S I INSTYTUT TECHNOLOGII ELEK TR O N O W EJ
|
|
- Bogdan Grabowski
- 5 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 i 8 M S I INSTYTUT TECHNOLOGII ELEK TR O N O W EJ PA5fII$ STAIA ROM 4K MCY 7304N XX^ Rys. lo Obudowa CE-73 dla MCY 7304N XX Pamięć MCY 7304N XX3&'> jest statyczną pamięcią stałą ROM 4096-bitową, o organizacji 512 słów 8-bitowych, wykonaną w niskoprogowej technologii NMOS z bramką krzemo\vą.i implantacją jonów. Posiada ona sterowana wejściami 0E1, OE2 /zezwolenia wyjścia danych/ trójstanowe wyjścia danych, pełną kompatybilność wejść i wyjść z układami TTL oraz pojedyncze napięcie zasilania UDD = +5 V. Typowe zastosowania pamięci stałych ROM - to pamięci programów maszyn mikroprogramowanych, generatory znaków alfanume- ^ X X - dwuliterowe oznaczenie zawartości pamięci. W STĘPN A KARTA KATALOGOW A
2 rycznych,konwertory lcodów, układy realizujące podstawowe funkcje i operacje arytmetyczne /tablice sinusów, etc/. Zawartość matrycy pamięci, a także wymagany kod obu sygnałów zezwolenia wyjścia danych /umożliwiający bezpośrednie łączenie do 4 pamięci/ są programowane maską u producenta, w wyniku bezpośredniej współpracy użytkownika z producentem. Producent nadaje każdej nowej zawartości dwuliterowe oznaczenie, które - w połączeniu z nazwą MCY-7304N - umożliwia jednoznaczną identyfikację zawartości we wszelkich zamówieniach, korespondencji etc. Pamięć MCY 7304N XX może pracować synchronicznie lub asynchronicznie. Stan niski zezwolenia odczytu adresu / K K / pozwala na wprowadzenie adresu, natomiast wysoki stan tego wejścia zatrzaskuje wprowadzony adres w buforach adresowych. Dane pojawiają się i pozostają stabilne aż do odczytania nowego adresu. Gdy wejście AR znajduje się w stanie niskim, dane wyjściowe pojawiają się asynchronicznie po czasie ta od przyłożenia adresu * Układ MCY 7304N XX zawiera 22 wyprowadzenia czynne: - 9 wejść adresowych AO * A8-8 wyjść danych wejścia zezwolenia wyjścia danych OEl/OEi, OE2/ÓE2-2 wejścia zasilające U ^, Uss - wejście zezwolenia odozytu adresu 3H. Rozmieszczenie wyprowadzeń wraz z wymiarami obudowy pokazano na rys. i. Rozmieszczenie to jest kompatybilne z pamięciami EPROM 2708, 2716, a także z pamięciami ROM 16IC MCY:7316N oraz 2316E. Kategoria klimatyczna 00/070/10 wg PN-73/E-04550, poziom jakości II wg BN-80/ , układ scalony IV stopnia /IS4/ wg PN-78/T Układ jest hermetyzowany w dwurzędowej obudowie plastikowej CE-73 o 24 wyprowadzeniach.
3 - 3 - DOPUSZCZALNE PARAMETRY EKSPLOATACYJNE Napięcie dowolnego wyprowadzenia względem Ugs przy tfl nb = 25 C U 0,5 ~ +7 V Napięcie drenu względem Ugg Pr 2 y arab C Moc rozpraszana Temperatura prz e cbowywania Ud d max t Stg -0,5 ~ +7 V 1 W C Temperatura otoczenia w czasie pracy t, 0 ^ +70 C arab ELEKTRYCZNE PARAMETRY CHARAKTERYSTYCZNE /t, = C, = +5,0 V 5%; wszystkie wartości na- / amb DD * pięć są. mierzone względem Ugg = 0 V/ Nazwa parametru Symbol Jedn Wartość Warunki min. max. pomiaru '... ' T~ ~ Prąd upływności w e j ś ć ILI yua 10 UDD - 5,25 V, 0 V < U wo< 5,25 V, wszystkie wejścia Prąd upływności wyjść tlo /U A układ odłączony, 0,4 V < D w y <5,25V wszystkie wyjścia Prąd zasilania Tr;D ma 50 maksymalna wartość w warunkach pracy, UDn = 5,25V Napięcie wejściowo w stanie wysoki m UIII V 2,0 5,2 5 wszystkie wejścia #
4 - 4 - ELEKTRYCZNE PARAMETRY CHARAKTERYSTYCZNE c.d. i Napięcie wejściowe-w stanie niskim UIL V 0,8 wszystkie wejścia Napięcie wyjściowe w stanie wysokim U0H V CM T*. UDD UDD = 4,75 V I0H = 200^uA Napięcie wyjściowe w,stanie niskim U0L V 0,4 Iql = 2,4 ma Pojemność wejść a d re s owy c h,we j ś ć OE oraz AR Ci pf 6 wszystkie wyprowadzenia uziemione poza mierzonym; Pojemność wyjść danych Co pf 10 S m b = 25 C> i = 1,0 mhz, we - 0 v ELEKTRYCZNE PARAMETRY DYNAMICZNE: a) dla pracy synchronicznej /rys. 2a/ Nazwa parametru Symbol Jedn. War-/OŚĆ Warunki mm. _ma* 1 O Ui Czas cyklu Czas dostępu orl wejścia adresowego *o ^a(ad) ns 700 DS 500 Poziomy odniesienia : na wejściach 1^5V na wyjściach 0,6V o ra z 2,~2 V Czas trwania impulsu. zezwolenia odczytu w stanie niskim /Ali/ tw ns 500
5 - 5 - Czas ustalania.adresu Czas zanikania adresu Czas przetrzymywania na wyjściu danych po przejściu impulsu zezwolenia odczytu w stan niski ELEKTRYCZNE PARAMETRY DYNAMICZNE c.d. i ^su (ad) M a d ) th(da/su) ns 0 50 ns 20 ns 20 Czas narastania i opadania impulsów wejściowych: 20 ns ; obciążenie wyjścia: i,5 bramki TTL oraz CL=100pF b) dla pracy asynchronicznej /rys. 2b/ Czas cyklu Czas dostępu od wejścia adresowego " 5"'..."6 Czas przetrzymywania na wyjściu danych po zmianie adresu *c ^a (ad) Si (da/ad) ns 500 ns 500 ns 20 Jak dla pracy synchronicznej c) dla wejść zezwolenia wyjścia danych /przy pracy synchronicznej i asynchronicznej rys. 2c/ i Czas dostępu od wejścia uaktywnienia ^a (en ) Czas zablokowania wyjścia od wejścia uaktywnienia ^dis (en) ns 300 Jak dla pracy synchronicznej
6 - 6 - a) AR -C *c t \ PW t sufadt t dtod ) Adresy X ł h(dq/ar) ł a(od) Wyjścia danych X Y c) Wejścia uaktywnienia 0E1'0E2 Wyjścia Stan wysokiej / danych impedancji ^ ^a(en) Rys. 2. Przebiegi czasowe układu MCY 7304N XX: a) przy pracv synchronicznej, b) przy pracy asynchronicznej, c) dla wejść zezwolenia wyjścia danych /przy pracy synchronicznej i asynchronicznej/ INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ Al«Lotników 32/ Warszawa tlx tel* Cena 60 zł aj 1987 Druk ZOINTE ITE zam. >1/87 n.w PRAV/0 REPRODUKCJI ZASTRZEŻONE
INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ
IC E M I INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ PAMięĆ STAŁA ROM 16K MCY 7316N XX1^ Pamięć MCY 7316N XX jest statyczną pamięcią stalą ROM 16K (16384) bitów, zorganizowaną jako 2048 słów 8-bitoyych, wykonaną
Bardziej szczegółowoci>2(ttl)e 6 UCY 74S424N GENERATOR IMPULSÓW ZEGAROWYCH 00 MIKROPROCESORA MCY 7880 N TANK a XTAL1 XTAL2 RESET-E i U 16 3*UCC 15-]]-XTAL1 RESIN C 2
GENERATOR IMPULSÓW ZEGAROWYCH 00 MIKROPROCESORA MCY 7880 N UCY 74S424N RESETE i U 16 3*UCC RESIN C 2 RCVIN 3 15]]XTAL1 143XTAL2 REACtf 4 UCY 13. 74S424N SYNC 5 123osc ci>2(ttl)e 6 7 g n d 8 3t a n k 11I
Bardziej szczegółowoTemat: Pamięci. Programowalne struktury logiczne.
Temat: Pamięci. Programowalne struktury logiczne. 1. Pamięci są układami służącymi do przechowywania informacji w postaci ciągu słów bitowych. Wykonuje się jako układy o bardzo dużym stopniu scalenia w
Bardziej szczegółowoP ob 2. UCY 74S416N UCY 74S426N 4-bitowy nadajni k/odbiornik szyny danych. ib UIN "]lh. 11 DSEN 13 do 3. I! Dl 3. 3 di 2
ib UIN "]lh Bipolarny cyfrowy układ saalony TTL-S pełni «nkej 4-bitowego aadajniks/odbiornika ssyay danyoh syste»> nu mikroprocesorowego wykorsystująeego jednostkę oentrslną MCY 788QN. Wszystkie wejścia
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych
WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY Katedra Inżynierii Systemów, Sygnałów i Elektroniki LABORATORIUM Technika Cyfrowa Badanie Bramek Logicznych Opracował: mgr inż. Andrzej Biedka 1 BADANIE FUNKCJI LOGICZNYCH 1.1 Korzystając
Bardziej szczegółowoINSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ
ni Tfsrsr INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ UKŁAD PRZETWORNIKA ANALOGOWO-CYFROWEGO STANOWIĄCY WOLTOMIERZ 3.1/2-CYFROWY MRY 7906N CHARAKTERYSTYKA UKŁADU Układ MRY 7906N jest monolitycznym analogowo-cyfrowym
Bardziej szczegółowo4. Dane techniczne 4.1. Pomiar częstotliwości Zakres pomiaru Czas pomiaru/otwarcia bramki/
9 2. Przeznaczenie przyrządu Częstościomierz-czasomierz cyfrowy typ KZ 2025A, KZ 2025B, KZ2025C,K2026A, KZ2026B i KZ 2026C jest przyrządem laboratoryjnym przeznaczonym do cyfrowego pomiaru: - częstotliwości
Bardziej szczegółowoBN /04. Układy scalone typu UL 1601 N. MIKROUKlADY SCALONE. Kategoria klimatyczna dla układów:
UKD 621.38.049.77 MKROUKlADY SCALONE N O R M A BRANŻOWA Układy scalone typu UL 1601 N BN-83 337-39/04 Grupa katalogowa 192 l. Przedmiot normy. Przedmiotem normy są monolityczne bipolarne, analogowe układy
Bardziej szczegółowo4. Funktory CMOS cz.2
2.2 Funktor z wyjściem trójstanowym 4. Funktory CMOS cz.2 Fragment płyty czołowej modelu poniżej. We wszystkich pomiarach bramki z wyjściem trójstanowym zastosowano napięcie zasilające E C = 4.5 V. Oprócz
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego adanie parametrów statycznych i dynamicznych ramek Logicznych Opracował: mgr inż. ndrzej iedka Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Parametry statyczne bramek logicznych
Bardziej szczegółowoArtykuł zawiera opis i dane techniczne
Pamięci EEPROM i FLASH stosowane w sprzęcie powszechnego użytku Jakub Wojciechowski Artykuł zawiera opis i dane techniczne popularnych pamięci stosowanych w sprzęcie powszechnego użytku. Klasyfikacja pamięci
Bardziej szczegółowoBadanie właściwości multipleksera analogowego
Ćwiczenie 3 Badanie właściwości multipleksera analogowego Program ćwiczenia 1. Sprawdzenie poprawności działania multipleksera 2. Badanie wpływu częstotliwości przełączania kanałów na pracę multipleksera
Bardziej szczegółowoTechnika Cyfrowa. Badanie pamięci
LABORATORIUM Technika Cyfrowa Badanie pamięci Opracował: mgr inż. Andrzej Biedka CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się studentów z budową i zasadą działania scalonych liczników asynchronicznych
Bardziej szczegółowoKatedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4
Ćwiczenie 4 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych układów scalonych CMOS oraz ich własności dynamicznych podczas procesu przełączania. Wiadomości podstawowe. Budowa i działanie
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia
Ćwiczenie 24 Temat: Układy bramek logicznych pomiar napięcia i prądu. Cel ćwiczenia Poznanie własności i zasad działania różnych bramek logicznych. Zmierzenie napięcia wejściowego i wyjściowego bramek
Bardziej szczegółowoPodział układów cyfrowych. rkijanka
Podział układów cyfrowych rkijanka W zależności od przyjętego kryterium możemy wyróżnić kilka sposobów podziału układów cyfrowych. Poniżej podam dwa z nich związane ze sposobem funkcjonowania układów cyfrowych
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia : Matryca komutacyjna
Instrukcja do ćwiczenia : Matryca komutacyjna 1. Wstęp Każdy kanał w systemach ze zwielokrotnieniem czasowym jest jednocześnie określany przez swoją współrzędną czasową T i współrzędną przestrzenną S.
Bardziej szczegółowoTranzystor JFET i MOSFET zas. działania
Tranzystor JFET i MOSFET zas. działania brak kanału v GS =v t (cutoff ) kanał otwarty brak kanału kanał otwarty kanał zamknięty w.2, p. kanał zamknięty Co było na ostatnim wykładzie? Układy cyfrowe Najczęściej
Bardziej szczegółowoPRZERZUTNIKI: 1. Należą do grupy bloków sekwencyjnych, 2. podstawowe układy pamiętające
PRZERZUTNIKI: 1. Należą do grupy bloków sekwencyjnych, 2. podstawowe układy pamiętające Zapamiętywanie wartości wybranych zmiennych binarnych, jak również sekwencji tych wartości odbywa się w układach
Bardziej szczegółowoINSTYTUT TECHNOLOGII E L E K T R O N O W E J
INSTYTUT TECHNOLOGII E L E K T R O N O W E J UART - UNIWERSALNY ASYNCHRONICZNY NAD AJN IK.-ODBIO RNIK MCY 761 AM OGÓLNE CECHY UKŁADU - Transmisja znaków o programowanej długości od 5 do 8 bitów, - programowana
Bardziej szczegółowoĆwiczenie ELE. Jacek Grela, Łukasz Marciniak 3 grudnia Rys.1 Schemat wzmacniacza ładunkowego.
Ćwiczenie ELE Jacek Grela, Łukasz Marciniak 3 grudnia 2009 1 Wstęp teoretyczny 1.1 Wzmacniacz ładunkoczuły Rys.1 Schemat wzmacniacza ładunkowego. C T - adaptor ładunkowy, i - źródło prądu reprezentujące
Bardziej szczegółowoTechnika mikroprocesorowa. W. Daca, Politechnika Szczecińska, Wydział Elektryczny, 2007/08
Pamięci Układy pamięci kontaktują się z otoczeniem poprzez szynę danych, szynę owa i szynę sterującą. Szerokość szyny danych określa liczbę bitów zapamiętywanych do pamięci lub czytanych z pamięci w trakcie
Bardziej szczegółowoA-7. Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania
A-7. Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania 1 Zakres ćwiczenia 1.1 Pomiar charakterystyk statycznych tranzystora JFET. 1.2 Projekt, montaż i badanie układu: 1.2.1 sterowanego dzielnika napięcia,
Bardziej szczegółowoa) dolno przepustowa; b) górno przepustowa; c) pasmowo przepustowa; d) pasmowo - zaporowa.
EUROELEKTRA Ogólnopolska Olimpiada Wiedzy Elektrycznej i Elektronicznej Rok szkolny 2009/2010 Zadania dla grupy elektroniczno-telekomunikacyjnej na zawody I. stopnia 1 Na rysunku przedstawiony jest schemat
Bardziej szczegółowoINSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 7400)
INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA BADANIE STANDARDOWEJ BRAMKI NAND TTL (UCY 74).Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z charakterystykami statycznymi i parametrami statycznymi bramki standardowej NAND
Bardziej szczegółowoTechnika Mikroprocesorowa
Technika Mikroprocesorowa Dariusz Makowski Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych tel. 631 2648 dmakow@dmcs.pl http://neo.dmcs.p.lodz.pl/tm 1 System mikroprocesorowy? (1) Magistrala adresowa
Bardziej szczegółowoPamięci półprzewodnikowe w oparciu o książkę : Nowoczesne pamięci. Ptc 2013/2014 13.12.2013
Pamięci półprzewodnikowe w oparciu o książkę : Nowoczesne pamięci półprzewodnikowe, Betty Prince, WNT Ptc 2013/2014 13.12.2013 Pamięci statyczne i dynamiczne Pamięci statyczne SRAM przechowywanie informacji
Bardziej szczegółowoBadanie działania bramki NAND wykonanej w technologii TTL oraz układów zbudowanych w oparciu o tę bramkę.
WFiIS LABORATORIUM Z ELEKTRONIKI Imię i nazwisko: 1. 2. TEMAT: ROK GRUPA ZESPÓŁ NR ĆWICZENIA Data wykonania: Data oddania: Zwrot do poprawy: Data oddania: Data zliczenia: OCENA CEL ĆWICZENIA Badanie działania
Bardziej szczegółowoPodstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Dzień tygodnia:
Wydział EAIiIB Katedra Laboratorium Metrologii i Elektroniki Podstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Ćw. 5. Funktory CMOS cz.1 Data wykonania: Grupa (godz.): Dzień tygodnia:
Bardziej szczegółowoPodstawowe układy cyfrowe
ELEKTRONIKA CYFROWA SPRAWOZDANIE NR 4 Podstawowe układy cyfrowe Grupa 6 Prowadzący: Roman Płaneta Aleksandra Gierut CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi bramkami logicznymi,
Bardziej szczegółowoWYKAZ NOWYCH KARI. INFORMACYJNYCH OPRACOWAŃ I WYROBÓW ITE. NOWOŚCI 1989 do nabycia w ZOINTE*^
V.vCV /L/L'V/ '.'"A v ' - - L ny v» iz - - ;,J V ' Ś ' S a WYKAZ NOWYCH KARI. INFORMACYJNYCH OPRACOWAŃ I WYROBÓW ITE MCY 7716 R MCY 740I8N MCY 74504N MCY 7431IN MCY 74542N MCY 74Ć01N MCY 74 751M APYP 12F
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM PROJEKTOWANIA UKŁADÓW VLSI
Wydział EAIiE LABORATORIUM PROJEKTOWANIA UKŁADÓW VLSI Temat projektu OŚMIOWEJŚCIOWA KOMÓRKA UKŁADU PAL Z ZASTOSOWANIEM NA PRZYKŁADZIE MULTIPLEKSERA Autorzy Tomasz Radziszewski Zdzisław Rapacz Rok akademicki
Bardziej szczegółowoCyfrowe Elementy Automatyki. Bramki logiczne, przerzutniki, liczniki, sterowanie wyświetlaczem
Cyfrowe Elementy Automatyki Bramki logiczne, przerzutniki, liczniki, sterowanie wyświetlaczem Układy cyfrowe W układach cyfrowych sygnały napięciowe (lub prądowe) przyjmują tylko określoną liczbę poziomów,
Bardziej szczegółowoResearch & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition
Research & Development Ultrasonic Technology / Fingerprint recognition DATA SHEETS & OPKO http://www.optel.pl email: optel@optel.pl Przedsiębiorstwo Badawczo-Produkcyjne OPTEL Spółka z o.o. ul. Otwarta
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM PODSTAWY ELEKTRONIKI Badanie Bramki X-OR
LORTORIUM PODSTWY ELEKTRONIKI adanie ramki X-OR 1.1 Wsęp eoreyczny. ramka XOR ramka a realizuje funkcję logiczną zwaną po angielsku EXLUSIVE-OR (WYŁĄZNIE LU). Polska nazwa brzmi LO. Funkcję EX-OR zapisuje
Bardziej szczegółowo3. Funktory CMOS cz.1
3. Funktory CMOS cz.1 Druga charakterystyczna rodzina układów cyfrowych to układy CMOS. W jej ramach występuje zbliżony asortyment funktorów i przerzutników jak dla układów TTL (wejście standardowe i wejście
Bardziej szczegółowo1. Poznanie właściwości i zasady działania rejestrów przesuwnych. 2. Poznanie właściwości i zasady działania liczników pierścieniowych.
Ćwiczenie 9 Rejestry przesuwne i liczniki pierścieniowe. Cel. Poznanie właściwości i zasady działania rejestrów przesuwnych.. Poznanie właściwości i zasady działania liczników pierścieniowych. Wprowadzenie.
Bardziej szczegółowojm ST Y T U T TECHNOLOGII E LE K T
jm ST Y T U T TECHNOLOGII E LE K T KONTROLER SYSTEMU I DWUKIERUNKOWI BUFOR DLA MAGISTRALI DANICH UCY 74S428 r u 28' * UCC 0-T7OW UCY 74 S 428 MEMW i7or 3-mImR 3-1FW f 3-6 u sen 3-D6 15-5 3-DB6 3- D5 3-DB5
Bardziej szczegółowoBADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH. CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA
BADANIE UKŁADÓW CYFROWYCH CEL: Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości statycznych układów cyfrowych serii TTL. PRZEBIEG ĆWICZENIA 1. OGLĘDZINY Dokonać oględzin badanego układu cyfrowego określając jego:
Bardziej szczegółowo1. Opis płyty czołowej multimetru METEX MS Uniwersalne zestawy laboratoryjne typu MS-9140, MS-9150, MS-9160 firmy METEX
Uniwersalne zestawy laboratoryjne typu MS-9140, MS-9150, MS-9160 firmy METEX Połączenie w jednej obudowie generatora funkcyjnego, częstościomierza, zasilacza stabilizowanego i multimetru. Generator funkcyjny
Bardziej szczegółowoLaboratorium Asemblerów, WZEW, AGH WFiIS Tester NMOS ów
Pomiar charakterystyk prądowonapięciowych tranzystora NMOS Napisz program w asemblerze kontrolera picoblaze wykorzystujący możliwości płyty testowej ze Spartanem 3AN do zbudowania prostego układu pomiarowego
Bardziej szczegółowoBramki logiczne Podstawowe składniki wszystkich układów logicznych
Układy logiczne Bramki logiczne A B A B AND NAND A B A B OR NOR A NOT A B A B XOR NXOR A NOT A B AND NAND A B OR NOR A B XOR NXOR Podstawowe składniki wszystkich układów logicznych 2 Podstawowe tożsamości
Bardziej szczegółowoBADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO
Ćwiczenie 11 BADANIE PRZERZUTNIKÓW ASTABILNEGO, MONOSTABILNEGO I BISTABILNEGO 11.1 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie rodzajów, budowy i właściwości przerzutników astabilnych, monostabilnych oraz
Bardziej szczegółowoPrzerzutnik ma pewną liczbę wejść i z reguły dwa wyjścia.
Kilka informacji o przerzutnikach Jaki układ elektroniczny nazywa się przerzutnikiem? Przerzutnikiem bistabilnym jest nazywany układ elektroniczny, charakteryzujący się istnieniem dwóch stanów wyróżnionych
Bardziej szczegółowoPamięci półprzewodnikowe
Pamięci półprzewodnikowe na podstawie książki: Nowoczesne pamięci półprzewodnikowe, Betty Prince, WNT Ptc 2014/2015 15.1.2015 Półprzewodnikowe pamięci statyczne Pamięci statyczne - SRAM przechowywanie
Bardziej szczegółowoWstęp do Techniki Cyfrowej... Układy kombinacyjne
Wstęp do Techniki Cyfrowej... Układy kombinacyjne Przypomnienie Stan wejść układu kombinacyjnego jednoznacznie określa stan wyjść. Poszczególne wyjścia określane są przez funkcje boolowskie zmiennych wejściowych.
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI. Rev.1.0
LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI Rev..0 LABORATORIUM TECHNIKI CYFROWEJ: Bramki. CEL ĆWICZENIA - praktyczna weryfikacja wiedzy teoretycznej z zakresu działania bramek, - pomiary parametrów bramek..
Bardziej szczegółowoPOLITECHNIKA WARSZAWSKA WYDZIAŁ TRANSPORTU
POLITECHNIKA WARSZAWSKA WYDZIAŁ TRANSPORTU ZAKŁAD TELEKOMUNIKACJI W TRANSPORCIE EKSPLOATACJA SYSTEMÓW TELEKOMUNIKACYJNYCH LABORATORIUM Sprawdzenie poprawności funkcjonowania łączy wewnętrznych w centrali
Bardziej szczegółowoPRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW
L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW REV. 1.1 1. CEL ĆWICZENIA - obserwacja pracy diod i tranzystorów podczas przełączania, - pomiary charakterystycznych czasów
Bardziej szczegółowoTechnik elektronik 311[07] Zadanie praktyczne
1 Technik elektronik 311[07] Zadanie praktyczne Mała firma elektroniczna wyprodukowała tani i prosty w budowie prototypowy generator funkcyjny do zastosowania w warsztatach amatorskich. Podstawowym układem
Bardziej szczegółowoPamięci półprzewodnikowe na podstawie książki: Nowoczesne pamięci
Pamięci półprzewodnikowe na podstawie książki: Nowoczesne pamięci półprzewodnikowe, Betty Prince, WNT 16.12.2017 Półprzewodnikowe pamięci statyczne Pamięci statyczne - SRAM przechowywanie informacji w
Bardziej szczegółowoIC200UDR002 ASTOR GE INTELLIGENT PLATFORMS - VERSAMAX NANO/MICRO
IC200UDR002 8 wejść dyskretnych 24 VDC, logika dodatnia/ujemna. Licznik impulsów wysokiej częstotliwości. 6 wyjść przekaźnikowych 2.0 A. Port: RS232. Zasilanie: 24 VDC. Sterownik VersaMax Micro UDR002
Bardziej szczegółowoLista tematów na kolokwium z wykładu z Techniki Cyfrowej w roku ak. 2013/2014
Lista tematów na kolokwium z wykładu z Techniki Cyfrowej w roku ak. 2013/2014 Temat 1. Algebra Boole a i bramki 1). Podać przykład dowolnego prawa lub tożsamości, które jest spełnione w algebrze Boole
Bardziej szczegółowoKatalog skrócony układów logicznych CMOS serii 4000
Katalog skrócony układów logicznych CMOS serii 4000 4000 Dwie 3 wejściowe bramki NOR oraz inwerter Czas propagacji: 25ns, 60ns przy 5V Łączny pobór prądu: 0,3mA przy 5V, 0,6mA Częstotliwość danych: 1MHz
Bardziej szczegółowoDzielnik T A [ o C] t PHL [ns] t PLH U DD [V] I CC. f max [MHz] Rys. obud. Prod Programowalny licznik/dzielnik przez n. Udd.
Dzielnik 4018 4018 Programowalny licznik/dzielnik przez n 4018 D D1 D2 Q3 D3 1 2 3 Q2 4 Q1 5 6 7 8 Udd Wejœcia Wyjœcie T R PE Dn Qn X H H X H H X H X X H X Qn X ount D- wejœcie sprzê enia D1-D5- wejœcia
Bardziej szczegółowoZaliczenie Termin zaliczenia: Sala IE 415 Termin poprawkowy: > (informacja na stronie:
Zaliczenie Termin zaliczenia: 14.06.2007 Sala IE 415 Termin poprawkowy: >18.06.2007 (informacja na stronie: http://neo.dmcs.p.lodz.pl/tm/index.html) 1 Współpraca procesora z urządzeniami peryferyjnymi
Bardziej szczegółowoZESPÓŁ LABORATORIÓW TELEMATYKI TRANSPORTU ZAKŁAD TELEKOMUNIKACJI W TRANSPORCIE WYDZIAŁ TRANSPORTU POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ
ZESPÓŁ LABORATORIÓW TELEMATYKI TRANSPORTU ZAKŁAD TELEKOMUNIKACJI W TRANSPORCIE WYDZIAŁ TRANSPORTU POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ LABORATORIUM Eksploatacji Systemów Telekomunikacyjnych INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA
Bardziej szczegółowoPodstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki. Tranzystory unipolarne MOS
AGH Katedra Elektroniki Podstawy Elektroniki dla Tele-Informatyki Tranzystory unipolarne MOS Ćwiczenie 4 2014 r. 1. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z działaniem i zastosowaniami tranzystora
Bardziej szczegółowoTechnika Cyfrowa 2 wykład 4: FPGA odsłona druga technologie i rodziny układów logicznych
Technika Cyfrowa 2 wykład 4: FPGA odsłona druga technologie i rodziny układów logicznych Dr inż. Jacek Mazurkiewicz Katedra Informatyki Technicznej e-mail: Jacek.Mazurkiewicz@pwr.edu.pl Elementy poważniejsze
Bardziej szczegółowoZbudować 2wejściową bramkę (narysować schemat): a) NANDCMOS, b) NORCMOS, napisać jej tabelkę prawdy i wyjaśnić działanie przy pomocy charakterystyk
Zbudować 2wejściową bramkę (narysować schemat): a) NANDCMOS, b) NORCMOS, napisać jej tabelkę prawdy i wyjaśnić działanie przy pomocy charakterystyk przejściowych użytych tranzystorów. NOR CMOS Skale integracji
Bardziej szczegółowoELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH
Politechnika Warszawska Wydział Elektryczny ELEMENTY UKŁADÓW ENERGOELEKTRONICZNYCH Piotr Grzejszczak Mieczysław Nowak P W Instytut Sterowania i Elektroniki Przemysłowej 2015 Wiadomości ogólne Tranzystor
Bardziej szczegółowoPodstawowe układy pracy tranzystora bipolarnego
L A B O A T O I U M A N A L O G O W Y C H U K Ł A D Ó W E L E K T O N I C Z N Y C H Podstawowe układy pracy tranzystora bipolarnego Ćwiczenie opracował Jacek Jakusz 4. Wstęp Ćwiczenie umożliwia pomiar
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 23. Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia
Temat: Własności podstawowych bramek logicznych. Cel ćwiczenia Ćwiczenie 23 Poznanie symboli własności. Zmierzenie parametrów podstawowych bramek logicznych TTL i CMOS. Czytanie schematów elektronicznych,
Bardziej szczegółowo43 Pamięci półprzewodnikowe w technice mikroprocesorowej - rodzaje, charakterystyka, zastosowania
43 Pamięci półprzewodnikowe w technice mikroprocesorowej - rodzaje, charakterystyka, zastosowania Typy pamięci Ulotność, dynamiczna RAM, statyczna ROM, Miejsce w konstrukcji komputera, pamięć robocza RAM,
Bardziej szczegółowoMULTIMETR CYFROWY TES 2360 #02970 INSTRUKCJA OBSŁUGI
MULTIMETR CYFROWY TES 2360 #02970 INSTRUKCJA OBSŁUGI 1. SPECYFIKACJE 1.1. Specyfikacje ogólne. Zasada pomiaru: przetwornik z podwójnym całkowaniem; Wyświetlacz: LCD, 3 3 / 4 cyfry; Maksymalny odczyt: 3999;
Bardziej szczegółowoStatyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7
Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej
Bardziej szczegółowoSpis treści. Strona 1 z 36
Spis treści 1. Wzmacniacz mocy 50Ω 50W 20 do 512 MHz - sztuk 4... 2 2. Wzmacniacz małej mocy 50Ω 0.2 MHz do 750 MHz sztuk 3... 3 3. Wzmacniacz Niskoszumowy 50Ω 0.1 MHz do 500 MHz sztuk 3... 4 4. Wzmacniacz
Bardziej szczegółowoOrganizacja typowego mikroprocesora
Organizacja typowego mikroprocesora 1 Architektura procesora 8086 2 Architektura współczesnego procesora 3 Schemat blokowy procesora AVR Mega o architekturze harwardzkiej Wszystkie mikroprocesory zawierają
Bardziej szczegółowo(57) Tester dynamiczny współpracujący z jednej strony (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. (54) Tester dynamiczny
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 166151 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 9 0 5 8 3 (22) Data zgłoszenia: 06.06.1991 (51) IntCl5: G01R 31/28
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTRONIKA I ENERGOELEKTRONIKA BADANIE GENERATORÓW PRZEBIEGÓW PROSTOKĄTNYCH I GENERATORÓW VCO
LABORATORIUM ELEKTRONIKA I ENERGOELEKTRONIKA BADANIE GENERATORÓW PRZEBIEGÓW PROSTOKĄTNYCH I GENERATORÓW VCO Opracował: mgr inż. Andrzej Biedka . Zapoznać się ze schematem ideowym płytki ćwiczeniowej 2.
Bardziej szczegółowoUkłady, scalone 1111 N. typu UL. Kolektor każdego tranzystora układu jest odizolowany od. podłoża złęczem p-n. W celu z~pewnienia normalnej pracy
UKD 621 382 04977 N O R M A BRANŻOWA MKROUKŁADY Układy scalone SCALONE typu UL 1111 N BNBB 337539/07 Grupa katalogowa 1925 1 Przedmiot normy Przedmiotem normy sę monolityczne bipolarne analogowe układy
Bardziej szczegółowoTERMINAL DO PROGRAMOWANIA PRZETWORNIKÓW SERII LMPT I LSPT MTH-21 INSTRUKCJA OBSŁUGI I EKSPLOATACJI. Wrocław, lipiec 1999 r.
TERMINAL DO PROGRAMOWANIA PRZETWORNIKÓW SERII LMPT I LSPT MTH-21 INSTRUKCJA OBSŁUGI I EKSPLOATACJI Wrocław, lipiec 1999 r. SPIS TREŚCI 1. OPIS TECHNICZNY...3 1.1. PRZEZNACZENIE I FUNKCJA...3 1.2. OPIS
Bardziej szczegółowo1 Tranzystor MOS. 1.1 Stanowisko laboratoryjne. 1 TRANZYSTOR MOS
1 Tranzystor MOS Podczas bierzącego ćwiczenia omówiony zostanie sposób działania tranzystora polowego nmos, zbadane zostaną podstawowe charakterystyki tranzystora, oraz szybkość jego działania. Przed przystąpieniem
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7 Temat: Badanie właściwości elektrycznych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych.. Cel ćwiczenia: Poznanie budowy, zasady działania, charakterystyk
Bardziej szczegółowoSTEROWANIE MASZYN I URZĄDZEŃ I. Laboratorium. 4. Przekaźniki czasowe
STEROWANIE MASZYN I URZĄDZEŃ I Laboratorium 4. Przekaźniki czasowe Opracował: dr hab. inż. Cezary Orlikowski Instytut Politechniczny W tym ćwiczeniu będą realizowane programy sterujące zawierające elementy
Bardziej szczegółowoInstrukcja obsługi elektronicznego licznika typu 524. Model 524. Licznik sumujący i wskaźnik pozycji typu Opis. 1. Opis
Instrukcja obsługi elektronicznego licznika typu 524 Model 524 Model 524 jest urządzeniem wielozadaniowym i zależnie od zaprogramowanej funkcji podstawowej urządzenie pracuje jako: licznik sumujący i wskaźnik
Bardziej szczegółowoPrzetworniki pomiarowe obrotu i przesunięcia liniowego
Numer zamówieniowy: typ kołnierz i otwór pod wał względnie wał 14 = kołnierz synchro z otworem pod wał 12 mm 25 = kołnierz zaciskowy z wałem 12 mm 26 = kołnierz zaciskowy z wałem 12 mm i adapterem mocowanym
Bardziej szczegółowoElektrolityczny kondensator filtrujący zasilanie stabilizatora U12 po stronie sterującej
Designator Part Type Description AM2 DC/DC QDC2WSIL 5V Przetwornica DC/DC 12V/5V zasilanie logiki AM3 DC/DC QDC2WSIL 5V Przetwornica DC/DC 12V/5V ujemne zasilanie drivera U23 Przetwornica DC/DC 12V/5V
Bardziej szczegółowoPodstawy Informatyki Układ sterujący
- wersja szyta - wersja mikroprogramowana Podstawy Informatyki alina.momot@polsl.pl http://zti.polsl.pl/amomot/pi - wersja szyta - wersja mikroprogramowana Plan wykładu 1 Maszyna W Lista rozkazów maszyny
Bardziej szczegółowoCHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL
CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie zasad działania, budowy i właściwości podstawowych funktorów logicznych wykonywanych w jednej z najbardziej rozpowszechnionych
Bardziej szczegółowoBramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74HC00, 74HCT00, 7403, 74132
Skład zespołu: 1. 2. 3. 4. KTEDR ELEKTRONIKI G Wydział EIiE LBORTORIUM TECNIKI CYFROWEJ Data wykonania: Suma punktów: Grupa Ocena 1 Bramki TTL i CMOS 7400, 74S00, 74C00, 74CT00, 7403, 74132 I. Konspekt
Bardziej szczegółowoSystemy wbudowane Mikrokontrolery
Systemy wbudowane Mikrokontrolery Budowa i cechy mikrokontrolerów Architektura mikrokontrolerów rodziny AVR 1 Czym jest mikrokontroler? Mikrokontroler jest systemem komputerowym implementowanym w pojedynczym
Bardziej szczegółowoUkłady logiczne układy cyfrowe
Układy logiczne układy cyfrowe Jak projektować układy cyfrowe (systemy cyfrowe) Układy arytmetyki rozproszonej filtrów cyfrowych Układy kryptograficzne X Selektor ROM ROM AND Specjalizowane układy cyfrowe
Bardziej szczegółowoGeneratory kwarcowe Generator kwarcowy Colpittsa-Pierce a z tranzystorem bipolarnym
1. Cel ćwiczenia Generatory kwarcowe Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zagadnieniami dotyczącymi generacji przebiegów sinusoidalnych w podstawowych strukturach generatorów kwarcowych. Ponadto ćwiczenie
Bardziej szczegółowo10. KLUCZE DWUKIERUNKOWE, MULTIPLEKSERY I DEMULTIPLEKSERY CMOS
. KLUZE DWUKIERUNKOWE, MULTIPLEKSERY I DEMULTIPLEKSERY MOS.. EL ĆWIZENIA elem ćwiczenia jest poznanie podstawowych charakterystyk kluczy dwukierunkowych oraz głównych właściwości multipleksera i demultipleksera
Bardziej szczegółowoRzeszów, dnia r. ODPOWIEDŹ DO ZAPYTANIA O WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ
Rzeszów, dnia 01.08.2016 r. ODPOWIEDŹ DO ZAPYTANIA O WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy zamówienia: Dostawa sprzętu specjalistycznego (3 części) elektronicznego w ramach zadania: Poprawa jakości warunków
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6b
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6b Temat: Charakterystyki i parametry półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych. Cel ćwiczenia: Zapoznać z budową, zasadą działania, charakterystykami
Bardziej szczegółowoLMWD-2X LISTWOWY MODUŁ WYJŚĆ DWUSTANOWYCH DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, listopad 1999 r.
LISTWOWY MODUŁ WYJŚĆ DWUSTANOWYCH DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA Wrocław, listopad 1999 r. 50-305 WROCŁAW TEL./FAX (+71) 373-52-27 ul. S.JARACZA 57-57A TEL. 0-602-62-32-71 str.2 SPIS TREŚCI 1.OPIS TECHNICZNY...3
Bardziej szczegółowoLICZNIKI PODZIAŁ I PARAMETRY
LICZNIKI PODZIAŁ I PARAMETRY Licznik jest układem służącym do zliczania impulsów zerojedynkowych oraz zapamiętywania ich liczby. Zależnie od liczby n przerzutników wchodzących w skład licznika pojemność
Bardziej szczegółowoZespół Szkół Łączności w Krakowie. Badanie parametrów wzmacniacza mocy. Nr w dzienniku. Imię i nazwisko
Klasa Imię i nazwisko Nr w dzienniku espół Szkół Łączności w Krakowie Pracownia elektroniczna Nr ćw. Temat ćwiczenia Data Ocena Podpis Badanie parametrów wzmacniacza mocy 1. apoznać się ze schematem aplikacyjnym
Bardziej szczegółowo1.2 Funktory z otwartym kolektorem (O.C)
Wydział EAIiIB Laboratorium Katedra Metrologii i Elektroniki Podstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Ćw. 4. Funktory TTL cz.2 Data wykonania: Grupa (godz.): Dzień tygodnia:
Bardziej szczegółowoPrzykładowe rozwiązanie zadania dla zawodu technik telekomunikacji
PROJEKT REALIZACJI PRAC ZWIĄZANYCH Z URUCHOMIENIEM I TESTOWANIEM KODERA I DEKODERA PCM ORAZ WYKONANIE PRAC OBEJMUJĄCYCH OPRACOWANIE WYNIKÓW POMIARÓW Z URUCHOMIENIA I SPRAWDZENIA DZIAŁANIA JEGO CZĘŚCI CYFROWEJ
Bardziej szczegółowoKombinacyjne bloki funkcjonalne
Sławomir Kulesza Technika cyfrowa Kombinacyjne bloki funkcjonalne Wykład dla studentów III roku Informatyki Wersja., 5//2 Bloki cyfrowe Blok funkcjonalny to układ cyfrowy utworzony z pewnej liczby elementów
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTRONIKI I TEORII OBWODÓW
POLITECHNIKA POZNAŃSKA FILIA W PILE LABORATORIUM ELEKTRONIKI I TEORII OBWODÓW numer ćwiczenia: data wykonania ćwiczenia: data oddania sprawozdania: OCENA: 6 21.11.2002 28.11.2002 tytuł ćwiczenia: wykonawcy:
Bardziej szczegółowoArchitektura systemu komputerowego
Zakres przedmiotu 1. Wstęp do systemów mikroprocesorowych. 2. Współpraca procesora z pamięcią. Pamięci półprzewodnikowe. 3. Architektura systemów mikroprocesorowych. 4. Współpraca procesora z urządzeniami
Bardziej szczegółowoWydział Elektryczny. Katedra Automatyki i Elektroniki. Instrukcja. do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: SYSTEMY CYFROWE 1.
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: SYSTEMY CYFROWE 1 PAMIĘCI SZEREGOWE EEPROM Ćwiczenie 3 Opracował: dr inŝ.
Bardziej szczegółowoLiniowe układy scalone. Wykład 4 Parametry wzmacniaczy operacyjnych
Liniowe układy scalone Wykład 4 Parametry wzmacniaczy operacyjnych 1. Wzmocnienie napięciowe z otwartą pętlą ang. open loop voltage gain Stosunek zmiany napięcia wyjściowego do wywołującej ją zmiany różnicowego
Bardziej szczegółowoLUPS-11ME LISTWOWY UNIWERSALNY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA. Wrocław, kwiecień 2003 r.
LISTWOWY UNIWERSALNY PRZETWORNIK SYGNAŁOWY DOKUMENTACJA TECHNICZNO-RUCHOWA Wrocław, kwiecień 2003 r. 50-305 WROCŁAW TEL./FAX (+71) 373-52-27 ul. S. Jaracza 57-57a TEL. 0-602-62-32-71 str.2 SPIS TREŚCI
Bardziej szczegółowoStatyczne badanie przerzutników - ćwiczenie 3
Statyczne badanie przerzutników - ćwiczenie 3. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi strukturami przerzutników w wersji TTL realizowanymi przy wykorzystaniu bramek logicznych NAND oraz NO. 2. Wykaz
Bardziej szczegółowoZapoznanie się z podstawowymi strukturami liczników asynchronicznych szeregowych modulo N, zliczających w przód i w tył oraz zasadą ich działania.
Badanie liczników asynchronicznych - Ćwiczenie 4 1. el ćwiczenia Zapoznanie się z podstawowymi strukturami liczników asynchronicznych szeregowych modulo N, zliczających w przód i w tył oraz zasadą ich
Bardziej szczegółowo