BRANŻOWA. Mikroukłady scalone cyfrowe. Wymagania i badania

Transkrypt

1 UKD ELEMENTY N O R M A BRANŻOWA BN-BO Mikroukłady scalone I PODZESPOŁ Y Układy scalone Zamiast ELEKTRONICZNE " cyfrowe BN-76/ BN-76/ BN-76/ Wymagania i badania, BN-76/ Grupa katalogowa WSTĘP 11 Przedmiot normy Przedmiotem normy są wymagania i badania dotyczące półprzewodnikowych układów scalonych cyfrowych, przeznaczonych do stosowania w elektronicznych urządzeniach profesjonalnych oraz urządzeniach wymagających zastosowania układów o wysokiej i bardzo wysokiej jakości 12 Przedmiot arkusza normy Przedmiotem niniejszego arkusza normy są wymagania i badania wspólne dla całej grupy układów scalonych cyfrowych 13 Określenia - wg PN-72/T i PN-78/ T PODZIAŁ I OZNACZENIE 21 Podział - wg PN-72/T-OI61O 22 Sposób budowy oznaczenia - wg PN-78/T~OI615 p 22 3 WYMAGANIA 31 Wymiary - wg arkusza szczegółowego 32 Wykonanie - wg PN-78/T p 32 arkusza szczegółowego 33 Cechowanie - wg PN-78/T p 33 arkusza szczegółowego 34 Parametry elektryczne -, wg PN-79/T p 34 i arkusza szczegółowego 35 Wymagania klimatyczne - wg PN-78/T p Wymagania mechaniczne - wg PN-78/T p Wymagania niezawodnościowe - wg PN-78/ T p Wymagania dodatkowe - wg PN-78/T-OI615 p 38 4 PAKOWANIE, PRZECHOWYWANIE I TRANSPORT J' / $" 41 Pakowanie - wg PN-78/T-OI615 p Przechowywanie - wg PN-78/T p Transport - wg PN-78/T-OI615 p 43 5 BADANIA ' 51 Program i rodzaje badań 511 Badania grupy A - wg PN-78/T-OI615 p511 tab! I i Badania grupy B - wg PN-78/T-OI615 p 512 tab! Badania grupy C - wg PN-78/T-OI615 p 513 tab! Badania grupy D - wg PN-78/T-OI615 p 514 tab\ 5 Tablica l Badania grupy A Pod- Rodzaj Opis Pozio(l1 jakości II Poziom jakości III Poziom jakości IV grupa badania badań Dane wg arkusza wg poziom warunki poziom warunki poziom warunki szcz~gółowego PN-78/ kontroli badania kontroli badania kontroli badania T i AQL i AQL i AQL Al Sprawdzenie: < sprawdzane para- -: wymiarów metry geometryczgłównych 532 ne - wykonania obudowy 533 II: 2,5 II: 1,5 II; 1,0, - prawidłowo- ści cechowania 5362 Zgłoszona przez Naukowo-Pr-odukcyjne Centrum Półprzewodników Ustanowiona przez Generalnego Dyrektora Zjednoczenia Przemysłu Podzespołów i Materiałów Elektronicznych UNITRA-ELEKTRON dnia 25 czerwca 1980 r jako norma obowiązująca od dnia 1 stycznia 1981 r (Dz Norm i Miar nr 16/1980 poz 62) WYDAWNICTWA NORMALIZACYJNE 1980 Druk, Wyd, Norm, W-wa Ark, wyd 090 Nakł Zam, 2567/80 Cena zł 540

2 2 BN 80/ 337S S2 00 cd tab! l Plany I warunki b ada ń Pod Rodzaj Opis Poziom j a koś c i II Poziom j a ko ści III Poziom jakości IV srupa badania badań Dane wg arkusza wg poziom warunki poziom warunki poziom warunki s zczegółowego PN 78/ kontroli badania kontroli badania kontroli badania TQ1615 A2 Spraw ~lie n ie pod- ' pra wdz,mc para- stawowych parametry elek trycznc metrów ckkt rycz- sz~zcgół owc wanych 5J 7 wg tahl wg BN-74/ wg tabl wg BN-74/ wg tabl wg BN-74/ ru nki pommru 2 JJ ()O wartości gra niczne spmwdzanych paramelrów AJ Sprawdzenie 537 wg tahl wg BN-74/ wg ta bl wg BN-74/ wg tabl wg BN-74/ tahlica w i c rn oś<:i typu uk ł ad u 2 J ()() Nil> wypdnionu kolumna - warunki h udani~1 ~ o/nacza normalne warunki a rmosferyczne jeżeli nie zostanie inaczej określone w arkuszu Sz(zcgółowy m, Tablica 2 Plany badań w zależności od stopnia scalenia układu Podgrupa S t opień scalenia ukladu Pla ny bada ń hada ń wg PN-7!!/T -Q Poziom jakości II Poziom jakośc i III Poziom jakości IV ł S f ł S2 II: 25 II; 15 II; 15 A2 IS3 II; 4,0 II, 2,5 II; 15 IS4 II; 6,5 II; 40 II; 25 ISI IS2 II; (la II; 0,25 II; 015 Ał ISJ II ~ I 0 II; 0,65 II; OA IS4 II; 15 II; 10 II; 065 Tablica 3 Badania grupy B Plany I warunki bada ń Pod- Rodzaj badania Opis Poziom jakości III Poziom jakości IV Dane wg arkusza szczegółowego grupa badań wg poziom waru nki poziom warunki PN-78/ kontroli badania kontroli badania T I AQL I AQL I BI Sprawdzenie wy trzyma- rodzaj i szczegó łowe warun ki badał ości mec hanicznej wy- ma, wa rt ośc i obc i ążeń prowa d ze ń S-4; l5 S-4; 1,0 Sprawdzenie szcze ln ości ' ) 5327 rodzaj badania, dopuszczalny poziom n ieszczelności lub za kresy wartośc i i warunki pomiaru sprawozanych po badaniu parametrów B2 Sprawdze nie lu towitośc i tempera tu- temperatuwyprowadzeń 535a) S-4; 1,5 ra lu towia S-4; 1,0 ra lutowia 235 C 235 C B3 Sprawdzenie wy trzyma- p ołożenie u k ładu w czasie spadania; łości na spadki swobod- zakresy wa rt ośc i i wa runki pomia ru nc 5317 S-4; 1, mn'lx5 S-4; 1, mmx5 badaniu parametrów B4 Sprawdzenie wy trzy ma- sposób mocowania korpusu lub wył ości na uda ry wiei 0 - p rowadze ń układ u ; zakresy wa rt ośkrotne S-4; 1, m/s 2 ci i warun ki pomiaru sprawdzanych looox3 po badaniu parametrów

3 BN-80/ ' 3 cd tabl 3 Plany I warunki badań,?od- Rodzaj badania Opis Poziom jakości III Poziom jakości IV Dane wg arkusza szczegółowego rupa badań wg poziom warunki poziom warunki ~ PN-78/ kontroli badania kontroli badania T I AQL I AQL I I 85 Sprawdzenie wytrzyma~ zakresy wartości I warunki połości na nagłe zmiany miaru badaniu temperatury 5312 S-4: L5-55 C/125 C S-4: 1,0-55 C/125 C parametrów lub lub -55 C/155 C -55 C/155 C B6 Sprawdzenie odporności metoda badania, warunki obciążena narażenia elektryczne 5322 S-4: 1,0 25 C2): 65 h S-4; C2); 65 h nia zakresy wartości i warunki pomiaru sprawdzanych w czasie badania i po badaniu parametrów Znak - 01JliIL:Z<ł, że "",dania nic przeprowadza się Nic wypełniona kolumnu - warunki hadania - oznac:tu normalne warunki atmosferyczne, jeżeli nic zostanie inaczej określone w arkuszu szczegółowym I) Nie stosuje ~ię dla układów y, obudowach plastykowych ~) Jdeli innej Ii"mpcratury nic podaje arkusz szczegółowy Tablica 4 Badania grupy C Plany I warunki badań Pod- Rodzaj badania Opis badań Poziom jakości II Poziom jakości III Poziom jakości IV Dane wg arkusza srupa wg szczegółowego PN-78/ poziom warunki poziom warunki poziom warunki T-OI615 kontroli badania kontroli badania ' kontroli badania I C2 CI Sprawdzenie wy- rodzaj i szczegółotrzymałości me- we warunki badachanicznej wypro- Ola, wartości obwadzeń 5321 S-3: ciążeń Sprawdzenie rodzaj badania szczelności I) dopuszczalny poziom nieszczelności, zakresy wartoś- Sprawdzenie parametrów elektrycz- CI I warunki pomiaru sprawdzanych po badaniu parametrów ( zakresy wartości i warunki pomiaru nych 537 S-3; 25 S-3; 2,5 S-3: 1,5 sprawdzanych parametrów Sprawdzenie' od- zakresy wartości i porności na suche warunki pomiaru gorąco C 70 C 70 C sprawdzanych w Sprawdzenie od- czasie badania I porności na zimno 539 O C O C O C po badaniu parametrów elektrycz-,nych C3 Sprawdzenie masy 534 S-3: 1, masa wyrobu Sprawdzenie trwałości cechowania metoda badania Sprawdzenie luto- temperatura wności wyprowa- lutowia, dzeń 535a 235 C - -

4 BN-80/ cd tab! 4 Pod- Rodzaj badania Opis badań Poziom jakości II Poziom jakości III Poziom jakości IV Dane wg arkusza grupa wg szczegółowego PN-78/ poziom warunki poziom warunki poziom warunki T-OI615 kontroli badania kontroli badania kontroli badania I (< Sprawdzenie wytrzymalości na Wl000 2 ) m/s' ) mi, ) mn kierunki probierprzyspieszenie sta- I min I mm Imin cze, sposób mocołe 5320 S-4; 1,5 S-4; 1,5 S-4; 1,0 wania korpusu lub Sprawdzenie wy m/s m/s m/s 2 wyprowadzeń, zatrzymalości na lub 3X6 3X6 3X6 kresy wartości I udary (pojedyncze m/s m/s m/s 2 warunki pomiaru lub wielokrotne) 3xl000 3X4000 3X4000 Sprawdzenie wy m/s 2 badaniu parametrzymalości na wi- lub 80 Hz: 3 h - - trów bracje (stałe lub m/s m/s m/s 2 zmienne) ~ Hz Hz Hz 1,5 h 3 h 3 h C5 Sprawdzenie wy- 535b S-3: 2,5 temperatura S-3; 1,5 temperatura S-3; 1,5 temperatura zakresy wartości i trzymałości na cie- kąpieli 350 C kąpie ii 350 C kąpieli 350 C warunki pomiaru pło llitowania czas regene- czas regene- czas regene- racji 2+6 h racji 2+6 h racji 2+6 h badaniu paramet- Sprawdzenie ; wy C/125 C -55 C/125 C -55 C/125 C rów trzymalości na na- - lub -55 C/ lub -55 C/ gle zmiany tempe- 155 C 155 C ratury Sprawdzenie wy IOd 21 d 56 d trzymałości na wil- - gotne gorąco stale C7 Sprawdzenie wy S-3; 1,0-55 C lub zakresy wartości C6 Sprawdzenie od S-3: CJ) S-3; C J ) S-3; 1,0 25 CJ) zakresy wartości i porności na nara h 1000 h 2000 h warunki pomiaru żenia elektryczne sprawdzanych w czasie ba!iania I po badaniu parametrów trzymalości na Zl- -40 C; 1000 h i warunki pomiaru mno bad~niu parametrów C9 Sprawdzenie wy S-3; mmx położenie układu trzymałości na w czasie spadania, spadki swobodne zakresy wartości i warunki pomiaru C8 Sprawdzenie wy S-3; 2,5 125 C; 1000 h S-3; C lub S-3; 1,0 125 C lub zakresy wartości i trzymałości na su- 155 C; 1000 h 155 C; 1000 h warunki pomiaru che gorąco badaniu parametrów badaniu parametrów CIO Sprawdzenie wy- 533 S-3: 2,5 S-3; 1,5 S-3; 1,0 sprawdzane paramiarów metry geometryczne Znak - oznacza, że badania nie przeprowadza się Nie wypełniona kolumna - warunki badania - oznacza normalne warunki atmosferyczne, jeżeli nie zostanie inaczej określone w arkuszu szczegółowym i) Nie stosuje się dla ukladów wobudowach plastykowych 2) Jeżeli innej wartości przyspieszeń nie podaje arkusz szczegółowy J) Jeżeli innej temperatury nie podaje arkusz szczególowy \

5 BN-80/ TabUca 5 Badania grupy D Pod- Rodzaj badania Opis badań Poziom jakości II Poziom jakości III Poziom jakości rv Dane wg arkusza ~rupa wg PN-78/ szczegółowego T-OI615 poziom warunki poziom warunki poziom warunki kontroli badania kontroli badania kontroli badania ; I Dl Sprawdzenie od S-3; 1,5 10 hpa S-3; 1,5 10 hpa temperatura naraporności na niskie żania, zakresy ciśnienie atmosfe- wartości i warunki ryczne pomiaru sprawdzanych po badaniu i w czasie badania parametrów D2') Sprawdzenie wy S-3; 4,0 S-3; 2,5 S-3; 2,5 rodzaj rozpusz- r- trzymałości na czalnika rozpuszczalniki D3') Sprawdzenie pal S-3; 4,0 S-3; 2,5 S-3; 2,5 rodzaj badania ności D4 2 ) Sprawdzenie wy S-3; 2,5 S-3; 1,5 stopień dopusztrzymałości na czalnego wzrostu pleśń grzybów pleśniowych, wymagania dotyczące uszkodzeń powierzchniowych D5 2 ) Sprawdzenie wy S-3; 2,5 2 d S-3; 1,5 2 d położenie ukladu trzymałości na w czasie badania mgłę solną Znak - oznacza, t e badania nie przeprowadza sitf Nie w y pełn i ona kolumna - warunki badania - oznacza normaln:- warunki atmosferyczne, jeteli nie zostanie inaczej' określone w urkuslu szczegółowym ') Badanie stosuje s i~ dla wyrobów w obudowach plastykowych 1) Badanie stosuje s i ę przy zamó wieniu wyrob6w w wykonaniu tropika lnym lub dla klimatu morskiego 52 Pobieranie próbek - wg PN-78/T-OI615 p Opis badań - wg PN-78/T-OI615 p 53 i arkusza s zczegółowego 54 Ocena wyników badań - wg PN-78/T-OI615 p Dostawa układów scalonych po badaniach - wg PN-78/T p 55 6 POSTĘPOWANIE W PRZYPADKU NEGATYWNE GO WYNIKU BADAŃ 61 Badania grupy A 62 Badania grupy B 63 Badania grupy C 64 Badania grupy D wg PN-78/T p 61 wg PN-78/T p 62 wg PN-78/T p 63 wg PN-78/T p 64 KONIEC INFORMACJE DODATKOWE I Instytucja opracowująca normę - Naukowo-Produk:yjnc Centrum Półprzewodników 2 Istotne zmiany w stosunku do BN-76/ BN-76/ JJ IłN-76/ 3375-J800 BN-76/H a ) zmieniono uklad normy przez połąc z enie zakresu tematycznego BN-76/ BN-76/ BN-76/ X OO BN-76/ J w jedną wspólną norm<; łączącą postanowienia dla całej grupy układów scalonych cyfrowych h) doprowadzono postanowienia normy do zgodności I PN-7X1 T -{) 1615 c) wprowadzono nową rozszerzoną klus y fikację jukościową dzielącą układy scalone cyfrowe na cztery poziomy jakościowe 3 Normy związane PN-72/T-OI60000 Mikroukłady scalone Nazwy i okrcśknia Postanowienia ogólne PN-72/T Mikroukłady scalone Podział PN-7X1T Mikroukład y scalone Ogólne wymagania j badania BN-74/J Cyfrowe układ y scalone Metody pomiaru parametrów PosJanowieniu ogólne 4 Symbol wg SWW - I I 56-n 5 Dostawy układów o wysokiej jakości i bardzo wysokiej jakości mogą b y ć rcalizówane po uzgodnieniu z producentem wielkości dostaw i uzgodnieniu oceny