Dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych
|
|
- Konrad Pawłowski
- 6 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych
2 Analiza punktowa EBSD - Electron Backscatter Diffraction EBSP - Electron Backscatter Pattern BKP - Backscatter Kikuchi Pattern Obrazowanie orientacji COM - Crystal Orientation Mapping ACOM - Automatic Crystal Orientation Mapping OIM - Orientation Imaging Microscopy (TexSEM Laboratories trademark)
3 Analiza punktowa Skanowanie wiązką elektronową
4 Pierwszy obraz linii dyfrakcyjnych uzyskany przez Kikuchiego w 1928 roku z kryształu kalcytu CaCO 3 Shoji Nishikawa and Seishi Kikuchi The Diffraction of Cathode Rays by Calcite Proc. Imperial Academy (of Japan) 4 (1928)
5 Punktowe źródło elektronów
6 Elektrony wstecznie rozproszone ulegają dyfrakcji tworząc dla każdej płaszczyzny krystalograficznej stożki dyfrakcyjne o dużym kącie rozwarcia (tzw. stożki Kossela) Przecięcie tych stożków z ekranem luminoforu układ równoległych linii (pasm) zwanych liniami (pasmami) Kikuchiego unikalny dla danej orientacji krystalitu EBSD z krystalitu FeTiO 3
7
8
9
10
11
12 1 utworzenie źródła elektronów w w warstwie podpowierzchniowej kryształu elektron trony rozpraszane sąs we wszystkich kierunkach. Część ulega dyfrakcji zgodnie z prawem Bragga: λ = 2d hkl sinθ r spatial resolution, d diffraction depth 2 Kąt Bragga jest mały (1 o dla 15 kv) stożki są duże linie przecięcia z ekranem prawie proste; odległość pomiędzy liniami proporcjonalna do tan(θ) a linia środkowa pomiędzy przecięciami stożków jest rzutem gnomonicznym płaszczyzny krystalograficznej uginającej elektrony
13 Dodatkowy detektor elektronów rozproszonych do przodu (forward scattered) umieszczony na kamerze CCD służy do rejestracji obszarów, z których rejestrowane są dyfrakcje
14 Przestrzenna zdolność rozdzielcza EBSD Zależy: od rodzaju materiału od źródła elektronów (FEG z termoemisją!) Zależność zdolności rozdzielczej od napięcia przyspieszającego dla Al, Cu i Ag =20 µm; Map2; Step=0.2 µm; Grid330x116 Cu, ECAP step size 200 nm FEI FEGSEM
15 Schemat systemu EBSD Schemat systemu EBSD 1 kolumna elektronooptyczna 2 próbka 3 kamera CCD 4 sterownik kamery 5 komputer sterujący wiązką oraz przeprowadzający analizę obrazu 6 obraz dyfrakcyjny
16 Jak otrzymać mapę orientacji? Akwizycja Detekcja Transformata Hougha Rozwiązanie dyfrakcji TO NIE JEST TYLKO KOLOROWA MAPA!!!
17 Akwizycja odejmowanie tłat
18 Tło Dyfrakcja wyjściowa Odejmowanie tła Dzielenie przez tło
19 Detekcja linii na dyfrakcji transformata Hougha P.C.V. Hough Method and means for recognising complex pattern US Patent , 1962 Przez pojedynczy pixel na układzie X-Y można przeprowadzić nieskończoną liczbę linii Linia ta może być opisana przez parametry Hougha ρ i θ, gdzie ρ reprezentuje odległość linii od początku układu a θ kąt pochylenia linii Punkt w przestrzeni obrazu jest przedstawiony jest jako sinusoida w przestrzeni Hougha
20 Rozważmy 4 piksele leżące na jednej linii. Dla każdego piksela obliczamy wszystkie możliwe wartości ρ dla kąta θ w zakresie od 0 o do 180 o zgodnie z równaniem: ρ = xcosθ + ysinθ. Otrzymujemy 4 krzywe sinusoidalne przecinające się w punkcie o koordynatach ρ i θ, odpowiadających koordynatom ρ i θ dla linii w układzie X-Y. Linia w układzie X-Y przekształca się w punkt w układzie ρ-θ (transformata Hougha).
21 Transformata Hougha
22 Detekcja linii - transformata Hougha
23 Detekcja linii za pomocą transformaty Hougha
24 Dyfrakcja z ceramiki mulitowej (układ ortorombowy) (3Al 2 O 3 2SiO 2 ), 10 kv Rozwiązanie dyfrakcji nałożone na realną dyfrakcję orientacja {370}<7-34> Symulacja orientacji krystalitu mullitu Symulacja dyfrakcji pasma Kikuchiego o intensywności większej niż 10% najbardziej intensywnych pasm
25 EBSD analiza dyfrakcji
26 Identyfikacja odpowiednich wskaźników hkl przez porównanie wartości kątów pomiędzy dwoma pasmami z wartościami kątów z Tablic
27 Zestaw możliwych rozwiązań dla 3 pasm Kikuchiego otrzymamy poprzez porównanie wartości zmierzonych kątów na realnej dyfrakcji z wartościami z Tablic Angle (hkl)1 (hkl)
28
29 Dla układu 3 pasm Kikuchiego porównanie wartości kątów pomiędzy płaszczyznami z realnej dyfrakcji i wartościami kątów z Tablic daje 3 możliwe rozwiązania zania Które jest właściwe?
30
31 Dla zestawu 5 pasm możliwe 10 kombinacji trójkowych Dla 10 kombinacji trójkowych - tylko rozwiązanie V 1 (10 głosów). Rozwiązanie V 2 (1 głos) i rozwiązanie V 3 (1 głos) Confidence Index ( CI - TSL) Mean Angle of Deviation (MAD- HKL)
32
33 C-SEM (HV)
34 Kilka uwag praktycznych
35 w = 2lθ w - szerokość pasma nλ = 2d hkl sin θ = 2d hkl θ lλ w = gdzie : l odleglosc probka ekran d w Wpływ napięcia przyspieszającego EBSD z Si przy 10 kv i 30 kv
36 λ (nm nm) V ( V (kv kv) θ = λ sin d 2 hkl
37 Natężenie pasma Kikuchiego pochodzącego od danej płaszczyzny hkl: I 2 hkl = fi( Θ)cos 2π(hxi + kyi + lzi) + fi( Θ)sin 2π(hxi + kyi + lzi) i i 2 gdzie: f i (θ) atomowy czynnik rozpraszania dla elektronów, (x i y i z i ) cząstkowe koordynaty dla atomu i w komórce elementarnej. Zarejestrowaną dyfrakcję porównujemy z dyfrakcją wyliczoną na podstawie powyższego równania, uważając aby uwzględniać tylko te płaszczyzny które uginają elektrony, gdyż tylko one biorą udział biorą udział w tworzeniu dyfrakcji.
38 Czynnik strukturalny Czynnik umożliwia on przewidywanie występowania lub nieobecności refleksów dyfrakcyjnych od różnych płaszczyzn krystalograficznych, a także proporcje ich intensywności. Opisywany przezeń efekt spowodowany jest interferencja fal cząstkowych ugiętych na poszczególnych atomach komórki elementarnej. A F hkl hkl A A hkl amplituda wiązki elektronowej ugiętej na płaszczyźnie hkl A 0 amplituda wiązki elektronowej padającej na kryształ F hkl czynnik strukturalny dla płaszczyzny hkl 0 F hkl + f f 2 n = f 1 ( θ)exp[ 2πi(hu ( θ) + exp[ 2πi(hu ( θ)exp[ 2πi(hu n kv + kv + kv n lw + lw + lw n 2 )] 1 )] )]
39 gdzie: Z liczba atomowa, f x czynnik atomowy na rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego, wyrażenie (λ/sinθ) opisuje rozpraszanie Rutherforda elektronu na jądrze atomowym, zaś wyrażenie (Z f x ) opisuje rozpraszanie elektronu na elektronach powłok f( θ) = moe 2 2h 2 λ sin θ 2 ( Z f ) x (L.REIMER). Al Ta
40 F n hkl = f j( θ)exp[ 2πi(hu j + kv j + lw j)] j= 1 Dla n liczby atomów w komórce elementarnej W pewnych przypadkach płaszczyzny nie uginają elektronów dyfrakcja nie zachodzi forbidden reflections Np. 100 dla fcc (Au) atomy Au rozmieszczone są na narożach komórki elementarnej i na środkach płaszczyzn. 4 atomy tworzące komórkę elementarną zajmują pozycje: [0,0,0], [0,1/2,1/2], [1/2,0,1/2], [1/2,1/2,0]
41 Czynnik strukturalny exp[ 2πi( )] 1 1 exp[ 2 i( )] exp[ 0)] + π exp[0] = f ( θ) 1 1 = + exp[ 2πi( )] + exp[ πi] 2 2 exp[ i] π + exp[ 2πi( )] 2 2 Fhkl 1 = 0 F W obliczeniach praktycznych, wygodna jest na ogół równoważna rozwinięta postać wyrażenia na F hkl : n n hkl = fi( Θ)cos 2π(hxn + kyn + lzn ) i fi( Θ)sin 2π(hxn + kyn + lzn ) j= 1 j= 1 x, y, z położenia atomu n hkl wskaźniki Millerowskie płaszczyzn
42 Dla Al Reflectors No. d-spacing, Å Intensity % {111} {200} {202} {113} {222} {400} {331} {402} {422} etc.
43 Pattern Centre dlaczego pochylamy próbk bkę o 70 o? Pattern Centre (PC) Punkt na ekranie luminoforu leżący najbliżej źródła elektronów generującego dyfrakcje 70 o 50 o
44 Gdy zmienia się WD (Working Distance) ulega zmianie położenie PC (Pattern Centre)
45
46 Przygotowanie próbek do badań Ponieważ informacja pochodzi z głębokości ~50 nm, dlatego konieczna jest: Ciągłość struktury krystalograficznej aż do powierzchni Gładka powierzchnia bez wypukłości ( shadowing ) oraz Brak warstwy zdeformowanej, tlenkowej, napylonej
47 e - Trawienie termiczne Y-TZP ( μm) /WC AFM profile across WC grain Polerowanie koloidalną krzemionką Y-TZP ( μm) /WC
48 Przykłady
49 Granice międzyziarnowe w mosiądzu Mapa orientacji Granice CSL (Coincidence Site Lattice) w mosiądzu Σ3 (granice blizniacze) 67% Prof. J.Humphries, UM
50 Analiza tekstury {111} Stop AA5182 walcowany na gorąco Prof. J.Humphries, UM
51 Fe0.05wt%C 05wt%C 725 o C 554h Dodatkowy detektor elektronów rozproszonych do przodu (foreward scattered electrons) do obrazowania miejsc na próbce, z których rejestrowane są dyfrakcje Mapa zmian orientacji All Euler Map
52
53 Fe0.05wt%C 05wt%C 725 o C 554h Mapa IPF (Inverse Pole Figure Map) Kodowanie kolorów wskazuje kierunek kryształu równoległy do kierunku referencyjnego
54 Fe0.05wt%C 05wt%C 725 o C 554h 1 Mapa BC (Band Contrast) Mapa TC (Texture Component Map) Idealna orientacja ziarna 1: φ 1 =130.6 o, Φ=40.1 o, φ 2 =67.0 o, odchylenie od idealnej orientacji 1 o
55 STAL DUPLEX Mapa BC (Band Contrast) +Noise Mapa fazowa + granice FCC BCC Mapa BC (Band Contrast)
56 Mapa orientacji Mapa orientacji + granice fazowe CSL Σ3 Mapa fazowa
57 EBSD/OIM technika wymagająca wzorców
58 SZMERGIEL (skała a zawierająca m.in. korund i magnetyt) Mapa BC (Band( Contrast) ) Mapa fazowa
59 Mapa BC (Band( Contrast) ) Mapa fazowa
60 3D EBSD Dual Beam FIB-SEM
61 3D EBSD
62 3D EBSD
63 EBSD - Analiza przemian fazowych Kobalt β: faza wysokotemperaturowa sieć FCC Temperatura przemiany alotropowej 417 C Kobalt α sieć HCP
64 EDAX
65 α-co β-co α -Co (HPC) β -Co (FCC) Równoległość osi [0001] i [111] faz α i β dla Co EDAX
66 EBSD mapping can be used to identify ify coesite-quartz inclusions within garnet and provide unique data about the deformation of the surrounding garnet
67 Forward scattered electron image General microstructure of the analyzed area. Three prominent inclusions in dark grey, two of which shows the coesite-quartz transformation (radial fractures visible as dark lines). Grey scale variations in the surrounding garnet represent differences in crystal orientations ( chanelling contrast ) Field of view = 1.2 mm
68 EBSD quality map General microstructure of the analyzed area Two of the inclusions (in the centre and lower left part of the image) are prominent with radiating fractures, visible as black lines (poor EBSD quality) Horizontal join of the 2 maps is visible across the centre of the image. Scale bar = 400µm
69 Phase map Distribution of three phases across the area Garnet is marked in green, quartz in blue and coesite in red. The central inclusion has a core of coesite surrounded by a rim of quartz. The lower-left inclusion has completely reverted to quartz. Radiating from the prominent inclusions are fractures, visible as black lines (poor EBSD quality)
70 Orientation map Crystallographic orientations of all three minerals Colors corresponding to the Euler angles. Grain boundaries are marked in black, phase boundaries are marked in red The whole area is comprised of only a few garnet grains. The quartz in the inclusions is polycrystalline with grain boundaries radiating from the centre. The coesite in the central inclusion is a single crystal
71 Deformation map Deformation of the garnet around the coesite/quartz inclusions The attempted change from coesite to quartz has tried to expand the inclusion, thereby causing radial cracks and deformation in the garnet. This means that the garnet crystal has acted as a protective pressure vessel so that pieces of coesite have been preserved. Small scale of deformation in the large garnet grain (less than 2 o )
72 R ω Crystallite A K. Sztwiertnia, M. Faryna, G. Sawina, Journal of Microscopy, Vol. 224, 2006, 4 Dezorientacja Dezorientacja pomiędzy krystalitem A i B jest zdefiniowana jako rotacja transformująca system odniesienia krystalitu B w system odniesienia krystalitu A K A = Γ AB K B Dezorientację można opisać matematycznie na wiele sposobów: Para oś rotacji/kąt rotacji Matryca rotacji, Kąty Eulera, Kwaterniony, Wektory Rodrigueza Γ e AB = S i Γ AB P ( i = 1,..., M, j = 1,..., N ) gdzie: S i and P j to elementy symetrii odpowiednio pierwszego i drugiego krystalitu j
73 Funkcja rozkładu dezorientacji w kompozycie Al 2 O 3 / WC ( ) WC [ ] WC ( ) WC [ ] WC (2 11 0) WC [ ] WC ( ) Al [ ] Al ( ) Al [ ] Al (2 11 0) Al [0 11 0] Al O O O O O O ( ) WC [0 1112] WC ( ) Al [ ] Al 2 2 O O 3 3
74 Funkcja rozkładu dezorientacji w kompozycie Al 2 O 3 / WC % of the total interphase boundary length Serie1 Zależności krystalograficzne opisujące odpowiednio: 12%, 5%, 2%, 7% i 4% całkowitej długości granic miedzyfazowych w kompozycie WC/ Al 2 O 3. ( ) WC [11 2 0] WC ( ) WC [ ] WC ( ) WC [ ] WC (2 11 0) WC [ ] WC ( ) WC [0 1112] WC ( ) Al [ ] Al ( ) Al [ ] Al ( ) Al [ ] Al (2 11 0) Al [0 11 0] Al 2 ( ) Al [ ] Al O O O O O O O O 3 O O
Dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych
Dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych Analiza punktowa EBSD - Electron Backscatter Diffraction EBSP - Electron Backscatter Pattern BKP - Backscatter Kikuchi Pattern Obrazowanie orientacji COM -
Bardziej szczegółowo10. Analiza dyfraktogramów proszkowych
10. Analiza dyfraktogramów proszkowych Celem ćwiczenia jest zapoznanie się zasadą analizy dyfraktogramów uzyskiwanych z próbek polikrystalicznych (proszków). Zwykle dyfraktometry wyposażone są w oprogramowanie
Bardziej szczegółowoDyfrakcja. Dyfrakcja to uginanie światła (albo innych fal) przez drobne obiekty (rozmiar porównywalny z długością fali) do obszaru cienia
Dyfrakcja 1 Dyfrakcja Dyfrakcja to uginanie światła (albo innych fal) przez drobne obiekty (rozmiar porównywalny z długością fali) do obszaru cienia uginanie na szczelinie uginanie na krawędziach przedmiotów
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)
LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007
Bardziej szczegółowoMetody dyfrakcyjne do wyznaczania struktury krystalicznej materiałów
Metody dyfrakcyjne do wyznaczania struktury krystalicznej materiałów prowadzący : dr inŝ. Marcin Małys (malys@mech.pw.edu.pl) dr inŝ. Wojciech Wróbel (wrobel@mech.pw.edu.pl) gdzie nas szykać: pok. 333
Bardziej szczegółowoNatęż. ężenie refleksu dyfrakcyjnego
Natęż ężenie refleksu dyfrakcyjnego Wskaźnikowanie dyfraktogramów 1. Natężenie refleksu dyfrakcyjnego - od czego i jak zależy 1. Wskaźnikowanie dyfraktogramów -metoda różnic 3. Wygaszenia systematyczne
Bardziej szczegółowoRentgenografia - teorie dyfrakcji
Rentgenografia - teorie dyfrakcji widmo promieniowania rentgenowskiego Widmo emisyjne promieniowania rentgenowskiego: -promieniowanie charakterystyczne -promieniowanie ciągłe (białe) Efekt naświetlenia
Bardziej szczegółowoPromieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne
Promieniowanie rentgenowskie Podstawowe pojęcia krystalograficzne Krystalografia - podstawowe pojęcia Komórka elementarna (zasadnicza): najmniejszy, charakterystyczny fragment sieci przestrzennej (lub
Bardziej szczegółowoWykład 17: Optyka falowa cz.1.
Wykład 17: Optyka falowa cz.1. Dr inż. Zbigniew Szklarski Katedra Elektroniki, paw. C-1, pok.31 szkla@agh.edu.pl http://layer.uci.agh.edu.pl/z.szklarski/ 1 Zasada Huyghensa Christian Huygens 1678 r. pierwsza
Bardziej szczegółowoKrystalografia. Dyfrakcja
Krystalografia Dyfrakcja Podstawowe zagadnienia Rodzaje promieniowania używane w dyfrakcyjnych metodach badań struktur krystalicznych, ich źródła Fizyczne podstawy i warunki dyfrakcji Równania dyfrakcji:
Bardziej szczegółowoMetody badań monokryształów metoda Lauego
Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 132, 40 006 Katowice, Tel. 0323591627 e-mail: joanna_palion@poczta.fm opracowanie: mgr Joanna Palion Gazda Laboratorium z Krystalografii
Bardziej szczegółowoKrystalografia. Dyfrakcja na monokryształach. Analiza dyfraktogramów
Krystalografia Dyfrakcja na monokryształach. Analiza dyfraktogramów Wyznaczanie struktury Pomiar obrazów dyfrakcyjnych Stworzenie modelu niezdeformowanej sieci odwrotnej refleksów Wybór komórki elementarnej
Bardziej szczegółowoLaboratorium z Krystalografii. 2 godz.
Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii Laboratorium z Krystalografii 2 godz. Zbadanie zależności intensywności linii Kα i Kβ promieniowania charakterystycznego X emitowanego przez anodę
Bardziej szczegółowoDokładność i precyzja w dyfraktometrii rentgenowskiej
Dokładność i precyzja w dyfraktometrii rentgenowskiej Dokładność i precyzja ± 1σ = Α Ρ Legenda: Z A A S A R : prawdziwa" wartość : wynik pomiaru : dokładność : precyzja = odchylenie standardowe Z A A-Z
Bardziej szczegółowoEugeniusz Łągiewka. Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów
Eugeniusz Łągiewka Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów KATOWICE 2015 Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich, elektronów i neutronów Rodzinie i Przyjaciołom 1 2 NR 159
Bardziej szczegółowoI.4 Promieniowanie rentgenowskie. Efekt Comptona. Otrzymywanie promieniowania X Pochłanianie X przez materię Efekt Comptona
r. akad. 004/005 I.4 Promieniowanie rentgenowskie. Efekt Comptona Otrzymywanie promieniowania X Pochłanianie X przez materię Efekt Comptona Jan Królikowski Fizyka IVBC 1 r. akad. 004/005 0.01 nm=0.1 A
Bardziej szczegółowoBadanie mechanizmów rekrystalizacji w metalach
Badanie mechanizmów rekrystalizacji w metalach Jacek Tarasiuk KFMS, 2007 dr Philippe Gerber, dr Krystian Piękoś prof. Krzysztof Wierzbanowski dr Brigitte Bacroix LPMTM, Univ. Paris XIII Plan referatu (1)
Bardziej szczegółowoS. Baran - Podstawy fizyki materii skondensowanej Dyfrakcja na kryształach. Dyfrakcja na kryształach
S. Baran - Podstawy fizyki materii skondensowanej Dyfrakcja na kryształach Dyfrakcja na kryształach Warunki dyfrakcji źródło: Ch. Kittel Wstęp do fizyki..., rozdz. 2, rys. 6, str. 49 Konstrukcja Ewalda
Bardziej szczegółowoZaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych 1. Struktura próbki a metoda badań strukturalnych 2. Podział
Bardziej szczegółowoMetoda DSH. Dyfraktometria rentgenowska. 2. Dyfraktometr rentgenowski: - budowa anie - zastosowanie
Metoda DSH. Dyfraktometria rentgenowska 1. Teoria Braggów-Wulfa 2. Dyfraktometr rentgenowski: - budowa - działanie anie - zastosowanie Promieniowanie elektromagnetyczne radiowe mikrofale IR UV/VIS X γ
Bardziej szczegółowoMonochromatyzacja promieniowania molibdenowej lampy rentgenowskiej
Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakładu Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40 006 Katowice tel. (032)359 1503, e-mail: izajen@wp.pl, opracowanie: dr Izabela Jendrzejewska Laboratorium z Krystalografii
Bardziej szczegółowoAby opisać strukturę krystaliczną, konieczne jest określenie jej części składowych: sieci przestrzennej oraz bazy atomowej.
2. Podstawy krystalografii Podczas naszych zajęć skupimy się przede wszystkim na strukturach krystalicznych. Kryształem nazywamy (def. strukturalna) substancję stałą zbudowaną z atomów, jonów lub cząsteczek
Bardziej szczegółowoRejestracja dyfraktogramów polikrystalicznych związków. Wskaźnikowanie dyfraktogramów i wyznaczanie typu komórki Bravais go.
Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40006 Katowice tel. 0323591503, email: izajen@wp.pl opracowanie: dr hab. Izabela Jendrzejewska Laboratorium z Krystalografii
Bardziej szczegółowoLaboratorium z Krystalografii. 2 godz.
Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii Laboratorium z Krystalografii 2 godz. Zbadanie zależności intensywności linii Ka i Kb promieniowania charakterystycznego X emitowanego przez anodę
Bardziej szczegółowoMetody badań monokryształów metoda Lauego
Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 132, 40 006 Katowice, Tel. 0323591627 e-mail: joanna_palion@poczta.fm opracowanie: mgr Joanna Palion Gazda Laboratorium z Krystalografii
Bardziej szczegółowoDyfrakcja promieniowania rentgenowskiego
010-04-11 Dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego Podstawowa metoda badania struktury ciał krystalicznych. Dyfrakcja Dyfrakcja: ugięcie fali na przeszkodzie małej w porównaniu z długością fali. Fala ugięta
Bardziej szczegółowoFizyka elektryczność i magnetyzm
Fizyka elektryczność i magnetyzm W5 5. Wybrane zagadnienia z optyki 5.1. Światło jako część widma fal elektromagnetycznych. Fale elektromagnetyczne, które współczesny człowiek potrafi wytwarzać, i wykorzystywać
Bardziej szczegółowo= sin. = 2Rsin. R = E m. = sin
Natężenie światła w obrazie dyfrakcyjnym Autorzy: Zbigniew Kąkol, Piotr Morawski Chcemy teraz znaleźć wyrażenie na rozkład natężenia w całym ekranie w funkcji kąta θ. Szczelinę dzielimy na N odcinków i
Bardziej szczegółowoLaboratorium z Krystalografii. 2 godz.
Uniwersytet Śląski - Instytut Chemii Zakład Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 132, 40-006 Katowice tel. 0323591627, e-mail: ewa.malicka@us.edu.pl opracowanie: dr Ewa Malicka Laboratorium z Krystalografii
Bardziej szczegółowoZaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Rentgenowska fazowa analiza ilościowa Parametry komórki elementarnej Wielkości krystalitów Budowa mikroskopu
Bardziej szczegółowoKrystalografia. Wykład VIII
Krystalografia Wykład VIII Plan wykładu Otrzymywanie i właściwow ciwości promieni rentgenowskich Sieć odwrotna Warunki dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego 2 NajwaŜniejsze daty w analizie strukturalnej
Bardziej szczegółowoMIKROSKOPIA ORIENTACJI - NOWE NARZĘDZIE DO BADAŃ KOMPOZYTÓW CERAMICZNYCH
KOMPOZYTY (COMPOSITES) 2(2002)5 Marek Faryna 1 Uniwersytet Jagielloński, Środowiskowe Laboratorium Analiz Fizykochemicznych i Badań Strukturalnych, ul. Ingardena 3, 30-060 Kraków MIKROSKOPIA ORIENTACJI
Bardziej szczegółowoTekstura krystalograficzna pomocna w interpretacji wyników badań materiałowych
Tekstura krystalograficzna pomocna w interpretacji wyników badań materiałowych Jan T. Bonarski Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej POLSKA AKADEMIA NAUK, Kraków www.imim.pl Ogniwo słoneczne wykonane
Bardziej szczegółowoDyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych kilka uwag praktycznych
1 czasopismo naukowo-techniczne redagowane przy współudziale POLSKIEGO TOWARZYSTWA MATERIAŁOZNAWCZEGO NR 1 (167) ROK XXX STYCZEŃ LUTY 2009 ORGAN NACZELNEJ ORGANIZACJI TECHNICZNEJ marek faryna Dyfrakcja
Bardziej szczegółowoSpektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)
Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Oddziaływanie elektronów ze stałą, krystaliczną próbką wstecznie rozproszone elektrony elektrony pierwotne
Bardziej szczegółowoInstytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI
Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. 1. Otrzymywanie promieni rentgenowskich. 2. Budowa lampy rentgenowskiej. 3. Własności
Bardziej szczegółowoWyznaczanie struktury krystalicznej i molekularnej wybranego związku koordynacyjnego w oparciu o rentgenowską analizę strukturalną
INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ Wyznaczanie struktury krystalicznej i molekularnej wybranego związku koordynacyjnego w oparciu o rentgenowską analizę strukturalną I. Cel ćwiczenia Wyznaczenie struktury krystalicznej
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 6 Elektronowy mikroskop transmisyjny w badaniach struktury metali metodą elektronograficzną Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zbadanie struktury
Bardziej szczegółowoCiała stałe. Ciała krystaliczne. Ciała amorficzne. Bardzo często mamy do czynienia z ciałami polikrystalicznymi, rzadko monokryształami.
Ciała stałe Ciała krystaliczne Ciała amorficzne Bardzo często mamy do czynienia z ciałami polikrystalicznymi, rzadko monokryształami. r T = Kryształy rosną przez regularne powtarzanie się identycznych
Bardziej szczegółowoZADANIE 111 DOŚWIADCZENIE YOUNGA Z UŻYCIEM MIKROFAL
ZADANIE 111 DOŚWIADCZENIE YOUNGA Z UŻYCIEM MIKROFAL X L Rys. 1 Schemat układu doświadczalnego. Fala elektromagnetyczna (światło, mikrofale) po przejściu przez dwie blisko położone (odległe o d) szczeliny
Bardziej szczegółowoRejestracja i rekonstrukcja fal optycznych. Hologram zawiera pełny zapis informacji o fali optycznej jej amplitudzie i fazie.
HOLOGRAFIA prof dr hab inŝ Krzysztof Patorski Krzysztof Rejestracja i rekonstrukcja fal optycznych Hologram zawiera pełny zapis informacji o fali optycznej jej amplitudzie i fazie a) Laser b) odniesienia
Bardziej szczegółowoInstytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI
Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. 1. Otrzymywanie promieni rentgenowskich. 2. Budowa lampy rentgenowskiej. 3. Własności
Bardziej szczegółowoWSTĘP DO OPTYKI FOURIEROWSKIEJ
1100-4BW1, rok akademicki 018/19 WSTĘP DO OPTYKI FOURIEROWSKIEJ dr hab. Rafał Kasztelanic Wykład 4 Przestrzeń swobodna jako filtr częstości przestrzennych Załóżmy, że znamy rozkład pola na fale monochromatyczne
Bardziej szczegółowoRozpraszanie nieelastyczne
Rozpraszanie nieelastyczne Przekazywanie energii elektronów wiązki prowadzi do emisji szeregu sygnałów wykorzystywanych w mikroskopii elektronowej i mikroanalizie rentgenowskiej: 1. Niskoenergetyczne elektrony
Bardziej szczegółowoDyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej Wykład 2 i 3
Dyfrakcja rentgenowska () w analizie fazowej Wykład 2 i 3 1. Historia odkrycie promieniowania X i pierwsze eksperymenty z jego zastosowaniem. 2. Fale elektromagnetyczne. 3. Źródła promieniowania X, promieniowanie
Bardziej szczegółowoPrezentacja przebiegu pomiaru obrazu dyfrakcyjnego monokryształu na czterokołowym dyfraktometrze Oxford Diffraction Gemini A Ultra.
INSTRUKCJA DO ĆWICZEŃ Prezentacja przebiegu pomiaru obrazu dyfrakcyjnego monokryształu na czterokołowym dyfraktometrze Oxford Diffraction Gemini A Ultra. I. Cel ćwiczenia Głównym celem ćwiczenia jest zapoznanie
Bardziej szczegółowoTopografia rentgenowska wybranych pseudoperowskitów ABCO 4
Topografia rentgenowska wybranych pseudoperowskitów ABCO 4 Agnieszka Malinowska Wydział Fizyki Politechniki Warszawskiej Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie Praca pod kierunkiem:
Bardziej szczegółowoDyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej Wykład 5
Dyfrakcja rentgenowska () w analizie fazowej Wykład 5 1. Co to jest rentgenogram? Ogólna charakterystyka rentgenogramów substancji amorficznych i krystalicznych. 2. Parametry pomiarowe; jaki jest wpływ
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki kwantowej i budowy materii
Podstawy fizyki kwantowej i budowy materii prof. dr hab. Aleksander Filip Żarnecki Zakład Cząstek i Oddziaływań Fundamentalnych Instytut Fizyki Doświadczalnej Wykład 5 7 listopada 2016 A.F.Żarnecki Podstawy
Bardziej szczegółowoWyznaczanie bezwzględnej aktywności źródła 60 Co. Tomasz Winiarski
Wyznaczanie bezwzględnej aktywności źródła 60 Co metoda koincydencyjna. Tomasz Winiarski 24 kwietnia 2001 WSTEP TEORETYCZNY Rozpad promieniotwórczy i czas połowicznego zaniku. Rozpad promieniotwórczy polega
Bardziej szczegółowoPołożenia, kierunki, płaszczyzny
Położenia, kierunki, płaszczyzny Dalsze pojęcia Osie krystalograficzne; Parametry komórki elementarnej; Wskaźniki punktów kierunków i płaszczyzn; Osie krystalograficzne Osie krystalograficzne: układ osi
Bardziej szczegółowoRejestracja dyfraktogramów polikrystalicznych związków. Wskaźnikowanie dyfraktogramów i wyznaczanie typu komórki Bravais go.
Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40006 Katowice tel. 0323591503, email: izajen@wp.pl opracowanie: dr hab. Izabela Jendrzejewska Laboratorium z Krystalografii
Bardziej szczegółowoWskaźnikowanie elektronogramów
Materiały Pomocnicze do Laboratorium Metod Badania Materiałów Wskaźnikowanie elektronogramów Jan A. Kozubowski B C A' O 000 A Wydział Inżynierii Materiałowej P.W. Warszawa, 2000 2 Spis treści: 1. Podstawy
Bardziej szczegółowoBadanie materiałów polikrystalicznych w aspekcie optymalizacji ich własności
WydziałFizyki i Informatyki Stosowanej Badanie materiałów polikrystalicznych w aspekcie optymalizacji ich własności dr inż. Sebastian Wroński Ośrodki współpracujące Modyfikacja własności poprzez: Deformacje
Bardziej szczegółowoMikroskop teoria Abbego
Zastosujmy teorię dyfrakcji do opisu sposobu powstawania obrazu w mikroskopie: Oświetlacz typu Köhlera tworzy równoległą wiązkę światła, padającą na obserwowany obiekt (płaszczyzna 0 ); Pole widzenia ograniczone
Bardziej szczegółowoWyznaczanie stałej sieci metodą Debye a-scherrera-hulla (DSH)
Wyznaczanie stałej sieci metodą Debye a-scherrera-hulla (DSH) Tomasz Früboes Streszczenie Doświadczenie miało na celu wyznaczenie stałych sieci a drucika miedzianego i sproszkowanej substancji o strukturze
Bardziej szczegółowoKrystalografia. Analiza wyników rentgenowskiej analizy strukturalnej i sposób ich prezentacji
Krystalografia Analiza wyników rentgenowskiej analizy strukturalnej i sposób ich prezentacji Opis geometrii Symetria: kryształu: grupa przestrzenna cząsteczki: grupa punktowa Parametry geometryczne współrzędne
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3)
LABORATORIUM DYFRAKCJI RENTGENOWSKIEJ (L-3) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik
Bardziej szczegółowoCharakterystyka promieniowania miedziowej lampy rentgenowskiej.
Uniwersytet Śląski - Instytut Chemii Zakładu Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40-006 Katowice tel. 0323591503, e-mail: izajen@wp.pl, opracowanie: dr Izabela Jendrzejewska Laboratorium z Krystalografii
Bardziej szczegółowoElektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią
Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią Principles and Practice of Variable Pressure/Environmental Scanning Electron Microscopy Debbie Stokes, John Wiley &Sons, 2008 LV-SEM Low Vacuum Scanning
Bardziej szczegółowoInstytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI
Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. 1. Otrzymywanie promieni rentgenowskich. 2. Budowa lampy rentgenowskiej. 3. Własności
Bardziej szczegółowoostawa. Fizyka powierzchni i nanostruktury 4
Obrazy dyfrakcyjne elektronów Jak badać strukturę powierzchni? Własności: Dyfrakcja elektronowa cd. Dyfrakcja zachowuje symetrię. Duże odległości w obrazie dyfrakcyjnym oznaczają małe odległości na powierzchni.
Bardziej szczegółowoMETODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW
METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku
Bardziej szczegółowofalowa natura materii
10 listopada 2016 1 Fale de Broglie a Dyfrakcja promieni X 1895 promieniowanie X dopiero w 1912 dowód na ich falowa naturę - to promieniowanie elektromagnetyczne zjawiska falowe: ugięcia, dyfrakcji - trudne:
Bardziej szczegółowoDYFRAKCYJNE METODY BADANIA STRUKTURY CIAŁ STAŁYCH
LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ W ENERGETYCE Ćwiczenie 7 DYFRAKCYJNE METODY BADANIA STRUKTURY CIAŁ STAŁYCH Instrukcja zawiera: 1. Cel ćwiczenia 2. Wprowadzenie teoretyczne; definicje i wzory 3. Opis
Bardziej szczegółowoCyfrowe przetwarzanie obrazów i sygnałów Wykład 9 AiR III
1 Na podstawie materiałów autorstwa dra inż. Marka Wnuka. Niniejszy dokument zawiera materiały do wykładu z przedmiotu Cyfrowe Przetwarzanie Obrazów i Sygnałów. Jest on udostępniony pod warunkiem wykorzystania
Bardziej szczegółowoJak badać strukturę powierzchni?
Jak badać strukturę powierzchni? Wykład - 12 15 Anim - ten kod oznacza, że na stronie znajdują się animacje niewidoczne w pliku pdf. Aby oglądnąć te animacje skopiuj zbiór z pokazem PowerPoint Z. Postawa,
Bardziej szczegółowoSTRUKTURA KRYSTALICZNA
PODSTAWY KRYSTALOGRAFII Struktura krystaliczna Wektory translacji sieci Komórka elementarna Komórka elementarna Wignera-Seitza Jednostkowy element struktury Sieci Bravais go 2D Sieci przestrzenne Bravais
Bardziej szczegółowoPodstawy Fizyki IV Optyka z elementami fizyki współczesnej. wykład 18, Radosław Chrapkiewicz, Filip Ozimek
Podstawy Fizyki IV Optyka z elementami fizyki współczesnej wykład 18, 23.04.2012 wykład: pokazy: ćwiczenia: Czesław Radzewicz Radosław Chrapkiewicz, Filip Ozimek Ernest Grodner Wykład 17 - przypomnienie
Bardziej szczegółowoDyfrakcja elektronów
Narodowe Centrum Badań Jądrowych Dział Edukacji i Szkoleń ul. Andrzeja Sołtana 7, 05-400 Otwock-Świerk ĆWICZENIE 12 L A B O R A T O R I U M F I Z Y K I A T O M O W E J I J Ą D R O W E J Dyfrakcja elektronów
Bardziej szczegółowoSTRUKTURA CIAŁA STAŁEGO
STRUKTURA CIAŁA STAŁEGO Podział ciał stałych Ciała - bezpostaciowe (amorficzne) Szkła, żywice, tłuszcze, niektóre proszki. Nie wykazują żadnych regularnych płaszczyzn ograniczających, nie można w nich
Bardziej szczegółowoWskaźnikowanie rentgenogramów i wyznaczanie parametrów sieciowych Wykład 8
Wskaźnikowanie rentgenogramów i wyznaczanie parametrów sieciowych Wykład 8 1. Wskaźnikowanie rentgenogramów. 2. Metoda róŝnic wskaźnikowania rentgenogramów substancji z układu regularnego. 3. Metoda ilorazów
Bardziej szczegółowoTechniki Jądrowe w Diagnostyce i Terapii Medycznej
Techniki Jądrowe w Diagnostyce i Terapii Medycznej Wykład 2-5 marca 2019 Zygmunt Szefliński Środowiskowe Laboratorium Ciężkich Jonów szef@fuw.edu.pl http://www.fuw.edu.pl/~szef/ Rozpad Przemiana Widmo
Bardziej szczegółowoRENTGENOWSKA ANALIZA STRUKTURALNA
LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ W ENERGETYCE Ćwiczenie 5 Instrukcja zawiera: RENTGENOWSKA ANALIZA STRUKTURALNA 1. Cel ćwiczenia 2. Wprowadzenie teoretyczne; definicje i wzory 3. Sposób przygotowania
Bardziej szczegółowoOPTYKA FALOWA I (FTP2009L) Ćwiczenie 2. Dyfrakcja światła na szczelinach.
OPTYKA FALOWA I (FTP2009L) Ćwiczenie 2. Dyfrakcja światła na szczelinach. Zagadnienia, które należy znać przed wykonaniem ćwiczenia: Dyfrakcja światła to zjawisko fizyczne zmiany kierunku rozchodzenia
Bardziej szczegółowoPrawo Bragga. Różnica dróg promieni 1 i 2 wynosi: s = CB + BD: CB = BD = d sinθ
Prawo Bragga Prawo Bragga Prawo Bragga Różnica dróg promieni 1 i 2 wynosi: s = CB + BD: CB = BD = d sinθ d - odległość najbliższych płaszczyzn, w których są ułożone atomy, równoległych do powierzchni kryształu,
Bardziej szczegółowoOscylator wprowadza lokalne odkształcenie s ośrodka propagujące się zgodnie z równaniem. S 0 amplituda odkształcenia. f [Hz] -częstotliwość.
Akusto-optyka Fala akustyczna jest falą mechaniczną Oscylator wprowadza lokalne odkształcenie s ośrodka propagujące się zgodnie z równaniem ( x, t) S cos( Ωt qx) s Częstotliwość kołowa Ω πf Długość fali
Bardziej szczegółowoFizykochemiczne metody w kryminalistyce. Wykład 7
Fizykochemiczne metody w kryminalistyce Wykład 7 Stosowane metody badawcze: 1. Klasyczna metoda analityczna jakościowa i ilościowa 2. badania rentgenostrukturalne 3. Badania spektroskopowe 4. Metody chromatograficzne
Bardziej szczegółowoZjawisko interferencji fal
Zjawisko interferencji fal Interferencja to efekt nakładania się fal (wzmacnianie i osłabianie się ruchu falowego widoczne w zmianach amplitudy i natęŝenia fal) w którym zachodzi stabilne w czasie ich
Bardziej szczegółowoG:\AA_Wyklad 2000\FIN\DOC\FRAUN1.doc. "Drgania i fale" ii rok FizykaBC. Dyfrakcja: Skalarna teoria dyfrakcji: ia λ
Dyfrakcja: Skalarna teoria dyfrakcji: U iω t [ e ] ( t) Re U ( ) ;. c t U ( ; t) oraz [ + ] U ( ) k. U ia s ( ) A e ik r ( rs + r ) cos( n, ) cos( n, s ) ds s r. Dyfrakcja Fresnela (a) a dyfrakcja Fraunhofera
Bardziej szczegółowoZaawansowane Metody Badań Materiałów. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów
Zaawansowane Metody Badań Materiałów Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Grafik zajęć wykłady i seminaria Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Chemii Krzemianów
Bardziej szczegółowoLaboratorium TECHNIKI LASEROWEJ. Ćwiczenie 1. Modulator akustooptyczny
Laboratorium TECHNIKI LASEROWEJ Ćwiczenie 1. Modulator akustooptyczny Katedra Metrologii i Optoelektroniki WETI Politechnika Gdańska Gdańsk 2018 1. Wstęp Ogromne zapotrzebowanie na informację oraz dynamiczny
Bardziej szczegółowoBUDOWA KRYSTALICZNA CIAŁ STAŁYCH. Stopień uporządkowania struktury wewnętrznej ciał stałych decyduje o ich podziale
BUDOWA KRYSTALICZNA CIAŁ STAŁYCH Stopień uporządkowania struktury wewnętrznej ciał stałych decyduje o ich podziale na: kryształy ciała o okresowym regularnym uporządkowaniu atomów, cząsteczek w całej swojej
Bardziej szczegółowoRozpraszanie i dyfrakcja promieniowania X część II. Jak eksplorować przestrzeń odwrotną - eksperymenty dyfrakcyjne
Rozpraszanie i dyfrakcja promieniowania X część II Jak eksplorować przestrzeń odwrotną - eksperymenty dyfrakcyjne Poprzedni wykład Dyfrakcja a transformacja Fouriera k r R r(r) q=k-k Obraz dyfrakcji (rozproszenia)
Bardziej szczegółowoSieć przestrzenna. c r. b r. a r. komórka elementarna. r r
Sieć przestrzenna c r b r r r u a r vb uvw = + + w c v a r komórka elementarna V = r r a ( b c) v Układy krystalograficzne (7) i Sieci Bravais (14) Triclinic (P) a b c, α β γ 90 ο Monoclinic (P) a b c,
Bardziej szczegółowoElementy teorii powierzchni metali
prof. dr hab. Adam Kiejna Elementy teorii powierzchni metali Wykład 2 v.16 Sieci płaskie i struktura powierzchni 1 Typy sieci dwuwymiarowych (płaskich) Przecinając monokryształ wzdłuż jednej z płaszczyzn
Bardziej szczegółowoODWZOROWANIE W OŚWIETLENIU KOHERENTNYM
ODWZOROWANIE W OŚWIETLENIU KOHERENTNYM prof. dr hab. inż. Krzysztof Patorski Przedmiotem tej części wykładu jest model matematyczny procesu formowania obrazu przez pojedynczy układ optyczny w oświetleniu
Bardziej szczegółowoh λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)
Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę
Bardziej szczegółowoTematyka badań. Analiza tekstur krystalograficznych i związane z nimi zagadnienia (A. Morawiec, K. Kudłacz)
Tematyka badań Rozwój metodyki diagnozowania degradacji warstw przypowierzchniowych z wykorzystaniem tekstury krystalograficznej i naprężeń własnych (J. Bonarski, L. Tarkowski). Analiza profilu głębokościowego
Bardziej szczegółowoZaawansowane Metody Badań Materiałów. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów
Zaawansowane Metody Badań Materiałów Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Grafik zajęć wykłady i seminaria Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Chemii Krzemianów
Bardziej szczegółowoPROMIENIOWANIE RENTGENOWSKIE
PROMIENIOWANIE RENTGENOWSKIE 1. Zagadnienia teoretyczne Promieniowanie rentgenowskie, poziomy energetyczne w atomie, stała Planck a i metody wyznaczania jej wartości, struktura krystalograficzna, dyfrakcyjne
Bardziej szczegółowoZadania treningowe na kolokwium
Zadania treningowe na kolokwium 3.12.2010 1. Stan układu binarnego zawierającego n 1 moli substancji typu 1 i n 2 moli substancji typu 2 parametryzujemy za pomocą stężenia substancji 1: x n 1. Stabilność
Bardziej szczegółowoSpektroskopia elektronów Augera. AES Auger Electron Spectroscopy
Spektroskopia elektronów Augera AES Auger Electron Spectroscopy Podstawy E k Z E 4 E 3 E 2 E 1 E k =(E 2 -E 3 )-E 4 Proces Auger a Jonizacja głęboko leżącego poziomu elektronowego przez elektrony pierwotne
Bardziej szczegółowoOscylator wprowadza lokalne odkształcenie s ośrodka propagujące się zgodnie z równaniem. S 0 amplituda odkształcenia. f [Hz] - częstotliwość.
Akusto-optyka Fala akustyczna jest falą mechaniczną Oscylator wprowadza lokalne odkształcenie s ośrodka propagujące się zgodnie z równaniem ( x, t) S cos( Ωt qx) s Częstotliwość kołowa Ω πf Długość fali
Bardziej szczegółowoVII. CZĄSTKI I FALE VII.1. POSTULAT DE BROGLIE'A (1924) De Broglie wysunął postulat fal materii tzn. małym cząstkom przypisał fale.
VII. CZĄSTKI I FALE VII.1. POSTULAT DE BROGLIE'A (1924) De Broglie wysunął postulat fal materii tzn. małym cząstkom przypisał fale. Światło wykazuje zjawisko dyfrakcyjne. Rys.VII.1.Światło padające na
Bardziej szczegółowo9. Optyka Interferencja w cienkich warstwach. λ λ
9. Optyka 9.3. nterferencja w cienkich warstwach. Światło odbijając się od ośrodka optycznie gęstszego ( o większy n) zienia fazę. Natoiast gdy odbicie zachodzi od powierzchni ośrodka optycznie rzadszego,
Bardziej szczegółowoUkład regularny. Układ regularny. Możliwe elementy symetrii: Możliwe elementy symetrii: 3 osie 3- krotne. m płaszczyzny przekątne.
Układ regularny Możliwe elementy symetrii: 3 osie 3- krotne m płaszczyzny równoległe do ścian m płaszczyzny przekątne 4 osie 4- krotne 2 osie 2- krotne Układ regularny Możliwe elementy symetrii: 3 osie
Bardziej szczegółowofalowego widoczne w zmianach amplitudy i natęŝenia fal) w którym zachodzi
Zjawisko interferencji fal Interferencja to efekt nakładania się fal (wzmacnianie i osłabianie się ruchu falowego widoczne w zmianach amplitudy i natęŝenia fal) w którym zachodzi stabilne w czasie ich
Bardziej szczegółowoDyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Fazowa analiza ilościowa Obliczenia strukturalne prawo Vegarda Pomiary cienkich warstw Budowa mikroskopu
Bardziej szczegółowoFizyka, technologia oraz modelowanie wzrostu kryształów Dyfrakcja i Reflektometria Rentgenowska
Fizyka, technologia oraz modelowanie wzrostu kryształów Dyfrakcja i Reflektometria Rentgenowska Michał Leszczyński Stanisław Krukowski i Michał Leszczyński Instytut Wysokich Ciśnień PAN 01-142 Warszawa,
Bardziej szczegółowo