WARSZAWA LIX Zeszyt 257

Wielkość: px

Rozpocząć pokaz od strony:

Download "WARSZAWA LIX Zeszyt 257"

Amalia Rutkowska
7 lat temu
Przeglądów:

1 WARSZAWA LIX Zeszyt 257

2 SPIS TRE CI STRESZCZENIE... 9 WYKAZ SKRÓTÓW WPROWADZENIE MIKROSKOPIA SI ATOMOWYCH PODSTAWY Podstawy oddzia ywa ostrze próbka Modele fizyczne oddzia ywa ostrze próbka Sondy skanuj ce jako detektory oddzia ywa bliskiego pola Podstawy konstrukcji mikroskopów si atomowych Podstawowe elementy systemu pomiarowego AFM Znaczenie interpretacyjne podstawowych sygna ów pomiarowych Metody reprezentacji danych Podstawy technik pomiarowych AFM Tryb kontaktowy mikroskopii AFM Tryby dynamiczne mikroskopii AFM Systematyka zaawansowanych trybów pomiarowych AFM W A CIWO CI MECHANICZNE POWIERZCHNI Analiza morfologii powierzchni Azometiny pomiar grubo ci warstw T oczywa termoutwardzalne ocena wp ywu symulowanego promieniowania s onecznego na morfologi powierzchni Spektroskopia si Podstawy spektroskopii si Azometiny obserwacja zjawiska zm czenia mechanicznego Obrazowanie fazowe Podstawy obrazowania fazowego Alkan C 60 H 122 analiza samoorganizacji a cuchów Mikroskopia modulowanej si y Podstawy mikroskopii modulowanej si y Polimer Solkote detekcja i pomiar wielko ci ziaren Mikroskopia si tarcia Podstawy mikroskopii si tarcia Azometiny ocena rozk adu domieszki fulerenu PCBM Tryb pomiarowy NanoSwing Podstawy trybu dynamicznego z analiz czasow sygna u Detekcja oscylacji skr tnych belki skanuj cej Rekonstrukcja i analiza krzywej si a odleg o Metoda doboru parametrów skanowania Grafen analiza w a ciwo ci mechanicznych W A CIWO CI ELEKTRYCZNE POWIERZCHNI Mikroskopia si elektrostatycznych Podstawy mikroskopii si elektrostatycznych AD 580 obserwacja pracy struktur uk adu scalonego Mikroskopia sondy Kelvina Podstawy mikroskopii sondy Kelvina Dioda laserowa analiza pracy heterostruktury pó przewodnikowej Struktura na bazie grafenu diagnostyka uszkodze W A CIWO CI MAGNETYCZNE POWIERZCHNI Mikroskopia si magnetycznych

3 Podstawy mikroskopii si magnetycznych Warstwa NiFe analiza korelacji mi dzy parametrami technologicznymi nanoszenia a struktur domen magnetycznych W A CIWO CI TERMICZNE POWIERZCHNI Skaningowa mikroskopia bliskiego pola termicznego Podstawy skaningowej mikroskopii bliskiego pola termicznego AD580 obserwacja rozk adu temperatury w aktywnej strukturze pó przewodnikowej Grafen - mapowanie przewodno ci cieplnej Polietylen - identyfikacja materia u z wykorzystaniem lokalnej termoanalizy PODSUMOWANIE LITERATURA

4 CONTENTS ABSTRACT... 9 LIST OF THE ABBREVIATIONS INTRODUCTION THE PRINCIPLES OF THE ATOMIC FORCE MICROSCOPY Tip sample interaction principles Physical models of the tip sample interaction The scanning probes for near field interaction detection The principles of the AFM measurement setup The main components of AFM measurement system The interpretative meaning of basic measurement signals Data representation methods The principles of the AFM measurement modes Contact AFM mode Dynamic AFM modes The taxonomy of AFM advanced measurement techniques MECHANICAL PROPERTIES OF THE SURFACE Analysis of the surface s morphology Azomethine compound the determination of the layers thickness The sheet moulding compound the estimation of the simulated solar light radiation impact on the surface morphology Force spectroscopy The principles of the force spectroscopy Azometine compound the observation of the mechanical wear phenomena Phase Imaging The principles of phase imaging mode C 60 H 122 alcane the analysis of the chains self ordering Force modulation microscopy The principles of the force modulation microscopy Solkote polymer the detection and measurement of the grains size Lateral force microscopy The principles of the lateral force microscopy Azomethine compound the evaluation of the PCBM fullerene distribution NanoSwing technique The principles of the time resolved tapping mode imaging method The cantilever s torsional bending detection The reconstruction and analysis of the force distance curve The scanning parameters adjustment principles Graphene the analysis of the mechanical properties ELECTRICAL PROPERTIES OF THE SURFACE Electrostatic force microscopy The principles of electrostatic force microscopy AD 580 observation of active integrated circuit Kelvin Probe Force Microscopy The principles of Kelvin probe force microscopy The laser diode the analysis of the behavior of active semiconductor heterostructure The graphene based device the damages diagnostics

5 5. MAGNETIC PROPERTIES OF THE SURFACE Magnetic force microscopy The principles of magnetic force microscopy The NiFe layer - the analysis of the correlation between the fabrication process parameters and magnetic domain s structure THERMAL PROPERTIES OF THE SURFACE Scanning thermal microscopy The principles of the scanning thermal microscopy AD580 the observation of the temperature distribution in active semiconductor structure Graphene - mapping of the thermal conductivity Polyethylene the identification of the material with local thermoanalysis SUMMARY REFERENCES

Podobne dokumenty

WARSZAWA LIX Zeszyt 257

WARSZAWA LIX Zeszyt 257 REDAKCJA REDAKTOR NACZELNY: dr hab. in. Jan Szczyg owski, prof. IEl tel. 22 812 02 46, e-mail: j.szczyglowski@iel.waw.pl SEKRETARZ REDAKCJI: Magdalena Kami ska tel. 22 812 34 63,