MODELOWANIE POWIERZCHNI ELEMENTÓW WYKONYWANYCH METODĄ STEREOLITOGRAFII 1. WPROWADZENIE

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "MODELOWANIE POWIERZCHNI ELEMENTÓW WYKONYWANYCH METODĄ STEREOLITOGRAFII 1. WPROWADZENIE"

Transkrypt

1 InŜynieri Mszyn, R. 18, z. 2, 213 szybkie prototypownie geometryczn struktur powierzchni Stefn DZIONK 1 MODELOWANIE POWIERZCHNI ELEMENTÓW WYKONYWANYCH METODĄ STEREOLITOGRAFII Modele wykonywne metodmi przyrostowymi chrkteryzują się specyficzną strukturą powierzchni tj. tzw. efektem schodkowym. Struktur tk zzwyczj nie jest kceptown przez odbiorcę i w celu uzyskni odpowiedniej jkości powierzchni wykonuje się dodtkową obróbkę np.: skrwniem (jest to tzw. postprocessing). Włściwości powstjącej struktury powierzchni moŝn zmienić w ogrniczonym zkresie poprzez sposób ustwieni modelu n pltformie. Aby przewidywć wysokość powstjących nierówności tworzy się modele chropowtości powierzchni przedmiotów wykonywnych metodmi przyrostowymi W rtykule przedstwiono roŝne modele chropowtości powierzchni elementów wykonywnych metodą stereolitogrfii w zkresie prmetrów wysokościowych, tkŝe ich porównnie do powierzchni rzeczywistej. 1. WPROWADZENIE Stereolitogrfi (Stereolitogrphy) jest jedną z pierwszych metod przyrostowych zliczn do grupy technik szybkiego prototypowni. Metody przyrostowe umoŝliwiją wytworzenie trójwymirowych modeli fizycznych (prototypów) w oprciu o geometrię zprojektowną w systemie modelowni przestrzennego CAD 3D (computer ided design). W tym procesie model CAD jest dzielony n wrstwy o określonej grubości (zzwyczj jest to w zkresie1 1 µm, le są teŝ urządzeni wykonujące elementy gdzie stosuje się grubość wrstwy ok. 1 µm). Podził ten odbyw się z pomocą specjlnych progrmów komputerowych, w które wyposŝony jest dził przygotowujący technologię. Dne obejmujące wykonywny przedmiot lub przedmioty, gdyŝ moŝn jednocześnie wykonywć wiele róŝnych części, zpisuje się w formie pliku komputerowego. Tk przygotowny plik dnych zostje przesłny do urządzeni, w którym nstępuje wykonnie przedmiotu fizycznego z wcześniej wybrnego mteriłu. PowyŜszy schemt dziłń chrkterystyczny jest dl wszystkich metod przyrostowych, w tym tkŝe dl stereolitogrfii SLA. W tej metodzie wykonnie przedmiotu poleg n utwrdzeniu płynnego fotopolimeru w miejscch, gdzie znjduje się mterił wyrobu. Fotopolimer zestl się pod wpływem świtł ultrfioletowego UV (ultrviolet). Źródłem świtł jest lser Nd:YVO 4 emitujący promieniownie o długości ok. 354,7 nm, którego promień przemieszcz się po powierzchni 1 Politechnik Gdńsk, Ktedr Technologii Mszyn i Automtyzcji Produkcji, E-mil: sdzionk@mech.pg.gd.pl

2 8 Stefn DZIONK Ŝywicy formując wrstwę zgodną z zpisem dnych odpowiedniej wrstwy podzielonego przedmiotu. Po zesknowniu przez lser cłej wrstwy przedmiotu pltform, n której umiejscowiony jest przedmiot lub przedmioty obniŝ się o grubość wrstwy. Nstępnie zgrnicz przemieszczjąc się nnosi n powierzchnię kolejną wrstwę Ŝywicy o zprogrmownej grubości i cykl sknowni powierzchni promieniowniem lserowym powtrz się. Ksztłt wrstwy zmieni się w zleŝności od przekroju modelu n stosownej wysokości. Schemt dziłni urządzeni do wykonywni modeli metodą SLA moŝn znleźć w prcch [4],[5],[6]. W modelowniu stereolitogrfii promień sknujący przedstwi się zzwyczj w postci równoległej wiązki o przekroju kołowym. W rzeczywistości wiązk sknując m ksztłt wydłuŝonego stoŝk, którego przekrój n poziomie powierzchni Ŝywicy powinien być kołem o zdnej średnicy. W przypdku wiązki stoŝkowej kąt pochyleni profilu wrstwy określny jest jko φ1 i kąt ten w stosunku do kąt φ stosownego w modelowniu profilu powierzchni dl wiązki równoległej określić moŝn zleŝnością: φ1=φ±,5β (1) gdzie: φ - kąt pochyleni profilu wrstwy przedmiotu dl wiązki równoległej, φ1 - kąt pochyleni profilu wrstwy przedmiotu dl wiązki stoŝkowej, β - kąt skupieni wiązki stoŝkowej. W prezentownych modelch pomij się kąt skupieni wiązki lserowej β i kąt pochyleni profilu wrstwy φ1 jest przyjmowny jk dl wiązki równoległej φ. 2. MODELE OBLICZENIOWE PROFILU CHROPOWATOŚCI W oprciu o omówioną wyŝej zsdę n rys. 1 przedstwiono zrys profilu nierówności powierzchni chrkterystycznego dl metody stereolitogrfii. N podstwie tego zrysu określ się modele obliczeniowe prmetrów wysokościowych R i Rz. Prmetr R dl tkiego profilu przyjmuje się w przybliŝony sposób poprzez opisnie nierówności powierzchni prostymi figurmi geometrycznymi. Zsumownie tk określonych pól powierzchni wzniesień i wgłębień (n rys. 1 Ap i Av) n długości odcink elementrnego nstępnie podzielenie tej wrtości przez jego długość określ wrtość prmetru średniego. W stosownych modelch spotyk się dodtkowe uproszczeni tkie jk: ogrniczenie profilu do zrysu prostokątnego, brk zokrągleń wzniesień i wgłębień i inne (występują, gdy przyjmiemy wskźniki r p = r v = lub kąt φ = ). W literturze większość modeli obliczeniowych prmetrów chropowtości oprt jest n modelu ostrych krwędzi z profilem prostokątnym. Jest to njprostszy model i w nim uwzględni się tylko dw prmetry procesu wytwrzni tj.: grubość wrstwy () i pochylenie powierzchni w stosunku do wrstw przyrostowych (Θ) [1],[8]. Ten model stosuje się równieŝ w progrmch komputerowych modelujących nierówności powierzchni n elementch wykonywnych metodmi przyrostowymi [1].

3 Modelownie powierzchni elementów wykonywnych metodą stereolitogrfii 9 ) b) L=Xs x φ Zp Ap rp /2 L=Xs rp x φ Ap Zp Θ 1 Av Θ φ 1 Av Θ φ /2 Θ rv rv Zv Zv Rys. 1. Schemtyczne przedstwienie zrysu powierzchni przedmiotu wykonywnego metodą stereolitogrfii: ) zrys powierzchni przy dodtnim kącie wychyleni wiązki, b) zrys powierzchni przy ujemnym kącie wychyleni wiązki, 1 - lini odniesieni zrysu, φ - kąt wychyleni wiązki sknującej (n rysunku wrtość kąt określon w wrtościch bezwzględnych), Θ - kąt pochyleni powierzchni, L - odcinek linii odniesieni do obliczni zrysu profilu, - grubość wrstwy przyrostowej, Ap - pole wzniesieni, Av - pole wgłębieni, Zp - wysokość wzniesieni, Zv - głębokość wgłębieni, x - długość zrysu profilu, r p - promień zokrągleni wzniesień, r v promień zokrągleni wgłębień Fig. 1. Schemtic presenttion of the surfce profile of the element mnufctured by stereolithogrphy method: ) the profile of the surfce with positive ngle of the bem blncing, b) the profile of the surfce with negtive ngle of the bem blncing, 1 - reference line, φ - ngle of bem blncing (the ngle of the figure is specified on the bsolute vlue), Θ - ngle of the surfce inclintion, L - reference section for clculting of the contour profile prmeters, - thickness of incrementl lyer, Ap - pek re, Av - vlley re, Zp - the height of the pek, Zv - depth of the vlley, x - the length of the profile, r p -rdius of rounding peks, r v rdius of vlley rounding Model ten moŝn przedstwić w postci: R ( θ ) = cosθ ( < θ < 18 ) (2) 4 gdzie: R - prmetr chropowtości, - grubość wrstwy przyrostowej, θ - kąt pochyleni wykonywnej powierzchni. We wszystkich modelch obliczeniowych występują pewne zkresy zmienności kąt pochyleni powierzchni Θ (określone kątem Θ ), dl których rezultty modelowni zncznie odbiegją od wyników pomirów powierzchni rzeczywistej. Wynik to z metody wykonywni przedmiotów technikmi przyrostowymi, gdyŝ n powierzchni o kącie pochyleni <Θ <Θ nie powstnie schodek, powierzchni będzie powierzchnią poziomą. Wrtość obliczeniow prmetru R tkiej powierzchni powinn wynosić zero, ntomist model określony wzorem 2 tkich wrtości w tym zkresie nie przyjmuje. Wobec tego z modelowni nleŝy wyłączyć zkresy kątów ( deg± Θ ) i (18 deg± Θ ) gdzie wrtość kąt Θ moŝn obliczyć ze wzoru

4 1 Stefn DZIONK θ * rctg (3) 2 b gdzie: - grubość wrstwy, θ - kąt grniczny pochyleni profilu wrstwy, b - szerokość powierzchni. Model uwzględnijący kąt pochyleni profilu przedstwi zleŝność [8]: cosθ + sinθ tgφ R( θ, φ) = (4) 4 gdzie: - grubość wrstwy przyrostowej, φ - kąt wychyleni wiązki sknującej, θ - kąt pochyleni powierzchni. Przebieg zmin wrtości prmetru określonego wzorem 4 moŝn znleźć w literturze [3],[5],[8]. Rzeczywist powierzchni przedmiotu m dodtkowe nierówności n powierzchni tkie jk: pęcherzyki powietrz i krtery n powierzchnich górnych orz przeregowni i pozostłości konstrukcji wsporczej n powierzchnich dolnych. Te elementy geometrycznej struktury powierzchni moŝn uwzględnić w wrtościch oblicznego prmetru R. MoŜn to zmodelowć dodtkowym współczynnikiem, który wg [8] m postć: (9 + φ) θ o o k1 gdy θ (,(9 + φ)) 9 + φ θ φ 9 o o ξ ( θ, φ, k1, k 2 ) = k2 gdy θ ((9 + φ),18 ) (5) 9 φ gdy θ = (9 + φ) gdzie: ξ(θ,φ,k 1,k 2 ) - współczynnik uwzględnijący dodtkowe nierówności powierzchni dolnych i górnych, φ - kąt wychyleni wiązki sknującej, θ - kąt pochyleni powierzchni, k 1 - prmetr R nierówności powierzchni poziomej górnej, k 2 - prmetr R nierówności powierzchni poziomej dolnej. Wobec tego cłkowitą wrtość prmetru dl tych modeli moŝn określić wzorem: R (, ) R (, ) (,, k 1, k T θ φ = θ φ + ξ θ φ 2 ) (6) gdzie: R T (θ,φ)- sumryczny prmetr nierówności powierzchni, R(θ,φ)- prmetr nierówności powierzchni określony wg wzoru (7), ξ(θ,φ,k 1,k 2 )- prmetr dodtkowych nierówności powierzchni. Modele, które nie uwzględniją zokrągleni krwędzi są nzywne modelmi ostrych krwędzi. Z bdń wynik, iŝ podczs wykonywni modeli występuje zjwisko menniskowni polimeru i w nroŝch pojwiją się zokrągleni. Ntomist n krwędzich zewnętrznych zokrągleni powstją n skutek niepełnego utwrdzeni Ŝywicy n grnicy wrstw, spowodowne rozproszeniem świtł n obrzeŝch plmki lser. Zjwisko to uwzględni model z zokrąglonymi krwędzimi, przedstwiony n bzie wzoru (1). W literturze [7] spotyk się teŝ model uwzględnijący tylko jeden promień zokrągleni r v = (tyko segment 1 i 2 wzoru 2).

5 Modelownie powierzchni elementów wykonywnych metodą stereolitogrfii ) [( r )(1 π p rv )] 2 2 π ( rp + rv )(1 ) sinθ R(, θ, r, ) cosθ 4 4 p rv = + tnθ sinθ (7) (1) (2) (3) gdzie: - grubość wrstwy przyrostowej, θ - kąt pochyleni powierzchni, r p - promień zokrągleni wzniesieni (nroŝe zewnętrzne), r v - promień zokrągleni wgłębieni (nroŝe wewnętrzne) wyŝej opisne segmenty wzoru, które opisują: (1) - model krwędzi ostrych, (2) - model krwędzi zokrąglonych, (3) - poprwk wynikjąc z przemieszczeni linii odniesieni PowyŜszy wzór precyzyjniej określ rzeczywisty profil nierówności. Ntomist jego stosownie wiąŝe się z szeregiem ogrniczeń, które zwęŝją zkres zmin kąt pochyleni powierzchni Θ. Wynik to głównie z złoŝeni, Ŝe promienie zokrągleń są styczne do zrysu profilu, co określ zleŝność: r p +r v (8) gdzie: - grubość wrstwy przyrostowej, r p - promień zokrągleni wzniesieni (nroŝe zewnętrzne), r v - promień zokrągleni wgłębieni (nroŝe wewnętrzne). Ten sm wrunek ogrnicz stosownie modelu w zkresie powierzchni pionowych. Dopuszczlny zkres kątów pochyleni powierzchni określ wzór: tgθ (9) r p + r v gdzie: θ - kąt pochyleni powierzchni, - grubość wrstwy przyrostowej, r p - promień zokrągleni wzniesieni (nroŝe zewnętrzne), r v - promień zokrągleni wgłębieni (nroŝe wewnętrzne). Kolejnym ogrniczeniem stosowni jest drugi i trzeci segment wzoru 7, jko Ŝe prmetr R nie moŝe przyjmowć wrtości ujemnych, nleŝy spełnić nstępującą nierówność: ( r p r ) + v 2 π 1 4 tgθ (1) gdzie: r p - promień zokrągleni wzniesieni, r v - promień zokrągleni wgłębieni, - grubość wrstwy przyrostowej, Θ - kąt pochyleni powierzchni. Zkres ogrniczeń określony wzorem 1 przedstwi rys. 2. MoŜn n nim zuwŝyć, Ŝe przy duŝych wrtościch promieni zokrągleń, tj. gdy ich sum jest n poziomie grubości wrstwy zncznie zmniejsz się zkres zmienności kąt pochyleni powierzchni Θ w którym moŝn stosowć w/w zleŝność dl obliczni prmetru R.

6 12 Stefn DZIONK Kąt pochyleni pow. Θ [deg] =,15 =,1 =,5,2,4,6,8,1,12,14 Sum promieni zokrągleń [mm] Rys. 2. Wykres ogrniczeń stosowni modelu obliczeniowego zkresie powierzchni pionowych Fig. 2. Grph of restrictions for clcultion model in the rnge of verticl surfces N rysunku 3 przedstwiono wykres zmin prmetru R według modelu określonego wzorem 7. Wykres ten jest określony dl zmienności kąt Θ ( 9deg), gdyŝ kąt Θ = 9deg jest poz zkresem dopuszczlnym stosowni tego modelu. NleŜy równieŝ stosowć inne ogrniczeni tego modelu określone wzormi 8-1. N rysunku 3 frgment powierzchni określony (1) zostł wyliczony poz zkresem dopuszczlnym stosowni tego modelu, więc są to nieprwidłowe wyliczeni. W przypdku, gdy istnieje potrzeb obliczeni wrtości prmetru R dl kąt pochyleni powierzchni Θ będącego poz zkresem dopuszczlnym dl modelu krwędzi zokrąglonych, to nleŝy zstosowć inny model obliczeniowy bądź przyjąć szcunkową wrtość prmetru, gdyŝ wyniki uzyskne z modelu krwędzi zokrąglonych poz jego zkresem dopuszczlnym obrczone są brdzo duŝym błędem. Dotychczsowe modele obliczeniowe określły wrtości prmetrów średnich chropowtości powierzchni. Jest potrzeb określeni prmetrów mksymlnych nierówności powierzchni np. w celu określeni grubości wrstwy zdejmownej podczs dodtkowej obróbki powierzchni. Prmetr Rt tj njwiększe wzniesienie i njwiększe wgłębienie n długości odcink pomirowego njlepiej określł by grubość zdejmownej wrstwy. Przydtny byłby teŝ prmetr powierzchniowy Sz. W modelch obliczeniowych zkłd się regulrny ksztłt profilu. W tym przypdku, wrtość prmetru Rt jest równ wrtości prmetru Rz. Wrtości prmetru Rz dl prostokątnego zrysu profilu o niezokrąglonych wzniesienich i wgłębienich moŝn przedstwić wzorem: Rz = cos Θ (11)

7 Modelownie powierzchni elementów wykonywnych metodą stereolitogrfii 13 gdzie: Rz - njwyŝsz wysokość profilu n długości odcink elementrnego, - grubość wrstwy przyrostowej, Θ - kąt pochyleni powierzchni Wrtość prmetru R [ µ m] Kąt pochyleni powierzchni [deg],1,2,3,4,5 RóŜnic promieni zokrągleń [mm] Rys. 3. Wykres zmienności prmetru R w obliczeniowym modelu prostokątnym krwędzi zokrąglonych dl grubości wrstwy =,15mm: 1 frgment wykresu poz obszrem dopuszczlnym modelu Fig. 3. Roughness prmeter R grph of the rouded rectngulr profile for the thickness of incrementl lyer =.15mm: 1 - the frgment outside of the permissible re Model uwzględnijący kąt pochyleni profilu m postć: Rz = cos( θ + φ) (12) cosφ gdzie: Rz - njwyŝsz wysokość profilu n długości odcink elementrnego, - grubość wrstwy przyrostowej, θ - kąt pochyleni powierzchni, φ - kąt pochyleni profilu wrstwy. Przebieg zmienności prmetru Rz określony wzormi 11 i 12 m podobny chrkter do przebiegu prmetru R określony wzormi 2 i 4. Wrtości obliczone prmetru Rz są w stosunku do wrtości prmetru R czterokrotnie większe. ZleŜność n obliczenie prmetru Rz dl zrysu prostokątnego z zokrąglonymi wzniesienimi i wgłębienimi moŝn przedstwić w postci: [ (sinθ cosθ )] Rz cosθ + ( r p + r )1 + (13) = v gdzie: Rz - mksymln wysokość nierówności n długości odcink elementrnego, - grubość wrstwy przyrostowej, θ - kąt pochyleni powierzchni, r p - promień zokrągleni wzniesień, r v - promień zokrągleni wgłębień.

8 14 Stefn DZIONK Obliczjąc wrtość prmetru Rz n podstwie powyŝszej zleŝności nleŝy stosowć się do ogrniczeń, które są określone wzormi 3 i 8. Jest ich zncznie mniej w stosunku do ogrniczeń wymgnych podczs stosowni dekwtnego modelu prmetru R (wzór 7). Ntomist porównując wykresy zmienności obu prmetrów tj. rys. 3 i rys. 4 moŝn zuwŝyć, Ŝe wielkość promieni zokrągleń brdziej wpływ n zmniejsznie się wrtości prmetru Rz niŝ nlogicznego prmetru R, jednocześnie dl prmetru Rz nie występuje zkres wyłączjący dl kąt pochyleni Θ = 9deg. 16 Wrtość prmetru Rz [µm] Promienie zokrągleń profilu [mm],4,8,12,16, Kąt pochyleni powierzchni Θ [deg] Rys. 4. Wykres zmienności prmetru Rz w obliczeniowym modelu prostokątnym krwędzi zokrąglonych dl grubości wrstwy =,15 mm Fig. 4. The grph of Rz prmeter vrition of the rounded rectngulr profile for the thickness of incrementl lyer =.15 mm Model obliczeniowy wrtości prmetru Rz dl zrysu z kątem pochyleni profilu orz zokrąglonymi wzniesienimi i wgłębienimi moŝn przedstwić w postci: 1 1 Rz = cos( θ ) tn( φ) sin( θ ) + ( r p + rv ) 1 cos( θ ) + tn π + φ sin( θ ) 4 2 gdzie: Rz - mksymln wysokość nierówności n długości odcink elementrnego, - grubość wrstwy przyrostowej, θ - kąt pochyleni powierzchni, φ - kąt pochyleni profilu wrstwy, r p - promień zokrągleni wzniesień, r v - promień zokrągleni wgłębień. W tym modelu w zkresie powierzchni pionowych tj. Θ = 9deg i Θ = 27deg występują nieciągłości. Wielkość przedziłu nieciągłości zleŝn jest od wrtości kąt pochyleni profilu φ. Dokłdniejszy opis zmin prmetru Rz dl róŝnych modeli obliczeniowych moŝn znleźć w literturze [5]. (14)

9 Modelownie powierzchni elementów wykonywnych metodą stereolitogrfii BADANIA EKSPERYMENTALNE Bdni przeprowdzono wykonując próbki z Ŝywicy o hndlowej nzwie ACCURA SI1 n urządzeniu do wykonywni modeli metodą stereolitogrfii m-ki Viper SI 2. Progrm sterujący przygotowno korzystjąc z oprogrmowni Lightyer. Grubość wrstw przyrostowych wynosił =,15 mm średnic wiązki sknującej lser d =,25 mm. Próbkę umieszczono w centrlnej osi urządzeni (środek pltformy) gdzie kąt pochyleni profilu φ =. Po wykonniu próbki oczyszczono z resztek Ŝywicy stosując izopropnol, nstępnie w urządzeniu PCA (post cure pprtus) poddjąc je 2 minutowemu dziłniu promieniowni UV. Zdniem urządzeni PCA było zkończenie procesu fotopolimeryzcji Ŝywicy n powierzchni przedmiotu (powierzchni po umyciu jest lepk ten proces to usuw). N rysunku 5 przedstwiono typową powierzchnię elementu wykonnego metodą stereolitogrfii. Jest to powierzchni górn i nie występują n niej wdy chrkterystyczne dl powierzchni dolnych. MoŜn n niej zuwŝyć chrkterystyczną strukturę schodkową powierzchni. Występują n niej zróŝnicowne wysokości wzniesień i wgłębień. Promienie zokrągleń wzniesień i wgłębień nie mją stłej wrtości. Grzbiety wzniesień mją nieregulrny ksztłt. Rys. 5. Topogrfi powierzchni górnej o kącie nchyleni θ = 38deg Fig. 5. The up-fcing surfce topogrphy for the sloping surfce ngle θ = 38deg N rysunku 6 przedstwiono wrtości porównwcze modeli obliczeniowych z wrtościmi pomirowymi prmetru R wykonnymi dl pełnego zkresu pochyleni powierzchni. MoŜn zuwŝyć symetrię w obszrze powierzchni górnych poziomych tj. dl otoczeni kąt Θ = deg i Θ = 36 deg. MoŜe on wynikć z metody pomirów, gdzie odstęp między kolejnymi wzniesienimi jest większy od odcink elementrnego, co powoduje, Ŝe nierówność schodk w zleŝności od umiejscowieni odcink pomirowego jest lub nie jest zliczn do wrtości mierzonego prmetru. Powoduje to zwiększenie się

10 16 Stefn DZIONK rozstępu wyników pomiru, gdyŝ dl części pomirów odcinek elementrny połoŝony jest między wzniesienimi i otrzymujemy mniejsze wrtości prmetrów w stosunku do pomirów obejmujących wzniesienie. Rys. 6. Wykres porównwczy modeli obliczeniowych nierówności powierzchni z wrtościmi prmetru R uzysknego z pomirów: 1 - model krwędzi ostrych, 2 - model krwędzi ostrych z pochyleniem profilu, 3 - model krwędzi zokrąglonych, 4 - wyniki pomiru prmetru R, 5 - wielomin proksymujący wyniki pomiru prmetru R wg formuły (), 6 - wielomin proksymujący pomiru prmetru R wg formuły (b) Fig. 6. Comprison models nd result of mesurement for R prmeter: 1 - shrp edge mode, 2 - shrp edge model with inclintion lyer profile, 3 - round edge model, 4 - the results of mesurement of the surfce prmeter R, 5 - regression curve of the mesurement results of prmeter R ccording to the formul (), 6 - regression curve of the mesurement results of prmeter R ccording to the formul (b) Spośród wrtości prmetru R oblicznych n podstwie modeli (wzory 2, 4 i 7) njbrdziej zbliŝone do wyników pomiru otrzymuje się korzystjąc z modelu obliczeniowego krwędzi zokrąglonych (wzór 7). W tym modelu w przedziłch jego nieokreśloności (tj. dl kąt pochyleni powierzchni Θ = 9 deg i Θ = 27 deg i w ich otoczeniu) przyjęto wrtości zerowe. W zkresie powierzchni dolnych, dl których kąt pochyleni powierzchni Θ zwier się w przedzile od 9 deg do 18 deg, występują znczne róŝnice pomiędzy wrtościmi obliczonymi wynikmi pomiru. ZleŜność t występuje dl wszystkich modeli obliczeniowych. MoŜn przypuszczć, Ŝe spowodowne to jest tworzeniem się n tych powierzchnich dodtkowej wrstwy wynikjącej ze zjwisk przeregowni (overcure). T dodtkow wrstw niweluje efekt schodkowości djąc wyniki pomiru zncznie róŝniące się od wyliczeń modelowych. W tej wrstwie moŝn

11 Modelownie powierzchni elementów wykonywnych metodą stereolitogrfii 17 zuwŝyć duŝą zmienność wskźników pomiędzy poszczególnymi pomirmi, któr moŝe być spowodown dodtkowymi czynnikmi tkimi jk: pozostwione frgmenty konstrukcji podpierjącej n tej powierzchni orz wdy, które są chrkterystyczne dl tego typu powierzchni. Rys. 7. Wykres porównwczy wrtości prmetrów nierówności powierzchni obliczonych n podstwie modeli z wynikmi pomiru prmetru Rz i Sz: 1 - wrtości pomirowe prmetru Sz, 2 - wielomin proksymujący wrtości pomirowe prmetru Sz, 3 - wielomin proksymujący wrtości pomirowe prmetru Rz, 4 - wrtości pomirowe prmetru Rz, 5 - wyniki modelu obliczeniowego prostokątnego krwędzi ostrych prmetru Rz, 6 - wyniki modelu obliczeniowego krwędzi ostrych z pochyleniem profilu prmetru Rz, 7 - wyniki modelu obliczeniowego prostokątnych krwędzi zokrąglonych prmetru Rz, 8 - wyniki modelu obliczeniowego z pochyleniem profilu krwędzi zokrąglonych prmetru Rz Fig. 7. Comprison chrt surfce roughness vlues clculted from the model with the results of the mesurement of Rz nd Sz prmeter: 1 - mesured vlues of Sz prmeter, 2 - regression curve of pproximting the mesured vlues of Sz prmeter, 3 - regression curve of pproximting the vlue of the Rz prmeter mesuring, 4 - mesured vlues of prmeter Rz, 5 - the results of the clcultion model prmeter rectngulr shrp edges Rz, 6 - the results of the clcultion model of the tilting edge shrp profile prmeter Rz, 7 - the results of the clcultion model prmeter rectngulr rounded edge Rz, 8 - the results of the clcultion model with rounded edge profile tilt prmeter Rz Rysunek 7 przedstwi porównnie wrtości prmetru Rz uzysknego z modeli obliczeniowych z wrtościmi zmierzonymi. MoŜn n nim zuwŝyć znczny rozrzut pomiędzy zmierzonymi prmetrmi Rz i Sz, gdyŝ średni wrtość prmetru Sz jest o 4µm większ od prmetru Rz. MoŜn przypuszczć, Ŝe n mierzonej powierzchni poz regulrnymi elementmi profilu występują pojedyncze wzniesieni, które są mierzone

12 18 Stefn DZIONK głównie w ukłdzie topogrfii powierzchni. Powstwnie tego typu wzniesień spowodowne jest prwdopodobnie między innymi: znieczyszczeniem (włściwościmi) Ŝywicy, tworzącymi się n powierzchni pęcherzykmi powietrz. W literturze [5] moŝn znleźć brdziej szczegółowy opis powierzchni w pełnym zkresie zmienności kąt pochyleni powierzchni Θ. 4. PODSUMOWANIE Wykonując przedmioty metodą stereolitogrfii w ogrniczonym zkresie moŝn wpływć n wrtości prmetrów ich struktury geometrycznej powierzchni. Przewidując wrtości prmetrów struktury powierzchni przedmiotów nleŝy zwrócić uwgę n ogrniczeni w stosownych modeli obliczeniowych. W zkresie prmetrów średnich (R) elementów wykonywnych metodą stereolitogrfii modele ostrych krwędzi generują wyniki przeszcowne. Model zokrąglonych krwędzi jest brdziej precyzyjny, ntomist m wiele ogrniczeń i nieciągłości (nie modeluje pełnego zkresu pochyleni powierzchni). W zkresie prmetrów mksymlnych (Rz i Sz) dokłdność modelowni jest mniejsz. Ntomist rozgrniczjąc zkres zmienności kąt pochyleni powierzchni Θ n powierzchnie górne i dolne, to wyniki modelowni wrtości prmetru Rz są brdziej zbliŝone do wyników pomiru w zkresie powierzchni górnych. Znczne róŝnice pomiędzy wrtościmi prmetrów uzysknych z modelowni i pomirów dl powierzchni dolnych wynikją z dodtkowej wrstwy powstjącej z przeregowni Ŝywicy. Wdy w niej występujące wprowdzją duŝą przypdkowość w wrtościch pomirowych. MoŜn to zuwŝyć porównując pomirowy prmetr Sz z modelownym prmetrem Rz. N ten stn mją tkŝe wpływ inne czynniki, których nie uwzględniją modele obliczeniowe między innymi mogą to być: rodzj i lepkość polimeru (Ŝywicy), stopień jej znieczyszczeni, stopień rozproszeni plmki lser i inne. LITERATURA [1] CAMPBELL R.I., et l, 22, Surfce roughness for rpid prototyping models, Computer Aided Design, 34, [2] DAEKEON A., HOCHAN K., SEOKHEE L., 29, Surfce roughness prediction using mesured dt nd interpoltion in lyered mnufcturing, Journl of Mterils Processing Technology, 29, [3] DZIONK S., 21, Surfce roughness model for components creted by stereolithogrpfy method, Solid Stte Phenomen, Mechtronic Systems nd Mterils: Mterils Production Technology, 165, [4] DZIONK S., 213, Surfce structure of components creted by stereolithogrpfy, Solid Stte Phenomen, Mechtronic Systems nd Mterils: Mterils Production Technology, 199, [5] DZIONK S., 213, Modelownie i nliz nierówności powierzchni elementów wykonywnych metodą stereolitogrfii, Wydwnictwo Politechniki Gdńskiej, Gdńsk. [6] DZIONK S., PRZYBYLSKI W., 212, Chrkterystyk chropowtości powierzchni przedmiotów wykonywnych metodą stereolitogrfii, Archiwum Technologii Mszyn i Automtyzcji Produkcji, 2, 32, 83-91, ISDN

13 Modelownie powierzchni elementów wykonywnych metodą stereolitogrfii 19 [7] HONG S.B., KWAN H.L., 26, Determintion of optiml build direction in rpid prototyping with vrible slicing. Interntionl Journl Advnced Mnufcturing Technology, 28, [8] REEVES P.E., COBB R.C., 1997, Reducing the surfce devition of stereolithogrphy using in process techniques. Rpid Prototyping Journl, 3/1, SURFACE ROUGHNESS MODELLING OF ELEMENTS CREATED BY STEREOLITOGRAPHY METHOD Stereolithogrphy is n dditive rpid prototyping method. This method is bsed on the principle of solidifying liquid photopolymer (resin) by lser rdition. Models obtined with this method re chrcterized by specific surfce structure clled stirstep effect. It cuses tht, the surfce should be processed by dditionl finishing (postprocessing). To minimize the dditionl mchining process, the model should be set in the reltion to incrementl lyers so tht the roughness of significnt surfces ws optiml. In order to optimize this process, surfce roughness models of components re creted, which were mde using stereolithogrphy method. This pper presents the vrious models of surfce roughness described in the literture nd lso compres the consistency of mpping models with the ctul surfce.

2. FUNKCJE WYMIERNE Poziom (K) lub (P)

2. FUNKCJE WYMIERNE Poziom (K) lub (P) Kls drug poziom podstwowy 1. SUMY ALGEBRAICZNE Uczeń otrzymuje ocenę dopuszczjącą lub dostteczną, jeśli: rozpoznje jednominy i sumy lgebriczne oblicz wrtości liczbowe wyrżeń lgebricznych redukuje wyrzy

Bardziej szczegółowo

Wymagania edukacyjne matematyka klasa 2 zakres podstawowy 1. SUMY ALGEBRAICZNE

Wymagania edukacyjne matematyka klasa 2 zakres podstawowy 1. SUMY ALGEBRAICZNE Wymgni edukcyjne mtemtyk kls 2 zkres podstwowy 1. SUMY ALGEBRAICZNE Uczeń otrzymuje ocenę dopuszczjącą lub dostteczną, jeśli: rozpoznje jednominy i sumy lgebriczne oblicz wrtości liczbowe wyrżeń lgebricznych

Bardziej szczegółowo

Wymagania edukacyjne matematyka klasa 2b, 2c, 2e zakres podstawowy rok szkolny 2015/2016. 1.Sumy algebraiczne

Wymagania edukacyjne matematyka klasa 2b, 2c, 2e zakres podstawowy rok szkolny 2015/2016. 1.Sumy algebraiczne Wymgni edukcyjne mtemtyk kls 2b, 2c, 2e zkres podstwowy rok szkolny 2015/2016 1.Sumy lgebriczne N ocenę dopuszczjącą: 1. rozpoznje jednominy i sumy lgebriczne 2. oblicz wrtości liczbowe wyrżeń lgebricznych

Bardziej szczegółowo

Wykład 2. Granice, ciągłość, pochodna funkcji i jej interpretacja geometryczna

Wykład 2. Granice, ciągłość, pochodna funkcji i jej interpretacja geometryczna 1 Wykłd Grnice, ciągłość, pocodn unkcji i jej interpretcj geometryczn.1 Grnic unkcji. Grnic lewostronn i grnic prwostronn unkcji Deinicj.1 Mówimy, że liczb g jest grnicą lewostronną unkcji w punkcie =,

Bardziej szczegółowo

usuwa niewymierność z mianownika wyrażenia typu

usuwa niewymierność z mianownika wyrażenia typu Wymgni edukcyjne n poszczególne oceny z mtemtyki Kls pierwsz zkres podstwowy. LICZBY RZECZYWISTE podje przykłdy liczb: nturlnych, cłkowitych, wymiernych, niewymiernych, pierwszych i złożonych orz przyporządkowuje

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI W KLASIE IIc ZAKRES PODSTAWOWY I ROZSZERZONY

WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI W KLASIE IIc ZAKRES PODSTAWOWY I ROZSZERZONY WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI W KLASIE IIc ZAKRES PODSTAWOWY I ROZSZERZONY. JĘZYK MATEMATYKI oblicz wrtość bezwzględną liczby rzeczywistej stosuje interpretcję geometryczną wrtości bezwzględnej liczby

Bardziej szczegółowo

Wymagania kl. 2. Uczeń:

Wymagania kl. 2. Uczeń: Wymgni kl. 2 Zkres podstwowy Temt lekcji Zkres treści Osiągnięci uczni. SUMY ALGEBRAICZNE. Sumy lgebriczne definicj jednominu pojęcie współczynnik jednominu porządkuje jednominy pojęcie sumy lgebricznej

Bardziej szczegółowo

Dorota Ponczek, Karolina Wej. MATeMAtyka 2. Plan wynikowy. Zakres podstawowy

Dorota Ponczek, Karolina Wej. MATeMAtyka 2. Plan wynikowy. Zakres podstawowy Dorot Ponczek, rolin Wej MATeMAtyk Pln wynikowy Zkres podstwowy MATeMAtyk. Pln wynikowy. ZP Oznczeni: wymgni konieczne, P wymgni podstwowe, R wymgni rozszerzjące, D wymgni dopełnijące, W wymgni wykrczjące

Bardziej szczegółowo

Uszczelnienie przepływowe w maszyn przepływowych oraz sposób diagnozowania uszczelnienia przepływowego zwłaszcza w maszyn przepływowych

Uszczelnienie przepływowe w maszyn przepływowych oraz sposób diagnozowania uszczelnienia przepływowego zwłaszcza w maszyn przepływowych Uszczelnienie przepływowe w mszyn przepływowych orz sposób dignozowni uszczelnieni przepływowego zwłszcz w mszyn przepływowych Przedmiotem wynlzku jest uszczelnienie przepływowe mszyn przepływowych orz

Bardziej szczegółowo

Modelowanie i obliczenia techniczne. Metody numeryczne w modelowaniu: Różniczkowanie i całkowanie numeryczne

Modelowanie i obliczenia techniczne. Metody numeryczne w modelowaniu: Różniczkowanie i całkowanie numeryczne Modelownie i obliczeni techniczne Metody numeryczne w modelowniu: Różniczkownie i cłkownie numeryczne Pochodn unkcji Pochodn unkcji w punkcie jest deiniown jko grnic ilorzu różnicowego (jeżeli istnieje):

Bardziej szczegółowo

Wymagania na ocenę dopuszczającą z matematyki klasa II Matematyka - Babiański, Chańko-Nowa Era nr prog. DKOS 4015-99/02

Wymagania na ocenę dopuszczającą z matematyki klasa II Matematyka - Babiański, Chańko-Nowa Era nr prog. DKOS 4015-99/02 Wymgni n ocenę dopuszczjącą z mtemtyki kls II Mtemtyk - Bbiński, Chńko-Now Er nr prog. DKOS 4015-99/02 Temt lekcji Zkres treści Osiągnięci uczni WIELOMIANY 1. Stopień i współczynniki wielominu 2. Dodwnie

Bardziej szczegółowo

Technikum Nr 2 im. gen. Mieczysława Smorawińskiego w Zespole Szkół Ekonomicznych w Kaliszu

Technikum Nr 2 im. gen. Mieczysława Smorawińskiego w Zespole Szkół Ekonomicznych w Kaliszu Technikum Nr 2 im. gen. Mieczysłw Smorwińskiego w Zespole Szkół Ekonomicznych w Kliszu Wymgni edukcyjne niezbędne do uzyskni poszczególnych śródrocznych i rocznych ocen klsyfikcyjnych z obowiązkowych zjęć

Bardziej szczegółowo

Oznaczenia: K wymagania konieczne; P wymagania podstawowe; R wymagania rozszerzające; D wymagania dopełniające; W wymagania wykraczające

Oznaczenia: K wymagania konieczne; P wymagania podstawowe; R wymagania rozszerzające; D wymagania dopełniające; W wymagania wykraczające Wymgni edukcyjne z mtemtyki ls 2 b lo Zkres podstwowy Oznczeni: wymgni konieczne; wymgni podstwowe; R wymgni rozszerzjące; D wymgni dopełnijące; W wymgni wykrczjące Temt lekcji Zkres treści Osiągnięci

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie multimetrów cyfrowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych

Zastosowanie multimetrów cyfrowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych Zstosownie multimetrów cyfrowych do pomiru podstwowych wielkości elektrycznych Cel ćwiczeni Celem ćwiczeni jest zpoznnie się z możliwościmi pomirowymi współczesnych multimetrów cyfrowych orz sposobmi wykorzystni

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI DLA KLASY VIII w roku szkolnym 2015/2016

WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI DLA KLASY VIII w roku szkolnym 2015/2016 WYMAGANIA EDUKACYJNE Z MATEMATYKI DLA KLASY VIII w roku szkolnym 015/016 oprcowł: Dnut Wojcieszek n ocenę dopuszczjącą rysuje wykres funkcji f ( ) i podje jej włsności sprwdz lgebricznie, czy dny punkt

Bardziej szczegółowo

Propozycja przedmiotowego systemu oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych (zakres podstawowy)

Propozycja przedmiotowego systemu oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych (zakres podstawowy) Propozycj przedmiotowego systemu ocenini wrz z określeniem wymgń edukcyjnych (zkres podstwowy) Proponujemy, by omwijąc dne zgdnienie progrmowe lub rozwiązując zdnie, nuczyciel określł do jkiego zkresu

Bardziej szczegółowo

POWŁOKI ELEKTROISKROWE WC-CO MODYFIKOWANE WIĄZKĄ LASEROWĄ. 88 Powłoki elektroiskrowe WC-Co modyfikowane wiązką laserową. Wstęp

POWŁOKI ELEKTROISKROWE WC-CO MODYFIKOWANE WIĄZKĄ LASEROWĄ. 88 Powłoki elektroiskrowe WC-Co modyfikowane wiązką laserową. Wstęp Rdek N.,* Szlpko J.** *Ktedr Inżynierii Eksplotcji Politechnik Świętokrzysk, Kielce, Polsk **Khmelnitckij Uniwersytet Nrodowy, Khmelnitckij, Ukrin Wstęp 88 POWŁOKI ELEKTROISKROWE WC-CO MODYFIKOWANE WIĄZKĄ

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE RÓWNANIA NASGRO DO OPISU KRZYWYCH PROPAGACYJI PĘKNIĘĆ ZMĘCZENIOWYCH

ZASTOSOWANIE RÓWNANIA NASGRO DO OPISU KRZYWYCH PROPAGACYJI PĘKNIĘĆ ZMĘCZENIOWYCH Sylwester KŁYSZ *, **, nn BIEŃ **, Pweł SZBRCKI ** ** Instytut Techniczny ojsk Lotniczych, rszw * Uniwersytet rmińsko-mzurski, Olsztyn ZSTOSONIE RÓNNI NSGRO DO OPISU KRZYYCH PROPGCYJI PĘKNIĘĆ ZMĘCZENIOYCH

Bardziej szczegółowo

MATeMAtyka 3 inf. Przedmiotowy system oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych. Zakres podstawowy i rozszerzony. Dorota Ponczek, Karolina Wej

MATeMAtyka 3 inf. Przedmiotowy system oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych. Zakres podstawowy i rozszerzony. Dorota Ponczek, Karolina Wej Dorot Ponczek, Krolin Wej MATeMAtyk 3 inf Przedmiotowy system ocenini wrz z określeniem wymgń edukcyjnych Zkres podstwowy i rozszerzony Wyróżnione zostły nstępujące wymgni progrmowe: konieczne (K), podstwowe

Bardziej szczegółowo

Wybrane aspekty jakości w sferze przedprodukcyjnej

Wybrane aspekty jakości w sferze przedprodukcyjnej Stefan Dzionk * Wybrane aspekty jakości w sferze przedprodukcyjnej Wstęp Współczesny rynek wymusza szybkie zmiany w zakresie rozwoju oferowanych produktów. Proces ten wymusza staranne przygotowanie wyrobu

Bardziej szczegółowo

Rozwiązania maj 2017r. Zadania zamknięte

Rozwiązania maj 2017r. Zadania zamknięte Rozwiązni mj 2017r. Zdni zmknięte Zd 1. 5 16 5 2 5 2 Zd 2. 5 2 27 2 23 2 2 2 2 Zd 3. 2log 3 2log 5log 3 log 5 log 9 log 25log Zd. 120% 8910 1,2 8910 2,2 8910 $%, 050 Zd 5. Njłtwiej jest zuwżyć że dl 1

Bardziej szczegółowo

Logo pole ochronne. 1/2 a. 1/4 a

Logo pole ochronne. 1/2 a. 1/4 a 1/2 1/4 Logo pole ochronne Obszr wokół znku, w obrębie którego nie może się pojwić żdn obc form, zrówno grficzn jk i tekstow to pole ochronne. Do wyznczeni pol ochronnego służy moduł konstrukcyjny o rozmirze

Bardziej szczegółowo

KSZTAŁTOWANIE ŁUKOWO-KOŁOWEJ LINII ZĘBÓW W UZĘBIENIU CZOŁOWYM NA FREZARCE CNC

KSZTAŁTOWANIE ŁUKOWO-KOŁOWEJ LINII ZĘBÓW W UZĘBIENIU CZOŁOWYM NA FREZARCE CNC KOMISJA BUDOWY MASZYN PAN ODDZIAŁ W POZNANIU Vol. 8 nr Archiwum Technologii Mszyn i Automtyzcji 008 PIOTR FRĄCKOWIAK KSZTAŁTOWANIE ŁUKOWO-KOŁOWEJ LINII ZĘBÓW W UZĘBIENIU CZOŁOWYM NA FREZARCE CNC W rtykule

Bardziej szczegółowo

Układ elektrohydrauliczny do badania siłowników teleskopowych i tłokowych

Układ elektrohydrauliczny do badania siłowników teleskopowych i tłokowych TDUSZ KRT TOMSZ PRZKŁD Ukłd elektrohydruliczny do bdni siłowników teleskopowych i tłokowych Wprowdzenie Polsk Norm PN-72/M-73202 Npędy i sterowni hydruliczne. Cylindry hydruliczne. Ogólne wymgni i bdni

Bardziej szczegółowo

DZIAŁ 2. Figury geometryczne

DZIAŁ 2. Figury geometryczne 1 kl. 6, Scenriusz lekcji Pole powierzchni bryły DZAŁ 2. Figury geometryczne Temt w podręczniku: Pole powierzchni bryły Temt jest przeznczony do relizcji podczs 2 godzin lekcyjnych. Zostł zplnowny jko

Bardziej szczegółowo

Wymagania edukacyjne z matematyki FUNKCJE dopuszczającą dostateczną dobrą bardzo dobrą

Wymagania edukacyjne z matematyki FUNKCJE dopuszczającą dostateczną dobrą bardzo dobrą Wymgni edukcyjne z mtemtyki Kls IIC. Rok szkolny 013/014 Poziom podstwowy FUNKCJE Uczeń otrzymuje ocenę dopuszczjącą lub dostteczną, jeśli: rozpoznje przyporządkowni będące funkcjmi określ funkcję różnymi

Bardziej szczegółowo

Projekt Era inżyniera pewna lokata na przyszłość jest współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

Projekt Era inżyniera pewna lokata na przyszłość jest współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Mteriły dydktyczne n zjęci wyrównwcze z mtemtyki dl studentów pierwszego roku kierunku zmwinego Inżynieri i Gospodrk Wodn w rmch projektu Er inżynier pewn lokt n przyszłość Projekt Er inżynier pewn lokt

Bardziej szczegółowo

Wymagania edukacyjne z matematyki Klasa IIB. Rok szkolny 2013/2014 Poziom podstawowy

Wymagania edukacyjne z matematyki Klasa IIB. Rok szkolny 2013/2014 Poziom podstawowy Wymgni edukcyjne z mtemtyki Kls IIB. Rok szkolny 2013/2014 Poziom podstwowy FUNKCJA KWADRATOWA Uczeń otrzymuje ocenę dopuszczjącą lub dostteczną, jeśli: 2 rysuje wykres funkcji f ( ) i podje jej włsności

Bardziej szczegółowo

Szczegółowe wymagania edukacyjne z matematyki, klasa 2C, poziom podstawowy

Szczegółowe wymagania edukacyjne z matematyki, klasa 2C, poziom podstawowy Szczegółowe wymgni edukcyjne z mtemtyki, kls 2C, poziom podstwowy Wymgni konieczne () dotyczą zgdnieo elementrnych, stnowiących swego rodzju podstwę, ztem powinny byd opnowne przez kżdego uczni. Wymgni

Bardziej szczegółowo

Temat lekcji Zakres treści Osiągnięcia ucznia

Temat lekcji Zakres treści Osiągnięcia ucznia ln wynikowy kls 2c i 2e - Jolnt jąk Mtemtyk 2. dl liceum ogólnoksztłcącego, liceum profilownego i technikum. sztłcenie ogólne w zkresie podstwowym rok szkolny 2015/2016 Wymgni edukcyjne określjące oceny:

Bardziej szczegółowo

Realizacje zmiennych są niezależne, co sprawia, że ciąg jest ciągiem niezależnych zmiennych losowych,

Realizacje zmiennych są niezależne, co sprawia, że ciąg jest ciągiem niezależnych zmiennych losowych, Klsyczn Metod Njmniejszych Kwdrtów (KMNK) Postć ć modelu jest liniow względem prmetrów (lbo nleży dokonć doprowdzeni postci modelu do liniowości względem prmetrów), Zmienne objśnijące są wielkościmi nielosowymi,

Bardziej szczegółowo

2. Tensometria mechaniczna

2. Tensometria mechaniczna . Tensometri mechniczn Wstęp Tensometr jk wskzywłby jego nzw to urządzenie służące do pomiru nprężeń. Jk jednk widomo, nprężeni nie są wielkościmi mierzlnymi i stnowią jedynie brdzo wygodne pojęcie mechniki

Bardziej szczegółowo

Karta oceny merytorycznej wniosku o dofinansowanie projektu innowacyjnego testującego składanego w trybie konkursowym w ramach PO KL

Karta oceny merytorycznej wniosku o dofinansowanie projektu innowacyjnego testującego składanego w trybie konkursowym w ramach PO KL Złącznik nr 5 Krt oceny merytorycznej Krt oceny merytorycznej wniosku o dofinnsownie projektu innowcyjnego testującego skłdnego w trybie konkursowym w rmch PO KL NR WNIOSKU KSI: WND-POKL. INSTYTUCJA PRZYJMUJĄCA

Bardziej szczegółowo

2. Na ich rozwiązanie masz 90 minut. Piętnaście minut przed upływem tego czasu zostaniesz o tym poinformowany przez członka Komisji Konkursowej.

2. Na ich rozwiązanie masz 90 minut. Piętnaście minut przed upływem tego czasu zostaniesz o tym poinformowany przez członka Komisji Konkursowej. Kod uczni... MAŁOPOLSKI KONKURS MATEMATYCZNY dl uczniów gimnzjów Rok szkolny 03/0 ETAP SZKOLNY - 5 pździernik 03 roku. Przed Tobą zestw zdń konkursowych.. N ich rozwiąznie msz 90 minut. Piętnście minut

Bardziej szczegółowo

Projekt Era inżyniera pewna lokata na przyszłość jest współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

Projekt Era inżyniera pewna lokata na przyszłość jest współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Mteriły dydktyczne n zjęci wyrównwcze z mtemtyki dl studentów pierwszego roku kierunku zmwinego Inżynieri Środowisk w rmch projektu Er inżynier pewn lokt n przyszłość Projekt Er inżynier pewn lokt n przyszłość

Bardziej szczegółowo

Analiza obciążeń kratownicy obustronnie podpartej za pomocą oprogramowania ADINA-AUI 8.9 (900 węzłów)

Analiza obciążeń kratownicy obustronnie podpartej za pomocą oprogramowania ADINA-AUI 8.9 (900 węzłów) Politechnik Łódzk Wydził Technologii Mteriłowych i Wzornictw Tekstyliów Ktedr Mteriłoznwstw Towroznwstw i Metrologii Włókienniczej Anliz obciążeń krtownicy obustronnie podprtej z pomocą oprogrmowni ADINA-AUI

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWEK CIENKICH ZA POMOCĄ ŁAWY OPTYCZNEJ

WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWEK CIENKICH ZA POMOCĄ ŁAWY OPTYCZNEJ Ćwiczenie 9 WYZNACZANIE OGNISKOWEJ SOCZEWEK CIENKICH ZA POMOCĄ ŁAWY OPTYCZNEJ 9.. Opis teoretyczny Soczewką seryczną nzywmy przezroczystą bryłę ogrniczoną dwom powierzchnimi serycznymi o promienich R i

Bardziej szczegółowo

METODYKA OCENY WŁAŚCIWOŚCI SYSTEMU IDENTYFIKACJI PARAMETRYCZNEJ OBIEKTU BALISTYCZNEGO

METODYKA OCENY WŁAŚCIWOŚCI SYSTEMU IDENTYFIKACJI PARAMETRYCZNEJ OBIEKTU BALISTYCZNEGO MODELOWANIE INŻYNIERSKIE ISNN 1896-771X 32, s. 151-156, Gliwice 2006 METODYKA OCENY WŁAŚCIWOŚCI SYSTEMU IDENTYFIKACJI PARAMETRYCZNEJ OBIEKTU BALISTYCZNEGO JÓZEF GACEK LESZEK BARANOWSKI Instytut Elektromechniki,

Bardziej szczegółowo

MATURA 2014 z WSiP. Zasady oceniania zadań

MATURA 2014 z WSiP. Zasady oceniania zadań MATURA z WSiP Mtemtyk Poziom podstwowy Zsdy ocenini zdń Copyright by Wydwnictw Szkolne i Pedgogiczne sp. z o.o., Wrszw Krtotek testu Numer zdni 6 7 8 9 6 7 8 9 Uczeń: Sprwdzn umiejętność (z numerem stndrdu)

Bardziej szczegółowo

STYLE. TWORZENIE SPISÓW TREŚCI

STYLE. TWORZENIE SPISÓW TREŚCI STYLE. TWORZENIE SPISÓW TREŚCI Ćwiczenie 1 Tworzenie nowego stylu n bzie istniejącego 1. Formtujemy jeden kpit tekstu i zznczmy go (stnowi on wzorzec). 2. Wybiermy Nrzędzi główne, rozwijmy okno Style (lub

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA EDUKACYJNE NIEZBĘDNE DO UZYSKANIA POSZCZEGÓLNYCH ŚRÓDROCZNYCH I ROCZNYCH OCEN KLASYFIKACYJNYCH Z MATEMATYKI POZIOM PODSTAWOWY KLASA 2

WYMAGANIA EDUKACYJNE NIEZBĘDNE DO UZYSKANIA POSZCZEGÓLNYCH ŚRÓDROCZNYCH I ROCZNYCH OCEN KLASYFIKACYJNYCH Z MATEMATYKI POZIOM PODSTAWOWY KLASA 2 WYMAGANIA EDUKACYJNE NIEZBĘDNE DO UZYSKANIA POSZCZEGÓLNYCH ŚRÓDROCZNYCH I ROCZNYCH OCEN KLASYFIKACYJNYCH Z MATEMATYKI POZIOM PODSTAWOWY KLASA 2 1. SUMY ALGEBRAICZNE rozpoznje jednominy i sumy lgebriczne

Bardziej szczegółowo

TRANSCOMP XIV INTERNATIONAL CONFERENCE COMPUTER SYSTEMS AIDED SCIENCE, INDUSTRY AND TRANSPORT

TRANSCOMP XIV INTERNATIONAL CONFERENCE COMPUTER SYSTEMS AIDED SCIENCE, INDUSTRY AND TRANSPORT TRANSCOMP XIV INTRNATIONAL CONFRNC COMPUTR SYSTMS AIDD SCINC, INDUSTRY AND TRANSPORT Dignostyk, hmulce, pomiry drogowe trnsport, Andrzej GAJK Wojciech SZCZYPIŃSKI-SALA Piotr STRZĘPK 1 OCNA MTOD POMIARÓW

Bardziej szczegółowo

Projekt Era inżyniera pewna lokata na przyszłość jest współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

Projekt Era inżyniera pewna lokata na przyszłość jest współfinansowany przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Mteriły dydktyczne n zjęci wyrównwcze z mtemtyki dl studentów pierwszego roku kierunku zmwinego Biotechnologi w rmch projektu Er inżynier pewn lokt n przyszłość Projekt Er inżynier pewn lokt n przyszłość

Bardziej szczegółowo

symbol dodatkowy element graficzny kolorystyka typografia

symbol dodatkowy element graficzny kolorystyka typografia Identyfikcj wizuln Fundcji n rzecz Nuki Polskiej 1/00 Elementy podstwowe symbol dodtkowy element grficzny kolorystyk typogrfi Identyfikcj wizuln Fundcji n rzecz Nuki Polskiej 1/01 Elementy podstwowe /

Bardziej szczegółowo

PRÓBNA MATURA Z MATEMATYKI Z OPERONEM LISTOPAD ,0. 3x 6 6 3x 6 6,

PRÓBNA MATURA Z MATEMATYKI Z OPERONEM LISTOPAD ,0. 3x 6 6 3x 6 6, Zdnie PRÓBNA MATURA Z MATEMATYKI Z OPERONEM LISTOPAD 04 Zbiorem wszystkich rozwiązń nierówności x 6 6 jest: A, 4 0, B 4,0 C,0 4, D 0,4 Odpowiedź: C Rozwiąznie Sposób I Nierówność A 6 jest równowżn lterntywie

Bardziej szczegółowo

Przedmiotowy system oceniania z matematyki wraz z określeniem wymagań edukacyjnych (zakres podstawowy) Klasa II LO

Przedmiotowy system oceniania z matematyki wraz z określeniem wymagań edukacyjnych (zakres podstawowy) Klasa II LO I Postnowieni ogólne Przedmiotowy system ocenini z mtemtyki wrz z określeniem wymgń edukcyjnych (zkres podstwowy) Kls II LO 1. Wrunkiem uzyskni pozytywnej oceny semestrlnej z mtemtyki jest: ) zliczenie

Bardziej szczegółowo

Modelowanie sił skrawania występujących przy obróbce gniazd zaworowych

Modelowanie sił skrawania występujących przy obróbce gniazd zaworowych Scentfc Journls Mrtme Unversty of Szczecn Zeszyty ukowe Akdem Morsk w Szczecne 29, 7(89) pp. 63 67 29, 7(89) s. 63 67 Modelowne sł skrwn występujących przy obróbce gnzd zworowych Cuttng forces modelng

Bardziej szczegółowo

ROZPORZĄDZENIE MINISTRA INFRASTRUKTURY 1) z dnia 16 grudnia 2004 r.

ROZPORZĄDZENIE MINISTRA INFRASTRUKTURY 1) z dnia 16 grudnia 2004 r. Typ/orgn wydjący Rozporządzenie/Minister Infrstruktury Tytuł w sprwie szczegółowych wrunków i trybu wydwni zezwoleń n przejzdy pojzdów nienormtywnych Skrócony opis pojzdy nienormtywne Dt wydni 16 grudni

Bardziej szczegółowo

Grażyna Nowicka, Waldemar Nowicki BADANIE RÓWNOWAG KWASOWO-ZASADOWYCH W ROZTWORACH ELEKTROLITÓW AMFOTERYCZNYCH

Grażyna Nowicka, Waldemar Nowicki BADANIE RÓWNOWAG KWASOWO-ZASADOWYCH W ROZTWORACH ELEKTROLITÓW AMFOTERYCZNYCH Ćwiczenie Grżyn Nowick, Wldemr Nowicki BDNIE RÓWNOWG WSOWO-ZSDOWYC W ROZTWORC ELETROLITÓW MFOTERYCZNYC Zgdnieni: ktywność i współczynnik ktywności skłdnik roztworu. ktywność jonów i ktywność elektrolitu.

Bardziej szczegółowo

Wymagania edukacyjne z matematyki

Wymagania edukacyjne z matematyki Wymgni edukcyjne z mtemtyki LICEUM OGÓLNOKSZTAŁCĄCE Kls II Poniżej przedstwiony zostł podził wymgń edukcyjnych n poszczególne oceny. Wiedz i umiejętności konieczne do opnowni (K) to zgdnieni, które są

Bardziej szczegółowo

Sumy algebraiczne i funkcje wymierne

Sumy algebraiczne i funkcje wymierne Sumy lgebriczne i funkcje wymierne Moduł - dził -temt Zkres treści Sumy lgebriczne 1 definicj jednominu, sumy lgebricznej, wyrzów podobnych pojęcie współczynnik jednominu Dodwnie i odejmownie sum lgebricznych

Bardziej szczegółowo

WEKTORY skalary wektory W ogólnym przypadku, aby określić wektor, należy znać:

WEKTORY skalary wektory W ogólnym przypadku, aby określić wektor, należy znać: WEKTORY Wśród wielkości fizycznych występujących w fizyce możn wyróżnić sklry i wektory. Aby określić wielkość sklrną, wystrczy podć tylko jedną liczbę. Wielkościmi tkimi są ms, czs, tempertur, objętość

Bardziej szczegółowo

Wykład 2. Pojęcie całki niewłaściwej do rachunku prawdopodobieństwa

Wykład 2. Pojęcie całki niewłaściwej do rachunku prawdopodobieństwa Wykłd 2. Pojęcie cłki niewłściwej do rchunku prwdopodobieństw dr Mriusz Grządziel 4 mrc 24 Pole trpezu krzywoliniowego Przypomnienie: figurę ogrniczoną przez: wykres funkcji y = f(x), gdzie f jest funkcją

Bardziej szczegółowo

Wyrównanie sieci niwelacyjnej

Wyrównanie sieci niwelacyjnej 1. Wstęp Co to jest sieć niwelcyjn Po co ją się wyrównje Co chcemy osiągnąć 2. Metod pośrednicząc Wyrównnie sieci niwelcyjnej Metod pośrednicząc i metod grpow Mmy sieć skłdjącą się z szereg pnktów. Niektóre

Bardziej szczegółowo

Karta oceny merytorycznej wniosku o dofinansowanie projektu konkursowego PO KL 1

Karta oceny merytorycznej wniosku o dofinansowanie projektu konkursowego PO KL 1 Złącznik nr 3 Krt oceny merytorycznej wniosku o dofinnsownie projektu konkursowego PO KL Krt oceny merytorycznej wniosku o dofinnsownie projektu konkursowego PO KL 1 NR WNIOSKU KSI: POKL.05.02.01 00../..

Bardziej szczegółowo

MATEMATYKA KLASY I K i rozszerzonym WYMAGANIA EDUKACYJNE NIEZBĘDNE DO UZYSKANIA POSZCZEGÓLNYCH ŚRÓDROCZNYCH I ROCZNYCH OCEN KLASYFIKACYJNYCH

MATEMATYKA KLASY I K i rozszerzonym WYMAGANIA EDUKACYJNE NIEZBĘDNE DO UZYSKANIA POSZCZEGÓLNYCH ŚRÓDROCZNYCH I ROCZNYCH OCEN KLASYFIKACYJNYCH MATEMATYKA KLASY I K i rozszerzonym WYMAGANIA EDUKACYJNE NIEZBĘDNE DO UZYSKANIA POSZCZEGÓLNYCH ŚRÓDROCZNYCH I ROCZNYCH OCEN KLASYFIKACYJNYCH oprcowne n podstwie przedmiotowego systemu ocenini NOWEJ ERY

Bardziej szczegółowo

( ) Lista 2 / Granica i ciągłość funkcji ( z przykładowymi rozwiązaniami)

( ) Lista 2 / Granica i ciągłość funkcji ( z przykładowymi rozwiązaniami) List / Grnic i ciągłość funkcji ( z przykłdowymi rozwiąznimi) Korzystjąc z definicji grnicy (ciągowej) funkcji uzsdnić podne równości: sin ) ( + ) ; b) ; c) + 5 Obliczyć grnice funkcji przy orz : + ) f

Bardziej szczegółowo

Fizyka. Kurs przygotowawczy. na studia inżynierskie. mgr Kamila Haule

Fizyka. Kurs przygotowawczy. na studia inżynierskie. mgr Kamila Haule Fizyk Kurs przygotowwczy n studi inżynierskie mgr Kmil Hule Dzień 3 Lbortorium Pomir dlczego mierzymy? Pomir jest nieodłączną częścią nuki. Stopień znjomości rzeczy często wiąże się ze sposobem ich pomiru.

Bardziej szczegółowo

KONKURS MATEMATYCZNY dla uczniów gimnazjów w roku szkolnym 2012/13. Propozycja punktowania rozwiązań zadań

KONKURS MATEMATYCZNY dla uczniów gimnazjów w roku szkolnym 2012/13. Propozycja punktowania rozwiązań zadań KONKURS MATEMATYCZNY dl uczniów gimnzjów w roku szkolnym 0/ II etp zwodów (rejonowy) 0 listopd 0 r. Propozycj punktowni rozwiązń zdń Uwg: Z kżde poprwne rozwiąznie inne niż przewidzine w propozycji punktowni

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA I KRYTERIA OCENIANIA DO EGZAMINU POPRAWKOWEGO MATEMATYKA. Zakresie podstawowym i rozszerzonym. Klasa II rok szkolny 2011/2012

WYMAGANIA I KRYTERIA OCENIANIA DO EGZAMINU POPRAWKOWEGO MATEMATYKA. Zakresie podstawowym i rozszerzonym. Klasa II rok szkolny 2011/2012 mgr Jolnt Chlebd mgr Mri Mślnk mgr Leszek Mślnk mgr inż. Rent itl mgr inż. Henryk Stępniowski Zespół Szkół ondgimnzjlnych Młopolsk Szkoł Gościnności w Myślenicch WYMAGANIA I RYTERIA OCENIANIA DO EGZAMINU

Bardziej szczegółowo

OSTROSŁUPY. Ostrosłupy

OSTROSŁUPY. Ostrosłupy .. OSTROSŁUPY Ostrosłupy ścin boczn - trójkąt podstw ostrosłup - dowolny wielokąt Wysokość ostrosłup odcinek łączący wierzcołek ostrosłup z płszczyzną podstwy, prostopdły do podstwy Czworościn - ostrosłup

Bardziej szczegółowo

mgh. Praca ta jest zmagazynowana w postaci energii potencjalnej,

mgh. Praca ta jest zmagazynowana w postaci energii potencjalnej, Wykłd z fizyki. Piot Posmykiewicz 49 6-4 Enegi potencjln Cłkowit pc wykonn nd punktem mteilnym jest ówn zminie jego enegii kinetycznej. Często jednk, jesteśmy zinteesowni znlezieniem pcy jką sił wykonł

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA. - Jak rozwiązywać zadania wysoko punktowane?

INSTRUKCJA. - Jak rozwiązywać zadania wysoko punktowane? INSTRUKCJA - Jk rozwiązywć zdni wysoko punktowne? Mturzysto! Zdni wysoko punktowne to tkie, z które możesz zdobyć 4 lub więcej punktów. Zdni z dużą ilość punktów nie zwsze są trudniejsze, często ich punktcj

Bardziej szczegółowo

1 Definicja całki oznaczonej

1 Definicja całki oznaczonej Definicj cłki oznczonej Niech dn będzie funkcj y = g(x) ciągł w przedzile [, b]. Przedził [, b] podzielimy n n podprzedziłów punktmi = x < x < x

Bardziej szczegółowo

Wymagania edukacyjne na poszczególne oceny z matematyki w klasie II poziom rozszerzony

Wymagania edukacyjne na poszczególne oceny z matematyki w klasie II poziom rozszerzony Wymgni edukcyjne n poszczególne oceny z mtemtyki w klsie II poziom rozszerzony N ocenę dopuszczjącą, uczeń: rysuje wykres funkcji f ( x) x i podje jej włsności; sprwdz lgebricznie, czy dny punkt nleży

Bardziej szczegółowo

Przedmiotowy system oceniania z matematyki wraz z określeniem wymagań edukacyjnych (zakres podstawowy) Klasa II TAK

Przedmiotowy system oceniania z matematyki wraz z określeniem wymagań edukacyjnych (zakres podstawowy) Klasa II TAK I Postnowieni ogólne Przedmiotowy system ocenini z mtemtyki wrz z określeniem wymgń edukcyjnych (zkres podstwowy) Kls II TAK 1. Wrunkiem uzyskni pozytywnej oceny semestrlnej z mtemtyki jest: ) zliczenie

Bardziej szczegółowo

WPŁYW WILGOTNOŚCI NA SZTYWNOŚCIOWE TŁUMIENIE DRGAŃ KONSTRUKCJI DREWNIANYCH

WPŁYW WILGOTNOŚCI NA SZTYWNOŚCIOWE TŁUMIENIE DRGAŃ KONSTRUKCJI DREWNIANYCH 95 ROCZNII INŻYNIERII BUDOWLANEJ ZESZYT 3/03 omisj Inżynierii Budowlnej Oddził Polskiej Akdemii Nuk w towicch WPŁYW WILGOTNOŚCI NA SZTYWNOŚCIOWE TŁUMIENIE DRGAŃ ONSTRUCJI DREWNIANYCH mil PAWLI, Zbigniew

Bardziej szczegółowo

Podstawy układów logicznych

Podstawy układów logicznych Podstwy ukłdów logicznych Prw logiki /9 Alger Boole Prw logiki WyrŜeni i funkcje logiczne Brmki logiczne Alger Boole /9 Alger Boole' Powszechnie stosowne ukłdy cyfrowe (logiczne) prcują w oprciu o tzw.

Bardziej szczegółowo

Wymagania na poszczególne oceny z matematyki w Zespole Szkół im. St. Staszica w Pile. Kl. II poziom podstawowy

Wymagania na poszczególne oceny z matematyki w Zespole Szkół im. St. Staszica w Pile. Kl. II poziom podstawowy Wymgni n poszczególne oceny z mtemtyki w Zespole Szkół im. St. Stszic w Pile 1. SUMY ALGEBRAICZNE Kl. II poziom podstwowy Uczeń otrzymuje ocenę dopuszczjącą, jeśli: rozpoznje jednominy i sumy lgebriczne

Bardziej szczegółowo

Klucz odpowiedzi do zadań zamkniętych i schemat oceniania zadań otwartych

Klucz odpowiedzi do zadań zamkniętych i schemat oceniania zadań otwartych Klucz odpowiedzi do zdń zmkniętc i scemt ocenini zdń otwrtc Klucz odpowiedzi do zdń zmkniętc 4 7 9 0 4 7 9 0 D D D Scemt ocenini zdń otwrtc Zdnie (pkt) Rozwiąż nierówność x x 0 Oliczm wróżnik i miejsc

Bardziej szczegółowo

KRYTERIA OCENIANIA TECHNOLOGIA NAPRAW ZESPOŁÓW I PODZESPOŁÓW MECHANICZNYCH POJAZDÓW SAMOCHODOWYCH KLASA I TPS

KRYTERIA OCENIANIA TECHNOLOGIA NAPRAW ZESPOŁÓW I PODZESPOŁÓW MECHANICZNYCH POJAZDÓW SAMOCHODOWYCH KLASA I TPS KRYTRIA OCNIANIA TCHNOLOGIA NAPRAW ZSPOŁÓW I PODZSPOŁÓW MCHANICZNYCH POJAZDÓW SAMOCHODOWYCH KLASA I TPS Temt Klsyfikcj i identyfikcj pojzdów smochodowych Zgdnieni - Rodzje ukłdów, - Zdni i ogóln budow

Bardziej szczegółowo

f(x)dx (1.7) b f(x)dx = F (x) = F (b) F (a) (1.2)

f(x)dx (1.7) b f(x)dx = F (x) = F (b) F (a) (1.2) Cłk oznczon Cłkę oznczoną będziemy zpisywli jko f(x)dx (.) z fnkcji f(x), któr jest ogrniczon w przedzile domkniętym [, b]. Jk obliczyć cłkę oznczoną? Obliczmy njpierw cłkę nieoznczoną z fnkcji f(x), co

Bardziej szczegółowo

Przedmiotowy system oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych klasa druga zakres podstawowy

Przedmiotowy system oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych klasa druga zakres podstawowy Przedmiotowy system ocenini wrz z określeniem wymgń edukcyjnych kls drug zkres podstwowy Wymgni konieczne (K) dotyczą zgdnień elementrnych, stnowiących swego rodzju podstwę, ztem powinny być opnowne przez

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA GDAŃSKA Wydział Elektrotechniki i Automatyki Katedra Energoelektroniki i Maszyn Elektrycznych M O D E L O W A N I E I S Y M U L A C J A

POLITECHNIKA GDAŃSKA Wydział Elektrotechniki i Automatyki Katedra Energoelektroniki i Maszyn Elektrycznych M O D E L O W A N I E I S Y M U L A C J A POLTECHNKA GDAŃSKA Wydził Elektrotechniki i Automtyki Ktedr Energoelektroniki i Mszyn Elektrycznych M O D E L O W A N E S Y M U L A C J A S Y S T E M Ó W M E C H A T O N K Kierunek Automtyk i obotyk Studi

Bardziej szczegółowo

ZADANIA Z ZAKRESU SZKOŁY PODSTAWOWEJ, GIMNAZJUM I SZKOŁY ŚREDNIEJ

ZADANIA Z ZAKRESU SZKOŁY PODSTAWOWEJ, GIMNAZJUM I SZKOŁY ŚREDNIEJ ZADANIA Z ZAKRESU SZKOŁY PODSTAWOWEJ, GIMNAZJUM I SZKOŁY ŚREDNIEJ Nrsowć wkres funkji: f() = + Nrsowć wkres funkji: f() = + Nrsowć wkres funkji: f() = + + Dl jkih wrtośi A, B zhodzi równość: + +5+6 = A

Bardziej szczegółowo

temperatura

temperatura tempertur 2.3 3.3 Rys. 9. Przestrzenny rozkłd dnych: powierzchni geosttystyczn (rozkłd tempertury powierzchni morz zrejestrowny przez stelitę jest rezulttem dziłni prw fizyki; powierzchni sttystyczn (zwierjąc

Bardziej szczegółowo

Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej

Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej Akdemi órniczo-hutnicz im. Stnisłw Stszic w Krkowie Wydził Elektrotechniki, Automtyki, Informtyki i Inżynierii Biomedycznej Ktedr Elektrotechniki i Elektroenergetyki Rozprw Doktorsk Numeryczne lgorytmy

Bardziej szczegółowo

MATEMATYKA Przedmiotowy system oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych z przedmiotu matematyka w PLO nr VI w Opolu

MATEMATYKA Przedmiotowy system oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych z przedmiotu matematyka w PLO nr VI w Opolu MATEMATYKA Przedmiotowy system ocenini wrz z określeniem wymgń edukcyjnych z przedmiotu mtemtyk w PLO nr VI w Opolu Zkres podstwowy WyróŜnione zostły nstępujące wymgni progrmowe: konieczne (K), podstwowe

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA I KRYTERIA OCENIANIA Z MATEMATYKI W 3 LETNIM LICEUM OGÓLNOKSZTAŁCĄCYM

WYMAGANIA I KRYTERIA OCENIANIA Z MATEMATYKI W 3 LETNIM LICEUM OGÓLNOKSZTAŁCĄCYM WYMAGANIA I KRYTERIA OCENIANIA Z MATEMATYKI W 3 LETNIM LICEUM OGÓLNOKSZTAŁCĄCYM Kls drug A, B, C, D, E, G, H zkres podstwowy 1. FUNKCJA LINIOWA rozpoznje funkcję liniową n podstwie wzoru lub wykresu rysuje

Bardziej szczegółowo

Prace Koła Matematyków Uniwersytetu Pedagogicznego w Krakowie (2014)

Prace Koła Matematyków Uniwersytetu Pedagogicznego w Krakowie (2014) Prce Koł Mt. Uniw. Ped. w Krk. 1 014), 1-5 edgogicznego w Krkowie PKoło Mtemtyków Uniwersytetu Prce Koł Mtemtyków Uniwersytetu Pedgogicznego w Krkowie 014) Bet Gwron 1 Kwdrtury Newton Cotes Streszczenie.

Bardziej szczegółowo

Analiza matematyczna v.1.6 egzamin mgr inf niestacj 1. x p. , przy założeniu, że istnieją lim

Analiza matematyczna v.1.6 egzamin mgr inf niestacj 1. x p. , przy założeniu, że istnieją lim Anliz mtemtyczn v..6 egzmin mgr inf niestcj Oznczeni: f, g, h : J R funkcje rzeczywiste określone n J R J przedził, b),, b], [, b), [, b], półprost, b),, b],, ), [, ) lub prost R α, β [min{α, β}, m{α,

Bardziej szczegółowo

MODELOWANIE CHARAKTERYSTYK RDZENI FERROMAGNETYCZNYCH

MODELOWANIE CHARAKTERYSTYK RDZENI FERROMAGNETYCZNYCH Krzysztof Górecki Akdemi orsk w Gdyni Klin Detk Pomorsk Wyższ Szkoł Nuk Stosownych w Gdyni ODELOWANIE CHARAKTERYSTYK RDZENI FERROAGNETYCZNYCH Artykuł dotyczy modelowni chrkterystyk rdzeni ferromgnetycznych.

Bardziej szczegółowo

POMIAR MODUŁU SPRĘŻYSTOŚCI STALI PRZEZ POMIAR WYDŁUŻENIA DRUTU

POMIAR MODUŁU SPRĘŻYSTOŚCI STALI PRZEZ POMIAR WYDŁUŻENIA DRUTU POMIAR MODUŁU SPRĘŻYSTOŚCI STALI PRZEZ POMIAR WYDŁUŻENIA DRUTU I. Cel ćwiczeni: zpoznnie z teorią odksztłceń sprężystych cił stłych orz z prwem Hooke.Wyzncznie modułu sprężystości (modułu Young) metodą

Bardziej szczegółowo

CHARAKTERYSTYKA TEKSTURY WYBRANYCH MIKSÓW TŁUSZCZOWYCH. Ewa Jakubczyk, Ewa Gondek, Karolina Samborska

CHARAKTERYSTYKA TEKSTURY WYBRANYCH MIKSÓW TŁUSZCZOWYCH. Ewa Jakubczyk, Ewa Gondek, Karolina Samborska Zeszyty Problemowe Postępów Nuk Rolniczych nr 579, 214, 17 26 CHRKTERYSTYK TEKSTURY WYBRNYCH MIKSÓW TŁUSZCZOWYCH Ew Jkubczyk, Ew Gondek, Krolin Smborsk Szkoł Główn Gospodrstw Wiejskiego w Wrszwie Streszczenie.

Bardziej szczegółowo

Materiały pomocnicze do ćwiczeń z przedmiotu: Ogrzewnictwo, wentylacja i klimatyzacja II. Klimatyzacja

Materiały pomocnicze do ćwiczeń z przedmiotu: Ogrzewnictwo, wentylacja i klimatyzacja II. Klimatyzacja Mteriły pomocnicze do ćwiczeń z przedmiotu: Orzewnictwo, wentylcj i klimtyzcj II. Klimtyzcj Rozdził 1 Podstwowe włsności powietrz jko nośnik ciepł mr inż. Anieszk Sdłowsk-Słę Mteriły pomocnicze do klimtyzcji.

Bardziej szczegółowo

Wektor kolumnowy m wymiarowy macierz prostokątna o wymiarze n=1 Wektor wierszowy n wymiarowy macierz prostokątna o wymiarze m=1

Wektor kolumnowy m wymiarowy macierz prostokątna o wymiarze n=1 Wektor wierszowy n wymiarowy macierz prostokątna o wymiarze m=1 Rchunek mcierzowy Mcierzą A nzywmy funkcję 2-zmiennych, któr prze liczb nturlnych (i,j) gdzie i = 1,2,3,4.,m; j = 1,2,3,4,n przyporządkowuje dokłdnie jeden element ij. 11 21 A = m1 12 22 m2 1n 2n mn Wymirem

Bardziej szczegółowo

Dorota Ponczek, Karolina Wej. MATeMAtyka 2. Propozycja przedmiotowego systemu oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych.

Dorota Ponczek, Karolina Wej. MATeMAtyka 2. Propozycja przedmiotowego systemu oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych. Dorot Ponczek, Krolin Wej MATeMAtyk 2 Propozycj przedmiotowego systemu ocenini wrz z określeniem wymgń edukcyjnych Zkres podstwowy MATeMAtyk 2. Propozycj przedmiotowego systemu ocenini. ZP Wyróżnione zostły

Bardziej szczegółowo

system identyfikacji wizualnej forma podstawowa karta A03 część A znak marki

system identyfikacji wizualnej forma podstawowa karta A03 część A znak marki krt A03 część A znk mrki form podstwow Znk mrki Portu Lotniczego Olsztyn-Mzury stnowi połączenie znku grficznego (tzw. logo) z zpisem grficznym (tzw. logotypem). Służy do projektowni elementów symboliki

Bardziej szczegółowo

Rozwiązywanie zadań z dynamicznego ruchu płaskiego część I 9

Rozwiązywanie zadań z dynamicznego ruchu płaskiego część I 9 ozwiązywnie zdń z dyniczneo ruchu płskieo część I 9 Wprowdzenie ozwiązywnie zdń w oprciu o dyniczne równni ruchu (D pole n uwolnieniu z więzów kżdeo z cił w sposób znny ze sttyki. Wrunki równowi są zbliżone

Bardziej szczegółowo

OCHRONA PRZECIWPOśAROWA TABORU KOLEJOWEGO WYMAGANIA PRZECIWPOśAROWE DLA MATERIAŁÓW I KOMPONENTÓW

OCHRONA PRZECIWPOśAROWA TABORU KOLEJOWEGO WYMAGANIA PRZECIWPOśAROWE DLA MATERIAŁÓW I KOMPONENTÓW Ktedr Technicznego Zbezpieczeni Okrętów Lbortorium Bdń Cech PoŜrowych Mteriłów OCHRONA PRZECIWPOśAROWA TABORU KOLEJOWEGO WYMAGANIA PRZECIWPOśAROWE DLA MATERIAŁÓW I KOMPONENTÓW Metody bdń 1 pren 45545-2:

Bardziej szczegółowo

Katalog wymagań programowych na poszczególne stopnie szkolne. Matematyka. Poznać, zrozumieć

Katalog wymagań programowych na poszczególne stopnie szkolne. Matematyka. Poznać, zrozumieć Ktlog wymgń progrmowych n poszczególne stopnie szkolne Mtemtyk. Poznć, zrozumieć Ksztłcenie w zkresie podstwowym. Kls 2 Poniżej podjemy umiejętności, jkie powinien zdobyć uczeń z kżdego dziłu, by uzyskć

Bardziej szczegółowo

BUDOWNICTWO ZIEMNE ćwiczenia projektowe

BUDOWNICTWO ZIEMNE ćwiczenia projektowe Instytut Geologii, Uniwersytet im. A. Mickiewicz w Poznniu BUDOWNICTWO OGÓLNE z ELEMENTAMI MATERIAŁOZNAWSTWA cz.3 BUDOWNICTWO ZIEMNE ćwiczeni projektowe http://pgiig.home.mu.edu.pl/mterily-dl-studentow/

Bardziej szczegółowo

SZTUCZNA INTELIGENCJA

SZTUCZNA INTELIGENCJA SZTUCZNA INTELIGENCJA WYKŁAD 9. ZBIORY ROZMYTE Częstochow 204 Dr hb. inż. Grzegorz Dudek Wydził Elektryczny Politechnik Częstochowsk ZBIORY ROZMYTE Klsyczne pojęcie zbioru związne jest z logiką dwuwrtościową

Bardziej szczegółowo

WYMAGANIA NA OCENĘ DOPUSZCZAJĄCĄ DLA UCZNIÓW KLASY Ia TECHNIKUM

WYMAGANIA NA OCENĘ DOPUSZCZAJĄCĄ DLA UCZNIÓW KLASY Ia TECHNIKUM WYMAGANIA NA OCENĘ DOPUSZCZAJĄCĄ DLA UCZNIÓW KLASY I TECHNIKUM Egzmin poprwkowy n ocenę dopuszczjącą będzie obejmowł zdni zgodne z poniższymi wymgnimi n ocenę dopuszczjącą. Egzmin poprwkowy n wyższą ocenę

Bardziej szczegółowo

WEKTORY skalary wektory W ogólnym przypadku, aby określić wektor, należy znać:

WEKTORY skalary wektory W ogólnym przypadku, aby określić wektor, należy znać: WEKTORY Wśród wielkości fizycznych występujących w fizyce możn wyróżnić sklry i wektory. Aby określić wielkość sklrną, wystrczy podć tylko jedną liczbę. Wielkościmi tkimi są ms, czs, tempertur, objętość

Bardziej szczegółowo

CAŁKA OZNACZONA JAKO SUMA SZEREGU

CAŁKA OZNACZONA JAKO SUMA SZEREGU CAŁKA OZNACZONA JAKO SUMA SZEREGU Rozwżmy funkcję ciągłą x f(x) o wrtościch nieujemnych określoną n przedzile [, b]. Ustlmy [będzie to problem sttystyczny polegjący n dokłdnym sprecyzowniu informcji o

Bardziej szczegółowo

Maciej Grzesiak. Iloczyn skalarny. 1. Iloczyn skalarny wektorów na płaszczyźnie i w przestrzeni. a b = a b cos ϕ. j) (b x. i + b y

Maciej Grzesiak. Iloczyn skalarny. 1. Iloczyn skalarny wektorów na płaszczyźnie i w przestrzeni. a b = a b cos ϕ. j) (b x. i + b y Mciej Grzesik Iloczyn sklrny. Iloczyn sklrny wektorów n płszczyźnie i w przestrzeni Iloczyn sklrny wektorów i b określmy jko b = b cos ϕ. Bezpośrednio z definicji iloczynu sklrnego mmy, że i i = j j =

Bardziej szczegółowo

Dorota Ponczek, Karolina Wej. MATeMAtyka 2. Propozycja przedmiotowego systemu oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych.

Dorota Ponczek, Karolina Wej. MATeMAtyka 2. Propozycja przedmiotowego systemu oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych. Dorot Ponczek, Krolin Wej MATeMAtyk 2 Propozycj przedmiotowego systemu ocenini wrz z określeniem wymgń edukcyjnych Zkres podstwowy Wyróżnione zostły nstępujące wymgni progrmowe: konieczne (K), podstwowe

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 3 do PSO z matematyki

Załącznik nr 3 do PSO z matematyki Złącznik nr 3 do PSO z mtemtyki Wymgni n poszczególne oceny szkolne z mtemtyki n poziomie podstwowym Chrkterystyk wymgń n poszczególne oceny: Wymgni n ocenę dopuszczjącą dotyczą zgdnień elementrnych, stnowiących

Bardziej szczegółowo

Komisja Egzaminacyjna dla Aktuariuszy LIX Egzamin dla Aktuariuszy z 12 marca 2012 r. Część I Matematyka finansowa

Komisja Egzaminacyjna dla Aktuariuszy LIX Egzamin dla Aktuariuszy z 12 marca 2012 r. Część I Matematyka finansowa Mtemtyk finnsow 12.03.2012 r. Komisj Egzmincyjn dl Akturiuszy LIX Egzmin dl Akturiuszy z 12 mrc 2012 r. Część I Mtemtyk finnsow WERSJA TESTU A Imię i nzwisko osoby egzminownej:... Czs egzminu: 100 minut

Bardziej szczegółowo