Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii
|
|
- Michalina Kowalik
- 8 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Wydział Mechaniczny, Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej Politechnika Wrocławska, ul. Krasińskiego 13a, Wrocław r.
2 Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii DCZT
3 Wyposażenie Laboratorium 1. System do pomiaru porowatości (ASAP 2020 & AutoPore IV firmy Micromeritics) (mgr inż. J. Krzak-Roś) 2. Rentgenowski dyfraktometr proszkowy (ULTIMA IV firmy Rigaku) (dr A. Baszczuk) 3. Wysokorozdzielczy system do pomiarów widm wibracyjnych FT-IR/Raman (LabRAM HR 800 ( nm) firmy Horiba Yvon Jobin) (dr inż. A. Łukowiak) 4. Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) ze spektrometrem EDS i przystawką 3D Viewer (S-3400N firmy Hitachi) (dr M. Jasiorski) 5. Mikroskop Sił Atomowych (AFM) (XE-100 firmy Park Systems) (dr M. Hasiak) 6. Dwuwiązkowy spektrofotometr absorpcyjny (Nicolet Evolution 100 firmy Thermo Electron Corporation) (mgr inż. B. Borak) 7. Spektrofotometr emisyjny z układem do pomiarów czasu życia (Flouromax-4 firmy Horiba Yvon Jobin) (mgr inż. B. Borak) 8. Mikroskop fluorescencyjny z przystawką konfokalną (Fluorolog 3) (mgr inż. B. Borak) 9. Generator gazów (ASGU-370 FC firmy Horiba) (dr inż. Iwona Rutkowska) 10. Impedancyjno-transmisyjny analizator (LCR 4263B firmy Agilent Technologies)
4 Wyposażenie Laboratorium S-3400N (Hitachi) Generator Gazów (Horiba) XE-100 (Park Systems) Miernik LCR 4263B (Agilent Technologies) ULTIMA IV (Rigaku) AutoPore IV (Micromeritics) Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii DCZT ASAP 2020 (Micromeritics) LabRAM HR 800 (Horiba Yvon Jobin) Nicolet Evolution 100 (ThermoLab) FlouroMax-4 (Horiba Yvon Jobin) Fluorolog 3 (Horiba Yvon Jobin)
5 Wyposażenie Laboratorium System do pomiaru porowatości & porozymetr rtęciowy Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) z mikroanalizatorem EDS i oprogramowaniem 3D Viewer Wysokorozdzielczy spektrometr Ramana z FTIR i detektorem typu InGaAs do pracy w podczerwieni Impedancyjny i transmisyjny analizator Zasilacz 0-60V/0-3.5A Mikroskop Sił Atomowych (AFM) Proszkowy dyfraktometr Rentgenowski Mikroskop fluorescencyjny z przystawką konfokalną Dwuwiązkowy spektrofotometr absorpcyjny Spektrofotometr emisyjny z układem do pomiarów czasów życia
6 System do pomiaru porowatości ASAP 2020 Analizator powierzchni właściwej ASAP 2020 (Accelerated Surface Area and Porosimetry Analyzer) w pełni zautomatyzowany system do oznaczania jedno i wielopunktowej powierzchni właściwej oraz do wyznaczania wielkości i dystrybucji porów (w tym mikroporów). opcja high-vac: umożliwia przy niskim ciśnieniu pomiary stosunkowo małych powierzchni próbek. opcja chemisorpcji: umożliwia uzyskanie charakterystyki materiałów katalitycznych (aktywna powierzchnia metalu; dyspersja krystalitów, rozmiary krystalitów, energia (ciepło) adsorpcji chemicznej, izotermę silnej (nieodwracalnej) i słabej (odwracalnej) adsorpcji chemicznej. opcja mikroporów: dostarcza dane na temat porów o średnicy od 0,35 do 3 nm (BET, Langmuira, Dubinin-Radushkevich (D-R), Dubinin-Astakhov (D-A), Horvath-Kawazoe (H-K), H-K z korektą Cheng & Yang dla porów szczelinowych, H-K z modelem Saito & Foley model dla porów cylindrycznych).
7 System do pomiaru porowatości AutoPore IV Technika pomiarowa bazuje na intruzji rtęci w struktury porowate pod wpływem ściśle kontrolowanego ciśnienia. Możliwości pomiarowe dystrybucja rozmiarów porów (0, μm), całkowita objętość porów, przepuszczalność, ściśliwość, wyróżnik otwarcia porów, wymiar fraktalny, rozmiar porów Mayer-Stowe, gęstość próbki (struktura przestrzenna: zbita, szkieletowa) Porozymetr rtęciowy AutoPore IV (Automated Mercury Porosimeters) do wyznaczania m.in.: całkowitej objętości porów, rozkładu wielkości porów, porowatości procentowej, gęstości, własności transportowych, krętości porów, ściśliwości i innych. Szeroki wybór analiz i parametrów : sferyczny skład granulometryczy, charakterystyka skuteczności dyfuzji płynów w materiał porowaty, liczba porów w poszczególnych klasach wielkości, stosunku porów cylindrycznych do porów szczelinowych, geometria fraktalna, zdolności próbki do przepuszczania płynów
8 Proszkowy Dyfraktometr Rentgenowski ULTIMA IV Proszkowy Dyfraktometr Rentgenowski ULTIMA IV Wielofunkcyjny, automatyczny dyfraktometr proszkowy Ultima IV, wyposażony w system optyki CBO (optyka pozwala na szybką zmianę aplikacji dyfraktometru poprzez szybką zmian optyki z ogniskującej na równoległą). Justowanie optyki, niezależnie od aplikacji odbywa się automatycznie przy użyciu siedmiu napędów sterowanych z komputera.
9 Proszkowy Dyfraktometr Rentgenowski ULTIMA IV Ilościowa analiza fazowa ilościowe oznaczenie składu fazowego Pomiar stałych sieciowych wyznaczenie parametrów sieci struktury krystalicznej Jakościowa analiza fazowa identyfikacja składu fazowego na podstawie bazy danych struktur krystalicznych ICDD MgAl 2 O 4 30% MgTiO 3 70 % MgAl O MgTiO 3 bazy danych: ICDD/PDF MgAl 2 O 4 bazy danych: ICDD/PDF-4 Oznaczanie struktur krystalicznych nowych związków metodą Rietvelda Wyznaczanie średniej wielkości krystalitów substancji stałych w zakresie nm. MgTiO3 Badanie tekstury ciał stałych np. w blachach i drutach po operacjach walcowania, wyciągania THETA
10 Wysokorozdzielczy spektrometr Ramana z FTIR LabRam HR800 Spektroskopia Ramana wykorzystywana jest do identyfikacji związków chemicznych, przeprowadzania analiz ilościowych i kontroli czystości badanych próbek. Techniki te pozwalają określić rodzaje wiązań chemicznych a także są pomocne przy ustalaniu struktury związków oraz w badaniach oddziaływań międzycząsteczkowych. Wybrane parametry techniczne Źródła wzbudzenia: laser He-Ne (632,8 nm, 17 mw), laser Ar-Kr (488 nm i 514,5 nm, 250 mw), laser półprzewodnikowy (785 nm, 250 mw) 6 filtrów neutralnych (0.3, 0.6, 1, 2, 3, 4) do osłabienia mocy wiązki laserowej Obiektywy: 10, 20, 50, 100 (ARO i ATR dla FTIR) Raman: wielokanałowy detektor CCD (1024x256 pikseli), zakres widma: nm FTIR: detektor MCT (mercury-cadmium-telluride), zakres widma cm -1, rozdzielczość 4 cm -1
11 Wysokorozdzielczy spektrometr Ramana z FTIR LabRam HR800
12 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) S-3400N Skaningowy Mikroskop Elektronowy Hitachi S-3400N jest urządzeniem przeznaczonym do badania morfologii powierzchni ciał stałych w mikro- i nanoskali. Powiększenia od 5 do razy. Dodatkowo S-3400N wyposażony jest w mikroanalizator rentgenowski EDS umożliwiający jakościowy i ilościowy pomiar pierwiastków w badanych próbkach oraz oprogramowanie 3D-Viewer do generowania 3 wymiarowych profili badanych powierzchni. Cienka warstwa ZrO 2 (Y) na podłożu ceramicznym
13 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) S-3400N
14 Mikroskop Sił Atomowych XE-100 Mikroskop Sił Atomowych (AFM) XE-100 należy do grupy mikroskopów ze skanującą sondą umożliwiający uzyskanie 3-wymiarowej topografii powierzchni badanej próbki z rozdzielczością w skali nano dzięki wykorzystaniu oddziaływań międzyatomowych pomiędzy sondą a powierzchnią badanej próbki.
15 Mikroskop Sił Atomowych XE-100
16 Mikroskop Sił Atomowych XE-100 Mody pracy mikroskopu XE-100 Tryby pracy mikroskopu XE-100 Mod kontaktowy (Contact AFM): kontaktowe odzwierciedlenie topografii próbki w wyniku przesuwania się igły pomiarowej po powierzchni próbki. Mod bezkontaktowy (True Non-Contact AFM): odwzorowanie topografii powierzchni za pomocą oscylacyjnego ruchu igły z częstotliwością bliską częstotliwości rezonansowej i amplitudzie kilku nanometrów. Mod przerywanego kontaktu (Dynamic Force Microscopy): połączenie modu kontaktowego z bezkontaktowym do analizy topografii powierzchni. Mikroskop Sił Poprzecznych LFM (Lateral Force Microscopy) Mikroskop Sił Magnetycznych MFM (Magnetic Force Microscopy) Mikroskop Sił Elektrostatycznych EFM (Electrostatic Force Microscopy) Skaningowy Mikroskop Tunelowy STM (Scanning Tunneling Microskopy) Mikroskop z Modulacją Siły FMM (Force Modulation Microscopy)
17 Dwuwiązkowy spektrofotometr absorpcyjny UV/VIS Evolution 100 Spektrofotometr UV-VIS Nicolet Evolution 100 jest wysokiej klasy, dwuwiązkowym (lampa deuterowa i wolframowa) spektrofotometrem służący do badania absorpcji promieniowania elektromagnetycznego w nadfiolecie i zakresie widzialnym widma. Aparat służy do pomiaru próbek w stanie ciekłym. Spektrofotometr umożliwia pracę w trybie: SCAN aplikacja służy do zapisywania i obróbki widm w wybranym zakresie długości fali. RATE aplikację tą wykorzystuje się do zapisywania zmian absorbancji próbki zależnych od czasu przy określonej długości fali. FIXED aplikacja ta jest używana do zapisywania absorpcji próbki przy pojedynczych długościach fali. QUANT aplikacja ta umożliwia ilościowe określanie składników zgodnie z prawem Beer a.
18 Spektrofotometr FluoroMax-4 Spektrofluorymeter FluoroMax-4 jest to w pełni zautomatyzowany system spektrofluorometryczny. Podczas pomiaru fluorescencji mogą być skanowane następujące parametry: długość fali wzbudzenia, długość fali emisji lub obydwie te długości fali. Spektrofotometr umożliwia: pomiar próbek o nieznanej charakterystyce widmowej pomiar próbek o bardzo małych objętościach detekcję śladowych ilości substancji i próbek biologicznych pomiary czasów życia elektronowych stanów wzbudzonych
19 Spektrofluorymetr z mikroskopem konfokalnym Fluorolog-3 Spektrofluorymetr Fluorolog-3 jest systemem zaprojektowanym do rutynowych pomiarów fluorescencyjnych. Układ posiada komputerowe sterowanie pomiarem i analizą danych. Spektrofotometr umożliwia pomiar próbek o nieznanej charakterystyce widmowej pomiar próbek o bardzo małych objętościach detekcję śladowych ilości substancji i próbek biologicznych detekcję z próbek silnie rozpraszających charakteryzację mieszanin złożonych wybór pomiędzy detekcją prostopadłą (pomiar roztworów) a czołową (pomiar ciał stałych, próbek mętnych lub silnie absorbujących)
20 Dodatkowa aparatura pomiarowa Generator gazu wzorcowego SO 2, NO/NO 2 Generator gazu wzorcowego stosuje się do dynamicznego i ciągłego wytwarzania gazu zerowego i gazu wzorcowego do regulacji punktu zerowego i zakresu pomiarowego SO 2 i NO/NO 2 na przykład w analizatorach emisji. Zastosowana w urządzeniu metoda dynamiczna polega na rozcieńczaniu czystego źródła gazu za pomocą rurek permeacyjnych. 4263B LCR Meter 100 Hz to 100 khz Wysokiej klasy miernik LRC pracujący w zakresie częstotliwości od 100 Hz do 100 khz High Performance DC Power Supplies 6644A Wysokiej klasy zasilacz pracujący w zakresach 0-60V/0-3.5A
21
1 k. AFM: tryb bezkontaktowy
AFM: tryb bezkontaktowy Ramię igły wprowadzane w drgania o małej amplitudzie (rzędu 10 nm) Pomiar zmian amplitudy drgań pod wpływem sił (na ogół przyciągających) Zbliżanie igły do próbki aż do osiągnięcia
Bardziej szczegółowoAFM. Mikroskopia sił atomowych
AFM Mikroskopia sił atomowych Siły van der Waalsa F(r) V ( r) = c 1 r 1 12 c 2 r 1 6 Siły van der Waalsa Mod kontaktowy Tryby pracy AFM związane z zależnością oddziaływania próbka ostrze od odległości
Bardziej szczegółowoCENTRUM MATERIAŁÓW POLIMEROWYCH I WĘGLOWYCH POLSKIEJ AKADEMII NAUK
Zabrze, dn. 5.02.209 r. sprawy: PN/UOPWE/0/208 Wg rozdzielnika Powiadomienie o wyborze Informujemy, iż w przetargu w sprawie dostawy: Dostawa aparatury badawczej dla Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych
Bardziej szczegółowoNOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip
NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu zamówienia
ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie
Bardziej szczegółowoINFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2
RAP.272.87.2014 Wrocław, 13.11.2014r. INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2 Dotyczy: postępowania o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest
Bardziej szczegółowo(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:
. (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja
Bardziej szczegółowoMetody spektroskopowe:
Katedra Chemii Analitycznej Metody spektroskopowe: Absorpcyjna Spektrometria Atomowa Fotometria Płomieniowa Gdańsk, 2010 Opracowała: mgr inż. Monika Kosikowska 1 1. Wprowadzenie Spektroskopia to dziedzina
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)
LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007
Bardziej szczegółowoRodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy)
Spis treści 1 Historia 2 Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) 2.1 Skaningowy mikroskop tunelowy (STM od ang. Scanning Tunneling Microscope) 2.1.1 Uzyskiwanie obrazu metodą
Bardziej szczegółowoPrzewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman
Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy
Bardziej szczegółowoFORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA
FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA załącznik nr 1a do SIWZ nr postępowania: BZP.2410.5.2018.BD Postępowanie przetargowe pn.: Dostawa, instalacja i uruchomienie fabrycznie nowego elektronowego mikroskopu skaningowego
Bardziej szczegółowo2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32
Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola
Bardziej szczegółowoMETODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW
METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku
Bardziej szczegółowoInkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM
Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena
Bardziej szczegółowoLaboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych
Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Laboratorium Badania Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych 1 Projekt MERFLENG... W 2012 roku
Bardziej szczegółowoInstytut Wysokich Ciśnień PAN Laboratorium Nanostruktur dla Fotoniki i Nanomedycyny
Centrum Badań Przedklinicznych - CePT Instytut Wysokich Ciśnień PAN Laboratorium Nanostruktur dla Fotoniki i Nanomedycyny Naszą specjalnością i pasją są syntezy nanocząstek (kryształków o rozmiarach 5
Bardziej szczegółowoLaboratorium nanotechnologii
Laboratorium nanotechnologii Zakres zagadnień: - Mikroskopia sił atomowych AFM i STM (W. Fizyki) - Skaningowa mikroskopia elektronowa SEM (WIM) - Transmisyjna mikroskopia elektronowa TEM (IF PAN) - Nanostruktury
Bardziej szczegółowoElektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści
Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, 2016 Spis treści Wykaz ważniejszych skrótów i oznaczeń 11 Przedmowa 17 Wstęp 19 Literatura 26 Rozdział I.
Bardziej szczegółowoSpektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni
Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni z Efekt Ramana (1922, CV Raman) I, ν próbka y Chandra Shekhara Venketa Raman x I 0, ν 0 Monochromatyczne promieniowanie o częstości ν 0 ulega rozproszeniu
Bardziej szczegółowoM1/M3 Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do badania nanostruktur
M1/M3 Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do badania nanostruktur Prowadzący: Kontakt e-mail: Rafał Bożek rafal.bozek@fuw.edu.pl Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zasadami mikroskopii sił atomowych
Bardziej szczegółowoI. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.
Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ /12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-07-26 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie
Bardziej szczegółowoSPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force
SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy
Bardziej szczegółowoNRS-3000 Systems wysoko wydajne spektrofotometry rozpraszającego Raman
NRS-3000 Systems wysoko wydajne spektrofotometry rozpraszającego Raman Wyższa czułość, niezawodność i łatwość obsługi Mikro-spektrometry serii NRS-3000 wykorzystują najnowsze rozwiązania optyczne oraz
Bardziej szczegółowoM2 Mikroskopia sił atomowych: badanie nanostruktur.
M2 Mikroskopia sił atomowych: badanie nanostruktur. Celem ćwiczenia jest poznanie mikroskopii sił atomowych i zbadanie otrzymanych próbek. Wymagane zagadnienia Podstawy fizyczne mikroskopii sił atomowych:
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-08-03 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie
Bardziej szczegółowoSZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: KA-2/124/2010 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 Dostawa mikroskopu i spektrometru FT-IR Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu i spektrometru
Bardziej szczegółowoSpektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000
Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej
Bardziej szczegółowoMetody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT
Metody i techniki badań II Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Dr inż. Agnieszka Kochmańska pok. 20 Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa agnieszka.kochmanska@zut.edu.pl
Bardziej szczegółowoRepeta z wykładu nr 11. Detekcja światła. Fluorescencja. Eksperyment optyczny. Sebastian Maćkowski
Repeta z wykładu nr 11 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 CCD (urządzenie
Bardziej szczegółowoGrafen materiał XXI wieku!?
Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?
Bardziej szczegółowoArkusz Informacji Technicznej
Arkusz Informacji Technicznej Przedmiot oferty: Skaningowy Mikroskop Pola Bliskiego (SNOM) Wysokiej klasy, fabrycznie nowy Mikroskop Optyczny Pola Bliskiego zintegrowany z mikroskopem sił atomowych (AFM)
Bardziej szczegółowoZAPLECZE LABORATORYJNO-TECHNICZNE Wydział Nauk o Ziemi i Gospodarki Przestrzennej UMCS
Laboratorium TL i OSL (od V 2012) Pracownia Palinologiczna Pracownia Mikromorfologiczna Pracownia Mikropaleontologiczna Pracownia Monitoringu Meteorologicznego Pracownia Hydrochemii i Hydrometrii Pracownia
Bardziej szczegółowoPrzenośne spektrometry Ramana
Przenośne spektrometry Ramana Spektroskopia Ramana Spektroskopia Ramana jest nieniszczącą metodą, służącą do identyfikacji substancji chemicznych m.in. narkotyków, substancji wybuchowych, leków, minerałów,
Bardziej szczegółowoMateriał obowiązujący do ćwiczeń z analizy instrumentalnej II rok OAM
Materiał obowiązujący do ćwiczeń z analizy instrumentalnej II rok OAM Ćwiczenie 1 Zastosowanie statystyki do oceny metod ilościowych Błąd gruby, systematyczny, przypadkowy, dokładność, precyzja, przedział
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki wykład 2
D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 5, PWN, Warszawa 2003. H. D. Young, R. A. Freedman, Sear s & Zemansky s University Physics with Modern Physics, Addison-Wesley Publishing Company,
Bardziej szczegółowoSpektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)
Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Oddziaływanie elektronów ze stałą, krystaliczną próbką wstecznie rozproszone elektrony elektrony pierwotne
Bardziej szczegółowoIR II. 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni
IR II 12. Oznaczanie chloroformu w tetrachloroetylenie metodą spektrofotometrii w podczerwieni Promieniowanie podczerwone ma naturę elektromagnetyczną i jego absorpcja przez materię podlega tym samym prawom,
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO
SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO NR 113/TZ/IM/2013 Zestaw ma umożliwiać analizę termiczną próbki w symultanicznym układzie
Bardziej szczegółowoInstytut Chemii UJK potencjał naukowy i dydaktyczny
Instytut Chemii UJK potencjał naukowy i dydaktyczny Kalendarium Instytutu Chemii 1971 rok Utworzenie Zakładu Chemii wchodzącego w skład Wydziału Matematyczno-Przyrodniczego Wyższej Szkoły Nauczycielskiej
Bardziej szczegółowoFORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH
Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym
Bardziej szczegółowoOferowany przedmiot zamówienia
Załącznik Nr 1 do oferty Modyfikacja nr 1 SIWZ Postępowanie Nr ZP/50/2011 Oferowany przedmiot zamówienia Lp. Opis Nazwa asortymentu, typ, model, nr katalogowy, nazwa producenta *) Il. szt. I. Spektrofotometr
Bardziej szczegółowoKatalog promocyjny. aparatury i laboratoriów Politechniki Poznańskiej
Katalog promocyjny aparatury i laboratoriów Politechniki Poznańskiej WYDZ I A Ł F I Z Y K I T E C H N ICZN EJ Informacje o wybranej aparaturze naukowo-badawczej Wydziału Fizyki Technicznej Politechniki
Bardziej szczegółowoRozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności
Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności Firma Biosens specjalizuje się w spektroskopii. Od czterech lat dostarcza spektrofotometry do pomiaru barwy (zarówno w laboratorium jak
Bardziej szczegółowoChemia i Dynamika Związków Koordynacyjnych - badania korelacji między strukturą i właściwościami związków metali przejściowych.
Badania naukowe na Wydziale Chemii Uniwersytetu Wrocławskiego Chemia Strukturalna - badania struktury elektronowej i molekularnej związków koordynacyjnych, metaloorganicznych i organicznych. Chemia i Dynamika
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczeń
Instrukcja do ćwiczeń Badania identyfikacyjno - porównawcze materiałów kryjących na dokumencie I. Cel ćwiczenia Zapoznanie studentów z możliwością zastosowania spektrometrii IR, spektrofotometrii UV-Vis
Bardziej szczegółowoDyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Fazowa analiza ilościowa Obliczenia strukturalne prawo Vegarda Pomiary cienkich warstw Budowa mikroskopu
Bardziej szczegółowoTechniki analityczne. Podział technik analitycznych. Metody spektroskopowe. Spektroskopia elektronowa
Podział technik analitycznych Techniki analityczne Techniki elektrochemiczne: pehametria, selektywne elektrody membranowe, polarografia i metody pokrewne (woltamperometria, chronowoltamperometria inwersyjna
Bardziej szczegółowoMikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa
Bardziej szczegółowoZaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Rentgenowska fazowa analiza ilościowa Parametry komórki elementarnej Wielkości krystalitów Budowa mikroskopu
Bardziej szczegółowoSZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY
Załącznik nr 2 do SIWZ Załacznik nr 2 do umowy SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA STANOWIĄCY JEDNOCZEŚNIE DRUK POTWIERDZENIE ZGODNOŚCI TECHNICZNEJ OFERTY Przedmiot oferty: Wysokorozdzielczy skaningowy
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 3 ANALIZA JAKOŚCIOWA PALIW ZA POMOCĄ SPEKTROFOTOMETRII FTIR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy)
POLITECHNIKA ŁÓDZKA WYDZIAŁ INśYNIERII PROCESOWEJ I OCHRONY ŚRODOWISKA KATEDRA TERMODYNAMIKI PROCESOWEJ K-106 LABORATORIUM KONWENCJONALNYCH ŹRÓDEŁ ENERGII I PROCESÓW SPALANIA Ćwiczenie 3 ANALIZA JAKOŚCIOWA
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik Nr 1 do SIWZ Specyfikacja techniczna Nr sprawy: ZP/41/2011 SPECYFIKACJA TECHNICZNA PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Na dostawę 1 kpl. spektrofotometru UV-VIS z przystawką termostatującą Peltie w ramach
Bardziej szczegółowoRoHS-Vision / X-RoHS + SDD
Spektrometr EDXRF do analiz RoHS i w wersji full analysis RoHS-Vision / X-RoHS + SDD Szybka i prosta analiza substancji niebezpiecznych zgodnie z regulacjami prawnymi dotyczącymi ochrony środowiska RoHS
Bardziej szczegółowoPRODUKTY CHEMICZNE Ćwiczenie nr 3 Oznaczanie zawartości oksygenatów w paliwach metodą FTIR
PRODUKTY CHEMICZNE Ćwiczenie nr 3 Oznaczanie zawartości oksygenatów w paliwach metodą FTIR WSTĘP Metody spektroskopowe Spektroskopia bada i teoretycznie wyjaśnia oddziaływania pomiędzy materią będącą zbiorowiskiem
Bardziej szczegółowoMIĘDZYUCZELNIANE CENTRUM. Projekt realizowany przez Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu
MIĘDZYUCZELNIANE CENTRUM NANOBIOMEDYCZNE Projekt realizowany przez Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu Międzyuczelniane Centrum NanoBioMedyczne to projekt kluczowy w ramach Działania 13.1 Infrastruktura
Bardziej szczegółowoOGŁOSZENIE DODATKOWYCH INFORMACJI, INFORMACJE O NIEKOMPLETNEJ PROCEDURZE LUB SPROSTOWANIE
1/ 7 ENOTICES_jkobus 11/01/2011- ID:2011-003925 Formularz standardowy 14 PL Publikacja Suplementu do Dziennika Urzędowego Unii Europejskiej 2, rue Mercier, L-2985 Luksemburg Faks (352) 29 29-42670 E-mail:
Bardziej szczegółowoUCZESTNICY POSTĘPOWANIA
ATI 55, 57/II/LJ/2007 Bielsko-Biała 22.02.2007r. UCZESTNICY POSTĘPOWANIA Dotyczy: Postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego powyŝej 60 000 euro na: Dostawa spektrofotometru z oprzyrządowaniem
Bardziej szczegółowoLaboratorium Projektowania Materiałów i Szybkiego Wytwarzania Wyrobów LAPROMAW DOTACJE NA INNOWACJE
Laboratorium Projektowania Materiałów i Szybkiego Wytwarzania Wyrobów LAPROMAW DOTACJE NA INNOWACJE Projekt współfinansowany przez Unię Europejską z Europejskiego Funduszu rozwoju Regionalnego Okres realizacji:
Bardziej szczegółowoWykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e = = 1 Å
Wykład 12 Fale materii: elektrony, neutrony, lekkie atomy Neutrony generowane w reaktorze są spowalniane w wyniku zderzeń z moderatorem (grafitem) do V = 4 km/s, co odpowiada energii E=0.08 ev a energia
Bardziej szczegółowoAparatura do osadzania warstw metodami:
Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera
Bardziej szczegółowoŹródło typu Thonnemena dostarcza jony: H, D, He, N, O, Ar, Xe, oraz J i Hg.
ZFP dysponuje obecnie unowocześnioną aparaturą, której skompletowanie, uruchomienie i utrzymanie w sprawności wymagało wysiłku zarówno merytorycznego jak i organizacyjnego oraz finansowego. Unowocześnienia
Bardziej szczegółowoSkaningowy mikroskop tunelowy STM
Skaningowy mikroskop tunelowy STM Skaningowy mikroskop tunelowy (ang. Scanning Tunneling Microscope; STM) należy do szerszej rodziny mikroskopów ze sondą skanującą. Wykorzystuje on zjawisko tunelowania
Bardziej szczegółowoWYBRANE TECHNIKI SPEKTROSKOPII LASEROWEJ ROZDZIELCZEJ W CZASIE prof. Halina Abramczyk Laboratory of Laser Molecular Spectroscopy
WYBRANE TECHNIKI SPEKTROSKOPII LASEROWEJ ROZDZIELCZEJ W CZASIE 1 Ze względu na rozdzielczość czasową metody, zależną od długości trwania impulsu, spektroskopię dzielimy na: nanosekundową (10-9 s) pikosekundową
Bardziej szczegółowoOferta usługowa Wydziału Fizyki i Informatyki Stosowanej Akademii Górniczo-
Oferta usługowa Wydziału Fizyki i Informatyki Stosowanej Akademii Górniczo- Hutniczej im. Stanisława Staszica Oferta usługowa Wydziału stanowi odzwierciedlenie obszarów badawczych poszczególnych Katedr
Bardziej szczegółowoMetoda DSH. Dyfraktometria rentgenowska. 2. Dyfraktometr rentgenowski: - budowa anie - zastosowanie
Metoda DSH. Dyfraktometria rentgenowska 1. Teoria Braggów-Wulfa 2. Dyfraktometr rentgenowski: - budowa - działanie anie - zastosowanie Promieniowanie elektromagnetyczne radiowe mikrofale IR UV/VIS X γ
Bardziej szczegółowoPOTWIERDZANIE TOŻSAMOSCI PRZY ZASTOSOWANIU RÓŻNYCH TECHNIK ANALITYCZNYCH
POTWIERDZANIE TOŻSAMOSCI PRZY ZASTOSOWANIU RÓŻNYCH TECHNIK ANALITYCZNYCH WSTĘP Spełnianie wymagań jakościowych stawianych przed producentami leków jest kluczowe dla zapewnienia bezpieczeństwa pacjenta.
Bardziej szczegółowo12. WYBRANE METODY STOSOWANE W ANALIZACH GEOCHEMICZNYCH. Atomowa spektroskopia absorpcyjna
12. WYBRANE METODY TOOWANE W ANALIZACH EOCHEMICZNYCH Atomowa spektroskopia absorpcyjna (AA - atomic absorption spectroscopy) Atomowa spektroskopia absorpcyjna jest bardzo czułą metodą analityczną umożliwiającą
Bardziej szczegółowoBadania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn
Laboratorium badawczo-rozwojowe Nanores Oferta dedykowana dla Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn O NAS Nanores jest nowoczesnym, niezależnym laboratorium badawczo-rozwojowym, nastawionym
Bardziej szczegółowoOZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS
OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS Zagadnienia teoretyczne. Spektrofotometria jest techniką instrumentalną, w której do celów analitycznych wykorzystuje się przejścia energetyczne zachodzące
Bardziej szczegółowoANALIZA POWIERZCHNI BADANIA POWIERZCHNI
Analiza ciała stałego ANALIZA POWIERZCHNI ANALIZA CAŁEJ OBJTOCI CIAŁO STAŁE ANALIZA POWIERZCHNI METODY NISZCZCE METODY NIENISZCZCE Metody niszczce: - przeprowadzenie do roztworu (rozpuszczanie, roztwarzanie
Bardziej szczegółowoh λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)
Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest wykorzystanie promieniowania
Bardziej szczegółowoSPIS TREŚCI WPROWADZENIE Podział biomateriałów Biomateriały w medycynie regeneracyjnej Cementy kostne...
SPIS TREŚCI WPROWADZENIE... 1 I. PRZEGLĄD LITERATURY... 3 1.1. Podział biomateriałów... 3 1.2. Biomateriały w medycynie regeneracyjnej... 8 1.3. Materiały kościozastępcze... 11 1.4. Wymagania stawiane
Bardziej szczegółowoMIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego
MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach
Bardziej szczegółowoSpektrometr XRF THICK 800A
Spektrometr XRF THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK GALWANIZNYCH THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zaprojektowany do pomiaru grubości warstw
Bardziej szczegółowoLaboratorium Mikroskopii Elektronowej
Laboratorium Mikroskopii Elektronowej Laboratorium ma na wyposażeniu następujące narzędzia analityczne: spektroskop fotoelektronów XPS ESCALAB 250Xi firmy ThermoScience; umożliwiający pomiary w trybach
Bardziej szczegółowoCząsteczki i światło. Jacek Waluk. Instytut Chemii Fizycznej PAN Kasprzaka 44/52, Warszawa
Cząsteczki i światło Jacek Waluk Instytut Chemii Fizycznej PAN Kasprzaka 44/52, 01-224 Warszawa 10 19 m (1000 lat świetlnych) 10-5 m (10 mikronów) 10 11 gwiazd w naszej galaktyce 10 22 gwiazd we Wszechświecie
Bardziej szczegółowoOFERTA BADAŃ MATERIAŁOWYCH Instytutu Mechaniki i Informatyki Stosowanej Uniwersytetu Kazimierza Wielkiego
OFERTA BADAŃ MATERIAŁOWYCH Instytutu Mechaniki i Informatyki Stosowanej Uniwersytetu Kazimierza Wielkiego Mariusz Kaczmarek J. Kubik, M. Cieszko, R. Drelich, M. Pakuła, M. Macko, K. Tyszczuk, J. Łukowski,
Bardziej szczegółowoRFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300
RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300 Model RFT-6000 został zaprojektowany w celu wykonywania szybkich, nieinwazyjnych analiz FT-Raman właściwie wszystkich możliwych próbek we współpracy
Bardziej szczegółowoANALIZA POWIERZCHNI
ANALIZA POWIERZCHNI Metody niszczące (próbka zostaje zniszczona w czasie analizy): - przeprowadzenie do roztworu (rozpuszczanie, roztwarzanie lub stapianie) i następnie analiza metodami klasycznymi lub
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 30. Zagadnienia: spektroskopia absorpcyjna w zakresie UV-VIS, prawa absorpcji, budowa i. Wstęp
Ćwiczenie 30 Metodyka poprawnych i dokładnych pomiarów absorbancji w zakresie UV- VS, wyznaczenie małych wartości absorbancji. Czynniki wpływające na mierzone widma absorpcji i wartości absorbancji dla
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu zamówienia
Załącznik nr 5 Opis przedmiotu zamówienia 1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu na potrzeby Centrum Badań nad Innowacjami o parametrach: 2. Dostarczony asortyment musi być fabrycznie nowy oraz
Bardziej szczegółowoWstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej
Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Część I: Optyka, wykład 3 wykład: Piotr Fita pokazy: Andrzej Wysmołek ćwiczenia: Anna Grochola, Barbara Piętka Wydział Fizyki Uniwersytet Warszawski 2013/14
Bardziej szczegółowoWYPOSAŻENIE LABORATORIÓW CENTRUM NOWYCH TECHNOLOGII UW W APARATURĘ NIEZBĘDNĄ DO PROWADZENIA BADAŃ NA RZECZ PRZEMYSŁU I MEDYCYNY
WYPOSAŻENIE LABORATORIÓW CENTRUM NOWYCH TECHNOLOGII UW W APARATURĘ NIEZBĘDNĄ DO PROWADZENIA BADAŃ NA RZECZ PRZEMYSŁU I MEDYCYNY PROJEKT REALIZOWANY W RAMACH REGIONALNEGO PROGRAMU OPERACYJNEGO WOJEWÓDZTWA
Bardziej szczegółowoLaboratorium badań materiałowych i technologicznych. dr inż. Tomasz Kurzynowski
Laboratorium badań materiałowych i technologicznych dr inż. Tomasz Kurzynowski Agenda Oferta badawcza Wyposażenie laboratorium Przykłady realizowanych badań Opracowanie i rozwój nowych materiałów Zastosowanie
Bardziej szczegółowoZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 950
ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO Nr AB 950 wydany przez POLSKIE CENTRUM AKREDYTACJI 01382 Warszawa, ul. Szczotkarska 42 Wydanie nr 3, Data wydania: 5 maja 2011 r. Nazwa i adres INSTYTUT PODSTAW
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki i Biofizyki instrukcje do ćwiczeń laboratoryjnych dla kierunku Lekarskiego
Ćw. M8 Zjawisko absorpcji i emisji światła w analityce. Pomiar widm absorpcji i stężenia ryboflawiny w roztworach wodnych za pomocą spektrofotometru. Wyznaczanie stężeń substancji w roztworze metodą fluorescencyjną.
Bardziej szczegółowoFizyka powierzchni. Dr Piotr Sitarek. Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska
Fizyka powierzchni 11 Dr Piotr Sitarek Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska Lista zagadnień Fizyka powierzchni i międzypowierzchni, struktura
Bardziej szczegółowoDOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012
Warszawa dn. 2012-07-20 SZ-222-20/12/6/6/2012/2713 Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż
Bardziej szczegółowoDETEKCJA W MIKRO- I NANOOBJĘTOŚCIACH. Ćwiczenie nr 3 Detektor optyczny do pomiarów fluorescencyjnych
DETEKCJA W MIKRO- I NANOOBJĘTOŚCIACH Ćwiczenie nr 3 Detektor optyczny do pomiarów fluorescencyjnych Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zaznajomienie się z zasadą działania i zastosowaniami detektora optycznego
Bardziej szczegółowoSpektroskopia molekularna. Ćwiczenie nr 1. Widma absorpcyjne błękitu tymolowego
Spektroskopia molekularna Ćwiczenie nr 1 Widma absorpcyjne błękitu tymolowego Doświadczenie to ma na celu zaznajomienie uczestników ćwiczeń ze sposobem wykonywania pomiarów metodą spektrofotometryczną
Bardziej szczegółowoPARAMETR MINIMALNE WYMAGANIA OFEROWANE PARAMETRY
Załącznik nr 2 do SIWZ DG-2501/19994/1503/10 Część 1 zestaw do mineralizacji mikrofalowej na mokro CPV: 38540000-2 PARAMETR MINIMALNE WYMAGANIA OFEROWANE PARAMETRY 8 stanowiskowy ciśnieniowy mineralizator
Bardziej szczegółowoZaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów
Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Badania strukturalne materiałów Badania właściwości materiałów Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych 1. Struktura próbki a metoda badań strukturalnych 2. Podział
Bardziej szczegółowoJak zmodyfikować istniejący systemy pomiarowy AMS aby przystosować go do pomiaru NH3, HCl i HF
Jak zmodyfikować istniejący systemy pomiarowy AMS aby przystosować go do pomiaru NH3, HCl i HF Warsztaty rtęciowe, Listopad 2017 r. OMC Envag Sp. z o.o., ul. Iwonicka 21, Warszawa 22 858 78 78 envag@envag.com.pl
Bardziej szczegółowoNaukowo-badawcze Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli. Jakub Nowak
1 Naukowo-badawcze Laboratorium Międzyuczelnianego w Stalowej Woli Jakub Nowak Stalowa Wola 13-12-2013 2 Laboratorium zaawansowanych technik laserowych Naukowobadawcze Laboratorium Międzyuczelniane w Stalowej
Bardziej szczegółowoTechniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych
Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Mariusz Kępczyński, p. 148, kepczyns@chemia.uj.edu.pl Wstęp Plan wykładu mikroskopia
Bardziej szczegółowoJakość wody jakość życia
Jakość wody jakość życia Dorota Kołodyńska Wydział Chemii UMCS UMCS dla Samorządu, Lublin 12.03.2015 r Ochrona środowiska a jakość wód W ochronie środowiska można wyróżnić trzy kierunki: ochronę i racjonalne
Bardziej szczegółowo