POMIARY OPTYCZNE 1 { 11. Damian Siedlecki
POMIARY OPTYCZNE 1 { 3. Proste przyrządy optyczne Damian Siedlecki
POMIARY OPTYCZNE 1 { 4. Oko Damian Siedlecki
POMIARY OPTYCZNE 1 { 5. Lunety. Mikroskopy. Inne Damian Siedlecki
POMIARY OPTYCZNE 1 { 6. Współczynnik załamania #1 Damian Siedlecki
POMIARY OPTYCZNE 1 { 7. Współczynnik załamania #2 Damian Siedlecki
POMIARY OPTYCZNE 1 { 8. Współczynnik załamania #3 Szkło Damian Siedlecki
POMIARY OPTYCZNE 1 { 9. Szkło #2 Pomiary promieni krzywizn elementów układów opt. Damian Siedlecki
POMIARY OPTYCZNE 1 { 10. Pomiary kątów (klinów, pryzmatów) Damian Siedlecki
POMIARY OPTYCZNE 1 { 11. Damian Siedlecki
Wykład 1 Literatura; konsultacje, strona internetowa itp.; warunki zaliczenia. REPETYTORIUM z optyki. Wykład 2 Ciąg dalszy REPETYTORIUM z optyki geometrycznej proste przyrządy optyczne (idea, schemat, zasada działania); OKO! (budowa oka: układ optyczny, budowa siatkówki; głębia ostrości; rozdzielczość; czułość, odczuwanie kontrastów); paralaksa; Kryteria rozdzielczości. Wykład 3 i 4 Przyrządy i elementy przyrządów używane w pomiarach optycznych: Kolimatory; Lunety; Mikroskopy; Okulary mikrometryczne; Płytki ogniskowe; Testy zdolności rozdzielczej; Goniometr. Wykład 5 i 6 Pomiar współczynnika załamania: Metody spektrometryczne: Refraktometry: Pullfricha, Abbego, Bodnara. Wykład 7 Pomiar współczynnika załamania ciąg dalszy: Metody interferencyjne; Pomiar współczynnika załamania gotowych elementów optycznych. Program wykładu
Wykład 8 i 9 SZKŁO: Sprawdzanie jednorodności, smużystości, pęcherzowatości szkła; pomiar współczynnika absorpcji. Wykład 10 i 11 Pomiar elementów układu optycznego: Sferometry; Oftalmometr; Autokolimacyjne metody pomiaru promieni krzywizn; Pomiar za pomocą sprawdzianów interferencyjnych; Pomiar dużych promieni krzywizn (metoda cieniowa Foucaulta); Pomiary kątów dwuściennych na goniometrze; Pomiary centryczności soczewek; Wykład 12 i 13 Pomiar ogniskowej układu optycznego: Wykład 14 Metody sprawdzania instrumentów optycznych: Wykład 15 KOLOKWIUM ZALICZENIOWE!!!! (16 czerwca) Program wykładu
POMIARY OPTYCZNE 1 { 11. Damian Siedlecki
PRZYPOMNIENIE: -Płaszczyzny główne sprzężone optycznie płaszczyzny, prostopadłe do osi, w których powiększenie poprzeczne równe jest +1; -Punkty główne (przedmiotowy i obrazowy) punkty przebicia płaszczyzn głównych osią układu; -Ognisko obrazowe F układu optycznego punkt, będący obrazem punktu leżącego nieskończenie daleko na osi układu w przestrzeni przedmiotowej; -Ognisko przedmiotowe F jw., ale odwrotnie ;-) -Ogniskowa obrazowa (przedmiotowa) układu optycznego to skierowana odległość ogniska obrazowego (przedmiotowego) od płaszczyzny głównej obrazowej (przedmiotowej) układu; -Zbiegowa czołowa obrazowa (przedmiotowa) to skierowana odległość ogniska obrazowego (przedmiotowego) od wierzchołka ostatniej (pierwszej) powierzchni układu.
Metoda kolimatora Na skutek aberracji sferycznej, pęk promieni monochromatycznych, równoległych do osi układu, po wyjściu z niego przestaje być pękiem homocentrycznym (CO TO?). Nie biorąc pod uwagę zjawiska dyfrakcji, przy określaniu położenia ogniska układu zawsze otrzymujemy pewne położenie środkowe, niepokrywające się z ogniskiem promieni przyosiowych. Promienie padające na różnej wysokości od osi układu, po wyjściu z niego przecinają tę oś w różnych punktach na ekranie ustawionym w płaszczyźnie ogniskowej otrzymamy plamkę rozproszenia.
Metoda kolimatora, c.d. Po znalezieniu ogniska można zmierzyć jego odległość od wierzchołka ostatniej powierzchni układu lub innego punktu, np. oprawki. Określenie położenia ogniska będzie dokładniejsze, jeśli do obserwacji obrazu dalekiego przedmiotu zamiast ekranu użyjemy lupy lub mikroskopu. Przy określaniu położenia ognisk układów ujemnych musimy używać mikroskopu o długiej odległości czołowej. Dlaczego?
Metoda kolimatora, c.d. Kolimator, używany do pomiarów ogniskowych, musi mieć odpowiednio dużą ogniskową (3-5 razy dłuższą, niż badany obiekt)! Powinien mieć również odpowiednią aperturę A obok sposób, jak poradzić sobie, jeśli ta apertura nie jest zbyt duża.
Frontofokometr to przyrząd do pomiaru mocy szkieł okularowych. Kolimator K posiada płytkę ogniskową przesuwaną za pomocą zębatki Z. Na tulejce, do której przymocowana jest płytka ogniskowa kolimatora, znajduje się podziałka, na której naniesione są działki co 0,25 dioptrii. Wielkość przesuwu płytki w dioptriach odczytujemy na podziałce, obserwując ją przez mikroskop M. Naprzeciw kolimatora znajduje się wycelowana weń lunetka L. φ = 1000 x f k 2
Frontofokometr, c.d. Lunetka oświetlająca L w płaszczyźnie ogniskowej obiektywu posiada obrotowy krzyż i nieruchomą podziałkę kątową. Krzyż jest naniesiony na płytce, która można obracać, dzięki czemu możemy określać kierunki przekrojów głównych mierzonego szkła okularowego.
Frontofokometr, c.d. Na płytce ogniskowej kolimatora znajduje się szereg okrągłych otworów rozmieszczonych na okręgu. Przy pomiarze soczewek sferycznych obrazy wszystkich otworków będą jednocześnie ostro widziane. W przypadku soczewek asferycznych tylko pewne dwa kierunki będą ostro widziane. Przesuwając płytkę kolimatora naprowadzamy przyrząd na ostrość poszczególnych kierunków i tym samym możemy określić moc soczewki w dwóch prostopadłych do siebie przekrojach.
Frontofokometr, c.d. Dioptromierz lunetowy
Schemat pomiaru ogniskowych Opieramy się na następujących wzorach: Wzór Newtona: xx = ff Wzór Kartezjusza: f s + f s = 1 oraz wzorach na powiększenie: (JAKIE?) β = y y = f x = x f = f s f s W powietrzu: γ = tg u tg u = f x = x f = s s f = f
Pomiary ogniskowej oparte na określeniu położenia obrazu punktu na osi układu. Ogniskową układu możemy wyznaczyć niezbyt dokładnie znając odległość przedmiotu (np. oświetlonej podziałki szklanej) od środka układu i wyznaczając odpowiednią odległość obrazu przy rzutowaniu go np. na przesuwny ekran. Ogniskową wyznaczamy ze wzoru Kartezjusza: 1 s 1 s = 1 f Głównym źródłem błędu jest to, że nie znamy położenia punktów głównych układu i odpowiednie odległości s i s mierzymy od środka układu.
Pomiary ogniskowej przy stałej odległości obrazu od przedmiotu (metoda Bessela) Stosowana do pomiaru ogniskowych lup, obiektywów mikroskopowych o małych powiększeniach i pojedynczych dwuwypukłych soczewek. Jeżeli odległość L między przedmiotem i obrazem jest stała i większa niż cztery ogniskowe, wówczas istnieją dwa położenia soczewki (różniące się o Δ), przy których płaszczyzna O będzie odwzorowana w O. Δ L
Pomiary ogniskowej przy stałej odległości obrazu od przedmiotu (metoda Bessela), c.d. Δ L f = 1 4 L 2 2 L σ f = ± 2L σ f = 1 4 L q 2 2 L q q odległość pomiędzy płaszczyznami głównymi
Pomiary ogniskowej oparte na wzorze Newtona xx = ff Metoda stosowana do wyznaczania ogniskowych soczewek cienkich, lup, słabych obiektywów mikroskopowych.
Pomiary ogniskowej metodą Erflego a) Obserwujemy przez lunetę ostry (i bez paralaksy) obraz krzyża, umieszczonego w płaszczyźnie ogniskowej układu. b) Przesuwamy płytkę z krzyżem o x 1 do punktu A 1, a w przestrzeni obrazowej umieszczamy mikroskop, który naprowadzamy na obraz A 1. c) Przesuwamy płytkę z krzyżem o x 2 do punktu A 2 i znowu naprowadzamy mikroskop na ostry obraz A 2. Ogniskową obliczamy ze wzoru opartego na wzorze Newtona: f 2 = x 2 x 1 x 2 x 1 x 1 x 2
Pomiary ogniskowej metodą Erflego (autokolimacja) W celu zwiększenia dokładności pomiaru można zastosować zamiast płytki z krzyżem zwierciadło, a zamiast zwykłej lunety i mikroskopu lunetę i mikroskop autokolimacyjny. Metodę stosujemy do pomiaru ogniskowych układów dodatnich. Przy pomiarach układów rozpraszających mikroskop musi mieć dużą odległość czołową ewentualnie można zastosować dodatkową soczewkę o znanej ogniskowej.
Pomiary ogniskowej z wykorzystaniem znanego układu H 1 H 1 układ znany; H 2 H 2 układ mierzony; x 2 f 2 2 + f 2 x 2 = x 1 f 1 2 f 1 d x 1 Obliczymy f 2 jeśli: a) znane jest f 1 b) zmierzymy x 1, x 2 oraz d.
Pomiary ogniskowej z wykorzystaniem znanego układu, c.d. W praktyce przy pomiarze oba układy ustawione są w ten sposób, że stanowią jakby obiektywy lunet wycelowanych jedna w drugą. I wtedy przyjmuje się praktycznie d = 0
Pomiary ogniskowej poprzez wyznaczenie powiększenia poprzecznego w jednej płaszczyźnie Układ pomiarowy: szklana płytka L z podziałką; diafragma z krzyżem K; mierzony układ umieszczony na przesuwnym stoliku; za układem umieszczamy lunetę ustawioną na nieskończoność. Stolik z układem przesuwamy poosiowo do momentu, gdy w lunecie z krzyżem celowniczym zobaczymy bez paralaksy obraz krzyża K. Stanie się to wtedy, gdy krzyż K znajdzie się w płaszczyźnie ogniskowej badanego układu.
Pomiary ogniskowej poprzez wyznaczenie powiększenia poprzecznego w jednej płaszczyźnie, c.d. POMIAR: zdejmujemy lunetę i umieszczamy zamiast niej mikroskop pomiarowy, przesuwany poprzecznie. Mikroskop naprowadzamy na obraz podziałki L i za pomocą przesuwu poprzecznego mierzymy wielkość obrazu y przedmiotu y. f = x y y