Układy scalone. typu UCY 7406N. 2. Przykład oznaczeń układów a) podwyższonej j.akości: h) wysokiej jakości: lice Y=A

Transkrypt

1 UKD N O R M A.- B R A N L OWA MKROUKŁADY Układy scalone SCALONE typu UCY 7406N - " BN /12 Grupa katalogowa Przedmiot normy. Przedmiotem normy są szczegółowe wymagania dotyczące monolitycznych bipolarnych układów scalonych cyfrowych TTL typu UCY 7406N pełniących funkcję sześciokrotnego inwertera z wysokonapięciowym (30 V) otwartym obwodem kolektora tranzystora wyjściowego przeznaczonych do pracy w elektronicznych urządzeniach profesjonalnych oraz urządzeniach wymagających zastosowania układów o wysokiej i bardzo wysokiej jakości zgodnie z PN-78/T-O Kategoria klimatyczna dla układów: - podwyższonej jakości (poziom jakości ) / l O - wysokiej jakości (po.ziom jakości ) bardzo wysokiej jakości (poziom jakości V) 00/070/56. Schemat elektryczny pojedynczej bramki układu wg rys. l. Schemat logiczny i ro z kład wyprowadzeń układu - wg rys. 2. Układy scalone 2-go stopnia (l-s2) - wg PN-78/ T A 16k.R 1 Rys.. Schemat elektryczny (jednego inwcrtcc3 ) Y=A lice y o Masa o 6A SA SY 4A 4Y 1A 1Y 2A 2Y 3A 3Y!1asa 18N=83/ /12 21 Rys. 2. Schemat logiczny i układ wyprowadzeń (widok z góry) 2. Przykład oznaczeń układów a) podwyższonej j.akości: UKŁAD SCALONY CYFROWY UCY 7406N h) wysokiej jakości: BN-83/ / 12 UKŁA D SCALONY CYFROWY UCY 7406N/ 3 BN-83/ /12 c) bardzo wysokiej jakości: UKŁA D SCALONY CYFROWY UCY 7406N/4 BN-83/ / t2 3. Cechowanie układów powinno zawie rać następujące dane: a) znak lub nazwę producenta b) oznaczenie typu c) oznaczenie wyprowadzeń (znak odniesienia dla identyfikacji numerów wyprowadzeń zgodnie z PN-731 T-01602) d) datę produkcji dla wyrobów mających nadany znak jakości Q. Ponadto układ y wysokiej jakoś c i powinny być znakowane cyfrą 3 a ukła d y bardzo wysokiej jako śc i cyfrą 4 umieszczoną po oznaczeniu typu. 4. Wymiary i oznaczenie wyprowadzeń układu - wg rys. 3 i tab. 1. Mikroukład kompletny A49B wg PN-73/T-01603/ 16. Oznaczenie obudowy stosowane przez producenta - CE70. Zgłoszona przez!\laukowo-produkcyjne CentriJm Półprzewodników Ustanowiona przez Dyrektora Ośrodka Badawczo-R".<wojowego Podstaw Technologii i Konstrukcji Maszyn TEKOMA dnia 29 grudnia 1983 r. jako norma obowiązu jąca od dnia 1 lipca 1987 r. (Dz. Norm. i Miar nr 16/ 1986 poz. 33) WYDAWNCTWA NORMALZACYJNE "ALFA" Druk. Wyd. Norm. W-w. Ark.wyd. 110 Nakł Zam. 60/87 Cena zł 2700

2 2 BN-83/ /12 _L l : : l! :!! J r----~vh:!h 1 ~ 'ł- 'H '~ ' j b 1rNt~1 c M - L r' ' -+-_.t---t-.... ' ' i! i i j. i BN Rys. 3. Obudowa CE70 Tablica 1. Wymiary obudowy CE70 Wymiary mm Symbol Kąt wymiaru min nom max w stopniach A A b c ~ D e B e L ME z ;- 15 E Badania w grupie A B C i D - wg BN /00 p Wymagania szczegółowe do badań grupy A B C i D a) badania podgrupy Al - sprawdzenie wymiarów: A D i b wg rys. 3 i tab!. l b) badania podgrupy A2 i A3 wg tab!. 2 c) badania podgrupy B C i D wg tab!. 3 d) parametry elektryczne sprawdzane w czasie l po badaniu grupy B C i D wg tab!. 4 e) dodatkowe wymagania dla pomiaru parametrów elektrycznych wg rys. 4 -;- 10. U Uec ln ""52712=11 Pomiar U OL lt Rys. 4. Ucc - Wyjscie Ur otwarte - BN-Ol Pomiar - ll Rys. 5. -:»---0 Wyjscie otwarte Bff83/331$-52Z1Z- 61 Pomiar l/h Rys. 6.

3 BN-83/ /12 3 lor U - U. o - dla typu PLH i PHL wg rys. 10 parametry impulsu wejściowego : amplituda Ug = 35 V poziom podstawy O V czas trwania... = 500 ns częstotliwość powtarzania fg = l MHz czas narastania = 10 ns czas opadania 11= 5 ns impedancja wyjściowa generatora Zo = 50 n. wartość C L uwzględnia pojemność sondy i pojemności montażu; każda bramka jest testowana oddzielnie Pomiar lor Rys. 7. WljjScit >O-o() otwarte 8WSl Sygnał wejściowy jest podany na wszystkie inwertery jednocześnie Pomiar l ee Rys. 8. >0---0 Wyjscie otwarte BN $- $2/12-91 Wejscie ~-t- " i" tf 1 _----~...L V V t5v 7 t w 1'" O V -----"----.ł : tph. l tp/.h - ~ ł-~ H Wyjście ~\"S_V --J115V L i OV Pomiar -Ul Rys. 9. Rys. 10

4 4 BN-83/ /12 ~. POL- Frllpa! adań Rodzaj badania.'" --_.~ "--- Tablica 2. Parametry elektryczne sprawdzane w badaniach podgrupy A2 Kontrolowany parametr Metoda pomiaru wg BN-74/337S-24 Warunki pomiaru A3 Jednostka mm Warto ści granczne \2' 1 Sprawdzanie pod Um ark. oraz U ec = 475 V' na każdą bramkę po V - 04 J " ' l'wvd; '... ' 1" 1- ; '. '." " ~ wg p. 6 rys. 4 kolei UJ = 20 V na wejścia Ul = 20 V;!' rfl... ' l. t.'~w \..1 " li kry""'.. L.. OL = 16 ma z wyjści a mierzonego j i u' (d ark. oraz Uee = 475 V; UJ = 20 V na wejścia V - 07 wg p. 6 rys. 4 l al = 40 ma z wyjścia mierzonego -fl ark. 03 oraz Uee = 525 V' UJ = 04 V na wejście ma -16 ~'"T i )! J//( wg p. 6 rys. 5 mierzone; na pozostaie wejścia 45 V ark. 04 oraz Uee = 525 V' UJ = 24 V na wejście JJ.A - 40 wg p. 6 rys. 6 merzone; na pozostałe wejścia O V a rk. 04 oraz Uec = 525 V' UJ = 55 V na wejście ma - ' 1(2) l wg p. 6 rys. 6 mierzone; na pozostałe wejścia O V l '- l l ~ J OR ark. 06 oraz Ucc = 475 V; UJ = 08 V na wejście JJ.A wg p. 6 rys. 7 mierzone Uo = 30 V na wyjście mie-! ; rzone._ ~... ' ~ - i leell ark. Ol oraz Uec = 525 V' Ul = O V na wszystkie ma - 48 ~! wg p. 6 ;:"y s. 8 wejścia układu jednocześnie i 1- lec/. ark. Ol o'raz Uec = 525 V; UJ = 50 V na wszystkie ma wg p Ó rys 8 wejścia układw jed~locześ n ie -UJ ark 20 oraz Ucc = 475 V; -!J/. = 12 ma z każdego V - 15 wg rys. 9 wejścia mierzonego po kolei; na pozosta ł e wejścia O V lamb = 25 C nl ark 16 oraz Uee = 5 V RL = 110 n C L = 15 pf ns - 26 wg rys. 10 l amh = +25 C; k aż de wejście sterowane (PUl ns - po kolei sygnałem impulsowym na pozostałe wej śc i a 24 V.'\:1 Sprawdzenie typu. Un stan 'niski wg równania 10- Uee = 5 V; U L = O V; UH = 50 V; V - 04 układ u UOll glcznego rys. wyjścia połączone 7~ Uee przez re zystan wysoki V 24 - stor 3.9 kfl max 15 Tablica 3. Wymagania szczegółowe do badań grupy B C D Lp Podgrupa badań Rodzaj badania Wymagania szczegółowe 2 3 B. C Sprawdzenie wytrzymałości mechanicznej wyprowadzeń próba Ub. metoda 2; 25 N [ : i " n 1 Ci) Sn r '.wd7> oic wytrzymałości na spadki swobodne położenie układu w czasie spadania: wyprowa-! i... l'.... dzeniami do góry!--.--} ~ i -! ri C4 Sprawdzenie wytrzymałości na udary \.\ficlokrotne ;-'-'X~'Vlallle sztywno za wyprowadzenia w odległ! loś'.. mm od dol nej pła szcz yzny obudowy i - - ; t l----. " ~ l" j'"' (''' SDrawdze J'e t l ' ~ '! '... - l;.1: C! j. - - n wy rzyma OSCl ~: i nr1p' ~ : :;: ;- j~! ny cn'l- l -: A -_. ~-~;o C ~._.. :. ~~(!j()1l1 i".~.~);( :i li! liv) peratury _.._ ~: _ 5 B6. C6 Sprawdzenie odpo rności na 1i<1l''::C111a elektryczne metoda.b:::da nia..\ {:nh = 70 C. badaną pr óbkę. pcjzdlc na dwe CZęSC bat!cjc w warunkach: [ - O V na wszystkie wejścia wyjścia otwarte. zasilanie układu 5 V t i " - 5 V na wszystkie wejścia wyjścia otwar- te. zasilanie uk!adu 5 V ! "' ' ( C2 Sprawdzenie parametrów elektrycznych '' wg tab! '----~r i i 7l '(-:1 Sprawdzenie masy wyroth!. U f '-'.._...-_.-.._..;..'-..-"..._--~. ' ~... ~~..._..o " ' ''0.' ' ; --J Sprawdzenie trwałoś c i cechowania ~ wg? N-';UT-O 615 p :; 5.6. i) ;'! Ct! Sprawdzenie wy trz Y11;)!cŚC! ~!~ ;;; ~""\; ':. ~.-::;_:;:~ o!~~'~unl; k nrc bicrczy prostopadły do pła szczyz n y _- ~. i wrpu"u tlkiadu mocowanie za obudowę Srrawci;r(' ni!...' w y t!ozyrnalości na \vihracje o stałej czc;-l nl0c;wanic sztywno z. a W"YPi"O\VadZenia" w odle- ~ stotliwo~ c j (dla poziomu jakoróci li). _~_'~;' :~:~.1~ od _.t~":'::::l~ t.~ s7czyz ny.obudo~g Sprawdzcnie wytrzyma-lości na wibó'acjc o zmienncj jw '---' '- ~ i'.ęsl()f!iw{) ~; ci (dla--.:... t>o 7.i{) ~u --.:... j akośct l11 j ~ V) L ~ 4

5 BN-S3/ /2 5 cd. tabl. 3 Lp. Podgrupa badań Rodzaj badania Wymagania szczegółowe l C7 Sprawdzenie wytrzymałości na zmno ts/g' = -55 C mln 10 CS Sprawdzenie wytrzymałości na suche gorąco Slgmax = 125 C (poziom jakości i V) 11 CO Sprawdzenie wymiarów wg rys. 3 i tabl. l 12 Dl Sprawdzenie odporności na niskie ciśnienie atmo- temperatura narażenia C (poziom jakości i V) sferyczne 13 D2 Sprawdzenie wytrzymałości na rozpuszczalniki aceton sprawdzane wymiary A i D wg tabl. l i rys. 3 masa układu 11 g 14 D3 Sprawdzenie palności wg PN-78/T załącznik 2 p D4 Sprawdzenie wytrzymałości na pleśń brak porostu pleśni po badaniu (poziom jakości i V) 16 D5 Sprawdzenie wytrzymałości na mgłę solną położenie układu dowolne (poziom jakości V) Tablica 4. Parametry elektryczne sprawdzane w czasie po badaniu grupy B C D Wartości l B3 B4 B5 UOL lur wg tabl. 2 C2. C4 C5 UOL lur -/L JH()' JH(2) wg tabl. 2 C9 Dl C2 UOL stan niski wg tab. 2 (podgrupa A3) UOH stan wysoki B6 C6 C7. UUL stan niski wg rab. 2 (podgrupa A3) CS UOH stan wysoki -11L ark. 03 oraz wg rys. 5 Ucc = 525 V: UJ = 04 V na wejście ma mierzone na pozostałe wejścia 45 V JH() ark. 04 oraz wg rys. 6 Ucc = 525 V; UJ = 24 V na wejście!j.a - 48 merzone na pozostałe wej ścia O V H(2) ark. 04 oraz wg rys. 6 Ucc = 525 V; UJ = 55 V na wejście ma - 12 mierzone na pozostałe wejścia O V Podgrupa Metoda pomiaru Jedno- Sprawdzany parametr Warunki pomaru graniczne badań wg BN-74/ stka mm max Um ark. oraz wg rys. 4 Ucc = 475 V; UJ = 20 V na wejścia V po kolei 10L = 16 ma z wyjścia mierzonego l OR ark. 06 oraz wg rys. 7 U cc = 475 V; UJ = 08 V na wejście mierzone Ue = 30 V na wyjście mierzone!j.a Pozostałe postanowienia - wg BN-80/ /00. KONEC NFORMACJE DODATKOWE l. nstytucja oprcowująca nonnę Naukowo-Produkcyjne Centrum Półprzewodników Warszawa ul. Komarowa Nonny związane PN-73/ T Elementy półprzewodnik owe. Zasady podawania parametrów geometrycznych na rysunkach PN-73/T-01603/16 Mikrouklady scalone. Zarysy i wymiary. Mikroukład kompletny A49 PN-78/T Mikroukłady scalone. Ogólne wymagania i badania BN-74/ /0 Cyfrowe układy scalone. Metoda pomiaru prądu zasilania w stanie niskim lecl BN-74/ / 02 Cyfrowe układy scalone. Metoda pomiaru prądu zasilania w stanie wysokim l ech BN-76/ / 03 Cyfrowe uk.łady scalone. Układy kombinatoryjne. Metoda pomiaru prądu wejściowego w stanie niskim -n BN-76/ /04 Cyfrowe układy scalone. Układy kombinatoryjne. Metoda pomiaru prądu wejściowego w stanie wysokim H

6 6 nformacje dodatkowe do BN-83/ /12 BN-76/ /20 Cyfrowe układy scalone. Metoda pomiaru ujemnego napięcia wejściowego -Ul BN-80/ /00 Cyfrowe układy 3. Symbol wg KTM UCY 7406N jeżeli 4. Wartości dopuszczalne - wg tab!. -. scalone. Wymagania i badania S. Dane charakterystyczne - wg tab!. 1-2 (przy 10mb = O -:- 70 C nie podano inaczej) Ul -ii UOH t slg JQmb Napięcie wejściowe V Ujemny prąd wejściowy ma Napięcie wyjściowe V w stanie wysokim Temperatura przechowywania Temperatura otoczenia w czasie pracy OC OC BN-76/ /06 Cyfrowe układy scalone. Układy kombinatoryjne. Tablica -l. Wartości dopuszczalne Metoda porrtiaru zwrotnego prądu wyjściowego lor Oznaczenie!5ara- Nazwa parametru nost- Jed- BN-76/ /11 Cyfrowe układy scalone. Układy kombinatoryjne. Lp. Metoda pomiaru napięcia wyjściowego w stanie niskim UO L metru ka BN-76/ /16 Cyfrowe układy scalone. Układy kombinatoryjne. Metoda pomiaru czasów propagacji PHL i PLH Ucc Napięcie zasilania V dopuszczalne Wartości mm max O +70 Tablica 1-2. Dane charakterystyczne Lp. Oznaczenie Jedno- Wartości parametru Nazwa parametru Warunki pomaru parametru. stka mm typ max Ucc Napięcie zasilania - V ccl Prąd zasilania w stanie niskim na wyjściu Ucc = 525 V ma Ul = 5 V 3 cch Prąd. zasilania w stanie wysokim na wyjściu Ucc = 525 V ma Ul = O V 4 UlH Napięcie wejściowe w stanie wysokim - V U L Napięcie wejściowe w stanie niskim - V U OL Napięcie wyjściowe w stanie niskim Ucc = 475 V; Ul = 20 V V OL = 16 ma 7 U OL Napięcie wyjściowe w stanie niskim Ucc = 475 V' V Ul = 20 V lal = 40 ma 8 OL Prąd wyjściowy w stanie niskim 't cc = 475 V ma Ul = 20 V 9 JH(ll Prąd wejściowy w stanie wysokim Ucc = 525 V JJ.A U= 24 V 10 JH(2) Prąd wejściowy w stanie wysokim U cc = 525 V ma - - Ul = 55 V -Ul Ujemne napięcie wejściowe Ucc = 475 V V L = 12 ma 10mb = 25 C 12-11L Prąd wejściowy w stanie niskim Ucc = 525 V ma Ul =04 V 13 l OR Zwrotny prąd wyjściowy Ucc = 475 V; JJ.A Ul = 08 V; UD = 30 V 14 (PHL Czas propagacji sygnału przy przejściu od Ucc = 5 V ns stanu wysokiego do stanu niskiego na wyjściu 15 Czas propagacji sygnału przy przejściu od stanu niskiego do stanu wysokiego na wyjściu C L = 15 pf RL = lon 10mb = +25 C (PLH ns