METODY STATYSTYCZNEGO STEROWANIA JAKOŚCIĄ
|
|
- Karol Rutkowski
- 9 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 METODY STATYSTYCZNEGO STEROWANIA JAKOŚCIĄ prof. dr hab. inż. Jacek Koronacki, Wyższa Szkoła Informatyki Stosowanej i Zarządzania pod auspicjami Polskiej Akademii Nauk Uwagi wstępne Tekst ten należy traktować jako drugą część opracowania Statystyka w kompleksowym zarządzaniu jakością. Sterowanie jakością to wg normy terminologicznej PN-ISO 3534:2 metody i działania stosowane w celu spełnienia wymagań jakościowych. Dziś musimy dodać, iż spełnianie wymagań należy traktować dynamicznie nie chodzi o wymagania raz na zawsze ustalone przez takie czy inne specyfikacje, lecz o stałą poprawę jakości procesów oraz produktów lub usług. Statystyczne sterowanie jakością to po prostu część sterowania jakością korzystająca z technik statystycznych. Zadania spełniane w ramach tego działu sterowania jakością można z grubsza podzielić na następujące: statystyczne sterowanie procesem; analiza zdolności procesu lub maszyny; kontrola odbiorcza; analiza pomiarów; planowanie doświadczeń i ocena ich wyników. Statystyczne sterowanie procesem (w skrócie SPC od terminu angielskiego statistical process control) to bieżąca czyli realizowana w rzeczywistym czasie przebiegu procesu kontrola procesu, służąca wykrywaniu jego ewentualnych rozregulowań i w konsekwencji służąca stałej poprawie jakości procesu. Często mówi się, że w ramach wąsko rozumianego SPC słucha się tylko głosu procesu nie pytamy, czy proces realizuje zadanie, które chcielibyśmy by realizował, lecz badamy co i z jaką zmiennością proces realizuje. Jeśli jest to proces toczenia wałków, pytamy np. o to, jakie są średnice toczonych wałków, jaka jest średnia wartość owych średnic i jakie jest rozproszenie otrzymywanych wartości średnic. Interesuje nas stabilność procesu toczenia, a nie np. to jak się ma średnia wartość średnic do ich wartości pożądanej (nominalnej). Analiza zdolności procesu odpowiada na pytanie na ile możliwe jest realizowanie przez dany proces zadania, którego wykonaniu ma ten proces służyć (stosując odpowiednie miary odpowiadamy np. jaka jest zdolność procesu do toczenia wałków o danych specyfikacjach). Kontrola odbiorcza służy np. zapewnieniu by ryzyko odbiorcy (prawdopodobieństwo przyjęcia partii wyrobów, gdy ich poziom jakości jest niezadowalający) oraz ryzyko dostawcy (prawdopodobieństwo odrzucenia partii Copyright StatSoft Polska
2 wyrobów, gdy ich poziom jakości jest zadowalający) pozostawały w ustalonych granicach. Analiza pomiarów bada jakość pomiarów. Bez znajomości stopnia wiarygodności dokonywanych pomiarów niemożliwe jest odpowiedzialne wnioskowanie na podstawie otrzymywanych wyników pomiarów. Planowanie doświadczeń i ocena ich wyników to zestaw statystycznych technik, które najpierw pozwalają zaplanować doświadczenie, dające możliwie najlepszy opis związków między zmiennymi analizowanego procesu, i które następnie pozwalają zaproponować pożądaną zmianę tego procesu (prostym przykładem może być obróbka cieplna pewnych odlewów, zadaniem dobranie czasu nagrzewania odlewów, temperatury pieca oraz czasu utrzymania temperatury w piecu, zwiększających wytrzymałość odlewów na zginanie). Często analizę zdolności procesu lub maszyny, kontrolę odbiorczą i analizę pomiarów przedstawia się jako części dziedziny SPC. Czyni się tak, ponieważ wszystkie wymienione dziedziny są bezpośrednio związane z analizą zmienności procesu. Z drugiej strony, na przykład wstępna analiza zdolności (por. ostatni rozdział tego opracowania) zawiera również analizę innych charakterystyk procesu, nie tylko jego zmienności. W dalszym ciągu niniejszego opracowania krótko omówione są karty kontrolne, czyli podstawowe narzędzia SPC, oraz w jeszcze większym skrócie -- omówiona jest analiza zdolności procesu. Opracowanie nie jest poradnikiem jak z omawianych metod korzystać w praktyce, choć nawiązuje do tego kręgu zagadnień. Podstawowe karty kontrolne Ogólne zasady konstrukcji karty: Karta kontrolna obrazuje dane lub podzbiory danych, wykreślane w funkcji czasu, z linią centralną pokazującą ogólną wartość średnią tych danych. (Zamiast wartości średniej, linia centralna może pokazywać medianę.) Granice kontrolne są liniami pokazującymi granice naturalnej zmienności. Nanoszone są w odległości trzech odchyleń standardowych (3σ) od linii centralnej (sposób obliczania tej odległości podany jest niżej). Obserwacje pochodzące z procesu stabilnego (w stanie statystycznego uregulowania) pozostają między granicami kontrolnymi. Pojawienie się wyniku obserwacji poza pasem stabilności procesu (zmienności własnej) jest sygnałem. Sygnałem jest także ułożenie się wyników obserwacji w jedną ze specyficznych konfiguracji, mimo że żaden z wyników nie leży poza pasem stabilności (są to tzw. seryjne sygnały rozregulowania). Specyfikacje, granice tolerancji -- czyli głos odbiorcy -- nie powinny być nanoszone na karty kontrolne. Trzy karty kontrolne Shewharta Są to najczęściej stosowane karty kontrolne. 1. Karta XmR: Karta ta jest szczególnie użyteczna, gdy dane napływają rzadko (np. zbiorcze wyniki na szczeblach kierowniczych). Może być zastosowana do danych 16 Copyright StatSoft Polska
3 liczbowych. Karta ta składa się z karty wartości X, czyli w naszym przypadku karty, na którą nanosi się kolejne, pojedyncze wyniki pomiarów interesującej nas wielkości, oraz z karty wartości rozstępu ruchomego. Mając zaobserwowane w kolejnych chwilach 1, 2,..., n wyniki X1, X2,..., Xn, wartości te nanosimy na kartę X tak, jak to pokazuje dalej rysunek przykładowej karty z n=25. Rozstępami ruchomymi nazywamy bezwzględne wartości różnic między dwoma kolejnymi wynikami: X2 X1, X3 X2 itd. (Inna sprawa, że karta rozstępu ruchomego jest niekiedy pomijana, ponieważ w dużym stopniu odzwierciedla ona to, co pokazuje karta X. Pojedyncza, nietypowa (duża lub mała) wartość na karcie X wpływa na dwie wartości rozstępu, dając dwa skoki na karcie ruchomego rozstępu, odpowiadające skokowi na karcie X.) σ oblicza się na podstawie rozstępów między dwiema kolejnymi wartościami pojedynczymi. Tak obliczone wartości rozstępu są zawsze nieujemne W przypadku karty X: 3σ = 2.66 Rśr, gdzie Rśr jest średnią wartością rozstępów. Górna granica kontrolna (UCL) = Xśr Rśr, gdzie Xśr jest średnią wartością zaobserwowanych wyników pomiarów. Dolna granica kontrolna (LCL) = Xśr Rśr W przypadku karty mr: Górna granica kontrolna (UCL) = 3.27 Rśr. Dolna granica kontrolna równa jest zawsze zeru σ musi być obliczane korzystając z wartości rozstępów, tak jak to wyżej opisano. Nie należy stosować kalkulatora lub komputera obliczającego 3σ na podstawie wszystkich danych zebranych w jeden zbiór. Copyright StatSoft Polska
4 2. Karta Xśr-R: Stosowana jest wtedy, gdy dane liczbowe mogą być pogrupowane w racjonalne podgrupy (próbki) o tej samej liczności (np. seryjna produkcja części). Na podgrupy składa się zwykle trzy do pięciu wartości. Granice kontrolne oblicza się na podstawie zmienności wewnątrz podgrup i dlatego podgrupy powinny być tak dobierane by - na ile to tylko możliwe -- w każdej z nich występowała tylko zmienność własna. Gdyby podgrupy były zbyt liczne, łatwiej mogłyby zawierać w swojej zmienności także zmienność wynikającą z istnienia przyczyn specjalnych Obliczamy średnią Xśr oraz rozstęp R każdej podgrupy; rozstęp jest równy różnicy między największą i najmniejszą wartością w podgrupie W przypadku karty R: Rśr (linia centralna) = średnia rozstępów w podgrupach, Górna granica kontrolna (UCL) = D4 Rśr, Dolna granica kontrolna (LCL) = D3 Rśr, gdzie D3 i D4 są znanymi współczynnikami liczbowymi o wartościach zależnych od liczności podgrup. W przypadku podgrup o liczności 6 lub mniej, D3=0, skąd LCL=0. (Najczęściej potrzebne w praktyce współczynniki są podane w tabelce.) 2.3. W przypadku karty Xśr: Xśr śr (linia centralna) = średnia wartość średnich w podgrupach (czyli średnia ogólna), Górna granica kontrolna (UCL) = Xśr śr + A2 Rśr, Dolna granica kontrolna (LCL) = Xśr śr - A2 Rśr, gdzie A2 jest znanym współczynnikiem liczbowym o wartościach zależnych od liczności podgrup (patrz tabelka). Wartość wielkości A2 Rśr jest oszacowaniem na podstawie danych wartości trzech odchyleń standardowych procesu, czyli trzech odchyleń standardowych zmienności w podgrupach, 3σ. Tabela współczynników do konstrukcji kart kontrolnych: N A2 D3 D (Podane wartości zależą od liczności podgrup n) 3. Karta Xśr-S: Jest to karta podobna do karty Xśr-R. Jedyna różnica w porównaniu z tą ostatnią polega na tym, że inaczej szacuje się odchylenia standardowe w podgrupach 18 Copyright StatSoft Polska
5 i w konsekwencji inaczej też oblicza się wartość trzech odchyleń standardowych procesu, 3σ. W przypadku karty Xśr-R szacowanie oparte jest na rozstępach w podgrupach, zaś w przypadku karty Xśr-S na próbkowych odchyleniach standardowych w podgrupach. W przypadku karty kontrolnej dowolnego typu potrzeba około 25 wartości do naniesienia na kartę, by móc skonstruować wiarygodne granice kontrolne (oznacza to potrzebę uzyskania wyników pomiarów dla 25 podgrup w przypadku kart Xśr-R). Tym niemniej, jeżeli liczność danych jest mocno ograniczona (np. comiesięczne dane na poziomie zarządzania), można wówczas granice kontrolne obliczać na podstawie mniejszej liczby wartości. Około 15 wartości pozwala zwykle na skonstruowanie stosunkowo wiarygodnych granic. Nawet 10 lub nieco mniej wartości może pozwolić na rozpoczęcie pracy z kartami kontrolnymi. Ale 6 lub mniej wartości, to już strzelanie na oślep. Wbrew tezie niektórych teoretyków, nie jest prawdą, że zdecydowanie się na granice 3- sigmowe było wyłącznie wynikiem zastosowania teorii prawdopodobieństwa, choć wybór ten rzeczywiście był zgodny z ową teorią. Karty Shewharta są oparte nie tylko na teorii, ale i na praktyce. Granice kontrolne mają ścisłą interpretację probabilistyczną, gdy nanoszone na karty wyniki pomiarów są od siebie niezależne i pochodzą z rozkładu normalnego. Ale już Shewhart zdawał sobie sprawę, że niezbyt drastyczne odstępstwa zarówno od założenia niezależności jak i od założenia normalności rozkładu nie mają wpływu na wiarygodność wnioskowania na podstawie jego kart kontrolnych. Trafność podanego wyboru granic kontrolnych ma swoje zasadnicze uzasadnienie nie w teorii prawdopodobieństwa a w praktycznym doświadczeniu pochodzącym z ich stosowania. Powyższa uwaga nie ma sugerować, że nigdy nie jest celowe stosowanie kart innych typów, wymagających głębszej wiedzy, np. wykorzystujących informację, że dane mają pewien ustalony rozkład prawdopodobieństwa, różny od normalnego. Konieczne jest jednak podkreślenie faktu, że stosowalność omówionych kart kontrolnych wykracza bardzo daleko poza przypadek dysponowania danymi o rozkładzie normalnym. W opracowaniu Statystyka w kompleksowym zarządzaniu jakością zwróciliśmy już uwagę, że nierozróżnianie zmienności własnej oraz wynikłej z istnienia przyczyn specjalnych prowadzi do jednego z następujących błędów: Błąd pierwszego rodzaju: Reagowanie na przyczyny ogólne, jakby były to przyczyny specjalne (sygnały) jest to podejmowanie działań bez potrzebnej wiedzy, majsterkowanie przy procesie, które zwykle tylko pogarsza sytuację. Poszukiwanie przyczyn i podejmowanie działań naprawczych jest stratą czasu, jeśli nie występuje przyczyna specjalna. Błąd drugiego rodzaju: Uznanie, że każda zmienność jest właściwa procesowi lub systemowi, czyli, że każda zmienność procesu lub systemu jest zmiennością własną, i ignorowanie przyczyn specjalnych (sygnałów), gdy te istnieją. Każdy taki przypadek to stracona okazja do poprawy. Takie straty mogą być bardzo kosztowne, tym bardziej, że przyczyny specjalne mają tendencję do powtarzającego się i coraz mocniejszego występowania. Copyright StatSoft Polska
6 Szczególnie często popełniany jest błąd pierwszy. Na przykład kierownictwo organizacji zarządza sprawdzenie tych z dwudziestu jej inwestycji budowlanych, których rzeczywisty budżet okazał się różnić od zaplanowanego o więcej niż 10%. W ogóle się przy tym nie interesuje jaka była naturalna zmienność owych różnic między budżetem zaplanowanym i rzeczywiście poniesionym. I jeżeli naturalna zmienność wynosiła np. ±16%, to zalecone sprawdzenie nie ma żadnego sensu (przykład jest autentyczny). Rzecz w tym, że jeżeli w takich warunkach na przykład kierownik jednej inwestycji przekroczył zaplanowany budżet o więcej niż 10%, a mianowicie o 11%, to najprawdopodobniej ta konkretna inwestycja była tak samo typowa jak pozostałych dziewiętnaście i nie ma żadnego powodu, by ją akurat poddawać jakiejś specjalnej analizie. Inna sprawa, że naturalna zmienność rzędu 16% może być uznana za zbyt dużą. Działanie nad jej zmniejszeniem musi się wtedy zacząć od przyjrzenia się wszystkim inwestycjom, dokonania kategoryzacji pojawiających się problemów, by następnie przejść do przeanalizowania możliwości zmiany procesu inwestycyjnego (to jak istotne są różne problemy pomaga ocenić analiza Pareta). Uzasadniona może być też stratyfikacja procesu, np. rozróżnienie między inwestycjami małymi i dużymi (por. Statystyka w kompleksowym zarządzaniu jakością). Przedstawiona na rysunku karta XmR pochodzi z książki B.L. Joinera, Fourth Generation Management, i dotyczy procentu niezrealizowanych na czas płatności w kolejnych 25 miesiącach. Gdyby nie granice kontrolne, procent niezrealizowanych płatności w miesiącu 25-tym mógłby z łatwością zostać potraktowany jako nietypowy i niepotrzebnie zaczęłoby się śledztwo co też szczególnego się w owym miesiącu zdarzyło. Modyfikacje granic kontrolnych Zwykle początkowo ustala się granice próbne. Znajduje się wartości świadczące o nieuregulowaniu procesu (sygnały), wyznacza się i usuwa przyczyny specjalne oraz - - po usunięciu wartości sygnałów ze zbioru danych -- oblicza się powtórnie granice kontrolne. W sytuacji, gdy proces jest uregulowany (stabilny), granice kontrolne oraz linia centralna są przedłużane (tak by sięgnąć przyszłości procesu) i nowe punkty są nanoszone na kartę. Tak skonstruowane granice mogą pozostać niezmienione przez długi czas. Jeżeli proces zacznie dryfować lub podlegać innym zmianom, karta to zasygnalizuje; w odpowiedzi należy przywrócić proces do stanu uregulowania i ustalić na nowo granice kontrolne (jak to już opisano wyżej). Jeżeli proces poddany został istotnej zmianie, powinno się wyznaczyć nowe granice próbne. Zmiana ma z reguły na celu zmniejszenie zmienności własnej procesu, ale może też zmienić położenie linii centralnej i mogą pojawić się sygnały (proces po zmianie może i powinien mieć mniejszą zmienność własną, ale początkowo może okazać się nieuregulowanym). W procesie może zajść trwała zmiana, będąca skutkiem zadziałania przyczyny zewnętrznej, na którą nie mamy wpływu. Rozsądne jest wówczas obliczenie granic kontrolnych na nowo i następnie podjęcie pracy nad skompensowaniem owej niepożądanej zmiany. 20 Copyright StatSoft Polska
7 Inne podstawowe karty kontrolne StatSoft Polska, tel , , Zaliczamy do nich odmiany kart już przedstawionych oraz karty przy ocenie alternatywnej. Spośród tych pierwszych wymienimy tu karty przy nierównych licznościach próbek (podgrup) oraz karty dla krótkich serii. Karty przy nierównych licznościach próbek są po prostu dostosowane do wymienionej sytuacji gdy liczności kolejnych próbek, dla których oblicza się ich wartości średnie oraz odchylenia standardowe, są różne. Łatwo się zorientować, że karty Xśr-R oraz Xśr-S dają się znakomicie zastosować, gdy mamy do czynienia z produkcją wielkoseryjną. Co jednak czynić, gdy np. na tej samej obrabiarce produkuje się krótkie serie wyrobów podobnych, ale nieidentycznych (np. krótkie serie wałków o różnych średnicach), czyli gdy mamy do czynienia z krótkoseryjną produkcją wieloasortymentową. Granice kontrolne dla oryginalnych danych musiałyby wówczas być obliczane niezależnie dla różnych asortymentów, być może na podstawie zbyt niewielu danych. W podanej sytuacji należy zaproponować taką transformację danych oryginalnych, by dane przeskalowane były porównywalne, mimo że pochodzą z różnych asortymentów. Stosowna transformacja pozwala zbudować jedną kartę kontrolną dla wszystkich danych. Realizację takiego zadania ułatwia użycie kart dla krótkich serii. Karty kontrolne przy ocenach alternatywnych dotyczą przypadku, gdy oryginalne dane są wynikiem dokonywania ocen alternatywnych spełnia lub nie spełnia wymagań lub mierzenia liczby niezgodności (wad). Ocena alternatywna może np. mieć postać: płatność na czas lub nie, wysyłka na czas lub nie, średnica elementu w granicach tolerancji lub nie. W przypadku płatności i wysyłek ocenianą partię stanowią wszystkie płatności i wysyłki z zadanego okresu, powiedzmy miesiąca. W przypadku oceniania średnicy elementu możemy badać liczbę elementów niezgodnych z wymaganiami w partiach o ustalonej liczności. Liczba niezgodności może np. dotyczyć liczby wad (jednego typu lub różnych typów) odlewu (partii odlewów) albo liczby reklamacji w zadanym przedziale czasu. Karta Np (karta liczby jednostek niezgodnych) służy do badania liczby elementów nie spełniających wymagań. Na karcie wykreśla się liczbę jednostek (elementów) niezgodnych z wymaganiami w próbkach o stałej liczności. Karta P (karta frakcji jednostek niezgodnych) różni się od karty Np tylko tym, że zamiast liczby jednostek niezgodnych z wymaganiami wykreśla się na niej frakcję (procent) takich jednostek w próbce o zadanej liczności. W przypadku karty P liczności próbek mogą być różne. Jak wszystkie podstawowe karty kontrolne, obydwie karty buduje się podobnie jak karty omówione wcześniej, tyle że punktem wyjścia do obliczeń jest rozkład dwumianowy. Gdy interesuje nas liczba niezgodności lub wad (na jednostkę, na partię, w zadanym przedziale czasu, na zadanej długości materiału itd.), posługujemy się kartą C (kartą liczby niezgodności). Mamy tu do czynienia z sytuacją jakościowo odmienną od tej, gdy stosuje się kartę Np lub P. Gdy interesuje nas liczba jednostek niezgodnych z wymaganiami w próbce o zadanej liczności, powiedzmy liczności n, wiemy, że jednostek niezgodnych nie może być więcej niż n. Gdy pytamy o liczbę niezgodności, nie umiemy podać górnego ograniczenia na wartość tej liczby. Probabilistyczną podstawę do konstrukcji karty C daje rozkład Poissona. Copyright StatSoft Polska
8 Karta C nie może być zastosowana, gdy liczności próbek są rożne. Stosujemy wówczas kartę U (kartę liczby niezgodności na jednostkę), na której wykreśla się stosunek liczby wad do liczności próbki (zamiast o stosunku liczby wad do liczności próbki, można by tu także mówić o stosunku liczby wad do długości badanego materiału, czasu badania itd.). Trzeba tu zaznaczyć, że granice kontrolne muszą tym razem być obliczane dla każdej próbki oddzielnie. W rezultacie granice te mają różne wartości dla różnych próbek. Wybrane karty kontrolne do analizy problemów specjalnych Nic nie przeszkadza, wręcz przeciwnie, warto zalecić by zastosowaniu dowolnej karty specjalistycznej towarzyszyło skonstruowanie także stosownej karty podstawowej. Różnice w otrzymanych obrazach mogą ułatwić wyciągnięcie najwłaściwszych wniosków. W przypadku trzech pierwszych kart, tzn. kart MA, EWMA i CUSUM, jawnie uwzględnia się, że obserwowane dane mogą nie być niezależne lecz być skorelowane, czyli że faktycznie mogą tworzyć szereg czasowy. Karta średniej ruchomej (MA): Kartę tę warto stosować, gdy obserwowane średnie charakteryzują się trendem. Karta ta wygładza przebieg wykresu przez wykreślanie w kolejnych chwilach uśrednionej wartości kilku kolejnych średnich próbkowych (zamiast pojedynczej średniej, odpowiadającej próbce z danej chwili). Wygładzenie szybkiej zmienności losowej pozwala łatwiej zauważyć wolnozmienny trend obecny w danych. W obecności trendu, granica kontrolna na karcie MA zostaje często przekroczona prędzej niż na zwykłej karcie Shewharta. Nic nie stoi na przeszkodzie stosowaniu tych kart, gdy dane są pojedyncze, czyli gdy liczność próbek (podgrup) wynosi jeden (średnia próbki jest wówczas po prostu równa zaobserwowanej w danej chwili wartości). Karta wykładniczo ważonych średnich ruchomych (EWMA): Jest to karta o podobnym działaniu do karty MA. Zamiast średniej z kilku średnich bierze się tu pod uwagę wszystkie wcześniejsze średnie z wykładniczo malejącymi wagami. Kolejny, i-ty punkt wykresu obliczany jest ze wzoru: z i = λ Xśr + (1 - λ) z i-1 gdzie parametr λ przyjmuje ustaloną wartość między 0 a 1. Karta ta bywa czulsza od karty MA, zwłaszcza, gdy zmiany średniej są małe oraz gdy dane są pojedyncze. Karta sum skumulowanych (CUSUM): Mówiąc ogólnie, na karcie wykreśla się (skumulowaną do chwili bieżącej) sumę odchyłek średnich próbkowych od wartości odniesienia, np. od wartości docelowej (nominalnej) analizowanego parametru lub od średniej ogólnej procesu. Jest to karta zaprojektowana tak, by wykryć trwałe przesunięcie średnich próbkowych. Karta ta wykrywa także trend, podobnie jak karta MA. Projektując kartę CUSUM, jej granice kontrolne ustala się tak, by uzyskać zadane prawdopodobieństwo fałszywego alarmu oraz zadane prawdopodobieństwo błędnej akceptacji przy zadanej wielkości wykrywalnego przesunięcia średniej. Karta jest czulsza na przesunięcia średniej niż inne karty, zwłaszcza gdy przesunięcie jest małe. Karta Xśr dla danych o rozkładzie różnym od normalnego: Obliczenie wartości granic kontrolnych karty poprzedzone jest identyfikacją rozkładu (lub pewnych parametrów rozkładu), z jakiego pochodzą dane. Dla otrzymanego rozkładu oblicza się granice 22 Copyright StatSoft Polska
9 kontrolne jako granice naturalnej zmienności własnej obserwowanych danych. Do otrzymanych wyników należy podchodzić z pewną ostrożnością, bowiem dokładne oszacowanie rozkładu danych o ile zbiór danych nie jest bardzo liczny -- jest niemożliwe. Rezygnacja z oparcia się wyłącznie na karcie Shewharta jest uzasadniona wtedy tylko, gdy rozkład danych jest drastycznie różny od normalnego (jest wyraźnie skośny, wyostrzony lub spłaszczony). Zamiast konstruowania karty dla danych oryginalnych można także starać się dane poddać transformacji zmieniającej ich rozkład na normalny (lub bliski normalnemu). Karta T 2 Hotellinga. Aż do tej chwili punktem zainteresowania był pojedynczy parametr procesu, który podlegał pomiarom (ich wyniki, lub średnie wyników w podgrupach, były nanoszone na kartę kontrolną). Nieraz badany proces powinien być charakteryzowany kilkoma (lub więcej) parametrami, które należy rozpatrywać łącznie. Innymi słowy, proces jest wówczas charakteryzowany wektorem parametrów. Klasyczną kartą kontrolną, która pozwala na zbadanie stabilności procesu opisywanego wektorem danych, jest karta T 2 Hotellinga. Karta ta może być stosowana wtedy tylko, gdy o wektorze danych można założyć, że jest normalny (karta pozostaje wiarygodna przy małych odstępstwach od normalności rozkładu tylko przy małym wymiarze wektora danych, powiedzmy 2 lub 3). Oczywiście szczególnie interesujący jest tu przypadek, gdy składowe wektora pomiarów są skorelowane. Jeżeli pojedyncze parametry składające się na wektor danych są również interesujące, poza kartą Hotellinga, traktującą cały wektor łącznie, należy sporządzić także indywidualne karty Xśr-S lub Xśr-R dla tych parametrów. Rzecz w tym, że wektor pozostający w granicach stabilności procesu wielowymiarowego (czyli na karcie Hotellinga), może mieć składowe, które na kartach dla danych skalarnych są sygnałami. (Sygnałowi na karcie Hotellinga nie musi przy tym towarzyszyć sygnał na kartach dla składowych wektora pomiarów.) Karty dla pomiarów wektorowych są nadal rozwijane w oparciu o metody statystycznej analizy wielowymiarowej. (Już 40 lat temu Jackson zauważył związek karty Hotellinga z metodą składowych głównych; w latach 80-tych wrócono do pracy nad nowymi kartami opartymi na metodzie składowych głównych, chcąc w ten sposób uzyskać wiarygodne karty kontrolne w przypadku, gdy wektory pomiarów mają wysoki wymiar.) Analiza zdolności Analiza zdolności procesu (lub maszyny) odpowiada na pytanie o to, na ile proces (maszyna) jest zdolny (jest zdolna) spełniać zadanie wyznaczone specyfikacjami (w dalszym ciągu mówić będziemy już tylko o analizie procesów). Procedury i terminologia analizy zdolności nie są jeszcze w pełni uzgodnione, ale z literatury i praktyki wynika już zasadniczo jednolity kształt działań na tym polu. Analiza zdolności dzieli się na dwie części: analizę wstępną, dotyczącą procesu dopiero rozpoznawanego (nowego), oraz analizę właściwą, dotycząca procesu pozostającego w stanie statystycznego uregulowania. Omówienie zaczynamy od analizy właściwej. Copyright StatSoft Polska
10 Aby przedstawić wskaźnik zdolności procesu, zwany też wskaźnikiem wydolności, zauważmy najpierw, że w przypadku losowania wielu liczb z rozkładu normalnego, 99,7% wylosowanych liczb leży w pasie ±3σ wokół wartości średniej tego rozkładu. Przedział 6- sigmowy jest przedziałem zmienności własnej danych z rozkładu normalnego. Wskaźnik zdolności ma postać C p = (USL LSL)/ (6σ), gdzie USL oznacza górną i LSL dolna granicę tolerancji, zaś σ jest odchyleniem standardowym zmienności własnej procesu (zwykle nieznanym i szacowanym tak jak się to czyni konstruując kartę Xśr-R lub Xśr-S). Wskaźnik ten mówi zatem jak się ma szerokość pasa tolerancji do szerokości przedziału zmienności własnej procesu. Wskaźnik zdolności mówi czy, i na ile, dany stabilny proces jest potencjalnie zdolny wykonywać wyspecyfikowane zadanie. Proces jest w oczywisty sposób niezdolny, jeśli C p < 1 (dziś wymaga się zwykle, by wskaźnik C p był równy przynajmniej 1,33). Jest to zdolność potencjalna, bowiem abstrahuje się tu od zagadnienia jak się ma ogólna średnia procesu do wartości nominalnej wielkości opisywanej przez proces. Jeżeli np. badanym procesem jest średnica toczonych wałków, nominalna wartość średnicy wynosi 30 mm, tolerancja ±0,03 mm, proces toczenia jest stabilny i C p = 1,67, ale ogólna średnia procesu wynosi 30,05 mm, to proces jest wystarczająco precyzyjny i jest potencjalnie zdolny, ale jest niedokładny lub niecelny: nieomal zerowa jest szansa, że jakiś wałek znajdzie się w granicach tolerancji. Taki proces musi ulec wycentrowaniu: jego średnia musi być przesunięta do wartości nominalnej. Podany wskaźnik dotyczy oczywiście sytuacji, gdy przedział tolerancji jest dwustronny. Łatwo podać odpowiedniki wskaźnika C p, dostosowane do przypadku jednej tylko granicy tolerancji. Jednocześnie o dokładności i precyzji procesu mówi wskaźnik wydajności procesu: C pk = C p (1-k), k = µ 0 - µ /[min{usl - µ 0, µ 0 - LSL}], gdzie µ 0 oznacza wartość docelową (nominalną) procesu, zaś µ średnią ogólną procesu. Współczynnik k jest miarą centralizacji procesu i jest równy zeru, gdy wartość średnia jest równa wartości docelowej. Wskaźnik C pk osiąga wartość największą, równą C p, gdy k=0. Z reguły, zadania poprawienia dokładności i precyzji procesu nie są zwykle jednakowo łatwe. Uzyskanie dobrej precyzji jest zazwyczaj trudniejsze i dlatego wprowadzono podane wyżej obydwa wskaźniki, C p i C pk (w omówieniu tym pomijamy kilka innych, podobnych wskaźników stosowanych w analizie zdolności). W przeciwieństwie do kart kontrolnych Shewharta, wskaźniki zdolności mają ścisłą, podaną wyżej interpretację probabilistyczną. Przedział 6-sigmowy przestaje mieć sens, gdy rozkład analizowanych pomiarów jest inny niż normalny. W takim przypadku potrzebne jest określenie owego rozkładu i stosowne zmodyfikowanie wzorów na wskaźnik zdolności i wskaźnik wydajności procesu uregulowanego, tak by wielkość występująca 24 Copyright StatSoft Polska
11 w mianowniku tych wzorów odpowiadała szerokości przedziału zmienności własnej procesu (w przedziale tym ma leżeć 99,7% danych). Określenie rozkładu, z którego pochodzą wyniki pomiarów, jest jednym z zadań wstępnej analizy zdolności, mającej na celu możliwie wyczerpujące poznanie własności procesu. Są to badania o charakterze kompleksowym, mogące w zależności od uzyskiwanych wyników cząstkowych przebiegać na różne sposoby. Tu wymieniamy w telegraficznym skrócie tylko ich niektóre elementy. Badania przebiegają zgodnie z cyklem Deminga zaplanuj-wykonajzbadaj-działaj. Zaczynają się od wyboru do przyszłych pomiarów właściwych charakterystyk, wyboru aparatury pomiarowej i jej analizy ze względu na dokładność, powtarzalność i odtwarzalność. Po uporządkowanym zebraniu wyników pomiarów, dokonuje się ich wszechstronnej analizy. W tym, należy zbadać czy nie stwierdza się trendu lub przesunięć średniej (do czego można wykorzystać karty MA, EWMA, CUSUM). Jeżeli dane zbierane są w podgrupach i na podstawie kart nie można stwierdzić trendu i przesunięć średniej, należy zbadać zmienność w podgrupach i między grupami. Użycie karty kontrolnej Shewharta powinno pomóc w wykryciu zmienności wynikających z przyczyn specjalnych (zwłaszcza innych niż przesunięcia średniej lub trend). Gdy proces jest ustabilizowany, określony powinien zostać rozkład, z jakiego pochodzą dane. Histogram może wskazać na wyraźne odstępstwo od rozkładu normalnego (zawsze powinno się konstruować kilka histogramów z różnymi liczbami przedziałów i dopiero na tej podstawie formułować wnioski dotyczące spodziewanego typu rozkładu). Testowanie normalności rozkładu najlepiej jest oprzeć na testach skośności i kurtozy (wyostrzenia) oraz na teście Shapiry-Wilka. Bardzo skutecznym środkiem graficznego sprawdzenia czy rozkład jest normalny jest wykres kwantyl-kwantyl oraz wykres prawdopodobieństwoprawdopodobieństwo. Często wykres te pozwalają także stwierdzić typ ewentualnego odstępstwa od rozkładu normalnego. Znany ze swej dużej mocy test Shapiry-Wilka ujmuje za pomocą jednej liczby to co w sposób graficzny i dzięki temu bogatszy -- pokazuje wykres kwantyl-kwantyl. Jeżeli hipoteza o normalności rozkładu zostaje odrzucona, należy dopasować do danych inny rozkład i oszacować jego parametry. Odpowiadający otrzymanemu rozkładowi wykres kwantyl-kwantyl lub prawdopodobieństwo-prawdopodobieństwo jest znowu doskonałym sposobem sprawdzenia, czy dopasowanie jest trafne. Dopasowywanie rozkładu do danych wymaga doświadczenia, zwłaszcza gdy zbiór danych nie jest bardzo liczny. W zasadzie powinno się unikać dopasowywania, gdy liczność zbioru danych jest mniejsza niż 100. W zestawie przykładów pakietu STATISTICA podana jest 100-elementowa próbka fikcyjnych danych, mających być średnicami pierścieni tłokowych o nominalnej wartości 74 mm i granicach specyfikacji ±0,05 mm. Próbka jest stabilna i podany wykres kwantylkwantyl potwierdza hipotezę normalności rozkładu. Proces jest dokładny, precyzyjny i dobrze wycentrowany: Cp=1,649, zaś Cpk=1,648. Ilustrują to poniższe wykresy: Copyright StatSoft Polska
12 26 Copyright StatSoft Polska
Sterowanie procesem i jego zdolność. Zbigniew Wiśniewski
Sterowanie procesem i jego zdolność Zbigniew Wiśniewski Wybór cech do kart kontrolnych Zaleca się aby w pierwszej kolejności były brane pod uwagę cechy dotyczące funkcjonowania wyrobu lub świadczenia usługi
Statystyczne sterowanie procesem
Statystyczne sterowanie procesem SPC (ang. Statistical Process Control) Trzy filary SPC: 1. sporządzenie dokładnego diagramu procesu produkcji; 2. pobieranie losowych próbek (w regularnych odstępach czasu
Zarządzanie procesami
Metody pomiaru stosowane w organizacjach Zarządzanie procesami Zakres Rodzaje pomiaru metod pomiaru Klasyczne metody pomiaru organizacji Pomiar całej organizacji Tradycyjny rachunek kosztów (np. ROI) Rachunek
Wprowadzenie. Typowe i nietypowe sytuacje
NIESTANDARDOWE KARTY KONTROLNE CZYLI JAK SOBIE RADZIĆ W NIETYPOWYCH SYTUACJACH dr inż. Tomasz Greber, Politechnika Wrocławska, Instytut Organizacji i Zarządzania Wprowadzenie SPC (statystyczne sterowanie
POLITECHNIKA OPOLSKA
POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Laboratorium Podstaw Inżynierii Jakości Ćwiczenie nr 9 Temat: Karty kontrolne przy alternatywnej ocenie właściwości.
POLITECHNIKA OPOLSKA
POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Laboratorium Podstaw Inżynierii Jakości Ćwiczenie nr Temat: Karty kontrolne przy alternatywnej ocenie właściwości.
DR HAB INŻ. TADEUSZ SAŁACIŃSKI POLITECHNIKA WARSZAWSKA
-1- DR HAB INŻ. TADEUSZ SAŁACIŃSKI POLITECHNIKA WARSZAWSKA ANALIZA ZDOLNOŚCI PROCESÓW PRODUKCYJNYCH Z WYKORZYSTANIEM SPC Statystyczne sterowanie procesami Zgodnie z normą ISO 9001:2000 Systemy Zarządzania
Zarządzanie jakością ćwiczenia
Zarządzanie jakością ćwiczenia mgr inż. Anna Wąsińska Zakład Zarządzania Jakością pok. 311 B1, tel. 320-42-82 anna.wasinska@pwr.wroc.pl Statystyczne sterowanie procesami SPC kontrolna Konsultacje: SO 13:00
PRZYKŁAD TWORZENIA KART KONTROLNYCH W STATISTICA
PRZYKŁAD TWORZENIA KART KONTROLNYCH W STATISTICA Tomasz Demski, StatSoft Polska Sp. z o.o. Karty kontrolne są jednym z najczęściej wykorzystywanych narzędzi analizy danych. Zaproponowane w latach dwudziestych
Definicje PN ISO Definicje PN ISO 3951 interpretacja Zastosowanie normy PN-ISO 3951:1997
PN-ISO 3951:1997 METODY STATYSTYCZNEJ KONTROI JAKOŚCI WG OCENY ICZBOWEJ ciągła seria partii wyrobów sztukowych dla jednej procedury analizowana jest tylko jedna wartość, która musi być mierzalna w skali
Wydział Inżynierii Produkcji. I Logistyki. Statystyka opisowa. Wykład 3. Dr inż. Adam Deptuła
12.03.2017 Wydział Inżynierii Produkcji I Logistyki Statystyka opisowa Wykład 3 Dr inż. Adam Deptuła METODY OPISU DANYCH ILOŚCIOWYCH SKALARNYCH Wykresy: diagramy, histogramy, łamane częstości, wykresy
Wprowadzenie do analizy korelacji i regresji
Statystyka dla jakości produktów i usług Six sigma i inne strategie Wprowadzenie do analizy korelacji i regresji StatSoft Polska Wybrane zagadnienia analizy korelacji Przy analizie zjawisk i procesów stanowiących
Populacja generalna (zbiorowość generalna) zbiór obejmujący wszystkie elementy będące przedmiotem badań Próba (podzbiór zbiorowości generalnej) część
Populacja generalna (zbiorowość generalna) zbiór obejmujący wszystkie elementy będące przedmiotem badań Próba (podzbiór zbiorowości generalnej) część populacji, którą podaje się badaniu statystycznemu
Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji STATYSTYCZNA KONTROLA PROCESU
Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji METROLOGIA I KONTKOLA JAKOŚCI - LABORATORIUM TEMAT: STATYSTYCZNA KONTROLA PROCESU 1. Cel ćwiczenia Zapoznanie studentów z podstawami wdrażania i stosowania metod
Statystyka. Rozkład prawdopodobieństwa Testowanie hipotez. Wykład III ( )
Statystyka Rozkład prawdopodobieństwa Testowanie hipotez Wykład III (04.01.2016) Rozkład t-studenta Rozkład T jest rozkładem pomocniczym we wnioskowaniu statystycznym; stosuje się go wyznaczenia przedziału
Odchudzamy serię danych, czyli jak wykryć i usunąć wyniki obarczone błędami grubymi
Odchudzamy serię danych, czyli jak wykryć i usunąć wyniki obarczone błędami grubymi Piotr Konieczka Katedra Chemii Analitycznej Wydział Chemiczny Politechnika Gdańska D syst D śr m 1 3 5 2 4 6 śr j D 1
POLITECHNIKA OPOLSKA
POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Laboratorium Inżynierii Jakości Ćwiczenie nr 10 Temat: Karta kontrolna pojedynczych obserwacji i ruchomego
I jest narzędziem służącym do porównywania rozproszenia dwóch zmiennych. Używamy go tylko, gdy pomiędzy zmiennymi istnieje logiczny związek
ZADANIA statystyka opisowa i CTG 1. Dokonano pomiaru stężenia jonów azotanowych w wodzie μg/ml 1 0.51 0.51 0.51 0.50 0.51 0.49 0.52 0.53 0.50 0.47 0.51 0.52 0.53 0.48 0.59 0.50 0.52 0.49 0.49 0.50 0.49
Karta kontrolna budowa i zastosowanie
STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESAMI PRAKTYCZNE PRZYKŁADY ZASTOSOWANIA Tomasz Greber, Politechnika Wrocławska, Instytut Organizacji i Zarządzania, Zakład Zarządzania Jakością; Magazyn ZARZĄDZANIE JAKOŚCIĄ
STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESAMI
STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESAMI ARTUR MACIASZCZYK COPYRIGHTS 2002 Artur Maciaszczyk, tel. 0602 375 325 amacia@zie.pg.gda.pl 1! STATYSTYCZNE MONITOROWANIE JAKOŚCI Bogu ufamy. Wszyscy pozostali niech przedstawią
Statystyki: miary opisujące rozkład! np. : średnia, frakcja (procent), odchylenie standardowe, wariancja, mediana itd.
Wnioskowanie statystyczne obejmujące metody pozwalające na uogólnianie wyników z próby na nieznane wartości parametrów oraz szacowanie błędów tego uogólnienia. Przewidujemy nieznaną wartości parametru
STATYSTYKA OPISOWA. LICZBOWE CHARAKTERYSTYKI(MIARY)
STATYSTYKA OPISOWA. LICZBOWE CHARAKTERYSTYKI(MIARY) Praca z danymi zaczyna się od badania rozkładu liczebności (częstości) zmiennych. Rozkład liczebności (częstości) zmiennej to jakie wartości zmienna
RÓWNOWAŻNOŚĆ METOD BADAWCZYCH
RÓWNOWAŻNOŚĆ METOD BADAWCZYCH Piotr Konieczka Katedra Chemii Analitycznej Wydział Chemiczny Politechnika Gdańska Równoważność metod??? 2 Zgodność wyników analitycznych otrzymanych z wykorzystaniem porównywanych
Szczegółowy program kursu Statystyka z programem Excel (30 godzin lekcyjnych zajęć)
Szczegółowy program kursu Statystyka z programem Excel (30 godzin lekcyjnych zajęć) 1. Populacja generalna a losowa próba, parametr rozkładu cechy a jego ocena z losowej próby, miary opisu statystycznego
ODRZUCANIE WYNIKÓW POJEDYNCZYCH POMIARÓW
ODRZUCANIE WYNIKÓW OJEDYNCZYCH OMIARÓW W praktyce pomiarowej zdarzają się sytuacje gdy jeden z pomiarów odstaje od pozostałych. Jeżeli wykorzystamy fakt, że wyniki pomiarów są zmienną losową opisywaną
Wykład 5: Statystyki opisowe (część 2)
Wykład 5: Statystyki opisowe (część 2) Wprowadzenie Na poprzednim wykładzie wprowadzone zostały statystyki opisowe nazywane miarami położenia (średnia, mediana, kwartyle, minimum i maksimum, modalna oraz
EFEKTYWNE STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESAMI (SPC) Z WYKORZYSTANIEM PAKIETU STATISTICA. Wprowadzenie
EFEKTYWNE STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESAMI (SPC) Z WYKORZYSTANIEM PAKIETU STATISTICA prof. dr hab. Olgierd Hryniewicz, Wyższa Szkoła Informatyki Stosowanej i Zarządzania, Instytut Badań Systemowych PAN
Wykład 4: Statystyki opisowe (część 1)
Wykład 4: Statystyki opisowe (część 1) Wprowadzenie W przypadku danych mających charakter liczbowy do ich charakterystyki można wykorzystać tak zwane STATYSTYKI OPISOWE. Za pomocą statystyk opisowych można
Monitorowanie i Diagnostyka w Systemach Sterowania na studiach II stopnia specjalności: Systemy Sterowania i Podejmowania Decyzji
Monitorowanie i Diagnostyka w Systemach Sterowania na studiach II stopnia specjalności: Systemy Sterowania i Podejmowania Decyzji Analiza składników podstawowych - wprowadzenie (Principal Components Analysis
Teoria błędów. Wszystkie wartości wielkości fizycznych obarczone są pewnym błędem.
Teoria błędów Wskutek niedoskonałości przyrządów, jak również niedoskonałości organów zmysłów wszystkie pomiary są dokonywane z określonym stopniem dokładności. Nie otrzymujemy prawidłowych wartości mierzonej
Weryfikacja hipotez statystycznych, parametryczne testy istotności w populacji
Weryfikacja hipotez statystycznych, parametryczne testy istotności w populacji Dr Joanna Banaś Zakład Badań Systemowych Instytut Sztucznej Inteligencji i Metod Matematycznych Wydział Informatyki Politechniki
Statystyka. Wykład 4. Magdalena Alama-Bućko. 13 marca Magdalena Alama-Bućko Statystyka 13 marca / 41
Statystyka Wykład 4 Magdalena Alama-Bućko 13 marca 2017 Magdalena Alama-Bućko Statystyka 13 marca 2017 1 / 41 Na poprzednim wykładzie omówiliśmy następujace miary rozproszenia: Wariancja - to średnia arytmetyczna
Szczegółowy program kursu Statystyka z programem Excel (30 godzin lekcyjnych zajęć)
Szczegółowy program kursu Statystyka z programem Excel (30 godzin lekcyjnych zajęć) 1. Populacja generalna a losowa próba, parametr rozkładu cechy a jego ocena z losowej próby, miary opisu statystycznego
Testowanie hipotez statystycznych.
Statystyka Wykład 10 Wrocław, 22 grudnia 2011 Testowanie hipotez statystycznych Definicja. Hipotezą statystyczną nazywamy stwierdzenie dotyczące parametrów populacji. Definicja. Dwie komplementarne w problemie
ANALIZA SYSTEMU POMIAROWEGO (MSA)
StatSoft Polska, tel. 1 484300, 601 414151, info@statsoft.pl, www.statsoft.pl ANALIZA SYSTEMU POMIAROWEGO (MSA) dr inż. Tomasz Greber, Politechnika Wrocławska, Instytut Organizacji i Zarządzania Wprowadzenie
Rozkład zmiennej losowej Polega na przyporządkowaniu każdej wartości zmiennej losowej prawdopodobieństwo jej wystąpienia.
Rozkład zmiennej losowej Polega na przyporządkowaniu każdej wartości zmiennej losowej prawdopodobieństwo jej wystąpienia. D A R I U S Z P I W C Z Y Ń S K I 2 2 ROZKŁAD ZMIENNEJ LOSOWEJ Polega na przyporządkowaniu
166 Wstęp do statystyki matematycznej
166 Wstęp do statystyki matematycznej Etap trzeci realizacji procesu analizy danych statystycznych w zasadzie powinien rozwiązać nasz zasadniczy problem związany z identyfikacją cechy populacji generalnej
Statystyki: miary opisujące rozkład! np. : średnia, frakcja (procent), odchylenie standardowe, wariancja, mediana itd.
Wnioskowanie statystyczne obejmujące metody pozwalające na uogólnianie wyników z próby na nieznane wartości parametrów oraz szacowanie błędów tego uogólnienia. Przewidujemy nieznaną wartości parametru
Wstęp do teorii niepewności pomiaru. Danuta J. Michczyńska Adam Michczyński
Wstęp do teorii niepewności pomiaru Danuta J. Michczyńska Adam Michczyński Podstawowe informacje: Strona Politechniki Śląskiej: www.polsl.pl Instytut Fizyki / strona własna Instytutu / Dydaktyka / I Pracownia
Metody statystyczne kontroli jakości i niezawodności Lekcja II: Karty kontrolne.
Metody statystyczne kontroli jakości i niezawodności Lekcja II: Karty kontrolne. Wydział Matematyki Politechniki Wrocławskiej Karty kontroli jakości: przypomnienie Załóżmy, że chcemy mierzyć pewną charakterystykę.
Analiza składowych głównych. Wprowadzenie
Wprowadzenie jest techniką redukcji wymiaru. Składowe główne zostały po raz pierwszy zaproponowane przez Pearsona(1901), a następnie rozwinięte przez Hotellinga (1933). jest zaliczana do systemów uczących
PDF created with FinePrint pdffactory Pro trial version http://www.fineprint.com
Analiza korelacji i regresji KORELACJA zależność liniowa Obserwujemy parę cech ilościowych (X,Y). Doświadczenie jest tak pomyślane, aby obserwowane pary cech X i Y (tzn i ta para x i i y i dla różnych
STATYSTYKA OPISOWA. LICZBOWE CHARAKTERYSTYKI(MIARY)
STATYSTYKA OPISOWA. LICZBOWE CHARAKTERYSTYKI(MIARY) Dla opisania rozkładu badanej zmiennej, korzystamy z pewnych charakterystyk liczbowych. Dzielimy je na cztery grupy.. Określenie przeciętnej wartości
LABORATORIUM Z FIZYKI
LABORATORIUM Z FIZYKI LABORATORIUM Z FIZYKI I PRACOWNIA FIZYCZNA C w Gliwicach Gliwice, ul. Konarskiego 22, pokoje 52-54 Regulamin pracowni i organizacja zajęć Sprawozdanie (strona tytułowa, karta pomiarowa)
WSPIERANIE ZADAŃ ANALITYCZNYCH Z ZASTOSOWANIEM STATISTICA NA PRZYKŁADZIE BIOTON S.A.
WSPIERANIE ZADAŃ ANALITYCZNYCH Z ZASTOSOWANIEM STATISTICA NA PRZYKŁADZIE BIOTON S.A. Jan Grzesik, Zespół Specjalistów ds. Zapewnienia Jakości w BIOTON S.A. Wymagania statystycznego opracowania wyników
Statystyka opisowa. Wykład I. Elementy statystyki opisowej
Statystyka opisowa. Wykład I. e-mail:e.kozlovski@pollub.pl Spis treści Elementy statystyku opisowej 1 Elementy statystyku opisowej 2 3 Elementy statystyku opisowej Definicja Statystyka jest to nauka o
STATYSTYKA OPISOWA Przykłady problemów statystycznych: - badanie opinii publicznej na temat preferencji wyborczych;
STATYSTYKA OPISOWA Przykłady problemów statystycznych: - badanie opinii publicznej na temat preferencji wyborczych; - badanie skuteczności nowego leku; - badanie stopnia zanieczyszczenia gleb metalami
Zakładamy, że są niezależnymi zmiennymi podlegającymi (dowolnemu) rozkładowi o skończonej wartości oczekiwanej i wariancji.
Wnioskowanie_Statystyczne_-_wykład Spis treści 1 Centralne Twierdzenie Graniczne 1.1 Twierdzenie Lindeberga Levy'ego 1.2 Dowód 1.2.1 funkcja tworząca sumy zmiennych niezależnych 1.2.2 pochodna funkcji
Testy nieparametryczne
Testy nieparametryczne Testy nieparametryczne możemy stosować, gdy nie są spełnione założenia wymagane dla testów parametrycznych. Stosujemy je również, gdy dane można uporządkować według określonych kryteriów
ALGORYTMICZNA I STATYSTYCZNA ANALIZA DANYCH
1 ALGORYTMICZNA I STATYSTYCZNA ANALIZA DANYCH WFAiS UJ, Informatyka Stosowana II stopień studiów 2 Wnioskowanie statystyczne dla zmiennych numerycznych Porównywanie dwóch średnich Boot-strapping Analiza
ANALIZA STATYSTYCZNA WYNIKÓW BADAŃ
ANALIZA STATYSTYCZNA WYNIKÓW BADAŃ Dopasowanie rozkładów Dopasowanie rozkładów- ogólny cel Porównanie średnich dwóch zmiennych 2 zmienne posiadają rozkład normalny -> test parametryczny (t- studenta) 2
Wykład 3 Hipotezy statystyczne
Wykład 3 Hipotezy statystyczne Hipotezą statystyczną nazywamy każde przypuszczenie dotyczące nieznanego rozkładu obserwowanej zmiennej losowej (cechy populacji generalnej) Hipoteza zerowa (H 0 ) jest hipoteza
POLITECHNIKA OPOLSKA
POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Laboratorium Podstaw Inżynierii Jakości Ćwiczenie nr 8 Temat: Statystyczna kontrola procesu SPC przy pomocy
Idea. θ = θ 0, Hipoteza statystyczna Obszary krytyczne Błąd pierwszego i drugiego rodzaju p-wartość
Idea Niech θ oznacza parametr modelu statystycznego. Dotychczasowe rozważania dotyczyły metod estymacji tego parametru. Teraz zamiast szacować nieznaną wartość parametru będziemy weryfikowali hipotezę
Charakterystyki liczbowe (estymatory i parametry), które pozwalają opisać właściwości rozkładu badanej cechy (zmiennej)
Charakterystyki liczbowe (estymatory i parametry), które pozwalają opisać właściwości rozkładu badanej cechy (zmiennej) 1 Podział ze względu na zakres danych użytych do wyznaczenia miary Miary opisujące
Grupowanie materiału statystycznego
Grupowanie materiału statystycznego Materiał liczbowy, otrzymany w wyniku przeprowadzonej obserwacji statystycznej lub pomiaru, należy odpowiednio usystematyzować i pogrupować. Doskonale nadają się do
W kolejnym kroku należy ustalić liczbę przedziałów k. W tym celu należy wykorzystać jeden ze wzorów:
Na dzisiejszym wykładzie omówimy najważniejsze charakterystyki liczbowe występujące w statystyce opisowej. Poszczególne wzory będziemy podawać w miarę potrzeby w trzech postaciach: dla szeregu szczegółowego,
Pobieranie prób i rozkład z próby
Pobieranie prób i rozkład z próby Marcin Zajenkowski Marcin Zajenkowski () Pobieranie prób i rozkład z próby 1 / 15 Populacja i próba Populacja dowolnie określony zespół przedmiotów, obserwacji, osób itp.
Statystyka hydrologiczna i prawdopodobieństwo zjawisk hydrologicznych.
Statystyka hydrologiczna i prawdopodobieństwo zjawisk hydrologicznych. Statystyka zajmuje się prawidłowościami zaistniałych zdarzeń. Teoria prawdopodobieństwa dotyczy przewidywania, jak często mogą zajść
Inteligentna analiza danych
Numer indeksu 150946 Michał Moroz Imię i nazwisko Numer indeksu 150875 Grzegorz Graczyk Imię i nazwisko kierunek: Informatyka rok akademicki: 2010/2011 Inteligentna analiza danych Ćwiczenie I Wskaźniki
Sterowanie jakością badań i analiza statystyczna w laboratorium
Sterowanie jakością badań i analiza statystyczna w laboratorium CS-17 SJ CS-17 SJ to program wspomagający sterowanie jakością badań i walidację metod badawczych. Może działać niezależnie od innych składników
STATYSTYKA MATEMATYCZNA WYKŁAD 4. WERYFIKACJA HIPOTEZ PARAMETRYCZNYCH X - cecha populacji, θ parametr rozkładu cechy X.
STATYSTYKA MATEMATYCZNA WYKŁAD 4 WERYFIKACJA HIPOTEZ PARAMETRYCZNYCH X - cecha populacji, θ parametr rozkładu cechy X. Wysuwamy hipotezy: zerową (podstawową H ( θ = θ i alternatywną H, która ma jedną z
Analiza regresji - weryfikacja założeń
Medycyna Praktyczna - portal dla lekarzy Analiza regresji - weryfikacja założeń mgr Andrzej Stanisz z Zakładu Biostatystyki i Informatyki Medycznej Collegium Medicum UJ w Krakowie (Kierownik Zakładu: prof.
1 n. s x x x x. Podstawowe miary rozproszenia: Wariancja z populacji: Czasem stosuje się też inny wzór na wariancję z próby, tak policzy Excel:
Wariancja z populacji: Podstawowe miary rozproszenia: 1 1 s x x x x k 2 2 k 2 2 i i n i1 n i1 Czasem stosuje się też inny wzór na wariancję z próby, tak policzy Excel: 1 k 2 s xi x n 1 i1 2 Przykład 38,
POLITECHNIKA OPOLSKA
POLITECHNIKA OPOLSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Laboratorium Podstaw Inżynierii Jakości Ćwiczenie nr 8 Temat: Statystyczna kontrola procesu SPC przy pomocy
7. Estymacja parametrów w modelu normalnym(14.04.2008) Pojęcie losowej próby prostej
7. Estymacja parametrów w modelu normalnym(14.04.2008) Pojęcie losowej próby prostej Definicja 1 n-elementowa losowa próba prosta nazywamy ciag n niezależnych zmiennych losowych o jednakowych rozkładach
HISTOGRAM. Dr Adam Michczyński - METODY ANALIZY DANYCH POMIAROWYCH Liczba pomiarów - n. Liczba pomiarów - n k 0.5 N = N =
HISTOGRAM W pewnych przypadkach interesuje nas nie tylko określenie prawdziwej wartości mierzonej wielkości, ale także zbadanie całego rozkład prawdopodobieństwa wyników pomiarów. W takim przypadku wyniki
Estymacja parametrów w modelu normalnym
Estymacja parametrów w modelu normalnym dr Mariusz Grządziel 6 kwietnia 2009 Model normalny Przez model normalny będziemy rozumieć rodzine rozkładów normalnych N(µ, σ), µ R, σ > 0. Z Centralnego Twierdzenia
Statystyka matematyczna dla leśników
Statystyka matematyczna dla leśników Wydział Leśny Kierunek leśnictwo Studia Stacjonarne I Stopnia Rok akademicki 03/04 Wykład 5 Testy statystyczne Ogólne zasady testowania hipotez statystycznych, rodzaje
Sposoby prezentacji problemów w statystyce
S t r o n a 1 Dr Anna Rybak Instytut Informatyki Uniwersytet w Białymstoku Sposoby prezentacji problemów w statystyce Wprowadzenie W artykule zostaną zaprezentowane podstawowe zagadnienia z zakresu statystyki
Statystyka i opracowanie danych Podstawy wnioskowania statystycznego. Prawo wielkich liczb. Centralne twierdzenie graniczne. Estymacja i estymatory
Statystyka i opracowanie danych Podstawy wnioskowania statystycznego. Prawo wielkich liczb. Centralne twierdzenie graniczne. Estymacja i estymatory Dr Anna ADRIAN Paw B5, pok 407 adrian@tempus.metal.agh.edu.pl
1. SOLUTIONS -> ANALYSIS -> QUALITY IMPROVEMENT
UWAGA: Wszystkie dane potrzebne do zrealizowania tego ćwiczenia znajdują się w pliku sqc.xls w związku z tym przed rozpoczęciem niniejszych ćwiczeń należy zaimportować ten plik z następującego miejsca
Rozkłady statystyk z próby
Rozkłady statystyk z próby Rozkłady statystyk z próby Przypuśćmy, że wykonujemy serię doświadczeń polegających na 4 krotnym rzucie symetryczną kostką do gry, obserwując liczbę wyrzuconych oczek Nr kolejny
Zarządzanie jakością. cią. Zarządzanie jakością - wykład 5. W. Prussak Kontrola w zarządzaniu jakością
Jakość produktu Pojęcie i zasady zarządzania System zarządzania Planowanie Metody i narzędzia projakościowe Doskonalenie Zarządzanie. jakości cią Wykład 05/07 Statystyczna kontrola procesu (SPC) 5.1 inspekcyjna
Rozkład Gaussa i test χ2
Rozkład Gaussa jest scharakteryzowany dwoma parametramiwartością oczekiwaną rozkładu μ oraz dyspersją σ: METODA 2 (dokładna) polega na zmianie zmiennych i na obliczeniu pk jako różnicy całek ze standaryzowanego
VI WYKŁAD STATYSTYKA. 9/04/2014 B8 sala 0.10B Godz. 15:15
VI WYKŁAD STATYSTYKA 9/04/2014 B8 sala 0.10B Godz. 15:15 WYKŁAD 6 WERYFIKACJA HIPOTEZ STATYSTYCZNYCH PARAMETRYCZNE TESTY ISTOTNOŚCI Weryfikacja hipotez ( błędy I i II rodzaju, poziom istotności, zasady
Zadania ze statystyki, cz.7 - hipotezy statystyczne, błąd standardowy, testowanie hipotez statystycznych
Zadania ze statystyki, cz.7 - hipotezy statystyczne, błąd standardowy, testowanie hipotez statystycznych Zad. 1 Średnia ocen z semestru letniego w populacji studentów socjologii w roku akademickim 2011/2012
W1. Wprowadzenie. Statystyka opisowa
W1. Wprowadzenie. Statystyka opisowa dr hab. Jerzy Nakielski Zakład Biofizyki i Morfogenezy Roślin Plan wykładu: 1. O co chodzi w statystyce 2. Etapy badania statystycznego 3. Zmienna losowa, rozkład
Analiza Danych Sprawozdanie regresja Marek Lewandowski Inf 59817
Analiza Danych Sprawozdanie regresja Marek Lewandowski Inf 59817 Zadanie 1: wiek 7 8 9 1 11 11,5 12 13 14 14 15 16 17 18 18,5 19 wzrost 12 122 125 131 135 14 142 145 15 1 154 159 162 164 168 17 Wykres
Analiza i monitoring środowiska
Analiza i monitoring środowiska CHC 017003L (opracował W. Zierkiewicz) Ćwiczenie 1: Analiza statystyczna wyników pomiarów. 1. WSTĘP Otrzymany w wyniku przeprowadzonej analizy ilościowej wynik pomiaru zawartości
Copyright 2012 Daniel Szydłowski
Copyright 2012 Daniel Szydłowski 2012-10-23 1 Przedmiot rzeczywisty wykonany na podstawie rysunku prawie nigdy nie odpowiada obrazowi nominalnemu. Różnice, spowodowane różnymi czynnikami, mogą dotyczyć
Wykład Centralne twierdzenie graniczne. Statystyka matematyczna: Estymacja parametrów rozkładu
Wykład 11-12 Centralne twierdzenie graniczne Statystyka matematyczna: Estymacja parametrów rozkładu Centralne twierdzenie graniczne (CTG) (Central Limit Theorem - CLT) Centralne twierdzenie graniczne (Lindenberga-Levy'ego)
Zadania ze statystyki, cz.6
Zadania ze statystyki, cz.6 Zad.1 Proszę wskazać, jaką część pola pod krzywą normalną wyznaczają wartości Z rozkładu dystrybuanty rozkładu normalnego: - Z > 1,25 - Z > 2,23 - Z < -1,23 - Z > -1,16 - Z
Zad. 4 Należy określić rodzaj testu (jedno czy dwustronny) oraz wartości krytyczne z lub t dla określonych hipotez i ich poziomów istotności:
Zadania ze statystyki cz. 7. Zad.1 Z populacji wyłoniono próbę wielkości 64 jednostek. Średnia arytmetyczna wartość cechy wyniosła 110, zaś odchylenie standardowe 16. Należy wyznaczyć przedział ufności
Konspekt SPC jako metoda pomiaru i doskonalenia procesów.
Opracowali: Agata Murmyło Piotr Pokrzywa Michał Sabik Konspekt SPC jako metoda pomiaru i doskonalenia procesów. 1. Istota podejścia SPC. 2. Narzędzia do analizy stabilności procesu 2.1. Karty kontrolne
Analiza wariancji. dr Janusz Górczyński
Analiza wariancji dr Janusz Górczyński Wprowadzenie Powiedzmy, że badamy pewną populację π, w której cecha Y ma rozkład N o średniej m i odchyleniu standardowym σ. Powiedzmy dalej, że istnieje pewien czynnik
MATEMATYKA Z ELEMENTAMI STATYSTYKI LABORATORIUM KOMPUTEROWE DLA II ROKU KIERUNKU ZARZĄDZANIE I INŻYNIERIA PRODUKCJI ZESTAWY ZADAŃ
MATEMATYKA Z ELEMENTAMI STATYSTYKI LABORATORIUM KOMPUTEROWE DLA II ROKU KIERUNKU ZARZĄDZANIE I INŻYNIERIA PRODUKCJI ZESTAWY ZADAŃ Opracowała: Milena Suliga Wszystkie pliki pomocnicze wymienione w treści
Matematyka z el. statystyki, # 6 /Geodezja i kartografia II/
Matematyka z el. statystyki, # 6 /Geodezja i kartografia II/ Uniwersytet Przyrodniczy w Lublinie Katedra Zastosowań Matematyki i Informatyki ul. Głęboka 28, bud. CIW, p. 221 e-mail: zdzislaw.otachel@up.lublin.pl
PODSTAWY WNIOSKOWANIA STATYSTYCZNEGO czȩść II
PODSTAWY WNIOSKOWANIA STATYSTYCZNEGO czȩść II Szkic wykładu 1 Wprowadzenie 2 3 4 5 Weryfikacja hipotez statystycznych Obok estymacji drugim działem wnioskowania statystycznego jest weryfikacja hipotez
STATYSTYKA - PRZYKŁADOWE ZADANIA EGZAMINACYJNE
STATYSTYKA - PRZYKŁADOWE ZADANIA EGZAMINACYJNE 1 W trakcie badania obliczono wartości średniej (15,4), mediany (13,6) oraz dominanty (10,0). Określ typ asymetrii rozkładu. 2 Wymień 3 cechy rozkładu Gauss
Klasa 1 technikum. Poniżej przedstawiony został podział wymagań na poszczególne oceny szkolne:
Klasa 1 technikum Przedmiotowy system oceniania wraz z wymaganiami edukacyjnymi Wyróżnione zostały następujące wymagania programowe: konieczne (K), podstawowe (P), rozszerzające (R), dopełniające (D) i
Testowanie hipotez statystycznych
Agenda Instytut Matematyki Politechniki Łódzkiej 2 stycznia 2012 Agenda Agenda 1 Wprowadzenie Agenda 2 Hipoteza oraz błędy I i II rodzaju Hipoteza alternatywna Statystyka testowa Zbiór krytyczny Poziom
Wykład 2. Statystyka opisowa - Miary rozkładu: Miary położenia
Wykład 2 Statystyka opisowa - Miary rozkładu: Miary położenia Podział miar Miary położenia (measures of location): 1. Miary tendencji centralnej (measures of central tendency, averages): Średnia arytmetyczna
Zmienne zależne i niezależne
Analiza kanoniczna Motywacja (1) 2 Często w badaniach spotykamy problemy badawcze, w których szukamy zakresu i kierunku zależności pomiędzy zbiorami zmiennych: { X i Jak oceniać takie 1, X 2,..., X p }
Walidacja metod analitycznych Raport z walidacji
Walidacja metod analitycznych Raport z walidacji Małgorzata Jakubowska Katedra Chemii Analitycznej WIMiC AGH Walidacja metod analitycznych (według ISO) to proces ustalania parametrów charakteryzujących
Monitorowanie procesów wytwarzania
POLITECHNIKA KOSZALIŃSKA WYDZIAŁ MECHANICZNY kierunek Mechanika i Budowa Maszyn Monitorowanie procesów wytwarzania Ocena zdolności jakościowej procesów Koszalin Umiejętności i kompetencje: Umiejętności
Wykład 9 Wnioskowanie o średnich
Wykład 9 Wnioskowanie o średnich Rozkład t (Studenta) Wnioskowanie dla jednej populacji: Test i przedziały ufności dla jednej próby Test i przedziały ufności dla par Porównanie dwóch populacji: Test i
4) zmienność procesu w czasie wymaga od zespołu jednoczesnego monitorowania dokładności
6. Jeśli dąży się do porównania dwóch wykresów należy pamiętać, aby ich skale były sobie równe. Jeśli jest to niemożliwe ze względu na porównanie wartości bezwzględnych (np. 15 szt. i 150 szt.), trzeba
Rozkłady zmiennych losowych
Rozkłady zmiennych losowych Wprowadzenie Badamy pewną zbiorowość czyli populację pod względem występowania jakiejś cechy. Pobieramy próbę i na podstawie tej próby wyznaczamy pewne charakterystyki. Jeśli
KONSPEKT FUNKCJE cz. 1.
KONSPEKT FUNKCJE cz. 1. DEFINICJA FUNKCJI Funkcją nazywamy przyporządkowanie, w którym każdemu elementowi zbioru X odpowiada dokładnie jeden element zbioru Y Zbiór X nazywamy dziedziną, a jego elementy