4. Przetwarzanie analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "4. Przetwarzanie analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe"

Transkrypt

1 4. Przetwarzaie aalogowo-cyfrowe i cyfrowo-aalogowe We współczesych systemach pomiarowych iemal zawsze w torze pomiarowym występują urządzeia cyfrowe (p. mikrokotroler, sterowik PLC, komputer PC), które wymagają dostosowaia postaci sygałów wejściowych do wymagań tych urządzeń. W sytuacji gdy w układzie pomiarowym występują sygały aalogowe (opisae fukcją ciągła, które rejestruje się jako zmiea zależa od czasu., p.: jako sygały wyjściowe z czujików, to iezbęde jest przetworzeie sygału aalogowego do postaci cyfrowej jako ciąg bitów. Przetwarzaie realizują przetworiki aalogowo-cyfrowe. Sam proces przetwarzaia sygału składa się z trzech operacji: próbkowaia, kwatowaia i kodowaia. Sygał aalogowy po procesie próbkowaia staje się sygałem dyskretym, a po procesie kwatowaia sygałem cyfrowym o skończoej liczbie poziomów (rys. 4.1), atomiast w procesie kodowaia każdemu z tych poziomów jest przypisae słowo biare. Rys Próbkowaie sygału: a) sygał aalogowy, b) impulsy próbkujace, c) sygał spróbkoway, d) sygał po wyjściu z układu próbkująco-pamiętającego [33] 4.1. Próbkowaie Próbkowaie sygału realizuje układ próbkujący. Okres próbkowaia, rozumiay jako czas pomiędzy pobieraiem poszczególych próbek jest zwykle stały z uwagi a prostszą budowę układu próbkującego i prostsze algorytmy przetwarzaia sygału. 71

2 Nie bez zaczeia jest też krótszy czas przesyłu sygału. Zmiee okresy próbkowaia stosuje się w układach pomiarowych bardziej złożoych, które dostosowują okres próbkowaia w zależości od dyamiki wielkości mierzoej. W praktyce pomiarowej rówie często używa się, jako parametru opisującego, odwrotości okresu próbkowaia czyli częstotliwości próbkowaia. Rys. 4.. Zmiay sygału w zależości od częstotliwości próbkowaia Próbkowaie jest zastąpieiem ciągłej fukcji przez zbiór wartości pobraych w odstępach czasu rówych okresowi. Z puktu widzeia użytkowika istotym parametrem jest właściwy dobór częstotliwości próbkowaia tak aby, z jedej stroy, możliwe było iezakłócoe odtworzeie sygału mierzoego a z drugiej stroy ograiczeie ilości pobieraych daych i ie zwiększaie wymagań (odośie szybkości działaia) w stosuku do układu przetwarzającego. Sygał pomiarowy powiie być tym szybciej próbkoway, im szybciej ulega zmiaom, tz. im wyższe składowe częstotliwościowe zawiera (rys. 4.). Twierdzeie o próbkowaiu, zwae rówież twierdzeiem Shaoa-Kotielikowa, określa częstotliwość próbkowaia sygału ściśle dolopasmowego, którego widmo jest ograiczoe do częstotliwości ω g. W myśl tego twierdzeia, częstotliwość próbkowaia ω s musi być co ajmiej dwa razy większa od maksymalej pulsacji ω g zawartej w widmie sygału ciągłego, aby sygał moża było odtworzyć z sygału próbkowaego. Maksymala dopuszczala w widmie sygału ciągłego pulsacja ω g / osi azwę pulsacji Nyquista. ωs ω g (4.1) 7

3 W przypadku zastosowaia częstotliwości próbkowaia ω s ie spełiającej powyższego waruku, odtworzeie tak spróbkowaego sygału aalogowego daje ziekształcoy obraz. Pojawiaie się zakłóceń spowodowaych zbyt małą częstotliwością próbkowaia azywa się aliasigiem lub akładaiem widm, co obrazuje istotę problemu: proces modulacji sygału próbkowaego z częstotliwością ω s (w ujęciu teorii sygałów operacja próbkowaia jest rówoważa modulacji amplitudy) powoduje przesuwaie orygialego widma o ω s, ω s, 3ω s (oprócz widma w orygialym położeiu). Gdy częstotliwość próbkowaia ω s jest zbyt mała (ie spełia waruku (4.1)), część widma, która zawiera się wokół częstotliwości próbkowaia ω s ałoży się a widmo orygiale dając wspomiae wcześie zakłóceia (rys. 4.3). Nakładaie się widm (zjawisko aliasigu) wyelimiować moża poprzez przyjęcie odpowiedio dużej częstotliwości próbkowaia oraz filtrację sygału aalogowego przed próbkowaiem, aby ograiczyć jego widmo do częstotliwości ω s /. Filtracja sygału przed próbkowaiem pozwala a elimiację zakłóceń o częstotliwości wyższej iż częstotliwość Nyquista. Należy dodać, że sama filtracja cyfrowa ie zapobiega zjawisku aliasigu gdyż zjawisko to pojawia się a etapie wcześiejszym, tj. próbkowaiu. W praktyce zawsze występują resztkowe akładaia się widm, które spowodowae są przez szum, ieidealą wstępą filtrację oraz składowe sygału o wyższej częstotliwości. Efekt te moża zredukować zwiększając częstotliwość próbkowaia, p.: do wartości ieco większej iż (4.1): ω, 5 (4.) s ω g Rys Widmo sygału, jego powieleie oraz akładaie się widm (aliasig) przy zbyt małej częstotliwości próbkowaia Przetwarzaie sygałów szybkozmieych wymaga stosowaia wyższych częstotliwości próbkowaia, co przy uwzględieiu czasu apertury (oko czasowe w czasie wykoywaia pomiaru powodujące iepewość amplitudy w przypadku 73

4 zmiay sygału w trakcie pomiaru) powoduje, że korzyste jest zastosowaie układu próbkujaco-pamiętajacego S/H (ag. Sample ad Hold), który realizoway jest w postaci klucza (przełączika) i kodesatora o małej upływości (rys. 4.4). Klucz doprowadza po przełączeiu próbkowae apięcie do kodesatora, który ma za zadaie utrzymać poziom sygału do końca procesu kwatyzacji, który jest zwykle dłuższy. Ważymi parametrami układu próbkujaco-pamiętającego są: czas przyjęcia próbki (czas od początku impulsu próbkującego do ustaleia się wartości apięcia wyjściowego rówej wartości apięcia wejściowego) oraz szybkość spadku apięcia pamiętaego (wyika z rozładowaia kodesatora). Rys Schemat ideowy układu próbkujaco-pamiętajacego [34] 4.. Kwatowaie Kwatowaie polega a przypisaiu każdej pobraej próbce wartości ze skończoego zbioru o liczości N, gdzie N jest liczbą poziomów (wartości) a jakie podzieloo zakres przetwarzaia przetworika. Zakres przetwarzaia dzieli się a N przedziałów o szerokości zwaej kwatem Q, który jest ajmiejszą różicą sygału aalogowego rozróżialą przez układ kwatowaia (rys. 4.5). Rys Charakterystyka układu kwatującego [33] 74

5 Nieuikioym skutkiem takiego podziału jest błąd kwatowaia (azyway rówież błędem dyskretyzacji). Określa o różice pomiędzy wyikiem kwatowaia (wartość cyfrowa) a wartością aalogową wielkości mierzoej. Przy jedakowej szerokości przedziałów kwatowaia rówej kwatowi błąd kwatowaia zmieia się okresowo od 0 do Q z okresem Q. Przyjęcie ierówomierego podziału zakresu przetwarzaia, gdzie pierwszy i ostati przedział mają szerokość rówą Q/ a pozostałe szerokość q, powoduje, że błąd kwatowaia zmieia się okresowo od -Q/ do Q/ z okresem Q. Przetworiki A/C mają ajczęściej właśie taki ierówomiery podział zakresu przetwarzaia z miejszym błędem kwatowaia. Błąd kwatowaia traktoway jako zakłóceie bywa azyway szumem kwatowaia Kodowaie sygałów Komuikacja przetworików A/C i C/A z elemetami systemu cyfrowego wymaga użycia odpowiediego kodu. Z szerokiej gamy kodów w praktyce stosowae są tylko iektóre z ich: zwykły biary, kod dwójkowy przesuięty, kod uzupełień do dwóch, kod dziesięty z zapisem dwójkowym (BCD). Kodowaie jest przyporządkowaiem cyfrowych stów poszczególym poziomom kwatowaia. Naturaly kod dwójkowy (biary) przedstawia liczby z przedziału (0-FS) w postaci: 1 ( 1) N = FS ( a + a a + a ) 1 1 (4.3) Bit pierwszy z lewej a 1 jest bitem ajbardziej zaczącym (MSB ag. Most Sigificat Bit) o wadze rówej ½FS. Bit pierwszy z prawej a jest bitem ajmiej zaczącym (LSB ag. Least Sigificat Bit) o wadze rówej - FS. FS 1 LSB = (4.4) Słowo kodowe złożoe z samych jedyek ie odpowiada wartości pełego zakresu przetwarzaia FS, lecz wartości miejszej o wagę LSB tz. (1- - )FS, p.: dla: =1, i zakresu FS=0-10 V, zapis: N= , odpowiada wartości apięcia U = (1- -1 )10 V =9,99756 V. W przetworikach bipolarych występuje koieczość zapisu zaku i kodowaia liczb ujemych. W tym celu stosuje się ajczęściej jede z trzech astępujących sposobów: - przesuięty kod dwójkowy, - zapis uzupełieiowy do dwóch, 75

6 - zapis zak - moduł. W kodzie dwójkowym z przesuięciem kodowaie jest realizowae jak w kodzie aturalym przy przesuiętym o połowę zakresie przetwarzaia, czyli o wartość MSB. Kod uzupełieiowy do dwóch charakteryzuje astępująca właściwość: suma dwóch słów kodowych, odpowiadających idetyczym co do modułu wartościom aalogowym ale o różych zakach, wyosi zero (plus przeiesieie), p.: 0,5FS = 0010 (4.5) 0,5FS = 1110 suma = Różica pomiędzy kodem uzupełieiowym a kodem dwójkowym przesuiętym ograicza się do zaegowaia ajbardziej zaczącego bitu (MSB), gdzie bit te jest bitem zaku. Kody BCD są ajczęściej stosowae w przetworikach współpracujących z mierikami cyfrowymi. Liczba dziesięta przedstawiaa jest przy pomocy 4 bitów i dla ajmiej zaczącego bitu LSB wyosi: LSB = q = FS d 10 (4.6) i dla zakresu pomiarowego FS=5 V i liczbie cyfr dziesiętych d=3 wartość LSB=0,01 V, a w zapis w kodzie BCD: Parametry przetworików A/C i C/A Podstawowymi parametrami przetworików A/C i C/A są: 1. Zakres przetwarzaia FS.. Rozdzielczość - liczba staów cyfrowych: określaa liczbą bitów cyfrowego słowa WY/WE: U FS FS = = N r = Q (4.7) 3. Dokładość przetworika - błąd bezwzględy: lub względy: U = U U (4.8) b rz ideal 76

7 U δ = b FS (4.9) Dokładość będąca maksymalą sumą wszystkich błędów przetworika jest zawsze gorsza od jego rozdzielczości: U > (4.10) b U r 4. Częstotliwość przetwarzaia - liczba okresów przetwarzaia a sekudę podawaa w próbkach a sekudę (SPS ag. samples per secod). 5. Stosuek sygału do szumu SNR. 6. Czas ustalaia (dla przetworików C/A) - czas od chwili zmiay sygału a wejściu do ustaleia się sygału a wyjściu z dokładości rówą 0,5Q. Błędy przetworików to przede wszystkim: 1) błąd ieliiowości całkowej INL (ag. Itegral No Liearity, rys. 4.6), ) błąd ieliiowości różiczkowej DNL (ag. Differetial No-Liearity, rys. 4.6), 3) błąd przesuięcia U 0, 4) błąd wzmocieia k. Rys Błędy ieliiowości całkowej ( INL) i różiczkowej (DNL) przetworika C/A [8] 4.5. Przetworiki aalogowo-cyfrowe (A/C) Przetworiki aalogowo-cyfrowe (ag. Aalog to Digital Coverter - ADC) służą do zamiay wielkości mierzoej o charakterze ciągłym a wielkość dyskretą. Stosowae są róże metody przetwarzaia A/C wartości apięcia: bezpośredie (porówawcze), które formują sygał cyfrowy a podstawie wyiku porówaia apięcia przetwarzaego z wzorcowym oraz pośredie (przetworzeiowoporówawcze), które formują wyik cyfrowy dwustopiowo, przekształcając ajpierw 77

8 apięcie a wielkość pomociczą (p.: czas, częstotliwość), a potem wielkość tą przetwarzają a sygał cyfrowy. Do bezpośredich metod całkowaia ależą metody różicowe (bezpośrediego porówaia): - przetwarzaia rówoległego, - przetwarzaia szeregowo rówoległego oraz metody kompesacyje: - kompesacji rówomierej, - kompesacji wagowej, - kompesacji wieloprzebiegowej. Wśród metod pośredich moża wyróżić metody czasowe: - pojedyczego całkowaia, - podwójego całkowaia, - poczwórego całkowaia oraz częstotliwościowe: - rówoważeia ładuków, - delta sigma. a) Przetworik A/C rówoległy ( Flash Type) Schemat przetworika A/C rówoległego przedstawia rys Napięcie wejściowe U we jest jedocześie porówywae z -1 poziomami odiesieia przy użyciu komparatorów apięcia. Cyfrowe stay wyjściowe komparatorów, po odpowiedim zakodowaiu, dają cyfrową iformację wyjściową w kodzie dwójkowym. Rys Przetworik aalogowo-cyfrowy rówoległy (Flash Type) [4] 78

9 Zaletą tego typu przetworika jest duża szybkość przetwarzaia, wadą - duża liczba komparatorów w przetworikach wielobitowych. Przetworiki rówolegle mają rozdzielczości od 4 do 1 bitów i częstotliwość przetwarzaia do 300 MHz. b) Szeregowo - rówoległy przetworik A/C (Half Flash Type) Schemat przetworika A/C szeregowo-rówoległego przedstawia rys Przetwarzaie odbywa się dwuetapowo: ajpierw kowersja zgruba, potem kowersja dokłada różicy miedzy sygałem wejściowym a wytworzoym w ultraszybkim przetworiku C/A apięciem odpowiadającym wyikowi pierwszego etapu. Zaletą tego przetworika jest dużo miejsza złożoość układu iż w przypadku przetworika typu flash o tej samej rozdzielczości, przy zachowaiu bardzo dużej częstotliwości przetwarzaia dochodzącej do 100 MHz. Rys Przetworik aalogowo-cyfrowy szeregowo - rówoległy (Half Flash Type) [8] c) Przetworik A/C z kompesacją rówomierą (zliczający - Couter Type) Schemat przetworika A/C z kompesacją rówomierą przedstawia rys Po wyzerowaiu liczika rozpoczya się zliczaie impulsów zegarowych i trwa do chwili, gdy apięcie kompesujące U K przekroczy wartość apięcia przetwarzaego U X. Czas trwaia zliczaia jest proporcjoaly do wartości apięcia U X. Wadą tej metody przetwarzaia jest stosukowo długi czas przetwarzaia maksymalie aż do: T w gdy U X =U R. Przykładowo dla rozdzielczości =10, i częstotliwości f w =50 MHz, maksymaly czas przetwarzaia wyosi 0 ms. Rys Przetworik aalogowo cyfrowy z kompesacją rówomierą (zliczający - Couter Type) [8] 79

10 d) Kompesacyjy przetworik A/C śledzący (trackig type) Schemat śledzacego przetworika A/C przedstawia rys Przetworik śledzący różi się od zliczającego zastosowaiem liczika rewersyjego wraz z układem sterującym. Sygały zegarowe kierowae są a wejście zwiększające lub zmiejszające sta liczika w zależości od tego, jaki zak ma różica apięć kompesującego U K i wejściowego U x. Zaletą tego rozwiązaia jest możliwość zaczego zwiększeia szybkości przetwarzaia, ale pod warukiem, że sygał wejściowy ie jest zbyt szybko zmiey. Rys Przetworik aalogowo cyfrowy śledzący (trackig type) [4] e) Przetworik A/C z kompesacją wagową (Successive Approximatio) Schemat przetworika A/C z kompesacją wagową przedstawia rys Metoda kompesacji wagowej polega a kolejym..ważeiu" apięcia wejściowego U x przy pomocy malejących kwatów (0,5U R ; 0.5U R,...) apięcia kompesującego U K, których wagi odpowiadają pozycjom kolejych bitów. Dzięki temu rówoważeie apięcia wejściowego wymaga tylko (liczba bitów) porówań. Przetworiki z kompesacją wagową mają rozdzielczości od 8 do 16 bitów i częstotliwość przetwarzaia do 5 MHz. Rys Przetworik aalogowo cyfrowy z kompesacją wagową (Successive Approximatio) [8] f) Przetworik A/C z podwójym całkowaiem (Dual Slope Itegratig) Schemat przetworika A/C z podwójym całkowaiem przedstawia rys Podczas l etapu całkowae jest apięcie U x. Czas T 1 wyzaczay przez liczik jest stały. Podczas II etapu całkowae jest apięcie stałe U R o przeciwej polaryzacji do U x a liczik mierzy odciek czasu, jaki jest potrzeby do rozładowaia kodesatora. 80

11 Rys Przetworik aalogowo cyfrowy z podwójym całkowaiem (Dual Slope Itegratig) [6] Bezwzględe wartości rezystacji R, pojemości C oraz częstotliwości zegara f w =1/T w, ie mają wpływu a dokładość przetwarzaia. Uśrediaie wykoywae w czasie pierwszego całkowaia umożliwia tłumieie zakłóceń okresowych ałożoych a mierzoe apięcie. W tym celu koiecze jest dopasowaie czasu pierwszego całkowaia T 1. do okresu zakłóceń T z lub jego wielokrotości. g) Metoda częstotliwościowa przetwarzaia A/C W tej metodzie stosuje się rówoważeie ładuków pochodzący ze źródła przetwarzaego apięcia U x przez impulsy ładukowe o stałej wartości dostarczae do itegratora. Sposób przetwarzaia ilustruje rysuek Częstotliwość impulsów: i ( t + t ) 1 x r = i tr (4.11) U x R 1 U R R ( tx + tr ) = tr f x = t x 1 + t r R = R t 1 U x (4.1) 1 r U R jest proporcjoala do apięcia przetwarzaego U x. Rys Metoda częstotliwościowa przetwarzaia A/C [8] h) Przetworik A/C typu delta-sigma ( -Σ) Schemat przetworika A/C delta-sigma przedstawia rys Przetworik -Σ składa się z modulatora -Σ i cyfrowego filtra doloprzepustowego. Modulator -Σ 81

12 wytwarza strumień bitów, którego średia wartość reprezetuje poziom sygału wejściowego. Dokładość odwzorowaia sygału wejściowego zależy od ilości impulsów wytworzoego strumieia bitów, a ta zależy od częstotliwości próbkowaia. W przetworikach -Σ stosuje się tzw. adpróbkowaie, tz. zwiększeie częstotliwości próbkowaia powyżej częstotliwości Nyquista. Rys Schemat przetworika -Σ z modulacją l -go rzędu [4] Zwiększaie częstotliwości próbkowaia zmiejsza rówież wartość szumów przetwarzaia, tz. podosi stosuek sygału do szumu SNR. Efektywiejsze zmiejszeie szumów moża uzyskać stosując modulator wyższego rzędu (rys. 4.15). Rys Wpływ rzędu modulatora -Σ i adpróbkowaia a współczyik SNR i) Przetworik A/C potokowy (pipelie ADC lub subragig ADC) Schemat przetworika A/C potokowego przedstawia rys Przetworik te składa się z szeregu kolejych stopi przetwarzaia, z których każdy zawiera układ siedząco - pamiętający (Track ad Hołd), oraz przetworiki A/C i C/A o iskiej rozdzielczości. Przetworik jedocześie przetwarza wiele kolejych próbek sygału wejściowego - w każdym stopiu potoku ią. Charakteryzuje go opóźieie przetwarzaia wyikające z pracy potokowej. Jego zalety to małe zużycie eergii i częstotliwość przetwarzaia rzędu MHz przy rozdzielczości bitów. 8

13 Rys Przetworik A/C potokowy (pipelie ADC lub subragig ADC) [8] 4.6. Przetworiki cyfrowo-aalogowe (C/A) Przetworiki cyfrowo-aalogowe (ag. Digital to Aalog Coverter) służą do zamiay sygału dyskretego a sygał ciągły w czasie (rys. 4.17). Charakterystykę statyczą przetworika C/A przedstawioo a rysuku Rys Schemat ideowy przetworika C/A Rys Charakterystyka statycza przetworika C/A [8] 83

14 a) Przetworik C/A z rezystorami wagowymi Schemat przetworika C/A z rezystorami wagowymi przedstawia rysuek Zmiaa rezystacji wejściowych R pozwala zastosować iy kod wejściowy (BCD lub Hex.), wymaga dokładego źródła apięciowego U R, ajmiejsze rezystacje muszą być ajdokładiejsze, wymaga małej rezystacji kluczy. Przetworik tego typu jest względie szybki, ale cechuje go iska rozdzielczość. Rys Przetworik C/A z rezystorami wagowymi [6] b) Przetworik C/A z drabiką rezystorów R-R Schemat przetworika C/A z z drabiką rezystorów R-R przedstawia rysuek 4.0. Zmiaa rezystacji wejściowych R pozwala zastosować iy kod wejściowy (BCD lub Hex.), wymaga tylko dwóch wartości oporików, rezystacje R muszą być precyzyjie dobrae, ie wymaga ścisłej wartości rezystacji R, ie wymaga małej rezystacji kluczy. Przetworik cechuje względa szybkość i wysoka rozdzielczość. c) Przetworik C/A z ważeiem prądów przy użyciu drabiki rezystorów R-R Schemat przetworika C/A z ważeiem prądów przy użyciu drabiki rezystorów R-R przedstawia rysuek 4.1. Przetworik te cechuje: - krótki czas ustalaia przetworika dzięki zastosowaiu przełączaia prądów, - dobra liiowość, - iska impedacja wyjściowa, - występowaie zakłóceń impulsowych a wyjściu, - koieczość zwielokrotieia powierzchi emiterowych kolejych trazystorów, - krótki czas ustalaia przetworika dzięki zastosowaiu przełączaia prądów, - jeśli sygał wyjściowy ma być apięciowy wymaga kowersji prądu a apięcie. 84

15 Rys Przetworik C/A z drabiką rezystorów R-R [8] Rys Przetworik C/A z ważeiem prądów przy użyciu drabiki rezystorów R-R [4] 4.7. Zasady doboru przetworików A/C i C/A Wybór przetworików A/C i C/A ależy uzależić od astępujących czyików: - rozdzielczości, - rodzaju przetworika (sposobu działaia), - szybkości (częstotliwość), - sposobu kodowaia, - zakresu przetwarzaia, - sposobu zasilaia, - możliwości kofiguracyjych (programowe lub sprzętowe), - wielkości błędów: przesuięcie zera, ieliiowości całkowej i różiczkowej. 85

16 Przetwarzaie A/C i CA Data... Godzia... Lp. Imię i azwisko Lp. Imię i azwisko A. Badaie błędów przesuięcia, wzmocieia i ieliiowości przetworika C/A Dae przetworika C/A Rozdzielczość: =... bitów ( -1=...) Nomialy zakres apięć wyjściowych: U T (0)=...[V] U T ( -1)=.[V] Schemat staowiska pomiarowego: a) Wyzaczaie błędów przesuięcia i wzmocieia Pomiar skrajych puktów charakterystyki: U(0) [V] U( -1) [V] Błąd przesuięcia: U 0 = U(0)- U T (0)=...[V] Błąd wzmocieia: FSR FSRN k = 100% =...[%] FSRN FSR =U( -1)-U(0) - rzeczywisty zakres apięć wyjściowych przetworika C/A FSR N = U T ( -1)-U T (0) - omialy zakres apięć wyjściowych przetworika C/A 1

17 b) Wyzaczeie błędu ieliiowości całkowej Pomiar błędu ieliiowości całkowej dokoujemy jedyie w wybraych - podaych w tabeli - puktach charakterystyki. Następie obliczamy wartości apięć dla przetworika teoretyczie liiowego U T ( N) oraz błąd ieliiowości całkowej w każdym badaym pukcie. Z otrzymaych wartości ależy wybrać ajwiększą i zapisać jako błąd INL. Na podstawie tabeli sporządzić wykres zmieości ieliiowości całkowej U(N)-UT(N) = f(n) N U(N) [V] U T (N) [V] U(N)-U T (N) [V] INL=max U(N)-UT(N) =... [V] Charakterystyka ieliiowości całkowej

18 c) Wyzaczeie błędu ieliiowości różiczkowej Pomiaru błędu ieliiowości różiczkowej dokoujemy jedyie w wybraych - podaych w tabeli - puktach charakterystyki. Następie obliczamy szerokości poszczególych przedziałów kwatowaia oraz ieliiowość różiczkową w każdym badaym pukcie. Z otrzymaych wartości ależy wybrać ajwiększą i zapisać jako błąd DNL. Na podstawie tabeli sporządzić wykres zmieości ieliiowości różiczkowej: U N LSB=f (N). FSR U N =U(N+1)-U(N) LSB = =...[ mv ] 1 N U(N) [V] U N (N) [mv] U N LSB [mv] DNL= max U N -LSB =..... [mv] 3

19 B. Próbkowaie Dae przetworika A/C Rozdzielczość: =... bitów ( -1=...) Nomialy zakres apięć wyjściowych: U T (0)=...[V] U T ( -1)=.[V] Schemat staowiska pomiarowego: a) Próbkowaie z różymi częstotliwościami sygału z geeratora o stałej częstotliwości f C. Ustawiamy częstotliwość pracy geeratora a dowolą wartość z zakresu od 0 Hz do100 Hz. Mierzymy częstotliwościomierzem rzeczywistą wartość częstotliwości f C. Następie obliczamy wymagaą do rejestracji częstotliwość próbkowaia f S posługując się zapisaym w pierwszej kolumie tabeli. stosukiem f S /f C i przeprowadzamy rejestrację oraz pomiar czasu T trwaia N powtórzeń sygału. Po obliczeiu f W ależy arysować wykres f W =f(f S /f C ). N f W = [Hz] T f C =cost.=...hz f S /f C [-] f S [Hz] T [ms] N [-] f W [Hz] 0, 0,5 1,5 5 Czy potwierdzoa została teza twierdzeia o próbkowaiu? 4

20 fw [Hz] f S /f C b) Próbkowaie ze stałą częstotliwością sygałów o różej częstotliwości. Wybieramy dowolą wartość częstotliwości próbkowaia f S z zakresu od 50 Hz do 00 Hz. Następie obliczamy wymagaą częstotliwość sygału f C posługując się zapisaym w pierwszej kolumie tabeli. stosukiem f C /f S. Wykorzystując częstotliwościomierz astawiamy geeratora obliczoą częstotliwość f C. Następie przeprowadzamy rejestrację, po której mierzymy czas T trwaia N powtórzeń sygału. Obliczoe wartości f W ależy aieść a wykres. f S =cost.=...hz f C /f S [-] f C [Hz] T [ms] N [-] f W [Hz] 0, 0,5 1, fw [Hz] f S /f C 5

21 C. Pomiar stosuku S/N dla różych amplitud sygału. Dla stałej rozdzielczości kwatowaia =16 ależy zmierzyć wartość stosuku S/N przy różych amplitudach sygału (zapisaych w kolumie pierwszej tabeli). W kolumie zapisać w decybelach obliczoe wartości względej amplitudy: A/AMAX [db] = 0 log10 (A/AMAX). Zapisać w tabeli wyiki pomiarów oraz wartości S/N T obliczoe ze wzoru: ( S 3 ) = 0 log A N 10 T Q Przyjąć zakres przetworika FS=0V, Q=FS/. Na wspólym wykresie arysować wartości zmierzoe i obliczoe. A MAX = 10V A [V] A/A MAX [db] S/N [db] S/N T [db] 10,00 5,00,50 1,5 0,63 0,3 0, ,04 0,0 0,01 Zmiaa S/N w fukcji amplitudy sygału: S/N [db] A/Amax [db] 6

22 Obliczeia i wioski 7

23 Błdy kwatyzacji, zakres dyamiki przetworika A/C Celem wiczeia jest pozaie wpływu rozdzielczoci przetworika A/C a błd kwatowaia oraz ocea dyamiki układu kwatujcego. Kwatowaie przyporzdkowaie kolejym próbkom okreloych wartoci zmieej dyskretej N Q/ -Q/ Q FS U we Rys.1. Charakterystyka układu kwatujcego i jego błdu Rozdzielczo liczba staów wyjciowych - zwykle okrelaa liczb bitów słowa wyjciowego. Miar rozdzielczoci jest przedział kwatowaia Q, który moa obliczy dzielc zakres wejciowy FS przetwor-ika aalogowo-cyfrowego przez liczb przedziałów: Przy kodowaiu biarym przedział kwatowaia Q wyosi: FS Q = gdzie: FS zakres wejciowy przetworika A/C, rozdzielczo przetworika A/C. Kwatowaie wprowadza błd kwatowaia, czyli róic midzy wartoci rzeczywist sygału aalogowego a wartoci wyjciow, która zwykle mieci si w zakresie: Q ε ± () Błd kwatowaia traktoway jako dodatkowy sygał zakłócajcy azyway jest szumem kwatowaia. Wartoredia szumu kwatowaia jest rówa zero a warto skutecza: (1) 1

24 ε = 1 Q Q Q 1 Q 3 Q 8 3 Q + = 8 3 Q ε dx = Dyamika układu kwatujcego SNR (ag. Sigal to Noise Ratio) to stosuek wartoci skuteczej Û sygału do wartoci skuteczej szumu kwatowaia: gdzie: S N U warto skutecza sygału, U 0 log 10 ε = ε warto skutecza szumu kwatowaia. Dalsze rozwaaia przeprowadzimy dla sygału siusoidalego o amplitudzie rówej A i czstotliwoci f. Warto skutecza takiego sygału, który moa zapisa w postaci u( t) = A si( f ) wyosi: Wtedy: U = A S = 0 log N 10 Najwikszy stosuek sygału siusoidalego do szumu ma miejsce gdy amplituda sygału jest ajwiksza jak moa bez obciaia przetworzy przy pomocy przetworika o zakresie FS, czyli wyosi: wtedy: ( S ) N MAX A MAX FS = A Q Q = [ db] 3 Q 3 3 = 0log 10 0log 10 = = 0log10 + 0log Q Ostateczie ajwiksz dyamik moa obliczy wg prostej zaleoci liiowej: ( S ) = 6,0 + 1, 76 N 3 3 (3) (4) (5) (6) (7) (8) MAX (9) Literatura: 1. Praca zbiorowa pod red. P. H. Sydeham a: Podrczik metrologii. Podstawy teoretycze. Tom I. WKiŁ, Warszawa R.J. va de Plassche: Scaloe przetworiki aalogowo-cyfrowe i cyfrowo-aalogowe. WKiŁ, Warszawa R. G. Lyos: Wprowadzeie do cyfrowego przetwarzaia sygałów. WKiŁ, Warszawa 1999.

25 Wyzaczeie błdów przesuicia, wzmocieia i ieliiowoci przetworika C/A Celem wiczeia jest wyzaczeie błdów przesuicia, wzmocieia i ieliiowoci przetworika C/A. Zajc wartoci teoretycze (omiale) U T i rzeczywiste U api wyjciowych przetworika w puktach kracowych jego charakterystyki moa wyzaczy błd przesuicia i wzmocieia co ilustruje rys.1. i zaleoci (1-). U T U U ( 1) ( 1) rzeczywista 0 1 N ideala U( 0) U T ( 0) U 0 Rys.1. Porówaie rzeczywistej i idealej charakterystyki przetworika C/A. Błd przesuicia U = U ( 0 ) U ( 0 T ) [V ] (1) 0 FSR FSR Błd wzmocieia k = N 100% [%] () FSR gdzie: FSR = U 1 U 0 rzeczywisty zakres api wyjciowych przetworika C/A FSR N ( ) ( ) ( 1) U ( 0) T T N = U omialy zakres api wyjciowych przetworika C/A 1

26 Błd ieliiowoci całkowej defiiujemy jako ajwiksz róic midzy rzeczywistym i teoretyczym apiciem a wyjciu przetworika C/A: ( N ) U ( N ) N = 0, 1, 1 INL = maxu Κ (3) T, Teoretycza warto apicia wyjciowego dla wartoci wejciowej rówej N wyosi: FSR U T ( N ) = U ( 0) + N (4) 1 gdzie: - rozdzielczo przetworika C/A. Natomiast błd ieliiowoci róiczkowej defiiujemy jako ajwiksz róic midzy rzeczywist i teoretycz długoci przedziału kwatowaia: DNL = max U LSB N = 0, 1, Κ 1 (5) N, gdzie rzeczywista szeroko N tego przedziału kwatowaia wyosi: a teoretycza jest rówa: ( N + ) U ( N ) = U 1 (6) U N FSR LSB = (7) 1 U U ( + 1) U j+ U j U j+1 0 U( i + ) U ( i + ) U( i + 1) U ( i + 1) T T N U( i) U ( i) T ( ) U 0 Rys.. Ilustracja błdów ieliiowoci całkowej i róiczkowej Literatura: 1. Praca zbiorowa pod red. P. H. Sydeham a: Podrczik metrologii. Podstawy teoretycze. Tom I. WKiŁ, Warszawa R.J. va de Plassche: Scaloe przetworiki aalogowo-cyfrowe i cyfrowo-aalogowe. WKiŁ, Warszawa 1997.

( 0) ( 1) U. Wyznaczenie błędów przesunięcia, wzmocnienia i nieliniowości przetwornika C/A ( ) ( )

( 0) ( 1) U. Wyznaczenie błędów przesunięcia, wzmocnienia i nieliniowości przetwornika C/A ( ) ( ) Wyzaczeie błędów przesuięcia, wzmocieia i ieliiowości przetworika C/A Celem ćwiczeia jest wyzaczeie błędów przesuięcia, wzmocieia i ieliiowości przetworika C/A. Zając wartości teoretycze (omiale) i rzeczywiste

Bardziej szczegółowo

Błędy kwantyzacji, zakres dynamiki przetwornika A/C

Błędy kwantyzacji, zakres dynamiki przetwornika A/C Błędy kwatyzacji, zakres dyamiki przetworika /C Celem ćwiczeia jest pozaie wpływu rozdzielczości przetworika /C a błąd kwatowaia oraz ocea dyamiki układu kwatującego. Kwatowaie przyporządkowaie kolejym

Bardziej szczegółowo

Przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo- analogowe

Przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo- analogowe Przetworiki aalogowo-cyfrowe i cyfrowo- aalogowe 14.1. PRZETWORNIKI C/A Przetworik cyfrowo-aalogowy (ag. Digital-to-Aalog Coverter) jest to układ przetwarzający dyskrety sygał cyfrowy a rówowaŝy mu sygał

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA OPOLSKA

POLITECHNIKA OPOLSKA POLITCHIKA OPOLSKA ISTYTUT AUTOMATYKI I IFOMATYKI LABOATOIUM MTOLOII LKTOICZJ 7. KOMPSATOY U P U. KOMPSATOY APIĘCIA STAŁO.. Wstęp... Zasada pomiaru metodą kompesacyją. Metoda kompesacyja pomiaru apięcia

Bardziej szczegółowo

POMIAR WARTOŚCI SKUTECZNEJ NAPIĘĆ OKRESOWO ZMIENNYCH METODĄ ANALOGOWEGO PRZETWARZANIA SYGNAŁU

POMIAR WARTOŚCI SKUTECZNEJ NAPIĘĆ OKRESOWO ZMIENNYCH METODĄ ANALOGOWEGO PRZETWARZANIA SYGNAŁU POMIAR WARTOŚCI SKTECZNEJ NAPIĘĆ OKRESOWO ZMIENNYCH METODĄ ANALOGOWEGO PRZETWARZANIA SYGNAŁ CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczeia jest zwróceie uwagi a ograiczeie zakresu poprawego pomiaru apięć zmieych wyikające

Bardziej szczegółowo

Metrologia: miary dokładności. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie

Metrologia: miary dokładności. dr inż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczecinie Metrologia: miary dokładości dr iż. Paweł Zalewski Akademia Morska w Szczeciie Miary dokładości: Najczęściej rozkład pomiarów w serii wokół wartości średiej X jest rozkładem Gaussa: Prawdopodobieństwem,

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY OPRACOWANIA WYNIKÓW POMIARÓW Z ELEMENTAMI ANALIZY NIEPEWNOŚCI POMIAROWYCH

PODSTAWY OPRACOWANIA WYNIKÓW POMIARÓW Z ELEMENTAMI ANALIZY NIEPEWNOŚCI POMIAROWYCH PODSTAWY OPRACOWANIA WYNIKÓW POMIARÓW Z ELEMENTAMI ANALIZY NIEPEWNOŚCI POMIAROWYCH POMIAR FIZYCZNY Pomiar bezpośredi to doświadczeie, w którym przy pomocy odpowiedich przyrządów mierzymy (tj. porówujemy

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE nr 2 CYFROWY POMIAR MOCY I ENERGII

ĆWICZENIE nr 2 CYFROWY POMIAR MOCY I ENERGII Politechika Łódzka Katedra Przyrządów Półprzewodikowych i Optoelektroiczych WWW.DSOD.PL LABORATORIUM METROLOGII ELEKTROICZEJ ĆWICZEIE r CYFROWY POMIAR MOCY I EERGII Łódź 009 CEL ĆWICZEIA: Ćwiczeie ma a

Bardziej szczegółowo

Architektura przetworników A/C. Adam Drózd

Architektura przetworników A/C. Adam Drózd Architektura przetworników A/C Adam Drózd Rozdział 1 Architektura przetworników A/C Rozwój techniki cyfrowej spowodował opacownie wielu zasad działania i praktycznych rozwiązań przetworników analogowo

Bardziej szczegółowo

Opracowanie danych pomiarowych. dla studentów realizujących program Pracowni Fizycznej

Opracowanie danych pomiarowych. dla studentów realizujących program Pracowni Fizycznej Opracowaie daych pomiarowych dla studetów realizujących program Pracowi Fizyczej Pomiar Działaie mające a celu wyzaczeie wielkości mierzoej.. Do pomiarów stosuje się przyrządy pomiarowe proste lub złożoe.

Bardziej szczegółowo

POMIAR WSPÓŁCZYNNIKÓW CHARAKTERYZUJĄCYCH KSZTAŁT SYGNAŁÓW ELEKTRYCZNYCH

POMIAR WSPÓŁCZYNNIKÓW CHARAKTERYZUJĄCYCH KSZTAŁT SYGNAŁÓW ELEKTRYCZNYCH ĆWICZENIE NR POMIAR WSPÓŁCZYNNIKÓW CHARAKTERYZUJĄCYCH KSZTAŁT SYGNAŁÓW ELEKTRYCZNYCH.. Cel ćwiczeia Celem ćwiczeia jest pozaie metod pomiaru współczyików charakteryzujących kształt sygałów apięciowych

Bardziej szczegółowo

Podstawowe funkcje przetwornika C/A

Podstawowe funkcje przetwornika C/A ELEKTRONIKA CYFROWA PRZETWORNIKI CYFROWO-ANALOGOWE I ANALOGOWO-CYFROWE Literatura: 1. Rudy van de Plassche: Scalone przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe, WKŁ 1997 2. Marian Łakomy, Jan Zabrodzki:

Bardziej szczegółowo

Przetwarzanie analogowo-cyfrowe sygnałów

Przetwarzanie analogowo-cyfrowe sygnałów Przetwarzanie analogowo-cyfrowe sygnałów A/C 111111 1 Po co przekształcać sygnał do postaci cyfrowej? Można stosować komputerowe metody rejestracji, przetwarzania i analizy sygnałów parametry systemów

Bardziej szczegółowo

Analiza wyników symulacji i rzeczywistego pomiaru zmian napięcia ładowanego kondensatora

Analiza wyników symulacji i rzeczywistego pomiaru zmian napięcia ładowanego kondensatora Aaliza wyików symulacji i rzeczywistego pomiaru zmia apięcia ładowaego kodesatora Adrzej Skowroński Symulacja umożliwia am przeprowadzeie wirtualego eksperymetu. Nie kostruując jeszcze fizyczego urządzeia

Bardziej szczegółowo

WYZNACZENIE CHARAKTERYSTYK STATYCZNYCH PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH

WYZNACZENIE CHARAKTERYSTYK STATYCZNYCH PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych P o l i t e c h i k a P o z ańska ul. Jaa Pawła II 4 60-96 POZNAŃ (budyek Cetrum Mechatroiki, Biomechaiki i Naoiżerii) www.zmisp.mt.put.poza.pl tel. +48 6 66 3

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE nr 3. Badanie podstawowych parametrów metrologicznych przetworników analogowo-cyfrowych

ĆWICZENIE nr 3. Badanie podstawowych parametrów metrologicznych przetworników analogowo-cyfrowych Politechnika Łódzka Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych WWW.DSOD.PL LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRONICZNEJ ĆWICZENIE nr 3 Badanie podstawowych parametrów metrologicznych przetworników

Bardziej szczegółowo

Struktury specjalizowane wykorzystywane w mikrokontrolerach

Struktury specjalizowane wykorzystywane w mikrokontrolerach Struktury specjalizowane wykorzystywane w mikrokontrolerach Przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowoanalogowe Interfejsy komunikacyjne Zegary czasu rzeczywistego Układy nadzorujące Układy generacji sygnałów

Bardziej szczegółowo

Architektura przetworników A/C

Architektura przetworników A/C Architektura przetworników A/C Rozwój techniki cyfrowej spowodował opracowanie wielu zasad działania i praktycznych rozwiązao przetworników analogowo cyfrowych dla różnych zastosowao. Ze względu na rozwiązania

Bardziej szczegółowo

Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe

Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe Przetworniki cyfrowo analogowe oraz analogowo - cyfrowe Przetworniki cyfrowo / analogowe W cyfrowych systemach pomiarowych często zachodzi konieczność zmiany sygnału cyfrowego na analogowy, np. w celu

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA ŚLĄSKA, WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY, INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI. Wykresy w Excelu TOMASZ ADRIKOWSKI GLIWICE,

POLITECHNIKA ŚLĄSKA, WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY, INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI. Wykresy w Excelu TOMASZ ADRIKOWSKI GLIWICE, POLITECHNIKA ŚLĄSKA, WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY, INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI I INFORMATYKI Wykresy w Excelu TOMASZ ADRIKOWSKI GLIWICE, -- EXCEL Wykresy. Kolumę A, B wypełić serią daych: miesiąc, średia temperatura.

Bardziej szczegółowo

ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA

ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA UNIWERSYTET TECHNOLOGICZNO-PRZYRODNICZY W BYDGOSZCZY WYDZIAŁ INŻYNIERII MECHANICZNEJ INSTYTUT EKSPLOATACJI MASZYN I TRANSPORTU ZAKŁAD STEROWANIA ELEKTROTECHNIKA I ELEKTRONIKA ĆWICZENIE: E20 BADANIE UKŁADU

Bardziej szczegółowo

PRZETWORNIKI C/A 1. STRUKTURA PRZETWORNIKA C/A

PRZETWORNIKI C/A 1. STRUKTURA PRZETWORNIKA C/A PZETWON C/A. STTA PZETWONA C/A. PZETWON C/A NAPĘCOWE.. PZETWON NAPĘCOWE Z DZELNEM NAPĘCOWYM WYJŚCEM NAPĘCOWYM... Przetwori C/A z drabią rówoległą Deoder z N N N wy stawieia przełącziów dla sytuacji, gdy

Bardziej szczegółowo

(opracował Leszek Szczepaniak)

(opracował Leszek Szczepaniak) ĆWICZENIE NR 3 POMIARY POŁOśENIA I PRZEMIESZCZEŃ LINIOWYCH I KĄTOWYCH (opracował Leszek Szczepaiak) Cel i zakres ćwiczeia Celem ćwiczeia jest praktycze zapozaie się z metodami pomiarowymi i czujikami do

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMNS - ITwE Semestr letni Wykład nr 5 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE

KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE KOMPUTEROWE SYSTEMY POMIAROWE Dr inż. Eligiusz PAWŁOWSKI Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Prezentacja do wykładu dla EMST - ITE Semestr zimowy Wykład nr 7 Prawo autorskie Niniejsze

Bardziej szczegółowo

Pomiary i przyrządy cyfrowe

Pomiary i przyrządy cyfrowe Pomiary i przyrządy cyfrowe Przyrządy analogowe trochę historii Ustrój magnetoelektryczny z I z I N d S B r ~ Ω I r r zaciski pomiarowe U U = r I amperomierz woltomierz współczynnik poszerzenia zakresu

Bardziej szczegółowo

PRZETWORNIKI C / A PODSTAWOWE PARAMETRY

PRZETWORNIKI C / A PODSTAWOWE PARAMETRY PRZETWORIKI C / A PODSTAWOWE PARAMETRY Rozdzielczość przetwornika C/A - Określa ją liczba - bitów słowa wejściowego. - Definiuje się ją równieŝ przez wartość związaną z najmniej znaczącym bitem (LSB),

Bardziej szczegółowo

Imię i nazwisko (e mail) Grupa:

Imię i nazwisko (e mail) Grupa: Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail) Rok: Grupa: Zespół: Data wykonania: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 12: Przetworniki analogowo cyfrowe i cyfrowo analogowe budowa i zastosowanie. Ocena: Podpis

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE nr 4. Pomiary podstawowych parametrów sygnałów

ĆWICZENIE nr 4. Pomiary podstawowych parametrów sygnałów Politechika Łódzka Katedra Przyrządów Półprzewodikowych i Optoelektroiczych WWW.DSOD.PL LABORATORIUM METROLOGII ELEKTROICZEJ ĆWICZEIE r 4 Pomiary podstawowych parametrów sygałów Łódź 00 CEL ĆWICZEIA: Ćwiczeie

Bardziej szczegółowo

1. Wyznaczanie charakterystyk statycznych prądnicy tachometrycznej prądu stałego.

1. Wyznaczanie charakterystyk statycznych prądnicy tachometrycznej prądu stałego. ĆWICZENIE 5 Pomiary prędkości CEL ĆWICZENIA. Celem ćwiczeia jest pozaie możliwości pomiaru prędkości obrotowej. Ćwiczeie obejmuje: wyzaczeie własości statyczych prądic tachometryczych i oceę możliwości

Bardziej szczegółowo

BADANIE PRĄDNIC TACHOMETRYCZNYCH

BADANIE PRĄDNIC TACHOMETRYCZNYCH Politechika Warszawska Istytut Maszy Elektryczych Laboratorium Maszy Elektryczych Malej Mocy BADANIE PRĄDNIC TACHOMETRYCZNYCH Warszawa 2003 1. STANOWISKO POMIAROWE. Badaia przeprowadza się a specjalym

Bardziej szczegółowo

Przetworniki A/C. Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego

Przetworniki A/C. Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Przetworniki A/C Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Parametry przetworników analogowo cyfrowych Podstawowe parametry przetworników wpływające na ich dokładność

Bardziej szczegółowo

Metoda analizy hierarchii Saaty ego Ważnym problemem podejmowania decyzji optymalizowanej jest często występująca hierarchiczność zagadnień.

Metoda analizy hierarchii Saaty ego Ważnym problemem podejmowania decyzji optymalizowanej jest często występująca hierarchiczność zagadnień. Metoda aalizy hierarchii Saaty ego Ważym problemem podejmowaia decyzji optymalizowaej jest często występująca hierarchiczość zagadień. Istieje wiele heurystyczych podejść do rozwiązaia tego problemu, jedak

Bardziej szczegółowo

Jarosław Wróblewski Analiza Matematyczna 1A, zima 2012/13. Ciągi.

Jarosław Wróblewski Analiza Matematyczna 1A, zima 2012/13. Ciągi. Jarosław Wróblewski Aaliza Matematycza 1A, zima 2012/13 Ciągi. Ćwiczeia 5.11.2012: zad. 140-173 Kolokwium r 5, 6.11.2012: materiał z zad. 1-173 Ćwiczeia 12.11.2012: zad. 174-190 13.11.2012: zajęcia czwartkowe

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA NR 06-2 POMIARY TEMPA METABOLIZMU METODĄ TABELARYCZNĄ

INSTRUKCJA NR 06-2 POMIARY TEMPA METABOLIZMU METODĄ TABELARYCZNĄ LABORATORIUM OCHRONY ŚRODOWISKA - SYSTEM ZARZĄDZANIA JAKOŚCIĄ - INSTRUKCJA NR 06- POMIARY TEMPA METABOLIZMU METODĄ TABELARYCZNĄ 1. Cel istrukcji Celem istrukcji jest określeie metodyki postępowaia w celu

Bardziej szczegółowo

PRACOWNIA ELEKTRYCZNA I ELEKTRONICZNA. Zespół Szkół Technicznych w Skarżysku-Kamiennej. Sprawozdanie

PRACOWNIA ELEKTRYCZNA I ELEKTRONICZNA. Zespół Szkół Technicznych w Skarżysku-Kamiennej. Sprawozdanie Zespół Szkół Tehizyh w Skarżysku-Kamieej Sprawozdaie PRCOWN ELEKTRYCZN ELEKTRONCZN imię i azwisko z ćwizeia r 1 Temat ćwizeia: UKŁDY REGULCJ NTĘŻEN PRĄDU rok szkoly klasa grupa data wykoaia. Cel ćwizeia:

Bardziej szczegółowo

Rachunek prawdopodobieństwa i statystyka W12: Statystyczna analiza danych jakościowych. Dr Anna ADRIAN Paw B5, pok 407 adan@agh.edu.

Rachunek prawdopodobieństwa i statystyka W12: Statystyczna analiza danych jakościowych. Dr Anna ADRIAN Paw B5, pok 407 adan@agh.edu. Rachuek prawdopodobieństwa i statystyka W12: Statystycza aaliza daych jakościowych Dr Aa ADRIAN Paw B5, pok 407 ada@agh.edu.pl Wprowadzeie Rozróżia się dwa typy daych jakościowych: Nomiale jeśli opisują

Bardziej szczegółowo

I. Cel ćwiczenia. II. Program ćwiczenia SPRAWDZANIE LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ

I. Cel ćwiczenia. II. Program ćwiczenia SPRAWDZANIE LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ Politechika Rzeszowska Zakład Metrologii i Systemów Diagostyczych Laboratorium Metrologii II SPRAWDZANIE LICZNIKÓW ENERGII ELEKTRYCZNEJ Grupa L.../Z... 1... kierowik Nr ćwicz. 9 2... 3... 4... Data Ocea

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Sensorów i Pomiarów Wielkości Nieelektrycznych. Ćwiczenie nr 1

Laboratorium Sensorów i Pomiarów Wielkości Nieelektrycznych. Ćwiczenie nr 1 1. Cel ćwiczeia: Laboratorium Sesorów i Pomiarów Wielkości Nieelektryczych Ćwiczeie r 1 Pomiary ciśieia Celem ćwiczeia jest zapozaie się z kostrukcją i działaiem czujików ciśieia. W trakcie zajęć laboratoryjych

Bardziej szczegółowo

KWANTOWANIE przyporządkowanie kolejnym próbkom określonych wartości zmiennej dyskretnej.

KWANTOWANIE przyporządkowanie kolejnym próbkom określonych wartości zmiennej dyskretnej. KWANTOWANIE przyporządkowanie kolejnym próbkom określonych wartości zmiennej dyskretnej. 111 110 101 100 011 N 010 001 000 Q/2 -Q/2 ε Q FS U we Charakterystyka układu kwantującego Rozdzielczość liczba

Bardziej szczegółowo

Ć wiczenie 17 BADANIE SILNIKA TRÓJFAZOWEGO KLATKOWEGO ZASILANEGO Z PRZEMIENNIKA CZĘSTOTLIWOŚCI

Ć wiczenie 17 BADANIE SILNIKA TRÓJFAZOWEGO KLATKOWEGO ZASILANEGO Z PRZEMIENNIKA CZĘSTOTLIWOŚCI Ć wiczeie 7 BADANIE SILNIKA TRÓJFAZOWEGO KLATKOWEGO ZASILANEGO Z RZEIENNIKA CZĘSTOTLIWOŚCI Wiadomości ogóle Rozwój apędów elektryczych jest ściśle związay z rozwojem eergoelektroiki Współcześie a ogół

Bardziej szczegółowo

Elementy statystyki opisowej Izolda Gorgol wyciąg z prezentacji (wykład I)

Elementy statystyki opisowej Izolda Gorgol wyciąg z prezentacji (wykład I) Elemety statystyki opisowej Izolda Gorgol wyciąg z prezetacji (wykład I) Populacja statystycza, badaie statystycze Statystyka matematycza zajmuje się opisywaiem i aalizą zjawisk masowych za pomocą metod

Bardziej szczegółowo

Teoria przetwarzania A/C i C/A.

Teoria przetwarzania A/C i C/A. Teoria przetwarzania A/C i C/A. Autor: Bartłomiej Gorczyński Cyfrowe metody przetwarzania sygnałów polegają na przetworzeniu badanego sygnału analogowego w sygnał cyfrowy reprezentowany ciągiem słów binarnych

Bardziej szczegółowo

KADD Metoda najmniejszych kwadratów

KADD Metoda najmniejszych kwadratów Metoda ajmiejszych kwadratów Pomiary bezpośredie o rówej dokładości o różej dokładości średia ważoa Pomiary pośredie Zapis macierzowy Dopasowaie prostej Dopasowaie wielomiau dowolego stopia Dopasowaie

Bardziej szczegółowo

Sygnały pojęcie i klasyfikacja, metody opisu.

Sygnały pojęcie i klasyfikacja, metody opisu. Sygały pojęcie i klasyfikacja, meody opisu. Iformacja przekazywaa jes za pośredicwem sygałów, kóre przeoszą eergię. Sygał jes o fukcja czasowa dowolej wielkości o charakerze eergeyczym, w kórym moża wyróżić

Bardziej szczegółowo

Systemy wbudowane Sygnały 2015/16

Systemy wbudowane Sygnały 2015/16 Systemy wbudowae Sygały 015/16 Itrodukcja i droga do FFT Ewa Łukasik Ewa.Lukasik@cs.put.poza.pl Systemy wbudowae -> prof. A. Urbaiak Sygały dr iż. Ewa Łukasik Struktura wykładów Zakres materiału części

Bardziej szczegółowo

Badanie przetworników A/C i C/A

Badanie przetworników A/C i C/A 9 POLITECHNIKA POZNAŃSKA KATEDRA STEROWANIA I INŻYNIERII SYSTEMÓW Pracownia Układów Elektronicznych i Przetwarzania Sygnałów ELEKTRONICZNE SYSTEMY POMIAROWE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Badanie

Bardziej szczegółowo

CHARAKTERYSTYKI CZĘSTOTLIWOŚCIOWE PODSTAWOWYCH CZŁONÓW LINIOWYCH UKŁADÓW AUTOMATYKI

CHARAKTERYSTYKI CZĘSTOTLIWOŚCIOWE PODSTAWOWYCH CZŁONÓW LINIOWYCH UKŁADÓW AUTOMATYKI CHARAKERYSYKI CZĘSOLIWOŚCIOWE PODSAWOWYCH CZŁONÓW LINIOWYCH UKŁADÓW AUOMAYKI Do podstawowych form opisu dyamii elemetów automatyi (oprócz rówań różiczowych zaliczamy trasmitację operatorową s oraz trasmitację

Bardziej szczegółowo

MATEMATYKA (poziom podstawowy) przykładowy arkusz maturalny wraz ze schematem oceniania dla klasy II Liceum

MATEMATYKA (poziom podstawowy) przykładowy arkusz maturalny wraz ze schematem oceniania dla klasy II Liceum MATEMATYKA (poziom podstawowy) przykładowy arkusz maturaly wraz ze schematem oceiaia dla klasy II Liceum Propozycja zadań maturalych sprawdzających opaowaie wiadomości i umiejętości matematyczych z zakresu

Bardziej szczegółowo

Zjawisko aliasingu. Filtr antyaliasingowy. Przecieki widma - okna czasowe.

Zjawisko aliasingu. Filtr antyaliasingowy. Przecieki widma - okna czasowe. Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA Komputerowe wspomaganie eksperymentu Zjawisko aliasingu.. Przecieki widma - okna czasowe. dr inż. Roland PAWLICZEK Zjawisko aliasingu

Bardziej szczegółowo

Przetworniki C/A. Ryszard J. Barczyński, 2016 Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego

Przetworniki C/A. Ryszard J. Barczyński, 2016 Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Przetworniki C/A Ryszard J. Barczyński, 2016 Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Przetwarzanie C/A i A/C Większość rzeczywistych sygnałów to sygnały analogowe. By je przetwarzać w dzisiejszych

Bardziej szczegółowo

Instytut Inżynierii Biomedycznej i Pomiarowej. Wydział Podstawowych Problemów Techniki. Politechnika Wrocławska

Instytut Inżynierii Biomedycznej i Pomiarowej. Wydział Podstawowych Problemów Techniki. Politechnika Wrocławska Istytut Iżyierii Biomedyczej i Pomiarowej Wydział Podstawowych Problemów Techiki Politechika Wrocławska Laboratorium Pomiarów Wielkości Nieelektryczych Przyrządy wirtuale rezystometr i termometr Opracował:

Bardziej szczegółowo

LTS 6-NP., LTS 15-NP...LTS 25-NP. LTS 6-NP., LTS 15-NP...LTS 25-NP.

LTS 6-NP., LTS 15-NP...LTS 25-NP. LTS 6-NP., LTS 15-NP...LTS 25-NP. 19 9 9 LTS -NP., LTS 1-NP...LTS -NP. LTS -NP., LTS 1-NP...LTS -NP. [] LTS -NP., LTS 1-NP...LTS -NP. LTS -NP., LTS 1-NP...LTS -NP. LTS -NP, LTS 1-NP, LTS -NP LTSR, LTSR 1, LTSR -NP. LTSR, LTSR 1, LTSR -NP.

Bardziej szczegółowo

L A B O R A T O R I U M T E C H N I K I C Y F R O W E J

L A B O R A T O R I U M T E C H N I K I C Y F R O W E J Paweł OSTASZEWSKI 55566 25.11.2002 Piotr PAWLICKI 55567 L A B O R A T O R I U M T E C H N I K I C Y F R O W E J Ćwiczeie r 2 Temat: B A D A N I E P R Z E R Z U T N I K Ó W Treść ćwiczeia: Obserwacja a

Bardziej szczegółowo

Jak obliczać podstawowe wskaźniki statystyczne?

Jak obliczać podstawowe wskaźniki statystyczne? Jak obliczać podstawowe wskaźiki statystycze? Przeprowadzoe egzamiy zewętrze dostarczają iformacji o tym, jak ucziowie w poszczególych latach opaowali umiejętości i wiadomości określoe w stadardach wymagań

Bardziej szczegółowo

Przetwarzanie AC i CA

Przetwarzanie AC i CA 1 Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Elektroniki Katedr Przetwarzanie AC i CA Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego opracował: Łukasz Buczek 05.2015 1. Cel ćwiczenia 2 Celem ćwiczenia jest

Bardziej szczegółowo

WYKŁAD 6 TRANZYSTORY POLOWE

WYKŁAD 6 TRANZYSTORY POLOWE WYKŁA 6 RANZYSORY POLOWE RANZYSORY POLOWE ZŁĄCZOWE (Juctio Field Effect rasistors) 55 razystor polowy złączowy zbudoway jest z półprzewodika (w tym przypadku typu p), w który wdyfudowao dwa obszary bramki

Bardziej szczegółowo

1.3. Największa liczba naturalna (bez znaku) zapisana w dwóch bajtach to a) b) 210 c) d) 32767

1.3. Największa liczba naturalna (bez znaku) zapisana w dwóch bajtach to a) b) 210 c) d) 32767 Egzami maturaly z iformatyki Zadaie. (0 pkt) Każdy z puktów tego zadaia zawiera stwierdzeie lub pytaie. Zazacz (otaczając odpowiedią literę kółkiem) właściwą kotyuację zdaia lub poprawą odpowiedź. W każdym

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenia rachunkowe TEST ZGODNOŚCI χ 2 PEARSONA ROZKŁAD GAUSSA

Ćwiczenia rachunkowe TEST ZGODNOŚCI χ 2 PEARSONA ROZKŁAD GAUSSA Aaliza iepewości pomiarowych w esperymetach fizyczych Ćwiczeia rachuowe TEST ZGODNOŚCI χ PEARSONA ROZKŁAD GAUSSA UWAGA: Na stroie, z tórej pobrałaś/pobrałeś istrucję zajduje się gotowy do załadowaia arusz

Bardziej szczegółowo

WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI ZAKŁAD ELEKTROWNI I GOSPODARKI ELEKTROENERGETYCZNEJ

WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI ZAKŁAD ELEKTROWNI I GOSPODARKI ELEKTROENERGETYCZNEJ WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI ZAKŁAD ELEKTROWNI I GOSPODARKI ELEKTROENERGETYCZNEJ LABORATORIUM RACHUNEK EKONOMICZNY W ELEKTROENERGETYCE INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA

Bardziej szczegółowo

Przetwornik analogowo-cyfrowy

Przetwornik analogowo-cyfrowy Przetwornik analogowo-cyfrowy Przetwornik analogowo-cyfrowy A/C (ang. A/D analog to digital; lub angielski akronim ADC - od słów: Analog to Digital Converter), to układ służący do zamiany sygnału analogowego

Bardziej szczegółowo

Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych

Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych Podstawy opracowaia wyików pomiarów z elemetami aalizepewości pomiarowych w zakresie materiału przedstawioego a wykładzie orgaizacyjym Pomiary Wyróżiamy dwa rodzaje pomiarów: pomiar bezpośredi, czyli doświadczeie,

Bardziej szczegółowo

PRZETWORNIKI A/C I C/A.

PRZETWORNIKI A/C I C/A. Przetworniki A/C i C/A 0 z 8 PRACOWNIA ENERGOELEKTRONICZNA w ZST Radom 2006/2007 PRZETWORNIKI A/C I C/A. Przed wykonaniem ćwiczenia powinieneś znać odpowiedzi na 4 pierwsze pytania i polecenia. Po wykonaniu

Bardziej szczegółowo

Przetwarzanie A/C i C/A

Przetwarzanie A/C i C/A Przetwarzanie A/C i C/A Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego opracował: Łukasz Buczek 05.2015 Rev. 204.2018 (KS) 1 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z przetwornikami: analogowo-cyfrowym

Bardziej szczegółowo

Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych (w zakresie materiału przedstawionego na wykładzie organizacyjnym)

Podstawy opracowania wyników pomiarów z elementami analizy niepewności pomiarowych (w zakresie materiału przedstawionego na wykładzie organizacyjnym) Podstawy opracowaia wyików pomiarów z elemetami aalizepewości pomiarowych (w zakresie materiału przedstawioego a wykładzie orgaizacyjym) Pomiary Wyróżiamy dwa rodzaje pomiarów: pomiar bezpośredi, czyli

Bardziej szczegółowo

Projekt Inżynier mechanik zawód z przyszłością współfinansowany ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

Projekt Inżynier mechanik zawód z przyszłością współfinansowany ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Zajęcia wyrówawcze z fizyki -Zestaw 5 -Teoria Optyka geometrycza i optyka falowa. Prawo odbicia i prawo załamaia światła, Bieg promiei świetlych w pryzmacie, soczewki i zwierciadła. Zjawisko dyfrakcji

Bardziej szczegółowo

Przejście światła przez pryzmat i z

Przejście światła przez pryzmat i z I. Z pracowi fizyczej. Przejście światła przez pryzmat - cz. II 1. Przejście światła przez pryzmat. Kąt odchyleia. W paragrafie 8.10 trzeciego tomu e-podręczika opisao bieg światła moochromatyczego w pryzmacie.

Bardziej szczegółowo

WYKORZYSTANIE MULTIMETRÓW CYFROWYCH DO POMIARU SKŁADOWYCH IMPEDANCJI

WYKORZYSTANIE MULTIMETRÓW CYFROWYCH DO POMIARU SKŁADOWYCH IMPEDANCJI 1 WYKORZYSTAIE MULTIMETRÓW CYFROWYCH DO POMIARU 1. CEL ĆWICZEIA: SKŁADOWYCH IMPEDACJI Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z możliwościami pomiaru składowych impedancji multimetrem cyfrowym. 2. POMIARY

Bardziej szczegółowo

Przetworniki analogowo-cyfrowe - budowa i działanie" anie"

Przetworniki analogowo-cyfrowe - budowa i działanie anie Przetworniki analogowo-cyfrowe - budowa i działanie" anie" Wprowadzenie Wiele urządzeń pomiarowych wyposaŝonych jest obecnie w przetworniki A/C. Końcówki takich urządzeń to najczęściej typowe interfejsy

Bardziej szczegółowo

Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: Badania operacyjne. Temat ćwiczenia: Problemy transportowe cd, Problem komiwojażera

Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: Badania operacyjne. Temat ćwiczenia: Problemy transportowe cd, Problem komiwojażera Istrukcja do ćwiczeń laboratoryjych z przedmiotu: Badaia operacyje Temat ćwiczeia: Problemy trasportowe cd Problem komiwojażera Zachodiopomorski Uiwersytet Techologiczy Wydział Iżyierii Mechaiczej i Mechatroiki

Bardziej szczegółowo

Elementy nieliniowe w modelach obwodowych oznaczamy przy pomocy symboli graficznych i opisu parametru nieliniowego. C N

Elementy nieliniowe w modelach obwodowych oznaczamy przy pomocy symboli graficznych i opisu parametru nieliniowego. C N OBWODY SYGNAŁY 1 5. OBWODY NELNOWE 5.1. WOWADZENE Defiicja 1. Obwodem elektryczym ieliiowym azywamy taki obwód, w którym występuje co ajmiej jede elemet ieliiowy bądź więcej elemetów ieliiowych wzajemie

Bardziej szczegółowo

BADANIE DRGAŃ WYMUSZONYCH PRZY POMOCY WAHADŁA POHLA

BADANIE DRGAŃ WYMUSZONYCH PRZY POMOCY WAHADŁA POHLA I PRACOWNIA FIZYCZNA, INSTYTUT FIZYKI UMK, TORUŃ Istrukcja do ćwiczeia r 3 BADANIE DRGAŃ WYMUSZONYCH PRZY POMOCY WAHADŁA POHLA. Cel ćwiczeia Celem ćwiczeia jest pozaie szeregu zjawisk związaych z drgaiami

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM METROLOGII

LABORATORIUM METROLOGII AKADEMIA MORSKA W SZCZECINIE Cetrum Iżyierii Ruchu Morskiego LABORATORIUM METROLOGII Ćwiczeie 5 Aaliza statystycza wyików pomiarów pozycji GNSS Szczeci, 010 Zespół wykoawczy: Dr iż. Paweł Zalewski Mgr

Bardziej szczegółowo

Jarosław Wróblewski Analiza Matematyczna A1, zima 2011/12. Kresy zbiorów. x Z M R

Jarosław Wróblewski Analiza Matematyczna A1, zima 2011/12. Kresy zbiorów. x Z M R Kresy zbiorów. Ćwiczeia 21.11.2011: zad. 197-229 Kolokwium r 7, 22.11.2011: materiał z zad. 1-249 Defiicja: Zbiór Z R azywamy ograiczoym z góry, jeżeli M R x Z x M. Każdą liczbę rzeczywistą M R spełiającą

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Z WYTRZYMAŁOŚCI MATERIAŁÓW

INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Z WYTRZYMAŁOŚCI MATERIAŁÓW INSTYTUT MASZYN I URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH Politechika Śląska w Gliwicach INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Z WYTRZYMAŁOŚCI MATERIAŁÓW BADANIE ODKSZTAŁCEŃ SPRĘŻYNY ŚRUBOWEJ Opracował: Dr iż. Grzegorz

Bardziej szczegółowo

Wielkość analogowa w danym przedziale swojej zmienności przyjmuje nieskończoną liczbę wartości.

Wielkość analogowa w danym przedziale swojej zmienności przyjmuje nieskończoną liczbę wartości. TECHNOLOGE CYFOWE kłady elektroniczne. Podzespoły analogowe. Podzespoły cyfrowe Wielkość analogowa w danym przedziale swojej zmienności przyjmuje nieskończoną liczbę wartości. Wielkość cyfrowa w danym

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 10/11. Holografia syntetyczna - płytki strefowe.

Ćwiczenie 10/11. Holografia syntetyczna - płytki strefowe. Ćwiczeie 10/11 Holografia sytetycza - płytki strefowe. Wprowadzeie teoretycze W klasyczej holografii optyczej, gdzie hologram powstaje w wyiku rejestracji pola iterferecyjego, rekostruuje się jedyie takie

Bardziej szczegółowo

WYBRANE METODY REDUKCJI ODKSZTAŁCENIA PRĄDÓW I NAPIĘĆ POWODOWANYCH PRZEZ ODBIORNIKI NIELINIOWE

WYBRANE METODY REDUKCJI ODKSZTAŁCENIA PRĄDÓW I NAPIĘĆ POWODOWANYCH PRZEZ ODBIORNIKI NIELINIOWE WYBRANE METODY REDUKCJI ODKSZTAŁCENIA PRĄDÓW I NAPIĘĆ POWODOWANYCH PRZEZ ODBIORNIKI NIELINIOWE mgr iż. Chamberli Stéphae Azebaze Mbovig Promotor: prof. dr hab. iż. Zbigiew Hazelka Kraków, 3.05.06 Pla Wykładu.

Bardziej szczegółowo

Przetworniki A/C i C/A w systemach mikroprocesorowych

Przetworniki A/C i C/A w systemach mikroprocesorowych Przetworniki A/C i C/A w systemach mikroprocesorowych 1 Przetwornik A/C i C/A Przetworniki analogowo-cyfrowe (A/C) i cyfrowoanalogowe (C/A) to układy elektroniczne umożliwiające przesyłanie informacji

Bardziej szczegółowo

Miary położenia (tendencji centralnej) to tzw. miary przeciętne charakteryzujące średni lub typowy poziom wartości cechy.

Miary położenia (tendencji centralnej) to tzw. miary przeciętne charakteryzujące średni lub typowy poziom wartości cechy. MIARY POŁOŻENIA I ROZPROSZENIA WYNIKÓW SERII POMIAROWYCH Miary położeia (tedecji cetralej) to tzw. miary przecięte charakteryzujące średi lub typowy poziom wartości cechy. Średia arytmetycza: X i 1 X i,

Bardziej szczegółowo

Rys. Podstawowy system przetwarzania cyfrowego sygnałów analogowych

Rys. Podstawowy system przetwarzania cyfrowego sygnałów analogowych TEORIA PRÓBKOWANIA Podstawy teorii pobierania próbek. Schemat blokowy typowego systemu pobierającego w czasie rzeczywistym próbki danych jest pokazany na rysunku poniżej. W rzeczywistych układach konwersji

Bardziej szczegółowo

Numeryczny opis zjawiska zaniku

Numeryczny opis zjawiska zaniku FOTON 8, iosa 05 7 Numeryczy opis zjawiska zaiku Jerzy Giter ydział Fizyki U Postawieie problemu wielu zagadieiach z różych działów fizyki spotykamy się z astępującym problemem: zmiay w czasie t pewej

Bardziej szczegółowo

Matematyka. Zakres podstawowy. Nawi zanie do gimnazjum. n/m Rozwi zywanie zada Zadanie domowe Dodatkowe Komunikaty Bie ce materiały

Matematyka. Zakres podstawowy. Nawi zanie do gimnazjum. n/m Rozwi zywanie zada Zadanie domowe Dodatkowe Komunikaty Bie ce materiały Lekcja 1. Lekcja orgaizacyja kotrakt Podręczik: W. Babiański, L. Chańko, D. Poczek Mateatyka. Zakres podstawowy. Wyd. Nowa Era. Zakres ateriału: Liczby rzeczywiste Wyrażeia algebraicze Rówaia i ierówości

Bardziej szczegółowo

Ciągi liczbowe wykład 3

Ciągi liczbowe wykład 3 Ciągi liczbowe wykład 3 dr Mariusz Grządziel semestr zimowy, r akad 204/205 Defiicja ciągu liczbowego) Ciagiem liczbowym azywamy fukcję odwzorowuja- ca zbiór liczb aturalych w zbiór liczb rzeczywistych

Bardziej szczegółowo

OBWODY LINIOWE PRĄDU STAŁEGO

OBWODY LINIOWE PRĄDU STAŁEGO Politechika Gdańska Wydział Elektrotechiki i Automatyki 1. Wstęp st. stacjoare I st. iżyierskie, Eergetyka Laboratorium Podstaw Elektrotechiki i Elektroiki Ćwiczeie r 1 OBWODY LINIOWE PRĄDU STAŁEGO Obwód

Bardziej szczegółowo

UKŁADY REGULACJI NAPIĘCIA

UKŁADY REGULACJI NAPIĘCIA Zespół Szkół Tehizyh w Skarżysku-Kamieej Sprawozdaie z ćwizeia r 2 Temat ćwizeia: PRACOWNIA ELEKTRYCZNA I ELEKTRONICZNA imię i azwisko KŁADY REGLACJI NAPIĘCIA rok szkoly klasa grupa data wykoaia I. Cel

Bardziej szczegółowo

EA3 Silnik komutatorowy uniwersalny

EA3 Silnik komutatorowy uniwersalny Akademia Góriczo-Huticza im.s.staszica w Krakowie KAEDRA MASZYN ELEKRYCZNYCH EA3 Silik komutatorowy uiwersaly Program ćwiczeia 1. Oględziy zewętrze 2. Pomiar charakterystyk mechaiczych przy zasilaiu: a

Bardziej szczegółowo

Jarosław Wróblewski Analiza Matematyczna 1, zima 2016/17

Jarosław Wróblewski Analiza Matematyczna 1, zima 2016/17 Egzami, 18.02.2017, godz. 9:00-11:30 Zadaie 1. (22 pukty) W każdym z zadań 1.1-1.10 podaj w postaci uproszczoej kresy zbioru oraz apisz, czy kresy ależą do zbioru (apisz TAK albo NIE, ewetualie T albo

Bardziej szczegółowo

STATYSTYKA OPISOWA WYKŁAD 1 i 2

STATYSTYKA OPISOWA WYKŁAD 1 i 2 STATYSTYKA OPISOWA WYKŁAD i 2 Literatura: Marek Cieciura, Jausz Zacharski, Metody probabilistycze w ujęciu praktyczym, L. Kowalski, Statystyka, 2005 2 Statystyka to dyscyplia aukowa, której zadaiem jest

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenia nr 5. TEMATYKA: Regresja liniowa dla prostej i płaszczyzny

Ćwiczenia nr 5. TEMATYKA: Regresja liniowa dla prostej i płaszczyzny TEMATYKA: Regresja liiowa dla prostej i płaszczyzy Ćwiczeia r 5 DEFINICJE: Regresja: metoda statystycza pozwalająca a badaie związku pomiędzy wielkościami daych i przewidywaie a tej podstawie iezaych wartości

Bardziej szczegółowo

Zadanie 3. Na jednym z poniższych rysunków przedstawiono fragment wykresu funkcji. Wskaż ten rysunek.

Zadanie 3. Na jednym z poniższych rysunków przedstawiono fragment wykresu funkcji. Wskaż ten rysunek. FUNKCJA KWADRATOWA. Zadaia zamkięte. Zadaie. Wierzchołek paraboli, która jest wykresem fukcji f ( x) ( x ) ma współrzęde: A. ( ; ) B. ( ; ) C. ( ; ) D. ( ; ) Zadaie. Zbiorem rozwiązań ierówości: (x )(x

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA ŚWIATŁA METODĄ SZPILEK I ZA POMOCĄ MIKROSKOPU. Wprowadzenie. = =

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA ŚWIATŁA METODĄ SZPILEK I ZA POMOCĄ MIKROSKOPU. Wprowadzenie. = = WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA ŚWIATŁA METODĄ SZPILEK I ZA POMOCĄ MIKROSKOPU Wprowadzeie. Przy przejśiu światła z jedego ośrodka do drugiego występuje zjawisko załamaia zgodie z prawem Selliusa siα

Bardziej szczegółowo

TESTY LOSOWOŚCI. Badanie losowości próby - test serii.

TESTY LOSOWOŚCI. Badanie losowości próby - test serii. TESTY LOSOWOŚCI Badaie losowości próby - test serii. W wielu zagadieiach wioskowaia statystyczego istotym założeiem jest losowość próby. Prostym testem do weryfikacji tej własości jest test serii. 1 Dla

Bardziej szczegółowo

Cyfrowe przetwarzanie sygnałów w urządzeniach EAZ firmy Computers & Control

Cyfrowe przetwarzanie sygnałów w urządzeniach EAZ firmy Computers & Control Cyfrowe przetwarzanie sygnałów w urządzeniach EAZ firmy Computers & Control 1. Wstęp 2.Próbkowanie i odtwarzanie sygnałów 3. Charakterystyka sygnałów analogowych 4. Aliasing 5. Filtry antyaliasingowe 6.

Bardziej szczegółowo

Klasyfikacja metod przetwarzania analogowo cyfrowego (A/C, A/D)

Klasyfikacja metod przetwarzania analogowo cyfrowego (A/C, A/D) Klasyfikacja metod przetwarzania analogowo cyfrowego (A/C, A/D) Metody pośrednie Metody bezpośrednie czasowa częstotliwościowa kompensacyjna bezpośredniego porównania prosta z podwójnym całkowaniem z potrójnym

Bardziej szczegółowo

WERSJA TESTU A. Komisja Egzaminacyjna dla Aktuariuszy. LX Egzamin dla Aktuariuszy z 28 maja 2012 r. Część I. Matematyka finansowa

WERSJA TESTU A. Komisja Egzaminacyjna dla Aktuariuszy. LX Egzamin dla Aktuariuszy z 28 maja 2012 r. Część I. Matematyka finansowa Matematyka fiasowa 8.05.0 r. Komisja Egzamiacyja dla Aktuariuszy LX Egzami dla Aktuariuszy z 8 maja 0 r. Część I Matematyka fiasowa WERJA EU A Imię i azwisko osoby egzamiowaej:... Czas egzamiu: 00 miut

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 14. Porównanie doświadczalnego rozkładu liczby zliczeń w zadanym przedziale czasu z rozkładem Poissona

Ćwiczenie nr 14. Porównanie doświadczalnego rozkładu liczby zliczeń w zadanym przedziale czasu z rozkładem Poissona Ćwiczeie r 4 Porówaie doświadczalego rozkładu liczby zliczeń w zadaym przedziale czasu z rozkładem Poissoa Studeta obowiązuje zajomość: Podstawowych zagadień z rachuku prawdopodobieństwa, Zajomość rozkładów

Bardziej szczegółowo

Modele tendencji rozwojowej STATYSTYKA OPISOWA. Dr Alina Gleska. Instytut Matematyki WE PP. 18 listopada 2017

Modele tendencji rozwojowej STATYSTYKA OPISOWA. Dr Alina Gleska. Instytut Matematyki WE PP. 18 listopada 2017 STATYSTYKA OPISOWA Dr Alia Gleska Istytut Matematyki WE PP 18 listopada 2017 1 Metoda aalitycza Metoda aalitycza przyjmujemy założeie, że zmiay zjawiska w czasie moża przedstawić jako fukcję zmieej czasowej

Bardziej szczegółowo

Damian Doroba. Ciągi. 1. Pierwsza z granic powinna wydawać się oczywista. Jako przykład może służyć: lim n = lim n 1 2 = lim.

Damian Doroba. Ciągi. 1. Pierwsza z granic powinna wydawać się oczywista. Jako przykład może służyć: lim n = lim n 1 2 = lim. Damia Doroba Ciągi. Graice, z których korzystamy. k. q.. 5. dla k > 0 dla k 0 0 dla k < 0 dla q > 0 dla q, ) dla q Nie istieje dla q ) e a, a > 0. Opis. Pierwsza z graic powia wydawać się oczywista. Jako

Bardziej szczegółowo