ZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH
|
|
- Bartosz Zawadzki
- 6 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 ZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Kierownik: Zespół: dr hab. inż. Andrzej CZERWIŃSKI, prof. nadzw. w ITE aczerwin@ite.waw.pl, tel. (0-22) prof. dr hab. Janina Marciak-Kozłowska, dr hab. inż. Andrzej Misiuk, misiuk@ite.waw.pl, dr hab. inż. Tadeusz Piotrowski, prof. nadzw. w ITE, piotrows@ite.waw.pl, dr inż. Jacek Ratajczak, rataj@ite.waw.pl, dr inż. Adam Łaszcz, laszcz@ite.waw.pl, dr inż. Mariusz Płuska, mpluska@ite.waw.pl, mgr inż. Marek Wzorek, mwzorek@ite.waw.pl 1. Prace prowadzone w 2010 r. W 2010 r. w Zakładzie Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych realizowano następujące projekty naukowe: Charakteryzacja oraz rozwój metod badania materiałów, struktur i przyrządów wytworzonych w procesach mikro- i nanotechnologii elektronicznych. Etap I (projekt statutowy nr ); Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych (projekt badawczy InTechFun, projekt kluczowy w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka, zadania Charakteryzacja materiałów metodami mikroskopii elektronowej oraz Charakteryzacja struktur metodami mikroskopii elektronowej (UDA-POIG /08-01); Charakterystyka multikrystalicznego krzemu modyfikowanego procesami geterowania i pasywacji na potrzeby wytwarzania ogniw fotowoltaicznych (projekt badawczy nr N ). 2. Wpływ wbudowanego pola elektrycznego w strukturach półprzewodnikowych na wyniki badań katodoluminescencji W 2010 r. przeprowadzono badania wykazujące nieznane dotychczas mechanizmy oddziaływania odległych obszarów preparatu na wyniki badań katodoluminescencji (CL). Celem było doprowadzenie do pełnej kontroli wyników badań oraz do otrzymania z nich nieuzyskiwanych do tej pory informacji o preparacie. Badania przeprowadzono na heterostrukturach laserowych AlGaAs/GaAs ze studnią kwantową grubości 8 nm z InGaAs, wytworzonych w procesie epitaksji z wiązek molekularnych w Zakładzie Fotoniki.
2 2 Sprawozdanie z działalności ITE w 2010 r. a) b) CL [j.u.] CL [j.u.] I beam (na) Serie4 400 Serie3 340 Serie2 285 Serie1 179 Serie λ [nm] nm (AlGaAs) 870 nm (GaAs) 980 nm (InGaAs) I beam [na] Rys. 1. a) Widma CL struktury AlGaAs/GaAs ze studnią kwantową InGaAs przy punktowym pobudzaniu wiązką elektronową o energii E beam = = 30 kev i prądzie I beam = 45, 179, 285, 340 i 400 na, b) wykresy wartości maksymalnych poszczególnych pików CL w zależności od wartości prądu I beam Sygnał CL rejestrowany dla obszarów struktury, w których (lub w pobliżu których) nie występuje silne pole elektryczne, jest związany z lokalnymi właściwościami struktury w punkcie pobudzenia i jego najbliższym otoczeniu. Natomiast ten sygnał rejestrowany podczas pobudzania wiązką elektronową obszarów struktury, w których (lub w pobliżu których) występuje silne pole elektryczne, zależy nie tylko od lokalnych właściwości punktu pobudzenia, lecz także od rozkładu rezystancji w całej strukturze, ewentualnie również od dołączonej rezystancji w zewnętrznym obwodzie elektrycznym. Istotnym czynnikiem kształtującym wpływ rezystancji w strukturze półprzewodnikowej na sygnał CL jest wartość prądu wiązki elektronowej I beam. Ilustruje to rys. 1a pokazujący zarejestrowane widma CL podczas punktowego pobudzania struktury wiązką elektronową o różnej wartości prądu I beam. Długość fali dla maksimów emisji z poszczególnych warstw heterostruktury laserowej wynosiła odpowiednio: ok. 705 nm dla AlGaAs, ok. 870 nm dla GaAs i ok. 980 nm dla studni kwantowej InGaAs. Można zauważyć, że zależność inten- sywności emisji od prądu I beam w przypadku studni kwantowej (dla InGaAs) jest wyraźnie inna niż w przypadku warstw GaAs i AlGaAs. Potwierdzają to wykresy przedstawione na rys. 1b, na których widać zależność maksimów poszczególnych pików od wartości prądu wiązki elektronowej. Podczas gdy zależności emisji z warstw AlGaAs i GaAs od prądu wiązki elektronowej mają podobny przebieg (w przybliżeniu liniowy powyżej I beam = 179 na), to w przypadku emisji ze studni kwantowej (znajdującej się w polu elektrycznym złącza p-n) mamy do czynienia z wyraźnie inną charakterystyką. Wykresy przedstawione na rys. 2 świadczą o tym, że za poziom sygnału CL pochodzącego ze studni kwantowej odpowiada rozpływ prądu. Widać, że dla prądu wiązki elektronowej I beam = 259 na zmiana rezystancji w zewnętrznej gałęzi obwodu elektrycznego wpływa w zauważalny sposób wyłącznie na sygnał CL emitowany ze studni kwantowej. Zwarcie wyprowadzeń struktury powoduje całkowite wygaszenie sygnału CL pochodzącego ze studni kwantowej InGaAs. Wygasza
3 Zakład Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych 3 się wobec tego wyłącznie promieniowanie z warstw będących wówczas w silnym polu elektrycznym, gdyż łatwy odpływ prądu EBIC do zewnętrznej gałęzi obwodu elektrycznego nie pozwala na gromadzenie się ładunku i kompensowanie w ten sposób elektrycznego pola złącza. Uwzględnienie wpływu wbudowanego pola elektrycznego na wyniki badań katodoluminescencyjnych w SEM ma istotne znaczenie podczas interpretacji wyników. Na przykład całkowity brak emisji CL z obszarów struktury znajdujących się w polu elektrycznym nie musi świadczyć o silnym zdefektowaniu tych obszarów lub np. o tym, że pewne warstwy nie zostały wytworzone prawidłowo w procesie technologicznym. Aby mieć pełny obraz zjawisk zachodzących w danej strukturze, badania CL na λ [nm] leży przeprowadzać dla różnych wartości prądu wiązki elektronowej. W przypadku badania techniką CL struktur z możliwością dołączenia zewnętrznej gałęzi obwodu elektrycznego zmiana rezystancji w tej gałęzi może pozwalać na odseparowanie sygnału CL pochodzącego z warstw niebędących w polu elektrycznym od sygnału CL pochodzącego z warstw objętych tym polem. Ten pomiar pozwala wyjaśnić, który i jak duży składnik widma CL pochodzi z danych warstw struktury półprzewodnikowej. 3. Określanie przestrzennego rozkładu nośników ładunku z pozornego podczerwonego pola temperaturowego TEM Rozkłady koncentracji nośników ładunku w przyrządach półprzewodnikowych są wyznaczane z ogólnych równań transportu nośników, równania Poissona i równań przewodności cieplnej zapisywanych w trójwymiarowej przestrzeni oraz przyjętych warunków brzegowych opisujących geometrię i początkowe elektryczne parametry przyrządu. W 2010 r. wykazano możliwość wykorzystania pomiarów termowizyjnych bazujących na zmianach emisyjności do ujawniania przestrzennego rozkładu koncentracji nośników prądu w przyrządach półprzewodnikowych oraz określono zakres koncentracji nośników, przy którym można stosować przybliżenia liniowe wiążące gęstość strumienia promieniowania z koncentracją nośników ładunku. Wyniki teoretycznej analizy rozkładu nośników ładunku porównano z wynikami eksperymentalnych pomiarów termowizyjnych. CL [j.u.] open-circuit rozwarcie 44 kohms kω short-circuit zwarcie Rys. 2. Widma CL struktury AlGaAs/GaAs ze studnią kwantową InGaAs zarejestrowane podczas punktowego pobudzania jej wiązką elektronową o energii E beam = 30 kev i prądzie I beam = 259 na dla trzech różnych warunków: przy rozwartych albo zwartych zewnętrznych wyprowadzeniach struktury albo przy rezystanstancji 4 kω dołączonej do wyprowadzeń struktury
4 4 Sprawozdanie z działalności ITE w 2010 r. Struktura badanej planarnej diody p-n podgrzana do temperatury ponad 300 K emituje promieniowanie poza krawędzią absorpcji podstawowej, o długościach fal λ > hc/e g, gdzie h jest stałą Planka, c szybkością światła, E g szerokością przerwy zabronionej. Promieniowanie to jest proporcjonalne do emisyjności ε danego obszaru diody. Obszar bazy diody jest początkowo (bez polaryzacji) stosunkowo przezroczysty dla podczerwieni (2 < λ < 12 μm) (k 0 d << 1), gdzie k 0 jest początkową wartością współczynnika absorpcji, d grubością bazy diody. Przy wzroście koncentracji nośników w tym obszarze (w wyniku wzrostu gęstości prądu przepuszczanego przez złącze) staje się on coraz bardziej absorbujący. Natężenie strumienia promieniowania emitowanego (Thermal Emission, TE) przez bazę diody można zapisać jako Р = εw B, gdzie W B jest natężeniem pro- mieniowania emitowanego przez ciało czarne o temperaturze T w badanym zakresie spektralnym, R współczynnikiem odbicia. Emisyjność ε (1 R)(1 exp( kd)) zależy od grubości bazy d i współczynnika absorpcji k, określonego koncentracjami n i p oraz przekrojami czynnymi na absorpcję elektronów σ n i dziur σ p, zgodnie z przybliżoną zależnością k = σ n n + σ p p. Wstrzykiwane prądem elektrycznym nośniki powodują wzrost absorpcji optycznej w bazie diody, gdy rośnie iloczyn kd, a TE wzrasta do granicy określonej zależnością Р max = (1 R)W B. Dalszy wzrost koncentracji nośników nie powoduje już wzrostu natężenia promieniowania. Dla emisji promieniowania przez planarną strukturę p-n o temperaturze T i emisyjności ε otrzymujemy przybliżoną zależność na natężenie strumienia podczerwonego dla przypadku, gdy nie płynie przez nią prąd elektryczny: P 1 W B (1 R)A(1 exp[ (σ n n 0 + σ p p 0 )d]). (1) Natężenie strumienia promieniowania P 2 docierające do detektora w kamerze termowizyjnej, gdy przez diodę przepływa prąd elektryczny, ma postać: P 2 = W B (1 R)A(1 exp[ (σ n n 0 + σ p p 0 + Δnσ n + Δpσ p )d)]) (2) gdzie Δn, Δp są koncentracjami nośników nadmiarowych wstrzykiwanych prądem. Przyjmując Δn = Δp, otrzymuje się przybliżoną wielkość sygnału różnicowego natężenia strumienia promieniowania P 2 P 1 = ΔP w postaci: ΔP W B (1 R)A*dΔ (σ n + σ p ), (3) gdzie A* jest stałą wynikającą z geometrii, zakresu spektralnego detektora i współczynnika kierunkowego dopasowania prostej. Można przyjąć, że W B, R, d, σ n, σ p są stałe w temperaturze struktury T. Warunki pozwalające zastosować to liniowe przybliżenie, godząc się z błędem < ±20%, wymagają, by (σ n n + σ p p )d < 0,8, co oznacza, że koncentracje n = n 0 +Δn i p = p 0 +Δp nie mogą być bardzo duże. Przyjmując jednakowe przekroje czynne dla elektronów i dziur równe cm 2 i zaniedbując bardzo małe koncentracje równowagowe w bazie badanej diody (~ cm 3 ), otrzymuje się graniczną kon-
5 Zakład Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych 5 centrację cm 3 stosowalności tych przybliżeń. W badanej strukturze maksymalna koncentracja wstrzykiwanych nośników nie przekraczała cm 3. Wyznaczenie bezwzględnej wartości koncentracji nośników nadmiarowych wymaga skalowania w celu wyznaczenia stałej A*. Poznanie rozkładu nośników pozwala zweryfikować rozwiązania konstrukcyjne przyrządu oraz ujawnić defekty krystalograficzne i technologiczne. Można wykorzystać spadek natężenia strumienia promieniowania w funkcji odległości od złącza do wyznaczenia długości drogi dyfuzji nośników ładunku w temperaturze struktury. Obiektem badań była planarna struktura diodowa wytworzona na płytce 2 kω cm FZ n-si o grubości 300 µm w Zakładzie Technologii Mikrosystemów i Nanostruktur Krzemowych. W środku kwadratowego obszaru struktury 6 6 mm 2 wytworzono złącze p + -n (0,5 0,5 mm 2 ), a na obrzeżu tego obszaru złącze n + -n (szerokości 0,5 mm). Tylna powierzchnia struktury z nałożoną warstwą SiO 2 została pokryta warstwa aluminiową stanowiącą lustro dla promieniowania. Strukturę zamontowaną na miedzianym przepuście umieszczono na grzejniku i utrzymywano w stabilizowanej temperaturze 80 o C. Termowizyjne różnicowe obrazy pracującej diody planarnej pokazano na rys. 3. Widać tam wstrzykiwanie nośników nadmiarowych ładunku zarówno od strony złącza p + -n, jak i od strony kontaktu, czyli złącza n + -n. a b Rys. 3. Termowizyjny obraz struktury zapisany przy przepływie impulsu prądu elektrycznego 0,3 A (a) i 0,8 A (b) przy temperaturze 400 K. Nad obrazami pokazano rozkład gęstości strumienia promieniowania (w jednostkach umownych), rejestrowany wzdłuż poziomej linii przechodzącej przez środek struktury. Zarejestrowany obraz pozwala na dokładną ocenę niejednorodności emitowanego promieniowania i jego zależności od geometrii struktury i parametrów rekombinacyjnych. Umożliwia ocenę jakości przeprowadzonego procesu technologicznego i jest wskazówką do wprowadzenia zmian konstrukcyjnych.
6 6 Sprawozdanie z działalności ITE w 2010 r. Z obserwacji termowizyjnych wynika, że czas życia nośników ładunku nie odbiega wyraźnie od przyjętego do symulacji, co potwierdzają profile rozkładu promieniowania przedstawione na rys. 3. Wyznaczona z nich długość drogi dyfuzji wynosi ponad 1 mm, co przy współczynniku dyfuzji dziur w krzemie równym ok m 2 /s określa czas życia nośników ładunku τ > 1 ms. a) b) Rys. 4. a) Teoretyczne profile koncentracji dziur wzdłuż płaszczyzny przechodzącej przez środek struktury dla warunków s = 0 na górnej powierzchni i s = 0 lub 100 cm/s na tylnej powierzchni, b) eksperymentalny profil emitowanego podczerwonego promieniowania. Redukcja promieniowania w obszarach bliskich do granic złączy n-n+ oraz n-p+ wynika z ekranowania tych obszarów metalicznym kontaktem. Na rys. 4 przedstawiono wyniki symulacji dla dwu wartości szybkości rekombinacji powierzchniowej na spodniej stronie struktury, równych 0 i 100 cm/s, przy tym samym czasie życia nośników 1 ms. 4. Badania HRTEM struktury warstw GaSb wytwarzanych metodą MBE na niedopasowanym sieciowo podłożu GaAs Wzrost supersieci InAs/GaSb przeprowadza się głównie z wykorzystaniem podłoża GaSb. W GaSb występuje jednak silna absorpcja promieniowania podczerwonego przez swobodne nośniki. Dlatego przeprowadzane są próby wzrostu warstw GaSb na innych podłożach, np. GaAs. Technologicznym problemem wzrostu na podłożu GaAs jest natomiast ograniczenie gęstości defektów powstających podczas procesu epitaksji. Celem pracy było zbadanie przy użyciu konwencjonalnej (TEM) oraz wysokorozdzielczej transmisyjnej mikroskopii elektronowej (HRTEM) struktury warstw GaSb wytworzonych w Zakładzie Fotoniki na podłożu GaAs o orientacji (100) przy użyciu metody epitaksji z wiązki molekularnej (MBE). Gęstość dyslokacji w warstwie GaSb przy powierzchni materiału, wyznaczona z obrazów planarnych TEM, wynosiła ok cm 2.
7 Zakład Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych 7 Rysunek 5 przedstawia przykładowe obrazy HRTEM przekroju poprzecznego granicy warstwy GaSb oraz podłoża GaAs, na których można wykryć periodyczną sieć dyslokacji na granicy GaAs/GaSb. Zaznaczono zaobserwowane dyslokacje niedopasowania, będące skutkiem występowania nadmiarowej płaszczyzny typu (111) w GaAs w stosunku do płaszczyzn tego typu w GaSb. Zaobserwowana na obrazach HRTEM średnia odległość między dyslokacjami (5,54 nm) świadczy o tym, że w badanych obszarach praktycznie całe naprężenie wy- Rys. 5. Obrazy HRTEM przekroju poprzecznego międzypowierzchni GaAs/GaSb. Strzałkami zaznaczono dyslokacje niedopasowania. nikające z niedopasowania sieci krystalicznej GaSb oraz podłoża GaAs zrelaksowało w postaci dyslokacji niedopasowania. Jednak lokalne odległości między dyslokacjami niedopasowania zmieniają się od 4 do 6,5 nm. Poza dyslokacjami w materiale wykryto też inne defekty powstające podczas wzrostu GaSb w całej objętości warstwy, takie jak mikrobliźniaki. 5. Badania HRTEM i TEM struktur InAs/GaSb Supersieci II rodzaju ze związków InAs/GaSb są stosowane do wytwarzania detektorów podczerwieni. Wykorzystanie supersieci InAs/GaSb umożliwia pracę detektorów w wyższych temperaturach oraz zmianę długości fal rejestrowanego promieniowania poprzez zmianę grubości składowych warstw. Istotne znaczenie ma wyeliminowanie z detektorów szkodliwych dla zdrowia metali ciężkich (Hg i Cd) stosowanych w detektorach HgCdTe. Przy użyciu transmisyjnej mikroskopii elektronowej (w tym wysokorozdzielczej HRTEM) były badane struktury supersieci wytworzonych w Zakładzie Fotoniki metodą epitaksji z wiązki molekularnej (MBE). Zbadano struktury dla czterech wersji technologii różniących się temperaturą procesów epitaksji i sposobem przygotowywania międzypowierzchni kolejnych warstw. Obrazy planarne TEM wykazują, że struktura A045 jest silnie zdefektowana. Defekty występują w postaci skupisk o rozmiarach rzędu jednego mikrometra. Z przekrojów poprzecznych zdefektowanego obszaru wynika, że defekty mają swoje źródło już w obszarze pierwszej międzypowierzchni podłoża i pierwszej składowej warstwy supersieci. Dyslokacje rozciągają się również w głąb podłoża. Struktura A048 na wykonanych obrazach HRTEM i TEM ma najlepszą jakość supersieci InAs/GaSb spośród wszystkich zbadanych struktur. Przekroje poprzeczne, jak i obrazy planarne nie wykazują obecności defektów w materiale. Stwierdzono, że grubości składowych warstw są jednorodne w objętości całej
8 8 Sprawozdanie z działalności ITE w 2010 r. Rys. 6. Obraz HRTEM przekroju poprzecznego struktury A048 badanej struktury. Zmierzone grubości wynoszą 7 8 monowarstw atomowych (ML) oraz ML, odpowiednio dla InAs oraz GaSb. Rysunek 6 przedstawia wysokorozdzielczy obraz przekroju poprzecznego fragmentu struktury A048. Obrazy planarne (rys. 7a) wykazują w strukturze A055 obecność dyslokacji (przykładowe dyslokacje oznaczono na rysunku literą D), błędów ułożenia (oznaczonych jako BU), jak i defektów innego typu (oznaczonych jako X). Defekty te są też widoczne na przekrojach poprzecznych (rys. 7b). Związane jest z nimi wyraźne zaburzenie składowych warstw w obszarach o średnicy rzędu nm. Defekty występujące w strukturze rozpoczynają się już od międzypowierzchni między podłożem i pierwszą warstwą supersieci. a) b) Rys. 7. Struktura A055: a) obraz planarny TEM, b) przekrój poprzeczny TEM (literą X oznaczono defekt obserwowany wcześniej na preparatach planarnych). 6. Badania kwantowych fotowoltaicznych struktur krzemowych Struktury oparte na obecności nanowytrąceń krzemowych w strukturze azotku krzemu są badane ze względu na ich perspektywiczne zastosowanie w wielu dziedzinach, m. in. w optoelektronice i fotowoltaice Celem pracy było opracowanie metodyki pomiarowej do oceny i szczegółowej charakteryzacji procesów technologicznych wytwarzania wytrąceń krzemowych o rozmiarach kropek kwantowych. Podjęto je i wykonano w ramach prac nad wy-
9 Zakład Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych 9 tworzeniem taniego materiału o szerszej niż lity krzem szerokości przerwy zabronionej, który mógłby być zastosowany do wytworzenia specjalizowanych ogniw fotowoltaicznych. Prace technologiczne wytworzenia wielowarstwowych struktur kwantowych prowadzono w Zakładzie Technologii Mikrosystemów i Nanostruktur Krzemowych. Do wytworzenia wielowarstwowego naprzemiennego układu warstw amorficznego azotku krzemu a-sin x :H (na przemian warstw azotku stechiometrycznego i przesyconego krzemem) wykorzystano metodę PECVD stosowaną do nakładania niskotemperaturowych warstw pasywujących. W warstwach o zwiększonej zawartości Si poddawanych wygrzewaniu można wytworzyć niskowymiarowe struktury krystaliczne (typu kropek kwantowych), w których wyraźnie widoczne są zachodzące zjawiska kwantowe. Rozmiary tych nanocząstek zależą zarówno od stosunku przepływu gazów zastosowanym przy wytwarzaniu warstwy, jak i od grubości warstw izolatora i parametrów wygrzewania. Katodoluminescencja (CL) była wykorzystana m. in. do oszacowania rozmiarów nanocząstek. Na rys. 8 widać widma CL warstwy azotku krzemu wytworzonej z nadmiarem Si i wygrzanej w 1100 o C w celu uzyskania nanocząstek krzemowych. Maksymalna intensywność CL przypada dla długości fali λ = 350 nm (światło niebieskie), niezależnie od stosunku przepływu gazów R = [NH 3 ]/[SiH 4 ] stosowanych do wytworzenia warstw. Tej długości fali odpowiada energia fotonów E o 3,5 ev. Oprócz tego silnego piku występują jeszcze dwa słabsze maksima dla energii fotonów E o 3,1 ev (λ o 400 nm) i E o 1,9 ev (λ o 650 nm ). Trzy widma odpowiadają różnym stosunkom przepływu gazów R = = [NH 3 ]/[SiH 4 ], mianowicie 0,2; 1 oraz 10. Rys. 8. Natężenie katodoluminescencji w funkcji długości fali światła dla warstw SiN x :H osadzanych na szkle i wygrzanych w 1100 o C przez 1 godz. Badane warstwy miały współczynniki załamania w granicach 1,8 3,0 w zależności od stosunku przepływu silanu do amoniaku (NH 3 /SiH 4 ) lub azotu do silanu (N 2 /SiH 4 ). Energia emisji dla niskowymiarowych struktur krzemowych w zależności od rozmiaru nanocząstek d jest przesunięta w kierunku krótszych fal w stosunku do szerokości przerwy energetycznej Si. Do wyznaczenia rozmiaru d zastosowano przybliżoną zależność (T.-Y. Kim i in., Appl. Phys. Lett. 85, 5355, 2004) : d = 3,44/(E E 0 ) 0,5. (4) Krystaliczna struktura wytworzonych nanocząstek została potwierdzona w badaniach HRTEM. Obliczone rozmiary nanocząstek Si, odpowiadające maksimom
10 10 Sprawozdanie z działalności ITE w 2010 r. Rys. 9. Obrazy HRTEM wytworzonych warstw wraz z widocznymi w warstwach niestechiometrycznego azotku krzemu wytrąceniami krzemowymi o wymiarach ok nm. Przykładowe wytrącenia wskazano strzałkami. Widoczna struktura krystaliczna tych nanocząstek w odróżnieniu od otaczającego materiału amorficznego. Rys. 10. Pomiary SPV wielowarstwowych struktur azotku krzemu na krzemie po procesach wygrzewania w temperaturze 1000 lub 1100 o C wyznaczonym w badaniach CL, wynoszą zgodnie ze wzorem (4) odpowiednio ok. 2,23; 2,44 i 3,89 nm. Badaniom przy użyciu wysokorozdzielczej transmisyjnej mikroskopii elektronowej (HRTEM) poddano strukturę składającą się z 20 par warstw azotku krzemu o grubości 3 nm każda (warstwa niestechiometryczna Si x N y, współczynniku załamania n = 3,2) oraz 6,4 nm (warstwa stechiometryczna Si 3 N 4, n = = 1,86), nałożonych na płytkę krzemową FZ i wygrzewanych w temperaturze 1100 o C przez 20 min. w celu uzyskania nanowytrąceń krzemowych. Wykonany obraz HRTM (rys. 9) pozwala na określenie wymiarów wytrąceń krzemowych widocznych tutaj jako obszary o krystalicznej strukturze krzemowej. Marker na zdjęciu wyznacza rozmiar 2 nm. Pomiary te pokazują możliwość uzyskania struktury kwantowej o wytrąceniach z rozmiarami rzędu 3 10 nm przy wykorzystaniu technologii nakładania warstw stosowanej w ITE. Badania powierzchniowego efektu fotowoltaicznego (SPV) prowadzono dla wielowarstwowych struktur azotku krzemu różniących się wymiarami (rys. 10). Oznaczenie I odpowiada dwuwarstwie 3 nm Si x N y i 6 nm Si 3 N 4, natomiast oznaczenie II dwuwarstwie 2 nm Si x N y i 2 nm Si 3 N 4. Warstwy otrzymane przy użyciu opisanej technologii wygrzewano w temperaturze 1000 lub 1100 C. Jako próbkę odniesienia mierzono płytkę krzemową z pojedynczą stechiometryczną warstwą azotku krzemu o grubości 80 nm. 7. Badanie warstw PtSi do zastosowań jako źródło/dren w tranzystorach MOS o niskiej barierze Schottky ego Celem prac była kompleksowa charakteryzacja mikrostruktury krzemku platyny oraz granic fazowych krzemek/si po kolejnych procesach technologicznych przy użyciu różnych technik transmisyjnej mikroskopii elektronowej.
11 Zakład Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych 11 Jednym ze sposobów obniżenia wysokości bariery Schottky ego jest wprowadzenie domieszki za pomocą implantacji do obszarów granicznych PtSi-Si. Wyróżnia się tutaj dwa procesy: (1) wprowadzenie domieszki do warstwy metalu przed wygrzewaniem powodującym wytworzenie warstwy PtSi (Implantation Through the Metal proces ITM) lub (2) wprowadzenie domieszki do wytworzonej już warstwy PtSi (Implantation Through the Silicide proces ITS). Zastosowanie procesu ITS wymaga dodatkowego procesu wygrzewania poimplantacyjnego, którego celem jest aktywacja samej domieszki. Warstwy krzemku platyny zostały wytworzone poprzez wygrzewanie przez 2 min. (dla każdej ze struktur) w temperaturze 300 C warstwy platyny grubości 20 nm osadzonej na podłożu Si. Do wprowadzenia domieszki do obszarów granicznych PtSi-Si zastosowano procesy implantacji: ITM oraz ITS. Dawka implantacji dla obu przypadków była jednakowa: cm 2 przy energii 20 kev. Dla procesu ITS wygrzewanie poimplantacyjne przeprowadzono przez 5 min. w dwóch różnych temperaturach: 400 i 500 C. Badania wykazały, że bez względu na rodzaj procesu w każdym przypadku cała warstwa Pt (20 nm) całkowicie reaguje z Si już podczas wygrzewania w 300 C, tworząc warstwę krzemku platyny grubości ok. 40 nm. W warstwach tych są widoczne duże ziarna (rys. 11), które wypełniają całą grubość warstw krzemkowych. Jednakże morfologia warstw krzemkowych jest różna i zależy od przeprowadzonego procesu implantacji i dodatkowych wygrzewań poimplantacyjnych. Ziarna w warstwie krzemku struktury Pt/Si po procesie ITM i wygrzewaniu w 300 C są nieregularne i mają ostre kształty (rys. 11a). Taki kształt ziaren wpływa na nierówność powierzchni warstwy krzemku oraz na jakość granicy fazowej krzemek/si, która jest bardzo nierówna po procesie ITM i przeprowadzonym wygrzewaniu w 300 C. Nierówność powierzchni warstwy krzemku, jak i granicy fazowej krzemek/si w próbce wygrzewanej w 300 C, a następnie poddanej procesowi implantacji (ITS) jest znacznie mniejsza (rys. 11b) niż po procesie ITM i wygrzewaniu w 300 C. Również kształt ziaren w warstwie krzemku jest bardziej regularny niż przypadku próbki ITM. Na obrazie struktury Pt/Si po procesie ITS i wygrzewaniu poimplantacyjnym w 400 C (rys. 11c) nie obserwuje się zmiany mikrostruktury warstwy krzemku w porównaniu do próbki po procesie ITS bez dodatkowego wygrzewania. Grubość warstwy krzemku, kształt ziaren, jakość granicy fazowej są porównywalne w obu przypadkach. Widać, że dodatkowe wygrzewanie w 400 C ma znikomy wpływ na strukturę wytworzonego wcześniej krzemku platyny. W przypadku struktury Pt/Si po ITS i wygrzewaniu w 500 C (rys. 11d) następuje zmiana mikrostruktury warstwy krzemku platyny. Ziarna krzemku są bardziej regularne niż w próbce po procesie ITS i wygrzewaniu w 400 C i mają kształt zbliżony do kwadratów i prostokątów. Badaniom składu chemicznego metodą spektroskopii dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego (EDXS) poddano próbki po procesach ITM i ITS, gdzie formowanie się krzemku platyny odbywało się przez wygrzewanie w 300 C, oraz
12 12 Sprawozdanie z działalności ITE w 2010 r. próbkę po procesie ITS i wygrzewaniu w 500 C. Badania pokazały, że stosunek koncentracji atomów Pt:Si w krzemku wynosi prawie 50:50. Rys. 11. Obrazy TEM struktur Pt/Si po różnych procesach technologicznych: a) po procesie ITM i wygrzewaniu w 300 C, b) po wygrzewaniu w 300 C i bezpośrednio po procesie ITS, c) po wygrzewaniu w 300 C, procesie ITS i wygrzewaniu w 400 C, d) po wygrzewaniu w 300 C, procesie ITS i wygrzewaniu w 500 C Dla wszystkich rodzajów próbek, w których zastosowano procesy ITS (próbki bez i z dodatkowym wygrzewaniem w 400 i 500 C), została przeprowadzona także analiza dyfrakcyjna warstwy krzemku, która wykazała, że w każdej z próbek tworzy się rombowa faza PtSi. Zmierzona wysokość bariery Schottky ego w obszarze PtSi-Si dla próbki po procesie ITM jest równa 0,13 ev. Podobny wynik (0,12 ev) otrzymano dla próbki po procesie ITM i wygrzewaniu poimplantacyjnym w 400 o C. Jednak zastosowanie procesu ITS z wygrzewaniem poimplantacyjnym w 500 C powoduje już znaczne obniżenie wysokości bariery Schottky ego do wartości 0,082 ev (G. Larrieu, E. Dubois, R. Valentin, N. Breil, F. Damneville, G. Dambrine, J. P Raskin, J. C. Pesant, IEDM Tech. Dig., 147, 2007). Z wykonanych badań wynika, że różnice w wysokości bariery Schottky ego między próbkami po różnych procesach technologicznych (ITM, ITS bez i z wygrzewaniem poimplantacyjnym) są silnie związane z obserwowaną mikrostrukturą obszaru PtSi/Si. Dlatego badania mikrostruktury obszaru PtSi/Si po tych procesach były istotne dla optymalizacji technologii wytwarzania nowoczesnych układów z tranzystorami typu MOS z niską barierą Schottky ego. 8. Badania wpływu wysokich ciśnień-temperatur na strukturę Cz-Si zaburzoną przez implantację, napromieniowanie elektronami lub neutronami We współpracy z licznymi zespołami zewnętrznymi badano właściwości strukturalne i pochodne próbek. Typowe badane materiały zestawiono w tab. 1. Efektem prac w okresie było 8 publikacji (w tym 2 w pismach z listy filadelfijskiej) oraz 5 artykułów zgłoszonych do druku (w tym 3 w pismach z listy filadelfijskiej). Przygotowano 13 prezentacji na konferencjach międzynarodowych (w tym 5 referatów).
13 Zakład Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych 13 Próbka Energia E [kev] Tabela 1. Badane próbki Dawka D [cm 2 ] Zasięg implantowanych jonów R p [nm] Si:He ASi:N BSi:N 140 1, ASi:Si BSi:Si CSi:Si ASi:O BSi:O Si:V Si:Mn GaSb:Mn Próbki referencyjne Ponadto prowadzono badania wpływu HT-HP na strukturę: warstw cienkich: SiN x, SiO x i podobnych, próbek Cz-Si napromieniowanych elektronami lub neutronami, roztworów stałych Si-Ge. Właściwości próbki Si:O,H Na szczególną uwagę zasługuje zbadanie wpływu HT-HP na strukturę BSi:O o dawce implantowanego tlenu zbliżonej do stosowanej w tzw. strukturach SIMOX. Stwierdzono m. in., że struktura (rys. 12), zawartość i profil koncentracji wodoru Rys. 12. Mapy sieci odwrotnej próbek BSi:O: A wykonanej z implantowanego (as-implanted) BSi:O poddanego niskotemperaturowemu wygrzaniu w plazmie wodorowej; B wykonanej z BSi:O wygrzanego przez 5 h w 1230 K pod ciśnieniem 1,0 GPa, wygrzanej w plazmie wodorowej i kolejno wygrzanej przez 1 h w 723 i 973 K pod ciśnieniem argonu 10 5 Pa. Osie w jednostkach sieci odwrotnej (rlu).
14 14 Sprawozdanie z działalności ITE w 2010 r. Rys. 13. Zmierzone metodą SIMS profile wodoru i tlenu w próbce BSi:O,H wykonanej z BSi:O wygrzanego przez 10 h w 923 K pod ciśnieniem 10 5 Pa Rys. 14. Zmierzone metodą SIMS profile wodoru i tlenu w próbce BSi:O,H wykonanej z BSi:O (D = cm -2 ) wygrzanego przez 5 h w 1570 K pod ciśnieniem 10 7 Pa, po dodatkowym wygrzaniu przez 1 h w 873 K pod ciśnieniem 1,1 GPa w obrębie głębszych obszarów próbek BSi:O,H, wykonanych poprzez nawodorowanie uprzednio wygrzanych w K próbek BSi:O, zależą od profilu koncentracji (rys. 13) implantowanego tlenu i od ciśnienia HP stosowanego przy wstępnym wygrzaniu Si:O. Wodór akumulowany w pobliżu R p w próbkach Si:O,H pozostaje wykrywalny nawet po wygrzaniu struktur Si:O,H w temperaturze 873 K (rys. 14). Właściwości próbki Si:V Próbki Si:V badano m. in. metodami mikroskopii elektronowej (TEM), SIMS, rentgenowskimi oraz synchrotronowymi (na eksperymentalnych stanowiskach F1 i F2 synchrotronu DORIS III w HASYLAB, DESY, Hamburg). W wyniku implantacji V + w próbkach Si:V może zostać wytworzona amorficzna warstwa zagrzebana (a-si). Taka warstwa powstaje w pobliżu R p w warunkach przekroczenia krytycznej wartości wprowadzonej energii. Maksymalna koncentracja wanadu w implantowanym Si:V (D = cm 2 ) sięga poziomu ok. 0,1 at.% przy braku znaczących nieregularności koncentracji. Implantowany Si:V ma strukturę warstwową. Topogramy synchrotronowe wykazują obecność stosunkowo znacznego kontrastu. Amorficzny obszar a-si zostaje uformowany w pobliżu R p. W warunkach wygrzewania próbek Si:V pod ciśnieniem atmosferycznym, jak również w warunkach HP obszar a-si ulega efektowi Solid Phase Epitaxial Regrowth (SPER). Wygrzanie Si:V w 723 K powoduje zauważalne zmiany profili koncentracji. Wykazuje ona maksimum w pobliżu R p osiągając poziom ok. 0,6 at.% (rys. 15). Formowanie fazy o składzie VSi 2 i jeszcze wyraźniejsze SPER są obserwowane w przypadku obróbki Si:V w HT 900 K. Zazwyczaj maksymalna koncentracja wanadu była obserwowana poniżej R p, na głębokości ok. 280 nm, natomiast minimalna przy R p. Zwiększone ciśnienie hydrostatyczne przy wygrzewaniu Si:V w wyższych temperaturach powoduje polepszenie doskonałości strukturalnej. Ten
15 Zakład Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych 15 efekt może być uwarunkowany, m. in. korzystnym wpływem HP na szybkość dyfuzji V + oraz defektów punktowych wytworzonych podczas implantacji. 9. Opis zjawisk transportu ciepła i ładunku w strukturach molekularnych i biologicznych Prowadzone w Zakładzie prace nad zjawiskami transportu ciepła mają bardzo szerokie zastosowanie. Są ważne zarówno dla medycyny, jak i techniki elektronicznej związanej z diagnostyką medyczną, preparatyką Rys. 15. Profile koncentracji wanadu w Czi chirurgią przy użyciu laserów. -Si:V (D = cm -2 ) implantowanym Ostatnio na świecie rozwijane są badania i wygrzanym przez 10 h w 723 K pod ciśnieinterdyscyplinarne: nanobiologia, femtobio- niem 10 5 Pa lub 1,1 GPa albo przez 5 h logia oraz femtomedycyna. Badania te łączą w 1400 K pod ciśnieniem 0,3 GPa w sobie metody matematyczne fizyki kwantowej i nanoelektroniki ze znajomością własności struktur biologicznych. W trakcie prac prowadzonych w 2010 r. wykazano, że w przypadku struktur biologicznych, w szczególności w przypadku procesów z wykorzystaniem działania krótkotrwałych impulsów laserowych na tkanki ludzkie, do opisu procesów termicznych należy stosować równanie typu hiperbolicznego ze względu na długie czasy relaksacji termicznej w tych tkankach. Różnice między rzeczywistym rozchodzeniem się ciepła w tkankach biologicznych, opisywanym przez równanie hiperboliczne, a przybliżeniami w oparciu o standardowe równanie dyfuzji (typu parabolicznego) są tak duże, że jest to krytyczny problem dla prawidłowego wykorzystania laserów w tych procesach. Główne uzyskane wyniki dotyczą analizy oddziaływania attosekundowych impulsów laserowych na tkanki biologiczne, w szczególności na rogówkę ludzką i mózg. Podstawowy parametr tych impulsów czas trwania rzędu s stwarza możliwość kontrolowania lokalizacji energii termicznej w oku lub w mózgu. Ma to podstawowe znaczenie dla rozwoju nowych metod terapeutycznych w okulistyce, neurologii oraz onkologii. Rogówka ludzka jest strukturą warstwową o całkowitej grubości ok. 530 μm. Patologiczne zmiany rogówki, np. patologia Fuchsa, prowadzą do niejednorodnego zwiększenia grubości rogówki do 700 μm. Oddziaływanie impulsu laserowego z rogówką prowadzi do generacji ciepła w rogówce i zmiany jej temperatury T. W standardowym opisie transportu ciepła przyjmuje się, że w rogówce inicjowany jest proces dyfuzji ciepła. Zwykle do opisu procesu dyfuzji korzysta się z prawa Ficka:
16 16 Sprawozdanie z działalności ITE w 2010 r. 2 T T = D t x gdzie: T(x,t) temperatura rogówki jako funkcja głębokości x i czasu t, D współczynnik dyfuzji termicznej. Wzór dobrze opisuje powolne procesy dyfuzji ciepła wywołane przez długotrwałe impulsy laserowe. W monografii J. Marciak-Kozłowska, M. Kozłowski From Femto- to Attoscience and Beyond, Nova Sci. Publ., USA, 2009, wykazano, że dla impulsów laserowych, dla których spełniony jest warunek, że czas trwania impulsu laserowego jest mniejszy od czasu relaksacji termicznej, równ. (5) powinno być zastąpione przez równanie typu hiperbolicznego: 2. τ T T T t t x = D. 2 2 Równanie (6) zostało rozwiązane dla rogówki ludzkiej o grubości 500 μm dla czasu trwania impulsu 1 s, przy czasie relaksacji termicznej 10 s. Wykazano, że w rogówce ciepło rozchodzi się w postaci zanikającej fali termicznej. Jest to nowy wynik w porównaniu z przyjmowanym do tej pory w literaturze założeniem o dyfuzyjnym transporcie ciepła w rogówce. (5) (6) 10. Uzyskane stopnie naukowe Dr inż. Mariusz Płuska stopień doktora uzyskany r. na podstawie rozprawy Metodyka eliminacji wpływu zakłóceń periodycznych na obrazy rejestrowane w skaningowej mikroskopii elektronowej (Wydział Elektryczny Politechniki Warszawskiej, promotor prof. dr hab. inż. Remigiusz Rak). Dr inż. Mariusz Płuska stopień doktora uzyskany r. na podstawie rozprawy Wpływ rezystancji na wyniki badań technikami katodoluminescencji i EBIC (ITE, promotor dr hab. inż. Andrzej Czerwiński). Publikacje 2010 [P1] ADAMUS Z., KUCHUK A., WZOREK M., BARCZ A., KAMIŃSKA E., PIOTROWSKA A.: Formation of Ni/Si Based Ohmic Contacts to n-type 4H-SiC. Elektronika 2010 vol. LI nr 9 s [P2] ADAMUS Z., KUCHUK A., WZOREK M., BARCZ A., KAMIŃSKA E., PIOTROWSKA A.: Formation of Ni/Si Based Ohmic Contacts to n-type 4H-SiC. Mat. konf. IX Kraj. Konf. Elektroniki. Darłówko Wschodnie, , s [P3] ANDRIANAKIS A., LONDOS C. A., MISIUK A., EMTSEV V. V., OGANESYAN G. A., OHYAMA H.: The Production of Vacancy-Oxygen Defects in Electron-Irradiated Cz-Si Initially Treated at High Temperatures and High Pressures. Solid State Phenom vol s
17 Zakład Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych 17 [P4] AZHNIUK YU., SCHAFER P., GOMONNAI A. V., ZAHN D. R. T., MISIUK A., PRUJSZCZYK M.: Micro-Raman Studies of Implantation-Induced Amorphization of Si and Sub-Sequent Regrowth of a-si under High Temperature-Pressure Treatment. phys. stat. sol. A 2010 vol. 207 nr 11 s [P5] BĄK-MISIUK J., ROMANOWSKI P., KULIK M., MISIUK A., DYNOWSKA E., CALIEBE W., PRUJSZCZYK M.: Defects in GaSb Introduced by Mn Implantation. Proc. of the 3rd Int. Conf. Radiation Interaction with Material and Its Use in Technologies. Kowno, Litwa, , s [P6] BORYSIEWICZ M., PASTERNAK I., DYNOWSKA E., WZOREK M., JAKIEŁA R., KOLKOVSKY V., DUŻYŃSKA A., KAMIŃSKA E., PIOTROWSKA A.: ZnO Thin Films of High Crystalline Quality Deposited on Sapphire and GaN Substrates by High Temperature Sputtering MRS Fall Meet. Proc. Boston, USA, (złoż. do red.). [P7] CAPAN I., BĄK-MISIUK J., MISIUK A., DUBCEK P., BERNSTORFF S., ROMANOWSKI P.: Synchrotron and X-Ray Studies of Spongy-Like Buried Layers Produced in Silicon by Helium Implantation. Proc. of the 10th Int. Symp. and School on Synchrotron Radiation in Natural Science. Szklarska Poręba, , s. 97. [P8] CZERWIŃSKI A., PŁUSKA M., RATAJCZAK J., SZERLING A., KĄTCKI J.: Dependence of Cathodoluminescence on Layer Resistance Applied for Measurement of Thin-Layer Sheet Resistance. J. of Microscopy 2010 vol. 237 nr 3 s [P9] CZERWIŃSKI A., PŁUSKA M., RATAJCZAK J., SZERLING A., KĄTCKI J.: Electron Microscopy Studies of Impact of Non-Local Effects on Cathodoluminescence of Semiconductor Laser Structures. Mater. Trans. (złoż. do red.). [P10] GUZIEWICZ M., KISIEL R., GOŁASZEWSKA-MALEC K., WZOREK M., STONERT A., PIOTROWSKA A., SZMIDT J.: Characteristics of Gold Wire Bonds with Ti- and Ni-Based Contact Metallization to n-sic for High Temperature Applications. Mater. Sci. Forum 2010 vol s [P11] GUZIEWICZ M., WZOREK M., GOŁASZEWSKA-MALEC K., KISIEL R., SOCHACKI M.: Wytworzenie i cechy kontaktu omowego TiAl do p-sic 4H. Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości, dużych mocy i wysokich temperatur. Mat. konf. specjalnej sesji konferencji poświęconej PBZ-MEiN-6/2/2006. IX Kraj. Konf. Elektroniki. Darłówko Wschodnie, , s [P12] KANIEWSKA M., ENGSTRÖM O., KARMOUS A., KIRFEL O., KASPER E., RAEISSI B., PISCATOR J., ZAREMBA G., KACZMARCZYK M., SURMA B., WNUK A., WZOREK M., CZERWIŃSKI A.: Hole Emission Mechanism in Ge/Si Quantum Dot Structures. phys. stat. sol. C (złoż. do red.). [P13] KANIEWSKA M., ENGSTRÖM O., KARMOUS A., KIRFEL O., KASPER E., RAEISSI B., PISCATOR J., ZAREMBA G., KACZMARCZYK M., WZOREK M., CZERWIŃSKI A., SURMA B., WNUK A.: Spatial Variation of Hole Eigen Energies in Ge/Si Quantum Wells. Proc. of the 30th Int. Conf. on the Physics of Semiconductors. Seul, Korea, (złoż. do red.). [P14] KOZŁOWSKI M., MARCIAK-KOZŁOWSKA J.: On the Hyperbolic Pennes Equation Description of the Heat Pulse-Human Cornea Interaction. Nova J. of Eye Res vol. 1 s [P15] KOZŁOWSKI M., MARCIAK-KOZŁOWSKA J.: Development of the Schroedinger Equation for Attosecond Laser Pulse Interaction with Planck Gas. Lasers in Eng vol. 20 nr 3 4 s [P16] KOZŁOWSKI M., MARCIAK-KOZŁOWSKA J.: On the Modified Klein-Gordon Equation Used to Discuss Heatons Induced by Attosecond Laser Pulses. Lasers in Eng vol. 20 nr 3 4 s [P17] KRUSZKA R., KORWIN-MIKKE K., PASTERNAK I., JUCHNIEWICZ M., WZOREK M., PIOTROWSKA A.: Investigations of ICP Etching of SiC and GaN in Chlorine- and Freon-Based Plasmas. Vacuum (złoż. do red.).
18 18 Sprawozdanie z działalności ITE w 2010 r. [P18] KUCHUK A., ADAMUS Z., BOROWICZ P., WZOREK M., BORYSIEWICZ M., KORWIN-MIKKE K., LATEK M., BARCZ A., GOŁASZEWSKA-MALEC K., KAMIŃSKA E., PIOTROWSKA A.: Influence of Carbon Layer on the Properties of Ni-Based Ohmic Contact to n-type 4H-SiC. Vacuum (złoż. do red.). [P19] KUCHUK A., GUZIEWICZ M., RATAJCZAK R., WZOREK M., KLADKO V. P., PIOTROWSKA A.: Reliability Tests of Au-Metallized Ni-Based Ohmic Contacts to 4H-n-SiC with and without Nanocomposite Diffussion Barriers. Mater. Sci. Forum 2010 vol s [P20] KULIK M., KOBZEV A. P., MISIUK A., WIERZCHOWSKI W. K., WIETESKA K., BĄK-MISIUK J.: Composition and Structure of Czochralski Silicon Implanted with H + 2 and Annealed under Enhanced Hydrostatic Pressure. Acta Phys. Pol. A 2010 vol. 117 nr 2 s [P21] LONDOS C. A., ANDRIANAKIS A., MISIUK A.: The Effect of Neutron Irradiation on Oxygen Aggregation Processes in Si Material Treated under Hydrostatic Pressure. phys. stat. sol. A (złoż. do red.). [P22] ŁASZCZ A., CZERWIŃSKI A., RATAJCZAK J., SZERLING A., PHILLIPP F., VAN AKEN P. A., KĄTCKI J.: Transmission Electron Microscopy Characterisation of Au/Pt/Ti/Pt/GaAs Ohmic Contacts for High Power GaAs/InGaAs Semiconductor Lasers. J. of Microscopy 2010 vol. 237 nr 3 s [P23] ŁASZCZ A., RATAJCZAK J., CZERWIŃSKI A., KĄTCKI J., BREIL N., LARRIEU G., DUBOIS E.: TEM Studies of PtSi Low Schottky-Barrier Contacts for Source/Drain in MOS Transistors. Centr. Europ. J. of Phys. (złoż. do red.). [P24] ŁASZCZ A., RATAJCZAK J., CZERWIŃSKI A., KĄTCKI J., SROT V., PHILLIPP F., VAN AKEN P. A., YAREKHA D. A., RECKINGER N., LARRIEU G., DUBOIS E.: Characterization of Ytterbium Silicide Formed in Ultra High Vacuum. 16th Int. Conf. on Microscopy of Semiconducting Materials. J. of Phys.: Conf. Series 2010 t. 209 s [P25] MARCIAK-KOZŁOWSKA J., KOZŁOWSKI M.: On the Unified Description of the Attosecond Laser Pulse-Tissue Interaction. Lasers in Eng vol. 19 nr 3 4 s [P26] MARCIAK-KOZŁOWSKA J., KOZŁOWSKI M.: Thermal Process in Spherical Nanoparticles Generated by Attosecond Laser Pulses. Lasers in Eng vol. 19 nr 5 6 s [P27] MARCIAK-KOZŁOWSKA J., KOZŁOWSKI M.: A Quantum Cattaneo Equation for the Interaction of Ultra-Short Laser Pulses with Electron and Nucleon Gases. Lasers in Eng vol. 20 nr 1 2 s [P28] MARCIAK-KOZŁOWSKA J., KOZŁOWSKI M.: Heat Analysis of Biological Tissue Exposed to Laser Pulses. Lasers in Eng vol. 20 nr 5 6 s [P29] MARCIAK-KOZŁOWSKA J., KOZŁOWSKI M.: Time Delay in Photoemission Excited by Attosecond Laser Pulses. Lasers in Eng. (złoż. do red.). [P30] MARCIAK-KOZŁOWSKA J., KOZŁOWSKI M.: Thermal Processes Generated in Quark-Gluon Plasma (QGP) by Yoctosecond (10 24 s) Laser Pulses. Lasers in Eng. (złoż. do red.). [P31] MARCIAK-KOZŁOWSKA J., KOZŁOWSKI M.: Thermal Processes in Human Cornea Exposed to Attosecond Laser Pulses. Phys. Med. (złoż. do red.). [P32] MISIUK A., ABROSIMOV N. V., BĄK-MISIUK J., WIERZCHOWSKI W. K., WIETESKA K., LONDOS C. A., KUCYTOWSKI J.: Evaluation of Cz-Si-Ge Microstructure after High Temperature-Pressure Treatment. Proc. of EXMATEC Darmstadt, Niemcy, , s [P33] MISIUK A., BARCZ A., BĄK-MISIUK J.: Solid Phase Epitaxial Regrowth at Enhanced Temperatures-Pressures of Si Amorphized via Self-Implantation. Mater. Sci. a. Eng. B (złoż. do red.). [P34] MISIUK A., BARCZ A., BĄK-MISIUK J., ULYASHIN A.G., ROMANOWSKI P.: Hydrogen Gettering Within Processed Oxygen-Implanted Silicon. Adv. Mater. Res. (złoż. do red.).
19 Zakład Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych 19 [P35] MISIUK A., BARCZ A., ULYASHIN A.G., ANTONOVA I. V., PRUJSZCZYK M.: Hydrogen Gettering in Annealed Oxygen-Implanted Silicon. Semicond. Phys. Quant. Electron. & Optoelectron vol. 13 nr 2 s [P36] MISIUK A., BARCZ A., ULYASHIN A. G., PRUJSZCZYK M., BĄK-MISIUK J., FORMANEK P.: Defects in High Temperature-Pressure Processed Si:N Revealed by Deuterium Plasma Treatment. Fiz. i Techn. Vys. Davl. (złoż. do red.). [P37] MISIUK A., BĄK-MISIUK J., BARCZ A., ROMANOWSKI P., SURMA B., WNUK A.: Structure of Self- -Implanted Silicon Annealed under Enhanced Hydrostatic Pressure. High Press. Res. (złoż. do red.). [P38] MISIUK A., BĄK-MISIUK J., JUNG W., FELBA J., WIERZCHOWSKI W. K., WIETESKA K., PRUJSZCZYK M.: Revealing the Defects in Electron-Irradiated Czochralski Silicon. Radiat. Measur vol. 45 s [P39] MISIUK A., BĄK-MISIUK J., SURMA B., WIERZCHOWSKI W. K.: Structure of Self-Implanted Silicon Annealed under Enhanced Hydrostatic Pressure. Proc. of the 48th EHPRG Int. Conf. Uppsala, Szwecja, (złoż. do red.). [P40] MISIUK A., JUNG W., PRUJSZCZYK M., BĄK-MISIUK J., FELBA J.: Ujawnianie napromieniowania elektronami krzemu otrzymanego metodą Czochralskiego poprzez jego poradiacyjną obróbkę termiczną. Prz. Elektrotechn vol. 86 nr 7 s [P41] MISIUK A., LONDOS C. A., WIERZCHOWSKI W. K., BĄK-MISIUK J., ROMANOWSKI P., WIETESKA K., SGOUROU E. N., PRUJSZCZYK M.: Oxygen-Related Defects in Neutron Irradiated N-Containing Cz-Si Annealed under Enhanced Pressure. Proc. of the 3rd Int. Conf. Radiation Interaction with Material and Its Use in Technologies. Kowno, Litwa, , s [P42] MISIUK A., ULYASHIN A. G., BARCZ A., BĄK-MISIUK J., PRUJSZCZYK M.: Temperature- -Dependent Release of Deuterium Accumulated in Spongy-Like Layers Buried in Czochralski Silicon. Mat. of the Conf. Porous Semiconductors Science and Technology. Walencja, Hiszpania, , s [P43] MISIUK A., ULYASHIN A. G., BARCZ A., FORMANEK P.: Accumulation of Hydrogen within Implantation-Damaged Areas in Processes Si:N and Si:O. Solid State Phenom vol s [P44] MISIUK A., WIERZCHOWSKI W. K., WIETESKA K., LONDOS C. A., ANDRIANAKIS A., BĄK-MISIUK J., YANG D., SURMA B.: Defect Structure of Nitrogen Doped Czochralski Silicon Annealed under Enhanced Pressure. Acta Phys. Pol. A 2010 vol. 117 nr 2 s [P45] PIOTROWSKA A., MIHALOVITS P., KAMIŃSKA E., BORYSIEWICZ M., WZOREK M., GUTT T., PRZEWŁOCKI H. M., GUZIEWICZ M., EKIELSKI M., JUCHNIEWICZ M., KORWIN-MIKKE K., TAUBE A., KRUSZKA R., PASTERNAK I., ADAMUS Z., GOŁASZEWSKA-MALEC K., BARCZ A., CZERWIŃSKI A., ZAREMBA G.: Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych (InTechFun). Mat. konf. IX Kraj. Konf. Elektroniki. Darłówko Wschodnie, , s [P46] PIOTROWSKI T., KASJANIUK S.: Wyznaczanie czasu życia nośników ładunku w płytkach krzemowych z pomiaru absorpcji na nośnikach krzemowych. Elektronika 2010 vol. LI nr 9 s [P47] PIOTROWSKI T., KASJANIUK S.: Wyznaczanie czasu życia nośników ładunku w płytkach krzemowych z pomiaru absorpcji na nośnikach swobodnych. Mat. konf. IX Kraj. Konf. Elektroniki, Darłówko Wschodnie, , s [P48] PIOTROWSKI T., MALYUTENKO V. K., LIPIŃSKI M., POCHRYBNIAK C.: Charakteryzacja materiałów i struktur ogniw słonecznych techniką podczerwieni. Elektronika 2010 vol. LI nr 5 s
20 20 Sprawozdanie z działalności ITE w 2010 r. [P49] PIOTROWSKI T., SIKORSKI S., KASJANIUK S., LIPIŃSKI M.: Pomiary czasu życia nadmiarowych nośników ładunku w obszarach bliskich granicom ziaren z wykorzystaniem barierowego efektu fotowoltaicznego. Elektronika 2010 vol. LI nr 5 s [P50] PIOTROWSKI T., SIKORSKI S., KASJANIUK S., LIPIŃSKI M.: Pomiary czasu życia nadmiarowych nośników ładunku w obszarach bliskich granicom ziaren z wykorzystaniem barierowego efektu fotowoltaicznego. Elektronika 2010 vol. LI nr 5 s [P51] PŁUSKA M., CZERWIŃSKI A., RATAJCZAK J., KĄTCKI J., OSKWAREK Ł., RAK R.: Identification of Electron Beam Vibration Sources by Separation of Magnetic Distortion from Electric Distortion on Scanning Electron Microscope Imaging. J. of Microscopy 2010 vol. 237 nr 3 s [P52] RATAJCZAK J., ŁASZCZ A., CZERWIŃSKI A., KĄTCKI J., PHILLIPP F., VAN AKEN P. A., RECKINGER N., DUBOIS E.: Transmission Electron Microscopy Study of Erbium Silicide Formation from Ti/Er Stack for Schottky Contact Applications. J. of Microscopy 2010 vol. 237 nr 3 s [P53] RECKINGER N., TANG X., VLAD A., DUTU C. A., RASKIN J. P., GODEY S., DUBOIS E., ŁASZCZ A., RATAJCZAK J.: X-Ray Photoelectron Spectroscopy Study of the Competition between Er Oxidation and Silicidation in the Presence of Residual Oxygen. J. Appl. Phys. (złoż. do red.). [P54] ROMANOWSKI P., SHALIMOV A., BĄK-MISIUK J., MISIUK A., CALIEBE W.: Structural and Magnetic Properties of Si Single Crystals Implanted with Mn. Synchr. Radiat. in Natur. Sci vol. 9 nr 1 2 s [P55] SKWAREK A., PŁUSKA M., CZERWIŃSKI A., RATAJCZAK J., WITEK K.: Tin Pest and Corrosion on Tin-Rich Lead-Free Alloys Investigated by Dedicated Electron Microscopy Methods. J. of Alloys and Comp. (złoż. do red.). [P56] SKWAREK A., PŁUSKA M., WITEK K., CZERWIŃSKI A., FILIPOWSKI W.: Analiza występowania wiskerów na powierzchni wysokocynowych stopów lutowniczych poddanych działaniu skrajnych warunków środowiskowych. Mat. konf. IX Kraj. Konf. Elektroniki. Darłówko Wschodnie, , s [P57] SKWAREK A., ŚRODA M., PŁUSKA M., CZERWIŃSKI A., RATAJCZAK J., WITEK K.: Occurence of Tin Pest on the Surface of Tin-Rich Lead-Free Alloys. J. of Alloys a. Comp. (złoż. do red.). [P58] SKWAREK A., WITEK K., PŁUSKA M., CZERWIŃSKI A., FILIPOWSKI W.: Analiza występowania wiskerów na powierzchni wysokocynowych stopów lutowniczych poddanych działaniu skrajnych warunków środowiskowych. Elektronika 2010 vol. LI nr 9 s [P59] SŁYSZ W., GUZIEWICZ M., BORYSIEWICZ M., DOMAGAŁA J., PASTERNAK I., HEJDUK K., RATAJCZAK J., BAR J., WĘGRZECKI M., GRABIEC P., GRODECKI R., WĘGRZECKA I., SOBOLEWSKI R.: Ultrathin NbN Films for Superconducting Single-Photon Detectors. Acta Phys. Pol. A (złoż. do red.). [P60] VOLODIN V. A., BUGAEV K. O., POPOV A.A., MISIUK A.: Optical Properties of Silicon Nanoclusters Formed in SiN x Films: Effect of Pressure Annealing. Proc. of the Int. Conf. on Modern Problems in Physics of Surfaces and Nanostructures. Jarosław, Rosja, , s. P2 17. [P61] WOLSKA A., KLEPKA M., ŁAWNICZAK-JABŁOŃSKA K., ARVANITIS D., MISIUK A.: EFAX and XMCD Investigations on the Mn + Implanted Silicon Crystals. Synchr. Radiat. in Natur. Sci vol. 9 nr 1 2 s [P62] WOLSKA A., KLEPKA M., ŁAWNICZAK-JABŁOŃSKA K., MISIUK A.: XAFS Investigation of Local Atomic Structure around Mn Atoms in Si:Mn. DESY Ann. Rep. 2008/ s [P63] WZOREK M., CZERWIŃSKI A., KUCHUK A., RATAJCZAK J., PIOTROWSKA A., KĄTCKI J.: TEM Characterisation of Silicide Phase Formation in Ni-Based Ohmic Contacts to 4H n-sic. Mater. Trans. (złoż. do red.).
Wytwarzanie niskowymiarowych struktur półprzewodnikowych
Większość struktur niskowymiarowych wytwarzanych jest za pomocą technik epitaksjalnych. Najczęściej wykorzystywane metody wzrostu: - epitaksja z wiązki molekularnej (MBE Molecular Beam Epitaxy) - epitaksja
Bardziej szczegółowoMarek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO
Marek Lipiński WPŁYW WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNYCH WARSTW I OBSZARÓW PRZYPOWIERZCHNIOWYCH NA PARAMETRY UŻYTKOWE KRZEMOWEGO OGNIWA SŁONECZNEGO Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego
Bardziej szczegółowoZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH
ZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Kierownik: doc. dr hab. inż. Andrzej CZERWIŃSKI e-mail: aczerwin@ite.waw.pl, tel. (0-) 548 77 64 Zespół: prof. dr hab. Janina Marciak-Kozłowska, doc.
Bardziej szczegółowoSpektroskopia modulacyjna
Spektroskopia modulacyjna pozwala na otrzymanie energii przejść optycznych w strukturze z bardzo dużą dokładnością. Charakteryzuje się również wysoką czułością, co pozwala na obserwację słabych przejść,
Bardziej szczegółowoFizyka i technologia złącza PN. Adam Drózd 25.04.2006r.
Fizyka i technologia złącza P Adam Drózd 25.04.2006r. O czym będę mówił: Półprzewodnik definicja, model wiązań walencyjnych i model pasmowy, samoistny i niesamoistny, domieszki donorowe i akceptorowe,
Bardziej szczegółowoCo to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie. Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? e πε. E = n. Sebastian Maćkowski
Co to jest kropka kwantowa? Kropki kwantowe - część I otrzymywanie Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Co to jest ekscyton? Co to jest ekscyton? h 2 2 2 e πε m* 4 0ε s Φ
Bardziej szczegółowoIA. Fotodioda. Cel ćwiczenia: Pomiar charakterystyk prądowo - napięciowych fotodiody.
1 A. Fotodioda Cel ćwiczenia: Pomiar charakterystyk prądowo - napięciowych fotodiody. Zagadnienia: Efekt fotowoltaiczny, złącze p-n Wprowadzenie Fotodioda jest urządzeniem półprzewodnikowym w którym zachodzi
Bardziej szczegółowoBadania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych
Badania wybranych nanostruktur SnO 2 w aspekcie zastosowań sensorowych Monika KWOKA, Jacek SZUBER Instytut Elektroniki Politechnika Śląska Gliwice PLAN PREZENTACJI 1. Podsumowanie dotychczasowych prac:
Bardziej szczegółowoZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH
ZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Kierownik:prof. dr hab. inż. Jerzy KĄTCKI e-mail:katcki@ite.waw.pl, tel. (0-prefiks-22) 548 77 60, fax 847 06 31 Zespół: doc. dr hab. inż. Andrzej
Bardziej szczegółowo!!!DEL są źródłami światła niespójnego.
Dioda elektroluminescencyjna DEL Element czynny DEL to złącze p-n. Gdy zostanie ono spolaryzowane w kierunku przewodzenia, to w obszarze typu p, w warstwie o grubości rzędu 1µm, wytwarza się stan inwersji
Bardziej szczegółowoFunkcja rozkładu Fermiego-Diraca w różnych temperaturach
Funkcja rozkładu Fermiego-Diraca w różnych temperaturach 1 f FD ( E) = E E F exp + 1 kbt Styczna do krzywej w punkcie f FD (E F )=0,5 przecina oś energii i prostą f FD (E)=1 w punktach odległych o k B
Bardziej szczegółowoRepeta z wykładu nr 5. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Złącze p-n. złącze p-n
Repeta z wykładu nr 5 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Konsultacje:
Bardziej szczegółowopromotor prof. dr hab. inż. Jan Szmidt z Politechniki Warszawskiej
Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych Warszawa, 13 marca 2018 r. D z i e k a n a t Uprzejmie informuję, że na Wydziale Elektroniki i Technik Informacyjnych Politechniki Warszawskiej
Bardziej szczegółowoWpływ defektów punktowych i liniowych na własności węglika krzemu SiC
Wpływ defektów punktowych i liniowych na własności węglika krzemu SiC J. Łażewski, M. Sternik, P.T. Jochym, P. Piekarz politypy węglika krzemu SiC >250 politypów, najbardziej stabilne: 3C, 2H, 4H i 6H
Bardziej szczegółowoZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH
ZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Kierownik: doc. dr hab. inż. Andrzej CZERWIŃSKI e-mail: aczerwin@ite.waw.pl, tel. (0-prefiks-22) 548 77 64, fax 847 06 31 Zespół: dr inż. Jacek Ratajczak,
Bardziej szczegółowoEkspansja plazmy i wpływ atmosfery reaktywnej na osadzanie cienkich warstw hydroksyapatytu. Marcin Jedyński
Ekspansja plazmy i wpływ atmosfery reaktywnej na osadzanie cienkich warstw hydroksyapatytu. Marcin Jedyński Metoda PLD (Pulsed Laser Deposition) PLD jest nowoczesną metodą inżynierii powierzchni, umożliwiającą
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki ciała stałego półprzewodniki domieszkowane
Podstawy fizyki ciała stałego półprzewodniki domieszkowane Półprzewodnik typu n IV-Ge V-As Jeżeli pięciowartościowy atom V-As zastąpi w sieci atom IV-Ge to cztery elektrony biorą udział w wiązaniu kowalentnym,
Bardziej szczegółowoPrzejścia promieniste
Przejście promieniste proces rekombinacji elektronu i dziury (przejście ze stanu o większej energii do stanu o energii mniejszej), w wyniku którego następuje emisja promieniowania. E Długość wyemitowanej
Bardziej szczegółowoCzym jest prąd elektryczny
Prąd elektryczny Ruch elektronów w przewodniku Wektor gęstości prądu Przewodność elektryczna Prawo Ohma Klasyczny model przewodnictwa w metalach Zależność przewodności/oporności od temperatury dla metali,
Bardziej szczegółowoWłaściwości optyczne. Oddziaływanie światła z materiałem. Widmo światła widzialnego MATERIAŁ
Właściwości optyczne Oddziaływanie światła z materiałem hν MATERIAŁ Transmisja Odbicie Adsorpcja Załamanie Efekt fotoelektryczny Tradycyjnie właściwości optyczne wiążą się z zachowaniem się materiałów
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 1. Projekty struktur falowodowych
Załącznik nr 1 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoKrytyczne parametry konstrukcyjno-technologiczne i ich wpływ na parametry elektryczne tranzystorów mocy MOSFET SiC
Krytyczne parametry konstrukcyjno-technologiczne i ich wpływ na parametry elektryczne tranzystorów mocy MOSFET SiC Mariusz Sochacki 1, Norbert Kwietniewski 1, Andrzej Taube 1,2, Krystian Król 1, Jan Szmidt
Bardziej szczegółowoZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH
ZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Kierownik: doc. dr hab. inż. Andrzej CZERWIŃSKI e-mail: aczerwin@ite.waw.pl, tel. (0-22) 548 77 64 Zespół: prof. dr hab. Janina Marciak-Kozłowska doc.
Bardziej szczegółowoWykład 5 Fotodetektory, ogniwa słoneczne
Wykład 5 Fotodetektory, ogniwa słoneczne 1 Generacja optyczna swobodnych nośników Fotoprzewodnictwo σ=e(µ e n+µ h p) Fotodioda optyczna generacja par elektron-dziura pole elektryczne złącza rozdziela parę
Bardziej szczegółowoI. PROMIENIOWANIE CIEPLNE
I. PROMIENIOWANIE CIEPLNE - lata '90 XIX wieku WSTĘP Widmo promieniowania elektromagnetycznego zakres "pokrycia" różnymi rodzajami fal elektromagnetycznych promieniowania zawartego w danej wiązce. rys.i.1.
Bardziej szczegółowoInTechFun. Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych
Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun Instytut Technologii Elektronowej InTechFun Zakład ad Bada Materiałów
Bardziej szczegółowoZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH
ZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Kierownik: dr hab. inż. Andrzej CZERWIŃSKI, prof. nadzw. w ITE e-mail: aczerwin@ite.waw.pl, tel. (22) 548 77 64 Zespół: prof. dr hab. Janina Marciak-Kozłowska
Bardziej szczegółowoPL B1. INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ, Warszawa, PL INSTYTUT FIZYKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK, Warszawa, PL
PL 221135 B1 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 221135 (13) B1 Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej (21) Numer zgłoszenia: 399454 (22) Data zgłoszenia: 06.06.2012 (51) Int.Cl.
Bardziej szczegółowoI Konferencja. InTechFun
I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08
Bardziej szczegółowoWykład XIV: Właściwości optyczne. JERZY LIS Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Technologii Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Wykład XIV: Właściwości optyczne JERZY LIS Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Technologii Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych Treść wykładu: Treść wykładu: 1. Wiadomości wstępne: a) Załamanie
Bardziej szczegółowoSkalowanie układów scalonych Click to edit Master title style
Skalowanie układów scalonych Charakterystyczne parametry Technologia mikroelektroniczna najmniejszy realizowalny rozmiar (ang. feature size), liczba bramek (układów) na jednej płytce, wydzielana moc, maksymalna
Bardziej szczegółowoUMO-2011/01/B/ST7/06234
Załącznik nr 7 do sprawozdania merytorycznego z realizacji projektu badawczego Szybka nieliniowość fotorefrakcyjna w światłowodach półprzewodnikowych do zastosowań w elementach optoelektroniki zintegrowanej
Bardziej szczegółowoRekapitulacja. Detekcja światła. Rekapitulacja. Rekapitulacja
Rekapitulacja Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Konsultacje: czwartek
Bardziej szczegółowoGrafen materiał XXI wieku!?
Grafen materiał XXI wieku!? Badania grafenu w aspekcie jego zastosowań w sensoryce i metrologii Tadeusz Pustelny Plan prezentacji: 1. Wybrane właściwości fizyczne grafenu 2. Grafen materiał 21-go wieku?
Bardziej szczegółowoZ.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja. InTechFun
Z.R. Żytkiewicz IF PAN I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa
Bardziej szczegółowoWykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e = = 1 Å
Wykład 12 Fale materii: elektrony, neutrony, lekkie atomy Neutrony generowane w reaktorze są spowalniane w wyniku zderzeń z moderatorem (grafitem) do V = 4 km/s, co odpowiada energii E=0.08 ev a energia
Bardziej szczegółowoLaboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej
Laboratorium techniki laserowej Ćwiczenie 2. Badanie profilu wiązki laserowej 1. Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, WETI, Politechnika Gdaoska Gdańsk 2006 1. Wstęp Pomiar profilu wiązki
Bardziej szczegółowoMETODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW
METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku
Bardziej szczegółowoNanostruktury i nanotechnologie
Nanostruktury i nanotechnologie Heterozłącza Efekty kwantowe Nanotechnologie Z. Postawa, "Fizyka powierzchni i nanostruktury" 1 Termin oddania referatów do 19 I 004 Zaliczenie: 1 I 004 Z. Postawa, "Fizyka
Bardziej szczegółowoOddziaływanie promieniowania X z materią. Podstawowe mechanizmy
Oddziaływanie promieniowania X z materią Podstawowe mechanizmy Promieniowanie od oscylującego elektronu Rozpraszanie Thomsona Dyspersja podejście klasyczne Fala padająca Wymuszony, tłumiony oscylator harmoniczny
Bardziej szczegółowoDiody elektroluminescencyjne na bazie GaN z powierzchniowymi kryształami fotonicznymi
Diody elektroluminescencyjne na bazie z powierzchniowymi kryształami fotonicznymi Krystyna Gołaszewska Renata Kruszka Marcin Myśliwiec Marek Ekielski Wojciech Jung Tadeusz Piotrowski Marcin Juchniewicz
Bardziej szczegółowoBadanie dylatometryczne żeliwa w zakresie przemian fazowych zachodzących w stanie stałym
PROJEKT NR: POIG.1.3.1--1/ Badania i rozwój nowoczesnej technologii tworzyw odlewniczych odpornych na zmęczenie cieplne Badanie dylatometryczne żeliwa w zakresie przemian fazowych zachodzących w stanie
Bardziej szczegółowoXL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne
XL OLIMPIADA FIZYCZNA ETAP I Zadanie doświadczalne ZADANIE D2 Nazwa zadania: Światełko na tafli wody Mając do dyspozycji fotodiodę, źródło prądu stałego (4,5V bateryjkę), przewody, mikroamperomierz oraz
Bardziej szczegółowoI Konferencja. InTechFun
I Konferencja Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 9 kwietnia 2010 r., Warszawa POIG.01.03.01-00-159/08
Bardziej szczegółowoModel elektronów swobodnych w metalu
Model elektronów swobodnych w metalu Stany elektronu w nieskończonej trójwymiarowej studni potencjału - dozwolone wartości wektora falowego k Fale stojące - warunki brzegowe znikanie funkcji falowej na
Bardziej szczegółowoSkalowanie układów scalonych
Skalowanie układów scalonych Technologia mikroelektroniczna Charakterystyczne parametry najmniejszy realizowalny rozmiar (ang. feature size), liczba bramek (układów) na jednej płytce, wydzielana moc, maksymalna
Bardziej szczegółowoPrzewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman
Porównanie Przewaga klasycznego spektrometru Ramana czyli siatkowego, dyspersyjnego nad przystawką ramanowską FT-Raman Spektroskopia FT-Raman Spektroskopia FT-Raman jest dostępna od 1987 roku. Systemy
Bardziej szczegółowoELEMENTY ELEKTRONICZNE
AKADEMIA GÓRNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA W KRAKOWIE Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki ELEMENTY ELEKTRONICZNE dr inż. Piotr Dziurdzia paw. C-3,
Bardziej szczegółowoIM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO
IM21 SPEKTROSKOPIA ODBICIOWA ŚWIATŁA BIAŁEGO Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z metodą pomiaru grubości cienkich warstw za pomocą interferometrii odbiciowej światła białego, zbadanie zjawiska pęcznienia warstw
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 1 LABORATORIUM ELEKTRONIKI POLITECHNIKA ŁÓDZKA KATEDRA PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH I OPTOELEKTRONICZNYCH
LABORAORUM ELEKRONK Ćwiczenie 1 Parametry statyczne diod półprzewodnikowych Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie statycznych charakterystyk podstawowych typów diod półprzewodnikowych oraz zapoznanie
Bardziej szczegółowoIX. DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE Janusz Adamowski
IX. DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE Janusz Adamowski 1 1 Dioda na złączu p n Zgodnie z wynikami, otrzymanymi na poprzednim wykładzie, natężenie prądu I przepływającego przez złącze p n opisane jest wzorem Shockleya
Bardziej szczegółowoTeoria pasmowa ciał stałych
Teoria pasmowa ciał stałych Poziomy elektronowe atomów w cząsteczkach ulegają rozszczepieniu. W kryształach zjawisko to prowadzi do wytworzenia się pasm. Klasyfikacja ciał stałych na podstawie struktury
Bardziej szczegółowoElementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1
Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1 Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100
Bardziej szczegółowoStudnia kwantowa. Optyka nanostruktur. Studnia kwantowa. Gęstość stanów. Sebastian Maćkowski
Studnia kwantowa Optyka nanostruktur Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Studnia kwantowa
Bardziej szczegółowopółprzewodniki Plan na dzisiaj Optyka nanostruktur Struktura krystaliczna Dygresja Sebastian Maćkowski
Plan na dzisiaj Optyka nanostruktur Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 półprzewodniki
Bardziej szczegółowoSprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5)
Wojciech Niwiński 30.03.2004 Bartosz Lassak Wojciech Zatorski gr.7lab Sprzęganie światłowodu z półprzewodnikowymi źródłami światła (stanowisko nr 5) Zadanie laboratoryjne miało na celu zaobserwowanie różnic
Bardziej szczegółowodr inż. Beata Brożek-Pluska SERS La boratorium La serowej
dr inż. Beata Brożek-Pluska La boratorium La serowej Spektroskopii Molekularnej PŁ Powierzchniowo wzmocniona sp ektroskopia Ramana (Surface Enhanced Raman Spectroscopy) Cząsteczki zaadsorbowane na chropowatych
Bardziej szczegółowoWysokowydajne falowodowe źródło skorelowanych par fotonów
Wysokowydajne falowodowe źródło skorelowanych par fotonów Michał Karpioski * Konrad Banaszek, Czesław Radzewicz * * Instytut Fizyki Doświadczalnej, Instytut Fizyki Teoretycznej Wydział Fizyki Uniwersytet
Bardziej szczegółowo(54) Sposób określania koncentracji tlenu międzywęzłowego w materiale półprzewodnikowym
RZECZPOSPOLITA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 172863 P O L S K A (21) Numer zgłoszenia 3 0 1 7 1 5 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 3 1.1 2.1 9 9 3 Rzeczypospolitej Polskiej (51) Int.Cl.6 H01L 21/66
Bardziej szczegółowoRepeta z wykładu nr 4. Detekcja światła. Dygresja. Plan na dzisiaj
Repeta z wykładu nr 4 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Konsultacje:
Bardziej szczegółowoZadania treningowe na kolokwium
Zadania treningowe na kolokwium 3.12.2010 1. Stan układu binarnego zawierającego n 1 moli substancji typu 1 i n 2 moli substancji typu 2 parametryzujemy za pomocą stężenia substancji 1: x n 1. Stabilność
Bardziej szczegółowoPrzyrządy półprzewodnikowe część 2
Przyrządy półprzewodnikowe część 2 Prof. Zbigniew Lisik Katedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych pokój: 110 e-mail: zbigniew.lisik@p.lodz.pl wykład 30 godz. laboratorium 30 godz WEEIiA
Bardziej szczegółowoPrzyrządy i układy półprzewodnikowe
Przyrządy i układy półprzewodnikowe Prof. dr hab. Ewa Popko ewa.popko@pwr.edu.pl www.if.pwr.wroc.pl/~popko p.231a A-1 Zawartość wykładu Wy1, Wy2 Wy3 Wy4 Wy5 Wy6 Wy7 Wy8 Wy9 Wy10 Wy11 Wy12 Wy13 Wy14 Wy15
Bardziej szczegółowoBADANIA MODELOWE OGNIW SŁONECZNYCH
POZNAN UNIVE RSITY OF TE CHNOLOGY ACADE MIC JOURNALS No 70 Electrical Engineering 2012 Bartosz CERAN* BADANIA MODELOWE OGNIW SŁONECZNYCH W artykule przedstawiono model matematyczny modułu fotowoltaicznego.
Bardziej szczegółowoOPTYKA KWANTOWA Wykład dla 5. roku Fizyki
OPTYKA KWANTOWA Wykład dla 5. roku Fizyki c Adam Bechler 006 Instytut Fizyki Uniwersytetu Szczecińskiego Równania (3.7), pomimo swojej prostoty, nie posiadają poza nielicznymi przypadkami ścisłych rozwiązań,
Bardziej szczegółowoWykład 5 Fotodetektory, ogniwa słoneczne
Wykład 5 Fotodetektory, ogniwa słoneczne 1 Generacja optyczna swobodnych nośników Fotoprzewodnictwo σ=e(µ e n+µ h p) Fotodioda optyczna generacja par elektron-dziura pole elektryczne złącza rozdziela parę
Bardziej szczegółowoNiezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita
Niezwykłe światło ultrakrótkie impulsy laserowe Laboratorium Procesów Ultraszybkich Zakład Optyki Wydział Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego Światło Fala elektromagnetyczna Dla światła widzialnego długość
Bardziej szczegółowoSkończona studnia potencjału
Skończona studnia potencjału U = 450 ev, L = 100 pm Fala wnika w ściany skończonej studni długość fali jest większa (a energia mniejsza) Teoria pasmowa ciał stałych Poziomy elektronowe atomów w cząsteczkach
Bardziej szczegółowoAbsorpcja związana z defektami kryształu
W rzeczywistych materiałach sieć krystaliczna nie jest idealna występują różnego rodzaju defekty. Podział najważniejszych defektów ze względu na właściwości optyczne: - inny atom w węźle sieci: C A atom
Bardziej szczegółowoZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH
ZAKŁAD BADAŃ MATERIAŁÓW I STRUKTUR PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Kierownik: dr hab. inż. Andrzej CZERWIŃSKI, rof. nadzw. w ITE e-mail: aczerwin@ite.waw.l, tel. (0-) 548 77 64 Zesół: rof. dr hab. Janina Marciak-Kozłowska
Bardziej szczegółowoPrzerwa energetyczna w germanie
Ćwiczenie 1 Przerwa energetyczna w germanie Cel ćwiczenia Wyznaczenie szerokości przerwy energetycznej przez pomiar zależności oporu monokryształu germanu od temperatury. Wprowadzenie Eksperymentalne badania
Bardziej szczegółowoAzotkowe diody laserowe na podłożach GaN o zmiennym zorientowaniu
Azotkowe diody laserowe na podłożach GaN o zmiennym zorientowaniu Marcin Sarzyński Badania finansuje narodowe centrum Badań i Rozwoju Program Lider Instytut Wysokich Cisnień PAN Siedziba 1. Diody laserowe
Bardziej szczegółowoWłasności optyczne półprzewodników
Własności optyczne półprzewodników Andrzej Wysmołek Wykład przygotowany w oparciu o wykłady prowadzone na Wydziale Fizyki UW przez prof. Mariana Grynberga oraz prof. Romana Stępniewskiego Klasyfikacja
Bardziej szczegółowoSkaningowy Mikroskop Elektronowy. Rembisz Grażyna Drab Bartosz
Skaningowy Mikroskop Elektronowy Rembisz Grażyna Drab Bartosz PLAN PREZENTACJI: 1. Zarys historyczny 2. Zasada działania SEM 3. Zjawiska fizyczne wykorzystywane w SEM 4. Budowa SEM 5. Przygotowanie próbek
Bardziej szczegółowoZADANIE 28. Wyznaczanie przewodnictwa cieplnego miedzi
ZADANIE 28 Wyznaczanie przewodnictwa cieplnego miedzi Wstęp Pomiędzy ciałami ogrzanymi do różnych temperatur zachodzi wymiana ciepła. Ciało o wyższej temperaturze traci ciepło, a ciało o niższej temperaturze
Bardziej szczegółowoFotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski
Fotowoltaika i sensory w proekologicznym rozwoju Małopolski Photovoltaic and Sensors in Environmental Development of Malopolska Region ZWIĘKSZANIE WYDAJNOŚCI SYSTEMÓW FOTOWOLTAICZNYCH Plan prezentacji
Bardziej szczegółowoEfekt Halla. Cel ćwiczenia. Wstęp. Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Halla. Siła Loretza
Efekt Halla Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zbadanie efektu Halla. Wstęp Siła Loretza Na ładunek elektryczny poruszający się w polu magnetycznym w kierunku prostopadłym do linii pola magnetycznego działa
Bardziej szczegółowoRepeta z wykładu nr 6. Detekcja światła. Plan na dzisiaj. Metal-półprzewodnik
Repeta z wykładu nr 6 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 - kontakt omowy
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE Nr 4 LABORATORIUM FIZYKI KRYSZTAŁÓW STAŁYCH. Badanie krawędzi absorpcji podstawowej w kryształach półprzewodników POLITECHNIKA ŁÓDZKA
POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI LABORATORIUM FIZYKI KRYSZTAŁÓW STAŁYCH ĆWICZENIE Nr 4 Badanie krawędzi absorpcji podstawowej w kryształach półprzewodników I. Cześć doświadczalna. 1. Uruchomić Spekol
Bardziej szczegółowoMateriały fotoniczne
Materiały fotoniczne Półprzewodniki Ferroelektryki Mat. organiczne III-V, II-VI, III-N - źródła III-V (λ=0.65 i 1.55) II-IV, III-N niebieskie/zielone/uv - detektory - modulatory Supersieci, studnie Kwantowe,
Bardziej szczegółowoWzrost pseudomorficzny. Optyka nanostruktur. Mody wzrostu. Ekscyton. Sebastian Maćkowski
Wzrost pseudomorficzny Optyka nanostruktur Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 naprężenie
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE STAŁEJ PLANCKA Z POMIARU CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH DIOD ELEKTROLUMINESCENCYJNYCH. Irena Jankowska-Sumara, Magdalena Krupska
1 II PRACOWNIA FIZYCZNA: FIZYKA ATOMOWA Z POMIARU CHARAKTERYSTYK PRĄDOWO-NAPIĘCIOWYCH DIOD ELEKTROLUMINESCENCYJNYCH Irena Jankowska-Sumara, Magdalena Krupska Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest wyznaczenie
Bardziej szczegółowo1 Źródła i detektory. I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego
1 I. Badanie charakterystyki spektralnej nietermicznych źródeł promieniowania elektromagnetycznego Cel ćwiczenia: Wyznaczenie charakterystyki spektralnej nietermicznego źródła promieniowania (dioda LD
Bardziej szczegółowoKrawędź absorpcji podstawowej
Obecność przerwy energetycznej między pasmami przewodnictwa i walencyjnym powoduje obserwację w eksperymencie absorpcyjnym krawędzi podstawowej. Dla padającego promieniowania oznacza to przejście z ośrodka
Bardziej szczegółowoPromotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski. Jarosław Rochowicz. Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska
Promotor: prof. nadzw. dr hab. Jerzy Ratajski Jarosław Rochowicz Wydział Mechaniczny Politechnika Koszalińska Praca magisterska Wpływ napięcia podłoża na właściwości mechaniczne powłok CrCN nanoszonych
Bardziej szczegółowoSprawozdanie z laboratorium proekologicznych źródeł energii
P O L I T E C H N I K A G D A Ń S K A Sprawozdanie z laboratorium proekologicznych źródeł energii Temat: Wyznaczanie charakterystyk prądowo-napięciowych modułu ogniw fotowoltaicznych i sprawności konwersji
Bardziej szczegółowoUNIWERSYTET SZCZECIŃSKI INSTYTUT FIZYKI ZAKŁAD FIZYKI CIAŁA STAŁEGO. Ćwiczenie laboratoryjne Nr.2. Elektroluminescencja
UNIWERSYTET SZCZECIŃSKI INSTYTUT FIZYKI ZAKŁAD FIZYKI CIAŁA STAŁEGO Ćwiczenie laboratoryjne Nr.2 Elektroluminescencja SZCZECIN 2002 WSTĘP Mianem elektroluminescencji określamy zjawisko emisji spontanicznej
Bardziej szczegółowoIII. METODY OTRZYMYWANIA MATERIAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Janusz Adamowski
III. METODY OTRZYMYWANIA MATERIAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Janusz Adamowski 1 1 Wstęp Materiały półprzewodnikowe, otrzymywane obecnie w warunkach laboratoryjnych, charakteryzują się niezwykle wysoką czystością.
Bardziej szczegółowoCzęść 2. Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych
Część 2 Przewodzenie silnych prądów i blokowanie wysokich napięć przy pomocy przyrządów półprzewodnikowych Łukasz Starzak, Przyrządy i układy mocy, studia niestacjonarne, lato 2018/19 23 Półprzewodniki
Bardziej szczegółowoPoprawa charakterystyk promieniowania diod laserowych dużej mocy poprzez zastosowanie struktur periodycznych w płaszczyźnie złącza
Poprawa charakterystyk promieniowania diod laserowych dużej mocy poprzez zastosowanie struktur periodycznych w płaszczyźnie złącza Grzegorz Sobczak, Elżbieta Dąbrowska, Marian Teodorczyk, Joanna Kalbarczyk,
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)
LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007
Bardziej szczegółowoNatężenie prądu elektrycznego
Natężenie prądu elektrycznego Wymuszenie w przewodniku różnicy potencjałów powoduje przepływ ładunków elektrycznych. Powszechnie przyjmuje się, że przepływający prąd ma taki sam kierunek jak przepływ ładunków
Bardziej szczegółowoWykład 17: Optyka falowa cz.2.
Wykład 17: Optyka falowa cz.2. Dr inż. Zbigniew Szklarski Katedra Elektroniki, paw. C-1, pok.321 szkla@agh.edu.pl http://layer.uci.agh.edu.pl/z.szklarski/ 1 Interferencja w cienkich warstwach Załamanie
Bardziej szczegółowoUrządzenia półprzewodnikowe
Urządzenia półprzewodnikowe Diody: - prostownicza - Zenera - pojemnościowa - Schottky'ego - tunelowa - elektroluminescencyjna - LED - fotodioda półprzewodnikowa Tranzystory - tranzystor bipolarny - tranzystor
Bardziej szczegółowoUniwersytet Warszawski Wydział Fizyki. Światłowody
Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki Marcin Polkowski 251328 Światłowody Pracownia Fizyczna dla Zaawansowanych ćwiczenie L6 w zakresie Optyki Streszczenie Celem wykonanego na Pracowni Fizycznej dla Zaawansowanych
Bardziej szczegółowoLasery półprzewodnikowe. przewodnikowe. Bernard Ziętek
Lasery półprzewodnikowe przewodnikowe Bernard Ziętek Plan 1. Rodzaje półprzewodników 2. Parametry półprzewodników 3. Złącze p-n 4. Rekombinacja dziura-elektron 5. Wzmocnienie 6. Rezonatory 7. Lasery niskowymiarowe
Bardziej szczegółowoRepeta z wykładu nr 3. Detekcja światła. Struktura krystaliczna. Plan na dzisiaj
Repeta z wykładu nr 3 Detekcja światła Sebastian Maćkowski Instytut Fizyki Uniwersytet Mikołaja Kopernika Adres poczty elektronicznej: mackowski@fizyka.umk.pl Biuro: 365, telefon: 611-3250 Konsultacje:
Bardziej szczegółowoOpracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego
Przemysław CEYNOWA Wydział Elektroniki i Informatyki, Politechnika Koszalińska E-mail: przemysław.ceynowa@gmail.com Opracowanie bloku scalania światła do dyskretnego pseudomonochromatora wzbudzającego
Bardziej szczegółowostr. 1 d. elektron oraz dziura e.
1. Półprzewodniki samoistne a. Niska temperatura b. Wzrost temperatury c. d. elektron oraz dziura e. f. zjawisko fotoelektryczne wewnętrzne g. Krzem i german 2. Półprzewodniki domieszkowe a. W półprzewodnikach
Bardziej szczegółowo