Załącznik A. Rys. 1. Kąt rozwarcia soczewki obiektywu
|
|
- Elżbieta Mróz
- 8 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Załącznik A A1. Metody mikroskopowe badania struktury. Do mikroskopowych badań struktury można używać: mikroskopów optycznych (świetlnych) - o powiększeniu ok. 1000x i głębi ostrości przy maksymalnym powiększeniu ok. 0.l μm; mikroskopów elektronowych, w których wiązkę badającą stanowią elektrony przyspieszone polem elektrycznym do bardzo dużych prędkości i zachowujące się jak fala o długości rzędu 0,003nm. Powiększenie mikroskopu jest ograniczone zjawiskiem ugięcia (dyfrakcji) fali świetlnej bądź elektronowej. Minimalna odległość d dwóch rozróżnialnych punktów obrazu wynosi: λ d = 2 n sinα gdzie: λ - długość fali użytego światła (λ b średnia dla światła białego 0.55 μm), n - współczynnik załamania światła ośrodka między próbką a obiektywem (dla zwiększenia rozdzielczości stosuje się niekiedy pomiędzy próbą a obiektywem tzw. olejek immersyjny cedrowy, dla którego n = 1.4); α - połowa kąta rozwarcia soczewki obiektywu ( max. 2α = 144, sinα = jak rysunku 1). Rys. 1. Kąt rozwarcia soczewki obiektywu Dla światła białego i powietrza jako ośrodka rozdzielczość mikroskopu optycznego d 0.3 μm. Wyrażenie nsinα nazywane jest aperturą numeryczną. Jej wartość jest oznaczana na obudowie obiektywu i wynosi np (max 1.66). W związku z niewielką głębią ostrości mikroskopu powierzchnia obserwowanej próbki musi leżeć dokładnie poziomo na stoliku mikroskopu. Stosowany w badaniach struktury mikroskop metalograficzny pracuje w świetle odbitym. W zależności od tego, czy światło pada prostopadle, czy pod pewnym kątem na powierzchnię próbki, mówi się o obserwacji w polu jasnym lub w polu ciemnym (rysunek 2). Dzięki przełączeniu biegu promienia światła w mikroskopie, obserwacja w polu ciemnym pozwala na obserwację tych obszarów próbki, które w polu jasnym mają ciemne zabarwienie. Uzyskują one wówczas jasne zabarwienie, co zwiększa zazwyczaj rozróżnialność szczegółów. Ogólnie obraz w polu ciemnym jest obrazem negatywowym obrazu powstałego w polu jasnym.
2 Rys. 2. Schemat oświetlenia i różne odbicia światła a) w polu jasnym, b) w polu ciemnym. W mikroskopii elektronowej osiąga się znacznie większe zdolności rozdzielcze i powiększenia i tak np.: - dla mikroskopu transmisyjnego (TEM): d = μm, powiększenie = x dla mikroskopu skaningowego: d = 0.02 μm, powiększenie = ok x, głębia ostrości l00μm przy powiększeniu 1000x Na rys.3. przedstawiono zasadę działania transmisyjnego mikroskopu elektronowego TEM. Elektrony, emitowane przez żarzoną katodę wolframową K, są przyspieszane przez anodę A (np. +100W) i formowane w wiązkę w cylindrze Wehnelta (-100V). Przez otwór w anodzie elektrony docierają do soczewki kondensatora D, która po raz pierwszy ogniskuje wiązkę dokładnie na badanym obiekcie Ob. Średnica zogniskowanej wiązki wynosi ok. 5μm. Soczewka obiektywu Lob wytwarza jednostopniowo powiększony obraz próbki z promieni przepuszczanych przez próbkę i przysłonę obiektywu BOb (Φ= 50μm). Ostatecznie obraz próbki jest powiększony dodatkowo przez soczewkę pośrednią LZ i soczewkę projekcyjną LP. Obraz powstaje na ekranie fluorescencyjnym FS. Prześwietlana próbka wykonana jest jako cienka folia: - bezpośrednio - w postaci cienkiego zgładu; - pośrednio - w postaci repliki, odwzorowującej badaną powierzchnię. Preparat (zgład lub replika) muszą być odpowiednio cienkie, aby energia kinetyczna elektronów równomiernie go prześwietliła. Zasadę działania elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM) przedstawiono na rysunku 4. Wiązka elektronów silnie skupiona do plamki o średnicy 0.02μm jest odchylana przez dwie pary cewek, zasilanych z generatora skanowania. Powoduje to obieganie przez wiązkę powierzchni próbki. Generator steruje synchronicznie wiązką elektronową lampy obrazowej (podobnie jak w kineskopie telewizyjnym). Przez zmianę natężenia prądu cylindrycznej cewki (soczewki elektromagnetycznej) można zmieniać ogniskową lub powiększenie. Elektrony pierwotne, tzn. elektrony wiązki elektronowej, po wejściu do próbki są na całej swej drodze rozpraszane sprężyście i niesprężyście.
3 Rys.3. Uproszczony schemat transmisyjnego mikroskopu elektronowego (objaśnienie symboli w tekście). Rys. 4 Uproszczony schemat skaningowego mikroskopu elektronowego SEM Pierwszy rodzaj rozproszenia polega na odchylaniu wiązki elektronów przez pole elektryczne jądra atomowego. Przy dużych kątach padania elektrony pierwotne mogą wyjść z próbki w postaci elektronów rozproszenia wstecznego. W rozpraszaniu niesprężystym wiązka elektronów pierwotnych napotyka na elektrony powłoki, przekazując im część energii. Uwalniane
4 są przy tym elektrony wtórne. Elektron wtórny, opuszczający powierzchnie próbki, jest wychwytywany przez kolektor (+300), przyspieszany przez detektor i kierowany do licznika scyntylacyjnego (+10kV) jako błysk świetlny, który przechodzi światłowodem do fotopowielacza. Fotopowielacz zamienia go na zwielokrotnione impulsy elektryczne. Impulsy te są wzmacniane i sterują lampą obrazową. Im więcej elektronów wtórnych wybije wiązka elektronów pierwotnych, tym większa jest gęstość impulsów i tym jaśniej świeci odwzorowywany punkt na lampie obrazowej. Goniometr pozwala na pochylenie próbki pod najodpowiedniejszym kątem. W celu uzyskania dużych powiększeń i szczególnie ostrych obrazów stosuje się detekcję elektronów wtórnych, zaś przy niewielkich powiększeniach - elektronów rozproszonych wstecznie. Rodzaj pracy wybiera się przez zmianę potencjału kondensora. A2. Przygotowanie próbek do badań mikroskopowych. Ze względu na niedużą głębię ostrości mikroskopu optycznego powierzchnia badanej próbki ciała stałego musi być idealnie płaska i doskonale wypolerowana. Próbki wycina się piłą maszynową lub tarczą diamentową. Podczas wszystkich etapów przygotowywania próbek należy chłodzić materiał i unikać nadmiernego docisku, aby wyeliminować niepożądane odkształcenie i przegrzewanie, które mogą powodować zmianę struktury krystalicznej i błędną interpretację wyników badań. Pobraną próbkę wygładza się pilnikiem, papierem ściernym lub na szlifierce. Małą próbkę można dla wygody szlifowania zatopić w żywicy sztucznej. Szlifowanie rozpoczyna się na papierach o dość grubym ziarnie ( np. o numerze 100, co odpowiada wielkości ziarna μm) ruchami wzdłuż jednego kierunku, następnie w kierunku prostopadłym do kierunku poprzedniego na papierze o coraz drobniejszej ziarnistości aż do całkowitego usunięcia rys. Podczas i po każdym etapie próbki dokładnie spłukuje się wodą. Polerowanie przeprowadza się na poziomo ustawionych tarczach polerskich napędzanych silnikiem, z udziałem specjalnych past polerskich (zawierających A1 2 O 3, MgO). Polerować należy do chwili zniknięcia wszystkich rys, spowodowanych szlifowaniem. W przypadku metali oprócz polerowania mechanicznego można stosować polerowanie elektrolityczne. Próbka zanurzona jest w odpowiednim elektrolicie stanowiąc anodę. Jej miejsca wystające lub wypukłe rozpuszczają się szybciej niż obszary gładkie. Powierzchnie wypolerowane w ten sposób są pozbawione naprężeń mechanicznych. Po polerowaniu próbkę spłukuje się ciepłą lub zimną wodą, a następnie alkoholem i suszy się strumieniem ciepłego powietrza. Niekiedy już na wypolerowanej powierzchni można dostrzec składniki struktury, dzięki ich różnej zdolności do odbijania światła, posiadaniu innego zabarwienia lub różnicy twardości, co podczas polerowania prowadzi do powstawania charakterystycznego reliefu. Zazwyczaj jednak struktura krystaliczna ujawnia się dopiero po trawieniu. W zależności od rodzaju pierwiastka i różnego celu trawienia (np. wykrycie różnych faz i składników, granic ziaren, orientacji sieci krystalicznej) dobiera się odpowiednie odczynniki i czasu trawienia. Najsilniej trawione są granice między ziarnami i dlatego obserwuje się je w postaci ciemnych linii. W przypadku TEM wykonanie cienkiego zgładu polega na wstępnym mechanicznym szlifowaniu do grubości ok.0.15 μm, a następnie elektrolitycznej obróbce ubytkowej do 50 nm. Nową techniką jest ścienianie jonowe, gdzie próbka jest poddana bombardowaniu strumieniem jonów o energii wystarczającej do wyrywania atomów z powierzchni badanego materiału. Replika jest cienką folią z roztworu tworzywa sztucznego, warstwą naparowanego węgla lub tlenków na wytrawionej powierzchni zgładu, a więc odwzorowaniem powierzchni. W celu poprawy kontrastu cieniuje się niekiedy repliki pierwiastkami ciężkimi. Próbki do badania za pomocą SEM muszą być niewrażliwe na działanie próżni i muszą przewodzić prąd elektryczny. W tym celu można je pokryć np. cienką warstwą naparowanego metalu ( złota, palladu).
5 A3. Metody rentgenograficzne badania struktury. Promieniowanie rentgenowskie jest to promieniowanie elektromagnetyczne o długości fali od 0. l do 100Å. Jego źródłem jest lampa rentgenowska ( rys. 5). Bombardowana elektronami antykatoda wysyła równocześnie dwa rodzaje widma rentgenowskiego : - ciągłe, przy czym dobierając odpowiednio napięcie przyspieszające uzyskuje się promieniowanie hamowania o małej (twarde) lub większej (miękkie) długości fali. - prążkowe - związane z wybijaniem elektronów z określonych powłok (K, L, M,...Q) wokół jądra danego atomu -jest to tzw. widmo charakterystyczne (rys. 6.). Rys.5 Schemat budowy lampy rentgenowskiej. Rys. 6 Widmo rentgenowskie (a), i przejścia elektronów w atomie (b). Do badań kryształów stosuje się monochromatyczną wiązkę promieniowania rentgenowskiego, padającą pod kątem θ do płaszczyzny sieciowej. Przy długości fali promieniowania porównywalnej z odległością płaszczyzn sieciowych zachodzi ugięcie promieni rentgenowskich (rys.7.) interpretowane przez Bragga jako warunek odbicia: n λ = 2 d sinθ gdzie d - odległość płaszczyzn sieciowych; θ - kąt między płaszczyzną sieciową a promieniem padającym.
6 Obraz wytworzony przez tak ugiętą wiązkę jest zarejestrowany na bardzo drobnoziarnistej emulsji fotograficznej. Rys. 7 Ugięcie promieni rentgenowskich na siatce krystalicznej. Wyniki, dotyczące typu sieci, stałych sieciowych i położeń dyslokacji, otrzymuje się porównując otrzymany obraz z wzorcem. Skład chemiczny ciała stałego można określić wykorzystując mikroanalizator rentgenowski, Charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie wzbudzone wiązką elektronów o średnicy l μm padającą na próbkę porównywane jest z wzorcami.. Próbki do badań rentgenograficznych mogą być monokryształami o wymiarach rzędu 0.1 do 0.3 mm lub proszkiem krystalicznym. Najnowsze rozwiązania mikroskopów skaningowych, z tzw. zimną katodą (ok. 400 C), pracujące przy małych wartościach napięć przyspieszających ( ok.20-40kv), pozwalają obserwować nie tylko ciała przewodzące, ale także dielektryki i półprzewodniki, bez konieczności pokrywania ich warstwą metalu. W mikroskopach tych osiągnięto rozdzielczość rzędu 2 nm. A4. Budowa i obsługa mikroskopu metalograficznego MET 3 OPIS BUDOWY W podstawie mikroskopu (1), mieści się oświetlacz (2) z żarówką 6N/15W zasilaną przez transformator z sieci. W przedniej części podstawy, w specjalnym gnieździe, znajduje się przysłona aperturowa (22) z pierścieniem (21) służącym do regulacji wielkości otworu przysłony oraz gniazdo, w którym w razie potrzeby można umieścić filtry i matówkę. Mechanizm ruchu zgrubnego i drobnego (6) pozwala na precyzyjne zogniskowanie badanego obiektu względem obiektywu mikroskopu. Pokrętki przesuwów: zgrubnego (5) i drobnego (4) umieszczone są w dolnej części mikroskopu. Ruchem zgrubnym przesuwany jest statyw mikroskopu ze stolikiem, drobnym głowica z umocowanym rewolwerem obiektywowym i nasadką okularową. Jedna z pokrętek ruchu drobnego posiada 100 działek. Obrót pokrętki o jedną działkę daje przesunięcie wspornika z głowicą o 0,001 mm. Mechanizm napędu ruchu zgrubnego posiada możliwość regulacji płynności przesuwu. Uzyskanie odpowiednio ;,ciężkiego" lub lekkiego" przesuwu osiąga się przez jednoczesny obrót pokrętek przesuwu zgrubnego w przeciwnych kierunkach.
7 Statyw (8) jest połączony z mechanizmem ruchu zgrubnego. Do górnej części statywu jest zamocowany na stałe stolik ślizgowy (14), który umożliwia przesuw badanego obiektu z położenia środkowego o 12,5 mm w płaszczyźnie poziomej w dowolnym kierunku, co pozwala na wygodną obserwację oraz przeprowadzenie badań większych powierzchni. Przesuwu badanego obiektu z płytką górną stolika dokonuje się przy pomocy dźwigni (18) zamocowanej przegubowo do dolnej płyty stolika. W górnej płycie stolika znajduje się gniazdo na wymienne płytki przedmiotowe. W gnieździe wspornika osadzona jest głowica (9) z rewolwerem obiektywowym (10), pozwala ona na wygodne zamocowanie obiektywów i łatwe włączenie w bieg promieni wybranego obiektywu. W dolnej części głowicy jest umieszczona przysłona pola z pierścieniem (20) służącym do regulacji wielkości otworu przysłony. Przysłonę pola można centrować w płaszczyźnie prostopadłej do osi mikroskopu za pomocą dwóch pokrętek (19). W specjalnym gnieździe głowicy jest osadzona jednooczna nasadka okularowa (16), która posiada tubus okularowy odchylony od pionu o kąt 45 Nasadka jest zabezpieczona przed obrotem i wypadnięciem specjalnym wkrętem zaciskowym (17). Zasadniczymi elementami wyposażenia MET3 są: - obiektywy achromatyczne o powiększeniu 8x/0,25 i 40x/0,65. - okulary: a) pomiarowy o powiększeniu 8x, z dwiema wymiennymi płytkami ogniskowymi - z podziałką 10 mm podzieloną na 100 części oraz z siatką o kwadracie 10x10 mm podzielone na 20 x 20 części b) szerokokątny o powiększeniu 10x, - filtry; płytki przedmiotowe z otworami 5, 10 i 20 mm; łopatka sprężysta do przytrzymywania płaskich obiektów; uchwyt zaciskowy do mocowania obiektów o skomplikowanych kształtach; transformator-typ TVO 64-6/20, który zapewnia płynną regulację strumienia świetlnego, OPIS UŻYTKOWANIA Przygotowanie mikroskopu do badań powinno być przeprowadzane starannie, zgodnie z podanymi niżej wskazówkami: 1. wkręcić obiektywy do gniazd rewolweru obiektywowego. Dla ułatwienia wskazane jest przesunięcie (pokrętką ruchu zgrubnego) statywu ze stolikiem ku górze, 2. w gnieździe osadczym (znajdującym się w głowicy) zamocować nasadkę okularową, ustawiając tubus nasadki ku górze, 3. włożyć odpowiedni okular do tubusa nasadki, 4. włożyć odpowiednią płytkę przedmiotową do gniazda w stoliku, umieścić na stoliku łopatkę sprężystą lub uchwyt zaciskowy przy badaniu obiektu o skomplikowanym kształcie, 5. umieścić w otworze podstawy oświetlacz i połączyć go przez transformator z siecią prądu zmiennego o napięciu 220V lub 110V. Określanie powiększenia Powiększenie całkowite mikroskopu jest iloczynem powiększeń obiektywu, okularu, nasadki okularowej i głowicy. Powiększenie jednoocznej nasadki okularowej, wynosi 1x. Powiększenie dwuocznej nasadki okularowej wynosi 1,5x. Powiększenie głowicy wynosi 1,25x. Np.: stosując obiektyw 40x i okular 8x oraz pozostałe wyposażenie zasadnicze uzyskujemy powiększenie mikroskopu:
8 G = 40 x 8 x 1 x1,25 = 400x 1. Podstawa obiektywu 2. Oświetlacz 3. Zderzak 4. Pokrętła przesuwu drobnego 5. Pokrętła przesuwu zgrubnego 6. Mechanizm ruchu zgrubnego o drobnego 7. Wspornik głowicy 8. Statyw 9. Głowica 10. Rewolwer obiektywowy 11. Obiektyw 12. Korek rewolweru 13. Uchwyt preparatu 14. Stolik 15. Okulary 16. Nasadka okularowa 17. Wkręt zaciskowy 18. Dźwignia centrująca 19. Pokrętki cętkujące 20. Przysłona pola z pierścieniem 21. Pierścień 22. Przysłona aperturowa
BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego
BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego 1. MAKROSTRUKTURA 2. MIKROSTRUKTURA 3. STRUKTURA KRYSTALICZNA Makrostruktura
Bardziej szczegółowoMikroskopy uniwersalne
Mikroskopy uniwersalne Źródło światła Kolektor Kondensor Stolik mikroskopowy Obiektyw Okular Inne Przesłony Pryzmaty Płytki półprzepuszczalne Zwierciadła Nasadki okularowe Zasada działania mikroskopu z
Bardziej szczegółowoMIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego
MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego Tło historyczne Pod koniec XIX wieku stosowanie mikroskopów świetlnych w naukach
Bardziej szczegółowoKatedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego
Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego Ćwiczenie 7 Elektronowy mikroskop skaningowy-analogowy w badaniach morfologii powierzchni ciała stałego. Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie
Bardziej szczegółowoWyznaczenie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona
Politechnika Łódzka FTIMS Kierunek: Informatyka rok akademicki: 2008/2009 sem. 2. Termin: 23 III 2009 Nr. ćwiczenia: 412 Temat ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali świetlnej metodą pierścieni Newtona Nr.
Bardziej szczegółowo6. Badania mikroskopowe proszków i spieków
6. Badania mikroskopowe proszków i spieków Najprostszy układ optyczny stanowią dwie współosiowe soczewki umieszczone na końcach tubusu (rysunek 42). Odwzorowanie mikroskopowe jest dwustopniowe: obiektyw
Bardziej szczegółowoWyższa Szkoła Inżynierii Dentystycznej im. Prof. Meissnera w Ustroniu
Wyższa Szkoła Inżynierii Dentystycznej im. Prof. Meissnera w Ustroniu Katedra Nauk o Materiałach Wprowadzenie do Nauki o Materiałach Przygotowanie próbek do badań metalograficznych na mikroskopie świetlnym.
Bardziej szczegółowoh λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)
Twórcy podstaw optyki elektronowej: De Broglie LV. 1924 hipoteza: każde ciało poruszające się ma przyporządkowaną falę a jej długość jest ilorazem stałej Plancka i pędu. Elektrony powinny więc mieć naturę
Bardziej szczegółowo17. Który z rysunków błędnie przedstawia bieg jednobarwnego promienia światła przez pryzmat? A. rysunek A, B. rysunek B, C. rysunek C, D. rysunek D.
OPTYKA - ĆWICZENIA 1. Promień światła padł na zwierciadło tak, że odbił się od niego tworząc z powierzchnią zwierciadła kąt 30 o. Jaki był kąt padania promienia na zwierciadło? A. 15 o B. 30 o C. 60 o
Bardziej szczegółowoWymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej
Strona1 ROZDZIAŁ IV OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA Wymagane parametry dla platformy do mikroskopii korelacyjnej Mikroskopia korelacyjna łączy dane z mikroskopii świetlnej i elektronowej w celu określenia powiązań
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE PROMIENIA KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA
Ćwiczenie 81 A. ubica WYZNACZANIE PROMIENIA RZYWIZNY SOCZEWI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA Cel ćwiczenia: poznanie prążków interferencyjnych równej grubości, wykorzystanie tego
Bardziej szczegółowoAkademia Morska w Szczecinie Instytut InŜynierii Transportu Zakład Techniki i Transportu
Akademia Morska w Szczecinie Instytut InŜynierii Transportu Zakład Techniki i Transportu Instrukcja Wprowadzenie do badań materiałowych Opracował: dr inŝ. Jarosław Chmiel Szczecin - styczeń 2005 Niniejsza
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ
LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ MIKROSKOP 1. Cel dwiczenia Zapoznanie się z budową i podstawową obsługo mikroskopu biologicznego. 2. Zakres wymaganych zagadnieo: Budowa mikroskopu. Powstawanie obrazu
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 2 do SIWZ Specyfikacja techniczna opis przedmiotu zamówienia minimalne wymagania
WNB.2420.15.2012.AM Załącznik nr 2 do SIWZ Specyfikacja techniczna opis przedmiotu zamówienia minimalne wymagania Zadanie nr 1 mikroskop biologiczny z systemem fotograficznym mikroskopu stereoskopowego
Bardziej szczegółowoPOMIARY OPTYCZNE 1. Wykład 1. Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak
POMIARY OPTYCZNE Wykład Dr hab. inż. Władysław Artur Woźniak Instytut Fizyki Politechniki Wrocławskiej Pokój 8/ bud. A- http://www.if.pwr.wroc.pl/~wozniak/ OPTYKA GEOMETRYCZNA Codzienne obserwacje: światło
Bardziej szczegółowoNOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ. Beata Grabowska, pok. 84A, Ip
NOWOCZESNE TECHNIKI BADAWCZE W INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Beata Grabowska, pok. 84A, Ip http://home.agh.edu.pl/~graboska/ Mikroskopia Słowo mikroskop wywodzi się z języka greckiego: μικρός - mikros "mały
Bardziej szczegółowoPromieniowanie rentgenowskie. Podstawowe pojęcia krystalograficzne
Promieniowanie rentgenowskie Podstawowe pojęcia krystalograficzne Krystalografia - podstawowe pojęcia Komórka elementarna (zasadnicza): najmniejszy, charakterystyczny fragment sieci przestrzennej (lub
Bardziej szczegółowo- 1 - OPTYKA - ĆWICZENIA
- 1 - OPTYKA - ĆWICZENIA 1. Promień światła padł na zwierciadło tak, że odbił się od niego tworząc z powierzchnią zwierciadła kąt 30 o. Jaki był kąt padania promienia na zwierciadło? A. 15 o B. 30 o C.
Bardziej szczegółowoBADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA
BADANIE I ACHROMATYZACJA PRĄŻKÓW INTERFERENCYJNYCH TWORZONYCH ZA POMOCĄ ZWIERCIADŁA LLOYDA Celem ćwiczenia jest: 1. demonstracja dużej liczby prążków w interferometrze Lloyda z oświetleniem monochromatycznym,
Bardziej szczegółowoNajprostszą soczewkę stanowi powierzchnia sferyczna stanowiąca granicę dwóch ośr.: powietrza, o wsp. załamania n 1. sin θ 1. sin θ 2.
Ia. OPTYKA GEOMETRYCZNA wprowadzenie Niemal każdy system optoelektroniczny zawiera oprócz źródła światła i detektora - co najmniej jeden element optyczny, najczęściej soczewkę gdy system służy do analizy
Bardziej szczegółowoZałącznik nr 7 - Opis Przedmiotu Zamówienia. Część 3 - Przyrządy i narzędzia do obserwacji
Załącznik nr 7 - Opis Przedmiotu Zamówienia Część 3 - Przyrządy i narzędzia do obserwacji Lp. Nazwa Parametry / opis Nazwa Szkoły Ilość dla danej szkoły Ilość razem 1 Szklana lupa o średnicy min. 50 mm
Bardziej szczegółowoOPTYKA GEOMETRYCZNA I INSTRUMENTALNA
1100-1BO15, rok akademicki 2018/19 OPTYKA GEOMETRYCZNA I INSTRUMENTALNA dr hab. Rafał Kasztelanic Wykład 6 Optyka promieni 2 www.zemax.com Diafragmy Pęk promieni świetlnych, przechodzący przez układ optyczny
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA ŚWIATŁA METODĄ SZPILEK I ZA POMOCĄ MIKROSKOPU
WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA ŚWIATŁA METODĄ SZPILEK I ZA POMOCĄ MIKROSKOPU Cel ćwiczenia: 1. Zapoznanie z budową i zasadą działania mikroskopu optycznego. 2. Wyznaczenie współczynnika załamania
Bardziej szczegółowoPOMIAR WIELKOŚCI KOMÓREK
POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTRUKCJA Z LABORATORIUM W ZAKŁADZIE BIOFIZYKI Ćwiczenie 4 POMIAR WIELKOŚCI KOMÓREK PRZY UŻYCIU MIKROSKOPU ŚWIETLNEGO I. WSTĘP TEORETYCZNY Do obserwacji bardzo małych obiektów, np.
Bardziej szczegółowoPRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ
Ewa Teper PRZYGOTOWANIE PRÓBEK DO MIKROSKOPI SKANINGOWEJ WIELKOŚĆ I RODZAJE PRÓBEK Maksymalne wymiary próbki, którą można umieścić na stoliku mikroskopu skaningowego są następujące: Próbka powinna się
Bardziej szczegółowoSpektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)
Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy) Oddziaływanie elektronów ze stałą, krystaliczną próbką wstecznie rozproszone elektrony elektrony pierwotne
Bardziej szczegółowoĆw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów
16 KATEDRA FIZYKI STOSOWANEJ PRACOWNIA FIZYKI Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów Wprowadzenie Mikroskop jest przyrządem optycznym dającym znaczne powiększenia małych przedmiotów
Bardziej szczegółowoGWIEZDNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANDERSONA
GWIEZNE INTERFEROMETRY MICHELSONA I ANERSONA Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zestawienie i demonstracja modelu gwiezdnego interferometru Andersona oraz laboratoryjny pomiar wymiaru sztucznej gwiazdy.
Bardziej szczegółowoPODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU
1 PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 2 Metalografia - nauka o wewnętrznej budowie materiałów metalicznych (metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych. 3
Bardziej szczegółowoFig. 2 PL B1 (13) B1 G02B 23/02 RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) (21) Numer zgłoszenia:
RZECZPOSPOLITA POLSKA (12) OPIS PATENTOWY (19) PL (11) 167356 (13) B1 (21) Numer zgłoszenia: 293293 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 24.01.1992 Rzeczypospolitej Polskiej (51) IntCl6: G02B 23/12 G02B
Bardziej szczegółowoBIOLOGIA KOMÓRKI MIKROSKOPIA W ŚWIETLE PRZECHODZĄCYM- BUDOWA I DZIAŁANIE MIKROSKOPU JASNEGO POLA, KONTRASTOWO- FAZOWEGO I Z KONTRASTEM NOMARSKIEGO
BIOLOGIA KOMÓRKI MIKROSKOPIA W ŚWIETLE PRZECHODZĄCYM- BUDOWA I DZIAŁANIE MIKROSKOPU JASNEGO POLA, KONTRASTOWO- FAZOWEGO I Z KONTRASTEM NOMARSKIEGO 1. Zasada działania mikroskopu z kontrastem fazowym (KF)
Bardziej szczegółowo+OPTYKA 3.stacjapogody.waw.pl K.M.
Zwierciadło płaskie, prawo odbicia. +OPTYKA.stacjapogody.waw.pl K.M. Promień padający, odbity i normalna leżą w jednej płaszczyźnie, prostopadłej do płaszczyzny zwierciadła Obszar widzialności punktu w
Bardziej szczegółowoCzy atomy mogą być piękne?
Krzysztof Matus Doktorant w Instytucie Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Wydział Mechaniczny Technologiczny Politechnika Śląska Czy atomy mogą być piękne? W czasach, gdy ciągły rozwój nauki połączony
Bardziej szczegółowoOPTYKA. Leszek Błaszkieiwcz
OPTYKA Leszek Błaszkieiwcz Ojcem optyki jest Witelon (1230-1314) Zjawisko odbicia fal promień odbity normalna promień padający Leszek Błaszkieiwcz Rys. Zjawisko załamania fal normalna promień padający
Bardziej szczegółowoSkaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów
1 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM) jako narzędzie do oceny morfologii powierzchni materiałów Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia są badania morfologiczne powierzchni materiałów oraz analiza chemiczna obszarów
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2)
LABORATORIUM ANALITYCZNEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ (L - 2) Posiadane uprawnienia: ZAKRES AKREDYTACJI LABORATORIUM BADAWCZEGO NR AB 120 wydany przez Polskie Centrum Akredytacji Wydanie nr 5 z 18 lipca 2007
Bardziej szczegółowoWydział PPT Laboratorium PODSTAWY BIOFOTONIKI. Ćwiczenie nr 5 Zastosowania mikroskopii optycznej
Wydział PPT Laboratorium PODSTAWY BIOFOTONIKI Ćwiczenie nr 5 Zastosowania mikroskopii optycznej Cel ćwiczenia: Celem ćwiczenia jest zapoznanie z budową i obsługą mikroskopu optycznego oraz dokonanie przy
Bardziej szczegółowoŚwiatło fala, czy strumień cząstek?
1 Światło fala, czy strumień cząstek? Teoria falowa wyjaśnia: Odbicie Załamanie Interferencję Dyfrakcję Polaryzację Efekt fotoelektryczny Efekt Comptona Teoria korpuskularna wyjaśnia: Odbicie Załamanie
Bardziej szczegółowoTechnologia elementów optycznych
Technologia elementów optycznych dr inż. Michał Józwik pokój 507a jozwik@mchtr.pw.edu.pl Część 1 Treść wykładu Specyfika wymagań i technologii elementów optycznych. Ogólna struktura procesów technologicznych.
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU CZĘŚĆ (A-zestaw 1) Instrukcja wykonawcza
ĆWICZENIE 76A WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU CZĘŚĆ (A-zestaw ) Instrukcja wykonawcza. Wykaz przyrządów Spektrometr (goniometr) Lampy spektralne Pryzmaty. Cel ćwiczenia
Bardziej szczegółowopobrano z serwisu Fizyka Dla Każdego - http://fizyka.dk - zadania z fizyki, wzory fizyczne, fizyka matura
12. Fale elektromagnetyczne zadania z arkusza I 12.5 12.1 12.6 12.2 12.7 12.8 12.9 12.3 12.10 12.4 12.11 12. Fale elektromagnetyczne - 1 - 12.12 12.20 12.13 12.14 12.21 12.22 12.15 12.23 12.16 12.24 12.17
Bardziej szczegółowoProjektory oświetleniowe
Projektory oświetleniowe Do podstawowego sprzętu oświetleniowego o małym kącie rozwarcia wiązki świetlnej należą projektory. Wykorzystywane są w halach zdjęciowych, wnętrzach naturalnych i w plenerze jako
Bardziej szczegółowoPOMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK
ĆWICZENIE 77 POMIAR ODLEGŁOŚCI OGNISKOWYCH SOCZEWEK Cel ćwiczenia: 1. Poznanie zasad optyki geometrycznej, zasad powstawania i konstrukcji obrazów w soczewkach cienkich. 2. Wyznaczanie odległości ogniskowych
Bardziej szczegółowoNazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 51: Współczynnik załamania światła dla ciał stałych
Nazwisko i imię: Zespół: Data: Ćwiczenie nr 5: Współczynnik załamania światła dla ciał stałych Cel ćwiczenia: Wyznaczenie współczynnika załamania światła dla szkła i pleksiglasu metodą pomiaru grubości
Bardziej szczegółowoBADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA
Celem ćwiczenia jest: BADANIE INTERFEROMETRU YOUNGA 1. poznanie podstawowych właściwości interferometru z podziałem czoła fali w oświetleniu monochromatycznym i świetle białym, 2. demonstracja możliwości
Bardziej szczegółowoFORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH
Załącznik Nr 2 WYMAGANIA BEZWZGLĘDNE: FORMULARZ WYMAGANYCH WARUNKÓW TECHNICZNYCH Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym
Bardziej szczegółowoSystemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne
POLITECHNIKA POZNAŃSKA INSTYTUT INŻYNIERII ŚRODOWISKA PROWADZĄCY: mgr inż. Łukasz Amanowicz Systemy Ochrony Powietrza Ćwiczenia Laboratoryjne 3 TEMAT ĆWICZENIA: Badanie składu pyłu za pomocą mikroskopu
Bardziej szczegółowoMikroskopy [ BAP_1103035.doc ]
Mikroskopy [ ] Strona 1 z 5 Opis Schemat 1. Okular 2. Tuba okularu 3. Śruba makrometryczna 4. Śruba mikrometryczna 5. Śruba nastawcza ogranicznika 6. Zacisk mocujący 7. Statyw pochylny z żeliwa 8. Podstawa
Bardziej szczegółowoBudowa stopów. (układy równowagi fazowej)
Budowa stopów (układy równowagi fazowej) Równowaga termodynamiczna Stopy metali są trwałe w stanie równowagi termodynamicznej. Równowaga jest osiągnięta, gdy energia swobodna układu uzyska minimum lub
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ
ĆWICZENIE 84 WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ Cel ćwiczenia: Wyznaczenie długości fali emisji lasera lub innego źródła światła monochromatycznego, wyznaczenie stałej siatki
Bardziej szczegółowoSposób wykonania ćwiczenia. Płytka płasko-równoległa. Rys. 1. Wyznaczanie współczynnika załamania materiału płytki : A,B,C,D punkty wbicia szpilek ; s
WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA ŚWIATŁA METODĄ SZPILEK I ZA POMOCĄ MIKROSKOPU Cel ćwiczenia: 1. Zapoznanie z budową i zasadą działania mikroskopu optycznego.. Wyznaczenie współczynnika załamania światła
Bardziej szczegółowo1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM
1. MIKROSKOP BADAWCZY (1 SZT.) Z SYSTEMEM KONTRASTU NOMARSKIEGO DIC ORAZ CYFROWĄ DOKUMENTACJĄ I ANALIZĄ OBRAZU WRAZ Z OPROGRAMOWANIEM Producent:... Typ/model:... Kraj pochodzenia:... LP. 1. Minimalne wymagane
Bardziej szczegółowoMikroskop teoria Abbego
Zastosujmy teorię dyfrakcji do opisu sposobu powstawania obrazu w mikroskopie: Oświetlacz typu Köhlera tworzy równoległą wiązkę światła, padającą na obserwowany obiekt (płaszczyzna 0 ); Pole widzenia ograniczone
Bardziej szczegółowoMonochromatyzacja promieniowania molibdenowej lampy rentgenowskiej
Uniwersytet Śląski Instytut Chemii Zakładu Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40 006 Katowice tel. (032)359 1503, e-mail: izajen@wp.pl, opracowanie: dr Izabela Jendrzejewska Laboratorium z Krystalografii
Bardziej szczegółowoPRZYGOTOWANIE I OCENA ZGŁADÓW METALOGRAFICZNYCH DO BADANIA MIKROSKOPOWEGO
POLITECHNIKA GDAŃSKA WYDZIAŁ CHEMICZNY KATEDRA ELEKTROCHEMII, KOROZJI I INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Ćwiczenie laboratoryjne z Mikroskopii Metalograficznej: PRZYGOTOWANIE I OCENA ZGŁADÓW METALOGRAFICZNYCH DO
Bardziej szczegółowoTechniki Jądrowe w Diagnostyce i Terapii Medycznej
Techniki Jądrowe w Diagnostyce i Terapii Medycznej Wykład 2-5 marca 2019 Zygmunt Szefliński Środowiskowe Laboratorium Ciężkich Jonów szef@fuw.edu.pl http://www.fuw.edu.pl/~szef/ Rozpad Przemiana Widmo
Bardziej szczegółowoZałącznik Nr 1 do SIWZ MIKROSKOPY. opis i rozmieszczenie
Załącznik Nr 1 do SIWZ MIKROSKOPY opis i rozmieszczenie ZADANIE 1: Mikroskopy optyczne stanowiące wyposaŝenie laboratorium histopatologicznego Pomieszczenie ( 2.22 ) - Kierownik Zakładu Mikroskop konsultacyjny
Bardziej szczegółowoĆw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów
16 K A T E D R A F I ZYKI S T O S O W AN E J P R A C O W N I A F I Z Y K I Ćw. 16. Skalowanie mikroskopu i pomiar małych przedmiotów Wprowadzenie Mikroskop jest przyrządem optycznym dającym znaczne powiększenia
Bardziej szczegółowoBADANIA MIKROSKOPOWE
BADANIA MIKROSKOPOWE Cel ćwiczenia. Zapoznanie się z budową i obsługą mikroskopów metalograficznych Zapoznanie się z podstawowymi technikami mikroskopii metalograficznej świetlnej Zapoznanie się z wyposażeniem
Bardziej szczegółowo1100-1BO15, rok akademicki 2016/17
1100-1BO15, rok akademicki 2016/17 M. Pagliaro, G. Palmisano, and R. Ciriminna,Flexible Solar Cells, John Wiley, New York (2008). m z m 2a Zgodnie z zasadą Huygensa każdy punkt wewnątrz szczeliny staje
Bardziej szczegółowoMikroskopy szkolne Mbl 101 b binokular monokularowa Mbl 101 M Mbl 120 b binokularowa Mbl 120 M Mbl 120 t Mbl 120 lcd typ rodzaj nr kat.
Mikroskopy szkolne MBL 101 B Obrotowa nasadka okularowa: : binokular (30 ) Miska rewolwerowa 4 miejscowa Obiektywy achromatyczne: 4 x 0,10 (N.A.),10 x 0,25 (N.A.),40 x 0,65 (N.A.),100 x 1,25 (N.A.) Kondensor
Bardziej szczegółowo(metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych.
PODSTAWY METALOGRAFII ILOŚCIOWEJ I KOMPUTEROWEJ ANALIZY OBRAZU 1 Metalografia - nauka o wewnętrznej budowie materiałów metalicznych (metale i ich stopy), oparta głównie na badaniach mikroskopowych. 2 1
Bardziej szczegółowoDr Piotr Sitarek. Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska
Podstawy fizyki Wykład 11 Dr Piotr Sitarek Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska D. Halliday, R. Resnick, J.Walker: Podstawy Fizyki, tom 3, Wydawnictwa Naukowe PWN, Warszawa 2003. K.Sierański, K.Jezierski,
Bardziej szczegółowoPrzykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego. mgr inż. Katarzyna Kasprzyk
Przykłady wykorzystania mikroskopii elektronowej w poszukiwaniach ropy naftowej i gazu ziemnego mgr inż. Katarzyna Kasprzyk Mikroskop skaningowy Pierwszy mikroskop elektronowy transmisyjny powstał w 1931r
Bardziej szczegółowoWYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU.
0.X.00 ĆWICZENIE NR 76 A (zestaw ) WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA SZKŁA ZA POMOCĄ SPEKTROMETRU. I. Zestaw przyrządów:. Spektrometr (goniometr), Lampy spektralne 3. Pryzmaty II. Cel ćwiczenia: Zapoznanie
Bardziej szczegółowo(13) B1 PL B1 (19) PL (11)
RZECZPOSPOLITA POLSKA ( 12) OPIS PATENTOWY (21) Numer zgłoszenia: 319170 Urząd Patentowy (22) Data zgłoszenia: 25.03.1997 Rzeczypospolitej Polskiej (19) PL (11) 182309 (13) B1 (51) IntCl7 G01N 3/08 G02B
Bardziej szczegółowoOBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X
X4 OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest jakościowe poznanie podstawowych zjawisk fizycznych wykorzystywanych w obrazowaniu
Bardziej szczegółowoCharakterystyka promieniowania miedziowej lampy rentgenowskiej.
Uniwersytet Śląski - Instytut Chemii Zakładu Krystalografii ul. Bankowa 14, pok. 133, 40-006 Katowice tel. 0323591503, e-mail: izajen@wp.pl, opracowanie: dr Izabela Jendrzejewska Laboratorium z Krystalografii
Bardziej szczegółowoĆwiczenie: "Zagadnienia optyki"
Ćwiczenie: "Zagadnienia optyki" Opracowane w ramach projektu: "Wirtualne Laboratoria Fizyczne nowoczesną metodą nauczania realizowanego przez Warszawską Wyższą Szkołę Informatyki. Zakres ćwiczenia: 1.
Bardziej szczegółowoTemat ćwiczenia: Technika fotografowania.
Uniwersytet Uniwersytet Rolniczy Rolniczy w Krakowie Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Wydział Inżynierii Środowiska i Geodezji Katedra Fotogrametrii i Teledetekcji Katedra Geodezji Rolnej, Katastru
Bardziej szczegółowoI. Mikroskop optyczny podstawowe informacje. 1. Budowa i rozchodzenie się światła wewnątrz mikroskopu.
I. Mikroskop optyczny podstawowe informacje. 1. Budowa i rozchodzenie się światła wewnątrz mikroskopu. Rysunek 1 Budowa mikroskopu [1] 1 Okular 2 Rewolwer obrotowa tarcza zawierająca zestaw obiektywów
Bardziej szczegółowoMETODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW
METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW 1 Cel badań: ograniczenie ryzyka związanego ze stosowaniem biomateriałów w medycynie Rodzaje badań: 1. Badania biofunkcyjności implantów, 2. Badania degradacji implantów w środowisku
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 2. Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne
Ćwiczenie 2 Wyznaczanie ogniskowych soczewek cienkich oraz płaszczyzn głównych obiektywów lub układów soczewek. Aberracje. Wprowadzenie teoretyczne Podstawy Działanie obrazujące soczewek lub układu soczewek
Bardziej szczegółowoINSTRUKCJA DO ĆWICZENIA
INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA Temat: Pomiary oscyloskopowe. Budowa oscyloskopu 1. Cel ćwiczenia Poznanie obsługi i zasad wykorzystania oscyloskopu do obserwacji i pomiarów amplitudy napięcia przebiegów elektrycznych.
Bardziej szczegółowo3.5 Wyznaczanie stosunku e/m(e22)
Wyznaczanie stosunku e/m(e) 157 3.5 Wyznaczanie stosunku e/m(e) Celem ćwiczenia jest wyznaczenie stosunku ładunku e do masy m elektronu metodą badania odchylenia wiązki elektronów w poprzecznym polu magnetycznym.
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ
LABORATORIUM OPTYKI GEOMETRYCZNEJ POMIAR KRZYWIZNY SOCZEWEK 1. Cel dwiczenia Zapoznanie z niektórymi metodami badania krzywizny soczewek. 2. Zakres wymaganych zagadnieo: Zjawisko dyfrakcji i interferencji
Bardziej szczegółowoTechnologia elementów optycznych
Technologia elementów optycznych dr inż. Michał Józwik pokój 507a jozwik@mchtr.pw.edu.pl Część 5 rysunek elementu optycznego Polskie Normy PN-ISO 10110-1:1999 Optyka i przyrządy optyczne -- Przygotowywanie
Bardziej szczegółowoPodstawy fizyki wykład 8
Podstawy fizyki wykład 8 Dr Piotr Sitarek Katedra Fizyki Doświadczalnej, W11, PWr Optyka geometryczna Polaryzacja Odbicie zwierciadła Załamanie soczewki Optyka falowa Interferencja Dyfrakcja światła D.
Bardziej szczegółowo( Wersja A ) WYZNACZANIE PROMIENI KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA.
0.X.203 ĆWICZENIE NR 8 ( Wersja A ) WYZNACZANIE PROMIENI KRZYWIZNY SOCZEWKI I DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ PIERŚCIENI NEWTONA. I. Zestaw przyrządów:. Mikroskop. 2. Płytki szklane płaskorównoległe.
Bardziej szczegółowoNiezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita
Niezwykłe światło ultrakrótkie impulsy laserowe Laboratorium Procesów Ultraszybkich Zakład Optyki Wydział Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego Światło Fala elektromagnetyczna Dla światła widzialnego długość
Bardziej szczegółowoOPTYKA W INSTRUMENTACH GEODEZYJNYCH
OPTYKA W INSTRUMENTACH GEODEZYJNYCH Prawa Euklidesa: 1. Promień padający i odbity znajdują się w jednej płaszczyźnie przechodzącej przez prostopadłą wystawioną do powierzchni zwierciadła w punkcie odbicia.
Bardziej szczegółowoSPEKTROSKOPIA RENTGENOWSKA
Intensywność ĆWICZENIE 105 SPEKTROSKOPIA RENTGENOWSKA Cel ćwiczenia: obserwacja ciągłego i charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego, którego źródłem jest wolfram; wyznaczenie energii promieniowania
Bardziej szczegółowoPostępowanie WB RM ZAŁĄCZNIK NR Mikroskop odwrócony z fluorescencją
Postępowanie WB.2410.6.2016.RM ZAŁĄCZNIK NR 5 L.p. Nazwa asortymentu Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego Cena jednostkowa netto (zł) Wartość netto (zł) (kolumna
Bardziej szczegółowoOptyka stanowi dział fizyki, który zajmuje się światłem (także promieniowaniem niewidzialnym dla ludzkiego oka).
Optyka geometryczna Optyka stanowi dział fizyki, który zajmuje się światłem (także promieniowaniem niewidzialnym dla ludzkiego oka). Założeniem optyki geometrycznej jest, że światło rozchodzi się jako
Bardziej szczegółowoOptyka w fotografii Ciemnia optyczna camera obscura wykorzystuje zjawisko prostoliniowego rozchodzenia się światła skrzynka (pudełko) z małym okrągłym otworkiem na jednej ściance i przeciwległą ścianką
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE
LABORATORIUM FIZYKI PAŃSTWOWEJ WYŻSZEJ SZKOŁY ZAWODOWEJ W NYSIE Ćwiczenie nr 6 Temat: Wyznaczenie stałej siatki dyfrakcyjnej i dyfrakcja światła na otworach kwadratowych i okrągłych. 1. Wprowadzenie Fale
Bardziej szczegółowoPropagacja światła we włóknie obserwacja pól modowych.
Propagacja światła we włóknie obserwacja pól modowych. Przy pomocy optyki geometrycznej łatwo można przedstawić efekty propagacji światła tylko w ośrodku nieograniczonym. Nie ukazuje ona jednak interesujących
Bardziej szczegółowoĆw.6. Badanie własności soczewek elektronowych
Pracownia Molekularne Ciało Stałe Ćw.6. Badanie własności soczewek elektronowych Brygida Mielewska, Tomasz Neumann Zagadnienia do przygotowania: 1. Budowa mikroskopu elektronowego 2. Wytwarzanie wiązki
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 53. Soczewki
Ćwiczenie 53. Soczewki Małgorzata Nowina-Konopka, Andrzej Zięba Cel ćwiczenia Pomiar ogniskowych soczewki skupiającej i układu soczewek (skupiająca i rozpraszająca), obliczenie ogniskowej soczewki rozpraszającej.
Bardziej szczegółowoWzmacniacz wizji. Kineskop. Trafopowielacz Działo elektronowe. Cewki
Monitory CRT Nazwa i początki CRT- (ang. Cathode-Ray Tube) to przyjęte w języku polskim potoczne oznaczenie dla modeli monitorów komputerowych, których ekran oparty jest na kineskopie. W monitorach tego
Bardziej szczegółowoMGR 10. Ćw. 1. Badanie polaryzacji światła 2. Wyznaczanie długości fal świetlnych 3. Pokaz zmiany długości fali świetlnej przy użyciu lasera.
MGR 10 10. Optyka fizyczna. Dyfrakcja i interferencja światła. Siatka dyfrakcyjna. Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą siatki dyfrakcyjnej. Elektromagnetyczna teoria światła. Polaryzacja światła.
Bardziej szczegółowoMikroskopia fluorescencyjna
Mikroskopia fluorescencyjna Mikroskop fluorescencyjny to mikroskop świetlny, wykorzystujący zjawisko fluorescencji większość z nich to mikroskopy tzw. epi-fluorescencyjne zjawisko fotoluminescencji: fluorescencja
Bardziej szczegółowoI.4 Promieniowanie rentgenowskie. Efekt Comptona. Otrzymywanie promieniowania X Pochłanianie X przez materię Efekt Comptona
r. akad. 004/005 I.4 Promieniowanie rentgenowskie. Efekt Comptona Otrzymywanie promieniowania X Pochłanianie X przez materię Efekt Comptona Jan Królikowski Fizyka IVBC 1 r. akad. 004/005 0.01 nm=0.1 A
Bardziej szczegółowoBadanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela.
Badanie przy użyciu stolika optycznego lub ławy optycznej praw odbicia i załamania światła. Wyznaczanie ogniskowej soczewki metodą Bessela. I LO im. Stefana Żeromskiego w Lęborku 20 luty 2012 Stolik optyczny
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE NR 79 POMIARY MIKROSKOPOWE. I. Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z budową mikroskopu i jego podstawowymi możliwościami pomiarowymi.
ĆWICZENIE NR 79 POMIARY MIKROSKOPOWE I. Zestaw przyrządów: 1. Mikroskop z wymiennymi obiektywami i okularami.. Oświetlacz mikroskopowy z zasilaczem. 3. Skala mikrometryczna. 4. Skala milimetrowa na statywie.
Bardziej szczegółowoNazwa asortymentu Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego
Postępowanie ZAŁĄCZNIK NR 6 L. p. Nazwa asortymentu Ilość Nazwa wyrobu, nazwa producenta, określenie marki, modelu, znaku towarowego Cena jednostkowa netto (zł) Wartość netto (zł) (kolumna 3x5) 1 2 3 4
Bardziej szczegółowo20. Na poniŝszym rysunku zaznaczono bieg promienia świetlnego 1. Podaj konstrukcję wyznaczającą kierunek padania promienia 2 na soczewkę.
Optyka stosowana Załamanie światła. Soczewki 1. Współczynnik załamania światła dla wody wynosi n 1 = 1,33, a dla szkła n 2 = 1,5. Ile wynosi graniczny kąt padania dla promienia świetlnego przechodzącego
Bardziej szczegółowoMetody i techniki badań II. Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT
Metody i techniki badań II Instytut Inżynierii Materiałowej Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki ZUT Dr inż. Agnieszka Kochmańska pok. 20 Zakład Metaloznawstwa i Odlewnictwa agnieszka.kochmanska@zut.edu.pl
Bardziej szczegółowoPromieniowanie X. Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X
Promieniowanie X Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X Lampa rentgenowska Lampa rentgenowska Promieniowanie rentgenowskie
Bardziej szczegółowo