Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM"

Transkrypt

1 Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena Kowalewska, Jacek Szwedo, Muzeum i Instytut Zoologii, Polska Akademia Nauk, Wilcza 64, Warszawa Cezary Gębicki, G Akademia im. Jana Długosza, D Al. Armii Krajowej 13/15, Częstochowa Inkluzje owadów w bursztynie Gdańsk, Gdynia, Sopot XII. 2006r

2 Technika skaningowej mikroskopii elektronowej SEM znalazła zastosowanie w takich dziedzinach nauki jak: - biologia, - medycyna, - zoologia, - archeologia, - kryminologia, - materiałoznawstwo, - inne. Aktualnie skaningowe mikroskopy elektronowe stanowią podstawowe narzędzia pomiarowo - badawcze wszędzie tam gdzie zachodzi konieczność analizowania stanu powierzchni i ocena jej morfologii.

3 Budowa i zasada działania SEM: a) przekrój przez kolumnę mikroskopu (SEM), b) schemat mikroskopu (SEM) J. Goldstein, D.Newbury, D.Joy, Ch. Lyman: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (Third Edition) Wiązka elektronów bombarduje próbkę, skanując jej powierzchnię linia po linii. W momencie zetknięcia elektronów z powierzchnia preparatu część z nich jest rozpraszana, a część z nich wnika do wnętrza próbki powodując emisje elektronów wtórnych, promieni rentgenowskich oraz światła widzialnego. Są one rejestrowane za pomocą odpowiednich detektorów i przetwarzane na obrazy próbek wyświetlane na monitorze lub na widmo promieniowania rentgenowskiego.

4 Mikroanalizator rentgenowski EDS metoda dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego WDS metoda dyspersji długości fali promieniowania rentgenowskiego Analiza jakościowa składu chemicznego ustalenia zawartości danych pierwiastków, w oparciu o występowanie lub brak występowania ich charakterystycznych pików w widmie. Analiza ilościowa składu chemicznego ustalenie stosunku zawartości pierwiastków na podstawie porównania intensywności odpowiednich pików tych pierwiastków miedzy sobą lub porównania z wzorcami.

5 Badanie inkluzji w bursztynie bałtyckim wykonano za pomocą: - elektronowego mikroskopu skaningowego HITACHI S-3400N, - mikroanalizatora rentgenowskiego EDS firmy Thermo Noran, - mikroskopu stereoskopowego Olympus.

6 Protodikraneura ferraria Gębicki C., Szwedo J Protodikraneurini trib. nov. from the Eocene Baltic amber (Hemiptera: Cicadellidae: Typhlocybinae). Annales Zoologici, 56(4):

7 Hemiptera: Cicadomorpha Cicadellidae ok. 30 tys. opisanych gatunków współczesnych, prawdopodobnie 5 razy więcej gatunków w rzeczywistości; ci; wydzielono ponad 40 podrodzin; w zapisie kopalnym od jury Typhlocybinae: współczesne czesne 470 rodzajów, 5200 gatunków w rozsiedlone na całym ym świecie plemiona: Alebrini, Dikraneurini, Empoascini, Erythroneurini, Jorumini, Typhlocybini, Zyginellini Alebra w zapisie kopalnym Typhlocybinae od eocenu bursztyn bałtycki tycki nowe plemię: Protodikraneurini trib. nov., brak plemion współczesnych czesnych

8 Mikroskop skaningowy HITACHI S-3400N S - normalnym (High Vacuum), - niskonapięciowym (dla UACC<5kV, UACC<3kV), - naturalnym (Low( Vacuum), -napięcie przyśpieszające 0.3kV - 30kV, - stolik (automatyka w pięciu osiach), - komora robocza o średnicy wewnętrznej 215mm Zastosowanie trybu naturalnego - Low Vacuum pozwala na wykonywanie badań na obiektach bez konieczności ci stosowania typowej dla materiałów w nie przewodzących preparatyki, dzięki czemu obiekty te nie ulegną uszkodzeniu czy też zniszczeniu.

9 W trybie naturalnym (niska próżnia - Low Vacuum), wykorzystujemy 5-segmentowy 5 detektor półprzewodnikowy p przewodnikowy - BSE (Backscattered( Electron Detector). Za pomocą tego detektora istnieje możliwo liwość obserwacji danego obiektu w trzech różnych r rodzajach detekcji; kompozycyjnej, (COMP), topograficznej (TOPO) i stero (3D). Sygnał detektora BSE

10 Protodikraneura ferraria Coll. Jacek Serafin AUC103JS

11 Tryb - 3D (stereo)

12 Tryb TOPO (topograficzny)

13 Tryb COMP ( kompozycyjny)

14

15 C-K O-K Na-K Al-K Si-K S-K K-K Ca-K Fe-K Inkluzja Weight % Inkluzja Inkluzja Inkluzja Inkluzja

16 C-K O-K Al-K Si-K S-K K-K Ti-K Fe-K Inkluzja Weight % Inkluzja Inkluzja Inkluzja Inkluzja

17 S Fe Si Al

18 S Fe Si Al Rozkład powierzchniowy pierwiastków Al, Si, S, Fe (suma)

19 Wnioski Inkluzję w bursztynie bałtyckim oznaczono jako należą żącą do plemienia Protodikraneurini trib. nov. i reprezentuje nowy gatunek Protodikraneura ferraria. W przypadku zachowania się fragmentów w inkluzji na powierzchni bursztynu, istnieje możliwo liwość ich badania za pomocą mikroskopu skaningowego SEM W takim przypadku elektronowy mikroskop skaningowy stanowi dobre urządzenie dzenie diagnostyczne do badania morfologii zachowanej inkluzji. Wykorzystanie mikroanalizy rentgenowskiej EDS pozwala na określenie lenie składu chemicznego warstwy, która pokrywa inkluzje, co w przyszłości może e być pomocne w celu określenia warunków w w jakich inkluzja przebywała a w czasie depozycji w złożu. z

20

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT MECHANIK 7/2013 Mgr inż. Małgorzata BUŻANTOWICZ Muzeum i Instytut Zoologii PAN Mgr inż. Witold BUŻANTOWICZ Wojskowa Akademia Techniczna ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH

Bardziej szczegółowo

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, 2016 Spis treści Wykaz ważniejszych skrótów i oznaczeń 11 Przedmowa 17 Wstęp 19 Literatura 26 Rozdział I.

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH

FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym

Bardziej szczegółowo

Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego. mgr inż. Katarzyna Kasprzyk

Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego. mgr inż. Katarzyna Kasprzyk Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego mgr inż. Katarzyna Kasprzyk Mikroskop skaningowy Pierwszy mikroskop elektronowy transmisyjny powstał w 1931r

Bardziej szczegółowo

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku

Bardziej szczegółowo

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach

Bardziej szczegółowo

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów 1 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia są badania morfologiczne powierzchni materiałów oraz analiza chemiczna obszarów

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest wykorzystanie promieniowania

Bardziej szczegółowo

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Metody i techniki badań II Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Dr inż. Agnieszka Kochmańska pok. 20 Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa agnieszka.kochmanska@zut.edu.pl

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia optyczna i elektronowa Optical and electron microscopy

Mikroskopia optyczna i elektronowa Optical and electron microscopy Załącznik nr 7 do Zarządzenia Rektora nr 10/12 z dnia 21 lutego 2012r. KARTA MODUŁU / KARTA PRZEDMIOTU Kod modułu Nazwa modułu Nazwa modułu w języku angielskim Obowiązuje od roku akademickiego 2013/2014

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007

Bardziej szczegółowo

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s) Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę

Bardziej szczegółowo

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Warszawa, dnia 17.11.2015r. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy przetargu nieograniczonego na: Dostawa stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów

Bardziej szczegółowo

Skaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl.

Skaningowy mikroskop elektronowy - Ilość: 1 kpl. Zamówienie publiczne w trybie przetargu nieograniczonego nr ZP/PN/15/2014 Przedmiot postępowania: Dostawa skaningowego mikroskopu elektronowego ARKUSZ INFORMACJI TECHNICZNEJ Wszystkie parametry podane

Bardziej szczegółowo

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie

Bardziej szczegółowo

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Oddziaływanie elektronów ze stałą, krystaliczną próbką wstecznie rozproszone elektrony elektrony pierwotne

Bardziej szczegółowo

Rozpraszanie nieelastyczne

Rozpraszanie nieelastyczne Rozpraszanie nieelastyczne Przekazywanie energii elektronów wiązki prowadzi do emisji szeregu sygnałów wykorzystywanych w mikroskopii elektronowej i mikroanalizie rentgenowskiej: 1. Niskoenergetyczne elektrony

Bardziej szczegółowo

Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej

Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej mgr Ewa Starnawska Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej SE morfologia BSE kompozycja i topografia BSEX - dyfrakcja EDX informacja o składzie chemicznym CL - katodoluminescencja Skaningowy mikroskop

Bardziej szczegółowo

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM).

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM). Ewa Teper PODSTAWY MIKROSKOPII SKANINGOWEJ Podstawowe zasady działania mikroskopu skaningowego. W mikroskopach skaningowych wiązka elektronów bombarduje próbkę, skanując jej powierzchnię linia po linii.

Bardziej szczegółowo

Badania korozji oraz elementów metalowych

Badania korozji oraz elementów metalowych Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta dedykowana dla Badania korozji oraz elementów metalowych O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym na świadczenie

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)

LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik

Bardziej szczegółowo

Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn

Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta dedykowana dla Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym

Bardziej szczegółowo

FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA

FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA załącznik nr 1a do SIWZ nr postępowania: BZP.2410.5.2018.BD Postępowanie przetargowe pn.: Dostawa, instalacja i uruchomienie fabrycznie nowego elektronowego mikroskopu skaningowego

Bardziej szczegółowo

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy

Bardziej szczegółowo

XRF - Analiza chemiczna poprzez pomiar energii promieniowania X

XRF - Analiza chemiczna poprzez pomiar energii promieniowania X PJLab_XRF.doc Promieniowanie jonizujące - ćwiczenia 1 XRF - Analiza chemiczna poprzez pomiar energii promieniowania X 1. Cel ćwiczenia Student zapoznaje się z metodą analizy składu pierwiastkowego substancji

Bardziej szczegółowo

Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią

Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią Principles and Practice of Variable Pressure/Environmental Scanning Electron Microscopy Debbie Stokes, John Wiley &Sons, 2008 LV-SEM Low Vacuum Scanning

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY Załącznik nr 2 do SIWZ Załacznik nr 2 do umowy SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY Przedmiot oferty: Wysokorozdzielczy skaningowy

Bardziej szczegółowo

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11

Spis treści. Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 Spis treści Wykaz ważniejszych symboli i akronimów... 11 WPROWADZENIE... 15 1. PROBLEMY WYSTĘPUJĄCE W PROCESACH SZLIFOWANIA OTWORÓW ŚCIERNICAMI Z MIKROKRYSTALICZNYM KORUNDEM SPIEKANYM I SPOIWEM CERAMICZNYM...

Bardziej szczegółowo

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ

PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ Ewa Teper PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ WIELKOŚĆ I RODZAJE PRÓBEK Maksymalne wymiary próbki, którą można umieścić na stoliku mikroskopu skaningowego są następujące: Próbka powinna się

Bardziej szczegółowo

Mikroanaliza spawów jednomodowych światłowodów telekomunikacyjnych różnych typów

Mikroanaliza spawów jednomodowych światłowodów telekomunikacyjnych różnych typów Marek Ratuszek, Jacek Majewski, Zbigniew Zakrzewski Instytut Telekomunikacji Akademia Techniczno-Rolnicza, Bydgoszcz Jan Hejna Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej Politechnika Wrocławska

Bardziej szczegółowo

BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU

BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU W. OLSZEWSKI 1, K. SZYMAŃSKI 1, D. SATUŁA 1, M. BIERNACKA 1, E. K. TALIK 2 1 Wydział Fizyki, Uniwersytet w Białymstoku, Lipowa 41, 15-424 Białystok,

Bardziej szczegółowo

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego.

Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej w Ustroniu Charakter struktury połączenia porcelany na podbudowie cyrkonowej w zaleŝności od rodzaju materiału licującego. Anna Legutko Promotor: prof. zw. dr hab.

Bardziej szczegółowo

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015

Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 Dęblin, dnia 16.09.2015 r. Dotyczy: Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia do przetargu nieograniczonego na dostawę mikroskopu elektronowego - numer Zp/pn/76/2015 NA PYTANIE DO SPECYFIKACJI ISTOTNYCH

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa

Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa ćw 5 Ćwiczenie 5: Metody mikroskopowe w inżynierii materiałowej. Mikroskopia elektronowa PRZEDMIOT: NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Opracowały: cz. teoretyczna: dr hab. Beata Grabowska

Bardziej szczegółowo

Podstawy fizyki wykład 2

Podstawy fizyki wykład 2 D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,

Bardziej szczegółowo

Metody analizy pierwiastków z zastosowaniem wtórnego promieniowania rentgenowskiego. XRF, SRIXE, PIXE, SEM (EPMA)

Metody analizy pierwiastków z zastosowaniem wtórnego promieniowania rentgenowskiego. XRF, SRIXE, PIXE, SEM (EPMA) Metody analizy pierwiastków z zastosowaniem wtórnego promieniowania rentgenowskiego. XRF, SRIXE, PIXE, SEM (EPMA) Promieniowaniem X nazywa się promieniowanie elektromagnetyczne o długości fali od około

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych

Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych 1 Projekt MERFLENG... W 2012 roku

Bardziej szczegółowo

Skaningowy mikroskop elektronowy

Skaningowy mikroskop elektronowy Skaningowy mikroskop elektronowy SH-5000M / SH-4000 / SH-3500 / detektor EDS Mikroskop elektronowy skaningowy z serii Hirox SH to najwyższej klasy system nastołowy, umożliwiającym szybkie obrazowanie w

Bardziej szczegółowo

BADANIA WTRĄCEŃ TLENKOWYCH W BRĄZIE KRZEMOWYM CUSI3ZN3MNFE METODĄ MIKROANALIZY RENTGENOWSKIEJ

BADANIA WTRĄCEŃ TLENKOWYCH W BRĄZIE KRZEMOWYM CUSI3ZN3MNFE METODĄ MIKROANALIZY RENTGENOWSKIEJ BADANIA WTRĄCEŃ TLENKOWYCH W BRĄZIE KRZEMOWYM CUSI3ZN3MNFE METODĄ MIKROANALIZY RENTGENOWSKIEJ R. ROMANKIEWICZ, F. ROMANKIEWICZ Uniwersytet Zielonogórski ul. Licealna 9, 65-417 Zielona Góra 1. Wstęp Jednym

Bardziej szczegółowo

PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *)

PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *) Grażyna GILEWSKA PRZYDATNOŚĆ RÓŻNYCH TECHNIK OBRAZOWANIA STRUKTUR BIOLOGICZNYCH WYKORZYSTUJĄCYCH ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY *) STRESZCZENIE W artykule przedstawiono stosowane metody obrazowania struktur

Bardziej szczegółowo

Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią

Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią Elektronowa mikroskopia skaningowa ze zmienną próżnią Principles and Practice of Variable Pressure/Environmental Scanning Electron Microscopy Debbie Stokes, John Wiley &Sons, 2008 LV-SEM Low Vacuum Scanning

Bardziej szczegółowo

1. Niskoenergetyczne elektrony wtórne SE (podstawowy sygnał w SEM) 2. Charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie (mikroanaliza w SEM i TEM)

1. Niskoenergetyczne elektrony wtórne SE (podstawowy sygnał w SEM) 2. Charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie (mikroanaliza w SEM i TEM) Rozpraszanie niesprężyste Przekazywanie energii elektronów wiązki prowadzi do emisji szeregu sygnałów wykorzystywanych w mikroskopii elektronowej i mikroanalizie rentgenowskiej: 1. Niskoenergetyczne elektrony

Bardziej szczegółowo

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP Mikroskopy LEEM i PEEM Cechy ogólne mikroskopów do badania powierzchni; czułość Å - nm szeroka gama kontrastów topograficzny strukturalny chemiczny magnetyczny

Bardziej szczegółowo

PRACOWNIA MIKROSKOPII

PRACOWNIA MIKROSKOPII 1. Kierownik Pracowni: Dr hab. Andrzej Wojtczak, prof. UMK 2. Wykonujący badania: Mgr Grzegorz Trykowski 3. Adres: Uniwersytet Mikołaja Kopernika Wydział Chemii Pracownia Analiz Instrumentalnych ul. Gagarina

Bardziej szczegółowo

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32 Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola

Bardziej szczegółowo

Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych

Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych Instytutu Ceramiki i Materiałów Budowlanych Scientific Works of Institute of Ceramics and Building Materials Nr 24 (styczeń marzec) Prace są indeksowane w BazTech i Index Copernicus ISSN 1899-3230 Rok

Bardziej szczegółowo

Widmo promieniowania

Widmo promieniowania Widmo promieniowania Spektroskopia Każde ciało wysyła promieniowanie. Promieniowanie to jest składa się z wiązek o różnych długościach fal. Jeśli wiązka światła pada na pryzmat, ulega ono rozszczepieniu,

Bardziej szczegółowo

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego

Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Paweł Szroeder Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Wykład XI Badania powierzchni ciała stałego: elektronowy mikroskop skaningowy (SEM), skaningowy mikroskop tunelowy

Bardziej szczegółowo

Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody

Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody Scenariusz wycieczki badawczej, przeprowadzonej w klasie II szkoły ponadgimnazjalnej, z przyrody 1. Wątek i TEMAT: B 31 Wyjście (wycieczka) do Pracowni Mikroskopii Skaningowej Nauk Biologicznych i Geologicznych.

Bardziej szczegółowo

Geochemia analityczna. KubaM

Geochemia analityczna. KubaM Geochemia analityczna KubaM Algorytm geochemicznego procesu badawczego: 1. Koncepcyjne przygotowanie badań 2. Opróbowanie pobór r próbek 3. Analiza 4. Interpretacja wyników 5. Wnioski 1. Koncepcyjne przygotowanie

Bardziej szczegółowo

Współczesne metody badań instrumentalnych

Współczesne metody badań instrumentalnych Współczesne metody badań instrumentalnych Wykład IX Mikroskopia optyczna i elektronowa Mikroskopia w konserwacji identyfikacja pigmentów, identyfikacja spoiw, badanie składu warstw malarskich, badanie

Bardziej szczegółowo

Korpuskularna natura światła i materii

Korpuskularna natura światła i materii Podręcznik zeszyt ćwiczeń dla uczniów Korpuskularna natura światła i materii Politechnika Gdańska, Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej ul. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk, tel. +48 58 348

Bardziej szczegółowo

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. Dualizm korpuskularno falowy cząstek: a) postulat de Broglie a; b) doświadczenia

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE Część teoretyczna. Wybrane zastosowania mikroskopii elektronowej w badaniach mikrośladów kryminalistycznych

ĆWICZENIE Część teoretyczna. Wybrane zastosowania mikroskopii elektronowej w badaniach mikrośladów kryminalistycznych ĆWICZENIE 1 Wybrane zastosowania mikroskopii elektronowej w badaniach mikrośladów kryminalistycznych 1. Część teoretyczna Mikroskopia jest to metoda badawcza wykorzystywana w wielu dziedzinach nauki, przemysłu

Bardziej szczegółowo

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI

Instytut Spawalnictwa SPIS TREŚCI Tytuł: Makroskopowe i mikroskopowe badania metalograficzne materiałów konstrukcyjnych i ich połączeń spajanych Opracował: pod redakcją dr. hab. inż. Mirosława Łomozika Rok wydania: 2009 Wydawca: Instytut

Bardziej szczegółowo

Laboratorium nanotechnologii

Laboratorium nanotechnologii Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury

Bardziej szczegółowo

... Rozprawa doktorska. Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni.

... Rozprawa doktorska. Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki Rozprawa doktorska... Detekcja sygnału i technika obrazowania w skaningowym mikroskopie elektronowym w zakresie niskiej próżni Michał Krysztof Promotor prof.

Bardziej szczegółowo

IM-20. XRF - Analiza chemiczna poprzez pomiar energii promieniowania X

IM-20. XRF - Analiza chemiczna poprzez pomiar energii promieniowania X IM-20 Jakościowa i ilościowa analiza składu materiałów za pomocą XRF XRF - Analiza chemiczna poprzez pomiar energii promieniowania X 1. Cel ćwiczenia Student zapoznaje się z metodą analizy składu pierwiastkowego

Bardziej szczegółowo

AN ANALYSIS OF THE ELEMENTAL COMPOSITION OF MICRO-SAMPLES USING EDS TECHNIQUE ANALIZA SKŁADU PIERWIASTKOWEGO W MIKROOBSZARZE PRZY UŻYCIU TECHNIKI EDS

AN ANALYSIS OF THE ELEMENTAL COMPOSITION OF MICRO-SAMPLES USING EDS TECHNIQUE ANALIZA SKŁADU PIERWIASTKOWEGO W MIKROOBSZARZE PRZY UŻYCIU TECHNIKI EDS ANNA WASSILKOWSKA *, ANNA CZAPLICKA *, MICHAŁ ZIELINA *, ANDRZEJ BIELSKI AN ANALYSIS OF THE ELEMENTAL COMPOSITION OF MICRO-SAMPLES USING EDS TECHNIQUE ANALIZA SKŁADU PIERWIASTKOWEGO W MIKROOBSZARZE PRZY

Bardziej szczegółowo

O NIEKTÓRYCH SKUTKACH ODDZIAŁYWANIA PROMIENIOWANIA LASERA RUBINOWEGO Z UKŁADEM CIENKA WARSTWA WĘGLIKÓW METALI NA KAPILARNO-POROWATYM PODŁOŻU

O NIEKTÓRYCH SKUTKACH ODDZIAŁYWANIA PROMIENIOWANIA LASERA RUBINOWEGO Z UKŁADEM CIENKA WARSTWA WĘGLIKÓW METALI NA KAPILARNO-POROWATYM PODŁOŻU FIZYA BUDWLI W TERII I PRATYCE TM IV, 29 Sekcja Fizyki Budowli ILiW PAN NIETÓRYCH SUTACH DDZIAŁYWANIA PRMIENIWANIA LASERA RUBINWEG Z UŁADEM CIENA WARSTWA WĘGLIÓW METALI NA APILARN-PRWATYM PDŁŻU Piotr LEMM

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii

Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Wydział Mechaniczny, Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej Politechnika Wrocławska,

Bardziej szczegółowo

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały

Bardziej szczegółowo

Spektrometr XRF THICK 800A

Spektrometr XRF THICK 800A Spektrometr XRF THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK GALWANIZNYCH THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zaprojektowany do pomiaru grubości warstw

Bardziej szczegółowo

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera

WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera WyŜsza Szkoła InŜynierii Dentystycznej im. prof. Meissnera ANALIZA POŁĄCZENIA WARSTW CERAMICZNYCH Z PODBUDOWĄ METALOWĄ Promotor: Prof. zw. dr hab. n. tech. MACIEJ HAJDUGA Tadeusz Zdziech CEL PRACY Celem

Bardziej szczegółowo

ANALIZA POWIERZCHNI BADANIA POWIERZCHNI

ANALIZA POWIERZCHNI BADANIA POWIERZCHNI Analiza ciała stałego ANALIZA POWIERZCHNI ANALIZA CAŁEJ OBJTOCI CIAŁO STAŁE ANALIZA POWIERZCHNI METODY NISZCZCE METODY NIENISZCZCE Metody niszczce: - przeprowadzenie do roztworu (rozpuszczanie, roztwarzanie

Bardziej szczegółowo

Akademia Sztuk Pięknych w Warszawie, Wydział Konserwacji i Restauracji Dzieł Sztuki, Zakład Badań Specjalistycznych i Technik Dokumentacyjnych

Akademia Sztuk Pięknych w Warszawie, Wydział Konserwacji i Restauracji Dzieł Sztuki, Zakład Badań Specjalistycznych i Technik Dokumentacyjnych SPRAWOZDANIE Z REALIZACJI pierwszego etapu UMOWY o DZIEŁO p.t.: Wykonanie szlifów i analiza produktów korozji próbek metali konstrukcyjnych parowozów metodami mikro-chemicznymi i laserowej spektrometrii

Bardziej szczegółowo

Zaawansowane techniki badawcze w skaningowym mikroskopie elektronowym

Zaawansowane techniki badawcze w skaningowym mikroskopie elektronowym Zaawansowane techniki badawcze w skaningowym mikroskopie elektronowym Marek Faryna Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej Polska Akademia Nauk Kraków, ul. Reymonta 25 nmfaryna@imim-pan.krakow.pl

Bardziej szczegółowo

Techniki Jądrowe w Diagnostyce i Terapii Medycznej

Techniki Jądrowe w Diagnostyce i Terapii Medycznej Techniki Jądrowe w Diagnostyce i Terapii Medycznej Wykład 2-5 marca 2019 Zygmunt Szefliński Środowiskowe Laboratorium Ciężkich Jonów szef@fuw.edu.pl http://www.fuw.edu.pl/~szef/ Rozpad Przemiana Widmo

Bardziej szczegółowo

Oferta badań materiałowych

Oferta badań materiałowych Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta badań materiałowych O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym na świadczenie najwyższej jakości usług oraz

Bardziej szczegółowo

Techniki próżniowe (ex situ)

Techniki próżniowe (ex situ) Techniki próżniowe (ex situ) Oddziaływanie promieniowania X z materią rearrangement X-ray photon X-ray emission b) rearrangement a) photoemission photoelectron Auger electron c) Auger/X-ray emission a)

Bardziej szczegółowo

Cz. 5. Podstawy instrumentalizacji chromatografii. aparatura chromatograficzna w skali analitycznej i modelowej - -- w części przypomnienie -

Cz. 5. Podstawy instrumentalizacji chromatografii. aparatura chromatograficzna w skali analitycznej i modelowej - -- w części przypomnienie - Chromatografia cieczowa jako technika analityki, przygotowania próbek, wsadów do rozdzielania, technika otrzymywania grup i czystych substancji Cz. 5. Podstawy instrumentalizacji chromatografii aparatura

Bardziej szczegółowo

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Mariusz Kępczyński, p. 148, kepczyns@chemia.uj.edu.pl Wstęp Plan wykładu mikroskopia

Bardziej szczegółowo

ANALIZA SPECJACYJNA WYKŁAD 7 ANALIZA SPECJACYJNA

ANALIZA SPECJACYJNA WYKŁAD 7 ANALIZA SPECJACYJNA WYKŁAD 7 ANALIZA SPECJACYJNA ANALIZA SPECJACYJNA Specjacja - występowanie różnych fizycznych i chemicznych form danego pierwiastka w badanym materiale. Analiza specjacyjna - identyfikacja i ilościowe oznaczenie

Bardziej szczegółowo

Wydział Mechaniczny LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA

Wydział Mechaniczny LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA Wydział Mechaniczny Katedra Materiałoznawstwa, Wytrzymałości i Spawalnictwa LABORATORIUM MATERIAŁOZNAWSTWA Wrocław, 30 listopada 2016 r. Pracownicy Laboratorium Materiałoznawstwa 13 osób Pracownicy naukowo-dydaktyczni

Bardziej szczegółowo

autor: Włodzimierz Wolczyński rozwiązywał (a)... ARKUSIK 39 ATOM WODORU. PROMIENIOWANIE. WIDMA TEST JEDNOKROTNEGO WYBORU

autor: Włodzimierz Wolczyński rozwiązywał (a)... ARKUSIK 39 ATOM WODORU. PROMIENIOWANIE. WIDMA TEST JEDNOKROTNEGO WYBORU autor: Włodzimierz Wolczyński rozwiązywał (a)... ARKUSIK 39 ATOM WODORU. PROMIENIOWANIE. WIDMA Zadanie 1 1 punkt TEST JEDNOKROTNEGO WYBORU Moment pędu elektronu znajdującego się na drugiej orbicie w atomie

Bardziej szczegółowo

NEUTRONOWA ANALIZA AKTYWACYJNA ANALITYKA W KONTROLI JAKOŚCI PODSTAWOWE INFORMACJE O REAKCJACH JĄDROWYCH - NEUTRONOWA ANALIZA AKTYWACYJNA

NEUTRONOWA ANALIZA AKTYWACYJNA ANALITYKA W KONTROLI JAKOŚCI PODSTAWOWE INFORMACJE O REAKCJACH JĄDROWYCH - NEUTRONOWA ANALIZA AKTYWACYJNA ANALITYKA W KONTROLI JAKOŚCI WYKŁAD 3 NEUTRONOWA ANALIZA AKTYWACYJNA - PODSTAWOWE INFORMACJE O REAKCJACH JĄDROWYCH - NEUTRONOWA ANALIZA AKTYWACYJNA REAKCJE JĄDROWE Rozpad promieniotwórczy: A B + y + ΔE

Bardziej szczegółowo

KOROZYJNO - EROZYJNE ZACHOWANIE STALIWA Cr-Ni W ŚRODOWISKU SOLANKI

KOROZYJNO - EROZYJNE ZACHOWANIE STALIWA Cr-Ni W ŚRODOWISKU SOLANKI Barbara KALANDYK 1, Anna RAKOWSKA 2 WYDZIAŁ ODLEWNICTWA AGH ODDZIAŁ KRAKOWSKI STOP XXXII KONFERENCJA NAUKOWA z okazji Ogólnopolskiego Dnia Odlewnika 2009 Kraków, 12 grudnia 2009 r. KOROZYJNO - EROZYJNE

Bardziej szczegółowo

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska

Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski Jarosław Rochowicz Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Praca magisterska Wpływ napięcia podłoża na właściwości mechaniczne powłok CrCN nanoszonych

Bardziej szczegółowo

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Projektowania Materiałów i Szybkiego Wytwarzania Wyrobów LAPROMAW DOTACJE NA INNOWACJE

Laboratorium Projektowania Materiałów i Szybkiego Wytwarzania Wyrobów LAPROMAW DOTACJE NA INNOWACJE Laboratorium Projektowania Materiałów i Szybkiego Wytwarzania Wyrobów LAPROMAW DOTACJE NA INNOWACJE Projekt współfinansowany przez Unię Europejską z Europejskiego Funduszu rozwoju Regionalnego Okres realizacji:

Bardziej szczegółowo

Elektrochemiczne osadzanie antykorozyjnych powłok stopowych na bazie cynku i cyny z kąpieli cytrynianowych

Elektrochemiczne osadzanie antykorozyjnych powłok stopowych na bazie cynku i cyny z kąpieli cytrynianowych Elektrochemiczne osadzanie antykorozyjnych powłok stopowych na bazie cynku i cyny z kąpieli cytrynianowych Honorata Kazimierczak Promotor: Dr hab. Piotr Ozga prof. PAN Warstwy ochronne z cynku najtańsze

Bardziej szczegółowo

Analiza aktywacyjna składu chemicznego na przykładzie zawartości Mn w stali.

Analiza aktywacyjna składu chemicznego na przykładzie zawartości Mn w stali. Analiza aktywacyjna składu chemicznego na przykładzie zawartości Mn w stali. Projekt ćwiczenia w Laboratorium Fizyki i Techniki Jądrowej na Wydziale Fizyki Politechniki Warszawskiej. dr Julian Srebrny

Bardziej szczegółowo

Spółka z o.o. UCZESTNICY WARSZTATÓW: Lekarze rezydenci i specjaliści, technicy w pracowniach diagnostycznych i histopatologicznych

Spółka z o.o. UCZESTNICY WARSZTATÓW: Lekarze rezydenci i specjaliści, technicy w pracowniach diagnostycznych i histopatologicznych e-mail: kawaska@kawaska.pl WARSZTATY: TECHNIKI MIKROSKOPOWE I INFORMATYCZNE W BADANIU PRÓBEK BIOLOGICZNYCH, CZ. 1 Objęte patronatem Polskiego Towarzystwa Patologów pod przewodnictwem Prezes Zarządu Głównego

Bardziej szczegółowo

Zaawansowane techniki badawcze w skaningowym mikroskopie elektronowym

Zaawansowane techniki badawcze w skaningowym mikroskopie elektronowym Zaawansowane techniki badawcze w skaningowym mikroskopie elektronowym Program wykładów 1. Oddziaływanie elektronów z ciałem stałym 2. Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM 3. Mikroanaliza rentgenowska

Bardziej szczegółowo

Nabór na bezpłatne usługi badawcze - projekt Baltic TRAM

Nabór na bezpłatne usługi badawcze - projekt Baltic TRAM Nabór na bezpłatne usługi badawcze - projekt Baltic TRAM Piotr Piwowarczyk, Jakub Chajdecki Fundacja Inicjatyw Innowacyjnych Centrum Badań dla Przemysłu Polska Dzień otwarty Klastra LifeScience Kraków,

Bardziej szczegółowo

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.

THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości

Bardziej szczegółowo

Metody chemiczne w analizie biogeochemicznej środowiska. (Materiał pomocniczy do zajęć laboratoryjnych)

Metody chemiczne w analizie biogeochemicznej środowiska. (Materiał pomocniczy do zajęć laboratoryjnych) Metody chemiczne w analizie biogeochemicznej środowiska. (Materiał pomocniczy do zajęć laboratoryjnych) Metody instrumentalne podział ze względu na uzyskane informację. 1. Analiza struktury; XRD (dyfrakcja

Bardziej szczegółowo

Aparatura do osadzania warstw metodami:

Aparatura do osadzania warstw metodami: Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera

Bardziej szczegółowo

IM-4 BADANIE ABSORPCJI ŚWIATŁA W MATERIAŁACH PÓŁPRZEWODNIKOWYCH

IM-4 BADANIE ABSORPCJI ŚWIATŁA W MATERIAŁACH PÓŁPRZEWODNIKOWYCH IM-4 BADANIE ABSORPCJI ŚWIATŁA W MATERIAŁACH PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z fotoelektryczną optyczną metodą wyznaczania energii przerwy wzbronionej w półprzewodnikach na przykładzie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 2 : Badanie licznika proporcjonalnego fotonów X

Ćwiczenie nr 2 : Badanie licznika proporcjonalnego fotonów X Ćwiczenie nr 2 : Badanie licznika proporcjonalnego fotonów X Oskar Gawlik, Jacek Grela 16 lutego 2009 1 Podstawy teoretyczne 1.1 Liczniki proporcjonalne Wydajność detekcji promieniowania elektromagnetycznego

Bardziej szczegółowo

Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering

Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Nazwa przedmiotu INSTRUMENTARIUM BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Instrumentation of research in material engineering Kierunek: Inżynieria materiałowa Rodzaj przedmiotu: kierunkowy obowiązkowy Rodzaj

Bardziej szczegółowo

FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA (XRF) MARTA KASPRZYK PROMOTOR: DR HAB. INŻ. MARCIN ŚRODA KATEDRA TECHNOLOGII SZKŁA I POWŁOK AMORFICZNYCH

FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA (XRF) MARTA KASPRZYK PROMOTOR: DR HAB. INŻ. MARCIN ŚRODA KATEDRA TECHNOLOGII SZKŁA I POWŁOK AMORFICZNYCH FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA (XRF) MARTA KASPRZYK PROMOTOR: DR HAB. INŻ. MARCIN ŚRODA KATEDRA TECHNOLOGII SZKŁA I POWŁOK AMORFICZNYCH 13.01.2015 SPIS TREŚCI WSTĘP ZJAWISKO FLUORESCENCJI FLUORESCENCJA RENTGENOWSKA

Bardziej szczegółowo

Pomiar energii wiązania deuteronu. Celem ćwiczenia jest wyznaczenie energii wiązania deuteronu

Pomiar energii wiązania deuteronu. Celem ćwiczenia jest wyznaczenie energii wiązania deuteronu J1 Pomiar energii wiązania deuteronu Celem ćwiczenia jest wyznaczenie energii wiązania deuteronu Przygotowanie: 1) Model deuteronu. Własności deuteronu jako źródło informacji o siłach jądrowych [4] ) Oddziaływanie

Bardziej szczegółowo

4. APARATURA POMIAROWO BADAWCZA I ZASADY JEJ DZIAŁANIA Skaningowy mikroskop tunelowy STM (scanning tunneling microscope)

4. APARATURA POMIAROWO BADAWCZA I ZASADY JEJ DZIAŁANIA Skaningowy mikroskop tunelowy STM (scanning tunneling microscope) 4. APARATURA POMIAROWO BADAWCZA I ZASADY JEJ DZIAŁANIA 4.1. Skaningowy mikroskop tunelowy STM (scanning tunneling microscope) Skaningowa mikroskopia tunelowa należy do grupy technik mikroskopowych objętych

Bardziej szczegółowo

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym

Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie elektronowym WYśSZA SZKOŁA INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ IM. PROF. MEISSNERA W USTRONIU WYDZIAŁ INśYNIERII DENTYSTYCZNEJ Mikrostruktura wybranych implantów stomatologicznych w mikroskopie świetlnym i skaningowym mikroskopie

Bardziej szczegółowo

Techniki mikroskopowe

Techniki mikroskopowe Techniki mikroskopowe Metody badań strukturalnych ciała stałego dr inż. Magdalena Król Mikrostruktura Struktura przestrzenne rozmieszczenie cząstek materii (atomów, jonów, cząsteczek) oraz zespół relacji

Bardziej szczegółowo

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne Promieniowanie rentgenowskie Podstawowe pojęcia krystalograficzne Krystalografia - podstawowe pojęcia Komórka elementarna (zasadnicza): najmniejszy, charakterystyczny fragment sieci przestrzennej (lub

Bardziej szczegółowo

OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X

OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X X4 OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest jakościowe poznanie podstawowych zjawisk fizycznych wykorzystywanych w obrazowaniu

Bardziej szczegółowo