Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej"

Transkrypt

1 mgr Ewa Starnawska Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej SE morfologia BSE kompozycja i topografia BSEX - dyfrakcja EDX informacja o składzie chemicznym CL - katodoluminescencja

2 Skaningowy mikroskop elektronowy jest urządzeniem, wykorzystującym strumień ukierunkowanych elektronów, które linia po linii omiatają powierzchnię badanej próbki tworząc c jej obraz. W odróżnieniu od tradycyjnego obrazu z mikroskopu optycznego, który tworzy się dzięki przechodzącej cej fali światła a widzialnego i jest obrazem kolorowym, obraz elektronowy próbki (SE/BSE) jest obrazem czarno-bia białym, a uzyskiwane powiększenia sąs znacznie większe ksze niż powiększenia w mikroskopii optycznej. Zmienia się także e rozdzielczość ść,, czyli zdolność rozróżniania szczegółów w obrazu z 0,2µm m do 2-3nm2 Pumpellyit, obraz z mikroskopu polaryzacyjnego, Nikole II, pow.200x Pumpellyit obraz z mikroskopu elektronowego fot. BSE 200µm

3 Schemat działania ania mikroskopu elektronowego Przekrój j kolumny

4 Niektóre dane z historii powstania i rozwoju skaningowej mikroskopii elektronowej M. Knoll konstruuje elektronowy mikroskop transmisyjny M. Von Arden przystępuje puje do prac konstrukcyjnych nad skaningowym mikroskopem elektronowym C. Oatley wraz z zespołem em 5 asystentów w przejmuje prace konstrukcyjne nad SEM O. Wells konstruuje scyntylator dla detektora BSE i ulepsza soczewki elektrostatyczne skupiające pierwotną wiązk zkę elektronów Everhart i Thornley ulepszają detektor SE obniżaj ając c poziom szumów w tła t a co polepsza obraz elektronowy próbki 1960 zespół kontruktorów dodaje soczewki magnetyczne dla poprawienia rozdzielczości ci obrazu pojawia się pierwszy skaningowy mikroskop elektronowy przeznaczony do sprzeda daży.

5 Niektóre dane z historii powstania i rozwoju skaningowej mikroskopii elektronowej Dawniej Ciekawostki Obecnie Pierwsza konstrukcja SEM miała kolumnę działa a elektronowego znajdującą się pod próbk bką. Pierwsze uzyskane zdjęcie skaningowe przedstawiało o kryształ ZnO w powiększeniu 8000 x ; uzyskano je przy napięciu przyspieszającym 23kV. Zdjęcie to zeskanowano przy pomocy 400 linii w ciągu 20 minut, a film był synchronicznie przesuwany zgodnie z prędko dkością skanowania. Prognozy marketingowe przewidywały ogólne światowe zapotrzebowanie na mikroskopy skaningowe na poziomie 6 szt. Stąd d prof. Oatley w celu obniżenia kosztów w produkcji uznał uzyskaną rozdzielczość 50nm za całkowicie wystarczającą. Uzyskiwane powiększenia zawierają się w granicach od kilku do kilkuset tysięcy razy. Uzyskiwana rozdzielczość wynosi: 2-3nm2 Napięcie przyspieszające wiązki. elektronowej zawiera się w granicach od 0,1 40kV. Przy zastosowaniu mikroskopów w o zmiennej próżni próbki nie muszą być napylane. Przeciętna prędko dkość skanowania dla zapisywanych obrazów w cyfrowych jest dobierana przez operatora. Przy przeglądaniu powierzchni skanowanie 1 obrazu zajmuje zaledwie 2,5 sek. Przy zapisywaniu obrazu o rozdzielczości ci 1024x768 pikseli skanowanie trwa ok. 40 sek, jeżeli eli rozdzielczość zwiększy się do wartości 3072x2304 piksele to wówczas w wczas musimy poczekać aż 6 minut. Przy bardzo wolnym skanowaniu i dużej rozdzielczości ci może e to być nawet ok. 24min.

6 Schemat oddziaływania pierwotnej wiązki elektronów i generowania efektów w wtórnych

7 Przykład zależno ności pomiędzy napięciem przyspieszającym a obszarem wzbudzenia w funkcji liczby atomowej próbki Cu 10 kv Al 20 kv Symulacja Monte Carlo dla elektronów BS wzbudzanych w próbce materiału

8 SE/BSE- Sterowanie energią wiązki elektronowej Zmniejszenie napięcia przyspieszającego pierwotnej wiązki elektronowej, umożliwia badanie delikatnych struktur próbek, bez ich zniszczenia Ślady oddziaływania wiązki elektronowej na powierzchnię próbki węglanów

9 Zalety zastosowania technik skaningowej mikroskopii elektronowej Łatwa preparatyka gdyż próbki napylane sąs węglem lub złotem z i naklejane na specjalne uchwyty. Możliwo liwość badania minimalnej ilości próbki. Wykonywanie badań,, które nie niszczą próbki. Wysoka rozdzielczość umożliwiaj liwiająca dokładne rozpoznanie morfologii badanego obiektu. Stosowanie różnych r detektorów w daje wszechstronną informację o naturze próbek wszelkiej materii stałej zarówno mineralnej i biologicznej: SE do badań morfologii próbek BSE - do oznaczania skład adów w fazowych i topografii BSED do zbierania kompleksowej informacji o strukturze krystalograficznej składnik adników, obecnych w polu widzenia EDX i WDX do oznaczania składu chemicznego w mikroobszarze a - w postaci analizy punktowej b w postaci rozkładu pierwiastków w wzdłuż zadanej linii c -w w postaci mapy rozkładu pierwiastków w w mikroobszarze CL do uzyskiwania informacji o luminescencji oraz jej zapisu w postaci obrazowej wraz z możliwo liwością pomiaru długości fali. Zbieranie tych informacji jest stosunkowo szybkie i wygodne, a obrazy cyfrowe mogą podlegać dalszej analizie i obróbce bce cyfrowej.

10 Sekcja Mikroskopii Elektronowej Państwowego Instytutu Geologicznego w Warszawie Mikroskop elektronowy JEOL, typ JSM-35 z mikrosondą elektronową EDS-ISIS 200 oraz mikrosondą WDS, typ JXA 35a Mikroskop elektronowy LEO, typ 1430 z mikrosondą elektronową EDS-ISIS 300 oraz urządzeniem do katodoluminescencji obrazowej typ: VIS-View wraz ze spektrometrem

11 Sekcja Mikroskopii Elektronowej Państwowego Instytutu Geologicznego w Warszawie Mikroskop elektronowy LEO, typ 1430 z mikrosondą elektronową EDS-ISIS 300 Oraz urządzeniem do katodoluminescencji obrazowej VIS-View, wraz ze spektrometrem. Obok mikroskop polaryzacyjny do światła przechodzącego i odbitego, wraz z kamerą CCD do cyfrowego zbierania obrazów. Całość jest podłączona do sieci komputerowej i centralnej bazy danych.

12 SE informacja o morfologii próbek Mikrostruktura skały

13 SE informacja o morfologii próbki Struktury rozpuszczania w siarce i węglanach

14 SE informacja o morfologii próbki Rozpuszczanie i rekrystalizacja kwarcu W widoczna kierunkowość procesu rozpuszczania bądźb rekrystalizacji wynika z uporządkowania struktury i symetrii kryształu

15 SE informacja o morfologii próbki Cementacja minerałami ilastymi blaszki chlorytowe blaszki i włókna illitowe Identyfikację minerałów w uzyskuje się dzięki punkowej analizie jakościowej

16 SE informacja o morfologii próbki cementacja Spoiwo hematytowo - kwarcowe w piaskowcu Spoiwo illitowe w piaskowcu

17 BSE informacja o składzie fazowym Py+tl Fe Zmienny kontrast w obrębie bie obrazu wskazuje na obecność składowych o większej lub mniejszej liczbie Z. Im większa jest liczba atomowa składnik adników w w minerale tym jego obraz BSE jest jaśniejszy

18 BSE informacja o topografii TOPO TOPO - KOMPO

19 BSED informacja o strukturze kryształu

20 Sygnał z detektora EDX przetwarzany jest w spektra analityczne

21 Komputeryzacja spektrometru dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego umożliwia bardzo szybkie zbieranie sygnału u i przetwarzanie jego zliczeń w postać analizy ilościowej. Wyniki analiz ilościowych sąs przeliczane w oparciu o naturalne wzorce mineralne i uwzględniaj dniają poprawki ZAF

22 Informację o składzie próbki można uzyskać w postaci ilościowej zawartości pierwiastka wzdłuż zadanej linii, czyli tzw. profilu Profil jakościowego rozkładu pierwiastków w zsyderytyzowanym ziarnie dolomitu

23 Sygnał z detektora EDX przetwarzany jest jako maping,, czyli obraz rozmieszczenia wybranych pierwiastków w w mikroobszarze

24 Interpretacja uzyskanych wyników Jaki pierwiastek? tenantyt /Ca

25 Katodoluminescencja jest zjawiskiem luminescencji próbki pod wpływem strumienia elektronów. Stosowane sąs dwa rodzaje technik Zimna katoda w mikroskopie optycznym W skład tego urządzenia wchodzi mikroskop polaryzacyjny, na którego stoliku obecna jest komora próżniowa z elektrodami i okienkiem. Strumień elektronów w generowany jest pomiędzy elektrodami w niskiej próżni. Cechą tego typu urządzenia jest: Łatwość stosowania dzięki prostemu systemowi próżniowemu. Duże e pole obserwacji, 2x5cm Nie jest konieczne napylanie próbki Łatwy jest zapis kolorowego obrazu na kliszy fotograficznej. Dzięki połą łączeniu z mikroskopem polaryzacyjnym, łatwa jest identyfikacja mineralogiczna Urządzenie ma stosunkowo niską cenę Aparat ten jest bardzo użyteczny u w badaniach petrologicznych aczkolwiek posiada szereg niedogodności którymi są: s Niska rozdzielczość przestrzenna wynikająca z zastosowania stosunkowo małych powiększe kszeń Niekiedy istniejąca niestabilność spowodowana zmianami ciśnienia gazu w obrębie bie komory próżniowej Wypalanie badanej powierzchni pod wpływem bombardowania elektronami Brak możliwo liwości zapisu luminescencji chwilowych czy też krótkotrwa tkotrwałych w przypadku wygaszania centów w luminescencji w niektórych minerałach. ach. Urządzenie daje zapis obrazowy, który na ogół nie jest związany zany z zapisem spektralnym

26 Katodoluminescencja jest zjawiskiem luminescencji próbki pod wpływem strumienia elektronów. Stosowane sąs dwa rodzaje technik Gorąca katoda w mikroskopie elektronowym: skaningowym lub transmisyjnym, a także e w mikrosondach elektronowych. Wiązka elektronów w generowana jest przez działo o elektronowe mikroskopu a następnie ogniskowana na powierzchni próbki Zaletami tego urządzenia są: s Dobra rozdzielczość przestrzenna wynikająca z małej wielkości strumienia elektronów Obserwacje przy dużych powiększeniach Możliwo liwość zbierania obrazów w generowanych określon loną długością fali Wygoda powiązania obrazów w CL z obrazami z detektora BSE i EDX Zapis spektralny długod ugości pasma luminescencji BEI CL Pewnymi niedogodnościami sąs natomiast: Konieczność napylenia, węglem, w aluminium, niklem lub złotemz Wysoka próżnia w komorze mikroskopu Czarno-bia biały y zapis obrazu Zjawisko równoczesnej r fosforescencji, które stwarza trudności w otrzymywaniu obrazu niektórych minerałów w takich jak np. kalcyt Wysoki koszt urządzenia

27 Obrazy i spektra katodoluminescencyjne Obraz katodoluminescencyjny skalenia potasowego użylonego albitem (mikropertyt złożony) ony)

28 Dziękuj kuję za uwagę Zapraszam do korzystania z naszej aparatury i umiejętno tności

Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego. mgr inż. Katarzyna Kasprzyk

Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego. mgr inż. Katarzyna Kasprzyk Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego mgr inż. Katarzyna Kasprzyk Mikroskop skaningowy Pierwszy mikroskop elektronowy transmisyjny powstał w 1931r

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach

Bardziej szczegółowo

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym

Bardziej szczegółowo

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, 2016 Spis treści Wykaz ważniejszych skrótów i oznaczeń 11 Przedmowa 17 Wstęp 19 Literatura 26 Rozdział I.

Bardziej szczegółowo

Skaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl.

Skaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl. Zamówienie publiczne w trybie przetargu nieograniczonego nr ZP/PN/15/2014 Przedmiot postępowania: Dostawa skaningowego mikroskopu elektronowego ARKUSZ INFORMACJI TECHNICZNEJ Wszystkie parametry podane

Bardziej szczegółowo

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Warszawa, dnia 17.11.2015r. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy przetargu nieograniczonego na: Dostawa stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów

Bardziej szczegółowo

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku

Bardziej szczegółowo

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s) Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów 1 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia są badania morfologiczne powierzchni materiałów oraz analiza chemiczna obszarów

Bardziej szczegółowo

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 Dęblin, dnia 16.09.2015 r. Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 NA PYTANIE DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA

FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA załącznik nr 1a do SIWZ nr postępowania: BZP.2410.5.2018.BD Postępowanie przetargowe pn.: Dostawa, instalacja i uruchomienie fabrycznie nowego elektronowego mikroskopu skaningowego

Bardziej szczegółowo

Fotolitografia. xlab.me..me.berkeley.

Fotolitografia.  xlab.me..me.berkeley. Fotolitografia http://xlab xlab.me..me.berkeley.edu/ http://nanopatentsandinnovations.blogspot.com/2010/03/flyingplasmonic-lens-at-near-field-for.html Fotolitografia Przygotowanie powierzchni Nałożenie

Bardziej szczegółowo

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Metody i techniki badań II Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Dr inż. Agnieszka Kochmańska pok. 20 Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa agnieszka.kochmanska@zut.edu.pl

Bardziej szczegółowo

Źródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg.

Źródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg. ZFP dysponuje obecnie unowocześnioną aparaturą, której skompletowanie, uruchomienie i utrzymanie w sprawności wymagało wysiłku zarówno merytorycznego jak i organizacyjnego oraz finansowego. Unowocześnienia

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY Załącznik nr 2 do SIWZ Załacznik nr 2 do umowy SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY Przedmiot oferty: Wysokorozdzielczy skaningowy

Bardziej szczegółowo

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ Ewa Teper PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ WIELKOŚĆ I RODZAJE PRÓBEK Maksymalne wymiary próbki, którą można umieścić na stoliku mikroskopu skaningowego są następujące: Próbka powinna się

Bardziej szczegółowo

12. WYBRANE METODY STOSOWANE W ANALIZACH GEOCHEMICZNYCH. Atomowa spektroskopia absorpcyjna

12. WYBRANE METODY STOSOWANE W ANALIZACH GEOCHEMICZNYCH. Atomowa spektroskopia absorpcyjna 12. WYBRANE METODY TOOWANE W ANALIZACH EOCHEMICZNYCH Atomowa spektroskopia absorpcyjna (AA - atomic absorption spectroscopy) Atomowa spektroskopia absorpcyjna jest bardzo czułą metodą analityczną umożliwiającą

Bardziej szczegółowo

Rozpraszanie nieelastyczne

Rozpraszanie nieelastyczne Rozpraszanie nieelastyczne Przekazywanie energii elektronów wiązki prowadzi do emisji szeregu sygnałów wykorzystywanych w mikroskopii elektronowej i mikroanalizie rentgenowskiej: 1. Niskoenergetyczne elektrony

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

Techniki mikroskopowe

Techniki mikroskopowe Techniki mikroskopowe Metody badań strukturalnych ciała stałego dr inż. Magdalena Król Mikrostruktura Struktura przestrzenne rozmieszczenie cząstek materii (atomów, jonów, cząsteczek) oraz zespół relacji

Bardziej szczegółowo

Laboratorium nanotechnologii

Laboratorium nanotechnologii Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury

Bardziej szczegółowo

ZDALNA REJESTRACJA POWIERZCHNI ZIEMI

ZDALNA REJESTRACJA POWIERZCHNI ZIEMI Zdalne metody (teledetekcję) moŝna w szerokim pojęciu zdefiniować jako gromadzenie informacji o obiekcie bez fizycznego kontaktu z nim (Mularz, 2004). Zdalne metody (teledetekcję) moŝna w szerokim pojęciu

Bardziej szczegółowo

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32 Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych 1 Projekt MERFLENG... W 2012 roku

Bardziej szczegółowo

Spektrometr XRF THICK 800A

Spektrometr XRF THICK 800A Spektrometr XRF THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK GALWANIZNYCH THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zaprojektowany do pomiaru grubości warstw

Bardziej szczegółowo

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości

Bardziej szczegółowo

Fizykochemiczne metody w kryminalistyce. Wykład 7

Fizykochemiczne metody w kryminalistyce. Wykład 7 Fizykochemiczne metody w kryminalistyce Wykład 7 Stosowane metody badawcze: 1. Klasyczna metoda analityczna jakościowa i ilościowa 2. badania rentgenostrukturalne 3. Badania spektroskopowe 4. Metody chromatograficzne

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa ćw 5 Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa PRZEDMIOT: NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Opracowały: cz. teoretyczna: dr hab. Beata Grabowska

Bardziej szczegółowo

IM-4 BADANIE ABSORPCJI ŚWIATŁA W MATERIAŁACH PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

IM-4 BADANIE ABSORPCJI ŚWIATŁA W MATERIAŁACH PÓŁPRZEWODNIKOWYCH IM-4 BADANIE ABSORPCJI ŚWIATŁA W MATERIAŁACH PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z fotoelektryczną optyczną metodą wyznaczania energii przerwy wzbronionej w półprzewodnikach na przykładzie

Bardziej szczegółowo

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały

Bardziej szczegółowo

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej

Bardziej szczegółowo

Badania korozji oraz elementów metalowych

Badania korozji oraz elementów metalowych Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta dedykowana dla Badania korozji oraz elementów metalowych O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym na świadczenie

Bardziej szczegółowo

SPEKTROMETRIA CIEKŁOSCYNTYLACYJNA

SPEKTROMETRIA CIEKŁOSCYNTYLACYJNA SPEKTROMETRIA CIEKŁOSCYNTYLACYJNA Metoda detekcji promieniowania jądrowego (α, β, γ) Konwersja energii promieniowania jądrowego na promieniowanie w zakresie widzialnym. Zalety metody: Geometria 4π Duża

Bardziej szczegółowo

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Paweł Szroeder Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Wykład XI Badania powierzchni ciała stałego: elektronowy mikroskop skaningowy (SEM), skaningowy mikroskop tunelowy

Bardziej szczegółowo

Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody

Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody 1. Wątek i TEMAT: B 31 Wyjście (wycieczka) do Pracowni Mikroskopii Skaningowej Nauk Biologicznych i Geologicznych.

Bardziej szczegółowo

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne Promieniowanie rentgenowskie Podstawowe pojęcia krystalograficzne Krystalografia - podstawowe pojęcia Komórka elementarna (zasadnicza): najmniejszy, charakterystyczny fragment sieci przestrzennej (lub

Bardziej szczegółowo

Oferta badań materiałowych

Oferta badań materiałowych Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta badań materiałowych O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym na świadczenie najwyższej jakości usług oraz

Bardziej szczegółowo

SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer

SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer EDX 3600B SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer Przeznaczony do analizy pierwiastkowej: - w produkcji cementu,

Bardziej szczegółowo

ZAPLECZE LABORATORYJNO-TECHNICZNE Wydział Nauk o Ziemi i Gospodarki Przestrzennej UMCS

ZAPLECZE LABORATORYJNO-TECHNICZNE Wydział Nauk o Ziemi i Gospodarki Przestrzennej UMCS Laboratorium TL i OSL (od V 2012) Pracownia Palinologiczna Pracownia Mikromorfologiczna Pracownia Mikropaleontologiczna Pracownia Monitoringu Meteorologicznego Pracownia Hydrochemii i Hydrometrii Pracownia

Bardziej szczegółowo

Wydział Mechaniczny LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA

Wydział Mechaniczny LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA Wydział Mechaniczny Katedra Materiałoznawstwa, Wytrzymałości i Spawalnictwa LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA Wrocław, 30 listopada 2016 r. Pracownicy Laboratorium Materiałoznawstwa 13 osób Pracownicy naukowo-dydaktyczni

Bardziej szczegółowo

PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *)

PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *) Grażyna GILEWSKA PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *) STRESZCZENIE W artykule przedstawiono stosowane metody obrazowania struktur

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Oddziaływanie elektronów ze stałą, krystaliczną próbką wstecznie rozproszone elektrony elektrony pierwotne

Bardziej szczegółowo

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska

Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody

Bardziej szczegółowo

GEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie

GEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie GEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie geologiczne Geologia inżynierska, geofizyka, hydrogeologia,

Bardziej szczegółowo

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego.

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej w Ustroniu Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. Anna Legutko Promotor: prof. zw. dr hab.

Bardziej szczegółowo

BADANIA WTRĄCEŃ TLENKOWYCH W BRĄZIE KRZEMOWYM CUSI3ZN3MNFE METODĄ MIKROANALIZY RENTGENOWSKIEJ

BADANIA WTRĄCEŃ TLENKOWYCH W BRĄZIE KRZEMOWYM CUSI3ZN3MNFE METODĄ MIKROANALIZY RENTGENOWSKIEJ BADANIA WTRĄCEŃ TLENKOWYCH W BRĄZIE KRZEMOWYM CUSI3ZN3MNFE METODĄ MIKROANALIZY RENTGENOWSKIEJ R. ROMANKIEWICZ, F. ROMANKIEWICZ Uniwersytet Zielonogórski ul. Licealna 9, 65-417 Zielona Góra 1. Wstęp Jednym

Bardziej szczegółowo

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM).

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM). Ewa Teper PODSTAWY MIKROSKOPII SKANINGOWEJ Podstawowe zasady działania mikroskopu skaningowego. W mikroskopach skaningowych wiązka elektronów bombarduje próbkę, skanując jej powierzchnię linia po linii.

Bardziej szczegółowo

Załącznik nr 6 I. SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

Załącznik nr 6 I. SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Załącznik nr 6 OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ CZĘŚĆ 6 ZESTAW DO POMIARU WYDAJNOŚCI OPTYCZNEJ METALICZNYCH KAPILAR RENTGENOWSKICH Z WYKORZYSTANIEM MIKROŹRÓDŁA RENTGENOWSKIEGO Dostawa i instalacja

Bardziej szczegółowo

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Mariusz Kępczyński, p. 148, kepczyns@chemia.uj.edu.pl Wstęp Plan wykładu mikroskopia

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia fotoelektronów (PES)

Spektroskopia fotoelektronów (PES) Spektroskopia fotoelektronów (PES) Efekt fotoelektryczny hν ( UV lub X) E =hν kin W Proces fotojonizacji w PES: M + hν M + + e E kin (e) = hν E B Φ sp E B energia wiązania elektronu w atomie/cząsteczce

Bardziej szczegółowo

Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn

Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta dedykowana dla Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie

Bardziej szczegółowo

Aparatura do osadzania warstw metodami:

Aparatura do osadzania warstw metodami: Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera

Bardziej szczegółowo

Aparatura w absorpcyjnej spektrometrii atomowej

Aparatura w absorpcyjnej spektrometrii atomowej Lidia Kozak, Przemysław Niedzielski Lidia Kozak, Przemysław Niedzielski Spektrometry absorpcji atomowej zbudowane są z następujących podstawowych części: źródła promieniowania, atomizera, monochromatora,

Bardziej szczegółowo

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski Jarosław Rochowicz Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Praca magisterska Wpływ napięcia podłoża na właściwości mechaniczne powłok CrCN nanoszonych

Bardziej szczegółowo

Promieniowanie X. Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X

Promieniowanie X. Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X Promieniowanie X Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X Lampa rentgenowska Lampa rentgenowska Promieniowanie rentgenowskie

Bardziej szczegółowo

Budowa i zasada działania skanera

Budowa i zasada działania skanera Budowa i zasada działania skanera Skaner Skaner urządzenie służące do przebiegowego odczytywania: obrazu, kodu paskowego lub magnetycznego, fal radiowych itp. do formy elektronicznej (najczęściej cyfrowej).

Bardziej szczegółowo

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych 1. Struktura próbki a metoda badań strukturalnych 2. Podział

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 6 Elektronowy mikroskop transmisyjny w badaniach struktury metali metodą elektronograficzną Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zbadanie struktury

Bardziej szczegółowo

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ DLA CZĘŚCI I

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ DLA CZĘŚCI I Załącznik nr 1a do SIWZ OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ DLA CZĘŚCI I Część I Dostawa i instalacja fabrycznie nowych urządzeń: Suszarka mrożeniowa z pompą turbomolekularną i wyposażeniem, kamera

Bardziej szczegółowo

Czy atomy mogą być piękne?

Czy atomy mogą być piękne? Krzysztof Matus Doktorant w Instytucie Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Czy atomy mogą być piękne? W czasach, gdy ciągły rozwój nauki połączony

Bardziej szczegółowo

Nowoczesne metody analizy pierwiastków

Nowoczesne metody analizy pierwiastków Nowoczesne metody analizy pierwiastków Techniki analityczne Chromatograficzne Spektroskopowe Chromatografia jonowa Emisyjne Absorpcyjne Fluoroscencyjne Spektroskopia mas FAES ICP-AES AAS EDAX ICP-MS Prezentowane

Bardziej szczegółowo

I. Poziom: poziom rozszerzony (nowa formuła)

I. Poziom: poziom rozszerzony (nowa formuła) Analiza wyników egzaminu maturalnego wiosna 2017 + poprawki Przedmiot: FIZYKA I. Poziom: poziom rozszerzony (nowa formuła) 1. Zestawienie wyników. Liczba uczniów zdających - LO 6 Zdało egzamin 4 % zdawalności

Bardziej szczegółowo

Widmo promieniowania

Widmo promieniowania Widmo promieniowania Spektroskopia Każde ciało wysyła promieniowanie. Promieniowanie to jest składa się z wiązek o różnych długościach fal. Jeśli wiązka światła pada na pryzmat, ulega ono rozszczepieniu,

Bardziej szczegółowo

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy

Bardziej szczegółowo

Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia

Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa i uruchomienie zestawu termowizyjnego wysokiej rozdzielczości wraz z wyposażeniem o parametrach zgodnych z określonymi

Bardziej szczegółowo

Warszawa, dnia r.

Warszawa, dnia r. Warszawa, dnia 19.09.2011 r. Do wszystkich pobierających SIWZ Dotyczy: udzielenia zamówienia publicznego w trybie przetargu nieograniczonego Nr 120/20/2011 na Dostawę systemu obrazowania molekularnego

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest wykorzystanie promieniowania

Bardziej szczegółowo

OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X

OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X X4 OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest jakościowe poznanie podstawowych zjawisk fizycznych wykorzystywanych w obrazowaniu

Bardziej szczegółowo

ANALIZA SPECJACYJNA WYKŁAD 7 ANALIZA SPECJACYJNA

ANALIZA SPECJACYJNA WYKŁAD 7 ANALIZA SPECJACYJNA WYKŁAD 7 ANALIZA SPECJACYJNA ANALIZA SPECJACYJNA Specjacja - występowanie różnych fizycznych i chemicznych form danego pierwiastka w badanym materiale. Analiza specjacyjna - identyfikacja i ilościowe oznaczenie

Bardziej szczegółowo

Skaningowy mikroskop elektronowy

Skaningowy mikroskop elektronowy Skaningowy mikroskop elektronowy SH-5000M / SH-4000 / SH-3500 / detektor EDS Mikroskop elektronowy skaningowy z serii Hirox SH to najwyższej klasy system nastołowy, umożliwiającym szybkie obrazowanie w

Bardziej szczegółowo

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła

Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

Bardziej szczegółowo

Techniki analityczne. Podział technik analitycznych. Metody spektroskopowe. Spektroskopia elektronowa

Techniki analityczne. Podział technik analitycznych. Metody spektroskopowe. Spektroskopia elektronowa Podział technik analitycznych Techniki analityczne Techniki elektrochemiczne: pehametria, selektywne elektrody membranowe, polarografia i metody pokrewne (woltamperometria, chronowoltamperometria inwersyjna

Bardziej szczegółowo

INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2

INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2 RAP.272.87.2014 Wrocław, 13.11.2014r. INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2 Dotyczy: postępowania o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest

Bardziej szczegółowo

WSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM

WSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM WSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM DOSTĘPNYCH W LABORATORIUM WYDZIAŁU CHEMII UMCS DR INŻ. SEBASTIAN ARABASZ ul. Wantule 12, 02 828 Warszawa tel/fax: (22)

Bardziej szczegółowo

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały

Bardziej szczegółowo

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy

Bardziej szczegółowo

Metody analizy pierwiastków z zastosowaniem wtórnego promieniowania rentgenowskiego. XRF, SRIXE, PIXE, SEM (EPMA)

Metody analizy pierwiastków z zastosowaniem wtórnego promieniowania rentgenowskiego. XRF, SRIXE, PIXE, SEM (EPMA) Metody analizy pierwiastków z zastosowaniem wtórnego promieniowania rentgenowskiego. XRF, SRIXE, PIXE, SEM (EPMA) Promieniowaniem X nazywa się promieniowanie elektromagnetyczne o długości fali od około

Bardziej szczegółowo

Podstawy przetwarzania obrazów teledetekcyjnych. Format rastrowy

Podstawy przetwarzania obrazów teledetekcyjnych. Format rastrowy Podstawy przetwarzania obrazów teledetekcyjnych Format rastrowy Definicja rastrowego modelu danych - podstawowy element obrazu cyfrowego to piksel, uważany w danym momencie za wewnętrznie jednorodny -

Bardziej szczegółowo

OGŁOSZENIE DODATKOWYCH INFORMACJI, INFORMACJE O NIEKOMPLETNEJ PROCEDURZE LUB SPROSTOWANIE

OGŁOSZENIE DODATKOWYCH INFORMACJI, INFORMACJE O NIEKOMPLETNEJ PROCEDURZE LUB SPROSTOWANIE 1/ 6 ENOTICES_ZPbl 18/05/2011- ID:2011-069319 Formularz standardowy 14 PL Publikacja Suplementu do Dziennika Urzędowego Unii Europejskiej 2, rue Mercier, L-2985 Luksemburg Faks (352) 29 29-42670 E-mail:

Bardziej szczegółowo

Podstawy fizyki kwantowej i budowy materii

Podstawy fizyki kwantowej i budowy materii Podstawy fizyki kwantowej i budowy materii prof. dr hab. Aleksander Filip Żarnecki Zakład Cząstek i Oddziaływań Fundamentalnych Instytut Fizyki Doświadczalnej Wykład 5 7 listopada 2016 A.F.Żarnecki Podstawy

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA zwana dalej w skrócie SIWZ

SPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA zwana dalej w skrócie SIWZ BIURO ZAMÓWIEŃ PUBLICZNYCH UNIWERSYTETU JAGIELLOŃSKIEGO Ul. Straszewskiego 25/9, 31-113 Kraków tel. +4812-432-44-50, fax +4812-432-44-51 lub +4812-663-39-14; e-mail: bzp@uj.edu.pl www.uj.edu.pl http://przetargi.adm.uj.edu.pl/oglosz.php

Bardziej szczegółowo

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej

Dorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej Dorota Kunkel Implant wszystkie przyrządy medyczne wykonywane z jednego lub więcej biomateriałów, które mogą być umiejscowione wewnątrz organizmu, jak też częściowo lub całkowicie pod powierzchnią nabłonka

Bardziej szczegółowo

1. Niskoenergetyczne elektrony wtórne SE (podstawowy sygnał w SEM) 2. Charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie (mikroanaliza w SEM i TEM)

1. Niskoenergetyczne elektrony wtórne SE (podstawowy sygnał w SEM) 2. Charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie (mikroanaliza w SEM i TEM) Rozpraszanie niesprężyste Przekazywanie energii elektronów wiązki prowadzi do emisji szeregu sygnałów wykorzystywanych w mikroskopii elektronowej i mikroanalizie rentgenowskiej: 1. Niskoenergetyczne elektrony

Bardziej szczegółowo

Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L)

Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Ćwiczenie 23. Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych (ESPI) do badania elementów maszyn. Opracowanie: Ewelina Świątek-Najwer

Bardziej szczegółowo

Własności optyczne materii. Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią?

Własności optyczne materii. Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią? Własności optyczne materii Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią? Właściwości optyczne materiału wynikają ze zjawisk: Absorpcji Załamania Odbicia Rozpraszania Własności elektrycznych Refrakcja

Bardziej szczegółowo

Spektrometr ICP-AES 2000

Spektrometr ICP-AES 2000 Spektrometr ICP-AES 2000 ICP-2000 to spektrometr optyczny (ICP-OES) ze wzbudzeniem w indukcyjnie sprzężonej plazmie (ICP). Wykorztystuje zjawisko emisji atomowej (ICP-AES). Umożliwia wykrywanie ok. 70

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia fluorescencyjna

Mikroskopia fluorescencyjna Mikroskopia fluorescencyjna Mikroskop fluorescencyjny to mikroskop świetlny, wykorzystujący zjawisko fluorescencji większość z nich to mikroskopy tzw. epi-fluorescencyjne zjawisko fotoluminescencji: fluorescencja

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT MECHANIK 7/2013 Mgr inż. Małgorzata BUŻANTOWICZ Muzeum i Instytut Zoologii PAN Mgr inż. Witold BUŻANTOWICZ Wojskowa Akademia Techniczna ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH

Bardziej szczegółowo

RoHS-Vision / X-RoHS + SDD

RoHS-Vision / X-RoHS + SDD Spektrometr EDXRF do analiz RoHS i w wersji full analysis RoHS-Vision / X-RoHS + SDD Szybka i prosta analiza substancji niebezpiecznych zgodnie z regulacjami prawnymi dotyczącymi ochrony środowiska RoHS

Bardziej szczegółowo

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: . (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja

Bardziej szczegółowo

Unikalne cechy płytek i szalek IBIDI

Unikalne cechy płytek i szalek IBIDI Unikalne cechy płytek i szalek IBIDI Grubość płytki jest kluczowym aspektem jakości obrazowania. Typowa grubość szkiełek nakrywkowych wynosi 0,17 mm (170 µm). Większość obiektywów stosowanych do mikroskopii

Bardziej szczegółowo

Urządzenia do wprowadzania informacji graficznej. Skanery, Digitizery, Aparaty i Kamery cyfrowe

Urządzenia do wprowadzania informacji graficznej. Skanery, Digitizery, Aparaty i Kamery cyfrowe Urządzenia do wprowadzania informacji graficznej Skanery, Digitizery, Aparaty i Kamery cyfrowe Skanery Skaner to urządzenie przetwarzające obraz graficzny (zdjęcia, rysunki, tekst pi-sany itp.) na postać

Bardziej szczegółowo