Optyka instrumentalna

Podobne dokumenty
Optyka instrumentalna

Mikroskopy uniwersalne

Podstawy Fizyki IV Optyka z elementami fizyki współczesnej. wykład 10, Radosław Chrapkiewicz, Filip Ozimek

Podstawy Fizyki III Optyka z elementami fizyki współczesnej. wykład 10, Radosław Łapkiewicz, Michał Nawrot

Optyka instrumentalna

6. Badania mikroskopowe proszków i spieków

Podstawy Fizyki III Optyka z elementami fizyki współczesnej. wykład 10, Mateusz Winkowski, Jan Szczepanek

OPTYKA GEOMETRYCZNA I INSTRUMENTALNA

OPTYKA GEOMETRYCZNA I INSTRUMENTALNA

POMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 1. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak

OPTYKA GEOMETRYCZNA I INSTRUMENTALNA

Optyka instrumentalna

Podstawy Fizyki IV Optyka z elementami fizyki współczesnej. wykład 9, Radosław Chrapkiewicz, Filip Ozimek

Wstęp do astrofizyki I

Sprzęt do obserwacji astronomicznych

Wykład 6. Aberracje układu optycznego oka

Wstęp do astrofizyki I

Optyka geometryczna MICHAŁ MARZANTOWICZ

Czym obserwować niebo?

Mikroskop teoria Abbego

Optyka kurs wyrównawczy optyka geometryczna przyrządy optyczne, aberracje r.

Super-rozdzielcza mikroskopia optyczna; chemiczny Nobel 2014

POMIARY OPTYCZNE 1. Proste przyrządy optyczne. Damian Siedlecki

I. Mikroskop optyczny podstawowe informacje. 1. Budowa i rozchodzenie się światła wewnątrz mikroskopu.

Ćwiczenie 4. Część teoretyczna

OPTYKA INSTRUMENTALNA

OPTYKA INSTRUMENTALNA

OPTYKA INSTRUMENTALNA

Optyka. Wykład XI Krzysztof Golec-Biernat. Równania zwierciadeł i soczewek. Uniwersytet Rzeszowski, 3 stycznia 2018

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

BIOLOGIA KOMÓRKI MIKROSKOPIA W ŚWIETLE PRZECHODZĄCYM- BUDOWA I DZIAŁANIE MIKROSKOPU JASNEGO POLA, KONTRASTOWO- FAZOWEGO I Z KONTRASTEM NOMARSKIEGO

POMIARY OPTYCZNE Pomiary ogniskowych. Damian Siedlecki

Nazwa asortymentu Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D.

Ćwiczenie 2. Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne

1100-1BO15, rok akademicki 2016/17

LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE

Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje.

- 1 - OPTYKA - ĆWICZENIA

Ćwiczenie 2. Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne

+OPTYKA 3.stacjapogody.waw.pl K.M.

Najprostszą soczewkę stanowi powierzchnia sferyczna stanowiąca granicę dwóch ośr.: powietrza, o wsp. załamania n 1. sin θ 1. sin θ 2.

POMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 2. Proste przyrządy optyczne Oko. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak


Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów

POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 53: Soczewki

OPTYKA INSTRUMENTALNA

OPTYKA GEOMETRYCZNA I INSTRUMENTALNA

WYZNACZANIE PROMIENIA KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA

Promienie

Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki Rafał Kasztelanic Uniwersytet Warszawski, Wydział Fizyki Rafał Kasztelanic

POMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 2. Proste przyrządy optyczne. Oko. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak

Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów

Wykład XI. Optyka geometryczna

OPTYKA INSTRUMENTALNA

Podstawy fizyki wykład 8

PRZYSŁONY. Przysłona aperturowa APERTURE STOP (ogranicza ilość promieni pochodzących od obiektu)

Rys. 1 Schemat układu obrazującego 2f-2f

Metody badania kosmosu

Mikroskopia fluorescencyjna

Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium 15 30

Projekt współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka

PDF stworzony przez wersję demonstracyjną pdffactory Agata Miłaszewska 3gB

Postępowanie WB RM ZAŁĄCZNIK NR Mikroskop odwrócony z fluorescencją

WSTĘP DO OPTYKI FOURIEROWSKIEJ

POLITECHNIKA WROCŁAWSKA

Wydział PPT Laboratorium PODSTAWY BIOFOTONIKI. Ćwiczenie nr 5 Zastosowania mikroskopii optycznej

Unikalne cechy płytek i szalek IBIDI

LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ

OPTYKA W INSTRUMENTACH GEODEZYJNYCH

OPTYKA GEOMETRYCZNA I INSTRUMENTALNA

Laboratorium Optyki Geometrycznej i Instrumentalnej

Dr Piotr Sitarek. Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska

KATEDRA INŻYNIERII BIOMEDYCZNEJ OPTYCZNA DIAGNOSTYKA MEDYCZNA

BADANIA MIKROSKOPOWE

Ćwiczenie 53. Soczewki

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM

Opis matematyczny odbicia światła od zwierciadła kulistego i przejścia światła przez soczewki.

Prawa optyki geometrycznej

TECHNIKI OBSERWACYJNE ORAZ METODY REDUKCJI DANYCH

Rodzaje obrazów. Obraz rzeczywisty a obraz pozorny. Zwierciadło. Zwierciadło. obraz rzeczywisty. obraz pozorny

Optyka. Wykład X Krzysztof Golec-Biernat. Zwierciadła i soczewki. Uniwersytet Rzeszowski, 20 grudnia 2017

Ć W I C Z E N I E N R O-4

Fig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia:

Wstęp do astrofizyki I

1. Dyfrakcja Fraunhofera: a) zachodzi gdy promienie padajace na przegrode i promienie biegnace do punktu obserwacji sa niemal rownolegle

Lupa Łupa jest najprostszym przyrządem optycznym współpracującym z okiem (Rys. 6.1). F' F

Natura światła. W XVII wieku ścierały się dwa, poglądy na temat natury światła. Isaac Newton

Wyznaczenie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej

Podstawy Fizyki IV Optyka z elementami fizyki współczesnej. wykład 8, Radosław Chrapkiewicz, Filip Ozimek

Optyka OPTYKA dział fizyki, zajmujący się ŚWIATŁEM.

PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU

Dodatek 1. C f. A x. h 1 ( 2) y h x. powrót. xyf

OPTYKA GEOMETRYCZNA I INSTRUMENTALNA

Wykład FIZYKA II. 7. Optyka geometryczna. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak

Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2014/2015

(metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych.

Transkrypt:

Optyka instrumentalna wykład 8 27 kwietnia 2017

Wykład 7 Optyka geometryczna cd. Aberracje geometryczne Sferyczna Koma Astygmatyzm Krzywizna pola, dystorsja (polowe) Aberracja chromatyczna Miary jakości obrazowania PSF funkcja rozmycia punktu MTF funkcja transferu modulacji Apertura, źrenica wejściowa, wyjściowa Przesłona polowa Janość układu optycznego: apertura numeryczna, apertura względna (f-number, f/1, f/4, f/16) Śledzenie promieni (ray tracing)

Przyrządy optyczne: oko ludzkie y o d 0 y i Rogówka: powierzchnia asferyczna Soczewka: GRIN + refrakcja akomodacja: zmiana kształtu soczewki Odległość przedmiotu: 10 cm Krótko/daleko wzroczność Rozmiar źrenicy wejściowej: 2 8 mm Siatkówka: czopki (średnica 2 um, widzenie cz.-b.) pręciki (średnica 6 um, widzenie kolorowe 3 rodzaje pręcików) Odległość dobrego widzenia d 0 = 250 mm Zdolność rozdzielcza y i f 2 1 y o d 0 10 Odległość między czopkami 10 um zdolność rozdzielcza ok. 0,1 mm Kątowa zdolność rozdzielcza ok. 1

Lupa y i y o Powiększenie (kątowe) m L = y i/l y o /d o, (L = s i + l, odłegłość obrazu od oka) Lutowanie, l = f m L = d 0 /f Zegarmistrz, l 0 m L = d 0 1 Dla L d 0 m L = 1 + d 0 f Wygodne, L = m L = d 0 f L + 1 f Powiększenie 2-3 (ograniczone przez aberracje) Soczewka Codddingtona: m L = 10

Okular Przedmiot w skończonej odłegłości obraz pozorny w nieskończoności Powiększenie (jak dla lupy) Prosty przykład (Ramsden, XIX w.) Ramsden Erfle Nagler II

Luneta Oberwacja odległych obiektów Obiektyw (obraz rzeczywisty) Okular (obraz pozorny) Luneta afokalna: f ok = f ob (nieskończoność obraz rzeczywisty nieskończoność) Rozdzielczość kątowa M α = α i α o = f ob /f ok Zaprojektujmy lunetę: Założenia: M α = 50, standardowy okular 10 Obiektyw: achromat o f ob = 125 cm. f ok = 2,5 cm Średnica soczewki: 10 cm A źwy A = f ok f ob średnica ź. wyjściowej 2 mm mało!

Lornetka Luneta + odwracanie obrazu Pryzmat Porro (podwójny) Powiększenie typowo 10x Ograniczone przez stabilność ręki!

Teleskopy zwierciadlane Luneta refrakcyjna: ograniczona apertura soczewki (z przyczyn mechanicznych) Newtona lustro paraboloidalne, bardzo silne aberracje poza osią. Schmidta toroidalna płytka korygująca w śr. krzywizny koryguje komę i astygmatyzm, kosztem krzywizny pola. Newton i Schmidt konieczny bardzo długi tubus.

Teleskopy zwierciadlane Cassegraina moc optyczna rozłożona na 2 lustra (paraboloidalne i hiperboloidalne). Silne aberracje (koma) Maksutow-Cassegrain: lustro sferyczne, sferyczna płytka korygująca aberrację sferyczną, na płytkę napylone wtórne lustro Cassegraina. Ritchey-Chretien 2 lustra hiperboloidalne, mała koma, dominuje astygmatyzm i krzywizna pola.

Mikroskop optyczny Przedmiot w pobliżu ogniska obiektywu, obraz pośredni z powiększeniem M ob. Okluar o powiększeniu M ok. Całkowite powiększenie M = M ob M ok. W klasycznym mikroskopie standardowa odległość pomiędzy kołnierzem obiektywu o pośrednią płaszczyzną obrazową (16 20 cm, w zależności od producenta) Obiektyw skorygowany na nieskończoność: konieczna dodatkowa soczewka w tubusie (tube lens) aby wytworzyć obraz.

Obiektywy mikroskopowe Powiększenie (5 x 100 x ) Apertura numeryczna: 0.1 0.8 (bez imersji) 1.4 (imersyjne). Ograniczenie dyfrakcyjne rozdzielczości: Odległość obrazu pośredniego: 160 200 mm lub Grubość szkiełka nakrywkowego (typowo 0.14, przemysłowe: 0, ew. pierścień regulacyjny) Odległość robocza (WD): 0.1 100 mm. Ew. inne informacje (rodzaj imersji, sposób korekcji aberracji: achromat, apochromat...)

Obiektywy zwierciadlane Zastosowanie: Ultrafiolet, podczerwień Brak aberracji chromatycznej Schwarzschilda (lustra sferyczne współśrodkowe, korekcja komy i astygmatyzmu) Offnera (pozaosiowy)

Oświetlenie Oświetlacze: transmisyjne (dia) odbiciowe (epi) Oświetlacz Kohlera Równomierne oświetlenie Możliwość regulacji średnicy oświetlonego obszaru

Miroskop Nomarskiego (differential interference contrast, DIC): pomiar gradientu drogi optycznej w próbce. Techniki mikroskopowe Standardowa, z oświetleniem transmisyjnym lub odbiciowym. Ciemnego pola (tylko światło rozproszone rejestrowane przez obiektyw). Polaryzacyjna (próbka pomiędzy skrzyżowanymi polaryzatorami, widoczne elementy próbki zmieniające polaryzację. Konieczny obiektyw bez dwółomności). Mikroskop z kontrastem fazowym (interferencja światła z próbki z przesuniętą w fazie wiązką oświetlającą obrazowanie obiektów fazowych: całkowicie przezroczystych. Nobel 1953: Frits Zernike, Holandia)

Techniki mikroskopowe Mikroskop fluorescencyjny (próbka zawiera znaczniki fluorescencyjne, np. GFP green fluorescent protein, pobudzane monochromatyczną wiązką laserową. Filtr widmowy przed płaszczyzną obrazową blokuje wiązkę pobudzającą). skaningowy: wiązka laserowa skupiona w płaszczyźnie przedmiotowej, skanuje powierzchnię próbki. Rozdzielczość ograniczona rozmiarem ogniska wiązki pobudzającej. konfokalny: dodatkowa przesłona w pobliżu płaszczyzny obrazowej przepuszcza sygnał fluorescencji tylko z pewnej głębokości próbki. Duża rozdzielczość pionowa. PALM Photoactivated localization microscopy, STORM stochastic optical reconstruction microscopy: fotoaktywowane migające fluorofory umożliwiają rozdzielenie położeń poniżej ograniczenia dyfrakcyjnego. Moerner Betzig, Nobel z chemii 2014. STED: mikroskopia subdyfrakcyjna wykorzysująca wygaszenie emisji fluoroforu przez silną wiązkę w kształcie obwarzanka. Hell, Nobel z chemii 2014. PALM, STORM, STED ograniczenie rozdzielczości przez parametry znacznika fluorescencyjnego, nie przez mikroskop.

Techniki subdyfrakcyjne Fluorescencyjne PALM, STORM (rozdzielczość <10 nm) STED (rozdzielczość <10 nm) Mikroskop dwufotonowy (obserwujemy fluorescencję wzbudzaną długością fali 2x mniejszą niż pobudzająca). 2 mniejsze ograniczenie dyfrakcyjne, lepsza rozdzielczość podłużna. Mikroskop skaningowy bliskiego pola (SNOM scanning near-field microscope). Oświetlenie próbki przez nanometrowych rozmiarów aperturę (końcówka wyciągniętego światłowodu z pokryciem metalicznym). Ze względu na dyfrakcję próbka musi byś w nanometrowej odległości o końcówki światłowodu. Tylko obrazowanie powierzchni. Rozdzielczość: poprzeczna 20 nm, <5 nm podłużna.