Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych



Podobne dokumenty
MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Akademia Sztuk Pięknych w Warszawie, Wydział Konserwacji i Restauracji Dzieł Sztuki, Zakład Badań Specjalistycznych i Technik Dokumentacyjnych

Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów

Metody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT

Współczesne metody badań instrumentalnych

Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego. mgr inż. Katarzyna Kasprzyk

Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni

Laboratorium nanotechnologii

Mikroskopia fluorescencyjna

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

Techniki analityczne. Podział technik analitycznych. Metody spektroskopowe. Spektroskopia elektronowa

LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ

Nowoczesne metody analizy pierwiastków

KATALOG OSTATNICH BADAŃ

Grafen materiał XXI wieku!?

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)

I. Mikroskop optyczny podstawowe informacje. 1. Budowa i rozchodzenie się światła wewnątrz mikroskopu.

Elektronowa mikroskopia. T. 2, Mikroskopia skaningowa / Wiesław Dziadur, Janusz Mikuła. Kraków, Spis treści

Skaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz

Politechnika Gdańska, Inżynieria Biomedyczna. Przedmiot: BIOMATERIAŁY. 13. Metody fizyczne i mechaniczne badań materiałów medycznych

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita

Mikroskopy uniwersalne

6. Badania mikroskopowe proszków i spieków

Widmo promieniowania

2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32

PL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL

O NIEKTÓRYCH SKUTKACH ODDZIAŁYWANIA PROMIENIOWANIA LASERA RUBINOWEGO Z UKŁADEM CIENKA WARSTWA WĘGLIKÓW METALI NA KAPILARNO-POROWATYM PODŁOŻU

Mikroskopia konfokalna: techniki obrazowania i komputerowa analiza danych.

Wyznaczenie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona

Podstawy fizyki wykład 2

Rys. 1. Schemat budowy elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM).

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego. Ćwiczenie 8 Mikroanalizator rentgenowski EDX w badaniach składu chemicznego ciał stałych

Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów

+OPTYKA 3.stacjapogody.waw.pl K.M.

Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000

PL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych

Techniki mikroskopowe

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

Budowa i zasada działania skanera

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force

Ćwiczenie 53. Soczewki

Ekspansja plazmy i wpływ atmosfery reaktywnej na osadzanie cienkich warstw hydroksyapatytu. Marcin Jedyński

Optyka stanowi dział fizyki, który zajmuje się światłem (także promieniowaniem niewidzialnym dla ludzkiego oka).

Optyka instrumentalna

17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D.

POMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 1. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak

WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ

Oferta badań materiałowych

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

Badania komponentów do samolotów, pojazdów i maszyn

S P E K T R O S K O P S Z K O L N Y P R Y Z M A T Y C ZN Y 1

Techniki Jądrowe w Diagnostyce i Terapii Medycznej

ANALIZA POWIERZCHNI BADANIA POWIERZCHNI

Optyka instrumentalna

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

OPTYKA GEOMETRYCZNA I INSTRUMENTALNA

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna 1.

Widmo fal elektromagnetycznych

Opis przedmiotu zamówienia

XRF - Analiza chemiczna poprzez pomiar energii promieniowania X

SCENARIUSZ LEKCJI Temat lekcji: Soczewki i obrazy otrzymywane w soczewkach

Metody analizy pierwiastków z zastosowaniem wtórnego promieniowania rentgenowskiego. XRF, SRIXE, PIXE, SEM (EPMA)

Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki"

Geochemia analityczna. KubaM

Czy atomy mogą być piękne?

WSPÓŁCZESNA TRANSMISYJNA MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA PODSTAWY I MOŻLIWOŚCI TECHNIK S/TEM

Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów

Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman

BADANIE MIKROSKOPU. POMIARY MAŁYCH DŁUGOŚCI

OPTYKA GEOMETRYCZNA I INSTRUMENTALNA

OZNACZANIE ŻELAZA METODĄ SPEKTROFOTOMETRII UV/VIS

Laboratorium Optyki Falowej

Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej

ZAŁĄCZNIKI. do wniosku dotyczącego ROZPORZĄDZENIA PARLAMENTU EUROPEJSKIEGO I RADY

ANALIZA SPECJACYJNA WYKŁAD 7 ANALIZA SPECJACYJNA

BADANIA MIKROSKOPOWE

Matura z fizyki i astronomii 2012

1.3. Poziom ekspozycji na promieniowanie nielaserowe wyznacza się zgodnie z wzorami przedstawionymi w tabeli 1, przy uwzględnieniu:

FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA

Promieniowanie X. Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Optyka. Wykład X Krzysztof Golec-Biernat. Zwierciadła i soczewki. Uniwersytet Rzeszowski, 20 grudnia 2017

Natura światła. W XVII wieku ścierały się dwa, poglądy na temat natury światła. Isaac Newton

Wykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e = = 1 Å

Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej

Metody optyczne w medycynie

Promienie

- 1 - OPTYKA - ĆWICZENIA

MODULATOR CIEKŁOKRYSTALICZNY

LABORATORIUM ZASTOSOWAŃ OPTOELEKTRONIKI

Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą spektrometru siatkowego

Raport z pomiarów FT-IR

Promieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne

POMIAR WIELKOŚCI KOMÓREK

Cząsteczki i światło. Jacek Waluk. Instytut Chemii Fizycznej PAN Kasprzaka 44/52, Warszawa

INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2

Transkrypt:

Techniki mikroskopowe mikroskopia optyczna i fluorescencyjna, skaningowy mikroskop elektronowy i mikroskop sił atomowych Mariusz Kępczyński, p. 148, kepczyns@chemia.uj.edu.pl

Wstęp Plan wykładu mikroskopia optyczna podstawy mikroskopii mikroskopia fluorescencyjna zjawisko fluorescencji zastosowanie w badaniu warstw malarskich Strona internetowa : http://www.microscopyu.com skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM) mikroskop elektronowy zastosowanie w badaniu warstw malarskich mikroskopia sił atomowych (AFM) mikroskop AFM

Wstęp Mikroskopia jest procesem, który jest związany z szczegółowym badaniem obiektu poprzez obserwacje z zastosowaniem światła widzialnego, fluorescencji, podczerwieni, elektronów, promieni x Mikroskop Carl Zeiss (1879)

Wstęp Po co stosować mikroskopy? W celu tzw. uzbrojenia oka, czyli powiększenia obserwowanego obiektu. W ten sposób można zaobserwować szczegóły o rozmiarach nieosiągalnych dla gołego oka.

Wstęp Lupa Najprostszy przyrząd do powiększania obrazu stanowi go jedna soczewka wypukła. Obraz oglądanego obiektu powstaje w odległości dobrego widzenia d (przyjmuje się d = 250 mm). Powiększenie lupy m = d/f

Wstęp Lupa stosunkowo duży obszar obserwacji doskonały przyrząd do wstępnych oględzin, ustalenia metody badań oraz ich kolejności do powiększeń w trakcie prac konserwatorskich do badań spękań, ubytków, przemalowań,

Wstęp Mikroskop Składa się z dwóch elementów powiększających: obiektywu oraz okularu Powiększenie mikroskopu jest iloczynem powiększenia obiektywu i okularu

Mikroskopia optyczna EPI DIA

Mikroskopia optyczna Ważne pojęcia związane z mikroskopią optyczną apertura numeryczna rozdzielczość głębia pola jasność obrazu odległość robocza obiektywu pole widzenia

Mikroskopia optyczna apertura numeryczna (NA) jest wielkością charakteryzującą obiektywy i kondensery i wyraża się równaniem NA = n sin(α) gdzie: n współczynnik załamania światła ośrodka pomiędzy obiektywem a próbką α połowa wartości apretury kątowej obiektywu.

Mikroskopia optyczna rozdzielczość mikroskopu optycznego jest zdefiniowana jako najmniejszej odległości pomiędzy dwoma punktami w obrazie próbki, które ciągle mogą być rozróżnianie. d min = λ 2 NA gdzie λ długość fali światła użytego do obrazowania

Mikroskopia optyczna W badaniach dzieł sztuki stosuje się mikroskopy o różnych powiększeniach małe powiększenia do obserwacji bezpośrednio na obrazie (10 30 ) duże powiększenia do obserwacji próbek pobranych z obrazu (powyżej 100 konieczne pobranie próbki)

Mikroskopia fluorescencyjna Zjawisko fluorescencji

Mikroskopia fluorescencyjna

Mikroskopia fluorescencyjna Specyfikacje dla bloku filtrów Nikon UV-2A Filter dla fali wzbudzającej: 330-380 nm EX 330-380 Cut-on zwierciadło dichroiczne: 400 nm DM 400 Filtr zaporowy: 420 nm cut-on BA 420

Mikroskopia fluorescencyjna studia podyplomowe, 2008

Preparatyka przekrojów warstw malarskich Stratygrafia jest klasyczną metodą badania dawnych obrazów. Jest to jednak metoda inwazyjna, stosowana więc już po rozpoczęciu konserwacji. Wybiera się interesujące miejsca w obrazie - dla porównania takie, gdzie warstwa malarska jest jednoznaczna, i takie, które budzą wątpliwości. Pod mikroskopem skalpelem pobiera się wycinek o powierzchni 0,5-1 mm 2 i otrzymuje z tego miejsca przekrój przez wszystkie warstwy malarskie aż do zaprawy. Następnie można oglądać gęstość zawieszenia ziaren pigmentów w spoiwie, liczbę pigmentów w postaci ziaren, kombinacje pigmentów, sposób ich utarcia, liczbę warstw, itp.

Preparatyka przekrojów warstw malarskich Przygotowanie próbki Próbki z obiektu zabytkowego ekstrahuje się używając skalpela bądź wolframowych igieł pod mikroskopem stereoskopowym.

Preparatyka przekrojów warstw malarskich Mikrofragmenty są następnie umieszczane w żywicy poliestrowej, np. Serifix (Struers) bądź poliepoksydowej i polerowane mechanicznie w celu otrzymania przekrojów.

Analiza warstw malarskich - przykłady Przekrój warstw malarskich obserwowany w mikroskopii optycznej Ten sam przekrój obserwowany w mikroskopii fluorescencyjnej z użyciem bloku filtrowego UV-2A

Analiza warstw malarskich - przykłady Przekrój warstw malarskich obserwowany w mikroskopii optycznej Ten sam przekrój obserwowany w mikroskopii fluorescencyjnej z użyciem bloku filtrowego UV-2A studia podyplomowe, 2008

Skaningowa mikroskopia elektronowa Budowa mikroskopu elektronowego jest podobna do mikroskopu otycznego. Światło z zakresu widzialnego 400 do 700 nm- zostało zastąpione wiązką elektronów. Elektrony z działa elektronowego (filament) przyśpieszane są do energii 100 kv, czemu odpowiada długosc fali 3,7 pm. Obiektyw i okular zbudowane są z układów soczewek magnetycznych.

Skaningowa mikroskopia elektronowa Lampa Źródło Filament Soczewka kondensera Próbka Soczewka obiektywu Obraz pośredni Soczewka projektora Mikroskop optyczny Ekran obserwacyjny Mikroskop elektronowy

Skaningowa mikroskopia elektronowa

Skaningowa mikroskopia elektronowa Skaningowy mikroskop elektronowy z detektorem EDS (Energy Dispersive X- Ray Spectroscopy) pozwala na identyfikację składu pierwiastkowego badanego materiału dla wszystkich pierwiastków o liczbie atomowej większej niż bor. Większość pierwiastków jest wykrywana przy stężeniach rzędu 0,1%. SEM-EDS to badanie umożliwiające analizę każdego ziarenka i ich rozkład w pobranej próbce. Służy do identyfikacji związków nieorganicznych w obrazie (głównie pigmentów). Substancje organiczne (barwniki organiczne, spoiwa werniksy) pozwala określić chromatografia gazowa - w tym przypadku analizie podlegają widma gazów będących efektem spalania próbki.

Skaningowa mikroskopia elektronowa Mapy rentgenowskie Promieniowanie rentgenowskie daje obraz o znacznie gorszej jakości niż obraz elektronowy. Jednym z powodów jest duży obszar oddziaływania, z którego pochodzi rejestrowane promieniowanie rentgenowskie, co powoduje słabszą rozdzielczość Na ogół obrazy rentgenowskie są prezentowane jako mapy. Wiązka analityczna skanuje analizowany obszar punkt po punkcie. Spektrometr jest ustawiany tak, aby rejestrował punkt na analizowanym obszarze, gdy wykryje impuls rentgenowski o energii charakterystycznej dla danego pierwiastka. W ten sposób powstaje mapa odwzorowująca rozmieszczenie tego pierwiastka w badanym obszarze. Nowoczesne systemy EDS potrafią utworzyć mapy w odcieniach szarości, pokazujące względną intensywność impulsu w każdym punkcie, wymaga to jednak zastosowania wystarczająco długiego czasu postoju wiązki w każdym punkcie analitycznym. Podczas jednego przebiegu wiązki analitycznej można zarejestrować mapy rozkładu dla kilkunastu pierwiastków.

Skaningowa mikroskopia elektronowa - przykład S. Roascio, A. Zucchiatti, P. Prati, A. Cagnana Study of the pigments in medieval polychrome architectural elements of Veneto-Byzantine style, Journal of Cultural Heritage 3 (2002) 289 297. Próbki były sortowane pod mikroskopem optycznym w celu wybrania odpowiedniego fragmentu koloru. Następnie były naklejane na aluminiowe dyski przy użyciu taśmy węglowej.

Skaningowa mikroskopia elektronowa Fig. 8. (a) The SEM image of our red paint fragment showing several regular craters on the surface. (b) Encircled is a grain of pigment in the same sample whose EDS spectrum shows the presence of high amounts of Fe. Czerwona farba wykazuje osobliwy aspekt o rozmiarach mikoroskopowych (Fig. 8a) duże kratery, powstałe prawdopodobnie w wyniku odparowania kropelek wody lub powstanie CO 2 w wyniku wypłukiwania węglanu wapnia.

Skaningowa mikroskopia elektronowa Widmo EDS powiększenia ziarna barwnika (Fig. 8b) wskazuje na dużą zawartość Fe 2 O 3 co można oczekiwać dla ochry czerwonej. Brak rtęci oraz niewielka ilość ołowiu wskazuje na nieobecność cynobru (HgS) lub minii ołowiowej (Pb 3 O 4 ) w próbce. The SEM/EDS spectrum of the pigment grain encircled in the SEM image of Fig. 8 right. Ochra naturalny pigment składający się z glinokrzemianów o ogólnym wzorze mal 2 O 3 nsio 2 oraz do 40% uwodnionych tlenków żelaza.

Skaningowa mikroskopia elektronowa R. J.H. Clark, Pigment Identification on Medieval Manuscripts by Raman Microscopy, Journal of Molecular Structure 347 (1995) 417-428

Skaningowa mikroskopia sił (AFM) Dioda laserowa Dźwignia z ostrzem pomiarowym Skaner Próbka Digital Instruments piezoelektryczny

Skaningowa mikroskopia sił (AFM) Zdjęcia z mikroskopu SEM tipów używanych w mikroskopii AFM

Literatura 1. Z. Rozłucka, M. Roznerska, J. Arszyńska, Mikroskopia Fluorescencyjna. Zastosowanie w badaniu budowy i procesów konserwacji malarstwa sztalugowego, Toruń 2000 2. S. Roascio, A. Zucchiatti, P. Prati, A. Cagnana, Study of the pigments in medieval polychrome architectural elements of Veneto-Byzantine style, Journal of Cultural Heritage 3 (2002) 289 297. 3. R. J.H. Clark, Pigment Identification on Medieval Manuscripts by Raman Microscopy, Journal of Molecular Structure 347 (1995) 417-428