ZASTOSOWANIE GEOMETRII FRAKTALNEJ DO OCENY KLASYFIKACJI GRAFITU W ŻELIWIE

Podobne dokumenty
PROPOZYCJA ZASTOSOWANIA WYMIARU PUDEŁKOWEGO DO OCENY ODKSZTAŁCEŃ PRZEBIEGÓW ELEKTROENERGETYCZNYCH

WPŁYW WIELKOŚCI WYDZIELEŃ GRAFITU NA WYTRZYMAŁOŚĆ ŻELIWA SFEROIDALNEGO NA ROZCIĄGANIE

MODYFIKACJA TYTANEM, BOREM I FOSFOREM SILUMINU AK20

ANALIZA KRZEPNIĘCIA I BADANIA MIKROSTRUKTURY PODEUTEKTYCZNYCH STOPÓW UKŁADU Al-Si

KRZEPNIĘCIE KOMPOZYTÓW HYBRYDOWYCH AlMg10/SiC+C gr

LUBELSKA PRÓBA PRZED MATURĄ POZIOM PODSTAWOWY Klasa 2 Klasa 2

OCENA FRAKTALNA POWIERZCHNI KRZEPNIĘCIA

OKREŚLENIE WŁAŚCIWOŚCI MECHANICZNYCH SILUMINU AK132 NA PODSTAWIE METODY ATND.

Krzepnięcie Metali i Stopów, Nr 26, 1996 P Ai'l - Oddział Katowice PL ISSN POCICA-FILIPOWICZ Anna, NOWAK Andrzej

43/59 WPL YW ZA W ARTOŚCI BIZMUTU I CERU PO MODYFIKACJI KOMPLEKSOWEJ NA WŁAŚCIWOŚCI MECHANICZNE ŻELIW A NADEUTEKTYCZNEGO

Ocena kształtu wydziele grafitu w eliwie sferoidalnym metod ATD

ANALIZA KRZEPNIĘCIA I BADANIA MIKROSTRUKTURY STOPÓW Al-Si

WPŁYW PRĘDKOŚCI KRYSTALIZACJI KIERUNKOWEJ NA ODLEGŁOŚĆ MIĘDZYPŁYTKOWĄ EUTEKTYKI W STOPIE Al-Ag-Cu

Wyboczenie ściskanego pręta

KRYTERIA OCENIANIA Z MATEMATYKI W OPARCIU O PODSTAWĘ PROGRAMOWĄ I PROGRAM NAUCZANIA MATEMATYKA 2001 DLA KLASY DRUGIEJ

OCENA JAKOŚCI ŻELIWA SFEROIDALNEGO METODĄ ATD

LUBELSKA PRÓBA PRZED MATURĄ POZIOM PODSTAWOWY Klasa 2 Klasa 2

4. Wyniki bada uzupełniaj cych własno ci stali szybkotn cych

PARAMETRY EUTEKTYCZNOŚCI ŻELIWA CHROMOWEGO Z DODATKAMI STOPOWYMI Ni, Mo, V i B

Badanie rozkładu pola magnetycznego przewodników z prądem

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 121: Termometr oporowy i termopara

ZASTOSOWANIE OCHŁADZALNIKA W CELU ROZDROBNIENIA STRUKTURY W ODLEWIE BIMETALICZNYM

Reprezentacja i analiza obszarów

OKREŚLANIE WŁASNOŚCI MECHANICZNYCH SILUMINU AK20 NA PODSTAWIE METODY ATND

BADANIA ŻELIWA CHROMOWEGO NA DYLATOMETRZE ODLEWNICZYM DO-01/P.Śl.

STATYCZNA PRÓBA ROZCIĄGANIA

MODYFIKACJA SILUMINU AK12. Ferdynand ROMANKIEWICZ Folitechnika Zielonogórska, ul. Podgórna 50, Zielona Góra

Ćwiczenie 3++ Spektrometria promieniowania gamma z licznikiem półprzewodnikowym Ge(Li) kalibracja energetyczna i wydajnościowa

WYMAGANIA NA OCENĘ 12. Równania kwadratowe Uczeń demonstruje opanowanie umiejętności ogólnych rozwiązując zadania, w których:

Zadania do samodzielnego rozwiązania zestaw 11

Reprezentacja i analiza obszarów

Dział I FUNKCJE I ICH WŁASNOŚCI

CEL ĆWICZENIA: Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zastosowaniem diod i wzmacniacza operacyjnego

Załóżmy, że obserwujemy nie jedną lecz dwie cechy, które oznaczymy symbolami X i Y. Wyniki obserwacji obu cech w i-tym obiekcie oznaczymy parą liczb

Ćwiczenie nr 65. Badanie wzmacniacza mocy

ROZKŁAD WIELKOŚCI WYDZIELEŃ GRAFITU W GRUBYM ODLEWIE ŻELIWNYM

PRAWO OHMA DLA PRĄDU PRZEMIENNEGO

ĆWICZENIE NR 1. Część I (wydanie poprawione_2017) Charakterystyka licznika Geigera Műllera

IDENTYFIKACJA CHARAKTERYSTYCZNYCH TEMPERATUR KRZEPNIĘCIA ŻELIWA CHROMOWEGO

PRÓBNY EGZAMIN MATURALNY

METODYKA PRZYGOTOWANIA OCENY JAKOŚCI ŻELIWA SFEROIDALNEGO Z ZASTOSOWANIEM METODY ATD

POLITECHNIKA OPOLSKA

ĆWICZENIA LABORATORYJNE Z KONSTRUKCJI METALOWCH. Ć w i c z e n i e H. Interferometria plamkowa w zastosowaniu do pomiaru przemieszczeń

SKURCZ TERMICZNY ŻELIWA CHROMOWEGO

1. Równania i nierówności liniowe

Akademia Górniczo- Hutnicza Im. Stanisława Staszica w Krakowie

? 14. Dana jest funkcja. Naszkicuj jej wykres. Dla jakich argumentów funkcja przyjmuje wartości dodatnie? 15. Dana jest funkcja f x 2 a x

REJESTRACJA PROCESÓW KRYSTALIZACJI METODĄ ATD-AED I ICH ANALIZA METALOGRAFICZNA

Elementy i obwody nieliniowe

OBRÓBKA CIEPLNA SILUMINU AK132

ROZKŁAD TWARDOŚCI I MIKROTWARDOŚCI OSNOWY ŻELIWA CHROMOWEGO ODPORNEGO NA ŚCIERANIE NA PRZEKROJU MODELOWEGO ODLEWU

w najprostszych przypadkach, np. dla trójkątów równobocznych

Ć W I C Z E N I E N R E-16

LABORATORIUM PODSTAW TELEKOMUNIKACJI

Ćw. nr 1. Wyznaczenie przyspieszenia ziemskiego za pomocą wahadła prostego

Pojęcia, wymagania i przykładowe zadania na egzamin poprawkowy dla klas II w roku szkolnym 2016/2017 w Zespole Szkół Ekonomicznych w Zielonej Górze

ZMĘCZENIE MATERIAŁU POD KONTROLĄ

ZADANIA MATURALNE - ANALIZA MATEMATYCZNA - POZIOM ROZSZERZONY Opracowała - mgr Danuta Brzezińska. 2 3x. 2. Sformułuj odpowiedź.

MATEMATYKA Przed próbną maturą. Sprawdzian 3. (poziom podstawowy) Rozwiązania zadań

Badanie dylatometryczne żeliwa w zakresie przemian fazowych zachodzących w stanie stałym

(a b 1 2); : ( b a + b ab 2 + c ). : a2 2ab+b 2. Politechnika Białostocka KATEDRA MATEMATYKI. Zajęcia fakultatywne z matematyki 2008

Wymagania na egzamin poprawkowy z matematyki w roku szkolnym 2017/2018 klasa pierwsza Branżowa Szkoła

Wymagania na egzamin poprawkowy z matematyki w roku szkolnym 2018/2019 klasa 1 TLog

Maksymilian DUDYK Katedra Technologii Bezwiórowych Filia Politechniki Łódzkiej w Bielsku-Białej Bielsko-Biała, ul. Willowa 2.

POLE TEMPERA TUR W TECHNOLOGII WYKONANIA ODLEWÓW WARSTWOWYCH

ARKUSZ X

LUBELSKA PRÓBA PRZED MATURĄ 09 MARCA Kartoteka testu. Maksymalna liczba punktów. Nr zad. Matematyka dla klasy 3 poziom podstawowy

REJESTRACJA WARTOŚCI CHWILOWYCH NAPIĘĆ I PRĄDÓW W UKŁADACH ZASILANIA WYBRANYCH MIESZAREK ODLEWNICZYCH

METODY CHEMOMETRYCZNE W IDENTYFIKACJI ŹRÓDEŁ POCHODZENIA

KRZEPNIĘCIE STRUGI SILUMINU AK7 W PIASKOWYCH I METALOWYCH KANAŁACH FORM ODLEWNICZYCH

Badanie tranzystorów MOSFET

1.. FUNKCJE TRYGONOMETRYCZNE Poziom (K) lub (P)

26/25 Solidifikation or l\lctals and Alloys, No 26, 1996

Jak poprawnie napisać sprawozdanie z ćwiczeń laboratoryjnych z fizyki?

Wymagania na egzamin poprawkowy z matematyki w roku szkolnym 2018/2019 klasa 1 b BS

Przykładowe zadania z matematyki na poziomie podstawowym. Zadanie 1. (0 1) Liczba A. 3. Zadanie 2. (0 1) Liczba log 24 jest równa

Ćwiczenie nr 43: HALOTRON

Wyznaczanie przenikalności magnetycznej i krzywej histerezy

UZUPEŁNIA ZDAJĄCY miejsce na naklejkę

Przykładowe zadania dla poziomu podstawowego Zadanie 1. Zadanie 2. Zadanie 3. Zadanie 4. Zadanie 5.

Wyznaczanie składowej poziomej natężenia pola magnetycznego Ziemi za pomocą busoli stycznych

WPŁYW CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI MATERIAŁU NA GRUBOŚĆ POWŁOKI PO ALFINOWANIU

1. PRZYGOTOWANIE ROZTWORÓW KOMPLEKSUJĄCYCH

ZADANIA ZAMKNIETE W zadaniach 1-25 wybierz i zaznacz na karcie odpowiedzi poprawna

FUNKCJA LINIOWA. Zadanie 1. (1 pkt) Na rysunku przedstawiony jest fragment wykresu pewnej funkcji liniowej y = ax + b.

PROFIL PRĘDKOŚCI W RURZE PROSTOLINIOWEJ

POLITECHNIKA OPOLSKA

Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 51: Współczynnik załamania światła dla ciał stałych

Laboratorium metrologii

Test na koniec nauki w klasie trzeciej gimnazjum

KLUCZ PUNKTOWANIA ODPOWIEDZI

Karta pracy do doświadczeń

INFILTRACJA POWIETRZA WSPÓŁCZYNNIK a

Ćwiczenie 1: Wyznaczanie warunków odporności, korozji i pasywności metali

PLAN WYNIKOWY Z MAEMATYKI DLA KLASY II GIMNAZJUM do podręcznika MATEMATYKA 2001

PRZYKŁADOWE ZADANIA Z MATEMATYKI NA POZIOMIE PODSTAWOWYM

Zmęczenie Materiałów pod Kontrolą

PRZYKŁADOWY ARKUSZ EGZAMINACYJNY Z MATEMATYKI

Transkrypt:

2/42 Solidification o f Metais and Alloys, Year 2000, Volume 2, Book No 42 Krzepnięcie Metali i Stopów, Rok 2000, Rocznik 2, Nr 42 PAN-Katowice, PL ISSN 0208-9386 ZASTOSOWANIE GEOMETRII FRAKTALNEJ DO OCENY KLASYFIKACJI GRAFITU W ŻELIWIE Edward FRAŚ, Marcin GÓRNY Katedra Odlewnictwa Żeliwa, Akademia Górniczo-Hutnicza ul.reymonta 23, 30-059 Kraków l. WPROW ADZENIE Żeliwo jest typowym przykładem stopu, w którym proces krystalizacji wytwarza szerokie spektrum morfologiczne grafitu. Standardowe metody określania mikrostruktury że li wa podają normy, np. PN-75/H-04661 lub ASTM A- 247. Metody te mają charakter jakościowy i bazują na porównaniu mikrostruktury że li wa z kilkoma wzorcami reprezentującymi kształt grafitu (Gfl + Gf9, wg PN), jego rozmieszczenie (Grl + Gr7, wg PN) oraz wymiary (Gwl5 + GwlOOO, wg PN). Charakterystyka grafitu w odlewie uzyskana przez jego porównanie z wzorcami jest subiektywna i zależy od doświadczenia operatora, zaś wyniki podaje się w postaci symboli, które nie są liczbami. Zastosowanie standardowych metod metalografii ilościowej pozwala okreś li ć takie cechy mikrostruktury jak ilość wydzielei'i n, obwód P, powierzchnię A lub objętość V danej fazy. Do obliczenia obwodu i powierzchni danej fazy wykorzystuje się następujące równania:

26 (l) (2) gdzie: Nr,NA- liczba pikseli, 6- długość piksela. Pomiar obwodu lub powierzchni polega na zliczeniu Nr i NA pikseli, które pokrywają obwód lub powierzchnię badanego obiektu geometrycznego. Równania te są słuszne dla ciał euklidesowskich, np. koła, trójkąty, prostokąty itp. W przypadku ciał o kształcie nieregularnym (rys.l) uzyskany wynik w znacznym stopniu zależy od wymiaru piksela i wówczas równania (l) nie dają zadawalających wyników. Rys. l. Ilustracja do pomiaru obwodu i powierzchni obiektu nieregularnego z wykorzystaniem pikseli o wymiarze 8 Dla obiektów nieregularnych można wykorzystać geometrię fraktalną [l], zgodnie z którą obwód i powierzchnię obiektu określają równania: (l< D < 2 ; 8 111 ; 11 < 8 < 8max) (3) (2 < D < 3 ; 8min < 8 < 8max) (4) gdzie: D- wymiar fraktalny dla obwodu i powierzchni.

27 Obiekt euklidesowy (D=l) nieeuklidesowy ( l < D < 2) Log(8) Rys.2. Zmiany obwodu P obiektu geometrycznego w zależności od wielkości piksela 8 Rysunek 2 pokazuje zależność (l) i (3) w układzie logarytmicznym. Prawdziwą długość obwodu otrzymuje się, gdy 8 ~ O. W praktyce pomiarowej istnieją dwie wielkości graniczne 8min i 8max wymiaru piksela. Gdy 8 < 8min,pomiary obwodu są w niewielkim stopniu zależne od wielkości piksela. Przy 8 > 8max wymiar piksela jest zbyt duży aby otrzymać sensowne wyniki. Dla obiektów euklidesawskich współczynnik kształtu k zdefiniowany jako stosunek P/A 112 nie zależy od wymiaru obiektu i dla koła lub kwadratu wynosi odpowiednio 2n 112 i 4. Natomiast w przypadku obiektów nieregularnych współczynnik kształtu opisuje następujące równanie [2,3] : l po k=--- 1-0 l (l <D <2; 8min < 8 < 8max) (5) Równanie to można przekształcić do następującej postaci: p A2 log-g= D log-g-+ Dlogk l (6) Pomiary obwodu i powierzchni obiektu geometrycznego wykonane przy roznej długości piksela można pogrupować jako bezwymiarowe wielkości P/8 i A 112 /8. Na wykresie logarytmicznym otrzymuje się wówczas linię prostą, którą można aproksymować za pomocą równania y = ax + b, gdzie: y =log P/8, x =log A 112 /8. Wymiar fraktajny jest określony przez współczynnik kierunkowy tej prostej, zatem D = a, za ś współczynnik kształtu obiektu jest dany przez k = l Ob/a

28 2. METODYKA BADAŃ Do badall wykorzystano mikroskop optyczny Leica MEF4M współpracujący z systemem analizy obrazu typu Leica QWin. Pomiary wykonywano w zakresie powiększell od l OOx do 500x dla zbioru wydzielell grafitu oraz w zakresie od l OOx do l OOOx w przypadku pojedynczych wydzieler1 grafitu. Ilościowe pomiary pól powierzchni oraz obwodów wydzielell grafitu polegały na zliczaniu ilości pikseli pokrywających odpowiednio pole lub obwód grafitu, przy czym wielkość 8 pikseli zmieniała się od O, 126 11m do 1,26 11m. Przy analizie uwzględniano wszystkie cząstki grafitu znajdujące się wewnątrz ramki pomiarowej o stałej powierzchni 568811,5 11m 2. I tak, np. aby wyznaczyć wymiar fraktalny D oraz współczynnik k sz tałtu przy powiększeniu 500x ( to jest 8 = 0,251 11m) należało wykonać 25 pomiarów. Badaniami objęto próbki żeliwa z grafitem typu: A- wg ASTM A-247; Gfl, Grl- wg PN 75/H-04661, B- wg ASTM A-247; Gf2, Gr4- wg PN 75/H-04661, E- wg ASTM A-247; Gfl, Gr5- wg PN 75/H-04661, D- wg ASTM A-247; Gfl, Gr6- wg PN 75/H-04661. 3. WYNIKI BADAŃ W tablicy l zestawiono przykładowe wyniki pomiarów dlajednej z próbek żeliwa z grafitem typu A, wg ASTM (Gf1, Gr! -wg PN), służące do wykreślenia funkcji log(p/8) = f(log(a 112 /P)). Wykres tej funkcji pokazano na rysunku 3. Przykładowe zestawienie wyników pomiarów dla grafitu typu A Tablica l L p Pow. Wymiar 8 Pole A Obwód P log( A w/p) Log(P/8)!lm!11TI2!lm l 100 1,26 60 655 35 964 2,291 4,455 2 125 l 56 271 36 465 2,375 4,562 3 200 0,632 50 150 38 754 2,549 4,787 4 500 0,251 46 764 40 847 2,935 5,211

29 6 4.5. t.--".. R 2 = 0.9923 --*' ~ y = 11692x + 17256-4 2 2.2 2.4 2.6 2.8 3 log( A 112 /o) Rys.3. Wykres bezwymiarowych wielko śc i P/o i A 112 /o Linię prostą na tym wykresie można przedstawić za pomocą równania y = 1, 169 x + 1,786 co pozwala okreś li ć wymiar fraktalny D = 1, 169 oraz współczynnik kształtu k=1 0 1 78511 169 =33,60. Wyniki obliczel'l dla pozostałych próbek zestawiono w tablicy 2. Ich analiza wykazuje, że poszczególnym typom struktury można przypisać charakterystyczne grupy wielkości wymiaru fraktalnego i współczynnika kształtu. Na rysunku 4 pokazano kilka przykładowych struktur żeliwa. Zgodnie z normami wszystkie te struktury zalicza się do jednej grupy (D, wg. ASTM lub Gfl,Gr6 wg PN). W rzeczywistości jednak struktury te nie są identyczne i dlatego różnią wymiarem fraktalnym i współczynnik i em kształtu. Tabli ca2 Wymiar fraktalny i współczynnik kształtu grafitu L p Typ grafitu Wymiar fraktajny Współczynnik kształtu D k l A 1,15 35,03 2 A 1,15 35,52 3 A 1,16 33,60 4 B 1,24 23,76 4 B 1,25 20,46 6 B 1,24 17,91 7 E 1,27 15,63 8 E 1,29 14,46 9 D 1,39 9,82 lo D 1,46 7,05 11 D 1,44 7,04 12 D 1,48 6,12

30 D~1.44 ; k~7.04 D~1.39; k~9.82 D~1.46; k~7. 05 Rys.4. Struktura że li wa z grafitem typu D wg ASTM lub Gfl,Gr6 wg PN Rysunek 5 pokazuj e wyniki z tablicy 2. Jego analiza wykazuje, że przejściu od grafitu typu A a następnie kolejno do B, E i D wg ASTM zw i ększa się wymiar fraktajny i pomniejsza współczy nnik kształtu oraz, że zmiany te mają charakter ciągły. 1.6 1.5 1.4 Q 1.3 1.2 1.1 L-e rl--l1 A x B ~ od '-Ox OE <x - lo 100 k Rys.S. Wymiar frakta Jny D i ws p ółczynnik kształtu k dla żeliwa z grafitem typu A,B,E i D, wg ASTM A-247 ( Gfl, Grl; Gf2, Gr4; Gfl, Gr5; Gfl, Gr6, wg PN75/H-04661) przy

31 Na rysunku 6 pokazano wygląd kształtów grafitu otrzymanego w żel iwie sferoidalnym. Interesującym wydaje się podanie charakterystyk tego grafitu wynikających z geometrii fraktajnej. Zmiany wymiary fraktalnego, D w przypadku pojedynczych wydzielell grafitu n1ożemy zaobserwować na rysunku 7 który przedstawia jego z1niany w funkcji współczynnika kształtu k wyznaczonego z równani 6. D= l.oo ;k=3.74 D= 1.0 l; k=3.75 D= 1.03 ; k=3.44 D=!.OS ; k=3.53 D=!.OS; k=3 53 D= 1.07; k=3. 11 D= 1.09; k=2.8 1 D= 1.09; k=3.3 1 D= 1.12: a=3.46 D= 1.12; k=3.08 D= 1.14; k=3.04 D= 1.20; k=2.88 Rys. 6. Zmiany kształtu grafitu i odpowiadające im zmiany wymiaru fraktalnego, D i współczynnika kształtu k Dla pojedynczej euklidesowej kulki współczynnik k osiąga wartość minimalną, równą 2n 112, zaś wymiar fraktajny D=!. W miarę zwiększania się nieregularności grafitu powiększa się wymiar fraktajny D zaś zmniejsza współczynnik kształtu k. l. 2 5 l 2 l. l 5 Cl 1. 1 l. D 5... 2. 5 3 3 5 4 Rys. 7. Zmiana wymiaru fraktalnego, D dla pojedynczych wydzielellgrafitu sferoidalnego w funkcji współczynnika kształtu, k k

32 4. WNIOSKI W pracy wykazano, że takie pojęcia geometrii fraktall1ej jak wymiar fraktalny i współczynnik kształtu można zastosować do ilościowej oceny struktury żeliwa. W przypadku grafitu płatkowego, poszczególnym wzorcom rozmieszczenia grafitu można przypisać charakterystyczne grupy wartości liczbowe wymiaru fraktajnego i współczynnika kształtu. Przy przejściu od grafitu typu A a następnie kolejno do B, E i D ( wg ASTM) zwiększa się w sposób ciągły wymiar fraktalny i pomniejsza współczynnik kształtu grafitu. Podobne zmiany obserwuje się także w miarę zwiększania się nieregularności kształtu grafitu w żeliwie sferoidalnym. LITERATURA l. Peitgen H.O., Jurgens H., Saupe D.: Fraktale, PWN, Warszawa, 1995. 2. Mandelbrot B.B.: The Practal Geometry of Nature, Freeman, New York, 1982. 3. Feder J.: Fractals, Plenum Press, New York. 1988.