LABORATORIUM PODSTAWY ELEKTRONIKI Badanie Bramki X-OR



Podobne dokumenty
Politechnika Wrocławska Wydział Elektroniki, Katedra K-4. Klucze analogowe. Wrocław 2017

Badanie funktorów logicznych TTL - ćwiczenie 1

Badanie działania bramki NAND wykonanej w technologii TTL oraz układów zbudowanych w oparciu o tę bramkę.

Układy sekwencyjne asynchroniczne Zadania projektowe

Funkcje logiczne X = A B AND. K.M.Gawrylczyk /55

Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia

LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI. Rev.1.0

C d u. Po podstawieniu prądu z pierwszego równania do równania drugiego i uporządkowaniu składników lewej strony uzyskuje się:

LABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych

POMIARY CZĘSTOTLIWOŚCI I PRZESUNIĘCIA FAZOWEGO SYGNAŁÓW OKRESOWYCH. Cel ćwiczenia. Program ćwiczenia

( ) ( ) ( τ) ( t) = 0

Ćwiczenie 23. Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia

Podstawowe układy cyfrowe

Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4

AKADEMIA MORSKA KATEDRA NAWIGACJI TECHNICZEJ

Parametry układów cyfrowych

Ćwiczenie 25 Temat: Interfejs między bramkami logicznymi i kombinacyjne układy logiczne. Układ z bramkami NOR. Cel ćwiczenia

UKŁADY KOMBINACYJNE (BRAMKI: AND, OR, NAND, NOR, NOT)

WSTĘP. Budowa bramki NAND TTL, ch-ka przełączania, schemat wewnętrzny, działanie 2

POMIAR PARAMETRÓW SYGNAŁOW NAPIĘCIOWYCH METODĄ PRÓKOWANIA I CYFROWEGO PRZETWARZANIA SYGNAŁU

Ćw. 8 Bramki logiczne

INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 7400)

Politechnika Wrocławska Instytut Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki. Klucze analogowe. Wrocław 2010

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego

LABORATORIUM PODSTAW ELEKTRONIKI PROSTOWNIKI

LABORATORIUM ELEKTRONIKI I TEORII OBWODÓW

ĆWICZENIE NR 43 U R I (1)

z ćwiczenia nr Temat ćwiczenia: BADANIE UKŁADÓW FUNKCJI LOGICZNYCH (SYMULACJA)

Zarządzanie ryzykiem. Lista 3

Projekt Układów Logicznych

Zbudować 2wejściową bramkę (narysować schemat): a) NANDCMOS, b) NORCMOS, napisać jej tabelkę prawdy i wyjaśnić działanie przy pomocy charakterystyk

Podstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Dzień tygodnia:

zestaw laboratoryjny (generator przebiegu prostokątnego + zasilacz + częstościomierz), oscyloskop 2-kanałowy z pamięcią, komputer z drukarką,

BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA

Politechnika Gdańska Wydział Elektrotechniki i Automatyki Katedra Inżynierii Systemów Sterowania. Podstawy Automatyki

Podstawy Elektroniki dla Elektrotechniki

Liniowe układy scalone. Wykład 4 Parametry wzmacniaczy operacyjnych

Zauważmy, że wartość częstotliwości przebiegu CH2 nie jest całkowitą wielokrotnością przebiegu CH1. Na oscyloskopie:

3. Funktory CMOS cz.1

EFEKTYWNE UŻYTKOWANIE ENERGII ELEKTRYCZNEJ

Zapoznanie się z podstawowymi strukturami funktorów logicznych realizowanymi w technice RTL (Resistor Transistor Logic) oraz zasadą ich działania.

1. Rezonans w obwodach elektrycznych 2. Filtry częstotliwościowe 3. Sprzężenia magnetyczne 4. Sygnały odkształcone

dwójkę liczącą Licznikiem Podział liczników:

Bramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74HC00, 74HCT00, 7403, 74132

ĆWICZENIE 4 Badanie stanów nieustalonych w obwodach RL, RC i RLC przy wymuszeniu stałym

E k o n o m e t r i a S t r o n a 1. Nieliniowy model ekonometryczny

DYNAMIKA KONSTRUKCJI

S I INSTYTUT TECHNOLOGII ELEK TR O N O W EJ

Wzmacniacz operacyjny

Zaprojektowanie i zbadanie dyskryminatora amplitudy impulsów i generatora impulsów prostokątnych (inaczej multiwibrator astabilny).

4. Dane techniczne 4.1. Pomiar częstotliwości Zakres pomiaru Czas pomiaru/otwarcia bramki/

Ćwiczenie 26. Temat: Układ z bramkami NAND i bramki AOI..

Algebra Boole a i jej zastosowania

Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa

Bramki logiczne V MAX V MIN

Rozdział 4 Instrukcje sekwencyjne

P-1a. Dyskryminator progowy z histerezą

1. Definicja i przeznaczenie przerzutnika monostabilnego.

XXXIV Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Kraków 31 marca Test dla grupy elektronicznej

Zjawiska w niej występujące, jeśli jest ona linią długą: Definicje współczynników odbicia na początku i końcu linii długiej.

Podstawy Automatyki. Wykład 13 - Układy bramkowe. dr inż. Jakub Możaryn. Warszawa, Instytut Automatyki i Robotyki

Cyfrowe Elementy Automatyki. Bramki logiczne, przerzutniki, liczniki, sterowanie wyświetlaczem

Przetwarzanie analogowocyfrowe

( 3 ) Kondensator o pojemności C naładowany do różnicy potencjałów U posiada ładunek: q = C U. ( 4 ) Eliminując U z równania (3) i (4) otrzymamy: =

Podstawy elektrotechniki

Bramki logiczne. 2. Cele ćwiczenia Badanie charakterystyk przejściowych inwertera. tranzystorowego, bramki 7400 i bramki

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego. Badanie przerzutników

ELEKTRONIKA WYPOSAŻENIE LABORATORIUM DYDAKTYCZNEGO POMOC DYDAKTYCZNA DLA STUDENTÓW WYDZIAŁU ELEKTRYCZNEGO SERIA: PODSTAWY ELEKTRONIKI

Tranzystor JFET i MOSFET zas. działania

PoniŜej zamieszczone są rysunki przedstawiane na wykładach z przedmiotu Peryferia Komputerowe. ELEKTRONICZNE UKŁADY CYFROWE

PROJEKT nr 1 Projekt spawanego węzła kratownicy. Sporządził: Andrzej Wölk

Przerzutnik ma pewną liczbę wejść i z reguły dwa wyjścia.

Technika Cyfrowa 2 wykład 4: FPGA odsłona druga technologie i rodziny układów logicznych

CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL

Przetworniki cyfrowo-analogowe C-A CELE ĆWICZEŃ PODSTAWY TEORETYCZNE

Gr.A, Zad.1. Gr.A, Zad.2 U CC R C1 R C2. U wy T 1 T 2. U we T 3 T 4 U EE

Badanie właściwości multipleksera analogowego

Układy zasilania tranzystorów. Punkt pracy tranzystora Tranzystor bipolarny. Punkt pracy tranzystora Tranzystor unipolarny

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10

Bramki logiczne Podstawowe składniki wszystkich układów logicznych

TRANSFORMATORY ELEKTRONICZNE

a) dolno przepustowa; b) górno przepustowa; c) pasmowo przepustowa; d) pasmowo - zaporowa.

BRAMKI. Konspekt do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu TECHNIKA CYFROWA

Technika cyfrowa Synteza układów kombinacyjnych

Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego. Badanie liczników

Tabela doboru przekaźników czasowych MTR17

Podstawy elektroniki cz. 2 Wykład 2

POLITECHNIKA ŚLĄSKA W GLIWICACH WYDZIAŁ INŻYNIERII ŚRODOWISKA i ENERGETYKI INSTYTUT MASZYN i URZĄDZEŃ ENERGETYCZNYCH

Wejścia logiczne w regulatorach, sterownikach przemysłowych

LABORATORIUM z przedmiotu ALGORYTMY I PROJEKTOWANIE UKŁADÓW VLSI

Elektronika (konspekt)

R 1 = 20 V J = 4,0 A R 1 = 5,0 Ω R 2 = 3,0 Ω X L = 6,0 Ω X C = 2,5 Ω. Rys. 1.

ĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym

PRACOWNIA ELEKTRONIKI

PRZERZUTNIKI: 1. Należą do grupy bloków sekwencyjnych, 2. podstawowe układy pamiętające

Projekt z przedmiotu Systemy akwizycji i przesyłania informacji. Temat pracy: Licznik binarny zliczający do 10.

Statyczne i dynamiczne badanie przerzutników - ćwiczenie 2

Układy sekwencyjne. Podstawowe informacje o układach cyfrowych i przerzutnikach (rodzaje, sposoby wyzwalania).

Sprawdzenie poprawności podstawowych bramek logicznych: NOT, NAND, NOR

Przerzutniki. Układy logiczne sekwencyjne odpowiedź zależy od stanu układu przed pobudzeniem

Transkrypt:

LORTORIUM PODSTWY ELEKTRONIKI adanie ramki X-OR

1.1 Wsęp eoreyczny. ramka XOR ramka a realizuje funkcję logiczną zwaną po angielsku EXLUSIVE-OR (WYŁĄZNIE LU). Polska nazwa brzmi LO. Funkcję EX-OR zapisuje się za pomocą znaku, np.: = co czyamy: równa się albo. Warość funkcji moŝna określić na podsawie definicji: =Ā+ Funkcja XOR przyjmuje warość 1 ylko wedy, kiedy albo argumen, albo argumen jes równy 1. Gdy oba argumeny są równe jednakowe, funkcja przyjmuje warość 0. Funkcję ę moŝna zrealizować w nasępujący sposób: Zamias ak rozbudowanego układu na schemaach sosuje się symbol ej funkcji: Działanie ego funkora moŝna przedsawić na podsawie ablicy prawdy: 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 0 Funkcję XOR moŝna akŝe zrealizować w inny sposób. Sosując odpowiednie przekszałcenia przy uŝyciu oŝsamości logicznych orzymujemy: =+++ = (+)+(+) = ()+() = (+)() gdzie ==0 2

W pierwszym przekszałceniu uŝyo riku polegającego na dodaniu dwóch wyraŝeń o warości zero. Nasępnie w pierwszych dwóch wyraŝeniach wyciągnięo przed nawias, a w pozosałych dwóch. W rzecim przekszałceniu zasosowano prawo de Morgana: ()= (+) Końcowy wynik orzymuje się przez wyciągnięcie () z całego wyraŝenia. Orzymaną zaleŝność realizuje się w nasępujący sposób: Przykładowe przebiegi na wejściu i odpowiadające im zmiany sanu na wyjściu przedsawiono poniŝej: zas propagacji O szybkości przełączania bramki świadczy czas, jaki porzebny jes na przeniesienie sygnału od wejścia układu do jego wyjścia. JeŜeli na wejściu bramki zosanie podany impuls napięciowy, o odpowiedź polegająca na wyworzeniu impulsu napięcia na wyjściu (rysunek poniŝej) nasąpi z pewnym opóźnieniem. zasem propagacji p jes nazywany czas, jaki upływa od chwili osiągnięcia przez napięcie wejściowe poziomu przełączania bramki do chwili osiągnięcia ego poziomu przez napięcie wyjściowe. MoŜna więc powiedzieć, Ŝe czas propagacji o opóźnienie wysępujące między sygnałem wejściowym i wyjściowym, mierzone na poziomie 1,5 V (dla układów TTL) lub na poziomie połowy ampliudy przebiegów. 3

[1V/dz] 1,5 V [20 ns/dz] plh =6,4 ns phl =6,4 ns Wyznaczanie czasu propagacji na podsawie oscylogramów napięcia na wejściu i wyjściu bramki (f=5mhz). zas propagacji bramki jes średnią arymeyczną czasu propagacji od sanu niskiego na wyjściu do sanu wysokiego plh i czasu propagacji od sanu wysokiego na wyjściu do niskiego phl zaem p = plh + 2 Warości czasów propagacji i czasów przełączania układów TTL, określają szybkość działania układu (częsoliwość, z jaką mogą być przesyłane sygnały cyfrowe przez daną bramkę) i są zaleŝne od kilku czynników. NajwaŜniejszy z nich o yp układu i seria echnologiczna, decydująca o liczbie sopni ranzysorowych, sposobie pracy ranzysorów (zabezpieczenie przed wejściem w san nasycenia), warość prądów płynących w obwodzie. Isona jes pojemność obciąŝenia, wydłuŝająca procesy przełączania, a akŝe warość napięcia przełączania, a akŝe warość napięcia zasilania. Podsawowe paramery bramek TTL, róŝnych serii echnologicznych. Seria echnologiczna p [ns] przy N=10 P S mw f max MHz I IL max m I IH max µ I OL max m I OH max m 7400 10 10 25 1,6 40 16 0,8 74S00 3 19 125 2 50 20 1 74LS00 9 2 33 0,4 20 8 0,4 74F00 3,5 5,5 125 0,6 20 20 1 74LS00 5 1 50 0,2 20 8 0,4 74S00 1,7 8 200 0,5 20 20 2 phl 4

- p [ns] przy N=10 czas propagacji przy obciąŝalności wyjściowej N=10 (N- największa liczba jednoskowych obciąŝeń, kóre mogą być jednocześnie serowane z wyjścia danego układu) - P S moc przekazywana przez dany układ - f max max częsoliwość pracy pojedynczych bramek. - I IL max maksymalny prąd wejściowy w sanie niskim - I IH max maksymalny prąd wejściowy w sanie wysokim - I OL max maksymalny prąd wyjściowy w sanie niskim - I IH max maksymalny prąd wyjściowy w sanie wysokim 4.2 adanie bramki XOR oraz wyznaczanie jej ablicy prawdy. Symbol: Tablica prawdy: 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 0 Przebiegi na wyjściu: 5