ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT"

Transkrypt

1 MECHANIK 7/2013 Mgr inż. Małgorzata BUŻANTOWICZ Muzeum i Instytut Zoologii PAN Mgr inż. Witold BUŻANTOWICZ Wojskowa Akademia Techniczna ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT Streszczenie: Skaningowa mikroskopia elektronowa jest techniką obrazowania szeroko wykorzystywaną w wielu dziedzinach nauki. Niniejszy referat porusza zagadnienie zastosowania SEM do inspekcji układów elektronicznych wykonanych w technologii montażu powierzchniowego. USE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY FOR INSPECTION OF SURFACE MOUNT ELECTRONIC COMPONENTS Abstract: The scanning electron microscopy technique (SEM) is widely used in many fields of science. This paper raises the question of its application for inspection of electronic circuits made in surface-mount technology (SMT). Słowa kluczowe: skaningowa mikroskopia elektronowa, montaż powierzchniowy Keywords: scanning electron microscopy (SEM), surface-mount technology (SMT) 1. SKANINGOWA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM, ang. scanning electron microscopy) jest szeroko rozpowszechnioną metodą badawczo-pomiarową, w ujęciu klasycznym umożliwiającą obrazowanie struktur i morfologii analizowanych materiałów za pomocą zogniskowanej wiązki elektronów, skanującej linia po linii fragmenty powierzchni badanych próbek. W wyniku analogowo-cyfrowego przetworzenia sygnałów rejestrowanych przez układy detektorów jako rezultat oddziaływania emitowanych elektronów z badanym materiałem uzyskuje się obraz dwuwymiarowy lub widmo promieniowania rentgenowskiego. Prowadzone w ostatnich latach prace rozwojowe zmieniają te cechy, pozwalając na obserwację wymagających tego obiektów w atmosferze gazowej lub trójwymiarowe obrazowanie topografii ich powierzchni [2]. Elektronowe mikroskopy skaningowe zapewniają możliwość wykonywania zdjęć badanych materiałów w powiększeniach do 300 tysięcy razy w trzech podstawowych trybach pracy: niskonapięciowym oraz próżni wysokiej (HV, ang high vacuum) i niskiej (LV, ang. low vacuum). W szczególności stosowanie trybu próżni niskiej (LV) pozwala obrazować obiekty delikatne, narażone na uszkodzenia, umożliwiając tym samym pominięcie etapu typowej dla materiałów nieprzewodzących preparatyki. Dodatkowo mikroskopy SEM wyposaża się w systemy mikroanalizy rentgenowskiej do prowadzenia jakościowych i ilościowych pomiarów składu chemicznego próbek metodą dyspersji energii (EDS, ang. energy-dispersive X-ray spectroscopy) lub dyspersji długości fali (WDS, ang. wavelength-dispersive X-ray spectroscopy) promieniowania rentgenowskiego. 71

2 MECHANIK 7/2013 Rys. 1. Wybrane przykłady zastosowań i obrazów SEM: a) badania antropologiczne (ludzka brew), b) geologia (kokolit sprzed 150 mln lat), c) materiałoznawstwo (powierzchnia płytki niklowej), d) archeologia (brzeg monety z końca XIX w.), e) przemysł spożywczy (ziarno kawy), f) krystalografia (kryształ NaCl), g) weterynaria (badania na obecność pasożytów), h) zoologia (chrząszcz z rodzaju Tribolium) 72

3 MECHANIK 7/2013 Dzięki wyszczególnionym wyżej możliwościom aparatura laboratoryjna SEM charakteryzuje się bardzo szerokim zakresem stosowalności (por. rys. 1), obejmującym m.in. takie dziedziny nauki i techniki, jak: inżynieria materiałowa i materiałoznawstwo kontrola jakości, analiza wad, pęknięć, wtrąceń i korozji, analiza składu i mapowanie, metalurgia analiza fazowa stopów, efektów obróbki termicznej, chemicznej i defektów wyrobu, biologia i zoologia obserwacja struktur przekrojów i powierzchni próbek organicznych, chemia, medycyna i farmacja badanie składu chemicznego, dokumentowanie struktury implantów i elementów biomechanicznych, geologia i archeologia identyfikacja faz i skamieniałości, kryminalistyka identyfikacja próbek, analiza antropologiczna 2. PRZYKŁAD ZASTOSOWANIA SEM DO INSPEKCJI UKŁADÓW WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT Jednym z możliwych zastosowań SEM jest inspekcja układów elektronicznych wykonanych w technologii SMT wiodącej na rynku metody montażu elementów elektroniki. Zakres stosowalności SEM jest w tym przypadku szerszy w porównaniu do klasycznych (optycznych) metod weryfikacji, bowiem obok uwidaczniania typowych błędów montażowych (rys. 3) umożliwia ona m.in. detekcję trudnowykrywalnych w zakresie fal światła widzialnego mikrouszkodzeń elementów (rys. 2), obrazowanie struktury lutu (rys. 4 i rys. 5) oraz analizę jego składu chemicznego (rys. 6). Wspomniane mikropęknięcia, pojawiające się m.in. w strukturach kondensatorów tantalowych lub ceramicznych MLCC w wyniku gwałtownego nagrzania w procesie montażu, mogą skutkować obok ewidentnych uszkodzeń, takich jak zwarcie uszkodzeniami częściowymi, np. niewielką utratą pojemności bądź wzrostem rezystancji szeregowej (ESR). Defekty takie skomplikowane do wykrycia metodami klasycznymi kumulują się i propagują z czasem, fatalnie wpływając na niezawodność urządzeń. Skaningową mikroskopię elektronową szeroko stosuje się ponadto w pracach rozwojowych nad nowoczesnymi strukturami półprzewodnikowymi i elementami układów elektronicznych nowej generacji [1,5], a także w badaniach niezawodnościowych połączeń lutowanych i testach ich termicznej odporności zmęczeniowej [3,4]. Znajdujące się na wyposażeniu aparatury SEM mikroanalizatory rentgenowskie dodatkowo zwiększają spektrum stosowalności urządzenia w omawianym zakresie, umożliwiając prowadzenie analiz ilościowych i jakościowych składu chemicznego powierzchni lutowanych (punktowo i w mikroobszarach), tworzenie map pierwiastków (ang. chemical mapping) oraz śledzenie zmian zawartości tychże wzdłuż linii skanowania (por. rys. 6). 73

4 MECHANIK 7/2013 Rys. 2. Mikropęknięcia elementów elektronicznych SMD ujawnione w wyniku przeprowadzenia badania SEM Rys. 3. Zdjęcia wykonane w technologii SEM ukazują nie tylko ewentualne błędy montażu, ale i niewidoczne pod mikroskopami optycznymi niejednorodności struktury soldera 74

5 MECHANIK 7/2013 Rys. 4. Powierzchnia przekroju soldera obserwowana pod mikroskopem skaningowym w 420-krotnym powiększeniu Rys. 5. Struktura soldera w 1500-krotnym powiększeniu (wyraźnie widoczne jasne obszary o zwiększonej zawartości ołowiu) 75

6 MECHANIK 7/2013 liczba zliczeń detektora Rys. 6. Przykładowy wynik analizy EDS powierzchni przekroju soldera 3. PODSUMOWANIE Do wizyjnej inspekcji linii montażowych SMT na szeroką skalę wykorzystuje się optyczne mikroskopy cyfrowe, zapewniające trójwymiarowe obrazowanie kontrolowanych podzespołów. Stosowanie w tym celu SEM jest na etapie produkcji nieopłacalne, ponadto zaś złożone pod względem technicznym. Należy jednak brać pod uwagę możliwość wykorzystania prezentowanej techniki obrazowania podczas projektowania i realizacji procesu badawczorozwojowego układów elektronicznych jako metody wspomagającej do weryfikacji zjawisk i pomiaru parametrów trudnych do zmierzenia metodami klasycznymi. LITERATURA [1] Kiełbasiński K., Młożniak A., Jakubowska M.: Environmental friendly thick film resistors with wide resistance range, Materiały Elektroniczne, vol. 36, nr 4/2008, s [2] Słówko W., Krzysztof M.: System detekcyjny elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych do obrazowania 3D w niskopróżniowej SEM, Elektronika konstrukcje, technologie, zastosowania, vol. 53, nr 2/2012, s [3] So A.C., Chan Y.C.: Reliability Studies of Surface Mount Solder Joints Effect of Cu-Sn Intermetallic Compounds, IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Part B, Vol. 19, No. 3, August 1996, pp [4] Tu P.L., Chan Y.C., Lai J.K.: Effect of Intermetallic Compounds on the Thermal Fatigue of Surface Mount Solder Joints, IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Part B, Vol. 20, No. 1, February 1997, pp [5] Zynek J., Hejduk K., Klima K., Możdżonek M., Stonert A., Turos A., Rzodkiewicz W.: Azotek krzemu stosowany w technologii planarnych fotodiod wykonanych na bazie InP, Materiały Elektroniczne, vol. 36, nr 4/2008, s

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie technologii montażu powierzchniowego oraz nowoczesnych systemów inspekcji optycznej w przemyśle elektronicznym.

Zastosowanie technologii montażu powierzchniowego oraz nowoczesnych systemów inspekcji optycznej w przemyśle elektronicznym. ZARZĄDZANIE I INŻYNIERIA PRODUKCJI Zastosowanie technologii montażu powierzchniowego oraz nowoczesnych systemów inspekcji optycznej w przemyśle elektronicznym. RYS HISTORICZNY ROZWOJU ELEKTRONIKI Elektronika

Bardziej szczegółowo

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s) Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest wykorzystanie promieniowania

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych 1 Projekt MERFLENG... W 2012 roku

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów 1 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia są badania morfologiczne powierzchni materiałów oraz analiza chemiczna obszarów

Bardziej szczegółowo

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI Tytuł: Makroskopowe i mikroskopowe badania metalograficzne materiałów konstrukcyjnych i ich połączeń spajanych Opracował: pod redakcją dr. hab. inż. Mirosława Łomozika Rok wydania: 2009 Wydawca: Instytut

Bardziej szczegółowo

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Mikroskopii Elektronowej

Laboratorium Mikroskopii Elektronowej Laboratorium Mikroskopii Elektronowej Laboratorium ma na wyposażeniu następujące narzędzia analityczne: spektroskop fotoelektronów XPS ESCALAB 250Xi firmy ThermoScience; umożliwiający pomiary w trybach

Bardziej szczegółowo

Grafen materiał XXI wieku!?

Grafen materiał XXI wieku!? Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?

Bardziej szczegółowo

PRACOWNIA MIKROSKOPII

PRACOWNIA MIKROSKOPII 1. Kierownik Pracowni: Dr hab. Andrzej Wojtczak, prof. UMK 2. Wykonujący badania: Mgr Grzegorz Trykowski 3. Adres: Uniwersytet Mikołaja Kopernika Wydział Chemii Pracownia Analiz Instrumentalnych ul. Gagarina

Bardziej szczegółowo

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 Spis treści Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 WPROWADZENIE... 15 1. PROBLEMY WYSTĘPUJĄCE W PROCESACH SZLIFOWANIA OTWORÓW ŚCIERNICAMI Z MIKROKRYSTALICZNYM KORUNDEM SPIEKANYM I SPOIWEM CERAMICZNYM...

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa ćw 5 Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa PRZEDMIOT: NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Opracowały: cz. teoretyczna: dr hab. Beata Grabowska

Bardziej szczegółowo

PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *)

PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *) Grażyna GILEWSKA PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *) STRESZCZENIE W artykule przedstawiono stosowane metody obrazowania struktur

Bardziej szczegółowo

KATALOG OSTATNICH BADAŃ

KATALOG OSTATNICH BADAŃ KATALOG OSTATNICH BADAŃ Tytuł badań: Badania nieinwazyjne obrazu olejnego na blasze miedzianej z XVI/XVII w. Data wykonania: wrzesień 2009 Opis: Przy pomocy podczerwonej kamery Hammamatsu wykonano 24 zdjęcia

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie

Bardziej szczegółowo

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32 Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola

Bardziej szczegółowo

Recenzja. (podstawa opracowania: pismo Dziekana WIPiTM: R-WIPiTM-249/2014 z dnia 15 maja 2014 r.)

Recenzja. (podstawa opracowania: pismo Dziekana WIPiTM: R-WIPiTM-249/2014 z dnia 15 maja 2014 r.) Prof. dr hab. Mieczysław Jurczyk Politechnika Poznańska Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania Instytut Inżynierii Materiałowej Poznań, 2014-06-02 Recenzja rozprawy doktorskiej p. mgr inż. Sebastiana Garusa

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 14 Data wydania: 5 lutego 2016 r. AB 097 Kod identyfikacji

Bardziej szczegółowo

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym

Bardziej szczegółowo

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM).

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM). Ewa Teper PODSTAWY MIKROSKOPII SKANINGOWEJ Podstawowe zasady działania mikroskopu skaningowego. W mikroskopach skaningowych wiązka elektronów bombarduje próbkę, skanując jej powierzchnię linia po linii.

Bardziej szczegółowo

BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM. Klaudia Radomska

BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM. Klaudia Radomska WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera w Ustroniu Wydział InŜynierii Dentystycznej BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM Klaudia Radomska Praca dyplomowa napisana

Bardziej szczegółowo

Spektrometr ICP-AES 2000

Spektrometr ICP-AES 2000 Spektrometr ICP-AES 2000 ICP-2000 to spektrometr optyczny (ICP-OES) ze wzbudzeniem w indukcyjnie sprzężonej plazmie (ICP). Wykorztystuje zjawisko emisji atomowej (ICP-AES). Umożliwia wykrywanie ok. 70

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU

PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 1 PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 2 Metalografia - nauka o wewnętrznej budowie materiałów metalicznych (metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych. 3

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

Laboratorium badań materiałowych i technologicznych. dr inż. Tomasz Kurzynowski

Laboratorium badań materiałowych i technologicznych. dr inż. Tomasz Kurzynowski Laboratorium badań materiałowych i technologicznych dr inż. Tomasz Kurzynowski Agenda Oferta badawcza Wyposażenie laboratorium Przykłady realizowanych badań Opracowanie i rozwój nowych materiałów Zastosowanie

Bardziej szczegółowo

Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej

Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej mgr Ewa Starnawska Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej SE morfologia BSE kompozycja i topografia BSEX - dyfrakcja EDX informacja o składzie chemicznym CL - katodoluminescencja Skaningowy mikroskop

Bardziej szczegółowo

ODPORNOŚĆ STALIWA NA ZUŻYCIE EROZYJNE CZĘŚĆ II. ANALIZA WYNIKÓW BADAŃ

ODPORNOŚĆ STALIWA NA ZUŻYCIE EROZYJNE CZĘŚĆ II. ANALIZA WYNIKÓW BADAŃ Szybkobieżne Pojazdy Gąsienicowe (15) nr 1, 2002 Stanisław JURA Roman BOGUCKI ODPORNOŚĆ STALIWA NA ZUŻYCIE EROZYJNE CZĘŚĆ II. ANALIZA WYNIKÓW BADAŃ Streszczenie: W części I w oparciu o teorię Bittera określono

Bardziej szczegółowo

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Mariusz Kępczyński, p. 148, kepczyns@chemia.uj.edu.pl Wstęp Plan wykładu mikroskopia

Bardziej szczegółowo

GEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie

GEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie GEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie geologiczne Geologia inżynierska, geofizyka, hydrogeologia,

Bardziej szczegółowo

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej Dorota Kunkel Implant wszystkie przyrządy medyczne wykonywane z jednego lub więcej biomateriałów, które mogą być umiejscowione wewnątrz organizmu, jak też częściowo lub całkowicie pod powierzchnią nabłonka

Bardziej szczegółowo

Technologie Materiałowe II Spajanie materiałów

Technologie Materiałowe II Spajanie materiałów KATEDRA INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ I SPAJANIA ZAKŁAD INŻYNIERII SPAJANIA Technologie Materiałowe II Spajanie materiałów Wykład 12 Lutowanie miękkie (SOLDERING) i twarde (BRAZING) dr inż. Dariusz Fydrych Kierunek

Bardziej szczegółowo

STRESZCZENIE. 137 Cs oraz

STRESZCZENIE. 137 Cs oraz STRESZCZENIE Celem pracy była synteza szkieł krzemionkowych metodą zol-żel i ocena możliwości ich zastosowania w procesie witryfikacji (zeszklenia) odpadów promieniotwórczych. Szkła krzemionkowe dotowano

Bardziej szczegółowo

Spółka z o.o. UCZESTNICY WARSZTATÓW: Lekarze rezydenci i specjaliści, technicy w pracowniach diagnostycznych i histopatologicznych

Spółka z o.o. UCZESTNICY WARSZTATÓW: Lekarze rezydenci i specjaliści, technicy w pracowniach diagnostycznych i histopatologicznych e-mail: kawaska@kawaska.pl WARSZTATY: TECHNIKI MIKROSKOPOWE I INFORMATYCZNE W BADANIU PRÓBEK BIOLOGICZNYCH, CZ. 1 Objęte patronatem Polskiego Towarzystwa Patologów pod przewodnictwem Prezes Zarządu Głównego

Bardziej szczegółowo

MOŻLIWOŚCI WYKORZYSTANIA PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO W BADANIACH MAŁYCH MASZYN ELEKTRYCZNYCH

MOŻLIWOŚCI WYKORZYSTANIA PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO W BADANIACH MAŁYCH MASZYN ELEKTRYCZNYCH Jarosław ZADROŻNY MOŻLIWOŚCI WYKORZYSTANIA PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO W BADANIACH MAŁYCH MASZYN ELEKTRYCZNYCH STRESZCZENIE Zakres zastosowania promieniowania optycznego w praktyce badań małych maszyn elektrycznych

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego - wprowadzenie

Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego - wprowadzenie Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego - wprowadzenie Streszczenie Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego jest jedną z technik spektroskopii absorpcyjnej mającej zastosowanie w chemii,

Bardziej szczegółowo

BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO MIKROSKOPU ELEKTRONOWEGO (TEM)

BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO MIKROSKOPU ELEKTRONOWEGO (TEM) 81/21 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 2006, Rocznik 6, Nr 21(2/2) ARCHIVES OF FOUNDARY Year 2006, Volume 6, Nº 21 (2/2) PAN Katowice PL ISSN 1642-5308 BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO

Bardziej szczegółowo

Kierunek i poziom studiów: Chemia, drugi Sylabus modułu: Spektroskopia (0310-CH-S2-016)

Kierunek i poziom studiów: Chemia, drugi Sylabus modułu: Spektroskopia (0310-CH-S2-016) Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Kierunek i poziom studiów: Chemia, drugi Sylabus modułu: Spektroskopia () 1. Informacje ogólne koordynator modułu prof. dr hab. Henryk Flakus rok akademicki 2013/2014

Bardziej szczegółowo

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego 1. MAKROSTRUKTURA 2. MIKROSTRUKTURA 3. STRUKTURA KRYSTALICZNA Makrostruktura

Bardziej szczegółowo

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy

Bardziej szczegółowo

Laboratorium z Krystalografii specjalizacja: Fizykochemia związków nieorganicznych

Laboratorium z Krystalografii specjalizacja: Fizykochemia związków nieorganicznych Uniwersytet Śląski - Instytut Chemii Zakład Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40-006 Katowice tel. 0323591197, e-mail: izajen@wp.pl opracowanie: dr Izabela Jendrzejewska Laboratorium z Krystalografii

Bardziej szczegółowo

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera ANALIZA POŁĄCZENIA WARSTW CERAMICZNYCH Z PODBUDOWĄ METALOWĄ Promotor: Prof. zw. dr hab. n. tech. MACIEJ HAJDUGA Tadeusz Zdziech CEL PRACY Celem

Bardziej szczegółowo

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. Dualizm korpuskularno falowy cząstek: a) postulat de Broglie a; b) doświadczenia

Bardziej szczegółowo

labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów

labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów Tel.: (17) 854 47 91 Fax: (17) 854 48 32 E-mail: jansien@prz.edu.pl Projekt

Bardziej szczegółowo

Projekt rejestratora obiektów trójwymiarowych na bazie frezarki CNC. The project of the scanner for three-dimensional objects based on the CNC

Projekt rejestratora obiektów trójwymiarowych na bazie frezarki CNC. The project of the scanner for three-dimensional objects based on the CNC Dr inż. Henryk Bąkowski, e-mail: henryk.bakowski@polsl.pl Politechnika Śląska, Wydział Transportu Mateusz Kuś, e-mail: kus.mate@gmail.com Jakub Siuta, e-mail: siuta.jakub@gmail.com Andrzej Kubik, e-mail:

Bardziej szczegółowo

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita Niezwykłe światło ultrakrótkie impulsy laserowe Laboratorium Procesów Ultraszybkich Zakład Optyki Wydział Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego Światło Fala elektromagnetyczna Dla światła widzialnego długość

Bardziej szczegółowo

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym WYśSZA SZKOŁA INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ IM. PROF. MEISSNERA W USTRONIU WYDZIAŁ INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie

Bardziej szczegółowo

Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy

Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy Sylabus modułu: Techniki mikroskopowe modułu: 1BL_49 1. Informacje ogólne koordynator modułu Prof. dr hab. Ewa

Bardziej szczegółowo

OFERTA TEMATÓW PRAC DYPLOMOWYCH dla specjalności/ kierunków dyplomowania do zrealizowania w Katedrze Aparatury i Maszynoznawstwa Chemicznego

OFERTA TEMATÓW PRAC DYPLOMOWYCH dla specjalności/ kierunków dyplomowania do zrealizowania w Katedrze Aparatury i Maszynoznawstwa Chemicznego dla specjalności/ kierunków TECHNOLOGIE OCHRONY Temat pracy Optymalizacja roztworów chemicznych roztwarzających poszczególne warstwy w fotowoltaicznych ogniwach krzemowych mgr inż. Piotr Ostrowski W technologii

Bardziej szczegółowo

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny

Bardziej szczegółowo

Inżynieria Materiałowa Katolicki Uniwersytet Lubelski Jana Pawła II w Stalowej Woli dla Przemysłu i Przedsiębiorców

Inżynieria Materiałowa Katolicki Uniwersytet Lubelski Jana Pawła II w Stalowej Woli dla Przemysłu i Przedsiębiorców Inżynieria Materiałowa Katolicki Uniwersytet Lubelski Jana Pawła II w Stalowej Woli dla Przemysłu i Przedsiębiorców Spis treści 1. Wspólne projekty... 2 2. Struktura... 4 3. Dane kontaktowe... 4 4. Główne

Bardziej szczegółowo

... Rozprawa doktorska. Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni.

... Rozprawa doktorska. Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Rozprawa doktorska... Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni Michał Krysztof Promotor prof.

Bardziej szczegółowo

WPŁYW PROCESU REDUKCJI NA WŁAŚCIWOŚCI STRUKTURALNE I MECHANICZNE SZKIEŁ TLENKOWYCH Z GRUPY (Pb,Bi)-(Si,Ge)-O

WPŁYW PROCESU REDUKCJI NA WŁAŚCIWOŚCI STRUKTURALNE I MECHANICZNE SZKIEŁ TLENKOWYCH Z GRUPY (Pb,Bi)-(Si,Ge)-O Beata Bochentyn Technical Issues 2/2015 pp. 3-8 ISSN 2392-3954 WPŁYW PROCESU REDUKCJI NA WŁAŚCIWOŚCI STRUKTURALNE I MECHANICZNE SZKIEŁ TLENKOWYCH Z GRUPY (Pb,Bi)-(Si,Ge)-O INFLUENCE OF REDUCTION PROCESS

Bardziej szczegółowo

BADANIE I LOKALIZACJA USZKODZEŃ SIECI C.O. W PODŁODZE.

BADANIE I LOKALIZACJA USZKODZEŃ SIECI C.O. W PODŁODZE. BADANIE I LOKALIZACJA USZKODZEŃ SIECI C.O. W PODŁODZE. Aleksandra Telszewska Łukasz Oklak Międzywydziałowe Naukowe Koło Termowizji Wydział Geodezji i Gospodarki Przestrzennej Uniwersytet Warmińsko - Mazurski

Bardziej szczegółowo

Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne

Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne dr inż. Ireneusz Wróbel ATH Bielsko-Biała, Evatronix S.A. iwrobel@ath.bielsko.pl mgr inż. Paweł Harężlak mgr inż. Michał Bogusz Evatronix S.A. Plan wykładu

Bardziej szczegółowo

ZESZYTY NAUKOWE INSTYTUTU POJAZDÓW 1(87)/2012

ZESZYTY NAUKOWE INSTYTUTU POJAZDÓW 1(87)/2012 ZESZYTY NAUKOWE INSTYTUTU POJAZDÓW 1(87)/2012 Wojciech Kamela 1, Stanisław Kruczyński 2, Piotr Orliński 3, Marcin K. Wojs 4 OCENA WPŁYWU ŁADUNKU PLATYNY NA REDUKCJĘ NO X W REAKTORZE Pt/Al 2 O 3 l. Wstęp

Bardziej szczegółowo

Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody

Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody 1. Wątek i TEMAT: B 31 Wyjście (wycieczka) do Pracowni Mikroskopii Skaningowej Nauk Biologicznych i Geologicznych.

Bardziej szczegółowo

CHARAKTERYSTYKA ZMIAN STRUKTURALNYCH W WARSTWIE POŁĄCZENIA SPAJANYCH WYBUCHOWO BIMETALI

CHARAKTERYSTYKA ZMIAN STRUKTURALNYCH W WARSTWIE POŁĄCZENIA SPAJANYCH WYBUCHOWO BIMETALI Mariusz Prażmowski 1, Henryk Paul 1,2, Fabian Żok 1,3, Aleksander Gałka 3, Zygmunt Szulc 3 1 Politechnika Opolska, ul. Mikołajczyka 5, Opole. 2 Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN, ul. Reymonta

Bardziej szczegółowo

Przykładowy szkolny plan nauczania * Technikum - technik mechanik; 311504 K1 Wykonywanie i naprawa elementów maszyn, urządzeń i narzędzi (M.20.

Przykładowy szkolny plan nauczania * Technikum - technik mechanik; 311504 K1 Wykonywanie i naprawa elementów maszyn, urządzeń i narzędzi (M.20. Przykładowy szkolny plan nauczania * Typ szkoły: Technikum - 4-letni cykl nauczania /1/ Zawód: technik mechanik; symbol 311504 (na podbudowie kwalifikacji M.20. dla zawodu: ślusarz) Podbudowa programowa:

Bardziej szczegółowo

Przykładowy szkolny plan nauczania* /przedmiotowe kształcenie zawodowe/

Przykładowy szkolny plan nauczania* /przedmiotowe kształcenie zawodowe/ Przykładowy szkolny plan nauczania* /przedmiotowe kształcenie zawodowe/ Typ szkoły: Zasadnicza Szkoła Zawodowa - 3-letni okres nauczania Zawód: Mechanik pojazdów samochodowych; symbol 723103 Podbudowa

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii

Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Wydział Mechaniczny, Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej Politechnika Wrocławska,

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 5 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Paweł Szroeder Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Wykład XI Badania powierzchni ciała stałego: elektronowy mikroskop skaningowy (SEM), skaningowy mikroskop tunelowy

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE Nr 8. Laboratorium InŜynierii Materiałowej. Opracowali: dr inŝ. Krzysztof Pałka dr Hanna Stupnicka

ĆWICZENIE Nr 8. Laboratorium InŜynierii Materiałowej. Opracowali: dr inŝ. Krzysztof Pałka dr Hanna Stupnicka Akceptował: Kierownik Katedry prof. dr hab. inŝ. A. Weroński POLITECHNIKA LUBELSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY KATEDRA INśYNIERII MATERIAŁOWEJ Laboratorium InŜynierii Materiałowej ĆWICZENIE Nr 8 Opracowali: dr

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE Nr 4/N. Laboratorium Materiały Metaliczne II. Opracowała: dr Hanna de Sas Stupnicka

ĆWICZENIE Nr 4/N. Laboratorium Materiały Metaliczne II. Opracowała: dr Hanna de Sas Stupnicka POLITECHNIKA LUBELSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY KATEDRA INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Akceptował: Kierownik Katedry prof. dr hab. inż. A. Weroński Laboratorium Materiały Metaliczne II ĆWICZENIE Nr 4/N Opracowała:

Bardziej szczegółowo

Grafen perspektywy zastosowań

Grafen perspektywy zastosowań Grafen perspektywy zastosowań Paweł Szroeder 3 czerwca 2014 Spis treści 1 Wprowadzenie 1 2 Właściwości grafenu 2 3 Perspektywy zastosowań 2 3.1 Procesory... 2 3.2 Analogoweelementy... 3 3.3 Czujniki...

Bardziej szczegółowo

Politechnika Gdańska, Inżynieria Biomedyczna. Przedmiot: BIOMATERIAŁY. 13. Metody fizyczne i mechaniczne badań materiałów medycznych

Politechnika Gdańska, Inżynieria Biomedyczna. Przedmiot: BIOMATERIAŁY. 13. Metody fizyczne i mechaniczne badań materiałów medycznych BIOMATERIAŁY 13. Metody fizyczne i mechaniczne badań materiałów medycznych Materiały medyczne powinny charakteryzować się wysoką biotolerancją i odpornością korozyjną, a ich własności fizyczne, mechaniczne

Bardziej szczegółowo

Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki

Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki TELEDETEKCJA POMIARY RADAROWE Główną różnicą między systemami teledetekcyjnymi opartymi na świetle widzialnym i w zakresie mikrofalowym jest możliwość przenikania sygnału radarowego przez parę wodną, mgłę,

Bardziej szczegółowo

Współczesne metody badań instrumentalnych

Współczesne metody badań instrumentalnych Współczesne metody badań instrumentalnych Wykład IX Mikroskopia optyczna i elektronowa Mikroskopia w konserwacji identyfikacja pigmentów, identyfikacja spoiw, badanie składu warstw malarskich, badanie

Bardziej szczegółowo

STABILNOŚĆ STRUKTURALNA STALI P92 W KSZTAŁTOWANYCH PLASTYCZNIE ELEMENTACH RUROCIĄGÓW KOTŁÓW ENERGETYCZNYCH ANDRZEJ TOKARZ, WŁADYSŁAW ZALECKI

STABILNOŚĆ STRUKTURALNA STALI P92 W KSZTAŁTOWANYCH PLASTYCZNIE ELEMENTACH RUROCIĄGÓW KOTŁÓW ENERGETYCZNYCH ANDRZEJ TOKARZ, WŁADYSŁAW ZALECKI PL0400058 STABILNOŚĆ STRUKTURALNA STALI P92 W KSZTAŁTOWANYCH PLASTYCZNIE ELEMENTACH RUROCIĄGÓW KOTŁÓW ENERGETYCZNYCH ANDRZEJ TOKARZ, WŁADYSŁAW ZALECKI Instytut Metalurgii Żelaza im. S. Staszica, Gliwice

Bardziej szczegółowo

Kamery termowizyjne w zastosowaniu w instalacjach testo 875i

Kamery termowizyjne w zastosowaniu w instalacjach testo 875i Kamery termowizyjne w zastosowaniu w instalacjach testo 875i Nowa generacja kamer testo 875i to odpowiedź firmy Testo na wciąż rosnące zapotrzebowanie rynku termowizyjnego w ostatnich latach. Potrzeba

Bardziej szczegółowo

Nowoczesne techniki. Korozja jest zjawiskiem tak powszechnym. w badaniach korozyjnych

Nowoczesne techniki. Korozja jest zjawiskiem tak powszechnym. w badaniach korozyjnych LABORATORIUM PRZEMYSŁOWE LABORATORIUM 3-4/2015 fot. Thinkstock Nowoczesne techniki w badaniach korozyjnych STRESZCZENIE W artykule przedstawiono wybrane nowoczesne techniki stosowane w badaniach korozyjnych

Bardziej szczegółowo

Rozmycie pasma spektralnego

Rozmycie pasma spektralnego Rozmycie pasma spektralnego Rozmycie pasma spektralnego Z doświadczenia wiemy, że absorpcja lub emisja promieniowania przez badaną substancję występuje nie tylko przy częstości rezonansowej, tj. częstości

Bardziej szczegółowo

Akademia Sztuk Pięknych w Warszawie, Wydział Konserwacji i Restauracji Dzieł Sztuki, Zakład Badań Specjalistycznych i Technik Dokumentacyjnych

Akademia Sztuk Pięknych w Warszawie, Wydział Konserwacji i Restauracji Dzieł Sztuki, Zakład Badań Specjalistycznych i Technik Dokumentacyjnych SPRAWOZDANIE Z REALIZACJI pierwszego etapu UMOWY o DZIEŁO p.t.: Wykonanie szlifów i analiza produktów korozji próbek metali konstrukcyjnych parowozów metodami mikro-chemicznymi i laserowej spektrometrii

Bardziej szczegółowo

Właściwości niklu chemicznego

Właściwości niklu chemicznego Nikiel chemiczny Właściwości niklu chemicznego DuŜa twardość powłoki Wysoka odporność na ścieranie Równomierne rozłoŝenie powłoki na detalu (bardzo waŝne przy detalach o skomplikowanym kształcie) Odporny

Bardziej szczegółowo

Termografia. Podstawy fizyczne, zastosowanie i wykorzystanie w medycynie. Rafał Pompka Tomasz Rosmus

Termografia. Podstawy fizyczne, zastosowanie i wykorzystanie w medycynie. Rafał Pompka Tomasz Rosmus Termografia Podstawy fizyczne, zastosowanie i wykorzystanie w medycynie Rafał Pompka Tomasz Rosmus Termografia Termografia to proces obrazowania w paśmie średniej podczerwieni (długości fali od ok. 0,9

Bardziej szczegółowo

WYKORZYSTANIE MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ ; DO BADANIA WEWNĘTRZNEJ STRUKTURY DOZYMETRÓW - ALANINOWO-POLIMEROWYCH i o

WYKORZYSTANIE MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ ; DO BADANIA WEWNĘTRZNEJ STRUKTURY DOZYMETRÓW - ALANINOWO-POLIMEROWYCH i o WYKORZYSTANIE MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ ; DO BADANIA WEWNĘTRZNEJ STRUKTURY DOZYMETRÓW - ALANINOWO-POLIMEROWYCH i o ^oj \bstract Zofia Peimel-Stuglik, Bożena Sartowska, Sławomir Fabisiak Instytut Chemii

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie

Bardziej szczegółowo

Metody chemiczne w analizie biogeochemicznej środowiska. (Materiał pomocniczy do zajęć laboratoryjnych)

Metody chemiczne w analizie biogeochemicznej środowiska. (Materiał pomocniczy do zajęć laboratoryjnych) Metody chemiczne w analizie biogeochemicznej środowiska. (Materiał pomocniczy do zajęć laboratoryjnych) Metody instrumentalne podział ze względu na uzyskane informację. 1. Analiza struktury; XRD (dyfrakcja

Bardziej szczegółowo

Warszawa, dnia 28 maja 2015 r. Pozycja 20

Warszawa, dnia 28 maja 2015 r. Pozycja 20 Warszawa, dnia 28 maja 2015 r. Pozycja 20 KOMUNIKAT MINISTRA NAUKI I SZKOLNICTWA WYŻSZEGO 1) z dnia 1 kwietnia 2015 r. o przyznanych dotacjach ze środków finansowych na naukę na finansowanie utrzymania

Bardziej szczegółowo

Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki

Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Przedmiot: Badania nieniszczące metodami elektromagnetycznymi Numer Temat: Badanie materiałów kompozytowych z ćwiczenia: wykorzystaniem fal elektromagnetycznych

Bardziej szczegółowo

PROGRAM KSZTAŁCENIA NA KIERUNKU STUDIÓW WYŻSZYCH

PROGRAM KSZTAŁCENIA NA KIERUNKU STUDIÓW WYŻSZYCH Załącznik nr 1 do Zarządzenia Rektora nr PROGRAM KSZTAŁCENIA NA KIERUNKU STUDIÓW WYŻSZYCH NAZWA WYDZIAŁU: WYDZIAŁ CHEMICZNY NAZWA KIERUNKU: KONSERWACJA I DEGRADACJA MATERIAŁÓW POZIOM KSZTAŁCENIA: STUDIA

Bardziej szczegółowo

7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji

7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji 7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji Wyznaczanie poziomu ekspozycji w przypadku promieniowania nielaserowego jest bardziej złożone niż w przypadku promieniowania laserowego. Wynika to z faktu, że pracownik

Bardziej szczegółowo

APARATURA DO BADAŃ ZNACZNIKOWYCH

APARATURA DO BADAŃ ZNACZNIKOWYCH APARATURA DO BADAŃ ZNACZNIKOWYCH Leszek Furman Wydział Fizyki i Techniki Jądrowej, Akademia Górniczo-Hutnicza, 30-059 Kraków, AL Mickiewicza 30 1-WSTĘP PLÓ100795 Szeroko obecnie stosowane, przemysłowe

Bardziej szczegółowo

KARTA KURSU. Kod Punktacja ECTS* 4

KARTA KURSU. Kod Punktacja ECTS* 4 KARTA KURSU Nazwa Nazwa w j. ang. Mikrobiologia Microbiology Kod Punktacja ECTS* 4 Koordynator dr Tomasz Bator Zespół dydaktyczny dr Tomasz Bator dr Magdalena Greczek-Stachura Opis kursu (cele kształcenia)

Bardziej szczegółowo

KARTA PRZEDMIOTU. Mikroskopia optyczna

KARTA PRZEDMIOTU. Mikroskopia optyczna KARTA PRZEDMIOTU Jednostka: WRE Dyscyplina: Poziom studiów: 3 Semestr: 3 lub 4 Forma studiów: stacjonarne Język wykładowy: polski Nazwa przedmiotu: Mikroskopia optyczna Symbol przedmiotu: MO Liczba pkt

Bardziej szczegółowo

Struktura, właściwości i metody badań materiałów otrzymanych elektrolitycznie

Struktura, właściwości i metody badań materiałów otrzymanych elektrolitycznie Struktura, właściwości i metody badań materiałów otrzymanych elektrolitycznie Pamięci naszych Rodziców Autorzy NR 117 Eugeniusz Łągiewka, Antoni Budniok Struktura, właściwości i metody badań materiałów

Bardziej szczegółowo

MATERIAŁY SUPERTWARDE

MATERIAŁY SUPERTWARDE MATERIAŁY SUPERTWARDE Twarde i supertwarde materiały Twarde i bardzo twarde materiały są potrzebne w takich przemysłowych zastosowaniach jak szlifowanie i polerowanie, cięcie, prasowanie, synteza i badania

Bardziej szczegółowo

Języki obce. pierwszy język: j. angielski* j. rosyjski* drugi język: j. rosyjski* j. niemiecki* j. angielski* *do wyboru. j. angielski* j.

Języki obce. pierwszy język: j. angielski* j. rosyjski* drugi język: j. rosyjski* j. niemiecki* j. angielski* *do wyboru. j. angielski* j. Liceum Ogólnokształcącego w Stoczku Łukowskim Klasa o profilu Przedmioty z rozszerzonym programem w klasie I Przedmioty z rozszerzonym programem w klasie II Licz. godz. przeznaczonych na rozszerzenie przedmiotu

Bardziej szczegółowo

4. Wyniki bada uzupełniaj cych własno ci stali szybkotn cych

4. Wyniki bada uzupełniaj cych własno ci stali szybkotn cych 4. Wyniki bada uzupełniaj cych własno ci stali szybkotn cych 4.1. Wyniki bada twardo ci Pomiarów twardo ci stali w skali C Rockwella dokonano na przekroju próbek poddanych uprzednio badaniu współczynnika

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)

Mikroskopia Sił Atomowych (AFM) Narzędzia dla nanotechnologii Mikroskopia Sił Atomowych (AFM) Tomasz Kruk* Wprowadzenie Wśród wielu urządzeń kojarzonych z nanotechnologią żadne nie jest tak dobrze rozpoznawalne i proste w założeniu swojej

Bardziej szczegółowo

POMIAR WIELKOŚCI KOMÓREK

POMIAR WIELKOŚCI KOMÓREK POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTRUKCJA Z LABORATORIUM W ZAKŁADZIE BIOFIZYKI Ćwiczenie 4 POMIAR WIELKOŚCI KOMÓREK PRZY UŻYCIU MIKROSKOPU ŚWIETLNEGO I. WSTĘP TEORETYCZNY Do obserwacji bardzo małych obiektów, np.

Bardziej szczegółowo

MIKROSTRUKTURA I WŁAŚCIWOŚCI WARSTW MIĘDZYMETALICZNYCH NA STOPIE Ti-6Al-4V

MIKROSTRUKTURA I WŁAŚCIWOŚCI WARSTW MIĘDZYMETALICZNYCH NA STOPIE Ti-6Al-4V 1-2007 PROBLEMY EKSPLOATACJI 45 Halina GARBACZ, Maciej OSSOWSKI, Piotr WIECIŃSKI, Tadeusz WIERZCHOŃ, Krzysztof J. KURZYDŁOWSKI Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej MIKROSTRUKTURA I

Bardziej szczegółowo

2011 InfraTec. Aktywna termografia w badaniach nieniszczących przy użyciu oprogramowania IRBIS 3 active

2011 InfraTec. Aktywna termografia w badaniach nieniszczących przy użyciu oprogramowania IRBIS 3 active 2011 InfraTec Aktywna termografia w badaniach nieniszczących przy użyciu oprogramowania IRBIS 3 active Termografia aktywna a termografia pasywna 1 Termografia pasywna (statyczna): materiał niepoddany działaniu

Bardziej szczegółowo

Badanie utleniania kwasu mrówkowego na stopach trójskładnikowych Pt-Rh-Pd

Badanie utleniania kwasu mrówkowego na stopach trójskładnikowych Pt-Rh-Pd Badanie utleniania kwasu mrówkowego na stopach trójskładnikowych Pt-Rh-Pd Kamil Wróbel Pracownia Elektrochemicznych Źródeł Energii Kierownik pracy: prof. dr hab. A. Czerwiński Opiekun pracy: dr M. Chotkowski

Bardziej szczegółowo