Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej
|
|
- Janusz Żurawski
- 8 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 mgr Ewa Starnawska Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej SE morfologia BSE kompozycja i topografia BSEX - dyfrakcja EDX informacja o składzie chemicznym CL - katodoluminescencja
2 Skaningowy mikroskop elektronowy jest urządzeniem, wykorzystującym strumień ukierunkowanych elektronów, które linia po linii omiatają powierzchnię badanej próbki tworząc c jej obraz. W odróżnieniu od tradycyjnego obrazu z mikroskopu optycznego, który tworzy się dzięki przechodzącej cej fali światła a widzialnego i jest obrazem kolorowym, obraz elektronowy próbki (SE/BSE) jest obrazem czarno-bia białym, a uzyskiwane powiększenia sąs znacznie większe ksze niż powiększenia w mikroskopii optycznej. Zmienia się także e rozdzielczość ść,, czyli zdolność rozróżniania szczegółów w obrazu z 0,2µm m do 2-3nm2 Pumpellyit, obraz z mikroskopu polaryzacyjnego, Nikole II, pow.200x Pumpellyit obraz z mikroskopu elektronowego fot. BSE 200µm
3 Schemat działania ania mikroskopu elektronowego Przekrój j kolumny
4 Niektóre dane z historii powstania i rozwoju skaningowej mikroskopii elektronowej M. Knoll konstruuje elektronowy mikroskop transmisyjny M. Von Arden przystępuje puje do prac konstrukcyjnych nad skaningowym mikroskopem elektronowym C. Oatley wraz z zespołem em 5 asystentów w przejmuje prace konstrukcyjne nad SEM O. Wells konstruuje scyntylator dla detektora BSE i ulepsza soczewki elektrostatyczne skupiające pierwotną wiązk zkę elektronów Everhart i Thornley ulepszają detektor SE obniżaj ając c poziom szumów w tła t a co polepsza obraz elektronowy próbki 1960 zespół kontruktorów dodaje soczewki magnetyczne dla poprawienia rozdzielczości ci obrazu pojawia się pierwszy skaningowy mikroskop elektronowy przeznaczony do sprzeda daży.
5 Niektóre dane z historii powstania i rozwoju skaningowej mikroskopii elektronowej Dawniej Ciekawostki Obecnie Pierwsza konstrukcja SEM miała kolumnę działa a elektronowego znajdującą się pod próbk bką. Pierwsze uzyskane zdjęcie skaningowe przedstawiało o kryształ ZnO w powiększeniu 8000 x ; uzyskano je przy napięciu przyspieszającym 23kV. Zdjęcie to zeskanowano przy pomocy 400 linii w ciągu 20 minut, a film był synchronicznie przesuwany zgodnie z prędko dkością skanowania. Prognozy marketingowe przewidywały ogólne światowe zapotrzebowanie na mikroskopy skaningowe na poziomie 6 szt. Stąd d prof. Oatley w celu obniżenia kosztów w produkcji uznał uzyskaną rozdzielczość 50nm za całkowicie wystarczającą. Uzyskiwane powiększenia zawierają się w granicach od kilku do kilkuset tysięcy razy. Uzyskiwana rozdzielczość wynosi: 2-3nm2 Napięcie przyspieszające wiązki. elektronowej zawiera się w granicach od 0,1 40kV. Przy zastosowaniu mikroskopów w o zmiennej próżni próbki nie muszą być napylane. Przeciętna prędko dkość skanowania dla zapisywanych obrazów w cyfrowych jest dobierana przez operatora. Przy przeglądaniu powierzchni skanowanie 1 obrazu zajmuje zaledwie 2,5 sek. Przy zapisywaniu obrazu o rozdzielczości ci 1024x768 pikseli skanowanie trwa ok. 40 sek, jeżeli eli rozdzielczość zwiększy się do wartości 3072x2304 piksele to wówczas w wczas musimy poczekać aż 6 minut. Przy bardzo wolnym skanowaniu i dużej rozdzielczości ci może e to być nawet ok. 24min.
6 Schemat oddziaływania pierwotnej wiązki elektronów i generowania efektów w wtórnych
7 Przykład zależno ności pomiędzy napięciem przyspieszającym a obszarem wzbudzenia w funkcji liczby atomowej próbki Cu 10 kv Al 20 kv Symulacja Monte Carlo dla elektronów BS wzbudzanych w próbce materiału
8 SE/BSE- Sterowanie energią wiązki elektronowej Zmniejszenie napięcia przyspieszającego pierwotnej wiązki elektronowej, umożliwia badanie delikatnych struktur próbek, bez ich zniszczenia Ślady oddziaływania wiązki elektronowej na powierzchnię próbki węglanów
9 Zalety zastosowania technik skaningowej mikroskopii elektronowej Łatwa preparatyka gdyż próbki napylane sąs węglem lub złotem z i naklejane na specjalne uchwyty. Możliwo liwość badania minimalnej ilości próbki. Wykonywanie badań,, które nie niszczą próbki. Wysoka rozdzielczość umożliwiaj liwiająca dokładne rozpoznanie morfologii badanego obiektu. Stosowanie różnych r detektorów w daje wszechstronną informację o naturze próbek wszelkiej materii stałej zarówno mineralnej i biologicznej: SE do badań morfologii próbek BSE - do oznaczania skład adów w fazowych i topografii BSED do zbierania kompleksowej informacji o strukturze krystalograficznej składnik adników, obecnych w polu widzenia EDX i WDX do oznaczania składu chemicznego w mikroobszarze a - w postaci analizy punktowej b w postaci rozkładu pierwiastków w wzdłuż zadanej linii c -w w postaci mapy rozkładu pierwiastków w w mikroobszarze CL do uzyskiwania informacji o luminescencji oraz jej zapisu w postaci obrazowej wraz z możliwo liwością pomiaru długości fali. Zbieranie tych informacji jest stosunkowo szybkie i wygodne, a obrazy cyfrowe mogą podlegać dalszej analizie i obróbce bce cyfrowej.
10 Sekcja Mikroskopii Elektronowej Państwowego Instytutu Geologicznego w Warszawie Mikroskop elektronowy JEOL, typ JSM-35 z mikrosondą elektronową EDS-ISIS 200 oraz mikrosondą WDS, typ JXA 35a Mikroskop elektronowy LEO, typ 1430 z mikrosondą elektronową EDS-ISIS 300 oraz urządzeniem do katodoluminescencji obrazowej typ: VIS-View wraz ze spektrometrem
11 Sekcja Mikroskopii Elektronowej Państwowego Instytutu Geologicznego w Warszawie Mikroskop elektronowy LEO, typ 1430 z mikrosondą elektronową EDS-ISIS 300 Oraz urządzeniem do katodoluminescencji obrazowej VIS-View, wraz ze spektrometrem. Obok mikroskop polaryzacyjny do światła przechodzącego i odbitego, wraz z kamerą CCD do cyfrowego zbierania obrazów. Całość jest podłączona do sieci komputerowej i centralnej bazy danych.
12 SE informacja o morfologii próbek Mikrostruktura skały
13 SE informacja o morfologii próbki Struktury rozpuszczania w siarce i węglanach
14 SE informacja o morfologii próbki Rozpuszczanie i rekrystalizacja kwarcu W widoczna kierunkowość procesu rozpuszczania bądźb rekrystalizacji wynika z uporządkowania struktury i symetrii kryształu
15 SE informacja o morfologii próbki Cementacja minerałami ilastymi blaszki chlorytowe blaszki i włókna illitowe Identyfikację minerałów w uzyskuje się dzięki punkowej analizie jakościowej
16 SE informacja o morfologii próbki cementacja Spoiwo hematytowo - kwarcowe w piaskowcu Spoiwo illitowe w piaskowcu
17 BSE informacja o składzie fazowym Py+tl Fe Zmienny kontrast w obrębie bie obrazu wskazuje na obecność składowych o większej lub mniejszej liczbie Z. Im większa jest liczba atomowa składnik adników w w minerale tym jego obraz BSE jest jaśniejszy
18 BSE informacja o topografii TOPO TOPO - KOMPO
19 BSED informacja o strukturze kryształu
20 Sygnał z detektora EDX przetwarzany jest w spektra analityczne
21 Komputeryzacja spektrometru dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego umożliwia bardzo szybkie zbieranie sygnału u i przetwarzanie jego zliczeń w postać analizy ilościowej. Wyniki analiz ilościowych sąs przeliczane w oparciu o naturalne wzorce mineralne i uwzględniaj dniają poprawki ZAF
22 Informację o składzie próbki można uzyskać w postaci ilościowej zawartości pierwiastka wzdłuż zadanej linii, czyli tzw. profilu Profil jakościowego rozkładu pierwiastków w zsyderytyzowanym ziarnie dolomitu
23 Sygnał z detektora EDX przetwarzany jest jako maping,, czyli obraz rozmieszczenia wybranych pierwiastków w w mikroobszarze
24 Interpretacja uzyskanych wyników Jaki pierwiastek? tenantyt /Ca
25 Katodoluminescencja jest zjawiskiem luminescencji próbki pod wpływem strumienia elektronów. Stosowane sąs dwa rodzaje technik Zimna katoda w mikroskopie optycznym W skład tego urządzenia wchodzi mikroskop polaryzacyjny, na którego stoliku obecna jest komora próżniowa z elektrodami i okienkiem. Strumień elektronów w generowany jest pomiędzy elektrodami w niskiej próżni. Cechą tego typu urządzenia jest: Łatwość stosowania dzięki prostemu systemowi próżniowemu. Duże e pole obserwacji, 2x5cm Nie jest konieczne napylanie próbki Łatwy jest zapis kolorowego obrazu na kliszy fotograficznej. Dzięki połą łączeniu z mikroskopem polaryzacyjnym, łatwa jest identyfikacja mineralogiczna Urządzenie ma stosunkowo niską cenę Aparat ten jest bardzo użyteczny u w badaniach petrologicznych aczkolwiek posiada szereg niedogodności którymi są: s Niska rozdzielczość przestrzenna wynikająca z zastosowania stosunkowo małych powiększe kszeń Niekiedy istniejąca niestabilność spowodowana zmianami ciśnienia gazu w obrębie bie komory próżniowej Wypalanie badanej powierzchni pod wpływem bombardowania elektronami Brak możliwo liwości zapisu luminescencji chwilowych czy też krótkotrwa tkotrwałych w przypadku wygaszania centów w luminescencji w niektórych minerałach. ach. Urządzenie daje zapis obrazowy, który na ogół nie jest związany zany z zapisem spektralnym
26 Katodoluminescencja jest zjawiskiem luminescencji próbki pod wpływem strumienia elektronów. Stosowane sąs dwa rodzaje technik Gorąca katoda w mikroskopie elektronowym: skaningowym lub transmisyjnym, a także e w mikrosondach elektronowych. Wiązka elektronów w generowana jest przez działo o elektronowe mikroskopu a następnie ogniskowana na powierzchni próbki Zaletami tego urządzenia są: s Dobra rozdzielczość przestrzenna wynikająca z małej wielkości strumienia elektronów Obserwacje przy dużych powiększeniach Możliwo liwość zbierania obrazów w generowanych określon loną długością fali Wygoda powiązania obrazów w CL z obrazami z detektora BSE i EDX Zapis spektralny długod ugości pasma luminescencji BEI CL Pewnymi niedogodnościami sąs natomiast: Konieczność napylenia, węglem, w aluminium, niklem lub złotemz Wysoka próżnia w komorze mikroskopu Czarno-bia biały y zapis obrazu Zjawisko równoczesnej r fosforescencji, które stwarza trudności w otrzymywaniu obrazu niektórych minerałów w takich jak np. kalcyt Wysoki koszt urządzenia
27 Obrazy i spektra katodoluminescencyjne Obraz katodoluminescencyjny skalenia potasowego użylonego albitem (mikropertyt złożony) ony)
28 Dziękuj kuję za uwagę Zapraszam do korzystania z naszej aparatury i umiejętno tności
Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego. mgr inż. Katarzyna Kasprzyk
Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego mgr inż. Katarzyna Kasprzyk Mikroskop skaningowy Pierwszy mikroskop elektronowy transmisyjny powstał w 1931r
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)
LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007
Bardziej szczegółowoMIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego
MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach
Bardziej szczegółowoInkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM
Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena
Bardziej szczegółowoSkaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz
Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek
Bardziej szczegółowoFORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH
Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym
Bardziej szczegółowoElektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści
Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, 2016 Spis treści Wykaz ważniejszych skrótów i oznaczeń 11 Przedmowa 17 Wstęp 19 Literatura 26 Rozdział I.
Bardziej szczegółowoSkaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl.
Zamówienie publiczne w trybie przetargu nieograniczonego nr ZP/PN/15/2014 Przedmiot postępowania: Dostawa skaningowego mikroskopu elektronowego ARKUSZ INFORMACJI TECHNICZNEJ Wszystkie parametry podane
Bardziej szczegółowoWYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ
Warszawa, dnia 17.11.2015r. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy przetargu nieograniczonego na: Dostawa stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów
Bardziej szczegółowoMETODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW
METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku
Bardziej szczegółowoh λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)
Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę
Bardziej szczegółowoSkaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów
1 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia są badania morfologiczne powierzchni materiałów oraz analiza chemiczna obszarów
Bardziej szczegółowoDotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015
Dęblin, dnia 16.09.2015 r. Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 NA PYTANIE DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie
Bardziej szczegółowoFORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA
FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA załącznik nr 1a do SIWZ nr postępowania: BZP.2410.5.2018.BD Postępowanie przetargowe pn.: Dostawa, instalacja i uruchomienie fabrycznie nowego elektronowego mikroskopu skaningowego
Bardziej szczegółowoFotolitografia. xlab.me..me.berkeley.
Fotolitografia http://xlab xlab.me..me.berkeley.edu/ http://nanopatentsandinnovations.blogspot.com/2010/03/flyingplasmonic-lens-at-near-field-for.html Fotolitografia Przygotowanie powierzchni Nałożenie
Bardziej szczegółowoMetody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT
Metody i techniki badań II Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Dr inż. Agnieszka Kochmańska pok. 20 Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa agnieszka.kochmanska@zut.edu.pl
Bardziej szczegółowoŹródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg.
ZFP dysponuje obecnie unowocześnioną aparaturą, której skompletowanie, uruchomienie i utrzymanie w sprawności wymagało wysiłku zarówno merytorycznego jak i organizacyjnego oraz finansowego. Unowocześnienia
Bardziej szczegółowoSZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY
Załącznik nr 2 do SIWZ Załacznik nr 2 do umowy SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY Przedmiot oferty: Wysokorozdzielczy skaningowy
Bardziej szczegółowoPRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ
Ewa Teper PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ WIELKOŚĆ I RODZAJE PRÓBEK Maksymalne wymiary próbki, którą można umieścić na stoliku mikroskopu skaningowego są następujące: Próbka powinna się
Bardziej szczegółowo12. WYBRANE METODY STOSOWANE W ANALIZACH GEOCHEMICZNYCH. Atomowa spektroskopia absorpcyjna
12. WYBRANE METODY TOOWANE W ANALIZACH EOCHEMICZNYCH Atomowa spektroskopia absorpcyjna (AA - atomic absorption spectroscopy) Atomowa spektroskopia absorpcyjna jest bardzo czułą metodą analityczną umożliwiającą
Bardziej szczegółowoRozpraszanie nieelastyczne
Rozpraszanie nieelastyczne Przekazywanie energii elektronów wiązki prowadzi do emisji szeregu sygnałów wykorzystywanych w mikroskopii elektronowej i mikroanalizie rentgenowskiej: 1. Niskoenergetyczne elektrony
Bardziej szczegółowoWymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej
Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań
Bardziej szczegółowoTechniki mikroskopowe
Techniki mikroskopowe Metody badań strukturalnych ciała stałego dr inż. Magdalena Król Mikrostruktura Struktura przestrzenne rozmieszczenie cząstek materii (atomów, jonów, cząsteczek) oraz zespół relacji
Bardziej szczegółowoLaboratorium nanotechnologii
Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury
Bardziej szczegółowoZDALNA REJESTRACJA POWIERZCHNI ZIEMI
Zdalne metody (teledetekcję) moŝna w szerokim pojęciu zdefiniować jako gromadzenie informacji o obiekcie bez fizycznego kontaktu z nim (Mularz, 2004). Zdalne metody (teledetekcję) moŝna w szerokim pojęciu
Bardziej szczegółowo2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32
Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola
Bardziej szczegółowoLaboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych
Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych 1 Projekt MERFLENG... W 2012 roku
Bardziej szczegółowoSpektrometr XRF THICK 800A
Spektrometr XRF THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK GALWANIZNYCH THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zaprojektowany do pomiaru grubości warstw
Bardziej szczegółowoTHICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.
THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości
Bardziej szczegółowoFizykochemiczne metody w kryminalistyce. Wykład 7
Fizykochemiczne metody w kryminalistyce Wykład 7 Stosowane metody badawcze: 1. Klasyczna metoda analityczna jakościowa i ilościowa 2. badania rentgenostrukturalne 3. Badania spektroskopowe 4. Metody chromatograficzne
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa
ćw 5 Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa PRZEDMIOT: NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Opracowały: cz. teoretyczna: dr hab. Beata Grabowska
Bardziej szczegółowoIM-4 BADANIE ABSORPCJI ŚWIATŁA W MATERIAŁACH PÓŁPRZEWODNIKOWYCH
IM-4 BADANIE ABSORPCJI ŚWIATŁA W MATERIAŁACH PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z fotoelektryczną optyczną metodą wyznaczania energii przerwy wzbronionej w półprzewodnikach na przykładzie
Bardziej szczegółowoNOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip
NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały
Bardziej szczegółowoSpektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000
Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej
Bardziej szczegółowoBadania korozji oraz elementów metalowych
Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta dedykowana dla Badania korozji oraz elementów metalowych O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym na świadczenie
Bardziej szczegółowoSPEKTROMETRIA CIEKŁOSCYNTYLACYJNA
SPEKTROMETRIA CIEKŁOSCYNTYLACYJNA Metoda detekcji promieniowania jądrowego (α, β, γ) Konwersja energii promieniowania jądrowego na promieniowanie w zakresie widzialnym. Zalety metody: Geometria 4π Duża
Bardziej szczegółowoRezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego
Paweł Szroeder Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Wykład XI Badania powierzchni ciała stałego: elektronowy mikroskop skaningowy (SEM), skaningowy mikroskop tunelowy
Bardziej szczegółowoScenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody
Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody 1. Wątek i TEMAT: B 31 Wyjście (wycieczka) do Pracowni Mikroskopii Skaningowej Nauk Biologicznych i Geologicznych.
Bardziej szczegółowoPromieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne
Promieniowanie rentgenowskie Podstawowe pojęcia krystalograficzne Krystalografia - podstawowe pojęcia Komórka elementarna (zasadnicza): najmniejszy, charakterystyczny fragment sieci przestrzennej (lub
Bardziej szczegółowoOferta badań materiałowych
Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta badań materiałowych O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym na świadczenie najwyższej jakości usług oraz
Bardziej szczegółowoSPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer
EDX 3600B SPEKTROMETR FLUORESCENCJI RENTGENOWSKIEJ EDXRF DO PEŁNEJ ANALIZY PIERWIASTKOWEJ Energy dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer Przeznaczony do analizy pierwiastkowej: - w produkcji cementu,
Bardziej szczegółowoZAPLECZE LABORATORYJNO-TECHNICZNE Wydział Nauk o Ziemi i Gospodarki Przestrzennej UMCS
Laboratorium TL i OSL (od V 2012) Pracownia Palinologiczna Pracownia Mikromorfologiczna Pracownia Mikropaleontologiczna Pracownia Monitoringu Meteorologicznego Pracownia Hydrochemii i Hydrometrii Pracownia
Bardziej szczegółowoWydział Mechaniczny LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA
Wydział Mechaniczny Katedra Materiałoznawstwa, Wytrzymałości i Spawalnictwa LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA Wrocław, 30 listopada 2016 r. Pracownicy Laboratorium Materiałoznawstwa 13 osób Pracownicy naukowo-dydaktyczni
Bardziej szczegółowoPRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *)
Grażyna GILEWSKA PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *) STRESZCZENIE W artykule przedstawiono stosowane metody obrazowania struktur
Bardziej szczegółowoSpektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)
Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Oddziaływanie elektronów ze stałą, krystaliczną próbką wstecznie rozproszone elektrony elektrony pierwotne
Bardziej szczegółowoPrezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM
Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny
Bardziej szczegółowoZastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska
Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody
Bardziej szczegółowoGEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie
GEOLOGIA: Petrologia i petrografia Mineralogia i geochemia Geologia dynamiczna Gleboznawstwo Tektonika Stratygrafia Paleontologia Kartowanie geologiczne Geologia inżynierska, geofizyka, hydrogeologia,
Bardziej szczegółowoCharakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego.
WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej w Ustroniu Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. Anna Legutko Promotor: prof. zw. dr hab.
Bardziej szczegółowoBADANIA WTRĄCEŃ TLENKOWYCH W BRĄZIE KRZEMOWYM CUSI3ZN3MNFE METODĄ MIKROANALIZY RENTGENOWSKIEJ
BADANIA WTRĄCEŃ TLENKOWYCH W BRĄZIE KRZEMOWYM CUSI3ZN3MNFE METODĄ MIKROANALIZY RENTGENOWSKIEJ R. ROMANKIEWICZ, F. ROMANKIEWICZ Uniwersytet Zielonogórski ul. Licealna 9, 65-417 Zielona Góra 1. Wstęp Jednym
Bardziej szczegółowoRys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM).
Ewa Teper PODSTAWY MIKROSKOPII SKANINGOWEJ Podstawowe zasady działania mikroskopu skaningowego. W mikroskopach skaningowych wiązka elektronów bombarduje próbkę, skanując jej powierzchnię linia po linii.
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 6 I. SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 6 OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ CZĘŚĆ 6 ZESTAW DO POMIARU WYDAJNOŚCI OPTYCZNEJ METALICZNYCH KAPILAR RENTGENOWSKICH Z WYKORZYSTANIEM MIKROŹRÓDŁA RENTGENOWSKIEGO Dostawa i instalacja
Bardziej szczegółowoTechniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych
Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Mariusz Kępczyński, p. 148, kepczyns@chemia.uj.edu.pl Wstęp Plan wykładu mikroskopia
Bardziej szczegółowoSpektroskopia fotoelektronów (PES)
Spektroskopia fotoelektronów (PES) Efekt fotoelektryczny hν ( UV lub X) E =hν kin W Proces fotojonizacji w PES: M + hν M + + e E kin (e) = hν E B Φ sp E B energia wiązania elektronu w atomie/cząsteczce
Bardziej szczegółowoBadania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn
Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta dedykowana dla Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)
LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu zamówienia
ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie
Bardziej szczegółowoAparatura do osadzania warstw metodami:
Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera
Bardziej szczegółowoAparatura w absorpcyjnej spektrometrii atomowej
Lidia Kozak, Przemysław Niedzielski Lidia Kozak, Przemysław Niedzielski Spektrometry absorpcji atomowej zbudowane są z następujących podstawowych części: źródła promieniowania, atomizera, monochromatora,
Bardziej szczegółowoPromotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska
Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski Jarosław Rochowicz Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Praca magisterska Wpływ napięcia podłoża na właściwości mechaniczne powłok CrCN nanoszonych
Bardziej szczegółowoPromieniowanie X. Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X
Promieniowanie X Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X Lampa rentgenowska Lampa rentgenowska Promieniowanie rentgenowskie
Bardziej szczegółowoBudowa i zasada działania skanera
Budowa i zasada działania skanera Skaner Skaner urządzenie służące do przebiegowego odczytywania: obrazu, kodu paskowego lub magnetycznego, fal radiowych itp. do formy elektronicznej (najczęściej cyfrowej).
Bardziej szczegółowoZaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych 1. Struktura próbki a metoda badań strukturalnych 2. Podział
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 6 Elektronowy mikroskop transmisyjny w badaniach struktury metali metodą elektronograficzną Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zbadanie struktury
Bardziej szczegółowoOPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ DLA CZĘŚCI I
Załącznik nr 1a do SIWZ OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ DLA CZĘŚCI I Część I Dostawa i instalacja fabrycznie nowych urządzeń: Suszarka mrożeniowa z pompą turbomolekularną i wyposażeniem, kamera
Bardziej szczegółowoCzy atomy mogą być piękne?
Krzysztof Matus Doktorant w Instytucie Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Czy atomy mogą być piękne? W czasach, gdy ciągły rozwój nauki połączony
Bardziej szczegółowoNowoczesne metody analizy pierwiastków
Nowoczesne metody analizy pierwiastków Techniki analityczne Chromatograficzne Spektroskopowe Chromatografia jonowa Emisyjne Absorpcyjne Fluoroscencyjne Spektroskopia mas FAES ICP-AES AAS EDAX ICP-MS Prezentowane
Bardziej szczegółowoI. Poziom: poziom rozszerzony (nowa formuła)
Analiza wyników egzaminu maturalnego wiosna 2017 + poprawki Przedmiot: FIZYKA I. Poziom: poziom rozszerzony (nowa formuła) 1. Zestawienie wyników. Liczba uczniów zdających - LO 6 Zdało egzamin 4 % zdawalności
Bardziej szczegółowoWidmo promieniowania
Widmo promieniowania Spektroskopia Każde ciało wysyła promieniowanie. Promieniowanie to jest składa się z wiązek o różnych długościach fal. Jeśli wiązka światła pada na pryzmat, ulega ono rozszczepieniu,
Bardziej szczegółowoSPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force
SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy
Bardziej szczegółowoSzczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia
Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia Przedmiotem zamówienia jest dostawa i uruchomienie zestawu termowizyjnego wysokiej rozdzielczości wraz z wyposażeniem o parametrach zgodnych z określonymi
Bardziej szczegółowoWarszawa, dnia r.
Warszawa, dnia 19.09.2011 r. Do wszystkich pobierających SIWZ Dotyczy: udzielenia zamówienia publicznego w trybie przetargu nieograniczonego Nr 120/20/2011 na Dostawę systemu obrazowania molekularnego
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest wykorzystanie promieniowania
Bardziej szczegółowoOBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X
X4 OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest jakościowe poznanie podstawowych zjawisk fizycznych wykorzystywanych w obrazowaniu
Bardziej szczegółowoANALIZA SPECJACYJNA WYKŁAD 7 ANALIZA SPECJACYJNA
WYKŁAD 7 ANALIZA SPECJACYJNA ANALIZA SPECJACYJNA Specjacja - występowanie różnych fizycznych i chemicznych form danego pierwiastka w badanym materiale. Analiza specjacyjna - identyfikacja i ilościowe oznaczenie
Bardziej szczegółowoSkaningowy mikroskop elektronowy
Skaningowy mikroskop elektronowy SH-5000M / SH-4000 / SH-3500 / detektor EDS Mikroskop elektronowy skaningowy z serii Hirox SH to najwyższej klasy system nastołowy, umożliwiającym szybkie obrazowanie w
Bardziej szczegółowoPomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła
Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Bardziej szczegółowoTechniki analityczne. Podział technik analitycznych. Metody spektroskopowe. Spektroskopia elektronowa
Podział technik analitycznych Techniki analityczne Techniki elektrochemiczne: pehametria, selektywne elektrody membranowe, polarografia i metody pokrewne (woltamperometria, chronowoltamperometria inwersyjna
Bardziej szczegółowoINFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2
RAP.272.87.2014 Wrocław, 13.11.2014r. INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2 Dotyczy: postępowania o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest
Bardziej szczegółowoWSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM
WSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM DOSTĘPNYCH W LABORATORIUM WYDZIAŁU CHEMII UMCS DR INŻ. SEBASTIAN ARABASZ ul. Wantule 12, 02 828 Warszawa tel/fax: (22)
Bardziej szczegółowoNOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip
NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały
Bardziej szczegółowoPrzewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman
Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy
Bardziej szczegółowoMetody analizy pierwiastków z zastosowaniem wtórnego promieniowania rentgenowskiego. XRF, SRIXE, PIXE, SEM (EPMA)
Metody analizy pierwiastków z zastosowaniem wtórnego promieniowania rentgenowskiego. XRF, SRIXE, PIXE, SEM (EPMA) Promieniowaniem X nazywa się promieniowanie elektromagnetyczne o długości fali od około
Bardziej szczegółowoPodstawy przetwarzania obrazów teledetekcyjnych. Format rastrowy
Podstawy przetwarzania obrazów teledetekcyjnych Format rastrowy Definicja rastrowego modelu danych - podstawowy element obrazu cyfrowego to piksel, uważany w danym momencie za wewnętrznie jednorodny -
Bardziej szczegółowoOGŁOSZENIE DODATKOWYCH INFORMACJI, INFORMACJE O NIEKOMPLETNEJ PROCEDURZE LUB SPROSTOWANIE
1/ 6 ENOTICES_ZPbl 18/05/2011- ID:2011-069319 Formularz standardowy 14 PL Publikacja Suplementu do Dziennika Urzędowego Unii Europejskiej 2, rue Mercier, L-2985 Luksemburg Faks (352) 29 29-42670 E-mail:
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki kwantowej i budowy materii
Podstawy fizyki kwantowej i budowy materii prof. dr hab. Aleksander Filip Żarnecki Zakład Cząstek i Oddziaływań Fundamentalnych Instytut Fizyki Doświadczalnej Wykład 5 7 listopada 2016 A.F.Żarnecki Podstawy
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA ISTOTNYCH WARUNKÓW ZAMÓWIENIA zwana dalej w skrócie SIWZ
BIURO ZAMÓWIEŃ PUBLICZNYCH UNIWERSYTETU JAGIELLOŃSKIEGO Ul. Straszewskiego 25/9, 31-113 Kraków tel. +4812-432-44-50, fax +4812-432-44-51 lub +4812-663-39-14; e-mail: bzp@uj.edu.pl www.uj.edu.pl http://przetargi.adm.uj.edu.pl/oglosz.php
Bardziej szczegółowoDorota Kunkel. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej
Dorota Kunkel Implant wszystkie przyrządy medyczne wykonywane z jednego lub więcej biomateriałów, które mogą być umiejscowione wewnątrz organizmu, jak też częściowo lub całkowicie pod powierzchnią nabłonka
Bardziej szczegółowo1. Niskoenergetyczne elektrony wtórne SE (podstawowy sygnał w SEM) 2. Charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie (mikroanaliza w SEM i TEM)
Rozpraszanie niesprężyste Przekazywanie energii elektronów wiązki prowadzi do emisji szeregu sygnałów wykorzystywanych w mikroskopii elektronowej i mikroanalizie rentgenowskiej: 1. Niskoenergetyczne elektrony
Bardziej szczegółowoBadania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L)
Badania elementów i zespołów maszyn laboratorium (MMM4035L) Ćwiczenie 23. Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych (ESPI) do badania elementów maszyn. Opracowanie: Ewelina Świątek-Najwer
Bardziej szczegółowoWłasności optyczne materii. Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią?
Własności optyczne materii Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią? Właściwości optyczne materiału wynikają ze zjawisk: Absorpcji Załamania Odbicia Rozpraszania Własności elektrycznych Refrakcja
Bardziej szczegółowoSpektrometr ICP-AES 2000
Spektrometr ICP-AES 2000 ICP-2000 to spektrometr optyczny (ICP-OES) ze wzbudzeniem w indukcyjnie sprzężonej plazmie (ICP). Wykorztystuje zjawisko emisji atomowej (ICP-AES). Umożliwia wykrywanie ok. 70
Bardziej szczegółowoMikroskopia fluorescencyjna
Mikroskopia fluorescencyjna Mikroskop fluorescencyjny to mikroskop świetlny, wykorzystujący zjawisko fluorescencji większość z nich to mikroskopy tzw. epi-fluorescencyjne zjawisko fotoluminescencji: fluorescencja
Bardziej szczegółowoZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT
MECHANIK 7/2013 Mgr inż. Małgorzata BUŻANTOWICZ Muzeum i Instytut Zoologii PAN Mgr inż. Witold BUŻANTOWICZ Wojskowa Akademia Techniczna ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH
Bardziej szczegółowoRoHS-Vision / X-RoHS + SDD
Spektrometr EDXRF do analiz RoHS i w wersji full analysis RoHS-Vision / X-RoHS + SDD Szybka i prosta analiza substancji niebezpiecznych zgodnie z regulacjami prawnymi dotyczącymi ochrony środowiska RoHS
Bardziej szczegółowo(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:
. (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja
Bardziej szczegółowoUnikalne cechy płytek i szalek IBIDI
Unikalne cechy płytek i szalek IBIDI Grubość płytki jest kluczowym aspektem jakości obrazowania. Typowa grubość szkiełek nakrywkowych wynosi 0,17 mm (170 µm). Większość obiektywów stosowanych do mikroskopii
Bardziej szczegółowoUrządzenia do wprowadzania informacji graficznej. Skanery, Digitizery, Aparaty i Kamery cyfrowe
Urządzenia do wprowadzania informacji graficznej Skanery, Digitizery, Aparaty i Kamery cyfrowe Skanery Skaner to urządzenie przetwarzające obraz graficzny (zdjęcia, rysunki, tekst pi-sany itp.) na postać
Bardziej szczegółowo