wykonania obudowy sprawdzane parametry geometryczne Sprawdzenie 5362 prawidłowości cechowania A2 ; 15 Sprawdzenie 537 PN83/T 01504/00 pod sta wowyc h elektrycznych v ecpe)1) ; 10 ; 065 PN83/T01504/00 PN 83/T 01504/00 ; 04 PN83/T 01504/00 parametry kon trolowane ich wartości graniczne iwarunki pomiaru tj: Z o:; 0'1 en en J O UF R \ A3 Sprawdzenie 537 drugorzędnych elektrycznych A4 Sprawdzenie pa 537 rametrów elektrycznych w in llych temperaturach niżnornra~1 na temperałuraoto\;zenia nie stosuje się l; 25 l; 15 temperatura parametry kon trolowane wartości graniczne i warunki pomiaru v e(pe) 1) 1 Zamiast e dopuszcza się podawanie P e

3 Tablica 2 Badania grupy B Rodzaj badania Metoda badania Poziom jakości l! Poziom jakości V PN78/ Poziom poziom T01515 kontroli Warunki badania kontroli Warunki badania Dane arkusza szczegó łowego l B1 S 4; ; 10 rodzaj i szczegółowe warunki badania wartości obciążeń Sprawdzenie wytrzymałości me chanicznej wyprowadzeń Sprawdzenie szczelności metoda QL PN 75 metoda QL PN75/ E04550/ 15 czynnik E04550/15 czynnik probierczy alkohol probierczy alkohol etylowy etylowy B2 54; ; 10 Sprawdzenie lutowności wyprowa 5 35a) temperatura kąpieli dzeń B3 5 4; ; 10 Sprawdzenie wytrzymałości na H= 500 mm H = 500 mm położenie elementu w czasie spadku warunki pospadki swobodne miaru B4 5 4; 10 Sprawdzenie wytrzymałości na m/s sposób mocowania korpusu lub wyprowadzeń ele udary wielokrotne 1000><3 mentu i wartośc i graniczne td Z (p 0\ W W J 1' o ' B5 54; ; 10 Sprawdzenie wytrzymałości na T = t A stg nagłe zmiany temperatury min TA = t stg min w'irtości temperatury T A i T B' <ontrolowanych ~ T = t T = t B stg max B stg max B6 5 4; 10 54; 065 Sprawdzenie odporności na llara WOh WOh warunki obciążenia metoda badania temperatura żanie elektryczne badania l) W podgrupie Bl Sprawdzenie szczelności norma przedmiotowa powinna określać czy badanie "losuje się dla danego typu diod elektroluminescencyjnych w

4 Tablica 3 Badania grupy C p Metoda badania P oziom jakości Poziom jakości![ Rodzaj badania Poziom Poziom PN 78/ kontroli Warunki badania kontroli Warunki b~ania T l J 6 7 Cl 1 ) 54; 25 54; 25 Sprawdzenie 5321 wytrzymaloś ci mechanicznej wyprowadzeń Sprawdzenie metoda Ql PN75/ metoda Ql PN 75/ szc z elności E04550/ 15 czynnik E04550/ 15 czynnik probierczy alkohol probierczy alkohol etylowy etylowy C2 S4; 40 54; 25 Sprawdzenie 537 elekt r ycznych v 1 e (P e) 2) UF R > Poziom jakości Poziom jakości V Poziom Warunki Poziom Warunki kontroli badania kontroli badania ; 25 54; 15 Dane arkusza szczegółowego 12 rodzaj i szczególowe warunki badania wartości obciążeń tj:1 :z: ex> 0'1 ~ J o " Sprawdzenie 5311 odporności n a t amb max t amb max suche go rąco Sprawdzenie 53 9 odporności na zimno ' t amb min " t amb min t amb max t amb min t amb max tanu> min parametrów "

5 cd tab! " C3 S 4 ; 2 5 S4 ; 1 5 Spr a wdzen ie masy wyrobu Sprawdzenie 5361 tr wałości cec howania Spr awdzenie 5 3 5a) lut owności masa wyrobu temperatura kąpieli wypr owadz e ń C4 S 4 ; 25 S4 ; 1 5 Sprawdzenie m/s m/s stałe Spr awdzenie m/s m/s 2 ci na udary ( pojedyncze lub wielokrotne ) wytrzymałoś ci na pr zyśpieszenie wytrzymałośl ub (245 m/s2 (245 m/ s X 1000) 3 >< 1000) ' " S 4; 1 5 S4; m/s m/s m Ls m/ s (245 m/s2 (390 m/s2 3>(1000) 3)( 100) kierunki pr o biercze sposób mocowania kor pusu lub wypr o wadzeń warunki pomiaru i wartośc i graniczne paramet rów ~ ~ ~ J Vl Vl o Sprawdzenie h 3h wytrzymaloś lub ( 49 m/ s2 ( 49m/ s 2 ci na wibr a Hz Hz cje ( o stałej 3 h) 3 h) lub zmiennej c zę stotli woś ci) 3 h 3 h (49m/s 2 (49m/ s Hz Hz 3 h ) 3 h ) \ Vl

6 cd tab13 O'; Rodzaj badania Metoda badania PN78( T01515 Poziom jakości Poziom kontroli Warunki badania Poziom jakości Poziom jakości Hl Poziom Poziom Warunki kontroli Warunki badania kontroli badania i'aql Poziom jakości V Poziom Warunki kontroli l>adania Dane ' arkusza szczegółowego l es 54; 40 54; 25 54; 15 54; 15 Sprawdzenie wytrzymałości na ciepło lutowania 535b) temperatura kąpieli czas regeneralcji warunki po_ miaru i wartości graniczne Sprawdzenie 5312 TA = t stg min wytrzymałości na nagłe zmiany tempe T =t B stg max ratury Sprawdzenie doby wytrzymałości na wilgotne gorąco stałe T A = t stg min T = t A stg mln T B = t stg max T =t B stgmax 10 dób 21 dób T = t A stgmln T B =t stgmax 56 dób ljj Z co O'; "c W W J ' o ' e6 54; 25 54; 25 54; 15 54; 10 Sprawdzenie h odporności m narażenie elektryczne e7 Sprawdzenie 538 wytrzymałości na zimno 1000 h 1000 h 54; h t stg mln metoda badania warunki obciążenia temperatura badania warunki pomiaru i wartości graniczne czas narażania

7 cd tabl 3 l es S4; 25 S4; 10 S4; 10 Spr awdzenie t stg max t s t g max t stg max wytr zym ałoś i \l6ttości granic ~ ci n a suche 1000 h 1000 h 1000 h ne kontr olowa nych gorąco C9 S 4; 15 Sprawdzenie mm położenie elemenwytrzymałoś t u w czasie spad ku warunki po miaru i wartości graniczne ci na spadki swobodne C10 S 4; 40 54; ; 15 S4; 10 Sprawdzenie spr awdzane parawymiar ów metry geometrycz; ne l)w podgrupie C l Sprawdzenie szczelności norma przedmiotowa powinna okr eślać 2)Zamiast e dopuszcza się podawanie P e Tablica 4 Badania grupy D czy badanie stosuje' się dla danego typu diod elektroluminescencyjnych Oj Z (Xl ()) w W J o Rodzaj badania Metoda badania Poziom jakości Poziom jakości Poziom jakości Poziom jakości V Dane arkusza Poziom Warunki Poziom Warunki Poziom Warunki Poziom warunki szczególowego PN 7B/T kontroli badania kontroli badanla kontroli badania kontroli badania l B Dl 5 4; 15 54; 15 Sprawdzenie odporności hfa 10 hpa t emperatura narażania na niskie ciśnienie atmo i Warsferyczne tości graniczne DZ1) 5 4 ; 40 S4; ; 25 S 4; 25 Sprawdzenie wytrzyma 5325 rodzaj rozpuszczalnika łości na r ozpuszczalniki J

8 cd tabl 4 o:> Rodzaj badania Metoda badania Poziom jakości l Poziom jakości Poziom j akości Poziom WarWlkl Poziom Warunki Poziom Warunki PN 78f T kontroli badania kontroli badania kontroli badania iąql Poziom jakości V Poziom Warunki kontr oli badania Dane arkusza szczegół owego D " 12 Sprawdzenie palności nie stosuje się D4 7) 5 4; ; 15 Sprawdzenie wytrzyma~ lości na pleś'l stopień dopus4p':!ilnego wzr ostu grzybów p leś niowych wymagania dotyczące uszkod zeń powierzchniowych DS 2) 54; ; 15 Sprawdzenie wytrzyma " lości na mgłę solną " 54; 45 54; ; 25 Sprawdzenie informacyjnych ) p A) 0 5 sprawdzenie nale ży wykonywać metodami pomiar owymi podanymi w normach pl'zedmiolowych 5 4; 15 czas badania poł o żenie elementu w czasie badania wa runki pomiaru i w a rto ści graniczne parame1:rów i wartoś ci graniczne kontr o lowanych! t Z ~ W J L11 V1 o 8 e C tot t r tf L 1) Badanie stosuje się dla wyrobów w obudowach plastykowych 2) Badanie stosuje się przy zamówieniu wyrobów w wykonaniu tropikalnym lub dla klimatu morskiego

9 BNS6/337SSl/0l 9 Tablica 5 Oznaczenie Nazwa parametru badań v Światłość Bl B3 B4 BS B6 Cl C2 C4 C~ C6 C7 CS C9 Dl ecp e ) UF Natężenie promieniowania ( całkowita moc promienio B B3 t B4 BS 136 C C2 C4 CS C6 wania) C7 CS C'9 Dl Napięcie przewodzenia B! B3 B4 B5 B6 C C2 C4 CS C6 C7 C8 C9 Dl H Prąd wsteczny Bl B3 B4 BS B6 C C2 C4 CS C6 C7 C8 C9 Dl Ap Długość fali odpowiadająca maksimum gęstości monochromatycznej mocy promieniowania diody elektroluminescencyj~j :1\ 05 Szerokość połówkowa widma promieniowania Be Kąt połówkowy promieniowania t r Czas narastania impułsu promieniowania tt Czas opadania impulsu promieniowania Ctot Pojemność całkowita m Masa wyrobu 'C3 6 POSTĘPOWANE W PRZYPADKU NEGATYWNEGO WYNKU BADAN 61 Badania grupy A PN 78/T01515 p Badania grupy B PN78/T 015l5 p Badania grupy C PN78/ T p Badania grupy D PN78/T015lS p 64 KONEC NFORMACJE DODATKOWE l nstytucja opracowująca normę nstytut Technologil Elektronowej przy Naukowo Produkcyjnym Centrum Półprzewodników Warszawa/Al Lotników 32/46 2 stotne zmiany w stosunku do BN 78/ /00 Wprowadzono nową rozszerzoną klasyfikację jakościową wyrobów dzielącą diody e lektroluminescencyjne 'na 4 poziomy jakościowe 3 Normy związane PN75/ E04550/ 15 Wyroby e lektrotechniczne Próby śro dowiskowe Próby Qszczelność PN 84/T 01500/04 Półprzewodnikowe elementy optoelektroniczne Terminologia PNBJ/ T 01504/00 Elementy półprzewodnikowe Metody pomiaru tranzystorów i diod Postanowiena ogólne PN78T 'r01515 Elementy półprzewodnikowe Ogólne wymagania' i badania 4 Symbol SWW Autor projektu normy mgr inż Jerzy Kuszel Zdzisław Wlaźnik Naukowo Produkcyjne Centrum przewodników Warszawa/ul Komarowa 5 Pół 6 Wartości dopuszczałne W arkuszu szczegółowym dla danego typu diod elektroluminescencyjnych po willny być podane dopuszczalne wartości następujących : FM szczytowy prąd przewodzenia F prąd przewodzenia UH napięcie wsteczne t i temperatura złącza

10 10 nformacje dodatkowe do BN86/337551/01 t amb ttg temperatura otoczenia w czasie pracy temperatura przechowywania Dane te stanowią wartości obciążeń których nie można przekroczyć w eksploatacji diod elektroluminescencyjnych 7 Parametry charakterystyczne Warkuszu szczegółowym dla danego typu diod elektroluminescencyjnych powinny być podane przy określonej temperaturze następujące parametry charakterystyczne: otoczenia v światłość przy określonym prądzie przewodzenia dla diod emitujących promieniowanie widzialne natężenie promieniowania dla diod emitujących promieniowanie podczerwone (zamiast re dolluszcza się podawanie P całkowite)' e ' mocy promieniowania) długość fali odpowiadająca maksimum gęstości monochromatycznej mocy promieniowania elektroluminescencyjnej 11) 05 szerokość połówkowa widma promieniowania diody C tot napięcie przewodzenia przy określonym prądzie przewodzenia prąd wsteczny przy określonym napięciu wstecznym kąt połówkowy promieniowania czas narastania impulsu promieniowania przy określonej polaryzacji diody elektroluminescencyjnej i częstotliwości pomiaru czas opadania impulsu promieniowania przy 0 kreślonej polaryzacji diody elektroluminescencyjnej i częstotliwości pomiaru pojemność całkowita 8 / Wprowadzenie podgrupy Sprawdzenie informacyjnych Wprowadzenie podgrupy rozszerzenie podziału grupy D PN78/T01515 w podania szerszej informacji dotyczącej zastosowania elementów ' stanowi celu 9 Dostawy elementów o wysokiej jakości i bardzo wysokiej jakości mogą być realizowane po uzgodnieniu z producentem wielkości dostaw i po uzgodnieniu ceny