Mikroanaliza spawów jednomodowych światłowodów telekomunikacyjnych różnych typów

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Mikroanaliza spawów jednomodowych światłowodów telekomunikacyjnych różnych typów"

Transkrypt

1 Marek Ratuszek, Jacek Majewski, Zbigniew Zakrzewski Instytut Telekomunikacji Akademia Techniczno-Rolnicza, Bydgoszcz Jan Hejna Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej Politechnika Wrocławska Mikroanaliza spawów jednomodowych światłowodów telekomunikacyjnych różnych typów W pracy przedstawiono wyniki obserwacji mikroskopowych i mikroanalizy rentgenowskiej spawów światłowodów telekomunikacyjnych SMF, DC-SMF, NZDS-SMF wykonanych technologiami OVD, MCVD. Badania wykonano za pomocą elektronowego mikroskopu skaningowego JSM5800L wyposażonego w spektrometr rentgenowski EDS. Badane spoiny otrzymano programami standardowego i optymalizowanego spawania. Przedstawiono wyniki mikroanalizy składu spawów, mapy rozmieszczenia domieszki rdzeniowej w obrębie spawów oraz jej rozdyfundowanie dopasowujące MFD łączonych włókien. 1. Wprowadzenie Optymalizacja procesów spawania światłowodów SMF G.652 (standard Single Mode Fiber) z włóknami domieszkowanymi erbem EDF (Erbium Doped Fiber) [1] wykazała, że istotne zmniejszenie tłumienia spawów, od kilku db do 0.1 db, uzyskuje się jeżeli w obrębie spawu powstanie, poprzez rozdyfundowanie domieszki erbu, obszar przejściowy rys. 1. Światłowodowy EDF charakteryzują się wysoką aperturą numeryczną NA (Numerical Aperture) i małą średnicą pola modu MFD (Mode Field Diameter) 4 6 µm dla λ=1550 nm. Dla światłowodów SMF odpowiednio MFD 10 µm dla λ=1550 nm, NA = Parametry te narzucają trudniejsze warunki spawania niż w przypadku łączenia ze sobą światłowodów : SMF, DS-SMF G.653 (Dispersion Shifted Single Mode Fiber), NZDS-SMF G.655 (Non Zero Dispersion Shifted Single Mode Fiber), DC-SMF (Depressed Cladding Single Mode Fiber) nawet wykonanymi różnymi technologiami. Wynika to z mniejszych różnic w NA tych światłowodów (od ) i w średnicach pól modu MFD (od 8 11 µm dla λ = 1550 nm). Koncepcja powstawania obszaru przejściowego stała się podstawą przeprowadzonej optymalizacji warunków spawania jednomodowych światłowodów różnych typów, wykonanych różnymi technologiami [2] rys. 1. Uzyskanie optymalnego obszaru przejściowego jest funkcją czasu i prądu spawania [3]. Rys. 1. Schematyczne przedstawienie rozdyfundowania domieszek i powstanie obszaru przejściowego.

2 Optymalizację obszaru przejściowego, jako funkcję czasu i prądu spawania, można przeprowadzić znając współczynniki dyfuzji GeO 2 w SiO 2 w temperaturze spawania. Metodę obliczeń współczynników dyfuzji i optymalizacji obszaru przejściowego wytworzonego na skutek rozdyfundowania domieszki rdzeniowej przedstawiono w [3]. Przedstawiona praca miała na celu potwierdzenie, metodami mikroanalizy rentgenowskiej, koncepcji powstawania obszaru przejściowego. 2. Badanie spawów za pomocą mikroskopu skaningowego Do badań użyto spawów światłowodów przedstawionych w tabeli 1, gdzie spawy przedstawiono numerami próbek. Spoiny otrzymywano programami automatycznego spawania dla światłowodów jednomodowych i opracowanymi przez autorów programami z optymalizacją parametrów. Wszystkie spawy, przedstawione w tabeli 1, otrzymano w tzw. pokojowych warunkach klimatycznych odpowiadających parametrom : temperatura spawania t = 21±3 C, względna wilgotność otoczenia RH = 50 ± 20 %. Tabela 1 Spawy użyte do badań. SMF Siecor (OVD) SMF Siecor (OVD) SMF Fiber Optics (OVD) DC-SMF Lycom SMF Lycom NZDS-SMF Lucent Tech. TrueWave SMF Fiber Optics (OVD) 2 DC-SMF Lycom 8 SMF Lycom NZDS-SMF Lucent Tech. TrueWave 3 4 2* - numer próbki, program optymalizowany 7 - numer próbki, program automatycznego spawania 2.1 Przygotowanie próbek Spawy szlifowano celem dojścia do rdzeniowego obszaru spawu. Do szlifowania stosowano specjalny uchwyt umożliwiający precyzyjne usuwanie warstw materiału i utrzymanie płaskości powierzchni. Głębokość szlifowania kontrolowano zgrubnie za pomocą mikroskopu metalograficznego. Dokładnego sprawdzenia, czy przekrój przechodzi przez rdzeń dokonywano za pomocą elektronowego mikroskopu skaningowego JSM5800L firmy JEOL w modzie niskopróżniowym umożliwiającym obserwacje izolatorów bez pokryć pierwotnych. Po dojściu do obszaru rdzeniowego próbkę wyjmowano z uchwytu i polerowano ręcznie pastą diamentową. 2.2 Badania mikroskopowe Obserwacje spawów i ich mikroanalizę rentgenowską składu wykonano za pomocą elektronowego mikroskopu skaningowego JSM5800L firmy JEOL (Japonia) wyposażonego w spektrometr rentgenowski EDS (Energy Dispersive Spectrometer spektrometr z dyspersją energii) model ISIS300 firmy Oxford (Wlk. Brytania). Detektor w spektrometrze wyposażony jest w ultracienkie okienko i umożliwia analizę pierwiastków lekkich.

3 Próbki badano w modzie niskopróżniowym bez pokrycia przewodzącego lub w modzie wysokopróżniowym po uprzednim pokryciu ich warstewką węgla poprzez naparowanie w napylarce próżniowej. Do obserwacji w obydwu przypadkach używano półprzewodnikowego detektora kontrastu materiałowego. Kontrast na próbce powstaje pomiędzy obszarami o różnym składzie chemicznym (pierwiastki cięższe dają większy sygnał i są jaśniejsze na zdjęciach). Kontrast pomiędzy rdzenie i płaszczem jest bardzo mały (mała zawartość germanu w rdzeniu) i dlatego stosowano bardzo duże wzmocnienie detektora, dlatego też na zdjęciach widoczny jest również kontrast topograficzny. Obserwacje wykonano przy napięciu przyspieszającym 20 kv, po to aby otrzymać wystarczająco silny kontrast. Ciśnienie w komorze mikroskopu, w modzie niskopróżniowym wynosiło 45 Pa a w modzie wysokopróżnowym ok Pa. Powietrze jonizowane przez wiązkę elektronową i elektrony emitowane z powierzchni próbki neutralizuje ujemny ładunek powstający w próbkach nieprzewodzących. Mikroanalizę rentgenowską wykonano na próbkach pokrytych węglem w modzie wysokopróżniowym. Stosowano napięcie przyspieszające 6 kv, które umożliwia efektywne wzbudzenie obserwowanych linii promieniowania rentgenowskiego (linie K dla Si i O oraz linia L dla Ge), znacznie mniejsza jest również niż przy 20 kv objętość w jakiej rozpraszane są elektrony i generowane jest promieniowanie rentgenowskie. Wykonywano tylko mikroanalizę jakościową. Wykonano głównie analizy w punktach otrzymuje się wtedy widmo promieniowania rentgenowskiego w danym punkcie. Wykonano również dla próbki nr 3 analizę rozmieszczenia Ge wzdłuż przekroju włókna rys. 2 oraz dla próbki nr 5 mapę rozmieszczenia Ge na powierzchni przekroju rys. 3. Koncentracja Ge jest mała i sygnał rentgenowski od niego jest bardzo słaby, stąd też analiza wzdłuż linii i mapy rozmieszczenia wychodzą słabo, tym niemniej wyraźnie widać jest rozmycie Ge w obrębie spawu. Dla próbek nr 1 rys. 4, nr 2 rys.5, nr 4 rys. 6 wykonano zdjęcie tylko w modzie niskopróżniowym, dla próbki nr 8 rys. 7 tylko w modzie wysokopróżniowym. Dla próbek nr 3 rys. 8, nr 5 rys. 9, nr 6 rys. 10 wykonano zdjęcie w modzie niskopróżniowym oznaczone na rysunkach stare oraz po dodatkowym przepolerowaniu i pokryciu węglem w modzie wysokopróżniowym oznaczone na rysunkach nowe. 2.3 Rentgenowska mikroanaliza składu spawu Mikroanalizy wykonano dla próbek nr 3, nr 5 rys. 11, nr 6, nr 8. Analizy punktowe wykonano w środku rdzeni łączonych włókien, na brzegu rdzenia oraz w płaszczu przy zakończeni miejsca spawania - rys. 2. Analiza ma charakter jakościowy, gdyż zgrubna czułość przyrządu wynosiła 1 at%. Rys. 2 Próbka Nr 3 (tabela 1) analiza rozmieszczenia Ge wzdłuż przekroju włókna SE1, SE2 zmiany sygnału elektronowego wzdłuż przekroju włókna NZDS-SMF TrueWave GeLa1 zmiany intensywności promieniowania rentgenowskiego Ge wzdłuż przekroju SiKa zmiany intensywności promieniowania rentgenowskiego Si wzdłuż przekroju.

4 Próbka 5 mapy (Bse.tif) Próbka 5 mapy (Ge.tif) Próbka 5 mapy (Ge-1.tif) Próbka 5 mapy (Ge-2.tif) Rys. 3 Próbka Nr 5 * (tabela 1) mapy rozmieszczenia Ge na powierzchni przekroju obszaru spawu. Rys. 4 Próbka Nr 1 (tabela 1) mikroskopowe zdjęcie obszaru spawu w modzie niskopróżniowym.

5 2-1. tif 2-2. tif Rys. 5 Próbka Nr 2 * (tabela 1) mikroskopowe zdjęcia obszaru spawu w modzie niskopróżniowym. 4-1.tif 4-2.tif Rys. 6 Próbka Nr 4 * (tabela 1) mikroskopowe zdjęcia w modzie niskopróżniowym. 8-1.tif 8-2.tif Rys. 7 Próbka Nr 8 * (tabela 1) mikroskopowe zdjęcia w modzie wysokopróżniowym.

6 Stare 3-3.tif Nowe 3-4.tif Rys. 8 Próbka Nr 3 (tabela 1) mikroskopowe zdjęcia w modzie niskopróżniowym (stare) i wysokopróżniowym (nowe). Stare 5-1.tif Nowe 5-22tif Rys. 9 Próbka Nr 5 * (tabela 1) mikroskopowe zdjęcia w modzie niskopróżniowym (stare) i modzie wysokopróżniowym (nowe). Stare 6-1.tif Nowe 6-2.tif Rys. 10 Próbka Nr 6 * (tabela 1) mikroskopowe zdjęcia w modzie niskopróżniowym (stare) i modzie wysokopróżniowym (nowe).

7 Zaznaczone miejsca analiz (Próbka 5 widma (5-6-1_b.tif)) Mikroanaliza w miejscu 1 (Próbka 5 widma (1.tif)) Mikroanaliza w miejscu 2 (Próbka 5 widma (2.tif))

8 Mikroanaliza w miejscu 3 (Próbka 5 widma (3.tif)) Mikroanaliza w miejscu 4 (Próbka 5 widma (4.tif)) Rys. 11 Próbka Nr 5 * (tabela 1) mikroanaliza składu w punktach zaznaczonych na zdjęciu. 3. Wnioski Obserwacja spawów za pomocą mikroskopu skaningowego oraz ich mikroanaliza rentgenowska, szczególnie mapa rozmieszczenia Ge na powierzchni przekroju spawu rys. 3, potwierdziły rozdyfundowanie GeO 2 w procesie spawania rys. 9-10, aczkolwiek w stosunku do obliczeń przedstawionych w [2,3] rozdyfundowaie wydaje się mniejsze. Niestety, jakościowy charakter badań nie pozwala na przedstawienie wyników, które można było by ilościowo porównać z obliczeniami przedstawionymi w [2,3]. Wyżej przedstawione badania potwierdziły również ciągłość i brak zmian struktury spawów wykonanych programami optymalizowanymi opracowanymi przez zespół badawczy. Potwierdziły również wysoką kolistość płaszczy włókien, centryczność położenia rdzeni względem płaszczów oraz bardzo dużą precyzję współczesnych spawarek. Nie zauważono różnic przy spawaniu światłowodów wykonanych różnymi technologiami.

9 Literatura 1. W. Zheng, The Real Time Control Technique for EDF Splicing, Ericsson Review pp.1-24, M. Ratuszek, J. Majewski, Z. Zakrzewski, J. Zalewski, Examination of Spliced Telecommunication Fibers of the NZDS - SMF Type Adjusted to Wavelength Division Multiplexing, Optica Applicata, Vol. XXIX, No. 1-2, pp , M. Ratuszek, Z. Zakrzewski, J. Majewski, M.J. Ratuszek, Procesy dyfuzji i powstawanie obszaru przejściowego podczas spawania jednomodowych światłowodów telekomunikacyjnych, VII Konferencja - Światłowody i ich Zastosowania Krasnobród 99, tom II, str ,

10 Marek Ratuszek, Jacek Majewski, Zbigniew Zakrzewski Instytut Telekomunikacji Akademia Techniczno-Rolnicza, Bydgoszcz Jan Hejna Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej Politechnika Wrocławska Mikroanaliza spawów jednomodowych światłowodów telekomunikacyjnych różnych typów W pracy przedstawiono wyniki obserwacji mikroskopowych i mikroanalizy rentgenowskiej spawów światłowodów telekomunikacyjnych SMF, DC-SMF, NZDS-SMF wykonanych technologiami OVD, MCVD. Badania wykonano za pomocą elektronowego mikroskopu skaningowego JSM5800L wyposażonego w spektrometr rentgenowski EDS. Badane spoiny otrzymano programami standardowego i optymalizowanego spawania. Przedstawiono wyniki mikroanalizy składu spawów, mapy rozmieszczenia domieszki rdzeniowej w obrębie spawów oraz jej rozdyfundowanie dopasowujące MFD łączonych włókien. Marek Ratuszek, Jacek Majewski, Zbigniew Zakrzewski Institute of Telecommunication Academy of Technology and Agriculture in Bydgoszcz Jan Hejna Institute of Materials Science and Technical Mechanics Technical University of Wrocław The Microanalysis of Different Types Single- Mode Telecommunication Fibers The results of microscope observations and roentgen microanalysis of optical telecommunication SMF, DC-SMF, NZDS-SMF fibers made by OVD, MCVD technologies have been presented in the work. The researches were made by means of scanning electron microscope JSM 5800L equipped with roentgen spectrometer EDS. Researched splices was received by standard and optimization splicing programs. Results of microanalysis of splices composition, location dopant in core map within the limits of splices and its diffusion matched MFD of spliced fibers have been presented.

Problemy spawania telekomunikacyjnych jednomodowych włókien światłowodowych stosowanych w Polsce i pochodzących od różnych producentów

Problemy spawania telekomunikacyjnych jednomodowych włókien światłowodowych stosowanych w Polsce i pochodzących od różnych producentów C8.12 Marek Ratuszek, Zbigniew Zakrzewski, Jacek Majewski, Józef Zalewski Instytut Telekomunikacji ATR w Bydgoszczy, Bydgoszcz Problemy spawania telekomunikacyjnych jednomodowych włókien światłowodowych

Bardziej szczegółowo

Wpływ warunków klimatycznych na proces spawania i parametry spawów światłowodów telekomunikacyjnych

Wpływ warunków klimatycznych na proces spawania i parametry spawów światłowodów telekomunikacyjnych A-8/1.9 Marek Ratuszek, Zbigniew Zakrzewski, Jacek Majewski, Stefan Stróżecki, Józef Zalewski Instytut Telekomunikacji ATR Bydgoszcz Tadeusz Konefał, Witold Kula TP S.A. Tarnobrzeg Wpływ warunków klimatycznych

Bardziej szczegółowo

SPAWANIE RÓŻNYCH TYPÓW TELEKOMUNIKACYJNYCH ŚWIATŁOWODÓW JEDNOMODOWYCH STOSOWANYCH W SIECIACH TELEKOMUNIKACYJNYCH

SPAWANIE RÓŻNYCH TYPÓW TELEKOMUNIKACYJNYCH ŚWIATŁOWODÓW JEDNOMODOWYCH STOSOWANYCH W SIECIACH TELEKOMUNIKACYJNYCH SPAWANIE RÓŻNYCH TYPÓW TELEKOMUNIKACYJNYCH ŚWIATŁOWODÓW JEDNOMODOWYCH STOSOWANYCH W SIECIACH TELEKOMUNIKACYJNYCH dr inż. Marek Ratuszek, mgr inż. Zbigniew Zakrzewski, mgr inż. Jacek Majewski, mgr inż.

Bardziej szczegółowo

Połączenia spawane światłowodów przystosowanych do multipleksacji falowej WDM

Połączenia spawane światłowodów przystosowanych do multipleksacji falowej WDM A-8/10.01 Marek Ratuszek, Jacek Majewski, Zbigniew Zakrzewski, Józef Zalewski, Zdzisław Drzycimski Instytut Telekomunikacji ATR Bydgoszcz Połączenia spawane światłowodów przystosowanych do multipleksacji

Bardziej szczegółowo

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena

Bardziej szczegółowo

Tłumienie spawów światłowodów o różnych średnicach rdzenia i aperturach numerycznych

Tłumienie spawów światłowodów o różnych średnicach rdzenia i aperturach numerycznych IV Konferencja Naukowa Technologia i Zatoowanie Światłowodów Kranobród 96 Jacek MAJEWSKI, Marek RATUSZEK, Zbigniew ZAKRZEWSKI Intytut Telekomunikacji ATR Bydgozcz Tłumienie pawów światłowodów o różnych

Bardziej szczegółowo

Światłowody przystosowane do WDM i ich rozwój

Światłowody przystosowane do WDM i ich rozwój Marek Ratuszek, Zbigniew Zakrzewski, Jacek Majewski, Małgorzata Ratuszek Instytut Telekomunikacji Akademia Techniczno-Rolnicza, Bydgoszcz Światłowody przystosowane do WDM i ich rozwój Przedstawiono wpływ

Bardziej szczegółowo

2007-10-27. NA = sin Θ = (n rdzenia2 - n płaszcza2 ) 1/2. L[dB] = 10 log 10 (NA 1 /NA 2 )

2007-10-27. NA = sin Θ = (n rdzenia2 - n płaszcza2 ) 1/2. L[dB] = 10 log 10 (NA 1 /NA 2 ) dr inż. Krzysztof Hodyr Technika Światłowodowa Część 2 Tłumienie i straty w światłowodach Pojęcie dyspersji światłowodów Technika zwielokrotnienia WDM Źródła strat tłumieniowych sprzężenia światłowodu

Bardziej szczegółowo

Źródło światła λ = 850 nm λ = 1300 nm. Miernik. mocy optycznej. Badany odcinek światłowodu MM lub SM

Źródło światła λ = 850 nm λ = 1300 nm. Miernik. mocy optycznej. Badany odcinek światłowodu MM lub SM Sieci i instalacje z tworzyw sztucznych 2005 Wojciech BŁAŻEJEWSKI*, Paweł GĄSIOR*, Anna SANKOWSKA** *Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej, Politechnika Wrocławska **Wydział Elektroniki, Fotoniki

Bardziej szczegółowo

Łączenie włókien światłowodowych spawanie światłowodów. Spawy mechaniczne 0,05 0,2 db Spawanie 0,05 0,1 db

Łączenie włókien światłowodowych spawanie światłowodów. Spawy mechaniczne 0,05 0,2 db Spawanie 0,05 0,1 db Łączenie włókien światłowodowych spawanie światłowodów Złączki 0,2 1 db Spawy mechaniczne 0,05 0,2 db Spawanie 0,05 0,1 db Spawy mechaniczne 1. Elastomeric Lab Splice. Umożliwia setki połączeń 2. 3M Fibrlok.

Bardziej szczegółowo

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach

Bardziej szczegółowo

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku

Bardziej szczegółowo

Możliwości termicznego łączenia światłowodów jednomodowych wykorzystywanych w metrologii

Możliwości termicznego łączenia światłowodów jednomodowych wykorzystywanych w metrologii Sławomir Andrzej TORBUS Politechnika Warszawska, Wydział Budownictwa, Mechaniki i Petrochemii () doi:0.599/48.09.0.57 Możliwości termicznego łączenia światłowodów jednomodowych wykorzystywanych w metrologii

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest wykorzystanie promieniowania

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze optyczne

Wzmacniacze optyczne Wzmacniacze optyczne Wzmocnienie sygnału optycznego bez konwersji na sygnał elektryczny. Prezentacja zawiera kopie folii omawianych na wykładzie. Niniejsze opracowanie chronione jest prawem autorskim.

Bardziej szczegółowo

PL 217792 B1. Sposób termicznego łączenia w łuku elektrycznym włóknistych światłowodów fotonicznych

PL 217792 B1. Sposób termicznego łączenia w łuku elektrycznym włóknistych światłowodów fotonicznych PL 217792 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217792 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 387170 (51) Int.Cl. G02B 6/24 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

Pomiar tłumienności światłowodów włóknistych

Pomiar tłumienności światłowodów włóknistych LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 4 Pomiar tłumienności światłowodów włóknistych Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów z parametrem tłumienności światłowodów oraz ze sposobem jego pomiaru Badane elementy:

Bardziej szczegółowo

ROZPRAWY NR 133. Marek Ratuszek TERMICZNE PO CZENIA JEDNOMODOWYCH ŒWIAT OWODÓW TELEKOMUNIKACYJNYCH

ROZPRAWY NR 133. Marek Ratuszek TERMICZNE PO CZENIA JEDNOMODOWYCH ŒWIAT OWODÓW TELEKOMUNIKACYJNYCH UNIWERSYTET TECHNOLOGICZNO-PRZYRODNICZY IM. JANA I JÊDRZEJA ŒNIADECKICH W BYDGOSZCZY ROZPRAWY NR 133 Marek Ratuszek TERMICZNE PO CZENIA JEDNOMODOWYCH ŒWIAT OWODÓW TELEKOMUNIKACYJNYCH BYDGOSZCZ 008 REDAKTOR

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

KOREKCJA BŁĘDÓW W REFLEKTOMETRYCZNYCH POMIARACH DŁUGOŚCI ODCINKÓW SPAWANYCH TELEKOMUNIKACYJNYCH ŚWIATŁOWODÓW JEDNOMODOWYCH

KOREKCJA BŁĘDÓW W REFLEKTOMETRYCZNYCH POMIARACH DŁUGOŚCI ODCINKÓW SPAWANYCH TELEKOMUNIKACYJNYCH ŚWIATŁOWODÓW JEDNOMODOWYCH KOREKCJA BŁĘDÓW W REFLEKTOMETRYCZNYCH POMIARACH DŁUGOŚCI ODCINKÓW SPAWANYCH TELEKOMUNIKACYJNYCH ŚWIATŁOWODÓW JEDNOMODOWYCH dr inż. Marek Ratuszek, mgr inż. Zbigniew Zakrzewski, mgr inż. Jacek Majewski,

Bardziej szczegółowo

Technologia światłowodów włóknistych Kable światłowodowe

Technologia światłowodów włóknistych Kable światłowodowe Technologia światłowodów włóknistych Kable światłowodowe Prezentacja zawiera kopie folii omawianych na wykładzie. Niniejsze opracowanie chronione jest prawem autorskim. Wykorzystanie niekomercyjne dozwolone

Bardziej szczegółowo

Badania starzeniowe kompozytowych materiałów ekranujących pole EM wytworzonych metodą dwuźródłowego rozpylania magnetronowego

Badania starzeniowe kompozytowych materiałów ekranujących pole EM wytworzonych metodą dwuźródłowego rozpylania magnetronowego IX Konferencja Naukowo-Techniczna i-mitel 2016 Marcin LEWANDOWSKI 1 Politechnika Wrocławska, Wydział Elektryczny, Katedra Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii (1) Badania starzeniowe kompozytowych

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów 1 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia są badania morfologiczne powierzchni materiałów oraz analiza chemiczna obszarów

Bardziej szczegółowo

Skaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl.

Skaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl. Zamówienie publiczne w trybie przetargu nieograniczonego nr ZP/PN/15/2014 Przedmiot postępowania: Dostawa skaningowego mikroskopu elektronowego ARKUSZ INFORMACJI TECHNICZNEJ Wszystkie parametry podane

Bardziej szczegółowo

Typowe parametry włókna MMF-SI

Typowe parametry włókna MMF-SI Techniki światłowodowe Standardy telekomunikacyjnych włókien światłowodowych Zbigniew Zakrzewski ver.1.0 N W 1 Typowe parametry włókna MMF-SI Parametr Wartość Średnica rdzenia 50 400 µm Średnica płaszcza

Bardziej szczegółowo

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, 2016 Spis treści Wykaz ważniejszych skrótów i oznaczeń 11 Przedmowa 17 Wstęp 19 Literatura 26 Rozdział I.

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 2. Badanie apertury numerycznej światłowodów

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 2. Badanie apertury numerycznej światłowodów Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 2. Badanie apertury numerycznej światłowodów Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie Światłowody

Bardziej szczegółowo

Wykorzystanie oprogramowania Lumerical MODE

Wykorzystanie oprogramowania Lumerical MODE Wykorzystanie oprogramowania Lumerical MODE Elżbieta Bereś-Pawlik Katedra Radiokomunikacji i Teleinformatyki Instytut Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki Politechniki Wrocławskiej ul. Wybrzeże

Bardziej szczegółowo

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Metody i techniki badań II Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Dr inż. Agnieszka Kochmańska pok. 20 Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa agnieszka.kochmanska@zut.edu.pl

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 3. Światłowodowy, odbiciowy sensor przesunięcia Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

Rozpraszanie nieelastyczne

Rozpraszanie nieelastyczne Rozpraszanie nieelastyczne Przekazywanie energii elektronów wiązki prowadzi do emisji szeregu sygnałów wykorzystywanych w mikroskopii elektronowej i mikroanalizie rentgenowskiej: 1. Niskoenergetyczne elektrony

Bardziej szczegółowo

Łączenie włókien światłowodowych metodą spawania

Łączenie włókien światłowodowych metodą spawania Łączenie włókien światłowodowych metodą spawania Zbigniew KOPER TP S.A. OTO Lublin, Laboratorium Badawcze, ul. Energetyków 23, 20-468 Lublin, tel. 0 (81) 5244498, e-mail: koperz@zt.lublin.tpsa.pl Streszczenie:

Bardziej szczegółowo

Światłowodowy pierścieniowy laser erbowy

Światłowodowy pierścieniowy laser erbowy Marcin M. Kożak *, Tomasz P. Baraniecki *, Elżbieta M. Pawlik, Krzysztof M. Abramski, Instytut Telekomunikacji i Akustyki, Politechnika Wrocławska, Wrocław Światłowodowy pierścieniowy laser erbowy Przedstawiono

Bardziej szczegółowo

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Warszawa, dnia 17.11.2015r. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy przetargu nieograniczonego na: Dostawa stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Oddziaływanie elektronów ze stałą, krystaliczną próbką wstecznie rozproszone elektrony elektrony pierwotne

Bardziej szczegółowo

O NIEKTÓRYCH SKUTKACH ODDZIAŁYWANIA PROMIENIOWANIA LASERA RUBINOWEGO Z UKŁADEM CIENKA WARSTWA WĘGLIKÓW METALI NA KAPILARNO-POROWATYM PODŁOŻU

O NIEKTÓRYCH SKUTKACH ODDZIAŁYWANIA PROMIENIOWANIA LASERA RUBINOWEGO Z UKŁADEM CIENKA WARSTWA WĘGLIKÓW METALI NA KAPILARNO-POROWATYM PODŁOŻU FIZYA BUDWLI W TERII I PRATYCE TM IV, 29 Sekcja Fizyki Budowli ILiW PAN NIETÓRYCH SUTACH DDZIAŁYWANIA PRMIENIWANIA LASERA RUBINWEG Z UŁADEM CIENA WARSTWA WĘGLIÓW METALI NA APILARN-PRWATYM PDŁŻU Piotr LEMM

Bardziej szczegółowo

IV. Transmisja. /~bezet

IV. Transmisja.  /~bezet Światłowody IV. Transmisja BERNARD ZIĘTEK http://www.fizyka.umk.pl www.fizyka.umk.pl/~ /~bezet 1. Tłumienność 10 7 10 6 Tłumienność [db/km] 10 5 10 4 10 3 10 2 10 SiO 2 Tłumienność szkła w latach (za A.

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3. Badanie wpływu makrozagięć światłowodów na ich tłumienie.

Ćwiczenie 3. Badanie wpływu makrozagięć światłowodów na ich tłumienie. LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI Ćwiczenie 3 Badanie wpływu makrozagięć światłowodów na ich tłumienie. Cel ćwiczenia: Zapoznanie studentów z wpływem mikro- i makrozgięć światłowodów włóknistych na ich tłumienność.

Bardziej szczegółowo

Wzmacniacze optyczne ZARYS PODSTAW

Wzmacniacze optyczne ZARYS PODSTAW Wzmacniacze optyczne ZARYS PODSTAW REGENERATOR konwertuje sygnał optyczny na elektryczny, wzmacnia sygnał elektryczny, a następnie konwertuje wzmocniony sygnał elektryczny z powrotem na sygnał optyczny

Bardziej szczegółowo

Projekt NCN DEC-2013/09/D/ST8/ Kierownik: dr inż. Marcin Kochanowicz

Projekt NCN DEC-2013/09/D/ST8/ Kierownik: dr inż. Marcin Kochanowicz Realizowane cele Projekt pt. Badanie mechanizmów wpływających na różnice we właściwościach luminescencyjnych szkieł i wytworzonych z nich światłowodów domieszkowanych lantanowcami dotyczy badań związanych

Bardziej szczegółowo

Kable abonenckie odporne na zginanie

Kable abonenckie odporne na zginanie Kable abonenckie odporne na zginanie Resibend TM Resibend Plus TM Dynamiczny rozwój systemów FTTH (Fiber To The Home to jeden z wielu zauważalnych trendów, towarzyszących rozpowszechnieniu technik światłowodowych

Bardziej szczegółowo

Tytuł pracy w języku angielskim: Microstructural characterization of Ag/X/Ag (X = Sn, In) joints obtained as the effect of diffusion soledering.

Tytuł pracy w języku angielskim: Microstructural characterization of Ag/X/Ag (X = Sn, In) joints obtained as the effect of diffusion soledering. Dr inż. Przemysław Skrzyniarz Kierownik pracy: Prof. dr hab. inż. Paweł Zięba Tytuł pracy w języku polskim: Charakterystyka mikrostruktury spoin Ag/X/Ag (X = Sn, In) uzyskanych w wyniku niskotemperaturowego

Bardziej szczegółowo

Oferta badań materiałowych

Oferta badań materiałowych Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta badań materiałowych O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym na świadczenie najwyższej jakości usług oraz

Bardziej szczegółowo

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz. Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii Laboratorium z Krystalografii 2 godz. Zbadanie zależności intensywności linii Ka i Kb promieniowania charakterystycznego X emitowanego przez anodę

Bardziej szczegółowo

III. Opis falowy. /~bezet

III. Opis falowy.  /~bezet Światłowody III. Opis falowy BERNARD ZIĘTEK http://www.fizyka.umk.pl www.fizyka.umk.pl/~ /~bezet Równanie falowe w próżni Teoria falowa Równanie Helmholtza Równanie bezdyspersyjne fali płaskiej, rozchodzącej

Bardziej szczegółowo

Wielomodowe, grubordzeniowe

Wielomodowe, grubordzeniowe Wielomodowe, grubordzeniowe i z plastykowym pokryciem włókna. Przewężki i mikroelementy Multimode, Large-Core, and Plastic Clad Fibers. Tapered Fibers and Specialty Fiber Microcomponents Wprowadzenie Włókna

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego

Załącznik nr 8. do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Załącznik nr 8 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego.

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej w Ustroniu Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. Anna Legutko Promotor: prof. zw. dr hab.

Bardziej szczegółowo

EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2013/2014. Zadania z teleinformatyki na zawody III stopnia

EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2013/2014. Zadania z teleinformatyki na zawody III stopnia EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2013/2014 Zadania z teleinformatyki na zawody III stopnia Lp. Zadanie 1. Dla wzmacniacza mikrofalowego o wzmocnieniu

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 5. Badanie wpływu periodycznych zgięd na tłumiennośd światłowodu

Laboratorium techniki światłowodowej. Ćwiczenie 5. Badanie wpływu periodycznych zgięd na tłumiennośd światłowodu Laboratorium techniki światłowodowej Ćwiczenie 5. Badanie wpływu periodycznych zgięd na tłumiennośd Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wprowadzenie

Bardziej szczegółowo

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s) Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę

Bardziej szczegółowo

Sprzęg światłowodu ze źródłem światła

Sprzęg światłowodu ze źródłem światła Sprzęg światłowodu ze źródłem światła Oczywistym problemem przy sprzęganiu światłowodu ze źródłami światła jest w pierwszym rzędzie umieszczenie wiazki w wewnatrz apertury numeryczne światłowodu. W przypadku

Bardziej szczegółowo

Pomiary parametrów telekomunikacyjnych światłowodów jednomodowych. Na poprzednim wykładzie przedstawiono podstawowe parametry światłowodów

Pomiary parametrów telekomunikacyjnych światłowodów jednomodowych. Na poprzednim wykładzie przedstawiono podstawowe parametry światłowodów Pomiary parametrów telekomunikacyjnych światłowodów jednomodowych Na poprzednim wykładzie przedstawiono podstawowe parametry światłowodów Prezentacja zawiera kopie folii omawianych na wykładzie. Niniejsze

Bardziej szczegółowo

Czy atomy mogą być piękne?

Czy atomy mogą być piękne? Krzysztof Matus Doktorant w Instytucie Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Czy atomy mogą być piękne? W czasach, gdy ciągły rozwój nauki połączony

Bardziej szczegółowo

Światłowodowy wzmacniacz erbowy z płaską charakterystyką wzmocnienia

Światłowodowy wzmacniacz erbowy z płaską charakterystyką wzmocnienia Tomasz P. Baraniecki *, Marcin M. Kożak *, Elżbieta M. Pawlik, Krzysztof M. Abramski Instytut Telekomunikacji i Akustyki Politechniki Wrocławskiej, Wrocław Światłowodowy wzmacniacz erbowy z płaską charakterystyką

Bardziej szczegółowo

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz. Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii Laboratorium z Krystalografii 2 godz. Zbadanie zależności intensywności linii Kα i Kβ promieniowania charakterystycznego X emitowanego przez anodę

Bardziej szczegółowo

Pomiar energii wiązania deuteronu. Celem ćwiczenia jest wyznaczenie energii wiązania deuteronu

Pomiar energii wiązania deuteronu. Celem ćwiczenia jest wyznaczenie energii wiązania deuteronu J1 Pomiar energii wiązania deuteronu Celem ćwiczenia jest wyznaczenie energii wiązania deuteronu Przygotowanie: 1) Model deuteronu. Własności deuteronu jako źródło informacji o siłach jądrowych [4] ) Oddziaływanie

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Transmisja bezprzewodowa

Transmisja bezprzewodowa Sieci komputerowe Wykład 6: Media optyczne Transmisja bezprzewodowa Wykład prowadzony przez dr inż. Mirosława Hajdera dla studentów 3 roku informatyki, opracowany przez Joannę Pliś i Piotra Lasotę, 3 FD.

Bardziej szczegółowo

Zjawiska zachodzące w półprzewodnikach Przewodniki samoistne i niesamoistne

Zjawiska zachodzące w półprzewodnikach Przewodniki samoistne i niesamoistne Zjawiska zachodzące w półprzewodnikach Przewodniki samoistne i niesamoistne Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego. Zadania elektroniki: Urządzenia elektroniczne

Bardziej szczegółowo

EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2012/2013 Zadania dla grupy elektronicznej na zawody III stopnia

EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2012/2013 Zadania dla grupy elektronicznej na zawody III stopnia EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2012/2013 Zadania dla grupy elektronicznej na zawody III stopnia Zadanie 1. Jednym z najnowszych rozwiązań czujników

Bardziej szczegółowo

Podstawy fizyki wykład 2

Podstawy fizyki wykład 2 D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,

Bardziej szczegółowo

SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer

SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer EDX 3600B SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer Przeznaczony do analizy pierwiastkowej: - w produkcji cementu,

Bardziej szczegółowo

S. Baran - Podstawy fizyki materii skondensowanej Półprzewodniki. Półprzewodniki

S. Baran - Podstawy fizyki materii skondensowanej Półprzewodniki. Półprzewodniki Półprzewodniki Definicja i własności Półprzewodnik materiał, którego przewodnictwo rośnie z temperaturą (opór maleje) i w temperaturze pokojowej wykazuje wartości pośrednie między przewodnictwem metali,

Bardziej szczegółowo

Technika falo- i światłowodowa

Technika falo- i światłowodowa Technika falo- i światłowodowa Falowody elementy planarne (płytki, paski) Światłowody elementy cylindryczne (włókna światłowodowe) płytkowy paskowy włókno optyczne Rdzeń o wyższym współczynniku załamania

Bardziej szczegółowo

Światłowody telekomunikacyjne

Światłowody telekomunikacyjne Światłowody telekomunikacyjne Parametry i charakteryzacja światłowodów Kolejny wykład będzie poświęcony metodom pomiarowym Prezentacja zawiera kopie folii omawianych na wykładzie. Niniejsze opracowanie

Bardziej szczegółowo

Włókno G.657A2! mniejszy promieo gięcia od kabli z włóknami G.657A1

Włókno G.657A2! mniejszy promieo gięcia od kabli z włóknami G.657A1 04 Kable FTTH serii OPTI-BEND Włókno G.657A2! mniejszy promieo gięcia od kabli z włóknami G.657A1 Seria kabli OPTI-BEND to światłowodowe kable FTTH przeznaczony dla sieci FTTH (Fiber To The Home). Zawierają

Bardziej szczegółowo

Politechnika Politechnika Koszalińska

Politechnika Politechnika Koszalińska Politechnika Politechnika Instytut Mechatroniki, Nanotechnologii i Technik Próżniowych NOWE MATERIAŁY NOWE TECHNOLOGIE W PRZEMYŚLE OKRĘTOWYM I MASZYNOWYM IIM ZUT Szczecin, 28 31 maja 2012, Międzyzdroje

Bardziej szczegółowo

Przyrządy i układy półprzewodnikowe

Przyrządy i układy półprzewodnikowe Przyrządy i układy półprzewodnikowe Prof. dr hab. Ewa Popko ewa.popko@pwr.edu.pl www.if.pwr.wroc.pl/~popko p.231a A-1 Zawartość wykładu Wy1, Wy2 Wy3 Wy4 Wy5 Wy6 Wy7 Wy8 Wy9 Wy10 Wy11 Wy12 Wy13 Wy14 Wy15

Bardziej szczegółowo

Analiza aktywacyjna składu chemicznego na przykładzie zawartości Mn w stali.

Analiza aktywacyjna składu chemicznego na przykładzie zawartości Mn w stali. Analiza aktywacyjna składu chemicznego na przykładzie zawartości Mn w stali. Projekt ćwiczenia w Laboratorium Fizyki i Techniki Jądrowej na Wydziale Fizyki Politechniki Warszawskiej. dr Julian Srebrny

Bardziej szczegółowo

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki Politechnika Wrocławska Wydział Podstawowych Problemów Techniki specjalność FOTONIKA 3,5-letnie studia stacjonarne I stopnia (studia inżynierskie) FIZYKA TECHNICZNA Charakterystyka wykształcenia: - dobre

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA

FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA załącznik nr 1a do SIWZ nr postępowania: BZP.2410.5.2018.BD Postępowanie przetargowe pn.: Dostawa, instalacja i uruchomienie fabrycznie nowego elektronowego mikroskopu skaningowego

Bardziej szczegółowo

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ Ewa Teper PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ WIELKOŚĆ I RODZAJE PRÓBEK Maksymalne wymiary próbki, którą można umieścić na stoliku mikroskopu skaningowego są następujące: Próbka powinna się

Bardziej szczegółowo

Laboratorium z Krystalografii specjalizacja: Fizykochemia związków nieorganicznych

Laboratorium z Krystalografii specjalizacja: Fizykochemia związków nieorganicznych Uniwersytet Śląski - Instytut Chemii Zakład Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40-006 Katowice tel. 0323591197, e-mail: izajen@wp.pl opracowanie: dr Izabela Jendrzejewska Laboratorium z Krystalografii

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia Fluorescencyjna promieniowania X

Spektroskopia Fluorescencyjna promieniowania X Spektroskopia Fluorescencyjna promieniowania X Technika X-ray Energy Spectroscopy (XES) a) XES dla określenia składu substancji (jakie pierwiastki) b) XES dla ustalenia struktury elektronicznej (informacja

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL PL 224674 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224674 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 409674 (51) Int.Cl. G02B 6/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski Jarosław Rochowicz Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Praca magisterska Wpływ napięcia podłoża na właściwości mechaniczne powłok CrCN nanoszonych

Bardziej szczegółowo

Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego

Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego Przemysław CEYNOWA Wydział Elektroniki i Informatyki, Politechnika Koszalińska E-mail: przemysław.ceynowa@gmail.com Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego

Bardziej szczegółowo

NAPRĘŻENIA ŚCISKAJĄCE PRZY 10% ODKSZTAŁCENIU WZGLĘDNYM PRÓBEK NORMOWYCH POBRANYCH Z PŁYT EPS O RÓŻNEJ GRUBOŚCI

NAPRĘŻENIA ŚCISKAJĄCE PRZY 10% ODKSZTAŁCENIU WZGLĘDNYM PRÓBEK NORMOWYCH POBRANYCH Z PŁYT EPS O RÓŻNEJ GRUBOŚCI PRACE INSTYTUTU TECHNIKI BUDOWLANEJ - KWARTALNIK 1 (145) 2008 BUILDING RESEARCH INSTITUTE - QUARTERLY No 1 (145) 2008 Zbigniew Owczarek* NAPRĘŻENIA ŚCISKAJĄCE PRZY 10% ODKSZTAŁCENIU WZGLĘDNYM PRÓBEK NORMOWYCH

Bardziej szczegółowo

Widmo promieniowania

Widmo promieniowania Widmo promieniowania Spektroskopia Każde ciało wysyła promieniowanie. Promieniowanie to jest składa się z wiązek o różnych długościach fal. Jeśli wiązka światła pada na pryzmat, ulega ono rozszczepieniu,

Bardziej szczegółowo

Techniki próżniowe (ex situ)

Techniki próżniowe (ex situ) Techniki próżniowe (ex situ) Oddziaływanie promieniowania X z materią rearrangement X-ray photon X-ray emission b) rearrangement a) photoemission photoelectron Auger electron c) Auger/X-ray emission a)

Bardziej szczegółowo

Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny Instytut Inżynierii Materiałowej Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa

Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny Instytut Inżynierii Materiałowej Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny Instytut Inżynierii Materiałowej Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa Przedmiot: Inżynieria Powierzchni / Powłoki Ochronne / Powłoki Metaliczne i Kompozytowe

Bardziej szczegółowo

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI Tytuł: Makroskopowe i mikroskopowe badania metalograficzne materiałów konstrukcyjnych i ich połączeń spajanych Opracował: pod redakcją dr. hab. inż. Mirosława Łomozika Rok wydania: 2009 Wydawca: Instytut

Bardziej szczegółowo

Zjawiska w niej występujące, jeśli jest ona linią długą: Definicje współczynników odbicia na początku i końcu linii długiej.

Zjawiska w niej występujące, jeśli jest ona linią długą: Definicje współczynników odbicia na początku i końcu linii długiej. 1. Uproszczony schemat bezstratnej (R = 0) linii przesyłowej sygnałów cyfrowych. Zjawiska w niej występujące, jeśli jest ona linią długą: odbicie fali na końcu linii; tłumienie fali; zniekształcenie fali;

Bardziej szczegółowo

Wybrane techniki pomiarowe światłowodów

Wybrane techniki pomiarowe światłowodów Wybrane techniki pomiarowe światłowodów Podstawowe parametry światłowodów apertura numeryczna tłumienność dyspersja chromatyczna pasmo transmisji średnica pola modowego profil refrakcyjny rozkład mocy

Bardziej szczegółowo

Rekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja

Rekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja Rekapitulacja Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Konsultacje: czwartek

Bardziej szczegółowo

Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn

Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta dedykowana dla Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 7 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego

Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Półprzewodniki i elementy z półprzewodników homogenicznych Ryszard J. Barczyński, 2012 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Publikacja

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 2 : Badanie licznika proporcjonalnego fotonów X

Ćwiczenie nr 2 : Badanie licznika proporcjonalnego fotonów X Ćwiczenie nr 2 : Badanie licznika proporcjonalnego fotonów X Oskar Gawlik, Jacek Grela 16 lutego 2009 1 Podstawy teoretyczne 1.1 Liczniki proporcjonalne Wydajność detekcji promieniowania elektromagnetycznego

Bardziej szczegółowo

Badania korozji oraz elementów metalowych

Badania korozji oraz elementów metalowych Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta dedykowana dla Badania korozji oraz elementów metalowych O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym na świadczenie

Bardziej szczegółowo

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM).

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM). Ewa Teper PODSTAWY MIKROSKOPII SKANINGOWEJ Podstawowe zasady działania mikroskopu skaningowego. W mikroskopach skaningowych wiązka elektronów bombarduje próbkę, skanując jej powierzchnię linia po linii.

Bardziej szczegółowo

GJFJBZY-2A1a G50- W-NOTKSd duplex

GJFJBZY-2A1a G50- W-NOTKSd duplex GJFJBZY-2A1a G50- W-NOTKSd duplex Optical fibre distribution cables with two fibres (duplex) Optotelekomunikacyjne kable stacyjne dwuwłóknowe (duplex) 1. Cable type: Typ kabla GJFJBZY-2A1a G50 /odpowiednik

Bardziej szczegółowo

Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Światłowody

Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Światłowody Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki Marcin Polkowski 251328 Światłowody Pracownia Fizyczna dla Zaawansowanych ćwiczenie L6 w zakresie Optyki Streszczenie Celem wykonanego na Pracowni Fizycznej dla Zaawansowanych

Bardziej szczegółowo

Dr hab. inż. Marek Błahut, prof. nzw. w Pol. Śl Katedra Optoelektroniki Wydział Elektryczny Politechnika Śląska w Gliwicach

Dr hab. inż. Marek Błahut, prof. nzw. w Pol. Śl Katedra Optoelektroniki Wydział Elektryczny Politechnika Śląska w Gliwicach Dr hab. inż. Marek Błahut, prof. nzw. w Pol. Śl. 21.09.2017 Katedra Optoelektroniki Wydział Elektryczny Politechnika Śląska w Gliwicach RECENZJA pracy doktorskiej mgr inż. Tomasza Raginia zatytułowanej

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY Załącznik nr 2 do SIWZ Załacznik nr 2 do umowy SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY Przedmiot oferty: Wysokorozdzielczy skaningowy

Bardziej szczegółowo

Standardowe i specjalne światłowody jednomodowe. Communications as well as Specialty Single-Mode Fibers

Standardowe i specjalne światłowody jednomodowe. Communications as well as Specialty Single-Mode Fibers Standardowe i specjalne światłowody jednomodowe Communications as well as Specialty Single-Mode Fibers Ograniczenia systemowe na projektowane włókna Standardy ITU International Telecommunication Union

Bardziej szczegółowo