Współczesne metody badań instrumentalnych
|
|
- Dagmara Kubiak
- 8 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Współczesne metody badań instrumentalnych Wykład IX Mikroskopia optyczna i elektronowa
2 Mikroskopia w konserwacji identyfikacja pigmentów, identyfikacja spoiw, badanie składu warstw malarskich, badanie przebiegu reakcji mikrochemicznych
3 Bieg promieni w mikroskopie B A l A F 1 F 1 F 2 A F 2 f 1 f 2 B B F 1, F 2 ogniska obiektywu i okularu, f 1, f 2 ogniskowe obiektywu i okularu, l długość tubusa mikroskopu, AB przedmiot, A B, A B obrazy.
4 Mikroskop transmisyjny i odbiciowy apertura kondensora apertura obiektywu źródło światła soczewka kondensora przedmiot soczewka obiektywu obraz I soczewka okularu obraz II źródło światła soczewka kondensora soczewka obiektywu przedmiot apertura kondensora obraz I soczewka okularu obraz II apertura obiektywu zwierciadło półprzepuszczalne
5 Mikroskop transmisyjny i odbiciowy mikroskop transmisyjny mikroskop odbiciowy
6 Powiększenie mikroskopu Powiększenie mikroskopu jest w przybliżeniu równe iloczynowi powiększeń obiektywu i okularu: Dl M=, f 1 f 2 gdzie D jest odległością dobrego widzenia dla oka ludzkiego (przyjmuje się 250 mm), ljest długością tubusa, f 1 i f 2 długościami ogniskowej obiektywu i okularu.
7 Zdolność rozdzielcza Zdolność rozdzielcza mikroskopów optycznych jest ograniczona przez zjawisko dyfrakcji światła. Zdolność rozdzielcza, tzn. odległość między dwoma punktami przedmiotu, które jeszcze rozróżniamy, wynosi: λ d = 0,61, A gdzie λjest długością fali oświetlającej, A jest aperturą numeryczną obiektywu. A=nsin β, 2 gdzie njest współczynnikiem załamania obiektywu, β-katem rozwarcia przedniej soczewki obiektywu.
8 Kondensory Kondensorysą to specjalne układy soczewek, których zadaniem jest wprowadzenie do obiektywu mikroskopu intensywnych wiązek światła. Wyróżnia się kondensory z jasnym i ciemnym polem widzenia.
9 Obserwacje w jasnym polu widzenia okular źródło światła obiektyw preparat Preparat oświetlamy uformowaną przez kondensor wiązką promieni świetlnych w kształcie stożka. Wszystkie promienie tego stożka objęte aperturą padają na preparat. Kontrast otrzymujemy w wyniku różnic absorpcji i odbicia od powierzchni preparatu.
10 Obserwacje w ciemnym polu widzenia preparat Preparat oświetlany światłem bocznym. Specjalna konstrukcja kondensora formuje wiązkę prawie równoległą do powierzchni preparatu. Od brzegów preparatu odbija się szczątkowe oświetlenie wiązki wychodzącej z kondensora. Do obserwatora dociera obraz jasnych elementów na ciemnym tle.
11 Obserwacje w ciemnym polu widzenia preparat ciemne pole widzenia oświetlenie boczne jasne pole widzenia
12 Obszary powiększeń Małe powiększenia (od 20 do 60x). Uzyskuje się obrazy o dużej głębi ostrości. Stosowane w badaniach mikrochemicznych oraz w obserwacjach wybarwianych próbek. Duże powiększenia (od 100 do 500x). Stosuje się w badaniach przekrojów stratygraficznych odpowiednio przygotowanych preparatów.
13 Obserwacje w świetle odbitym Światło przez lustro dichromatyczne kierowane jest na preparat. Obraz preparatu tworzy światło odbite od powierzchni preparatu. Obserwacje w świetle odbitym stosowane są do próbek przekrojów poprzecznych warstw malarskich. Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
14 Mikroskopia stereoskopowa W mikroskopii stereoskopowej wykorzystuje się zjawisko percepcji dwuwymiarowości i głębi obrazu będącej cechą widzenia dwuocznego. Mikroskopy stereoskopowe wykorzystywane są do obserwacji powierzchni próbki i określenia stanu jej zachowania oraz pomiaru grubości poszczególnych warstw malarskich. Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
15 Mikroskopia stereoskopowa
16 Mikroskopia polaryzacyjna światło niespolaryzowane polaryzator źródło światła światło spolaryzowane
17 Mikroskopia polaryzacyjna polaryzator analizator
18 Mikroskopia polaryzacyjna pierwszy polaryzator preparat analizator (drugi polaryzator) światło niespolaryzowane światło spolaryzowane liniowo preparat skręca płaszczyznę polaryzacji obraz
19 Mikroskopia polaryzacyjna Jeżeli dwa polaryzatory są zorientowane względem siebie prostopadle, to światło nie przechodzi przez układ. Jeżeli pomiędzy nimi ustawimy preparat o własnościach anizotropowych (skręcających płaszczyznę polaryzacji światła), światło może być częściowo przepuszczane. Zjawisko to zależy od długości światła. Uzyskuje się w ten sposób obrazy barwne.
20 Mikroskopia polaryzacyjna Mikroskop polaryzacyjny wyposażony jest w filtry polaryzacyjne i obrotowy stolik przedmiotowy. Uzyskany obraz mikroskopowy powstaje wskutek efektów interferencyjnych związanych z dwójłomnością materiałów preparatu. Mikroskopia polaryzacyjna wykorzystywana jest w badaniach próbek tynków i zapraw, cegieł, kamieni sztucznych i naturalnych, rzadziej w badaniu pigmentów mineralnych Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
21 Mikroskopia polaryzacyjna Mikroskopia polaryzacyjna wykorzystywana jest w identyfikacji pigmentów i włókien. Badane próbki warstw mają rozmiary od 1 do 20 µm.
22 Mikroskopia fluorescencyjna Próbka w mikroskopie fluorescencyjnym wzbudzana jest promieniowaniem UV. Filtr wzbudzający stosowany jest w celu odcięcia promieniowania widzialnego emitowanego przez źródło. Z kolei filtr zaporowy ma za zadanie odcięcie promieniowania UV odbitego od preparatu. Technika ta jest stosowana w badaniach przekrojów poprzecznych próbek warstw malarskich. Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
23 Historia mikroskopii elektronowej mikroskop optyczny (~1700) TEM (1932) STM (1982) SEM (1942) AFM (1986) TEM transmission electron microscope; SEM scanning electron microscope; STM scanning tunneling microscope; AFM atomic force microscope.
24 Ewolucja rozdzielczości mikroskopów CTEM conventional transmission electron microscopy; STEM scanning transmission electron microscopy; SEM scanning electron microscopy.
25 Mikroskopia transmisyjna Maksymalna zdolność rozdzielcza optycznych mikroskopów transmisyjnych nie przekracza 275 nm. W mikroskopii elektronowej osiągamy zdolności rozdzielcze poniżej 1 nm. Długość fali elektronowej h/mυmoże być kontrolowana poprzez zmiany napięcia przyspieszającego. W technice TEM możemy uzyskiwać obrazy próbek z atomową rozdzielczością oraz określać ich struktury (dyfrakcja elektronowa).
26 Transmisyjna mikroskopia elektronowa
27 Transmisyjna mikroskopia elektronowa Obraz TEM próbki warstwy malarskiej o grubości 12 µm. Uwidoczniona została złożona, porowata struktura warstwy.
28 Elektronowa mikroskopia skaningowa Powiększenie mikroskopu = szerokość ekranu TV/długość skanowania
29 Elektronowy mikroskop skaningowy
30 Droga wiązki elektronowej w kolumnie mikroskopu SEM
31 Cewki skanujące Zadaniem cewek skanujących jest sterowanie wiązki elektronowej, tak by ta skanowała badaną powierzchnię. Dlatego stosuje się dwie pary cewek (skanowanie wzdłuż osi X oraz Y). Praca cewek jest zsynchronizowana z pracą monitora CRT. wiązka padająca cewki skanujące wzmacniacz detektor monitor zsynchronizowan skany powierzchnia preparatu
32 Oddziaływanie wiązki z preparatem Wiązka padająca Promieniowanie X (informacja o składzie) Elektrony rozpraszane wstecznie (liczba atomowa i informacja topologiczna) Katodoluminescencja (inforamacja elektryczna) Elektrony wtórne (informacja topograficzna) Elektrony Augera (inforamcja o składzie) Próbka Prąd preparatu (inforamcja elektryczna) W skutek bombardowania powierzchni preparatu następuje emisja fotonów i elektronów. Mikroskopy na ogół wyposażone są w układy detekcji elektronów wtórnych, elektronów rozproszonych wstecznie oraz promieniowania rentgenowskiego.
33 Emisja sygnału z objętości próbki
34 Podstawowe mody działania SEM Sygnał/mod Informacja Materiały Rozdzielczość Elektrony wtórne morfologia wszystkie 1 nm Elektrony rozpraszane wstecznie Promieniowanie rentgenowskie (EDS, WDS) Katodoluminescencja przerwa wzbroniona, domieszki, czasy życia liczba atomowa wszystkie 0,1 0,5 µm* skład pierwiastkowy wszystkie (płaskie) ~ 1 µm izolatory i półprzewodniki ~ 1 µm W większości mikroskopów można badać próbki o rozmiarach cm. *rozdzielczość zależy od napięcia przyspieszającego oraz liczy atomowej SE secondary electrons; BSE backscattering electrons.
35 Elektrony wtórne elektrony wtórne wiązka elektronów padających elektrony wtórne jądro Elektrony wtórne są wytwarzane wskutek oddziaływań pomiędzy wysokoenergetycznymi elektronami wiązki padającej oraz słabo związanymi elektronami z pasma przewodnictwa w metalach lub elektronami walencyjnymi w izolatorach i półprzewodnikach. Ze względu na dużą różnicę energii niesionej przez elektrony wiązki padającej oraz energii elektronów w preparacie, tylko niewielka część energii kinetycznej jest przenoszona do elektronów wtórnych.
36 Detekcja elektronów wtórnych Elektrony wtórne z preparatu uzyskują energię wskutek nieelastycznych zderzeń z elektronami wiązki. Energia elektronów emitowanych z próbki nie przekracza 50 ev. Powierzchnia przełomu metalu. Obraz powierzchni utworzony został za pomocą elektronów wtórnych.
37 Rozpraszanie elastyczne elektrony rozpraszane wstecznie kierunek wiązki elektronów elektron rozproszony wstecznie jądro Rozpraszanie elastyczne zachodzi pomiędzy ulemnymi elektronami i dodatnim jądrem (rozpraszanie Rutheforda). Jak sama nazwa wskazuje, w rozpraszaniu elastycznym nie następuje wymiana energii lecz pędu. Zatem w procesie tym zmianie ulega przede wszystkim kierunek prędkości padających elektronów. Elektrony są rozpraszane pod kątami od 0 do 180. Elektrony rozpraszane pod dużymi kątami nazywane są elektronami rozpraszanymi wstecznie. Obraz stopu aluminium i miedzi wytworzony przez elektrony rozpraszane wstecznie. W jaśniejszych obszarach występuje aluminium, w ciemniejszych miedź.
38 Detekcja elektronów wtórnych detektor Everhatta - Thornleya światłowód pole elektryczne siateczka V scyntylator pokryty warstwą Al (10 kv) fotokatoda dynody fotopowielacza Elektrony wtórne są przyspieszane do czoła detektora spolaryzowaną dodatnio napięciem V siateczkę. W kolejnej fazie są przyspieszane w kierunku scyntylatora wysokim napięciem ~ 10 kv. Scyntylator pokryty jest cienką warstwą Al (700 Å), która zapobiega ucieczce promieniowania fluorescencyjnego. Potencjał 10 kv jest wystarczający do tego, by elektrony wtórne przedostały się przez warstwę metalu i wywołały zjawisko scyntylacji. Fotony za pośrednictwem światłowodu są kierowane do fotopowielacza, który sygnał świetlny zamienia na impulsy elektryczne.
39 Detekcja elektronów rozpraszanych wstecznie elektrony rozpraszane wstecznie Si warstwa Au wytwarzanie par elektron-dziura złącze p-n Ponieważ elektrony rozpraszane wstecznie mają dużo wyższe energie, nie mogą być zbierane tą samą metodą, co elektrony wtórne. Najczęściej używanym detektorem BSE jest umieszczony nad próbką poniżej soczewki obiektywowej detektor bariery powierzchniowej. Detektor bariery powierzchniowej jest skonstruowany na bazie półprzewodnika z zapełnionym pasmem walencyjnym i pustym pasmem przewodnictwa. Na skutek bombardowania przez BSE, elektrony w z pasma walencyjnego półprzewodnika są wzbudzane do pasma przewodnictwa. Po przyłożeniu napięcia możemy rejestrować prąd proporcjonalny do liczby elektronów wtórnych.
40 Detekcja elektronów detektor elektronów wtórnych detektor promieniowania X detektor elektronów rozpraszanych wstecznie Zastosowanie detektora SE pozwala na wytwarzanie obrazu topograficznego próbki o wysokiej rozdzielczości. Detektory BSE wykorzystuje się do określania składu próbki. Każdy pierwiastek wchodzący w skład próbki jest obrazowany przez odpowiedni poziom szarości. Detektory EDS (energy dispersive X-ray spectroscopy) pozwalają na wykonywanie map rozkładów pierwiastkowych powierzchni próbki.
41 Próżnia Zarówno mikroskopy transmisyjne, jak również skaningowe pracują w próżni. W przeciwnym razie wiązka elektronów nie byłaby stabilna. Gazy wchodziłyby w reakcję z działem elektronowym prowadząc do szybkiego jego zniszczenia. Nawet gdyby do tego nie doszło, wiązka elektronów powodowałaby jonizację gazów i przypadkowe wylądowania. Zakłócony byłby również bieg promieni przez soczewki elektronowe.
42 Napylanie preparatów By uzyskać obraz SEM z próbek dielektrycznych niezbędne jest napylenie jej powierzchni cienką warstwą metaliczną. W ten sposób unika się gromadzenia na powierzchni próbki ładunków powierzchniowych, które utrudniają bądź uniemożliwiają obserwacje. Napylanie (najczęściej warstwą złota, rzadziej węgla) wykonuje się w warunkach wysokiej próżni (10-3 Pa).
43 Napylone próbki przygotowane do obserwacji mikroskopowych Napylanie preparatów
44 Technika ESEM environmental SEM wiązka pierwotna elektronów elektroda detektora - G + - G - G - G G G G G preparat - + G Technika ESEM umożliwia obserwacje mikroskopowe w warunkach niskiej próżni. W technice tej elektrony wtórne są przyciągane przez dodatnio naładowaną elektrodę detektora. Kiedy elektrony przemieszczają się w środowisku gazowym, zderzenia pomiędzy elektronami i cząsteczkami gazu powodują jonizację molekuł gazu i uwalnianie kolejnych elektronów. Dodatnio naładowane jony gazu są przyciągane przez ujemnie spolaryzowany preparat. Wzrost liczby elektronów przyczynia się do wzmocnienia pierwotnego sygnału elektronów wtórnych.
45 Przykłady zastosowań SEM Sgraffito na fasadzie domu mieszkalnego na Zamku w Żarach Obraz SEM węgla drzewnego w tynku sgraffitowym
46 Przykłady zastosowań SEM Obrazy SEM próbek papieru.
47 Przykłady zastosowań SEM 1 µm Obrazy SEM próbek zapraw gipsowych.
48 Przykłady zastosowań SEM 1 µm Obraz SEM warstwy malarskiej. Obraz zagruntowany przy użyciu bieli ołowiowej.
49 Przykłady zastosowań SEM 1 µm Obraz SEM warstwy polichromii ściennej. Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
50 Przykłady zastosowań SEM 1 µm Obraz SEM warstwy polichromii ściennej. Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
51 Przykłady zastosowań SEM 1 µm Obraz SEM warstwy polichromii ściennej. Jarosław Rogóż, Zastosowanie technik nieniszczących w badaniach konserwatorskich malowideł ściennych, Toruń, Wydawnictwo UMK, Toruń 2009
Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego
Paweł Szroeder Rezonanse magnetyczne oraz wybrane techniki pomiarowe fizyki ciała stałego Wykład XI Badania powierzchni ciała stałego: elektronowy mikroskop skaningowy (SEM), skaningowy mikroskop tunelowy
Bardziej szczegółowoSkaningowy mikroskop elektronowy
Skaningowy mikroskop elektronowy SH-5000M / SH-4000 / SH-3500 / detektor EDS Mikroskop elektronowy skaningowy z serii Hirox SH to najwyższej klasy system nastołowy, umożliwiającym szybkie obrazowanie w
Bardziej szczegółowoSpektroskopia UV-VIS zagadnienia
Spektroskopia absorbcyjna to dziedzina, która obejmuje metody badania materii przy użyciu promieniowania elektromagnetycznego, które może z tą materią oddziaływać. Spektroskopia UV-VS zagadnienia promieniowanie
Bardziej szczegółowoh λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)
Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę
Bardziej szczegółowoFizyka Laserów wykład 10. Czesław Radzewicz
Fizyka Laserów wykład 10 Czesław Radzewicz Struktura energetyczna półprzewodników Regularna budowa kryształu okresowy potencjał Funkcja falowa elektronu. konsekwencje: E ψ r pasmo przewodnictwa = u r e
Bardziej szczegółowoĆwiczenie: "Ruch harmoniczny i fale"
Ćwiczenie: "Ruch harmoniczny i fale" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia:
Bardziej szczegółowoLASERY I ICH ZASTOSOWANIE
LASERY CH ZASTOSOWANE Laboratorium nstrukcja do ćwiczenia nr Temat: Pomiar mocy wiązki laserowej 3. POMAR MOCY WĄZK LASEROWEJ LASERA He - Ne 3.1. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z metodą
Bardziej szczegółowoAgrofi k zy a Wyk Wy ł k ad V Marek Kasprowicz
Agrofizyka Wykład V Marek Kasprowicz Spektroskopia p nauka o powstawaniu i interpretacji widm powstających w wyniku oddziaływań wszelkich rodzajów promieniowania na materię ę rozumianą jako zbiorowisko
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI
Katedra Optoelektroniki Wydział Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki Politechnika Gdańska LABORATORIUM OPTOELEKTRONIKI ĆWICZENIE 5 DETEKTORY OPTOELEKTRONICZNE Gdańsk, 2005 ĆWICZENIE 5: DETEKTORY OPTOELEKTRONICZNE
Bardziej szczegółowoCzy można zbudować płaską soczewkę?
FOTON 124, Wiosna 2014 13 Czy można zbudować płaską soczewkę? Stanisław Urban Instytut Fizyki UJ Każdy z nas zna zasadę działania soczewek optycznych. Zbudowane są one z przezroczystego materiału i mają
Bardziej szczegółowospektroskopia UV Vis (cz. 2)
spektroskopia UV Vis (cz. 2) spektroskopia UV-Vis dlaczego? wiele związków organicznych posiada chromofory, które absorbują w zakresie UV duża czułość: zastosowanie w badaniach kinetyki reakcji spektroskop
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 5 Hologram gruby
Ćwiczenie 5 Hologram gruby 1. Wprowadzenie: Na poprzednim ćwiczeniu zapoznaliśmy się z hologramem Fresnela, który daje nam moŝliwość zapisu obiektu przestrzennego. Wadą jego jednak jest to, iŝ moŝemy go
Bardziej szczegółowoMetodyka Badań Materiałów i Technik Malarskich
Metodyka Badań Materiałów i Technik Malarskich Wykład IV Echografia ultradźwiękowa Mikroskopia optyczna Mikroskopia elektronowa Badania mikroskrystaloskopowe Przekroje poprzeczne Widmo fal akustycznych
Bardziej szczegółowoLVI OLIMPIADA FIZYCZNA 2006/2007 Zawody II stopnia
LVI OLIMPIADA FIZYCZNA 2006/2007 Zawody II stopnia Zadanie doświadczalne Energia elektronów w półprzewodniku może przybierać wartości należące do dwóch przedziałów: dolnego (tzw. pasmo walencyjne) i górnego
Bardziej szczegółowoHarmonogramowanie projektów Zarządzanie czasem
Harmonogramowanie projektów Zarządzanie czasem Zarządzanie czasem TOMASZ ŁUKASZEWSKI INSTYTUT INFORMATYKI W ZARZĄDZANIU Zarządzanie czasem w projekcie /49 Czas w zarządzaniu projektami 1. Pojęcie zarządzania
Bardziej szczegółowoPL 217782 B1. Układ impulsowego wzmacniacza światłowodowego domieszkowanego jonami erbu z zabezpieczaniem laserowych diod pompujących
PL 217782 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 217782 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 389082 (22) Data zgłoszenia: 21.09.2009 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowo40. Międzynarodowa Olimpiada Fizyczna Meksyk, 12-19 lipca 2009 r. ZADANIE TEORETYCZNE 2 CHŁODZENIE LASEROWE I MELASA OPTYCZNA
ZADANIE TEORETYCZNE 2 CHŁODZENIE LASEROWE I MELASA OPTYCZNA Celem tego zadania jest podanie prostej teorii, która tłumaczy tak zwane chłodzenie laserowe i zjawisko melasy optycznej. Chodzi tu o chłodzenia
Bardziej szczegółowoKONKURS PRZEDMIOTOWY Z FIZYKI dla uczniów gimnazjów województwa lubuskiego 23 marca 2012 r. zawody III stopnia (finałowe)
Pieczęć KONKURS PRZEDMIOTOWY Z FIZYKI dla uczniów gimnazjów województwa lubuskiego 23 marca 2012 r. zawody III stopnia (finałowe) Witamy Cię na trzecim etapie Konkursu Przedmiotowego z Fizyki i życzymy
Bardziej szczegółowowiat o mo e by rozumiane jako strumie fotonów albo jako fala elektromagnetyczna. Najprostszym przypadkiem fali elektromagnetycznej jest fala p aska
G ÓWNE CECHY WIAT A LASEROWEGO wiat o mo e by rozumiane jako strumie fotonów albo jako fala elektromagnetyczna. Najprostszym przypadkiem fali elektromagnetycznej jest fala p aska - cz sto ko owa, - cz
Bardziej szczegółowoSPEKTROSKOPIA LASEROWA
SPEKTROSKOPIA LASEROWA Spektroskopia laserowa dostarcza wiedzy o naturze zjawisk zachodz cych na poziomie atomów i cz steczek oraz oddzia ywaniu promieniowania z materi i nale y do jednej z najwa niejszych
Bardziej szczegółowoPRAWA ZACHOWANIA. Podstawowe terminy. Cia a tworz ce uk ad mechaniczny oddzia ywuj mi dzy sob i z cia ami nie nale cymi do uk adu za pomoc
PRAWA ZACHOWANIA Podstawowe terminy Cia a tworz ce uk ad mechaniczny oddzia ywuj mi dzy sob i z cia ami nie nale cymi do uk adu za pomoc a) si wewn trznych - si dzia aj cych na dane cia o ze strony innych
Bardziej szczegółowoUKŁAD ROZRUCHU SILNIKÓW SPALINOWYCH
UKŁAD ROZRUCHU SILNIKÓW SPALINOWYCH We współczesnych samochodach osobowych są stosowane wyłącznie rozruszniki elektryczne składające się z trzech zasadniczych podzespołów: silnika elektrycznego; mechanizmu
Bardziej szczegółowoET AAS 1 - pierwiastkowa, GW ppb. ICP OES n - pierwiastkowa, GW ppm n - pierwiastkowa, GW <ppb
Analiza instrumentalna Spektrometria mas F AAS 1 - pierwiastkowa, GW ppm ET AAS 1 - pierwiastkowa, GW ppb ICP OES n - pierwiastkowa, GW ppm ICP MS n - pierwiastkowa, GW
Bardziej szczegółowoPomiar prędkości dźwięku w metalach
Pomiar prędkości dźwięku w metalach Ćwiczenie studenckie dla I Pracowni Fizycznej Barbara Pukowska Andrzej Kaczmarski Krzysztof Sokalski Instytut Fizyki UJ Eksperymenty z dziedziny akustyki są ciekawe,
Bardziej szczegółowoProste struktury krystaliczne
Budowa ciał stałych Proste struktury krystaliczne sc (simple cubic) bcc (body centered cubic) fcc (face centered cubic) np. Piryt FeSe 2 np. Żelazo, Wolfram np. Miedź, Aluminium Struktury krystaliczne
Bardziej szczegółowoANALIZA WIDMOWA (dla szkoły średniej) 1. Dane osobowe. 2. Podstawowe informacje BHP. 3. Opis stanowiska pomiarowego. 4. Procedura pomiarowa
ANALIZA WIDMOWA (dla szkoły średniej) 1. Dane osobowe Data wykonania ćwiczenia: Nazwa szkoły, klasa: Dane uczniów: 1 4 2 5 3 6 2. Podstawowe informacje BHP Możliwość porażenia prądem lampa jest zasilana
Bardziej szczegółowoBłędy fotografii akwarystycznej
Błędy fotografii akwarystycznej Błędy metody nr.2 Źle ustawiona lampa błyskowa na stopce - promień odbity zamiast biec pomiędzy lampą błyskową a aparatem trafił w obiektyw. Przy okazji widać ślady po związkach
Bardziej szczegółowoOptyka geometryczna i falowa
Pojęcie podstawowe: promień świetlny. Optyka geometryczna i alowa Podstawowa obserwacja: jeżeli promień świetlny pada na granicę dwóch ośrodków to: ulega odbiciu na powierzchni granicznej za!amaniu przy
Bardziej szczegółowoNAJWAŻNIEJSZE ZALETY LAMP DIODOWYCH
NAJWAŻNIEJSZE ZALETY LAMP DIODOWYCH Pozwalają zaoszczędzić do 80% energii elektrycznej i więcej! Strumień światła zachowuje 100% jakości w okresie eksploatacji nawet do 50.000 do 70.000 h tj. w okresie
Bardziej szczegółowoBudowa i dziaanie aparatu
Budowa i dziaanie aparatu Fizyczne właściwości urządzeo rentgenowskiego radiologicznych stosowanych w danej dziedzinie mgr Adam Łukowiak Charakterystyka urządzeo radiologicznych ze względu na rejestrację
Bardziej szczegółowo1. MONITOR. a) UNIKAJ! b) WYSOKOŚĆ LINII OCZU
Temat: Organizacja obszaru roboczego podczas pracy przy komputerze. 1. MONITOR a) UNIKAJ! - umieszczania monitora z boku, jeżeli patrzysz na monitor częściej niż na papierowe dokumenty - dostosowywania
Bardziej szczegółowoPolitechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. Karta przedmiotu. obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 2014/2015
Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki Karta przedmiotu Wydział Mechaniczny obowiązuje studentów rozpoczynających studia w roku akademickim 014/015 Kierunek studiów: Inżynieria Wzornictwa Przemysłowego
Bardziej szczegółowoInformacje uzyskiwane dzięki spektrometrii mas
Slajd 1 Spektrometria mas i sektroskopia w podczerwieni Slajd 2 Informacje uzyskiwane dzięki spektrometrii mas Masa cząsteczkowa Wzór związku Niektóre informacje dotyczące wzoru strukturalnego związku
Bardziej szczegółowoLekcja 15. Temat: Prąd elektryczny w róŝnych środowiskach.
Lekcja 15 Temat: Prąd elektryczny w róŝnych środowiskach. Pod wpływem pola elektrycznego (przyłoŝonego napięcia) w materiałach, w których istnieją ruchliwe nośniki ładunku dochodzi do zjawiska przewodzenia
Bardziej szczegółowoBadanie bezszczotkowego silnika prądu stałego z magnesami trwałymi (BLDCM)
Badanie bezszczotkowego silnika prądu stałego z magnesami trwałymi (BLDCM) Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową, zasadą działania oraz sterowaniem bezszczotkowego silnika prądu stałego z magnesami
Bardziej szczegółowoI B. EFEKT FOTOWOLTAICZNY. BATERIA SŁONECZNA
1 OPTOELEKTRONKA B. EFEKT FOTOWOLTACZNY. BATERA SŁONECZNA Cel ćwiczenia: 1.Zbadanie zależności otoprądu zwarcia i otonapięcia zwarcia od natężenia oświetlenia. 2. Wyznaczenie sprawności energetycznej baterii
Bardziej szczegółowoProjekt MES. Wykonali: Lidia Orkowska Mateusz Wróbel Adam Wysocki WBMIZ, MIBM, IMe
Projekt MES Wykonali: Lidia Orkowska Mateusz Wróbel Adam Wysocki WBMIZ, MIBM, IMe 1. Ugięcie wieszaka pod wpływem przyłożonego obciążenia 1.1. Wstęp Analizie poddane zostało ugięcie wieszaka na ubrania
Bardziej szczegółowoTEST DIAGNOZUJACY Z FIZYKI DLA UCZNIÓW KLAS I GIMNAZJUM
Henryk Rej nauczyciel fizyki Gimnazjum Nr 1 43-100 Tychy ul. Brzozowa 24 PROPOZYCJA ZAJĘĆ Z FIZYKI: TEST DIAGNOZUJACY Z FIZYKI DLA UCZNIÓW KLAS I GIMNAZJUM CELE OGÓLNY: popularyzacja nauk przyrodniczych
Bardziej szczegółowoĆ W I C Z E N I E 5. Częstotliwość graniczna
36 Ć W I Z E N I E 5 PASYWNE FILTY ZĘSTOTLIWOŚI. WIADOMOŚI OGÓLNE Filtrem częstotliwości nazywamy układ o strukturze czwórnika (czwórnik to układ mający cztery zaciski jedna z par zacisków pełni rolę wejścia,
Bardziej szczegółowoEGZEMPLARZ ARCHIWALNY WZORU UŻYTKOWEGO. (19) PL (n)62895. (i2,opis OCHRONNY
EGZEMPLARZ ARCHIWALNY RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (i2,opis OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 114534 (22) Data zgłoszenia: 23.12.2003 (19) PL (n)62895
Bardziej szczegółowo2.Prawo zachowania masy
2.Prawo zachowania masy Zdefiniujmy najpierw pewne podstawowe pojęcia: Układ - obszar przestrzeni o określonych granicach Ośrodek ciągły - obszar przestrzeni którego rozmiary charakterystyczne są wystarczająco
Bardziej szczegółowoPRÓBNY EGZAMIN MATURALNY Z FIZYKI I ASTRONOMII
dysleksja PRÓBNY EGZAMIN MATURALNY Z FIZYKI I ASTRONOMII Instrukcja dla zdaj cego (poziom rozszerzony) Czas pracy 120 minut 1. Prosz sprawdzi, czy arkusz egzaminacyjny zawiera 8 stron. Ewentualny brak
Bardziej szczegółowoBADANIE WŁASNOŚCI FAL ELEKTOMAGNETYCZNYCH
Ćwiczenie nr 6 BADANIE WŁASNOŚCI FAL ELEKTOMAGNETYCZNYCH Aparatura Komputer, laser półprzewodnikowy (λ em = 650 nm) z obrotowym analizatorem, światłowody o różnej długości, aparat pomiarowy prędkości światła,
Bardziej szczegółowoWymagania edukacyjne z fizyki do gimnazjum Gimnazjum Sióstr Salezjanek w Ostrowie Wielkopolskim
Wymagania edukacyjne z fizyki do gimnazjum Gimnazjum Sióstr Salezjanek w Ostrowie Wielkopolskim Uczeń uzyskuje z poszczególnych działów fizyki oceny cząstkowe jeżeli sprostał wymaganiom ogólnym, doświadczalnym,
Bardziej szczegółowoCD-W00-00-0 Przetwornik stężenia CO 2 do montażu naściennego. Cechy i Korzyści. Rysunek 1: Przetwornik stężenia CO 2 do montażu naściennego
Karta informacyjna wyrobu CD-W00 Data wydania 06 2001 CD-W00-00-0 Przetwornik stężenia CO 2 do montażu naściennego W prowadzenie Johson Controls posiada w swojej ofercie pełną linię przetworników przekształcających
Bardziej szczegółowoOd redakcji. Symbolem oznaczono zadania wykraczające poza zakres materiału omówionego w podręczniku Fizyka z plusem cz. 2.
Od redakcji Niniejszy zbiór zadań powstał z myślą o tych wszystkich, dla których rozwiązanie zadania z fizyki nie polega wyłącznie na mechanicznym przekształceniu wzorów i podstawieniu do nich danych.
Bardziej szczegółowoPRÓBNY EGZAMIN MATURALNY Z FIZYKI I ASTRONOMII
dysleksja PRÓBNY EGZAMIN MATURALNY Z FIZYKI I ASTRONOMII Instrukcja dla zdającego (poziom rozszerzony) Czas pracy 120 minut 1. Proszę sprawdzić, czy arkusz egzaminacyjny zawiera 8 stron. Ewentualny brak
Bardziej szczegółowoWYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji. Laboratorium Obróbki ubytkowej materiałów.
WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Laboratorium Obróbki ubytkowej materiałów Ćwiczenie nr 1 Temat: Geometria ostrzy narzędzi skrawających Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia
Bardziej szczegółowoPL 210400 B1. POLITECHNIKA ŁÓDZKA, Łódź, PL 02.05.2006 BUP 09/06. ROBERT P. SARZAŁA, Łódź, PL WŁODZIMIERZ NAKWASKI, Łódź, PL MICHAŁ WASIAK, Łódź, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 210400 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 370876 (51) Int.Cl. H01S 5/00 (2006.01) H01S 5/183 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoWiedza niepewna i wnioskowanie (c.d.)
Wiedza niepewna i wnioskowanie (c.d.) Dariusz Banasiak Katedra Informatyki Technicznej Wydział Elektroniki Wnioskowanie przybliżone Wnioskowanie w logice tradycyjnej (dwuwartościowej) polega na stwierdzeniu
Bardziej szczegółowoTester pilotów 315/433/868 MHz
KOLOROWY WYŚWIETLACZ LCD TFT 160x128 ` Parametry testera Zasilanie Pasmo 315MHz Pasmo 433MHz Pasmo 868 MHz 5-12V/ bateria 1,5V AAA 300-360MHz 400-460MHz 820-880MHz Opis Przyciski FQ/ST DN UP OFF przytrzymanie
Bardziej szczegółowo+ + Struktura cia³a sta³ego. Kryszta³y jonowe. Kryszta³y atomowe. struktura krystaliczna. struktura amorficzna
Struktura cia³a sta³ego struktura krystaliczna struktura amorficzna odleg³oœci miêdzy atomami maj¹ tê sam¹ wartoœæ; dany atom ma wszêdzie takie samo otoczenie najbli szych s¹siadów odleg³oœci miêdzy atomami
Bardziej szczegółowoTemat: Czy świetlówki energooszczędne są oszczędne i sprzyjają ochronie środowiska? Imię i nazwisko
Temat: Czy świetlówki energooszczędne są oszczędne i sprzyjają ochronie środowiska? Karta pracy III.. Imię i nazwisko klasa Celem nauki jest stawianie hipotez, a następnie ich weryfikacja, która w efekcie
Bardziej szczegółowoD-01.01.01. wysokościowych
D-01.01.01 Odtworzenie nawierzchni i punktów wysokościowych 32 Spis treści 1. WSTĘP... 34 1.1. Przedmiot SST... 34 1.2. Zakres stosowania SST... 34 1.3. Zakres robót objętych SST... 34 1.4. Określenia
Bardziej szczegółowoHiTiN Sp. z o. o. Przekaźnik kontroli temperatury RTT 4/2 DTR. 40 432 Katowice, ul. Szopienicka 62 C tel/fax.: + 48 (32) 353 41 31. www.hitin.
HiTiN Sp. z o. o. 40 432 Katowice, ul. Szopienicka 62 C tel/fax.: + 48 (32) 353 41 31 www.hitin.pl Przekaźnik kontroli temperatury RTT 4/2 DTR Katowice, 1999 r. 1 1. Wstęp. Przekaźnik elektroniczny RTT-4/2
Bardziej szczegółowo7. REZONANS W OBWODACH ELEKTRYCZNYCH
OBWODY SYGNAŁY 7. EZONANS W OBWODAH EEKTYZNYH 7.. ZJAWSKO EZONANS Obwody elektryczne, w których występuje zjawisko rezonansu nazywane są obwodami rezonansowymi lub drgającymi. ozpatrując bezźródłowy obwód
Bardziej szczegółowoĆ W I C Z E N I E N R O-9
INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-9 WYZNACZANIE STĘŻENIA CUKRU ZA POMOCĄ POLARYMETRU Plr - 1 1 I.
Bardziej szczegółowoPodstawowe pojęcia: Populacja. Populacja skończona zawiera skończoną liczbę jednostek statystycznych
Podstawowe pojęcia: Badanie statystyczne - zespół czynności zmierzających do uzyskania za pomocą metod statystycznych informacji charakteryzujących interesującą nas zbiorowość (populację generalną) Populacja
Bardziej szczegółowoUmowa nr.. /. Klient. *Niepotrzebne skreślić
Umowa nr.. /. zawarta dnia w, pomiędzy: Piotr Kubala prowadzącym działalność gospodarczą pod firmą Piotr Kubala JSK Edukacja, 41-219 Sosnowiec, ul. Kielecka 31/6, wpisanym do CEIDG, NIP: 644 273 13 18,
Bardziej szczegółowoImplant ślimakowy wszczepiany jest w ślimak ucha wewnętrznego (przeczytaj artykuł Budowa ucha
Co to jest implant ślimakowy Implant ślimakowy to bardzo nowoczesne, uznane, bezpieczne i szeroko stosowane urządzenie, które pozwala dzieciom z bardzo głębokimi ubytkami słuchu odbierać (słyszeć) dźwięki.
Bardziej szczegółowoKod pracy. Po udzieleniu odpowiedzi do zadań 1 20, wypełnij tabelkę
ŁÓDZKIE CENTRUM DOSKONALENIA NAUCZYCIELI I KSZTAŁCENIA PRAKTYCZNEGO Kod pracy Wypełnia Przewodniczący Wojewódzkiej Koisji Wojewódzkiego Konkursu Przediotowego z Fizyki Iię i nazwisko ucznia... Szkoła...
Bardziej szczegółowoStrategia rozwoju kariery zawodowej - Twój scenariusz (program nagrania).
Strategia rozwoju kariery zawodowej - Twój scenariusz (program nagrania). W momencie gdy jesteś studentem lub świeżym absolwentem to znajdujesz się w dobrym momencie, aby rozpocząć planowanie swojej ścieżki
Bardziej szczegółowoStandardowe tolerancje wymiarowe WWW.ALBATROS-ALUMINIUM.COM
Standardowe tolerancje wymiarowe WWW.ALBATROSALUMINIUM.COM Tolerancje standardowe gwarantowane przez Albatros Aluminium obowiązują dla wymiarów co do których nie dokonano innych uzgodnień podczas potwierdzania
Bardziej szczegółowoWyznaczenie sprawności grzejnika elektrycznego i ciepła właściwego cieczy za pomocą kalorymetru z grzejnikiem elektrycznym
Nr. Ćwiczenia: 215 Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. Termin: 20 IV 2009 Temat Ćwiczenia: Wyznaczenie sprawności grzejnika elektrycznego i ciepła właściwego
Bardziej szczegółowojednoeksponencjalny (homogeniczny) wieloeksponencjalny (heterogeniczny) Schemat aparatury do zliczania pojedynczych fotonów skorelowanych czasowo.
Pomiar krzywych zaniku fluorescencji metod zliczania pojedynczych fotonów skorelowanych czasowo (metoda TCSPC - time correlated single photon counting) Zanik (homogeniczny) jednoeksponencjalny Zanik (heterogeniczny)
Bardziej szczegółowoSST - 03 - SZCZEGÓŁOWE SPECYFIKACJE TECHNICZNE.
SST - 03 - SZCZEGÓŁOWE SPECYFIKACJE TECHNICZNE. H 03.00.00 Roboty Umocnieniowe kod CPV 45 200000-9 H 03.01.00 Układanie geowłókniny SPIS TREŚCI 1. WSTĘP 148 2.MATERIAŁY 148-149 3. SPRZĘT... 149 4. TRANSPORT...149
Bardziej szczegółowoWyznaczanie statycznego i kinetycznego współczynnika tarcia przy pomocy równi pochyłej
Wyznaczanie statycznego i kinetycznego współczynnika tarcia przy pomocy równi pochyłej Równia pochyła jest przykładem maszyny prostej. Jej konstrukcja składa się z płaskiej powierzchni nachylonej pod kątem
Bardziej szczegółowo'()(*+,-./01(23/*4*567/8/23/*98:)2(!."/+)012+3$%-4#"4"$5012#-4#"4-6017%*,4.!"#$!"#%&"!!!"#$%&"#'()%*+,-+
'()(*+,-./01(23/*4*567/8/23/*98:)2(!."/+)012+3$%-4#"4"$5012#-4#"4-6017%*,4.!"#$!"#%&"!!!"#$%&"#'()%*+,-+ Ucze interpretuje i tworzy teksty o charakterze matematycznym, u ywa j zyka matematycznego do opisu
Bardziej szczegółowoTechniki korekcyjne wykorzystywane w metodzie kinesiotapingu
Techniki korekcyjne wykorzystywane w metodzie kinesiotapingu Jak ju wspomniano, kinesiotaping mo e byç stosowany jako osobna metoda terapeutyczna, jak równie mo e stanowiç uzupe nienie innych metod fizjoterapeutycznych.
Bardziej szczegółowoTYTUŁ IPS P przyrząd do badania imisji wg nowej metody pomiaru
KAMIKA Instruments PUBLIKACJE TYTUŁ IPS P przyrząd do badania imisji wg nowej metody pomiaru AUTORZY Dorota Kamińska, Stanisław Kamiński, KAMIKA Instruments DZIEDZINA Ochrona atmosfery, ochrona środowiska
Bardziej szczegółowoAkademickie Centrum Czystej Energii. Fotoogniwo
Fotoogniwo 1. Zagadnienia półprzewodniki, pasma energetyczne, energie Fermiego, potencjał dyfuzji, wydajność, akceptor, donor, pasmo walencyjne, pasmo przewodzenia, efekt fotoelektryczny wewnętrzny, pirometr
Bardziej szczegółowoWYROK W IMIENIU RZECZYPOSPOLITEJ POLSKIEJ. SSN Bogusław Cudowski (przewodniczący) SSN Jolanta Frańczak (sprawozdawca) SSN Krzysztof Staryk
Sygn. akt II UK 27/15 WYROK W IMIENIU RZECZYPOSPOLITEJ POLSKIEJ Sąd Najwyższy w składzie: Dnia 3 lutego 2016 r. SSN Bogusław Cudowski (przewodniczący) SSN Jolanta Frańczak (sprawozdawca) SSN Krzysztof
Bardziej szczegółowoLXV OLIMPIADA FIZYCZNA ZAWODY III STOPNIA
LXV OLIMPIADA FIZYCZNA ZAWODY III STOPNIA CZ DO WIADCZALNA Za zadanie do±wiadczalne mo»na otrzyma maksymalnie 40 punktów. Zadanie D. Rozgrzane wolframowe wªókno»arówki o temperaturze bezwzgl dnej T emituje
Bardziej szczegółowoLaboratorium z Konwersji Energii. Ogniwo fotowoltaiczne
Laboratorium z Konwersji Energii Ogniwo fotowoltaiczne 1.0 WSTĘP Energia słoneczna jest energią reakcji termojądrowych zachodzących w olbrzymiej odległości od Ziemi. Zachodzące na Słońcu przemiany helu
Bardziej szczegółowoTYTUŁ Pomiar wymiarów i automatyczna analiza kształtów ziaren zbóż
KAMIKA Instruments PUBLIKACJE TYTUŁ Pomiar wymiarów i automatyczna analiza kształtów ziaren zbóż AUTORZY Stanisław Kamiński, Dorota Kamińska, KAMIKA Instruments DZIEDZINA Energetyka, Pomiar kształtu nasion
Bardziej szczegółowoSensory optyczne w motoryzacji
Sensory optyczne w motoryzacji Grzegorz Antos Instytut Mikromechaniki i Fotoniki Plan prezentacji 1. Zalety sensorów optycznych 2. Systemy bezpiecze stwa w motoryzacji 3. Porównanie rozwi za CCD i CMOS
Bardziej szczegółowoSPRAWOZDANIE Z REALIZACJI XXXII BADAŃ BIEGŁOŚCI I BADAŃ PORÓWNAWCZYCH HAŁASU W ŚRODOWISKU Warszawa 17 18 kwiecień 2012r.
SPRAWOZDANIE Z REALIZACJI XXXII BADAŃ BIEGŁOŚCI I BADAŃ PORÓWNAWCZYCH HAŁASU W ŚRODOWISKU Warszawa 17 18 kwiecień 2012r. 1. CEL I ZAKRES BADAŃ Organizatorem badań biegłości i badań porównawczych przeprowadzonych
Bardziej szczegółowoWypalanie laserowe. Technologia. wersja polska. Wersja: 1. marzec 2004 r.
Wypalanie laserowe Technologia Wersja: 1 wersja polska marzec 2004 r. Spis treści Rozdział 1 Zasada działania lasera Znaczenie słowa "LASER"... 3 Zasada działania lasera..... 4 Wypalanie laserowe... 5
Bardziej szczegółowoPrezentacja Systemu PDR
Prezentacja Systemu PDR / Paintless Dent System / 14-15.02.2013 Prowadzący: MOTOTECHNIKA Mieczysław Pamuła 14-15.02.2013 Historia Technologia PDR narodziła się w latach 40 tych minionego wieku w zakładach
Bardziej szczegółowoZASTOSOWANIE LASERÓW W HOLOGRAFII
ZASTOSOWANIE LASERÓW W HOLOGRAFII Holografia - dzia optyki zajmuj cy si technikami uzyskiwania obrazów przestrzennych metod rekonstrukcji fali (g ównie wiat a, ale te np. fal akustycznych). Przez rekonstrukcj
Bardziej szczegółowoZarządzanie projektami. wykład 1 dr inż. Agata Klaus-Rosińska
Zarządzanie projektami wykład 1 dr inż. Agata Klaus-Rosińska 1 DEFINICJA PROJEKTU Zbiór działań podejmowanych dla zrealizowania określonego celu i uzyskania konkretnego, wymiernego rezultatu produkt projektu
Bardziej szczegółowoŁatwe przycinanie płyt z granulatu gumowego. Łatwe i precyzyjne przycinanie płyt
Łatwe i precyzyjne przycinanie płyt Doświadczony praktyk majsterkowania może przyciąć szybko i precyzyjnie elastyczne płyty WARCO do wyliczonych rozmiarów. Przed przystąpieniem do działania, linia cięcia
Bardziej szczegółowoD.01.01.01. ODTWORZENIE TRASY I PUNKTÓW WYSOKOŚCIOWYCH
D.01.01.01. ODTWORZENIE TRASY I PUNKTÓW WYSOKOŚCIOWYCH 1. WSTĘP 1.1.Przedmiot SST Przedmiotem niniejszej szczegółowej specyfikacji technicznej (SST) są wymagania dotyczące wykonania i odbioru robót związanych
Bardziej szczegółowoĆ W I C Z E N I E N R O-10
INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-10 POMIAR PRĘDKOŚCI ŚWIATŁA I. Zagadnienia do opracowania 1. Metody
Bardziej szczegółowoFOTOMETRYCZNE PRAWO ODLEGŁOŚCI (O9)
FOTOMETRYCZNE PRAWO ODLEGŁOŚCI (O9) INSTRUKCJA WYKONANIA ĆWICZENIA I. Zestaw przyrządów: Rys.1 Układ pomiarowy II. Wykonanie pomiarów: 1. Na komputerze wejść w zakładkę student a następnie klikać: start
Bardziej szczegółowoWydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych.
Politechnika Łódzka Wydział Elektrotechniki, Elektroniki, Informatyki i Automatyki Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Niekonwencjonalne źródła energii Laboratorium Ćwiczenie 4
Bardziej szczegółowoKratownice Wieża Eiffel a
Kratownice Wieża Eiffel a Kratownica jest to konstrukcja nośna, składająca się z prętów połączonch ze sobą w węzłach. Kratownica może bć: 1) płaska, gd wszstkie pręt leżą w jednej płaszczźnie, 2) przestrzenna,
Bardziej szczegółowoANALOGOWE UKŁADY SCALONE
ANALOGOWE UKŁADY SCALONE Ćwiczenie to ma na celu zapoznanie z przedstawicielami najważniejszych typów analogowych układów scalonych. Będą to: wzmacniacz operacyjny µa 741, obecnie chyba najbardziej rozpowszechniony
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA 2. PRACE GEODEZYJNE
SPECYFIKACJA TECHNICZNA 2. PRACE GEODEZYJNE 27 SPIS TREŚCI 2. PRACE GEODEZYJNE... 27 1. WSTĘP... 29 1.1.Przedmiot ST... 29 1.2. Zakres stosowania Specyfikacji technicznej... 29 1.3. Zakres robót objętych
Bardziej szczegółowoDokumentacja Techniczna Zbiorniki podziemne Monolith
Dokumentacja Techniczna Zbiorniki podziemne Monolith Monolit h DORW2045 07.04.2009 1 / 11 1. Lokalizacja 1.1 Lokalizacja względem budynków Nie wolno zabudowywać terenu nad zbiornikiem. Minimalną odległość
Bardziej szczegółowoWZORU UŻYTKOWEGO PL 65109 Y1 B60Q 1/26 (2006.01) F21W 101/00 (2006.01) Frieske Tomasz, Bydgoszcz, PL 26.10.2009 BUP 22/09
RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (12) OPIS OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 117442 (22) Data zgłoszenia: 25.04.2008 (19) PL (11) 65109 (13) Y1 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoOZNACZANIE WAPNIA I MAGNEZU W PRÓBCE WINA METODĄ ATOMOWEJ SPEKTROMETRII ABSORPCYJNEJ Z ATOMIZACJA W PŁOMIENIU
OZNACZANIE WAPNIA I MAGNEZU W PRÓBCE WINA METODĄ ATOMOWEJ SPEKTROMETRII ABSORPCYJNEJ Z ATOMIZACJA W PŁOMIENIU Celem ćwiczenia jest zapoznanie z techniką atomowej spektrometrii absorpcyjnej z atomizacją
Bardziej szczegółowoStatystyczna analiza danych w programie STATISTICA. Dariusz Gozdowski. Katedra Doświadczalnictwa i Bioinformatyki Wydział Rolnictwa i Biologii SGGW
Statystyczna analiza danych w programie STATISTICA ( 4 (wykład Dariusz Gozdowski Katedra Doświadczalnictwa i Bioinformatyki Wydział Rolnictwa i Biologii SGGW Regresja prosta liniowa Regresja prosta jest
Bardziej szczegółowoŚwiat fizyki powtórzenie
Przygotowano za pomocą programu Ciekawa fizyka. Bank zadań Copyright by Wydawnictwa Szkolne i Pedagogiczne sp. z o.o., Warszawa 2011 strona 1 Imię i nazwisko ucznia Data...... Klasa... Zadanie 1. Masz
Bardziej szczegółowoPL 219985 B1. POLITECHNIKA LUBELSKA, Lublin, PL 07.07.2014 BUP 14/14
PL 219985 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 219985 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 402214 (51) Int.Cl. F03D 3/02 (2006.01) B64C 11/20 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej
Bardziej szczegółowoWZORU UŻYTKOWEGO EGZEMPLARZ ARCHIWALNY. d2)opis OCHRONNY. (19) PL (n)62894. Centralny Instytut Ochrony Pracy, Warszawa, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej d2)opis OCHRONNY WZORU UŻYTKOWEGO (21) Numer zgłoszenia: 112772 (22) Data zgłoszenia: 29.11.2001 EGZEMPLARZ ARCHIWALNY (19) PL (n)62894 (13)
Bardziej szczegółowoINSTRUKCJA BHP PRZY RECZNYCH PRACACH TRANSPORTOWYCH DLA PRACOWNIKÓW KUCHENKI ODDZIAŁOWEJ.
INSTRUKCJA BHP PRZY RECZNYCH PRACACH TRANSPORTOWYCH DLA PRACOWNIKÓW KUCHENKI ODDZIAŁOWEJ. I. UWAGI OGÓLNE. 1. Dostarczanie posiłków, ich przechowywanie i dystrybucja musza odbywać się w warunkach zapewniających
Bardziej szczegółowoKLASA 3 GIMNAZJUM. 1. LICZBY I WYRAŻENIA ALGEBRAICZNE (26 h) 1. Lekcja organizacyjna 1. 2. System dziesiątkowy 2-4. 3. System rzymski 5-6
KLASA 3 GIMNAZJUM TEMAT LICZBA GODZIN LEKCYJNYCH 1. LICZBY I WYRAŻENIA ALGEBRAICZNE (26 h) 1. Lekcja organizacyjna 1 2. System dziesiątkowy 2-4 WYMAGANIA SZCZEGÓŁOWE Z PODSTAWY PROGRAMOWEJ Z XII 2008 R.
Bardziej szczegółowo(12) TŁUMACZENIE PATENTU EUROPEJSKIEGO (19) PL (11) PL/EP 2559562. (96) Data i numer zgłoszenia patentu europejskiego: 16.08.2011 11461532.
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) TŁUMACZENIE PATENTU EUROPEJSKIEGO (19) PL (11) PL/EP 2962 (96) Data i numer zgłoszenia patentu europejskiego: 16.08.11 1146132.1 (13) (1) T3 Int.Cl. B42D 1/ (06.01) Urząd Patentowy
Bardziej szczegółowoBadanie silnika asynchronicznego jednofazowego
Badanie silnika asynchronicznego jednofazowego Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie budowy i zasady funkcjonowania silnika jednofazowego. W ramach ćwiczenia badane są zmiany wartości prądu rozruchowego
Bardziej szczegółowo