dr hab. inż. Alicja Bachmatiuk WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+

Podobne dokumenty
Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

Fizykochemiczne metody w kryminalistyce. Wykład 7

Spektroskopia molekularna. Spektroskopia w podczerwieni

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne

Monochromatyzacja promieniowania molibdenowej lampy rentgenowskiej

PODSTAWY METODY SPEKTROSKOPI W PODCZERWIENI ABSORPCJA, EMISJA

Światło fala, czy strumień cząstek?

Optyczna spektroskopia oscylacyjna. w badaniach powierzchni

Spektroskopia fotoelektronów (PES)

Promieniowanie X. Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X

Czy atomy mogą być piękne?

Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni

12. WYBRANE METODY STOSOWANE W ANALIZACH GEOCHEMICZNYCH. Atomowa spektroskopia absorpcyjna

Techniki analityczne. Podział technik analitycznych. Metody spektroskopowe. Spektroskopia elektronowa

Falowa natura materii

dr inż. Beata Brożek-Pluska SERS La boratorium La serowej

10. Analiza dyfraktogramów proszkowych

Przejścia promieniste

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

Rentgenografia - teorie dyfrakcji

Zespolona funkcja dielektryczna metalu

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

Metody chemiczne w analizie biogeochemicznej środowiska. (Materiał pomocniczy do zajęć laboratoryjnych)

Metody analizy pierwiastków z zastosowaniem wtórnego promieniowania rentgenowskiego. XRF, SRIXE, PIXE, SEM (EPMA)

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

Metoda DSH. Dyfraktometria rentgenowska. 2. Dyfraktometr rentgenowski: - budowa anie - zastosowanie

Ćwiczenie 3 ANALIZA JAKOŚCIOWA PALIW ZA POMOCĄ SPEKTROFOTOMETRII FTIR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy)

Spektroskopowe metody identyfikacji związków organicznych

Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn

PRODUKTY CHEMICZNE Ćwiczenie nr 3 Oznaczanie zawartości oksygenatów w paliwach metodą FTIR

Podczerwień bliska: cm -1 (0,7-2,5 µm) Podczerwień właściwa: cm -1 (2,5-14,3 µm) Podczerwień daleka: cm -1 (14,3-50 µm)

ZASADY ZALICZENIA PRZEDMIOTU MBS

Światło ma podwójną naturę:

Dyfrakcja. Dyfrakcja to uginanie światła (albo innych fal) przez drobne obiekty (rozmiar porównywalny z długością fali) do obszaru cienia

Ćwiczenie nr 2 : Badanie licznika proporcjonalnego fotonów X

OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS

Ciała stałe. Ciała krystaliczne. Ciała amorficzne. Bardzo często mamy do czynienia z ciałami polikrystalicznymi, rzadko monokryształami.

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści

Reflekcyjno-absorpcyjna spektroskopia w podczerwieni RAIRS (IRRAS) Reflection-Absorption InfraRed Spectroscopy

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów

Powierzchniowo wzmocniona spektroskopia Ramana SERS. (Surface Enhanced Raman Spectroscopy)

Własności optyczne materii. Jak zachowuje się światło w zetknięciu z materią?

JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI? JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI?

Jan Drzymała ANALIZA INSTRUMENTALNA SPEKTROSKOPIA W ŚWIETLE WIDZIALNYM I PODCZERWONYM

Spektrometria w bliskiej podczerwieni - zastosowanie w cukrownictwie. Radosław Gruska Politechnika Łódzka Wydział Biotechnologii i Nauk o Żywności

Spektroskopia. Spotkanie pierwsze. Prowadzący: Dr Barbara Gil

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

2008/2009. Seweryn Kowalski IVp IF pok.424

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Wykład 5 Widmo rotacyjne dwuatomowego rotatora sztywnego

IM-4 BADANIE ABSORPCJI ŚWIATŁA W MATERIAŁACH PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

Fizyka kwantowa. promieniowanie termiczne zjawisko fotoelektryczne. efekt Comptona dualizm korpuskularno-falowy. kwantyzacja światła

SPEKTROMETRIA CIEKŁOSCYNTYLACYJNA

PDF stworzony przez wersję demonstracyjną pdffactory

BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU

Rozpraszanie nieelastyczne

Badanie dynamiki rekombinacji ekscytonów w zawiesinach półprzewodnikowych kropek kwantowych PbS

HETEROGENICZNOŚĆ STRUKTURALNA ORAZ WŁAŚCIWOŚCI ADSORPCYJNE ADSORBENTÓW NATURALNYCH

Dobór warunków dla poprawnego pomiaru widm emisji i wydajności kwantowych emisji

Oddziaływanie promieniowania X z materią. Podstawowe mechanizmy

OPTYKA. Leszek Błaszkieiwcz

Wykład FIZYKA II. 11. Optyka kwantowa. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak

Podstawy fizyki kwantowej i budowy materii

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

WSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM

dr hab. inż. Józef Haponiuk Katedra Technologii Polimerów Wydział Chemiczny PG

Kwantowe własności promieniowania, ciało doskonale czarne, zjawisko fotoelektryczne zewnętrzne.

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

Jak analizować widmo IR?

WFiIS. Wstęp teoretyczny:

Zastosowanie spektroskopii w podczerwieni w jakościowej i ilościowej analizie organicznej

1. Od czego i w jaki sposób zależy szybkość reakcji chemicznej?

I.4 Promieniowanie rentgenowskie. Efekt Comptona. Otrzymywanie promieniowania X Pochłanianie X przez materię Efekt Comptona

EKSTRAHOWANIE KWASÓW NUKLEINOWYCH JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI? JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI?

Laboratorium z Krystalografii specjalizacja: Fizykochemia związków nieorganicznych

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

Wzajemne relacje pomiędzy promieniowaniem a materią wynikają ze zjawisk związanych z oddziaływaniem promieniowania z materią. Do podstawowych zjawisk

I. PROMIENIOWANIE CIEPLNE

Analiza spektralna widma gwiezdnego

Oferta badań materiałowych

Charakterystyka promieniowania miedziowej lampy rentgenowskiej.

Pomiar energii wiązania deuteronu. Celem ćwiczenia jest wyznaczenie energii wiązania deuteronu

OPTYKA FALOWA I (FTP2009L) Ćwiczenie 2. Dyfrakcja światła na szczelinach.

POTWIERDZANIE TOŻSAMOSCI PRZY ZASTOSOWANIU RÓŻNYCH TECHNIK ANALITYCZNYCH

ĆWICZENIE 3 LUMINOFORY ORGANICZNE I NIEORGANICZNE.

m 1, m 2 - masy atomów tworzących wiązanie. Im

Właściwości optyczne. Oddziaływanie światła z materiałem. Widmo światła widzialnego MATERIAŁ

Fale materii. gdzie h= J s jest stałą Plancka.

Automatyczne sterowanie gotowaniem cukrzycy z zastosowaniem pomiaru masy kryształów metodą spektrometrii w bliskiej podczerwieni

Badania korozji oraz elementów metalowych

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ

III. EFEKT COMPTONA (1923)

Promieniowanie podczerwone (ang. infrared IR) obejmuje zakres promieniowania elektromagnetycznego pomiędzy promieniowaniem widzialnym a mikrofalowym.

ANALIZA POWIERZCHNI BADANIA POWIERZCHNI

Transkrypt:

dr hab. inż. Alicja Bachmatiuk WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+ CHARAKTERYSTYKA FIZYKOCHEMICZNA NANOMATERIAŁÓW WROCŁAWSKIE CENTRUM BADAŃ EIT+

Plan prezentacji WSTĘP Charakterystyka, nanomateriały TECHNIKI DYNAMICZNE ROZPRASZANIE ŚWIATŁA (DLS): Technika umożliwiająca badanie wielkości cząstek równomiernie zawieszonych w roztworze MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA (EM): Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM) badanie powierzchni, wielkości oraz składu oraz transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM) do badań morfologii cząstek DYFRAKCJA PROMIENIOWANIA RENTGENOWSKIEGO (XRD): Badania własności próbek mono i polikrystalicznych SPEKTROSKOPIA FOTOELEKTRONÓW W ZAKRESIE PROMIENIOWANIA X (XPS): Identyfikacja wiązań chemicznych pierwiastków oraz określenie ich koncentracji SPEKTROSKOPIA W PODCZERWIENI (IR): Określenie obecności oraz rodzaju grup funkcyjnych, analiza struktury cząsteczek OKREŚLANIE POROWATOŚCI MATERIAŁÓW: Badania powierzchni właściwej oraz porowatości z wykorzystaniem technik adsorpcyjnych

Wstęp Charakterystyka, nanomateriały CHARAKTERYSTYKA: Odnosi się do badań własności materiałów takich jak skład, wielkość, struktura oraz własności fizyczne, elektryczne, magnetyczne, itp. NANOMATERIAŁY: Mikroskopowe materiały, których rozmiar mierzony jest w nanometrach (nm: 10-9 m), mogą być to nanocząstki lub nanowarstwy.

Wstęp Charakterystyka, nanomateriały KLASYFIKACJA NANOCZĄSTEK: Są różne klasyfikacje nanocząstek: (np. 3D, 2D, 1D, 0D) Organiczne i nieorganiczne Naturalne i wytworzone przez człowieka (projektowane i produkty uboczne)

Wstęp Charakterystyka, nanomateriały WŁASNOŚCI NANOCZĄSTEK: Mały rozmiar Duża powierzchnia właściwa w stosunku do objętości Ulepszone własności fizyczne, chemiczne i biologiczne Łatwość do tworzenia zawiesin Łatwość do wnikania w tkanki i organy Ich własności różnią się znacznie od ich większych odpowiedników

TECHNIKI METODA DYNAMICZNEGO ROZPRASZANIA ŚWIATŁA - DLS (DYNAMIC LIGHT SCATTERING) MOŻLIWOŚĆ WYZNACZENIA: rozkładu wielkości cząstek (cząstki koloidalne, makrocząsteczki, pęcherzyki, micele) potencjału Zeta średniej masa cząsteczkowej składników organicznych POSTAĆ PRÓBKI: cząstki rozpuszczone/ zawieszone w cieczy lub w postaci emulsji ZASADA POMIARU: wyznaczenie wielkości cząstek na podstawie różnic w szybkości ruchów tych cząstek w roztworze (ruchy Browna) z zależności szybkości zmian intensywności światła. Dla uzyskania miarodajnych wyników konieczna jest odpowiednia liczba cząsteczek w zawiesinie. WYNIKI: Duża niepewność wyniku w przypadku próbek polidyspersyjnych: rozkład wielkości jest zbyt duży; cząsteczki są silnie niesferyczne; kiedy występuje więcej rodzajów cząsteczek; cząstki aglomerują. Wymagane jest porównanie wyników z wynikami uzyskanymi innymi technikami, w szczególności jeśli są to nieregularne kształty. Zetasizer Nano ZS, Malvern Zakres pomiarowy 1 nm - 10 µm Znana również pod nazwą Photon Correlation Spectroscopy. Pozwala określić wielkość zawieszonych w roztworze cząstek do ok 1nm. Próbka jest naświetlana wiązką lasera, która jest następnie rozpraszana poprzez nanocząstki. Zmiany w rozpraszaniu są mierzone pod znanym kątem dzięki zastosowaniu szybkiego detektora fotonów

TECHNIKI SKANINGOWA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA (SEM) MOŻLIWOŚĆ WYZNACZENIA: wielkości cząstek, morfologia oraz kształt określenie składu pierwiastkowego przy wykorzystaniu EDS FEI Qemscan HF 650 FEI Helios 450 HP FEI Helios 660 POSTAĆ PRÓBKI: cząstki stałe, przewodzące na powierzchni ZASADA POMIARU: idea polega na skanowaniu powierzchni próbki nanometrową wiązką elektronów uformowaną przez elektrono-optyczny układ mikroskopu. Wiązka ta formowana jest przez układ soczewek. Odchylanie wiązki odbywa się przy użyciu cewek. Sygnał z powierzchni próbki, zazwyczaj w postaci elektronów wtórnych albo odbitych, dociera do detektora, którego najważniejszymi częściami są scyntylator i fotopowielacz. WYNIKI: Obrazy SE (elektrony wtórne), BSE (elektrony odbite), mapy EDS courtesy of G. Weinberg, Fritz-Haber-Institute of the Max-Planck society, Germany

TECHNIKI TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA (TEM) MOŻLIWOŚĆ WYZNACZENIA: wielkości cząstek, morfologia oraz kształt określenie struktury krystalicznej określenie składu pierwiastkowego przy wykorzystaniu EDS HR-TEM, FEI TITAN 3 G2 60-300, 2 correctors, ChemiSTEM, (70 pm res.) TEM, FEI Tecnai G2 20, X-TWIN (LaB 6 ) POSTAĆ PRÓBKI: nanocząstki, cienkie folie; cieńsze niż 100 nm ZASADA POMIARU: Transmisyjna mikroskopia elektronowa to technika stosowana w celu prześwietlenia próbki, za pomocą wytworzonej i odpowiednio uformowanej wiązki elektronów. Głównym zadaniem transmisyjnego mikroskopu elektronowego jest formowanie powiększonego obrazu prześwietlanego preparatu. Obraz powstaje poprzez odziaływanie preparatu z padającą wiązką elektronów, co w rezultacie skutkuje powstaniem kontrastu WYNIKI: Obrazy TEM, HRTEM, STEM, mapy i widma EDS oraz EELS courtesy of the Max-Planck society, Germany courtesy of Thermo Fisher

Counts Liczba zliczen TECHNIKI TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA (TEM) MOŻLIWOŚĆ WYZNACZENIA: wielkości cząstek, morfologia oraz kształt określenie struktury krystalicznej określenie składu pierwiastkowego przy wykorzystaniu EDS HR-TEM, FEI TITAN 3 G2 60-300, 2 correctors, ChemiSTEM, (70 pm res.) TEM, FEI Tecnai G2 20, X-TWIN (LaB 6 ) 2500 2000 Ti O Acquire EDX 30 = 10 nm = 3 nm Ti Ti 25 1500 20 1000 500 Ti 15 10 5 0.0 Cu Cu Cu Si Si P P 2 Cl Cl 4 Ti Energy (kev) 6 Cu 8 Cu 10 0 0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 Rozmiar nanoczastek [nm] Rozkład wielkości cząstek zmierzono dla cząstek o kształcie okrągłym i wielokątnym, a ich średnia wielkość wynosiła 10 nm. Średnia długość cząstek podłużnych wynosiła 200 nm. Tabela 1. Analiza ilościowa pierwiastków Pierwiastek Zawartość [%] O 77,00 Ti 22,00 Si 0,50 P 0,30 Cl 0,05

MOŻLIWOŚCI: TECHNIKI DYFRAKCJA PROMIENIOWANIA RENTGENOWSKIEGO (XRD) Uzyskanie informacji o strukturze krystalicznej materiałów Podstawową funkcją tej techniki jest identyfikacja oraz charakterystyka związków w oparciu o ich widma dyfrakcyjne Metoda skupiająca się na analizie właściwości fizykochemicznych nanocząstek Pozwala na określenie: składu fazy, wielkości i kształtu cząsteczek POSTAĆ PRÓBKI: próbki mono lub polikrystaliczne w postaci stałej ZASADA POMIARU: opiera się na prawu Bragga wiążącego geometrię kryształu z długością fali padającego promieniowania i kątem, pod którym obserwowane jest interferencyjne maksimum n λ = 2dsinθ gdzie: n rząd ugięcia, liczba całkowita, ale nie dość duża, ze względu na to, że sinθ < 1; Dyfraktometr rentgenowski EMPYREAN, (PANalytical) λ długość fali promieniowania rentgenowskiego, taka że: λ 2d; d odległość międzypłaszczyznowa odległość między płaszczyznami na których zachodzi rozproszenie; θ kąt odbłysku kąt padania definiowany jako kąt między wiązką promieni pierwotnych, a płaszczyzną kryształu WYNIKI: Duża niepewność wyniku w przypadku próbek polidyspersyjnych: rozkład wielkości jest zbyt duży; cząsteczki są silnie niesferyczne; kiedy występuje więcej rodzajów cząsteczek; cząstki aglomerują. Wymagane jest porównanie wyników z wynikami uzyskanymi innymi technikami (zwłaszcza technikami mikroskopii elektronowej), w szczególności jeśli próbka zawiera cząstki o różnej wielkości.

OPIS PRÓBKI: TECHNIKI DYFRAKCJA PROMIENIOWANIA RENTGENOWSKIEGO (XRD) Nanocząstki ditlenku tytanu w postaci białego proszku Dyfraktometr rentgenowski EMPYREAN, (PANalytical)

MOŻLIWOŚCI: Technika wykorzystywana do określania składu chemicznego materiałów, zwłaszcza do badania składu powierzchni. Możliwa jest analiza pierwiastkowa (energia pasm) jak również ilościowa (wielkość pól pod krzywą) TECHNIKI SPEKTROSKOPIA FOTOELEKTRONÓW W ZAKRESIE PROMIENIOWANIA X (XPS) Możliwość pomiaru zarówno przewodzących jak i nieprzewodzących próbek POSTAĆ PRÓBKI: próbki w postaci stałej ZASADA POMIARU: polega na analizie rozkładu energii kinetycznej fotoelektronów emitowanych w wyniku wzbudzenia próbki promieniowaniem charakterystycznym z zakresu miękkiego promieniowania rentgenowskiego Obszar emisji fotoelektronów jest bardzo płytki, co ogranicza tę metodę tylko do pomiaru powierzchni. Przyjmuje się, że głębokość pomiaru wynosi: 3 λ, gdzie: λ - średnia droga swobodna elektronu System UHV (PREVAC) WYNIKI: Wyróżnia się dwa podstawowe typy widm XPS: widmo przeglądowe - charakteryzujące się szerokim zakresem energii, małą rozdzielczością, występowaniem licznych linii spektralnych i pozwala jedynie zgrubnie ocenić obecność pierwiastków na badanej powierzchni widmo szczegółowe - charakteryzuje się wąskim zakresem energii, dużą rozdzielczością, analizuje się zwykle linie spektralną wybranego pierwiastka w celu zbadania przesunięć chemicznych

C 1s CPS Ti2p O 1s MOŻLIWOŚCI: TECHNIKI SPEKTROSKOPIA FOTOELEKTRONÓW W ZAKRESIE PROMIENIOWANIA X (XPS) Badania proszku z nanocząstkami ditlenku tytanu x 10 2 Survey scan-1 20 Name C 1s O 1s Ti2p Pos. 284.86 530.26 458.86 FWHM 1.288 1.156 0.993 Area 114.19 2880.94 3771.27 At% 7.23 62.22 30.56 15 10 5 0 600 500 400 300 200 100 0 Binding Energy (ev) CasaXP S (Thi s st ring can be edit ed in CasaXPS.DEF/P rintfootnote.txt) System UHV (PREVAC) TiO 2 Pasmo Energia Powierzchnia / FWHM (ev) (T*MFP) %At Conc. C 1s 284.86 1.288 114.19 7.23 O 1s 530.26 1.156 2880.94 62.22 Ti 2p 458.86 0.993 3771.27 30.56

Pasma w obszarze 607 i 810 cm -1 są charakterystyczne dla wiązań O-Ti-O. Pasma w obszarze 3400 i 1636 cm -1 to pasma charakterystyczne dla grup OH TECHNIKI SPEKTROSKOPIA W PODCZERWIENI (IR) MOŻLIWOŚCI: Technika wykorzystująca oddziaływanie światła podczerwonego z cząsteczkami Możliwa jest identyfikacja materiału poprzez określenie składu chemicznego, analiza obecności oraz ilości grup funkcyjnych w materiałach Bada absorpcję promieniowania związaną ze wzbudzeniem poziomów oscylacyjnych cząsteczek POSTAĆ PRÓBKI: próbki w różnej postaci ZASADA POMIARU: promieniowanie elektromagnetyczne z zakresu IR ma częstotliwość zbliżoną do częstotliwości drgań cząsteczek. Przechodząc przez próbkę badanej substancji promieniowanie to jest selektywnie pochłaniane, zwiększając amplitudę drgań w cząsteczkach Określone grupy funkcyjne związków organicznych charakteryzują się ściśle określonym zakresem absorpcji promieniowania podczerwonego WYNIKI: Widmo IR FT-IR Nicolet 6700 (Thermo Scientific) 7600 to 350 cm -1

MOŻLIWOŚCI: TECHNIKI POROWATOŚĆ MATERIAŁÓW Powierzchnia i porowatość są dwoma ważnymi właściwościami fizycznymi, które wpływają na jakość i użyteczność cząstek w fazie stałej. Powierzchnia i porowatość odgrywają główną rolę w oczyszczaniu, przetwarzaniu, mieszaniu produktów chemicznych oraz własności produktu i w jego stabilności. POSTAĆ PRÓBKI: próbki w postaci proszku; badanie substancji o silnie i słabo rozwiniętej powierzchni i porowatości jak węgiel, węgle aktywne, sadza, popioły, pigmenty, materiały ceramiczne w tym sita molekularne, katalizatory i ich nośniki, metale, proszki metali, gleby, skały, substancje farmaceutyczne, mikrofiltry, aerożele, membrany, zeolity i wiele innych materiałów. ZASADA POMIARU: Analiza adsorpcji gazu jest powszechnie stosowana do pomiarów powierzchni i porowatości. Związana jest z poddawaniem działaniu gazu lub oparów na badany materiał w różnych warunkach, oceniając albo zaadsorbowaną ilość gazu lub objętość próbki. Analiza danych dostarcza informacji związanych z gęstością szkieletową (ρs), porowatością, całkowitą objętością porów (TOPV) i ich wielkością. 3Flex 3500, mierzy powierzchnię właściwą oraz pory od 30 Å do 5000Å oraz mikropory o średnicy od 3,5 Å do 30Å jak również ich objętość i dystrybucję wielkości https://andyjconnelly.wordpress.com/2017/03/13/bet-surface-area/ Badany parametr Metoda badawcza Jednostka Wynik Powierzchnia BET sorpcja fizyczna azotu dla TiO2 m 2 /g 173

WNIOSKI Charakterystyka nanocząstek jest konieczna w celu zrozumienia i kontrolowania procesów wytwarzania nanocząsteczek i ich zastosowań oraz bezpieczeństwa ich stosowania Przy wykorzystaniu jednej techniki nie jesteśmy w stanie w pełni scharakteryzować danej substancji Nanotechnologia ma wiele możliwości jako podejście futurystyczne, ale w dużej mierze zależy od równoczesnego postępu w nowszych, szybszych, prostszych i bardziej wydajnych technikach charakteryzowania nanocząstek