I I ~orem. ! I ~ AncxJ.a dio. . lu, ! I b pota,czona z BN-B /02. Stabilistory typu BZP 650 L, ~ uz ';:; 10 V. ~~' N O R M A ELEMENTY

Transkrypt

1 UKD ' N O R M A BRANŻOWA BN-B /02 ELEMENTY Stabilistory typu BZP 6. PÓŁPRZEWODNIKOWE Grupa katalogowa Przedmiot normy. Przedmiotem normy są szczegółowe wymagania dotyczące krzemowych stabilistorów typu BZP 6 w obudowie plastykowej, przeznaczonych dl' sprzętu powszechnego użytku oraz do urządzeń wymagających zastosowania elementów o wysokiej i bardzo wysokiej jakości. Stabilistory przeznaczone są do pracy w układach ograniczających i stabilizujących napięcie. Kategoria klimatyczna dla stabilistorów - standa rdowej jakości (poziom jakości I) 40// 10, - wysok iej jakości (poziom jakości III) 40/ 121, - bardzo wysokiej jakości (poziom jako ś ci I) - 40// Przykład oznaczenia a) stabilistora typu BZP 6 o tolerancji napięcia 5% i wartości stabilizacji 7,5 standardowej jakości: STABILISTOR BZP 6-C75 BN-l!7/ / 02 b) stabilistora typu BZP 6 o tolerancji napi ęcia 5% wartości napięcia stabilizacji 7,5 wysokiej jakości: STABILISTOR I:lZP 6-C75/ 3 BN-87/ /02 c) stabilistora typu BZP 6 o tolerancji napię cia 5% i wartości napięcia stabilizacji bardzo wysokiej jakości: STABll.ISTOR BZP 6-C75/4 BN -87/ /02 3. Cechowanie stabilistorów powinno zawierać następujące dane: a) oznaczenie podtypu kodem (np. -C75), b) oznakowjlnie dodatkowe dla stabilistorów wysokiej i bardzo wysokiej jakości. Stabilistory wysokiej jakości powinny być znakowane cyfrą 3, a stabi listory bardzo wysokiej jakości cyfrą 4 umiesz czo ną po oznaczeniu podtypu. 4. Wy i oznaczenie wyprowadzeń - wg rysunku i tab!. l. a) b)... IUJ D ' I - I I ł (... I L, I {. lu, '-?! I AncxJ.a dio dy radl a- torem obij dowlj! I b pota,czona z K e D A '-'?. (.'-, 1- L 1- - Katoda dio dl) --"'od..., I pota,czona z rad/adowy I I orem, K e A obu d c c IBN - 87/3375/36/021 al anoda diody na obudowie Uz> 10, b) katoda diody na obudowie uz ';:; 10. Zgłoszona przez Zakłady Przemysłu Elektronicznego KAZEL Ustanowiona przez Dyrektora Naukowo-Produkcyjnego Centrum Półprzewodników dnia 21 listopada 1987 r. jako norma obowiązująca od dnia 1 lipca 1988 r. (Dz. Norm. i Miar nr 4/ 1988, poz. 10) WYDAWNICTWA NORMALIZACYJNE.. ALFA" '1988. Druk. Wyd. Norm. W-wa. Ark. wyd Nakł Zam. 1312/ 88 Cena zł. 48,00

2 2 BN-87/ /02 Diody typu BZP-6 o Uz 10 w okresie do 1990 r. będą produkowane w obu wymienionych wersjach wykonania. Symbol wymiaru TabUca l. Wy obudowy Wy mm typ A 10,6-11,43 B 2,29-3,04 b 0,64-0,88 c 0,39 0,5 0,63 D 7, 12-8,36 d - 1,2 - e - 4,60 - I 15,12 15, 16,63 l, - 2' - 0 R 2,54-2,90 S 3,31 3,75 4,44 5. Badania w grupie A, B, C i D - wg BN-8l! / 00 p Wymagania szczegółowe dotyczące badań grupy A, B, C i D: a) badania podgrupy A l - sprawdzenie wymiarów A, D, B, 0 R, I wg rysunku i tab!. I, b) badania podgrupy A2 - sprawdzenie podstawowych parametrów elektrycznych wg tab!. 2, c) badania podgrupy A3 - sprawdzenie drugorzędnych parametrów elektrycznych - UF 1,5 /p = 0,5 A, d) badania podgrupy A4 - sprawdzenie temperaturowego w s półczynnik a napięcia regulacji Ci uz (poziom III i I) wg ta'ól. 3, e ) badania podgrupy B I i C I: - sprawdzenie wytr z ymałości mechanicznej wypraw. zeń: próba U" I' 10 N, - sprawdzenie szczelności - nie wykonuje się, f) badania podgrupy B3 - sprawdzenie wy trzymał ok i na spadki swobodne: położenie w czasie spadania o słonkq w dół, g) badania podgrupy B4 i C4 - sprawdzenie wytrzymałości na udary wielokrotne: mocowanie sztywno za obudowę, h) badania podgrupy B5 i C5 - sprawdzenie wytrzymałości na nagłe zmiany temperatury: TA = -400C, Ts = 1 C, i) badania podgrupy B6 i C6 - sprawdzenie odporności na narażenia elektryczne: metoda badania d) wg PN-78/T tabl. 5, j) badania podgrupy C2 - sprawdzenie parametrów elektrycznych: wg tabl. 2 i 3, k) badania podgrupy C3 - sprawdzenie masy: 0,6 g, I) badania podgrupy C4 - wskaźnik AQL 2,5%, - sprawdzenie wytrzymałości na spieszenia stałe: mocowanie za obudowę, kierunek prostopadły do największej płaszczyzny obudowy, - sprawdzenie wytrzymałości, na udary pojedyncze oraz wibracje o stałej częstotliwości: mocowanie sztywno za obudowę, m) badania podgrupy C5 - sprawdzenie wytrzymałości na ciepło lutowania: temperatura kąpieli 30C, n) badania podgrupy CIO - sprawdzenie wymiarów: wg rys. i tabl. I, o) badania podgrupy D l - spra wdzenie odporności na niskie ciśnienie atmosferyczne (dla poziomu III i I) tamb = C, p) badania podgrupy 02 - sprawdzenie wytrzymałości na rozpuszczalniki: alkohol izopropylowy lub aceton, A, D wg rys. i tabl. I, r) badania podgrupy 03 - sprawdzenie palności: palność zewnętrzna, s) badania podgrupy 04 - sprawdzenie wytrzymałości na pleśń (dla klimatu morskiego lub tropikalnego): brak porostu pleśni, t) badania podgrupy 05 - sprawdzenie wytrzyma na mgłę solną (dla klimatll tropikalnego lub mor stabilistora dowolne, łości skiego): położenie u) parametry elektryczne sprawdzane w czasie i po badaniach grupy B, C i D wg tab! Pozostałe postanowienia - wg BN-8l! /00. Tablica 2. Parametry elektryczne sprawdzane w badaniach podgrupy A2 i C2 Oznaczt" nit" parametru Uz rz IR Metoda pomi a ru PN-75/ T-0 I 4/ 65 PN -84/ T -O 14/ 66 PN-83/ T -O 14/ 56 Wa runki pomiaru h, ma UR, l p. Typ di ody W a rt ość graniczna Wa rt oś ć graniczna J edno- Jedno- Jednomm nom ma x sika sika sika mia ry I BZP 6-C6 8 6,4 6,8 7,2 2 0,5 3,0 2 BZP 6-C75 7,0 7,5 7,9 2 0,5 4,0 3 BZP 6-C ,2 8,7 2 0,5 5,0 4 BZP 6-C9 I 8,5 9,1 9;6 4 n 0,5 A 6,0 5 BZP 6-CIO 9, ,6 4 0,5 7,5 6 BZP 6-CII 10.4 II 11,6 7 0,5 8,5 7 BZP 6-C 12 11, ,7 7 0,5 9,0 8 BZP 6-C13 12, ,1 9 0,5 10

3 BN-87/ /02 3 cd. tabi. 2 Oznaczenie parametr!! Uz rz Metoda pomiaru PN-75/T -O 14/65 PN-84/T-014/66 lr PN-83/T-0 I 4/56 Wa runk i pomiaru lz. ma UR, Lp. Typ diody Wartość graniczna Jedno- Jednomm nom ma) stka stka 9 BZP 6-C15 13, , BZP 6-C 16 15, , I 10 l I BZP 6-C18 16, ,1 I I 12 BZP 6-C20 18, , BZP 6-C22 20, , BZP 6-C24 22,8 24, BZP 6-C27, , BZP 6-C BZP 6-C o. 18 BZP 6-0 I ') 0,7 0,78 0, BZP ,0 6,8 7, BZP ,3 8,2 9, BZP ,8 10 I I 4 22 BZP , , BZP , , BZP , ,0 II BZP , , BZP 6-027, 24, , BZP ,5 20 I) Wart ości Uz, rz mierzo ne w kierunk u przewodzenia. Wartoś ć rz mierzona fp = H z. Wartość graniczna Jedno- stka 0,5 I I 0,5 12 0,5 14 0,5 15 0,5 17 0,5 18 0,5 20 0,5 22,5 0,5 A - - 0,5 3,0 0,5 4,0 0,5 6,0 0,5 9,0 0,5 II 0,5 14 0,5 17 0,5 20 0,5 Tablica 3, Parametry elektryczne sprawdzane w badaniach podgrupy A4 (poziom III i I) i C2 (w czasie badania odpo rn ości na suche gorąco) Warunki Wartość graniczna Lp. Typ diody pomiaru a Ul Jednostka /, = ma mm I BZP 6-C68 O 7 2 BZP 6-C75 O 7 3 BZP 6-C BZ 6-C9 I BZP 6-CIO BZP 6-C J I BZP 6-C BZP 6-C BZP 6-C ; 10 BZP 6-C16 6 I I II BZP 6-C18 6 I I 12 BZP 6-C BZP 6-C22. 6 I I xlo- 4 /oc 14 BZP 6-C24 6 II 15 BZP 6-C27 6 II 16 BZP 6-C30 6 I J 17 BZP 6-C33 6 I I 18 BZP 6-01') BZP O 7 20 BZP BZP BZP BZP BZP I I BZP II 26 BZP I I 27 BZP II Metoda pomiaru wg PN-75/ T-0 l 4/ 64, lamo = IOOOC. ') Wartoś ć a Ul mie rzona w kierunku przewodzenia.

4 4 BN-87/ /02.' Tablica 4, Parametry elektryczne sprawdzane w czasie po badaniach grupy B, C D I Oznaczenie parametru Metoda pomiaru wg Warunki pomiaru... I- Podgrupa badań IR PN-83/T-014/56 UR = wg tabl. 2 C2, C4, C5, Dl, B3, B4, B5 C2 1 ) B6, C6 rz PN-84/T-014/ 66 lz - wg tab I. 2 B6, C2, C4, fp = Hz C6, C8 Uz PN-75/T-0 14/65 Iz - wg tabl. 2 B3, B6,. C2, C6, C7 UF PN-83/T -O 14/57 JF = 0,5 A B3, B4, C2 QUl PN-75/T-0 14/64 wg tabl. 3 C2 1 ) I ) W czasie badania odporności na suche gorąco. 2) W czasie badania odporności na zimno. KONIEC INFORMACJE DODATKOWE C2 2 ) Jednostka.. A!l 10-'/ C Wartości graniqne mm - 0,5 J- - 1,4 wg tabl. 2 wg tabl. 2-1,1-1,5 wg tabl Instytucja oprcowująca normę - Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników - Zakłady Przemysłu Elektronicznego KAZEL. Kosaalin. 2. Normy związane PN-83/T-014/ 56 Elementy półprzewodnikowe. Diody. Pomiar prądu wstecznego J R PN-83/ T-014/ 57 Elementy półpr zewodnikowe. Diody. Pomiar napięcia przewodzenia U F PN-75/T-0 14/ 64 Stabilistory. Pomiar współczynnika temperaturowego napięcia stabilizacji a Ul PN-75/T-014/ 65 Stahilistory. Pomiar napięcia stabilizacji U, PN-R4/ T-014/66 Stabilistory. Pomiar rezystancji dynamicznej r, PN-78/ T-O 1515 Elementy p(lłprzcwodnikowe. Ogólne wymagania i badania BN-I /.B75-36/00 Elementy półprzewodnikowe. Stahilistory. Wymagania i badania ł. Symboł wg KTM B. 6-C B:U 6-C RZP (,-C BZP 6-C9 I BZP 6-CIO BZP 6-CII BZP 6-C12 BZP 6-C13 BZP 6-C15 BZP 6-C18 BZP 6-C20 BZP 6-C22 BZP 6-C24 BZP 6-C27 BZP 6-C30 BZP 6-C33 BZP 6-01 BZP BZP 6-DIO BZP BZP 6-D15 BZP 6-D18 BZP BZP BZP Wartości dopuszczalne - wg rysunku tabl. l-i. P/Ol W 5 BlP {jc i D l radiatorem o Bez... ' radia tara -,,.... r ' O Z tamb oc IPII-B 7! tl

5 Informacje dodatkowe do BN-87/ /02 5 Tablica I-l Lp. Oznaczenie parametru Nazwa parametru I P,ot, ł Jednostka Wartość Moc całkowita wejściowa tomb = C: - bez radiatora W 1,2 - z radiatorem (Al l00x l00x2) 5 2 lz Prąd wsteczny w zakresie napięcia regulacji A P,.//Uz 3 h Prąd przewodzenia A 3 4 R thi-a Rezystancja termiczna złącze - otoczenie oc/w Rthi-c Rezystancja teqtliczna złącze - obudowa oc/w to 6 tj Temperatura złąeza oc 1 7 tslg Temperatura przechowywania oc ":' lamb Temperatura otoczenia w czasie pracy oc Dane charakterystyczne - wg tab! Lp. Typ di ody Tablica 1-2 Rezystancja. - Temperaturowy wsp6ł- Zakres napięcia regulacji różniczkowa Prąd wsteczny czynnik napięcia regulacji mm nom Uz, rz, fi IR,!lA auz, xio-';oc mln h, ma Iz, ma UR, h, ma I lo II I BZP 6-C68 6,4 6,8 7,2 2 0,5 3,0 O 7 2 BZP 6-C75 7,0 7,5 7,9 2 0,5 4,0 O 7 3 BZP 6-C82 7,7 8,2 8,7 2 0,5 5, BZP 6-C9 I 8,5 9, 1 9,6 4 0,5 6, BZP 6-CIO 9, ,6 4 0,5 7, BZP 6-CII 10,4 II 11,6 7 0,5 8,5 5 lo 7 BZP 6-C12 11, ,7 7 0,5 9, BZP 6-C13 12, , I 9 0, BZP 6-C 15 13, ,8 9 0,5 II BZP 6-CI6 15, ,1 10 0, II II BZP 6-C 18 16, , I II 0, II 12 BZP 6-C20 18, ,2 12 0, II 13 BZP 6-C22 20, ,3 13 0, II 14 BZP 6-C24,2,8 24,6 14 0, BZP 6-C27, I 27 28,9 15 0, BZP 6-C ,5 22, BZP 6-CD ,5 6 II 18 BZP 6-0 II ) 0,7 0,78 0, BZP ,0 6,8 7,5 2 0,5 3,0 O 7 20 BZP ,3 8,2 9,2 4 0,5 4, BZP ,8 10 II 4 0,5 6, BZP , ,4 7 0,5 9, BZP , ,5 9 0,5 II BZP , ,0 II 0, II BZP , ,2 13 0, BZP , ,0 15 0, II 27 BZP , ,5 20 0,5 6 II I) Wartość a uz mierzona w kierunku przewodzenia.