Kierunek: Elektrotechnika wersja z dn Promieniowanie optyczne Laboratorium

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "Kierunek: Elektrotechnika wersja z dn Promieniowanie optyczne Laboratorium"

Transkrypt

1 Kirunk: Elktrotchnika wrsja z dn Prominiowani optyczn Laboratorium Tmat: OCENA ZAGROŻENIA ŚWIATŁEM NIEIESKIM Opracowani wykonano na podstawi: [1] PN-EN 6471:010 zpiczństwo fotobiologiczn lamp i systmów lampowych. [] Rozporządzni Ministra Pracy i Polityki Społcznj z dnia 7 maja 010 r. w sprawi bzpiczństwa i higiny pracy przy pracach związanych z kspozycją na prominiowan optyczn. (Dz. U. z 010 nr 100 poz. 643) [3] IEC/TR 6778:014 Aplication of IEC 6471 for th assssmnt of blu light hazard to light sourcs an luminairs 1. PODSTAWOWE WIADOMOŚCI 1.1. Zagrożni siatkówki światłm nibiskim Intnsywn prominiowani widzialn moż spowodować schorznia lub fotochmiczn uszkodzni siatkówki oka. Objawami uszkodznia siatkówki są ślpa plamka lub przrwy w polu widznia, a w skrajnych przypadkach utrata wzroku. Szczgólni nibzpiczny jst zakrs fal lktromagntycznych od 400 nm nm - światło nibiski. Maksimum widma czynngo wynosi 435 nm. Względną krzywą skutczności widmowj zagrożnia siatkówki światłm nibiskim pokazano na rysunku 1. Względna czułość widmowa [-] w [nm] Rys. 1. Krzywa skutczności widmowj zagrożnia siatkówki światłm nibiskim krzywa () 1.. Ocna zagrożnia siatkówki światłm nibiskim Ocna zagrożnia światłm nibiskim wykonywana jst na podstawi pomiaru natężnia napromininia lub luminacji nrgtycznj. 1

2 Natężni napromininia ( E [W/m ] ) - jst to stosunk lmntarngo struminia nrgtyczngo d, padającgo na lmntarną powirzchnię zawirającą dany punkt, do wartości tj lmntarnj powirzchni da. E d (1) Natężni napromininia wyznaczon na podstawi wartości widmowych natężnia napromininia E() przdstawia zalżność (): da E E d () Luminancja nrgtyczna ( L [W/m sr] ) wyrażana jst zalżnością: gdzi: d L (3) d da cos d jst struminim nrgtycznym prznoszonym przz lmntarną wiązkę przchodzącą przz okrślony punkt i rozchodzącą się w kąci przstrznnym d, zawirającym okrślony kirunk, da jst polm przkroju tj wiązki zawirającym dany kirunk, jst kątm między normalną do tgo przkroju i kirunkim wiązki. Luminancję nrgtyczną wyznaczoną na podstawi wartości widmowych L() przdstawia zalżność (4): L L d (4) Wybór krytrium ocny zalży od kąta widznia źródła światła. Zagrożni światłm nibiskim powodowan przz źródło światła widzian w kąci mnijszym niż 11 mrad 1 nalży ocnia na podstawi natężnia napromininia (mał źródła światła), a źródła widzian w kąci większym niż 11 mrad (duż źródła światła) na podstawi luminancji nrgtycznj. W clu ocny zagrożnia światłm nibiskim siatkówki oka widmow natężni naprominini lub widmowa luminacja nrgtyczna źródła powinny być obliczon z uwzględninim skutczności widmowj zagrożnia światłm nibiskim () (wartości widmow () zamiszczono w załączniku 1). Poziom kspozycji (skutczn natężni napromininia lub skutczną luminancję nrgtyczną) przy zagrożniu światł nibiskim wyznacza się na podstawi zalżności 5 i 6. Granic kspozycji na powirzchni oka zamiszczono w tabli 1. 1 Przy czasach kspozycji rzędu 10 s obraz źródła punktowgo pokrywa pol siatkówki równoważn kątowi ok. 11 mrad. Dla czasów kspozycji dłuższych niż s maksymalny rozmiar kątowy obrazu odwzorowywango na siatkówc oka wynosi 0,1 rad.

3 E 700nm 300nm E W ( ) (5) m L 700nm 300nm L W ( ) (6) m sr Dla skutcznj luminacji nrgtycznj źródła światła L przkraczającj 100 W m - sr -1 oraz skutczngo natężnia napromininia przkraczającgo 0,01 W m - nalży obliczyć maksymalny dopuszczalny czas kspozycji tmax (zalżności 7 i 8) t max max Tabla 1. Granic kspozycji dla zagrożnia światłm nibiskim t 100 [ s] E (7) 10 6 [ s] L (8) Krytrium ocny Wilkość kątowa źródła światła [rad] Czas trwania kspozycji Granic kspozycji Natężni napromininia < 0, s 100/t [[W m - ] > 100 s 1,0 [W m - ] Luminacja nrgtyczna 0,011 0, s -100 s 0,0011 t.0,5 100 s s 10 6 /t [W m - sr -1 ] 0, s 100 [W m - sr -1 ] 1.. Pomiar natężnia napromininia i luminancji nrgtycznj źródł światła Ocnę zagrożnia światłm nibiskim przprowadza się na podstawi pomiaru widmowgo natężnia napromininia w przypadku skutczngo natężnia napromininia, a w przypadku skutcznj luminacji nrgtycznj na podstawi pomiaru widmowj luminancji nrgtycznj lub widmowgo natężnia napromininia (mtoda altrnatywna). W mtodzi altrnatywnj wyznaczania skutcznj luminacji nrgtycznj, zalżni od czasu kspozycji, nalży zastosować ograniczni pola widznia źródła światła (rys., tabla 1.) 3

4 Rys... Ograniczni wilkości źródła światła uwzględniango przy pomiarz luminancji Zalżność między skutcznym natężnim napromininia, a skutczną luminacją nrgtyczną pokazuj zalżność 9. E L (9) Gdzi kąt w [sr] odpowiada pomiarowmu polu widznia odpowiadającmu kątowi płaskimu w [rad]. oraz: wtdy: ostatczni z (11) i (1) (10) 4 F r (11) 4E r L F (1) L 4E (13) Skutczn natężni napromininia wyznaczan jst na podstawi pomiaru widmowgo natężnia napromininia i skutczności widmowj zagrożnia światłm nibiskim () (zalżność 5). 4

5 Dla lamp do użytku w oświtlniu ogólnym (GLS), wartości zagrożnia powinna być podawana w odlgłości, w którj wytwarzają on natężni oświtlnia równ 500 lx, jdnak odlgłość ta ni powinna być mnijsza niż 00 mm. Dla lamp spcjalnych odlgłość ta powinna wynosić 00 mm Klasyfikacja lamp Lampy, któr mogą stanowić zagrożni fotobiologiczn podlgają klasyfikacji na cztry grupy ryzyka: 1. Grupa wolna od ryzyka lampy ni stwarzają żadngo zagrożnia fotobiologiczngo. Grupa ryzyka 1 (niski ryzyko) lampy ni stwarzają zagrożnia fotobiologiczngo z powodu normalnych ograniczń kspozycji w trakci użytkowania 3. Grupa ryzyka (umiarkowan ryzyko) lampy ni stwarzają zagrożnia fotobiologiczngo z powodu awrsji (mrugani, odwracani głowy) do bardzo jaskrawych źródł światła lub z powodu dyskomfortu trmiczngo. 4. Grupa ryzyka 3 (wysoki ryzyko) lampy stwarza zagrożni fotobiologiczn nawt przy chwilowj lub krótkotrwałj kspozycji. Lampy ocnia się z względu na zagrożni: Zagrożnia ultrafioltm aktynicznym (Es) Zagrożnia bliskim nadfioltm (EUVA) Zagrożnia siatkówki światłm nibiskim (L) Zagrożnia trmiczngo siatkówki (LR) Zagrożnia oka prominiowanim podczrwonym (EIR) Żby możliw było zaklasyfikowani lampy do danj grupy ryzyka ni moż ona przkraczać dopuszczalnych granic misji przwidzianych dla danj grupy w zakrsi wszystkich ocnianych zagrożń. Granic misji dla klasyfikacji lamp o działaniu ciągłym 3 w odnisiniu do zagrożnia światłm nibiskim zstawiono w tabli. Tabla. Granic misji dla światła nibiskigo Rozdaj zagrożnia Grupa ryzyka Woln od ryzyka Niski ryzyko Umiarkowan ryzyko Graniczn wartości luminancji nrgtycznj L [W m - sr -1 ] Lampy użytkowan w oświtlniu ogólnym lampy przznaczon do kształtowania przstrzni świtlnj, któr są zwykl używan lub obsrwowan przz ludzi. Przykładm mogą być lampy stosowan w oświtlniu biur, szkół domów, fabryk, dróg lub w samochodach. 3 Lampa o działaniu ciągłym lampa, która pracuj z misją ciągłą w czasi dłuższym niż 0,5 s. 5

6 . PRZEIEG ĆWICZENIA Świtlówki połączyć układ zgodni z schmatm zamiszczonym na rysunku 3. Lampy LED zasilić bzpośrdnio z zasilacza AC. Rys. 3. Schmat układu połączń świtlówk DŁ statcznik, L lampa, Z-zapłonnik adaną lampę zaklasyfikować do lamp do oświtlnia ogólngo (GLS) lub do lamp spcjalnych. Wyznaczyć odlgłość, w którj nalży ustawić głowicę pomiarową spktrofotomtru (rysunk 4). Dla lamp GLS odlgłość r powinna odlgłością, w którj lampa wytwarza natężni oświtlnia równ 500 lx, al ni mnij niż 00 mm, a dla lamp spcjalnych r = 00 mm (nizalżni od wytwarzango natężnia oświtlnia). Dla lamp spcjalnych zmirzyć natężni oświtlnia w odlgłości 00 mm od źródła światła. Rys. 4. Schmat stanowiska pomiarowgo przy ograniczniku pola F 8 mm Środk gomtryczny powirzchni świcącj (środk świtlny) powinin być na tj samj wysokości, co środk powirzchni pomiarowj głowicy spktrofotomtru. Ustalić czas kspozycji (t) na prominiowani pochodząc od badango źródła światła i wymagan przy tym czasi kspozycji ograniczni pola widznia (F) do wilkości kątowj źródła światła (podanj w tabli 1. 6

7 Na podstawi kąta i odlgłości r obliczyć wilkość kołowgo ogranicznika pola. Jako ogranicznik pola widznia zastosować przsłonę z otworm o zminnj śrdnicy w zakrsi, mm do 8 mm. W przypadku, gdy do ogranicznia pola wymagana będzi większa śrdnica niż 8 mm, to nalży wyznaczyć odlgłość l od głowicy spktrofotomtru, w którj nalży ustawić przsłonę z maksymalnym otworm (8 mm), tak aby uzyskać żądaną wilkość kątową źródła światła (rysunk 5). Rys. 5. Schmat stanowiska pomiarowgo przy ograniczniku pola F > 8 mm Po ustabilizowaniu się struminia świtlngo lampy zmirzyć spktrofotomtrm widmow natężni napromininia w zakrsi 300 nm do 780 nm z rozdzilczością co 1 nm. Wartość skutczną luminacji nrgtycznj (L) obliczyć na podstawi zalżności 5 i 1. Wyznaczyć maksymalny dopuszczalny czas kspozycji na światło nibiski (tmax). Ocnić grupę ryzyka badanj lampy pod względm zagrożnia światłm nibiskim. Ponadto wyznaczyć skutczność zagrożnia światłm nibiskim prominiowania widzialngo (K,v), wyrażoną jako stosunk wilkości skutcznj zagrożnia światłm nibiskim do struminia świtlngo fotomtrycznj (zalżność 13). Oblicznia wilkości fotomtrycznj wykonać z skokim co 5 nm. 700 m m 380 E K, v [ W / lm] K V K E V (13) Gdzi: Km = 683 lm/w Wyniki pomiarów i obliczń zamiścić w tabli 3. Przprowadzić analizę uzyskanych wyników. Sformułować wnioski. 7

8 TAELA 3. Ocna zagrożnia siatkówki oka światłm nibiskim Paramtry lampy r t E L tmax Grupa ryzyka [mm] [rad] [s] [W m - ] [W m - ] [s] [W lm -1 ] K,v (GLS/Spcjalna): Typ/oznaczni: Producnt: (GLS/Spcjalna): Typ/oznaczni: Producnt: (GLS/Spcjalna): Typ/oznaczni: Producnt: (GLS/Spcjalna): Typ/oznaczni: Producnt: (GLS/Spcjalna): Typ/oznaczni: Producnt: (GLS/Spcjalna): Typ/oznaczni: Producnt: 8

9 Załącznik 1. Względna widmowa skutczność zagrożnia siatkówki światłm nibiskim () [nm] Względna skutczność widmowa zagrożnia siatkówki światłm nibiskim () [nm] Względna skutczność widmowa zagrożnia siatkówki światłm nibiskim () 300 0, , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , 390 0, , , [(450-)/50] 400 0, ,001 9

10 Załącznik. Względna widmowa skutczność świtlna V () dla widznia fotopowgo [nm] Względna widmowa skutczność świtlna dla widznia fotopowgo V () [nm] Względna widmowa skutczność świtlna dla widznia fotopowgo V () 380 0, , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , ,03 10

11 Względna widmowa skutczność świtlna V () dla widznia fotopowgo cd. [nm] Względna widmowa skutczność świtlna dla widznia fotopowgo [nm] Względna widmowa skutczność świtlna dla widznia fotopowgo V () V () 680 0, , , , , , , , , , , , , , , , , , , , ,

Wielkości i jednostki promieniowania w ujęciu energetycznym i fotometrycznym

Wielkości i jednostki promieniowania w ujęciu energetycznym i fotometrycznym Wilkości i jdnostki prominiowania w ujęciu nrgtycznym i otomtrycznym Ujęci nrgtyczn Ujęci otomtryczn Enrgia prominista prznoszona przz prominiowani W, Q; jdnostka: 1 Ws 1 J Strumiń nrgtyczny (moc prominista)

Bardziej szczegółowo

Fotometria i kolorymetria

Fotometria i kolorymetria . odstawow wilkości radio- i fotomtryczn (jdnostki nrgtyczn i świtln). rawa i zalżności fotomtrii (Lambrta, fotomtryczn, prawa odlgłości). http://www.if.pwr.wroc.pl/~wozniak/fotomtria Mijsc i trmin konsultacji:

Bardziej szczegółowo

Fotometria i kolorymetria

Fotometria i kolorymetria 2. Podstawow wilkości radio- i fotomtryczn (jdnostki nrgtyczn i świtln). Prawa i zalżności fotomtrii (Lambrta, fotomtryczn, prawa odlgłości) http://www.if.pwr.wroc.pl/~wozniak/ Mijsc konsultacji: pokój

Bardziej szczegółowo

CHARAKTERYSTYKA OBCIĄŻENIOWA

CHARAKTERYSTYKA OBCIĄŻENIOWA Opracowani: dr inż. Ewa Fudalj-Kostrzwa CHARAKTERYSTYKA OBCIĄŻENIOWA Charaktrystyki obciążniow są wyznaczan w ramach klasycznych statycznych badań silników zarówno dla silników o zapłoni iskrowym jak i

Bardziej szczegółowo

Wykład FIZYKA II. 9. Optyka - uzupełnienia. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak

Wykład FIZYKA II. 9. Optyka - uzupełnienia.  Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak Wykład FIZYKA II 9. Optyka - uzupłninia Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak Instytut Fizyki Politchniki Wrocławskij http://www.if.pwr.wroc.pl/~wozniak/ PRZYRZĄDY OPTYCZNE - LUPA Lupa najprostszy przyrząd,

Bardziej szczegółowo

Kierunek: Elektrotechnika wersja z dn Promieniowanie Optyczne Laboratorium

Kierunek: Elektrotechnika wersja z dn Promieniowanie Optyczne Laboratorium Kierunek: lektrotechnika wersja z dn. 14.03.2019 Promieniowanie Optyczne Laboratorium Temat: OCNA ZAGROŻNIA PROMINIOWANIM UV Opracowanie wykonano na podstawie: [1] PN-N 62471:2010 Bezpieczeństwo fotobiologiczne

Bardziej szczegółowo

Kierunek: Elektrotechnika wersja z dn Promieniowanie optyczne Laboratorium

Kierunek: Elektrotechnika wersja z dn Promieniowanie optyczne Laboratorium Kierunek: lektrotechnika wersja z dn. 12.04.2018 Promieniowanie optyczne Laboratorium Temat: OCNA ZAGROŻNIA PROMINIOWANIM UV Opracowanie wykonano na podstawie: [1] PN-N 62471:2010 Bezpieczeństwo fotobiologiczne

Bardziej szczegółowo

ZESPÓŁ B-D ELEKTROTECHNIKI

ZESPÓŁ B-D ELEKTROTECHNIKI ZESÓŁ B-D ELEKTOTECHNIKI Laboratorium Elktrotchniki i Elktroniki Samochodowj Tmat ćwicznia: Badani rozrusznika Opracowani: dr hab. inż. S. DUE 1. Instrukcja Laboratoryjna 2 omiary wykonan: a) omiar napięcia

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Półprzewodniki Dielektryki Magnetyki Ćwiczenie nr 11 Badanie materiałów ferromagnetycznych

Laboratorium Półprzewodniki Dielektryki Magnetyki Ćwiczenie nr 11 Badanie materiałów ferromagnetycznych Laboratorium Półprzwodniki Dilktryki Magntyki Ćwiczni nr Badani matriałów frromagntycznych I. Zagadninia do przygotowania:. Podstawow wilkości charaktryzując matriały magntyczn. Związki pomiędzy B, H i

Bardziej szczegółowo

Elektroniczne systemy bezpieczeństwa mogą występować w trzech rodzajach struktur. Są to struktury typu: - skupionego, - rozproszonego, - mieszanego.

Elektroniczne systemy bezpieczeństwa mogą występować w trzech rodzajach struktur. Są to struktury typu: - skupionego, - rozproszonego, - mieszanego. A. Cl ćwicznia Clm ćwicznia jst zapoznani się z wskaźnikami nizawodnościowymi lktronicznych systmów bzpiczństwa oraz wykorzystanim ich do optymalizacji struktury nizawodnościowj systmu.. Część tortyczna

Bardziej szczegółowo

Energia na potrzeby oświetlenia Ocena instalacji oświetleniowej budynku i jego otoczenia. Podstawowe pojęcia i definicje techniki świetlnej

Energia na potrzeby oświetlenia Ocena instalacji oświetleniowej budynku i jego otoczenia. Podstawowe pojęcia i definicje techniki świetlnej Szkolni dla osób ubigających się o uprawnini do sporządzania świadctwa charaktrystyki nrgtycznj budynku Enrgia na potrzby oświtlnia Ocna instalacji oświtlniowj budynku i jgo otocznia mgr inŝ. Andrzj Jurkiwicz

Bardziej szczegółowo

Analiza danych jakościowych

Analiza danych jakościowych Analiza danych jakościowych Ccha ciągła a ccha dyskrtna! Ciągła kg Dyskrtna Cchy jakościow są to cchy, których jdnoznaczn i oczywist scharaktryzowani za pomocą liczb jst nimożliw lub bardzo utrudnion.

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE J15. Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Comptona poprzez pomiar zależności energii rozproszonych kwantów gamma od kąta rozproszenia.

ĆWICZENIE J15. Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Comptona poprzez pomiar zależności energii rozproszonych kwantów gamma od kąta rozproszenia. ĆWICZNI J15 Badani fktu Comptona Clm ćwicznia jst zbadani fktu Comptona poprzz pomiar zalżności nrgii rozproszonych kwantów gamma od kąta rozprosznia. Wstęp fkt Comptona to procs nilastyczngo rozprosznia

Bardziej szczegółowo

Zjawisko fotoelektryczne zewnętrzne

Zjawisko fotoelektryczne zewnętrzne Narodow Cntrum Badań Jądrowych Dział Edukacji i Szkolń ul. Andrzja Sołtana 7, 05-400 Otwock-Świrk ĆWICZENIE 17 L A B O R A T O R I U M F I Z Y K I A T O M O W E J I J Ą D R O W E J Zjawisko fotolktryczn

Bardziej szczegółowo

Nowe zalecenia dotyczące oceny zagrożenia światłem niebieskim emitowanym przez lampy i oprawy LED

Nowe zalecenia dotyczące oceny zagrożenia światłem niebieskim emitowanym przez lampy i oprawy LED Nowe zalecenia dotyczące oceny zagrożenia światłem niebieskim emitowanym przez lampy i oprawy D 1. Wprowadzenie Jednym z najważniejszych międzynarodowych dokumentów omawiających kwestię ryzyka fotobiologicznego

Bardziej szczegółowo

Schemat układu zasilania diod LED pokazano na Rys.1. Na jednej płytce połączone są różne diody LED, które przełącza się przestawiając zworkę.

Schemat układu zasilania diod LED pokazano na Rys.1. Na jednej płytce połączone są różne diody LED, które przełącza się przestawiając zworkę. Ćwiczenie 3. Parametry spektralne detektorów. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi parametrami detektorów i ich podstawowych parametrów. Poznanie zależności związanych z oddziaływaniem

Bardziej szczegółowo

Warszawa, dnia 11 lipca 2012 r. Poz. 787

Warszawa, dnia 11 lipca 2012 r. Poz. 787 Warszawa, dnia 11 lipca 2012 r. Poz. 787 ROZPORZĄDZENIE MINISTRA PRACY I POLITYKI SPOŁECZNEJ 1) z dnia 25 czerwca 2012 r. zmieniające rozporządzenie w sprawie bezpieczeństwa i higieny pracy przy pracach

Bardziej szczegółowo

nyborg - Mawent wentylatory promieniowe Zwpo Nyborg-Mawent S.A. ul. Ciepła 6, Malbork, Polska

nyborg - Mawent wentylatory promieniowe Zwpo Nyborg-Mawent S.A. ul. Ciepła 6, Malbork, Polska nyborg - Mawnt wntylatory prominiow Zwpo Nyborg-Mawnt S.A. ul. Cipła 6, 82-200 Malbork, Polska tl: +48 55 646 63 00 fax: +48 55 646 63 09 www.nyborg-mawnt.com offic@nyborg-mawnt.com Zastosowani: Wntylatory

Bardziej szczegółowo

PHILIPS Świetlówki liniowe

PHILIPS Świetlówki liniowe Cnnik: EAN PHILIPS Świtlówki liniow Wszystki cny są cnami ntto, nalży doliczyć % VAT. Dział handlowy () --,, Fax: () -- PHILIPS Katalog - PHILIPS Katalog Źródł Światła i osprzętu Karty katalogow: PHILIPS

Bardziej szczegółowo

7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji

7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji 7. Wyznaczanie poziomu ekspozycji Wyznaczanie poziomu ekspozycji w przypadku promieniowania nielaserowego jest bardziej złożone niż w przypadku promieniowania laserowego. Wynika to z faktu, że pracownik

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE REGRESJI LOGISTYCZNEJ DO OKREŚLENIA PRAWDOPODOBIEŃSTWA SPRZEDAŻY ZASOBU MIESZKANIOWEGO

ZASTOSOWANIE REGRESJI LOGISTYCZNEJ DO OKREŚLENIA PRAWDOPODOBIEŃSTWA SPRZEDAŻY ZASOBU MIESZKANIOWEGO ZASTOSOWANIE REGRESJI LOGISTYCZNEJ DO OKREŚLENIA PRAWDOPODOBIEŃSTWA SPRZEDAŻY ZASOBU MIESZKANIOWEGO Łukasz MACH Strszczni: W artykul przdstawiono procs budowy modlu rgrsji logistycznj, którgo clm jst wspomagani

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA

WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT ELEKTROENERGETYKI Instrukcja do ćwiczenia O9 Temat ćwiczenia WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA Ćwiczenie O9 WYZNACZANIE CHARAKTERYSTYK ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ

Bardziej szczegółowo

Farmakokinetyka furaginy jako przykład procesu pierwszego rzędu w modelu jednokompartmentowym zawierającym sztuczną nerkę jako układ eliminujący lek

Farmakokinetyka furaginy jako przykład procesu pierwszego rzędu w modelu jednokompartmentowym zawierającym sztuczną nerkę jako układ eliminujący lek 1 Matriał tortyczny do ćwicznia dostępny jst w oddzilnym dokumnci, jak równiż w książc: Hrmann T., Farmakokintyka. Toria i praktyka. Wydawnictwa Lkarski PZWL, Warszawa 2002, s. 13-74 Ćwiczni 6: Farmakokintyka

Bardziej szczegółowo

nyborg - Mawent wentylatory promieniowe Zwp Nyborg-Mawent S.A. ul. Ciepła 6, Malbork, Polska

nyborg - Mawent wentylatory promieniowe Zwp Nyborg-Mawent S.A. ul. Ciepła 6, Malbork, Polska nyborg - Mawnt wntylatory prominiow Zwp Nyborg-Mawnt S.A. ul. Cipła 6, 82-200 Malbork, Polska tl: +48 55 646 63 00 fax: +48 55 646 63 09 www.nyborg-mawnt.com offic@nyborg-mawnt.com Zastosowani: Wntylatory

Bardziej szczegółowo

nyborg - Mawent wentylatory promieniowe Zwps Nyborg-Mawent S.A. ul. Ciepła 6, Malbork, Polska

nyborg - Mawent wentylatory promieniowe Zwps Nyborg-Mawent S.A. ul. Ciepła 6, Malbork, Polska nyorg - Mawnt wntylatory prominiow Zwps Nyborg-Mawnt S.A. ul. Cipła 6, 82-200 Malbork, Polska tl: +48 55 646 63 00 fax: +48 55 646 63 09 www.nyborg-mawnt.com offic@nyborg-mawnt.com Zastosowani: Wntylatory

Bardziej szczegółowo

lim lim 4) lim lim lim lim lim x 3 e e lim lim x lim lim 2 lim lim lim Zadanie 1 Wyznacz dziedziny następujących funkcji: log x x 6x

lim lim 4) lim lim lim lim lim x 3 e e lim lim x lim lim 2 lim lim lim Zadanie 1 Wyznacz dziedziny następujących funkcji: log x x 6x Tmat : Funkcj jdnj zminnj Zadani Wyznacz dzidziny następujących funkcji: ) f ) f 5) log 6 ) f ) f 7 Zadani Oblicz granic funkcji: log f 5 6) f 7 8 ) ) ) 8 7 ) 5) 6) 7) 8) 9) 5 5 7 7 7 6 0) 6 ) ) 9) 0)

Bardziej szczegółowo

Przedmiotowy system oceniania z fizyki w klasie II rok szkolny 2016/2017

Przedmiotowy system oceniania z fizyki w klasie II rok szkolny 2016/2017 objmujący trści nauczania zawart w podręczniku Spotkania z fizyką" cz. 3 (a takż w programi nauczania) Elktrostatyka (6-7 godz. + 2 godz. (łączni) na powtórzni matriału (podsumowani działu i sprawdzian)

Bardziej szczegółowo

Wykład 25. Kwantowa natura promieniowania

Wykład 25. Kwantowa natura promieniowania 1 Wykład 5 Kwantowa natura prominiowania 1.1 Prominiowani cipln. Ciała, któr podgrzwan są do dostatczni wysokich tmpratur świcą. Świcni ciał, któr spowodowan jst nagrzwanim, nazywa się prominiowanim ciplnym

Bardziej szczegółowo

4) lim. lim. lim. lim. lim. x 3. e e. lim. lim x. lim. lim. lim. lim 2. lim. lim. lim. Zadanie 1 Wyznacz dziedziny następujących funkcji: log x.

4) lim. lim. lim. lim. lim. x 3. e e. lim. lim x. lim. lim. lim. lim 2. lim. lim. lim. Zadanie 1 Wyznacz dziedziny następujących funkcji: log x. Zastosowania matmatyki w konomii Tmat : Funkcj jdnj zminnj Zadani Wyznacz dzidziny następujących funkcji: ) f ) f 5) log 6 ) f ) f 7 Zadani Oblicz granic funkcji: log f 5 6) f 7 8 ) ) ) 8 7 ) 5) 6) 7)

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 3. Strona 1 z 10

Ćwiczenie 3. Strona 1 z 10 Ćwiczni 3 Baani oka. Pomiary fotomtryczn. Baani prztworników optolktronicznych (szum, rozzilczość) - różn natężni oświtlnia. Porównani wyników. Część tortyczna Baani narząu wzroku. Ocna narząu wzroku.

Bardziej szczegółowo

ASPEKTY METROLOGICZNE STOSOWANIA NORMY PN-EN BEZPIECZEŃSTWO FOTOBIOLOGICZNE LAMP I SYSTEMÓW LAMPOWYCH

ASPEKTY METROLOGICZNE STOSOWANIA NORMY PN-EN BEZPIECZEŃSTWO FOTOBIOLOGICZNE LAMP I SYSTEMÓW LAMPOWYCH Jerzy PIETRZYKOWSKI ASPEKTY METROLOGICZNE STOSOWANIA NORMY PN-EN 62471 BEZPIECZEŃSTWO FOTOBIOLOGICZNE LAMP I SYSTEMÓW LAMPOWYCH STRESZCZENIE Sztuczne i naturalne źródła promieniowania optycznego mogą stwarzać

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA GDAŃSKA Wydział Elektrotechniki i Automatyki Katedra Energoelektroniki i Maszyn Elektrycznych LABORATORIUM

POLITECHNIKA GDAŃSKA Wydział Elektrotechniki i Automatyki Katedra Energoelektroniki i Maszyn Elektrycznych LABORATORIUM POLITECHNIKA GDAŃSKA Wydział Elktrotchniki i Automatyki Katdra Enrgolktroniki i Maszyn Elktrycznych LABORATORIUM SYSTEMY ELEKTROMECHANICZNE TEMATYKA ĆWICZENIA MASZYNA SYNCHRONICZNA BADANIE PRACY W SYSTEMIE

Bardziej szczegółowo

Automatyzacja Procesów Przemysłowych

Automatyzacja Procesów Przemysłowych Automatyzacja Procsów Przmysłowych Tmat: Układ rgulacji zamknięto-otwarty Zspół: Kirunk i grupa: Data: Mikuś Marcin Mizra Marcin Łochowski Radosław Politowski Dariusz Szymański Zbigniw Piwowarski Przmysław

Bardziej szczegółowo

1.3. Poziom ekspozycji na promieniowanie nielaserowe wyznacza się zgodnie z wzorami przedstawionymi w tabeli 1, przy uwzględnieniu:

1.3. Poziom ekspozycji na promieniowanie nielaserowe wyznacza się zgodnie z wzorami przedstawionymi w tabeli 1, przy uwzględnieniu: Załącznik do rozporządzenia Ministra Pracy i Polityki Społecznej z dnia 27 maja 2010 r. Wyznaczanie poziomu ekspozycji na promieniowanie optyczne 1. Promieniowanie nielaserowe 1.1. Skutki oddziaływania

Bardziej szczegółowo

Temat: WYZNACZANIE OBROTOWO-SYMETRYCZNEJ BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ

Temat: WYZNACZANIE OBROTOWO-SYMETRYCZNEJ BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ STUDIA NIESTACJONARNE I STOPNIA, wersja z dn. 15.10.018 KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA, SEM.5 Podstawy Techniki Świetlnej Laboratorium Ćwiczenie nr 4 Temat: WYZNACZANIE OBROTOWO-SYMETRYCZNEJ BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ

Bardziej szczegółowo

W polskim prawodawstwie i obowiązujących normach nie istnieją jasno sprecyzowane wymagania dotyczące pomiarów źródeł oświetlenia typu LED.

W polskim prawodawstwie i obowiązujących normach nie istnieją jasno sprecyzowane wymagania dotyczące pomiarów źródeł oświetlenia typu LED. Pomiary natężenia oświetlenia LED za pomocą luksomierzy serii Sonel LXP W polskim prawodawstwie i obowiązujących normach nie istnieją jasno sprecyzowane wymagania dotyczące pomiarów źródeł oświetlenia

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Nowoczesna Diagnostyka Materiałowa Pomiar materiałów magnetycznie miękkich

Laboratorium Nowoczesna Diagnostyka Materiałowa Pomiar materiałów magnetycznie miękkich Laboratorium Nowoczsna Diagnostyka Matriałowa Pomiar matriałów magntyczni miękkich I. Zagadninia do przygotowania:. Podstawow wilkości opisując pol i matriały magntyczn: natężni pola magntyczngo, indukcja

Bardziej szczegółowo

Obserw. przejść wymusz. przez pole EM tylko, gdy różnica populacji. Tymczasem w zakresie fal radiowych poziomy są ~ jednakowo obsadzone.

Obserw. przejść wymusz. przez pole EM tylko, gdy różnica populacji. Tymczasem w zakresie fal radiowych poziomy są ~ jednakowo obsadzone. Podsumowani W Obsrw. przjść wymusz. przz pol EM tylko, gdy różnica populacji. Tymczasm w zakrsi fal radiowych poziomy są ~ jdnakowo obsadzon. Nirównowagow rozkłady populacji pompowani optyczn (zasada zachowania

Bardziej szczegółowo

6. Wyznaczanie wartości MDE

6. Wyznaczanie wartości MDE 6. Wyznaczanie wartości MDE Wartości maksymalnych dopuszczalnych ekspozycji (MDE) na promieniowanie optyczne zostały określone w części D załącznika 2. Wykaz wartości najwyższych dopuszczalnych natężeń

Bardziej szczegółowo

Szeregowy obwód RC - model matematyczny układu

Szeregowy obwód RC - model matematyczny układu Akadmia Morska w Gdyni Katdra Automatyki Okrętowj Toria strowania Mirosław Tomra Na przykładzi szrgowgo obwodu lktryczngo składającgo się z dwóch lmntów pasywnych: rzystora R i kondnsatora C przdstawiony

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych

Ćwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych Ćwiczenie nr 34 Badanie elementów optoelektronicznych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z elementami optoelektronicznymi oraz ich podstawowymi parametrami, a także doświadczalne sprawdzenie

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej

Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej Wprowadzenie Światło widzialne jest to promieniowanie elektromagnetyczne (zaburzenie poła elektromagnetycznego rozchodzące

Bardziej szczegółowo

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego

Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego Ćwiczenie O5 Wyznaczanie rozmiarów szczelin i przeszkód za pomocą światła laserowego O5.1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wykorzystanie zjawiska dyfrakcji i interferencji światła do wyznaczenia rozmiarów

Bardziej szczegółowo

KONSTRUKCJE DREWNIANE I MUROWE

KONSTRUKCJE DREWNIANE I MUROWE POLITECHNIKA BIAŁOSTOCKA WBiIŚ KATEDRA KONSTRUKCJI BUDOWLANYCH ZAJĘCIA 2 KONSTRUKCJE DREWNIANE I MUROWE Mgr inż. Julita Krassowska POKRYCIE DACHU gont bitumiczny, papa na dskowaniu, dachówka karpiówka,

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 1. Temat: BADANIE OSTROŚCI WIDZENIA W RÓŻNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH

Ćwiczenie nr 1. Temat: BADANIE OSTROŚCI WIDZENIA W RÓŻNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH Grupa: Elektrotechnika, sem 3., wersja z dn. 03.10.2011 Podstawy Techniki Świetlnej Laboratorium Ćwiczenie nr 1. Temat: BADANIE OSTROŚCI WIDZENIA W RÓŻNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH Opracowanie wykonano

Bardziej szczegółowo

Rys. 1. Zakres widzialny fal elektromagnetycznych dla widzenia w ciągu dnia i nocy.

Rys. 1. Zakres widzialny fal elektromagnetycznych dla widzenia w ciągu dnia i nocy. Pomiary natężenia oświetlenia Możliwości percepcyjne, a przez to stan psychofizyczny człowieka zależą w bardzo dużym stopniu od środowiska, w jakim aktualnie przebywa. Bodźce świetlne są decydującymi czynnikami

Bardziej szczegółowo

FDA-12/FDA-12-T/FDA-12-M

FDA-12/FDA-12-T/FDA-12-M Klapy przciwpożarow Opis FDA-12 stosowan w wntylacji ogólnj, jako zabzpicznia unimożliwiając przdostawani się dymu i ognia pomiędzy wydzilonymi sąsidnimi strfami pożarowymi. Przdmiotow klapy odcinając

Bardziej szczegółowo

Termodynamika. Część 10. Elementy fizyki statystycznej klasyczny gaz doskonały. Janusz Brzychczyk, Instytut Fizyki UJ

Termodynamika. Część 10. Elementy fizyki statystycznej klasyczny gaz doskonały. Janusz Brzychczyk, Instytut Fizyki UJ Trodynaika Część 1 Elnty fizyki statystycznj klasyczny gaz doskonały Janusz Brzychczyk, Instytut Fizyki UJ Użytczn całki ax2 dx = 1 2 a x ax2 dx = 1 2a ax2 dx = a a x 2 ax2 dx = 1 4a a x 3 ax2 dx = 1 2a

Bardziej szczegółowo

BADANIE WŁAŚCIWOŚCI I UKŁADÓW PRACY ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA

BADANIE WŁAŚCIWOŚCI I UKŁADÓW PRACY ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA Ćwiczenie S 23 BADANIE WŁAŚCIWOŚCI I UKŁADÓW PRACY ELEKTRYCZNYCH ŹRÓDEŁ ŚWIATŁA 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie studentów z właściwościami elektrycznych źródeł światła, układami w jakich

Bardziej szczegółowo

STUDIA NIESTACJONARNE II STOPNIA, sem. 3 wersja z dn KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA Laboratorium TECHNIKI ŚWIETLNEJ

STUDIA NIESTACJONARNE II STOPNIA, sem. 3 wersja z dn KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA Laboratorium TECHNIKI ŚWIETLNEJ STUDIA NISTACJONARN II STOPNIA, sem. 3 wersja z dn. 28.11.2016. KIRUNK LKTROTCHNIKA Laboratorium TCHNIKI ŚWITLNJ TMAT: OCNA JAKOŚCI I FKTYWNOŚCI NRGTYCZNJ OŚWITLNIA WNĘTRZ Opracowanie wykonano na podstawie:

Bardziej szczegółowo

.pl KSIĄŻKA ZNAKU. Portal Kulturalny Warmii i Mazur. www.eświatowid.pl. Przygotował: Krzysztof Prochera. Zatwierdził: Antoni Czyżyk

.pl KSIĄŻKA ZNAKU. Portal Kulturalny Warmii i Mazur. www.eświatowid.pl. Przygotował: Krzysztof Prochera. Zatwierdził: Antoni Czyżyk Portalu Kulturalngo Warmii i Mazur www.światowid Przygotował: Krzysztof Prochra... Zatwirdził: Antoni Czyżyk... Elbląg, dn. 4.12.2014 Płna forma nazwy prawnj: www.światowid Formy płnj nazwy prawnj nalży

Bardziej szczegółowo

2. Klasyfikacja grup ryzyka źródeł światła ze względu na zagrożenia fotobiologiczne

2. Klasyfikacja grup ryzyka źródeł światła ze względu na zagrożenia fotobiologiczne 1. Wstęp Głównym zadaniem wszystkich źródeł światła białego jest wytworzenie promieniowania widzialnego o odpowiedniej charakterystyce widmowej. Dobór źródeł światła do określonego zadania wzrokowego lub

Bardziej szczegółowo

Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn Laboratorium Techniki Świetlnej

Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn Laboratorium Techniki Świetlnej Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn. 29.03.2016 aboratorium Techniki Świetlnej Ćwiczenie nr 5. TEMAT: POMIAR UMIACJI MATERIAŁÓW O RÓŻYCH WŁASOŚCIACH FOTOMETRYCZYCH

Bardziej szczegółowo

PROTOKÓŁ POMIAROWY LABORATORIUM OBWODÓW I SYGNAŁÓW ELEKTRYCZNYCH Grupa Podgrupa Numer ćwiczenia

PROTOKÓŁ POMIAROWY LABORATORIUM OBWODÓW I SYGNAŁÓW ELEKTRYCZNYCH Grupa Podgrupa Numer ćwiczenia PROTOKÓŁ POMAROWY LABORATORM OBWODÓW SYGNAŁÓW ELEKTRYCNYCH Grupa Podgrupa Numr ćwicznia 4 Nazwisko i imię Data wykonania ćwicznia Prowadzący ćwiczni 3. Podpis 4. Data oddania 5. sprawozdania Tmat CWÓRNK

Bardziej szczegółowo

Komitet Główny Olimpiady Fizycznej, Waldemar Gorzkowski: Olimpiady fizyczne XXIII i XXIV. WSiP, Warszawa 1977.

Komitet Główny Olimpiady Fizycznej, Waldemar Gorzkowski: Olimpiady fizyczne XXIII i XXIV. WSiP, Warszawa 1977. XXV OLMPADA FZYCZNA (1974/1975). Stopiń, zadani doświadczaln D Źródło: Nazwa zadania: Działy: Słowa kluczow: Komitt Główny Olimpiady Fizycznj, Waldmar Gorzkowski: Olimpiady fizyczn XX i XXV. WSiP, Warszawa

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE METODY GRAFÓW WIĄZAŃ DO MODELOWANIA PRACY ZESPOŁU PRĄDOTWÓRCZEGO W SIŁOWNI OKRĘTOWEJ

ZASTOSOWANIE METODY GRAFÓW WIĄZAŃ DO MODELOWANIA PRACY ZESPOŁU PRĄDOTWÓRCZEGO W SIŁOWNI OKRĘTOWEJ Chybowski L. Grzbiniak R. Matuszak Z. Maritim Acadmy zczcin Poland ZATOOWANIE METODY GRAFÓW WIĄZAŃ DO MODELOWANIA PRACY ZEPOŁU PRĄDOTWÓRCZEGO W IŁOWNI OKRĘTOWEJ ummary: Papr prsnts issus of application

Bardziej szczegółowo

odwodnienia liniowe Kenadrain

odwodnienia liniowe Kenadrain odwodninia liniow Knadrain Odwodninia liniow Knadrain Kanały liniow Knadrain (wykonan z D) występują w klasi ociążń C250 i D400 z rusztm żliwnym i listwą krawędziową kanału stalową-ocynkowaną. Szrokość

Bardziej szczegółowo

LABORATORIUM OPTYKA GEOMETRYCZNA I FALOWA

LABORATORIUM OPTYKA GEOMETRYCZNA I FALOWA LABORATORIUM OPTYKA GEOMETRYCZNA I FALOWA Instrukcja do ćwiczenia nr 4 Temat: Wyznaczanie współczynnika sprawności świetlnej źródła światła 1 I. Wymagania do ćwiczenia 1. Wielkości fotometryczne, jednostki..

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU.

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU. 0.X.00 ĆWICZENIE NR 76 A (zestaw ) WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU. I. Zestaw przyrządów:. Spektrometr (goniometr), Lampy spektralne 3. Pryzmaty II. Cel ćwiczenia: Zapoznanie

Bardziej szczegółowo

PARCIE GRUNTU. Przykłady obliczeniowe. Zadanie 1.

PARCIE GRUNTU. Przykłady obliczeniowe. Zadanie 1. MECHANIA GRUNTÓW ćwicznia, dr inż. Irnusz Dyka irunk studiów: Budownictwo Rok III, s. V Zadani. PARCIE GRUNTU Przykłady obliczniow Przdstawion zostały wyniki obliczń parcia czynngo i birngo (odporu) oraz

Bardziej szczegółowo

OCENA OŚWIETLENIA STANOWISKA PRACY.

OCENA OŚWIETLENIA STANOWISKA PRACY. 1 OCENA OŚWIETLENIA STANOWISKA PRACY. I. WPROWADZENIE Oświetlenie dzienne i sztuczne stanowi jeden z podstawowych składników środowiska pracy, jest czynnikiem mającym znaczący wpływ na bezpieczeństwo i

Bardziej szczegółowo

Przykład 1 modelowania jednowymiarowego przepływu ciepła

Przykład 1 modelowania jednowymiarowego przepływu ciepła Przykład 1 modlowania jdnowymiarowgo przpływu cipła 1. Modl przpływu przz ścianę wilowarstwową Ściana składa się trzch warstw o różnych grubościach wykonana z różnych matriałów. Na jdnj z ścian zwnętrznych

Bardziej szczegółowo

Podstawowym prawem opisującym przepływ prądu przez materiał jest prawo Ohma, o makroskopowej postaci: V R (1.1)

Podstawowym prawem opisującym przepływ prądu przez materiał jest prawo Ohma, o makroskopowej postaci: V R (1.1) 11. Właściwości lktryczn Nizwykl istotnym aspktm funkcjonalnym matriałów, są ich właściwości lktryczn. Mogą być on nizwykl różnorodn, prdysponując matriały do nizwykl szrokij gamy zastosowań. Najbardzij

Bardziej szczegółowo

Oczyszczanie ścieków projekt zajęcia IV

Oczyszczanie ścieków projekt zajęcia IV Oczyszczani ścików projkt zajęcia IV OBLICZEIE KOMÓR OSADU CZYEGO UKŁADU A 2 O WG ATV DVWK A 131 P Prowadzący: Justyna Machi Stanisław Miodoński Obliczni wskaźnika dnitryfikacji Wskaźnik dnitryfikacji

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie Nr 11 Fotometria

Ćwiczenie Nr 11 Fotometria Instytut Fizyki, Uniwersytet Śląski Chorzów 2018 r. Ćwiczenie Nr 11 Fotometria Zagadnienia: fale elektromagnetyczne, fotometria, wielkości i jednostki fotometryczne, oko. Wstęp Radiometria (fotometria

Bardziej szczegółowo

WYZNACZANIE BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ LAMP I OPRAW OŚWIETLENIOWYCH

WYZNACZANIE BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ LAMP I OPRAW OŚWIETLENIOWYCH 6-965 Poznań tel. (-61) 6652688 fax (-61) 6652389 STUDIA NIESTACJONARNE II STOPNIA wersja z dnia 2.11.212 KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA SEM 3. Laboratorium TECHNIKI ŚWIETLNEJ TEMAT: WYZNACZANIE BRYŁY FOTOMETRYCZNEJ

Bardziej szczegółowo

Autor: Dariusz Piwczyński :07

Autor: Dariusz Piwczyński :07 Autor: Dariusz Piwczyński 011-1-01 14:07 Analiza danych jakościowych tsty opart o statystykę χ. Cchy jakościow są to cchy, których jdnoznaczn i oczywist scharaktryzowani za pomocą liczb jst nimożliw lub

Bardziej szczegółowo

STUDIA STACJONARNE II STOPNIA, sem KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA Laboratorium TECHNIKI ŚWIETLNEJ OCENA JAKOŚCI OŚWIETLENIA WNĘTRZ

STUDIA STACJONARNE II STOPNIA, sem KIERUNEK ELEKTROTECHNIKA Laboratorium TECHNIKI ŚWIETLNEJ OCENA JAKOŚCI OŚWIETLENIA WNĘTRZ STUDIA STACJONARN II STOPNIA, sem. 1 15.04.2016 KIRUNK LKTROTCHNIKA Laboratorium TCHNIKI ŚWITLNJ wersja z dn. TMAT: OCNA JAKOŚCI OŚWITLNIA WNĘTRZ Opracowanie wykonano na podstawie: 1. PN-N 12464-1:2012:

Bardziej szczegółowo

DYNAMICZNA ELIMINACJA DRGAŃ MECHANICZNYCH

DYNAMICZNA ELIMINACJA DRGAŃ MECHANICZNYCH LABORATORIUM DYNAMIKI MASZYN Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania Instytut Mchaniki Stosowanj Zakład Wibroakustyki i Bio-Dynamiki Systmów Ćwiczni nr 3 Cl ćwicznia: DYNAMICZNA ELIMINACJA DRGAŃ MECHANICZNYCH

Bardziej szczegółowo

Laboratorium techniki laserowej. Ćwiczenie 3. Pomiar drgao przy pomocy interferometru Michelsona

Laboratorium techniki laserowej. Ćwiczenie 3. Pomiar drgao przy pomocy interferometru Michelsona Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 3. Pomiar drgao przy pomocy interferometru Michelsona Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WET, Politechnika Gdaoska Gdańsk 006 1. Wstęp Celem ćwiczenia

Bardziej szczegółowo

2009 ZARZĄDZANIE. LUTY 2009

2009 ZARZĄDZANIE. LUTY 2009 Wybran zstawy gzaminacyjn kursu Matmatyka na Wydzial ZF Uniwrsyttu Ekonomiczngo w Wrocławiu w latach 009 06 Zstawy dotyczą trybu stacjonarngo Niktór zstawy zawirają kompltn rozwiązania Zakrs matriału w

Bardziej szczegółowo

II. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego

II. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego 1 II. Badanie charakterystyki spektralnej źródła termicznego promieniowania elektromagnetycznego Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyki spektralnej termicznego źródła promieniowania (lampa halogenowa)

Bardziej szczegółowo

Granica funkcji - Lucjan Kowalski GRANICA FUNKCJI

Granica funkcji - Lucjan Kowalski GRANICA FUNKCJI GRANICA FUNKCJI Granica uncji. - dowolna liczba rzczywista. O, = - ; + - otoczni liczby puntu o prominiu, S, = - ;, + - sąsidztwo liczby puntu o prominiu, Nich uncja będzi orślona w sąsidztwi puntu, g

Bardziej szczegółowo

nyborg - Mawent wentylatory promieniowe wpss Nyborg-Mawent S.A. ul. Ciepła 6, Malbork, Polska

nyborg - Mawent wentylatory promieniowe wpss Nyborg-Mawent S.A. ul. Ciepła 6, Malbork, Polska nyorg - Mawnt wntylatory prominiow wpss Nyborg-Mawnt S.A. ul. ipła 6, 82-200 Malbork, Polska tl: +48 55 646 63 00 fax: +48 55 646 63 09 www.nyborg-mawnt.com offic@nyborg-mawnt.com Zastosowani: Wntylatory

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 11 OPTYMALIZACJA NIEZAWODNOŚCIOWA STRUKTURY ELEKTRONICZNEGO SYSTEMU BEZPIECZEŃSTWA

ĆWICZENIE 11 OPTYMALIZACJA NIEZAWODNOŚCIOWA STRUKTURY ELEKTRONICZNEGO SYSTEMU BEZPIECZEŃSTWA ĆWICZENIE OPTYMALIZACJA NIEZAWODNOŚCIOWA STUKTUY ELEKTONICZNEGO SYSTEMU EZPIECZEŃSTWA Cl ćwicznia: zapoznani z analizą nizawodnościowo-ksploaacyjną lkronicznych sysmów bzpiczńswa; wyznaczni wybranych wskaźników

Bardziej szczegółowo

EKONOMETRIA. Ekonometryczne modele specjalne. Zbigniew.Tarapata zbigniew.tarapata.akcja.pl/p_ekonometria/ tel.

EKONOMETRIA. Ekonometryczne modele specjalne.   Zbigniew.Tarapata zbigniew.tarapata.akcja.pl/p_ekonometria/ tel. EKONOMETRIA Tmat wykładu: Ekonomtryczn modl spcjaln Prowadzący: dr inż. Zbigniw TARAPATA -mail: Zbigniw.Tarapata Tarapata@isi.wat..wat.du.pl http:// zbigniw.tarapata.akcja.pl/p_konomtria/ tl.: 0-606-45-54-80

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Półprzewodniki Dielektryki Magnetyki Ćwiczenie nr 11 Badanie materiałów ferromagnetycznych

Laboratorium Półprzewodniki Dielektryki Magnetyki Ćwiczenie nr 11 Badanie materiałów ferromagnetycznych Laboratorium Półprzwodniki Dilktryki Magntyki Ćwiczni nr Badani matriałów frromagntycznych I. Zagadninia do przygotowania:. Podstawow wilkości charaktryzując matriały magntyczn. Związki pomiędzy B, H i

Bardziej szczegółowo

J Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów

J Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów J 10.1. Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów INSTRUKCJA WYKONANIA ZADANIA Obowiązujące zagadnienia teoretyczne: 1. Podstawy teorii pasmowej ciał stałych metale, półprzewodniki, izolatory

Bardziej szczegółowo

KARTA OCENY RYZYKA ZAWODOWEGO NA STANOWISKU PRACY. - koparko-ładowarka, - narzędzia ręczne oraz drobne narzędzia elektryczne.

KARTA OCENY RYZYKA ZAWODOWEGO NA STANOWISKU PRACY. - koparko-ładowarka, - narzędzia ręczne oraz drobne narzędzia elektryczne. I. OGÓLNA CHARAKTERYSTYKA STANOWISKA PRACY Komórka organizacyjna: Wydział Transportowy Nazwa stanowiska pracy: Oprator koparko-ładowarki Nazwa i typ obsługiwanych na stanowisku maszyn i innych urządzń

Bardziej szczegółowo

Katastrofą budowlaną jest nie zamierzone, gwałtowne zniszczenie obiektu budowlanego lub jego części, a także konstrukcyjnych elementów rusztowań,

Katastrofą budowlaną jest nie zamierzone, gwałtowne zniszczenie obiektu budowlanego lub jego części, a także konstrukcyjnych elementów rusztowań, O A A O O! Katastrofą budowlaną jst ni zamirzon, gwałtown zniszczni obiktu budowlango lub jgo części, a takż konstrukcyjnych lmntów rusztowań, lmntów formujących, ściank szczlnych i obudowy wykopów (art.

Bardziej szczegółowo

TEMAT: POMIAR LUMINANCJI MATERIAŁÓW O RÓśNYCH WŁAŚCIWOŚCIACH FOTOMETRYCZNYCH

TEMAT: POMIAR LUMINANCJI MATERIAŁÓW O RÓśNYCH WŁAŚCIWOŚCIACH FOTOMETRYCZNYCH Grupa: Elektrotechnika, Studia stacjonarne, II stopień, sem. 1. wersja z dn. 18.03.2011 aboratorium Techniki Świetlnej Ćwiczenie nr 2. TEMAT: POMIAR UMIACJI MATERIAŁÓW O RÓśYCH WŁAŚCIWOŚCIACH FOTOMETRYCZYCH

Bardziej szczegółowo

WYKAZ WARTOŚCI NAJWYŻSZYCH DOPUSZCZALNYCH NATĘŻEŃ FIZYCZNYCH CZYNNIKÓW SZKODLIWYCH DLA ZDROWIA W ŚRODOWISKU PRACY

WYKAZ WARTOŚCI NAJWYŻSZYCH DOPUSZCZALNYCH NATĘŻEŃ FIZYCZNYCH CZYNNIKÓW SZKODLIWYCH DLA ZDROWIA W ŚRODOWISKU PRACY Załącznik nr 2 WYKAZ WARTOŚCI NAJWYŻSZYCH DOPUSZCZALNYCH NATĘŻEŃ FIZYCZNYCH CZYNNIKÓW SZKODLIWYCH DLA ZDROWIA W ŚRODOWISKU PRACY A. Hałas i hałas ultradźwiękowy 1. Hałas 1.1. Hałas w środowisku pracy jest

Bardziej szczegółowo

Fizyka promieniowania jonizującego. Zygmunt Szefliński

Fizyka promieniowania jonizującego. Zygmunt Szefliński Fizyka prominiowania jonizującgo ygmunt Szfliński 1 Wykład 10 Rozpady Rozpady - warunki nrgtyczn Ściżka stabilności Nad ściżką znajdują się jądra prominiotwórcz, ulgając rozpadowi -, zaś pod nią - jądra

Bardziej szczegółowo

Temat ćwiczenia. Pomiary oświetlenia

Temat ćwiczenia. Pomiary oświetlenia POLITECHNIKA ŚLĄSKA W YDZIAŁ TRANSPORTU Temat ćwiczenia Pomiary oświetlenia Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodami pomiaru natęŝenia oświetlenia oraz wyznaczania poŝądanej wartości

Bardziej szczegółowo

Uwaga. Łącząc układ pomiarowy należy pamiętać o zachowaniu zgodności biegunów napięcia z generatora i zacisków na makiecie przetwornika.

Uwaga. Łącząc układ pomiarowy należy pamiętać o zachowaniu zgodności biegunów napięcia z generatora i zacisków na makiecie przetwornika. PLANOWANIE I TECHNIKA EKSPERYMENTU Program ćwiczenia Temat: Badanie właściwości statycznych przetworników pomiarowych, badanie właściwości dynamicznych czujników temperatury Ćwiczenie 5 Spis przyrządów

Bardziej szczegółowo

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych

Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Na rys. 3.1 przedstawiono widok wykorzystywanego w ćwiczeniu stanowiska pomiarowego do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach

Bardziej szczegółowo

Ćwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ

Ćwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ 60-965 Poznań Grupa: Elektrotechnika, sem 3., Podstawy Techniki Świetlnej Laboratorium wersja z dn. 03.11.2015 Ćwiczenie nr 6 Temat: BADANIE ŚWIATEŁ DO JAZDY DZIENNEJ Opracowanie wykonano na podstawie

Bardziej szczegółowo

1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego

1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego 1 I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyki spektralnej nietermicznego źródła promieniowania (dioda LD

Bardziej szczegółowo

JANOWSCY. Wielkości geometryczne i statyczne figur płaskich. ZESPÓŁ REDAKCYJNY: Dorota Szafran Jakub Janowski Wincenty Janowski

JANOWSCY. Wielkości geometryczne i statyczne figur płaskich. ZESPÓŁ REDAKCYJNY: Dorota Szafran Jakub Janowski Wincenty Janowski anowsc s.c. ul. Krzwa /5, 8-500 Sanok NIP:687-1--79 www.janowsc.com ANOSCY projktowani w budownictwi ilkości gomtrczn i statczn figur płaskich ZESPÓŁ REDAKCYNY: Dorota Szafran akub anowski incnt anowski

Bardziej szczegółowo

Metody badania nielaserowego promieniowania optycznego

Metody badania nielaserowego promieniowania optycznego Metody badania nielaserowego promieniowania optycznego Andrzej Pawlak Centralny Instytut Ochrony Pracy Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa Fot. Rockwell Automation Streszczenie: W artykule omówiono wymagania

Bardziej szczegółowo

WPŁYW PARAMETRÓW OŚRODKA SPRĘŻYSTO-LEPKIEGO NA KONWERGENCJĘ POWIERZCHNIOWĄ PROSTOKĄTNEGO CHODNIKA NA PODSTAWIE BADAŃ MODELOWYCH

WPŁYW PARAMETRÓW OŚRODKA SPRĘŻYSTO-LEPKIEGO NA KONWERGENCJĘ POWIERZCHNIOWĄ PROSTOKĄTNEGO CHODNIKA NA PODSTAWIE BADAŃ MODELOWYCH Górnictwo i Goinżyniria Rok 32 Zszyt 1 28 Agniszka Maj* WPŁYW PARAMETRÓW OŚRODKA SPRĘŻYSTO-LEPKIEGO NA KONWERGENCJĘ POWIERZCHNIOWĄ PROSTOKĄTNEGO CHODNIKA NA PODSTAWIE BADAŃ MODELOWYCH 1. Wstęp Obsrwacj

Bardziej szczegółowo

KATALOG TECHNICZNY. www.rurgaz.pl. RC MULTIsafe Rury z polietylenu PE 100RC do układania bez obsypki piaskowej i do renowacji rurociągów

KATALOG TECHNICZNY. www.rurgaz.pl. RC MULTIsafe Rury z polietylenu PE 100RC do układania bez obsypki piaskowej i do renowacji rurociągów KATALOG TECHNICZNY Dz Dz Di RC MULTIsaf Rury z politylnu PE 100RC do układania bz obsypki piaskowj i do rnowacji rurociągów RC MAXIprotct PE/PP-d Rury z politylnu PE 100RC z dodatkowym płaszczm z PE lub

Bardziej szczegółowo

INSTRUKCJA NR 05 POMIARY NATĘŻENIA OŚWIETLENIA ELEKTRYCZNEGO POMIESZCZEŃ I STANOWISK PRACY

INSTRUKCJA NR 05 POMIARY NATĘŻENIA OŚWIETLENIA ELEKTRYCZNEGO POMIESZCZEŃ I STANOWISK PRACY LABORATORIUM OCHRONY ŚRODOWISKA - SYSTEM ZARZĄDZANIA JAKOŚCIĄ - INSTRUKCJA NR 05 POMIARY NATĘŻENIA OŚWIETLENIA ELEKTRYCZNEGO POMIESZCZEŃ I STANOWISK PRACY 1. Cel instrukcji Celem instrukcji jest określenie

Bardziej szczegółowo

BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ. Instrukcja wykonawcza

BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ. Instrukcja wykonawcza ĆWICZENIE 89 BADANIE WYMUSZONEJ AKTYWNOŚCI OPTYCZNEJ Instrukcja wykonawcza 1. Wykaz przyrządów Polarymetr Lampa sodowa Solenoid Źródło napięcia stałego o wydajności prądowej min. 5A Amperomierz prądu stałego

Bardziej szczegółowo

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa

E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa 1/5 E12. Wyznaczanie parametrów użytkowych fotoogniwa Celem ćwiczenia jest poznanie podstaw zjawiska konwersji energii świetlnej na elektryczną, zasad działania fotoogniwa oraz wyznaczenie jego podstawowych

Bardziej szczegółowo

Uogólnione wektory własne

Uogólnione wektory własne Uogólnion wktory własn m Dfinicja: Wktor nazywamy uogólnionym wktorm własnym rzędu m macirzy A do wartości własnj λ jśli ( A - I) m m- λ al ( A - λ I) Przykład: Znajdź uogólniony wktor własny rzędu do

Bardziej szczegółowo

BADANIE OSTROŚCI WIDZENIA W RÓśNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH

BADANIE OSTROŚCI WIDZENIA W RÓśNYCH WARUNKACH OŚWIETLENIOWYCH ul.piotrowo a tel. (0-6) 665688 fax (0-6) 66589 STUDIA NISTACJONARN II STOPNIA wersja z dnia 0..0 KIRUNK LKTROTCHNIKA SM. Laboratorium: TCHNIKI ŚWITLNJ TMAT: BADANI OSTROŚCI WIDZNIA W RÓśNYCH WARUNKACH

Bardziej szczegółowo