NORMA BRANŻOWA. Układy scalone cyfrowe układów: _ podwy:tszonej jakości (poziom jakości II) - 00/070/10,

Transkrypt

1 UKD MKROUKŁADY SCALONE NORMA BRANŻOWA BN-81 Układy scalne cyfrwe Układy typu UCY 7401N i UCY 7403N, Grupa katalgwa 1925 Kategria ki ima tyczna - wg PN-73/E dla układów: _ pdwy:tsznej jakści (pzim jakści ) - 00/070/10, _ wyskiej jakści (pzim jakści ) - 00/070/21, _ bardz wyskiej jakści (pzim jakści v) - Oqt07qt56. Schemat elektryczny jednej bramki układu - wg rys. l. l. Przedmit nrmy. Przedmitem nrmy sę szczegółwe wymagania dtyczęce mnlitycznych biplarnych układów scalnych cyfrwych TTL typu UCY 740.1N i UCY 7403N, pełnięcych funkcję czterkrtnych 2-wejściwych bramek NE- (NAND) z twartym bwdem klektra tranzystra wyjściweg, przeznacznych d pracy w elektrnicznych urzędzeniach prfesjnalnych raz urzędzeniach wymagajęcych zastswania układów wyskiej i jakści zgdnie z PN-7S/T bardz wyskiej Schematy lgiczne i rzkład wyprwadzeń układów _ wg rys. 2.;. 3. ',6 k51. A B C>-----~ y y. A B t1 Rys. Ue< 4V 48 4A lv U" 48 4A 4V n V la 18 2Y ZA M an"'m:ns-!z.alt-t Rys. 2 5 la 18 1V za ty H N-a1'!S'5 SZ.D~-S Rys. 3 Zgłszna przez Naukw-Prdukcyjne Centrum Półprzewdników Ustanwina przez Naczelneg Dyrektra Zjednczenia Przemysłu Pdzespłów i Materiałów Elektrnicznych UNTRA-ELEKTRON dnia 26 sierpnia 1981 r. jak nrma bwiązująca d dnia 1 stycznia 1982 r. (Dz. Nrm. i Miar nr 19/1981 pz. 77) WYDAWNCTWA NORMALZACYJNE D,uk. W,d. N,m. W'w, A,k. wyd. 1,40 Nakł.: Z.m. 2787/81 Cena zł 7,20

2 2 BN-fH/ Przykład znaczania układ6w a) pdwy1sznej jakści: UKLA[) SCALONY CYFROWY UCY 740 N BN-B 1 / d) datę prdukcji dla wyrb6w majęcych nadany znak jak ś ci Q. Pnadt układy wyskiej jakści pwinny być znakwane cyfrę 3, a układy bardz wyskiej jakści cyfrę 4 umiesz_ cznę p znaczeniu typu. b) wyskiej jakści: UKLAO SCALONY CYFROWY UCY 7401N/3 4. Wymiary i znaczenie wyprwadzeń układu rys. 4 i tabl. 1. Mikrukład kmpletny A49B - wg BN-73/T wg BN-B 1/ Oznaczenie budwy stswane przez prducenta -CE 7Q M c \ D Rys; 4 Tablica l. Wymi ary budwy CE 70 cd. tabl. Symbl wymiaru min Wymiary, mm nm max Kętw slpniach A - - 5, 10 - A 1 0, b 0,38-0, 59 - C 0,20-0,36 - D ,32 - e - 2, SymbOl wymiaru min Wymiary, mm nm max Kęt w stpniach e 1-7, L 2,54-4,50 - ME - - B,30 - z - - 2, O ~ 15 c) bardz wyskiej jakści: UKLAD SCALONY CYFROWY UCY 7401N/4 5 Badania w grupie A. B. C D - wg BN-80/ P BN-81/ Cechwanie układ6w pwinn zawierać następujęce dane: a) znak lub nazwę prducenta, b) znaczenie typu (np. UCY 7401), c) znaczenie wyprwadzeń (znak dniesienia dla identyfikacji numer6w wyprwadzeń zgdnie z PN-73jT ), 6. Wymagania szczeg6łwe dla badań Brupy A. B, C i D a) badani a pdgrupy Al - sprawdzenie wym iar6w: A1' D b wg rys. 4 i tabl. l, b) badania pdgrupy A2 i A3 - wg tabl. 2 na str. 3 i 4, c) badania pdgrupy B, C i D - wg tabl. 3 na str. 4, d) parametry elektryczne sprawdzane w c2'asie i p badaniach grupy B, C i D - wg tabl. 5,

3 ---~_._--~. BN-61/3375-S Tabl ica 2. Parametry elektryczne sprawdzane w badaniach pdgrupy A2 A3 Pdgrupa Rdzaj Kntrlwany Metda pmiaru wg Jed- Warunki pmiaru badań badania parametr BN-74/ ns tka Wartści graniczne a min max A2 Sprawdzenie ark. 11 raz wg UOL U ec = 4,75 V V - 0,4 pdstawwych rys, 5 U l = 2 V na wszystkie parametrów elektrycznych wejścia, 1 OL = 16 ma lor ark. 06 raz wg U cc = 4,75 V, }JA rys, 6 U l = O, a V na każde wejście p klei, na pzstałe wejścia 4,75 V; U O = 5,5 V - n ark, 03 raz wg U cc =5,25V, ma - 1,6 rys, 7 V l = 0,4 V na we j ście mierzne, na pzstałe wejścia 4,5 V T ark, 04 raz wg U = 5,,25 V, }JA CC - 40 lit (1) rys, a Ul = 2,4 V na wejścia [111(2) mierzne, na pzstałe wejścia O V ark, 04 raz wg U cc = 5,25 V, ma - 1 r ys, a U r = 5,5 V na wejście mierzne, na pzstałe wejścia O V. ark, 01 raz wg U =5,2SV, ma CC - 22 CeL rys, 9 U = 5 V na wszystkie wejścia wszystkich bramek jedncześnie. l ark, 02 raz wg U =5,25V, ma - a CCt ce rys, 9 Ul = O V na wszystkie wejścia wszystkich bramek jedncześnie -U ark. 20 raz wg TJ ec = 4,75 V, V - j', 5 rys, 10 - = 12 ma na wejście mierzne, na pzstałe wejścia O V, tumb = 25 C t ark, 16 raz wg U =5V, R = 400 n ns CC L - 15 PHL rys, 11 C = 15 pf, L tumb = 25 C każde wej śc ie ster-. wane p klei sygnałem impulswym, na pzstałe wejścia 2,4 V t plh ark, 16 raz wg U cc = 5 V, R L =4kn ns - 45 rys, 11 C L = 15 pf, tumb = 25 C każde każde wejście sterwane p klei sygnałem impulswym, na pzstałe wejścia 2,4 V

4 4 BN-81j337S-5Z.04 cd. tabl. Z S 6 7 S' A3 Sprawdzenie U OL wg równania łgicz- Lice = 5 V, T ~ mat typu "kładu neg rys. 1 l stan niski FW-SV, r.; ~OV 1 L ' wyjścia płęcz. ne z V Ol. stan wyski 3,9 kq. '- Tablica 3 W ymaqania szczeqółwe d badań 9ruE2~' U CC przez rezystr \/ Lp. Pdgrupa badań Rdzaj bad"nia Wymagania sz<.zp.g6łwc ! Bl. C1 Sprawdzenie wytrzymałści rr. e chanicz- próba Ub, metda 2: 2,5 N, nej wy prwadzeń V - 0,4 2 B3. C9 Sprawdz,""nie wytrzymałści na spadki plżenie układu N czasie ~padania ~ swbdne wyprwadzeniami d góry /2, , C4 Sprawdzerlie wytrzymałści na udary mcwanie S2 ty\'\'n za \.vyprwadzcni a 'wi elkrtne la' dległści 3 mm d dl ne j ptc"lszczyzny budwy 4 85, C5 Spraw dzenie wytrzymałści na nagłe TA = -55 C; T B ~ 125 C ( pz im jakści i V) zmi any terr.peratury 5 86, C6 Sprawdzenie dprnści na nar aże- metda badania A, nia e lektryczne t,.mh = 70 C badanę próbkę pdziel ić na d wi e części i badać w w arunkach: cześć - O V na wszystkie we jścia, W\l jśc ia twarte, zas ilanie układu 5 V cześć - 5 V na wszystkie w ejścia, wy j,( - cia ł\l\'arte, zasilanie układu 5 V 6 C2 Sprawdzenie parametrów elek- wg tabl. 4 trycznych. 7 C3 Sprawdzenie masy wyrbu 1, 1 g Spr awdzen i e trwałści cechwania wg PN-7S/T P la) S C4 Sprawdzenie wytrzymałści na kierunek prbierczy prstpadły d przy śpieszenia stałe płaszczyzny krpusu układu, mcwanie za budwę Sprawdzenie wytrzymałści na wibra- mcwanie sztywn za wyprwadzenia cje stałej częsttl iwści (dla p- w dległści 3 mm d dlnej płaszcz yzny zimu jakści ) budwy ~ Sprawdzenie wytrzymałści na wibracje zmiennej częsttliwści ( dla p- jw. zimu jakści i V) 9 C7 Spraw dzenie wytrzymałści na zimn ts/gmin = -40 C 10 CS Sprawdzenie wytrzymał ści na suche tstgmar (pzim jakści i V) gręc = 125 Oc 11 C10 Sprawdzenie wymiarów w g rys. i tabl Dl Sprawdzenie dprnści na ni skie temperatura narażeni a 15.;- 35 Oc ciśnienie atmsferyczne Sprawdzenie wytrzymałści na rz- acetn, sprawdzane wymiary A. i D wg puszczalniki tabl. 1 i rys. 3, masa układu 1, 1 g jll 03 Sprawdzenie palnści wg PN-7S/T załęcznik 2 p ~;! D4 Sprawdzenie wytrzymałści na pleśń brak prstu pleśni p badaniu 1. _ -.!ó 05 Sprawdzenie wytrzymałści na mgłę płżenie układu dwlne i ~. ~--- słnę

5 BN-81/ Tablica 4 Parametry elektryczne sdrawd n. za Pdgrupa Sprawdzany Metda pmiaru wg badań parametr BN-74/ e w czasie f 12 0 bada' nlac h QrUDY B C D Warunki pmiaru trycznych Jednst- ka Wartści gl"aniczne min max B3, 94, UOL 95 lor C2, C4, VOL' lor C5, C9, -/ l L' l W(1) Dl l1h(2) wg tabl, 2 wg tabl C2 [TO L stan niski U OH stan wyski wg tabl, 2 UOL stan niski U OH stan wyski wg tabl. 2 U OL ark. l l raz wg rys. 5 U ee = 4;75 V; l l = 2 V na każde V - 0,48 wejście p klei, na pzstałe wejścia O V; OL = 16 ma 96, C6 C7, CB lor ark. 06 raz wg rys. 6 U ec = 4 75 V' U, ' = 0,8 V na kaźde ).JA wejście p klei, na pzstałe wejścia 4,75 V, U - 5,5 V -lll ark.. 03 raz wg rys. 7 U ee = 5 25 V V = 0,4 V na ma - 1,92, f, wejścia mierzne, na pzstałe wejścia 4,5 V l H(1) ark, 04 raz wg rys. 8 V ee z 5,25 V, V = 2,4 V na )JA - 48 wejścia mierzne, na pzs tałe wejścia O V l H(2) ark, 04 raz wg rys, 8 U ee c 5,25 V, Ul = 5,5 V na ma - 1,2 wejścia mierzne, na pzstałe wejścia O V e) ddatkwe wymagania dla pmiaru parametrów elek- - dla U L - wg rys. 5, Da wejścia każdej bramki s~ sterwane jedncześnie, Uet - dla lor - wg rys, 6, wejścia kaźdej bramki s~ sterwane ddzielnie, Ucc Ul lor UD UOl Rys. 5 Rys. 6

6 6 BN--&1/3375-S dla -L - wg rys. 7, wejścia kaidej bramki s{l mierzne ddzielnie, 4. 5'ł \kc - dla V - wg rys. lo, wejścia każdej bramki Sil mierzne ddzielnie, Ucc OŁWQrtt twarte -1 1L Rys. 7 Rys dla 1 H (1) i 1H (2) - wg rys. 8, wejścia kaidej bramki s{l mierzne ddzielnie, Uee - dla t phl i t plh - wg rys. 11, l>arametry impulsu wejściweg: amplituda V g ~ +3,5 V, pzim pdstawy O V, czas trwania t w = 500 ns, częsttl iwść pwtarzania t g = ()- ~l~"==~ r ~--~ Ul - = MHz, czas narastania t r = 10 ns. czas padania tf = Otwarte. = 5 ns; impedancja wyjściwa generatra Z O = 50 n ; wartść C L uwzględnia pjemnść sndy i pjemnści mntaiu; wejścia kaidej bramki s{l sterwane ddzielnie, Wejscle \~j\cl! r 2.4~. Ute l.lls Y/s-5z.Ot a Rys. 8 RL - dl'a i CCL c - wg rys. 9, wszystkie bramki. CH mierzne, jedncześnie, Ucc s{l &tntrtr LMPulsw Za - - C l Ul l)._-" Otwarte... tf ~T SV S~gnn.t ll.~=---- l.5'l! J /. Htj~tiw~ ;tf: : --0.7'1.! t.. 0'1 5yqnn.t i ~ ~L t~.~ V H l H~j~tiw~ tphl~ T L l 1MU 5Z."n Rys. 9 Rys. 11 nfrmacje ddatkwe KONEC

7 nfrmacje ddatkwe d BN-B 1/3375-: NFORMACJE DODATKOWE '. nstytucja pracwujaca nrme - Naukw-Prdukcyj BN-76/ Cyfrwe układy scalne. Układy kmbi ne Centrum Półprzewdników, Warszawa. natryjne. Metda pmiaru prędu wejściweg w stanie niskim H BN-76/ Cyfrwe układy scalne. Metda pmiaru zwrtneg prędu wyjściweg lor BN-76/ Cyfrwe układy scalne. Układy kmbi_ natryjne. Metda pmiaru napięcia wyjściweg w stanie niskim U OL BN-76/ Cyfrwe układy scalne. Układy kmbinatryjne. Metda pmiaru czasów prpagacj t i phl t PLH BN-BO/ Cyfrwe układy scalne. Metda pmiaru ujemneg napięcia wejściweg Ul BN-BO/ Ll<łady scalne cyfrwe. Wymagania badania 3 Symbl wyrbu wg KTM UCY 740 N , Nrmy zwiazane PN-73/E Wyrby elektrtechniczne. Próby śrdwiskwe. Pstanwienia gólne PN-73/T -O 1602 Mikrukłady scalne. Zasady pdawania parametrów gemetrycznych na rysunkach PN-73/T Mikrukłady scalne. Zarysy wymiary. Mikrukład kmpletny A 49 PN-7B/T Mikrukłady scalne. Ogólne wymagania i badania BN-74/ Cyfrwe układy scalne. Metdy pmiaru prędu zasilania w stanie niskim lcel BN-74/ Cyfrwe układy scalne. Metda pmiaru prędu zasilania w stanie wyskim lech BN-76/ Cyfrwe układy scalne. Układy kmbinatryjne. Metda pmiaru prędu wejściweg niskim l L w stanie UCY 7403N Wartści dpuszczalne _ wg tabl Tablica l-l Lp. Oznaczenie parametru Nazwa parametru Jednstka Wartści dpt.ts-2czalne min max l U CC Napięcie zasilania V Ul Napięcie wejściwe V - 5,5 3-1 Pr{ld wejściwy ma t amb Temperatura tczenia w czasie pracy Oc O t stg Temperatura przechwywania Oc

8 8 nfrmacje ddatkwe d 8N-81/337S-S Dane charakterystyczne - wg tabl. 1-2 (przy t amb = ~ 70 Oc jeżeli nie pdan inaczej). Tablica 1-2 Oznaczenie Lp. Nazwa parametru Warunki pmiaru parametru Jedns tka Wartść parametru min typ max V ee Napięcie zasi lani a - V 4,75 5 5,25 2 lcel Pręd zasilania w stanie niskim U ec = 5,25 V ma na wyjściu Ul =5V 3 lech Pręd zasilania w stanie wyskim U CC = 5,25 V ma na wyjściu 4 Uw Napięcie wejściwe w stanie - V wyskim 5 U rl Napięcie wejściwe w stanie - V - - 0,8 niskim U = OV 6 lor Zwrtny prę d wyjściwy U ce = 4,75 V ).JA Ul = 0,8 V U = 5,5 V 7 U OL Napięcie wyjściwe w stanie V ec = 4,75 V V - - 0,4 8 l H (1) niskim Ul = 2 V = 16 ma OL Pręd wejściwy w stanie. U ce = 5,25 V ).JA wyskim Ul = 2,4 V 9 l H (2) Pręd wejściwy w stanie U ee = 5,25 V ma wyskim U r = 5,5 V 10 -l L Pręd wejściwy w stanie niskim U CC = 5,25 V ma - - 1,6 Ul = 0,4 l l OL Pręd wyjściwy w stanie niskim U ce = 4,75 V ma V = 2, V 12 -U Ujemne napięcie wejściwe U ec = 4,75 V V - - l, 5 -l = 12 ma t amb = 25 Oc 13 t phl Czas prpagacji przy zmianie U ec = 5 V, ns stanu sygnału z wyskieg na t = 25 Oc niski amb, R = 4000 L. C L = 15 pf każde wejście sterwane p klei sygnałem impulswym, na pzstałe wejścia 14 t plh Czas prpagacji przy zmianie U ee = 5 \l, ns stanu sygnału z niskieg na t amb = 25 Oc wyski, 2,4 V R L C L =4kO = 15 pf każde wejście sterwane p klei sygnałem impul swym, na pzstałe wejścia 2,4 V