ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT"

Transkrypt

1 MECHANIK 7/2013 Mgr inż. Małgorzata BUŻANTOWICZ Muzeum i Instytut Zoologii PAN Mgr inż. Witold BUŻANTOWICZ Wojskowa Akademia Techniczna ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT Streszczenie: Skaningowa mikroskopia elektronowa jest techniką obrazowania szeroko wykorzystywaną w wielu dziedzinach nauki. Niniejszy referat porusza zagadnienie zastosowania SEM do inspekcji układów elektronicznych wykonanych w technologii montażu powierzchniowego. USE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY FOR INSPECTION OF SURFACE MOUNT ELECTRONIC COMPONENTS Abstract: The scanning electron microscopy technique (SEM) is widely used in many fields of science. This paper raises the question of its application for inspection of electronic circuits made in surface-mount technology (SMT). Słowa kluczowe: skaningowa mikroskopia elektronowa, montaż powierzchniowy Keywords: scanning electron microscopy (SEM), surface-mount technology (SMT) 1. SKANINGOWA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM, ang. scanning electron microscopy) jest szeroko rozpowszechnioną metodą badawczo-pomiarową, w ujęciu klasycznym umożliwiającą obrazowanie struktur i morfologii analizowanych materiałów za pomocą zogniskowanej wiązki elektronów, skanującej linia po linii fragmenty powierzchni badanych próbek. W wyniku analogowo-cyfrowego przetworzenia sygnałów rejestrowanych przez układy detektorów jako rezultat oddziaływania emitowanych elektronów z badanym materiałem uzyskuje się obraz dwuwymiarowy lub widmo promieniowania rentgenowskiego. Prowadzone w ostatnich latach prace rozwojowe zmieniają te cechy, pozwalając na obserwację wymagających tego obiektów w atmosferze gazowej lub trójwymiarowe obrazowanie topografii ich powierzchni [2]. Elektronowe mikroskopy skaningowe zapewniają możliwość wykonywania zdjęć badanych materiałów w powiększeniach do 300 tysięcy razy w trzech podstawowych trybach pracy: niskonapięciowym oraz próżni wysokiej (HV, ang high vacuum) i niskiej (LV, ang. low vacuum). W szczególności stosowanie trybu próżni niskiej (LV) pozwala obrazować obiekty delikatne, narażone na uszkodzenia, umożliwiając tym samym pominięcie etapu typowej dla materiałów nieprzewodzących preparatyki. Dodatkowo mikroskopy SEM wyposaża się w systemy mikroanalizy rentgenowskiej do prowadzenia jakościowych i ilościowych pomiarów składu chemicznego próbek metodą dyspersji energii (EDS, ang. energy-dispersive X-ray spectroscopy) lub dyspersji długości fali (WDS, ang. wavelength-dispersive X-ray spectroscopy) promieniowania rentgenowskiego. 71

2 MECHANIK 7/2013 Rys. 1. Wybrane przykłady zastosowań i obrazów SEM: a) badania antropologiczne (ludzka brew), b) geologia (kokolit sprzed 150 mln lat), c) materiałoznawstwo (powierzchnia płytki niklowej), d) archeologia (brzeg monety z końca XIX w.), e) przemysł spożywczy (ziarno kawy), f) krystalografia (kryształ NaCl), g) weterynaria (badania na obecność pasożytów), h) zoologia (chrząszcz z rodzaju Tribolium) 72

3 MECHANIK 7/2013 Dzięki wyszczególnionym wyżej możliwościom aparatura laboratoryjna SEM charakteryzuje się bardzo szerokim zakresem stosowalności (por. rys. 1), obejmującym m.in. takie dziedziny nauki i techniki, jak: inżynieria materiałowa i materiałoznawstwo kontrola jakości, analiza wad, pęknięć, wtrąceń i korozji, analiza składu i mapowanie, metalurgia analiza fazowa stopów, efektów obróbki termicznej, chemicznej i defektów wyrobu, biologia i zoologia obserwacja struktur przekrojów i powierzchni próbek organicznych, chemia, medycyna i farmacja badanie składu chemicznego, dokumentowanie struktury implantów i elementów biomechanicznych, geologia i archeologia identyfikacja faz i skamieniałości, kryminalistyka identyfikacja próbek, analiza antropologiczna 2. PRZYKŁAD ZASTOSOWANIA SEM DO INSPEKCJI UKŁADÓW WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT Jednym z możliwych zastosowań SEM jest inspekcja układów elektronicznych wykonanych w technologii SMT wiodącej na rynku metody montażu elementów elektroniki. Zakres stosowalności SEM jest w tym przypadku szerszy w porównaniu do klasycznych (optycznych) metod weryfikacji, bowiem obok uwidaczniania typowych błędów montażowych (rys. 3) umożliwia ona m.in. detekcję trudnowykrywalnych w zakresie fal światła widzialnego mikrouszkodzeń elementów (rys. 2), obrazowanie struktury lutu (rys. 4 i rys. 5) oraz analizę jego składu chemicznego (rys. 6). Wspomniane mikropęknięcia, pojawiające się m.in. w strukturach kondensatorów tantalowych lub ceramicznych MLCC w wyniku gwałtownego nagrzania w procesie montażu, mogą skutkować obok ewidentnych uszkodzeń, takich jak zwarcie uszkodzeniami częściowymi, np. niewielką utratą pojemności bądź wzrostem rezystancji szeregowej (ESR). Defekty takie skomplikowane do wykrycia metodami klasycznymi kumulują się i propagują z czasem, fatalnie wpływając na niezawodność urządzeń. Skaningową mikroskopię elektronową szeroko stosuje się ponadto w pracach rozwojowych nad nowoczesnymi strukturami półprzewodnikowymi i elementami układów elektronicznych nowej generacji [1,5], a także w badaniach niezawodnościowych połączeń lutowanych i testach ich termicznej odporności zmęczeniowej [3,4]. Znajdujące się na wyposażeniu aparatury SEM mikroanalizatory rentgenowskie dodatkowo zwiększają spektrum stosowalności urządzenia w omawianym zakresie, umożliwiając prowadzenie analiz ilościowych i jakościowych składu chemicznego powierzchni lutowanych (punktowo i w mikroobszarach), tworzenie map pierwiastków (ang. chemical mapping) oraz śledzenie zmian zawartości tychże wzdłuż linii skanowania (por. rys. 6). 73

4 MECHANIK 7/2013 Rys. 2. Mikropęknięcia elementów elektronicznych SMD ujawnione w wyniku przeprowadzenia badania SEM Rys. 3. Zdjęcia wykonane w technologii SEM ukazują nie tylko ewentualne błędy montażu, ale i niewidoczne pod mikroskopami optycznymi niejednorodności struktury soldera 74

5 MECHANIK 7/2013 Rys. 4. Powierzchnia przekroju soldera obserwowana pod mikroskopem skaningowym w 420-krotnym powiększeniu Rys. 5. Struktura soldera w 1500-krotnym powiększeniu (wyraźnie widoczne jasne obszary o zwiększonej zawartości ołowiu) 75

6 MECHANIK 7/2013 liczba zliczeń detektora Rys. 6. Przykładowy wynik analizy EDS powierzchni przekroju soldera 3. PODSUMOWANIE Do wizyjnej inspekcji linii montażowych SMT na szeroką skalę wykorzystuje się optyczne mikroskopy cyfrowe, zapewniające trójwymiarowe obrazowanie kontrolowanych podzespołów. Stosowanie w tym celu SEM jest na etapie produkcji nieopłacalne, ponadto zaś złożone pod względem technicznym. Należy jednak brać pod uwagę możliwość wykorzystania prezentowanej techniki obrazowania podczas projektowania i realizacji procesu badawczorozwojowego układów elektronicznych jako metody wspomagającej do weryfikacji zjawisk i pomiaru parametrów trudnych do zmierzenia metodami klasycznymi. LITERATURA [1] Kiełbasiński K., Młożniak A., Jakubowska M.: Environmental friendly thick film resistors with wide resistance range, Materiały Elektroniczne, vol. 36, nr 4/2008, s [2] Słówko W., Krzysztof M.: System detekcyjny elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych do obrazowania 3D w niskopróżniowej SEM, Elektronika konstrukcje, technologie, zastosowania, vol. 53, nr 2/2012, s [3] So A.C., Chan Y.C.: Reliability Studies of Surface Mount Solder Joints Effect of Cu-Sn Intermetallic Compounds, IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Part B, Vol. 19, No. 3, August 1996, pp [4] Tu P.L., Chan Y.C., Lai J.K.: Effect of Intermetallic Compounds on the Thermal Fatigue of Surface Mount Solder Joints, IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Part B, Vol. 20, No. 1, February 1997, pp [5] Zynek J., Hejduk K., Klima K., Możdżonek M., Stonert A., Turos A., Rzodkiewicz W.: Azotek krzemu stosowany w technologii planarnych fotodiod wykonanych na bazie InP, Materiały Elektroniczne, vol. 36, nr 4/2008, s

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena

Bardziej szczegółowo

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie technologii montażu powierzchniowego oraz nowoczesnych systemów inspekcji optycznej w przemyśle elektronicznym.

Zastosowanie technologii montażu powierzchniowego oraz nowoczesnych systemów inspekcji optycznej w przemyśle elektronicznym. ZARZĄDZANIE I INŻYNIERIA PRODUKCJI Zastosowanie technologii montażu powierzchniowego oraz nowoczesnych systemów inspekcji optycznej w przemyśle elektronicznym. RYS HISTORICZNY ROZWOJU ELEKTRONIKI Elektronika

Bardziej szczegółowo

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s) Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę

Bardziej szczegółowo

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, 2016 Spis treści Wykaz ważniejszych skrótów i oznaczeń 11 Przedmowa 17 Wstęp 19 Literatura 26 Rozdział I.

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest wykorzystanie promieniowania

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych 1 Projekt MERFLENG... W 2012 roku

Bardziej szczegółowo

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów 1 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia są badania morfologiczne powierzchni materiałów oraz analiza chemiczna obszarów

Bardziej szczegółowo

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Warszawa, dnia 17.11.2015r. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy przetargu nieograniczonego na: Dostawa stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów

Bardziej szczegółowo

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 Dęblin, dnia 16.09.2015 r. Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 NA PYTANIE DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH

Bardziej szczegółowo

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI Tytuł: Makroskopowe i mikroskopowe badania metalograficzne materiałów konstrukcyjnych i ich połączeń spajanych Opracował: pod redakcją dr. hab. inż. Mirosława Łomozika Rok wydania: 2009 Wydawca: Instytut

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Mikroskopii Elektronowej

Laboratorium Mikroskopii Elektronowej Laboratorium Mikroskopii Elektronowej Laboratorium ma na wyposażeniu następujące narzędzia analityczne: spektroskop fotoelektronów XPS ESCALAB 250Xi firmy ThermoScience; umożliwiający pomiary w trybach

Bardziej szczegółowo

Grafen materiał XXI wieku!?

Grafen materiał XXI wieku!? Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?

Bardziej szczegółowo

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego.

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej w Ustroniu Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. Anna Legutko Promotor: prof. zw. dr hab.

Bardziej szczegółowo

GENERATORY KWARCOWE. Politechnika Wrocławska. Instytut Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki. Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

GENERATORY KWARCOWE. Politechnika Wrocławska. Instytut Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki. Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego Politechnika Wrocławska Instytut Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki Zakład Układów Elektronicznych Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego GENERATORY KWARCOWE 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering

Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Kierunek: Inżynieria materiałowa Rodzaj przedmiotu: kierunkowy obowiązkowy Rodzaj

Bardziej szczegółowo

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 Spis treści Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 WPROWADZENIE... 15 1. PROBLEMY WYSTĘPUJĄCE W PROCESACH SZLIFOWANIA OTWORÓW ŚCIERNICAMI Z MIKROKRYSTALICZNYM KORUNDEM SPIEKANYM I SPOIWEM CERAMICZNYM...

Bardziej szczegółowo

KATALOG OSTATNICH BADAŃ

KATALOG OSTATNICH BADAŃ KATALOG OSTATNICH BADAŃ Tytuł badań: Badania nieinwazyjne obrazu olejnego na blasze miedzianej z XVI/XVII w. Data wykonania: wrzesień 2009 Opis: Przy pomocy podczerwonej kamery Hammamatsu wykonano 24 zdjęcia

Bardziej szczegółowo

PRACOWNIA MIKROSKOPII

PRACOWNIA MIKROSKOPII 1. Kierownik Pracowni: Dr hab. Andrzej Wojtczak, prof. UMK 2. Wykonujący badania: Mgr Grzegorz Trykowski 3. Adres: Uniwersytet Mikołaja Kopernika Wydział Chemii Pracownia Analiz Instrumentalnych ul. Gagarina

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa ćw 5 Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa PRZEDMIOT: NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Opracowały: cz. teoretyczna: dr hab. Beata Grabowska

Bardziej szczegółowo

PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *)

PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *) Grażyna GILEWSKA PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *) STRESZCZENIE W artykule przedstawiono stosowane metody obrazowania struktur

Bardziej szczegółowo

WARSZAWA LIX Zeszyt 257

WARSZAWA LIX Zeszyt 257 WARSZAWA LIX Zeszyt 257 SPIS TRE CI STRESZCZENIE... 9 WYKAZ SKRÓTÓW... 10 1. WPROWADZENIE... 13 2. MIKROSKOPIA SI ATOMOWYCH PODSTAWY... 17 2.1. Podstawy oddzia ywa ostrze próbka... 23 2.1.1. Modele fizyczne

Bardziej szczegółowo

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32 Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola

Bardziej szczegółowo

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097

ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097 ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 097 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01-382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 14 Data wydania: 5 lutego 2016 r. AB 097 Kod identyfikacji

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM).

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM). Ewa Teper PODSTAWY MIKROSKOPII SKANINGOWEJ Podstawowe zasady działania mikroskopu skaningowego. W mikroskopach skaningowych wiązka elektronów bombarduje próbkę, skanując jej powierzchnię linia po linii.

Bardziej szczegółowo

Recenzja. (podstawa opracowania: pismo Dziekana WIPiTM: R-WIPiTM-249/2014 z dnia 15 maja 2014 r.)

Recenzja. (podstawa opracowania: pismo Dziekana WIPiTM: R-WIPiTM-249/2014 z dnia 15 maja 2014 r.) Prof. dr hab. Mieczysław Jurczyk Politechnika Poznańska Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania Instytut Inżynierii Materiałowej Poznań, 2014-06-02 Recenzja rozprawy doktorskiej p. mgr inż. Sebastiana Garusa

Bardziej szczegółowo

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym

Bardziej szczegółowo

Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski

Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Photovoltaic and Sensors in Environmental Development of Malopolska Region ZWIĘKSZANIE WYDAJNOŚCI SYSTEMÓW FOTOWOLTAICZNYCH Plan prezentacji

Bardziej szczegółowo

BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM. Klaudia Radomska

BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM. Klaudia Radomska WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera w Ustroniu Wydział InŜynierii Dentystycznej BADANIA PÓL NAPRĘśEŃ W IMPLANTACH TYTANOWYCH METODAMI EBSD/SEM Klaudia Radomska Praca dyplomowa napisana

Bardziej szczegółowo

1 Badania strukturalne materiału przeciąganego

1 Badania strukturalne materiału przeciąganego Zbigniew Rudnicki Janina Daca Włodzimierz Figiel 1 Badania strukturalne materiału przeciąganego Streszczenie Przy badaniach mechanizmu zużycia oczek ciągadeł przyjęto założenie, że przeciągany materiał

Bardziej szczegółowo

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ Ewa Teper PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ WIELKOŚĆ I RODZAJE PRÓBEK Maksymalne wymiary próbki, którą można umieścić na stoliku mikroskopu skaningowego są następujące: Próbka powinna się

Bardziej szczegółowo

Technologie Materiałowe II Spajanie materiałów

Technologie Materiałowe II Spajanie materiałów KATEDRA INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ I SPAJANIA ZAKŁAD INŻYNIERII SPAJANIA Technologie Materiałowe II Spajanie materiałów Wykład 12 Lutowanie miękkie (SOLDERING) i twarde (BRAZING) dr inż. Dariusz Fydrych Kierunek

Bardziej szczegółowo

Spektrometr ICP-AES 2000

Spektrometr ICP-AES 2000 Spektrometr ICP-AES 2000 ICP-2000 to spektrometr optyczny (ICP-OES) ze wzbudzeniem w indukcyjnie sprzężonej plazmie (ICP). Wykorztystuje zjawisko emisji atomowej (ICP-AES). Umożliwia wykrywanie ok. 70

Bardziej szczegółowo

PROJEKT SZKOLENIOWY. Fizyka uszkodzeń zespołów elektronicznych na podłożach obwodów drukowanych (POD)

PROJEKT SZKOLENIOWY. Fizyka uszkodzeń zespołów elektronicznych na podłożach obwodów drukowanych (POD) PROJEKT SZKOLENIOWY FORMUŁA OTWARTA Fizyka uszkodzeń zespołów elektronicznych na podłożach obwodów drukowanych (POD) dla inżynierów i technologów przemysłu montażu powierzchniowego urządzeń elektronicznych

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

Montaż w elektronice

Montaż w elektronice Montaż w elektronice Prof. dr hab. inż.. Kazimierz FRIEDEL Plan wykładu Wprowadzenie Elementy elektroniczne w obudowach SO, CC i QFP Elementy elektroniczne w obudowach BGA i CSP Montaż drutowy i flip-chip

Bardziej szczegółowo

(metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych.

(metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych. PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 1 Metalografia - nauka o wewnętrznej budowie materiałów metalicznych (metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych. 2 1

Bardziej szczegółowo

Pomiary transportu rumowiska wleczonego

Pomiary transportu rumowiska wleczonego Slajd 1 Akademia Rolnicza w Krakowie WIŚiG Katedra Inżynierii Wodnej dr inż. Leszek Książek Pomiary transportu rumowiska wleczonego wersja 1.2 SMU Inżynieria Środowiska, marzec 2009 Slajd 2 Plan prezentacji:

Bardziej szczegółowo

Opis efektów kształcenia dla modułu zajęć

Opis efektów kształcenia dla modułu zajęć Nazwa modułu: Własności materiałów inżynierskich Rok akademicki: 2013/2014 Kod: MIM-2-302-IS-n Punkty ECTS: 4 Wydział: Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej Kierunek: Inżynieria Materiałowa Specjalność:

Bardziej szczegółowo

Laboratorium badań materiałowych i technologicznych. dr inż. Tomasz Kurzynowski

Laboratorium badań materiałowych i technologicznych. dr inż. Tomasz Kurzynowski Laboratorium badań materiałowych i technologicznych dr inż. Tomasz Kurzynowski Agenda Oferta badawcza Wyposażenie laboratorium Przykłady realizowanych badań Opracowanie i rozwój nowych materiałów Zastosowanie

Bardziej szczegółowo

ODPORNOŚĆ STALIWA NA ZUŻYCIE EROZYJNE CZĘŚĆ II. ANALIZA WYNIKÓW BADAŃ

ODPORNOŚĆ STALIWA NA ZUŻYCIE EROZYJNE CZĘŚĆ II. ANALIZA WYNIKÓW BADAŃ Szybkobieżne Pojazdy Gąsienicowe (15) nr 1, 2002 Stanisław JURA Roman BOGUCKI ODPORNOŚĆ STALIWA NA ZUŻYCIE EROZYJNE CZĘŚĆ II. ANALIZA WYNIKÓW BADAŃ Streszczenie: W części I w oparciu o teorię Bittera określono

Bardziej szczegółowo

Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej

Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej mgr Ewa Starnawska Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej SE morfologia BSE kompozycja i topografia BSEX - dyfrakcja EDX informacja o składzie chemicznym CL - katodoluminescencja Skaningowy mikroskop

Bardziej szczegółowo

OTRZYMYWANIE KOMPOZYTÓW METALOWO-CERAMICZNYCH METODAMI PLAZMOWYMI

OTRZYMYWANIE KOMPOZYTÓW METALOWO-CERAMICZNYCH METODAMI PLAZMOWYMI KOMPOZYTY (COMPOSITES) 1(21)1 Władysław Włosiński 1, Tomasz Chmielewski 2 Politechnika Warszawska, Instytut Technologii Materiałowych, ul. Narbutta 85, 2-542 Warszawa OTRZYMYWANIE KOMPOZYTÓW METALOWO-CERAMICZNYCH

Bardziej szczegółowo

GEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie

GEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie GEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie geologiczne Geologia inżynierska, geofizyka, hydrogeologia,

Bardziej szczegółowo

MATERIAŁOZNAWSTWO Wydział Mechaniczny, Mechatronika, sem. I. dr inż. Hanna Smoleńska

MATERIAŁOZNAWSTWO Wydział Mechaniczny, Mechatronika, sem. I. dr inż. Hanna Smoleńska MATERIAŁOZNAWSTWO Wydział Mechaniczny, Mechatronika, sem. I dr inż. Hanna Smoleńska Prowadzący : dr inż. Hanna Smoleńska Katedra Inżynierii Materiałowej i Spajania, Wydz. Mechaniczny Kontakt: hsmolens@pg.gda.pl

Bardziej szczegółowo

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej Dorota Kunkel Implant wszystkie przyrządy medyczne wykonywane z jednego lub więcej biomateriałów, które mogą być umiejscowione wewnątrz organizmu, jak też częściowo lub całkowicie pod powierzchnią nabłonka

Bardziej szczegółowo

Aparatura do osadzania warstw metodami:

Aparatura do osadzania warstw metodami: Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera

Bardziej szczegółowo

PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU

PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 1 PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 2 Metalografia - nauka o wewnętrznej budowie materiałów metalicznych (metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych. 3

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI MATERIAŁY POMOCNICZE SERIA PIERWSZA

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI MATERIAŁY POMOCNICZE SERIA PIERWSZA LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI MATERIAŁY POMOCNICZE SERIA PIERWSZA 1. Lutowanie lutowania ołowiowe i bezołowiowe, przebieg lutowania automatycznego (strefy grzania i przebiegi temperatur), narzędzia

Bardziej szczegółowo

labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów

labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów labmat.prz.edu.pl LABORATORIUM BADAŃ MATERIAŁÓW DLA PRZEMYSŁU LOTNICZEGO Politechnika Rzeszowska ul. W. Pola 2, 35-959 Rzeszów Tel.: (17) 854 47 91 Fax: (17) 854 48 32 E-mail: jansien@prz.edu.pl Projekt

Bardziej szczegółowo

MOŻLIWOŚCI WYKORZYSTANIA PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO W BADANIACH MAŁYCH MASZYN ELEKTRYCZNYCH

MOŻLIWOŚCI WYKORZYSTANIA PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO W BADANIACH MAŁYCH MASZYN ELEKTRYCZNYCH Jarosław ZADROŻNY MOŻLIWOŚCI WYKORZYSTANIA PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO W BADANIACH MAŁYCH MASZYN ELEKTRYCZNYCH STRESZCZENIE Zakres zastosowania promieniowania optycznego w praktyce badań małych maszyn elektrycznych

Bardziej szczegółowo

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Mariusz Kępczyński, p. 148, kepczyns@chemia.uj.edu.pl Wstęp Plan wykładu mikroskopia

Bardziej szczegółowo

Kierunek i poziom studiów: Chemia, drugi Sylabus modułu: Spektroskopia (0310-CH-S2-016)

Kierunek i poziom studiów: Chemia, drugi Sylabus modułu: Spektroskopia (0310-CH-S2-016) Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Kierunek i poziom studiów: Chemia, drugi Sylabus modułu: Spektroskopia () 1. Informacje ogólne koordynator modułu prof. dr hab. Henryk Flakus rok akademicki 2013/2014

Bardziej szczegółowo

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy

Bardziej szczegółowo

BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO MIKROSKOPU ELEKTRONOWEGO (TEM)

BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO MIKROSKOPU ELEKTRONOWEGO (TEM) 81/21 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 2006, Rocznik 6, Nr 21(2/2) ARCHIVES OF FOUNDARY Year 2006, Volume 6, Nº 21 (2/2) PAN Katowice PL ISSN 1642-5308 BADANIA STRUKTURY POŁĄCZEŃ SPAWANYCH PRZY WYKORZYSTANIU TRANSMISYJNEGO

Bardziej szczegółowo

Laboratorium z Krystalografii specjalizacja: Fizykochemia związków nieorganicznych

Laboratorium z Krystalografii specjalizacja: Fizykochemia związków nieorganicznych Uniwersytet Śląski - Instytut Chemii Zakład Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40-006 Katowice tel. 0323591197, e-mail: izajen@wp.pl opracowanie: dr Izabela Jendrzejewska Laboratorium z Krystalografii

Bardziej szczegółowo

STRESZCZENIE. 137 Cs oraz

STRESZCZENIE. 137 Cs oraz STRESZCZENIE Celem pracy była synteza szkieł krzemionkowych metodą zol-żel i ocena możliwości ich zastosowania w procesie witryfikacji (zeszklenia) odpadów promieniotwórczych. Szkła krzemionkowe dotowano

Bardziej szczegółowo

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera ANALIZA POŁĄCZENIA WARSTW CERAMICZNYCH Z PODBUDOWĄ METALOWĄ Promotor: Prof. zw. dr hab. n. tech. MACIEJ HAJDUGA Tadeusz Zdziech CEL PRACY Celem

Bardziej szczegółowo

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita Niezwykłe światło ultrakrótkie impulsy laserowe Laboratorium Procesów Ultraszybkich Zakład Optyki Wydział Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego Światło Fala elektromagnetyczna Dla światła widzialnego długość

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego - wprowadzenie

Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego - wprowadzenie Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego - wprowadzenie Streszczenie Spektroskopia magnetycznego rezonansu jądrowego jest jedną z technik spektroskopii absorpcyjnej mającej zastosowanie w chemii,

Bardziej szczegółowo

Badanie schematu rozpadu jodu 128 J

Badanie schematu rozpadu jodu 128 J J8A Badanie schematu rozpadu jodu 128 J Celem doświadczenie jest wyznaczenie schematu rozpadu jodu 128 J Wiadomości ogólne 1. Oddziaływanie kwantów γ z materią (1,3) a/ efekt fotoelektryczny b/ efekt Comptona

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Bardziej szczegółowo

Podstawową zasadę działania rentgena przemysłowego przedstawia schemat poglądowy na rysunku 1.

Podstawową zasadę działania rentgena przemysłowego przedstawia schemat poglądowy na rysunku 1. Rentgenowska technika inspekcyjna nie należy do najnowszych odkryć ludzkości. Do niedawna kojarzona była jedynie z medycyną, gdzie nie wykorzystywano całkowicie jej potencjału. Najnowocześniejsze technologie

Bardziej szczegółowo

OFERTA TEMATÓW PRAC DYPLOMOWYCH dla specjalności/ kierunków dyplomowania do zrealizowania w Katedrze Aparatury i Maszynoznawstwa Chemicznego

OFERTA TEMATÓW PRAC DYPLOMOWYCH dla specjalności/ kierunków dyplomowania do zrealizowania w Katedrze Aparatury i Maszynoznawstwa Chemicznego dla specjalności/ kierunków TECHNOLOGIE OCHRONY Temat pracy Optymalizacja roztworów chemicznych roztwarzających poszczególne warstwy w fotowoltaicznych ogniwach krzemowych mgr inż. Piotr Ostrowski W technologii

Bardziej szczegółowo

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym WYśSZA SZKOŁA INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ IM. PROF. MEISSNERA W USTRONIU WYDZIAŁ INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie

Bardziej szczegółowo

Spółka z o.o. UCZESTNICY WARSZTATÓW: Lekarze rezydenci i specjaliści, technicy w pracowniach diagnostycznych i histopatologicznych

Spółka z o.o. UCZESTNICY WARSZTATÓW: Lekarze rezydenci i specjaliści, technicy w pracowniach diagnostycznych i histopatologicznych e-mail: kawaska@kawaska.pl WARSZTATY: TECHNIKI MIKROSKOPOWE I INFORMATYCZNE W BADANIU PRÓBEK BIOLOGICZNYCH, CZ. 1 Objęte patronatem Polskiego Towarzystwa Patologów pod przewodnictwem Prezes Zarządu Głównego

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik

Bardziej szczegółowo

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny

Bardziej szczegółowo

Właściwości optyczne. Oddziaływanie światła z materiałem. Widmo światła widzialnego MATERIAŁ

Właściwości optyczne. Oddziaływanie światła z materiałem. Widmo światła widzialnego MATERIAŁ Właściwości optyczne Oddziaływanie światła z materiałem hν MATERIAŁ Transmisja Odbicie Adsorpcja Załamanie Efekt fotoelektryczny Tradycyjnie właściwości optyczne wiążą się z zachowaniem się materiałów

Bardziej szczegółowo

AlfaFusion Technologia stosowana w produkcji płytowych wymienników ciepła

AlfaFusion Technologia stosowana w produkcji płytowych wymienników ciepła AlfaFusion Technologia stosowana w produkcji płytowych wymienników ciepła AlfaNova to płytowy wymiennik ciepła wyprodukowany w technologii AlfaFusion i wykonany ze stali kwasoodpornej. Urządzenie charakteryzuje

Bardziej szczegółowo

BADANIE I LOKALIZACJA USZKODZEŃ SIECI C.O. W PODŁODZE.

BADANIE I LOKALIZACJA USZKODZEŃ SIECI C.O. W PODŁODZE. BADANIE I LOKALIZACJA USZKODZEŃ SIECI C.O. W PODŁODZE. Aleksandra Telszewska Łukasz Oklak Międzywydziałowe Naukowe Koło Termowizji Wydział Geodezji i Gospodarki Przestrzennej Uniwersytet Warmińsko - Mazurski

Bardziej szczegółowo

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego 1. MAKROSTRUKTURA 2. MIKROSTRUKTURA 3. STRUKTURA KRYSTALICZNA Makrostruktura

Bardziej szczegółowo

Inżynieria Materiałowa Katolicki Uniwersytet Lubelski Jana Pawła II w Stalowej Woli dla Przemysłu i Przedsiębiorców

Inżynieria Materiałowa Katolicki Uniwersytet Lubelski Jana Pawła II w Stalowej Woli dla Przemysłu i Przedsiębiorców Inżynieria Materiałowa Katolicki Uniwersytet Lubelski Jana Pawła II w Stalowej Woli dla Przemysłu i Przedsiębiorców Spis treści 1. Wspólne projekty... 2 2. Struktura... 4 3. Dane kontaktowe... 4 4. Główne

Bardziej szczegółowo

Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne

Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne Problematyka budowy skanera 3D doświadczenia własne dr inż. Ireneusz Wróbel ATH Bielsko-Biała, Evatronix S.A. iwrobel@ath.bielsko.pl mgr inż. Paweł Harężlak mgr inż. Michał Bogusz Evatronix S.A. Plan wykładu

Bardziej szczegółowo

Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego

Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego Przemysław CEYNOWA Wydział Elektroniki i Informatyki, Politechnika Koszalińska E-mail: przemysław.ceynowa@gmail.com Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego

Bardziej szczegółowo

WPŁYW PROCESU REDUKCJI NA WŁAŚCIWOŚCI STRUKTURALNE I MECHANICZNE SZKIEŁ TLENKOWYCH Z GRUPY (Pb,Bi)-(Si,Ge)-O

WPŁYW PROCESU REDUKCJI NA WŁAŚCIWOŚCI STRUKTURALNE I MECHANICZNE SZKIEŁ TLENKOWYCH Z GRUPY (Pb,Bi)-(Si,Ge)-O Beata Bochentyn Technical Issues 2/2015 pp. 3-8 ISSN 2392-3954 WPŁYW PROCESU REDUKCJI NA WŁAŚCIWOŚCI STRUKTURALNE I MECHANICZNE SZKIEŁ TLENKOWYCH Z GRUPY (Pb,Bi)-(Si,Ge)-O INFLUENCE OF REDUCTION PROCESS

Bardziej szczegółowo

... Rozprawa doktorska. Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni.

... Rozprawa doktorska. Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Rozprawa doktorska... Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni Michał Krysztof Promotor prof.

Bardziej szczegółowo

Doktorantka: Żaneta Lewandowska

Doktorantka: Żaneta Lewandowska Doktorantka: Żaneta Lewandowska Główny opiekun naukowy: Dr hab. Piotr Piszczek, prof. UMK Katedra Chemii Nieorganicznej i Koordynacyjnej, Wydział Chemii Dodatkowy opiekun naukowy: Prof. dr hab. Wiesław

Bardziej szczegółowo

CHARAKTERYSTYKA ZMIAN STRUKTURALNYCH W WARSTWIE POŁĄCZENIA SPAJANYCH WYBUCHOWO BIMETALI

CHARAKTERYSTYKA ZMIAN STRUKTURALNYCH W WARSTWIE POŁĄCZENIA SPAJANYCH WYBUCHOWO BIMETALI Mariusz Prażmowski 1, Henryk Paul 1,2, Fabian Żok 1,3, Aleksander Gałka 3, Zygmunt Szulc 3 1 Politechnika Opolska, ul. Mikołajczyka 5, Opole. 2 Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN, ul. Reymonta

Bardziej szczegółowo

Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy)

Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) Spis treści 1 Historia 2 Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) 2.1 Skaningowy mikroskop tunelowy (STM od ang. Scanning Tunneling Microscope) 2.1.1 Uzyskiwanie obrazu metodą

Bardziej szczegółowo

FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA (XRF) MARTA KASPRZYK PROMOTOR: DR HAB. INŻ. MARCIN ŚRODA KATEDRA TECHNOLOGII SZKŁA I POWŁOK AMORFICZNYCH

FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA (XRF) MARTA KASPRZYK PROMOTOR: DR HAB. INŻ. MARCIN ŚRODA KATEDRA TECHNOLOGII SZKŁA I POWŁOK AMORFICZNYCH FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA (XRF) MARTA KASPRZYK PROMOTOR: DR HAB. INŻ. MARCIN ŚRODA KATEDRA TECHNOLOGII SZKŁA I POWŁOK AMORFICZNYCH 13.01.2015 SPIS TREŚCI WSTĘP ZJAWISKO FLUORESCENCJI FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE Nr 8. Laboratorium InŜynierii Materiałowej. Opracowali: dr inŝ. Krzysztof Pałka dr Hanna Stupnicka

ĆWICZENIE Nr 8. Laboratorium InŜynierii Materiałowej. Opracowali: dr inŝ. Krzysztof Pałka dr Hanna Stupnicka Akceptował: Kierownik Katedry prof. dr hab. inŝ. A. Weroński POLITECHNIKA LUBELSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY KATEDRA INśYNIERII MATERIAŁOWEJ Laboratorium InŜynierii Materiałowej ĆWICZENIE Nr 8 Opracowali: dr

Bardziej szczegółowo

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. Dualizm korpuskularno falowy cząstek: a) postulat de Broglie a; b) doświadczenia

Bardziej szczegółowo

Przykłady pomiarów wielkości ogniska Lamp rentgenowskich

Przykłady pomiarów wielkości ogniska Lamp rentgenowskich Przykłady pomiarów wielkości ogniska Lamp rentgenowskich Dominik SENCZYK Politechnika Poznańska E-mail: dominik.senczyk@put.poznan.pl 1. Wprowadzenie Ze względu na duże znaczenie wielkości ogniska lampy

Bardziej szczegółowo

Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody

Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody 1. Wątek i TEMAT: B 31 Wyjście (wycieczka) do Pracowni Mikroskopii Skaningowej Nauk Biologicznych i Geologicznych.

Bardziej szczegółowo

UMO-2011/01/B/ST7/06234

UMO-2011/01/B/ST7/06234 Załącznik nr 5 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej

Bardziej szczegółowo

Przykładowy szkolny plan nauczania* /przedmiotowe kształcenie zawodowe/

Przykładowy szkolny plan nauczania* /przedmiotowe kształcenie zawodowe/ Przykładowy szkolny plan nauczania* /przedmiotowe kształcenie zawodowe/ Typ szkoły: Zasadnicza Szkoła Zawodowa - 3-letni okres nauczania Zawód: Mechanik pojazdów samochodowych; symbol 723103 Podbudowa

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE Nr 4/N. Laboratorium Materiały Metaliczne II. Opracowała: dr Hanna de Sas Stupnicka

ĆWICZENIE Nr 4/N. Laboratorium Materiały Metaliczne II. Opracowała: dr Hanna de Sas Stupnicka POLITECHNIKA LUBELSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY KATEDRA INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Akceptował: Kierownik Katedry prof. dr hab. inż. A. Weroński Laboratorium Materiały Metaliczne II ĆWICZENIE Nr 4/N Opracowała:

Bardziej szczegółowo

Analiza ryzyka - EGZAMIN 10wE - Analiza ryzyka - 20ćw. Bezpieczeństwo informacji - EGZAMIN 10wE - Bezpieczeństwo informacji

Analiza ryzyka - EGZAMIN 10wE - Analiza ryzyka - 20ćw. Bezpieczeństwo informacji - EGZAMIN 10wE - Bezpieczeństwo informacji Niniejszym podaje się do wiadomości studentów studiów niestacjonarnych inżynierskich i magisterskich uzupełniających, że w semestrze letnim roku akademickiego 011/01 obowiązuje uzyskanie zaliczeń i egzaminów

Bardziej szczegółowo

Przykładowy szkolny plan nauczania * Technikum - technik mechanik; 311504 K1 Wykonywanie i naprawa elementów maszyn, urządzeń i narzędzi (M.20.

Przykładowy szkolny plan nauczania * Technikum - technik mechanik; 311504 K1 Wykonywanie i naprawa elementów maszyn, urządzeń i narzędzi (M.20. Przykładowy szkolny plan nauczania * Typ szkoły: Technikum - 4-letni cykl nauczania /1/ Zawód: technik mechanik; symbol 311504 (na podbudowie kwalifikacji M.20. dla zawodu: ślusarz) Podbudowa programowa:

Bardziej szczegółowo

Wpływ metody odlewania stopów aluminium i parametrów anodowania na strukturę i grubość warstwy anodowej 1

Wpływ metody odlewania stopów aluminium i parametrów anodowania na strukturę i grubość warstwy anodowej 1 Wpływ metody odlewania stopów aluminium i parametrów anodowania na strukturę i grubość warstwy anodowej 1 L. A. Dobrzański*, K. Labisz*, J. Konieczny**, J. Duszczyk*** * Zakład Technologii Procesów Materiałowych

Bardziej szczegółowo

Projekt rejestratora obiektów trójwymiarowych na bazie frezarki CNC. The project of the scanner for three-dimensional objects based on the CNC

Projekt rejestratora obiektów trójwymiarowych na bazie frezarki CNC. The project of the scanner for three-dimensional objects based on the CNC Dr inż. Henryk Bąkowski, e-mail: henryk.bakowski@polsl.pl Politechnika Śląska, Wydział Transportu Mateusz Kuś, e-mail: kus.mate@gmail.com Jakub Siuta, e-mail: siuta.jakub@gmail.com Andrzej Kubik, e-mail:

Bardziej szczegółowo

Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy

Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Kierunek i poziom studiów: Biologia, poziom pierwszy Sylabus modułu: Techniki mikroskopowe modułu: 1BL_49 1. Informacje ogólne koordynator modułu Prof. dr hab. Ewa

Bardziej szczegółowo

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Paweł Szroeder Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Wykład XI Badania powierzchni ciała stałego: elektronowy mikroskop skaningowy (SEM), skaningowy mikroskop tunelowy

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii

Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Wydział Mechaniczny, Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej Politechnika Wrocławska,

Bardziej szczegółowo