Skaningowy mikroskop tunelowy STM

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Skaningowy mikroskop tunelowy STM"

Transkrypt

1 Skaningowy mikroskop tunelowy STM

2 Skaningowy mikroskop tunelowy (ang. Scanning Tunneling Microscope; STM) należy do szerszej rodziny mikroskopów ze sondą skanującą. Wykorzystuje on zjawisko tunelowania między atomami sondy, a próbki, które pojawia się na odległości 1nm. Między sondą, a preparatem tworzy się różnica potencjałów na skutek napięcia polaryzującego, a elektrony przeskakują od sondy do próbki lub odwrotnie, w zależności od znaku różnicy potencjałów. Mikroskop tunelowy pozwala uzyskać obraz preparatu w rozdzielczości atomowej.

3 Schemat blokowy STM Głowica sondy skanującej poruszana jest za pomocą maszyn piezoelektrycznych. Podstawowymi ruchami, które trzeba zapewnić sondzie, jest ruch XY odpowiadający szerokości oraz długości próbki. W zależności od trybu pracy mikroskopu, możemy wyróżnić jeszcze ruch Z, który zapewnia odpowiednią odległość igły od badanego materiału. Zazwyczaj sygnał sterujący pracą piezoelektryka realizowany jest z użyciem sprzężenia zwrotnego.

4 Tryby pracy STM: Metoda stałej wysokości Metoda stałej wysokości (ang. constant height mode CHM) igła porusza się na stałej wysokości nad próbką, a aparatura rejestruje wyłącznie zmiany prądu tunelowego. Wadą takiego rozwiązania jest możliwość kolizji igły z próbką, czego wynikiem jest uszkodzenie sondy. Natomiast w przypadku występowania wklęsłości obraz jest niewyraźny, bądź całkowicie zanika.

5 Tryby pracy STM: Metoda stałej odległości Metoda stałego prądu lub metoda stałej odległości (ang. constant current mode CCM, constant gap width mode CGM) igła może oddalać się i przybliżać do próbki. Ustalanie odległości igła-próbka jest przeprowadzane przez odpowiednio szybki układ ujemnego sprzężenia zwrotnego w układzie odległość prąd tunelowy napięcie sterujące wysokością. Prąd tunelowy, po odfiltrowaniu dużych częstotliwości, jest sygnałem wejściowym układu zapewniającego przepływ stałego prądu tunelowego. W układach tych do obrazowania powierzchni próbki wykorzystuje się wielkość prądu tunelowego oraz napięcie sterujące wysokością igły.

6 Tryby pracy STM: STS Najbardziej rozwiniętą metodą jest spektroskopia mikroskopu skaningowego (ang. scanning tunneling spectroscopy STS) w mikroskopie tym, dla danego położenia igły, wyznacza się zależność natężenia prądu od przyłożonego napięcia. Metoda ta umożliwia określenie gęstości stanów elektronów w badanej substancji. Działanie tej metody opiera się na teoretycznej prawidłowości mówiącej, że pochodna natężenia prądu tunelowego po napięciu jest proporcjonalna do gęstości stanów elektronów.

7 Ze względu na wymaganą dokładność ruchu, do napędu głowicy używa się mikromaszyn zbudowanych z piezoelektryków. Zapewniają one przesunięcia rzędu nanometrów oraz także powtarzalność pozycji. W bardziej zaawansowanych układach piezoelektryki wykorzystuje się także w roli czujników pozycji głowicy, dzięki czemu znamy położenie głowicy w każdym momencie jej pracy. Napęd piezoelektryczny

8 Napęd piezoelektryczny

9 Napęd piezoelektryczny

10 System pomiarowy Ze względu na mnogość rozwiązań konstrukcyjnych, możemy wyróżnić wiele typów systemów pomiarowych. Jednym z nich jest system, którego głównymi elementami są skaningowy mikroskop tunelowy Nanosurf easyscan 2 oraz komputer PC z programem easyscan 2, sterujący pracą mikroskopu.

11 System pomiarowy: Głowica Głowica składa się z: Uchwyt ostrza (Tip holder), w którym montuje się ostrze STM. Zatrzask mocujący ostrze STM (Tip clamp). Uchwyt próbki z prowadnicami (Sample holder guide bars), w którym montuje się próbkę. Magnes przytrzymujący próbkę (Sample holder fixing magnet). Piezoelektryczny silnik krokowy (Approach piezo motor) do zmiany odległości pomiędzy próbką a ostrzem STM.

12 System pomiarowy: Kontroler STM Gniazda kontrolera STM: Gniazdo podłączenia głowicy skanującej (Scan head cable connector). Przycisk włączania/wyłączania kontrolera (Power switch). Gniazdo zasilające (Mains power connector). Gniazdo USB (USB input) służące do podłączenia komputera PC. Gniazdo USB (USB outputs) wyjściowe.

13 System pomiarowy: Kontroler STM Lampki kontrolne stanu układu pomiarowego: Lampka kontrolna wysokości ostrza (Probe Status light). Kolor czerwony ostrze jest bardzo blisko próbki. Grozi uszkodzeniem ostrza. Kolor pomarańczowy ostrze jest zbyt daleko od próbki. Prawdopodobnie nie ma jeszcze kontaktu z próbką. Kolor zielony optymalna odległość ostrza od próbki. Można wykonywać pomiary. Kolor zielony mrugający sprzężenie ostrze próbka zostało wyłączone przez oprogramowanie sterujące. Używa się w pomiarach w trybie stałej wysokości. Lampki kontrolne stanu głowicy skanującej (Scan Head lights). Wskazują czy głowica skanująca podłączona jest do kontrolera. Mruganie oznacza, że głowica nie jest podłączona lub program sterujący układem nie został uruchomiony. Lampki kontrolne modułów (Module lights). Wskazują, jakie moduły zostały połączone z kontrolerem. W naszym przypadku moduł STM. Lampki mogą mrugać, gdy program sterujący układem nie został jeszcze uruchomiony.

14 Parametry pracy Tryby pracy Maksymalny obszar skanowania Maksymalna wielkość próbki Maksymalny zakres zmian położenia ostrza w kierunku prostopadłym do powierzchni Rozdzielczość pionowa Rozdzielczość pozioma Prąd tunelowy Napięcie tunelowania tryb stałego prądu, tryb stałej wysokości do 1000 nm 10 mm 200 nm 3.0 pm 7.6 pm na V W zamieszczonej tabeli mamy przedstawione parametry pracy mikroskopu Nanosurf easyscan 2. Jak widać, prądy tunelowe są niezwykle niskie, tak więc w układzie wymagane jest zastosowanie wzmacniaczy prądowych oraz późniejsza obróbka uzyskanych wyników.

15 Problemy związane z wpływem otoczenia Poza zakłóceniami związanymi z trybem pracy mikroskopu oraz koniecznością zastosowania wzmacniaczy prądowych, głównym problemem, który rzutuje na wyniki pomiarów są drgania. Amplituda drgań jest co najmniej stukrotnie większa niż odległości między próbką a ostrzem sądy skanującej. Aby uniknąć uszkodzenia ostrza stosuje się układy tłumiące drgania. Twórcy mikroskopu STM na przykład umieścili go w ołowianej czaszy znajdującej się w niejednorodnym polu magnetycznym. Obecnie popularnymi rozwiązaniami jest stosowanie zaawansowanych układów antywibracyjnych lub umieszczenie mikroskopu na płytach marmurowych. Źródłami drgań są ruch samochodowy, kroki czy nawet hałas.

16 Specjalne zastosowanie STM Poza obrazowaniem struktury atomowej i profilu powierzchni skanowanej próbki, skaningowy mikroskop tunelowy znajduje też inne zastosowania. Eksperymenty z mikroskopem STM doprowadziły do ważnego odkrycia. Jeżeli do igły przyłoży się większe napięcie niż przy skanowaniu, to może ona oderwać pojedynczy atom z powierzchni próbki i przełożyć go w inne miejsce. W ten sposób możliwa jest obróbka materiału na poziomie atomowym. Mikroskop STM stał się pierwszym prawdziwym narzędziem nanotechnologii. Uzyskując zależność prądu tunelowego od napięcia polaryzacji ostrze-próbka, można wiele powiedzieć o lokalnych własnościach elektronowych powierzchni próbki, przykładowo można wyznaczyć lokalną gęstość stanów, która pomaga zrozumieć wiele zjawisk powierzchniowych, takich jak adhezja, kohezja, tarcie i wiele zjawisk biologicznych. Skonstruowanie skaningowego mikroskopu tunelowego dało początek nowej metodzie badawczej nazwanej skaningową spektroskopią tunelową.

17 Wyniki pomiarów: Grafit

18 Wyniki pomiarów: Molekuły DNA

19 Wyniki pomiarów STM homemade : HOPG Platyna

Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy)

Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) Spis treści 1 Historia 2 Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) 2.1 Skaningowy mikroskop tunelowy (STM od ang. Scanning Tunneling Microscope) 2.1.1 Uzyskiwanie obrazu metodą

Bardziej szczegółowo

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy

Bardziej szczegółowo

Skaningowy mikroskop tunelowy

Skaningowy mikroskop tunelowy Skaningowy mikroskop tunelowy Mariusz Krawiec Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie studenta ze skaningową mikroskopią tunelową, techniką pozwalającą na określenie topografii i struktury powierzchni

Bardziej szczegółowo

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym

Bardziej szczegółowo

Podstawy fizyki wykład 2

Podstawy fizyki wykład 2 D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,

Bardziej szczegółowo

Wykład 21: Studnie i bariery cz.2.

Wykład 21: Studnie i bariery cz.2. Wykład 21: Studnie i bariery cz.2. Dr inż. Zbigniew Szklarski Katedra Elektroniki, paw. C-1, pok.321 szkla@agh.edu.pl http://layer.uci.agh.edu.pl/z.szklarski/ 1 Przykłady tunelowania: rozpad alfa, synteza

Bardziej szczegółowo

Oglądanie świata w nanoskali mikroskop STM

Oglądanie świata w nanoskali mikroskop STM FOTON 112, Wiosna 2011 23 Oglądanie świata w nanoskali mikroskop STM Szymon Godlewski Instytut Fizyki UJ Od zarania dziejów człowiek przejawiał wielką ciekawość otaczającego go świata. Prowadził obserwacje

Bardziej szczegółowo

O manipulacji w nanoskali

O manipulacji w nanoskali FOTON 113, Lato 2011 23 O manipulacji w nanoskali Szymon Godlewski Instytut Fizyki UJ Skonstruowany w 1981 roku przez dwóch pracowników IBM Gerda Binniga i Heinricha Rohrera skaningowy mikroskop tunelowy

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

Laboratorium nanotechnologii

Laboratorium nanotechnologii Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury

Bardziej szczegółowo

PROJEKT STUDENCKIEGO SKANINGOWEGO MIKROSKOPU TUNELOWEGO

PROJEKT STUDENCKIEGO SKANINGOWEGO MIKROSKOPU TUNELOWEGO Słowa kluczowe: mikroskop, ostrze, prąd tunelowy, próbka Łukasz Bednarz Sebastian Bednarz PROJEKT STUDENCKIEGO SKANINGOWEGO MIKROSKOPU TUNELOWEGO Skaningowy mikroskop tunelowy (STM) jest urządzeniem o

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Bardziej szczegółowo

M2 Mikroskopia sił atomowych: badanie nanostruktur.

M2 Mikroskopia sił atomowych: badanie nanostruktur. M2 Mikroskopia sił atomowych: badanie nanostruktur. Celem ćwiczenia jest poznanie mikroskopii sił atomowych i zbadanie otrzymanych próbek. Wymagane zagadnienia Podstawy fizyczne mikroskopii sił atomowych:

Bardziej szczegółowo

Mikroskop tunelowy skaningowy Scaning tuneling microscopy (STM)

Mikroskop tunelowy skaningowy Scaning tuneling microscopy (STM) Mikroskop tunelowy skaningowy Scaning tuneling microscopy (STM) Zasada działania Historia odkryć Zastosowane rozwiązania Przykłady zastosowania Bolesław AUGUSTYNIAK Zasada działania mikroskopu skanującego

Bardziej szczegółowo

1 k. AFM: tryb bezkontaktowy

1 k. AFM: tryb bezkontaktowy AFM: tryb bezkontaktowy Ramię igły wprowadzane w drgania o małej amplitudzie (rzędu 10 nm) Pomiar zmian amplitudy drgań pod wpływem sił (na ogół przyciągających) Zbliżanie igły do próbki aż do osiągnięcia

Bardziej szczegółowo

M1/M3 Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do badania nanostruktur

M1/M3 Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do badania nanostruktur M1/M3 Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do badania nanostruktur Prowadzący: Kontakt e-mail: Rafał Bożek rafal.bozek@fuw.edu.pl Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zasadami mikroskopii sił atomowych

Bardziej szczegółowo

Mikroskopie skaningowe

Mikroskopie skaningowe SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopie skaningowe (SPM- Sharp Probe Microscopy) Mikroskopy skanujące 1. Efekt tunelowania (STM). Stały prąd, stała wysokość. 2. Oddziaływania sił atomowych(afm). W kontakcie,

Bardziej szczegółowo

Efekt Halla. Cel ćwiczenia. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Halla. Siła Loretza

Efekt Halla. Cel ćwiczenia. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Halla. Siła Loretza Efekt Halla Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Halla. Wstęp Siła Loretza Na ładunek elektryczny poruszający się w polu magnetycznym w kierunku prostopadłym do linii pola magnetycznego działa

Bardziej szczegółowo

Badanie powierzchni materiałów z za pomocą skaningowej mikroskopii sił atomowych (AFM)

Badanie powierzchni materiałów z za pomocą skaningowej mikroskopii sił atomowych (AFM) 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z techniką obrazowania powierzchni za pomocą skaningowego mikroskopu sił atomowych (AFM). Badanie powierzchni materiałów z za pomocą skaningowej mikroskopii

Bardziej szczegółowo

Mikroskop sił atomowych (AFM)

Mikroskop sił atomowych (AFM) Mikroskop sił atomowych (AFM) 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope AFM) został skonstruowany w 1986 r. w laboratorium IBM w Zurichu (Binnig G., Quate C.F., Gerber C., Phys.

Bardziej szczegółowo

Mikroskop sił atomowych

Mikroskop sił atomowych Mikroskop sił atomowych AFM: jak to działa? Krzysztof Zieleniewski Proseminarium ZFCS, 5 listopada 2009 Plan seminarium Łyczek historii Możliwości mikroskopu Budowa mikroskopu na Pasteura Podstawowe mody

Bardziej szczegółowo

Badanie strutury powierzchni z atomową zdolnością rozdzielczą. Powierzchnia jak ją zdefiniować?

Badanie strutury powierzchni z atomową zdolnością rozdzielczą. Powierzchnia jak ją zdefiniować? Badanie strutury powierzchni z atomową zdolnością rozdzielczą Powierzchnia jak ją zdefiniować? Obszar kryształu, dla którego nie da się zastosować trójwymiarowych równań opisujących własności wnętrza.

Bardziej szczegółowo

Ile wynosi całkowite natężenie prądu i całkowita oporność przy połączeniu równoległym?

Ile wynosi całkowite natężenie prądu i całkowita oporność przy połączeniu równoległym? Domowe urządzenia elektryczne są często łączone równolegle, dzięki temu każde tworzy osobny obwód z tym samym źródłem napięcia. Na podstawie poszczególnych rezystancji, można przewidzieć całkowite natężenie

Bardziej szczegółowo

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: . (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)

Mikroskopia Sił Atomowych (AFM) Narzędzia dla nanotechnologii Mikroskopia Sił Atomowych (AFM) Tomasz Kruk* Wprowadzenie Wśród wielu urządzeń kojarzonych z nanotechnologią żadne nie jest tak dobrze rozpoznawalne i proste w założeniu swojej

Bardziej szczegółowo

Badanie własności hallotronu, wyznaczenie stałej Halla (E2)

Badanie własności hallotronu, wyznaczenie stałej Halla (E2) Badanie własności hallotronu, wyznaczenie stałej Halla (E2) 1. Wymagane zagadnienia - ruch ładunku w polu magnetycznym, siła Lorentza, pole elektryczne - omówić zjawisko Halla, wyprowadzić wzór na napięcie

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia polowa. Efekt tunelowy Historia odkryć Uwagi o tunelowaniu Zastosowane rozwiązania. Bolesław AUGUSTYNIAK

Mikroskopia polowa. Efekt tunelowy Historia odkryć Uwagi o tunelowaniu Zastosowane rozwiązania. Bolesław AUGUSTYNIAK Mikroskopia polowa Efekt tunelowy Historia odkryć Uwagi o tunelowaniu Zastosowane rozwiązania Bolesław AUGUSTYNIAK Efekt tunelowy Efekt kwantowy, którym tłumaczy się przenikanie elektronu w sposób niezgodny

Bardziej szczegółowo

Zjawisko Halla Referujący: Tomasz Winiarski

Zjawisko Halla Referujący: Tomasz Winiarski Plan referatu Zjawisko Halla Referujący: Tomasz Winiarski 1. Podstawowe definicje ffl wektory: E, B, ffl nośniki ładunku: elektrony i dziury, ffl podział ciał stałych ze względu na własności elektryczne:

Bardziej szczegółowo

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7

Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej

Bardziej szczegółowo

SPECYFIKACJA TECHNICZNA

SPECYFIKACJA TECHNICZNA Załącznik Nr 10 SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup, dostawa i instalacją dwóch sztuk zestawów elektrochemicznych, stanowiących wyposażenie laboratoryjne dla potrzeb Katolickiego Uniwersytetu Lubelskiego w Stalowej

Bardziej szczegółowo

Nanoskopowe metody charakteryzacji materiałów. Obrazek: Helsinki University of Technology tfy.tkk.fi/sin/research/

Nanoskopowe metody charakteryzacji materiałów. Obrazek: Helsinki University of Technology tfy.tkk.fi/sin/research/ Nanoskopowe metody charakteryzacji materiałów Obrazek: Helsinki University of Technology tfy.tkk.fi/sin/research/ STM i AFM: podstawy konstrukcji STM AFM Scanning tunelling microscope (STM) Heinrich Rohrer

Bardziej szczegółowo

Podstawy użytkowania i pomiarów za pomocą MULTIMETRU

Podstawy użytkowania i pomiarów za pomocą MULTIMETRU Podstawy użytkowania i pomiarów za pomocą MULTIMETRU Spis treści Informacje podstawowe...2 Pomiar napięcia...3 Pomiar prądu...5 Pomiar rezystancji...6 Pomiar pojemności...6 Wartość skuteczna i średnia...7

Bardziej szczegółowo

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały

Bardziej szczegółowo

Uniwersytet Łódzki, Wydział Chemii Katedra Chemii Nieorganicznej i Analitycznej Zakład Elektroanalizy i Elektrochemii Łódź, ul.

Uniwersytet Łódzki, Wydział Chemii Katedra Chemii Nieorganicznej i Analitycznej Zakład Elektroanalizy i Elektrochemii Łódź, ul. Uniwersytet Łódzki, Wydział Chemii 91-403 Łódź, ul. Tamka 12 Andrzej Leniart Akademia Ciekawej Chemii 11 czerwiec 2014 r. Z czego zbudowana jest materia? Demokryt z Abdery (ur. ok. 460 p.n.e., zm. ok.

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-07-20 SZ-222-20/12/6/6/2012/2713 Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż

Bardziej szczegółowo

Badanie charakterystyki prądowo-napięciowej opornika, żarówki i diody półprzewodnikowej z wykorzystaniem zestawu SONDa

Badanie charakterystyki prądowo-napięciowej opornika, żarówki i diody półprzewodnikowej z wykorzystaniem zestawu SONDa Badanie charakterystyki prądowo-napięciowej opornika, żarówki i diody półprzewodnikowej z wykorzystaniem zestawu SONDa Celem doświadczenia jest wyznaczenie charakterystyk prądowo-napięciowych oraz zależności

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE

Ćwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE Politechnika Łódzka Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych 90-924 Łódź, ul. Wólczańska 221/223, bud. B18 tel. 42 631 26 28 faks 42 636 03 27 e-mail secretary@dmcs.p.lodz.pl http://www.dmcs.p.lodz.pl

Bardziej szczegółowo

Termometr cyfrowy. Model DM-300. Instrukcja obsługi

Termometr cyfrowy. Model DM-300. Instrukcja obsługi Termometr cyfrowy Model DM-300 Instrukcja obsługi Wszelkie kopiowanie, odtwarzanie i rozpowszechnianie niniejszej instrukcji wymaga pisemnej zgody firmy Transfer Multisort Elektronik. Wstęp Urządzenie

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu

Wyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu Imię i Nazwisko... Wyznaczanie prędkości dźwięku w powietrzu Opracowanie: Piotr Wróbel 1. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest wyznaczenie prędkości dźwięku w powietrzu, metodą różnicy czasu przelotu. Drgania

Bardziej szczegółowo

Narodowe Centrum Badań Jądrowych Dział Edukacji i Szkoleń ul. Andrzeja Sołtana 7, Otwock-Świerk. Imię i nazwisko:... Imię i nazwisko:...

Narodowe Centrum Badań Jądrowych Dział Edukacji i Szkoleń ul. Andrzeja Sołtana 7, Otwock-Świerk. Imię i nazwisko:... Imię i nazwisko:... Narodowe Centrum Badań Jądrowych Dział Edukacji i Szkoleń ul. Andrzeja Sołtana 7, 05-400 Otwock-Świerk ĆWICZENIE 4 L A B O R A T O R I U M F I Z Y K I A T O M O W E J I J Ą D R O W E J Dobór optymalnego

Bardziej szczegółowo

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II

Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych II Wydział: EAIiE Kierunek: Imię i nazwisko (e mail): Rok:. (../..) Grupa: Zespół: Data wykonania: Zaliczenie: Podpis prowadzącego: Uwagi: LABORATORIUM METROLOGII Ćw. 18: Pomiary wielkości nieelektrycznych

Bardziej szczegółowo

Wykład Budowa atomu 2

Wykład Budowa atomu 2 Wykład 7.12.2016 Budowa atomu 2 O atomach cd Model Bohra podsumowanie Serie widmowe O czym nie mówi model Bohra Wzbudzenie, emisja, absorpcja O liniach widmowych Kwantowomechaniczny model atomu sformułowanie

Bardziej szczegółowo

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań

Bardziej szczegółowo

Liniowe układy scalone w technice cyfrowej

Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Liniowe układy scalone w technice cyfrowej Wykład 6 Zastosowania wzmacniaczy operacyjnych: konwertery prąd-napięcie i napięcie-prąd, źródła prądowe i napięciowe, przesuwnik fazowy Konwerter prąd-napięcie

Bardziej szczegółowo

EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY

EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY ĆWICZENIE 91 EFEKT FOTOELEKTRYCZNY ZEWNĘTRZNY Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów 1. Monochromator 5. Zasilacz stabilizowany oświetlacza. Oświetlacz 6. Zasilacz fotokomórki 3. Woltomierz napięcia

Bardziej szczegółowo

Sterownik lasera. Instrukcja obsługi. Copyright by Barion

Sterownik lasera. Instrukcja obsługi. Copyright by Barion 2015 Sterownik lasera Instrukcja obsługi www.barion-st.com 2015-05-12 2 SPIS TREŚCI 1. WSTĘP... 3 1.1 Czym jest Sterownik Lasera... 3 1.2 Budowa oraz parametry techniczne... 3 1.3 Schemat... 4 2. OBSŁUGA

Bardziej szczegółowo

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych

Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych W ramach ćwiczenia student poznaje praktyczne właściwości elementów półprzewodnikowych stosowanych w elektronice przez badanie charakterystyk diody oraz

Bardziej szczegółowo

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Załącznik nr 2 do SIWZ OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 pn.: Dostawa i instalacja fabrycznie nowego (nieużywanego) Profilometru mechanicznego wraz z przeszkoleniem Personelu Zamawiającego Przedmiotem

Bardziej szczegółowo

Zestaw 1 1. Rodzaje ruchu punktu materialnego i metody ich opisu. 2. Mikrokontrolery architektura, zastosowania. 3. Silniki krokowe budowa, zasada działania, sterowanie pracą. Zestaw 2 1. Na czym polega

Bardziej szczegółowo

DIAGNOSTYKA MASZYN POMIARY

DIAGNOSTYKA MASZYN POMIARY DIAGNOSTYKA MASZYN POMIARY dr inż. Robert Barański D1, pok. 207 robertb@agh.edu.pl http://home.agh.edu.pl/~robertb/ Diagnostyka techniczna Zajmuje się oceną stanu technicznego maszyny lub urządzenia technicznego

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Półprzewodniki, Dielektryki i Magnetyki

Laboratorium Półprzewodniki, Dielektryki i Magnetyki Laboratorium Półprzewodniki, Dielektryki i Magnetyki Ćwiczenie 5 Badanie odwrotnego efektu piezoelektrycznego Zagadnienia do przygotowania 1. Elektrostrykcja i odwrotny efekt piezoelektryczny 2. Podstawowe

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 28. Badanie oscyloskopu analogowego

Ćwiczenie nr 28. Badanie oscyloskopu analogowego Ćwiczenie nr 28 Badanie oscyloskopu analogowego 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie budowy i zasady działania oraz nabycie umiejętności posługiwania się oscyloskopem analogowym. 2. Dane znamionowe

Bardziej szczegółowo

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.

Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. ĆWICZENIE 5 Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. I. Cel ćwiczenia Badanie właściwości dynamicznych wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Na rys. 3.1 przedstawiono widok wykorzystywanego w ćwiczeniu stanowiska pomiarowego do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach

Bardziej szczegółowo

Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych

Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych Instytut Fizyki ul Wielkopolska 15 70-451 Szczecin 5 Pracownia Elektroniki Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: wzmacniacz operacyjny,

Bardziej szczegółowo

EMISJA POLOWA. przechwytywania obrazów wideo FAST Capture i kartą video AVMaster Video v.2.5. FAST Multimedia (wewnątrz komputera);

EMISJA POLOWA. przechwytywania obrazów wideo FAST Capture i kartą video AVMaster Video v.2.5. FAST Multimedia (wewnątrz komputera); EMISJA POLOWA 1. Zagadnienia teoretyczne Elektronowa teoria budowy metali, rodzaje emisji elektronów, emisja polowa, praca wyjścia i metody jej wyznaczania, mikroskop polowy budowa i zasada działania,

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-08-03 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

1. Przeznaczenie testera.

1. Przeznaczenie testera. 1. Przeznaczenie testera. Q- tester jest przeznaczony do badania kwarcowych analogowych i cyfrowych zegarków i zegarów. Q- tester służy do mierzenia odchyłki dobowej (s/d), odchyłki miesięcznej (s/m),

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie

Bardziej szczegółowo

Badanie efektu Dopplera metodą fali ultradźwiękowej

Badanie efektu Dopplera metodą fali ultradźwiękowej Badanie efektu Dopplera metodą fali ultradźwiękowej Cele eksperymentu 1. Pomiar zmiany częstotliwości postrzeganej przez obserwatora w spoczynku w funkcji prędkości v źródła fali ultradźwiękowej. 2. Potwierdzenie

Bardziej szczegółowo

Urządzenia półprzewodnikowe

Urządzenia półprzewodnikowe Urządzenia półprzewodnikowe Diody: - prostownicza - Zenera - pojemnościowa - Schottky'ego - tunelowa - elektroluminescencyjna - LED - fotodioda półprzewodnikowa Tranzystory - tranzystor bipolarny - tranzystor

Bardziej szczegółowo

Budowa. Metoda wytwarzania

Budowa. Metoda wytwarzania Budowa Tranzystor JFET (zwany też PNFET) zbudowany jest z płytki z jednego typu półprzewodnika (p lub n), która stanowi tzw. kanał. Na jego końcach znajdują się styki źródła (ang. source - S) i drenu (ang.

Bardziej szczegółowo

Kamil Zalewski, Wojciech Nath, Marcin Ewiak, Grzegorz Gabryel

Kamil Zalewski, Wojciech Nath, Marcin Ewiak, Grzegorz Gabryel Kamil Zalewski, Wojciech Nath, Marcin Ewiak, Grzegorz Gabryel Ogólny opis mikroskopów Wstęp do idei mikroskopów skanujących Rodziny mikroskopów skanujących Ogólna zasada działania mikroskopów AFM i STM

Bardziej szczegółowo

Modem radiowy MR10-GATEWAY-S

Modem radiowy MR10-GATEWAY-S Modem radiowy MR10-GATEWAY-S - instrukcja obsługi - (dokumentacja techniczno-ruchowa) Spis treści 1. Wstęp 2. Budowa modemu 3. Parametry techniczne 4. Parametry konfigurowalne 5. Antena 6. Dioda sygnalizacyjna

Bardziej szczegółowo

Instrukcja obsługi sterownika TB6560-3v2 oraz programu Mach3

Instrukcja obsługi sterownika TB6560-3v2 oraz programu Mach3 Instrukcja obsługi sterownika TB6560-3v2 oraz programu Mach3 Podłączenie silników i zasilania do płytki Schemat 1 1.Silniki Układ obsługuje tylko cztero-przewodowe bipolarne silniki krokowe. Jeżeli posiadasz

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat. PL 216395 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216395 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 384627 (51) Int.Cl. G01N 27/00 (2006.01) H01L 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

Wyjścia analogowe w sterownikach, regulatorach

Wyjścia analogowe w sterownikach, regulatorach Wyjścia analogowe w sterownikach, regulatorach 1 Sygnały wejściowe/wyjściowe w sterowniku PLC Izolacja galwaniczna obwodów sterownika Zasilanie sterownika Elementy sygnalizacyjne Wejścia logiczne (dwustanowe)

Bardziej szczegółowo

Miernik poziomu cieczy MPC-1

Miernik poziomu cieczy MPC-1 - instrukcja obsługi - (dokumentacja techniczno-ruchowa) Spis treści 1. Przeznaczenie 2. Budowa 3. Zasada działania 4. Dane techniczne 5. Sterowanie i programowanie 6. Oznaczenie i zamawianie 7. Zamocowanie

Bardziej szczegółowo

str. 1 d. elektron oraz dziura e.

str. 1 d. elektron oraz dziura e. 1. Półprzewodniki samoistne a. Niska temperatura b. Wzrost temperatury c. d. elektron oraz dziura e. f. zjawisko fotoelektryczne wewnętrzne g. Krzem i german 2. Półprzewodniki domieszkowe a. W półprzewodnikach

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 5 Badanie sensorów piezoelektrycznych

Ćwiczenie 5 Badanie sensorów piezoelektrycznych Ćwiczenie 5 Badanie sensorów piezoelektrycznych 1. Cel ćwiczenia Poznanie podstawowych układów pracy sensorów piezoelektrycznych jako przetworników wielkości mechanicznych na elektryczne. Doświadczalne

Bardziej szczegółowo

Co się stanie, gdy połączymy szeregowo dwie żarówki?

Co się stanie, gdy połączymy szeregowo dwie żarówki? Różne elementy układu elektrycznego można łączyć szeregowo. Z wartości poszczególnych oporów, można wyznaczyć oporność całkowitą oraz całkowite natężenie prądu. Zadania 1. Połącz szeregowo dwie identyczne

Bardziej szczegółowo

Materiały pomocnicze do ćwiczeń laboratoryjnych

Materiały pomocnicze do ćwiczeń laboratoryjnych Materiały pomocnicze do ćwiczeń laboratoryjnych Badanie napędów elektrycznych z luzownikami w robocie Kawasaki FA006E wersja próbna Literatura uzupełniająca do ćwiczenia: 1. Cegielski P. Elementy programowania

Bardziej szczegółowo

Przetwornik temperatury RT-01

Przetwornik temperatury RT-01 Przetwornik temperatury RT-01 Wydanie LS 13/01 Opis Głowicowy przetwornik temperatury programowalny za pomoca PC przetwarzający sygnał z czujnika Pt100 na skalowalny analogowy sygnał wyjściowy 4 20 ma.

Bardziej szczegółowo

Układy i Systemy Elektromedyczne

Układy i Systemy Elektromedyczne UiSE - laboratorium Układy i Systemy Elektromedyczne Laboratorium 2 Elektroniczny stetoskop - głowica i przewód akustyczny. Opracował: dr inż. Jakub Żmigrodzki Zakład Inżynierii Biomedycznej, Instytut

Bardziej szczegółowo

OBSŁUGA OSCYLOSKOPU. I. Cel ćwiczenia: Poznanie budowy, zasady działania, obsługi oraz podstawowych zastosowań oscyloskopu.

OBSŁUGA OSCYLOSKOPU. I. Cel ćwiczenia: Poznanie budowy, zasady działania, obsługi oraz podstawowych zastosowań oscyloskopu. Zespół Szkół Technicznych w Skarżysku-Kamiennej Sprawozdanie z ćwiczenia nr Temat ćwiczenia: PRACOWNIA ELEKTRYCZNA I ELEKTRONICZNA imię i nazwisko OBSŁGA OSCYLOSKOP rok szkolny klasa grupa data wykonania

Bardziej szczegółowo

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach

Bardziej szczegółowo

Enkoder z silnika HDD lub FDD

Enkoder z silnika HDD lub FDD Enkoder z silnika HDD lub FDD 1 Do zaprojektowania i skonstruowania enkodera, jak to zazwyczaj bywa, zachęciła mnie dostępność starych napędów FDD i HDD. Do tego typu zastosowań doskonale nadają się silniki

Bardziej szczegółowo

Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition

Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition DATA SHEETS & OPKO http://www.optel.pl email: optel@optel.pl Przedsiębiorstwo Badawczo-Produkcyjne OPTEL Spółka z o.o. ul. Otwarta

Bardziej szczegółowo

Moduł CON014. Wersja na szynę 35mm. Przeznaczenie. Użyteczne właściwości modułu

Moduł CON014. Wersja na szynę 35mm. Przeznaczenie. Użyteczne właściwości modułu Moduł CON014 Wersja na szynę 35mm RS232 RS485 Pełna separacja galwaniczna 3.5kV. Zabezpiecza komputer przed napięciem 220V podłączonym od strony interfejsu RS485 Kontrolki LED stanu wejść i wyjść na

Bardziej szczegółowo

Frezarka serii HY-TB3 trzyosiowa Instrukcja obsługi

Frezarka serii HY-TB3 trzyosiowa Instrukcja obsługi Frezarka serii HY-TB3 trzyosiowa Instrukcja obsługi 1 S t r o n a Spis treści: Dane techniczne: 3 Funkcje dodatkowe: 4 Podłączenie interfejsu: 4 Praca maszyny: 5 Opis panelu sterującego maszyny: 5 Opis

Bardziej szczegółowo

MIERNIK ROZPŁYWU PRĄDU MRP ZA1110/B

MIERNIK ROZPŁYWU PRĄDU MRP ZA1110/B Z a k ł a d A u t o m a t y k i 40-736 Katowice, ul. Huculska 2/3 tel./fax. (32) 2524480, kom. 0605 746 323 za@katowice.internetdsl.pl www.za.katowice.internetdsl.pl MIERNIK ROZPŁYWU PRĄDU MRP ZA1110/B

Bardziej szczegółowo

ZASADA DZIAŁANIA miernika V-640

ZASADA DZIAŁANIA miernika V-640 ZASADA DZIAŁANIA miernika V-640 Zasadniczą częścią przyrządu jest wzmacniacz napięcia mierzonego. Jest to układ o wzmocnieniu bezpośred nim, o dużym współczynniku wzmocnienia i dużej rezystancji wejściowej,

Bardziej szczegółowo

Temat /6/: DYNAMIKA UKŁADÓW HYDRAULICZNYCH. WIADOMOŚCI PODSTAWOWE.

Temat /6/: DYNAMIKA UKŁADÓW HYDRAULICZNYCH. WIADOMOŚCI PODSTAWOWE. 1 Temat /6/: DYNAMIKA UKŁADÓW HYDRAULICZNYCH. WIADOMOŚCI PODSTAWOWE. Celem ćwiczenia jest doświadczalne określenie wskaźników charakteryzujących właściwości dynamiczne hydraulicznych układów sterujących

Bardziej szczegółowo

Czujniki i Przetworniki

Czujniki i Przetworniki Wydział Elektryczny, Katedra Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Laboratorium Przetwarzania i Analizy Sygnałów Elektrycznych (bud A5, sala 310) Instrukcja dla studentów kierunku Automatyka i Robotyka

Bardziej szczegółowo

Frezarka serii HY-TB4 czteroosiowa Instrukcja obsługi

Frezarka serii HY-TB4 czteroosiowa Instrukcja obsługi Frezarka serii HY-TB4 czteroosiowa Instrukcja obsługi Tombit, Strona 1 Spis treści: Dane techniczne: 3 Funkcje dodatkowe: 4 Podłączenie interfejsu: 5 Praca maszyny: 6 Opis panelu sterującego maszyny: 6

Bardziej szczegółowo

Konstrukcja i testy piezoelektrycznego systemu zadawania siły.

Konstrukcja i testy piezoelektrycznego systemu zadawania siły. Konstrukcja i testy piezoelektrycznego systemu zadawania siły. Kierownik projektu (stopień/tytuł, imię, nazwisko, e-mail): Imię i nazwisko: dr inż. Dariusz Jarząbek e-mail: djarz@ippt.pan.pl Sprawozdanie

Bardziej szczegółowo

Sensory i systemy pomiarowe Prezentacja Projektu SYNERIFT. Michał Stempkowski Tomasz Tworek AiR semestr letni 2013-2014

Sensory i systemy pomiarowe Prezentacja Projektu SYNERIFT. Michał Stempkowski Tomasz Tworek AiR semestr letni 2013-2014 Sensory i systemy pomiarowe Prezentacja Projektu SYNERIFT Michał Stempkowski Tomasz Tworek AiR semestr letni 2013-2014 SYNERIFT Tylne koła napędzane silnikiem spalinowym (2T typu pocket bike ) Przednie

Bardziej szczegółowo

Instrukcja obsługi. UniSonic_S. ultradźwiękowy przetwornik poziomu

Instrukcja obsługi. UniSonic_S. ultradźwiękowy przetwornik poziomu Instrukcja obsługi 1 2 Spis treści 1. Deklaracja zgodności WE...4 2. Wstęp...5 3. Dane techniczne...6 3.1 Sonda ultradźwiękowa...6 3.2 Zasilanie...6 4. Wymiary...7 4.1 Sonda ultradźwiękowa...7 4.2 Przykładowy

Bardziej szczegółowo

Przed instalacją należy zainstalować dostarczone sterowniki USB, następnie zainstalować oprogramowanie PC z dostarczonego nośnika.

Przed instalacją należy zainstalować dostarczone sterowniki USB, następnie zainstalować oprogramowanie PC z dostarczonego nośnika. TESTER ALTERNATORÓW Tester służy do sprawdzania wydajności alternatorów samochodowych. Test przeprowadza się obciążając alternator maksymalnym prądem dla danego typu alternatora, obserwując jednocześnie

Bardziej szczegółowo

Modem radiowy MR10-NODE-S

Modem radiowy MR10-NODE-S Modem radiowy MR10-NODE-S - instrukcja obsługi - (dokumentacja techniczno-ruchowa) Spis treści 1. Wstęp 2. Wygląd urządzenia 3. Parametry techniczne 4. Parametry konfigurowalne 5. Antena 6. Dioda sygnalizacyjna

Bardziej szczegółowo

PRACA PRZEJŚCIOWA SYMULACYJNA. Zadania projektowe

PRACA PRZEJŚCIOWA SYMULACYJNA. Zadania projektowe Katedra Mechaniki i Podstaw Konstrukcji Maszyn POLITECHNIKA OPOLSKA PRACA PRZEJŚCIOWA SYMULACYJNA Zadania projektowe dr inż. Roland PAWLICZEK Praca przejściowa symulacyjna 1 Układ pracy 1. Strona tytułowa

Bardziej szczegółowo

MOŻLIWOŚCI DIAGNOSTYKI WYŁADOWAŃ NIEZUPEŁNYCH POPRZEZ POMIAR ICH PROMIENIOWANIA ULTRAFIOLETOWEGO

MOŻLIWOŚCI DIAGNOSTYKI WYŁADOWAŃ NIEZUPEŁNYCH POPRZEZ POMIAR ICH PROMIENIOWANIA ULTRAFIOLETOWEGO MOŻLIWOŚCI DIAGNOSTYKI WYŁADOWAŃ NIEZUPEŁNYCH POPRZEZ POMIAR ICH PROMIENIOWANIA ULTRAFIOLETOWEGO Autorzy: Jerzy Skubis, Michał Kozioł Toruń, 2019 CEL I ZAKRES BADAŃ Podjęta tematyka badawcza ma na celu

Bardziej szczegółowo

AFM. Mikroskopia sił atomowych

AFM. Mikroskopia sił atomowych AFM Mikroskopia sił atomowych Siły van der Waalsa F(r) V ( r) = c 1 r 1 12 c 2 r 1 6 Siły van der Waalsa Mod kontaktowy Tryby pracy AFM związane z zależnością oddziaływania próbka ostrze od odległości

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA OBSŁUGI MIERNIKA POZIOMU SYGNAŁU. Wersja 1.1

INSTRUKCJA OBSŁUGI MIERNIKA POZIOMU SYGNAŁU. Wersja 1.1 INSTRUKCJA OBSŁUGI MIERNIKA POZIOMU SYGNAŁU Wersja 1.1 WAŻNA UWAGA Jeśli miernik zamarzł lub w wyniku wadliwej pracy wyświetla pomiary nieprawidłowo, należy go ponownie uruchomić, postępując następująco:

Bardziej szczegółowo

Piezoelektryki. Jakub Curie

Piezoelektryki. Jakub Curie Piezoelektryki Ryszard J. Barczyński, 2011 Politechnika Gdańska, Wydział FTiMS, Katedra Fizyki Ciała Stałego Materiały dydaktyczne do użytku wewnętrznego Piezoelektryki Jakub Curie Piotr Curie W 1880 Piotr

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA OBSŁUGI. Przemysłowy Switch Ethernetowy 10SC portów 10/100 Mb/s. Niezarządzalny. Montaż na szynie DIN

INSTRUKCJA OBSŁUGI.   Przemysłowy Switch Ethernetowy 10SC portów 10/100 Mb/s. Niezarządzalny. Montaż na szynie DIN Przemysłowy Switch Ethernetowy 10SC0601 6 portów 10/100 Mb/s Niezarządzalny Montaż na szynie DIN Możliwość stackowania Metalowa obudowa Temperatura pracy 0 60oC Zasilanie 24VDC INSTRUKCJA OBSŁUGI v. 20180216

Bardziej szczegółowo

ELEKTROTECHNIKA. Zadanie 1. Zadanie 2. Zadanie 3. Urządzenie elektryczne, którego symbol przedstawia poniższy rysunek:

ELEKTROTECHNIKA. Zadanie 1. Zadanie 2. Zadanie 3. Urządzenie elektryczne, którego symbol przedstawia poniższy rysunek: ELEKTROTECHNIKA Zadanie 1 Urządzenie elektryczne, którego symbol przedstawia poniższy rysunek: A) zwiększa moc B) zmniejsza wartość napięcia wyjściowego w stosunku do wartości napięcia wejściowego C) zmienia

Bardziej szczegółowo

Kacper Kulczycki. Krótko o silnikach krokowych (cz. 2.)

Kacper Kulczycki. Krótko o silnikach krokowych (cz. 2.) Kacper Kulczycki Krótko o silnikach krokowych (cz. 2.) Plan na dziś: Co to jest? Jakie są rodzaje silników krokowych? Ile z tym zabawy? Gdzie szukać informacji? Co to jest silnik krokowy? Norma PN 87/E

Bardziej szczegółowo

Elementy pomiaru AFM

Elementy pomiaru AFM Elementy pomiaru AFM - Dobór właściwej metody i konfiguracji mikroskopu - Przygotowanie i zamocowanie próbki - Dobranie i zamocowanie igły - Regulacja i ustawienie parametrów pracy: Regulacja pozycji fotodiody

Bardziej szczegółowo