SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

Transkrypt

1 Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: KA-2/124/2010 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 Dostawa mikroskopu i spektrometru FT-IR Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu i spektrometru FT-IR dla Katedry Chemii i Technologii Tworzyw Sztucznych, jego montażu, instalacji i uruchomieniu oraz przeprowadzenie testu poprawności działania urządzenia wraz ze szkoleniem co najmniej dwóch osób wskazanych przez Zamawiającego. Oferowany sprzęt musi posiadać certyfikat CE. Specyfikacja techniczna Mikroskopu i Spektrometru FT-IR. Opis systemu: 1) Mikroskop: - Praca w modzie transmitancji, reflektancji z detekcja pojedynczych punktów - Detektor 100x 100 µ MB MCT z możliwością upgrade u na detektor DTGS - Zakres pomiarowy single point cm-1 - Czułość 40000: 1 dla pomiaru 2 min przy 4 cm-1 rozdzielczości spektralnej z apodyzacją Beer-Norton. - Manualne sterowanie stolikiem próbek - Automatyczne ustawianie apertury, iluminacji, modu operacji, automatyczne przełączanie z modu IR/VIS bez jakichkolwiek mechanicznych przełączników - Iluminacja : biały LED z funkcją autoiluminacji z szerokim zakresem kontrastu i jasności - Obrazowanie z użyciem kamery USB - mikro ATR ( bez konieczności re-justowania po użyciu) - Możliwość rozbudowy o system automatycznego sterowania stolikiem Tytuł projektu: Silseskwioksany jako nanonapełniacze i modyfikatory w kompozytach polimerowych 1

2 2) Spektrometr: - Spektrofotometr podczerwieni z transformacją Fouriera (FT-IR) - Układ optyczny: szczelny i osuszany, interferometr Michelsona rotacyjny, samokompensujący się, izolowany wibracyjnie. - Opcjonalna możliwość przedmuchiwania spektrometru azotem - Duża komora pomiarowa, pozwalająca na łatwe usuwanie pokrywy i szybki dostęp serwisowy - Detektor RT-MIR ( LiTaO 3 ) - Zakres częstotliwości co najmniej w zakresie cm -1 - Rozdzielczość: lepsza niż 0.5 cm -1 - Stosunek sygnał/szum nie mniejszy niż 5000:1 peak to peak ( :1 RMS) przy pomiarze 5 s, przy rozdzielczości 4 cm -1, - Automatyczne uwzględnianie rzeczywistej zawartości wody i dwutlenku węgla w atmosferze komory pomiarowej - Osuszacz z indykatorem - Możliwość pracy spektrometru w sieci lokalnej (LAN) oraz z komputerem zgodnie z protokołem TCP/IP - Możliwość rozbudowy zintegrowaną z instrumentem wewnętrzna kuwetę z metanem - Możliwość rozbudowy o dodatkowy detektor MCT, lub DTGS 3) Oprogramowanie - Zestaw oprogramowania pracującego w środowisku Windows XP z automatycznym sterowaniem mikroskopem i spektrometrem zwierające obrazowanie pomiary IR, akwizycją danych, manipulacji widmami, kalkulator spektralny, dekonwolucję widma, obliczenia ilościowe zgodnie z prawem Lamberta-Beer a. - Oprogramowanie musi pozwalać na tworzenie własnych bibliotek. - Program umożliwiający strojenie i optymalizacje pracy spektrometru. - Program typu asystent pozwalający na łatwą pracę z instrumentem, podpowiadający użytkownikowi rozwiązania Kontroler PC Procesor: Intel Core 2 Duo E8400 Processor (3.00GHz 1333MHz 6MBL2) Pamięć: 1066MHz DDR3 UDIMM,2GB PC SDRAM (2 DIMMs) Integrated Video GMA4500, Audio, Dysk 160GB, 8M Cache, 7200RPM SATA II DVD R/W, Ethernet, Klawiatura USB, Mysz Optyczna (Uwaga: komputer stacjonarny bez monitora) 4) Inne Niezbędny do pracy zestaw akcesoriów (uchwyt, uchwyt rotacyjny, okienka 2 szt. ect.) Szkolenie dwudniowe w Laboratorium Użytkownika Gwarancja minimum 12 miesięcy Wymagany okres i warunki gwarancji i rękojmi na przedmiot zamówienia. - Wykonawca udzieli gwarancji na oferowane części na okres co najmniej 12 miesięcy od dnia podpisania protokołu odbioru przedmiotu zamówienia. 2

3 Wykonawca jest odpowiedzialny z tytułu rękojmi za usunięcie wad prawnych i fizycznych przedmiotu zamówienia, w ciągu 12 miesięcy od dnia podpisania protokołu odbioru przedmiotu zamówienia. Zamawiający może dochodzić roszczeń z tytułu rękojmi za wady także po upływie terminu rękojmi, jeżeli zgłosi wadę przed upływem tego terminu. - czas reakcji serwisu do siedziby Zamawiającego w Krakowie (Katedra Chemii i Technologii Tworzyw Sztucznych, Wydział Inżynierii i Technologii Chemicznej Politechniki Krakowskiej, ul. Warszawska 24) jest nie dłuższy niż 48 godzin (dni robocze). Wykonawca przeprowadzi instalację i rozruch zestawu w laboratorium wskazanym przez Zamawiającego W ramach dostawy Wykonawca zagwarantuje uruchomienie sprzętu wraz z dwudniowym przeszkoleniem wskazanych przez kupującego osób w zakresie obsługi urządzenia, prowadzenia kalibracji oraz niezbędnych operacji konserwacyjnych, Urządzenie musi być dostarczone z pełną instrukcją obsługi w języku polskim Cena musi zawierać koszty dostawy do siedziby Kupującego, uruchomienia i szkolenia personelu. Zadanie nr 2 Dostawa mikroskopu sił atomowych AFM Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu AFM dla Katedry Chemii i Technologii Tworzyw Sztucznych, jego montażu, instalacji i uruchomieniu oraz przeprowadzenie testu poprawności działania urządzenia wraz ze szkoleniem co najmniej dwóch osób wskazanych przez Zamawiającego. Oferowany sprzęt musi posiadać certyfikat CE. Specyfikacja techniczna mikroskopu AFM. Opis systemu: a) Tryby pomiarowe AFM: - kontaktowy AFM, - pół-kontaktowy AFM, - bezkontaktowy AFM, - sił tarcia, - obrazowania fazowego, - modulacji siły - przewodnictwa elektrycznego, - rozkładu ładunku elektrycznego, - rozkładu pola magnetycznego, - STM, - Krzywe siła odległość, - nanolitografia, - dwuetapowy (lift) w trybie MFM i EFM z możliwością stabilizacji fazy lub/i częstotliwości, - dwuetapowy (lift) w przypadku pomiarów właściwości elektrycznych materiałów, pozwalający na zapamiętanie topografii próbki w pierwszym przejściu danej linii oraz pomiar właściwości elektrycznych w drugim przejściu, gdy laser układu detekcji odchylenia belki sprężystej jest wyłączony. 3

4 - wymagane tryby topograficzne AFM do badania próbek w cieczach b) Dodatkowo wymagane tryby pomiarowe: - mikroskopii pojemnościowej dc/dv (mikroskopy pozwalające na pomiary w trybie wyłącznie dc/dz nie będą brane pod uwagę przez Zamawiającego), - rozkładu potencjału powierzchniowego (sonda Kelvina), do rozbudowy w przyszłości - pomiaru temperatury oraz przewodnictwa temperaturowego. Rozdzielczość obrazowania w tym trybie powinna wynosić co najmniej 100 nm. c) Oprogramowanie: - umożliwiające wykonanie pomiaru, obróbkę, opracowanie i prezentację danych pomiarowych, pracujące pod kontrolą systemu zainstalowanego na komputerze sterującym. d) Układ skanowania: Wymagany układ skanowania z nieruchomą sondą oraz ruchomą próbką we wszystkich trzech osiach. Inne typy układów skanowania nie będą brane pod uwagę przez Zamawiającego. Wymagania dla skanera: - pole skanowania XY - co najmniej 90 x 90 um z rozdzielczością, pozwalającą na uzyskanie obrazu periodyczności struktury atomowej na mice w trybie kontaktowym AFM, - zakres skanowania Z - co najmniej 5 um, - skaner musi być wyposażony w układ sprzężenia zwrotnego w zamkniętej pętli. e) Głowica SPM: - z możliwością manualnego ustawiania położenia próbki w zakresie co najmniej 5 x 5 mm, - wyposażona w układ zmotoryzowanego zbliżania sondy do próbki z regulacją pochyłu (przód-tył oraz na boki) realizowaną poprzez oprogramowanie, - możliwość pracy we wszystkich trybach AFM oraz STM bez konieczności zmiany głowicy skanującej oraz skanera. f) Wyposażenie układu: - układ izolacji antywibracyjnej. g) Rozmiar próbek: - nie mniejszy niż 40 x 40 mm o wysokości nie mniejszej niż 15 mm. h) Zintegrowany układ optyczny z kamerą CCD: - rozdzielczość układu optycznego co najmniej 2 um, - funkcje powiększenia oraz regulacji natężenia oświetlenia kontrolowane poprzez oprogramowanie mikroskopu. i) Kontroler: - musi zapewniać rozdzielczość co najmniej 20 bitów dla każdej osi skanowania, - musi zapewniać możliwość rejestracji obrazów z rozdzielczością co najmniej 1024 x 1024 punktów dla co najmniej ośmiu kanałów danych jednocześnie, - Komunikacja pomiędzy kontrolerem mikroskopu, a komputerem sterującym poprzez port USB2. 4

5 j) Komputer: - minimalne wymagania sprzętowe: komputer klasy PC, system operacyjny zgodny z oprogramowaniem sterującym mikroskopem, oprogramowanie z bezpłatną aktualizacją bez ograniczeń czasowych. System ma posiadać kompletny zestaw wzorów potrzebnych do kalibracji urządzenia Uwaga: komputer stacjonarny bez monitora k) Instalacja i szkolenie: - w cenie oferty instalacja systemu pomiarowego, testy oraz szkolenia u zamawiającego z obsługi i użytkowania dostarczonego sprzętu oraz bezpłatne konsultacje ze specjalistami firmy drogą telefoniczną i internetową przez okres co najmniej 3 lat od dnia podpisania protokołu odbioru mikroskopu. Urządzenie musi być dostarczone z pełną instrukcją obsługi w języku polskim. Wykonawca zapewni całościowy przegląd elementów urządzenia na miesiąc przed upływem terminu ich gwarancji. Czas reakcji serwisu: 72 godziny. Czas usunięcia usterek: maksymalnie 30 dni. Wymagany okres i warunki gwarancji i rękojmi na przedmiot zamówienia. 1. Wykonawca udziela gwarancji na następujących zasadach: Wykonawca zobowiązuje się do udzielenia gwarancji na oferowane części na okres co najmniej 12 miesięcy od dnia podpisania protokołu odbioru przedmiotu zamówienia. Wykonawca jest odpowiedzialny z tytułu rękojmi za usunięcie wad prawnych i fizycznych przedmiotu zamówienia, w ciągu 12 miesięcy od dnia podpisania protokołu odbioru przedmiotu zamówienia. Zamawiający może dochodzić roszczeń z tytułu rękojmi za wady także po upływie terminu rękojmi, jeżeli zgłosi wadę przed upływem tego terminu. 2. Czas przybycia pracownika serwisu do siedziby Kupującego w Krakowie (Wydział Inżynierii i Technologii Chemicznej Politechniki Krakowskiej, ul. Warszawska 24) i przystąpienia do naprawy po zgłoszeniu awarii nie dłuższy niż 72 h (dni robocze); kary umowne za zwłokę w przystąpieniu do naprawy: 100 zł/godz. spóźnienia, a czas usunięcia usterek to maksymalnie 30 dni. 5