Fotolitografia. xlab.me..me.berkeley.

Podobne dokumenty
Procesy technologiczne w elektronice

Technologia planarna

Procesy technologiczne w elektronice

Technologia w elektronice

Struktura CMOS PMOS NMOS. metal I. metal II. warstwy izolacyjne (CVD) kontakt PWELL NWELL. tlenek polowy (utlenianie podłoża) podłoże P

Struktura CMOS Click to edit Master title style

Struktura CMOS PMOS NMOS. metal I. metal II. przelotka (VIA) warstwy izolacyjne (CVD) kontakt PWELL NWELL. tlenek polowy (utlenianie podłoża)

TECHNIKI OBSERWACYJNE ORAZ METODY REDUKCJI DANYCH

Polisilany. R 1, R 2... CH 3, C 2 H 5, C 6 H 5, C 6 H 11 i inne

Układy cienkowarstwowe LITOGRAFIA

Ćwiczenie 12 (44) Wyznaczanie długości fali świetlnej przy pomocy siatki dyfrakcyjnej

Techniki skaningowej mikroskopii elektronowej

pobrano z serwisu Fizyka Dla Każdego zadania z fizyki, wzory fizyczne, fizyka matura

Współczesne metody badań instrumentalnych

Właściwości optyczne. Oddziaływanie światła z materiałem. Widmo światła widzialnego MATERIAŁ

Elementy pomiaru AFM

Plan wykładu. 1. Budowa monitora LCD 2. Zasada działania monitora LCD 3. Podział matryc ciekłokrystalicznych 4. Wady i zalety monitorów LCD

Niezwykłe światło. ultrakrótkie impulsy laserowe. Piotr Fita

I.4 Promieniowanie rentgenowskie. Efekt Comptona. Otrzymywanie promieniowania X Pochłanianie X przez materię Efekt Comptona

Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. USF_3 Technologia_A M.Kujawińska, T.Kozacki, M.Jóżwik 3-1

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

Slajdy? Najszybciej bezpośrednio! SLIDE DIRECT. Film do bezpośredniego wywoływania slajdów o niezrównanej jakości

39 DUALIZM KORPUSKULARNO FALOWY.

Plan. Wstęp EBL Litografia Nano-imprinitg Holografia Trawienie Pomiary Zastosowanie Podsumowanie. Szymon Lis Photonics Group. C-2 p.305. Plan.

Czyszczenie powierzchni podłoży jest jednym z

,2^ OPIS OCHRONNY PL 60979

Ćwiczenie 3. Elementy fotometrii i testy rozdzielczości obiektywów fotograficznych. Wprowadzenie teoretyczne. Elementy fotometrii

Mikroskopia fluorescencyjna

Problemy optyki falowej. Teoretyczne podstawy zjawisk dyfrakcji, interferencji i polaryzacji światła.

Dr Piotr Sitarek. Instytut Fizyki, Politechnika Wrocławska

Spektroskopia charakterystycznych strat energii elektronów EELS (Electron Energy-Loss Spectroscopy)

Ćwiczenia z mikroskopii optycznej

Interferencja jest to zjawisko nakładania się fal prowadzące do zwiększania lub zmniejszania amplitudy fali wypadkowej. Interferencja zachodzi dla

Światło ma podwójną naturę:

Laboratorium RADIOTERAPII

Całkowity strumień pola elektrycznego przez powierzchnię zamkniętą zależy wyłącznie od ładunku elektrycznego zawartego wewnątrz tej powierzchni.

Spektroskopia fotoelektronów (PES)

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

Lekcja 81. Temat: Widma fal.

Wprowadzenie do technologii HDR

WYZNACZANIE DŁUGOŚCI FALI ŚWIETLNEJ ZA POMOCĄ SIATKI DYFRAKCYJNEJ

Dyfrakcja. Dyfrakcja to uginanie światła (albo innych fal) przez drobne obiekty (rozmiar porównywalny z długością fali) do obszaru cienia

CHARAKTERYSTYKA WIĄZKI GENEROWANEJ PRZEZ LASER

Promieniowanie X. Jak powstaje promieniowanie rentgenowskie Budowa lampy rentgenowskiej Widmo ciągłe i charakterystyczne promieniowania X

Ćwiczenie 53. Soczewki

PDF stworzony przez wersję demonstracyjną pdffactory

Wykład XIV: Właściwości optyczne. JERZY LIS Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki Katedra Technologii Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych

Matura z fizyki i astronomii 2012

Podstawy fizyki wykład 8

Fotometria CCD 3. Kamera CCD. Kalibracja obrazów CCD

Technologia elementów optycznych

Fizyka elektryczność i magnetyzm

2.2.P.05: Inżynieria powierzchni materiałów funkcjonalnych

Krystalografia. Wykład VIII

1 k. AFM: tryb bezkontaktowy

Światło fala, czy strumień cząstek?

GŁÓWNE CECHY ŚWIATŁA LASEROWEGO

Podstawy fizyki kwantowej

Natura światła. W XVII wieku ścierały się dwa, poglądy na temat natury światła. Isaac Newton

Energia Słońca. Andrzej Jurkiewicz. Energia za darmo

METODY BADAŃ BIOMATERIAŁÓW

Podstawy fizyki kwantowej i budowy materii

Elementy technologii mikroelementów i mikrosystemów. Typowe wymagania klasy czystości: 1000/100 (technologie 3 µm)

Szczegółowe kryteria oceniania z fizyki w gimnazjum. kl. III

Jak powstają procesory (art. CHIP)

Interferencja. Dyfrakcja.

Badanie zjawisk optycznych przy użyciu zestawu Laser Kit

Stałe : h=6, Js h= 4, eVs 1eV= J nie zależy

Techniczne podstawy promienników

Falowa natura materii

Inkluzje Protodikraneurini trib. nov.. (Hemiptera: Cicadellidae) w bursztynie bałtyckim i ich badania w technice SEM

h λ= mv h - stała Plancka (4.14x10-15 ev s)

Montaż w elektronice_cz.03_elementy elektroniczne w obudowach BGA i CSP.ppt. Plan wykładu

JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI? JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI?

Falowa natura promieniowania elektromagnetycznego.

Laboratorium techniki laserowej. Ćwiczenie 5. Modulator PLZT

PDF stworzony przez wersję demonstracyjną pdffactory

KONSTRUKCJA CYFROWEJ NAŚWIETLARKI OBWODÓW DRUKOWANYCH

Wzajemne relacje pomiędzy promieniowaniem a materią wynikają ze zjawisk związanych z oddziaływaniem promieniowania z materią. Do podstawowych zjawisk

OPTYKA. Leszek Błaszkieiwcz

Optyka. Wykład XII Krzysztof Golec-Biernat. Dyfrakcja. Laser. Uniwersytet Rzeszowski, 17 stycznia 2018

Optyka. Optyka falowa (fizyczna) Optyka geometryczna Optyka nieliniowa Koherencja światła

Optyka geometryczna MICHAŁ MARZANTOWICZ

WOJEWÓDZKA KOMISJA KONKURSU PRZYRODNICZEGO

O aktywności słonecznej i zorzach polarnych część I

OBRAZOWANIE ORAZ BADANIE ROZMIARÓW I POŁOŻENIA OBIEKTÓW NAŚWIETLONYCH PROMIENIOWANIEM X

Techniki analityczne. Podział technik analitycznych. Metody spektroskopowe. Spektroskopia elektronowa

BADANIA WARSTW FE NANOSZONYCH Z ELEKTROLITU NA BAZIE ACETONU

Przykłady pomiarów wielkości ogniska Lamp rentgenowskich

BADANIA STRUKTURY MATERIAŁÓW. Publikacja współfinansowana ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego

OPTYKA FALOWA I (FTP2009L) Ćwiczenie 2. Dyfrakcja światła na szczelinach.

Plan wykładu. 1. Budowa monitora CRT 2. Zasada działania monitora CRT 3. Maski 4. Wady i zalety monitorów CRT 5. Testowanie monitora

I Konferencja. InTechFun

Fizyka kwantowa. promieniowanie termiczne zjawisko fotoelektryczne. efekt Comptona dualizm korpuskularno-falowy. kwantyzacja światła

Prezentacja aparatury zakupionej przez IKiFP. Mikroskopy LEEM i PEEM

Katedra Fizyki Ciała Stałego Uniwersytetu Łódzkiego

SKUTECZNOŚĆ IZOLACJI JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI? JAK ZMIERZYĆ ILOŚĆ KWASÓW NUKLEINOWYCH PO IZOLACJI?

Zdolność rozdzielcza decyduje o możliwościach badawczych mikroskopów!

Rys. 1 Interferencja dwóch fal sferycznych w punkcie P.

Transkrypt:

Fotolitografia http://xlab xlab.me..me.berkeley.edu/ http://nanopatentsandinnovations.blogspot.com/2010/03/flyingplasmonic-lens-at-near-field-for.html

Fotolitografia Przygotowanie powierzchni Nałożenie emulsji światłoczułej Przygotowanie maski Naświetlanie Trawienie podłoża Usunięcie pozostałości emulsji

Przygotowanie powierzchni http://www.egielda.com.pl/?str=art&id=5354-3

Nakładanie adanie emulsji światłoczułej (fotorezystu) http://www.frazpc.pl/artykuly/751/produkcja/procesorow/i/polprzewodnikow/od/piasku/do/procesora

Fotorezyst Pozytywny Jest dekomponowany przez promieniowanie ultrafioletowe, wskutek czego jest bardziej rozpuszczalny w wywoływaczu niż polimer nienaświetlony Negatywny Polimeryzuje wskutek naświetlania promieniowaniem UV, staje się trudniejszy do rozpuszczenia w wywoływaczu ywaczu niż polimer nienaświetlony

Fotorezyst Pozytywny Odwzorowanie jest identyczne jak na masce (pozytyw) Negatywny Wzór r otrzymany na płytce p jest negatywem wzoru na masce

Fotorezyst www.dsod.pl/materials/pp0204_a00.pdf

Maski Transmisyjne Odbiciowe http://www.frazpc.pl/artykuly/751/produkcja/procesorow/i/polprzewodnikow/od/piasku/do/procesora

Maski W technikach o niewysokiej rozdzielczości ci wykorzystujących promieniowanie widzialne używane ywane sąs maski szklane pokryte emulsją fotograficzną W technikach wysokorozdzielczych wykorzystujących UV używane u sąs maski kwarcowe napylane warstwą chromu i pokryte powłokami okami antyrefleksyjnymi

Naświetlanie http://www.purepc.pl/procesory/jak_powstaja_procesory?page=0%2c2

Naświetlanie Stykowe Zbliżeniowe Projekcyjne http://www.purepc.pl/procesory/jak_powstaja_procesory?page=0%2c2

Naświetlanie stykowe Skala 1:1 Rozdzielczość rzędu długod ugości fali świetlnej Szybkie zużywanie się maski

Naświetlanie zbliżeniowe Maska utrzymywana w niewielkim oddaleniu od podłoża Możliwo liwość rzutowania wzoru przez układ skupiający, co za tym idzie wysoka rozdzielczość

Naświetlanie projekcyjne Steppery Skanery

Stepper http://www.frazpc.pl/artykuly/751/produkcja/procesorow/i/polprzewodnikow/od/piasku/do/procesora

Skaner http://www.frazpc.pl/artykuly/751/produkcja/procesorow/i/polprzewodnikow/od/piasku/do/procesora

Wytrawianie http://www.frazpc.pl/artykuly/751/produkcja/procesorow/i/polprzewodnikow/od/piasku/do/procesora

Usuwanie pozostałości emulsji i dalsza obróbka bka http://www.frazpc.pl/artykuly/751/produkcja/procesorow/i/polprzewodnikow/od/piasku/do/procesora

Inne metody litografii Litografia promieniami X Elektronolitografia Nanolitografia

Litografia promieniami X http://www.faqs.org/photo-dict/photofiles/list/710/1123x-ray.jpg

Promieniowanie rentgenowskie http://www.spacetoday.org/images/deepspace/telescopes/greatobservatories/chandra/chandraspectrum.jpg Promieniowanie rentgenowskie (nazywane równier wnież promieniowaniem X) rodzaj promieniowania elektromagnetycznego,, którego długość fali mieści się w zakresie od 10 pm do 10 nm.. Zakres promieniowania rentgenowskiego znajduje się pomiędzy ultrafioletem i promieniowaniem gamma

Kiedy zachodzi dyfrakcja? Długość fali porównywalna z szerokością szczeliny Długość fali dużo mniejsza od szerokości szczeliny http://www.gcsescience.com

Szkodliwość dyfrakcji w litografii Przechodzące ce przez wąskw ską szczelinę promienie uginają się,, oświetlajo wietlając c powierzchnię pokrytą maską Jeśli zwiększymy rozmiar szczeliny stracimy rozdzielczość Trzeba więc c zmniejszyć długość fali promieniowania

Dyfrakcja cd... http://upload.wikimedia.org/wikipedia/en/8/86/xrl_currents3.gif

Litografia promieniami X Maska nie przepuszczająca promieni X typowo wykonana ze złota, ale też związki wolframu i tantalu Maska przepuszczająca promienie wykonana z SiC lub diamentowa Wzór maski wykonany metodą elektronolitografii

Ultra high resolution of litography http://en.wikipedia.org/wiki/file:diffraction1.png Efekt generacji elektronów przez promieniowanie X

Mechanizm UHRL Naświetlanie i przesuwanie maski, powtarzane kilkakrotnie Technologia zaprezentowana dla 25nm Możliwo liwość zejścia do 15nm

ULTRA HIGH RESOLUTION LITHOGRAPHY http://www.xraylithography.us/index_files/image006.jpg

Elektronolitografia Zamiast fotonów w wykorzystuje wiązk zkę elektronów Mają energię około o 20keV (od 10 do 50 kev) Nie jest potrzebna maska wiązka elektronów w jest sterowana polem magnetycznym (dokładno adność ok. 1nm), lub polem elektrycznym (szybciej, ale mniejsza dokładno adność)

Projekcja

Elektronolitografia λ= h/(2me)1/2 Wykorzystywane do tworzenia masek litograficznych Duża a dokładno adność do 5nm Łatwość obsługi brak masek, możliwo liwość wprowadzenia szybkich zmian w projekcie

Wady elektronolitografii Koszt urządze dzeń kilka milionów w $ Mała a wydajność

Nanolitografia za pomocą igły mikroskopu AFM www.mif.pg.gda.pl/homepages/maria/pdf/mf_06_9.pdf

Nanolitografia za pomocą igły mikroskopu AFM www.iel.waw.pl/strony/wydawnictwo/zal/216/03.pdf

Podsumowanie Fotolitografia Rentgenolitografia Elektronolitografia Nanolitografia http://dziennik.pl/nauka/article153701/komputery_beda_wszywane_w_ubrania.html