BRANŻOWA. Fotodiody. Wymagania Opis badań - wg PN-78/T-015l5 p. 5.3 i arkusza. szczegółowego. Q... - wg tab!. 5.

Transkrypt

1 UKD N O R M A BRANŻOWA BNB6 ELEMENTY Elementy optoelektroniczne /01 PÓŁPRZEWOON KOWE Fotodiody Wymagania i badania Grupa katalogowa 1923 l. WSTEP 1.1. Przedmiot normy. Przedmiotem normy są wymagania i badania dotyczące fotodiod przeznaczonych do stosowania w elektronicznych urządzeniach powszechnego u żytku profesjonalnych i urządzeniach gdzie wymaga się zastosowania elementów o wysokiej i bardzo wysokiej jakości Przedmiot arkusza normy' Przedmiotem niniejszego arkusza normy są wymagania i badania wspólne dla całej grupy fotodiod. l. 3. Ok'reślenia wg PN84/T 01500/ PODZAŁ OZNACZENE 2.1. podział ze wzgledu na poziom jakości wg PN 78/ T01515 p Oznaczenie wg PN78/T015l5 p Przykład oznaczenia wg arkusza szczegółowego. 3. WYMAGANA 3.1. Wymiary wg arkusza szczegółowego Wykonanie wg PN78/T01515 p. 3.2 i arkusza szczegółowego Cechowanie wg PN78/T015l5 p. 3.3 i arkusza szczegółowego Parametry elektryczne wg PN78/T~1515 p Przechowywanie wg PN78/T01515 p Trf<nsport wg PN78/T p BADANA 5.1. Program i rodzaje badań Badania grupy A wg PN78/T~1515 p i tab! Badania grupy B wg PN78/T015l5 p i tab! BadaniagrupYCwgPN78/T01515 p i tab! Badania grupy D wg PN78/T01515 p i tab! Pobieranie próbek wg PN78/T p Opis badań wg PN78/T015l5 p. 5.3 i arkusza szczegółowego Parametry kontrolowane w badaniach grupy B. C. Q... wg tab! Ocena wyników badań wg PN78/T~1515 p Dostawa elementów po badaniach wg PN 78/ T01515 p i arkusza szczegółowego Wymagania klimatyczne wg PN7B1T p.3.s WymaKania mechaniczne wg PN7B1T~1515 p Wymagania niezawodnościowe v.g PN78/T p Wymagania dodatkowe wg PN78/T015l5 p PAKOWANE PRZECHOWYWANE TRANSPOR T 4. L Pakowanie wg PN 78/ T p. 4. L 6. POSTEPOWANE W PRZYPADKU NEGATYWNEGO WYNKU BADAN 6.1. Badania grupy A wg PN78/T01515 p Badania grupy B wg PN78/T01515 p Badania grupy C wg PN78/T01515 p Badania grupy D wg PN 78/T01515 p Zgłoszona przez nstytut Technologii Elektronowej Ustanowiona przez Dyrektora NaukowoProdukcyjnego Centrum Półprzewodników dnia 15 lipca 1986 r. jako norma obowiązująca od dnia 1 stycznia 1987 r. (Dz. Norm. i Miar nr 13/1986 poz. 25) WYDAWNCTWA NORMALZACYJNE "ALFA" Druk. Wyd. Norm. Wwa Ark. wyd. 150 Nakl Zam. 2910/86 Cena zl 45.00

2 Tablica 1. Badania grupy A N Plany i warunki badań Podgrupa Rodzaj badania Metoda Poziom jakości Poziom jakości Poziom jakości badania wg PN78/ Poziom Warunki Poziom Warunki Poziom Warunki T kontroli badania kontroli badania kontroli badania i AQL wg i AQL wg i AQL wg Poziom jakości V Poziom Warunki kontroli badania i AQL wg Dane wg arkusza szczegółowego l B 9 Al ; 25 ; 25 ; 15 Sprawdzenie wymiarów ( głównych) Sprawdzenie wykonania obudowy Sprawdzenie prawidlo wości cec howania ; A2 ; 15 l; 10 ; 065 Sprawdzenie podstawo PN831 PN83/ PN83/ wych eek T01504/ 0C T01504/ OCJ T01504'OCJ trycznych RO U( BR) S Ee K. ; 04 PN83/ T 01504'00 parametry kontrolowane ich wartości graniczne i ~ co 0'1 W ~ Vl lj1 <D O... A3 ; 25 11; 15 ; 15 ; 10 Sprawdzenie drugorzęd PNB3/ PNB3/ PNB3/ nych elek T01504/ 00 T01504'00 T01504'00 trycznych C tot. PNB3/ T 01504'00 parametry kontrolowane wartości graniczne i warunki pomiaru A4 l; 25 l; 15 Sprawdzenie parame PNB3/ trów elektryczn.ych w T01504'00 innych temperaturach niż normalna temperatura otoczenia RO PNB3/ T01504'00 temperatura parametry kontrolowane wartości graniczne i warunki pomia.ru

3 BN86/337559/01 3 Tablica 2. Badania grupy B Plany i warunki badań Podgrupa Rodzaj badania Metoda badania wg PN78/ T Poziom jakości Poziom kontroli i AQL Warunki badania Poziom jakości Poziom kontroli i AQL V Warunki badania Dane wg arkusza szczególowego S4; 15 S4; 10 Sprawdzenie wytrzymalości mechanicznej wyprowadzeń rodzaj i szczegółowe warunki badania wartości obcią żeń Sprawdzenie szczelności metoda Ql wg PN75/ E04550/ 15 czynnik probierczy alkohol etylowy metoda Ql wg PN 75/ E04550/ 15 czyt)nik probierczy alkohol etylowy B2 S4; 15 S4; 1 0 Sprawdzenie lutow ności wyprowadzeń 5.3.5a) temperatura kąpieli B3 S4; 1 5 S4; 10 Sprawdzenie wytrzymalości na spadki swobodne J.3.17 H 500 mm H = 500 mm pok' że nie e tementu w czasie spadku warunki pon... i a.ru j wartości graniczne B4 Sprawdzeme wytrzymaiośc na udary wielokrotne S4; m/ s ><3 sposób mocowtlnia korpusu 1\tb wyprowadzeń elementu. wa 8 runki pomiaru i wartości graniczne B5 B6 Sprawdzenie wytrzymalości na nagle zmiany temperatury Sprawdzenie odporności na ndr3żenia elektryczne 1) W podgrupie C. Sprawdzenie szczelności norma przedmiotowa powinna określać czy badanie stosuje się dla danego typu fotodiod S4; ; 10 T A T = B t stg min t stg mćll< 100 h S4; 10 S4; 065 T A t tg min Ta = t s t g Blax 100 h wartości temperatury TA i T!l ' warunki pomia ru warunki obciąż" uia metoda badania temperatura badania wc> runki pomiaru

4 ~ Tablica 3. Badania grupy C ;:.. Plany i warunki badan Podgr upa Metoda Poziom jakości Poziom jakości 11 Poziom jakości l1l Rodzaj badania badania wg PN 78 j Poziom Warunki Poziom Warunki Poziom Warunki T kontroli badania kontroli badania kontroli badania i AQL i AQL i AQL Poziom jakości V Poziom Warunki kontroli badania i AQL Dane wg arkusza szczegółowego l ~ :J C1 1 ) 54; 25 S 4; 25 Sprawdzenie wytrzyma łości mechanicznej wyprowadzeń rodzaj i szczegółowe warunki badania wartości obciążeń ~ Sprawdzenie szczelności metoda Q metoda Ql wg PN 73! wgpn73 / E 04550/ 15 E04550/ 15 czynnik pro czynnik probierczy bierczy alkohol et y alkohol et y lowy lowy C2 S4; ; ; 25 Sprawdzenie elektrycznych R O S4; 15 szczegółowe warunki badania czas regeneracji warunki pomiarów i wartości gr aniczne i wartości tj: :z: (J) O'> W ~ V1 V1 \.O O... S Ee l ' K U(BR) Sprawdzenie odporności S.3.11 t a m b max t amb max t a m b max na suche gorąco t a m b max ~ Sprawdzenie odporności t a mb min t am b min t amb min na zimno t a m b min paramet r ów

5 cd. tabl. 3 l J e3 5 4 ; ; 1 5 Sprawdzenie masy wyrobu masa wyrobu Sprawdzenie trwałości ce chowania Sprawdzenie lutownośc i wyp r owad z eń a) temperatura kąpieli e4 5 4 ; ; ; 15 Sprawdzenie wytrzymałoś m/ s m/ s 2 ci na przyśpieszenie stałe 2 2 Sprawdzeni e wytrzymałoś L.700m/ s m /. s ci na udary ( pojedyncze lub ( 245 m / 5 2 ( 245 m/s 2 lub wielokrotne ) x1000) 3~000 ) Spr awdzenie wytr zym aloś h 2 3h 2 c i na wibrac je ( o stalej lub (49 m/ s ( 49 m/ s lub zmiennej cz ę stotliwoś ~ 500 Hz Hz ci) 3 h l 3 h l e5 5 4 ; ; 25 S4;1 5 Sprawdzenie wytrzyma łoś ci na c i epł o lutowania b) 5 4; m/ s m/ s m/ s m/ s ( 245 m/ s2 ( 390 m / s2 3 xl 000 l 3xl000) 3h 2 3 h 2 ( 49m/ s ( 49 m/ s 10~ 5 00 Hz 10.; 500 liz 3 hl 3 hl 5 4; 1 5 kierunki probiercze sposób mocowania korpu s u lub wyprowadzeń i wart oś ci graniczne kontro1o w~nych parame trow i temperatura kąpieli czas regeneracji warunki pomiaru to Z en 0\ W W J Ul en D... o Sprawdzenie wytrzymaloś 5.3. T = t. A stg mln TA =tstg min ci na nagle zmiany temperatury T B = t sto max T =t. B sto max TA =tstg min T t TA a.tstgmin B s tg max T B t sto max Sprawdzenie wytrzyma l oś doby 10 dób ci na wilgotne gorąco stale 21 d ób 56 dób L Ul

6 cd. tabl. 3 G> Podgrupa Rodzaj badania Plany t war unki badań Metoda Poziom jakoścl l Poziom jakości 11 P oziom j akości badania' wg PN78/ Poziom Wacunki Poziom Warunki Poziom Warunki T kontroli bad ania kontroli badania kontroli badania i AQL i AQL t AQL Poziom jakośc i V Poziom Warunki kontroli badania l AQL Dane wg arkusza szczegółowego l e6 54; 23 54; 25 54; 15 54; 10 Sprawdzenie odporności h 1000 h 1000 h na na r ażenie elektryczne 2500 h metoda badania warunki obciąż e nia temperatura badania ;"" warunki pomiaru wartości graniczene e7 Sprawdzenie wytrzymaloś ci na zimno 54; 1 0 t St g min czas narażenia i wartości graniczne kon trolowanych to Z co G> W W...J V V tj:j... o e8 54 ; ; ; 10 Sprawdzenie wytrzymałoś ci na suche gorąco t si g max ts t Og max 1000 h 1000 h t stg max 1000 h e9 54; 1 5 Sprawdzenie wytrzymaloś mm ci na spadki swobodne położenie elementu w czasie spadku warunki pomiaru i wart o ści granicz. ne kontrolowa_ nych ~~.

7 cd. tab!. 3 l C a S4; 40 S4; 25 S 4; 15 S 4; 1 0 S prawdzenie wymiarów sprawdzane par amet ry geometryczne 1) W podgru pie C. Sprawdzenie szcz e lności norma przedmiotowa powinna okreś l ać czy badanie stosuje się dla danego typu fotodiod. Tablica 4. Badania grupy D Plany i warunki badań Podgrupa Rodzaj badania Metoda PozJOm jakości P oziom jak ości li Poziom jakości Poziom jakości V badanla wg PN 78j POZlom Warllilki Poziom W ar llilk i Poziom Warllilki Poziom Warllilki T015l 5 kontroli badania kontroli badania kontr oli badania kontr oli badania J AQL i AQL i AQL i AQL Dane wg arkusza szczegół owego l la 11 Dl 5 4; 15 S4; 1.5 Sprawdzenie odporności na niskie c iśnienie atmasferyczne hpa 10 hpa D2 1 ) 5 4 ; ; 4 0 S 4; 25 54; 25 Sprawdzenie wytrz:)1na łości na rozpuszczalniki tenperatum nara. żania warunki pomiaru i wartości gran iczne kohtr o lowanych pa r ametrów r odzaj rozpuszczalnika J: Z {)) 0'1 W ' Ul Ul \D o. D3 Sprawdzenie palności nie stos u je się D4 2 ) 54; 25 S4; 1.5! Spr awdzenie wytr zyma łości n a p l eśń ' s top ie ń d opuszczalnego wzrostu gr zybów p le ś niowyc h. wy. magania dotyczące u sz k odzeń powi e rzchniowych 'J

8 cd. tabl 4 Ol Plany i warunki badań Podgrupa Rodzaj badania Metoda Poziom jakości Poziom jakości Poziom jakości badania wgpn78j Poziom Warunki Poziom Warunki Poziom Warunki T01S1S kontroli badania kontroli badania kontroli badania i AQL i AQL i AQL Poziom jakości V Poziom Warunki kontroli badania i AQL Oane wg arkusza szczegółowego l S OS2) Sprawdzenie wytrzyma S ; 2S łości na mgłę solną 54; 1S czas narażania położenie elementu w czasie badania warunki pomiaru i wartości graniczne 06 Sprawdzenie wg norm 54; 4S 54; 2S 54; 2S informacyjnych..t S1' ). 52 ).s 9 HS przedmiotowych 54; 1S warunki pomiarów. wartości graniczne pa rametrów td Z Ol 0'1 W W...] Ul ul \.D o >' t r' t f lub f y 1) Badanie stosuje się dlą wyrobów w obudowach plastykowych. 2) Badanie stosuje się przy zamówieniu wyrobów w wykonaniu tropikalnym lub dla klimatu morskiego..

9 BN 86/ 337S S9/01 9 Tablica 5 Ozn aczenie Nazwa paramet r u Podgr u pa bada ń l 2 3 RG Ciemny prąd wsteczny B 1 B3 B4 BS B6 C l C2 C4 CS C6 C7 CB C9 Dl SE e Czułość na natężenie napromieniowania B1 B3 B4 BS B6 C C2 C4 CS C6 C7 CB C9 Dl C t ot Pojemność całko wita C2 t T t lub fg Czas nar astania i opadania. impulsu p r ądu foto D6 elektrycznego lub częstotliwość graniczn a As Długość fali odpow iadająca maksimum cz u ł o śc i D6 fotodiody 8 HS Kąt połówkowy fotodiody D6 A sft A S2 Widmowy zakres p r acy D6 U( BR) Napięcie pr zebicia C2 K P r ąd zwar c iowy C2 m Masa wyrobu C3 KON E C NFORMACJE DODATKOWE 1. nstytucja opracowująca no rmę nstytut Technolo R ( H ) jasny prąd wsteczny lub P t o t moc całkowita gii Elektr onowej pr zy Naukowo Produkcyjnym Centrum Półprzewodników Warszawa Al. Lotników 32/ Nor my związane PN 75/ E04550/ 15 Wyr oby elektrotechniczne. Próby środowiskowe. P róby Q szczelność PN 84/T / 04 Półprzewodnikowe elementy optoelektronie zne. T erminologia PN83 / T01S04/ 00 Elementy półprzewodnikowe. Metody pomiaru t r anzystorów i diod. Postanowienia ogólne PN7B/ T E lementy półprzewodnikow e. Ogóln e wymagania i badania 3. Symbol wg SWW Wa rtoś ci dopuszczalne parametr ów. W a r kuszu szczegółowym d la. danego typu fotodiod powinny być podane dopuszczalne wartości następujących par a metrów ; napięcie wsteczne temperatura złącza t a m b temper atura otoczenia w czasie pracy t st g temperatura przechowywania. Dane te s t anowią gr aniczne wart o śc i o bclą'; eń których nie można p r zekr o czyć w eksploatacji fotodiod.. 5. Parametr y c harakterystyczne. Warkuszu szczegółowym dla danego typu fotodiod powinny być podane przy określonej tempe r aturze otoczenia następujące parametry charakterystyczne; c iemny prąd wsteczny U(BR) napięcie przebicia S Ee czulość na natężenie napromieniowania czulość na natężenie oświ etlen ia prąd zwarciowy po j emność całkowita

10 10 nformacje dodatkowe do BNB6/337559/01 _ czas narastania czas opadania impulsu prądu fotoelektrycznego lub graniczna częstotliwość rozszerzenie podziału grupy D wg PN7B/T01515 w celu podania szerszej informacji dotyczącej zastosowania elementów. kąt połówkowy _ długość fali odpowiadająca maksimum czułości fotodiody 7. Dostawy elementów o wysokiej jakości i bardzo wysokiej jakości mogą być realizowane po uzgodnieniu z producentem wielkości dostaw i po uzgodnieniu ceny. A _ pole powierzchni fotoczułej. B. Autorzy projektu normy mgr inż. Jerzy Kuszel mgr 6. Wprowadzenie podgrupy D6!. Sprawdzenie informacyjnych. Wprowadzenie podgrupy D6 stanowi inż. Maria Grynglas NaukowoProdukcyjne Centrum półprzewodników Warszawa ul. Komarowa 5.