Opis przedmiotu zamówienia

Transkrypt

1 Załącznik nr 5 Opis przedmiotu zamówienia 1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu na potrzeby Centrum Badań nad Innowacjami o parametrach: 2. Dostarczony asortyment musi być fabrycznie nowy oraz zgodny z poniższym opisem. 3. Zamawiający przedstawił minimalne parametry techniczne sprzętu, które spełniałyby założone wymagania techniczne i jakościowe, funkcjonalne oraz użytkowe. Wykonawca może zaoferować inny typ sprzętu, ale musi być on równoważny jakościowo do określonego w SIWZ. Oznacza to, że w ofercie nie może być zaoferowany sprzęt o niższym standardzie i gorszych parametrach niż określone w SIWZ. Wykonawca proponujący inny typ sprzętu zobowiązany jest wykazać, że jest on równoważny jakościowo i spełnia wymagane normy, parametry i standardy. W takim przypadku zadaniem Wykonawcy jest wskazanie i udowodnienie wymaganego przez Zamawiającego poziomu, jakości poprzez podanie typów sprzętu, producentów i opisu zawierającego, co najmniej informacje zawarte w opisie przedmiotu zamówienia. W przypadku gorszych parametrów technicznych, jakościowych, funkcjonalnych oraz użytkowych przedmiotu zamówienia oferta Wykonawcy zostanie odrzucona z postępowania. 4. Wykonawca winien dołączyć do oferty specyfikację techniczną potwierdzającą spełnienie przez oferowany sprzęt parametrów podanych w opisie przedmiotu zamówienia. 5. Na oferowany asortyment Wykonawca udzieli gwarancji na okres nie krótszy niż: 5.1. System powinien być objęty przynajmniej 24 miesięczną gwarancją na część mikroskopową miesięcy na lasery. 6. Warunki gwarancji nie mogą nakazywać Zamawiającemu przechowywania opakowań, w których urządzenie zostanie dostarczone (Zamawiający może usunąć opakowania urządzenia po ich dostarczeniu, co nie spowoduje utarty gwarancji, a dostarczony sprzęt mimo braku opakowań będzie podlegał usłudze gwarancyjnej). 7. Przedmiot zamówienia obejmuje dostawę, konfigurację oraz uruchomienie mikroskopu sił atomowych o parametrach niezgorszych niż poniżej wskazane oraz szkolenie osób wskazanych przez Zamawiającego z jego obsługi: 7.1. Tryby Pracy AFM/STM. Wymagane tryby pracy systemu: Tryb kontaktowy Tryb noncontact i kontaktu przerywanego Mikroskopia Sił Bocznych (Lateral Force Microscopy) Obrazowanie Fazowe Mikroskopia Modulacji Siły Mikroskopia Sił Adhezyjnych Litografia AFM i Nanomanipulacja Mikroskopia Sił Magnetycznych (MFM). Strona 1 z 5

2 Mikroskopia Sił Elektrostatycznych (EFM) Skaningowa Mikroskopia Pojemnościowa (Scanning Capacitance) Mikroskopia Sondą Kelvina (Kelvin Probe Microscopy) Obrazowanie Rozkładu Rezystancji (Spreading Resistance Imaging) Spektroskopia AFM Mikroskopia PiezoResponse Spektroskopie Siła-Odległość Skaningowa Mikroskopia Tunelowa (STM) Rozdzielczość SPM: W trybie AFM należy zademonstrować rozdzielczość wynoszącą 2-5 nm na osi XY Należy zademonstrować stopnie atomowe na HOPG w trybie AFM AFM zintegrowany ze spektrometrem ramanowskim: Musi obsługiwać skanowanie próbką (XYZ) Musi być wyposażony w obiektyw 100x z 0.7NA (lub lepszą) by równocześnie obsługiwać (podczas jednego skanu) pomiary topografii AFM i pomiar konfokalny ramanowski. Laser powinien oświetlać próbkę prostopadle do powierzchni oraz zbierać sygnał za pomocą tego samego obiektywu Długość fali lasera systemu detekcji ostrza powinna wynosić przynajmniej 830nm System podwójnego skanu: skanowanie próbki i skanowanie laserem może odbywać się niezależnie, z poziomu jednego oprogramowania, bez potrzeby przełączania kabli. Skanowanie próbką i przez laser powinno być używane do pozycjonowania kantilewera AFM, obszaru próbki i plamki lasera. Skanowanie próbki powinno być użyte do jednoczesnych pomiarów w trybach mapowania AFM i Raman Analiza i uzyskiwanie danych AFM i Raman musi być wykonywane przez jeden program Rozmiar próbki powinien wynosić przynajmniej Ø40x15mm Skanery: Musi zawierać tubowy skaner piezo XYZ do skanowania próbką wyposażony w sensory na osiach X,Y i Z oraz musi działać w trybach zarówno otwartej i zamkniętej pętli Musi obsługiwać zakres skanu co najmniej 90 um w osiach XY i 9 um w osi Z Poziom szumów XY musi wynosić <0.5 nm RMS przy włączonej pętli sprzężenia zwrotnego Nieliniowość X-Y musi wynosić mniej niż 1% Szum sensora Z musi wynosić mniej niż <0.1 nm RMS przy włączonej pętli sprzężenia zwrotnego Kontroler SPM: Kontroler musi zapewniać możliwość skanowania oraz obrazowania matrycy danych w rozdzielczości przynajmniej 1024 x Strona 2 z 5

3 Kontroler musi mieć możliwość pobierania jednoczesnych obrazów z przynajmniej 2 kanałów akwizycji danych w jednym przejściu Trzy 22 bitowe przetworniki DAC dla osi (X, Y, Z) Kontroler musi zapewnić synchroniczną detekcję Amplitudy, RMS i sygnałów fazowych w zakresie częstotliwości od 1 khz do 5 MHz Konfokalny system Ramanowski: Skonfigurowany dla 473, 633nm Spektrometr z nie mniej niż 4 siatkami; w pełni zmotoryzowana zmiana wszystkich siatek; przynajmniej 150l/mm, 600l/mm, 1800l/mm, 2400l/mm Długość spektrometru: nie mniej niż 350 mm Zmotoryzowany filtr ND (Neutral Density) do kontroli mocy lasera Detektor CCD: minimum 1600 x 200 pix, chłodzenie Peltier Konfokalny pinhole, zmienny rozmiar (zmotoryzowany) ciągły od 5 do 1000µm Rozdzielczość w płaszczyźnie XY lepsza niż 400 nm dla lasera 473 nm Skanowanie próbką przy użyciu skanera piezo (dokładność <1 nm), zamknięta pętla sprzężenia zwrotnego Kontrola otoczenia i warunków pracy: Podstawowe tryby AFM (topografia, faza) możliwe do wykonania w cieczy Otwarta komora cieczowa dla pomiarów AFM Kontrola temperatury: Stolik termiczny oraz termokontroler pozwalające na kontrolę temperatury próbki w zakresie od pokojowej do +150C przy równoczesnych pomiarach AFM oraz trybach optycznych i ramanowskich Antywibracyjny stół optyczny o powierzchni roboczej o wymiarach przynajmniej 750 x 1500mm Lasery: Diodowy laser: 473nm, nie mniej niż 50mW Gazowy laser: He-Ne, 632.8nm, nie mniej niż 35mW Dla wszystkich wymienionych długości musi zostać zapewniony światłowodowy system podłączenia oraz zestaw filtrów (Plasma, Edge Filter) Oprogramowanie: Oprogramowanie do obróbki obrazu musi zawierać możliwość analizy przekrojów, analizę chropowatości, analizę rozmiaru, analizę głębi, analizę histogramu, analizę fraktalną i Fourierowską, mieszanie obrazu, autokorekcję, ulepszone narzędzia do filtrowania obrazu Oprogramowanie do obróbki obrazu ma posiadać możliwość wykonywania analizy krzywej siła-odległość, szybkiej analizy Fourierowskiej w 2D, dopasowywania płaszczyzny, musi posiadać filtry przejścia wysokiego i niskiego, zdolność zbliżania i oddalania, opcjonalną siatkę na obrazach i krzywych, zmienny kąt cieniowania i wyświetlania, przechył; pasek kolorów całkowicie definiowany przez użytkownika, menu do przedstawiania serii Strona 3 z 5

4 obrazów Image and data export format to BMP, JPG, TIFF, ASCII format and MatLab System musi posiadać wbudowany język programowania do zautomatyzowania operacji rutynowych i pełnej kontroli nad działaniami SPM, zaprogramowane eksperymenty Mapy Ramanowskie i obrazy AFM muszą być zbierane i analizowane przez to samo oprogramowanie Akcesoria/Instalacja/Gwarancja: Przynajmniej 200 sond dla różnych trybów AFM Przynajmniej 20 sond typu top visual dla równoczesnych pomiarów AFM + Raman Zestaw siatek testowych do kalibracji piezo skanerów (minimum 6 sztuk, typ TGS2 lub równoważny) Zestaw narzędziowy z elementami potrzebnymi do obsługi urządzenia System powinien być objęty przynajmniej 24 miesięczną gwarancją na część mikroskopową oraz przynajmniej 12 miesięcy na lasery Aktualizacje i nowe wersje oprogramowania dostępne bez dodatkowych opłat Możliwości rozbudowy: Możliwość rozbudowy do schematu AFM/Raman w trybie odwróconym. Możliwość rozbudowy o w pełni funkcjonalny zestaw do pomiaru próbek przezroczystych oraz biologicznych zawierający głowicę AFM, skaner zintegrowany z mikroskopem optycznym odwróconym Możliwość rozbudowy o komorę cieczową do pomiaru próbek biologicznych Możliwość równoczesnej współpracy obu schematów (odgórny i odwrócony) z jednym komputerem sterującym, jednym zestawem elektroniki i jednym spektrometrem Dostarczone urządzenie musi spełniać normę 73/23/EEC oraz 89/336/EEC (oznaczenia CE) Szkolenie Wymagane jest przeszkolenie w siedzibie Zamawiającego minimum trzech osób wskazanych przez Zamawiającego Szkolenie musi obejmować omówienie wszystkich funkcjonalności dostarczonego mikroskopu oraz oprogramowania oraz ćwiczenia w praktycznym wykorzystaniu mikroskopu Szkolenie w wymiarze minimum 6 bloków po 6 godzin lekcyjnych każde oraz 2 bloki po 6 godzin ćwiczeń Zamawiający dopuszcza możliwość przeszkolenia pracowników w miejscu wskazanym przez Wykonawcę jednakże koszty związane przejazdem, noclegiem (w hotelu / ośrodku / pensjonacie itp. odpowiadającym standardowi pokoju w hotelu 3 gwiazdkowym) i całodziennym wyżywieniem wszystkich uczestników szkolenia pokrywa Wykonawca. Strona 4 z 5

5 Wykonawca dostarczy 4 kopie (Zamawiającemu oraz uczestnikom szkolenia) poświadczoną za zgodność z oryginałem dokumentacji technicznej i obsługi mikroskopu w języku polskim lub angielskim Wykonawca w okresie gwarancji zapewni wparcie techniczne (help desk): Wykonawca w uzgodnionych z Zamawiających minimum dwóch dniach roboczych każdego tygodnia okresu gwarancji zapewni wsparcie telefoniczne w godzinach 10:00 13: W przypadku złożonych zagadnień zapewni kontakt oraz zagwarantuje, iż wszystkie odpowiedz na zgłoszone pod wskazany adres zagadnienia zostaną odesłane w terminie do trzech dni roboczych od ich wysłania przez Zamawiającego Przystawka biologiczna o parametrach: Pełna kompatybilność z systemem NTEGRA Możliwość połączenia zestawu z systemem NTEGRA w celu rozszerzenia zakresu badań o próbki przezroczyste i pracę w cieczy Układ optyczny w schemacie odwróconym do integracji z systemem NTEGRA Zestaw do integracji systemu NTEGRA, układu optycznego odwróconego oraz spektrometru Głowica skanująca o zakresie skanowania co najmniej 90x90x9 um do pracy w cieczy Zestaw sterujący, umożliwiający rejestrację obserwowanych pod mikroskopem obrazów oraz pracę zdalną o parametrach: Procesor odpowiadający wydajnościowo minimum Intel I-7; Pamięć Ram minimum 8 GB; Dysk twardy SSD minimum 160 GB; Waga maksimum 1,7 kg; Monitor ciekłokrystaliczny z podświetleniem LED maksimum 13 cali (minimum HD); Frame Grabber USB umożliwiający podłączenie mikroskopu i akwizycję obrazów; Inne wymagane funkcjonalnością mikroskopu urządzenia wyjścia/wejścia, służące pracy z mikroskopem; System operacyjny Windows 7, Program antywirusowy minimum 2 letnia licencja, Microsoft Office 2010 (pełna wersja Word, Excel), Origin w wersji 8,5. Strona 5 z 5