Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy)
|
|
- Łukasz Kamiński
- 7 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Spis treści 1 Historia 2 Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) 2.1 Skaningowy mikroskop tunelowy (STM od ang. Scanning Tunneling Microscope) Uzyskiwanie obrazu metodą STM Metody uzyskiwania obrazu 3 Mikroskop sił atomowych (atomic force microscopy,afm) 3.1 Zasada działania mikroskopu AFM 3.2 Siły van der Waalsa 3.3 Tryb pracy mikroskopu AFM Tryb kontaktowy Tryb bezkontaktowy Tryb kontaktu przerywanego Zastosowania AFM Zalety AFM AFM a inne poznane techniki mikroskopowe 3.4 Problem drgań zewnętrznych 3.5 Dalszy rozwój AFM Historia Gerd Binnig oraz Heinrich Rohrer pod koniec 1978 roku rozpoczęli badania procesów wzrostu, struktury i własności elektrycznych bardzo cienkich warstw tlenków. Potrzebowali urządzenia dającego możliwość obserwacji powierzchni w skali ułamków nanometra. W tym celu w 1982 roku skonstruowali skaningowy mikroskop tunelowy, a w roku 1986 otrzymali Nagrodę Nobla w dziedzinie fizyki. W 1986 roku G. Binning, C.F Quate i Ch. Gerber skonstruowali mikroskop sił atomowych (AFM od ang. Atomic Force Microscope). Możliwości STM w zakresie obrazowania zapoczątkowały burzliwy rozwój nowej dziedziny zwanej mikroskopią sond skanujących (skaningowa mikroskopia bliskich oddziaływań). Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) Skaningowy mikroskop tunelowy (STM, Scanning Tunneling Microscope) wykorzystuje zjawisko tunelowania elektronów pomiędzy powierzchnią próbki a sondą. Mikroskop sił atomowych (AFM, Atomic Force Microscope) mierzy siły działające na sondę. Mikroskop sił magnetycznych (MFM, Magnetic Force Microscope) to mikroskop sił atomowych z sondą magnetyczną. Mikroskop sił tarcia (FFM, Friction Force Microscope). Mikroskop sił elektrostatycznych (EFM, Electrostatic Force Microscope). Mikroskop sond skanujących w bliskim polu optycznym.(snom, Scanning Near-Field Optical
2 Microscopy) sonda jest światłowód, a tunelują fotony emitowane przez próbkę. Skaningowy mikroskop tunelowy (STM od ang. Scanning Tunneling Microscope) Obraz powierzchni materiałów przewodzących ze zdolnością rozdzielczą rzędu pojedynczego atomu uzyskuje się wykorzystując zjawisko tunelowania elektronów. STM nie rejestruje fizycznej topografii próbki, ale mierzy obsadzone i nieobsadzone stany elektronowe blisko powierzchni Fermiego. Uzyskiwanie obrazu metodą STM Powierzchnia próbki jest wykonana z materiału przewodzącego prąd elektryczny. Nad próbka znajduje się igła, której ruch możemy kontrolować. Ramię trzymające igłę mocowane jest do aparatury poprzez skaner piezoelektryczny. Skaner piezoelektryczny pod wpływem napięcia elektrycznego zmienia wymiary, a tym samym zmienia położenie igły przesuwając ją nad próbką. Skanowanie kolejnych linii i punktów obrazu próbki odbywa się według z góry zadanego programu. Metody uzyskiwania obrazu Metoda stałej wysokości (ang. constant height method, CHM) igła porusza się na stałej wysokości nad próbką a aparatura rejestruje wyłącznie zmiany prądu tunelowego. Zastosowanie w przypadku próbek o równej powierzchni. Metoda stałego prądu lub metoda stałej odległości od próbki (ang. constant current method, CCM, constant gap width mode, CGM) igła oddala się i przybliża do Do obrazowania powierzchni próbki wykorzystuje się wielkość prądu tunelowego oraz napięcie sterujące wysokością igły. Sonda (drut wolframowy lub Pt/Ir o średnicy 0,2-0,5 mm) zawiera na końcu kryształ ustawiony wierzchołkiem w stronę ostrza zakończeniem sondy jest dokładnie jeden atom. Odległość sondy od powierzchni próbki jest rzędu kilku angstremów (do 1 nm). Przyłożone napięcie pomiędzy sondą a próbką (od ułamków do kilku woltów nie jest wystarczające do tego by elektron pokonał przyciąganie jonów metalu i oderwał się od ostrza igły, ale dzięki temu, że próbka jest w niewielkiej odległości od ostrza igły elektron przeskakuje przez zabroniony obszar (barierę potencjału) do badanej próbki w wyniku zjawiska tunelowania elektronów. Najprostszą metodą otrzymania sondy do mikroskopu STM jest ucięcie drutu nożyczkami pod kątem 45. Najczęściej sondy STM otrzymuje się poprzez elektrochemiczne trawienie (np. w 30% roztworze KOH), trawienie odsłania strukturę kryształu, a po selekcji można wybrać odpowiednie ostrze. Elektrony tunelują z ostrza przez powietrze (lub próżnię) do próbki lub odwrotnie w zależności od kierunku przyłożonego napięcia. Wartość prądu tunelowego zależy silnie (wykładniczo) od szerokości bariery potencjału, w tym przypadku jest to odległość ostrza od najbliższych atomów (a nawet powłok atomowych) Typowe wartości prądu są rzędu 0,1-10 na a analiza tak małych prądów wymaga dokładnej i niskoszumowej aparatury. Komputer analizuje i zapamiętuje mapę prądów
3 tunelowych dla każdego punktu próbki i na tej podstawie tworzony jest później obraz W przypadku badania substancji zbudowanych z różnych atomów wartość prądu zależy od siły wiązania elektronu przez atom (praca wyjścia). Pomiar tego prądu pozwala obrazować strukturę atomową powierzchni Wartość prądu tunelowego dostarcza informacji o wartości potencjału jaki czuje elektron opuszczający powierzchnię Zdolność rozdzielcza mikroskopu pozwala dostrzec poszczególne atomy. Wadą mikroskopu STM jest ograniczenie możliwości obserwacji tylko do próbek wykonanych z przewodników. Z kolei mikroskop sił magnetycznych (MFM, Magnetic Force Microscope) pracuje w przypadku próbek magnetycznych (dyski twarde, taśmy magnetyczne. Mikroskop sił atomowych (atomic force microscopy,afm) Mikroskop sił atomowych ma większy wachlarz zastosowań niż skaningowy mikroskop tunelowy. Można stosować go do obrazowania przewodników, półprzewodników, izolatorów, wykonywać pomiary w cieczach, badać próbki biologiczne, w tym żywe preparaty w środowisku zbliżonym do naturalnego. Mikroskop AFM NIE korzysta z soczewek i źródła promieniowania (w znaczeniu typowym dla mikroskopów optycznych). Zasada działania mikroskopu AFM Skanowanie powierzchni próbki za pomocą cienkiego ostrza zamontowanego na sprężystym ramieniu Pomiar ugięcia ramienia proporcjonalnego do zmian topografii próbki Detekcja ruchu ramienia odbywa się za pomocą promienia laserowego skierowanego na koniec ramienia. Budowa mikroskopu AFM przedstawiona jest na rys. Figure 1.
4 Budowa mikroskopu AFM. 1.Laser źródło światła; 2.Lustro odbija wiązkę laserową w kierunku fotodetektora; 3.Fotodetector mierzy różnice w intensywności promieniowania i konweruje je na napięcie; 4.Wzmacniacz; 5.Rejestrator; 6.Próbka; 7.Ostrze sondy wykonane z krzemu &mdahs; skanuje próbkę; 8.Sonda na sprężystym ramieniu przesuwa się w trakcie skanowania próbki i odbija promieniowanie laserowe. Siły van der Waalsa Do odchylenia ramienia największy wkład wnoszą siły van der Waalsa wynikające z oddziaływań indukowanych szybkozmiennych dipoli pomiędzy ostrzem a próbką. Wypadkową siłę opisuje potencjał Lenarda-Jonesa: Tryb pracy mikroskopu AFM Tryb kontaktowy (contact mode). Tryb bezkontaktowy (non-contact mode). Tryb kontaktu przerywanego (tapping mode). Tryb kontaktowy Ostrze jest w kontakcie z próbką.
5 Pomiar sił odpychających (rzędu nn) pomiędzy ostrzem a próbką. Siły kontaktowe powodują wygięcie dźwigni proporcjonalne do zmian topografii Możliwość pracy: 1. Stała wysokość ramienia detekcja ruchów ramienia ramię naciska na próbkę siła zależną od topografii powierzchni, próbka jest utrzymywana na stałej wysokości (wada: otrze naciska z różną siłą może to doprowadzić do zniszczenia próbki). 2. Stała siła detekcja ruchu piezoelementu ramię ma stałe ugięcie w każdym punkcie nacisk z tą samą siła nie niszczy próbki (wada: nie da się wyeliminować sił bocznych, które mogą szarpiąc próbkę doprowadzić do jej uszkodzenia). Napięcie potrzebne do utrzymania stałej wysokości ramienia lub stałej siły wskazuje wysokość Eliminacja sił bocznych ma miejsce w bezkontaktowym trybie pracy. Tryb bezkontaktowy Pomiar sil przyciągających pomiędzy ostrzem z próbką. Siły są mniejsze niż w trybie kontaktowym (pn). Dźwignia w odległości nm od próbki, nie dotyka Dźwignia drga, w trakcie zbliżania do powierzchni próbki ulega zmianie amplituda drgań. Mikroskop zmienia położenie próbki w celu utrzymania stałej amplitudy drgań. Rejestracja zmiany położenia próbki (za pomocą elementu piezoelektrycznego) umożliwia odtworzenie powierzchni próbki Wada nie można stosować do próbek ciekłych. Tryb kontaktu przerywanego Ruch drgający ostrza z tak dobraną amplitudą, ze dziobie powierzchnię Częstotliwość drgań drgań na sekundę. Siły związane z utrzymaniem stałej amplitudy drgań dźwigni powoduje tworzenie obrazu Zaleta uniknięcie uszkodzenia powierzchni próbki związanego z tarciem i szarpaniem Zastosowania AFM Mikroskopy AFM stosuje się biologii, biofizyce, biotechnologii, inżynierii biomedycznej, nanobiotechnologii. Wykorzystanie w analizie DNA, RNA ( z nanometrową rozdzielczością), kompleksów białek i kwasów nukleinowych, chromosomów, membran komórkowych, kryształów molekularnych polimerów, biomateriałów, wiązań ligand-receptor. Pomiary: topograficzne, właściwości mechanicznych (elastyczność, adhezja, tarcie),
6 w celu: spektroskopia pojedynczych molekuł. obrazowania komórek i mniejszych obiektów, badania ilościowego odziaływań molekularnych w systemach biologicznych, badania ilościowego elektrycznego ładunku powierzchniowego. W przypadku pomiaru właściwości rejestruje się krzywe siła odległość. Zalety AFM Możliwość pomiaru struktury powierzchni od rozmiarów atomowych do 0.1 mm. Rozdzielczość w poziomie ograniczona przez rozmiar ostrza (2-3 nm). Rozdzielczość 0,01 nm w pionie. AFM a inne poznane techniki mikroskopowe AFM a STM (scanning tunneling microscope) Możliwość pomiarów dla przewodników i izolatorów. AFM a SEM (scanning electron microscope) Lepsza kontrast topograficzny. AFM a TEM (transmission electron microscope) Tańszy i prostszy sposób przygotowania Problem drgań zewnętrznych Czułość na drgania zewnętrzne. Drgania te są co najmniej 1000 razy większe niż odległość sondy od powierzchni Źródłami drgań są: ruch samochodowy, kroki czy nawet hałas. Aby nie dochodziło do niekontrolowanych zderzeń sondy z powierzchnią próbki potrzebne są dodatkowe systemy tłumiące drgania. Istniejące obecnie systemy antywibracyjne pozwalają działać urządzeniom nawet na wyższych piętrach budynków. Twórcy pierwszego skaningowego mikroskopu tunelowego do wytłumienia drgań wykorzystali zjawisko unoszenia się nadprzewodnika w polu magnetycznym umieścili swój mikroskop na nadprzewodzącej czaszy ołowianej wypychanej na zewnątrz z niejednorodnego pola magnetycznego. Dalszy rozwój AFM Zwiększanie rozdzielczości poprzez projektowanie i zastosowanie węższych ostrzy. Dostosowanie ostrzy do próbek biologicznych (mniejsze uszkodzenia próbki (mniejsze siły lepkości). Redukcja szumów.
I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.
Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym
Bardziej szczegółowoSkaningowy mikroskop tunelowy STM
Skaningowy mikroskop tunelowy STM Skaningowy mikroskop tunelowy (ang. Scanning Tunneling Microscope; STM) należy do szerszej rodziny mikroskopów ze sondą skanującą. Wykorzystuje on zjawisko tunelowania
Bardziej szczegółowoAFM. Mikroskopia sił atomowych
AFM Mikroskopia sił atomowych Siły van der Waalsa F(r) V ( r) = c 1 r 1 12 c 2 r 1 6 Siły van der Waalsa Mod kontaktowy Tryby pracy AFM związane z zależnością oddziaływania próbka ostrze od odległości
Bardziej szczegółowoSPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force
SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy
Bardziej szczegółowoNOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip
NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały
Bardziej szczegółowo1 k. AFM: tryb bezkontaktowy
AFM: tryb bezkontaktowy Ramię igły wprowadzane w drgania o małej amplitudzie (rzędu 10 nm) Pomiar zmian amplitudy drgań pod wpływem sił (na ogół przyciągających) Zbliżanie igły do próbki aż do osiągnięcia
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki wykład 2
D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,
Bardziej szczegółowoMikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
Bardziej szczegółowoWykład 21: Studnie i bariery cz.2.
Wykład 21: Studnie i bariery cz.2. Dr inż. Zbigniew Szklarski Katedra Elektroniki, paw. C-1, pok.321 szkla@agh.edu.pl http://layer.uci.agh.edu.pl/z.szklarski/ 1 Przykłady tunelowania: rozpad alfa, synteza
Bardziej szczegółowoMikroskopia Sił Atomowych (AFM)
Narzędzia dla nanotechnologii Mikroskopia Sił Atomowych (AFM) Tomasz Kruk* Wprowadzenie Wśród wielu urządzeń kojarzonych z nanotechnologią żadne nie jest tak dobrze rozpoznawalne i proste w założeniu swojej
Bardziej szczegółowoBadanie powierzchni materiałów z za pomocą skaningowej mikroskopii sił atomowych (AFM)
1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z techniką obrazowania powierzchni za pomocą skaningowego mikroskopu sił atomowych (AFM). Badanie powierzchni materiałów z za pomocą skaningowej mikroskopii
Bardziej szczegółowoM2 Mikroskopia sił atomowych: badanie nanostruktur.
M2 Mikroskopia sił atomowych: badanie nanostruktur. Celem ćwiczenia jest poznanie mikroskopii sił atomowych i zbadanie otrzymanych próbek. Wymagane zagadnienia Podstawy fizyczne mikroskopii sił atomowych:
Bardziej szczegółowoOglądanie świata w nanoskali mikroskop STM
FOTON 112, Wiosna 2011 23 Oglądanie świata w nanoskali mikroskop STM Szymon Godlewski Instytut Fizyki UJ Od zarania dziejów człowiek przejawiał wielką ciekawość otaczającego go świata. Prowadził obserwacje
Bardziej szczegółowoMikroskop sił atomowych
Mikroskop sił atomowych AFM: jak to działa? Krzysztof Zieleniewski Proseminarium ZFCS, 5 listopada 2009 Plan seminarium Łyczek historii Możliwości mikroskopu Budowa mikroskopu na Pasteura Podstawowe mody
Bardziej szczegółowoM1/M3 Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do badania nanostruktur
M1/M3 Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do badania nanostruktur Prowadzący: Kontakt e-mail: Rafał Bożek rafal.bozek@fuw.edu.pl Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zasadami mikroskopii sił atomowych
Bardziej szczegółowoMikroskop sił atomowych (AFM)
Mikroskop sił atomowych (AFM) 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope AFM) został skonstruowany w 1986 r. w laboratorium IBM w Zurichu (Binnig G., Quate C.F., Gerber C., Phys.
Bardziej szczegółowo(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:
. (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja
Bardziej szczegółowoMETODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW
METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku
Bardziej szczegółowoO manipulacji w nanoskali
FOTON 113, Lato 2011 23 O manipulacji w nanoskali Szymon Godlewski Instytut Fizyki UJ Skonstruowany w 1981 roku przez dwóch pracowników IBM Gerda Binniga i Heinricha Rohrera skaningowy mikroskop tunelowy
Bardziej szczegółowoUniwersytet Łódzki, Wydział Chemii Katedra Chemii Nieorganicznej i Analitycznej Zakład Elektroanalizy i Elektrochemii Łódź, ul.
Uniwersytet Łódzki, Wydział Chemii 91-403 Łódź, ul. Tamka 12 Andrzej Leniart Akademia Ciekawej Chemii 11 czerwiec 2014 r. Z czego zbudowana jest materia? Demokryt z Abdery (ur. ok. 460 p.n.e., zm. ok.
Bardziej szczegółowoRezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego
Paweł Szroeder Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Wykład XI Badania powierzchni ciała stałego: elektronowy mikroskop skaningowy (SEM), skaningowy mikroskop tunelowy
Bardziej szczegółowoWady ostrza. Ponieważ ostrze ma duży promień niektóre elementy ukształtowania powierzchni nie są rejestrowane (fioletowy element)
Wady ostrza Ponieważ ostrze ma duży promień niektóre elementy ukształtowania powierzchni nie są rejestrowane (fioletowy element) Ponieważ ostrze ma kilka zakończeń w obrazie pojawiają się powtórzone struktury
Bardziej szczegółowoMikroskop tunelowy skaningowy Scaning tuneling microscopy (STM)
Mikroskop tunelowy skaningowy Scaning tuneling microscopy (STM) Zasada działania Historia odkryć Zastosowane rozwiązania Przykłady zastosowania Bolesław AUGUSTYNIAK Zasada działania mikroskopu skanującego
Bardziej szczegółowoZaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Rentgenowska fazowa analiza ilościowa Parametry komórki elementarnej Wielkości krystalitów Budowa mikroskopu
Bardziej szczegółowoLaboratorium nanotechnologii
Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury
Bardziej szczegółowoFizyka powierzchni. Dr Piotr Sitarek. Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska
Fizyka powierzchni 11 Dr Piotr Sitarek Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska Lista zagadnień Fizyka powierzchni i międzypowierzchni, struktura
Bardziej szczegółowoNanoskopowe metody charakteryzacji materiałów. Obrazek: Helsinki University of Technology tfy.tkk.fi/sin/research/
Nanoskopowe metody charakteryzacji materiałów Obrazek: Helsinki University of Technology tfy.tkk.fi/sin/research/ STM i AFM: podstawy konstrukcji STM AFM Scanning tunelling microscope (STM) Heinrich Rohrer
Bardziej szczegółowoDyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Fazowa analiza ilościowa Obliczenia strukturalne prawo Vegarda Pomiary cienkich warstw Budowa mikroskopu
Bardziej szczegółowoElementy pomiaru AFM
Elementy pomiaru AFM - Dobór właściwej metody i konfiguracji mikroskopu - Przygotowanie i zamocowanie próbki - Dobranie i zamocowanie igły - Regulacja i ustawienie parametrów pracy: Regulacja pozycji fotodiody
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE 4a. Analiza struktury kompozytów polimerowych
Nanomateriały ĆWICZENIE 4a 5 Analiza struktury kompozytów polimerowych Określenie stopnia rozproszenia i rozmiaru modyfikowanych bentonitów oraz nanonapełniaczy w matrycy epoksydowej Analiza topografii
Bardziej szczegółowoBadanie strutury powierzchni z atomową zdolnością rozdzielczą. Powierzchnia jak ją zdefiniować?
Badanie strutury powierzchni z atomową zdolnością rozdzielczą Powierzchnia jak ją zdefiniować? Obszar kryształu, dla którego nie da się zastosować trójwymiarowych równań opisujących własności wnętrza.
Bardziej szczegółowoKamil Zalewski, Wojciech Nath, Marcin Ewiak, Grzegorz Gabryel
Kamil Zalewski, Wojciech Nath, Marcin Ewiak, Grzegorz Gabryel Ogólny opis mikroskopów Wstęp do idei mikroskopów skanujących Rodziny mikroskopów skanujących Ogólna zasada działania mikroskopów AFM i STM
Bardziej szczegółowo4. APARATURA POMIAROWO BADAWCZA I ZASADY JEJ DZIAŁANIA Skaningowy mikroskop tunelowy STM (scanning tunneling microscope)
4. APARATURA POMIAROWO BADAWCZA I ZASADY JEJ DZIAŁANIA 4.1. Skaningowy mikroskop tunelowy STM (scanning tunneling microscope) Skaningowa mikroskopia tunelowa należy do grupy technik mikroskopowych objętych
Bardziej szczegółowoMikroskopie skaningowe
SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopie skaningowe (SPM- Sharp Probe Microscopy) Mikroskopy skanujące 1. Efekt tunelowania (STM). Stały prąd, stała wysokość. 2. Oddziaływania sił atomowych(afm). W kontakcie,
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie
Bardziej szczegółowoProf. dr hab. Maria Kozioł-Montewka
Mikroskop sił atomowych jako nowe narzędzie w bezpośredniej identyfikacji drobnoustrojów stanowiących broń biologiczną Prof. dr hab. Maria Kozioł-Montewka Katedra i Zakład Mikrobiologii Lekarskiej Uniwersytet
Bardziej szczegółowoPROJEKT STUDENCKIEGO SKANINGOWEGO MIKROSKOPU TUNELOWEGO
Słowa kluczowe: mikroskop, ostrze, prąd tunelowy, próbka Łukasz Bednarz Sebastian Bednarz PROJEKT STUDENCKIEGO SKANINGOWEGO MIKROSKOPU TUNELOWEGO Skaningowy mikroskop tunelowy (STM) jest urządzeniem o
Bardziej szczegółowoMikroskopia polowa. Efekt tunelowy Historia odkryć Uwagi o tunelowaniu Zastosowane rozwiązania. Bolesław AUGUSTYNIAK
Mikroskopia polowa Efekt tunelowy Historia odkryć Uwagi o tunelowaniu Zastosowane rozwiązania Bolesław AUGUSTYNIAK Efekt tunelowy Efekt kwantowy, którym tłumaczy się przenikanie elektronu w sposób niezgodny
Bardziej szczegółowoSkaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz
Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek
Bardziej szczegółowoWykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e = = 1 Å
Wykład 12 Fale materii: elektrony, neutrony, lekkie atomy Neutrony generowane w reaktorze są spowalniane w wyniku zderzeń z moderatorem (grafitem) do V = 4 km/s, co odpowiada energii E=0.08 ev a energia
Bardziej szczegółowoMenu. Badające rozproszenie światła,
Menu Badające rozproszenie światła, Instrumenty badające pole magnetyczne Ziemi Pole magnetyczne Ziemi mierzy się za pomocą magnetometrów. Instrumenty badające pole magnetyczne Ziemi Rodzaje magnetometrów:»
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu zamówienia
ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie
Bardziej szczegółowoRóżne dziwne przewodniki
Różne dziwne przewodniki czyli trzy po trzy o mechanizmach przewodzenia prądu elektrycznego Przewodniki elektronowe Metale Metale (zwane również przewodnikami) charakteryzują się tym, że elektrony ich
Bardziej szczegółowo5.2.3. Układy detekcji i przetwarzania bliskiego pola... 80 5.2.4. Układy pętli sprzężenia zwrotnego... 82 5.2.5. Zasilacze systemu i układy
Moim Rodzicom Spis treści Spis oznaczeń i akronimów... 9 1. Wstęp... 17. Metody pomiarowe mikroskopii bliskich oddziaływań....1. Mikroskopia tunelowa... 3.. Mikroskopia sił atomowych... 4..1. Statyczna
Bardziej szczegółowoPRACOWNIA MIKROSKOPII
1. Kierownik Pracowni: Dr hab. Andrzej Wojtczak, prof. UMK 2. Wykonujący badania: Mgr Grzegorz Trykowski 3. Adres: Uniwersytet Mikołaja Kopernika Wydział Chemii Pracownia Analiz Instrumentalnych ul. Gagarina
Bardziej szczegółowoANALIZA POWIERZCHNI BADANIA POWIERZCHNI
Analiza ciała stałego ANALIZA POWIERZCHNI ANALIZA CAŁEJ OBJTOCI CIAŁO STAŁE ANALIZA POWIERZCHNI METODY NISZCZCE METODY NIENISZCZCE Metody niszczce: - przeprowadzenie do roztworu (rozpuszczanie, roztwarzanie
Bardziej szczegółowoMIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego
MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-08-03 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie
Bardziej szczegółowoWykład Budowa atomu 2
Wykład 7.12.2016 Budowa atomu 2 O atomach cd Model Bohra podsumowanie Serie widmowe O czym nie mówi model Bohra Wzbudzenie, emisja, absorpcja O liniach widmowych Kwantowomechaniczny model atomu sformułowanie
Bardziej szczegółowoOPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 2 do SIWZ OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 pn.: Dostawa i instalacja fabrycznie nowego (nieużywanego) Profilometru mechanicznego wraz z przeszkoleniem Personelu Zamawiającego Przedmiotem
Bardziej szczegółowoTechniki mikroskopowe
Techniki mikroskopowe Metody badań strukturalnych ciała stałego dr inż. Magdalena Król Mikrostruktura Struktura przestrzenne rozmieszczenie cząstek materii (atomów, jonów, cząsteczek) oraz zespół relacji
Bardziej szczegółowoPolitechnika Gdańska. Wydział Chemiczny. Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej. Rozprawa doktorska
Politechnika Gdańska Wydział Chemiczny Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej Rozprawa doktorska Dynamiczna spektroskopia impedancyjna w mikroskopowej analizie powierzchni metalicznych
Bardziej szczegółowoŚwiatło fala, czy strumień cząstek?
1 Światło fala, czy strumień cząstek? Teoria falowa wyjaśnia: Odbicie Załamanie Interferencję Dyfrakcję Polaryzację Efekt fotoelektryczny Efekt Comptona Teoria korpuskularna wyjaśnia: Odbicie Załamanie
Bardziej szczegółowoBadanie własności hallotronu, wyznaczenie stałej Halla (E2)
Badanie własności hallotronu, wyznaczenie stałej Halla (E2) 1. Wymagane zagadnienia - ruch ładunku w polu magnetycznym, siła Lorentza, pole elektryczne - omówić zjawisko Halla, wyprowadzić wzór na napięcie
Bardziej szczegółowoh λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)
Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę
Bardziej szczegółowoElektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści
Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, 2016 Spis treści Wykaz ważniejszych skrótów i oznaczeń 11 Przedmowa 17 Wstęp 19 Literatura 26 Rozdział I.
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-07-20 SZ-222-20/12/6/6/2012/2713 Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż
Bardziej szczegółowoInkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM
Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena
Bardziej szczegółowoRepeta z wykładu nr 5. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Złącze p-n. złącze p-n
Repeta z wykładu nr 5 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Konsultacje:
Bardziej szczegółowoZaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Rentgenowska fazowa analiza jakościowa i ilościowa Parametry komórki elementarnej Wielkości krystalitów
Bardziej szczegółowoCzy atomy mogą być piękne?
Krzysztof Matus Doktorant w Instytucie Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Czy atomy mogą być piękne? W czasach, gdy ciągły rozwój nauki połączony
Bardziej szczegółowoANALIZA POWIERZCHNI
ANALIZA POWIERZCHNI Metody niszczące (próbka zostaje zniszczona w czasie analizy): - przeprowadzenie do roztworu (rozpuszczanie, roztwarzanie lub stapianie) i następnie analiza metodami klasycznymi lub
Bardziej szczegółowoSZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: KA-2/124/2010 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 Dostawa mikroskopu i spektrometru FT-IR Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu i spektrometru
Bardziej szczegółowoSkaningowy mikroskop tunelowy
Skaningowy mikroskop tunelowy Mariusz Krawiec Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie studenta ze skaningową mikroskopią tunelową, techniką pozwalającą na określenie topografii i struktury powierzchni
Bardziej szczegółowoTEORIA PASMOWA CIAŁ STAŁYCH
TEORIA PASMOWA CIAŁ STAŁYCH Skolektywizowane elektrony w metalu Weźmy pod uwagę pewną ilość atomów jakiegoś metalu, np. sodu. Pojedynczy atom sodu zawiera 11 elektronów o konfiguracji 1s 2 2s 2 2p 6 3s
Bardziej szczegółowoElektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej
Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej 1 2 NR 147 Julian Kubisztal Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej Wydawnictwo Uniwersytetu
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)
LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007
Bardziej szczegółowoCo to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie. Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? e πε. E = n. Sebastian Maćkowski
Co to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? h 2 2 2 e πε m* 4 0ε s Φ
Bardziej szczegółowoZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SIŁ ATOMOWYCH (AFM) W DIAGNOSTYCE WARSTWY WIERZCHNIEJ
Mirosław BRAMOWICZ Uniwersytet Warmińsko-Mazurski w Olsztynie Sylwester KŁYSZ Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych PRACE NAUKOWE ITWL Zeszyt 22, s. 159 166, 2007 r. DOI 10.2478/v10041-008-0009-z ZASTOSOWANIE
Bardziej szczegółowoRepeta z wykładu nr 10. Detekcja światła. Kondensator MOS. Plan na dzisiaj. fotopowielacz, część 2 MCP (detektor wielokanałowy) streak camera
Repeta z wykładu nr 10 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 fotopowielacz,
Bardziej szczegółowoCzujniki. Czujniki służą do przetwarzania interesującej nas wielkości fizycznej na wielkość elektryczną łatwą do pomiaru. Najczęściej spotykane są
Czujniki Ryszard J. Barczyński, 2010 2015 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Czujniki Czujniki służą do przetwarzania interesującej
Bardziej szczegółowoGrafen materiał XXI wieku!?
Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?
Bardziej szczegółowoWARSZAWA LIX Zeszyt 257
WARSZAWA LIX Zeszyt 257 SPIS TRE CI STRESZCZENIE... 9 WYKAZ SKRÓTÓW... 10 1. WPROWADZENIE... 13 2. MIKROSKOPIA SI ATOMOWYCH PODSTAWY... 17 2.1. Podstawy oddzia ywa ostrze próbka... 23 2.1.1. Modele fizyczne
Bardziej szczegółowoElementy teorii powierzchni metali
prof. dr hab. Adam Kiejna Elementy teorii powierzchni metali Wykład 4 v.16 Wiązanie metaliczne Wiązanie metaliczne Zajmujemy się tylko metalami dlatego w zasadzie interesuje nas tylko wiązanie metaliczne.
Bardziej szczegółowoJAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI? JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI?
Podstawowe miary masy i objętości stosowane przy oznaczaniu ilości kwasów nukleinowych : 1g (1) 1l (1) 1mg (1g x 10-3 ) 1ml (1l x 10-3 ) 1μg (1g x 10-6 ) 1μl (1l x 10-6 ) 1ng (1g x 10-9 ) 1pg (1g x 10-12
Bardziej szczegółowoNanotechnologia wkracza do szkół: model Mikroskopu Sił Atomowych
FOTON 101, Lato 2008 29 Nanotechnologia wkracza do szkół: model Mikroskopu Sił Atomowych Gorazd Planinšič Wydział Matematyki i Fizyki, Uniwersytet w Lublanie Janez Kovač Instytut Josefa Stefana, Lublana
Bardziej szczegółowoi elementy z półprzewodników homogenicznych część II
Półprzewodniki i elementy z półprzewodników homogenicznych część II Ryszard J. Barczyński, 2016 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego
Bardziej szczegółowoNagrody Nobla z dziedziny fizyki ciała. Natalia Marczak Fizyka Stosowana, semestr VII
Nagrody Nobla z dziedziny fizyki ciała stałego Natalia Marczak Fizyka Stosowana, semestr VII Zaczęł ęło o się od Alfred Bernhard Nobel (1833 1896) Nadprzewodnictwo Kamerlingh-Onnes Heike (1853-1926) 1926)
Bardziej szczegółowodr inż. Beata Brożek-Pluska SERS La boratorium La serowej
dr inż. Beata Brożek-Pluska La boratorium La serowej Spektroskopii Molekularnej PŁ Powierzchniowo wzmocniona sp ektroskopia Ramana (Surface Enhanced Raman Spectroscopy) Cząsteczki zaadsorbowane na chropowatych
Bardziej szczegółowoWIĄZANIA. Co sprawia, że ciała stałe istnieją i są stabilne? PRZYCIĄGANIE ODPYCHANIE
WIĄZANIA Co sprawia, że ciała stałe istnieją i są stabilne? PRZYCIĄGANIE ODPYCHANIE Przyciąganie Wynika z elektrostatycznego oddziaływania między elektronami a dodatnimi jądrami atomowymi. Może to być
Bardziej szczegółowoSpektroskopia modulacyjna
Spektroskopia modulacyjna pozwala na otrzymanie energii przejść optycznych w strukturze z bardzo dużą dokładnością. Charakteryzuje się również wysoką czułością, co pozwala na obserwację słabych przejść,
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6)
LABORATORIUM SPEKTRALNEJ ANALIZY CHEMICZNEJ (L-6) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007 r. Kierownik
Bardziej szczegółowoSKUTECZNOŚĆ IZOLACJI JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI? JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI?
SKUTECZNOŚĆ IZOLACJI Wydajność izolacji- ilość otrzymanego kwasu nukleinowego Efektywność izolacji- jakość otrzymanego kwasu nukleinowego w stosunku do ilości Powtarzalność izolacji- zoptymalizowanie procedury
Bardziej szczegółowoOPTYKA. Leszek Błaszkieiwcz
OPTYKA Leszek Błaszkieiwcz Ojcem optyki jest Witelon (1230-1314) Zjawisko odbicia fal promień odbity normalna promień padający Leszek Błaszkieiwcz Rys. Zjawisko załamania fal normalna promień padający
Bardziej szczegółowoProgram studiów II stopnia dla studentów kierunku chemia od roku akademickiego 2015/16
Program studiów II stopnia dla studentów kierunku chemia od roku akademickiego 2015/16 Semestr 1M Przedmioty minimum programowego na Wydziale Chemii UW L.p. Przedmiot Suma godzin Wykłady Ćwiczenia Prosem.
Bardziej szczegółowoWŁASNOŚCI CIAŁ STAŁYCH I CIECZY
WŁASNOŚCI CIAŁ STAŁYCH I CIECZY Polimery Sieć krystaliczna Napięcie powierzchniowe Dyfuzja 2 BUDOWA CIAŁ STAŁYCH Ciała krystaliczne (kryształy): monokryształy, polikryształy Ciała amorficzne (bezpostaciowe)
Bardziej szczegółowo1.6. Ruch po okręgu. ω =
1.6. Ruch po okręgu W przykładzie z wykładu 1 asteroida poruszała się po okręgu, wartość jej prędkości v=bω była stała, ale ruch odbywał się z przyspieszeniem a = ω 2 r. Przyspieszenie w tym ruchu związane
Bardziej szczegółowoElektryczne własności ciał stałych
Elektryczne własności ciał stałych Do sklasyfikowania różnych materiałów ze względu na ich własności elektryczne trzeba zdefiniować kilka wielkości Oporność właściwa (albo przewodność) ładunek [C] = 1/
Bardziej szczegółowoPrzewodność elektryczna ciał stałych. Elektryczne własności ciał stałych Izolatory, metale i półprzewodniki
Przewodność elektryczna ciał stałych Elektryczne własności ciał stałych Izolatory, metale i półprzewodniki Elektryczne własności ciał stałych Do sklasyfikowania różnych materiałów ze względu na ich własności
Bardziej szczegółowoWłasności magnetyczne materii
Własności magnetyczne materii Dipole magnetyczne Najprostszą strukturą magnetyczną są magnetyczne dipole. Fe 3 O 4 Kompas, Chiny 220 p.n.e Kołowy obwód z prądem dipol magnetyczny! Wartość B w środku kołowego
Bardziej szczegółowoZaburzenia periodyczności sieci krystalicznej
Zaburzenia periodyczności sieci krystalicznej Defekty liniowe dyslokacja krawędziowa dyslokacja śrubowa dyslokacja mieszana Defekty punktowe obcy atom w węźle luka w sieci (defekt Schottky ego) obcy atom
Bardziej szczegółowoWarsztaty metod fizyki teoretycznej Zestaw 1 Mikroskopia sił atomowych (AFM) - opis drgań ostrza
Warsztaty metod fizyki teoretycznej Zestaw 1 Mikroskopia sił atomowych (AFM) - opis drgań ostrza Jan Kaczmarczyk, Szymon Godlewski, Marcin Zagórski 2.1.28 1 Wprowadzenie Mikroskopia sił atomowych (Atomic
Bardziej szczegółowoSpektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni
Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni z Efekt Ramana (1922, CV Raman) I, ν próbka y Chandra Shekhara Venketa Raman x I 0, ν 0 Monochromatyczne promieniowanie o częstości ν 0 ulega rozproszeniu
Bardziej szczegółowoPodstawy krystalografii
Podstawy krystalografii Kryształy Pojęcie kryształu znane było już w starożytności. Nazywano tak ciała o regularnych kształtach i gładkich ścianach. Już wtedy podejrzewano, że te cechy związane są ze szczególną
Bardziej szczegółowoFizykochemiczne metody w kryminalistyce. Wykład 7
Fizykochemiczne metody w kryminalistyce Wykład 7 Stosowane metody badawcze: 1. Klasyczna metoda analityczna jakościowa i ilościowa 2. badania rentgenostrukturalne 3. Badania spektroskopowe 4. Metody chromatograficzne
Bardziej szczegółowoCZUŁOŚĆ CHEMICZNA W MIKROSKOPII SIŁ ATOMOWYCH
CZUŁOŚĆ CHEMICZNA W MIKROSKOPII SIŁ ATOMOWYCH Marek Szymoński Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów (NANOSAM) Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej Uniwersytet Jagielloński
Bardziej szczegółowoZ. Postawa, Fizyka powierzchni i nanostruktury, Kraków
Badanie struktury powierzchni z atomową zdolnością rozdzielczą Emisja polowa i zjawisko tunelowe Mikroskopia polowa Mikroskopia skaningowa Czy elektrony mogą wydostać się ponad powierzchnię? Uproszczony
Bardziej szczegółowoPasmowa teoria przewodnictwa. Anna Pietnoczka
Pasmowa teoria przewodnictwa elektrycznego Anna Pietnoczka Wpływ rodzaju wiązań na przewodność próbki: Wiązanie jonowe - izolatory Wiązanie metaliczne - przewodniki Wiązanie kowalencyjne - półprzewodniki
Bardziej szczegółowo