(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

Podobne dokumenty
BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA

(13) B1 PL B1 (19) PL (11)

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL

BADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/05. STANISŁAW BEDNAREK, Łódź, PL WUP 09/10

INTERFERENCJA WIELOPROMIENIOWA

Fig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia:

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

GWIEZDNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANDERSONA

PL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia:

PL B BUP 12/03. Kinkel Marcin,Różyny,PL WUP 06/08

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)186259

(13) B1 PL B1. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl6: B65D5/18 865D 5/3P. (57) 1. Pudełko składane w kształcie prostopadłościanu

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL

Wykład 17: Optyka falowa cz.2.

(13) B1 PL B1 F21P 1/00 F21V 19/02. (21) Numer zgłoszenia: ( 5 4 ) Lampa halogenowa ze zmienną ogniskową

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych. Politechnika Wrocławska,Wrocław,PL

PL B1. Układ i sposób zabezpieczenia generatora z podwójnym uzwojeniem na fazę od zwarć międzyzwojowych w uzwojeniach stojana

BIOLOGIA KOMÓRKI MIKROSKOPIA W ŚWIETLE PRZECHODZĄCYM- BUDOWA I DZIAŁANIE MIKROSKOPU JASNEGO POLA, KONTRASTOWO- FAZOWEGO I Z KONTRASTEM NOMARSKIEGO

Zjawisko interferencji fal

PL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu

PL B1. WOJSKOWY INSTYTUT MEDYCYNY LOTNICZEJ, Warszawa, PL BUP 23/13

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13)B1 PL B1. Fig.1. (51) Int.Cl.6: G01N 21/23 G01J 4/04

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(54) Sposób sterowania prędkości obrotowej silnika klatkowego przez przełączanie

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(19) PL (11) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY PL B1 E03F 3/04

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(11) PL B1 (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (13)B1. Fig.3 B60R 11/02 H01Q 1/32. (54) Zespół sprzęgający anteny samochodowej

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

PL B1. Politechnika Koszalińska,Koszalin,PL Wanatowicz Szymon,Koszalin,PL BUP 18/01. Szymon Wanatowicz,Koszalin,PL

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 25/06

Fizyka elektryczność i magnetyzm

Prawa optyki geometrycznej

PL B1. PACK PLUS Spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Spółka komandytowa,wadowice,pl BUP 07/

Laboratorium techniki laserowej. Ćwiczenie 5. Modulator PLZT

Rys. 1 Interferencja dwóch fal sferycznych w punkcie P.

PL B1. ANEW INSTITUTE SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Kraków, PL BUP 22/14. ANATOLIY NAUMENKO, Kraków, PL

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: ,PCT/EP02/06600 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

PL B1. STRZYŻAKOWSKA HANNA LES, Warszawa, PL BUP 09/12. PETER VIOL, Rastede, DE WUP 05/14. rzecz. pat.

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 A47L 9/24. (54)Teleskopowa rura ssąca do odkurzacza

PL B1. PRZEMYSŁOWY INSTYTUT AUTOMATYKI I POMIARÓW PIAP, Warszawa, PL BUP 12/10

postaci przezroczystego walca zabarwionego i osadzonego (12) OPIS PATEN TO W Y (19) P L (11) (13) B3 PL B3

(13)B1 (19) PL (11) (12) OPIS PATENTOWY PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: (22) Data zgłoszenia:

WYZNACZANIE PROMIENIA KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 06/17. MAŁGORZATA CYKOWSKA-BŁASIAK, Kłobuck, PL EDWARD CHLEBUS, Wrocław, PL

(13) B1 PL B1 B23D 15/04. (54)Nożyce, zwłaszcza hydrauliczne RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY. (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE96/02405

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

Dr Piotr Sitarek. Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska

Polaryzacyjne metody zmiany fazy w interferometrii dwuwiązkowej

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y BUP 05/11. WÓJCIK BEATA, Chorzów, PL WUP 06/13. BEATA WÓJCIK, Chorzów, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

(19) PL (11) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY PL B1 E 21F 5/00 E21C 35/04

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

PL B1. Urządzenie do badania nieciągłości struktury detali ferromagnetycznych na małej przestrzeni badawczej. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

INSTYTUT TRANSPORTU SAMOCHODOWEGO,

Zjawisko interferencji fal

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. PRZETWÓRSTWO TWORZYW SZTUCZNYCH WAŚ JÓZEF I LESZEK WAŚ SPÓŁKA JAWNA, Godzikowice, PL

PL B1. Hydrometer Electronic GmbH,Nürnberg,DE ,DE,

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. (54) Mechanizm przekładni w maszynie do ćwiczeń z obciążeniem narządów ruchu

Ćwiczenie 4. Doświadczenie interferencyjne Younga. Rys. 1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

6. Badania mikroskopowe proszków i spieków

Problemy optyki falowej. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła.

H03K 3/86 (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPO SPO LITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

PL B1. GRZENIK ROMUALD, Rybnik, PL MOŁOŃ ZYGMUNT, Gliwice, PL BUP 17/14. ROMUALD GRZENIK, Rybnik, PL ZYGMUNT MOŁOŃ, Gliwice, PL

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1 G09F 15/00 ( ) Wasilewski Sławomir, Brzeziny, PL BUP 23/07. Sławomir Wasilewski, Brzeziny, PL

PL B1. BRIDGESTONE/FIRESTONE TECHNICAL CENTER EUROPE S.p.A., Rzym, IT , IT, TO2001A001155

Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

LASERY I ICH ZASTOSOWANIE W MEDYCYNIE

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y BUP 14/13. ADAMCZEWSKI MAREK, Szczecin, PL WUP 10/14. MAREK ADAMCZEWSKI, Szczecin, PL

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

PL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 04/13

PL B1. Sposób oznaczania stężenia koncentratu syntetycznego w świeżych emulsjach chłodząco-smarujących

FUNKCJA LINIOWA - WYKRES

(13) B B1. (51) Int.Cl.5: E02F 9/08 B60S 9/02

PL B1. Trójfazowy licznik indukcyjny do pomiaru nadwyżki energii biernej powyżej zadanego tg ϕ

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: (51)IntCl6: A47J 43/04 A47J 44/00. (2) Data zgłoszenia:

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: (51) IntCl7 H02M 7/42

PL B1. DZIŻA SŁAWOMIR-PRACOWNIA PLASTYCZNA REKLAMA, Szadkowice, PL BUP 25/05. SŁAWOMIR DZIŻA, Szadkowice, PL

PL B1 (13) B1. (51) IntCl6: F15B 15/14 F16J 7/00. (54) Siłownik hydrauliczny lub pneumatyczny

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/12

PL B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL BUP 06/11

RZECZPOSPOLITAPOLSKA(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 07/10. ZDZISŁAW NAWROCKI, Wrocław, PL DANIEL DUSZA, Inowrocław, PL

501 B1 (120OPIS PATENTOWY (19) PL (11) B1 (1 3 ) A47B 87/00. (54) Moduł płytowy do budowy mebli, zwłaszcza laboratoryjnych

RZECZPOSPOLITAPOLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

Transkrypt:

RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)179151 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej ( 2 1) Numer zgłoszenia: 312636 (22) Data zgłoszenia: 05.02.1996 ( 5 1) IntCl7. G02B 21/14 (54)Urządzenie mikroskopowe do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego (43) Zgłoszenie ogłoszono: 18.08.1997 BUP 17/97 (73) Uprawniony z patentu: Instytut Optyki Stosow anej, W arszaw a, PL (72) Twórca wynalazku: Maksymilian Pluta, W arszaw a, PL (45) O udzieleniu patentu ogłoszono: 31.07.2000 WUP 07/00 (74) Pełnomocnik: Bok Jadw iga, Instytut Optyki Stosowanej PL 179151 B1 (57) Urządzenie m ikroskopow e do ciągłej zm iany fazy i am plitudy św iatła b ezpośredniego w zględem dyfrakcyjnego zaw ierający p ierścień polaryzacyjny um ieszczony m iędzy dw iem a płytkam i szklanym i, znamienne tym, że składa się z p o lary zato ra (P) lub an alizato - ra (A ) i pierścienia polaroidowego (R ), zaklejonego między dwiema płytkam i szklanymi (S 1) i (S2) klejem optycznym (C ), którego spektralna dyspersyjna n'(λ) w spółczynnika załam ania n' w yraźnie różni się od spektralnej dyspersji n(λ) w spółczynnika załam ania (n) pierścienia polaroidow ego (R). Rys.1

Urządzenie mikroskopowe do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego Zastrzeżenie patentowe Urządzenie mikroskopowe do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego zawierający pierścień polaryzacyjny umieszczony między dwiema płytkami szklanymi, znamiennie tym, że składa się z polaryzatora (P) lub analizatora (A) i pierścienia polaroidowego (R), zaklejonego między dwiema płytkami szklanymi (S1) i (S2) klejem optycznym (C), którego spektralna dyspersyjna n'(λ) współczynnika załamania n' wyraźnie różni się od spektralnej dyspersji n(λ ) współczynnika załamania (n) pierścienia polaroidowego (R). * * * Przedmiotem wynalazku jest urządzenie mikroskopowe do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego. Urządzenie to służy do obserwacji preparatów w kontraście fazowym i amplitudowym, z możliwością regulacji kontrastu obrazu poprzez zmianę amplitudy i fazy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego czyli ugiętego na niejednorodnościach optycznych preparatu. W znanym rozwiązaniu z opisu wynalazku według patentu nr 104929, najważniejszą część stanowi pierścień polaroidowy, zaklejony kleiwem optycznym o współczynniku załamania n, między dwiema płytkami szklanymi. Kleiwo dobrano tak, aby różnica drogi optycznej o między światłem przechodzącym przez pierścień polaroidowy i poza nim równała się zeru lub całkowitej długości fali X stosowanego światła, czyli δr = (n' - n) t = mλ (1) gdzie n jest współczynnikiem załamania pierścienia polaroidowego R, t jest jego grubością, am. = 0,± 1,±2,... Założono przy tym, że wzór powyższy odnosi się do składowej światła, której wektor świetlny jest równoległy do osi przepuszczalności pierścienia polaroidowego. Współczynnik załamania każdego materiału zależy od długości fali przechodzącego przezeń światła. Żądając by różnica drogi optycznej o była zerowa w szerokim przedziale spektralnym, w szczególności w świetle widzialnym o długości fali od około 700 nm do 450 nm, współczynniki załamania n i n' we wzorze m. (1) muszą być takie same w zadanym przedziale spektralnym, czyli n (λ) = n' (λ) (2) W praktyce jest to niemożliwe i według patentu nr 104929 przyjęto, że równość (2) jest spełniona w środku wybranego przedziału spektralnego, a na jego krawędziach współczynniki n 1 n' mogą się nieco różnić, ale tylko w takim stopniu by różnica drogi optycznej nie była większa niż 0,03 X. Jeśli do zespołu optycznego z pierścieniem polaroidowym R, dodamy przed lub za nim ćwierćfalówkę Q i umieścimy je między polaryzatorem P i analizatorem A, i mamy urządzenie do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła przechodzącego przez pierścień R i światłem przebiegającym wewnątrz i na zewnątrz niego, gdy jedno i drugie światło pochodzi z tego samego źródła. Zakłada się przy tym, że ćwierćfalówka Q jest tak zorientowana, że jej osie (szybka i wolna) tworzą kąt 45 z osią przepuszczalności pierścienia polaroidowego R, wówczas przez obrót polaryzatora zmienia się faza między jednym i drugim światłem, zaś przez obrót analizatora mamy zmianę amplitudy, czyli natężeń, a właściwie stosunku natężeń obu świateł. Jeżeli urządzenie to zostanie odpowiednio umieszczone w układzie mikroskopowym, to uzyskamy mikroskop fazowo kontrastowy z ciągłą zmianą fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego. Światło bezpośrednie, którego źródłem jest pierścieniowy otwór AO przysłony kondensatorowej D, za badanym przedmiotem O obiektywem mikroskopowym Ob. przechodzi

179 151 3 przez pierścień polaroidowy R, natomiast światło dyfrakcyjne, tworzone przez przedmiot O, przechodzi w przeważającej mierze obok pierścienia R, przez jego wnętrze i na zewnątrz. W wyniku interferencji obydwu rodzajów świateł otrzymujemy w płaszczyźnie obrazowej II obraz badanego przedmiotu. Kontrastowość obrazu optymalizujemy lub j ą dowolnie zmieniamy przez obrót polaryzatora P i analizatora A. Jest to oczywiście obrót wokół osi optycznej układu mikroskopowego. W ogólności najlepsze wyniki uzyskuje się, gdy pierścieniowa przysłona D znajduje się w przednim ognisku kondensatora Co, a pierścień polaroidowy R w tylnym ognisku obiektywu Ob. To drugie wymaganie jest możliwe tylko wtedy, gdy obiektyw Ob. ma małe powiększenie (mniejsze niż 10x). Obiektywy mikroskopowe o średnich i dużych powiększeniach mają tylne ognisko w swoim wnętrzu i trzeba je, za pomocą dodatkowego układu optycznego, przerzutować w łatwo dostępne miejsce, w którym można byłoby usytuować zespół optyczny z pierścieniem polaroidowym R. W mikroskopii fazowo-kontrastowej różnica drogi optycznej δr, powodowana przez pierścień polaroidowy R, czy jakikolwiek inny pierścień fazowy, równa całkowitej wielokrotności długości fali świetlnej, jest równoważna zerowej wartości. Zamiast pierścienia polaroidowego z δr=0, można więc stosować pierścień z δ-1 λ,2λ,3λ,... W tej sytuacji jednak spektralna dyspersja współczynników załamania n i n muszą być bardziej do siebie podobne niż w sytuacji, gdy δr = 0. Dlatego też w praktyce trudno jest stosować pierścień polaroidowy, powodujący różnicę drogi optycznej większą niż 2λ,gdy mikroskop fazowo - kontrastowy ma działać w świetle białym lub umiarkowanie monochromatycznym. Inaczej natomiast sprawa przedstawia się, gdy jest stosowane światło wysoce monochromatyczne. Wówczas różnica drogi optycznej δrmoże być większa niż 2 X i spektralne współczynników załamania n (λ) i n' (λ) nie muszą być wzajemnie dopasowane, a nawet jest korzystnie, aby między sobą znacznie się różniły. Można wówczas zrezygnować z polaryzatora P lub analizatora A i ćwierćfalówki Q, by przesunięcie fazowe między światłem bezpośrednim i dyfrakcyjnym zmieniać nie przez obrót polaryzatora P, ale przez zmianę długości fali światła monochromatycznego. Urządzenie fazowo-kontrastowe według wynalazku składa się tylko z polaryzatora P i pierścienia polaroidowego R lub alternatywnie z pierścienia R i analizatora A, przy czym pierścień R jest zaklejony między płytkami szklanymi S1i S2 klejem optycznym C tak dobranym, że spektralna n' (A.) jego współczynnika załamania n znacznie różni się od spektralnej dyspersji n (λ) współczynnika załamania n pierścienia polaroidowego R. Zaletą polaryzacyjnego urządzenia według wynalazku do mikroskopii fazowo-kontrastowej jest przede wszystkim to, że składa się nie z czterech jak pierwotnie, ale tylko z dwóch elementów optycznych. Poza tym charakteryzuje się większą wydajnością świetlną, albowiem polaryzator P lub analizator A przepuszcza znacznie więcej światła niż łącznie polaryzator P i analizator A. Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykładzie wykonania na rysunku, którego rys. 1 przedstawia pierścień polaroidowy R, rys. 2 - zespół optyczny z pierścieniem R i ćwierćfalówkąq umieszczoną między polaryzatorem P i analizatorem A, rys. 3 - układ optyczny mikroskopu fazowo-kontrastowego, rys. 4 - schemat polaryzatora P i pierścienia polaroidalnego R, rys. 5 - układ pierścienia polaroidalnego R i analizatora A, rys. 6 i 7 pokazują dwa z wielu możliwych, wykresy dróg optycznych w urządzeniu według wynalazku. W rozwiązaniu według wynalazku urządzenie mikroskopowe do ciągłej zmiany fazy i amplitudy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego, składa się z polaryzatora P lub analizatora A 1pierścienia polaroidowego R, zaklejonego między dwiema płytkami szklanymi S1i S2 klejem optycznym C, którego spektralna dyspersyjna n' (λ) współczynnika załamania n wyraźnie różni się od spektralnej dyspersji n (λ) współczynnika załamania n pierścienia polaroidowego R. Przykładowe wyjaśnienie istoty polaryzacyjnego urządzenia fazowo-kontrastowego jest przedstawione na rys. 6 i 7, pokazujących dwa z wielu możliwych w praktyce wykresów drogi optycznej δr, powodowanej przez pierścień polaroidowy R (rys. 4 i 5) w sytuacji, gdy spektralne dyspersje n (λ) i n' (λ) współczynnika załamania n i n', odpowiednio, pierścienia polaroidowe-

4 179 151 go i otaczającego kleiwa optycznego C znacznie (rys. 6) i umiarkowanie (rys. 7) wzajemnie się różnią, przy czym rys. 6 obejmuje sytuację, gdy w środkowej części widma widzialnego współczynniki załamania n i n' są takie same, a rys. 7 dotyczy sytuacji, kiedy współczynnik załamania n w całym branym pod uwagę zakresie spektralnym jest większy od współczynnika załamania n. Weźmy najpierw pod uwagę rys. 6. W świetle monochromatycznym o długości fali λ0 różnica drogi optycznej δr=0. Jednak wraz ze zmianą długości fali świetlnej w jednym i drugim kierunku od λ0,różnica drogi optycznej δr systematycznie wzrasta, a maleje w świetle o długościach fali większym od λ0i jest dodatnia, zaś ujemna w świetle o długościach fali mniejszych od λ0 W mikroskopie fazowo-kontrastowym mamy więc do czynienia z ciągłą zmianą fazy światła bezpośredniego względem dyfrakcyjnego wraz ze zmianą długości fali świetlnej. Natomiast amplitudę obu rodzajów światła można dowolnie zmieniać przez obrót polaryzatora P (rys. 4) lub analizatora A (rys. 5). W sytuacji, gdy stosowane jest światło należycie monochromatyczne o długości fali λ = λ0,to wtedy zmianę fazy między światłem bezpośrednim i dyfrakcyjnym w mikroskopie fazowo-kontrastowym uzyskuje się jak poprzednio za pomocą urządzenia składającego się z polaryzatora P, ćwierćfalówki Q, pierścienia polaroidowego R i analizatora A (rys. 2), a zatem zawierającego cztery a nie dwa elementy optyczne (rys. 4 lub 5). W tej drugiej sytuacji należy jednak mieć światło monochromatyczne o zmiennej w sposób ciągły długości fali. Najprościej uzyskuje się je ze źródła światła białego, np. mikroskopowego oświetlacza z żarówką halogenową, przepuszczanego przez monochromator interferencyjny (filtr interferencyjny ciągły). Bardzo często w badaniach mikroskopowych obiektów czysto fazowych optymalna zmiana fazy między światłem bezpośrednim i dyfrakcyjnym wynosi -90 lub +90. Odpowiada to różnicy drogi optycznej δr = -λ/4 lub δr = + λ/4. Dotyczy to zwłaszcza takich szczegółów obiektu, które wprowadzają do przechodzącego przez nie lub od nich odbitego światła bardzo małe zmiany fazowe. Wówczas można stosować światło monochromatyczne bez ciągłej zmiany długości fali, lecz o jednej, której na rys. 6 odpowiada wartość λ1 lub λ2. W praktyce nie jest łatwo znaleźć takie kleiwo optyczne, aby było idealnie chemicznie czy fizykochemiczne obojętne wobec pierścienia polaroidowego R i by w zakresie światła widzialnego, przynajmniej w jednym miejscu jego widma współczynnik załamania n' kleju był taki sam jak współczynnik załamania n pierścienia polaroidowego R, jak to pokazano na rys. 6. Do poprawnego działania polaryzacyjnego urządzenia fazowo-kontrastowego według wynalazku nie jest zresztą konieczne, albowiem wystarcza, by mniej więcej w środku wybranego zakresu widma różnica drogi optycznej δr równała się λ0, 2λδ,3λ0... itd. ze znakiem plus lub minus, jak to pokazano na rys. 7, gdzie przyjęto n', < n w całym zakresie widma widzialnego i δr = -3λ0.To co poprzednio (rys. 6) odpowiadało różnicy drogi optycznej δr = -X1/4 i δr = +X2/4,. teraz ma wartość δr = -3λ0 - λ 1/4 i δr = -λ0+ λ0/4. Obydwie sytuacje, przedstawione na rys. 6 i 7, są sobie równoważne, z tym że ta druga (rys. 7) jest łatwiejsza do realizacji w praktyce.

179 151 Rys. 3 Rys. 4 Rys. 5

179 151 Rys.6

179 151 Rys. 7

17 9 151 R y s.1 R y s. 2 Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 60 egz. Cena 2,00 zł.