Zarzdzanie i inynieria produkcji Studia II stopnia o profilu: A P

Transkrypt

1 Wizyjne systemy pomiarowe WM Zarzdzanie i inynieria produkcji Studia II stopnia o profilu: A P Przedmiot: Wizyjne systemy pomiarowe Kod przedmiotu ZIP S 0 6-_0 Status przedmiotu: obieralny Jzyk wykładowy: polski Rok: I Semestr: Nazwa specjalnoci: Specjalno techniczna Rodzaj zaj i liczba godzin: Studia stacjonarne Studia niestacjonarne Wykład 5 wiczenia Laboratorium 30 Projekt Liczba punktów ECTS: 3 C C C3 C4 C5 Cel przedmiotu Zapoznanie słuchaczy z zasadami działania automatycznych Zapoznanie studentów z niami oraz ich moliwociami wykorzystania rónorodnych branach przemysłu Przygotowanie studentów do okrelania wymaga dla zadania inspekcji wizyjnej (wymagania sprztowe, wstpne definiowanie algorytmu obrazów) Nabycie umiejtnoci doboru sprztu i budowy prostych układów inspekcji wizyjnej. (pomiarów geometrycznych lub identyfikacji, analizujcych wybrane właciwoci obiektów) Zapoznanie z metodami obrazów i budowy algorytmów obrazów (metody morfologiczne, pomiary geometryczne, rozpoznawanie wzorców) Zapoznanie ze sposobami integracji z systemami nadzorowania produkcji (zagadnienia metrologiczne, analizy ilociowe, wykorzystanie wyników pomiarów) Wymagania wstpne w zakresie wiedzy, umiejtnoci i innych kompetencji Posiada wiedz w zakresie podstawowych koncepcji, zasad i teorii oraz 7. znaczenia dla rozwoju ludzkoci. Ma znajomo matematyki oraz fizyki na poziomie wyszym w zakresie 8. niezbdnym dla opisu ilociowego i rozwizywania prostych problemów inynierskich. Zna podstawy metod obliczeniowych, i technologii informacyjnych. 9. ZIPA_W0 ZIPA_W0 ZIPA_W04 0. Posiada wiedz na temat tworzenia systemów zapewnienia jakoci. ZIPA_W05. Posiada ogóln wiedz w zakresie problematyki inynierii produkcji. ZIPA_W07 Posiada podstawow wiedz na temat technologii maszyn, szczególnie w ZIPA_W08. zakresie ich budowy, eksploatacji, działania i niezawodnoci, automatyzacji, monitorowania, diagnostyki i sterowania oraz elementarnej obsługi. 3. Posiada znajomo zasad tworzenia rysunku technicznego jako opisu geometrii czci maszyn, zna metody pomiarowe oraz analityczne metody opracowania wyników pomiaru. ZIPA_W0 4. Posiada wiedz o materiałach inynierskich, ich właciwociach i ZIPA_W niach. 5. Zna typowe metody bada poziomu jakoci i produktów. ZIPA_W7 6. Zna standardowe metody statystyczne, Informatyczne. ZIPA_W9 W zakresie wiedzy: Efekty kształcenia

2 Ma pogłbion wiedz w zakresie budowy i działania komputerowych systemów inspekcji wizyjnej oraz na temat wykorzystania wizyjnych systemów inspekcyjnych w rónych branach EK 8 przemysłu. EK 9 EK 0 EK EK EK 3 EK 4 EK 5 EK 6 EK 7 W Posiada zaawansowan wiedz w zakresie zasad budowy efektywnych nowoczesnych systemów kontroli wymiarowej oraz systemów wspomagajcych procesy realizowane automatycznie oraz na temat organizacji pracy w zautomatyzowanym procesie produkcyjnym Posiada wiedz umoliwiajc definiowanie wymaga i analizy moliwo nia automatycznych w zadaniach kontroli i nadzoru produkcji Posiada zaawansowan wiedz w zakresie koncepcji i rozwoju nauk technicznych i ich znaczenia dla rozwoju ludzkoci W zakresie umiejtnoci: Potrafi stosowa w pracy wyspecjalizowan wiedz dotyczc metod obrazu, analizy i interpretacji wyników, prowadzi testy i badania oraz opracowa szczegółow dokumentacj wyników Posiada umiejtnoci projektowania systemów nadzorowania produkcji z niem (m.in. kontrola wymiarowa, identyfikacja typu i kontrola obecnoci) oraz zaproponowa ulepszenia istniejcych rozwiza urzdze technicznych i systemów produkcyjnych zwikszajcych wydajno i bezpiecze stwo produkcji Umie przeprowadzi analiz potrzeb, zdefiniowa wymagania, zaproponowa odpowiednie rozwizanie opierajc si na rónych kryteriach o zmiennym oraz zaprojektowa usprawnienia w wybranych obszarach inynierii produkcji W zarzdzaniu stosuje systemy pomiarowe do pozyskiwania danych, dobiera metody w zalenoci od przeznaczenia systemu (kontrola wymiarów geometrycznych, identyfikacja typów i wad czci, kontrola obecnoci elementów i poprawnoci montau) W zakresie kompetencji społecznych: Przygotowany do zarzdzania systemami pomiarowymi oraz do doradztwa technicznego i organizacyjnego w zakresie wizyjnych systemów pomiarowych Rozumie potrzeb dokształcania si i posiada nawyk samokształcenia oraz aktualizowania wiedzy i nabywania umiejtnoci profesjonalnych Treci programowe przedmiotu Forma zaj wykłady Treci programowe Systemy inspekcji wizyjnej (widzenie maszynowe) wstp Liczba godzin Budowa i nia systemów automatycznej inspekcji wizyjnej. W3 Układy akwizycji obrazu, właciwoci cyfrowego zapisu obrazów. W4 Niskopoziomowe metody obrazów. W5 Algorytmy wyróniania cech wysokiego poziomu. W6 W7 W8 Opracowywanie procedur dla, oprogramowanie do projektowania. Podstawy optyki wprowadzenie do widzenia przestrzennego. Kalibrowanie układu optycznego. Elementy sprztowe okrelenie wymaga i dobór sprztu (definiowanie problemu, wybór cech, opracowanie metodyki pomiaru, sposób, przechowywania i prezentacji wyników) W9 Zasady budowy systemów. Kamery, obiektywy i owietlenie. Wykorzystanie wyników. Interpretacja i podejmowani decyzji z W30 niem reguł w systemie automatycznym lub sugestii dla operatora W3 Pomiary geometryczne w przestrzeni 3-wymiarowej. W3 Pomiary mikroskopowe -skaning systematyczny. Identyfikacja obiektów pozostajcych w ruchu. W33 Stereowizja. Inne nia. Suma godzin: 5 Forma zaj laboratoria L6 Treci programowe Dobór elementów sprztowych systemu automatycznej inspekcji wizyjnej. Liczba godzin

3 L7 Dostosowanie parametrów akwizycji obrazu do charakteru procesu. L8 Projektowanie programu komputerowego do identyfikacji obiektów. L9 Pomiary geometryczne przedmiotów prostopadłociennego. L0 Automatyczne pomiary mikroskopowe (np. właciwoci kompozytów) L Pomiary mikroskopowe materiałów biologicznych. L Rozpoznawanie tablic samochodowych. L3 Identyfikacja materiałów L4 Łczenie obrazów (skaning systematyczny). L5 Wyrónianie cech obiektów (pomiary geometryczne). 4 L6 Zliczanie obiektów (liczba czstek). 4 L7 Identyfikacja obiektów na podstawie wybranych cech niskiego poziomu. Identyfikacja obiektów na podstawie wybranych cech wysokiego L8 poziomu. Suma godzin: 30 Narzdzia dydaktyczne wykład z prezentacj multimedialn wiczenia w laboratorium komputerowym: projektowanie algorytmów dla przygotowanych zagadnie według instrukcji wiczenia laboratoryjne: projekt algorytmu do samodzielnie zaproponowanego 3 nia wiczenia laboratoryjne: wyposaenie i przygotowanie stanowiska do prowadzenia pomiarów 4 wizyjnych 5 wiczenia laboratoryjne: samodzielnie przygotowany projekt systemu wizyjnego Sposoby oceny Ocena formujca F Ocena realizacji wicze laboratoryjnych według instrukcji (Laboratorium) F Oceny sprawozda studentów z wicze laboratoryjnych (Laboratorium) Ocena podsumowujca P Komplet poprawnie przygotowanych sprawozda (Laboratorium zaliczenie 75%) P Samodzielnie przygotowany projekt (Laboratorium zaliczenie 5%) P3 Pisemny sprawdzian - pierwsza ankieta wiedzy (Wykład egzamin 65%) P4 Pisemny sprawdzian - druga ankieta wiedzy (Wykład egzamin 45%) P5 Egzaminu poprawkowy w formie odpowiedzi ustnej (Wykład) Obcienie prac studenta Forma aktywnoci rednia liczba godzin na zrealizowanie aktywnoci Godziny kontaktowe z wykładowc 45 Konsultacje, egzamin Przygotowanie si do laboratorium 4 Przygotowanie projektu 4 Suma 75 Sumaryczna liczba punktów ECTS dla przedmiotu 3 Literatura podstawowa i uzupełniajca Wykaz zalecanej literatury podstawowej: Wojnar L., Majorek M.: Komputerowa analiza obrazu. Fotobit Design, Kraków, 994 Cyganek B.: Komputerowe przetwarzanie obrazów trójwymiarowych. EXIT, Warszawa, 00 3 Korzy ska A., Przytulska M.: Przetwarzanie obrazów wiczenia. PJWSTK 006 Wykaz zalecanej literatury uzupełniajcej: 4 Wonicki J.: Podstawowe techniki obrazu. WKŁ, Warszawa, 000 Tadeusiewicz R., Korohoda P.: Społecze stwo Globalnej Informacji - Komputerowa analiza 5 i przetwarzanie obrazów. Wydawnictwo Fundacji Postpu Telekomunikacji, 997 Macierz efektów kształcenia

4 Efekt kształcenia EK EK 9 Odniesienie danego efektu kształcenia do efektów zdefiniowanych dla całego programu (PEK) ZIPA_W0(+) ZIPA_W0(+) ZIPA_W03(+) ZIPA_W09(+) ZIPA_W(+) Cele przedmiotu C, C C, C3, EK ZIPA_W5(++) C EK 3 ZIPA_W0(+) EK 5 EK 3 EK 6 EK 5 EK 7 EK 8 ZIPA_U0 (+) ZIPA_U06(+) ZIPA_U0(+) ZIPA_U03(+) ZIPA_U(+) ZIPA_U(+) ZIPA_U6(+) ZIPA_U0 (+) ZIPA_U05(+) ZIPA_K0(+) ZIPA_K05 (+) ZIPA_K06 (+) ZIPA_K04(+) ZIPA_K(+) C5 C3, C4 Treci programowe W, W3, W7, W9, L4, L6, L8 W, W6, W9, L5, L7, L8 W, W5, W7,W8, W L, L3 W9, W0, W, L3 W, W3, W4, W6 L, L, L3, L4, L, L3 Narzdzia dydaktyczne,,,,, 3, 4, 5 C3, C4 L3, L, L3, 3 L6, L7, L8, L9, L0, L W, W, W7, W8, W9 L5, L0, L, L, L3, 4, 5, Sposób oceny P P, P, P, P3, P4 F, F P P F, F P C W9, W, EK EK 9 EK EK 3 EK 5 Formy oceny szczegóły Na ocen (ndst) Na ocen 3 (dst) Na ocen 4 (db) Na ocen 5 (bdb) Potrafi omówi nia, Potrafi szczegółowo przeznaczenie i przykłady omówi przykłady lokalizacje systemów wizyjnych w procesach wytwórczych elementów systemu wizyjnego Nie zna sposobów okrelania wymaga systemy wizyjnego Nie posiada wiedzy o rozwoju systemów automatyzacji pomiarów Nie zna metod wszystkie elementy WSP Zna metodyk okrelania wymaga WSP wynikajce z jego przeznaczenia Posiada wiedz o automatycznych WSP dla poprawy jakoci procesów Potrafi wyróni metody elementy WSP oraz ich parametry Definiuje specyficzne wymagania i kryteria oceny WSP Wymienia nia rozwinitych WSP o społecznym Potrafi dobra odpowiednio metody Szczegółowo omawia parametry elementów WSP i kryteria oceny WSP oraz potrafi przeprowadzi ich porównanie Omawia nia WSP o społecznym Potrafi dobra metodyk

5 EK 3 EK 6 EK 5 EK 7 EK 8 Formy oceny szczegóły Na ocen (ndst) Na ocen 3 (dst) Na ocen 4 (db) Na ocen 5 (bdb) obrazów niskiego i wysokiego poziomu, zebra wyniki pomiarów obrazów i poprawnie zaplanowa i przeprowadzi testy pozyskiwania i sposób prezentacji wyników z uyciem WSP Nie potrafi WSP do prostych pomiarów lub zliczania Nie potrafi okreli wymaga systemy wizyjnego Nie potrafi okreli zwizku WSP z systemem zarzdzania produkcj elementów i przeznaczenia WSP Nie zna ródeł wiedzy nt. WSP w zwizku z potrzeb samokształcenia Potrafi projektowa WSP do prostych zada (pomiar jednej właciwoci) WSP wynikajce z jego przeznaczenia Potrafi WSP do prostych pomiarów lub zliczania czci Przedstawia przeznaczenie i korzyci z nia WSP Wymienia ródła wiedzy nt. WSP Potrafi projektowa WSP do zada : pomiarów, zliczania i identyfikacji Definiuje specyficzne wymagania i kryteria oceny WSP Potrafi stosowa WSP do zada : pomiarów, zliczania i identyfikacji Potrafi przeprowadzi porównanie WSP Wymienia potrzeby techniczne przedsibiorstw zwizane z rozwojem WSP Potrafi kreatywnie stosowa WSP do zada złoonych i kryteria oceny WSP oraz potrafi przeprowadzi ich porównanie Potrafi kreatywnie stosowa WSP do zada złoonych Proponuje zmiany organizacyjne wynikajce z nia WSP Posiada samodzielnie nabyt specjalistyczn wiedz z zakresu WSP Autor programu: Adres Jednostka organizacyjna: Osoba, osoby prowadzce: dr in. Piotr Wolszczak p.wolszczak@pollub.pl Wydział Mechaniczny, Katedra Automatyzacji dr in. Piotr Wolszczak prof. dr hab. in. Stanisław Płaska, dr in. Paweł Stczek, dr in. Marcin Bogucki, dr in. Radosław Cechowicz, dr in. Krzysztof Przystupa