Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7
|
|
- Łukasz Szczepaniak
- 7 lat temu
- Przeglądów:
Transkrypt
1 Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 7 Temat: Badanie właściwości elektrycznych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych.. Cel ćwiczenia: Poznanie budowy, zasady działania, charakterystyk i parametrów elektrycznych wybranych elementów optoelektronicznych. I. Wymagany zasób wiadomości. Do poprawnego wykonania ćwiczenia niezbędne jest opanowanie wiadomości na temat: 1. Absorbcja i emisja promieniowania świetlnego w półprzewodniku; 2. Zewnętrzne i wewnętrzne zjawisko fotoelektryczne; 3. Energetyczne modele pasmowe półprzewodników w funkcji wektora falowego; 4. Podział półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych; 5. Fotodetektory i fotoogniwa; 6. Źródła światła i wskaźniki optoelektroniczne; 7. Właściwości elektryczne, charakterystyki prądowo-napięciowe: fotorezystora, fotodiody, fotoogniwa, fototranzystora; 8. Budowa i właściwości fotoelekrtyczne transoptorów; 9. Parametry dynamiczne elementów optoelektronicznych - praca w obwodach przełączających. 1
2 II. Wykonanie ćwiczenia. Stanowisko laboratoryjne składa się z dwóch przystawek służących do pomiaru: charakterystyk statycznych pojedynczych elementów optoelektronicznych, charakterystyk statycznych transoptorów, parametrów dynamicznych. Ponadto dodatkowy element stanowi układ optyczny stanowiący jednocześnie ciemnię, w której umieszczane się elementy badane. Do zasilania przystawek służą zasilacze laboratoryjne. CHARAKTERYSTYKI STATYCZNE POJEDYNCZYCH ELEMENTÓW OPTOELEKTRONICZNYCH 1. Pomiar charakterystyk statycznych diody elektroluminescencyjnej. Pomiaru charakterystyk statycznych diod elektroluminescencyjnych dokonuje się w układzie pomiarowym którego schemat przedstawiony jest na Rys.1. Przed wykonywaniem pomiarów podłączyć zasilania +15V do zacisków wejściowych przystawki. Rys. 1 Schemat elektryczny układu pomiarowego do wyznaczania charakterystyk statycznych diod elektroluminescencyjnych. 2
3 1.1. Pomiar charakterystyk w kierunku przewodzenia. 1. Ustawić przełącznik polaryzacji w położenie "Przew. " 2. Wcisnąć przełącznik wybierający diodę przeznaczoną do pomiarów. 3. Podłączyć przyrządy pomiarowe w miejscach oznaczonych na płycie czołowej. 4. Dla zakresu napięcia U F od zera do wartości przy której płynie prąd I F Max, zdjąć charakterystykę statyczną I F =f(u F ). 5. W ten sam sposób pomierzyć charakterystykę następnej diody elektroluminescencyjnej. Wykreślić charakterystyki I F =f(u F ) dla kilku diod o różnych barwach świecenia. 2. Pomiar charakterystyk statycznych fotorezystora. Pomiaru charakterystyk statycznych fotorezystora dokonuje się w układzie pomiarowym którego schemat przedstawiony jest na Rys.2. W czasie wykonywania pomiarów element badany powinien znajdować się w układzie optycznym. Rys. 2 Schemat elektryczny układu pomiarowego do wyznaczania charakterystyk fotorezystora Pomiar charakterystyk statycznych. 1. Podłączyć żarówkę do regulatora źródła światła. 2. Element badany połączyć do układu pomiarowego. 3
4 3. Dla wartości napięcia U od U=0V do wartości przy której spełniona będzie zależność I U<P Max (praktycznie I 10 ma, U 5 V) zdjąć charakterystykę I=f(U), przy E v const dla kilku wybranych wartości natężenia oświetlenia. 4. Wykreślić rodzinę charakterystyk I=f(U). 5. Na podstawie charakterystyk statycznych obliczyć rezystancję R, przy kolejnych wartościach natężenia oświetlenia E ν Pomiar charakterystyk sterowania. 1. Podłączyć żarówkę do regulatora źródła światła. 2. Element badany podłączyć do układu pomiarowego. 3. Dla wartości natężenia oświetlenia E ν od 0 lx do wartości przy której spełniona jest zależność I U<P Max (praktycznie I 10 ma, U 5 V) zdjąć charakterystykę I=f(E ν ), dla wybranych wartości napięcia (np. U=1V i U=5V). 4. Wykreślić charakterystyki I=f(E ν ). 3. Pomiar charakterystyk statycznych fotodiody w układzie fotoogniwa. Pomiar charakterystyk statycznych fotoogniwa dokonuje się w układzie pomiarowych którego schemat przedstawiony jest na Rys.3. W czasie wykonywania pomiarów element badany powinien znajdować się w układzie optycznym. Rys. 3 Schemat elektryczny układu pomiarowego do wyznaczania parametrów fotoogniwa. 4
5 3.1. Pomiar charakterystyk sterowania. 1. Podłączyć żarówkę do złącza regulatora źródła światła. 2. Podłączyć element badany do układu pomiarowego. 3. Podłączyć przyrządy pomiarowe zgodnie ze schematem na płycie czołowej. 4. Dla wartości natężenia oświetlenia E ν od 0 lx do 10 klx, zdjąć charakterystykę I P =f(e ν ) przy R=const. dla wybranych wartości R (w tym R=0 i R= ). 5. Wykreślić rodzinę charakterystyk sterowania I P =f(e ν ) Pomiar charakterystyk obciążenia. 1. Podłączyć żarówkę do złącza regulatora źródła światła. 2. Podłączyć element badany do układu pomiarowego. 3. Podłączyć przyrządy pomiarowe zgodnie ze schematem na płycie czołowej. 4. Dla kilku wybranych wartości E ν zdjąć charakterystykę obciążenia I P =f(r) przy E ν = const. 5. Wykreślić rodzinę charakterystyk obciążenia I P =(R). 4. Pomiar charakterystyk statycznych fotodiody. Pomiaru charakterystyk fotodiody dokonuje się w układzie pomiarowym którego schemat przedstawiony jest na Rys. 4. W czasie wykonywania pomiarów element badany powinien znajdować się w układzie optycznym. Rys. 4 Schemat elektryczny układu pomiarowego do wyznaczania parametrów fotodiody. 5
6 4.1. Pomiar charakterystyk statycznych. 1. Podłączyć żarówkę do złącza regulatora źródła światła. 2. Podłączyć element badany do układu pomiarowego. 3. Podłączyć przyrządy pomiarowe zgodnie ze schematem na płycie czołowej. 4. Dla kilku wartości natężenia oświetlenia E ν (w tym dla E ν =0 lx), zdjąć charakterystykę statyczną fotodiody I R =f(u R ) przy E ν =const. w zakresie napięć U R od zera do wartości przy której spełniona jest zależność IR UR < Pad (praktycznie U 10 R V ) 5. Wykreślić rodzinę charakterystyk I R =f(u R ). 6. Korzystając z charakterystyk statycznych wyznaczyć statyczną czułość fotodiody Pomiar charakterystyk sterowania. 1. Podłączyć żarówkę do złącza regulatora źródła światła. 2. Podłączyć element badany do układu pomiarowego. 3. Podłączyć przyrządy pomiarowe zgodnie ze schematem na płycie czołowej. 4. Dla kilku wartości U R zdjąć charakterystykę sterowania fotodiody I R =f(e ν ) przy U R =const. 5. Wykreślić rodzinę charakterystyk sterowania I R =f(e ν ). 6
7 5. Pomiar charakterystyk statycznych fototranzystora. Pomiaru charakterystyk fototranzystora dokonuje się w układzie pomiarowym którego schemat przedstawiony jest na Rys. 5. W czasie wykonywania pomiarów element badany powinien znajdować się w układzie optycznym. Rys. 5 Schemat elektryczny układu pomiarowego do wyznaczania charakterystyk fotorezystora Pomiar charakterystyk statycznych. 1. Podłączyć żarówkę do złącza regulatora źródła światła. 2. Podłączyć element badany do układu pomiarowego. 3. Podłączyć przyrządy pomiarowe zgodnie ze schematem na płycie czołowej. 4. Przełącznik obciążenia ustawić w położenie 3 (bez obciążenia). 5. Dla kilku wartości natężenia oświetlenia E ν (w tym dla E ν =0 lx), zdjąć charakterystyki statyczne fototranzystora I C =f(u CE ) przy E ν =const. (U CE 5V, I C 10mA). 6. Wykreślić rodzinę charakterystyk statycznych wyjściowych fototranzystora I C =f(u CE ) Pomiar charakterystyk sterowania. 1. Podłączyć żarówkę do złącza regulatora źródła światła. 2. Podłączyć element badany do układu pomiarowego. 3. Podłączyć przyrządy pomiarowe zgodnie ze schematem na płycie czołowej. 4. Przełącznik obciążenia ustawić w położenie 3 (bez obciążenia). 7
8 5. Dla kilku wartości U CE zdjąć rodzinę charakterystyk sterowania I C =f(e ν ) przy U CE =const. (U CE 5V, I C 10mA). 6. Wykreślić rodzinę charakterystyk sterowania fototranzystora I C =f(e ν ). 7. Korzystając z charakterystyk sterowania wyznaczyć czułość fototranzystora Pomiar charakterystyk roboczych. 1. Podłączyć żarówkę do złącza regulatora źródła światła. 2. Podłączyć element badany do układu pomiarowego. 3. Podłączyć przyrządy pomiarowe zgodnie ze schematem na płycie czołowej. 4. Dla wybranej wartości napięcia zasilania U CC i stałych wartości rezystancji obciążenia R L zdjąć rodzinę charakterystyk roboczych fototranzystora, I C =f(e ν ) przy U CC =const. i rezystancji obciążenia R L =0, R19, R20 (U CE 5V, I C 10mA). 5. Wykreślić rodzinę charakterystyk roboczych fototranzystora I C =f(e ν ). 8
9 POMIARY CHARAKTERYSTYK STATYCZNYCH TRANSOPTORÓW ORAZ PARAMETRÓW DYNAMICZNYCH. 1. Pomiar charakterystyk statycznych transoptora. Pomiaru charakterystyk statycznych transoptorów wykonuje się w układzie pomiarowym którego schemat przedstawiony jest na Rys. 1. W czasie pomiarów badany transoptor umieszczony jest w podstawce. Uwaga: Do pomiaru charakterystyk transoptora napięcie z zasilacza podłączamy do zacisków - masa (zielony) i +30V (czerwony). Klawisz wyboru napięcia zasilania wciśnięty 30V Pomiar charakterystyk przejściowych transoptora. Włożyć element badany do podstawki. 1. Podłączyć przyrządy pomiarowe zgodnie ze schematem na płycie czołowej. 2. Dla wybranych wartości napięcia wyjściowego U wyj (np. 2V, 3V ) zdjąć charakterystyki przejściowe I wyj =f(i wej ), dla I wej od 0 do 10mA, U wyj 5V. 3. Wykreślić charakterystyki przejściowe transoptora I wyj =f(i wej ). 4. Na podstawie otrzymanych charakterystyk obliczyć współczynnik wzmocnienia prądowego K Pomiar charakterystyk wyjściowych transoptora. 1. Włożyć element badany do podstawki. 2. Podłączyć przyrządy pomiarowe zgodnie ze schematem na płycie czołowej. 3. Dla wybranych wartości prądu wejściowego I wej (np. 2mA, 3mA i 5mA) zdjąć charakterystyki wyjściowe I wyj =f(u wyj ), przy I wej =const. Napięcie wyjściowe zmieniać od 0V do 5V. 4. Wykreślić charakterystyki wyjściowe transoptora I wyj =f(u wyj ). 9
10 2. Pomiar parametrów dynamicznych elementów optoelektronicznych Osc. Kan. A Osc. Kan. A IR = 100 ma Dioda elektrolum. Wy 1 IR = 50 ma Wy 2 Dioda elektrolum. 10μs 100ns 50μs Generator impulsów wzorcowych Wy 3 UCC = 5V UCC = 30V 100Ω 50Ω Obciążenie Fotoogniwo Fotodioda 430Ω Fototranzystor 1000Ω Fotodetektor Kan. B Osc. 4 3 UCC Osc. Kan. A 1 2 Transoptor Kan. B Osc. Rys. 2 Płyta czołowa stanowiska do pomiarów parametrów dynamicznych elementów Pomiary parametrów dynamicznych wykonuje się w przystawce do pomiarów czasów narastania i opadania (Rys. 2). W czasie pomiarów fotonadajnik optoelektronicznych.jak i fotoodbiornik znajdują się w łączu optycznym. Do pomiarów wykorzystany jest oscyloskop dwukanałowy Pomiar parametrów dynamicznych transoptorów. 1. Wstępne ustawienie oscyloskopu: wyzwalanie - kanał A rodzaj pracy - ALT wyzwalanie - sinusoida czułość napięciowa kanału A i B - 1V/cm czułość podstawy czasu - 10μs/cm wszystkie pozostałe klawisze wyłączone 2. Badany transoptor umieścić w podstawce. 3. Oscyloskop podłączyć do układu pomiarowego (kanał A podstawki do kanału A oscyloskopu). 4. W kanale A powinno uzyskać się przebieg czasowy z generatora wzorcowego a w kanale B przebieg czasowy z transoptora. 10
11 5. Z przebiegu w kanale B oscyloskopu odczytać: czas narastania t r od wartości 10% amplitudy do 90% wartości czas opadania t f od wartości 90% amplitudy do 10% wartości 6. Z przebiegu w kanale B oscyloskopu odczytać czasy narastania i opadania dla różnych wartości obciążenia (100Ω, 430Ω, 1kΩ). 7. Przerysować przebiegi na papier milimetrowy Pomiar czasów narastania i opadania impulsów. 1. Diodę elektroluminescencyjną (fotoemiter) podłączyć do wyjścia oznaczonego na płycie czołowej. 2. Przełącznikiem wyboru fotodetektora wybrać badany element (fototranzystor, fotodioda, fotoogniwo). 3. Fotodetektor badany podłączyć do wejścia oznaczonego na płycie czołowej. 4. Dokonać wstępnego ustawienia oscyloskopu - jak w punkcie Podłączyć oscyloskop, kanał A do fotoemitera, kanał B do fotodetektora. 6. Przełącznik obciążenia ustawić w położenie 50Ω 7. Z przebiegu w kanale B oscyloskopu odczytać: czas narastania t r od wartości 10 o /o amplitudy impulsu, do wartości 90 o /o amplitudy czas opadania t f od wartości 90 o /o amplitudy impulsu, do wartości 10 o /o amplitudy Pomiar zależności czasów przełączania od rezystancji obciążenia. 1. Dioda elektroluminescencyjna podłączyć do wyjścia oznaczonego na płycie czołowej. 2. Przełącznik wyboru fotoelementu wybrać badany element. 3. Fotodetektor badany podłączyć do wejścia oznaczonego na płycie czołowej. 4. Dokonać wstępnego ustawienia oscyloskopu - jak w punkcie Podłączyć oscyloskop, kanał A do fotoemitera, kanał B do fotodetektora. 6. W sposób jak powyżej pomierzyć czasy narastania i opadania dla wartości obciążenia 100Ω, 430Ω, 1kΩ. 11
12 III. Opracowanie wyników 1. Wykreślić rodziny charakterystyk I(U) zbadanych przyrządów optoelektronicznych. 2. Obliczyć parametry elektryczne zbadanych elementów, wskazane przez prowadzącego. 3. Na podstawie charakterystyki wejściowej określić jaki element optoelektroniczny znajduje się na wejściu transoptora. 4. Na podstawie charakterystyki wyjściowej określić jaki element optoelektroniczny znajduje się na wyjściu transoptora. 5. Na podstawie charakterystyki przejściowej określić właściwy obszar pracy transoptora oraz jego własności. 6. Na podstawie przerysowanych przebiegów oscyloskopowych wykonać pomiary czasów: narastania, opadania i przełączania transoptora dla kilku wartości obciążenia. 7. Ocenić wpływ obciążenia na własności dynamiczne transoptora. 12
13 OZNACZENIA KOŃCÓWEK TRANSOPTORÓW CNMP 11, CNAP 22 CNRP 22, CQ 22 BPA (1) (2) (3) (4) (1) (2) (3) (4) CNSP 16 CNMP PODSTAWOWE PARAMETRY GRANICZNE BADANYCH TRANSOPTORÓW Typ I FI [ma] U RI [V] U CE [V] U RO [V] CNMP CNAP CNRP CQ 22 BPA CNMP CNSP
14 Strona tytułowa sprawozdania LABORATORIUM PRZYRZĄDÓW PÓŁPRZEWODNIKOWYCH Grupa... Zespół... Nr ćwiczenia... Lp Nazwisko i imię Ocena Data wykonania ćwiczenia... kol. wyk. wst. ćw.. Prowadzący zajęcia Data oddania sprawozdania TEMAT ĆWICZENIA:
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6b
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6b Temat: Charakterystyki i parametry półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych. Cel ćwiczenia: Zapoznać z budową, zasadą działania, charakterystykami
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6a Temat: Charakterystyki i parametry półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych. Cel ćwiczenia: Zapoznać z budową, zasadą działania, charakterystykami
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13 Temat: Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie budowy, zasady
Bardziej szczegółowoLaboratorium Elementów Elektronicznych. Sprawozdanie nr Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych.
Laboratorium Elementów Elektronicznych Sprawozdanie nr 7 Tematy ćwiczeń: 13. Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych 14. Charakterystyki i parametry transoptorów
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 13 Temat: Charakterystyki i parametry dyskretnych półprzewodnikowych przyrządów optoelektronicznych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie budowy, zasady
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 34. Badanie elementów optoelektronicznych
Ćwiczenie nr 34 Badanie elementów optoelektronicznych 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z elementami optoelektronicznymi oraz ich podstawowymi parametrami, a także doświadczalne sprawdzenie
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 9 Temat: Charakterystyki i parametry tranzystorów PNFET Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych oraz parametrów tranzystorów PNFET.
Bardziej szczegółowoPRACOWNIA ELEKTRYCZNA I ELEKTRONICZNA. Zespół Szkół Technicznych w Skarżysku-Kamiennej. Sprawozdanie
Zespół Szkół Technicznych w Skarżysku-Kamiennej Sprawozdanie PRACOWNIA ELEKTRYCZNA I ELEKTRONICZNA imię i nazwisko z ćwiczenia nr Temat ćwiczenia: BADANIE ELEMENTÓW OPTOELEKTRONICZNYCH rok szkolny klasa
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 11 Temat: Charakterystyki i parametry tyrystora Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie właściwości elektrycznych tyrystora. I. Wymagane wiadomości. 1. Podział
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4 Temat: Badanie własności przełączających diod półprzewodnikowych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie własności przełączających złącza p - n oraz wybranych
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 10 Temat: Charakterystyki i parametry tranzystorów MIS Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych i parametrów tranzystorów MOS oraz
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5 Temat: Charakterystyki statyczne tranzystorów bipolarnych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk prądowonapięciowych i wybranych parametrów
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 2a. Pomiar napięcia z izolacją galwaniczną Doświadczalne badania charakterystyk układów pomiarowych CZUJNIKI POMIAROWE I ELEMENTY WYKONAWCZE
Politechnika Łódzka Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych 90-924 Łódź, ul. Wólczańska 221/223, bud. B18 tel. 42 631 26 28 faks 42 636 03 27 e-mail secretary@dmcs.p.lodz.pl http://www.dmcs.p.lodz.pl
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5
nstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5 Temat: Charakterystyki i parametry tranzystorów unipolarnych Cel ćwiczenia: Poznanie charakterystyk i parametrów statycznych tranzystorów unipolarnych.. Wymagany
Bardziej szczegółowospis urządzeń użytych dnia moduł O-01
Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie wybranych reprezentatywnych elementów optoelektronicznych nadajników światła (fotoemiterów), odbiorników światła (fotodetektorów) i transoptorów oraz zapoznanie
Bardziej szczegółowoTRANZYSTORY BIPOLARNE
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego TRANZYSTORY BIPOLARNE Instrukcję opracował: dr inż. Jerzy Sawicki Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Tranzystory bipolarne rodzaje, typowe parametry i charakterystyki,
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 4 Temat: Parametry czwórnikowe tranzystorów bipolarnych. Cel ćwiczenia: Zapoznanie się z parametrami czwórnikowymi tranzystora bipolarnego (admitancyjnymi [y],
Bardziej szczegółowoFotoelementy. Symbole graficzne półprzewodnikowych elementów optoelektronicznych: a) fotoogniwo b) fotorezystor
Fotoelementy Wstęp W wielu dziedzinach techniki zachodzi potrzeba rejestracji, wykrywania i pomiaru natężenia promieniowania elektromagnetycznego o różnych długościach fal, w tym i promieniowania widzialnego,
Bardziej szczegółowoZworka amp. C 1 470uF. C2 100pF. Masa. R pom Rysunek 1. Schemat połączenia diod LED. Rysunek 2. Widok płytki drukowanej z diodami LED.
Ćwiczenie. Parametry dynamiczne detektorów i diod LED. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi parametrami dynamicznymi diod LED oraz detektorów. Poznanie możliwych do uzyskania
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5b
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 5b Temat: Charakterystyki i parametry półprzewodnikowych elementów przełączających. Cel ćwiczenia : Poznanie właściwości elektrycznych tranzystorów bipolarnych
Bardziej szczegółowoBADANIE CHARAKTERYSTYK FOTOELEMENTU
Ćwiczenie E7 BADANIE CHARAKTERYSTYK FOTOELEMENTU Przyrzady: Przyrząd do badania zjawiska fotoelektrycznego, płytki absorbenta suwmiarka, fotoelementy (fotoopór, fotodioda, lub fototranzystor). Zjawisko
Bardziej szczegółowoLaboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia
Wrocław, 21.03.2017 r. Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych test kompetencji zagadnienia Podczas testu kompetencji studenci powinni wykazać się znajomością zagadnień określonych w kartach kursów
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM Miernictwa elementów optoelektronicznych
Ćw. 4. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki LABORATORIUM Miernictwa elementów optoelektronicznych Pomiary częstotliwościowe detektorów opis ćwiczenia Opracował zespół: pod kierunkiem Damiana Radziewicza
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ MOCY
ZESPÓŁ LABORATORIÓW TELEMATYKI TRANSPORTU ZAKŁAD TELEKOMUNIKACJI W TRANSPORCIE WYDZIAŁ TRANSPORTU POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ LABORATORIUM ELEKTRONIKI INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA NR 9 WZMACNIACZ MOCY DO UŻYTKU
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie wzmacniacza różnicowego i określenie parametrów wzmacniacza operacyjnego
ĆWICZENIE LABORATORYJNE TEMAT: Badanie wzmacniacza różnicowego i określenie parametrów wzmacniacza operacyjnego 1. WPROWADZENIE Przedmiotem ćwiczenia jest zapoznanie się ze wzmacniaczem różnicowym, który
Bardziej szczegółowoPaństwowa Wyższa Szkoła Zawodowa
Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Legnicy Laboratorium Podstaw Elektroniki i Miernictwa Ćwiczenie nr 17 WZMACNIACZ OPERACYJNY A. Cel ćwiczenia. - Przedstawienie właściwości wzmacniacza operacyjnego -
Bardziej szczegółowoPomiar parametrów tranzystorów
Instytut Fizyki ul Wielkopolska 5 70-45 Szczecin Pracownia Elektroniki Pomiar parametrów tranzystorów (Oprac dr Radosław Gąsowski) Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: zasada działania tranzystora
Bardziej szczegółowoPRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW
L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE PRZEŁĄCZANIE DIOD I TRANZYSTORÓW REV. 1.1 1. CEL ĆWICZENIA - obserwacja pracy diod i tranzystorów podczas przełączania, - pomiary charakterystycznych czasów
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów.
ĆWICZENIE 4 Tranzystory bipolarne. Podstawowe układy pracy tranzystorów. I. Cel ćwiczenia Zapoznanie się z układami zasilania tranzystorów. Wybór punktu pracy tranzystora. Statyczna prosta pracy. II. Układ
Bardziej szczegółowoPaństwowa Wyższa Szkoła Zawodowa
Państwowa Wyższa Szkoła Zawodowa w Legnicy Laboratorium Podstaw Elektroniki i Miernictwa Ćwiczenie nr 5 WZMACNIACZ OPERACYJNY A. Cel ćwiczenia. - Przedstawienie właściwości wzmacniacza operacyjnego - Zasada
Bardziej szczegółowoUKŁADY ELEKTRONICZNE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Badanie transoptora
UKŁADY ELEKTRONICZNE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Badanie transoptora Laboratorium Układów Elektronicznych Poznań 2008 1. Cel i zakres ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie studentów z jednym
Bardziej szczegółowoBogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech. Elektronika. Laboratorium nr 3. Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne
Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Elektronika Laboratorium nr 3 Temat: Diody półprzewodnikowe i elementy reaktancyjne SPIS TREŚCI Spis treści... 2 1. Cel ćwiczenia... 3 2. Wymagania...
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera.
ĆWICZENIE 5 Tranzystory bipolarne. Właściwości dynamiczne wzmacniaczy w układzie wspólnego emitera. I. Cel ćwiczenia Badanie właściwości dynamicznych wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie
Bardziej szczegółowoPOLITECHNIKA POZNAŃSKA KATEDRA STEROWANIA I INŻYNIERII SYSTEMÓW
POLITECHNIKA POZNAŃSKA KATEDRA STEROWANIA I INŻYNIERII SYSTEMÓW Pracownia Układów Elektronicznych i Przetwarzania ELEKTRONICZNE SYSTEMY POMIAROWE Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Badanie transoptora
Bardziej szczegółowoWybrane elementy optoelektroniczne. 1. Dioda elektroluminiscencyjna LED 2. Fotodetektory 3. Transoptory 4. Wskaźniki optyczne 5.
Wybrane elementy optoelektroniczne 1. Dioda elektroluminiscencyjna LED 2. Fotodetektory 3. Transoptory 4. Wskaźniki optyczne 5. Podsumowanie a) b) Light Emitting Diode Diody elektrolumiscencyjne Light
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 1. Parametry statyczne diod LED
Ćwiczenie. Parametry statyczne diod LED. Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi właściwościami i charakterystykami diod LED. Poznanie ograniczeń i sposobu zasilania tego typu
Bardziej szczegółowoĆwiczenie - 3. Parametry i charakterystyki tranzystorów
Spis treści Ćwiczenie - 3 Parametry i charakterystyki tranzystorów 1 Cel ćwiczenia 1 2 Podstawy teoretyczne 2 2.1 Tranzystor bipolarny................................. 2 2.1.1 Charakterystyki statyczne
Bardziej szczegółowoBadanie diody półprzewodnikowej
Instytut Fizyki ul Wielkopolska 5 70-45 Szczecin 2 Pracownia Elektroniki Badanie diody półprzewodnikowej Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: (Oprac dr Radosław Gąsowski) półprzewodniki samoistne
Bardziej szczegółowoKatedra Przyrządów Półprzewodnikowych i Optoelektronicznych Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych. Ćwiczenie 4
Ćwiczenie 4 Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie charakterystyk statycznych układów scalonych CMOS oraz ich własności dynamicznych podczas procesu przełączania. Wiadomości podstawowe. Budowa i działanie
Bardziej szczegółowoPomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych
Instytut Fizyki ul Wielkopolska 15 70-451 Szczecin 5 Pracownia Elektroniki Pomiar podstawowych parametrów liniowych układów scalonych Zakres materiału obowiązujący do ćwiczenia: wzmacniacz operacyjny,
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA EKS1A300024 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2015 1. CEL I ZAKRES
Bardziej szczegółowoPOLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI. Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n
POLITECHNIKA ŁÓDZKA INSTYTUT FIZYKI LABORATORIUM FIZYKI FAZY SKONDENSOWANEJ Ćwiczenie 9 Temperaturowa zależność statycznych i dynamicznych charakterystyk złącza p-n Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA 2 Kod: ES1C400 026 BADANIE WYBRANYCH DIOD I TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK
Bardziej szczegółowoĆw. III. Dioda Zenera
Cel ćwiczenia Ćw. III. Dioda Zenera Zapoznanie się z zasadą działania diody Zenera. Pomiary charakterystyk statycznych diod Zenera. Wyznaczenie charakterystycznych parametrów elektrycznych diod Zenera,
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM ELEKTRONIKI WZMACNIACZ MOCY
ZESPÓŁ LABORATORIÓW TELEMATYKI TRANSPORTU ZAKŁAD TELEKOMUNIKACJI W TRANSPORCIE WYDZIAŁ TRANSPORTU POLITECHNIKI WARSZAWSKIEJ LABORATORIUM ELEKTRONIKI INSTRUKCJA DO ĆWICZENIA NR 9 WZMACNIACZ MOCY DO UŻYTKU
Bardziej szczegółowo1 Tranzystor MOS. 1.1 Stanowisko laboratoryjne. 1 TRANZYSTOR MOS
1 Tranzystor MOS Podczas bierzącego ćwiczenia omówiony zostanie sposób działania tranzystora polowego nmos, zbadane zostaną podstawowe charakterystyki tranzystora, oraz szybkość jego działania. Przed przystąpieniem
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6
nstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 6 Temat: Pomiar prądów zerowych tranzystorów bipolarnych Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie wybranych parametrów statycznych oraz pomiar prądów zerowych
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym
ĆWICZENIE NR 1 TEMAT: Wyznaczanie parametrów i charakterystyk wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym 4. PRZEBIE ĆWICZENIA 4.1. Wyznaczanie parametrów wzmacniacza z tranzystorem unipolarnym złączowym w
Bardziej szczegółowoSTABILIZATORY NAPIĘCIA I PRĄDU STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych
STABILIZATORY NAPIĘCIA I PRĄDU STAŁEGO O DZIAŁANIU CIĄGŁYM Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych Wstęp Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z problemami związanymi z projektowaniem, realizacją i pomiarami
Bardziej szczegółowoBadanie diod półprzewodnikowych
Badanie diod półprzewodnikowych Proszę zbudować prosty obwód wykorzystujący diodę, który w zależności od jej kierunku zaświeci lub nie zaświeci żarówkę. Jak znaleźć żarówkę: Indicators -> Virtual Lamp
Bardziej szczegółowo1 Badanie aplikacji timera 555
1 Badanie aplikacji timera 555 Celem ćwiczenia jest zapoznanie studenta z podstawowymi aplikacjami układu 555 oraz jego działaniem i właściwościami. Do badania wybrane zostały trzy podstawowe aplikacje
Bardziej szczegółowoELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki nstrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEMENTY ELEKTRONCZNE TS1C300 018 BAŁYSTOK 013 1. CEL ZAKRES ĆWCZENA LABORATORYJNEGO
Bardziej szczegółowoWydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Katedra Elektroniki
Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Na podstawie instrukcji Wtórniki Napięcia,, Laboratorium układów Elektronicznych Opis badanych układów Spis Treści 1. CEL ĆWICZENIA... 2 2.
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Badanie liniowych układów ze wzmacniaczem operacyjnym (2h)
ĆWICZENIE LABORATORYJNE TEMAT: Badanie liniowych układów ze wzmacniaczem operacyjnym (2h) 1. WPROWADZENIE Przedmiotem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego
Bardziej szczegółowoTRANZYSTOROWY UKŁAD RÓŻNICOWY (DN 031A)
TRANZYSTOROWY UKŁAD RÓŻNICOWY (DN 031A) obciąże nie dynamiczne +1 +1 + 1 R 47k z erowanie R 8 3k R 9 6, 8 k R 11 6,8 k R 12 3k + T 6 BC17 T 7 BC17 + R c 20k zespół sterowania WY 1 R 2k R 23 9 R c dyn R
Bardziej szczegółowoBadanie diod półprzewodnikowych i elektroluminescencyjnych (LED)
Temat ćwiczenia: Badanie diod półprzewodnikowych i elektroluminescencyjnych (LED) - - ` Symbol studiów (np. PK10): data wykonania ćwiczenia - godzina wykonania ćwiczenia. Nazwisko i imię*: 1 Pluton/Grupa
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ
Politechnika Lubelska Wydział Elektrotechniki i Informatyki Katedra Urządzeń Elektrycznych i TWN 20-618 Lublin, ul. Nadbystrzycka 38A www.kueitwn.pollub.pl LABORATORIUM INŻYNIERII MATERIAŁOWEJ Protokół
Bardziej szczegółowoPRACOWNIA ELEKTRONIKI
PRACOWNIA ELEKTRONIKI UNIWERSYTET KAZIMIERZA WIELKIEGO W BYDGOSZCZY INSTYTUT TECHNIKI Temat ćwiczenia: Ćwiczenie nr 1 BADANIE MONOLITYCZNEGO WZAMACNIACZA MOCY MAŁEJ CZĘSTOTLIWOŚĆI 1. 2. 3. 4. Imię i Nazwisko
Bardziej szczegółowoTemat: Zastosowanie multimetrów cyfrowych do pomiaru podstawowych wielkości elektrycznych
INSTYTUT SYSTEMÓW INŻYNIERII ELEKTRYCZNEJ POLITECHNIKI ŁÓDZKIEJ WYDZIAŁ: KIERUNEK: ROK AKADEMICKI: SEMESTR: NR. GRUPY LAB: SPRAWOZDANIE Z ĆWICZEŃ W LABORATORIUM METROLOGII ELEKTRYCZNEJ I ELEKTRONICZNEJ
Bardziej szczegółowoTranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora.
I. Cel ćwiczenia ĆWICZENIE 6 Tranzystory bipolarne. Właściwości wzmacniaczy w układzie wspólnego kolektora. Badanie właściwości wzmacniaczy tranzystorowych pracujących w układzie wspólnego kolektora. II.
Bardziej szczegółowoStanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych
Stanowisko do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach materialnych Na rys. 3.1 przedstawiono widok wykorzystywanego w ćwiczeniu stanowiska pomiarowego do badania zjawiska tłumienia światła w ośrodkach
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego nr 2 Temat: Wpływ temperatury na charakterystyki i parametry statyczne diod Cel ćwiczenia. Celem ćwiczenia jest poznanie wpływu temperatury na charakterystyki i
Bardziej szczegółowoLaboratorium elektroniki. Ćwiczenie E12FT. Elementy optoelektroniczne. Wersja 1.0 (18 marca 2016)
Laboratorium elektroniki Ćwiczenie E12FT Elementy optoelektroniczne Wersja 1.0 (18 marca 2016) Spis treści: 1. Cel ćwiczenia... 3 2. Zagrożenia... 3 3. Wprowadzenie teoretyczne... 3 4. Dostępna aparatura...
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA 2 (EZ1C500 055) BADANIE DIOD I TRANZYSTORÓW Białystok 2006
Bardziej szczegółowoBadanie właściwości multipleksera analogowego
Ćwiczenie 3 Badanie właściwości multipleksera analogowego Program ćwiczenia 1. Sprawdzenie poprawności działania multipleksera 2. Badanie wpływu częstotliwości przełączania kanałów na pracę multipleksera
Bardziej szczegółowoUniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie
Uniwersytet Pedagogiczny im. Komisji Edukacji Narodowej w Krakowie Laboratorium elektroniki Ćwiczenie nr 4 Temat: PRZYRZĄDY PÓŁPRZEWODNIKOWE TRANZYSTOR BIPOLARNY Rok studiów Grupa Imię i nazwisko Data
Bardziej szczegółowoZakład Zastosowań Elektroniki i Elektrotechniki
Zakład Zastosowań Elektroniki i Elektrotechniki Laboratorium Wytwarzania energii elektrycznej Temat ćwiczenia: Badanie alternatora 52 BADANIE CHARAKTERYSTYK EKSPLOATACYJNYCH ALTERNATORÓW SAMO- CHODOWYCH
Bardziej szczegółowoĆWICZENIE LABORATORYJNE. TEMAT: Wyznaczanie parametrów diod i tranzystorów
ĆWICZENIE LBORTORYJNE TEMT: Wyznaczanie parametrów diod i tranzystorów 1. WPROWDZENIE Przedmiotem ćwiczenia jest zapoznanie się z budową i zasadą działania podstawowych rodzajów diod półprzewodnikowych
Bardziej szczegółowoZbiór zadań z elektroniki - obwody prądu stałego.
Zbiór zadań z elektroniki - obwody prądu stałego. Zadanie 1 Na rysunku 1 przedstawiono schemat sterownika dwukolorowej diody LED. Należy obliczyć wartość natężenia prądu płynącego przez diody D 2 i D 3
Bardziej szczegółowoSprzęt i architektura komputerów
Krzysztof Makles Sprzęt i architektura komputerów Laboratorium Temat: Elementy i układy półprzewodnikowe Katedra Architektury Komputerów i Telekomunikacji Zakład Systemów i Sieci Komputerowych SPIS TREŚCI
Bardziej szczegółowoSTABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO. 1. Wiadomości wstępne
STABILIZATORY NAPIĘCIA STAŁEGO 1. Wiadomości wstępne Stabilizatory napięcia stałego są to układy elektryczne dostarczające do odbiornika napięcie o stałej wartości niezależnie od zmian w określonych granicach:
Bardziej szczegółowoĆwiczenie nr 65. Badanie wzmacniacza mocy
Ćwiczenie nr 65 Badanie wzmacniacza mocy 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest poznanie podstawowych parametrów wzmacniaczy oraz wyznaczenie charakterystyk opisujących ich właściwości na przykładzie wzmacniacza
Bardziej szczegółowo3. Funktory CMOS cz.1
3. Funktory CMOS cz.1 Druga charakterystyczna rodzina układów cyfrowych to układy CMOS. W jej ramach występuje zbliżony asortyment funktorów i przerzutników jak dla układów TTL (wejście standardowe i wejście
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIKA ENS1C300 022 BADANIE TRANZYSTORÓW BIAŁYSTOK 2013 1. CEL I ZAKRES
Bardziej szczegółowoĆwiczenie 21. Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu. Zakres wymaganych wiadomości do kolokwium wstępnego: Program ćwiczenia:
Ćwiczenie Badanie właściwości dynamicznych obiektów II rzędu Program ćwiczenia:. Pomiary metodą skoku jednostkowego a. obserwacja charakteru odpowiedzi obiektu dynamicznego II rzędu w zależności od współczynnika
Bardziej szczegółowoĆwiczenie - 9. Wzmacniacz operacyjny - zastosowanie nieliniowe
Ćwiczenie - 9 Wzmacniacz operacyjny - zastosowanie nieliniowe Spis treści 1 Cel ćwiczenia 1 2 Przebieg ćwiczenia 2 2.1 Wyznaczanie charakterystyki przejściowej U wy = f(u we ) dla ogranicznika napięcia
Bardziej szczegółowoBadanie obwodów z prostownikami sterowanymi
Ćwiczenie nr 9 Badanie obwodów z prostownikami sterowanymi 1. Cel ćwiczenia Poznanie układów połączeń prostowników sterowanych; prostowanie jedno- i dwupołówkowe; praca tyrystora przy obciążeniu rezystancyjnym,
Bardziej szczegółowoJ Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów
J 10.1. Wyznaczanie względnej czułości widmowej fotorezystorów INSTRUKCJA WYKONANIA ZADANIA Obowiązujące zagadnienia teoretyczne: 1. Podstawy teorii pasmowej ciał stałych metale, półprzewodniki, izolatory
Bardziej szczegółowoSystemy i architektura komputerów
Bogdan Olech Mirosław Łazoryszczak Dorota Majorkowska-Mech Systemy i architektura komputerów Laboratorium nr 4 Temat: Badanie tranzystorów Spis treści Cel ćwiczenia... 3 Wymagania... 3 Przebieg ćwiczenia...
Bardziej szczegółowoPolitechnika Białostocka
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra utomatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEKTRONIK ENS1C300 022 WYBRNE ZSTOSOWNI DIOD PÓŁPRZEWODNIKOWYCH BIŁYSTOK
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI. Rev.1.0
LABORATORIUM TECHNIKA CYFROWA BRAMKI Rev..0 LABORATORIUM TECHNIKI CYFROWEJ: Bramki. CEL ĆWICZENIA - praktyczna weryfikacja wiedzy teoretycznej z zakresu działania bramek, - pomiary parametrów bramek..
Bardziej szczegółowoBadanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych
Badanie charakterystyk elementów półprzewodnikowych W ramach ćwiczenia student poznaje praktyczne właściwości elementów półprzewodnikowych stosowanych w elektronice przez badanie charakterystyk diody oraz
Bardziej szczegółowoLABORATORIUM. Technika Cyfrowa. Badanie Bramek Logicznych
WYDZIAŁ ELEKTRYCZNY Katedra Inżynierii Systemów, Sygnałów i Elektroniki LABORATORIUM Technika Cyfrowa Badanie Bramek Logicznych Opracował: mgr inż. Andrzej Biedka 1 BADANIE FUNKCJI LOGICZNYCH 1.1 Korzystając
Bardziej szczegółowoLaboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Laboratorium 1
Laboratorium Przyrządów Półprzewodnikowych Laboratorium 1 1/10 2/10 PODSTAWOWE WIADOMOŚCI W trakcie zajęć wykorzystywane będą następujące urządzenia: oscyloskop, generator, zasilacz, multimetr. Instrukcje
Bardziej szczegółowoBADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO
BADANIE TRANZYSTORA BIPOLARNEGO CEL poznanie charakterystyk tranzystora bipolarnego w układzie WE poznanie wybranych parametrów statycznych tranzystora bipolarnego w układzie WE PRZEBIEG ĆWICZENIA: 1.
Bardziej szczegółowoElektronika. Wzmacniacz tranzystorowy
LABORATORIUM Elektronika Wzmacniacz tranzystorowy Opracował: mgr inż. Andrzej Biedka Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Podstawowych parametrów elektrycznych i charakterystyk graficznych tranzystorów bipolarnych.
Bardziej szczegółowoOscyloskop. Dzielnik napięcia. Linia długa
ELEKTRONIKA CYFROWA SPRAWOZDANIE NR 1 Oscyloskop. Dzielnik napięcia. Linia długa Grupa 6 Aleksandra Gierut ZADANIE 1 Zapoznać się z działaniem oscyloskopu oraz generatora funkcyjnego. Podać krótki opis
Bardziej szczegółowoPRACOWNIA ELEKTRONIKI
PRACOWNIA ELEKTRONIKI Ćwiczenie nr 4 Temat ćwiczenia: Badanie wzmacniacza UNIWERSYTET KAZIMIERZA WIELKIEGO W BYDGOSZCZY INSTYTUT TECHNIKI 1. 2. 3. Imię i Nazwisko 1 szerokopasmowego RC 4. Data wykonania
Bardziej szczegółowoDIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego DIODY PÓŁPRZEWODNIKOWE Instrukcję opracował: dr inż. Jerzy Sawicki Wymagania i wiedza konieczna do wykonania ćwiczenia: 1. Znajomość instrukcji do ćwiczenia, w tym
Bardziej szczegółowoStatyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7
Statyczne badanie wzmacniacza operacyjnego - ćwiczenie 7 1. Cel ćwiczenia Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z podstawowymi zastosowaniami wzmacniacza operacyjnego, poznanie jego charakterystyki przejściowej
Bardziej szczegółowoElementy optoelektroniczne. Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego.
Elementy optoelektroniczne Materiały dydaktyczne dla kierunku Technik Optyk (W12) Kwalifikacyjnego kursu zawodowego. Półprzewodnikowe elementy optoelektroniczne Są one elementami sterowanymi natężeniem
Bardziej szczegółowoInstrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego
Instrukcja do ćwiczenia laboratoryjnego adanie parametrów statycznych i dynamicznych ramek Logicznych Opracował: mgr inż. ndrzej iedka Wymagania, znajomość zagadnień: 1. Parametry statyczne bramek logicznych
Bardziej szczegółowoBADANIE ELEMENTÓW RLC
KATEDRA ELEKTRONIKI AGH L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE BADANIE ELEMENTÓW RLC REV. 1.0 1. CEL ĆWICZENIA - zapoznanie się z systemem laboratoryjnym NI ELVIS II, - zapoznanie się z podstawowymi
Bardziej szczegółowoPRZERZUTNIKI BI- I MONO-STABILNE
PRZERZUTNIKI BI- I MONO-STABILNE 1. WSTĘP Celem ćwiczenia jest ugruntowanie wiadomości dotyczących struktury wewnętrznej, zasad działania i właściwości, klasycznych przerzutników bi- i mono-stabilnych
Bardziej szczegółowoELEMENTY ELEKTRONICZNE. Układy polaryzacji i stabilizacji punktu pracy tranzystora
Politechnika Białostocka Wydział Elektryczny Katedra Automatyki i Elektroniki Instrukcja do ćwiczeń laboratoryjnych z przedmiotu: ELEMENTY ELEKTRONICZNE TS1C300 018 Układy polaryzacji i stabilizacji punktu
Bardziej szczegółowoA-7. Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania
A-7. Tranzystor unipolarny JFET i jego zastosowania 1 Zakres ćwiczenia 1.1 Pomiar charakterystyk statycznych tranzystora JFET. 1.2 Projekt, montaż i badanie układu: 1.2.1 sterowanego dzielnika napięcia,
Bardziej szczegółowoZŁĄCZOWY TRANZYSTOR POLOWY
L A B O R A T O R I U M ELEMENTY ELEKTRONICZNE ZŁĄCZOWY TRANZYSTOR POLOWY RE. 2.0 1. CEL ĆWICZENIA - Pomiary charakterystyk prądowo-napięciowych tranzystora. - Wyznaczenie podstawowych parametrów tranzystora
Bardziej szczegółowoCHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL
CHARAKTERYSTYKI BRAMEK CYFROWYCH TTL. CEL ĆWICZENIA Celem ćwiczenia jest poznanie zasad działania, budowy i właściwości podstawowych funktorów logicznych wykonywanych w jednej z najbardziej rozpowszechnionych
Bardziej szczegółowoPodstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Dzień tygodnia:
Wydział EAIiIB Katedra Laboratorium Metrologii i Elektroniki Podstaw Elektroniki Cyfrowej Wykonał zespół w składzie (nazwiska i imiona): Ćw. 5. Funktory CMOS cz.1 Data wykonania: Grupa (godz.): Dzień tygodnia:
Bardziej szczegółowo