PL B1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych. Politechnika Wrocławska,Wrocław,PL

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "PL B1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych. Politechnika Wrocławska,Wrocław,PL"

Transkrypt

1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: (51) Int.Cl. G06K 9/00 ( ) A61B 5/117 ( ) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: (54) Sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych (43) Zgłoszenie ogłoszono: BUP 11/04 (73) Uprawniony z patentu: Politechnika Wrocławska,Wrocław,PL (72) Twórca(y) wynalazku: Zbigniew Gumienny,Wrocław,PL (45) O udzieleniu patentu ogłoszono: WUP 08/09 (74) Pełnomocnik: Kozłowska Regina, Politechnika Wrocławska, Biuro ds.wynalazczości i Ochrony Patentowej PL B1

2 2 PL B1 Opis wynalazku Przedmiotem wynalazku jest sposób odczytu topografii linii papilarnych i układ do odczytu topografii linii papilarnych, w szczególności jako układ do bezkontaktowej biometrycznej identyfikacji osób, wszędzie tam gdzie jest wymagane zachowanie szczególnych warunków sterylnych, na przykład na niektórych oddziałach szpitalnych, w laboratoriach badawczych itp. Znany z opisu patentowego USA nr sposób i układ do odczytu topografii linii papilarnych wyposażony jest w obracający się polaryzator z polaryzacją liniową z możliwością kontroli i regulacji obrotów. Układ wyposażony jest w cztery źródła, z których wiązki światła są kierowane na linie papilarne przechodząc przez obracający się polaryzator, a po odbiciu od nich i ponownym przejściu przez ten sam polaryzator trafiają do kamery. Obraz linii papilarnych rejestrowany jest kamerą, a zapis poszczególnych obrazów jest synchronizowany z obrotem polaryzatora. Złożenie poszczególnych obrazów umożliwia zebranie informacji o całym obszarze opuszki palca. Bezpośrednia wizualizacja linii papilarnych opuszki palca za pomocą kamery jest kłopotliwa z uwagi na bardzo mały kontrast powstającego obrazu, oraz na refleksy świetlne pochodzące od źródeł oświetlających palec. Na obszarach refleksów świetlnych w obrazie palca brakuje informacji o kształcie linii papilarnych. W związku z tym utrudniona jest, a czasami wręcz niemożliwa identyfikacja osób. W układach obecnie stosowanych refleksy świetlne są częściowo wyeliminowane poprzez zastosowanie polaryzatorów umieszczonych pomiędzy kamerą i palcem, oraz pomiędzy palcem i źródłem światła. Sposób ten nie pozwala na całkowite wyeliminowanie refleksów z uwagi na to, że powierzchnia skóry pokryta jest płaszczem lipidowym będącym zawiesiną olejowo-wodną i złuszczoną keratyną (nierozpuszczalne białko). Warstwa ta powoduje niejednorodną depolaryzację światła odbitego. Znany jest również z opisu patentowego USA nr sposób i urządzenie do bezkontaktowego odwzorowania topografii linii papilarnych dłoni i/lub palców za pomocą kamery. Dzięki wykorzystaniu spolaryzowanych liniowo lub kołowo promieni oświetlających i promieni odbitych możliwe jest oddzielne zobrazowanie wzoru linii papilarnych. W efekcie uzyskuje się dostateczny kontrast na zdjęciu rzeźby skóry, po czym numerycznie przeszukuje się wzorce skórne powierzchni ręki według elementów liniowych o różnej grubości i różnym wektorze kierunkowym. Obliczony identyfikator numeryczny zawiera sumaryczne częstości wektorów oraz amplitudy i fazy składowych harmonicznych projekcji obrazów wektorowych obu wzorców. Istota sposobu polega na tym, że linie papilarne oświetla się impulsowo kolejnym źródłem światła, umieszczonym z boku i pod dużym kątem w stosunku do skanowanej powierzchni, zaś cienie pochodzące od wystających listewek skórnych jako pojedyncze kolejne obrazy skanowanej powierzchni rejestruje się kamerą. Moment rejestracji każdego obrazu jest ściśle zsynchronizowany z czasem oświetlania linii papilarnych, po czym kolejne obrazy skanowanej powierzchni składa się w jeden obraz, a następnie bada się topografię linii, rozmieszczenie minucji oraz porównuje z wzorcem. Korzystnie linie papilarne oświetla się sekwencyjnie, co najmniej jednym źródłem, przy czym linie papilarne oświetla się jednocześnie nie więcej niż połową źródeł światła. Korzystnym jest również to, linie papilarne oświetla się promieniowaniem o długościach fal mniejszych od 600 nm, w szczególności światłem niebieskim albo zielonym. Istota układu polega na tym, że promieniowanie ze źródeł światła w ilości k podłączonych do zasilacza poprzez multiplekser, pada na linie papilarne, następnie obrazy linii papilarnych rejestrowane są przez kamerę połączoną interfejsem z komputerem albo mikroprocesorem i z multiplekserem, jednocześnie zasilanie każdego źródła światła jest zsynchronizowane z pracą kamery oraz każde źródło światła umieszczone jest pod dużym kątem w stosunku do skanowanej powierzchni linii papilarnych, natomiast k jako ilość źródeł światła, przybiera wartości od 2 do n. Korzystnie układ ma osiem źródeł światła. Korzystnym jest również to, że źródła światła stanowią diody o krótkim czasie narastania i zaniku świecenia, zwłaszcza niebieskie albo zielone diody typu LED. Zaletą nowego sposobu odczytu topografii linii papilarnych jest duży kontrast skanowanej powierzchni linii papilarnych, na którym wypukłe listewki skóry tworzą charakterystyczny wzór, co uzyskuje się oświetlając skanowaną powierzchnię źródłem światła umieszczonym z boku i pod dużym kątem w stosunku do skanowanej powierzchni. Wówczas pojawiają się cienie pochodzące od wystających ze skanowanej powierzchni listewek skórnych. Światło nie może jednak głęboko wnikać pod powierzchnię skóry, gdyż powoduje to jej rozświetlanie, a wówczas cienie rzucane przez listewki skórne będą słabo widoczne i praktycznie tylko nieznacznie poprawią kontrast obrazu. Dobre warunki

3 PL B1 3 pracy nowego układu są spełnione dla źródeł światła o długościach fal mniejszych od 600 nm, a w szczególności dla sprawnych energetycznie diod typu LED np.: niebieskich albo zielonych. Dodatkową zaletą nowego układu do odczytu topografii linii papilarnych jest to, że jest on układem do bezkontaktowej wizualizacji linii papilarnych, w którym brak zarówno mechanicznych elementów ruchomych jak i polaryzatorów. Przedmiot wynalazku w przykładzie realizacji jest odtworzony na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia opuszek palca oświetlony dwoma źródłami światła układu do odczytu topografii linii papilarnych a fig. 2 - układ do odczytu topografii linii papilarnych wyposażony w osiem źródeł światła. P r z y k ł a d 1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych polega na tym, że w bardzo krótkim czasie wynoszącym około 40 ms, oświetla się linie papilarne P promieniowaniem o długościach fal mniejszych od 600 nm, impulsowo i na zmianę pierwszym źródłem światła L 1 a następnie drugim źródłem światła L 2, umieszczonymi z boku i pod dużym kątem w stosunku do skanowanej powierzchni. Oba źródła światła L 1 i L 2 stanowią niebieskie diody typu LED. Cienie pochodzące od wystających listewek skórnych, jako pojedyncze kolejne obrazy, które powstają w wyniku oświetlania skanowanej powierzchni, raz pierwszym źródłem światła L 1 a następnie drugim źródłem światła L 2, rejestruje się kamerą CCD, przy czym moment rejestracji każdego obrazu jest ściśle zsynchronizowany z czasem oświetlania linii papilarnych P, po czym kolejne obrazy skanowanej powierzchni składa się w jeden obraz, a następnie bada się topografię linii P, rozmieszczenie minucji oraz porównuje z wzorcem. P r z y k ł a d 2. Sposób odczytu topografii linii papilarnych przebiega jak w przykładzie pierwszym z tą różnicą, że linie papilarne P oświetla się sekwencyjnie, z ośmiu źródeł światła od L 1 do L 8, które stanowią zielone diody typu LED. P r z y k ł a d 3. Układ do odczytu topografii linii papilarnych, w którym promieniowanie z każdego z dwóch źródeł światła L 1 i L 2 podłączonych do zasilacza Z poprzez multiplekser M, pada na linie papilarne P. Źródłami światła L 1 i L 2 w tym wykonaniu są niebieskie diody typu LED charakteryzujące się krótkim czasem narastania i zaniku świecenia. Następnie obraz linii papilarnych P powstały w wyniku oświetlenia linii papilarnych P pierwszym źródłem światła L 1 i drugim źródłem światła L 2 rejestrowane są przez kamerę CCD połączoną interfejsem z komputerem K i z multiplekserem M, jednocześnie zasilanie obu źródeł światła L 1 i L 2 zsynchronizowane jest z pracą kamery CCD oraz oba źródła światła L 1 i L 2 umieszczone jest pod dużym kątem w stosunku do skanowanej powierzchni linii papilarnych P. P r z y k ł a d 4. Układ do odczytu topografii linii papilarnych przebiega jak w przykładzie trzecim z tą różnicą, że ma osiem źródeł światła L 1, L 2, L 3, L 4, L 5, L 6, L 7, L 8, które stanowią zielone diody typu LED charakteryzujące się krótkim czasem narastania i zaniku świecenia, następnie obrazy linii papilarnych P powstałe w wyniku sekwencyjnego oświetlenia linii papilarnych P kolejnymi źródłami światła L k rejestrowane są kamerą CCD połączoną interfejsem z mikroprocesorem K i z multiplekserem M. Zastrzeżenia patentowe 1. Sposób odczytu topografii linii papilarnych polegający na oświetleniu linii papilarnych, rejestracji ich obrazu oraz wykonaniu procedur numerycznych związanych z identyfikacją osób takich jak badanie geometrii linii, rozmieszczenie minucji oraz porównanie z wzorcem, znamienny tym, że linie papilarne (P) oświetla się impulsowo kolejnym źródłem światła (L k ), umieszczonym z boku i pod dużym kątem w stosunku do skanowanej powierzchni, zaś cienie pochodzące od wystających listewek skórnych jako pojedyncze kolejne obrazy skanowanej powierzchni rejestruje się kamerą (CCD), przy czym moment rejestracji każdego obrazu jest ściśle zsynchronizowany z czasem oświetlania linii papilarnych (P), po czym kolejne obrazy skanowanej powierzchni składa się w jeden obraz, a następnie bada się topografię linii (P), rozmieszczenie minucji oraz porównuje z wzorcem. 2. Sposób, według zastrz. 1, znamienny tym, że linie papilarne (P) oświetla się sekwencyjnie, co najmniej jednym źródłem światła (L k ), przy czym linie papilarne oświetla się jednocześnie nie więcej niż połową źródeł światła. 3. Sposób, według zastrz. 1, znamienny tym, że linie papilarne (P) oświetla się promieniowaniem o długościach fal mniejszych od 600 nm. 4. Sposób, według zastrz. 2, znamienny tym, że linie papilarne (P) oświetla się światłem zielonym.

4 4 PL B1 5. Sposób, według zastrz. 2, znamienny tym, że linie papilarne (P) oświetla się światłem niebieskim. 6. Układ do odczytu topografii linii papilarnych wyposażony w źródła światła i w kamerę, znamienny tym, że promieniowanie ze każdego źródła światła (L k ) podłączonego do zasilacza (Z) poprzez multiplekser (M), pada na linie papilarne (P), następnie obrazy linii papilarnych (P) rejestrowane są przez kamerę (CCD) połączoną interfejsem z komputerem (K) i z multiplekserem (M), jednocześnie zasilanie każdego źródła światła (L k ) jest zsynchronizowane z pracą kamery (CCD) oraz każde źródło światła (L k ) umieszczone jest pod dużym kątem w stosunku do skanowanej powierzchni linii papilarnych (P), natomiast k przybiera wartość od 2 do n. 7. Układ, według zastrz. 6, znamienny tym, że ma osiem źródeł światła (L 1, L 2, L 3, L 4, L 5, L 6, L 7, L 8 ). 8. Układ, według zastrz. 6 albo 7, znamienny tym, że źródła światła (L k ) stanowią diody o krótkim czasie narastania i zaniku świecenia. 9. Układ, według zastrz. 8, znamienny tym, że jako źródła światła (L k ) stosuje się niebieskie diody typu LED. 10. Układ, według zastrz. 8, znamienny tym, że jako źródła światła (L k ) stosuje się zielone diody typu LED. 11. Układ, według zastrz. 8, znamienny tym, że obrazy linii papilarnych (P) rejestrowane są przez kamerę (CCD) połączoną interfejsem z mikroprocesorem (K) i z multiplekserem (M).

5 PL B1 5 Rysunki

6 6 PL B1 Departament Wydawnictw UP RP Cena 2,00 zł.

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. Sposób optycznej detekcji wad powierzchni obiektów cylindrycznych, zwłaszcza wałków łożysk. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208183 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 379580 (51) Int.Cl. G01N 21/952 (2006.01) G01B 11/30 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ i sposób zabezpieczenia generatora z podwójnym uzwojeniem na fazę od zwarć międzyzwojowych w uzwojeniach stojana

PL B1. Układ i sposób zabezpieczenia generatora z podwójnym uzwojeniem na fazę od zwarć międzyzwojowych w uzwojeniach stojana RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 199508 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 353671 (51) Int.Cl. H02H 7/06 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 29.04.2002

Bardziej szczegółowo

PL B1. WOJSKOWY INSTYTUT MEDYCYNY LOTNICZEJ, Warszawa, PL BUP 23/13

PL B1. WOJSKOWY INSTYTUT MEDYCYNY LOTNICZEJ, Warszawa, PL BUP 23/13 PL 222455 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222455 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399143 (51) Int.Cl. H02M 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA OPOLSKA, Opole, PL BUP 16/17. JAROSŁAW ZYGARLICKI, Krzyżowice, PL WUP 04/18

PL B1. POLITECHNIKA OPOLSKA, Opole, PL BUP 16/17. JAROSŁAW ZYGARLICKI, Krzyżowice, PL WUP 04/18 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228586 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 419136 (51) Int.Cl. H01H 47/24 (2006.01) G02B 6/35 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

INSTYTUT TRANSPORTU SAMOCHODOWEGO,

INSTYTUT TRANSPORTU SAMOCHODOWEGO, PL 218158 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218158 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 389646 (51) Int.Cl. B60Q 1/00 (2006.01) B60Q 1/28 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL 208214 B1. DZIŻA SŁAWOMIR-PRACOWNIA PLASTYCZNA REKLAMA, Szadkowice, PL 12.12.2005 BUP 25/05. SŁAWOMIR DZIŻA, Szadkowice, PL 31.03.

PL 208214 B1. DZIŻA SŁAWOMIR-PRACOWNIA PLASTYCZNA REKLAMA, Szadkowice, PL 12.12.2005 BUP 25/05. SŁAWOMIR DZIŻA, Szadkowice, PL 31.03. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208214 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 368426 (51) Int.Cl. G09F 13/22 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 07.06.2004

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/15

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/15 PL 223865 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223865 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 406254 (22) Data zgłoszenia: 26.11.2013 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. PRZETWÓRSTWO TWORZYW SZTUCZNYCH WAŚ JÓZEF I LESZEK WAŚ SPÓŁKA JAWNA, Godzikowice, PL

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. PRZETWÓRSTWO TWORZYW SZTUCZNYCH WAŚ JÓZEF I LESZEK WAŚ SPÓŁKA JAWNA, Godzikowice, PL PL 66586 Y1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 119866 (22) Data zgłoszenia: 24.03.2011 (19) PL (11) 66586 (13) Y1

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 02/08. PIOTR KURZYNOWSKI, Wrocław, PL JAN MASAJADA, Nadolice Wielkie, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 211200 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380223 (22) Data zgłoszenia: 17.07.2006 (51) Int.Cl. G01N 21/23 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 19/10

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 19/10 PL 218159 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218159 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 387380 (22) Data zgłoszenia: 02.03.2009 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/05. STANISŁAW BEDNAREK, Łódź, PL WUP 09/10

PL B1. UNIWERSYTET ŁÓDZKI, Łódź, PL BUP 03/05. STANISŁAW BEDNAREK, Łódź, PL WUP 09/10 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 206633 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 361507 (22) Data zgłoszenia: 30.07.2003 (51) Int.Cl. G09B 23/22 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści

PL B1. Hybrydowy układ optyczny do rozsyłu światła z tablicy znaków drogowych o zmiennej treści PL 219112 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219112 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 392659 (22) Data zgłoszenia: 15.10.2010 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. PĘKACKI PAWEŁ, Skarżysko-Kamienna, PL BUP 02/06. PAWEŁ PĘKACKI, Skarżysko-Kamienna, PL

PL B1. PĘKACKI PAWEŁ, Skarżysko-Kamienna, PL BUP 02/06. PAWEŁ PĘKACKI, Skarżysko-Kamienna, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208199 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 369112 (51) Int.Cl. A61C 5/02 (2006.01) A61B 5/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 18/15. HANNA STAWSKA, Wrocław, PL ELŻBIETA BEREŚ-PAWLIK, Wrocław, PL PL 224674 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224674 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 409674 (51) Int.Cl. G02B 6/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 16/17

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 16/17 PL 228032 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228032 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 419889 (22) Data zgłoszenia: 20.12.2016 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ zabezpieczenia od zwarć doziemnych wysokooporowych w sieciach średniego napięcia. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. Układ zabezpieczenia od zwarć doziemnych wysokooporowych w sieciach średniego napięcia. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 211182 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385971 (51) Int.Cl. H02H 7/26 (2006.01) H02H 3/16 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. INSTYTUT ZOOTECHNIKI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Kraków, PL BUP 09/16

PL B1. INSTYTUT ZOOTECHNIKI PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Kraków, PL BUP 09/16 PL 224835 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224835 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 409876 (51) Int.Cl. A01K 67/033 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO CIMAT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Bydgoszcz, PL BUP 04/16

PL B1. PRZEDSIĘBIORSTWO CIMAT SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Bydgoszcz, PL BUP 04/16 PL 223987 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223987 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 409120 (22) Data zgłoszenia: 06.08.2014 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 06/ WUP 06/17

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 06/ WUP 06/17 PL 226027 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226027 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 405218 (22) Data zgłoszenia: 02.09.2013 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających

PL B1. Sposób i układ pomiaru całkowitego współczynnika odkształcenia THD sygnałów elektrycznych w systemach zasilających RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210969 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 383047 (51) Int.Cl. G01R 23/16 (2006.01) G01R 23/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA WROCŁAWSKA,

POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, PL 216377 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216377 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 384643 (51) Int.Cl. B62K 21/18 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 25/09. ANDRZEJ KOLONKO, Wrocław, PL ANNA KOLONKO, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 25/09. ANDRZEJ KOLONKO, Wrocław, PL ANNA KOLONKO, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209351 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 385341 (51) Int.Cl. F16L 55/165 (2006.01) F16L 58/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL

PL B1. Sposób i układ do modyfikacji widma sygnału ultraszerokopasmowego radia impulsowego. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL PL 219313 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219313 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391153 (51) Int.Cl. H04B 7/00 (2006.01) H04B 7/005 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. HIKISZ BARTOSZ, Łódź, PL BUP 05/07. BARTOSZ HIKISZ, Łódź, PL WUP 01/16. rzecz. pat.

PL B1. HIKISZ BARTOSZ, Łódź, PL BUP 05/07. BARTOSZ HIKISZ, Łódź, PL WUP 01/16. rzecz. pat. PL 220905 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 220905 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 376878 (51) Int.Cl. F16H 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób lutowania beztopnikowego miedzi ze stalami lutami twardymi zawierającymi fosfor. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. Sposób lutowania beztopnikowego miedzi ze stalami lutami twardymi zawierającymi fosfor. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL PL 215756 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215756 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386907 (51) Int.Cl. B23K 1/20 (2006.01) B23K 1/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 01/12. VIKTOR LOZBIN, Lublin, PL PIOTR BYLICKI, Świdnik, PL

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 01/12. VIKTOR LOZBIN, Lublin, PL PIOTR BYLICKI, Świdnik, PL PL 218000 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218000 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391573 (51) Int.Cl. G01N 25/56 (2006.01) G01N 25/68 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 H02P 1/34

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 H02P 1/34 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY ( 2 1) Numer zgłoszenia: 329338 (22) Data zgłoszenia: 21.10.1998 (19) PL (11) 189658 (13) B1 (51) IntCl7 H02P 1/34 (54)

Bardziej szczegółowo

(54) PL B1 (19) PL (11) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY

(54) PL B1 (19) PL (11) (13) B1 (12) OPIS PATENTOWY RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (21 ) Numer zgłoszenia: 317797 (22) Data zgłoszenia: 30.12.1996 (19) PL (11) 181841 (13) B1 (51) IntCl7 G01D 3/00 G01R

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. PAŹDZIOR MICHAŁ, Kraków, PL RYBKA DARIUSZ, Bochnia, PL BUP 20/ WUP 07/12

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1. PAŹDZIOR MICHAŁ, Kraków, PL RYBKA DARIUSZ, Bochnia, PL BUP 20/ WUP 07/12 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 118859 (22) Data zgłoszenia: 18.03.2010 (19) PL (11) 66005 (13) Y1 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób zabezpieczania termiczno-prądowego lampy LED oraz lampa LED z zabezpieczeniem termiczno-prądowym

PL B1. Sposób zabezpieczania termiczno-prądowego lampy LED oraz lampa LED z zabezpieczeniem termiczno-prądowym PL 213343 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213343 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 391516 (51) Int.Cl. F21V 29/00 (2006.01) F21S 8/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu

PL B1. Sposób kątowego wyciskania liniowych wyrobów z materiału plastycznego, zwłaszcza metalu PL 218911 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218911 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 394839 (51) Int.Cl. B21C 23/02 (2006.01) B21C 25/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

501 B1 (120OPIS PATENTOWY (19) PL (11) B1 (1 3 ) A47B 87/00. (54) Moduł płytowy do budowy mebli, zwłaszcza laboratoryjnych

501 B1 (120OPIS PATENTOWY (19) PL (11) B1 (1 3 ) A47B 87/00. (54) Moduł płytowy do budowy mebli, zwłaszcza laboratoryjnych RZECZPOSPOLITA PO L SK A (1 3 ) (120OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 168501 B1 Urząd Patentowy (2)Datazgłoszenia: Rzeczypospolitej Polskiej 01.07.192 (21) Numer zgłoszenia: 295095 (51) IntCl6: B01L9/00 A47B

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 26/17

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 26/17 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229343 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 419886 (22) Data zgłoszenia: 20.12.2016 (51) Int.Cl. A61F 2/38 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228974 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 419599 (51) Int.Cl. A61B 5/00 (2006.01) G01N 21/64 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia:

PL B1 A61B 1/26 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11) (13) B1. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19)PL (11)175300 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 305449 (22) Data zgłoszenia: 14.10.1994 (21) IntCl6: G01D 9/42 A61B 1/26

Bardziej szczegółowo

(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 PL B1 C23F 13/04 C23F 13/22 H02M 7/155

(54) (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 PL B1 C23F 13/04 C23F 13/22 H02M 7/155 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 169318 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 296640 (22) Data zgłoszenia: 16.11.1992 (51) IntCl6: H02M 7/155 C23F

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 12/14. ANTONI SZUMANOWSKI, Warszawa, PL PAWEŁ KRAWCZYK, Ciechanów, PL

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL BUP 12/14. ANTONI SZUMANOWSKI, Warszawa, PL PAWEŁ KRAWCZYK, Ciechanów, PL PL 222644 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222644 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 401778 (51) Int.Cl. F16H 55/56 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 07/10. ZDZISŁAW NAWROCKI, Wrocław, PL DANIEL DUSZA, Inowrocław, PL

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 07/10. ZDZISŁAW NAWROCKI, Wrocław, PL DANIEL DUSZA, Inowrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213448 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 386136 (51) Int.Cl. H03H 11/16 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 23.09.2008

Bardziej szczegółowo

PL B1. Gąsienica dwurzędowa zwłaszcza do czołgu w wersji bezstopniowej, dwustopniowej i trzystopniowej BUP 16/05

PL B1. Gąsienica dwurzędowa zwłaszcza do czołgu w wersji bezstopniowej, dwustopniowej i trzystopniowej BUP 16/05 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 205162 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 364785 (51) Int.Cl. F41H 7/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 04.02.2004

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA GDAŃSKA, Gdańsk, PL BUP 19/09. MACIEJ KOKOT, Gdynia, PL WUP 03/14. rzecz. pat. PL 216395 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 216395 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 384627 (51) Int.Cl. G01N 27/00 (2006.01) H01L 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL 208802 B1. NYK BOGUSŁAW, Warszawa, PL 13.10.2008 BUP 21/08. BOGUSŁAW NYK, Warszawa, PL 30.06.2011 WUP 06/11. rzecz. pat.

PL 208802 B1. NYK BOGUSŁAW, Warszawa, PL 13.10.2008 BUP 21/08. BOGUSŁAW NYK, Warszawa, PL 30.06.2011 WUP 06/11. rzecz. pat. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208802 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 382138 (51) Int.Cl. A47H 1/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 04.04.2007

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ do zasilania silnika elektrycznego w pojazdach i urządzeniach z napędem hybrydowym spalinowo-elektrycznym

PL B1. Układ do zasilania silnika elektrycznego w pojazdach i urządzeniach z napędem hybrydowym spalinowo-elektrycznym RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 211702 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 382097 (51) Int.Cl. B60K 6/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 30.03.2007

Bardziej szczegółowo

PL B1. Mechanizm z dostosowaniem trajektorii w czasie rzeczywistym, zwłaszcza ortezy kolana ludzkiego. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

PL B1. Mechanizm z dostosowaniem trajektorii w czasie rzeczywistym, zwłaszcza ortezy kolana ludzkiego. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL PL 228031 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228031 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 419888 (22) Data zgłoszenia: 20.12.2016 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/FI04/ (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/FI04/ (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego: RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207178 (21) Numer zgłoszenia: 370883 (22) Data zgłoszenia: 28.01.2004 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego:

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 PL 182539 B1 B03C 1/025 B03C 1/18

(13) B1 (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 PL 182539 B1 B03C 1/025 B03C 1/18 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOW Y (19)PL (11)182539 (21) Numer zgłoszenia: 319932 (22) Data zgłoszenia: 13.05.1997 (13) B1 (51) IntCl7 B03C 1/025 B03C

Bardziej szczegółowo

PL B1. AREVA T&D Spółka z o.o. Zakład Transformatorów w Mikołowie, Świebodzice,PL BUP 12/ WUP 10/09

PL B1. AREVA T&D Spółka z o.o. Zakład Transformatorów w Mikołowie, Świebodzice,PL BUP 12/ WUP 10/09 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203542 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 344295 (51) Int.Cl. H02M 7/04 (2007.01) H02M 7/06 (2007.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób walcowania poprzecznego dwoma walcami wyrobów typu kula metodą wgłębną. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL

PL B1. Sposób walcowania poprzecznego dwoma walcami wyrobów typu kula metodą wgłębną. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL PL 218597 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218597 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 394836 (22) Data zgłoszenia: 11.05.2011 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych

PL B1. System kontroli wychyleń od pionu lub poziomu inżynierskich obiektów budowlanych lub konstrukcyjnych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200981 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 360320 (51) Int.Cl. G01C 9/00 (2006.01) G01C 15/10 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051 RZECZPO SPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175051 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307033 (22) Data zgłoszenia: 31.01.1995 (51) Int.Cl.6: A61B 3/107

Bardziej szczegółowo

RZECZPOSPOLITAPOLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

RZECZPOSPOLITAPOLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITAPOLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 170393 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 300860 (22) Data zgłoszenia: 18.06.1993 (51) IntCl6. E04H 12/28 (54)

Bardziej szczegółowo

PL 208303 B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL 09.08.2004 BUP 16/04. WŁODZIMIERZ SOLNIK, Wrocław, PL ZBIGNIEW ZAJDA, Wrocław, PL

PL 208303 B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL 09.08.2004 BUP 16/04. WŁODZIMIERZ SOLNIK, Wrocław, PL ZBIGNIEW ZAJDA, Wrocław, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208303 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358561 (51) Int.Cl. G05D 9/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 03.02.2003

Bardziej szczegółowo

PL B1. AMICA SPÓŁKA AKCYJNA, Wronki, PL BUP 06/16. TOMASZ JENEK, Wronki, PL PIOTR KRYSTKOWIAK, Ostrów Wielkopolski, PL

PL B1. AMICA SPÓŁKA AKCYJNA, Wronki, PL BUP 06/16. TOMASZ JENEK, Wronki, PL PIOTR KRYSTKOWIAK, Ostrów Wielkopolski, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227417 (21) Numer zgłoszenia: 419001 (22) Data zgłoszenia: 05.09.2014 (62) Numer zgłoszenia, z którego nastąpiło

Bardziej szczegółowo

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11

PL 214592 B1. POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA, Częstochowa, PL 14.03.2011 BUP 06/11 PL 214592 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214592 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 388915 (51) Int.Cl. G01B 5/28 (2006.01) G01C 7/04 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL

PL B1. POLITECHNIKA WARSZAWSKA, Warszawa, PL INSTYTUT TECHNOLOGII EKSPLOATACJI. PAŃSTWOWY INSTYTUT BADAWCZY, Radom, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 207917 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 380341 (22) Data zgłoszenia: 31.07.2006 (51) Int.Cl. G01B 21/04 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

,CZ,PUV FERMATA,

,CZ,PUV FERMATA, RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 198144 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 346437 (51) Int.Cl. G11B 23/40 (2006.01) G11B 7/24 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 05/13. PIOTR WOLSZCZAK, Lublin, PL WUP 05/16. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 05/13. PIOTR WOLSZCZAK, Lublin, PL WUP 05/16. rzecz. pat. PL 221679 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221679 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 396076 (51) Int.Cl. G08B 29/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. Fig. 2 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia:

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1. Fig. 2 RZECZPOSPOLITA POLSKA. (21) Numer zgłoszenia: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 178809 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 308862 (22) Data zgłoszenia: 01.06.1995 (51) IntCl7: F16B7/18 E04F

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL

(12) OPIS PATENTOWY (19)PL RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19)PL (11)187065 (2 1) Numer zgłoszenia: 319023 (22) Data zgłoszenia: 18.03.1997 (13)B1 (51) IntCl7 A63F 9/08 (54) Układanka

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ do przetwarzania interwału czasu na słowo cyfrowe metodą kompensacji wagowej

PL B1. Układ do przetwarzania interwału czasu na słowo cyfrowe metodą kompensacji wagowej PL 227455 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227455 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 413964 (22) Data zgłoszenia: 14.09.2015 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 09.08.2001, PCT/DE01/02954 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 09.08.2001, PCT/DE01/02954 (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego: RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 199888 (21) Numer zgłoszenia: 360082 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 09.08.2001 (86) Data i numer zgłoszenia

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 H01H 43/00. (54) Urządzenie do zasilania instalacji oświetleniowej klatki schodowej

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 H01H 43/00. (54) Urządzenie do zasilania instalacji oświetleniowej klatki schodowej RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 174926 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 305847 (22) Data zgłoszenia: 14.11.1994 (5 1) IntCl6. H01H 47/00 H01H

Bardziej szczegółowo

PL 206784 B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL 04.04.2005 BUP 07/05. ANDRZEJ KOS, Zielonki, PL 30.09.

PL 206784 B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL 04.04.2005 BUP 07/05. ANDRZEJ KOS, Zielonki, PL 30.09. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 206784 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 362329 (22) Data zgłoszenia: 22.09.2003 (51) Int.Cl. A61F 9/08 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 12/13 PL 222357 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 222357 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 400712 (22) Data zgłoszenia: 10.09.2012 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99

(13)B1 PL B1. (54) Sposób oraz urządzenie do pomiaru odchyłek okrągłości BUP 21/ WUP 04/99 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19)PL 176148 (13)B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307963 (22) Data zgłoszenia: 30.03.1995 (51) IntCl6 G01B 5/20 (54) Sposób

Bardziej szczegółowo

PL 215189 B1. INSTYTUT OPTYKI STOSOWANEJ, Warszawa, PL INSTYTUT BADAWCZY DRÓG I MOSTÓW, Warszawa, PL 21.06.2010 BUP 13/10

PL 215189 B1. INSTYTUT OPTYKI STOSOWANEJ, Warszawa, PL INSTYTUT BADAWCZY DRÓG I MOSTÓW, Warszawa, PL 21.06.2010 BUP 13/10 PL 215189 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215189 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 386785 (22) Data zgłoszenia: 11.12.2008 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 17/09

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA, Kraków, PL BUP 17/09 PL 214449 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214449 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 384436 (22) Data zgłoszenia: 11.02.2008 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. WIJAS PAWEŁ, Kielce, PL BUP 26/06. PAWEŁ WIJAS, Kielce, PL WUP 09/12. rzecz. pat. Wit Flis RZECZPOSPOLITA POLSKA

PL B1. WIJAS PAWEŁ, Kielce, PL BUP 26/06. PAWEŁ WIJAS, Kielce, PL WUP 09/12. rzecz. pat. Wit Flis RZECZPOSPOLITA POLSKA PL 212307 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212307 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 375676 (51) Int.Cl. F24H 9/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. SZKODA ZBIGNIEW, Tomaszowice, PL BUP 03/16

PL B1. SZKODA ZBIGNIEW, Tomaszowice, PL BUP 03/16 PL 224843 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 224843 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 412553 (22) Data zgłoszenia: 01.06.2015 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 26/16

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 26/16 PL 227999 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 227999 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 412711 (51) Int.Cl. H02M 3/07 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (11) 176092 (12)OPIS PATENTOWY (19) PL PL 176092 B1. Fig. 2

(13) B1 (11) 176092 (12)OPIS PATENTOWY (19) PL PL 176092 B1. Fig. 2 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12)OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 176092 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307620 (22) Data zgłoszenia: 10.03.1995 (51) IntCl6: AS1H 3/00 (54)

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 179630 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 314202 (22) Data zgłoszenia: 10.05.1996 (51) IntCl7: B60K 15/077 B60K

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11)

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 181834 (21) Numer zgłoszenia: 326385 (22) Data zgłoszenia: 30.10.1996 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego:

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża

PL B1. Sposób badania przyczepności materiałów do podłoża i układ do badania przyczepności materiałów do podłoża RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 203822 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 358564 (51) Int.Cl. G01N 19/04 (2006.01) G01N 29/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 G06F 12/16 G06F 1/30 H04M 1/64. (57)1. Układ podtrzymywania danych przy

(13) B1 (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) PL B1 G06F 12/16 G06F 1/30 H04M 1/64. (57)1. Układ podtrzymywania danych przy RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 175315 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 307287 (22) Data zgłoszenia: 15.02.1995 (51) IntCl6: H04M 1/64 G06F

Bardziej szczegółowo

Sposób sterowania ruchem głowic laserowego urządzenia do cięcia i znakowania/grawerowania materiałów oraz urządzenie do stosowania tego sposobu

Sposób sterowania ruchem głowic laserowego urządzenia do cięcia i znakowania/grawerowania materiałów oraz urządzenie do stosowania tego sposobu PL 217478 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217478 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 397035 (22) Data zgłoszenia: 18.11.2011 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Politechnika Koszalińska,Koszalin,PL Wanatowicz Szymon,Koszalin,PL BUP 18/01. Szymon Wanatowicz,Koszalin,PL

PL B1. Politechnika Koszalińska,Koszalin,PL Wanatowicz Szymon,Koszalin,PL BUP 18/01. Szymon Wanatowicz,Koszalin,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 200395 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 346259 (22) Data zgłoszenia: 02.03.2001 (51) Int.Cl. B65D 85/575 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Układ przeniesienia napędu do hybrydowych pojazdów roboczych dużej mocy zwłaszcza wózków widłowych o dużym udźwigu

PL B1. Układ przeniesienia napędu do hybrydowych pojazdów roboczych dużej mocy zwłaszcza wózków widłowych o dużym udźwigu PL 219224 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219224 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 394214 (22) Data zgłoszenia: 15.03.2011 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 26/16. ZBIGNIEW PATER, Turka, PL JANUSZ TOMCZAK, Lublin, PL PAULINA PATER, Turka, PL

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 26/16. ZBIGNIEW PATER, Turka, PL JANUSZ TOMCZAK, Lublin, PL PAULINA PATER, Turka, PL PL 226885 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 226885 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 414306 (51) Int.Cl. B21B 23/00 (2006.01) B21C 37/15 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1 PRZEDSIĘBIORSTWO BADAWCZO- -PRODUKCYJNE I USŁUGOWO-HANDLOWE MICON SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, KATOWICE, PL

PL B1 PRZEDSIĘBIORSTWO BADAWCZO- -PRODUKCYJNE I USŁUGOWO-HANDLOWE MICON SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, KATOWICE, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 205621 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 368490 (22) Data zgłoszenia: 14.06.2004 (51) Int.Cl. H04L 29/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/18

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL BUP 14/18 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 230767 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 420034 (51) Int.Cl. B65G 7/12 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 29.12.2016

Bardziej szczegółowo

PL B1. ES-SYSTEM SPÓŁKA AKCYJNA, Kraków, PL BUP 17/08. BOGUSŁAW PILSZCZEK, Kraków, PL ARTUR ZAWADZKI, Kraków, PL

PL B1. ES-SYSTEM SPÓŁKA AKCYJNA, Kraków, PL BUP 17/08. BOGUSŁAW PILSZCZEK, Kraków, PL ARTUR ZAWADZKI, Kraków, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 213579 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 381717 (51) Int.Cl. H05B 37/02 (2006.01) F21V 21/15 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. UVEX ARBEITSSCHUTZ GMBH, Fürth, DE , DE, STEFAN BRÜCK, Nürnberg, DE BUP 19/

PL B1. UVEX ARBEITSSCHUTZ GMBH, Fürth, DE , DE, STEFAN BRÜCK, Nürnberg, DE BUP 19/ PL 212472 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212472 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 359123 (22) Data zgłoszenia: 12.03.2003 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY. (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE96/02405

(12) OPIS PATENTOWY. (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/DE96/02405 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (21 ) Numer zgłoszenia: 321888 (22) Data zgłoszenia: 15.12.1996 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: 15.12.1996,

Bardziej szczegółowo

PL B1. Instytut Automatyki Systemów Energetycznych,Wrocław,PL BUP 26/ WUP 08/09. Barbara Plackowska,Wrocław,PL

PL B1. Instytut Automatyki Systemów Energetycznych,Wrocław,PL BUP 26/ WUP 08/09. Barbara Plackowska,Wrocław,PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 202961 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 354738 (51) Int.Cl. G01F 23/14 (2006.01) F22B 37/78 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/CH03/ (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego:

(86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego: , PCT/CH03/ (87) Data i numer publikacji zgłoszenia międzynarodowego: RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 206950 (21) Numer zgłoszenia: 377651 (22) Data zgłoszenia: 28.03.2003 (86) Data i numer zgłoszenia międzynarodowego:

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 14/14. ZBIGNIEW PATER, Turka, PL JANUSZ TOMCZAK, Lublin, PL

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 14/14. ZBIGNIEW PATER, Turka, PL JANUSZ TOMCZAK, Lublin, PL PL 221662 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221662 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 402213 (51) Int.Cl. B21B 19/06 (2006.01) B21C 37/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 03/07. CZESŁAW KOZIARSKI, Wrocław, PL WUP 08/11

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL BUP 03/07. CZESŁAW KOZIARSKI, Wrocław, PL WUP 08/11 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 209323 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 376387 (51) Int.Cl. B62K 3/02 (2006.01) B62M 1/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób zasilania silników wysokoprężnych mieszanką paliwa gazowego z olejem napędowym. KARŁYK ROMUALD, Tarnowo Podgórne, PL

PL B1. Sposób zasilania silników wysokoprężnych mieszanką paliwa gazowego z olejem napędowym. KARŁYK ROMUALD, Tarnowo Podgórne, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 212194 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 378146 (51) Int.Cl. F02B 7/06 (2006.01) F02M 21/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)

Bardziej szczegółowo

PL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego

PL B1. Sposób i układ do wykrywania zwarć blach w stojanach maszyn elektrycznych prądu zmiennego PL 223315 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223315 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 399459 (51) Int.Cl. G01R 31/34 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1

(12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (13) B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 171065 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 299277 (22) Data zgłoszenia: 11.06.1993 (51) IntCl6: G01R 35/02 (54)

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 20/12

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 20/12 PL 218402 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 218402 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 394247 (51) Int.Cl. B23F 5/27 (2006.01) B21D 53/28 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1

WZORU UŻYTKOWEGO PL Y1 PL 66620 Y1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 119674 (22) Data zgłoszenia: 17.01.2011 (19) PL (11) 66620 (13) Y1

Bardziej szczegółowo

(54) Sposób sterowania prędkości obrotowej silnika klatkowego przez przełączanie

(54) Sposób sterowania prędkości obrotowej silnika klatkowego przez przełączanie RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 164000 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 2 8 5 2 3 8 (22) Data zgłoszenia: 1 6.0 5.1 9 9 0 (51) IntCl5: H02P

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA POZNAŃSKA, Poznań, PL BUP 14/14. BARTOSZ WIECZOREK, Poznań, PL MAREK ZABŁOCKI, Poznań, PL

PL B1. POLITECHNIKA POZNAŃSKA, Poznań, PL BUP 14/14. BARTOSZ WIECZOREK, Poznań, PL MAREK ZABŁOCKI, Poznań, PL PL 223141 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223141 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 402276 (51) Int.Cl. B62M 1/14 (2006.01) A61G 5/02 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej

Bardziej szczegółowo

PL B1. INSTYTUT TECHNIKI GÓRNICZEJ KOMAG, Gliwice, PL BUP 07/14. DARIUSZ MICHALAK, Bytom, PL ŁUKASZ JASZCZYK, Pyskowice, PL

PL B1. INSTYTUT TECHNIKI GÓRNICZEJ KOMAG, Gliwice, PL BUP 07/14. DARIUSZ MICHALAK, Bytom, PL ŁUKASZ JASZCZYK, Pyskowice, PL PL 223534 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 223534 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 400834 (51) Int.Cl. E21C 35/24 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia:

Bardziej szczegółowo

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 24/18. PRZEMYSŁAW FILIPEK, Lublin, PL WUP 06/19. rzecz. pat.

PL B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL BUP 24/18. PRZEMYSŁAW FILIPEK, Lublin, PL WUP 06/19. rzecz. pat. RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 232308 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 426279 (22) Data zgłoszenia: 09.07.2018 (51) Int.Cl. F04C 18/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL

PL B1. AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE, Kraków, PL PL 215934 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 215934 (21) Numer zgłoszenia: 393536 (22) Data zgłoszenia: 31.12.2010 (13) B1 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. ZELMER MARKET SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Rzeszów, PL BUP 18/09

PL B1. ZELMER MARKET SPÓŁKA Z OGRANICZONĄ ODPOWIEDZIALNOŚCIĄ, Rzeszów, PL BUP 18/09 PL 214420 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 214420 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 384487 (22) Data zgłoszenia: 18.02.2008 (51) Int.Cl.

Bardziej szczegółowo

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229959 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 421970 (22) Data zgłoszenia: 21.06.2017 (51) Int.Cl. G01C 3/00 (2006.01)

Bardziej szczegółowo

PL B1. INSTYTUT TECHNOLOGICZNO- -PRZYRODNICZY, Falenty, PL BUP 15/ WUP 05/11. STANISŁAW PTASZYŃSKI, Warszawa, PL

PL B1. INSTYTUT TECHNOLOGICZNO- -PRZYRODNICZY, Falenty, PL BUP 15/ WUP 05/11. STANISŁAW PTASZYŃSKI, Warszawa, PL RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 208446 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 381552 (51) Int.Cl. A01B 27/00 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22) Data zgłoszenia: 18.01.2007

Bardziej szczegółowo