NRS-3000 Systems wysoko wydajne spektrofotometry rozpraszającego Raman
|
|
- Agnieszka Włodarczyk
- 8 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 NRS-3000 Systems wysoko wydajne spektrofotometry rozpraszającego Raman Wyższa czułość, niezawodność i łatwość obsługi Mikro-spektrometry serii NRS-3000 wykorzystują najnowsze rozwiązania optyczne oraz technologię ostrego odcięcia dostępnej dla tej gwałtowniej rozwijającej się techniki pomiarów analitycznych. Wykorzystując proste i równocześnie bezpieczne rozwiązania, serie NRS-3000 zapewniają najlepszą na rynku funkcjonalność i szerokie spektrum zastosowania z każdą przystawką ramanowską do analizy próbek chemicznych i biologicznych. Współogniskowy mikroskop zintegrowany jest z komorą pomiaru próbki wyposażoną w zautomatyzowane drzwi. Anastygmatyczny spektrograf o ogniskowej 300 mm wyposażony jest w oprogramowanie umożliwiające przełączanie siatek i chłodzony termoelektrycznie CCD. Spektrometry serii NRS-300 są zaprojektowane tak, by łączyły w sobie najwyższą jakość z łatwością obsługi. Wszystkie udogodnienia, takie jak autoregulacja długości ścieżki lasera, optyka sterowana za pomocą oprogramowania oraz użycie najlepszego oprogramowania, Spectra ManagerTM sprawiają, że nasze urządzenia są łatwe w obsłudze zarówno dla profesjonalisty, jak i dla nowicjusza. Jeden lub dwa stałe lasery wewnętrzne i aż do czterech zewnętrznych, włączając w to opcję lasera UV i jonowego, wszystko bezpiecznie regulowane przy użyciu oprogramowania Urządzenia NRS-3000 są bardzo stabilne operacyjnie dzięki elementom przełączającym wykonanym ze specjalnych stopów oraz klastrowej budowie podstawy, zaprojektowanym w celu zminimalizowania wymaganych codziennych regulacji urządzenia. Systemy NRS-3000 mogą być skonfigurowane z laserami o długości fali od 325 nm do 830 nm i termoelektrycznie chłodzonymi detektorami CCD umożliwiającym osiągnięcie najlepszych wyników. Zdalnie regulowana optyka eliminuje błędy regulacji manualnej i umożliwia łatwą obsługę nawet niedoświadczonym użytkownikom. Kliknięcie myszką umożliwia przełączenie z podglądu próbki na podgląd widma w czasie rzeczywistym lub podgląd zebranych danych.
2 Dwa modele o zaawansowanych właściwościach i opcjach Rozdzielczość: 1 cm -1 (opcja 0.4 cm -1 ) Zakres długości fali lasera opcjonalnego: od widzialnego do bliskiej podczerwieni Zakres widma (przesunięcie ramanowskie przy pobudzeniu 532 nm): cm -1 Detektor CCD: chłodzony powietrzem do -65 C Używając tego samego prostego systemu optycznego, zaprojektowaliśmy rodzinę spektrofotometrów Ramana, które umożliwiają pobór widma zarówno za pomocą prostych, pojedynczych laserów, jak i systemów zaawansowanych o niskiej liczbie falowej i długości fali pobudzającej od głębokiego ultrafioletu do bliskiej podczerwieni. Rozdzielczość: 1 cm -1 (opcja 0.4 cm -1 ) Zakres długości fali lasera opcjonalnego: UV-NIR Dzielnik wiązki laserowej/raman: lustra dwubarwne i/lub dzielnik wiązki różnej długości fal Zakres widma (przesunięcie ramanowskie przy pobudzeniu 532 nm): cm -1 ( cm -1 przy przystawce niskich długości fal) Detektor CCD: chłodzony powietrzem do -75 C Opcja systemu obrazowania Raman Opcjonalny podest ruchomego odwzorowywania jest kontrolowany za pomocą myszki na ekranie lub joysticka. Precyzja urządzenia umożliwia osiągnięcie rozdzielczości 100 nm. NRS-3100 Wyposażony w wysoko wydajny laser 532 nm, detektor CCD chłodzony TE oraz siatkę holograficzną 1800 linii/mm. (żłobków)/mm. Pakiet umożliwiający zminimalizowanie kosztów i doskonały do zastosowania z różnymi przystawkami ramanowskimi. Autoregulacja lasera i pełne wyposażenie do pomiaru próbek są częścią wyposażenia podstawowego. Tryby optyczne oraz operacje odcięcia są sterowane w pełni zdalnie. Dodatkowo można dobrać różne opcje i akcesoria, takie jak drugi laser wewnętrzny lub do czterech laserów zewnętrznych; do trzech wymienialnych siatek; ruchome podest próbki z laserowym ogniskowaniem; wysoką rozdzielczość widma (opcja 0.4cm -1 ); i wiele innych. Operacje nie są przeprowadzone manualnie, a ultrastabilna optyka w połączeniu z zaletami Spectra Manager TM II czynią system mikro-raman banalnie łatwy w obsłudze i równocześnie wysoce wydajny.
3 Obraz widzialny Obraz widzialny przez polaryzator Obraz normalny Kontrast interferencji różnicowej/różniczkowej NRS-3300 Umożliwia przełączenie do trybu niskich długości fali Raman przy zastosowaniu nowoczesnego, łatwego w użyciu oprogramowania sterującego - co dotychczas możliwe było wyłącznie w kompleksowych spektrofotometrach potrójnie rozpraszających o niskiej przepustowości. W przeciwieństwie do innych systemów dostosowanych do określonej długości fali, w serii NRS niskie długości fali są automatycznie konfigurowane za pomocą oprogramowania, w zależności od fali pobudzającej (w przedziale od głębokiej czerwieni do fioletu). W połączeniu z systemem konfokalnym i dodatkowymi aplikacjami, NRS-3300 stanie się podstawowym wyposażeniem na długie lata. Zaawansowane rozwiązania do wielu aplikacji Profilowanie głębokości konfokalnej (współogniskowej) Mikroskop konfokalny zapewnia rozdzielczość głębokości (oś z), ponieważ jest sterowane laserowo. Zmiana głębokości wnikania możliwa jest przez zmianę ogniskowej o parę mikronów.
4 Rozproszenie ramanowskie jest wynikiem interakcji źródła lasera. Rozproszenie to od powierzchni próbki jest kontrolowane trójwymiarowo za pomocą urządzenia, które rejestruje na powierzchni jedynie rozproszenie Raman przyległe do ogniska lasera. Konfokalne mikroskopy ramana dostarczają przestrzennej rozdzielczości o wartości tak niewielkiej jak 2 mikrony przy zastosowaniu obiektywu otworkowego. System konfokalny może być użyty do określenia grubości pojedynczych warstw transparentnych próbek za pomocą prostej zmiany ogniska lasera wzbudzającego. Zanieczyszczenia polimerów żywicznych Spektroskopia Raman zapewnia nieinwazyjną metodę analizy zanieczyszczeń polimerów żywicznych. Spektroskopia w podczerwieni wymaga konieczności usunięcia zanieczyszczeń przed pomiarem próbek polimerów żywicznych. Rysunek poniżej przedstawia pomiar zanieczyszczeń za pomocą spektrometru Ramana serii NRS. Widmo zanieczyszczenia różni się znacząco od widma żywicy. Zastosowanie dwóch pasm ramanowskich umożliwiło uzyskanie obrazu zanieczyszczenia podczas pomiarów odwzorowujących. Rezultaty dowodzą, że zanieczyszczenia zostały zlokalizowane także w obszarach nieuwzględnionych podczas wstępnej obserwacji bezpośredniej.
5 Wyznaczanie wartości polisilikonu Spektroskopia Ramana umożliwia również ocenę / wyznaczenie krystaliczności polisilikonu użytego w podłożach TFT (cienkowarstwowych) w ekranach LCD, ogniwach słonecznych i innych urządzeniach. Analizy wartości szczytowej i połowy szerokości pasm ramanowskich obrazują korelację pomiędzy krystalicznością a rozmiarem cząstek. Rysunek pokazuje wyniki pomiarów odwzorowujących polisilikon na podłożu szklanym, a następnie pomiar dystrybucji wartości szczytowej i połowy szerokości. Uzyskana została informacja o krystaliczności i heterogeniczności cząstek. Węglowe nanorurki jednościenne Rysunek poniżej pokazuje przykład pomiaru nanotuby węglowej jednościennej. Tryb odpowietrzania/oddychania, zależny od średnicy tuby, jest zauważalny przy niskiej długości fal. Tryb ten demonstruje zależność od długości fal pobudzających, a tym samym zależność średnicy tuby od długości fal pobudzających.
6 Opcje optymalizujące rozdzielczość widma Spektograf wielosiatkowy To wyposażony we wszelkie lustra polichromator jednokrotnie rozpraszający, będący równocześnie zmodyfikowaną wersją projektu Czerny-Turner, o ogniskowej 300 mm i precyzyjnym bezpośrednim napędzie mikro-stopniującym. Bez konieczności regulacji, z szybko wymienialnymi filtrami szczelinowymi, z w pełni automatyczną możliwością przełączania lasera umożliwia zmianę długości fal pobudzających w ciągu kilku minut. Istnieje również możliwość wybrania opcji automatycznego filtra szczelinowego z aż siedmioma różnymi długościami fal. Jedna, dwie lub trzy siatki holograficzne na zdalnie sterowanej nadstawce optymalizują rozdzielczość i przepustowość urządzenia: wybierz siatkę z ilością 600, 1200, 1800, 2160 lub 2400 linii/mm. Przy zastosowaniu lasera zielonego (532nm) rozdzielczość może wynieść aż 0.4cm -1 (przy użyciu opcjonalnego detektora i siatki). Te opcje umożliwiają analizę krystaliczności polimerów oraz analizę budowy silikonu. Zakres niskiej liczby falowej cm -1 dla NRS-3300 Opcje detektora CCD Systemy NRS-3000 są skonfigurowane z wysoko wydajnym detektorem CCD (1024 x 128 pikseli) chłodzonym termoelektrycznie; chłodzenie powietrzem do -55 o C. Dodatkowe opcje: dodatkowe chłodzenie do -90 C dla uzyskania wyników o niskich
7 szumach; format wysokiej rozdzielczości; otwarta elektroda, tylne podświetlenie, powłoki NIR i UV dla uzyskania lepszych rezultatów. Laser 532 nm Standardowy laser w pakiecie NRS Pojedynczy laser, o najpopularniejszej i najelastyczniejszej w mikroskopii Ramana długości fal pobudzających, skonfigurowany z detektorem CCD chłodzonym termoelektrycznie to doskonały wybór w analizie materiałów naukowych, farmaceutyków, materiałów elektronicznych, oraz do użycia z innymi aplikacjami. Wysoka rozdzielczość przestrzenna jest osiągnięta dzięki wysokiej jakości wiązki i doskonałej optyce z trzema obiektywami w standardzie. Laser 532 nm umożliwia pomiar pełnego spektrum odmian polimorficznych węgla, takich jak diament w filmach węglowych, jednościenne nanorurki węglowe czy fulleren C 60. Laser 785 nm Kiedy w analizie pojawia się problem fluorescencyjności, rozwiązaniem jest pobudzenie laserem głębokiej czerwieni. Stały laser 785 nm jest popularnym wyborem umożliwiającym tłumienie fluorescencyjności próbki, uzyskanie szerokiego wachlarza rozproszenia ramanowskiego oraz doskonałej przestrzennej i widmowej Rozdzielczości. Systemy NRS mogą być skonfigurowane z laserem 785 nm wewnątrz urządzenia jako dodatek do standardowego lasera 532 nm (przełączanie między nimi wykonywanie jest zdalnie za pomocą lasera). Dodatkowo
8 zastosowane może być lustro dichroiczne, opcja dzielnika wiązki, soczewek NIR, detektora CCD o zwiększonej czułości głębokiej czerwieni. Na przykładzie pokazana jest eliminacja fluorescencyjności dzięki użyciu pobudzenia 785nm.
Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000
Spektrometry Ramana JASCO serii NRS-5000/7000 Najnowsza seria badawczych, siatkowych spektrometrów Ramana japońskiej firmy Jasco zapewnia wysokiej jakości widma. Zastosowanie najnowszych rozwiązań w tej
Bardziej szczegółowoRFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300
RFT-6000 Przystawka FT-Raman do spektrometru FT/IR-6300 Model RFT-6000 został zaprojektowany w celu wykonywania szybkich, nieinwazyjnych analiz FT-Raman właściwie wszystkich możliwych próbek we współpracy
Bardziej szczegółowoPrzewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman
Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy
Bardziej szczegółowoOpis przedmiotu zamówienia
ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie
Bardziej szczegółowoINFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2
RAP.272.87.2014 Wrocław, 13.11.2014r. INFORMACJA DLA WYKONAWCÓW NR 2 Dotyczy: postępowania o udzielenie zamówienia publicznego, prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest
Bardziej szczegółowoSpektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni
Spektroskopia ramanowska w badaniach powierzchni z Efekt Ramana (1922, CV Raman) I, ν próbka y Chandra Shekhara Venketa Raman x I 0, ν 0 Monochromatyczne promieniowanie o częstości ν 0 ulega rozproszeniu
Bardziej szczegółowoRozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności
Rozwiązania firmy Harrer & Kassen do pomiaru gęstości i wilgotności Firma Biosens specjalizuje się w spektroskopii. Od czterech lat dostarcza spektrofotometry do pomiaru barwy (zarówno w laboratorium jak
Bardziej szczegółowoFORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA
FORMULARZ OFERTY-SPECYFIKACJA załącznik nr 1a do SIWZ nr postępowania: BZP.2410.5.2018.BD Postępowanie przetargowe pn.: Dostawa, instalacja i uruchomienie fabrycznie nowego elektronowego mikroskopu skaningowego
Bardziej szczegółowoSpektrofotometr FT-IR WQF-530
Spektrofotometr FT-IR WQF-530 Dzięki doskonałej jakości i wydajności najnowszy model spektrometru IR zapewnia równowagę między wygodą obsługi, efektywnością wykonywanych analiz oraz i niskimi kosztami
Bardziej szczegółowoUCZESTNICY POSTĘPOWANIA
ATI 55, 57/II/LJ/2007 Bielsko-Biała 22.02.2007r. UCZESTNICY POSTĘPOWANIA Dotyczy: Postępowania prowadzonego w trybie przetargu nieograniczonego powyŝej 60 000 euro na: Dostawa spektrofotometru z oprzyrządowaniem
Bardziej szczegółowoSpecyfikacja istotnych warunków zamówienia publicznego
DZPIE/014/2013 Specyfikacja istotnych warunków zamówienia publicznego Przedmiot postępowania: Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym Kod CPV: 38.50.00.00-0 Tryb udzielenia Postępowanie jest prowadzone
Bardziej szczegółowoPL B1. Aberracyjny czujnik optyczny odległości w procesach technologicznych oraz sposób pomiaru odległości w procesach technologicznych
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 229959 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 421970 (22) Data zgłoszenia: 21.06.2017 (51) Int.Cl. G01C 3/00 (2006.01)
Bardziej szczegółowoDrukarki Laserowe CO2 Seria LM
Wszechstronny, przemyslowy laser znakujący Drukarki Laserowe CO2 Seria LM Przedstawiamy Państwu Hitachi LM nową serię wektorowych laserów CO2. Dzięki zróżnicowanej mocy, długości fal i ogniskowej obiektywu
Bardziej szczegółowoMultiSpec Raman: Spektrometr Ramana do zastosowań laboratoryjnych i procesowych
MultiSpec Raman: Spektrometr Ramana do zastosowań laboratoryjnych i procesowych Efekt Ramana powodowany jest przez nieelastyczne rozpraszanie fotonów, kiedy światło wchodzi w interakcję z cząsteczkami.
Bardziej szczegółowoJEDYNY TAKI LASER W POLSCE! TECHNOLOGIA ZNAKOWANIA W KOLORZE!!!
FOLDER PRODUKTU EV40 - Najmocniejszy laser pompowany diodą ciała stałego do stali, plastiku TELESIS NOWY model EV40 jest najnowszym produktem w ofercie Telesis. Skonstruowany do pracy w różnych aplikacjach,
Bardziej szczegółowoWYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ
Warszawa, dnia 17.11.2015r. WYJAŚNIENIE TREŚCI SIWZ Dotyczy przetargu nieograniczonego na: Dostawa stołowego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów
Bardziej szczegółowoSpektrometr XRF THICK 800A
Spektrometr XRF THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK GALWANIZNYCH THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zaprojektowany do pomiaru grubości warstw
Bardziej szczegółowoK-LASER CUBE. NAJMOCNIEJSZY LASER WYSOKOENERGETYCZNY NA RYNKU DO 15W W PRACY CIĄGŁEJ; DO 20W W UNIKATOWYM TRYBIE ISP
K-LASER CUBE NAJMOCNIEJSZY LASER WYSOKOENERGETYCZNY NA RYNKU DO 15W W PRACY CIĄGŁEJ; DO 20W W UNIKATOWYM TRYBIE ISP UNIKATOWA OPCJA dopasowania do cech indywidualnych pacjenta (grubość tkanki tłuszczowej,
Bardziej szczegółowo[X5 Wi-Fi] MINI KAMERA FULL HD DVR... KARTA PRODUKTU 1080 P F U L L WI-FI FUNKCJA SENSOR SONY IMX323 WYSOKA JAKOŚĆ MATERIAŁÓW WYŚWIETLACZ LCD 2,45"
F U L L SENSOR SONY IMX323 WI-FI FUNKCJA [X5 Wi-Fi] MINI KAMERA FULL HD DVR... KARTA PRODUKTU 1080 P WYSOKA JAKOŚĆ MATERIAŁÓW 2,45" WYŚWIETLACZ LCD 2,45" 140 KĄT WIDZENIA 140 APLIKACJA NA SMARTPHONY TRYB
Bardziej szczegółowoPrzenośne spektrometry Ramana
Przenośne spektrometry Ramana Spektroskopia Ramana Spektroskopia Ramana jest nieniszczącą metodą, służącą do identyfikacji substancji chemicznych m.in. narkotyków, substancji wybuchowych, leków, minerałów,
Bardziej szczegółowoPL B1. POLITECHNIKA WROCŁAWSKA, Wrocław, PL
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 228974 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 419599 (51) Int.Cl. A61B 5/00 (2006.01) G01N 21/64 (2006.01) Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (22)
Bardziej szczegółowoSIGMACHECK. Przenośny miernik pomiaru przewodności właściwej prądami wirowymi. TechControl s.c. ul. Gdyńska Racibórz Poland
Przenośny miernik pomiaru przewodności właściwej prądami wirowymi SIGMACHECK Miernik przewodności właściwej Sigmacheck został zaprojektowany w sposób aby zapewnić najdokładniejszy pomiar, oferując użytkownikowi
Bardziej szczegółowoCzęść A - Emisyjny spektrometr optyczny ze wzbudzeniem plazmowym ICP
Sprawa Nr RAP.272. 80. 2014 załącznik nr 6 do SIWZ (pieczęć Wykonawcy) PARAMETRY TECHNICZNE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Nazwa i adres Wykonawcy:... Nazwa i typ (producent) oferowanego urządzenia:... Nazwa przedmiotu
Bardziej szczegółowoTHICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK. THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu.
THICK 800A DO POMIARU GRUBOŚCI POWŁOK THICK 800A spektrometr XRF do szybkich, nieniszczących pomiarów grubości powłok i ich składu. Zoptymalizowany do pomiaru grubości warstw Detektor Si-PIN o rozdzielczości
Bardziej szczegółowoGWARANTOWANA JAKOŚĆ PARY. Parowy nawilżacz powietrza z podgrzewaczem elektrodowym Condair EL. Nawilżanie powietrza i chłodzenie przez parowanie
GWARANTOWANA JAKOŚĆ PARY Parowy nawilżacz powietrza z podgrzewaczem elektrodowym Condair EL Nawilżanie powietrza i chłodzenie przez parowanie Parowy nawilżacz powietrza z podgrzewaczem elektrodowym Dystrybucja
Bardziej szczegółowoParametry kamer termowizyjnych
Parametry kamer termowizyjnych 1 Spis treści Detektor... 2 Rozdzielczość kamery termowizyjnej... 2 Czułość kamery termowizyjnej... 3 Pole widzenia... 4 Rozdzielczość przestrzenna... 6 Zakres widmowy...
Bardziej szczegółowoSPEKTROFOTOMETR UV/Vis T60 firmy PG Instruments
SPEKTROFOTOMETR UV/Vis T60 firmy PG Instruments PG Instruments wieloletni producent spektrofotometrów oraz systemów ASA przedstawia jeden z najbardziej zaawansowanych w swojej klasie spektrofotometrów
Bardziej szczegółowoRepeta z wykładu nr 11. Detekcja światła. Fluorescencja. Eksperyment optyczny. Sebastian Maćkowski
Repeta z wykładu nr 11 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 CCD (urządzenie
Bardziej szczegółowoAutomat bezszablonowy. Le 1000
Automat bezszablonowy Le 1000 1 Nowy standard Poznaj nową generację automatów bezszablonowych 2 Najnowszy model Le 1000 reprezentuje najlepsze tradycje konstrukcyjne firmy NIDEK. Łączy nowatorskie rozwiązania
Bardziej szczegółowoPrzegląd rodziny produktów. InspectorP64x Konfigurowalna. Programowalna. Ekonomiczna. Szybka. SYSTEMY WIZYJNE 2D
Przegląd rodziny produktów InspectorP64x Konfigurowalna. Programowalna. Ekonomiczna. Szybka. Zalety A OWALNA. PROGRAMOWALNA. EKONOZYBKA. B C D funkcjonalność kamer 2D InspectorP6xx za pomocą aplikacji
Bardziej szczegółowoFORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH
Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym
Bardziej szczegółowom 1, m 2 - masy atomów tworzących wiązanie. Im
Dr inż. Grażyna Żukowska Wykorzystanie metod spektroskopii oscylacyjnej do analizy materiałów organicznych i nieorganicznych 1. Informacje podstawowe Spektroskopia Ramana i spektroskopia w podczerwieni
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 31. Zagadnienia: spektroskopia absorpcyjna, prawa absorpcji, budowa i działanie. Wstęp
Ćwiczenie 31 Metodyka poprawnych i dokładnych pomiarów widm absorbancji w zakresie UV-VIS. Wpływ monochromatyczności promieniowania i innych parametrów pomiarowych na kształt widm absorpcji i wartości
Bardziej szczegółowoPromieniowanie podczerwone (ang. infrared IR) obejmuje zakres promieniowania elektromagnetycznego pomiędzy promieniowaniem widzialnym a mikrofalowym.
Próby identyfikacji białego cukru buraczanego i trzcinowego dr inż. Maciej Wojtczak Promieniowanie podczerwone Promieniowanie podczerwone (ang. infrared IR) obejmuje zakres promieniowania elektromagnetycznego
Bardziej szczegółowoTECHNIKI OBSERWACYJNE ORAZ METODY REDUKCJI DANYCH
TECHNIKI OBSERWACYJNE ORAZ METODY REDUKCJI DANYCH Arkadiusz Olech, Wojciech Pych wykład dla doktorantów Centrum Astronomicznego PAN luty maj 2006 r. Wstęp do spektroskopii Wykład 7 2006.04.26 Spektroskopia
Bardziej szczegółowoLCPRO T INTELIGENTNY SYSTEM DO POMIARU WYMIANY GAZOWEJ INTENSYWNOŚCI FOTOSYNTEZY. Możliwość pełnej kontroli mikroklimatu w komorze pomiarowej!
LCPRO T INTELIGENTNY SYSTEM DO POMIARU WYMIANY GAZOWEJ INTENSYWNOŚCI FOTOSYNTEZY Możliwość pełnej kontroli mikroklimatu w komorze pomiarowej! Numer katalogowy: LCpro T OPIS Ekran dotykowy wbudowany odbiornik
Bardziej szczegółowoDWUPASMOWY DZIELNIK WIĄZKI PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO
Janusz KUBRAK DWUPASMOWY DZIELNIK WIĄZKI PROMIENIOWANIA OPTYCZNEGO STRESZCZENIE Zaprojektowano i przeprowadzono analizę działania interferencyjnej powłoki typu beamsplitter umożliwiającej pracę dzielnika
Bardziej szczegółowoMICRON3D skaner do zastosowań specjalnych. MICRON3D scanner for special applications
Mgr inż. Dariusz Jasiński dj@smarttech3d.com SMARTTECH Sp. z o.o. MICRON3D skaner do zastosowań specjalnych W niniejszym artykule zaprezentowany został nowy skaner 3D firmy Smarttech, w którym do pomiaru
Bardziej szczegółowo[HOME] 1080 P KAMERA IP FULLHD/P2P/WI-FI... KARTA PRODUKTOWA WI-FI OBSŁUGA PRZEZ APLIKACJĘ OBROTOWA GŁOWICA OBSŁUGA KART MICRO SD TRYB NOCNY
[HOME] KAMERA IP FULLHD/P2P/WI-FI... KARTA PRODUKTOWA RUCHOMA GŁOWICA 349 H 84 V 1080 P OBSŁUGA WI-FI WI-FI OBSŁUGA PRZEZ APLIKACJĘ OBROTOWA GŁOWICA OBSŁUGA KART MICRO SD TRYB NOCNY [HOME WSZĘDZIE I NA
Bardziej szczegółowo[isee 2] KAMERA IP HD/P2P/WI-FI... KARTA PRODUKTOWA WI-FI WI-FI OBSŁUGA PRZEZ APLIKACJĘ OBROTOWA GŁOWICA OBSŁUGA KART MICRO SD TRYB NOCNY OBSŁUGA
OBSŁUGA RUCHOMA GŁOWICA 349 H 84 V [isee 2] KAMERA IP HD/P2P/WI-FI... KARTA PRODUKTOWA WI-FI OBSŁUGA PRZEZ APLIKACJĘ OBROTOWA GŁOWICA OBSŁUGA KART MICRO SD TRYB NOCNY 720 P WI-FI [isee 2 WSZĘDZIE I NA
Bardziej szczegółowoPomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła
Politechnika Gdańska WYDZIAŁ ELEKTRONIKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Pomiar drogi koherencji wybranych źródeł światła Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Bardziej szczegółowoTECHNOLOGIA 3D - KLUCZ DO TWOJEGO SUKCESU
WWW..PL TECHNOLOGIA 3D - KLUCZ DO TWOJEGO SUKCESU O firmie Zainteresowanie drukiem 3D i pierwsze projekty drukarek wielkoformatowych w technologii FFF rozpoczęliśmy w 2009 roku. Pierwsze modele serii DDDBOT
Bardziej szczegółowoVI. Elementy techniki, lasery
Światłowody VI. Elementy techniki, lasery BERNARD ZIĘTEK http://www.fizyka.umk.pl www.fizyka.umk.pl/~ /~bezet a) Sprzęgacze czołowe 1. Sprzęgacze światłowodowe (czołowe, boczne, stałe, rozłączalne) Złącza,
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 30. Zagadnienia: spektroskopia absorpcyjna w zakresie UV-VIS, prawa absorpcji, budowa i. Wstęp
Ćwiczenie 30 Metodyka poprawnych i dokładnych pomiarów absorbancji w zakresie UV- VS, wyznaczenie małych wartości absorbancji. Czynniki wpływające na mierzone widma absorpcji i wartości absorbancji dla
Bardziej szczegółowoPlan wynikowy (propozycja)
Plan wynikowy (propozycja) 2. Optyka (co najmniej 12 godzin lekcyjnych, w tym 1 2 godzin na powtórzenie materiału i sprawdzian bez treści rozszerzonych) Zagadnienie (tematy lekcji) Światło i jego właściwości
Bardziej szczegółowoZnakowarka FlyMarker PRO
Mark like a Professional Znakowarka FlyMarker PRO Film o nowym produkcie: Zobacz jak działa ręczna znakowarka FlyMarker PRO Mark like a Professional FlyMarker PRO Wersja MOBIL Ręczna znakowarka CNC FlyMarker
Bardziej szczegółowoMarShaft. Urządzenia do pomiaru wałków
MarShaft. Pomiary części typu wałki w produkcji MarShaft MAN Ręczna, stykowa maszyna do pomiaru wałków MarShaft SCOPE. Optyczne urządzenie do pomiaru wałków MarShaft CNC. Automatyczne, stykowe centrum
Bardziej szczegółowoKarta charakterystyki online. C4P-SA18030A detec OPTOELEKTRONICZNE KURTYNY BEZPIECZEŃSTWA
Karta charakterystyki online C4P-SA18030A001200 detec A B C D E F H I J K L M N O P Q R S T Rysunek może się różnić Szczegółowe dane techniczne Cechy Obszar zastosowania Część systemowa Zasięg Wysokość
Bardziej szczegółowoOptyka instrumentalna
Optyka instrumentalna wykład 9 4 maja 2017 Wykład 8 Przyrządy optyczne Oko ludzkie Lupa Okular Luneta, lornetka Teleskopy zwierciadlane Mikroskop Parametry obiektywów, rozdzielczość Oświetlenie (dia, epi,
Bardziej szczegółowourządzenia mikropłytkowe BIOTEK INSTRUMENTS
urządzenia mikropłytkowe BIOTEK INSTRUMENTS BioTek Instruments, Inc. jest amerykańskim producentem oferującym szeroką gamę urządzeń mikropłytkowych. Począwszy od czytników absorbancji (w tym spektrofotometrów),
Bardziej szczegółowoCZUJNIK WIZYJNY ZFV. E a s y v i s i o n Te a c h & G o. » P rz y j a z ny czujnik ko l o rowy
CZUJNIK WIZYJNY ZFV E a s y v i s i o n Te a c h & G o» N a s k a l ę k a ż d e g o s y s t e m u, u n i w e r s a l n y w s t o s o w a n i u» P rz y j a z ny czujnik ko l o rowy» I n t u i c y j n y
Bardziej szczegółowoWartość netto (zł) (kolumna 3x5)
Postępowanie WB.2420.9.2012.NG ZAŁĄCZNIK NR 6 Zadanie nr 2 L.p. Nazwa asortymentu parametry techniczne Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego Cena jednostkowa
Bardziej szczegółowoInstytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI
Instytut Fizyki Doświadczalnej Wydział Matematyki, Fizyki i Informatyki UNIWERSYTET GDAŃSKI I. Zagadnienia do opracowania. 1. Ruchy jąder w cząsteczkach dwu- i wieloatomowych: a) model oscylatora harmonicznego;
Bardziej szczegółowoAparatura do osadzania warstw metodami:
Aparatura do osadzania warstw metodami: Rozpylania mgnetronowego Magnetron sputtering MS Rozpylania z wykorzystaniem działa jonowego Ion Beam Sputtering - IBS Odparowanie wywołane impulsami światła z lasera
Bardziej szczegółowoPomiar prędkości światła
Tematy powiązane Współczynnik załamania światła, długość fali, częstotliwość, faza, modulacja, technologia heterodynowa, przenikalność elektryczna, przenikalność magnetyczna. Podstawy Będziemy modulować
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO
SPECYFIKACJA TECHNICZNA ZESTAWU DO ANALIZY TERMOGRAWIMETRYCZNEJ TG-FITR-GCMS ZAŁĄCZNIK NR 1 DO ZAPYTANIA OFERTOWEGO NR 113/TZ/IM/2013 Zestaw ma umożliwiać analizę termiczną próbki w symultanicznym układzie
Bardziej szczegółowoZadanie nr 1 Dostawa oraz uruchomienie spektrofotometru
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia Załącznik nr 1 do Zaproszenia Zadanie nr 1 Dostawa oraz uruchomienie spektrofotometru 1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa oraz uruchomienie spektrofotometru. 2.
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 1. Zagadnienia: spektroskopia absorpcyjna, prawa absorpcji, budowa i działanie. Wstęp. Część teoretyczna.
Ćwiczenie 1 Metodyka poprawnych i dokładnych pomiarów absorbancji, wyznaczenie małych wartości absorbancji. Czynniki wpływające na mierzone widma absorpcji i wartości absorbancji dla wybranych długości
Bardziej szczegółowoU R Z Ą D Z E N I A D O R E G E N E R A C J I F I L T R Ó W D P F F A P K A T A L I Z A T O R Y A D B L U E D P F A T E G O A C T R O S
U R Z Ą D Z E N I A D O R E G E N E R A C J I F I L T R Ó W D P F F A P K A T A L I Z A T O R Y A D B L U E D P F A T E G O A C T R O S DPF KrugerQDPF2,KQDPF2 - Zaawansowane serwisowanie i obsługa filtra
Bardziej szczegółowoSalon Białołęka. Salon Bemowo. Nazwa: Projektor Panasonic PT-LB3E. Cena: 3 693,00 zł. Producent: Panasonic
Salon Bemowo Powstańców Śląskich 87 lok. U10 B 01-466 Warszawa Tel. (22)427-89-95, (22)398-73-32 Salon Białołęka Kabrioletu 4 03-117 Warszawa Tel. (22)490-31-43, (22)243-36-05 Nazwa: Projektor Panasonic
Bardziej szczegółowoOptymalna zabudowa serwerowni i data center zwiększająca efektywność chłodzenia na przykładzie rozwiązań apra-optinet
Optymalna zabudowa serwerowni i data center zwiększająca efektywność chłodzenia na przykładzie rozwiązań apra-optinet Innowacyjne rozwiązania Piotr Kania p.kania@apra-optinet.pl Tematyka prezentacji Prezentacja
Bardziej szczegółowoPrzedmiotowy system oceniania z fizyki dla klasy III gimnazjum
Przedmiotowy system oceniania z fizyki dla klasy III gimnazjum Szczegółowe wymagania na poszczególne stopnie (oceny) 1. Drgania i fale R treści nadprogramowe Stopień dopuszczający Stopień dostateczny Stopień
Bardziej szczegółowoSCENARIUSZ LEKCJI BIOLOGII Z WYKORZYSTANIEM FILMU. Skąd biorą się kolory?.
SCENARIUSZ LEKCJI BIOLOGII Z WYKORZYSTANIEM FILMU Skąd biorą się kolory?. SPIS TREŚCI: I. Wprowadzenie. II. Części lekcji. 1. Część wstępna. 2. Część realizacji. 3. Część podsumowująca. III. Karty pracy.
Bardziej szczegółowoKarta charakterystyki online WF2-B4210 WF CZUJNIKI WIDEŁKOWE
Karta charakterystyki online WF2-B4210 WF A B C D E F H I J K L M N O P Q R S T Cechy Rysunek może się różnić Wymiary (szer. x wys. x głęb.) Zasada działania Kształt korpusu (wyjście wiązki światła) Szerokość
Bardziej szczegółowohurtowniakamer.com.pl
Kamera Sunell SN-FXP59/21UIR Cena : 382,00 zł (netto) 469,86 zł (brutto) Producent : Sunell Dostępność : Dostępny Stan magazynowy : brak w magazynie Średnia ocena : brak recenzji Utworzono 27-09-2016 Kamera
Bardziej szczegółowoTester tłumienia FiberMASTER firmy IDEAL Industries
Tester tłumienia FiberMASTER firmy IDEAL Industries Tester tłumienia FiberMASTER to zestaw składający się z uniwersalnego miernika mocy optycznej FiberMASTER 33-927 i źródła światła FibeMASTER 33-926.
Bardziej szczegółowoWstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej
Wstęp do Optyki i Fizyki Materii Skondensowanej Część I: Optyka, wykład 3 wykład: Piotr Fita pokazy: Andrzej Wysmołek ćwiczenia: Anna Grochola, Barbara Piętka Wydział Fizyki Uniwersytet Warszawski 2013/14
Bardziej szczegółowoWymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej
Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań
Bardziej szczegółowoUMO-2011/01/B/ST7/06234
Załącznik nr 4 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoREGULATOR PI W SIŁOWNIKU 2XI
REGULATOR PI W SIŁOWNIKU 2XI Wydanie 1 lipiec 2012 r. 1 1. Regulator wbudowany PI Oprogramowanie sterownika Servocont-03 zawiera wbudowany algorytm regulacji PI (opcja). Włącza się go poprzez odpowiedni
Bardziej szczegółowoNasz cel: zapewnić doskonałą widoczność w ciemności. starlight. Dzięki innowacjom zyskuje nową jakość.
Nasz cel: zapewnić doskonałą widoczność w ciemności starlight. Dzięki innowacjom zyskuje nową jakość. 2 Technologia starlight starlight. Dzięki innowacjom zyskuje nową jakość Kamery Bosch z technologią
Bardziej szczegółowoDyspersja światłowodów Kompensacja i pomiary
Dyspersja światłowodów Kompensacja i pomiary Prezentacja zawiera kopie folii omawianych na wykładzie. Niniejsze opracowanie chronione jest prawem autorskim. Wykorzystanie niekomercyjne dozwolone pod warunkiem
Bardziej szczegółowoMikroskopy stomatologiczne AM-3000
Mikroskopy stomatologiczne AM-3000 Mikroskopy serii AM-3000 są diagnostycznymi mikroskopami chirurgicznymi przeznaczonymi do stomatologii i laryngologii. Mikroskopy w standardzie posiadają 5 stopniową
Bardziej szczegółowoRAV TD 1780 BTH 1760 BTH 1780E 1760E URZĄDZENIA DO POMIARU GEOMETRII KÓŁ Z SERII TOTAL DRIVE 1700
od 1958 roku (0) 32-352-40-33, fax (0) 32-254-86-63 (0) 501-567-447, (0) 509-815-919 biuro@autotechnika.net www.autotechnika.net ul. 1-go Maja 79 41-706 Ruda Śląska URZĄDZENIA DO POMIARU GEOMETRII KÓŁ
Bardziej szczegółowoPrzyrządy na podczerwień do pomiaru temperatury
Przyrządy na podczerwień do pomiaru temperatury Seria IR Termometry na podczerwień będą zawsze pierwszym wyborem kiedy potrzebna jest technika pomiaru łącząca prostotę kontroli i dużą dokładność. Wybór
Bardziej szczegółowoZastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D. Katarzyna Goplańska
Zastosowanie deflektometrii do pomiarów kształtu 3D Plan prezentacji Metody pomiaru kształtu Deflektometria Zasada działania Stereo-deflektometria Kalibracja Zalety Zastosowania Przykład Podsumowanie Metody
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 6 I. SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
Załącznik nr 6 OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA WRAZ Z WYCENĄ CZĘŚĆ 6 ZESTAW DO POMIARU WYDAJNOŚCI OPTYCZNEJ METALICZNYCH KAPILAR RENTGENOWSKICH Z WYKORZYSTANIEM MIKROŹRÓDŁA RENTGENOWSKIEGO Dostawa i instalacja
Bardziej szczegółowo2. Metody, których podstawą są widma atomowe 32
Spis treści 5 Spis treści Przedmowa do wydania czwartego 11 Przedmowa do wydania trzeciego 13 1. Wiadomości ogólne z metod spektroskopowych 15 1.1. Podstawowe wielkości metod spektroskopowych 15 1.2. Rola
Bardziej szczegółowoKamera termowizyjna. testo 885 wszechstronna, profesjonalna i precyzyjna. www.testo.com.pl. Rozdzielczość detektora 320x240 pikseli
Kamera termowizyjna testo 885 wszechstronna, profesjonalna i precyzyjna Rozdzielczość detektora 320x240 pikseli SuperResolution rozdzielczość 640x480 pikseli Czułość termiczna
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA. Zakup i dostawa konfokalnego spektrometru ramanowskiego i mikroskopu AFM.
SPECYFIKACJA TECHNICZNA Zakup i dostawa konfokalnego spektrometru ramanowskiego i mikroskopu AFM WYMAGANIA TECHNICZNE Założenia ogólne Przedmiotem zakupu oraz dostawy spektrometr ramanowski z mikroskopem
Bardziej szczegółowoRys. 2. Porównanie charakterystyk widmowych czułości względnej przetwornika EXview HAD CCD oraz konwencjonalnego przetwornika CCD.
Obiektywy day-night W projektowaniu systemów telewizji dozorowej, gdy rozważamy punkt kamerowy, jako jego podstawowy element traktuje się kamerę. I większość definiowanych przez projektanta, użytkownika
Bardziej szczegółowoSkaner Mustek Scan Express
INSTRUKCJA OBSŁUGI Nr produktu 884056 Skaner Mustek Scan Express Strona 1 z 14 Instalacja sterownika skanera TWAIN. Sterownik TWAIN jest modułem skanującym dostarczonym wraz Twoim skanerem. Jest on łatwo
Bardziej szczegółowoĆwiczenie: "Zagadnienia optyki"
Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.
Bardziej szczegółowoGrafen materiał XXI wieku!?
Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?
Bardziej szczegółowoOPTYKA FALOWA I (FTP2009L) Ćwiczenie 2. Dyfrakcja światła na szczelinach.
OPTYKA FALOWA I (FTP2009L) Ćwiczenie 2. Dyfrakcja światła na szczelinach. Zagadnienia, które należy znać przed wykonaniem ćwiczenia: Dyfrakcja światła to zjawisko fizyczne zmiany kierunku rozchodzenia
Bardziej szczegółowoCIENKIE WARSTWY prof. dr hab. inż. Krzysztof Patorski
CIENKIE WARSTWY prof. dr hab. inż. Krzysztof Patorski Nakładając na pewne podłoże (np. powierzchnię soczewki) kilka warstw dielektrycznych (przez naparowanie / napylenie) o odpowiednio dobranych współczynnikach
Bardziej szczegółowoZASTOSOWANIE LASERÓW W OCHRONIE ŚRODOWISKA
ZASTOSOWANIE LASERÓW W OCHRONIE ŚRODOWISKA W tym przypadku lasery pozwalają na prowadzenie kontroli stanu sanitarnego Powietrza, Zbiorników wodnych, Powierzchni i pokrycia terenu. Stosowane rodzaje laserów
Bardziej szczegółowoPrzegląd urządzeń pomiarowych do lamp UV
Przegląd urządzeń pomiarowych do lamp 1. Integratory Dysk A002400 A003371 () A004346 () A003909 () A002915 (-Vis) A004192 (-LED) pełny zakres pomiar dawki y pomiarowe: Dysk Pełny zakres : 250 410 nm (standardowo)
Bardziej szczegółowoSeria tachimetrów GTS-750
Seria tachimetrów GTS-750 www.topcon.com.pl Seria tachimetrów GTS-750 2 1. Tachimetry GTS-750 Jest to następca pierwszej serii tachimetrów Topcona pracujących pod kontrolą systemu operacyjnego Microsoft
Bardziej szczegółowoMODULATOR CIEKŁOKRYSTALICZNY
ĆWICZENIE 106 MODULATOR CIEKŁOKRYSTALICZNY 1. Układ pomiarowy 1.1. Zidentyfikuj wszystkie elementy potrzebne do ćwiczenia: modulator SLM, dwa polaryzatory w oprawie (P, A), soczewka S, szary filtr F, kamera
Bardziej szczegółowoPomnażaj swoje eksperymentalne możliwości. Spektrofotometr UV-Vis Agilent Cary 3500
Pomnażaj swoje eksperymentalne możliwości Spektrofotometr UV-Vis Agilent Cary 3500 Pomnażaj swoje eksperymentalne możliwości Innowacyjny spektrofotometr UV Vis Agilent Cary 3500 przekształci Twoje laboratorium.
Bardziej szczegółowoRoHS-Vision / X-RoHS + SDD
Spektrometr EDXRF do analiz RoHS i w wersji full analysis RoHS-Vision / X-RoHS + SDD Szybka i prosta analiza substancji niebezpiecznych zgodnie z regulacjami prawnymi dotyczącymi ochrony środowiska RoHS
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej
Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki
Bardziej szczegółowoRAV TD 2200E BTH 1850 BTH URZĄDZENIA DO POMIARU GEOMETRII KÓŁ Z SERII TOTAL DRIVE
od 1958 roku (0) 32-352-40-33, fax (0) 32-254-86-63 (0) 501-567-447, (0) 509-815-919 biuro@autotechnika.net www.autotechnika.net ul. 1-go Maja 79 41-706 Ruda Śląska URZĄDZENIA DO POMIARU GEOMETRII KÓŁ
Bardziej szczegółowoPrecyzyjna kamera termowizyjna z unikalnymi funkcjami
We measure it. Precyzyjna kamera termowizyjna z unikalnymi funkcjami testo 885 Zalety testo 885 Rozmiar detektora 320x240 pikseli Dzięki 76.800 punktom pomiaru temperatury obiekt pomiarowy rejestrowany
Bardziej szczegółowoWidmo promieniowania
Widmo promieniowania Spektroskopia Każde ciało wysyła promieniowanie. Promieniowanie to jest składa się z wiązek o różnych długościach fal. Jeśli wiązka światła pada na pryzmat, ulega ono rozszczepieniu,
Bardziej szczegółowoSPECYFIKACJA TECHNICZNA
SPECYFIKACJA TECHNICZNA model obciążenia NEXUS 412A analogowy, 2 obiektywy 0.01-0.025-0.05-0.1-0.2-0.3-0.5-1 kgf (HV) NEXUS 413A analogowy, 3 obiektywy 0.01-0.025-0.05-0.1-0.2-0.3-0.5-1 kgf (HV) NEXUS
Bardziej szczegółowoCzy zamawiający dopuści do przetargu wysokiej klasy aparat renomowanego producenta o maksymalnej dynamice systemu do 255dB?
Stargard Szczeciński, 16.10.2015 r. OFERENCI dotyczy: Przetargu nieograniczonego nr 11/n/do/2015 r. na dostawę, instalację, i uruchomienie aparatu ultrasonograficznego wraz z głowicami dla Pracowni USG
Bardziej szczegółowoKarta charakterystyki online. C2C-SA07530A10000 detec OPTOELEKTRONICZNE KURTYNY BEZPIECZEŃSTWA
Karta charakterystyki online C2C-SA07530A10000 detec OPTOEEKTRONICZNE KURTYNY BEZPIECZEŃSTWA OPTOEEKTRONICZNE KURTYNY BEZPIECZEŃSTWA A B C D E F H I J K M N O P Q R S T Szczegółowe dane techniczne Cechy
Bardziej szczegółowo