Uwaga. Dr inż. Anna Adamczyk

Transkrypt

1 Uwaga Kolokwium zaliczeniowe z Zaawanowanych Metod Badań Materiałów dla WIMiR odbędzie ię 7 grudnia (środa) o godz w ali (pracownia komputerowa) B8. Na kolokwium obowiązują problemy i zagadnienia omawiane na wykładach i wykorzytywane podcza ćwiczeń laboratoryjnych, podane w zagadnieniach do kolokwium zaliczeniowego. Możliwość poprawy kolokwium zaliczeniowego będzie uzgadniana indywidualnie. Do zaliczenia przedmiotu konieczne jet uzykanie oceny co najmniej 3.0 z kolokwium zaliczeniowego oraz pozytywnych ocen (co najmniej 3.0) z każdego bloku tematycznego. Dr inż. Anna Adamczyk

2 Zagadnienia do kolokwium zaliczeniowego dla WIMiR 2016/2017: Mikrokopia elektronowa 1. Podtawy mikrokopii optycznej 2. Kontrukcja kaningowego mikrokopu elektronowego (SEM) 3. Fizyczne podtawy działania kaningowego mikrokopu elektronowego (SEM) pooby powtawania obrazu. Zakre zatoowań. Różnice pomiędzy mikrokopia optyczną a elektronową. 4. Preparatyka próbek dla kaningowego mikrokopu elektronowego (SEM) 5. Analiza EDS podtawy fizyczne, rodzaje analizy. 6. Tranmiyjny mikrokop elektronowy (TEM) fizyczne zaady działania, pooby powtawania obrazu, zakre zatoowań. 7. Jonowa mikrokopia polowa (FIM) fizyczne zaady działania, zakre zatoowań. 8. Mikrokop ił atomowych (AFM) - fizyczne zaady działania, zakre zatoowań. Mikrokopia AFM 1. Zatoowanie mikrokopów z kanującą ondą. 2. Zaada działania mikrokopu AFM 3. Rozdzielczość metody a wielkość toowanych ond. 4. Tryby pracy mikrokopu AFM. Metody termiczne 1. Możliwości pomiarowe zetawu do badań termofizycznych materiałów ceramicznych. Wyznaczanie podtawowych parametrów termodynamicznych wybranego materiału. Ogólna charakterytyka metod wybranych metod analizy termicznej: termicznej analizy różnicowej, różnicowej kalorymetrii kaningowej i termograwimetrii. Na czym polega tało-zybkościowa analiza termiczna CRTA?

3 Rodzaj informacji dotarczanych przez wybrane metody analizy termicznej: termiczną analizę różnicową, różnicową kalorymetrię kaningową i termograwimetrię. Charakterytyka krzywej termicznej DTA/DSC. Charakterytyka ubtancji odnieienia i ubtancji wzorcowej. Ogólna charakterytyka kalibracji temperaturowej i kalibracji czułości aparatów do DTA i DSC. Oznaczanie ciepła właściwego. Oznaczanie ciepła rekacji. 2. Wyznaczanie przewodnictwa cieplnego wybranych materiałów. Ogólna charakterytyka dyzyjności cieplnej. Ogólna charakterytyka liniowego wpółczynnika rozzerzalności termicznej. Ogólna charakterytyka przewodnictwa cieplnego. Podtawowe pooby przenozenia energii cieplnej. Wpływ podtawowych czynników na przewodnictwo cieplne ciał tałych, ciekłych i gazowych. Metody wyznaczania wpółczynnika przewodzenia ciepła, ze zczególnym uwzględnieniem metody impulu laerowego. Dyfrakcja rentgenowka (XRD) 1. Struktura ciała tałego: -ciało tałe amorficzne i krytaliczne, uporządkowanie blikiego i dalekiego zaięgu, - pojęcie komórki elementarnej. 2. Rentgenowkie promieniowanie charakterytyczne: - jak powtaje, - pooby monochromatyzacji - zjawika towarzyzące przejściu promieni X przez materię. 3. Warunek dyfrakcji promieni X równanie Bragga. 4. Natężenie refleku a czynnik truktury.

4 5. Podział metod rentgenograficznych w zależności od rodzaju badanego materiału i toowanego promieniowania. 6. Zaada działania dyfraktometru prozkowego dwukołowego. 7. Dyfraktogram ubtancji amorficznej i krytalicznej. 8. Opi dyfraktogramu, parametry charakteryzujące reflek. 9. Podtawy rentgenowkiej analizy jakościowej: - wyznaczanie położenia refleków, - karty identyfikacyjne ubtancji 10. Podtawy rentgenowkiej analizy ilościowej: - metoda wzorca wewnętrznego - pooby wyznaczania intenywności refleku - czynniki wpływające na niedokładność analizy 11. Obliczenia trukturalne: - wyznaczanie parametrów komórki elementarnej potrzebne wielkości i wzory dla róznych układów krytalograficznych (różnych kztałtów komórek), - wyznaczanie wielkości krytalitów (wzór Scherrera) 12. Informacje o materiale otrzymane na bazie różnych parametrów refleku: - położenia, - intenywności, - zerokości połówkowej. 13. Możliwości badawcze metod rentgenograficznych. Spektrokopia ocylacyjne w podczerwieni (IR) Teoria IR Widmo promieniowania elektromagnetycznego; Opi oddziaływania promieniowania z materią wykorzytywany pektrokopii w podczerwieni; Dlaczego aborpcja jet elektywna? (główne przyczyny i wzory); Funkcje, jednotki i zakrey używane w pektrokopii IR; Co to jet interpretacja pochodzenia pam w kategoriach drgań walencyjnych; Drgania normalne (co to ą, dlaczego niektóre nie objawiają ię pamami na widmie IR? (co wpływa na pozycję a co na intenywność, co to jet wygazenie momentu dipolowego); Typowa kolejność drgań walencyjnych na widmie w podczerwieni dla zadanego układu trzech atomów (,,, a,, );

5 Ruch atomów w protych drganiach walencyjnych, naryować, co to jet drganie oddychające).,, a,,. (umieć Sprzęt i technika patylkowa Technika patylkowa (materiały, przęt, zaady pomiaru, artefakty związane z ucieraniem, ilość próbki, itd.); Opi otrzymanego wykreu (oie, używane jednotki, rozdzielczość, przyczyny nierównej linii podtawy, itd.); Budowa i zaada działania pektrometru FT-IR (co to znaczy FT-IR, co to znaczy jednowiązkowy, główne części i zaady działania: interferometr, źródło, detektor, zalety próżni, rola komputera itd.); Problem tounku ygnału do zumu (czym ię różni zum od zanieczyzczeń i kąd pochodzi, co to jet kan, dlaczego zakre pomiaru nie wpływa na cza pomiaru). Obróbka widma Tabele korelacji a bazy danych (czym ię różnią, analiza próbki o kładzie wielofazowym); Określanie ilości i pozycji pam (dlaczego używa ię różnie wygładzonych drugich pochodnych, do czego łuży dekompozycja, kiedy rozkład złożonej obwiedni ma en fizyczny).