Wskaźnikowanie rentgenogramów i wyznaczanie parametrów sieciowych Wykład 8

Podobne dokumenty
NOWA STRONA INTERNETOWA PRZEDMIOTU:

Metoda DSH. Dyfraktometria rentgenowska. 2. Dyfraktometr rentgenowski: - budowa anie - zastosowanie

Dyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej Wykład 7

Dyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej Wykład 5

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

Dyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej Wykład 6 i 7

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

10. Analiza dyfraktogramów proszkowych

Zaawansowane Metody Badań Materiałów. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

Zaawansowane Metody Badań Materiałów. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów

Natęż. ężenie refleksu dyfrakcyjnego

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM

Aby opisać strukturę krystaliczną, konieczne jest określenie jej części składowych: sieci przestrzennej oraz bazy atomowej.

Metody dyfrakcyjne do wyznaczania struktury krystalicznej materiałów

Rejestracja dyfraktogramów polikrystalicznych związków. Wskaźnikowanie dyfraktogramów i wyznaczanie typu komórki Bravais go.

Krystalografia i krystalochemia Wykład 8 Rentgenografia metodą doświadczalną krystalografii. Wizualizacja struktur krystalicznych.

Układy krystalograficzne

Krystalografia. Wykład VIII

Dyfrakcja rentgenowska (XRD) w analizie fazowej Wykład 2 i 3

Rodzina i pas płaszczyzn sieciowych

Metody badań monokryształów metoda Lauego

Położenia, kierunki, płaszczyzny

Krystalografia. Dyfrakcja na monokryształach. Analiza dyfraktogramów

Rejestracja dyfraktogramów polikrystalicznych związków. Wskaźnikowanie dyfraktogramów i wyznaczanie typu komórki Bravais go.

Rentgenografia - teorie dyfrakcji

Rozwiązanie: Zadanie 2

STRUKTURA CIAŁA STAŁEGO

Metody badań monokryształów metoda Lauego

STRUKTURA KRYSTALICZNA

BUDOWA KRYSTALICZNA CIAŁ STAŁYCH. Stopień uporządkowania struktury wewnętrznej ciał stałych decyduje o ich podziale

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

STRUKTURA MATERIAŁÓW

Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Wydział

Sieć przestrzenna. c r. b r. a r. komórka elementarna. r r

Laboratorium z Krystalografii. 2 godz.

Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii Laboratorium specjalizacyjne

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne

Monochromatyzacja promieniowania molibdenowej lampy rentgenowskiej

Elementy teorii powierzchni metali

STRUKTURA IDEALNYCH KRYSZTAŁÓW

Wstęp. Krystalografia geometryczna

Podstawowe pojęcia opisujące sieć przestrzenną

LUBELSKA PRÓBA PRZED MATURĄ 2018 poziom podstawowy

Rok akademicki: 2013/2014 Kod: JFT s Punkty ECTS: 4. Poziom studiów: Studia II stopnia Forma i tryb studiów: Stacjonarne

Wykład 5. Komórka elementarna. Sieci Bravais go

Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakład Krystalografii. Laboratorium z Krystalografii. 2 godz. Komórki Bravais go

Dyfrakcja. Dyfrakcja to uginanie światła (albo innych fal) przez drobne obiekty (rozmiar porównywalny z długością fali) do obszaru cienia

Krystalografia i krystalochemia Wykład 15 Repetytorium

Wyznaczanie stałej sieci metodą Debye a-scherrera-hulla (DSH)

Dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego

Uniwersytet Śląski w Katowicach str. 1 Wydział

Układy równań i nierówności

Wykład 3 Równania rózniczkowe cd

GAL 80 zadań z liczb zespolonych

Wektory. Algebra. Aleksander Denisiuk. Polsko-Japońska Wyższa Szkoła Technik Komputerowych Wydział Informatyki w Gdańsku ul. Brzegi Gdańsk

Wykład II Sieć krystaliczna

Ciała stałe. Ciała krystaliczne. Ciała amorficzne. Bardzo często mamy do czynienia z ciałami polikrystalicznymi, rzadko monokryształami.

ODPOWIEDZI I SCHEMAT PUNKTOWANIA ZESTAW NR 2 POZIOM PODSTAWOWY. Etapy rozwiązania zadania

Fizyka Ciała Stałego

ALGEBRA z GEOMETRIA, ANALITYCZNA,

Strukturalne i termiczne metody charakteryzacji materiałów

Elementy teorii powierzchni metali

Ćwiczenie nr 8 WYZNACZANIE GRUPY DYFRAKCYJNEJ KRYSZTAŁU Z WYKORZYSTANIEM KAMERY CCD

SPIS TREŚCI WSTĘP LICZBY RZECZYWISTE 2. WYRAŻENIA ALGEBRAICZNE 3. RÓWNANIA I NIERÓWNOŚCI

WYZNACZANIE GRUPY DYFRAKCYJNEJ KRYSZTAŁU Z WYKORZYSTANIEM KAMERY CCD. Instrukcja do ćwiczeń

Zaawansowane Metody Badań Materiałów dla WIMiR

PRÓBNY EGZAMIN MATURALNY

MATERIAŁOZNAWSTWO Wydział Mechaniczny, Mechatronika, sem. I. dr inż. Hanna Smoleńska

Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI

Krystalografia. Dyfrakcja

PLAN WYNIKOWY DLA KLASY DRUGIEJ POZIOM PODSTAWOWY I ROZSZERZONY. I. Proste na płaszczyźnie (15 godz.)

dr Mariusz Grządziel 15,29 kwietnia 2014 Przestrzeń R k R k = R R... R k razy Elementy R k wektory;

MATURA PRÓBNA - odpowiedzi

Wykład 14. Elementy algebry macierzy

5(m) PWSZ -Leszno LABORATORIUM POMIARY I BADANIA WIBROAKUSTYCZNE WYZNACZANIE POZIOMU MOCY AKUSTYCZNEJ MASZYN I URZĄDZEŃ 1. CEL I ZAKRES ĆWICZENIA

klasa III technikum I. FIGURY I PRZEKSZTAŁCENIA Wiadomości i umiejętności

STRUKTURA MATERIAŁÓW. Opracowanie: Dr hab.inż. Joanna Hucińska

Met Me ody numer yczne Wykład ykład Dr inż. Mic hał ha Łanc Łan zon Instyt Ins ut Elektr Elektr echn iki echn i Elektrot Elektr echn olo echn

Dział I FUNKCJE TRYGONOMETRYCZNE

1. ODPOWIEDZI DO ZADAŃ TESTOWYCH

Rozdział 2. Liczby zespolone

Program zajęć pozalekcyjnych z matematyki poziom rozszerzony- realizowanych w ramach projektu Przez naukę i praktykę na Politechnikę

falowego widoczne w zmianach amplitudy i natęŝenia fal) w którym zachodzi

Wskaźnikowanie elektronogramów

PRZYKŁADOWE ZADANIA Z MATEMATYKI NA POZIOMIE PODSTAWOWYM

KLUCZ PUNKTOWANIA ODPOWIEDZI

Propozycje rozwiązań zadań otwartych z próbnej matury rozszerzonej przygotowanej przez OPERON.

Wymagania na poszczególne oceny szkolne z matematyki. dla uczniów klasy Ia i Ib. Gimnazjum im. Jana Pawła II w Mętowie. w roku szkolnym 2015/2016

Projekt współfinansowany z Europejskiego Funduszu Społecznego i BudŜetu Państwa. Krystalografia. Instrukcje do ćwiczeń laboratoryjnych

Zagadnienia do małej matury z matematyki klasa II Poziom podstawowy i rozszerzony

Zadania egzaminacyjne

Międzynarodowe Tablice Krystalograficzne (International Tables for Crystallography)

Ostrosłupy ( ) Zad. 4: Jedna z krawędzi ostrosłupa trójkątnego ma długość 2, a pozostałe 4. Znajdź objętość tego ostrosłupa. Odp.: V =

PRÓBNY EGZAMIN MATURALNY

Równania różniczkowe liniowe rzędu pierwszego

PODSTAWY MECHANIKI KWANTOWEJ

ROZKŁAD MATERIAŁU DO II KLASY LICEUM (ZAKRES ROZSZERZONY) A WYMAGANIA PODSTAWY PROGRAMOWEJ.

Matematyka na czasie Przedmiotowe zasady oceniania wraz z określeniem wymagań edukacyjnych dla klasy 1

MATERIAŁ DIAGNOSTYCZNY Z MATEMATYKI

Transkrypt:

Wskaźnikowanie rentgenogramów i wyznaczanie parametrów sieciowych Wykład 8 1. Wskaźnikowanie rentgenogramów. 2. Metoda róŝnic wskaźnikowania rentgenogramów substancji z układu regularnego. 3. Metoda ilorazów wskaźnikowania rentgenogramów substancji z układu regularnego. 4. Wyznaczanie parametrów komórki elementarnej substancji z róznych układów krystalograficznych. 1/13

Wzorcowy rentgenogram z podanymi wskaźnikami płaszczyzn hkl 2/13

Wskaźnikowanie rentgenogramu dobieranie wskaźników Millera dla poszczególnych refleksów na rentgenogramie Wskaźnikowanie oparte jest na wzorze na odległości międzypłaszczyznowe: h/a cosγ cosβ 1 h/a cosβ 1 cosγ h/a h/a k/b 1 cosα +k/b cosγ k/b cosα +l/c cosγ 1 k/b l/c cosα 1 cosβ l/c 1 cosβ cosα l/c 1/d hkl 2 = 1 cosγ cosβ cosγ 1 cosα cosβ cosα 1 1/d hkl2 =h 2 /a 2 +k 2 /b 2 +l 2 /c 2 3/13

Po uwzględnieniu wzoru Braggów wzór przyjmuje postać: h/a cosγ cosβ 1 h/a cosβ 1 cosγ h/a h/a k/b 1 cosα +k/b cosγ k/b cosα +l/c cosγ 1 k/b l/c cosα 1 cosβ l/c 1 cosβ cosα l/c sin 2 θ = n 2 λ 2 /4 1 cosγ cosβ cosγ 1 cosα cosβ cosα 1 sin 2 θ = n 2 λ 2 /4. (h 2 /a 2 +k 2 /b 2 +l 2 /c 2 ) 4/13

14-0696 Wavelength = 1.5405 BPO 4 d (Å) Int h k l Boron Phosphate 3.632 100 1 0 1 Rad.: CuKα1 λ: 1.5405 Filter d-sp: Guinier 114.6 3.322 4 0 0 2 Cut off: Int.: Film I/Icor.: 3.80 3.067 4 1 1 0 Ref: De WolFF. Technisch Physische Dienst. Delft 2.254 30 1 1 2 The Netherlands. ICDD Grant-In-Aid 1.973 2 1 0 3 Sys.: Tetragonal S.G. I 4 (82) a: 4.338 b: c: 6.645 A: C: 1.5318 α: β: γ Z: 2 mp: Ref: Ibid Dx: 2.809 Dm: SS/FOM:F 18 =89(.0102. 20) PSC: ti12. To replace 1-519. Deleted by 34-0132. Mwt: 105.78 Volume [CD]: 125.05 2002 JCPDS-International Centre for Diffraction Data. All rights reserved. PCPDFWIN v.2.3 1.862 8 2 1 1 1.816 4 2 0 2 1.661 1 0 0 4 1.534 2 2 2 0 1.460 8 2 1 3 1.413 1 3 0 1 1.393 1 2 2 2 1.372 2 3 1 0 1.319 4 2 0 4 1.271 1 1 0 5 1.268 2 3 1 2 1.211 2 3 0 3 1.184 2 3 2 1 5/13

Metody wskaźnikowania zaleŝą od układu krystalograficznego Im niŝsza symetria układu, tym trudniejsze jest wskaźnikowanie (większa ilość niewiadomych w równaniu kwadratowym) Metody wskaźnikowania rentgenogramów substancji z układu regularnego Metoda róŝnic Metoda ilorazów Metody graficzne 6/13

N=h 2 +k 2 +l 2 hkl typ P hkl typ F hkl typ I 1 2 3 4 5 100 110 111 200 210 111 200 110 200 6 8 9 9 10 211 220 221 300 310 220 211 220 310 11 12 13 14 16 311 222 320 321 400 400 311 222 222 321 400 17 17 18 18 19 410 322 330 411 331 331 330 411 20 21 22 24 25 25 420 421 332 422 430 500 420 422 420 332 422 7/13

Opiera się na zaleŝności: Wskaźnikowanie metodą róŝnic 1/d hkl2 =(h 2 +k 2 +l 2 )/a 2 lub sin 2 θ = n 2 λ 2 /4. (h 2 +k 2 +l 2 )/a 2 1/d hkl2 = A. N n sin 2 θ = B. N n gdzie A=1/a 2 B= n 2 λ 2 /4. 1/a 2 Tworząc tytułowe róŝnice otrzymujemy: 1/(d hkl ) n+12-1/ (d hkl ) n2 = A. (N n+1 N n ) sin 2 θ n+1 - sin 2 θ n = B. (N n+1 N n ) Przy załoŝeniu,ŝe co najmniej jedna róŝnica. (N n+1 N n )=1 łatwo wyznaczyć stałą A lub B Obliczając róŝnice dla wszystkich sąsiadujących ze sobą par refleksów i wybierając wartość /wartości (średnia arytmetyczna) najmniejsze moŝna wyznaczyć wartości N n a następnie wskaźniki hkl oraz parametr sieciowy a. 8/13

Opiera się na zaleŝności: Wskaźnikowanie metodą ilorazów 1/d hkl2 = A. N n sin 2 θ = B. N n Tworząc tytułowe ilorazy otrzymujemy: 1/(d hkl ) n2 : 1/ (d hkl ) 12 = N n : N 1 sin 2 θ n : sin 2 θ 1 = N n : N 1 Wartość N 1 moŝe wynosić: 1 wszystkie ilorazy N n : N 1 będą całkowite, 2 wystąpią ilorazy całkowite oraz typu.,5 (np.: 2,5; 10,5 itp.), 3 wystąpią ilorazy całkowite oraz typu.,33 i.,66 (np.: 2,66; 4,33 itp.). N n obliczamy jako iloczyn wyznaczonych ilorazów przez N 1, a następnie obliczamy wskaźniki hkl oraz parametr sieciowy a. 9/13

Opiera się na liniowej zaleŝności: Wskaźnikowanie graficzne 1/d hkl2 = A. N n lub sin 2 θ = B. N n Współcześnie wskaźnikowanie jest najczęściej prowadzone przy pomocy specjalistycznego oprogramowanie, wykorzystującego zazwyczaj kompilację róŝnych metod wskaźnikowania. Ogólnodostępne są komputerowe bazy danych rentgenowskich, prezentujące wywskaźnikowane zestawy wartości d hkl, charakterystycznych dla poszczególnych faz krystalicznych. 10/13

Wskaźnikowanie pozwala na: przypisanie poszczególnym rodzinom płaszczyzn wskaźników hkl, określenie typu sieci Bravais a, wyliczenie parametrów sieciowych (tym dokładniejsze, im większy zakres pomiarowy). Parametry sieciowe sześć liczb (trzy periody identyczności oraz trzy kąty) charakteryzujących kształt i rozmiary komórki elementarnej - równoległościanu z węzłami w naroŝach (niekoniecznie wyłącznie w naroŝach), o charakterystycznym dla danego układu krystalograficznego kształcie i symetrii oraz minimalnej objętości. 11/13

Przewidywanie wyglądu rentgenogramu na podstawie zestawu danych krystalograficznych Znając typ sieci Bravais a (grupę przestrzenną do której naleŝy analizowana substancja krystaliczna) moŝna przewidzieć dla jakich wskaźników hkl pojawią się refleksy na rentgenogramie Znając parametry komórki elementarnej moŝna z wzoru na 1/d hkl2 policzyć odległości międzypłaszczyznowe (ew. znając długości fali policzyć na podstawie wzoru Braggów kąty ugięcia) 12/13

Wesołych Świąt! Kiedy Wielkanoc nastanie, śyczymy na Zmartwychwstanie: DuŜo szczęścia i radości, Które niechaj zawsze gości W dobrym sercu, w jasnej duszy I niech wszystkie Ŝale głuszy. 13/13