WARSZAWA LIX Zeszyt 257

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Wielkość: px
Rozpocząć pokaz od strony:

Download "WARSZAWA LIX Zeszyt 257"

Transkrypt

1 WARSZAWA LIX Zeszyt 257

2 SPIS TRE CI STRESZCZENIE... 9 WYKAZ SKRÓTÓW WPROWADZENIE MIKROSKOPIA SI ATOMOWYCH PODSTAWY Podstawy oddzia ywa ostrze próbka Modele fizyczne oddzia ywa ostrze próbka Sondy skanuj ce jako detektory oddzia ywa bliskiego pola Podstawy konstrukcji mikroskopów si atomowych Podstawowe elementy systemu pomiarowego AFM Znaczenie interpretacyjne podstawowych sygna ów pomiarowych Metody reprezentacji danych Podstawy technik pomiarowych AFM Tryb kontaktowy mikroskopii AFM Tryby dynamiczne mikroskopii AFM Systematyka zaawansowanych trybów pomiarowych AFM W A CIWO CI MECHANICZNE POWIERZCHNI Analiza morfologii powierzchni Azometiny pomiar grubo ci warstw T oczywa termoutwardzalne ocena wp ywu symulowanego promieniowania s onecznego na morfologi powierzchni Spektroskopia si Podstawy spektroskopii si Azometiny obserwacja zjawiska zm czenia mechanicznego Obrazowanie fazowe Podstawy obrazowania fazowego Alkan C 60 H 122 analiza samoorganizacji a cuchów Mikroskopia modulowanej si y Podstawy mikroskopii modulowanej si y Polimer Solkote detekcja i pomiar wielko ci ziaren Mikroskopia si tarcia Podstawy mikroskopii si tarcia Azometiny ocena rozk adu domieszki fulerenu PCBM Tryb pomiarowy NanoSwing Podstawy trybu dynamicznego z analiz czasow sygna u Detekcja oscylacji skr tnych belki skanuj cej Rekonstrukcja i analiza krzywej si a odleg o Metoda doboru parametrów skanowania Grafen analiza w a ciwo ci mechanicznych W A CIWO CI ELEKTRYCZNE POWIERZCHNI Mikroskopia si elektrostatycznych Podstawy mikroskopii si elektrostatycznych AD 580 obserwacja pracy struktur uk adu scalonego Mikroskopia sondy Kelvina Podstawy mikroskopii sondy Kelvina Dioda laserowa analiza pracy heterostruktury pó przewodnikowej Struktura na bazie grafenu diagnostyka uszkodze W A CIWO CI MAGNETYCZNE POWIERZCHNI Mikroskopia si magnetycznych

3 Podstawy mikroskopii si magnetycznych Warstwa NiFe analiza korelacji mi dzy parametrami technologicznymi nanoszenia a struktur domen magnetycznych W A CIWO CI TERMICZNE POWIERZCHNI Skaningowa mikroskopia bliskiego pola termicznego Podstawy skaningowej mikroskopii bliskiego pola termicznego AD580 obserwacja rozk adu temperatury w aktywnej strukturze pó przewodnikowej Grafen - mapowanie przewodno ci cieplnej Polietylen - identyfikacja materia u z wykorzystaniem lokalnej termoanalizy PODSUMOWANIE LITERATURA

4 CONTENTS ABSTRACT... 9 LIST OF THE ABBREVIATIONS INTRODUCTION THE PRINCIPLES OF THE ATOMIC FORCE MICROSCOPY Tip sample interaction principles Physical models of the tip sample interaction The scanning probes for near field interaction detection The principles of the AFM measurement setup The main components of AFM measurement system The interpretative meaning of basic measurement signals Data representation methods The principles of the AFM measurement modes Contact AFM mode Dynamic AFM modes The taxonomy of AFM advanced measurement techniques MECHANICAL PROPERTIES OF THE SURFACE Analysis of the surface s morphology Azomethine compound the determination of the layers thickness The sheet moulding compound the estimation of the simulated solar light radiation impact on the surface morphology Force spectroscopy The principles of the force spectroscopy Azometine compound the observation of the mechanical wear phenomena Phase Imaging The principles of phase imaging mode C 60 H 122 alcane the analysis of the chains self ordering Force modulation microscopy The principles of the force modulation microscopy Solkote polymer the detection and measurement of the grains size Lateral force microscopy The principles of the lateral force microscopy Azomethine compound the evaluation of the PCBM fullerene distribution NanoSwing technique The principles of the time resolved tapping mode imaging method The cantilever s torsional bending detection The reconstruction and analysis of the force distance curve The scanning parameters adjustment principles Graphene the analysis of the mechanical properties ELECTRICAL PROPERTIES OF THE SURFACE Electrostatic force microscopy The principles of electrostatic force microscopy AD 580 observation of active integrated circuit Kelvin Probe Force Microscopy The principles of Kelvin probe force microscopy The laser diode the analysis of the behavior of active semiconductor heterostructure The graphene based device the damages diagnostics

5 5. MAGNETIC PROPERTIES OF THE SURFACE Magnetic force microscopy The principles of magnetic force microscopy The NiFe layer - the analysis of the correlation between the fabrication process parameters and magnetic domain s structure THERMAL PROPERTIES OF THE SURFACE Scanning thermal microscopy The principles of the scanning thermal microscopy AD580 the observation of the temperature distribution in active semiconductor structure Graphene - mapping of the thermal conductivity Polyethylene the identification of the material with local thermoanalysis SUMMARY REFERENCES

WARSZAWA LIX Zeszyt 257

WARSZAWA LIX Zeszyt 257 WARSZAWA LIX Zeszyt 257 REDAKCJA REDAKTOR NACZELNY: dr hab. in. Jan Szczyg owski, prof. IEl tel. 22 812 02 46, e-mail: j.szczyglowski@iel.waw.pl SEKRETARZ REDAKCJI: Magdalena Kami ska tel. 22 812 34 63,

Bardziej szczegółowo

Zbigniew H. ŻUREK BADANIA STANU FERROMAGNETYCZNYCH ELEMENTÓW MASZYN W POLU MAGNETYCZNYM

Zbigniew H. ŻUREK BADANIA STANU FERROMAGNETYCZNYCH ELEMENTÓW MASZYN W POLU MAGNETYCZNYM POLITECHNIKA ŚLĄSKA ZESZYTY NAUKOWE NR 1678 SUB Gottingen 7 217 872 263 2005 A 12193 Zbigniew H. ŻUREK BADANIA STANU FERROMAGNETYCZNYCH ELEMENTÓW MASZYN W POLU MAGNETYCZNYM GLIWICE 2005 SPIS TREŚCI Wykaz

Bardziej szczegółowo

Materiałowe i technologiczne uwarunkowania stanu naprężeń własnych i anizotropii wtórnej powłok cylindrycznych wytłaczanych z polietylenu

Materiałowe i technologiczne uwarunkowania stanu naprężeń własnych i anizotropii wtórnej powłok cylindrycznych wytłaczanych z polietylenu POLITECHNIKA ŚLĄSKA ZESZYTY NAUKOWE NR 1676 SUB Gottingen 7 217 872 077 Andrzej PUSZ 2005 A 12174 Materiałowe i technologiczne uwarunkowania stanu naprężeń własnych i anizotropii wtórnej powłok cylindrycznych

Bardziej szczegółowo

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip

NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały

Bardziej szczegółowo

BADANIA ELEKTROMAGNESÓW NADPRZEWODNIKOWYCH W PROCESIE ICH WYTWARZANIA I EKSPLOATACJI

BADANIA ELEKTROMAGNESÓW NADPRZEWODNIKOWYCH W PROCESIE ICH WYTWARZANIA I EKSPLOATACJI INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI Janusz KOZAK BADANIA ELEKTROMAGNESÓW NADPRZEWODNIKOWYCH W PROCESIE ICH WYTWARZANIA I EKSPLOATACJI Prace Instytutu Elektrotechniki zeszyt 265, 2014 SPIS TRE CI STRESZCZENIE... 9

Bardziej szczegółowo

AFM. Mikroskopia sił atomowych

AFM. Mikroskopia sił atomowych AFM Mikroskopia sił atomowych Siły van der Waalsa F(r) V ( r) = c 1 r 1 12 c 2 r 1 6 Siły van der Waalsa Mod kontaktowy Tryby pracy AFM związane z zależnością oddziaływania próbka ostrze od odległości

Bardziej szczegółowo

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force

SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force SPM Scanning Probe Microscopy Mikroskopia skanującej sondy STM Scanning Tunneling Microscopy Skaningowa mikroskopia tunelowa AFM Atomic Force Microscopy Mikroskopia siły atomowej MFM Magnetic Force Microscopy

Bardziej szczegółowo

Mikroskop sił atomowych

Mikroskop sił atomowych Mikroskop sił atomowych AFM: jak to działa? Krzysztof Zieleniewski Proseminarium ZFCS, 5 listopada 2009 Plan seminarium Łyczek historii Możliwości mikroskopu Budowa mikroskopu na Pasteura Podstawowe mody

Bardziej szczegółowo

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1.

I. Wstęp teoretyczny. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) 1. Ćwiczenie: Mikroskopia sił atomowych (AFM) Prowadzący: Michał Sarna (sarna@novel.ftj.agh.edu.pl) I. Wstęp teoretyczny 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych AFM (ang. Atomic Force Microscope) jest jednym

Bardziej szczegółowo

POLITECHNIKA KOSZALIŃSKA. Zbigniew Suszyński. Termografia aktywna. modele, przetwarzanie sygnałów i obrazów

POLITECHNIKA KOSZALIŃSKA. Zbigniew Suszyński. Termografia aktywna. modele, przetwarzanie sygnałów i obrazów POLITECHNIKA KOSZALIŃSKA Zbigniew Suszyński Termografia aktywna modele, przetwarzanie sygnałów i obrazów KOSZALIN 2014 MONOGRAFIA NR 259 WYDZIAŁU ELEKTRONIKI I INFORMATYKI ISSN 0239-7129 ISBN 987-83-7365-325-2

Bardziej szczegółowo

Wykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e = = 1 Å

Wykład 12 V = 4 km/s E 0 =.08 e V e  = = 1 Å Wykład 12 Fale materii: elektrony, neutrony, lekkie atomy Neutrony generowane w reaktorze są spowalniane w wyniku zderzeń z moderatorem (grafitem) do V = 4 km/s, co odpowiada energii E=0.08 ev a energia

Bardziej szczegółowo

M2 Mikroskopia sił atomowych: badanie nanostruktur.

M2 Mikroskopia sił atomowych: badanie nanostruktur. M2 Mikroskopia sił atomowych: badanie nanostruktur. Celem ćwiczenia jest poznanie mikroskopii sił atomowych i zbadanie otrzymanych próbek. Wymagane zagadnienia Podstawy fizyczne mikroskopii sił atomowych:

Bardziej szczegółowo

Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy)

Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) Spis treści 1 Historia 2 Rodzaje mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, Scanning Probe Microscopy) 2.1 Skaningowy mikroskop tunelowy (STM od ang. Scanning Tunneling Microscope) 2.1.1 Uzyskiwanie obrazu metodą

Bardziej szczegółowo

IDENTYFIKACJA I ANALIZA PARAMETRÓW GEOMETRYCZNYCH I MECHANICZNYCH KOŚCI MIEDNICZNEJ CZŁOWIEKA

IDENTYFIKACJA I ANALIZA PARAMETRÓW GEOMETRYCZNYCH I MECHANICZNYCH KOŚCI MIEDNICZNEJ CZŁOWIEKA POLITECHNIKA ŚLĄSKA ZESZYTY NAUKOWE Nr 1651 Antoni JOHN SUB Gottingen 7 217 780 458 2005 A 3012 IDENTYFIKACJA I ANALIZA PARAMETRÓW GEOMETRYCZNYCH I MECHANICZNYCH KOŚCI MIEDNICZNEJ CZŁOWIEKA Gliwice 2004

Bardziej szczegółowo

CZUŁOŚĆ CHEMICZNA W MIKROSKOPII SIŁ ATOMOWYCH

CZUŁOŚĆ CHEMICZNA W MIKROSKOPII SIŁ ATOMOWYCH CZUŁOŚĆ CHEMICZNA W MIKROSKOPII SIŁ ATOMOWYCH Marek Szymoński Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów (NANOSAM) Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej Uniwersytet Jagielloński

Bardziej szczegółowo

Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej

Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej 1 2 NR 147 Julian Kubisztal Elektrochemiczne metody skaningowe i ich zastosowanie w in ynierii korozyjnej Wydawnictwo Uniwersytetu

Bardziej szczegółowo

Tytuł pracy w języku angielskim: Microstructural characterization of Ag/X/Ag (X = Sn, In) joints obtained as the effect of diffusion soledering.

Tytuł pracy w języku angielskim: Microstructural characterization of Ag/X/Ag (X = Sn, In) joints obtained as the effect of diffusion soledering. Dr inż. Przemysław Skrzyniarz Kierownik pracy: Prof. dr hab. inż. Paweł Zięba Tytuł pracy w języku polskim: Charakterystyka mikrostruktury spoin Ag/X/Ag (X = Sn, In) uzyskanych w wyniku niskotemperaturowego

Bardziej szczegółowo

Sensory optyczne w motoryzacji

Sensory optyczne w motoryzacji Sensory optyczne w motoryzacji Grzegorz Antos Instytut Mikromechaniki i Fotoniki Plan prezentacji 1. Zalety sensorów optycznych 2. Systemy bezpiecze stwa w motoryzacji 3. Porównanie rozwi za CCD i CMOS

Bardziej szczegółowo

M1/M3 Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do badania nanostruktur

M1/M3 Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do badania nanostruktur M1/M3 Zastosowanie mikroskopii sił atomowych do badania nanostruktur Prowadzący: Kontakt e-mail: Rafał Bożek rafal.bozek@fuw.edu.pl Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z zasadami mikroskopii sił atomowych

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa Zakład Fizyki Magnetyków Uniwersytet w Białymstoku Instytut Fizyki Doświadczalnej Lipowa 41, 15-424 Białystok Tel: (85) 7457228 http://physics.uwb.edu.pl/zfmag Mikroskopia skaningowa tunelowa i siłowa

Bardziej szczegółowo

TOPOGRAFIA WSPÓŁPRACUJĄCYCH POWIERZCHNI ŁOŻYSK TOCZNYCH POMIERZONA NA MIKROSKOPIE SIŁ ATOMOWYCH

TOPOGRAFIA WSPÓŁPRACUJĄCYCH POWIERZCHNI ŁOŻYSK TOCZNYCH POMIERZONA NA MIKROSKOPIE SIŁ ATOMOWYCH 5-2011 T R I B O L O G I A 31 Adam CZABAN *, Andrzej MISZCZAK * TOPOGRAFIA WSPÓŁPRACUJĄCYCH POWIERZCHNI ŁOŻYSK TOCZNYCH POMIERZONA NA MIKROSKOPIE SIŁ ATOMOWYCH TOPOGRAPHY OF ROLLING BEARINGS COOPERATING

Bardziej szczegółowo

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY:

(Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11. Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: . (Pieczęć Wykonawcy) Załącznik nr 8 do SIWZ Nr postępowania: ZP/259/050/D/11 Opis oferowanej dostawy OFERUJEMY: 1) Mikroskop AFM według pkt 1 a) załącznika nr 7 do SIWZ, model / producent..... Detekcja

Bardziej szczegółowo

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku

Bardziej szczegółowo

Zastosowanie spektroskopii EPR do badania wolnych rodników generowanych termicznie w drotawerynie

Zastosowanie spektroskopii EPR do badania wolnych rodników generowanych termicznie w drotawerynie Zastosowanie spektroskopii EPR do badania wolnych rodników generowanych termicznie w drotawerynie Paweł Ramos, Barbara Pilawa, Maciej Adamski STRESZCZENIE Katedra i Zakład Biofizyki Wydziału Farmaceutycznego

Bardziej szczegółowo

DIAGNOSIS OF WORKING MECHANISMS IN MACHINERY AND EQUIPMENT

DIAGNOSIS OF WORKING MECHANISMS IN MACHINERY AND EQUIPMENT 1 Czestochowa University of Technology Faculty of Management DIAGNOSIS OF WORKING MECHANISMS IN MACHINERY AND EQUIPMENT MODELLING DESIGNING ASSESSMENT OF THE CONDITION MONOGRAPH SCIENTIFIC EDITOR Adam

Bardziej szczegółowo

Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii

Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii sprawozdanie za okres I 2010 XII 2011 Prof. dr hab. Jan Misiewicz www.cmzin.pwr.wroc.pl Centrum Materiałów Zaawansowanych i Nanotechnologii (CMZiN) Jest

Bardziej szczegółowo

Nowoczesne metody śledzenia rozwoju mikrouszkodzeń

Nowoczesne metody śledzenia rozwoju mikrouszkodzeń Nowoczesne metody śledzenia rozwoju mikrouszkodzeń badania średniowiecznego ołtarza w kościele w Hedalen w Norwegii oraz malarstwa tablicowego ze zbiorów Muzeum Narodowego w Krakowie Michał Łukomski Instytut

Bardziej szczegółowo

PRACOWNIA MIKROSKOPII

PRACOWNIA MIKROSKOPII 1. Kierownik Pracowni: Dr hab. Andrzej Wojtczak, prof. UMK 2. Wykonujący badania: Mgr Grzegorz Trykowski 3. Adres: Uniwersytet Mikołaja Kopernika Wydział Chemii Pracownia Analiz Instrumentalnych ul. Gagarina

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia Załącznik nr 5 Opis przedmiotu zamówienia 1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu na potrzeby Centrum Badań nad Innowacjami o parametrach: 2. Dostarczony asortyment musi być fabrycznie nowy oraz

Bardziej szczegółowo

Badanie powierzchni materiałów z za pomocą skaningowej mikroskopii sił atomowych (AFM)

Badanie powierzchni materiałów z za pomocą skaningowej mikroskopii sił atomowych (AFM) 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z techniką obrazowania powierzchni za pomocą skaningowego mikroskopu sił atomowych (AFM). Badanie powierzchni materiałów z za pomocą skaningowej mikroskopii

Bardziej szczegółowo

PRACE INŻYNIERSKIE Rok akademicki 2009/2010

PRACE INŻYNIERSKIE Rok akademicki 2009/2010 PRACE INŻYNIERSKIE Rok akademicki 2009/2010 Analiza strat w sieci niskiego napięcia (Analysis of losses in net of low tension) W pracy przedstawione zostaną problemy związane z nielegalnym poborem energii

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE TECHNOLOGII REP-RAP DO WYTWARZANIA FUNKCJONALNYCH STRUKTUR Z PLA

ZASTOSOWANIE TECHNOLOGII REP-RAP DO WYTWARZANIA FUNKCJONALNYCH STRUKTUR Z PLA Aktualne Problemy Biomechaniki, nr 8/2014 109 Emilia MAZGAJCZYK, Patrycja SZYMCZYK, Edward CHLEBUS, Katedra Technologii Laserowych, Automa ZASTOSOWANIE TECHNOLOGII REP-RAP DO WYTWARZANIA FUNKCJONALNYCH

Bardziej szczegółowo

Prof. dr hab. Maria Kozioł-Montewka

Prof. dr hab. Maria Kozioł-Montewka Mikroskop sił atomowych jako nowe narzędzie w bezpośredniej identyfikacji drobnoustrojów stanowiących broń biologiczną Prof. dr hab. Maria Kozioł-Montewka Katedra i Zakład Mikrobiologii Lekarskiej Uniwersytet

Bardziej szczegółowo

Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur

Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur Innowacyjne technologie wielofunkcyjnych materiałów i struktur dla nanoelektroniki, fotoniki, spintroniki i technik sensorowych InTechFun 1 Instytut Technologii Elektronowej ZESPÓŁ REALIZUJĄCY PROJEKT

Bardziej szczegółowo

Opis przedmiotu zamówienia

Opis przedmiotu zamówienia ZP/UR/169/2012 Zał. nr 1a do siwz Opis przedmiotu zamówienia A. Spektrometr ramanowski z mikroskopem optycznym: 1) Spektrometr ramanowski posiadający podwójny tor detekcyjny, wyposażony w chłodzony termoelektrycznie

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH WYKONANYCH W TECHNOLOGII SMT MECHANIK 7/2013 Mgr inż. Małgorzata BUŻANTOWICZ Muzeum i Instytut Zoologii PAN Mgr inż. Witold BUŻANTOWICZ Wojskowa Akademia Techniczna ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SKANINGOWEJ DO INSPEKCJI UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH

Bardziej szczegółowo

5.2.3. Układy detekcji i przetwarzania bliskiego pola... 80 5.2.4. Układy pętli sprzężenia zwrotnego... 82 5.2.5. Zasilacze systemu i układy

5.2.3. Układy detekcji i przetwarzania bliskiego pola... 80 5.2.4. Układy pętli sprzężenia zwrotnego... 82 5.2.5. Zasilacze systemu i układy Moim Rodzicom Spis treści Spis oznaczeń i akronimów... 9 1. Wstęp... 17. Metody pomiarowe mikroskopii bliskich oddziaływań....1. Mikroskopia tunelowa... 3.. Mikroskopia sił atomowych... 4..1. Statyczna

Bardziej szczegółowo

Wady ostrza. Ponieważ ostrze ma duży promień niektóre elementy ukształtowania powierzchni nie są rejestrowane (fioletowy element)

Wady ostrza. Ponieważ ostrze ma duży promień niektóre elementy ukształtowania powierzchni nie są rejestrowane (fioletowy element) Wady ostrza Ponieważ ostrze ma duży promień niektóre elementy ukształtowania powierzchni nie są rejestrowane (fioletowy element) Ponieważ ostrze ma kilka zakończeń w obrazie pojawiają się powtórzone struktury

Bardziej szczegółowo

IDENTYFIKACJA PARAMETRÓW CHARAKTERYZUJĄCYCH OBCIĄŻENIE SEKCJI OBUDOWY ZMECHANIZOWANEJ SPOWODOWANE DYNAMICZNYM ODDZIAŁYWANIEM GÓROTWORU

IDENTYFIKACJA PARAMETRÓW CHARAKTERYZUJĄCYCH OBCIĄŻENIE SEKCJI OBUDOWY ZMECHANIZOWANEJ SPOWODOWANE DYNAMICZNYM ODDZIAŁYWANIEM GÓROTWORU POLITECHNIKA ŚLĄSKA ZESZYTY NAUKOWE Nr 1648 Stanisław SZWEDA STJB Gottingen 217 808 00X IDENTYFIKACJA PARAMETRÓW CHARAKTERYZUJĄCYCH OBCIĄŻENIE SEKCJI OBUDOWY ZMECHANIZOWANEJ SPOWODOWANE DYNAMICZNYM ODDZIAŁYWANIEM

Bardziej szczegółowo

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH

WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH Scientific Bulletin of Che lm Section of Technical Sciences No. 1/2008 WYBÓR PUNKTÓW POMIAROWYCH WE WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWEJ TECHNICE POMIAROWEJ MAREK MAGDZIAK Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji, Politechnika

Bardziej szczegółowo

ĆWICZENIE 4a. Analiza struktury kompozytów polimerowych

ĆWICZENIE 4a. Analiza struktury kompozytów polimerowych Nanomateriały ĆWICZENIE 4a 5 Analiza struktury kompozytów polimerowych Określenie stopnia rozproszenia i rozmiaru modyfikowanych bentonitów oraz nanonapełniaczy w matrycy epoksydowej Analiza topografii

Bardziej szczegółowo

Mikrostruktura, struktura magnetyczna oraz właściwości magnetyczne amorficznych i częściowo skrystalizowanych stopów Fe, Co i Ni

Mikrostruktura, struktura magnetyczna oraz właściwości magnetyczne amorficznych i częściowo skrystalizowanych stopów Fe, Co i Ni mgr inż. Jakub Rzącki Praca doktorska p.t.: Mikrostruktura, struktura magnetyczna oraz właściwości magnetyczne amorficznych i częściowo skrystalizowanych stopów Fe, Co i Ni STRESZCZENIE W pracy przedstawiono

Bardziej szczegółowo

Fizyka powierzchni. Dr Piotr Sitarek. Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska

Fizyka powierzchni. Dr Piotr Sitarek. Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska Fizyka powierzchni 11 Dr Piotr Sitarek Katedra Fizyki Doświadczalnej, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Politechnika Wrocławska Lista zagadnień Fizyka powierzchni i międzypowierzchni, struktura

Bardziej szczegółowo

Poprawa charakterystyk promieniowania diod laserowych dużej mocy poprzez zastosowanie struktur periodycznych w płaszczyźnie złącza

Poprawa charakterystyk promieniowania diod laserowych dużej mocy poprzez zastosowanie struktur periodycznych w płaszczyźnie złącza Poprawa charakterystyk promieniowania diod laserowych dużej mocy poprzez zastosowanie struktur periodycznych w płaszczyźnie złącza Grzegorz Sobczak, Elżbieta Dąbrowska, Marian Teodorczyk, Joanna Kalbarczyk,

Bardziej szczegółowo

STATYSTYKA OD PODSTAW Z SYSTEMEM SAS. wersja 9.2 i 9.3. Szkoła Główna Handlowa w Warszawie

STATYSTYKA OD PODSTAW Z SYSTEMEM SAS. wersja 9.2 i 9.3. Szkoła Główna Handlowa w Warszawie STATYSTYKA OD PODSTAW Z SYSTEMEM SAS wersja 9.2 i 9.3 Szkoła Główna Handlowa w Warszawie Spis treści Wprowadzenie... 6 1. Podstawowe informacje o systemie SAS... 9 1.1. Informacje ogólne... 9 1.2. Analityka...

Bardziej szczegółowo

WYKAZ PRÓB / SUMMARY OF TESTS

WYKAZ PRÓB / SUMMARY OF TESTS 7652/NBR/8 Strona/Page 2/46 Próba stabilności cieplnej Thermal stability test Próba stabilności cieplnej Thermal stability test Próba stabilności cieplnej Thermal stability test Próba stabilności cieplnej

Bardziej szczegółowo

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Muzeum i Instytut Zoologii Polska Akademia Nauk Akademia im. Jana DługoszaD ugosza Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM Magdalena

Bardziej szczegółowo

WPŁYW PROCESU TARCIA NA ZMIANĘ MIKROTWARDOŚCI WARSTWY WIERZCHNIEJ MATERIAŁÓW POLIMEROWYCH

WPŁYW PROCESU TARCIA NA ZMIANĘ MIKROTWARDOŚCI WARSTWY WIERZCHNIEJ MATERIAŁÓW POLIMEROWYCH WOJCIECH WIELEBA WPŁYW PROCESU TARCIA NA ZMIANĘ MIKROTWARDOŚCI WARSTWY WIERZCHNIEJ MATERIAŁÓW POLIMEROWYCH THE INFLUENCE OF FRICTION PROCESS FOR CHANGE OF MICROHARDNESS OF SURFACE LAYER IN POLYMERIC MATERIALS

Bardziej szczegółowo

Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)

Mikroskopia Sił Atomowych (AFM) Narzędzia dla nanotechnologii Mikroskopia Sił Atomowych (AFM) Tomasz Kruk* Wprowadzenie Wśród wielu urządzeń kojarzonych z nanotechnologią żadne nie jest tak dobrze rozpoznawalne i proste w założeniu swojej

Bardziej szczegółowo

Dr inż. Paulina Indyka

Dr inż. Paulina Indyka Dr inż. Paulina Indyka Kierownik pracy: dr hab. Ewa BełtowskaLehman, prof. PAN Tytuł pracy w języku polskim: Optymalizacja mikrostruktury i właściwości powłok NiW osadzanych elektrochemicznie Tytuł pracy

Bardziej szczegółowo

Ethernet. Ethernet. Network Fundamentals Chapter 9. Podstawy sieci Rozdział 9

Ethernet. Ethernet. Network Fundamentals Chapter 9. Podstawy sieci Rozdział 9 Ethernet Network Fundamentals Chapter 9 Version 4.0 1 Ethernet Podstawy sieci Rozdział 9 Version 4.0 2 Objectives Identify the basic characteristics of network media used in Ethernet. Describe the physical

Bardziej szczegółowo

SPEKTROSKOPIA LASEROWA

SPEKTROSKOPIA LASEROWA SPEKTROSKOPIA LASEROWA Spektroskopia laserowa dostarcza wiedzy o naturze zjawisk zachodz cych na poziomie atomów i cz steczek oraz oddzia ywaniu promieniowania z materi i nale y do jednej z najwa niejszych

Bardziej szczegółowo

OPISY KURSÓW. Kod kursu: ETD 6070 Nazwa kursu: Technika Laserowa 1 Język wykładowy: polski

OPISY KURSÓW. Kod kursu: ETD 6070 Nazwa kursu: Technika Laserowa 1 Język wykładowy: polski OPISY KURSÓW Kod kursu: ETD 6070 Nazwa kursu: Technika Laserowa Język wykładowy: polski Forma kursu Wykład Ćwiczenia Laboratorium Projekt Seminarium Tygodniowa liczba godzin ZZU * Semestralna liczba godzin

Bardziej szczegółowo

METODYKA OCENY TOPOGRAFII FOLII ŚCIERNYCH ZE SZCZEGÓLNYM UWZGLĘDNIENIEM ROZMIESZCZENIA ZIAREN ŚCIERNYCH

METODYKA OCENY TOPOGRAFII FOLII ŚCIERNYCH ZE SZCZEGÓLNYM UWZGLĘDNIENIEM ROZMIESZCZENIA ZIAREN ŚCIERNYCH XXXIII NAUKOWA SZKOŁA OBRÓBKI ŚCIERNEJ Łódź, -1 września 1 r. METODYKA OCENY TOPOGRAFII FOLII ŚCIERNYCH ZE SZCZEGÓLNYM UWZGLĘDNIENIEM ROZMIESZCZENIA ZIAREN ŚCIERNYCH Wojciech Kacalak *), Katarzyna Tandecka

Bardziej szczegółowo

Nanoskopowe metody charakteryzacji materiałów. Obrazek: Helsinki University of Technology tfy.tkk.fi/sin/research/

Nanoskopowe metody charakteryzacji materiałów. Obrazek: Helsinki University of Technology tfy.tkk.fi/sin/research/ Nanoskopowe metody charakteryzacji materiałów Obrazek: Helsinki University of Technology tfy.tkk.fi/sin/research/ STM i AFM: podstawy konstrukcji STM AFM Scanning tunelling microscope (STM) Heinrich Rohrer

Bardziej szczegółowo

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM

Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych. Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Rentgenowska fazowa analiza ilościowa Parametry komórki elementarnej Wielkości krystalitów Budowa mikroskopu

Bardziej szczegółowo

Wytwarzanie nowych scyntylatorów polimerowych na bazie poliwinylotoluenu do hybrydowego tomografu J-PET/MR

Wytwarzanie nowych scyntylatorów polimerowych na bazie poliwinylotoluenu do hybrydowego tomografu J-PET/MR Wytwarzanie nowych scyntylatorów polimerowych na bazie poliwinylotoluenu do hybrydowego tomografu J-PET/MR Development of novel plastic scintillators based on polyvinyltoluene for the hybrid J-PET/MR tomography

Bardziej szczegółowo

Kierunek i rodzaj studiów (Specjalność) Rodzaj pracy Nazwa jednostki Opiekun pracy Temat pracy (j.polski i j.angielski)

Kierunek i rodzaj studiów (Specjalność) Rodzaj pracy Nazwa jednostki Opiekun pracy Temat pracy (j.polski i j.angielski) [#39] [#38] (Elektroenergetyka) dr hab. inż., prof. n. Jakub Furgał Analiza rozwiązań konstrukcyjnych transformatorów energetycznych (Analysis of construction solutions for power transformers) Charakterystyka

Bardziej szczegółowo

ELEKTRONIKA NADPRZEWODNIKOWA

ELEKTRONIKA NADPRZEWODNIKOWA WYDAWNICTWA KSIĄśKOWE INSTYTUTU ELEKTROTECHNIKI ELEKTRONIKA NADPRZEWODNIKOWA Łukasz Adamczyk Tadeusz Janowski Warszawa 2011 Spis treści 5 SPIS TREŚCI WYKAZ OZNACZEŃ.....11 WYKAZ SKRÓTÓW......17 1. WPROWADZENIE......20

Bardziej szczegółowo

ANALIZA MOśLIWOŚCI WYKORZYSTANIA OBRAZOWANIA 3D DO ANALIZY MIKROSTRUKTURY MATERIAŁÓW KOMPOZYTOWYCH

ANALIZA MOśLIWOŚCI WYKORZYSTANIA OBRAZOWANIA 3D DO ANALIZY MIKROSTRUKTURY MATERIAŁÓW KOMPOZYTOWYCH ANETA GĄDEK-MOSZCZAK ANALIZA MOśLIWOŚCI WYKORZYSTANIA OBRAZOWANIA 3D DO ANALIZY MIKROSTRUKTURY MATERIAŁÓW KOMPOZYTOWYCH ANALYSIS OF THE APPLICATION CAPABILITES OF 3D MICROSTRUCTURE IMAGING OF THE COMPOSITE

Bardziej szczegółowo

Ć W I C Z E N I E N R O-10

Ć W I C Z E N I E N R O-10 INSTYTUT FIZYKI WYDZIAŁ INŻYNIERII PRODUKCJI I TECHNOLOGII MATERIAŁÓW POLITECHNIKA CZĘSTOCHOWSKA PRACOWNIA OPTYKI Ć W I C Z E N I E N R O-10 POMIAR PRĘDKOŚCI ŚWIATŁA I. Zagadnienia do opracowania 1. Metody

Bardziej szczegółowo

METODA DETEKCJI AMPLITUDY I FAZY W TRYBIE KONTAKTU PRZERYWANEGO W DYNAMICZNYM MIKROSKOPIE SIŁ ATOMOWYCH

METODA DETEKCJI AMPLITUDY I FAZY W TRYBIE KONTAKTU PRZERYWANEGO W DYNAMICZNYM MIKROSKOPIE SIŁ ATOMOWYCH 6-2013 T R I B O L O G I A 87 Sławomir PAWŁOWSKI *, Grzegorz DOBIŃSKI * Andrzej MAJCHER **, Mirosław MROZEK ** METODA DETEKCJI AMPLITUDY I FAZY W TRYBIE KONTAKTU PRZERYWANEGO W DYNAMICZNYM MIKROSKOPIE

Bardziej szczegółowo

DETECTION OF MATERIAL INTEGRATED CONDUCTORS FOR CONNECTIVE RIVETING OF FUNCTION-INTEGRATIVE TEXTILE-REINFORCED THERMOPLASTIC COMPOSITES

DETECTION OF MATERIAL INTEGRATED CONDUCTORS FOR CONNECTIVE RIVETING OF FUNCTION-INTEGRATIVE TEXTILE-REINFORCED THERMOPLASTIC COMPOSITES Kompozyty 11: 2 (2011) 152-156 Werner A. Hufenbach, Frank Adam, Maik Gude, Ivonne Körner, Thomas Heber*, Anja Winkler Technische Universität Dresden, Institute of Lightweight Engineering and Polymer Technology

Bardziej szczegółowo

Krytyczne czynniki sukcesu w zarządzaniu projektami

Krytyczne czynniki sukcesu w zarządzaniu projektami Seweryn SPAŁEK Krytyczne czynniki sukcesu w zarządzaniu projektami MONOGRAFIA Wydawnictwo Politechniki Śląskiej Gliwice 2004 SPIS TREŚCI WPROWADZENIE 5 1. ZARZĄDZANIE PROJEKTAMI W ORGANIZACJI 13 1.1. Zarządzanie

Bardziej szczegółowo

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA

SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Załącznik nr 1 do SIWZ Znak sprawy: KA-2/124/2010 SZCZEGÓŁOWY OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Zadanie nr 1 Dostawa mikroskopu i spektrometru FT-IR Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu i spektrometru

Bardziej szczegółowo

Investigation of the coexistence of superconductivity and magnetism in substituted EuFe 2 As 2. Lan Maria Tran

Investigation of the coexistence of superconductivity and magnetism in substituted EuFe 2 As 2. Lan Maria Tran Investigation of the coexistence of superconductivity and magnetism in substituted EuFe 2 As 2 Lan Maria Tran 27.06.2017, Wrocław ABSTRACT The recently discovered iron-based superconductors are one of

Bardziej szczegółowo

Skaningowy mikroskop elektronowy

Skaningowy mikroskop elektronowy Skaningowy mikroskop elektronowy SH-5000M / SH-4000 / SH-3500 / detektor EDS Mikroskop elektronowy skaningowy z serii Hirox SH to najwyższej klasy system nastołowy, umożliwiającym szybkie obrazowanie w

Bardziej szczegółowo

Euro Oil & Fuel Biokomponenty w paliwach do silników Diesla wpływ na emisję i starzenie oleju silnikowego

Euro Oil & Fuel Biokomponenty w paliwach do silników Diesla wpływ na emisję i starzenie oleju silnikowego Instytut Nafty i Gazu Prace Naukowe Instytutu Nafty I Gazu nr 172 Euro Oil & Fuel Biokomponenty w paliwach do silników Diesla wpływ na emisję i starzenie oleju silnikowego Bio-components in Diesel fuels

Bardziej szczegółowo

2011 InfraTec. Aktywna termografia w badaniach nieniszczących przy użyciu oprogramowania IRBIS 3 active

2011 InfraTec. Aktywna termografia w badaniach nieniszczących przy użyciu oprogramowania IRBIS 3 active 2011 InfraTec Aktywna termografia w badaniach nieniszczących przy użyciu oprogramowania IRBIS 3 active Termografia aktywna a termografia pasywna 1 Termografia pasywna (statyczna): materiał niepoddany działaniu

Bardziej szczegółowo

Technologia wytwarzania oraz badania mikrostruktury i właściwości stopów amorficznych i krystalicznych na bazie żelaza

Technologia wytwarzania oraz badania mikrostruktury i właściwości stopów amorficznych i krystalicznych na bazie żelaza Badania prowadzone w ramach niniejszej rozprawy były współfinansowane ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego. Technologia wytwarzania oraz badania mikrostruktury i właściwości

Bardziej szczegółowo

Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii

Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Laboratorium Materiałów Zol-Żelowych i Nanotechnologii Dolnośląskiego Centrum Zaawansowanych Technologii Wydział Mechaniczny, Instytut Materiałoznawstwa i Mechaniki Technicznej Politechnika Wrocławska,

Bardziej szczegółowo

SUB-NANO Matryce czujników mikromecha-nicznych do detekcji bakterii Gram-ujemnych i ich endotoksyn T.Gotszalk

SUB-NANO Matryce czujników mikromecha-nicznych do detekcji bakterii Gram-ujemnych i ich endotoksyn T.Gotszalk MIKRO- I NANO-SYSTEMY W CHEMII I DIAGNOSTYCE BIOMEDYCZNEJ MNS-DIAG PROJEKT KLUCZOWY WSPÓŁFINANSOWANY PRZEZ UNIĘ EUROPEJSKĄ Z EUROPEJSKIEGO FUNDUSZU ROZWOJU REGIONALNEGO; UMOWA Nr. POIG.01.03.01-00-014/08-00

Bardziej szczegółowo

OTRZYMYWANIE KOMPOZYTÓW METALOWO-CERAMICZNYCH METODAMI PLAZMOWYMI

OTRZYMYWANIE KOMPOZYTÓW METALOWO-CERAMICZNYCH METODAMI PLAZMOWYMI KOMPOZYTY (COMPOSITES) 1(21)1 Władysław Włosiński 1, Tomasz Chmielewski 2 Politechnika Warszawska, Instytut Technologii Materiałowych, ul. Narbutta 85, 2-542 Warszawa OTRZYMYWANIE KOMPOZYTÓW METALOWO-CERAMICZNYCH

Bardziej szczegółowo

INSPECTION METHODS FOR QUALITY CONTROL OF FIBRE METAL LAMINATES IN AEROSPACE COMPONENTS

INSPECTION METHODS FOR QUALITY CONTROL OF FIBRE METAL LAMINATES IN AEROSPACE COMPONENTS Kompozyty 11: 2 (2011) 130-135 Krzysztof Dragan 1 * Jarosław Bieniaś 2, Michał Sałaciński 1, Piotr Synaszko 1 1 Air Force Institute of Technology, Non Destructive Testing Lab., ul. ks. Bolesława 6, 01-494

Bardziej szczegółowo

WPŁYW PARAMETRÓW OBRÓBKI CIEPLNEJ TAŚM ZE STALI X6CR17 NA ICH WŁAŚCIWOŚCI MECHANICZNE I STRUKTURĘ

WPŁYW PARAMETRÓW OBRÓBKI CIEPLNEJ TAŚM ZE STALI X6CR17 NA ICH WŁAŚCIWOŚCI MECHANICZNE I STRUKTURĘ 2 Prace IMŻ 2 (2012) Krzysztof RADWAŃSKI, Jerzy WIEDERMANN Instytut Metalurgii Żelaza Andrzej ADAMIEC Przeróbka Plastyczna na Zimno Baildon Sp. z o.o. Jarosław GAZDOWICZ Instytut Metalurgii Żelaza WPŁYW

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPU SI ATOMOWYCH DO BADANIA W ASNOŒCI TARCIOWYCH ULTRACIENKICH POW OK

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPU SI ATOMOWYCH DO BADANIA W ASNOŒCI TARCIOWYCH ULTRACIENKICH POW OK 5-2003 T R I B O L O G I A 49 Jadwiga JANOWSKA*, Zenobia R ANEK-BOROCH*, Magdalena EKWIÑSKA* ZASTOSOWANIE MIKROSKOPU SI ATOMOWYCH DO BADANIA W ASNOŒCI TARCIOWYCH ULTRACIENKICH POW OK APPLICATION OF ATOMIC

Bardziej szczegółowo

SYLABUS. Nazwa jednostki prowadzącej Wydział Matematyczno - Przyrodniczy Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii

SYLABUS. Nazwa jednostki prowadzącej Wydział Matematyczno - Przyrodniczy Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii SYLABUS Nazwa przedmiotu Nanotechnologie i nanoobiekty Nazwa jednostki prowadzącej Wydział Matematyczno - Przyrodniczy przedmiot Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii Kod przedmiotu Studia Kierunek

Bardziej szczegółowo

Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej

Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej Nanomateriałów Leon Murawski, Katedra Fizyki Ciała Stałego Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej POLITECHNIKA GDAŃSKA Centrum Zawansowanych Technologii Pomorze ul. Al. Zwycięstwa 27 80-233

Bardziej szczegółowo

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SIŁ ATOMOWYCH (AFM) W DIAGNOSTYCE WARSTWY WIERZCHNIEJ

ZASTOSOWANIE MIKROSKOPII SIŁ ATOMOWYCH (AFM) W DIAGNOSTYCE WARSTWY WIERZCHNIEJ Mirosław BRAMOWICZ Uniwersytet Warmińsko-Mazurski w Olsztynie Sylwester KŁYSZ Instytut Techniczny Wojsk Lotniczych PRACE NAUKOWE ITWL Zeszyt 22, s. 159 166, 2007 r. DOI 10.2478/v10041-008-0009-z ZASTOSOWANIE

Bardziej szczegółowo

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE. Negotiation techniques. Management. Stationary. II degree

PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE. Negotiation techniques. Management. Stationary. II degree Politechnika Częstochowska, Wydział Zarządzania PRZEWODNIK PO PRZEDMIOCIE Nazwa przedmiotu Kierunek Forma studiów Poziom kwalifikacji Rok Semestr Jednostka prowadząca Osoba sporządzająca Profil Rodzaj

Bardziej szczegółowo

OSI Physical Layer. Network Fundamentals Chapter 8. Version Cisco Systems, Inc. All rights reserved. Cisco Public 1

OSI Physical Layer. Network Fundamentals Chapter 8. Version Cisco Systems, Inc. All rights reserved. Cisco Public 1 OSI Physical Layer Network Fundamentals Chapter 8 Version 4.0 1 Warstwa fizyczna modelu OSI Network Fundamentals Rozdział 8 Version 4.0 2 Objectives Explain the role of Physical layer protocols and services

Bardziej szczegółowo

Agrofi k zy a Wyk Wy ł k ad V Marek Kasprowicz

Agrofi k zy a Wyk Wy ł k ad V Marek Kasprowicz Agrofizyka Wykład V Marek Kasprowicz Spektroskopia p nauka o powstawaniu i interpretacji widm powstających w wyniku oddziaływań wszelkich rodzajów promieniowania na materię ę rozumianą jako zbiorowisko

Bardziej szczegółowo

Instytut W5/I-7 Zestawienie Kart przedmiotów Wrocław, 2012-11-17

Instytut W5/I-7 Zestawienie Kart przedmiotów Wrocław, 2012-11-17 ARR021302 Obwody elektryczne Electric circuits ELR021306 energii Renewable Energy Sources ELR021312 Fotowoltaika stosowana Applied photovoltaics ELR021315 Ogniwa fotowoltaiczne Photovoltaic Cells.. Odnawialne

Bardziej szczegółowo

SPIS TREŚCI WPROWADZENIE Podział biomateriałów Biomateriały w medycynie regeneracyjnej Cementy kostne...

SPIS TREŚCI WPROWADZENIE Podział biomateriałów Biomateriały w medycynie regeneracyjnej Cementy kostne... SPIS TREŚCI WPROWADZENIE... 1 I. PRZEGLĄD LITERATURY... 3 1.1. Podział biomateriałów... 3 1.2. Biomateriały w medycynie regeneracyjnej... 8 1.3. Materiały kościozastępcze... 11 1.4. Wymagania stawiane

Bardziej szczegółowo

Mikroskop sił atomowych (AFM)

Mikroskop sił atomowych (AFM) Mikroskop sił atomowych (AFM) 1. Wprowadzenie Mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope AFM) został skonstruowany w 1986 r. w laboratorium IBM w Zurichu (Binnig G., Quate C.F., Gerber C., Phys.

Bardziej szczegółowo

Zbigniew Porada Wprowadzenie do optoelektroniki i techniki œwiat³owodowej

Zbigniew Porada Wprowadzenie do optoelektroniki i techniki œwiat³owodowej Zbigniew Porada Wprowadzenie do optoelektroniki i techniki œwiat³owodowej Wrzesieñ 2014 PODRÊCZNIK DLA ELEKTRYKÓW praca zbiorowa pod redakcj¹ Jana Strojnego Wprowadzenie do optoelektroniki i techniki œwiat³owodowej

Bardziej szczegółowo

Przedmiotem warunków technicznych jest nieorientowana folia poliestrowa (cpet) o nazwie handlowej TRINIFLEX.

Przedmiotem warunków technicznych jest nieorientowana folia poliestrowa (cpet) o nazwie handlowej TRINIFLEX. WARUNKI TECHNICZNE Folia Poliestrowa CAST TRINIFLEX WT/TF - 02 Wydanie 2 Data wydania: 14.07.2014 1. Przedmiot warunków technicznych Przedmiotem warunków technicznych jest nieorientowana folia poliestrowa

Bardziej szczegółowo

BADANIE CIEPLNE LAMINATÓW EPOKSYDOWO-SZKLANYCH STARZONYCH W WODZIE THERMAL RESERACH OF GLASS/EPOXY LAMINATED AGING IN WATER

BADANIE CIEPLNE LAMINATÓW EPOKSYDOWO-SZKLANYCH STARZONYCH W WODZIE THERMAL RESERACH OF GLASS/EPOXY LAMINATED AGING IN WATER Andrzej PUSZ, Łukasz WIERZBICKI, Krzysztof PAWLIK Politechnika Śląska Instytut Materiałów InŜynierskich i Biomedycznych E-mail: lukasz.wierzbicki@polsl.pl BADANIE CIEPLNE LAMINATÓW EPOKSYDOWO-SZKLANYCH

Bardziej szczegółowo

WARSTWY WĘGLIKOWE WYTWARZANE W PROCESIE CHROMOWANIA PRÓŻNIOWEGO NA POWIERZCHNI STALI POKRYTEJ STOPAMI NIKLU Z PIERWIASTKAMI WĘGLIKOTWÓRCZYMI

WARSTWY WĘGLIKOWE WYTWARZANE W PROCESIE CHROMOWANIA PRÓŻNIOWEGO NA POWIERZCHNI STALI POKRYTEJ STOPAMI NIKLU Z PIERWIASTKAMI WĘGLIKOTWÓRCZYMI 4-2010 T R I B O L O G I A 23 Bogdan BOGDAŃSKI *, Ewa KASPRZYCKA *,**, Jan TACIKOWSKI *, Jan K. SENATORSKI *,***, Mariusz KOPROWSKI ** WARSTWY WĘGLIKOWE WYTWARZANE W PROCESIE CHROMOWANIA PRÓŻNIOWEGO NA

Bardziej szczegółowo

PROMIENIOWANIE WIDZIALNE ŁUKU SPAWALNICZEGO METODY TIG

PROMIENIOWANIE WIDZIALNE ŁUKU SPAWALNICZEGO METODY TIG 86/21 ARCHIWUM ODLEWNICTWA Rok 2006, Rocznik 6, Nr 21(2/2) ARCHIVES OF FOUNDARY Year 2006, Volume 6, Nº 21 (2/2) PAN Katowice PL ISSN 1642-5308 PROMIENIOWANIE WIDZIALNE ŁUKU SPAWALNICZEGO METODY TIG M.

Bardziej szczegółowo

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012

DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Warszawa dn. 2012-08-03 SZ-222-20/12/6/6/2012/ Szanowni Państwo, DOTYCZY: Sygn. akt SZ-222-20/12/6/6/2012 Przetargu nieograniczonego, którego przedmiotem jest " sprzedaż, szkolenie, dostawę, montaż i uruchomienie

Bardziej szczegółowo

BADANIE WYDZIELEŃ W STALIWIE RUR KATALITYCZNYCH PRZY POMOCY MIKROSKOPU SKANINGOWEGO

BADANIE WYDZIELEŃ W STALIWIE RUR KATALITYCZNYCH PRZY POMOCY MIKROSKOPU SKANINGOWEGO 33/9 Archives of Foundry, Year 2003, Volume 3, 9 Archiwum Odlewnictwa, Rok 2003, Rocznik 3, Nr 9 PAN Katowice PL ISSN 1642-5308 BADANIE WYDZIELEŃ W STALIWIE RUR KATALITYCZNYCH PRZY POMOCY MIKROSKOPU SKANINGOWEGO

Bardziej szczegółowo

Prof. dr hab. inż. Marek Lankosz Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie

Prof. dr hab. inż. Marek Lankosz Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie Prof. dr hab. inż. Marek Lankosz Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie Recenzja pracy doktorskiej mgr Justyny Bobrowskiej pt. Characterization of cell surface structure

Bardziej szczegółowo

Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM

Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Zaawansowane Metody Badań Strukturalnych Dyfrakcja rentgenowska cz.2 Mikroskopia Sił Atomowych AFM Fazowa analiza ilościowa Obliczenia strukturalne prawo Vegarda Pomiary cienkich warstw Budowa mikroskopu

Bardziej szczegółowo

I B. EFEKT FOTOWOLTAICZNY. BATERIA SŁONECZNA

I B. EFEKT FOTOWOLTAICZNY. BATERIA SŁONECZNA 1 OPTOELEKTRONKA B. EFEKT FOTOWOLTACZNY. BATERA SŁONECZNA Cel ćwiczenia: 1.Zbadanie zależności otoprądu zwarcia i otonapięcia zwarcia od natężenia oświetlenia. 2. Wyznaczenie sprawności energetycznej baterii

Bardziej szczegółowo

Wpływ temperatury podłoża na właściwości powłok DLC osadzanych metodą rozpylania katod grafitowych łukiem impulsowym

Wpływ temperatury podłoża na właściwości powłok DLC osadzanych metodą rozpylania katod grafitowych łukiem impulsowym Dotacje na innowacje Wpływ temperatury podłoża na właściwości powłok DLC osadzanych metodą rozpylania katod grafitowych łukiem impulsowym Viktor Zavaleyev, Jan Walkowicz, Adam Pander Politechnika Koszalińska

Bardziej szczegółowo

Geochemia analityczna. KubaM

Geochemia analityczna. KubaM Geochemia analityczna KubaM Algorytm geochemicznego procesu badawczego: 1. Koncepcyjne przygotowanie badań 2. Opróbowanie pobór r próbek 3. Analiza 4. Interpretacja wyników 5. Wnioski 1. Koncepcyjne przygotowanie

Bardziej szczegółowo

kierunek: BIOTECHNOLOGIA specjalność: Bioinformatics RW , Obowiązuje od 2013/2014

kierunek: BIOTECHNOLOGIA specjalność: Bioinformatics RW , Obowiązuje od 2013/2014 Studia II stopnia, magisterskie (4 semestralne, dla kandydatów bez tytułu zawodowego inżyniera) (4 semesters is for non-engineers candidates) kierunek: BIOTECHNOLOGIA specjalność: Bioinformatics RW 23.10.2013,

Bardziej szczegółowo